JP2000276770A - 高密度光ディスク - Google Patents
高密度光ディスクInfo
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- JP2000276770A JP2000276770A JP11081043A JP8104399A JP2000276770A JP 2000276770 A JP2000276770 A JP 2000276770A JP 11081043 A JP11081043 A JP 11081043A JP 8104399 A JP8104399 A JP 8104399A JP 2000276770 A JP2000276770 A JP 2000276770A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 狭トラックピッチ基板に微小マーク記録する
高密度光ディスクにおいて、特に信号の記録、消去時に
おけるクロスライトやクロスイレースを軽減することを
目的とする。 【解決手段】 高密度光ディスク10は、保護層11、
記録層12、及び基板13を備えている。基板13には
トラック方向に延びる壁部13aと溝部13bとが径方
向に交互に形成されている。そして、溝部13bには記
録材料が充填され、記録層12が形成されている。記録
層12は高密度光ディスク10の径方向に、つまりトラ
ックごとに、熱伝導率の小さい基板13の壁部13aに
よって分断されている。更に好ましくは、トラック内に
おいても記録マークごとに記録層12が分断され、記録
マーク間に記録材料より熱伝導率の小さい材料が介在し
ている。
高密度光ディスクにおいて、特に信号の記録、消去時に
おけるクロスライトやクロスイレースを軽減することを
目的とする。 【解決手段】 高密度光ディスク10は、保護層11、
記録層12、及び基板13を備えている。基板13には
トラック方向に延びる壁部13aと溝部13bとが径方
向に交互に形成されている。そして、溝部13bには記
録材料が充填され、記録層12が形成されている。記録
層12は高密度光ディスク10の径方向に、つまりトラ
ックごとに、熱伝導率の小さい基板13の壁部13aに
よって分断されている。更に好ましくは、トラック内に
おいても記録マークごとに記録層12が分断され、記録
マーク間に記録材料より熱伝導率の小さい材料が介在し
ている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高密度記録が可能
な光ディスクに関する。ここでいう光ディスクには、相
変化型の記録材料を用いた狭義の光ディスクと、磁気記
録材料を用いた光磁気ディスクの両方が含まれる。
な光ディスクに関する。ここでいう光ディスクには、相
変化型の記録材料を用いた狭義の光ディスクと、磁気記
録材料を用いた光磁気ディスクの両方が含まれる。
【0002】
【従来の技術】近年、光ディスクを用いた情報記録装置
にあっては、高密度化、大容量化が急速に進んできてい
る。例えば、トラックのピッチ1.1μm、記録マーク
長0.64μmの高密度光ディスクが実現している。ま
た、更なる高密度化、大容量化のために、ランドとグル
ーブの両方に記録を行うランド・グルーブ記録法が提案
されている。
にあっては、高密度化、大容量化が急速に進んできてい
る。例えば、トラックのピッチ1.1μm、記録マーク
長0.64μmの高密度光ディスクが実現している。ま
た、更なる高密度化、大容量化のために、ランドとグル
ーブの両方に記録を行うランド・グルーブ記録法が提案
されている。
【0003】一方、再生時の分解能を高める方法とし
て、磁気超解像法や光超解像法が提案されている(例え
ば特開平8−77626号公報及びJpn. J. Appl. Phy
s. Vol.37 (1998) pp. 1323-1325参照)。これらの再生
方法によれば、再生時の光スポットに複数の記録マーク
が含まれる場合であっても、磁気的又は光学的に生成し
たマスクを通して1つの記録マークのみを読み取ること
ができる。その結果、光源の波長と対物レンズの開口数
とで制限される光スポットの大きさより小さな記録マー
クの記録及び再生が可能になる。
て、磁気超解像法や光超解像法が提案されている(例え
ば特開平8−77626号公報及びJpn. J. Appl. Phy
s. Vol.37 (1998) pp. 1323-1325参照)。これらの再生
方法によれば、再生時の光スポットに複数の記録マーク
が含まれる場合であっても、磁気的又は光学的に生成し
たマスクを通して1つの記録マークのみを読み取ること
ができる。その結果、光源の波長と対物レンズの開口数
とで制限される光スポットの大きさより小さな記録マー
クの記録及び再生が可能になる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】トラックピッチを小さ
くすることによる高密度化の問題点として、隣接トラッ
ク間のクロストークがある。これは、再生時に、隣接ト
ラックに記録された信号を誤って読み取る現象である。
また、信号を記録・消去する際の問題として、隣接トラ
ックに誤って信号を記録してしまうクロスライトや、隣
接トラックの記録信号を誤って消去してしまうクロスイ
レースの問題がある。
くすることによる高密度化の問題点として、隣接トラッ
ク間のクロストークがある。これは、再生時に、隣接ト
ラックに記録された信号を誤って読み取る現象である。
また、信号を記録・消去する際の問題として、隣接トラ
ックに誤って信号を記録してしまうクロスライトや、隣
接トラックの記録信号を誤って消去してしまうクロスイ
レースの問題がある。
【0005】更に、記録マーク長を短くすることによる
高密度化の問題点として、記録マークの位置ずれがエラ
ーレートに及ぼす影響が大きくなることがある。いわゆ
る、サーマルシフトによる信号のジッタの増加が顕著に
なる問題が生ずる。
高密度化の問題点として、記録マークの位置ずれがエラ
ーレートに及ぼす影響が大きくなることがある。いわゆ
る、サーマルシフトによる信号のジッタの増加が顕著に
なる問題が生ずる。
【0006】したがって、従来の技術の延長線上で光デ
ィスクの記録密度を更に高めようとすると、記録、再
生、消去のマージンが狭くなり、光ディスクに求められ
る特性のすべてを満たすことが困難になる。
ィスクの記録密度を更に高めようとすると、記録、再
生、消去のマージンが狭くなり、光ディスクに求められ
る特性のすべてを満たすことが困難になる。
【0007】本発明は、上記のような従来の問題点に鑑
みてなされたものであり、狭トラックピッチ基板に微小
マーク記録する高密度光ディスクにおいて、特に信号の
記録、消去時におけるクロスライトやクロスイレースを
軽減することを目的とする。
みてなされたものであり、狭トラックピッチ基板に微小
マーク記録する高密度光ディスクにおいて、特に信号の
記録、消去時におけるクロスライトやクロスイレースを
軽減することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による光ディスク
は、ディスク基板上に形成された記録領域がトラックご
とに分断され、トラック間に記録領域を構成する記録材
料より熱伝導率の小さい材料が介在していることを特徴
とする。このような構成によれば、信号の記録、消去時
に照射される光ビームによるビームスポット部の温度上
昇が隣接トラックまで伝達されにくくなるので、トラッ
クピッチが狭くてもクロスライトやクロスイレースの現
象が発生しにくくなる。
は、ディスク基板上に形成された記録領域がトラックご
とに分断され、トラック間に記録領域を構成する記録材
料より熱伝導率の小さい材料が介在していることを特徴
とする。このような構成によれば、信号の記録、消去時
に照射される光ビームによるビームスポット部の温度上
昇が隣接トラックまで伝達されにくくなるので、トラッ
クピッチが狭くてもクロスライトやクロスイレースの現
象が発生しにくくなる。
【0009】また、トラック間だけでなく、トラック内
においても記録マークごとに記録領域が分断され、記録
マーク間に記録材料より熱伝導率の小さい材料が介在し
ていることが好ましい。この構成によれば、記録マーク
の位置ずれによるサーマルシフトの影響も緩和され、信
号再生時のジッタが軽減される。
においても記録マークごとに記録領域が分断され、記録
マーク間に記録材料より熱伝導率の小さい材料が介在し
ていることが好ましい。この構成によれば、記録マーク
の位置ずれによるサーマルシフトの影響も緩和され、信
号再生時のジッタが軽減される。
【0010】具体的な構成として、請求項3の高密度光
ディスクでは、基板に記録マークに相当する微細穴が所
定ピッチで形成され、微細穴に記録材料が充填されてい
る。例えば、ガラスや樹脂のような比較的熱伝導率の小
さい材料で形成された基板に微細穴が形成され、TbF
eCoのような磁性記録材料又はGeSbTeのような
相変化型光記録材料が微細穴に充填される。これによ
り、熱伝導率の大きい記録材料が熱伝導率の小さい材料
でトラックごと、及び、記録マークごとに分断された構
造が実現する。
ディスクでは、基板に記録マークに相当する微細穴が所
定ピッチで形成され、微細穴に記録材料が充填されてい
る。例えば、ガラスや樹脂のような比較的熱伝導率の小
さい材料で形成された基板に微細穴が形成され、TbF
eCoのような磁性記録材料又はGeSbTeのような
相変化型光記録材料が微細穴に充填される。これによ
り、熱伝導率の大きい記録材料が熱伝導率の小さい材料
でトラックごと、及び、記録マークごとに分断された構
造が実現する。
【0011】また、請求項4の高密度光ディスクは、上
記の記録材料に記録された信号を磁気超解像法又は光超
解像法を用いて読み出すためのマスクを形成する読み出
し層を備えている。磁気超解像法を用いて読み出すため
の読み出し層には、例えばGdFeCo等の希土類一遷
移金属非晶質合金膜を用いることができる。光超解像法
を用いて読み出すための読み出し層には、例えばアンチ
モン(Sb)膜のような光照射により透過率の変化する
材料を用いることができる。この構成により、隣接トラ
ックからのクロストークを軽減することができる。
記の記録材料に記録された信号を磁気超解像法又は光超
解像法を用いて読み出すためのマスクを形成する読み出
し層を備えている。磁気超解像法を用いて読み出すため
の読み出し層には、例えばGdFeCo等の希土類一遷
移金属非晶質合金膜を用いることができる。光超解像法
を用いて読み出すための読み出し層には、例えばアンチ
モン(Sb)膜のような光照射により透過率の変化する
材料を用いることができる。この構成により、隣接トラ
ックからのクロストークを軽減することができる。
【0012】また、請求項5の高密度光ディスクでは、
上記の微細穴が光ディスクのヘッダ情報として兼用され
る。光ディスクには通常、径方向位置及びセクタ位置を
示すエンボスピットが形成されるが、本発明の高密度光
ディスクでは、そのような径方向位置及びセクタ位置を
示すヘッダ情報を、微細穴の大きさ及び穴ピッチとして
記録することが可能であり、これにより、ヘッダ情報専
用のエンボスピットが不要になる。最も簡単な構成とし
ては、VFO(クロック)用の信号として、微細穴のピ
ッチを用いることができる。このような信号の再生は光
ビームを照射したときの反射光を検出すればよく、微細
穴に記録膜があってもなくてもよい。
上記の微細穴が光ディスクのヘッダ情報として兼用され
る。光ディスクには通常、径方向位置及びセクタ位置を
示すエンボスピットが形成されるが、本発明の高密度光
ディスクでは、そのような径方向位置及びセクタ位置を
示すヘッダ情報を、微細穴の大きさ及び穴ピッチとして
記録することが可能であり、これにより、ヘッダ情報専
用のエンボスピットが不要になる。最も簡単な構成とし
ては、VFO(クロック)用の信号として、微細穴のピ
ッチを用いることができる。このような信号の再生は光
ビームを照射したときの反射光を検出すればよく、微細
穴に記録膜があってもなくてもよい。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に
係る高密度光ディスクの径方向断面を示している。この
高密度光ディスク10は、保護層11、記録層12、及
び基板13を備えている。基板13はポリカーボネイト
などの透明プラスチックで形成される。保護層11は、
高密度光ディスク10の機械強度を増すと共に、光反射
層を兼ねている。記録層12に信号を書き込む際、及
び、記録層12に記録された信号を読み出す際は、高密
度光ディスク10の基板13側からレーザビームが照射
される。
基づいて説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に
係る高密度光ディスクの径方向断面を示している。この
高密度光ディスク10は、保護層11、記録層12、及
び基板13を備えている。基板13はポリカーボネイト
などの透明プラスチックで形成される。保護層11は、
高密度光ディスク10の機械強度を増すと共に、光反射
層を兼ねている。記録層12に信号を書き込む際、及
び、記録層12に記録された信号を読み出す際は、高密
度光ディスク10の基板13側からレーザビームが照射
される。
【0014】基板13にはトラック方向に延びる壁部1
3aと溝部13bとが径方向に交互に形成されている。
そして、溝部13bには記録材料が充填され、記録層
(記録領域)12が形成されている。記録材料として、
TbFeCoのような磁性記録材料又はGeSbTeの
ような相変化型光記録材料が用いられる。
3aと溝部13bとが径方向に交互に形成されている。
そして、溝部13bには記録材料が充填され、記録層
(記録領域)12が形成されている。記録材料として、
TbFeCoのような磁性記録材料又はGeSbTeの
ような相変化型光記録材料が用いられる。
【0015】上記のように、記録層12は高密度光ディ
スク10の径方向に、つまりトラックごとに、基板13
の壁部13aによって分断されている。壁部13a(基
板13)の熱伝導率は記録層12の熱伝導率に比べて十
分小さい。このため、あるトラックに信号の書き込み又
は消去のためのレーザビームを照射したとき、照射スポ
ットの温度上昇が隣接トラックに伝達されにくい。その
結果、隣接トラックに誤って信号を書き込むクロスライ
ト、及び、隣接トラックの信号を誤って消去するクロス
イレースの現象が発生しにくい。
スク10の径方向に、つまりトラックごとに、基板13
の壁部13aによって分断されている。壁部13a(基
板13)の熱伝導率は記録層12の熱伝導率に比べて十
分小さい。このため、あるトラックに信号の書き込み又
は消去のためのレーザビームを照射したとき、照射スポ
ットの温度上昇が隣接トラックに伝達されにくい。その
結果、隣接トラックに誤って信号を書き込むクロスライ
ト、及び、隣接トラックの信号を誤って消去するクロス
イレースの現象が発生しにくい。
【0016】図2は、本発明の第2の実施形態に係る高
密度光ディスクを示している。図2(A)は高密度光デ
ィスク20の径方向断面図であり、図2(B)は高密度
光ディスク20を構成する基板24の部分平面図であ
る。この高密度光ディスク20は、透明基板21、接着
層22、読み出し層23、不透明基板24、及び記録層
25を備えている。不透明基板24は、トラック方向に
沿って一定のピッチで形成された微細穴24bと、トラ
ック間に形成されたプリグルーブ24cとを備えてい
る。微細穴24bの大きさは記録マークの大きさに設定
されている。微細穴24bには記録材料が充填され、記
録層(記録領域)25が形成されている。プリグルーブ
24cは、高密度光ディスク20に対する光ビームのト
ラッキングを案内するために設けられている。
密度光ディスクを示している。図2(A)は高密度光デ
ィスク20の径方向断面図であり、図2(B)は高密度
光ディスク20を構成する基板24の部分平面図であ
る。この高密度光ディスク20は、透明基板21、接着
層22、読み出し層23、不透明基板24、及び記録層
25を備えている。不透明基板24は、トラック方向に
沿って一定のピッチで形成された微細穴24bと、トラ
ック間に形成されたプリグルーブ24cとを備えてい
る。微細穴24bの大きさは記録マークの大きさに設定
されている。微細穴24bには記録材料が充填され、記
録層(記録領域)25が形成されている。プリグルーブ
24cは、高密度光ディスク20に対する光ビームのト
ラッキングを案内するために設けられている。
【0017】読み出し層23は、磁気超解像法又は光超
解像法のマスクを形成するための層であり、これによ
り、光ビームの照射スポット内に複数の記録マークが存
在する場合でも1つの記録マークの信号のみを再生する
ことができる。
解像法のマスクを形成するための層であり、これによ
り、光ビームの照射スポット内に複数の記録マークが存
在する場合でも1つの記録マークの信号のみを再生する
ことができる。
【0018】高密度光ディスク20に信号を記録する際
は、透明基板21側から光ビームが照射され、不透明基
板24に形成されたサーボ情報にしたがってフォーカス
トラッキングが行われ、記録層25に信号が記録され
る。記録された信号の再生は、上述のように、読み出し
層23を通して行われる。
は、透明基板21側から光ビームが照射され、不透明基
板24に形成されたサーボ情報にしたがってフォーカス
トラッキングが行われ、記録層25に信号が記録され
る。記録された信号の再生は、上述のように、読み出し
層23を通して行われる。
【0019】この実施形態でも、記録層25は高密度光
ディスク20の径方向に(トラックごとに)分断され、
その間に熱伝導率の小さい材料(不透明基板24)が介
在している。したがって、トラック間の熱伝導に起因す
るクロスライト及びクロスイレースの現象が発生しにく
い。更に、本実施形態ではトラック内においても記録マ
ークごとに記録領域が分断され、記録マーク間に記録材
料より熱伝導率の小さい材料が介在しているので、記録
マークの位置ずれによるサーマルシフトの影響も緩和さ
れ、信号再生時のジッタが軽減される。
ディスク20の径方向に(トラックごとに)分断され、
その間に熱伝導率の小さい材料(不透明基板24)が介
在している。したがって、トラック間の熱伝導に起因す
るクロスライト及びクロスイレースの現象が発生しにく
い。更に、本実施形態ではトラック内においても記録マ
ークごとに記録領域が分断され、記録マーク間に記録材
料より熱伝導率の小さい材料が介在しているので、記録
マークの位置ずれによるサーマルシフトの影響も緩和さ
れ、信号再生時のジッタが軽減される。
【0020】なお、本実施形態の光ディスクでは、ラン
ドに微細穴を形成し記録材料を充填しているが、変形例
として、グルーブ部に微細穴を形成して記録材料を充填
してもよいし、ランドとグルーブの両方に微細穴を形成
して記録材料を充填してもよい。つまり、ランド記録方
式だけでなく、グルーブ記録方式及びランド・グルーブ
記録方式にも本発明を適用することができる。
ドに微細穴を形成し記録材料を充填しているが、変形例
として、グルーブ部に微細穴を形成して記録材料を充填
してもよいし、ランドとグルーブの両方に微細穴を形成
して記録材料を充填してもよい。つまり、ランド記録方
式だけでなく、グルーブ記録方式及びランド・グルーブ
記録方式にも本発明を適用することができる。
【0021】また、トラックに沿って一定間隔で設けた
微細穴は、光ディスクのヘッダ情報として兼用すること
も可能である。例えば、微細穴の間隔(ピッチ)はヘッ
ダ情報のうちのVFO(クロック)用の信号として用い
ることができる。この信号の再生は光ビームを照射した
ときの反射光を検出すればよく、微細穴に記録膜があっ
てもなくてもよい。
微細穴は、光ディスクのヘッダ情報として兼用すること
も可能である。例えば、微細穴の間隔(ピッチ)はヘッ
ダ情報のうちのVFO(クロック)用の信号として用い
ることができる。この信号の再生は光ビームを照射した
ときの反射光を検出すればよく、微細穴に記録膜があっ
てもなくてもよい。
【0022】
【実施例】図3に本発明の実施例として作製した光磁気
ディスクの断面図を示す。この光磁気ディスク30は、
透明基板31、接着層32、読み出し層33、不透明基
板34、光磁気記録層35、及び保護膜36を備えてい
る。不透明基板34の表面に、トラッキングを案内する
ためのプリグルーブ34aと、光磁気記録層35を構成
する磁性記録材料を充填する微細穴34bとが形成され
ている。この不透明基板34は、光反射層としても機能
する。本実施例では、後述するように、シリコンウエハ
で不透明基板34を構成し、フォトリソグラフィ及び反
応型エッチング(RIE)によってプリグルーブ34a
及び微細穴34bを形成した。
ディスクの断面図を示す。この光磁気ディスク30は、
透明基板31、接着層32、読み出し層33、不透明基
板34、光磁気記録層35、及び保護膜36を備えてい
る。不透明基板34の表面に、トラッキングを案内する
ためのプリグルーブ34aと、光磁気記録層35を構成
する磁性記録材料を充填する微細穴34bとが形成され
ている。この不透明基板34は、光反射層としても機能
する。本実施例では、後述するように、シリコンウエハ
で不透明基板34を構成し、フォトリソグラフィ及び反
応型エッチング(RIE)によってプリグルーブ34a
及び微細穴34bを形成した。
【0023】光磁気記録層35を構成する磁性記録材料
として、TbFeCoのような希土類一遷移金属非晶質
合金を用いた。保護膜36は、窒化シリコン(SiN)
で形成した。読み出し層33として、GdFeCoのよ
うな希土類一遷移金属非晶質合金膜をスパッタリングに
より形成した。光磁気記録層35と読み出し層33とは
保護膜36によって分離されているが、静磁的に結合し
ており、磁気超解像媒体を構成している。
として、TbFeCoのような希土類一遷移金属非晶質
合金を用いた。保護膜36は、窒化シリコン(SiN)
で形成した。読み出し層33として、GdFeCoのよ
うな希土類一遷移金属非晶質合金膜をスパッタリングに
より形成した。光磁気記録層35と読み出し層33とは
保護膜36によって分離されているが、静磁的に結合し
ており、磁気超解像媒体を構成している。
【0024】透明基板31は、ポリカーボネイト樹脂で
形成した。透明基板31と不透明基板34側の読み出し
層33とを貼り合わせる接着層32として、紫外線硬化
型樹脂を用いた。
形成した。透明基板31と不透明基板34側の読み出し
層33とを貼り合わせる接着層32として、紫外線硬化
型樹脂を用いた。
【0025】図4及び図5に、不透明基板34側のプロ
セスを示す。まず、シリコンウエハの基板34を用意し
(図4(A))、表面にスピンコートによってレジスト
膜41を形成した(図4(B))。プリグルーブ形成の
ためのパターニング(露光及び現像)をレジスト膜41
に施した後(図4(C))、RIE(反応型エッチン
グ)処理により基板34の表面にプリグルーブ34aを
形成した(図4(D))。再び基板34の表面にスピン
コートによってレジスト膜42を形成した(図4
(E))。
セスを示す。まず、シリコンウエハの基板34を用意し
(図4(A))、表面にスピンコートによってレジスト
膜41を形成した(図4(B))。プリグルーブ形成の
ためのパターニング(露光及び現像)をレジスト膜41
に施した後(図4(C))、RIE(反応型エッチン
グ)処理により基板34の表面にプリグルーブ34aを
形成した(図4(D))。再び基板34の表面にスピン
コートによってレジスト膜42を形成した(図4
(E))。
【0026】つぎに、図4(F)に示すように、微細穴
形成のためのパターニング(露光及び現像)をレジスト
膜42に施した後、RIE(反応型エッチング)処理に
より基板34の表面に微細穴34bを形成した(図5
(A))。この後、上記の磁性記録材料のスパッタリン
グを行い、光磁気記録層35を形成した。更にその上
に、次のリフトオフプロセスで磁性記録材料が酸化する
のを防止するための保護膜36をスパッタリングにより
形成した(図5(B))。この保護膜36は非磁性層の
窒化シリコン(SiN)膜であり、窒素雰囲気中で反応
型スパッタリングにより形成した。
形成のためのパターニング(露光及び現像)をレジスト
膜42に施した後、RIE(反応型エッチング)処理に
より基板34の表面に微細穴34bを形成した(図5
(A))。この後、上記の磁性記録材料のスパッタリン
グを行い、光磁気記録層35を形成した。更にその上
に、次のリフトオフプロセスで磁性記録材料が酸化する
のを防止するための保護膜36をスパッタリングにより
形成した(図5(B))。この保護膜36は非磁性層の
窒化シリコン(SiN)膜であり、窒素雰囲気中で反応
型スパッタリングにより形成した。
【0027】この後、プリグルーブ34aの上に残って
いたレジスト膜42とその上の余分な光磁気記録層35
及び保護膜36をリフトオフにより取り除いた(図5
(C))。さらに、前述の読み出し層33をGdFeC
oのような希土類一遷移金属非晶質合金膜のスパッタリ
ングにより形成した(図5(D))。
いたレジスト膜42とその上の余分な光磁気記録層35
及び保護膜36をリフトオフにより取り除いた(図5
(C))。さらに、前述の読み出し層33をGdFeC
oのような希土類一遷移金属非晶質合金膜のスパッタリ
ングにより形成した(図5(D))。
【0028】以上のようにして形成された不透明基板3
4側の読み出し層33と、ポリカ−ボネ−ト樹脂からな
る透明基板31とを紫外線硬化型樹脂からなる接着層3
2で貼り合わせることにより、光磁気ディスクが完成し
た。
4側の読み出し層33と、ポリカ−ボネ−ト樹脂からな
る透明基板31とを紫外線硬化型樹脂からなる接着層3
2で貼り合わせることにより、光磁気ディスクが完成し
た。
【0029】なお,不透明基板34と光磁気記録層35
との間、及び、読み出し層33と接着層32との間にS
iNのような誘電体膜を形成するのが好ましい。記録材
料の酸化防止や反射光のエンハンス効果を得ることがで
きるからである。
との間、及び、読み出し層33と接着層32との間にS
iNのような誘電体膜を形成するのが好ましい。記録材
料の酸化防止や反射光のエンハンス効果を得ることがで
きるからである。
【0030】上記の実施例では、試作プロセスの関係
上、不透明基板34としてシリコンウェハを用いたが、
ガラスや樹脂などの熱伝導率の小さい材料を用いて作製
することが好ましい。また、図5(B)〜(C)のリフ
トオフ工程を、磁性記録材料が酸化及び窒化されない雰
囲気中、例えばアルゴン(Ar)封入雰囲気中で行うこ
とにより、保護膜36を省略することができる。この場
合、光磁気記録層35と読み出し層33との結合は静磁
結合ではなく、交換結合型の磁気超解像媒体が構成され
る。従って、交換結合型磁気超解像、磁区拡大型光磁気
再生法、磁壁移動型光磁気信号検出法などの微小信号再
生法を適用してもよい。
上、不透明基板34としてシリコンウェハを用いたが、
ガラスや樹脂などの熱伝導率の小さい材料を用いて作製
することが好ましい。また、図5(B)〜(C)のリフ
トオフ工程を、磁性記録材料が酸化及び窒化されない雰
囲気中、例えばアルゴン(Ar)封入雰囲気中で行うこ
とにより、保護膜36を省略することができる。この場
合、光磁気記録層35と読み出し層33との結合は静磁
結合ではなく、交換結合型の磁気超解像媒体が構成され
る。従って、交換結合型磁気超解像、磁区拡大型光磁気
再生法、磁壁移動型光磁気信号検出法などの微小信号再
生法を適用してもよい。
【0031】また、読み出し層は33は記録層36と同
様に、微細穴34b内にのみ形成してもよい。また、本
発明は光磁気ディスクに限らず、相変化型の光記録層を
用いた光ディスクにも適用することができる。この場合
は、例えばSb膜のような光照射により透過率の変化す
る材料を読み出し層に用いることができる。
様に、微細穴34b内にのみ形成してもよい。また、本
発明は光磁気ディスクに限らず、相変化型の光記録層を
用いた光ディスクにも適用することができる。この場合
は、例えばSb膜のような光照射により透過率の変化す
る材料を読み出し層に用いることができる。
【0032】以上に説明した光磁気ディスクに対する信
号の記録、及び信号の再生は下記のように行われる。図
6に光磁気ディスク装置の概略構成を示す。光磁気ディ
スク装置M1は、光磁気ディスク51に照射されるレー
ザ光の光源であるレーザダイオード52、光学系53〜
56、光検出器57、磁気ヘッド58、磁気ヘッドドラ
イバ回路59、マイクロプロセッサ(MPU)60、レ
ーザダイオードドライバ回路61、リードアンプ62を
備えている。
号の記録、及び信号の再生は下記のように行われる。図
6に光磁気ディスク装置の概略構成を示す。光磁気ディ
スク装置M1は、光磁気ディスク51に照射されるレー
ザ光の光源であるレーザダイオード52、光学系53〜
56、光検出器57、磁気ヘッド58、磁気ヘッドドラ
イバ回路59、マイクロプロセッサ(MPU)60、レ
ーザダイオードドライバ回路61、リードアンプ62を
備えている。
【0033】光磁気ディスク51は、図3に示した光磁
気ディスク30に相当するが、上下関係は逆になってい
る。この光磁気ディスク51は図示しない回転駆動装置
により、回転駆動される。光磁気ディスク51の透明基
板(図3の31)側からレーザ光が照射される。レーザ
光はレーザダイオード52から発してコリメータレンズ
53で平行光とされ、ビームスプリッタ54を通過した
後、対物レンズ55によって光磁気ディスク51の光磁
気記録層(図3の35)に集光される。
気ディスク30に相当するが、上下関係は逆になってい
る。この光磁気ディスク51は図示しない回転駆動装置
により、回転駆動される。光磁気ディスク51の透明基
板(図3の31)側からレーザ光が照射される。レーザ
光はレーザダイオード52から発してコリメータレンズ
53で平行光とされ、ビームスプリッタ54を通過した
後、対物レンズ55によって光磁気ディスク51の光磁
気記録層(図3の35)に集光される。
【0034】レーザダイオード52、コリメータレンズ
53、ビームスプリッタ54、対物レンズ55は、後述
の集光レンズ56及び光検知器57と共に光ヘッド部を
構成する。この光ヘッド部は、光磁気ディスク51に形
成されたプリグルーブ34aからの反射光を検出してト
ラッキングを行うと共に、図示しないシーク機構によっ
て光磁気ディスク51の径方向(図3では左右方向)に
移動するように制御される。
53、ビームスプリッタ54、対物レンズ55は、後述
の集光レンズ56及び光検知器57と共に光ヘッド部を
構成する。この光ヘッド部は、光磁気ディスク51に形
成されたプリグルーブ34aからの反射光を検出してト
ラッキングを行うと共に、図示しないシーク機構によっ
て光磁気ディスク51の径方向(図3では左右方向)に
移動するように制御される。
【0035】光磁気記録層35のレーザビームが照射さ
れたスポットは加熱されて温度が上昇し、キューリー温
度以上になると、外部から与えられる磁界の方向に磁化
される。光磁気ディスク51を挟んで光ヘッド部と反対
側には磁気ヘッド58が設けられ、この磁気ヘッド58
が発生する磁界によって光磁気ディスク51の光磁気記
録層35が磁化される。記録情報(0又は1)に応じて
磁化の方向、すなわち磁気ヘッド58が発生する磁界の
方向が制御される。つまり、マイクロプロセッサ(MP
U)60の制御によって、記録情報で変調された磁界を
発生するように磁気ヘッドドライバ回路59が磁気ヘッ
ド58を駆動する。
れたスポットは加熱されて温度が上昇し、キューリー温
度以上になると、外部から与えられる磁界の方向に磁化
される。光磁気ディスク51を挟んで光ヘッド部と反対
側には磁気ヘッド58が設けられ、この磁気ヘッド58
が発生する磁界によって光磁気ディスク51の光磁気記
録層35が磁化される。記録情報(0又は1)に応じて
磁化の方向、すなわち磁気ヘッド58が発生する磁界の
方向が制御される。つまり、マイクロプロセッサ(MP
U)60の制御によって、記録情報で変調された磁界を
発生するように磁気ヘッドドライバ回路59が磁気ヘッ
ド58を駆動する。
【0036】また、再生に先立ち、光磁気ディスク51
の読み出し層(図3の33)が消去方向に磁化(初期
化)される。これにより、光磁気記録層35への記録の
際に読み出し層33にも記録されていたマークは消去さ
れ、光磁気ディスク51の微細穴(図3の34b)に充
填された光磁気記録層35のみが記録情報に応じた方向
に磁化されている状態となる。この状態で再生用のレー
ザ光が照射されると、光磁気ディスク51とレーザ光と
の相対移動に伴って、読み出し層33には相対移動方向
に低温領域と中間温度領域と高温領域とが生成される。
低温領域と高温領域は光磁気記録層35に対するマスク
となり、両マスク間の中間温度領域のみにおいて、光磁
気記録層35の磁化を再生するための窓が形成される。
このようにして、レーザ光のスポット径より小さな記録
マークを読み取ることが可能になる。このような磁気超
解像マスクを用いた再生方法については公知であり、詳
細な説明は省略する。
の読み出し層(図3の33)が消去方向に磁化(初期
化)される。これにより、光磁気記録層35への記録の
際に読み出し層33にも記録されていたマークは消去さ
れ、光磁気ディスク51の微細穴(図3の34b)に充
填された光磁気記録層35のみが記録情報に応じた方向
に磁化されている状態となる。この状態で再生用のレー
ザ光が照射されると、光磁気ディスク51とレーザ光と
の相対移動に伴って、読み出し層33には相対移動方向
に低温領域と中間温度領域と高温領域とが生成される。
低温領域と高温領域は光磁気記録層35に対するマスク
となり、両マスク間の中間温度領域のみにおいて、光磁
気記録層35の磁化を再生するための窓が形成される。
このようにして、レーザ光のスポット径より小さな記録
マークを読み取ることが可能になる。このような磁気超
解像マスクを用いた再生方法については公知であり、詳
細な説明は省略する。
【0037】なお、再生時に照射されるレーザ光は、記
録時と同様に、レーザダイオード52から発してコリメ
ータレンズ53、ビームスプリッタ54、及び対物レン
ズ55を通って光磁気ディスク51の光磁気記録層35
に集光される。光磁気記録層35で反射した光は楕円偏
光となり、その回転角は光磁気記録層35の磁化方向に
よって異なる。この反射光は対物レンズ55を経てビー
ムスプリッタ54にて光路を変え、集光レンズ56によ
って光検出器57に集光される。
録時と同様に、レーザダイオード52から発してコリメ
ータレンズ53、ビームスプリッタ54、及び対物レン
ズ55を通って光磁気ディスク51の光磁気記録層35
に集光される。光磁気記録層35で反射した光は楕円偏
光となり、その回転角は光磁気記録層35の磁化方向に
よって異なる。この反射光は対物レンズ55を経てビー
ムスプリッタ54にて光路を変え、集光レンズ56によ
って光検出器57に集光される。
【0038】光検出器57は入射した光からデータ再生
信号及びアドレス信号を検出し、これらの信号はリード
アンプ62で増幅、整形された後、マイクロプロセッサ
60に入力される。
信号及びアドレス信号を検出し、これらの信号はリード
アンプ62で増幅、整形された後、マイクロプロセッサ
60に入力される。
【0039】なお、記録データはビットポジション形式
で格納される。
で格納される。
【0040】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、トラックピッチが狭くてもクロスライトやクロスイ
レースの現象が発生しにくい光ディスクを提供すること
ができる。また、請求項2の構成によれば、記録マーク
の位置ずれによるサーマルシフトの影響も緩和され、信
号再生時のジッタが軽減される。
ば、トラックピッチが狭くてもクロスライトやクロスイ
レースの現象が発生しにくい光ディスクを提供すること
ができる。また、請求項2の構成によれば、記録マーク
の位置ずれによるサーマルシフトの影響も緩和され、信
号再生時のジッタが軽減される。
【0041】さらに、請求項4の光ディスクは、磁気超
解像法又は光超解像法を用いて読み出すためのマスクを
形成する読み出し層を備えたことにより、再生時のクロ
ストークを軽減することができる。
解像法又は光超解像法を用いて読み出すためのマスクを
形成する読み出し層を備えたことにより、再生時のクロ
ストークを軽減することができる。
【0042】また、請求項5の構成によれば、トラック
に沿って一定間隔で設けられ、記録材料が充填される微
細穴を、光ディスクのヘッダ情報として兼用することも
できる。
に沿って一定間隔で設けられ、記録材料が充填される微
細穴を、光ディスクのヘッダ情報として兼用することも
できる。
【図1】本発明の第1の実施形態に係る高密度光ディス
クの径方向断面図である。
クの径方向断面図である。
【図2】本発明の第2の実施形態に係る高密度光ディス
クを示す図である。
クを示す図である。
【図3】本発明の実施例として作製した光磁気ディスク
の断面図である。
の断面図である。
【図4】図3の光磁気ディスクの不透明基板側のプロセ
スを示す前半の各工程における断面図である。
スを示す前半の各工程における断面図である。
【図5】図3の光磁気ディスクの不透明基板側のプロセ
スを示す後半の各工程における断面図である。
スを示す後半の各工程における断面図である。
【図6】光磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック
図である。
図である。
10,20 高密度光ディスク 11 保護層 12,25 記録層(記録領域) 13 基板 21,31 透明基板 22,32 接着層 23,33 読み出し層 24,34 不透明基板 24b,34b 微細穴 24c、34a プリグルーブ 30 光磁気ディスク 35 光磁気記録層 36 保護膜
Claims (5)
- 【請求項1】ディスク基板上に形成された記録領域がト
ラックごとに分断され、トラック間に前記記録領域を構
成する記録材料より熱伝導率の小さい材料が介在してい
ることを特徴とする高密度光ディスク。 - 【請求項2】前記記録領域がトラック内において更に記
録マークごとに分断され、記録マーク間に前記記録材料
より熱伝導率の小さい材料が介在している請求項1記載
の高密度光ディスク。 - 【請求項3】基板に記録マークに相当する微細穴が所定
ピッチで形成され、前記微細穴に記録材料が充填されて
いることを特徴とする高密度光ディスク。 - 【請求項4】前記記録材料に記録された信号を磁気超解
像法又は光超解像法を用いて読み出すためのマスクを形
成する読み出し層を備えている請求項1、2又は3記載
の高密度光ディスク。 - 【請求項5】前記微細穴が光ディスクのヘッダ情報とし
て兼用される請求項3記載の高密度光ディスク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11081043A JP2000276770A (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 高密度光ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11081043A JP2000276770A (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 高密度光ディスク |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000276770A true JP2000276770A (ja) | 2000-10-06 |
Family
ID=13735419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11081043A Pending JP2000276770A (ja) | 1999-03-25 | 1999-03-25 | 高密度光ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000276770A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7125594B2 (en) | 2003-07-24 | 2006-10-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Write-once optical recording medium |
JP2006344348A (ja) * | 2005-05-11 | 2006-12-21 | Ricoh Co Ltd | 光記録媒体 |
JP2008071465A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録媒体 |
JP2008192233A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Victor Co Of Japan Ltd | 光記録媒体、及びこの光記録媒体に対する光ピックアップのトラッキング方法 |
US7636289B2 (en) | 2004-08-27 | 2009-12-22 | Ricoh Company, Ltd. | Optical-recording medium, method for producing the same, and method for recording and reproducing optical-recording |
US7920458B2 (en) | 2005-04-27 | 2011-04-05 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium, and recording and reproducing method |
-
1999
- 1999-03-25 JP JP11081043A patent/JP2000276770A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7125594B2 (en) | 2003-07-24 | 2006-10-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Write-once optical recording medium |
US7636289B2 (en) | 2004-08-27 | 2009-12-22 | Ricoh Company, Ltd. | Optical-recording medium, method for producing the same, and method for recording and reproducing optical-recording |
US7920458B2 (en) | 2005-04-27 | 2011-04-05 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium, and recording and reproducing method |
JP2006344348A (ja) * | 2005-05-11 | 2006-12-21 | Ricoh Co Ltd | 光記録媒体 |
JP2008071465A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録媒体 |
JP2008192233A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Victor Co Of Japan Ltd | 光記録媒体、及びこの光記録媒体に対する光ピックアップのトラッキング方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040902 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040914 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041029 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061031 |