JP2000292759A

JP2000292759A - 液晶パネルの検査解析方法

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Publication number: JP2000292759A
Application number: JP11099039A
Authority: JP
Inventors: Kimio Momose; 君夫百瀬
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 1999-04-06
Filing date: 1999-04-06
Publication date: 2000-10-20

Abstract

(57)【要約】【課題】液晶パネルの目視検査において表示不良の生
じている基板を容易に特定できる検査解析方法を提供す
る。【解決手段】第１基板２および第２基板３におけるそ
れぞれのドライバを実装する突出部２Ｂ、３Ｂと反対側
の側縁に沿って設定された一点鎖線ａ、ｂで、第１基板
２と第２基板３とを共に分断する。次に、二点鎖線ｃに
沿って第２基板３を切断し、二点鎖線ｄに沿って第１基
板２を切断して、第１基板２、第２基板３どうしを平面
方向に相対移動（スライド）可能にする。次に、例えば
表示面にしみやむらなどの表示不良部分が目視される場
合に、表示不良部分がどちらに移動したかにより表示不
良部分が属す基板を特定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は液晶パネルの検査解
析方法に関し、さらに詳しくは、液晶パネルを構成する
相対向する一対の基板のうちいずれに不良箇所が存在す
るかを確認するための検査解析方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、液晶パネルは高精細化ならびに大
型化が進み、製造プロセスのアレイ工程に注目すると、
短期間にプロセス技術の進歩と生産性の向上を達成して
いる。これに伴い、製造された液晶パネルに不良箇所が
発生しているか否かを検査する検査解析技術も改善・改
良が行なわれている。

【０００３】従来、液晶パネルのアレイ工程で行なわれ
る検査技術としては、電気式検査方法と光学式検査方法
との２種類に大別することができる。電気式検査方法と
しては、基板上に形成された電極パターンに対応させて
多数のプローブを接触させ、電気特性の計測を行なって
不良箇所の発生がないか否かの検査を行なう技術があ
る。光学式検査方法としては、画像処理技術を応用し
て、電極パターンに非接触で検査を行なう画像処理技術
を応用した技術などがある。これらの検査技術は、それ
ぞれの特徴を生かして、液晶パネルのアレイ工程におけ
る用途・目的に応じて用いられている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た検査解析方法は個々の表示用電極や画素などの良・不
良を自動的に検査することができるものの、液晶パネル
の表示領域における、しみ、むらなどの電気的不良を伴
わない、もしくは電気的異常が微少でありパネルとして
点灯しなければ現れない不具合の検査解析には不向きで
あるとされている。液晶パネルでは、対向する一対の基
板を有するが、製造プロセスではこれら基板のどちらか
に不具合がある場合には、早期に不具合の存在する基板
を特定する必要がある。このため、上記した検査解析方
法を施した後は、別に目視による検査が行なわれてい
る。しかし、目視検査では、シール材で一体的に貼り合
わされた基板のどちらに不具合があるかの特定が困難で
あった。

【０００５】本発明が解決しようとする課題は、液晶パ
ネルの目視検査において、不具合の生じている基板を確
実に特定することのできる、検査解析方法を得るにはど
のようにすればよいかという点にある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】そこで、本発明は、互い
に対向する面に表示用電極が形成された、第１基板と第
２基板との間に液晶が封止された液晶パネルの検査解析
方法であって、基板どうしをスライド可能に切断する切
断工程と、それぞれの基板に形成された表示用電極に駆
動電力を供給しつつ基板どうしを相対的にスライドさせ
て表示不良箇所の移動方向を判別しその移動方向に基づ
いて前記第１基板、前記第２基板のいずれかに表示不良
箇所が属することを判別する判別工程と、を備える、液
晶パネルの検査解析方法とした。

【０００７】このような構成の本発明によれば、液晶パ
ネルを構成する第１基板と第２基板とが切断工程により
互いにスライド可能になり、表示用電極に駆動電力を供
給した状態で第１基板と第２基板とを相対的にスライド
移動させることで表示不良箇所がどちらの基板に帰属す
るかを判別することができる。このため、本発明を液晶
パネルの製造プロセスに導入することで、第１基板側の
製造ライン、第２基板側の製造ラインのいずれか、また
は双方に問題点があることを確認することができる。

【０００８】また、本発明は、第１基板と第２基板との
間には、全表示領域を周回するようにシール材が介在さ
れ、切断工程でシール材の内側に沿って切断を行なうこ
とが好ましい。

【０００９】このような構成の本発明では、第１基板と
第２基板とを貼り合わせるシール材の内側に沿って切断
することにより、第１基板と第２基板の表示領域を形成
する部分どうしをスライド可能にすることができる。

【００１０】さらに、本発明は、液晶パネルが、互いに
隣接する２つの側縁部のうち、一方の前記側縁部に、前
記第１基板が前記第２基板の周縁より側方へ延在された
第１突出部を有し、かつ他方の前記側縁部に、前記第２
基板が前記第１基板の周縁より側方へ延在された第２突
出部を有するとともに、前記第１突出部と前記第２突出
部とに形成された前記表示用電極の端子にドライバＩＣ
の出力側が接続され、前記ドライバＩＣの入力側に制御
回路が接続されてなることを特徴とする。

【００１１】このような構成の本発明では、第１基板と
第２基板のそれぞれの突出部にドライバＩＣが接続さ
れ、これらドライバＩＣに制御回路が接続されているた
め、判別工程において、表示領域を表示状態で表示不良
箇所の判別を行なうことが可能となり、表示不良箇所の
視認性を高めて検査効率を高めることができる。

【００１２】また、本発明は、第１突出部に沿って形成
されたシール材の内側で第２基板のみを切断し、第２突
出部に沿って形成されたシール材の内側で第１基板のみ
を切断し、第１突出部と反対側の側縁部で第１基板およ
び第２基板を切断し、第２突出部と反対側の側縁部で第
１基板および第２基板を切断する構成とすることが好ま
しい。

【００１３】このような構成の本発明では、突出部と反
対側の側縁部で第１基板と第２基板とを切断し、かつ突
出部に沿って形成されたシール材の内側で突出部が属す
る基板と対向する側の基板を切断することで、第１基板
と第２基板とは互いにスライドが可能となる。また、こ
のような切断を行なった結果、断面に液晶層が露出する
箇所が生じるが第１基板と第２基板との間隙は極めて狭
く設定されているため、毛細管現象が起こるため、液晶
が流出することはない。

【００１４】さらに、本発明は、第１基板に形成された
表示用電極は走査電極であり、第２基板に形成された表
示用電極は信号電極である構成の液晶パネルの検査解析
を行なう場合に適用できる。このような構成では、第１
基板側の走査電極と第２基板側の信号電極とのいずれに
表示不良の原因となる箇所があるかを判別することが可
能となる。このような構成の本発明が適用できる液晶パ
ネルとしては、ＴＦＤ（Thin Film Diode：薄膜ダイオ
ード）をスイッチング素子として備えるアクティブマト
リクス方式の液晶パネルと、パッシブマトリクス方式の
液晶パネルとがある。

【００１５】また、本発明は、表示領域全体を全表示状
態で判別工程を施すことが好ましい。このように行なう
ことにより、表示領域の視認性が高い状態で表示不良箇
所の判別を行なうことができる。

【００１６】さらに、本発明は、第１基板に形成された
表示用電極が、表示用光に対して反射性を有し、第２基
板に形成された表示用電極が、表示用光に対して透過性
を有する液晶パネルに適用することができる。

【００１７】このような検査解析方法では、反射型の液
晶パネルにおける表示不良箇所の判別を容易に行なうこ
とが可能になる。

【００１８】また、本発明は、第１基板および第２基板
に形成された表示用電極が、表示用光に対して透過性を
有する透過型の液晶パネルに適用することができる。こ
のような構成の本発明では、液晶パネルの後方に照明装
置を配置した状態で判別工程を行なうことが好ましい。
なお、照明装置は、液晶パネルから適宜離した位置に配
置し、表示不良判別が可能な明るさを有するものであれ
ばよい。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る液晶パネルの
検査解析方法の詳細を図面に示す実施形態に基づいて説
明する。

【００２０】本実施形態で検査の対照となる液晶パネル
について説明する。この液晶パネルとしては、ＴＦＴ
（Thin Film Transistor）やＴＦＤなどのスイッチング
素子を備えるアクティブマトリクス方式の液晶パネル
や、パッシブマトリクス方式の液晶パネルを用いること
ができる。なお、本実施形態では、パッシブマトリクス
方式の透過型の液晶パネルを用いて説明する。

【００２１】本実施形態での被検査用の液晶パネル１の
構成を図１を用いて具体的に説明する。この液晶パネル
１は、相対向する第１基板２および第２基板３との間
に、図示しない液晶が封止されて大略構成されている。

【００２２】第１基板２における第２基板３と対向する
面には、複数の走査電極が互いに平行をなすように形成
され、これらの走査電極端子４Ａが第１基板２の一側縁
に引き回されている。この第１基板２の一側縁は、第２
基板３に対して側方へ突出する突出部２Ｂである。ま
た、これらの走査電極端子４Ａに対峙して、複数の外部
端子５が第１基板２の突出部２Ｂの縁部側に形成されて
いる。一方、第２基板３における第１基板と対向する面
には、互いに平行をなす複数の信号電極（図示省略す
る）が、上記した走査電極と交差する方向に形成されて
いる。また、これらの信号電極端子と外部端子とが信号
電極の延在方向に位置する第２基板３の突出部３Ｂに形
成されている。

【００２３】上記した第１基板２と第２基板３とは、図
１に示すように、第１基板２の走査電極端子４Ａが形成
された突出部２Ｂと、第２基板３の信号電極端子が形成
された突出部３Ｂとが隣接するように、対向・配置され
ている。そして、第１および第２基板２、３は、表示領
域全体を周回するように配置・形成されたシール材６を
介して貼り合わされている。そして、第１基板２、第２
基板３およびシール材６とで形成される間隙に図示しな
い液晶が注入されている。なお、図１に符号６Ａで示す
部材は、液晶を注入する注入口を塞ぐ封止材を示してい
る。なお、表示領域に相当する両基板２、３の対向面に
は、図示しない配向膜が形成され、これら配向膜どうし
の間には基板間の間隙を規定、保持するギャップ材が配
置されている。

【００２４】このような液晶パネル１において、第１基
板２の突出部２Ｂに形成された走査電極端子と外部端子
とを跨ぐように、走査用ドライバＩＣ７が実装されてい
る。また、第２基板３の突出部３Ｂに形成された信号電
極端子と外部端子とを跨ぐように、データ信号用ドライ
バＩＣ８Ａ、８Ｂが実装されている。また、第１基板２
に形成した外部端子と第２基板３に形成した外部端子と
には、それぞれＦＰＣ（フレキシブルプリント配線基
板）が接続されている。以下に説明する検査工程では、
ＦＰＣが制御回路基板に接続された状態で行なう。

【００２５】このような液晶パネル１を被検査用パネル
として、本実施形態の検査解析方法を適用する。まず、
液晶パネル１を図１に示す一点鎖線ａ、ｂに沿って分断
する。これら一点鎖線ａ、ｂは、第１基板２および第２
基板３におけるそれぞれのドライバを実装する突出部２
Ｂ、３Ｂと反対側の側縁に沿って引かれたものであり、
シール材６の内側に設定されている。この分断では、第
１基板２と第２基板３とを共に分断する。このような分
断を行なうには、スクライブ装置を用いて行なうことが
できる。なお、液晶パネル１を一点鎖線ａ、ｂで分断し
た場合、分断面に液晶層が露出することになるが、第１
基板２と第２基板３との間隙は狭小であるため、毛細管
現象が生じており、液晶が流出して両基板２、３間が空
洞となることはない。

【００２６】次に、液晶パネル１を図１に示す二点鎖線
ｃ、ｄに沿って一方の基板のみを切断する。具体的に
は、二点鎖線ｃに沿って第２基板３を切断し、二点鎖線
ｄに沿って第１基板２を切断する。なお、これら二点鎖
線ｃ、ｄは、シール材６の内側を通っている。

【００２７】以上のように、液晶パネル１に対して分断
・切断処理を行なうことにより、第１基板２、第２基板
３どうしは、平面方向に相対移動（スライド）が可能に
なる。図２は図１のＡ−Ａ断面を示しており、一点鎖線
ｂで分断された第１基板２の周縁部と第２基板３の周縁
部を除去した状態を示している。

【００２８】次に、判別工程について説明する。上記し
たように第１基板２と第２基板３とが相互にスライド可
能となった状態において、例えば図４に示すように後方
（下方）に照明装置１０を配置して判別を行なう。すな
わち、第１基板２と第２基板３とがスライド可能となっ
た液晶パネルに全画素表示（例えばノーマリブラックの
場合は白表示）を行いつつ、図３に示すように第１基板
２を固定して第２基板３を矢印の示す方向へスライドさ
せる。因に、図５に示すように、第２基板３をスライド
させることにより、第１基板２の表示領域に形成された
走査電極４が配向膜を介して露呈する。なお、照明装置
１０は、表示不良箇所を判別するのに適切な明るさおよ
び面積を有するものであればよく、バックライトシステ
ムと同様のものを用いてもよい。

【００２９】このとき、図４および図５に示すように、
例えば表示面にしみやむらなどの表示不良部分９が目視
される場合に、表示不良部分９が破線で示す位置から実
線で示す位置へ移動すると、表示不良部分９は第２基板
３側に属すことが確認できる。逆に、第２基板３をスラ
イドさせても表示不良部分９が移動しない場合は、表示
不良部分９が第１基板２側に属することが確認できる。
このように、液晶パネル１を全表示した状態で、第１基
板２と第２基板３とを相対移動させることで、表示不良
部分９が属する基板を特定することができる。なお、図
４および図５においては、第１基板２の突出部２Ｂと第
２基板３の突出部３Ｂとに接続したＦＰＣの図示を省略
している。

【００３０】このような検査解析により表示不良部分９
が属する基板が特定できた後は、例えば第１基板２の製
造ラインに不良箇所がないか点検を行ない、製造ライン
に改善を施すことが可能となる。

【００３１】以上、実施形態について説明したが、本発
明はこれに限定されるものではなく、構成の要旨に付随
する各種の変更が可能である。例えば、本実施形態で
は、パッシブマトリクス方式の透過型の液晶パネル１に
本発明を適用したが、パッシブマトリクス方式の反射型
の液晶パネルや、ＴＦＤやＴＦＴをスイッチング素子と
して備える透過型または反射型の液晶パネルに本発明を
適用することも可能である。

【００３２】また、上記した実施形態では、液晶パネル
１の表示領域のしみやむらなどの表示不良箇所を検査・
解析したが、点灯不良などの電気的な不良箇所の検査解
析にも本発明を適用できることはいうまでもない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る液晶パネルの検査解析方法の実施
形態における切断・分断工程を説明する平面図である。

【図２】図１のＡ−Ａ断面図である。

【図３】本発明に係る実施形態において第１基板に対し
て第２基板を横方向へスライドさせた状態を示す断面図
である。

【図４】本発明に係る実施形態における判別工程を示す
斜視図である。

【図５】本発明に係る実施形態における判別工程を示す
平面図である。

【符号の説明】

１液晶パネル２第１基板２Ｂ突出部３第２基板３Ｂ突出部４走査電極４Ａ走査電極端子５外部端子６シール材７走査用ドライバＩＣ８Ａ、８Ｂデータ信号用ドライバＩＣ９表示不良箇所１０照明装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】互いに対向する面に表示用電極が形成さ
れた、第１基板と第２基板との間に液晶が封止された液
晶パネルの検査解析方法であって、前記基板どうしをス
ライド可能に切断する切断工程と、それぞれの前記基板
に形成された前記表示用電極に駆動電力を供給しつつ前
記基板どうしを相対的にスライドさせて表示不良箇所の
移動方向を判別しその移動方向に基づいて前記第１基
板、前記第２基板のいずれかに表示不良箇所が属するこ
とを判別する判別工程と、を備えることを特徴とする液
晶パネルの検査解析方法。
【請求項２】前記第１基板と前記第２基板との間に
は、全表示領域を周回するようにシール材が介在され、
前記切断工程で前記シール材の内側に沿って切断を行な
うことを特徴とする請求項１記載の液晶パネルの検査解
析方法。
【請求項３】前記液晶パネルは、互いに隣接する２つ
の側縁部のうち、一方の前記側縁部に、前記第１基板が
前記第２基板の周縁より側方へ延在された第１突出部を
有し、かつ他方の前記側縁部に、前記第２基板が前記第
１基板の周縁より側方へ延在された第２突出部を有する
とともに、前記第１突出部と前記第２突出部とに形成さ
れた前記表示用電極の端子にドライバＩＣの出力側が接
続され、前記ドライバＩＣの入力側に制御回路が接続さ
れてなることを特徴とする請求項１または請求項２に記
載の液晶パネルの検査解析方法。
【請求項４】前記第１突出部に沿って形成されたシー
ル材の内側で前記第２基板のみを切断し、前記第２突出
部に沿って形成されたシール材の内側で前記第１基板の
みを切断し、前記第１突出部と反対側の側縁部で前記第
１基板および前記第２基板を切断し、前記第２突出部と
反対側の側縁部で前記第１基板および前記第２基板を切
断することを特徴とする請求項３記載の液晶パネルの検
査解析方法。
【請求項５】前記第１基板に形成された表示用電極は
走査電極であり、前記第２基板に形成された表示用電極
は信号電極であることを特徴とする請求項１ないし請求
項４のいずれかに記載の液晶パネルの検査解析方法。
【請求項６】前記判別工程は、表示領域全体を全表示
状態で行なうことを特徴とする請求項１ないし請求項５
のいずれかに記載の液晶パネルの検査解析方法。
【請求項７】前記第１基板に形成された表示用電極
は、表示用光に対して反射性を有し、前記第２基板に形
成された表示用電極は、表示用光に対して透過性を有す
ることを特徴とする請求項１ないし請求項６のいずれか
に記載の液晶パネルの検査解析方法。
【請求項８】前記第１基板および前記第２基板に形成
された表示用電極は、表示用光に対して透過性を有する
ことを特徴とする請求項１ないし請求項６のいずれかに
記載の液晶パネルの検査解析方法。
【請求項９】前記液晶パネルの後方に照明装置を配置
した状態で前記判別工程を行なうことを特徴とする請求
項８記載の液晶パネルの検査解析方法。