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JP2001005037A - Liquid crystal display - Google Patents

Liquid crystal display

Info

Publication number
JP2001005037A
JP2001005037A JP11173992A JP17399299A JP2001005037A JP 2001005037 A JP2001005037 A JP 2001005037A JP 11173992 A JP11173992 A JP 11173992A JP 17399299 A JP17399299 A JP 17399299A JP 2001005037 A JP2001005037 A JP 2001005037A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film transistor
thin film
electrode
capacitance
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11173992A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Oida
淳 大井田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP11173992A priority Critical patent/JP2001005037A/en
Publication of JP2001005037A publication Critical patent/JP2001005037A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display device improved in display quality by arranging a means for providing the device with an opposite characteristic to a parasitic capacitance characteristic dependent on a voltage between a gate electrode and a pixel electrode of a thin film transistor. SOLUTION: Between a gate electrode and a source electrode of a thin film transistor TFT, namely, in parallel with parasitic capacitance Cgs, an additional capacitance element Creverse is arranged. This additional capacitance Creverse has an opposite characteristic to that of the parasitic capacitance Cgs, and when a voltage Vgs is in the neighborhood of a certain value or lower, the capacitance has a value of +β, and when the voltage Vgs is in the neighborhood of the value or higher, the capacitance has a value of +α. As a result, the capacitance produced between the gate electrode and the source electrode of the thin film transistor TFT is the sum of the individual capacitance of the parasitic capacitance Cgs and the additional capacitance element Creverse, and loses the voltage dependency. Therefore, picture quality can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置に係
り、特に、アクティブ・マトリックス型と称される液晶
表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display, and more particularly, to a liquid crystal display called an active matrix type.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の液晶表示装置は、液晶を介して
対向配置される透明基板のうち一方の透明基板の液晶側
の面に、x方向に延在されy方向に並設される走査信号
線とy方向に延在されx方向に並設される映像信号線と
で囲まれる各領域に画素領域が形成され、これら各画素
領域内に、走査信号線への走査信号の供給によって駆動
される薄膜トランジスタと、この薄膜トランジスタを介
して映像信号線からの映像信号が供給される画素電極と
が備えられている。そして、このような構成による液晶
表示装置において、前記薄膜トランジスタのオフ時(走
査信号のハイレベルからロウレベルへの変化時)に該薄
膜トランジスタのゲート電極とソース電極(画素電極に
接続される電極)の間の寄生容量Cgsによって、画素
電極に印加される電圧は、書き込む時点の映像信号のレ
ベルに対して電位低下成分ΔVが生じる。このため、各
画素領域には、その画素電極とたとえば隣接する他方の
走査信号線との間に保持容量素子Caddを形成し、こ
れにより上述した電位低下成分ΔVの低減を図ってい
る。また、液晶の分極を防ぐために、周期的に供給され
る走査信号のタイミングに合わせて供給される映像信号
は、たとえばその1周期毎に、その極性が正/負のよう
に切り替えられ、いわゆる交流駆動を行なっている。
2. Description of the Related Art In a liquid crystal display device of this type, a scanning substrate extending in the x direction and juxtaposed in the y direction is formed on a liquid crystal side surface of one of the transparent substrates opposed to each other via a liquid crystal. A pixel region is formed in each region surrounded by the signal line and the video signal line extending in the y direction and juxtaposed in the x direction. In each of the pixel regions, the pixel region is driven by supplying a scanning signal to a scanning signal line. And a pixel electrode to which a video signal from a video signal line is supplied via the thin film transistor. In the liquid crystal display device having such a configuration, when the thin film transistor is turned off (when the scanning signal changes from a high level to a low level), the gate electrode and the source electrode (electrode connected to the pixel electrode) of the thin film transistor are formed. The voltage applied to the pixel electrode has a potential drop component ΔV with respect to the level of the video signal at the time of writing due to the parasitic capacitance Cgs. For this reason, in each pixel region, a storage capacitance element Cadd is formed between the pixel electrode and, for example, the other scanning signal line adjacent to the pixel electrode, thereby reducing the above-described potential drop component ΔV. Further, in order to prevent the polarization of the liquid crystal, the polarity of the video signal supplied in synchronization with the timing of the periodically supplied scanning signal is switched, for example, in each cycle so that the polarity is positive / negative. Drive is being performed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成からなる液晶表示装置は、映像信号が正極性の
場合における薄膜トランジスタのオフ時の画素電極へ書
き込まれる映像信号の電位低下成分ΔVと、負極性の場
合における薄膜トランジスタのオフ時の画素電極へ書き
込まれる映像信号の電位低下成分ΔV’とがそれぞれ異
なった値となっていることが確認されるに到った。この
ようになっている場合、映像信号が正極性の場合と負極
性の場合とで、その積分値に差が生じ、実効電圧の変動
をもたらすことから、階調レベルやパネルの左右差でも
これが変動し、表示に悪影響をもたらす原因となる。本
発明は、このような事情に基づいてなされたものであ
り、その目的は、表示品質の向上を図った液晶表示装置
を提供することにある。
However, in the liquid crystal display device having such a configuration, the potential drop component ΔV of the video signal written to the pixel electrode when the thin film transistor is off when the video signal has a positive polarity, and the negative electrode component It has been confirmed that the potential drop component ΔV ′ of the video signal written to the pixel electrode when the thin film transistor is off in the case of the property is different from each other. In such a case, there is a difference in the integrated value between a case where the video signal has a positive polarity and a case where the video signal has a negative polarity, which causes a change in the effective voltage. Fluctuates and causes an adverse effect on the display. The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device having improved display quality.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。すなわち、本発明による液晶表示
装置は、映像信号を画素電極に供給する薄膜トランジス
タと、この薄膜トランジスタのゲート電極と画素電極と
の間に、それらの間の電圧に依存する寄生容量特性と逆
の特性を備える手段と、を備えることを特徴とするもの
である。映像信号が正極性の場合と負極性の場合におい
て、薄膜トランジスタの寄生容量Cgsに原因する映像
信号の前記電位低下成分ΔV,ΔV’は、該寄生容量C
gsの容量値が電圧に依存していることが原因している
ということが確認された。このため、該寄生容量Cgs
の特性と逆の特性を備える手段を設けることによって、
該寄生容量Cgsの電圧の依存性を低減させるようにし
た。これにより、前記電位低下成分ΔV,ΔV’は、そ
れぞれほぼ等しい値になり、かつ、階調レベル、パネル
水平方向差等による変動もなくなるので、表示画質の向
上を図ることができるようになる。
SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows. That is, the liquid crystal display device according to the present invention has, between a thin film transistor for supplying a video signal to a pixel electrode and a gate electrode and a pixel electrode of the thin film transistor, a characteristic opposite to a parasitic capacitance characteristic depending on a voltage between them. And means for providing. When the video signal has a positive polarity and a negative polarity, the potential drop components ΔV and ΔV ′ of the video signal caused by the parasitic capacitance Cgs of the thin film transistor are equal to the parasitic capacitance Cgs.
It has been confirmed that the capacitance value of gs is dependent on the voltage. Therefore, the parasitic capacitance Cgs
By providing means having characteristics opposite to those of
The voltage dependency of the parasitic capacitance Cgs is reduced. As a result, the potential drop components ΔV and ΔV ′ have substantially the same value, and there is no change due to the gradation level, the difference in the horizontal direction of the panel, and the like, so that the display image quality can be improved.

【0005】[0005]

【発明の実施の形態】以下、本発明による液晶表示装置
の実施例を図面を用いて説明をする。 《等価回路》図1は、本発明による液晶表示装置の画素
領域における等価回路の一実施例を示す図である。同図
は回路図であるが、実際の幾何学的配置に対応して描か
れている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the liquid crystal display device according to the present invention will be described below with reference to the drawings. << Equivalent Circuit >> FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of an equivalent circuit in a pixel region of a liquid crystal display device according to the present invention. The figure is a circuit diagram, but is drawn corresponding to an actual geometric arrangement.

【0006】図中x方向に延在しy方向に並設される走
査信号線Gi−1、Giがあり、このうち走査信号線G
iに走査信号が供給されることによって薄膜トランジス
タTFT(スイッチング素子)がオンするようになって
いる。また、図中y方向に延在しx方向に並設される映
像信号線Di、Di+1があり、このうち映像信号線D
iからの映像信号は該薄膜トランジスタTFTを介して
画素電極PIXに供給されるようになっている。そし
て、この画素電極PIXと液晶を介して対向する共通電
極COMがあり、これら各電極の間に電界を発生して該
液晶の光透過率を制御できるようになっている。
In FIG. 1, there are scanning signal lines Gi-1 and Gi extending in the x direction and juxtaposed in the y direction.
When a scanning signal is supplied to i, the thin film transistor TFT (switching element) is turned on. Further, there are video signal lines Di and Di + 1 extending in the y direction in the figure and arranged in parallel in the x direction.
The video signal from i is supplied to the pixel electrode PIX via the thin film transistor TFT. There is a common electrode COM opposed to the pixel electrode PIX via a liquid crystal, and an electric field is generated between these electrodes to control the light transmittance of the liquid crystal.

【0007】共通電極COMには映像信号に対して基準
となる電圧が印加されるようになっており、この共通電
極COMと画素電極PIXとの間には該画素電極PIX
に供給される映像信号に対応した電界が発生するように
なっている。また、画素電極PIXと走査信号線Gi−
1との間には、保持容量素子Caddが設けられてい
る。
A voltage which is a reference for a video signal is applied to the common electrode COM, and the pixel electrode PIX is provided between the common electrode COM and the pixel electrode PIX.
An electric field corresponding to the video signal supplied to the device is generated. Also, the pixel electrode PIX and the scanning signal line Gi-
1, a storage capacitor Cadd is provided.

【0008】前記薄膜トランジスタTFTは、この実施
例の場合nチャンネル型のMIS型の構造となってお
り、そのゲート電極とソース電極(画素電極PIXと接
続される電極)との間に寄生容量Cgsが発生し、その
容量値は電圧依存性を有し、図1(b)に示すように、
該ゲート電極とソース電極との間の電圧Vgsが小さい
場合と大きい場合とで段差的に変化する特性となってい
る。すなわち、電圧Vgsがある値の近傍以下である場
合、その容量は+αの値をもち、電圧Vgsがある値の
近傍以上である場合、その容量は+βの値をもつように
なっている。
In this embodiment, the thin film transistor TFT has an n-channel MIS structure, and a parasitic capacitance Cgs is provided between its gate electrode and a source electrode (electrode connected to the pixel electrode PIX). And its capacitance value has a voltage dependency, and as shown in FIG.
The characteristics are such that the voltage Vgs between the gate electrode and the source electrode changes stepwise when it is small and when it is large. That is, when the voltage Vgs is equal to or less than a certain value, the capacitance has a value of + α, and when the voltage Vgs is equal to or more than a certain value, the capacitance has a value of + β.

【0009】そして、この実施例の場合、薄膜トランジ
スタTFTのゲート電極とソース電極との間に、すなわ
ち、前記寄生容量Cgsと並列に付加容量素子Crev
erseが設けられたものとなっている。この付加容量
素子Creverseは、該寄生容量Cgsと逆の特性
を備え、図1(b)に示すように、電圧Vgsがある値
の近傍以下である場合、その容量は+βの値をもち、電
圧Vgsがある値の近傍以上である場合、その容量は+
αの値をもつようになっている。これにより、薄膜トラ
ンジスタTFTのゲート電極とソース電極の間に発生す
る容量は、図2に示すように、前記寄生容量Cgsと付
加容量素子Creverseの各容量の加算された値に
なり、電圧依存性をもたなくなる。
In this embodiment, the additional capacitance element Crev is provided between the gate electrode and the source electrode of the thin film transistor TFT, that is, in parallel with the parasitic capacitance Cgs.
erse is provided. This additional capacitance element Creverse has a characteristic opposite to that of the parasitic capacitance Cgs, and as shown in FIG. 1B, when the voltage Vgs is less than a certain value or less, the capacitance has a value of + β, and If Vgs is greater than or equal to a certain value, the capacitance is +
It has a value of α. Thereby, the capacitance generated between the gate electrode and the source electrode of the thin film transistor TFT becomes a value obtained by adding the parasitic capacitance Cgs and each capacitance of the additional capacitance element Creverse, as shown in FIG. It will not last.

【0010】なお、この実施例における付加容量素子C
reverseは、寄生容量Cgsに対して完全に逆の
特性を備え、それらの容量を加算した場合、全く電圧依
存性を有しないものとして説明した。しかし、必ずしも
このような場合に限定されることはない。付加容量素子
Creverseを設けることによって寄生容量Cgs
の電圧依存性を少しでも低減できれば本発明の効果をそ
の程度に応じて達成しえるからである。
In this embodiment, the additional capacitance element C
The reverse has completely opposite characteristics to the parasitic capacitance Cgs, and when those capacitances are added, the voltage has no voltage dependency. However, the present invention is not necessarily limited to such a case. By providing the additional capacitance element Cverse, the parasitic capacitance Cgs
This is because if the voltage dependence of the present invention can be reduced even a little, the effect of the present invention can be achieved in accordance with the degree.

【0011】《TFTの動作》次に、薄膜トランジスタ
TFTの動作について図3を用いて説明する。薄膜トラ
ンジスタTFTはソース電極に対してゲート電極を正の
電圧によりバイアスすることによってオン状態(ソース
とドレイン間の抵抗値が小さくなる)となり、ゲート電
極に供給されるバイアスを零に近くすることによってオ
フ状態(ソースとドレイン間の抵抗値が大きくなる)に
なるようになっている。
<< Operation of TFT >> Next, the operation of the thin film transistor TFT will be described with reference to FIG. The thin film transistor TFT is turned on (the resistance between the source and the drain is reduced) by biasing the gate electrode with a positive voltage with respect to the source electrode, and is turned off by reducing the bias supplied to the gate electrode to near zero. State (the resistance value between the source and the drain increases).

【0012】走査信号VGのハイレベルに応じて選択さ
れた走査信号線Giに結合される画素に映像信号線Di
から供給される映像信号VDの書き込みが行われる。こ
のとき、画素の電圧PXVは、図3(a)に点線で示す
ように、オン状態のTFTが抵抗成分をもつこと、及び
画素が容量性素子(Cpix)であることから、それに
応じた時定数に従って立ち上がる。同図では最初は、画
素を高い階調の状態にする正のレベルの映像信号VDが
示されている。
A pixel coupled to the scanning signal line Gi selected according to the high level of the scanning signal VG is connected to the video signal line Di.
The video signal VD supplied from is written. At this time, as shown by a dotted line in FIG. 3A, the voltage PXV of the pixel is changed when the TFT in the ON state has a resistance component and the pixel is a capacitive element (Cpix). Stand up according to a constant. In the figure, first, a video signal VD of a positive level that brings a pixel into a high gradation state is shown.

【0013】次の段の走査信号線の選択に応じて、図3
(a)に示された走査信号VGは、ハイレベルの選択レ
ベルからロウレベルの非選択レベルにされる。これによ
って、TFTはオフ状態にされ、上記書き込まれた映像
信号VDは容量性素子として作用する画素に保持され
る。走査信号VGのハイレベルからロウレベルの切り替
えに応じて、画素の電圧は、TFTのソース電極とゲー
ト電極間の容量によって電位低下成分ΔVが生じる。
According to the selection of the scanning signal line of the next stage, FIG.
The scanning signal VG shown in (a) is changed from a high-level selection level to a low-level non-selection level. As a result, the TFT is turned off, and the written video signal VD is held in the pixel acting as a capacitive element. In response to the switching of the scanning signal VG from the high level to the low level, a potential drop component ΔV occurs in the pixel voltage due to the capacitance between the source electrode and the gate electrode of the TFT.

【0014】この場合、上述したように、TFTのソー
ス電極とゲート電極間の容量は、その寄生容量Cgsと
この実施例で設けた付加容量Creverseの合成容
量となり、電圧依存性のない一定の容量値になってい
る。このため、前記電位低下成分ΔVはこの一定の容量
値に応じて発生するようになっている。
In this case, as described above, the capacitance between the source electrode and the gate electrode of the TFT is a combined capacitance of the parasitic capacitance Cgs and the additional capacitance Creverse provided in this embodiment, and is a constant capacitance independent of voltage. Value. For this reason, the potential drop component ΔV is generated according to the fixed capacitance value.

【0015】なお、走査信号VGのロウレベルからハイ
レベルの切り替えで、ゲート・ソース間のカップリング
Cgsにより画素に飛び込む電圧は、映像信号線からの
映像信号VDの書き込みにより打ち消すことができる
が、走査信号VGのハイレベルからロウレベルの切り替
え時に画素に飛び込む電圧は、映像信号VDの書き込み
により打ち消すことができない。図3(a)では、この
後1フレームの間、低い階調レベルの映像信号VDが供
給されるように描かれている。
When the scanning signal VG is switched from low level to high level, the voltage jumping into the pixel due to the gate-source coupling Cgs can be canceled by writing the video signal VD from the video signal line. The voltage that jumps into the pixel when the signal VG switches from the high level to the low level cannot be canceled by writing the video signal VD. FIG. 3A illustrates that a video signal VD of a low gradation level is supplied for one frame thereafter.

【0016】一般に液晶表示装置は交流駆動を行ってい
るため、走査信号VGの1周期毎に映像信号VDの極性
は、正/負のように切り替えられて供給される。この場
合においても、オン状態のTFTが抵抗成分をもつこ
と、及び画素が容量性素子であることから、画素の電圧
PXVはそれに応じた時定数に従って立ち下がる。
Generally, since the liquid crystal display device is driven by an alternating current, the polarity of the video signal VD is switched and supplied as positive / negative in each cycle of the scanning signal VG. Also in this case, since the TFT in the ON state has a resistance component and the pixel is a capacitive element, the voltage PXV of the pixel falls according to the corresponding time constant.

【0017】次の走査信号線の選択に応じて、同図に示
された走査信号VGは、ハイレベルの選択レベルからロ
ウレベルの非選択レベルにされる。これにより、TFT
はオフ状態にされるから映像信号VDは、容量性素子と
して作用する画素に保持される。
In response to the selection of the next scanning signal line, the scanning signal VG shown in FIG. 1 is changed from the high level selection level to the low level non-selection level. With this, TFT
Is turned off, the video signal VD is held in the pixel acting as a capacitive element.

【0018】走査信号VGのハイレベルからロウレベル
の切り替えに応じて、画素の電圧PXVはTFTのゲー
ト電極とソース電極間の容量によって上記と同様に電位
低下成分ΔVが生じる。この場合のTFTのソース電極
とゲート電極間の容量は、その寄生容量Cgsとこの実
施例で設けた付加容量素子Creverseの合成容量
となり、電圧依存性のない一定の容量値になっている。
このため、前記電位低下成分ΔVはこの一定の容量値に
応じて発生するようになり、映像信号の正極性の場合に
おける上記電位低下成分ΔVと同一の値となっている。
In accordance with the switching of the scanning signal VG from the high level to the low level, the voltage PXV of the pixel has a potential drop component ΔV due to the capacitance between the gate electrode and the source electrode of the TFT as described above. In this case, the capacitance between the source electrode and the gate electrode of the TFT is a combined capacitance of the parasitic capacitance Cgs and the additional capacitance element Creverse provided in this embodiment, and has a constant capacitance value independent of voltage.
For this reason, the potential drop component ΔV is generated according to this fixed capacitance value, and has the same value as the potential drop component ΔV in the case of a video signal having a positive polarity.

【0019】比較のために、付加容量素子Crever
seが備えられていない場合、同図(a)に対応するタ
イミング図は同図(b)のようになり、映像信号線の負
極性の場合における電位低下成分はΔV’(>ΔV)と
なってしまい、正極性および負極性の各場合の映像信号
において実効電圧値が異なってしまうという不都合が生
じる。この変動量が、 (1)階調表示レベルによる映像信号VDの変化 (2)パネル左右差による走査信号VGの信号遅延 (3)TFT素子サイズの製造変動 に対して可変となる為に画質不良が生じる。
For comparison, the additional capacitance element Crever
In the case where the “se” is not provided, the timing chart corresponding to FIG. 3A is as shown in FIG. 3B, and the potential drop component in the case of the negative polarity of the video signal line is ΔV ′ (> ΔV). As a result, there arises a disadvantage that the effective voltage values are different in the video signal in each case of the positive polarity and the negative polarity. Since the amount of this variation is variable with respect to (1) a change in the video signal VD due to the gray scale display level, (2) a signal delay of the scanning signal VG due to a difference between the left and right panels, and (3) a variation in manufacturing of the TFT element size, image quality is poor. Occurs.

【0020】また、正極性の時と同様に、走査信号VG
のロウレベルからハイレベルの切り替えで、ゲート・ソ
ース間のカップリングCgsにより画素に飛び込む電圧
は、映像信号線からの映像信号VDの書き込みにより打
ち消すことができるが、走査信号VGのハイレベルから
ロウレベルの切り替え時に画素に飛び込む電圧は、映像
信号VDの書き込みにより打ち消すことができない。こ
のため、負極性の時も正極性と同様にゲート・ソース間
のカップリングCgsにより画素に飛び込む電圧は、画
素の電圧PXVを負の方向に低下させる。図3(a)で
は、この後1フレームの間、負極性の低い階調レベルの
映像信号VDが供給されるように描かれている。
As in the case of the positive polarity, the scanning signal VG
By switching from the low level to the high level, the voltage jumping into the pixel due to the coupling Cgs between the gate and the source can be canceled by writing the video signal VD from the video signal line. The voltage that jumps into the pixel at the time of switching cannot be canceled by writing the video signal VD. For this reason, even in the case of the negative polarity, similarly to the case of the positive polarity, the voltage jumping into the pixel due to the coupling Cgs between the gate and the source lowers the voltage PXV of the pixel in the negative direction. FIG. 3A illustrates that the video signal VD having a low gray level is supplied during one frame thereafter.

【0021】このように、液晶交流駆動の正極性及び負
極性共に、走査信号VGがハイレベルからロウレベルに
変化すると、TFTのゲート電極とソース電極間の寄生
容量Cgsによって、画素の電圧PXVは、書き込む時
点の映像信号VDのレベルに対して、図3(a)に点線
で示すように、電位低下成分ΔVが生じる。従って、液
晶表示装置の共通電極COMに与えられるバイアス電圧
Vcomは、同図(a)に二点鎖線で示すように、画素
の上記電圧PXVの、正極性及び負極性の間の、実質的
な中間のレベル(最適な共通電極電圧)に設定される。
すなわち共通電極COMに、画素電圧PXVの電位低下
ΔVを考慮した、最適な共通電極電圧を与えることによ
り、液晶の実質的な交流駆動を行うことができる。
As described above, when the scanning signal VG changes from the high level to the low level in both the positive polarity and the negative polarity of the liquid crystal AC drive, the parasitic capacitance Cgs between the gate electrode and the source electrode of the TFT causes the pixel voltage PXV to be: With respect to the level of the video signal VD at the time of writing, a potential drop component ΔV occurs as shown by a dotted line in FIG. Therefore, the bias voltage Vcom applied to the common electrode COM of the liquid crystal display device is substantially between the positive polarity and the negative polarity of the voltage PXV of the pixel as shown by a two-dot chain line in FIG. It is set to an intermediate level (optimal common electrode voltage).
That is, by applying an optimum common electrode voltage to the common electrode COM in consideration of the potential drop ΔV of the pixel voltage PXV, it is possible to perform a substantially AC drive of the liquid crystal.

【0022】《保持容量素子の動作》保持容量素子Ca
ddは、薄膜トランジスタTFTがスイッチングすると
き、画素電極電位PXVに対する走査信号の電位変化Δ
VGの影響を低減するように働く。この様子を式で表す
と次式1となる。
<< Operation of Storage Capacitance Element >> Storage Capacitance Element Ca
dd is a potential change Δ of the scanning signal with respect to the pixel electrode potential PXV when the thin film transistor TFT switches.
It works to reduce the effect of VG. This situation is expressed by the following equation (1).

【0023】[0023]

【数1】 ΔV={Cgs/(Cgs+Cds1+Cds2+Cadd+Cpix)}×ΔVG ………(1) ここで、ΔVは先に説明した走査信号の電位変化ΔVG
による画素電圧PXVの電位低下成分ΔVを表す。この
電位低下成分ΔVは液晶に加わる直流成分の原因となる
が、保持容量Caddを大きくすればする程、上記画素
電圧PXVの電位低下成分ΔVを小さくすることができ
る。また、保持容量素子Caddは放電時間を長くする
作用もあり、薄膜トランジスタTFTがオフした後の映
像情報を長く蓄積する。液晶に印加される直流成分の低
減は、液晶の寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え時
に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減させることが
できる。
ΔV = {Cgs / (Cgs + Cds1 + Cds2 + Cadd + Cpix)} × ΔVG (1) Here, ΔV is the potential change ΔVG of the scanning signal described above.
Represents a potential decrease component ΔV of the pixel voltage PXV. Although this potential drop component ΔV causes a DC component applied to the liquid crystal, the larger the storage capacitor Cadd, the smaller the potential drop component ΔV of the pixel voltage PXV can be made. In addition, the storage capacitance element Cadd also has a function of prolonging the discharge time, and stores video information after the thin film transistor TFT is turned off for a long time. The reduction of the DC component applied to the liquid crystal can improve the life of the liquid crystal and reduce so-called image sticking in which a previous image remains when the liquid crystal display screen is switched.

【0024】《画素構成》図4は上記等価回路に基づく
一画素に相当する領域の構成を示した平面図である。同
図は、液晶を介して互いに対向配置される一対の透明基
板のうち一方の透明基板(通常TFT基板と称される)
の液晶側の面から観た図である。
<< Pixel Configuration >> FIG. 4 is a plan view showing the configuration of a region corresponding to one pixel based on the above equivalent circuit. The figure shows one of a pair of transparent substrates opposed to each other via a liquid crystal (usually called a TFT substrate).
FIG. 3 is a view as viewed from a liquid crystal side surface of FIG.

【0025】まず、透明基板の表面に、図中x方向に延
在しy方向に並設される走査信号線Gi−1、Giが形
成されている。これら走査信号線Gi−1、Giはたと
えばクロム層で形成され、各画素の集合である表示領域
外から走査信号が供給されるようになっている。そし
て、このように走査信号線Gi−1、Giが形成された
透明基板の表面には該走査信号線Gi−1、Giをも被
ってたとえばSiNからなる絶縁膜INが形成されてい
る。この絶縁膜INは、後述する映像信号線Di、Di
+1に対しては走査信号線Gi−1、Giとの層間絶縁
膜としての機能、後述する薄膜トランジスタTFTの形
成領域においてはゲート絶縁膜としての機能、後述する
容量素子Caddの形成領域においては誘電体膜として
の機能を有するようになっている。
First, scanning signal lines Gi-1 and Gi extending in the x direction in the drawing and juxtaposed in the y direction are formed on the surface of the transparent substrate. These scanning signal lines Gi-1 and Gi are formed of, for example, a chromium layer, and a scanning signal is supplied from outside the display area which is a set of pixels. An insulating film IN made of, for example, SiN is formed on the surface of the transparent substrate on which the scanning signal lines Gi-1 and Gi are formed as described above so as to cover the scanning signal lines Gi-1 and Gi. The insulating film IN is formed of a video signal line Di, Di described later.
For +1, a function as an interlayer insulating film with the scanning signal lines Gi-1, Gi, a function as a gate insulating film in a region for forming a thin film transistor TFT described later, and a dielectric in a region for forming a capacitive element Cadd described later. It has a function as a film.

【0026】薄膜トランジスタTFTは、走査信号線G
iの一部をゲート電極として形成された逆スタガ構造の
MIS型トランジスタから構成されている。すなわち、
前記絶縁膜INを介して走査信号線Giの一部に重畳さ
れて、たとえばa−シリコンからなる半導体層ASが形
成され、この半導体層ASの表面にドレイン電極SD2
およびソース電極SD1が形成されることによって構成
されている。そして、この実施例では、前記半導体層A
Sは若干大きめの面積で形成され、この半導体層ASに
前記薄膜トランジスタTFTとともに付加容量素子Cr
everseが並設されて形成されている。
The thin film transistor TFT has a scanning signal line G
An MIS transistor having an inverted staggered structure in which a part of i is formed as a gate electrode. That is,
A semiconductor layer AS made of, for example, a-silicon is formed so as to overlap a part of the scanning signal line Gi via the insulating film IN, and a drain electrode SD2 is formed on the surface of the semiconductor layer AS.
And the source electrode SD1 is formed. In this embodiment, the semiconductor layer A
S is formed with a slightly larger area, and an additional capacitance element Cr is formed on the semiconductor layer AS together with the thin film transistor TFT.
The verses are formed side by side.

【0027】この部分の拡大図を図5(a)に示し、そ
のb−b線における断面図を図5(b)に示す。すなわ
ち、半導体層ASは、図中左側において薄膜トランジス
タTFTの形成領域、右側において付加容量素子Cre
verseの形成領域となっている。この場合、薄膜ト
ランジスタTFTはnチャネル型となっており、付加容
量素子Creverseはpチャネル型の薄膜トランジ
スタの構成にそのドレイン電極とソース電極を接続させ
て、接続不要構成としている。すなわち、これらの等価
回路を示すと図6のようになっている。
FIG. 5A is an enlarged view of this portion, and FIG. 5B is a cross-sectional view taken along the line bb. That is, the semiconductor layer AS has a thin-film transistor TFT formation region on the left side in the figure and an additional capacitance element Cre on the right side.
This is a region for forming a “verse”. In this case, the thin film transistor TFT is of an n-channel type, and the additional capacitance element Reverse is configured so that the drain electrode and the source electrode thereof are connected to the structure of the p-channel thin film transistor, and connection is unnecessary. That is, these equivalent circuits are shown in FIG.

【0028】図5(a)において、薄膜トランジスタT
FTの形成領域にはドレイン電極SD2およびソース電
極SD1が形成されている。また、付加容量素子Cre
verseの形成領域には、ドレイン電極SD4および
ソース電極SD3が形成されている。この場合、薄膜ト
ランジスタTFTのソース電極SD1と付加容量素子C
reverseのドレイン電極SD4は共通になってい
る。
In FIG. 5A, a thin film transistor T
A drain electrode SD2 and a source electrode SD1 are formed in the FT formation region. Also, the additional capacitance element Cre
The drain electrode SD4 and the source electrode SD3 are formed in the region where the version is formed. In this case, the source electrode SD1 of the thin film transistor TFT and the additional capacitance element C
The drain electrode SD4 of reverse is common.

【0029】ここで、薄膜トランジスタTFTの形成領
域の半導体層ASの各電極との界面にはn型不純物がド
ーピングされたオーミックコンタクト層OC2(ドレイ
ン電極SD2下にて)、OC1(ソース電極SD1下に
て)が形成され、また、付加容量素子Creverse
の形成領域の半導体層ASの各電極との界面にはp型不
純物がドーピングされたオーミックコンタクト層OC4
(ドイレン電極SD4下にて)、OC3(ソース電極S
D3下にて)が形成されている。
Here, an ohmic contact layer OC2 (under the drain electrode SD2) doped with an n-type impurity and an OC1 (under the source electrode SD1) are formed at the interface between the formation region of the thin film transistor TFT and each electrode of the semiconductor layer AS. ) Is formed, and the additional capacitance element Creverse is formed.
An ohmic contact layer OC4 doped with a p-type impurity is formed at the interface between the formation region of the semiconductor layer AS and each electrode.
(Under the drain electrode SD4), OC3 (source electrode S
D3).

【0030】このようなオーミックコンタクト層の形成
は次のようにして形成される。まず、半導体層ASの表
面に、その図中左側において選択的にn型不純物をドー
ピングした後、図中右側において選択的にp型不純物を
ドーピングする。そして、このようなオーミックコンタ
クト層の形成の後、その面に図5(a)に示すパターン
で各電極を形成し、これら電極をマスクとして、これら
電極から露呈しているオーミックコンタクト層をエッチ
ングする。そして、この場合の各電極は、たとえばクロ
ムからなる映像信号線Di、Di+1の形成と同時に形
成されるようになっている。映像信号線Di、Di+1
は図中y方向に延在されx方向に並設されて形成され、
その一部が前記半導体層の上面に延在させることによっ
てTFTのドレイン電極SD2が形成されるようになっ
ている。
Such an ohmic contact layer is formed as follows. First, the surface of the semiconductor layer AS is selectively doped with an n-type impurity on the left side in the figure, and then selectively doped with a p-type impurity on the right side in the figure. After the formation of such an ohmic contact layer, each electrode is formed on the surface in the pattern shown in FIG. 5A, and the ohmic contact layer exposed from these electrodes is etched using these electrodes as a mask. . Each electrode in this case is formed simultaneously with the formation of the video signal lines Di and Di + 1 made of, for example, chromium. Video signal lines Di, Di + 1
Are formed so as to extend in the y direction in the figure and be juxtaposed in the x direction,
The drain electrode SD2 of the TFT is formed by partially extending the upper surface of the semiconductor layer.

【0031】なお、この液晶表示装置の回路ではその極
性は動作中反転することから、ソース、ドイレンは動作
中入れ替わるようになっている。しかし、この明細書で
は、便宜上一方をソース、他方をドレインと固定して表
現している。また、該ドレイン電極SD2の形成と同時
にTFTのソース電極SD1、およびCreverse
の各電極が形成されるようになっている。このソース電
極SD1は、後述する画素電極PIXと接続される電極
となっており、互いに隣接する走査信号線Gi−1、G
iと映像信号線Di、Di+1とで囲まれた領域内にま
で延在して形成されている。
Since the polarity of the circuit of the liquid crystal display device is reversed during operation, the source and drain are switched during operation. However, in this specification, one is fixed and the other is fixed as a drain for convenience. At the same time as the formation of the drain electrode SD2, the source electrode SD1 of the TFT and Crevase
Are formed. The source electrode SD1 is an electrode connected to a pixel electrode PIX to be described later, and is adjacent to the scanning signal lines Gi-1 and G-1.
It is formed to extend to a region surrounded by i and the video signal lines Di and Di + 1.

【0032】そして、このように薄膜トランジスタTF
Tが形成された透明基板の表面には該薄膜トランジスタ
TFTをも被ってたとえばSiNからなる保護膜PAS
が形成されている。この保護膜PASは該薄膜トランジ
スタTFTの液晶との直接の接触を回避できるようにし
その特性の安定化を図っている。
Then, as described above, the thin film transistor TF
A protective film PAS made of, for example, SiN covers the thin film transistor TFT on the surface of the transparent substrate on which the T is formed.
Are formed. The protective film PAS can prevent direct contact of the thin film transistor TFT with the liquid crystal to stabilize its characteristics.

【0033】この場合、この保護膜PASは、互いに隣
接する走査信号線Gi−1、Giと映像信号線Di、D
i+1とで囲まれた領域内において前記TFTのソース
電極SD1の延在部の一部を露出させるコンタクト孔C
ON1が形成されるようになっている。次に説明する画
素電極PIXとの接続を図るためである。
In this case, the protective film PAS is provided between the scanning signal lines Gi-1 and Gi and the video signal lines Di and D adjacent to each other.
a contact hole C exposing a part of the extension of the source electrode SD1 of the TFT in a region surrounded by i + 1
ON1 is formed. This is for connection with the pixel electrode PIX described below.

【0034】そして、この保護膜PASの上面であっ
て、互いに隣接する走査信号線Gi−1、Giと映像信
号線Di、Di+1とで囲まれた領域に画素電極PIX
が形成されている。この場合、画素電極PIXは前記コ
ンタクト孔CON1を通してソース電極SD1と接続が
なされるようになっている。
The pixel electrode PIX is located on the upper surface of the protective film PAS and surrounded by the adjacent scanning signal lines Gi-1 and Gi and the video signal lines Di and Di + 1.
Are formed. In this case, the pixel electrode PIX is connected to the source electrode SD1 through the contact hole CON1.

【0035】画素電極PIXは、たとえばITO(Indi
um-Tin-Oxide)膜からなる透明電極からなり、液晶の光
透過率を変化させる電界を発生するための一方の電極と
して構成されている。さらに、この画素電極が形成され
た透明基板の表面には、その全域(少なくとも表示部領
域)にわたって配向膜ORが形成されている。この配向
膜ORは液晶と接触して該液晶の分子の初期配向方向を
規制する膜となっている。
The pixel electrode PIX is made of, for example, ITO (Indi
It consists of a transparent electrode made of a um-Tin-Oxide) film, and is configured as one electrode for generating an electric field that changes the light transmittance of the liquid crystal. Further, an alignment film OR is formed on the entire surface (at least the display area) of the surface of the transparent substrate on which the pixel electrodes are formed. This alignment film OR is a film that contacts the liquid crystal and regulates the initial alignment direction of the molecules of the liquid crystal.

【0036】このように形成されたTFT基板は液晶を
介していわゆるフィルタ基板が配置されるようになって
おり、この基板の液晶側の面には画素領域を画するブラ
ックマトリックスが、このブラックマトリックスの開口
部すなわち実質的に画素領域となる部分にカラーフィル
タが、また、全域(少なくとも表示部領域)にわたって
各画素に共通な共通電極(透明電極)が形成され、この
共通電極の表面には配向膜が形成されている。
In the TFT substrate thus formed, a so-called filter substrate is arranged via a liquid crystal, and a black matrix defining a pixel area is provided on the liquid crystal side surface of the substrate. A color filter is formed in the opening of the pixel, that is, a portion substantially serving as a pixel area, and a common electrode (transparent electrode) common to each pixel is formed over the entire area (at least the display area). A film is formed.

【0037】なお、この実施例において、付加容量素子
Creverseの構成は必ずしも図5に示したものに
限定されないことはいうまでもない。他の種々の構成が
考えられるからである。そして、要は、薄膜トランジス
タTFTのゲート電極と画素電極との間にそれらの間の
寄生容量における電圧依存性を低減させる手段が設けら
れていればよいからである。また、上述した実施例で
は、液晶表示装置としていわゆる縦電界方式のものを対
象としたものであるが、いわゆる横電界方式のものにも
適用できることはいうまでもない。横電界方式であって
も、薄膜トランジスタの寄生容量に係る従来の不都合に
おいては全く事情が同じでからである。
In this embodiment, it goes without saying that the configuration of the additional capacitance element Creverse is not necessarily limited to that shown in FIG. This is because other various configurations are conceivable. The point is that a means for reducing the voltage dependence of the parasitic capacitance between the gate electrode and the pixel electrode of the thin film transistor TFT may be provided. In the above-described embodiment, the liquid crystal display device is of a so-called vertical electric field type, but it is needless to say that the present invention can be applied to a so-called horizontal electric field type. This is because the situation is completely the same in the conventional inconvenience relating to the parasitic capacitance of the thin film transistor even in the in-plane switching method.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明による液晶表示装置によれば、表示品質の向上を
図ることができるようになる。
As is apparent from the above description,
According to the liquid crystal display device of the present invention, the display quality can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による液晶表示装置の一実施例を示す等
価回路図である。
FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing one embodiment of a liquid crystal display device according to the present invention.

【図2】本発明による液晶表示装置の効果を示す説明図
である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an effect of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図3】本発明による液晶表示装置の動作を示すタイミ
ング図である。
FIG. 3 is a timing chart showing an operation of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図4】本発明による液晶表示装置の画素構成の一実施
例を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing one embodiment of a pixel configuration of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図5】図4の一部を拡大した平面図および断面図であ
る。
5 is an enlarged plan view and a sectional view of a part of FIG. 4;

【図6】薄膜トランジスタとそれに接続される付加容量
素子を示す等価回路図である。
FIG. 6 is an equivalent circuit diagram showing a thin film transistor and an additional capacitance element connected to the thin film transistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

TFT……薄膜トランジスタ、Cgs……寄生容量、C
reverse……付加容量素子、Cpix……画素電
極。
TFT: thin film transistor, Cgs: parasitic capacitance, C
reverse: additional capacitance element, Cpix: pixel electrode.

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成11年8月4日(1999.8.4)[Submission date] August 4, 1999 (1999.8.4)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0027[Correction target item name] 0027

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0027】この部分の拡大図を図5(a)に示し、そ
のb−b線における断面図を図5(b)に示す。すなわ
ち、半導体層ASは、図中左側において薄膜トランジス
タTFTの形成領域、右側において付加容量素子Cre
verseの形成領域となっている。この場合、薄膜ト
ランジスタTFTはnチャネル型となっており、付加容
量素子Creverseはpチャネル型の薄膜トランジ
スタの構成にそのドレイン電極とソース電極を接続させ
、構成としている。すなわち、これらの等価回路を示
すと図6のようになっている。
FIG. 5A is an enlarged view of this portion, and FIG. 5B is a cross-sectional view taken along the line bb. That is, the semiconductor layer AS has a thin-film transistor TFT formation region on the left side in the figure and an additional capacitance element Cre on the right side.
This is a region for forming a “verse”. In this case, the thin film transistor TFT is a n-channel type, the additional capacitance element Creverse is by connecting the drain electrode and the source electrode to the structure of the p-channel type thin film transistor, and a configuration. That is, these equivalent circuits are shown in FIG.

フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 HA04 JA24 JA26 JA47 KA24 KB04 NA01 NA23 2H093 NA16 NA32 NC34 NC35 NC67 ND15 ND35 ND60 NE03 5C058 AA06 AB02 BA02 BA06 5C094 AA13 AA21 AA53 BA03 BA43 CA19 DB04 DB10 EA04 EA05 FA01 5F110 AA30 BB01 CC07 EE04 FF03 GG02 GG15 HK04 HK08 HK21 NN02 NN24 NN72 NN73 Continuation of the front page F term (reference) 2H092 HA04 JA24 JA26 JA47 KA24 KB04 NA01 NA23 2H093 NA16 NA32 NC34 NC35 NC67 ND15 ND35 ND60 NE03 5C058 AA06 AB02 BA02 BA06 5C094 AA13 AA21 AA53 BA03 BA43 CA19 DB04 DB10 EA04 CC FF03 GG02 GG15 HK04 HK08 HK21 NN02 NN24 NN72 NN73

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 映像信号を画素電極に供給する薄膜トラ
ンジスタと、この薄膜トランジスタのゲート電極と画素
電極との間に設けられ、それらの間の電圧に依存する寄
生容量特性とほぼ逆の特性を備える手段と、を備えるこ
とを特徴とする液晶表示装置。
1. A thin film transistor for supplying a video signal to a pixel electrode, and means provided between the gate electrode and the pixel electrode of the thin film transistor and having a characteristic substantially opposite to a parasitic capacitance characteristic depending on a voltage between the thin film transistor and the pixel electrode. A liquid crystal display device comprising:
【請求項2】 映像信号を画素電極に供給する薄膜トラ
ンジスタと、この薄膜トランジスタのゲート電極と画素
電極との間に設けられ、それらの間の寄生容量における
電圧依存性を低減させる付加容量素子と、を備えること
を特徴とする液晶表示装置。
2. A thin film transistor for supplying a video signal to a pixel electrode, and an additional capacitance element provided between the gate electrode and the pixel electrode of the thin film transistor for reducing the voltage dependency of a parasitic capacitance therebetween. A liquid crystal display device comprising:
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