JP2000158158A - Method and device for scanning type laser marking - Google Patents
Method and device for scanning type laser markingInfo
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Landscapes
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、スキャニング式の
レーザマーキング方法および装置に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a scanning type laser marking method and apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】スキャニング式のレーザマーキング法
は、被加工物に高密度に集光されたレーザ光を照射し、
該レーザ光をスキャニング・ミラーで振って、被加工物
表面上でレーザスポットをスキャニングし、ビームスポ
ットの当たった被加工物表面の微小部分をレーザエネル
ギーで瞬間的に改質(溶融、蒸発、変色等)させなが
ら、文字、図形、記号等の所望のパターンを描画するよ
うにしてマーキング(刻印または印字)する技術であ
る。レーザ光には、ピークパワーの高いQスイッチ方式
の高速繰り返しパルスレーザ光を用いるのが通例であ
る。2. Description of the Related Art A scanning type laser marking method irradiates a workpiece with laser light focused at a high density,
The laser beam is swung by a scanning mirror to scan a laser spot on the surface of the workpiece, and a minute portion of the workpiece surface hit by the beam spot is instantaneously reformed (melting, evaporating, discoloring) with laser energy. This is a technique for marking (engraving or printing) such that a desired pattern such as a character, a figure, a symbol, or the like is drawn while performing the same. As the laser light, a Q-switch type high-speed repetitive pulsed laser light having a high peak power is generally used.
【0003】レーザマーキング法は、上記のようにレー
ザエネルギーで被加工物表面を改質させる印字技術であ
るため、被加工物の材質によって印字結果が大きく左右
される。スキャニング方式では、レーザ光のレーザ出力
(光強度)、スキャニング速度、Qスイッチ周波数等の
マーキング条件の値を変えることで、印字の出来具合を
調節することができる。良好な印字品質を得るうえで、
マーキング条件の設定値を被加工物の材質に合った最適
値に選定することが肝要である。[0003] The laser marking method is a printing technique in which the surface of a workpiece is modified with laser energy as described above, and thus the printing result is greatly affected by the material of the workpiece. In the scanning method, the quality of printing can be adjusted by changing the values of marking conditions such as laser output (light intensity) of laser light, scanning speed, and Q switch frequency. In order to obtain good print quality,
It is important to select the setting value of the marking condition to be an optimum value suitable for the material of the workpiece.
【0004】従来より、この種のレーザマーキング法で
は、現場の作業者がマーキング条件の値を適当に選んで
実際に被加工物またはサンプルに目的のパターンを試験
的にマーキングし、満足できる印字結果が得られたとき
のマーキング条件の値(仮設定値)を正規の設定値に選
ぶようにしている。Conventionally, in this type of laser marking method, an on-site worker appropriately selects a value of a marking condition, and actually marks a target pattern on a workpiece or a sample on a trial basis to obtain a satisfactory printing result. The value of the marking condition (temporary set value) at the time when is obtained is selected as a regular set value.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来のマーキング条件設定値の決定方法において
は、マーキング条件の値(仮設定値)を試行錯誤で模索
しながら選定して、満足できる印字品質が得られるまで
試験マーキングを何度も繰り返し行わなくてはならず、
現場ユーザにとって、特に経験の少ないユーザにとって
は非常に面倒で手間のかかる作業となっていた。However, in the above-mentioned conventional method for determining the set value of the marking condition, the value of the marking condition (temporary set value) is selected by trial and error while being selected, and satisfactory printing is performed. Test marking must be repeated over and over until quality is obtained,
This has been a very cumbersome and time-consuming task for field users, especially for users with little experience.
【0006】本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてな
されたもので、マーキング条件について最適な設定値を
容易に選定できるようにしたスキャニング式レーザマー
キング方法および装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and has as its object to provide a scanning type laser marking method and apparatus capable of easily selecting an optimum set value for a marking condition. .
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項1に記載のスキャニング式レーザマーキング
方法は、文字、記号または図形等からなる所望のパター
ンを設定する工程と、マーキング特性を規定する複数の
条件項目の中の少なくとも1つの条件項目をパラメータ
条件として選択する工程と、各々の前記パラメータ条件
について1つまたは複数の値を仮設定する工程と、前記
パラメータ条件以外の条件項目毎に1つの値を仮設定す
る工程と、前記条件項目毎の仮設定値を組み合わせて複
数組の条件仮設定値とする工程と、前記複数組の条件仮
設定値に応じた前記パターンのマーキング位置をそれぞ
れ設定する工程と、各組の条件仮設定値に応じて被加工
物の表面上の前記マーキング位置にレーザ光をスキャニ
ングしながら照射して前記パターンを試験マーキングす
る工程とを有する方法とした。According to a first aspect of the present invention, there is provided a scanning type laser marking method comprising the steps of: setting a desired pattern composed of characters, symbols or figures; Selecting at least one condition item from a plurality of prescribed condition items as a parameter condition; temporarily setting one or more values for each of the parameter conditions; Tentatively setting one value to the above, combining a tentative setting value for each of the condition items into a plurality of sets of tentative setting values, and a marking position of the pattern according to the plurality of sets of tentative setting values. Irradiating a laser beam while scanning the marking position on the surface of the workpiece in accordance with the provisional set value of each set of conditions. And the method comprising the step of testing marking the pattern Te.
【0008】また、請求項2に記載のスキャニング式レ
ーザマーキング方法は、上記請求項1に記載の方法にお
いて、さらに、前記試験マーキングされた複数個の前記
パターンの中から最良のパターンを選択する工程と、前
記選択された最良のパターンに対応する前記複数の条件
項目の仮設定値の組を正式マーキング用の正規設定値と
して設定する工程とを有する方法とした。According to a second aspect of the present invention, there is provided the scanning laser marking method according to the first aspect, further comprising the step of selecting the best pattern from the plurality of the test-marked patterns. And setting a set of temporary setting values of the plurality of condition items corresponding to the selected best pattern as regular setting values for formal marking.
【0009】また、請求項3に記載のスキャニング式レ
ーザマーキング方法は、上記請求項1または2に記載の
方法において、試験マーキングされる複数個の前記パタ
ーンについてそれぞれ対応する前記パラメータ条件の仮
設定値を所定位置にマーキングする工程を含む方法とし
た。According to a third aspect of the present invention, there is provided the scanning type laser marking method according to the first or second aspect, wherein the tentative setting values of the parameter conditions respectively corresponding to the plurality of patterns to be test-marked. At a predetermined position.
【0010】請求項4に記載のスキャニング式レーザマ
ーキング装置は、文字、記号または図形等からなる所望
のパターンを設定するためのパターン設定手段と、前記
マーキングを規定する複数の条件項目の中の少なくとも
1つの条件項目をパラメータ条件として選択するための
パラメータ条件選択手段と、各々の前記パラメータ条件
について1つまたは複数の値を仮設定するための第1の
仮設定手段と、前記パラメータ条件以外の条件項目毎に
1つの値を仮設定するための第2の仮設定手段と、前記
条件項目毎の仮設定値を組み合わせて複数組の条件仮設
定値とする組分け手段と、前記複数組の条件仮設定値に
応じた前記パターンのマーキング位置をそれぞれ設定す
るためのマーキング位置設定手段と、各組の条件仮設定
値に応じて被加工物の表面上の前記マーキング位置にレ
ーザ光をスキャニングしながら照射して前記パターンを
試験マーキングするマーキング手段とを具備する構成と
した。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a scanning type laser marking apparatus, comprising: a pattern setting means for setting a desired pattern composed of characters, symbols, figures, or the like; and at least one of a plurality of condition items defining the marking. Parameter condition selecting means for selecting one condition item as a parameter condition, first temporary setting means for temporarily setting one or more values for each of the parameter conditions, and conditions other than the parameter conditions Second provisional setting means for provisionally setting one value for each item; grouping means for combining the provisional setting values for each of the condition items into a plurality of sets of condition provisional setting values; Marking position setting means for respectively setting the marking position of the pattern according to the provisional setting value; It has a configuration comprising a marking means for marking test the pattern with radiation scanning the laser beam to the marking location on the surface of the.
【0011】請求項5に記載のスキャニング式レーザマ
ーキング装置は、上記請求項4に記載の装置において、
前記第1の仮設定手段が、各々の前記パラメータ条件に
ついて仮設定値の初期値を設定するための初期値設定手
段と、各々の前記パラメータ条件の仮設定値をインクリ
メントまたはディクリメントさせるステップ値を設定す
るためのステップ設定手段と、各々の前記パラメータ条
件の仮設定値の個数を設定するための仮設定値数設定手
段と、各々の前記パラメータ条件について、設定された
前記初期値、ステップ値および仮設定値の個数に基づい
て前記初期値以外の仮設定値を演算によって求める仮設
定値演算手段とを有する構成とした。The scanning type laser marking device according to claim 5 is the device according to claim 4, wherein
The first temporary setting means includes an initial value setting means for setting an initial value of a temporary setting value for each of the parameter conditions, and a step value for incrementing or decrementing the temporary setting value of each of the parameter conditions. Step setting means for setting, provisional set value number setting means for setting the number of provisional set values of each of the parameter conditions, and, for each of the parameter conditions, the set initial value, step value and Provisional setting value calculating means for calculating a temporary setting value other than the initial value based on the number of temporary setting values.
【0012】請求項6に記載のスキャニング式レーザマ
ーキング装置は、上記請求項4または5に記載の装置に
おいて、前記マーキング位置設定手段が、前記複数の組
の条件仮設定値に応じた複数個の前記パターンを所望の
配列型式で配列するためのパターン配列設定手段を有す
る構成とした。According to a sixth aspect of the present invention, in the scanning type laser marking apparatus according to the fourth or fifth aspect, the marking position setting means includes a plurality of sets corresponding to the plurality of sets of provisional setting values. The configuration includes a pattern arrangement setting unit for arranging the patterns in a desired arrangement type.
【0013】請求項7に記載のスキャニング式レーザマ
ーキング装置は、上記請求項6に記載の装置において、
前記パターン配列設定手段が、各々の前記パラメータ条
件について予め設定されたパターン配列方向の1つを選
択するためのパターン配列方向選択手段を有する構成と
した。[0013] The scanning type laser marking apparatus according to claim 7 is the apparatus according to claim 6, wherein
The pattern arrangement setting means has a pattern arrangement direction selecting means for selecting one of the pattern arrangement directions preset for each of the parameter conditions.
【0014】請求項8に記載のスキャニング式レーザマ
ーキング装置は、上記請求項7に記載の装置において、
前記パターン配列設定手段が、前記パターン配列方向に
沿って配列される複数個の前記パターンに対応する前記
パラメータ条件の仮設定値が次第に増加または減少する
ようにそれら複数個の前記パターンを配列するためのパ
ターン配列順序決定手段を有する構成とした。The scanning type laser marking device according to claim 8 is the device according to claim 7, wherein
The pattern arrangement setting means arranges the plurality of patterns such that the provisional setting value of the parameter condition corresponding to the plurality of patterns arranged along the pattern arrangement direction gradually increases or decreases. And a pattern arrangement order determining means.
【0015】請求項9に記載のスキャニング式レーザマ
ーキング装置は、上記請求項7または8に記載の装置に
おいて、前記パターン配列設定手段が、各々の前記パラ
メータ条件に対応する前記パターン配列方向毎に前記パ
ターンの配列数を設定するためのパターン配列数設定手
段を有する構成とした。According to a ninth aspect of the present invention, in the scanning type laser marking apparatus according to the seventh or the eighth aspect, the pattern arrangement setting means is arranged so that each of the pattern arrangement directions corresponds to each of the parameter conditions. The configuration has a pattern array number setting means for setting the number of pattern arrays.
【0016】請求項10に記載のスキャニング式レーザ
マーキング装置は、上記請求項4〜9のいずれかに記載
の装置において、前記パターン配列設定手段が、各々の
前記パラメータ条件に対応する前記パターン配列方向毎
に前記パターンの配列間隔を設定するためのパターン配
列間隔設定手段を有する構成とした。According to a tenth aspect of the present invention, in the scanning type laser marking apparatus according to the fourth aspect, the pattern arrangement setting means may be arranged so that the pattern arrangement direction corresponds to each of the parameter conditions. The configuration is provided with a pattern arrangement interval setting means for setting the arrangement interval of the pattern every time.
【0017】請求項11に記載のスキャニング式レーザ
マーキング装置は、上記請求項6〜10のいずれかに記
載の装置において、前記パラメータ条件選択手段が所望
の2つの条件をパラメータとして選択可能とし、前記パ
ターン配列設定手段が2つのパラメータ条件に対応する
X軸方向およびY軸方向をそれぞれ第1および第2のパ
ターン配列方向とするマトリックス型式で前記複数の組
の条件仮設定値に応じた複数個の前記パターンを配列す
る構成とした。The scanning type laser marking device according to claim 11 is the device according to any one of claims 6 to 10, wherein the parameter condition selection means can select two desired conditions as parameters. A plurality of patterns corresponding to the plurality of sets of condition provisional setting values in a matrix format in which an X-axis direction and a Y-axis direction corresponding to two parameter conditions are respectively set as first and second pattern arrangement directions. The pattern was arranged.
【0018】請求項12に記載のスキャニング式レーザ
マーキング装置は、上記請求項6〜11のいずれかに記
載の装置において、試験マーキングされる複数個の前記
パターンについてそれぞれ対応する前記パラメータ条件
の仮設定値を所定位置にマーキングする仮設定値マーキ
ング手段を含む構成とした。According to a twelfth aspect of the present invention, in the scanning type laser marking apparatus according to any one of the sixth to eleventh aspects, the parameter condition corresponding to each of the plurality of patterns to be test-marked is provisionally set. The configuration includes a provisional set value marking means for marking a value at a predetermined position.
【0019】請求項13に記載のスキャニング式レーザ
マーキング装置は、上記請求項4〜12のいずれかに記
載の装置において、さらに、前記複数の組の条件仮設定
値に対応する複数個の前記パターンを前記マーキング位
置設定手段によって設定されたそれぞれのマーキング位
置に相当する位置に配列して表示出力するパターン表示
手段を有する構成とした。A scanning laser marking device according to a thirteenth aspect of the present invention is the scanning type laser marking device according to any one of the fourth to twelfth aspects, further comprising a plurality of the patterns corresponding to the plurality of sets of the tentative set values of the condition. Are arranged at positions corresponding to the respective marking positions set by the marking position setting means, and are provided with pattern display means for displaying and outputting.
【0020】請求項14に記載のスキャニング式レーザ
マーキング装置は、上記請求項13に記載の装置におい
て、さらに、表示出力される複数個の前記パターンにつ
いてそれぞれ対応する前記パラメータ条件の仮設定値を
所定位置に表示出力する仮設定値表示手段を有する構成
とした。According to a fourteenth aspect of the present invention, in the scanning type laser marking apparatus according to the thirteenth aspect, the provisional setting of the parameter condition corresponding to each of the plurality of patterns to be displayed and output is determined. A provision is made for provisional setting value display means for displaying and outputting at the position.
【0021】請求項15に記載のスキャニング式レーザ
マーキング装置は、上記請求項13または14に記載の
装置において、さらに、表示出力される複数個の前記パ
ターンについてそれぞれ対応するパターン配列位置を示
すデータを表示出力するパターン配列位置表示手段を有
する構成とした。According to a fifteenth aspect of the present invention, in the scanning type laser marking device according to the thirteenth or fourteenth aspect, further, data indicating a pattern arrangement position corresponding to each of the plurality of patterns to be displayed and output is provided. It has a configuration having pattern arrangement position display means for displaying and outputting.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】以下、添付図を参照して本発明の
実施例を説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
【0023】図1に、本発明の一実施例によるスキャニ
ング式YAGレーザマーキング装置の外観を示す。この
YAGレーザマーキング装置は、制御電源ユニット10
とレーザ発振ユニット12とスキャニング・ヘッド20
とを有する。FIG. 1 shows the appearance of a scanning YAG laser marking apparatus according to an embodiment of the present invention. This YAG laser marking device has a control power unit 10
, Laser oscillation unit 12 and scanning head 20
And
【0024】制御電源ユニット10において、上部室に
は表示部のディスプレイ13が設けられ、中間室(前扉
14の奥)にはキーボードや制御基板が設けられ、下部
室(前扉16の奥)にはレーザ電源回路やレーザ冷却装
置等が配置されている。中間室内の制御部より発生され
たスキャニング制御信号は所定の信号線(図示せず)を
介してスキャニング・ヘッド20へ伝送される。スキャ
ニング・ヘッド20はレーザ発振ユニット12のレーザ
出射口に取り付けられ、ヘッド20の真下に作業台18
が配置されている。この作業台18の上で、被加工物W
にマーキングが施される。In the control power supply unit 10, a display 13 of a display unit is provided in an upper room, a keyboard and a control board are provided in an intermediate room (behind the front door 14), and a lower room (behind the front door 16). , A laser power supply circuit, a laser cooling device, and the like are arranged. The scanning control signal generated by the control unit in the intermediate room is transmitted to the scanning head 20 via a predetermined signal line (not shown). The scanning head 20 is attached to the laser emission port of the laser oscillation unit 12, and the work table 18 is provided directly below the head 20.
Is arranged. On the worktable 18, the workpiece W
Is marked.
【0025】図2に、制御電源ユニット10およびレー
ザ発振ユニット12内の要部の構成を示す。FIG. 2 shows a configuration of a main part in the control power supply unit 10 and the laser oscillation unit 12.
【0026】レーザ発振ユニット12内には、マーキン
グ用のYAGレーザ光LM を発振出力するためのYAG
レーザ発振器22が設けられるとともに、可視性たとえ
ば赤色のガイド光LG を発生するためのHe−Neレー
ザ24も設けられている。The laser oscillation unit 12 has a YAG laser beam LM for oscillating and outputting a YAG laser beam LM for marking.
A laser oscillator 22 is provided, and a He-Ne laser 24 for generating visibility, for example, red guide light LG is also provided.
【0027】YAGレーザ発振器22より発振出力され
たYAGレーザ光LM は、先ずミラー26で光路が直角
に曲げられ、次にミラー28で光路が直角に曲げられて
から直進してスキャニング・ヘッド20へ送られる。H
e−Neレーザ24より発生されたガイド光LG は、先
ずミラー30で光路が直角に曲げられ、次にミラー32
で光路が直角に曲げられてからミラー28を裏側から透
過し、そのまま直進してスキャニング・ヘッド20へ送
られる。The YAG laser light LM oscillated and output from the YAG laser oscillator 22 first has its optical path bent at a right angle by a mirror 26, and then has its optical path bent at a right angle by a mirror 28, and then travels straight to the scanning head 20. Sent. H
The guide light LG generated by the e-Ne laser 24 is first bent at a right angle by a mirror 30 at a mirror 30 and then at a mirror 32
After the optical path is bent at a right angle, the light passes through the mirror 28 from the back side, travels straight, and is sent to the scanning head 20.
【0028】制御電源ユニット10内には、YAGレー
ザ電源部34、He−Neレーザ電源部36、制御部3
8、入力部40、表示部42、印字部44、インタフェ
ース回路46等が設けられている。In the control power supply unit 10, a YAG laser power supply section 34, a He-Ne laser power supply section 36, a control section 3
8, an input unit 40, a display unit 42, a printing unit 44, an interface circuit 46, and the like.
【0029】YAGレーザ電源部34は、制御部38の
制御の下でYAGレーザ発振器22内のレーザ励起手段
たとえば励起ランプにランプ電流Iを供給する。He−
Neレーザ電源部36は、制御部38の制御の下でHe
−Neレーザ24内のレーザ励起手段(たとえばレーザ
管)に電力を供給する。The YAG laser power supply 34 supplies a lamp current I to a laser excitation means, for example, an excitation lamp in the YAG laser oscillator 22 under the control of the controller 38. He-
The Ne laser power supply unit 36 controls the He laser under the control of the control unit 38.
-Supply power to the laser excitation means (for example, a laser tube) in the Ne laser 24.
【0030】入力部40は、キーボード、マウス、イメ
ージスキャナ等の入力装置を含んでいる。表示部42
は、制御部38からの画像または文字データおよび表示
制御にしたがってディスプレイ13に画面を映し出す。
印字部44は、表示部42に表示可能な画面に相当する
画像を印字出力する。インタフェース回路46は、外部
装置(図示せず)とデータや制御信号等をやりとりする
ために用いられる。The input unit 40 includes input devices such as a keyboard, a mouse, and an image scanner. Display section 42
Displays a screen on the display 13 in accordance with the image or character data from the control unit 38 and the display control.
The printing unit 44 prints out an image corresponding to a screen that can be displayed on the display unit 42. The interface circuit 46 is used to exchange data, control signals, and the like with an external device (not shown).
【0031】制御部38は、マイクロコンピュータから
なり、内蔵のメモリに蓄積されている所定のソフトウェ
アにしたがって所要のデータ処理を行い、装置内の各部
を制御する。また、制御部38は、後述するようなスキ
ャニング・ヘッド20におけるスキャニング動作を制御
するためのスキャニング制御信号を信号線48を介して
ヘッド20内のスキャニング駆動回路に供給する。ま
た、YAGレーザ発振器22には大きなピークパワーを
有する繰り返しパルスレーザ光を得るためのQスイッチ
(図示せず)が内蔵されており、制御部38は制御線5
0を介してこのQスイッチの制御を行う。The control unit 38 is composed of a microcomputer, performs required data processing according to predetermined software stored in a built-in memory, and controls each unit in the apparatus. The control unit 38 supplies a scanning control signal for controlling a scanning operation in the scanning head 20 to be described later to a scanning drive circuit in the head 20 via a signal line 48. The YAG laser oscillator 22 has a built-in Q switch (not shown) for obtaining a repetitive pulse laser beam having a large peak power.
This Q switch is controlled via 0.
【0032】図3に、スキャニング・ヘッド20内のス
キャニング機構の構成例を示す。このスキャニング機構
は、互いに直交する回転軸52a,54aに取り付けら
れたX軸スキャン・ミラー52およびY軸スキャン・ミ
ラー54と、両ミラー52,54をそれぞれ回転振動
(首振り)させるX軸ガルバノメータ56およびY軸ガ
ルバノメータ58を有している。FIG. 3 shows a configuration example of the scanning mechanism in the scanning head 20. This scanning mechanism includes an X-axis scan mirror 52 and a Y-axis scan mirror 54 attached to rotating axes 52a and 54a orthogonal to each other, and an X-axis galvanometer 56 for rotating and oscillating (swinging) both mirrors 52 and 54, respectively. And a Y-axis galvanometer 58.
【0033】スキャニング・ヘッド20内に入って来た
レーザ発振ユニット12からのレーザ光LM およびガイ
ド光LG は、先ずX軸スキャン・ミラー52に入射し
て、そこで全反射してからY軸スキャン・ミラー54に
入射し、このミラー54で全反射してのちfθレンズ6
0を通って被加工物Wのマーキング加工面に集光照射す
る。マーキング面上のビームスポットSPの位置は、X
方向においてはX軸スキャン・ミラー52の振れ角によ
って決まり、Y方向においてはY軸スキャン・ミラー5
4の振れ角によって決まる。The laser light LM and the guide light LG from the laser oscillation unit 12 that have entered the scanning head 20 first enter the X-axis scan mirror 52, where they are totally reflected and then Y-axis scanned. The light enters the mirror 54, is totally reflected by the mirror 54, and
Then, the laser beam is focused and irradiated on the marking processing surface of the workpiece W through 0. The position of the beam spot SP on the marking surface is X
The direction is determined by the deflection angle of the X-axis scan mirror 52, and the Y direction is determined by the Y-axis scan mirror 5.
4 is determined by the deflection angle.
【0034】X軸スキャン・ミラー52は、X軸ガルバ
ノメータ56の駆動で矢印A,A’方向に回転振動(首
振り)する。一方、Y軸スキャン・ミラー54は、Y軸
ガルバノメータ58の駆動で矢印B,B’方向に回転振
動(首振り)する。The X-axis scan mirror 52 oscillates (oscillates) in the directions of arrows A and A 'when the X-axis galvanometer 56 is driven. On the other hand, the Y-axis scan mirror 54 oscillates (oscillates) in the directions of arrows B and B ′ by driving the Y-axis galvanometer 58.
【0035】X軸ガルバノメータ56には、X軸スキャ
ン・ミラー52に結合された可動鉄片(回転子)と、こ
の可動鉄片に接続された制御バネと、固定子に取り付け
られた駆動コイルとが内蔵されている。X軸ガルバノメ
ータ駆動回路(図示せず)よりX方向スキャニング制御
信号に応じた駆動電流が電気ケーブル62を介してX軸
ガルバノメータ56内の該駆動コイルに供給されること
で、該可動鉄片(回転子)が該制御バネに抗してX軸ス
キャン・ミラー52と一体にX方向スキャニング制御信
号の指定する角度に振れるようになっている。The X-axis galvanometer 56 includes a movable iron piece (rotor) connected to the X-axis scan mirror 52, a control spring connected to the movable iron piece, and a drive coil attached to the stator. Have been. A driving current corresponding to an X-direction scanning control signal is supplied from an X-axis galvanometer driving circuit (not shown) to the driving coil in the X-axis galvanometer 56 via an electric cable 62, so that the movable iron piece (rotor) ) Swings at an angle specified by the X-direction scanning control signal integrally with the X-axis scan mirror 52 against the control spring.
【0036】Y軸ガルバノメータ58も同様の構成を有
しており、Y軸ガルバノメータ駆動回路(図示せず)よ
りY方向スキャニング制御信号に応じた駆動電流が電気
ケーブル64を介してY軸ガルバノメータ58内の駆動
コイルに供給されることで、Y軸ガルバノメータ58内
の可動鉄片(回転子)がY軸スキャン・ミラー54と一
体にY方向スキャニング制御信号の指定する角度に振れ
るようになっている。The Y-axis galvanometer 58 has a similar configuration. A driving current corresponding to a Y-direction scanning control signal is supplied from a Y-axis galvanometer driving circuit (not shown) through the electric cable 64 to the Y-axis galvanometer 58. , The movable iron piece (rotor) in the Y-axis galvanometer 58 swings at an angle designated by the Y-direction scanning control signal together with the Y-axis scan mirror 54.
【0037】したがって、レーザ発振ユニット12から
のレーザ光LM およびガイド光LGがスキャニング・ヘ
ッド20内に所定のタイミングで入ってくる度に、それ
と同期して両ガルバノメータ56,58がX方向および
Y方向スキャニング制御信号に応じてX軸スキャン・ミ
ラー52およびY軸スキャン・ミラー54をそれぞれ所
定の角度で振ることにより、被加工物Wのマーキング面
上でレーザ光LM およびガイド光LG のビームスポット
SPがスキャニングされる。Therefore, each time the laser light LM and the guide light LG from the laser oscillation unit 12 enter the scanning head 20 at a predetermined timing, the two galvanometers 56 and 58 are synchronized with the scanning in the X and Y directions. By oscillating the X-axis scan mirror 52 and the Y-axis scan mirror 54 at predetermined angles in accordance with the scanning control signal, the beam spot SP of the laser light LM and the guide light LG on the marking surface of the workpiece W. Scanned.
【0038】図4に、本実施例において制御電源ユニッ
ト10のディスプレイ13で表示されるトライアルマト
リックス画面の一例を示す。FIG. 4 shows an example of a trial matrix screen displayed on the display 13 of the control power supply unit 10 in this embodiment.
【0039】このトライアルマトリックス画面におい
て、ユーザは、本実施例によるトライアル(試験)マー
キングの設定を行うことができる。On this trial matrix screen, the user can set trial (test) marking according to the present embodiment.
【0040】トライアルマトリックス画面は、画面左端
部から中央部にわたって拡がるパターン表示画面70
と、このパターン表示画面の右側に表示される条件設定
画面72とに分割されている。The trial matrix screen is a pattern display screen 70 extending from the left end to the center of the screen.
And a condition setting screen 72 displayed on the right side of the pattern display screen.
【0041】条件設定画面72において、垂直方向一列
に配置されている複数個の短冊状表示枠“□”は、その
左隣に表示された各項目について任意のデータ(設定値
または仮設定値)を入力表示する欄である。In the condition setting screen 72, a plurality of rectangular display frames "□" arranged in a line in the vertical direction indicate arbitrary data (set value or provisional set value) for each item displayed on the left. Is a field for inputting and displaying.
【0042】データ入力可能な項目のうち、最上部の
「起動番号」は、1つのパターンに関する全てのデータ
を一括管理するためのID番号である。この「起動番
号」の欄に所望の番号たとえば“5”を入力すると、こ
の起動番号“5”で登録されているパターンのファイル
名(この例では“123.MKE ”)が上隣の「ファイル名」
表示欄に表示されると同時に、パターン表示画面70上
に該当パターン(この例では文字列“ABCD”)が表
示される。Of the items for which data can be input, the “start number” at the top is an ID number for collectively managing all data relating to one pattern. When a desired number, for example, “5” is entered in the “activation number” field, the file name of the pattern registered with the activation number “5” (“123.MKE” in this example) is displayed in the “file Name"
At the same time as being displayed in the display column, the corresponding pattern (in this example, the character string “ABCD”) is displayed on the pattern display screen 70.
【0043】なお、数値データを入力するには、該当箇
所をカーソルで指示し、キーボードより該当数値データ
をキー入力すればよい。In order to input numerical data, it is only necessary to point to a relevant portion with a cursor and input the relevant numerical data from a keyboard.
【0044】上記「起動番号」の下に設けられている項
目「パラメータ」では、X軸方向とY軸方向とでそれぞ
れ所望のパラメータ条件を指定できるようになってい
る。In the item "parameter" provided under the "activation number", desired parameter conditions can be designated in the X-axis direction and the Y-axis direction.
【0045】図5に示すように、「X軸」の欄の右隣に
表示されているマーク“▼”にカーソルを移動させてマ
ウスをクリックすると、パラメータ条件として選択可能
なマーキング条件がこの欄の近傍(下隣)に一覧表示さ
れる。As shown in FIG. 5, when the cursor is moved to the mark “▼” displayed on the right of the “X-axis” column and the mouse is clicked, the marking conditions that can be selected as the parameter conditions are changed to those in this column. Is listed near (below).
【0046】本実施例では、スピード(スキャニング速
度)、周波数(Qスイッチ周波数)および電流(ランプ
電流)の3つの条件について任意の値を仮設定すること
ができるとともに、これら3条件の中からパラメータ条
件を選択することが可能となっている。In this embodiment, arbitrary values can be provisionally set for the three conditions of speed (scanning speed), frequency (Q-switch frequency) and current (lamp current). It is possible to select conditions.
【0047】図5の一覧表の中でたとえば“電流”をク
リックすると、「X軸パラメータ条件」として「電流」
を選択したことになり、「X軸」の欄に“電流”と表示
される。「Y軸パラメータ条件」についても、同様の操
作により、上記3つのマーキング条件の中からたとえば
「スピード」を選択することができる。When, for example, “current” is clicked in the list of FIG. 5, “current” is set as “X-axis parameter condition”.
Is selected, and “current” is displayed in the “X-axis” column. Regarding the “Y-axis parameter condition”, for example, “speed” can be selected from the above three marking conditions by the same operation.
【0048】X軸パラメータ条件に関連して、「列
数」、「間隔」および「オフセット」の設定項目が設け
られている。In connection with the X-axis parameter conditions, setting items of “number of columns”, “interval” and “offset” are provided.
【0049】「列数」は、直接的にはX軸方向における
パターン配列数を表し、間接的にはX軸パラメータ条件
(「電流」)の仮設定値の個数を表す。図示の例では、
「列数」に“6”(列)が入力されている。「間隔」
は、トライアルマーキング(試験)マーキングにおける
X軸方向のパターン配列間隔を表す。図示の例では、
「間隔」に“9.00”(mm)が入力されている。
「オフセット」は、トライアルマーキングにおけるX軸
方向のパターン配列始端位置(座標中心点からの距離)
を表す。図示の例では、「オフセット」に“−25.0
0”(mm)が入力されている。The "number of columns" directly indicates the number of pattern arrangements in the X-axis direction, and indirectly indicates the number of provisionally set values of the X-axis parameter condition ("current"). In the example shown,
“6” (column) is input in “number of columns”. "interval"
Represents the pattern arrangement interval in the X-axis direction in trial marking (test) marking. In the example shown,
“9.00” (mm) is input in “interval”.
“Offset” is the starting position of the pattern arrangement in the X-axis direction in trial marking (distance from the coordinate center point)
Represents In the illustrated example, “−25.0” is set as the “offset”.
0 "(mm) is input.
【0050】Y軸パラメータ条件においても、「行
数」、「間隔」および「オフセット」の設定項目が設け
られている。In the Y-axis parameter condition, setting items of “number of lines”, “interval” and “offset” are provided.
【0051】「行数」は、直接的にはY軸方向における
パターン配列数を表し、間接的にはY軸パラメータ条件
(「スピード」)に係る仮設定値の個数を表す。図示の
例では、“8”(行)が入力されている。「Y軸」方向
における「間隔」は、試験マーキングにおけるY軸方向
のパターン配列間隔を表す。図示の例では“4.00”
(mm)が入力されている。「Y軸」方向における「オ
フセット」は、試験マーキングにおけるY軸方向のパタ
ーン配列始端位置を表す。図示の例では、“−25.0
0”(mm)が入力されている。The "number of rows" directly indicates the number of pattern arrangements in the Y-axis direction, and indirectly indicates the number of provisionally set values according to the Y-axis parameter condition ("speed"). In the illustrated example, “8” (row) is input. The “interval” in the “Y-axis” direction represents the pattern arrangement interval in the Y-axis direction in the test marking. In the illustrated example, “4.00”
(Mm) has been entered. The “offset” in the “Y-axis” direction indicates the starting position of the pattern arrangement in the Y-axis direction in the test marking. In the illustrated example, “−25.0
0 "(mm) is input.
【0052】「パラメータ」項目の下には、本実施例に
おけるマーキング条件である「スピード(スキャニング
速度)」、「Qスイッチ周波数」、「電流(ランプ電
流)」の3条件についてそれぞれ「初期値」および「ス
テップ」の設定項目が設けられている。「初期値」は本
実施例のトライアルマーキングのための各マーキング条
件の仮設定値の初期値を表し、「ステップ」は各マーキ
ング条件の仮設定値をパラメータとしてインクリメント
またはディクリメントさせるときのステップ値を表す。Under the “parameter” item, “initial values” are respectively set for three conditions of the marking conditions in this embodiment, “speed (scanning speed)”, “Q switch frequency”, and “current (lamp current)”. And “step” setting items. "Initial value" represents the initial value of the provisional setting value of each marking condition for trial marking of this embodiment, and "Step" is the step value when incrementing or decrementing the provisional setting value of each marking condition as a parameter. Represents
【0053】図示の例では、「スピード」について「初
期値」に“100”(mm/s)、「ステップ」に“5
0”(mm/s)がそれぞれ入力され、「Qスイッチ周
波数」については「初期値」に“2.0”(kHz)、
「ステップ」に“1.0”(kHz)がそれぞれ入力さ
れ、「電流」については「初期値」に“12.0”
(A)、「ステップ」に“1.0”(A)がそれぞれ入
力されている。In the illustrated example, “speed” is “100” (mm / s) for “initial value” and “5” for “step”.
0 ”(mm / s) is input, and“ 2.0 ”(kHz) is set as“ initial value ”for“ Q switch frequency ”.
“1.0” (kHz) is inputted to “step”, and “12.0” is inputted to “initial value” for “current”.
(A), “1.0” (A) is input to “Step”.
【0054】もっとも、図示の例の場合、「ステップ」
のデータが有意に機能するのは、「X軸パラメータ条
件」に選ばれている「電流」と、「Y軸パラメータ条
件」に選ばれている「スピード」においてである。「Q
スイッチ周波数」はパラメータ条件には選ばれていない
ため、その「ステップ」は意味を持たず、仮設定値は
「初期値」に固定される。In the case of the example shown in FIG.
Data significantly function in “current” selected in “X-axis parameter condition” and “speed” selected in “Y-axis parameter condition”. "Q
Since the “switch frequency” is not selected as a parameter condition, the “step” has no meaning, and the provisional setting value is fixed at “initial value”.
【0055】図6に、トライアルマトリックス画面にお
いて制御部38により実行されるデータ入力処理の手順
を示す。FIG. 6 shows a procedure of data input processing executed by the control unit 38 on the trial matrix screen.
【0056】何れかのデータ表示欄“□”について入力
部40よりデータを入力すると(ステップA1 )、該当
設定項目に対応したデータ入力処理A2(i)および表示処
理A3(i)を実行する。When data is input from the input section 40 for any of the data display fields "□" (step A1), a data input process A2 (i) and a display process A3 (i) corresponding to the relevant setting item are executed.
【0057】たとえば、「X軸パラメータ条件」につい
て「電流」が指示(選択)されたときは、制御部38に
内蔵されるデータメモリの所定の番地に「X軸パラメー
タ条件」の設定値として「電流」を登録する(ステップ
A2(1))。そして、条件設定画面72内の該当欄つまり
「X軸パラメータ」項目の右隣のデータ表示欄に“電
流”の文字を表示するとともに、パターン表示画面70
の下端縁部のX軸パラメータ表示欄に“電流”の文字を
表示する(ステップA3(1))。For example, when “current” is designated (selected) for “X-axis parameter condition”, “X-axis parameter condition” is set as a set value of “X-axis parameter condition” at a predetermined address of a data memory built in control unit 38. "Current" is registered (step A2 (1)). Then, the character "current" is displayed in a corresponding column in the condition setting screen 72, that is, a data display column to the right of the "X-axis parameter" item, and the pattern display screen 70 is displayed.
Is displayed in the X-axis parameter display field at the lower edge of the step (step A3 (1)).
【0058】また、X軸方向の「列数」について数値デ
ータたとえば“6”が入力されたときは、上記データメ
モリの所定の番地に「列数」設定値として「6」(列)
を登録する(ステップA2(2))。そして、条件設定画面
72内の該当欄に入力データ値“6”を表示するととも
に、パターン表示画面70上では設定パターン“ABC
D”をX軸方向に6列に多重展開して表示する(ステッ
プA3(2))。When numerical data such as "6" is input for "number of columns" in the X-axis direction, "6" (column) is set as a "number of columns" set value at a predetermined address in the data memory.
Is registered (step A2 (2)). The input data value “6” is displayed in a corresponding column in the condition setting screen 72, and the setting pattern “ABC” is displayed on the pattern display screen 70.
D "is multiplexed and displayed in six columns in the X-axis direction and displayed (step A3 (2)).
【0059】なお、一部の項目についてのみデータが入
力され残りの項目には未だデータが入力されていないと
きは、それら残りの項目に適当なデフォルト値を与える
ことで、パターン表示画面70上に設定パターン“AB
CD”を中間段階の配列で多重展開して表示することが
できる。When data is input for only some of the items and no data has been input for the remaining items, appropriate default values are given to the remaining items, so that the pattern display screen 70 is displayed. Set pattern "AB
CD "can be multiplex-deployed and displayed at an intermediate stage.
【0060】X軸方向の「間隔」について数値データた
とえば“9.00”が入力されたときは、この設定項目
に対応する上記データメモリの所定の番地に「9.0
0」(mm)を登録する(ステップA2(3))。そして、
条件設定画面72内の該当欄に入力データ値“9.0
0”を表示するとともに、パターン表示画面70上では
X軸方向における設定パターン“ABCD”の配列間隔
を入力値(9.00mm)に対応した画面表示間隔とす
る(ステップA3(3))。When numerical data such as "9.00" is input for "interval" in the X-axis direction, "9.0" is stored in a predetermined address of the data memory corresponding to this setting item.
"0" (mm) is registered (step A2 (3)). And
The input data value "9.0 is displayed in the corresponding column in the condition setting screen 72.
"0" is displayed, and the arrangement interval of the set pattern "ABCD" in the X-axis direction is set as the screen display interval corresponding to the input value (9.00 mm) on the pattern display screen 70 (step A3 (3)).
【0061】上記のように「列数」および「間隔」の設
定値が揃った時点で、X軸方向における各列のパターン
“ABCD”の位置(マーキング位置および画面表示位
置)を演算で求め、求めた各位置をデータメモリ内に登
録しておく。この処理は、「列数」または「間隔」のデ
ータ入力処理(A2(2),A2(3))の一環として実行され
てよい。When the set values of the “number of columns” and “interval” are completed as described above, the position (marking position and screen display position) of the pattern “ABCD” of each column in the X-axis direction is calculated. Each obtained position is registered in the data memory. This processing may be executed as a part of the data input processing (A2 (2), A2 (3)) of “number of columns” or “interval”.
【0062】マーキング条件たとえば「電流」の「初期
値」についてたとえば“12.0”が入力されたとき
は、この設定項目に対応するデータメモリの所定の番地
に「12.0」(A)を登録する(ステップA2(n-
1))。表示処理としては、該当欄に入力値“12.0”
を表示する(ステップA3(n-1))。When, for example, “12.0” is input for the marking condition, for example, “initial value” of “current”, “12.0” (A) is set to a predetermined address of the data memory corresponding to this setting item. Register (Step A2 (n-
1)). As the display processing, the input value “12.0” is entered in the corresponding field.
Is displayed (step A3 (n-1)).
【0063】また、「電流」の「ステップ」についてた
とえば“1.0”が入力されたときは、この項目に対応
するデータメモリの所定の番地に「1.0」(A)を登
録する(ステップA2(n))。また、表示処理として、該
当欄に入力値“1.0”を表示する(ステップA3
(n))。When, for example, "1.0" is input for "step" of "current", "1.0" (A) is registered at a predetermined address of the data memory corresponding to this item ( Step A2 (n)). As a display process, the input value "1.0" is displayed in the corresponding column (step A3).
(n)).
【0064】本例のように、「電流」がパラメータ条件
に選ばれていて、その「列数」(または「行数」)、
「初期値」および「ステップ」の設定値が揃った時は、
その時点のデータ入力処理(A2(2),A2(n-1)またはA
2(n))の中で、図7に示すような手順(B1 〜B5 )に
より仮設定値演算処理を実行してよい。As in this example, “current” is selected as a parameter condition, and “column number” (or “row number”),
When the “initial value” and “step” setting values are complete,
Data input processing at that time (A2 (2), A2 (n-1) or A2 (n-1)
2 (n)), the provisional set value calculation process may be executed according to the procedure (B1 to B5) shown in FIG.
【0065】より詳細には、最初に列(行)数NA、初
期値P1、ステップ△Pをセットし(ステップB1)、初
期値P1を被加数PNとし、これにステップ△Pを加える
ことで、このパラメータ条件における2番目の仮設定値
P2(PN+1)を得る(ステップB2)。次に、この2番
目の仮設定値P2を被加数PNとし、これにステップ△P
を加えることで、このパラメータ条件における3番目の
仮設定値P3(PN+1)を得る(ステップB2)。以下、
同様にして4番目、5番目‥‥の仮設定値P4、P5‥‥
が得られる。そして、列(行)数NAに相当する個数の
仮設定値を全部求めたなら、この仮設定値演算処理を終
了する(ステップB3、B4)。More specifically, first, the number of columns (rows) NA, the initial value P1, and the step ΔP are set (step B1), and the initial value P1 is set as the augend PN, and the step ΔP is added thereto. Then, the second provisional set value P2 (PN + 1) under this parameter condition is obtained (step B2). Next, the second provisional set value P2 is set as the augend PN, and
To obtain the third provisional set value P3 (PN + 1) under this parameter condition (step B2). Less than,
Similarly, the fourth and fifth temporary setting values P4, P5}
Is obtained. When all the temporary setting values corresponding to the number of columns (rows) NA have been obtained, the temporary setting value calculation processing ends (steps B3 and B4).
【0066】この演算処理によって得られた「電流」の
仮設定値は、データメモリ内の所定の記憶番地に格納
(登録)する。他のパラメータ条件(図示の例では「ス
ピード」)についても、同様の仮設定値演算処理によっ
て初期値以外の仮設定値を求める。The tentative set value of “current” obtained by this arithmetic processing is stored (registered) at a predetermined storage address in the data memory. With respect to other parameter conditions ("speed" in the illustrated example), temporary setting values other than the initial values are obtained by the same temporary setting value calculation processing.
【0067】上記のようにして、ユーザはトライアルマ
トリックス画面上で所望のトライアルマーキングを行う
ための所要の条件設定ないし仮設定を行うことができ
る。As described above, the user can set necessary conditions or provisional settings for performing a desired trial marking on the trial matrix screen.
【0068】図4は、一通りの設定入力を終えた段階の
トライアルマトリックス画面(一例)を示している。画
面に表示されている設定値・仮設定値および設定パター
ンのデータは起動番号ないしファイル名で一括管理さ
れ、画面消去しても保存することができる。そして、登
録抹消しない限り該当起動番号で何時でも画面に呼び出
すことができ、さらには所定のキー操作によりトライア
ルマトリックス画面に表示の設定内容でトライアルマー
キングを実行させることができる。FIG. 4 shows a trial matrix screen (one example) at the stage when one set of input has been completed. The set value / temporary set value and the data of the set pattern displayed on the screen are collectively managed by a start number or a file name, and can be saved even if the screen is erased. Unless the registration is deleted, the activation number can be called up on the screen at any time, and furthermore, the trial marking can be executed with the setting contents displayed on the trial matrix screen by operating a predetermined key.
【0069】図8に、本実施例における制御部38のト
ライアルマーキング実行処理の手順を示す。なお、本実
施例のトライアルマーキングにおいて、図4に例示する
ようなマトリックス型式に平面展開して設定パターンを
複数個印字する場合は、四方に拡がった平坦面を有する
サンプルを被加工物Wに用いるのが望ましい。FIG. 8 shows the procedure of the trial marking execution process of the control unit 38 in this embodiment. In the trial marking according to the present embodiment, when a plurality of setting patterns are printed by flat development in a matrix format as illustrated in FIG. 4, a sample having a flat surface extending in four directions is used for the workpiece W. It is desirable.
【0070】トライアルマーキング実行モードを開始す
るときは、先ず、今回指示された起動番号を識別する
(ステップC1 )。たとえば、図4のトライアルマトリ
ックス画面で設定された起動番号「5」を識別したとす
る。When starting the trial marking execution mode, first, the activation number designated this time is identified (step C1). For example, assume that the activation number “5” set on the trial matrix screen of FIG. 4 is identified.
【0071】次に、この起動番号「5」に対応するマー
キングデータの初期化を行う(ステップC2 )。すなわ
ち、起動番号「5」で登録されているマーキングデータ
をデータメモリから検索する。ここで検索されるマーキ
ングデータには、設定パターン「ABCD」の文字・図
形データ(描画データ)と条件設定画面72より設定入
力された各種条件または項目の設定値ないし仮設定値の
データとが含まれる。そのうち、パラメータ条件の仮設
定値については、最初に初期値を選択する。マーキング
位置についても最初に初期値を選択する。Next, the marking data corresponding to the activation number "5" is initialized (step C2). That is, the data memory is searched for the marking data registered with the activation number “5”. The marking data searched for here includes character / graphic data (drawing data) of the setting pattern “ABCD” and data of setting values or provisional setting values of various conditions or items input from the condition setting screen 72. It is. Among them, an initial value is first selected for the temporary setting value of the parameter condition. First, an initial value is also selected for the marking position.
【0072】したがって、第1列第1行分のトライアル
マーキングのための第1組の条件データとして、パラメ
ータ条件である「電流」および「スピード」については
それぞれ複数個の仮設定値の中から初期値がセットさ
れ、非パラメータ条件であるマーキング条件の「Qスイ
ッチ周波数」については唯一の仮設定値(初期値)が選
ばれ、他の所要の条件についても一定の設定値がセット
される。Therefore, as the first set of condition data for trial marking of the first column and the first row, the parameter conditions “current” and “speed” are initially set from a plurality of temporary setting values. A value is set, and only a temporary setting value (initial value) is selected for the “Q switch frequency” of the marking condition, which is a non-parameter condition, and a constant setting value is set for other necessary conditions.
【0073】制御部38は、上記初期化で用意した第1
組の条件データ(設定値・仮設定値)にしたがって各部
を動作させて、トライアルマトリックスにおける第1列
第1行分のトライアルマーキングを実行する(ステップ
C3 )。The control unit 38 controls the first
Each unit is operated according to the set of condition data (set value / temporary set value) to execute trial marking for the first column and first row in the trial matrix (step C3).
【0074】この場合、制御部38は、YAGレーザ電
源部34およびHe−Neレーザ電源部36を通じてそ
れぞれYAGレーザ発振器22およびHe−Neレーザ
24を作動させ、YAGレーザ光LM およびガイド光L
G をそれぞれ点灯させる。YAGレーザ電源部34に
は、X軸パラメータ条件「電流」の初期値に等しいラン
プ電流IをYAGレーザ発振器22内の励起ランプに供
給させる。また、YAGレーザ発振器22内のQスイッ
チを、マーキング条件「Qスイッチ周波数」の初期値に
等しい周波数でQスイッチ動作させる。In this case, the control section 38 operates the YAG laser oscillator 22 and the He-Ne laser 24 through the YAG laser power supply section 34 and the He-Ne laser power supply section 36, respectively, and the YAG laser light LM and the guide light L
Turn on G respectively. The YAG laser power supply unit 34 supplies a lamp current I equal to the initial value of the X-axis parameter condition “current” to the excitation lamp in the YAG laser oscillator 22. Further, the Q switch in the YAG laser oscillator 22 is operated at a frequency equal to the initial value of the marking condition “Q switch frequency”.
【0075】そして、制御部38は、上記描画データお
よび条件データに応じたスキャニング制御信号をスキャ
ニング・ヘッド20に送って、被加工物(サンプル)W
の表面上でYAGレーザ光LM およびガイド光LG のビ
ームスポットSPをスキャニングさせる。ここで、スキ
ャニング速度は、Y軸パラメータ条件「スピード」の初
期値に等しい値とする。また、スキャニング(マーキン
グ)位置は、被加工物Wの表面に設定されたトライアル
マトリックス領域における第1列第1行の位置とする。Then, the control section 38 sends a scanning control signal corresponding to the drawing data and the condition data to the scanning head 20, and the work (sample) W
The beam spot SP of the YAG laser light LM and the guide light LG is scanned on the surface of. Here, the scanning speed is a value equal to the initial value of the Y-axis parameter condition “speed”. The scanning (marking) position is the position of the first column and first row in the trial matrix region set on the surface of the workpiece W.
【0076】このスキャニング動作により、被加工物W
の表面上では、YAGレーザ光LMのビームスポットの
当たった被加工物表面の微小部分がレーザエネルギーで
瞬間的に蒸発または変色し、“ABCD”と設定パター
ンが印字される。By this scanning operation, the workpiece W
A minute portion of the surface of the workpiece hit by the beam spot of the YAG laser beam LM evaporates or discolors instantaneously with the laser energy, and the set pattern "ABCD" is printed.
【0077】もっとも、トライアルマーキングの印字結
果であるから、印字品質が保証されているわけではな
く、設定パターン「ABCD」が鮮明に印字されること
もあれば、濃すぎて滲んだり、逆に薄すぎて目視で認識
できないこともある。However, since it is a trial marking print result, the print quality is not guaranteed. The set pattern "ABCD" may be printed clearly, or it may be too dark to bleed or vice versa. Sometimes it is too visual to be recognized.
【0078】上記のようにして第1列第1行分のトライ
アルマーキングを終了すると、次に第1列第2行分のト
ライアルマーキング用の第2組の条件データをセットす
る。このために、Y軸パラメータ条件「スピード」の仮
設定値を1つステップ的に更新するとともに(ステップ
C5 )、Y軸方向でマーキング位置を1行分(第1行か
ら第2行へ)ステップ的に更新する(ステップC6 )。
他の条件については設定値データを変更せず、前回と同
じものを用いる。When the trial marking of the first column and the first row is completed as described above, the second set of condition data for the trial marking of the first column and the second row is set. For this purpose, the temporary setting value of the Y-axis parameter condition "speed" is updated by one step (step C5), and the marking position is changed by one line (from the first line to the second line) in the Y-axis direction. (Step C6).
For other conditions, the same value as the previous time is used without changing the set value data.
【0079】制御部38は、上記更新処理(C5 ,C6
)によって得られた第2組の条件データにしたがって
各部を動作させて、第1列第2行分のトライアルマーキ
ングを実行する(ステップC3 )。The control unit 38 performs the updating process (C5, C6).
The respective parts are operated in accordance with the second set of condition data obtained in the step (3) to execute the trial marking for the first column and the second row (step C3).
【0080】その際、制御部38は、YAGレーザ電源
部34よりYAGレーザ発振器22内の励起ランプに対
しては、前回と同様にX軸パラメータ条件「電流」の初
期値に相当するランプ電流Iを供給する。また、YAG
レーザ発振器22内のQスイッチを、マーキング条件
「Qスイッチ周波数」の初期値(一定の仮設定値)に等
しいQスイッチ周波数でQスイッチ動作させる。ただ
し、スキャニング・ヘッド20においては、上記更新処
理(C5 )で更新されたY軸パラメータ条件「スピー
ド」の仮設定値に相当するスキャニング速度で、かつ上
記更新処理(C6 )で更新されたマーキング位置にて、
YAGレーザ光LM およびガイド光LG を振らせる。At this time, the control section 38 supplies the lamp current I corresponding to the initial value of the X-axis parameter condition “current” to the excitation lamp in the YAG laser oscillator 22 from the YAG laser power supply section 34 as before. Supply. Also, YAG
The Q switch in the laser oscillator 22 is operated at the Q switch frequency equal to the initial value (a fixed temporary setting value) of the marking condition “Q switch frequency”. However, in the scanning head 20, the scanning speed corresponding to the provisional set value of the Y-axis parameter condition "speed" updated in the update processing (C5) and the marking position updated in the update processing (C6) are used. At
The YAG laser light LM and the guide light LG are swung.
【0081】これにより、被加工物Wの表面上の所定位
置、つまりトライアルマトリックスにおける第1列第2
行の位置に、第2組の条件データに応じた設定パターン
「ABCD」が印字される。Thus, the predetermined position on the surface of the workpiece W, that is, the first column and the second column in the trial matrix
A set pattern “ABCD” corresponding to the second set of condition data is printed at the position of the line.
【0082】上記のようにして、同一のパターン「AB
CD」につきY軸パラメータ条件「スピード」の仮設定
値を1回(1行)毎に更新させ他の条件の設定値を一定
値とするトライアルマーキングを「行数」の設定回数
(8回)だけ行う。その結果、被加工物Wの表面上に、
トライアルマトリックスにおける第1列分の印字結果が
得られる。As described above, the same pattern "AB
For the "CD", the temporary setting value of the Y-axis parameter condition "speed" is updated once (one line), and the setting value of other conditions is set to a constant value. Just do. As a result, on the surface of the workpiece W,
The printing result of the first column in the trial matrix is obtained.
【0083】第1列の最後の行(第8行)に対するトラ
イアルマーキングが終了すると(ステップC4 )、Y軸
パラメータ条件「スピード」の仮設定値を初期値に戻す
とともに(ステップC7 )、Y軸方向のマーキング位置
を初期値(第1行)に戻す(ステップC8 )。When the trial marking for the last row (eighth row) of the first column is completed (step C4), the provisional set value of the Y-axis parameter condition "speed" is returned to the initial value (step C7), and the Y-axis is set. The marking position in the direction is returned to the initial value (first line) (step C8).
【0084】次いで、X軸方向における更新処理を行
う。すなわち、X軸パラメータ条件「電流」の仮設定値
を1ステップだけ更新し(ステップC10)、X軸方向の
マーキング位置を1列分(第1列から第2列へ)だけ更
新する(ステップC11)。他の条件については設定値デ
ータを変更せず、前回と同じものを用いる。Next, an updating process in the X-axis direction is performed. That is, the provisional set value of the X-axis parameter condition “current” is updated by one step (Step C10), and the marking position in the X-axis direction is updated by one column (from the first column to the second column) (Step C11). ). For other conditions, the same value as the previous time is used without changing the set value data.
【0085】制御部38は、上記Y軸方向の初期化処理
(C7 ,C8 )およびX軸方向の更新処理(C10,C1
1)によって得られた条件データにしたがって各部を動
作させ、第2列第1行分のトライアルマーキングを実行
する(ステップC3 )。The control unit 38 performs the above-described initialization processing (C7, C8) in the Y-axis direction and update processing (C10, C1) in the X-axis direction.
Each unit is operated according to the condition data obtained in 1), and trial marking for the second column and first row is executed (step C3).
【0086】その際、制御部38は、YAGレーザ電源
部34よりYAGレーザ発振器22内の励起ランプに対
しては、第1列第1行分のトライアルマーキングのとき
と同じ電流値(仮設定値の初期値)でランプ電流Iを供
給する。また、YAGレーザ発振器22内のQスイッチ
については、マーキング条件「Qスイッチ周波数」の初
期値(一定の仮設定値)に等しいQスイッチ周波数でQ
スイッチング制御を行う。At this time, the control unit 38 supplies the same current value (provisional setting value) as that at the time of the trial marking of the first column and the first row to the excitation lamp in the YAG laser oscillator 22 from the YAG laser power supply unit 34. (Initial value). The Q switch in the YAG laser oscillator 22 has a Q switch frequency equal to the initial value (a fixed temporary set value) of the marking condition “Q switch frequency”.
Perform switching control.
【0087】また、スキャニング・ヘッド20において
は、上記初期化処理(C7 )で初期化されたY軸パラメ
ータ条件「スピード」の仮設定値(初期値)に等しいス
キャニング速度で、かつ上記初期化処理(C8 )により
Y軸方向で初期化されるとともに上記更新処理(C11)
によりX軸方向で更新されたマーキング位置にて、YA
Gレーザ光LM およびガイド光LG を振らせる。In the scanning head 20, the scanning speed is equal to the temporary setting value (initial value) of the Y-axis parameter condition "speed" initialized in the initialization process (C7), and the initialization process is performed. Initialization is performed in the Y-axis direction by (C8) and the update processing (C11) is performed.
At the marking position updated in the X-axis direction by YA
The G laser light LM and the guide light LG are swung.
【0088】これにより、被加工物Wの表面上の所定位
置、つまりトライアルマトリックスにおける第2列第1
行の位置に、第9組の条件データに応じた設定パターン
「ABCD」が印字される。Thus, the predetermined position on the surface of the workpiece W, that is, the second
The setting pattern “ABCD” corresponding to the ninth set of condition data is printed at the line position.
【0089】第2列でも、上記第1列の場合と同様の手
順(ステップC3 〜C6 )で、同一のパターン「ABC
D」につきY軸パラメータ条件「スピード」の仮設定値
だけ異なり他の条件の設定値は一定であるトライアルマ
ーキングが「行数」の回数(8回)だけ行われる。その
結果、トライアルマトリックスにおける第2列分の印字
結果が得られる。In the second row, the same pattern "ABC" is used in the same procedure (steps C3 to C6) as in the first row.
For D, the trial marking is performed only the number of times (eight times) of “number of lines” in which only the provisional set value of the Y-axis parameter condition “speed” is different and the set values of other conditions are constant. As a result, a printing result for the second column in the trial matrix is obtained.
【0090】以下、第3列以降についても、上記と同様
の手順(ステップC3 〜C11)で、同一のパターン「A
BCD」につき1行毎にY軸パラメータ条件「スピー
ド」の仮設定値を更新するとともに1列毎にX軸パラメ
ータ条件「電流」の仮設定値を更新し他の条件の設定値
を一定とするトライアルマーキングが各列各行について
行われる。The same procedure (steps C3 to C11) is applied to the third and subsequent columns in the same pattern "A".
The provisional set value of the Y-axis parameter condition "speed" is updated for each row of the "BCD", and the provisional set value of the X-axis parameter condition "current" is updated for each column and the set values of other conditions are kept constant. Trial marking is performed for each column and each row.
【0091】その結果、被加工物(サンプル)Wの表面
上に、トライアルマトリックス画面のパターン表示画面
70に表示されるものと相似の6列8行のマトリックス
型式で、トライアルマーキングによる設定パターン「A
BCD」の印字結果が複数個(48個)得られる。As a result, on the surface of the workpiece (sample) W, a set pattern “A” of 6 columns and 8 rows similar to that displayed on the pattern display screen 70 of the trial matrix screen is set by the trial marking.
A plurality (48) of printing results of "BCD" are obtained.
【0092】もっとも、上記したように、マーキング条
件を種々変更したトライアルマーキングであるから、ト
ライアルマトリックスの一部においてレーザビームスポ
ットのエネルギーが小さすぎて実質的に印字パターンが
現れないこともある。However, as described above, since the trial marking has variously changed the marking conditions, the energy of the laser beam spot may be too small in a part of the trial matrix, and the print pattern may not appear substantially.
【0093】図9に、トライアルマーキングの印字結果
の一部を模式的に示す。X軸方向では、X軸パラメータ
条件である「電流」(ランプ電流)の仮設定値が1列毎
にステップ的に増大するため、パターン「ABCD」の
印字がだんだんと濃くなる。一方、Y軸方向では、Y軸
パラメータ条件である「スピード」(スキャニング速
度)の仮設定値が1行毎にステップ的に増大するため、
パターン「ABCD」の印字がだんだんと薄くなる。FIG. 9 schematically shows a part of the printing result of the trial marking. In the X-axis direction, the provisional set value of the “current” (lamp current), which is the X-axis parameter condition, increases stepwise for each row, so that the pattern “ABCD” is printed in a darker color. On the other hand, in the Y-axis direction, the provisional set value of “speed” (scanning speed), which is the Y-axis parameter condition, increases stepwise for each row.
The printing of the pattern "ABCD" gradually becomes thinner.
【0094】ユーザは、1回の条件仮設定、1回のトラ
イアルマーキングでマーキング条件の種々多様な仮設定
値に応じた同一パターンについての多数の試験結果を一
挙に獲得することができる。従来のように試行錯誤的に
模索して条件の仮設定値を選ぶ手間は要らない。そし
て、被加工物(サンプル)Wの表面上に整然とマトリク
ス状に配列されたトライアルマーキングの全試験結果を
比較観察することで、一目で最良の試験結果を判別する
ことができる。The user can obtain a large number of test results for the same pattern according to various temporary setting values of the marking conditions at a time by one-time provisional setting and one-time trial marking. There is no need to search through trial and error and select temporary setting values for conditions as in the conventional case. Then, by comparing and observing all the test results of the trial markings which are arranged in a matrix orderly on the surface of the workpiece (sample) W, the best test result can be determined at a glance.
【0095】したがって、経験の少ないユーザでも、マ
ーキング条件について最適な設定値を容易に選択するこ
とができる。Therefore, even an inexperienced user can easily select an optimum set value for the marking condition.
【0096】なお、1回のトライアルマーキングにおい
ていずれの試験結果にも満足できない場合は、トライア
ルマトリックス画面(図4)で1つまたは複数の設定項
目に別の設定値または仮設定値を入力し、トライアルマ
ーキングを再度行うこともできる。If one test mark does not satisfy any of the test results, another set value or provisional set value is entered for one or more set items on the trial matrix screen (FIG. 4). Trial marking can be performed again.
【0097】ユーザは、満足できる試験結果を見付けた
ときは、トライアルマトリックスにおける該当パターン
「ABCD」の配列位置を割り出し、その位置から該当
パターン「ABCD」の試験結果をもたらした条件デー
タを簡単に割り出すことができる。When the user finds a satisfactory test result, the user determines the arrangement position of the corresponding pattern "ABCD" in the trial matrix, and easily finds the condition data that has resulted in the test result of the corresponding pattern "ABCD" from the position. be able to.
【0098】たとえば、本例において、満足できる試験
結果としてトライアルマトリックスの第3列第4行のパ
ターンを選んだとする。このパターンに対応するマーキ
ング条件「電流」、「スピード」、「Qスイッチ周波
数」の仮設定値は、次のようにして求められる。For example, in this example, it is assumed that the pattern in the third column and fourth row of the trial matrix is selected as a satisfactory test result. The provisional set values of the marking conditions “current”, “speed”, and “Q switch frequency” corresponding to this pattern are obtained as follows.
【0099】「電流」の仮設定値は、12.0(初期
値)+1.0(ステップ値)×2(第3列分のステップ
数)×=14.0(A)である。「スピード」仮設定値
は、100(初期値)+50(ステップ値)×3(第4
行分のステップ数)×=250(mm/s)である。
「Qスイッチ周波数」の仮設定値は、2.0kHz(初
期値)である。The provisional set value of “current” is 12.0 (initial value) +1.0 (step value) × 2 (the number of steps in the third column) × = 14.0 (A). The “speed” provisional setting value is 100 (initial value) +50 (step value) × 3 (fourth
The number of steps per row) × = 250 (mm / s).
The temporary setting value of the “Q switch frequency” is 2.0 kHz (initial value).
【0100】ユーザは、上記のようにして割り出したマ
ーキング条件「電流」、「スピード」、「Qスイッチ周
波数」の仮設定値を正式マーキング用の正規設定値とし
てよい。The user may set the provisional set values of the marking conditions “current”, “speed”, and “Q switch frequency” determined as described above as the regular set values for the official marking.
【0101】図10に、正式マーキングの設定を行うた
めのメイン設定画面を示す。FIG. 10 shows a main setting screen for setting formal marking.
【0102】ユーザは、このメイン設定画面で設定項目
として設けられているマーキング条件「スピード」、
「Qスイッチ周波数」、「電流」の各データ表示欄に上
記トライアルマーキングで割り出した仮設定値と等しい
数値をデータ入力すればよい。The user can set the marking conditions “speed”, which are provided as setting items on this main setting screen,
A numerical value equal to the tentative setting value determined by the trial marking may be input to each of the data display columns of “Q switch frequency” and “current”.
【0103】上記データ入力操作に応じて、装置内では
制御部38が本例のパターン「ABCD」についてマー
キング条件「スピード」、「Qスイッチ周波数」、「電
流」の入力データを正式の設定値として登録する。In response to the data input operation, the control unit 38 in the apparatus sets the input data of the marking conditions “speed”, “Q switch frequency”, and “current” for the pattern “ABCD” of this example as formal setting values. register.
【0104】したがって、所定のユーザ操作により本例
のパターン「ABCD」について正式のマーキングを指
示されたとき、制御部38は、各マーキング条件の上記
設定値にしたがって各部を動作させてマーキング動作を
実行する。これによって、被加工物Wの表面に、所期の
印字品質でパターン「ABCD」が1個マーキングされ
る。なお、正式マーキングの被加工物Wは実際の製品と
してよい。Therefore, when formal marking is instructed for the pattern "ABCD" of this example by a predetermined user operation, the control section 38 operates each section in accordance with the set value of each marking condition to execute the marking operation. I do. Thus, one pattern “ABCD” is marked on the surface of the workpiece W with the desired print quality. In addition, the workpiece W formal marking may be an actual product.
【0105】図11〜図13に、トライアルマトリック
ス画面において各位置のパターンに対応するパラメータ
条件ないしマーキング条件の仮設定値を割り出すための
機能の変形例を示す。FIGS. 11 to 13 show modified examples of a function for determining temporary setting values of parameter conditions or marking conditions corresponding to patterns at respective positions on the trial matrix screen.
【0106】図11に示す例は、トライアルマトリック
スの各列および各行の側にそれぞれ対応するX軸パラメ
ータおよびY軸パラメータの仮設定値をマーキングまた
は表示するようにしたものである。これらの仮設定値を
マーキングするための条件は任意の値に設定されてよ
く、たとえば装置側で予めデフォルト値を使用すること
ができる。In the example shown in FIG. 11, provisional set values of the X-axis parameter and the Y-axis parameter corresponding to each column and each row of the trial matrix are marked or displayed. The conditions for marking these temporary setting values may be set to arbitrary values. For example, default values can be used in advance on the device side.
【0107】かかるパラメータ値表示機能によれば、ユ
ーザは各パターンにおけるパラメータ条件の仮設定値を
計算で割り出す手間が省ける。さらに、仮設定値も被加
工物(サンプル)Wにマーキングされることで、ユーザ
は被加工物W上のマーキング状態を見て、直ちに最も適
切な仮設定値を見つけることができる。According to the parameter value display function, the user does not need to calculate the temporary setting value of the parameter condition in each pattern by calculation. Furthermore, the provisional set value is also marked on the workpiece (sample) W, so that the user can see the marking state on the workpiece W and immediately find the most appropriate provisional set value.
【0108】図12の例は、トライアルマトリックス内
の任意のパターンをユーザがパターン表示画面70上で
選択指示すると、画面内の適当な場所に副画面74が表
示され、その副画面74内に該当パターンに対応するマ
ーキング条件の仮設定値が一覧表示されるようにしたも
のである。この機能においては、所定の操作たとえばク
リック操作に応じて副画面74に表示の仮設定値を正式
設定値に変更(登録)することが可能である。その場
合、メイン設定画面(図10)において、起動番号を入
力されると、装置側で、上記仮設定値から正式設定値に
転じたデータ値を各マーキング条件のデータ表示欄に自
動的に表示することができる。In the example shown in FIG. 12, when the user selects and instructs an arbitrary pattern in the trial matrix on the pattern display screen 70, a sub-screen 74 is displayed at an appropriate place in the screen. The provisional set values of the marking conditions corresponding to the patterns are displayed in a list. In this function, it is possible to change (register) the temporary setting value displayed on the sub-screen 74 to a formal setting value according to a predetermined operation, for example, a click operation. In this case, when the activation number is input on the main setting screen (FIG. 10), the device automatically displays the data value changed from the temporary setting value to the formal setting value in the data display column of each marking condition. can do.
【0109】なお、図12の例のように、トライアルマ
トリックスの各列および各行の側にそれぞれ列番号およ
び行番号を表示する機能もユーザには便利であるA function of displaying a column number and a row number on the side of each column and each row of the trial matrix as in the example of FIG. 12 is also convenient for the user.
【0110】図13の機能は、トライアルマトリックス
内の各パターンに対応するマーキング条件の仮設定値を
組単位で一覧表示するものである。このような組別の全
仮設定値の一覧は、パターン表示画面70上でトライア
ルマトリックス表示(図4)と切替式で選択的に表示し
てよい。The function of FIG. 13 is to list the provisionally set values of the marking conditions corresponding to each pattern in the trial matrix in units of sets. Such a list of all provisional set values for each group may be selectively displayed on the pattern display screen 70 in a switchable manner with the trial matrix display (FIG. 4).
【0111】なお、表示部42のディスプレイ13に表
示可能な任意の画面内容を印字部44により印字出力す
ることができる。また、インタフェース回路46を介し
てデータ伝送で外部装置へ送ることも可能である。It is to be noted that any screen content that can be displayed on the display 13 of the display unit 42 can be printed out by the printing unit 44. Further, the data can be sent to an external device by data transmission via the interface circuit 46.
【0112】上記した例では、3つのマーキング条件
「電流」、「スピード」、「Qスイッチ周波数」のう
ち、「電流」がX軸パラメータ条件に選ばれ、「スピー
ド」がY軸パラメータ条件に選ばれた。このパラメータ
選定は一例であり、これら3つの条件の範囲内で任意の
パラメータ選定が可能である。たとえば、図14に示す
ように、「電流」をX軸パラメータ条件に選び、「Qス
イッチ周波数」をY軸パラメータ条件に選ぶこともでき
る。In the above example, of the three marking conditions “current”, “speed”, and “Q switch frequency”, “current” is selected as the X-axis parameter condition, and “speed” is selected as the Y-axis parameter condition. Was. This parameter selection is an example, and arbitrary parameters can be selected within the range of these three conditions. For example, as shown in FIG. 14, “current” can be selected as the X-axis parameter condition, and “Q switch frequency” can be selected as the Y-axis parameter condition.
【0113】上記した例においてパラメータ条件として
選択可能なマーキング条件は、「電流」、「スピー
ド」、「Qスイッチ周波数」であった。しかし、これら
の条件に限定されるものではない。たとえば、ランプ電
圧、ランプ電力、レーザ出力、Qスィッチ変調度等でも
可能である。レーザ励起光発生手段に半導体レーザを用
いた場合は、該半導体レーザに供給する電力または電流
をパラメータ条件に選ぶことが可能である。In the above example, the marking conditions that can be selected as the parameter conditions are “current”, “speed”, and “Q switch frequency”. However, it is not limited to these conditions. For example, a lamp voltage, a lamp power, a laser output, a Q switch modulation degree, and the like are possible. When a semiconductor laser is used as the laser excitation light generating means, the power or current supplied to the semiconductor laser can be selected as a parameter condition.
【0114】また、トライアルマトリックスにおける各
バターン位置の配列順序を任意に選択することができ
る。同様に、トライアルマーキングにおける各パターン
の印字順次も任意に選択することができる。Further, the arrangement order of each pattern position in the trial matrix can be arbitrarily selected. Similarly, the printing order of each pattern in the trial marking can be arbitrarily selected.
【0115】また、上記実施例のトライアルマトリック
ス画面では、X軸パラメータの列数またはY軸パラメー
タの行数を「1」に設定することで、X軸方向またはY
軸方向において一列(一行)だけのパターン配列とする
ことも可能である。In the trial matrix screen of the above embodiment, by setting the number of columns of the X-axis parameter or the number of rows of the Y-axis parameter to “1”, the X-axis direction or the Y-axis parameter is set.
A pattern arrangement of only one column (one row) in the axial direction is also possible.
【0116】しかし、本発明のトライアルマーキング
は、パターン配列の方向を限定するものではなく、任意
の配列方向が設定可能である。たとえば、斜め方向また
は回転(θ)方向にトライアルマーキングのパターンを
配列することも可能である。However, the trial marking of the present invention does not limit the direction of the pattern arrangement, but can set an arbitrary arrangement direction. For example, it is also possible to arrange trial marking patterns in an oblique direction or a rotation (θ) direction.
【0117】上記実施例におけるトライアルマトリック
ス画面(図4、図14)あるいはメイン設定画面(図1
0)の画面内容は一例であり、任意の画面内容または任
意のデータ入力設定方式を採用することができる。In the above embodiment, the trial matrix screen (FIGS. 4 and 14) or the main setting screen (FIG. 1)
The screen content of 0) is an example, and any screen content or any data input setting method can be adopted.
【0118】[0118]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のスキャニ
ング式レーザマーキング方法または装置によれば、同一
の設定パターンについてマーキング条件の仮設定値を適
宜変えながら1回の試験マーキング動作で被加工物の表
面上の異なる位置に多数印字するようにしたので、マー
キング条件について最適な設定値を容易に選定すること
ができる。As described above, according to the scanning laser marking method or apparatus of the present invention, the work piece can be processed in one test marking operation while appropriately changing the temporary setting value of the marking condition for the same setting pattern. Since a large number of prints are made at different positions on the surface of the mark, it is possible to easily select an optimum set value for the marking condition.
【図1】本発明の一実施例によるスキャニング式YAG
レーザマーキング装置の外観を示す斜視図である。FIG. 1 shows a scanning YAG according to an embodiment of the present invention.
It is a perspective view showing the appearance of a laser marking device.
【図2】実施例の装置における制御電源ユニットおよび
レーザ発振ユニット内の要部の構成を示すブロック図で
ある。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a main part in a control power supply unit and a laser oscillation unit in the apparatus of the embodiment.
【図3】実施例の装置におけるスキャニング・ヘッド内
のスキャニング機構の構成例を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a configuration example of a scanning mechanism in a scanning head in the apparatus of the embodiment.
【図4】実施例の装置におけるトライアルマトリックス
画面の表示内容例を示す正面図である。FIG. 4 is a front view showing a display content example of a trial matrix screen in the apparatus of the embodiment.
【図5】実施例におけるトライアルマトリックス画面の
表示内容の一部を拡大して示す部分拡大正面図である。FIG. 5 is a partially enlarged front view showing a part of display contents of a trial matrix screen in the embodiment.
【図6】実施例のトライアルマトリックス画面における
データ入力処理の手順を示すフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart illustrating a procedure of a data input process on a trial matrix screen according to the embodiment.
【図7】実施例においてパラメータ条件の仮設定値を求
めるための仮設定値演算処理の手順を示すフローチャー
トである。FIG. 7 is a flowchart illustrating a procedure of a temporary setting value calculation process for obtaining a temporary setting value of a parameter condition in the embodiment.
【図8】実施例におけるトライアルマーキング実行処理
の手順を示すフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart illustrating a procedure of a trial marking execution process in the embodiment.
【図9】実施例におけるトライアルマーキングの印字結
果の一部を模式的に示す図である。FIG. 9 is a diagram schematically illustrating a part of a printing result of trial marking in the example.
【図10】実施例におけるメイン設定画面の画面内容例
を示す正面図である。FIG. 10 is a front view showing an example of screen contents of a main setting screen in the embodiment.
【図11】実施例におけるトライアルマトリックス画面
の表示機能の一変形例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a modification of the display function of the trial matrix screen in the embodiment.
【図12】実施例におけるトライアルマトリックス画面
の表示機能の別の変形例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing another modification of the display function of the trial matrix screen in the embodiment.
【図13】実施例におけるトライアルマトリックス画面
の表示機能の他の変形例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing another modified example of the display function of the trial matrix screen in the embodiment.
【図14】実施例のトライアルマトリックス画面におけ
る別のパラメータ選択例を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing another example of parameter selection on the trial matrix screen of the embodiment.
10 制御電源ユニット 13 ディスプレイ 20 スキャニング・ヘッド 22 YAGレーザ発振器 34 YAGレーザ電源部 38 制御部 40 入力部 42 表示部 44 印字部 70 パターン表示画面 72 条件設定画面 74 副画面 W 被加工物 Reference Signs List 10 control power supply unit 13 display 20 scanning head 22 YAG laser oscillator 34 YAG laser power supply unit 38 control unit 40 input unit 42 display unit 44 printing unit 70 pattern display screen 72 condition setting screen 74 sub screen W workpiece
Claims (15)
パターンを設定する工程と、 マーキング特性を規定する複数の条件項目の中の少なく
とも1つの条件項目をパラメータ条件として選択する工
程と、 各々の前記パラメータ条件について1つまたは複数の値
を仮設定する工程と、 前記パラメータ条件以外の条件項目毎に1つの値を仮設
定する工程と、 前記条件項目毎の仮設定値を組み合わせて複数組の条件
仮設定値とする工程と前記複数組の条件仮設定値に応じ
た前記パターンのマーキング位置をそれぞれ設定する工
程と、 各組の条件仮設定値に応じて被加工物の表面上の前記マ
ーキング位置にレーザ光をスキャニングしながら照射し
て前記パターンを試験マーキングする工程とを有するス
キャニング式レーザマーキング方法。1. A step of setting a desired pattern including a character, a symbol, a graphic, or the like; a step of selecting at least one condition item among a plurality of condition items defining a marking characteristic as a parameter condition; Tentatively setting one or more values for the parameter condition; tentatively setting one value for each condition item other than the parameter condition; A step of setting a temporary provisional set value and a step of setting a marking position of the pattern in accordance with the plurality of sets of the temporary provisional set values; Irradiating a position with laser light while scanning to test-mark the pattern.
パターンの中から最良のパターンを選択する工程と、 前記選択された最良のパターンに対応する前記複数の条
件項目の仮設定値の組を正式マーキング用の正規設定値
として設定する工程とを有する請求項1に記載のスキャ
ニング式レーザマーキング方法。2. A step of selecting a best pattern from the plurality of test-marked patterns, and formalizing a set of provisional set values of the plurality of condition items corresponding to the selected best pattern. Setting the laser beam as a regular setting value for marking.
ーンについてそれぞれ対応する前記パラメータ条件の仮
設定値を所定位置にマーキングする工程を含む請求項1
または2に記載のスキャニング式レーザマーキング方
法。3. The method according to claim 1, further comprising the step of marking a temporary set value of the parameter condition corresponding to each of the plurality of patterns to be test-marked at a predetermined position.
Or the scanning laser marking method according to 2.
パターンを設定するためのパターン設定手段と、 前記マーキングを規定する複数の条件項目の中の少なく
とも1つの条件項目をパラメータ条件として選択するた
めのパラメータ条件選択手段と、 各々の前記パラメータ条件について1つまたは複数の値
を仮設定するための第1の仮設定手段と、 前記パラメータ条件以外の条件項目毎に1つの値を仮設
定するための第2の仮設定手段と、 前記条件項目毎の仮設定値を組み合わせて複数組の条件
仮設定値とする組分け手段と、 前記複数組の条件仮設定値に応じた前記パターンのマー
キング位置をそれぞれ設定するためのマーキング位置設
定手段と、 各組の条件仮設定値に応じて被加工物の表面上の前記マ
ーキング位置にレーザ光をスキャニングしながら照射し
て前記パターンを試験マーキングするマーキング手段と
を具備するスキャニング式レーザマーキング装置。4. A pattern setting means for setting a desired pattern composed of characters, symbols, figures, or the like, and at least one condition item among a plurality of condition items defining the marking as a parameter condition. Parameter condition selecting means, first temporary setting means for temporarily setting one or a plurality of values for each of the parameter conditions, and temporarily setting one value for each condition item other than the parameter conditions Second provisional setting means, combination means for combining provisional setting values for each condition item into a plurality of sets of provisional setting values, and marking positions of the pattern according to the plurality of sets of provisional setting values Marking position setting means for respectively setting the laser beam, and scanning the laser beam at the marking position on the surface of the workpiece in accordance with the provisional set value of each set of conditions. And a marking means for performing test marking of the pattern by irradiating the pattern while scanning.
設定するための初期値設定手段と、 各々の前記パラメータ条件の仮設定値をインクリメント
またはディクリメントさせるステップ値を設定するため
のステップ設定手段と、 各々の前記パラメータ条件の仮設定値の個数を設定する
ための仮設定値数設定手段と、 各々の前記パラメータ条件について、設定された前記初
期値、ステップ値および仮設定値の個数に基づいて前記
初期値以外の仮設定値を演算によって求める仮設定値演
算手段とを有する請求項4に記載のスキャニング式レー
ザマーキング装置。5. The first tentative setting means includes: initial value setting means for setting an initial value of a tentative setting value for each of the parameter conditions; and incrementing or decrementing the tentative setting value of each of the parameter conditions. Step setting means for setting a step value to be incremented; temporary setting value number setting means for setting the number of temporary setting values of each of the parameter conditions; and the initial value set for each of the parameter conditions. 5. The scanning type laser marking apparatus according to claim 4, further comprising: temporary setting value calculation means for calculating a temporary setting value other than the initial value based on the number of values, step values, and temporary setting values.
数の組の条件仮設定値に応じた複数個の前記パターンを
所望の配列型式で配列するためのパターン配列設定手段
を有する請求項4または5に記載のレーザマーキング装
置。6. The marking position setting means includes pattern arrangement setting means for arranging a plurality of patterns in a desired arrangement type according to the plurality of sets of condition provisional setting values. A laser marking device according to item 1.
記パラメータ条件について予め設定されたパターン配列
方向の1つを選択するためのパターン配列方向選択手段
を有する請求項6に記載のスキャニング式レーザマーキ
ング装置。7. The scanning type laser marking according to claim 6, wherein the pattern arrangement setting means has a pattern arrangement direction selecting means for selecting one of pattern arrangement directions preset for each of the parameter conditions. apparatus.
ーン配列方向に沿って配列される複数個の前記パターン
に対応する前記パラメータ条件の仮設定値が次第に増加
または減少するようにそれら複数個の前記パターンを配
列するためのパターン配列順序決定手段を有する請求項
7に記載のスキャニング式レーザマーキング装置。8. The pattern arrangement setting means, wherein the plurality of the plurality of patterns are arranged such that a provisional set value of the parameter condition corresponding to the plurality of patterns arranged along the pattern arrangement direction gradually increases or decreases. The scanning type laser marking apparatus according to claim 7, further comprising a pattern arrangement order determining means for arranging the patterns.
記パラメータ条件に対応する前記パターン配列方向毎に
前記パターンの配列数を設定するためのパターン配列数
設定手段を有する請求項7または8に記載のスキャニン
グ式レーザマーキング装置。9. The pattern arrangement number setting means according to claim 7, wherein said pattern arrangement setting means has pattern arrangement number setting means for setting the number of arrangements of said pattern for each of said pattern arrangement directions corresponding to each of said parameter conditions. Scanning laser marking device.
前記パラメータ条件に対応する前記パターン配列方向毎
に前記パターンの配列間隔を設定するためのパターン配
列間隔設定手段を有する請求項4〜9のいずれかに記載
のスキャニング式レーザマーキング装置。10. The pattern arrangement interval setting means for setting an arrangement interval of the pattern for each pattern arrangement direction corresponding to each of the parameter conditions. A scanning laser marking device according to any one of the above.
2つの条件をパラメータとして選択可能とし、前記パタ
ーン配列設定手段が2つのパラメータ条件に対応するX
軸方向およびY軸方向をそれぞれ第1および第2のパタ
ーン配列方向とするマトリックス型式で前記複数の組の
条件仮設定値に応じた複数個の前記パターンを配列する
請求項6ないし10のいずれかに記載のスキャニング式
レーザマーキング装置。11. The parameter condition selecting means makes it possible to select two desired conditions as parameters, and the pattern arrangement setting means makes X parameters corresponding to the two parameter conditions.
11. The plurality of patterns according to the plurality of sets of provisional set values are arranged in a matrix format in which an axis direction and a Y-axis direction are first and second pattern arrangement directions, respectively. A scanning laser marking device according to item 1.
ターンについてそれぞれ対応する前記パラメータ条件の
仮設定値を所定位置にマーキングする仮設定値マーキン
グ手段を含む請求項6ないし11のいずれかに記載のス
キャニング式レーザマーキング装置。12. The scanning according to claim 6, further comprising a temporary setting value marking means for marking a temporary setting value of the parameter condition corresponding to each of the plurality of patterns to be test-marked at a predetermined position. Type laser marking device.
る複数個の前記パターンを前記マーキング位置設定手段
によって設定されたそれぞれのマーキング位置に相当す
る位置に配列して表示出力するパターン表示手段を有す
る請求項4〜12のいずれかに記載のスキャニング式レ
ーザマーキング装置。13. A pattern display means for arranging and displaying a plurality of patterns corresponding to said plurality of sets of condition provisional set values at positions corresponding to respective marking positions set by said marking position setting means. The scanning laser marking device according to claim 4, further comprising:
についてそれぞれ対応する前記パラメータ条件の仮設定
値を所定位置に表示出力する仮設定値表示手段を有する
請求項13に記載のスキャニング式レーザマーキング装
置。14. The scanning type laser marking apparatus according to claim 13, further comprising a temporary setting value display means for displaying and outputting, at a predetermined position, a temporary setting value of the parameter condition corresponding to each of the plurality of patterns output and displayed. .
についてそれぞれ対応するパターン配列位置を示すデー
タを表示出力するパターン配列位置表示手段を有する請
求項13または14に記載のスキャニング式レーザマー
キング装置。15. The scanning type laser marking apparatus according to claim 13, further comprising a pattern arrangement position display means for displaying and outputting data indicating a pattern arrangement position corresponding to each of the plurality of patterns displayed and output.
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