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JP2000151567A - Method and device for synchronization detection and method and device for phase synchronization - Google Patents

Method and device for synchronization detection and method and device for phase synchronization

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Publication number
JP2000151567A
JP2000151567A JP10326705A JP32670598A JP2000151567A JP 2000151567 A JP2000151567 A JP 2000151567A JP 10326705 A JP10326705 A JP 10326705A JP 32670598 A JP32670598 A JP 32670598A JP 2000151567 A JP2000151567 A JP 2000151567A
Authority
JP
Japan
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delay
phase
virtual
data sequence
received data
Prior art date
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Application number
JP10326705A
Other languages
Japanese (ja)
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JP3522126B2 (en
Inventor
Yoshikazu Yoshida
良和 吉田
Satoshi Yoshida
聡 吉田
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication of JP2000151567A publication Critical patent/JP2000151567A/en
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  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable highly precise detection of phase relation even when there is a fluctuation in a power source voltage or a temperature and a form of circuit is different by using storage contents of a virtual storage element selected out of a first and a second virtual storage elements based on the degree of phase difference measured in accordance with the storage contents of the second virtual storage element. SOLUTION: All of five latch data QA1 to QE1 are used when a phase decision circuit 31 decides whether or not a phase difference between a clock CK and delay data DD1 is large. In a proceed state, a synchronous state and a delay state to follow the decision, an optimal combination of latch data of either three of QA1, QC1 and QE1 or three of QB1 to QD1 is selected in decision of the phase relation and used for decision of the phase relation. By decreasing the number of fixed delay circuits and that of D-FFs by two, four fixed delay circuits 22 to 25 become virtual delay elements for virtually detecting a mutual phase relation or the like.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は位相同期方法及び装
置に関し、たとえば、受信データ系列の伝搬遅延時間を
変更することにより受信データ系列の位相を受信側の通
信装置内のシステムクロックに同期化する場合などに適
用し得るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a phase synchronization method and apparatus, for example, synchronizing a phase of a received data sequence with a system clock in a communication device on the receiving side by changing a propagation delay time of the received data sequence. This can be applied to cases.

【0002】また、本発明は、かかる位相同期方法で使
用し得る同期検出方法に関するものである。
The present invention also relates to a synchronization detecting method which can be used in such a phase synchronization method.

【0003】さらに本発明は、かかる位相同期装置で使
用し得る同期検出装置に関するものである。
Further, the present invention relates to a synchronization detecting device which can be used in such a phase synchronization device.

【0004】[0004]

【従来の技術】従来のビット位相同期回路としては、特
開平4−293332号公報に記載されたものがある。
このビット位相同期回路の原理を図2に示す。
2. Description of the Related Art As a conventional bit phase synchronization circuit, there is one described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-293332.
FIG. 2 shows the principle of this bit phase synchronization circuit.

【0005】図2において、ビット位相同期回路10の
入力端子10Aに供給された入力データIDは、可変遅
延回路11に供給され、クロック入力端子10Bからは
入力クロックCKが供給される。
In FIG. 2, input data ID supplied to an input terminal 10A of a bit phase synchronization circuit 10 is supplied to a variable delay circuit 11, and an input clock CK is supplied from a clock input terminal 10B.

【0006】可変遅延回路11は制御端子に供給される
制御信号CSに応じて、入力端子Dに供給される前記入
力データIDに対し、内部状態を変更して異なる遅延を
与たうえで、出力端子Qから遅延データDDとして送出
し得る回路である。
The variable delay circuit 11 changes the internal state of the input data ID supplied to the input terminal D in response to the control signal CS supplied to the control terminal and gives a different delay to the input data ID. This is a circuit that can be transmitted from the terminal Q as delay data DD.

【0007】遅延データDDは2つの固定遅延回路12
と13により一定の遅延時間DT3を累加的に付与され
るため、3通りの遅延をもつことになる。
The delay data DD is supplied to two fixed delay circuits 12
And 13, a fixed delay time DT3 is added cumulatively, so that there are three delays.

【0008】すなわち遅延データDDは、遅延なしの
A、遅延DT3のB、遅延2×DT3のCに位相分割さ
れる。そしてA〜Cの各遅延時間をもつ遅延信号(遅延
データDD)が、データラッチ用の3つのDタイプフリ
ップフロップ(D−FF)14〜16のいずれかのD
(データ)入力端子に供給される。
That is, the delay data DD is phase-divided into A without delay, B with delay DT3, and C with delay 2 × DT3. A delay signal (delay data DD) having each of the delay times A to C is output to one of three D-type flip-flops (D-FF) 14 to 16 for data latch.
It is supplied to the (data) input terminal.

【0009】そのタイムチャートはたとえば図3に示す
ようになる。
The time chart is as shown in FIG. 3, for example.

【0010】前記固定遅延回路12,13が付与する付
加的な一定の遅延時間はDT3なので、図3において、
遅延信号AとBの位相差(遅延時間差)はDT3とな
り、BとCの位相差もDT3となる。遅延データDDの
データ系列♯0、♯1、♯2、…のそれぞれは、「H」
または「L」の1ビットのデータをあらわし、クロック
CKの1パルスの立上がりエッジのタイミングETに対
して、たとえば図示のような関係となる。
Since the additional constant delay time provided by the fixed delay circuits 12 and 13 is DT3, FIG.
The phase difference (delay time difference) between the delayed signals A and B is DT3, and the phase difference between B and C is also DT3. Each of the data series # 0, $ 1, $ 2, ... of the delay data DD is "H"
Alternatively, it represents 1-bit data of "L" and has a relationship as shown in the drawing, for example, with respect to the timing ET of the rising edge of one pulse of the clock CK.

【0011】3つのD−FF14〜16はともに、前記
入力クロックパルスCKの立上がりエッジに応じて同期
動作し、各自のD入力端子に供給されたデータをそのQ
出力端子から出力する。
All three D-FFs 14 to 16 operate synchronously in response to the rising edge of the input clock pulse CK, and transfer the data supplied to their own D input terminals to their Q inputs.
Output from the output terminal.

【0012】3つのD−FF14、15、16のQ出力
端子を区別するために、それぞれQA、QB、QCと
し、♯0=「L」(“0”)、♯1=「H」
(“1”)、♯2=「L」(“0”)とすると、図3の
状態ではQA〜QCがすべて「H」であることから、位
相判定回路17はクロックCKと遅延データDDの位相
関係が同期状態にあることを検出する。同期状態にある
場合は、位相判定回路17は制御回路18に現状の遅延
時間を維持することを指示し、制御回路18は可変遅延
回路11にいまの内部状態を維持させる。したがって可
変遅延回路11が入力データIDに付与する可変遅延時
間は維持される。
In order to distinguish the Q output terminals of the three D-FFs 14, 15, and 16, respectively, QA, QB, and QC are used, and ♯0 = “L” (“0”) and ♯1 = “H”.
(“1”), ♯2 = “L” (“0”), since QA to QC are all “H” in the state of FIG. 3, the phase determination circuit 17 determines the clock CK and the delay data DD. It detects that the phase relationship is in a synchronized state. In the synchronous state, the phase determination circuit 17 instructs the control circuit 18 to maintain the current delay time, and the control circuit 18 causes the variable delay circuit 11 to maintain the current internal state. Therefore, the variable delay time given by the variable delay circuit 11 to the input data ID is maintained.

【0013】信号進み状態では、遅延信号A〜CがPY
方向(左方向)に同量だけ平行移動するとともに、タイ
ミングETを固定して考えると、ラッチデータQAだけ
が♯2、すなわち「L」を示し、QBおよびQCは♯
1、すなわち「H」を示す状態となり、位相判定回路1
7は信号進み状態を検出する。
In the signal advance state, the delay signals A to C
Assuming that the parallel movement is performed in the direction (left direction) by the same amount and the timing ET is fixed, only the latch data QA indicates ♯2, that is, “L”, and QB and QC indicate
1, that is, a state indicating "H", and the phase determination circuit 1
7 detects a signal advance state.

【0014】換言するなら、ラッチデータQBおよびQ
Cが同じで、QAだけがこれらと相違する状態が信号進
み状態である。
In other words, the latch data QB and QB
A state where C is the same and only QA is different from these is a signal advance state.

【0015】信号進み状態を検出すると位相判定回路1
7は制御回路18に遅延時間を増加するように指示し、
制御回路18は制御信号CSで可変遅延回路11の内部
状態を変更させて、これまでより長い遅延時間を入力デ
ータIDに付与させる。
When a signal advance state is detected, the phase determination circuit 1
7 instructs the control circuit 18 to increase the delay time,
The control circuit 18 changes the internal state of the variable delay circuit 11 with the control signal CS, and gives a longer delay time to the input data ID.

【0016】信号進み状態と反対の状態が信号遅れ状態
であるから、位相判定回路17はQCだけが、QAおよ
びQBと異なる状態となったときに信号遅れ状態を検出
し、制御回路18を介して、入力データIDに付与する
可変遅延時間を減少させる。
Since the state opposite to the signal advance state is the signal delay state, the phase determination circuit 17 detects the signal delay state when only QC is different from QA and QB, and via the control circuit 18 Thus, the variable delay time given to the input data ID is reduced.

【0017】このような動作を繰り返すことにより、遅
延データDDに中間の付加的な遅延時間を付与されたデ
ータ系列BはクロックCKに同期するようになり、当該
Bのデータ系列が、クロックCKに同期しているデータ
SDとして、当該ビット位相同期回路10の出力端子1
0Cから送出される。
By repeating such an operation, the data sequence B in which the delay data DD is added with an intermediate additional delay time is synchronized with the clock CK, and the data sequence of the B is synchronized with the clock CK. As the synchronized data SD, the output terminal 1 of the bit phase synchronization circuit 10
Sent from 0C.

【0018】[0018]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
なビット位相同期回路10では、遅延信号A、B、Cの
位相差DT3は、その性質上、入力データ(受信データ
系列)IDの1ビット分の時間幅BWにくらべて十分に
短いものでなければ意味がない。
By the way, in the above-described bit phase synchronization circuit 10, the phase difference DT3 of the delay signals A, B, C is, by its nature, one bit of the input data (received data sequence) ID. There is no point unless the time width is sufficiently shorter than the minute time width BW.

【0019】DT3がたとえば時間幅BWの半分以上に
も達してしまうと、もっとも遅延の小さい遅延信号とも
っとも遅延の大きい遅延信号のあいだの合計の位相差、
すなわちAとCの位相差2×DT3が、1ビット分の時
間幅BWと同程度、あるいはそれ以上になってしまうた
め、クロックCKと遅延データDDが同期している状態
であっても3つのラッチデータQA、QB、QCの極性
が一致せず、同期状態の検出が不可能になってしまう。
When DT3 reaches, for example, more than half of the time width BW, the total phase difference between the delay signal with the smallest delay and the delay signal with the largest delay,
That is, since the phase difference 2 × DT3 between A and C is almost equal to or longer than the time width BW for one bit, even if the clock CK and the delay data DD are synchronized, three The polarities of the latch data QA, QB, and QC do not match, and it becomes impossible to detect the synchronization state.

【0020】したがって位相差DT3は、入力データI
Dのデータレートにその上限が規定されているとみるこ
とができる。
Therefore, the phase difference DT3 is equal to the input data I
It can be seen that the upper limit is specified for the data rate of D.

【0021】その一方で、ハードウエア上の必要性とし
て、位相差DT3は、D−FF14〜16が信号遅れ状
態などでもデータラッチ動作を正常に行うために、十分
に長いものでなければならない。
On the other hand, as a hardware necessity, the phase difference DT3 must be sufficiently long so that the D-FFs 14 to 16 can normally perform the data latch operation even when the signal is delayed.

【0022】一般に、D−FFなどの状態記憶素子は、
その記憶動作にあたって時間的なマージンが必要であ
る。D−FFがエッジ動作でD入力端子に供給されてい
るデータをサンプリングする場合、当該エッジ動作のタ
イミング(前記ETに対応)のまえにはセットアップ時
間TS、あとにはホールド時間THを設定し、少なくと
もこの時間(TS+TH)内はデータの状態を安定的に
保持しなければならない。この時間のあいだデータが安
定でないとD−FFのラッチ動作の正常性が保証され
ず、ビットエラーの発生する可能性が高まる。
Generally, a state storage element such as a D-FF is
A time margin is required for the storage operation. When the D-FF samples the data supplied to the D input terminal by the edge operation, the setup time TS is set before the edge operation timing (corresponding to the ET), and the hold time TH is set thereafter. At least during this time (TS + TH), the data state must be stably held. If the data is not stable during this time, the normality of the latch operation of the D-FF is not guaranteed, and the possibility of occurrence of a bit error increases.

【0023】図3において、信号進みや信号遅れを検出
するためには、A〜Cについて♯0と♯1(、または♯
1と♯2)のあいだの極性反転点付近でD−FF14〜
16が正常にラッチ動作を行う必要がある。そして極性
反転点の時間的間隔を決めるのが当該DT3である。
In FIG. 3, in order to detect a signal advance or a signal delay, A0 to A1 and A0 to A1 (or A2)
In the vicinity of the polarity reversal point between 1 and 2), the D-FF 14 ~
16 must perform a normal latch operation. The DT3 determines the time interval between the polarity inversion points.

【0024】セットアップ時間TSとホールド時間TH
をあわせたマージン時間(TS+TH)が、前記DT3
よりも長いと、3つのD−FF14〜16のすべてが同
時に、正常動作を保証されたタイミングが存在しなくな
る。これは信号進み、および信号遅れの検出を正常に行
うことが保証されたタイミングが、まったく存在しない
ことを意味する。
Setup time TS and hold time TH
Is the margin time (TS + TH) obtained by combining DT3
If the length is longer than the above, all three D-FFs 14 to 16 simultaneously have no timing at which the normal operation is guaranteed. This means that there is no timing at which the detection of the signal advance and the signal delay is guaranteed to be performed normally.

【0025】図3において、たとえば上述した信号遅れ
のケースが発生した場合、クロックCKの立上がりエッ
ジETは、AおよびBに対しては♯1、Cに対しては♯
0に対応するタイミングとなる。
In FIG. 3, for example, when the above-described signal delay case occurs, rising edge ET of clock CK becomes {1} for A and B, and {} for C.
This is the timing corresponding to 0.

【0026】このケースで、マージン時間(TS+T
H)がDT3よりも長いとすると、少なくとも遅延信号
BおよびCにおいて、当該マージン時間の範囲内に、♯
0、♯1間の極性反転点がはいるタイミング関係とな
る。したがってD−FF15は、♯1の「H」を「H」
として正常にラッチすることが保証されず、D−FF1
6は♯0の「L」を「L」として、正常にラッチするこ
とが保証されない。結果的に、当該信号遅れを正常に検
出することが保証されない。
In this case, the margin time (TS + T
Assuming that H) is longer than DT3, at least in the delay signals B and C, ♯
The timing relationship has a polarity inversion point between 0 and # 1. Therefore, the D-FF 15 changes “H” of $ 1 to “H”.
Is not guaranteed to be normally latched as D-FF1
No. 6 is not guaranteed to normally latch by setting "L" of $ 0 to "L". As a result, normal detection of the signal delay is not guaranteed.

【0027】このようなことが起きないように、通常
は、マージン時間(TS+TH)にくらべてDT3が十
分に長くなるように、ビット位相同期回路10の固定遅
延回路12,13が設計される。
In order to prevent this from happening, the fixed delay circuits 12 and 13 of the bit phase synchronization circuit 10 are usually designed such that DT3 is sufficiently longer than the margin time (TS + TH).

【0028】しかしながらDT3を長くするということ
は、速いデータレートの入力データIDを扱うことが困
難になることを意味する。
However, lengthening DT3 means that it becomes difficult to handle input data IDs having a high data rate.

【0029】セットアップ時間TS、ホールド時間TH
そのものを短縮することも考えられるが、TS、THに
はハードウエア上の限界があり、D−FFのその他の仕
様もからんでくるので、一定の限界がある。
Setup time TS, hold time TH
Although it is conceivable to reduce the length, TS and TH have hardware limitations and other specifications of the D-FF are involved, so there is a certain limit.

【0030】また、ビット位相同期回路10の動作時、
電源電圧、温度などの変動があると、ゲートIC(集積
回路)で構成された固定遅延回路12,13の電流駆動
能力なども変動するため、付加的遅延時間DT3は不安
定化し、変動する可能性がある。この変動は固定遅延回
路12,13のゲートICの種類、CMOS(Compleme
ntary MOS)であるか、TTL(Transistor Transist
or Logic)であるかなどによっても変わってくる。
When the bit phase synchronization circuit 10 operates,
If there is a change in the power supply voltage, temperature, or the like, the current drive capability of the fixed delay circuits 12, 13 formed of gate ICs (integrated circuits) also changes, so that the additional delay time DT3 becomes unstable and may change. There is. This variation depends on the type of the gate IC of the fixed delay circuits 12 and 13 and the CMOS (Compleme).
ntary MOS) or TTL (Transistor Transist
or Logic).

【0031】[0031]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
めに、第1の本発明では、受信した同一データ系列に複
数の所定の遅延時間を付与して位相差を持たせておき、
当該各遅延時間ごとに、前記受信データ系列中のデータ
を同一タイミングで記憶し、各遅延時間に対応する記憶
内容を比較することにより、受信側のクロックの位相を
基準として前記受信データ系列とクロックとの相互位相
関係を検出する同期検出方法において、(1)仮想的
に、前記相互位相関係を検出するための前記複数の所定
の遅延時間を付与する第1の仮想遅延素子で、前記受信
データ系列に、前記複数の遅延時間に相当する第1の仮
想遅延時間を付与し、(2)仮想的に前記位相差の程度
を測定するための第2の仮想遅延素子を用いて、当該受
信データ系列に対し、重ねて第2の仮想遅延時間を付与
し、(3)前記第1の仮想遅延時間に対応して前記受信
データ系列を記憶するための第1の仮想記憶素子、及び
第2の仮想遅延時間に対応して当該受信データ系列を記
憶するための第2の仮想記憶素子を設けておき、(4)
第2の仮想記憶素子の記憶内容に応じて測定される前記
位相差の程度に基づいて第1及び第2の仮想記憶素子の
なかから選択した仮想記憶素子の記憶内容を用いて、前
記相互位相関係の検出を実行することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, a plurality of predetermined delay times are provided to the same received data sequence to provide a phase difference.
For each of the delay times, the data in the received data sequence is stored at the same timing, and the stored contents corresponding to each of the delay times are compared, whereby the received data sequence and the clock are referenced with respect to the phase of the clock on the receiving side. (1) a first virtual delay element that virtually adds the plurality of predetermined delay times for detecting the mutual phase relationship, wherein: A first virtual delay time corresponding to the plurality of delay times is given to the sequence, and (2) the received data is obtained by using a second virtual delay element for virtually measuring the degree of the phase difference. (3) a first virtual storage element for storing the received data sequence corresponding to the first virtual delay time; and Virtual delay time Correspondingly, a second virtual storage element for storing the received data sequence is provided, and (4)
Using the storage content of the virtual storage element selected from the first and second virtual storage elements based on the degree of the phase difference measured according to the storage content of the second virtual storage element, The method is characterized in that a relationship is detected.

【0032】また、第2の発明では、受信した同一デー
タ系列に複数の所定の遅延時間を付与して位相差を持た
せておき、当該各遅延時間ごとに、前記受信データ系列
中のデータを同一タイミングで記憶し、各遅延時間に対
応する記憶内容を比較することにより、受信側のクロッ
クの位相を基準として前記受信データ系列とクロックと
の相互位相関係を検出する同期検出装置において、
(1)仮想的に、前記相互位相関係を検出するための前
記複数の所定の遅延時間を付与する第1の仮想遅延素子
で、前記受信データ系列に、前記複数の遅延時間に相当
する第1の仮想遅延時間を付与し、(2)仮想的に前記
位相差の程度を測定するための第2の仮想遅延素子を用
いて、当該受信データ系列に対し、重ねて第2の仮想遅
延時間を付与し、(3)前記第1の仮想遅延時間に対応
して前記受信データ系列を記憶するための第1の仮想記
憶素子、及び第2の仮想遅延時間に対応して当該受信デ
ータ系列を記憶するための第2の仮想記憶素子を設けて
おき、(4)第2の仮想記憶素子の記憶内容に応じて測
定される前記位相差の程度に基づいて第1及び第2の仮
想記憶素子のなかから選択した仮想記憶素子の記憶内容
を用いて、前記相互位相関係の検出を実行することを特
徴とする。
Further, in the second invention, a plurality of predetermined delay times are given to the same received data sequence so as to have a phase difference, and the data in the received data sequence is converted for each delay time. By storing at the same timing, by comparing the stored contents corresponding to each delay time, in a synchronization detection device that detects the mutual phase relationship between the received data sequence and the clock based on the phase of the clock on the receiving side,
(1) A first virtual delay element that virtually provides the plurality of predetermined delay times for detecting the mutual phase relationship, wherein the first virtual delay element corresponds to the plurality of delay times to the received data sequence. (2) Using a second virtual delay element for virtually measuring the degree of the phase difference, superimposing a second virtual delay time on the received data sequence. (3) a first virtual storage element for storing the received data sequence corresponding to the first virtual delay time, and storing the received data sequence corresponding to the second virtual delay time And (4) the first and second virtual storage elements based on the degree of the phase difference measured according to the storage content of the second virtual storage element. Using the storage contents of the virtual storage element selected from the above, And executes the detection of the phase relation.

【0033】さらに第3の発明では、受信したデータ系
列と受信側のクロックとをディジタル同期ループを用い
て相対的に同期させる位相同期方法において、請求項1
〜3のいずれかの同期検出方法を用いることを特徴とす
る。
In a third aspect of the present invention, there is provided a phase synchronization method for relatively synchronizing a received data sequence and a clock on a receiving side by using a digital synchronization loop.
The method is characterized by using any one of the synchronization detection methods of (1) to (3).

【0034】また、第4の発明では、受信したデータ系
列と受信側のクロックとをディジタル同期ループを用い
て相対的に同期させる位相同期装置において、請求項4
〜6のいずれかの同期検出装置を用いることを特徴とす
る。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a phase synchronization apparatus for relatively synchronizing a received data sequence and a clock on a receiving side by using a digital synchronization loop.
6. A synchronization detecting device according to any one of (1) to (6).

【0035】[0035]

【発明の実施の形態】(A)実施形態 以下、本発明にかかる同期検出方法及び装置、並びに位
相同期方法及び装置について、N=1(Nは自然数)、
すなわち2N+3=5の場合を例に、実施形態を説明す
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (A) Embodiment Hereinafter, a synchronization detection method and apparatus and a phase synchronization method and apparatus according to the present invention will be described in which N = 1 (N is a natural number),
That is, the embodiment will be described by taking the case of 2N + 3 = 5 as an example.

【0036】(A−1)第1の実施形態の構成 本実施形態のビット位相同期回路20を図1に示す。一
種のDPLL(ディジタル同期ループ)構成であるこの
ようなビット位相同期回路20は、たとえば通信機器の
受信部の一部として使用され得る。
(A-1) Configuration of the First Embodiment FIG. 1 shows a bit phase synchronization circuit 20 of the present embodiment. Such a bit phase locked loop circuit 20 having a kind of DPLL (Digital Locked Loop) configuration can be used, for example, as a part of a receiving unit of a communication device.

【0037】図1において、ビット位相同期回路20の
入力端子20Aからは入力データ(受信データ系列)I
D1が供給され、クロック入力端子20Bからは入力ク
ロックCKが供給される。クロックCKは、上述したビ
ット位相同期回路10のクロックCKとまったく同一の
クロックであってよい。
In FIG. 1, input data (received data sequence) I is input from input terminal 20A of bit phase synchronization circuit 20.
D1 is supplied, and the input clock CK is supplied from the clock input terminal 20B. The clock CK may be exactly the same clock as the clock CK of the bit phase synchronization circuit 10 described above.

【0038】入力データID1に対して可変遅延時間を
付与する可変遅延回路11は、受け取る制御信号CSに
応じて当該可変遅延時間を変化、あるいは維持させる回
路であり、上述したビット位相同期回路10の可変遅延
回路11とまったく同一の回路であってよい。
The variable delay circuit 11 for giving a variable delay time to the input data ID1 is a circuit for changing or maintaining the variable delay time according to the received control signal CS. The circuit may be exactly the same as the variable delay circuit 11.

【0039】したがって可変遅延回路11から出力され
る遅延データDD1は、前記入力データID1に当該可
変遅延時間を付与したデータ系列である。
Therefore, the delay data DD1 output from the variable delay circuit 11 is a data sequence obtained by adding the variable delay time to the input data ID1.

【0040】この遅延データDD1に対し累加的に付加
遅延時間を付与するために、本実施形態では、直列接続
された4つの固定遅延回路22〜25が設けられてい
る。
In order to add an additional delay time to the delay data DD1, the present embodiment is provided with four fixed delay circuits 22 to 25 connected in series.

【0041】固定遅延回路22〜25としては、遅延デ
ータDD1に対し所定の固定遅延時間を付与することが
できるものであればどのようなものを使用してもよい
が、本実施形態ではゲートICを使用するものとする。
各固定遅延回路22〜25が付与する固定遅延時間をD
T1とする。
As the fixed delay circuits 22 to 25, any circuit can be used as long as it can provide a predetermined fixed delay time to the delay data DD1. Shall be used.
The fixed delay time given by each of the fixed delay circuits 22 to 25 is D
Let it be T1.

【0042】遅延データDD1は付加的遅延時間DT1
をまったく付与されないものを含めて、遅延時間の短い
順番に、5つの遅延信号A1〜E1に位相分割される。
The delay data DD1 has an additional delay time DT1.
Are divided into five delayed signals A1 to E1 in the order of the shortest delay time, including those in which delay time is not added.

【0043】付加遅延なしの遅延信号A1は、可変遅延
回路11が送出してから直接、D−FF26のD(デー
タ)入力端子に供給される。固定遅延回路22で遅延時
間DT1を付与された遅延信号B1は、D−FF27の
D入力端子に供給される。固定遅延回路22および23
でDT1ずつ遅延時間を付与されたC1は、D−FF2
8のD入力端子に供給される。固定遅延回路22〜24
で、合計3×DT1の遅延時間を付与されたD1は、D
−FF29のD入力端子に供給される。最後に、すべて
の固定遅延回路22〜25で合計4×DT1の遅延時間
を付与されたE1は、D−FF30のD入力端子に供給
される。
The delay signal A1 without additional delay is directly supplied to the D (data) input terminal of the D-FF 26 after being transmitted by the variable delay circuit 11. The delay signal B1 provided with the delay time DT1 by the fixed delay circuit 22 is supplied to a D input terminal of the D-FF 27. Fixed delay circuits 22 and 23
C1 to which a delay time is given by DT1 in D-FF2
8 D input terminal. Fixed delay circuits 22 to 24
Thus, D1 provided with a total delay time of 3 × DT1 is D
-It is supplied to the D input terminal of FF29. Finally, E1 provided with a delay time of 4 × DT1 in all the fixed delay circuits 22 to 25 is supplied to the D input terminal of the D-FF 30.

【0044】すなわち同一の遅延データDD1に対して
5通りの遅延がほどこされる。
That is, the same delay data DD1 is subjected to five kinds of delays.

【0045】各D入力端子にA1〜E1の供給を受けた
D−FF26〜30は、C(クロック)入力端子に供給
される入力クロックCKの同一クロックパルスのたとえ
ば立ち上がりエッジで、各供給データをラッチして各Q
出力端子の状態を変化させる。
The D-FFs 26 to 30, which have been supplied with the signals A1 to E1 at the D input terminals, respectively, supply the supplied data at, for example, the rising edge of the same clock pulse of the input clock CK supplied to the C (clock) input terminal. Latch each Q
Change the state of the output terminal.

【0046】D−FF26〜30のQ出力端子を区別す
るために、D−FF26のQ出力端子をQA1とし、同
様に、D−FF27のQ出力端子をQB1とし、D−F
F28のQ出力端子をQC1とし、D−FF29のQ出
力端子をQD1とし、D−FF30のQ出力端子をQE
1とする。
In order to distinguish the Q output terminals of the D-FFs 26 to 30, the Q output terminal of the D-FF 26 is QA1, the Q output terminal of the D-FF 27 is QB1, and the D-F
The Q output terminal of F28 is QC1, the Q output terminal of D-FF29 is QD1, and the Q output terminal of D-FF30 is QE.
Let it be 1.

【0047】クロックCKの位相を基準として遅延デー
タDD1とクロックCKとの相互の位相関係、すなわち
信号進み状態、同期状態、信号遅れ状態を検出するだけ
ならば、従来のビット位相同期回路10のように、3通
りのQA〜QCを用意すれば足りる。
If only the mutual phase relationship between the delay data DD1 and the clock CK, that is, the signal advance state, the synchronization state, and the signal delay state is detected with reference to the phase of the clock CK, as in the conventional bit phase synchronization circuit 10, It is sufficient to prepare three types of QA to QC.

【0048】本実施形態で用意した5通りのラッチデー
タQA1〜QE1は、位相判定回路31がクロックCK
と遅延データDD1との位相差の大小を判定するさいに
は、5通りすべてが使用され、その判定につづく進み状
態、同期状態、遅れ状態の位相関係の判定では、QA
1、QC1、QE1の3つ、またはQB1〜QD1の3
つのどちらか最適なラッチデータの組合せが選択され
て、位相関係の判定に利用される。
The five types of latch data QA1 to QE1 prepared in this embodiment are supplied to the phase determination circuit 31 by the clock CK.
In determining the magnitude of the phase difference between the delay data DD1 and the delay data DD1, all five patterns are used. In the determination of the phase relationship between the advance state, the synchronization state, and the delay state following the determination, QA
1, three of QC1, QE1, or three of QB1 to QD1
One of the two optimal latch data combinations is selected and used for determining the phase relationship.

【0049】上述した従来のビット位相同期回路10の
ように、最小限2つの固定遅延回路と、3つのD−FF
があれば、位相進み状態、同期状態、位相遅れ状態の相
互位相関係を検出することができるのであるが、本実施
形態では固定遅延回路およびD−FFの数を2つ増加し
て、[4固定遅延回路、5D−FF]構成とすることによ
って、4つの固定遅延回路22〜25のすべてが、仮想
的に相互位相関係を検出するための仮想遅延素子ともな
り、仮想的に位相差の程度を測定するための仮想遅延素
子ともなり、さらに、実際に相互位相関係を検出するた
めの記憶素子ともなる。
As in the conventional bit phase synchronization circuit 10 described above, at least two fixed delay circuits and three D-FFs
Can detect the mutual phase relationship between the phase advance state, the synchronization state, and the phase delay state. In the present embodiment, the number of fixed delay circuits and D-FFs is increased by two, and [4] With the fixed delay circuit, 5D-FF] configuration, all of the four fixed delay circuits 22 to 25 also serve as virtual delay elements for virtually detecting the mutual phase relationship, and virtually the degree of the phase difference , And also a storage element for actually detecting the mutual phase relationship.

【0050】このように本実施形態において、同一の回
路や遅延時間が二重の機能、二重の意味をもつこととな
ったのは、ふつうなら位相差の大小を判定するための固
定遅延回路とD−FFを設けるとともに、これらとは別
個に位相関係の判定のための固定遅延回路とD−FFを
設けるところを、以上のように構成にすることによっ
て、機能の割に小規模な、効率的な回路としためであ
る。
As described above, in the present embodiment, the same circuit and the same delay time have the dual function and the dual meaning because the fixed delay circuit for judging the magnitude of the phase difference is usually used. And a D-FF, and a separate fixed delay circuit and a D-FF for determining the phase relationship are provided separately from each other. This is to make an efficient circuit.

【0051】このような意味で、本実施形態のQA1〜
QE1と、上述した従来のビット位相同期回路10にお
けるQA〜QCとはまったく異なるものである。
In this sense, QA1 to QA1 of the present embodiment are used.
QE1 is completely different from QA to QC in the conventional bit phase synchronization circuit 10 described above.

【0052】QA1〜QE1の供給を受ける位相判定回
路31は、固定遅延回路22〜25およびD−FF26
〜30に上記のような意味付けを行う動作を実行する回
路である。
The phase determination circuit 31 receiving the supply of QA1 to QE1 includes fixed delay circuits 22 to 25 and a D-FF 26
30 is a circuit for executing the operation of giving meanings as described above.

【0053】固定遅延回路22〜25、D−FF26〜
30、および位相判定回路31中の以上の機能をになう
部分から、クロックCKと入力データID1の位相関係
を検出する位相関係検出部32が構成されている。
Fixed delay circuits 22 to 25, D-FFs 26 to
A phase relation detection unit 32 that detects the phase relation between the clock CK and the input data ID1 is configured by the part 30 and the part that performs the above functions in the phase determination circuit 31.

【0054】以上の機能のほか、中間の遅延時間をもつ
前記C1を、つねに同期データSD1として選択し、出
力端子20Cから送出する機能をもつ位相判定回路31
は、D−FF26〜30の記憶内容に応じてクロックC
Kと遅延データDD1(すなわち入力データID1)と
の相互の位相関係を検出し、この検出結果に基づいて制
御回路18に指示を与える。
In addition to the above functions, the phase determination circuit 31 having the function of always selecting the C1 having an intermediate delay time as the synchronization data SD1 and transmitting it from the output terminal 20C.
Is the clock C according to the storage contents of the D-FFs 26 to 30.
The phase relationship between K and the delay data DD1 (that is, the input data ID1) is detected, and an instruction is given to the control circuit 18 based on the detection result.

【0055】制御回路18は位相判定回路31からの指
示に基づいた制御信号CS1を出力することで、可変遅
延回路11の内部状態を変更させ、あるいは維持させる
回路である。
The control circuit 18 is a circuit that changes or maintains the internal state of the variable delay circuit 11 by outputting a control signal CS1 based on an instruction from the phase determination circuit 31.

【0056】この制御回路18は、前記ビット位相同期
回路10の制御回路18と同じ回路であってよい。
The control circuit 18 may be the same circuit as the control circuit 18 of the bit phase synchronization circuit 10.

【0057】以下、上記のような構成を有する第1の実
施形態の動作について説明する。 (A−2)第1の実施形態の動作 まず入力データID1が可変遅延回路11で可変遅延時
間を付与されて遅延データDD1となる。
Hereinafter, the operation of the first embodiment having the above configuration will be described. (A-2) Operation of First Embodiment First, the input data ID1 is given a variable delay time by the variable delay circuit 11, and becomes the delay data DD1.

【0058】次いで、この遅延データDD1はそれぞれ
一定の遅延時間DT1を付与する4つの固定遅延回路2
2〜25によって遅延時間範囲0〜4×DT1、変化幅
DT1で、A1〜E1の5つの遅延信号に位相分割され
る。
Next, this delay data DD1 is applied to four fixed delay circuits 2 each of which applies a fixed delay time DT1.
The signals are phase-divided into five delay signals A1 to E1 in a delay time range of 0 to 4 × DT1 and a variation width DT1 by 2 to 25.

【0059】遅延信号A1〜E1のそれぞれはクロック
CKに基づいて同期動作するD−FF26〜30でラッ
チされ、QA1〜QE1として位相判定回路31に同時
に供給される。
Each of the delay signals A1 to E1 is latched by D-FFs 26 to 30 which operate synchronously based on the clock CK, and is simultaneously supplied to the phase determination circuit 31 as QA1 to QE1.

【0060】DT1は入力データID1のデータレート
に応じて、入力データID1の1ビット分の時間幅BW
1(図4)よりも十分に短く、そしてD−FF26〜3
0のセットアップ時間TS、ホールド時間THを合計し
たマージン時間(TS+TH)よりも十分に長く設定さ
れる。
DT1 is a time width BW of one bit of the input data ID1 according to the data rate of the input data ID1.
1 (FIG. 4), and D-FFs 26-3
This is set to be sufficiently longer than a margin time (TS + TH) obtained by adding the setup time TS and the hold time TH of 0.

【0061】ところがこのDT1は、ビット位相同期回
路20の動作時でも、電源電圧、温度などの変動がある
と変わってしまう。
However, DT1 changes even when the bit phase synchronization circuit 20 operates, if there is a change in power supply voltage, temperature, or the like.

【0062】電源電圧などの変動でDT1が短縮され、
前記マージン時間よりも短くなる場合はもちろん、マー
ジン時間と同程度の値に接近した場合でも、D−FF2
6〜30によるデータラッチが正常に行えない危険性が
高まる。
DT1 is shortened by fluctuations in the power supply voltage, etc.
The D-FF2 not only becomes shorter than the margin time but also approaches the same value as the margin time.
The risk that data latch by 6 to 30 cannot be performed normally increases.

【0063】変動したDT1がマージン時間より大きい
ながらも同程度の値に接近した場合、信号進み状態ある
いは信号遅れ状態では、確率的に、遅延信号A1〜E1
のいずれかの極性反転点がマージン時間内にはいる可能
性が高まり、D−FF26〜30のデータラッチ動作が
正常に行えない可能性が高くなるからである。
When the fluctuating DT1 approaches the same value but larger than the margin time, the delay signals A1 to E1 are stochastically set in the signal advance state or the signal delay state.
Is more likely to be within the margin time, and the possibility that the data latch operation of the D-FFs 26 to 30 cannot be performed normally increases.

【0064】ビット位相同期回路20の動作時、入力デ
ータID1とクロックCKは長い期間でみて定常的には
同期しているので、同期状態を図4に示す。
When the bit phase synchronization circuit 20 operates, the input data ID1 and the clock CK are constantly synchronized with each other over a long period of time, so that the synchronization state is shown in FIG.

【0065】図4において、遅延データDD1のデータ
系列を♯0、♯1、♯2、…のそれぞれは図3の場合と
同様に、「H」または「L」の1ビットのデータをあら
わす。
In FIG. 4, each of the data series of the delay data DD1 # 0, # 1, # 2,... Represents 1-bit data of "H" or "L" as in the case of FIG.

【0066】そして♯0=「L」(“0”)、♯1=
「H」(“1”)、♯2=「L」(“0”)として、遅
延信号A1の♯0と♯1間の極性反転点をAP1、A1
の♯1と♯2間の極性反転点をAP2とし、B1の♯0
と♯1間の極性反転点をBP1、B1の♯1と♯2間の
極性反転点をBP2とする。C1〜E1についても同様
に、極性反転点CP1、CP2、DP1、DP2、EP
1、EP2を定める。
♯0 = “L” (“0”), ♯1 =
Assuming that “H” (“1”) and ♯2 = “L” (“0”), the polarity inversion points between the ♯0 and ♯1 of the delay signal A1 are AP1, A1
AP2 is the polarity inversion point between # 1 and # 2 of
The point of polarity inversion between # 1 and # 1 is BP1, and the point of polarity inversion between # 1 and # 2 of B1 is BP2. Similarly, the polarity inversion points CP1, CP2, DP1, DP2, EP
1. Determine EP2.

【0067】図4の状態では、QA1〜QE1がすべて
「H」であることから、位相判定回路31は位相差DT
1が小さい位相差小状態であることを検出する。
In the state shown in FIG. 4, since all of QA1 to QE1 are at "H", phase determination circuit 31
1 is detected as a small phase difference small state.

【0068】位相差小状態を検出した場合、信号進み状
態や信号遅れ状態でデータラッチが正常に行えない危険
性を低下させるため、位相判定回路31はラッチデータ
QA1〜QE1のなかから、位相差の大きな3つ、すな
わち最適なラッチデータQA1、QC1、QE1を選択
し、これらに基づいてクロックCKと入力データID1
の位相関係を検出する。A1とC1は2×DT1の位相
差を有し、C1とE1も2×DT1の位相差を有する。
When the small phase difference state is detected, the phase determination circuit 31 determines the phase difference from the latch data QA1 to QE1 in order to reduce the risk that the data latch cannot be performed properly in the signal advance state or the signal delay state. Are selected, that is, the optimal latch data QA1, QC1, and QE1. Based on these, the clock CK and the input data ID1 are selected.
Is detected. A1 and C1 have a phase difference of 2 × DT1, and C1 and E1 also have a phase difference of 2 × DT1.

【0069】最適なラッチデータQA1、QC1、QE
1を選択したことで、同期状態だけでなく、すべての位
相関係を正常に検出することができる可能性が高まる。
すなわち信号進み状態や信号遅れ状態も正常に検出でき
る可能性が高まる。
Optimum latch data QA1, QC1, QE
By selecting 1, the possibility that not only the synchronization state but also all the phase relationships can be normally detected increases.
That is, it is more likely that a signal advance state and a signal delay state can be normally detected.

【0070】ここで、位相差の大小の検出と、位相関係
の検出は必ずしも同じ頻度で行う必要はない。DT1の
値に影響する電源電圧や温度などの条件は、一般に、入
力データID1のデータレートより、はるかに変動速度
が遅いと考えられるからである。
Here, the detection of the magnitude of the phase difference and the detection of the phase relationship need not always be performed at the same frequency. This is because conditions such as the power supply voltage and the temperature that affect the value of DT1 generally have a much slower variation speed than the data rate of the input data ID1.

【0071】たとえば全クロックパルスの立上がりエッ
ジで位相関係の検出を行うとすると、位相差の大小の検
出は、数百クロックパルスに一回などとしてもよく、あ
るいはその頻度を外部から設定できるようにしてもよ
い。いったん得られた位相差の大小の検出結果は、次回
の大小検出が行われるまで保持され、その期間、たとえ
ば前記最適なラッチデータQA1、QC1、QE1の選
択は継続される。
For example, if the phase relationship is detected at the rising edge of all clock pulses, the magnitude of the phase difference may be detected once every several hundred clock pulses, or the frequency can be set from outside. You may. The detection result of the magnitude of the phase difference once obtained is held until the next magnitude detection is performed, and during that period, for example, the selection of the optimal latch data QA1, QC1, and QE1 is continued.

【0072】選択されたラッチデータQA1、QC1、
QE1に基づく位相関係の検出は、クロックパルスCK
の立上がりエッジETと、選択された当該ラッチデータ
の各極性反転点とのタイミング関係に応じて行われる。
The selected latch data QA1, QC1,
The detection of the phase relationship based on QE1 is performed using the clock pulse CK.
Is performed in accordance with the timing relationship between the rising edge ET and the polarity inversion point of the selected latch data.

【0073】たとえば信号遅れ状態では、極性反転点A
P1とCP1がETの左側に、極性反転点EP1がET
の右側に位置するので、QA1とQC1の極性はともに
「H」(♯1)で一致し、QE1の極性だけは「L」
(♯0)となる。
For example, in the signal delay state, the polarity inversion point A
P1 and CP1 are to the left of ET, polarity inversion point EP1 is ET
, The polarities of QA1 and QC1 are both “H” (♯1), and only the polarity of QE1 is “L”.
(♯0).

【0074】位相差が2×DT1と大きな最適なラッチ
データQA1、QC1、QE1を選択しているので、前
記マージン時間の範囲内に、問題となる極性反転点AP
1、CP1、QE1が位置する可能性は低下し、より正
確なデータラッチを行うことができるためビットエラー
の発生率が低下し、位相判定回路31の位相関係の検出
の信頼性も向上する。
Since the optimum latch data QA1, QC1, and QE1 having a large phase difference of 2 × DT1 are selected, the polarity inversion point AP which is a problem within the margin time is set.
1, CP1 and QE1 are less likely to be located, and more accurate data latching can be performed, thereby lowering the bit error rate and improving the reliability of the phase determination circuit 31 in detecting the phase relationship.

【0075】検出した位相関係に対応する制御は、従来
のビット位相同期回路10とまったく同じで、位相判定
回路31が制御回路18を介して可変遅延回路11の付
与する可変遅延時間を変更、あるいは維持することで実
行される。
The control corresponding to the detected phase relationship is exactly the same as that of the conventional bit phase synchronization circuit 10, and the phase determination circuit 31 changes the variable delay time given by the variable delay circuit 11 via the control circuit 18, or It is performed by maintaining.

【0076】たとえば信号遅れ状態を検出した場合に
は、現状の可変遅延時間を短縮するように可変遅延回路
11を制御する。
For example, when a signal delay state is detected, the variable delay circuit 11 is controlled so as to shorten the current variable delay time.

【0077】その他のケース、たとえば同期状態を検出
した場合も、従来と同様に、位相判定回路31は制御回
路18に現状の遅延時間を維持することを指示し、制御
回路18は可変遅延回路11にいまの内部状態を維持さ
せる。
In other cases, for example, when a synchronization state is detected, the phase determination circuit 31 instructs the control circuit 18 to maintain the current delay time, and the control circuit 18 outputs the variable delay circuit 11 as in the conventional case. To keep the current internal state.

【0078】ただし、データラッチの精度、および位相
関係検出の精度が向上している本実施形態では、従来の
ビット位相同期回路10よりもビット位相が同期してい
る期間の割合が高まり、信頼性が高い。
However, in the present embodiment in which the accuracy of the data latch and the accuracy of the phase relationship detection are improved, the ratio of the period during which the bit phase is synchronized is higher than that of the conventional bit phase synchronization circuit 10, and the reliability is improved. Is high.

【0079】図4とは別な同期状態を示す図5におい
て、位相差DT1が大きいため、クロックCKの立上が
りエッジタイミングETに対応するのは、A1では♯2
(「L」)、B1〜D1では♯1(「H」)、E1では
♯0(「L」)である。
In FIG. 5 showing a synchronization state different from that in FIG. 4, since the phase difference DT1 is large, the rising edge timing ET of the clock CK corresponds to A2 in A1.
("L"), $ 1 ("H") for B1 to D1, and $ 0 ("L") for E1.

【0080】中間部分の3つのラッチデータQB1〜Q
D1だけが同一極性「H」であることから、位相判定回
路31は、図4の状態が位相差大状態であることを検出
できる。
Three latch data QB1 to QB in the middle part
Since only D1 has the same polarity “H”, the phase determination circuit 31 can detect that the state in FIG. 4 is a state with a large phase difference.

【0081】位相差大状態ではマージン時間の範囲内に
ラッチデータの極性反転点がはいってくる可能性はもと
もと低いのであるが、対応する遅延信号の位相差が大き
いQA1やQE1を選択すると、もっとも遅延の小さい
遅延信号A1ともっとも遅延の大きい遅延信号E1のあ
いだの合計の位相差4×DT1が、1ビット分の時間幅
BW1と同程度、あるいはそれ以上になってしまうた
め、同期状態を同期状態として検出することができない
という問題がある。
In the state where the phase difference is large, the possibility that the polarity inversion point of the latch data falls within the margin time range is originally low. However, if QA1 or QE1 having a large phase difference of the corresponding delay signal is selected, Since the total phase difference 4 × DT1 between the delay signal A1 with a small delay and the delay signal E1 with the longest delay is about the same as or greater than the time width BW1 for one bit, the synchronization state is synchronized. There is a problem that it cannot be detected as a state.

【0082】このため、位相判定回路31は、位相差大
を検出すると、QA1〜QE1のなかからQB1〜QD
1の3つを選択し、この3つだけを位相関係の検出に使
用する。
Therefore, when the phase determination circuit 31 detects a large phase difference, the phase determination circuit 31 selects one of QA1 to QE1 from QB1 to QD1.
One of the three is selected, and only these three are used for detecting the phase relationship.

【0083】もしも、位相差の大小の検出と、位相関係
の検出を同じ頻度で行う場合には、上述したように、最
初に位相差の大小検出を行い、次に位相関係の検出を行
うというように、2つのステップを備える必要はない。
QA1〜QE1の5つすべてが同じ極性なら、ただちに
位相差小の同期状態と認識し、QB1〜QD1だけが同
じ極性なら、ただちに位相差大の同期状態と認識すれば
よい。
If the detection of the magnitude of the phase difference and the detection of the phase relation are performed at the same frequency, as described above, the magnitude of the phase difference is detected first, and then the phase relation is detected. As such, there is no need to have two steps.
If all five of QA1 to QE1 have the same polarity, it is immediately recognized as a small phase difference synchronization state, and if only QB1 to QD1 have the same polarity, it is immediately recognized as a large phase difference synchronization state.

【0084】以上では同期状態において、位相差の大小
を判定したが、同期状態でなくても位相差の大小を検出
することは可能である。
In the above description, the magnitude of the phase difference is determined in the synchronized state. However, the magnitude of the phase difference can be detected without the synchronized state.

【0085】たとえば位相差小の信号遅れ状態の場合、
図4で、ETを固定し、A1〜E1を信号遅れ方向DY
に同量だけ平行移動し、A1〜D1は♯1(「H」)
で、もっとも遅延の大きいE1だけが♯0(「L」)と
なるから、位相判定回路31は位相差小の信号遅れ状態
であることを検出できる。信号進み状態なら、もっとも
遅延の少ないA1だけが異なる極性を示す点が相違する
だけである。
For example, in the case of a signal delay state with a small phase difference,
In FIG. 4, ET is fixed, and A1 to E1 are signal delay directions DY.
And A1 to D1 are equal to 1 ("H").
Therefore, only E1 having the largest delay becomes ♯0 (“L”), so that the phase determination circuit 31 can detect a signal delay state with a small phase difference. In the signal advance state, the only difference is that only A1 with the least delay shows a different polarity.

【0086】同様に、位相差大の信号遅れ状態の場合
は、図5で、ETを固定し、A1〜E1を信号遅れ方向
DYに同量だけ平行移動して考える。このときB1とC
1が♯1で同一極性「H」を示す。ちょうど中間の遅延
をもつ遅延信号C1に対応するQC1を基準とし、QC
1と同一の極性を示すのがQB1だけであれば位相差大
の信号遅れ状態、QD1だけであれば位相差大の信号進
み状態として認識することができる。
Similarly, in the case of a signal delay state with a large phase difference, ET is fixed and A1 to E1 are translated in the signal delay direction DY by the same amount in FIG. At this time, B1 and C
1 indicates the same polarity “H” at ♯1. With reference to the QC1 corresponding to the delay signal C1 having just an intermediate delay, the QC
If only QB1 shows the same polarity as 1, it can be recognized as a signal delay state with a large phase difference, and if only QD1, it can be recognized as a signal advance state with a large phase difference.

【0087】すなわち、本実施形態では5つのラッチデ
ータQA1〜QE1のなかから、つねに、最適な位相差
をもっている3つのラッチデータを位相判定回路31が
選択し、選択したラッチデータに基づいて位相関係の検
出を行うことができる。
That is, in the present embodiment, the phase determination circuit 31 always selects three latch data having an optimum phase difference from the five latch data QA1 to QE1, and determines the phase relationship based on the selected latch data. Can be detected.

【0088】(A−3)第1の実施形態の効果 以上のように本実施形態によれば、電源電圧の変動や温
度の変動があっても、CMOS、TTLなどICの形式
が異なっても、つねに、自動的に最適な位相差のラッチ
データで位相関係の検出を行うことができるので、位相
関係の検出に使用するラッチデータの位相差が短すぎる
ことによる不都合、および長すぎることによる不都合の
双方を排除して、精度の高い位相関係の検出、および信
頼性の高いビット位相同期が可能になる。
(A-3) Effects of the First Embodiment As described above, according to the present embodiment, even if the power supply voltage fluctuates and the temperature fluctuates, even if the IC type such as CMOS or TTL is different. Since the detection of the phase relationship can always be automatically performed with the latch data having the optimum phase difference, the inconvenience due to the too short phase difference of the latch data used for detecting the phase relationship and the inconvenience due to the too long phase difference. Are eliminated, and highly accurate phase relationship detection and highly reliable bit phase synchronization can be performed.

【0089】このような本実施形態の性質は、他面から
みると、入力データID1のデータレートと各固定遅延
回路22〜25が付与する遅延時間DT1の関係、およ
びD−FF26〜30のマージン時間とDT1との関係
を、それほど厳密に設計しなくてもよいことを意味し、
同一仕様を前提とすると、入力データID1として従来
の入力データIDより速いデータレートの信号など、広
範囲なデータレートの信号を使用することもでき、回路
設計の自由度を増大することもできる。
The characteristics of the present embodiment are, as viewed from the other side, the relationship between the data rate of the input data ID1 and the delay time DT1 given by each of the fixed delay circuits 22 to 25, and the margin of the D-FFs 26 to 30. Meaning that the relationship between time and DT1 does not have to be designed so strictly,
Assuming the same specifications, it is possible to use a signal having a wide range of data rates, such as a signal having a data rate faster than that of the conventional input data ID, as input data ID1, and to increase the degree of freedom in circuit design.

【0090】(B)第2の実施形態 以下、本発明にかかる同期検出方法及び装置、並びに位
相同期方法及び装置について、N=1(Nは自然数)、
すなわち2N+3=5の場合を例に、第2の実施形態に
ついて説明する。
(B) Second Embodiment Hereinafter, the synchronization detection method and apparatus and the phase synchronization method and apparatus according to the present invention will be described with N = 1 (N is a natural number),
That is, the second embodiment will be described with an example of 2N + 3 = 5.

【0091】第1の実施形態が入力データID1に付加
的な遅延時間DT1を累加したのに対し、実施形態はク
ロックCKのほうに、付加的な遅延時間を累加する点が
相違する。
The first embodiment adds an additional delay time DT1 to the input data ID1, whereas the embodiment adds an additional delay time to the clock CK.

【0092】(B−1)第2の実施形態の構成および動
作 本実施形態にかかるビット位相同期回路40を図6に示
す。一種のDPLLであるこのようなビット位相同期回
路40は、第1の実施形態のビット位相同期回路20と
同様に、たとえば通信機器の受信部の一部として使用さ
れ得る。
(B-1) Configuration and Operation of the Second Embodiment FIG. 6 shows a bit phase synchronization circuit 40 according to this embodiment. Such a bit phase synchronization circuit 40, which is a kind of DPLL, can be used, for example, as a part of a receiving unit of a communication device, similarly to the bit phase synchronization circuit 20 of the first embodiment.

【0093】図6において、符号11,18を付した各
部は図1で同じ符号の各部と同じであり、符号ID1、
CK、CS、DD1を付した各信号も図1で同じ符号の
各信号と同じものであるので、これらの詳しい説明は省
略する。
In FIG. 6, the parts denoted by reference numerals 11 and 18 are the same as the parts denoted by the same reference numerals in FIG.
The signals to which CK, CS, and DD1 are attached are the same as the signals with the same reference numerals in FIG. 1, and a detailed description thereof will be omitted.

【0094】また、図6において、固定遅延回路42〜
45は前記固定遅延回路22〜25に対応し、D−FF
46〜50は前記D−FF26〜30に対応し、位相判
定回路51は前記位相判定回路31に対応し、位相関係
検出部52は前記位相関係検出部32に対応し、入力端
子40Aは前記入力端子20Aに対応し、クロック入力
端子40Bは前記クロック入力端子20Bに対応し、出
力端子40Cは前記出力端子20Cに対応するので、そ
の詳しい説明は省略する。
In FIG. 6, fixed delay circuits 42 to
45 corresponds to the fixed delay circuits 22 to 25, and is a D-FF.
46 to 50 correspond to the D-FFs 26 to 30, the phase determination circuit 51 corresponds to the phase determination circuit 31, the phase relationship detection unit 52 corresponds to the phase relationship detection unit 32, and the input terminal 40A is connected to the input terminal 40A. It corresponds to the terminal 20A, the clock input terminal 40B corresponds to the clock input terminal 20B, and the output terminal 40C corresponds to the output terminal 20C.

【0095】ただし、図6では、遅延データDD1では
なく、クロックCKのほうを5つの遅延信号A2〜E2
に位相分割するために、4つの固定遅延回路42〜45
が使用される。
However, in FIG. 6, the clock CK is not the delayed data DD1 but the five delayed signals A2 to E2.
The fixed delay circuits 42 to 45
Is used.

【0096】各固定遅延回路42〜45が付与する遅延
時間をDT1とするなら、遅延信号E2は遅延なし、D
2はDT1の遅延、C2は2×DT1の遅延、B2は3
×DT1の遅延、A2は4×DT1の遅延をそれぞれも
っている。遅延信号A2〜E2は5つのD−FF46〜
50のC入力端子に供給される。
If the delay time given by each of the fixed delay circuits 42 to 45 is DT1, the delay signal E2 has no delay and D
2 is DT1 delay, C2 is 2 × DT1 delay, B2 is 3
The delay of × DT1 and A2 have a delay of 4 × DT1. The delay signals A2 to E2 have five D-FFs 46 to
It is supplied to 50 C input terminals.

【0097】また、D−FF46〜50のD入力端子に
は、可変遅延回路11から送出された遅延データDD1
がそのまま供給される。
The D input terminals of the D-FFs 46 to 50 have the delay data DD1 sent from the variable delay circuit 11 connected thereto.
Is supplied as is.

【0098】したがって、D−FF46〜50のQ出力
端子QA2〜QE2は、図7のタイムチャートのように
変化する。
Therefore, the Q output terminals QA2 to QE2 of the D-FFs 46 to 50 change as shown in the time chart of FIG.

【0099】図7は、第1の実施形態でいうところの位
相差小の同期状態に対応する。
FIG. 7 corresponds to the synchronous state with a small phase difference referred to in the first embodiment.

【0100】図7において、遅延信号A2のクロックパ
ルスの立上がりエッジのタイミングをET1とし、遅延
信号B2のクロックパルスの立上がりエッジのタイミン
グをET2とし、遅延信号C2のクロックパルスの立上
がりエッジのタイミングをET3とし、遅延信号D2の
クロックパルスの立上がりエッジのタイミングをET4
とし、遅延信号E2のクロックパルスの立上がりエッジ
のタイミングをET5とする。
In FIG. 7, the timing of the rising edge of the clock pulse of delay signal A2 is ET1, the timing of the rising edge of the clock pulse of delay signal B2 is ET2, and the timing of the rising edge of the clock pulse of delay signal C2 is ET3. And the timing of the rising edge of the clock pulse of the delay signal D2 is ET4
ET5 is the timing of the rising edge of the clock pulse of the delay signal E2.

【0101】ET1とET2間、ET2とET3間、E
T3とET4間、ET4とET5間の位相差はそれぞれ
DT1である。
Between ET1 and ET2, between ET2 and ET3,
The phase difference between T3 and ET4 and between ET4 and ET5 is DT1.

【0102】そしてちょうど中間の遅延をもつC2でD
−FF48が遅延データDD1をラッチして得られるQ
C2が、クロックCKに同期しているデータSD2とし
て、出力端子40Cから送出される。
Then, D at C2 with just an intermediate delay
Q obtained by latching delayed data DD1 by FF 48
C2 is transmitted from the output terminal 40C as data SD2 synchronized with the clock CK.

【0103】入力データID1の位相とクロックCKの
位相は相対的なもので、遅延データDD1に累加的な遅
延時間を付与する第1の実施形態と、クロックCKのほ
うに累加的な遅延時間を付与する本実施形態のあいだ
で、その動作上、実質的な相違はないと考えられる。
The phase of the input data ID1 and the phase of the clock CK are relative to each other. The first embodiment in which an additional delay time is added to the delay data DD1 and the additional delay time in the clock CK are added. It is considered that there is no substantial difference in operation between the provided embodiments.

【0104】少なくとも本実施形態では、第1の実施形
態と同様に、位相差の大小を検出し、位相関係を検出す
ることができ、クロックCKに同期した出力データSD
2を定常的に送出することができる。
In at least the present embodiment, as in the first embodiment, the magnitude of the phase difference can be detected, the phase relationship can be detected, and the output data SD synchronized with the clock CK can be detected.
2 can be sent out constantly.

【0105】ただし構成が相違する以上、その作用効果
がまったく同一ということはありえず、たとえば、可変
遅延回路11がCRを用いている場合など、可変遅延回
路11の内部構成によっては、遅延データDD1の波形
に、なまりが存在する可能性があり、その場合、第1の
実施形態のように、遅延なしでD−FF26に供給され
るA1と、固定遅延回路(ゲートIC)22などで遅延
されたうえでD−FF27などに供給されるB1などと
のあいだで、DT1以外の位相差のバラツキが発生する
可能性がある。
However, since the configuration is different, the operation and effect cannot be exactly the same. For example, depending on the internal configuration of the variable delay circuit 11 such as when the variable delay circuit 11 uses a CR, the delay data DD1 In this case, there is a possibility that the waveform is rounded. In this case, as in the first embodiment, the waveform is delayed by A1 supplied to the D-FF 26 without delay and by the fixed delay circuit (gate IC) 22 or the like. In addition, there is a possibility that a variation in phase difference other than DT1 occurs between B1 and the like supplied to the D-FF 27 and the like.

【0106】一方、入力クロックCKのほうは、もとも
と当該通信機器内で生成、使用されている信号なので、
通常その波形に、問題となるほどの歪みやなまりが存在
することはない。したがって固定遅延回路(ゲートI
C)42〜45を介してクロックCKがD−FF46〜
49に供給されるタイミングと、直接D−FF50に供
給されるタイミングのあいだにバラツキが生じる可能性
は低いと考えられる。
On the other hand, since the input clock CK is a signal originally generated and used in the communication device,
Usually, there is no problematic distortion or dullness in the waveform. Therefore, the fixed delay circuit (gate I
C) The clock CK is supplied from the D-FF 46 to
It is considered that there is a low possibility that a variation occurs between the timing supplied to the D-FF 50 and the timing supplied to the D-FF 50.

【0107】(B−2)第2の実施形態の効果 本実施形態によれば、異なる構成で第1の実施形態と同
等の効果を実現することができる。
(B-2) Effects of the Second Embodiment According to the present embodiment, the same effects as those of the first embodiment can be realized with different configurations.

【0108】(C)他の実施形態 以上の説明では、固定遅延回路を直列接続したゲートI
Cによって構成するものとしたが、同一データ系列に複
数の遅延時間を付与する機能をもつ構成であればよいの
であるから、たとえばL、Cを用いた遅延線のような受
動素子を使用してもよい。
(C) Other Embodiments In the above description, the gate I in which fixed delay circuits are connected in series has been described.
Although the configuration is made by C, any configuration having a function of giving a plurality of delay times to the same data series may be used. For example, a passive element such as a delay line using L and C is used. Is also good.

【0109】受動素子を用いた場合、前段の可変遅延回
路11内の出力部に設けられたゲートICが、当該受動
素子を駆動することとなると考えられるが、その駆動能
力が電源電圧、温度などの変動で影響を受ける結果、前
記固定遅延時間DT1は、やはり変動する可能性があ
る。そしてこの駆動能力はそのゲートICの種類によっ
ても変動する。
When a passive element is used, it is considered that a gate IC provided at an output section in the preceding variable delay circuit 11 drives the passive element. As a result, the fixed delay time DT1 may also fluctuate. This driving capability also varies depending on the type of the gate IC.

【0110】また、第1の実施形態の構成で、入力端子
20A側にある可変遅延回路11をクロック入力端子2
0B側に配置して、クロックCKに可変遅延時間を付与
するようにしてもよい。この場合、入力データID1に
は可変遅延時間を付与しない。
In the configuration of the first embodiment, the variable delay circuit 11 on the input terminal 20A side is connected to the clock input terminal 2
It may be arranged on the 0B side to add a variable delay time to the clock CK. In this case, no variable delay time is given to the input data ID1.

【0111】さらに、第2の実施形態の構成で、入力端
子40A側にある可変遅延回路11をクロック入力端子
40B側に配置して、クロックCKに可変遅延時間を付
与するようにしてもよい。この場合も、入力データID
1には可変遅延時間を付与しない。
Further, in the configuration of the second embodiment, the variable delay circuit 11 on the input terminal 40A side may be arranged on the clock input terminal 40B side so that a variable delay time is given to the clock CK. Also in this case, the input data ID
No variable delay time is given to 1.

【0112】なお、第1および第2の実施形態では、位
相判定回路が自動的に最適なラッチデータを選択するよ
うにしたが、このような位相判定回路の動作をビット位
相同期回路の外部からコントロールできるような入力端
子を位相判定回路に設ける構成にして、位相分割された
遅延データ、あるいはクロックを外部から任意に選択で
きるようにしてもよい。
In the first and second embodiments, the phase determination circuit automatically selects the optimal latch data. However, the operation of such a phase determination circuit is performed from outside the bit phase synchronization circuit. An input terminal which can be controlled may be provided in the phase determination circuit so that the phase-divided delay data or clock can be arbitrarily selected from outside.

【0113】第1および第2の実施形態では、N=1で
あったが、N≧2、すなわち6個以上の固定遅延回路、
7個以上のD−FFを備え、7通り以上の遅延時間をも
つ遅延信号を扱うようにしてもよい。
In the first and second embodiments, N = 1, but N ≧ 2, that is, six or more fixed delay circuits,
A delay signal having seven or more D-FFs and having seven or more delay times may be handled.

【0114】また、第1および第2の実施形態では、N
=1、すなわち2N+3=5の場合を例に説明したの
で、ラッチデータQA1〜QE1(QA2〜QE2)の
すべてが位相差の大小の検出にも、位相関係の検出にも
用いられたが、N≧2の場合には、位相差の大小検出
(一般には位相差の大きさの測定)か、または位相関係
の検出のどちらか一方にだけ使用されるラッチデータが
あってもよい。
In the first and second embodiments, N
= 1, that is, 2N + 3 = 5, all the latch data QA1 to QE1 (QA2 to QE2) are used for detecting the magnitude of the phase difference and for detecting the phase relationship. In the case of ≧ 2, there may be latch data used only for detecting either the magnitude of the phase difference (generally measuring the magnitude of the phase difference) or detecting the phase relationship.

【0115】さらに、以上の説明では、ハードウエア的
な回路構成を用いて説明したが、同等な動作を行うソフ
トウエアを用いるようにしてもよい。
Further, in the above description, the description has been made using the hardware circuit configuration. However, software performing the same operation may be used.

【0116】すなわち、本発明は、受信した同一データ
系列に複数の所定の遅延時間を付与しておき、当該各遅
延時間ごとに、前記受信データ系列中のデータを同一タ
イミングで記憶し、各遅延時間に対応する記憶内容を比
較することにより、受信側のクロックの位相を基準とし
て前記受信データ系列とクロックとの相互位相関係を検
出する場合、および前記受信データ系列の位相を基準と
して、前記クロックと受信データ系列との相互位相関係
を検出する場合の、同期検出方法及び装置、並びに位相
同期方法及び装置に広く適用することができる。
That is, according to the present invention, a plurality of predetermined delay times are added to the same received data sequence, and the data in the received data sequence is stored at the same timing for each of the delay times. By comparing stored contents corresponding to time, when detecting the mutual phase relationship between the received data sequence and the clock on the basis of the phase of the clock on the receiving side, and on the basis of the phase of the received data sequence, the clock The present invention can be widely applied to a synchronization detection method and apparatus, and a phase synchronization method and apparatus when detecting a mutual phase relationship between data and a received data sequence.

【0117】[0117]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、第2の仮想記憶素子の記憶内容に応じて測定される
位相差の程度に基づいて第1及び第2の仮想記憶素子の
なかから、最適な仮想記憶素子を選択することができる
ので、当該最適な仮想記憶素子の記憶内容を用いて相互
位相関係を検出することで、電源電圧の変動や温度の変
動があっても、CMOS、TTLなどICまたはディス
クリート回路の形式が異なっても、つねに精度の高い位
相関係の検出を行うことができ、信頼性の高いビット位
相同期が可能になる。
As described above, according to the present invention, the first and second virtual storage elements are determined based on the degree of the phase difference measured according to the storage content of the second virtual storage element. Among them, the optimal virtual storage element can be selected, and therefore, by detecting the mutual phase relationship using the stored contents of the optimal virtual storage element, even if there is a fluctuation in power supply voltage or temperature, Even if the form of an IC or discrete circuit such as CMOS or TTL is different, highly accurate detection of the phase relationship can always be performed, and highly reliable bit phase synchronization can be achieved.

【0118】他面で本発明によれば、受信データ系列の
データレートと第1、第2の仮想遅延時間の関係、およ
び第1、第2の仮想遅延時間と第1、第2の仮想記憶素
子の特性との関係を、それほど厳密に設計しなくてもよ
く、同一仕様を前提とすると、従来よりも速いものなど
広範囲なデータレートの受信データ系列を扱うことなど
が可能で、同期検出システム、および位相同期システム
を設計するうえで自由度を増大することができる。
On the other hand, according to the present invention, the relationship between the data rate of the received data sequence and the first and second virtual delay times, and the first and second virtual delay times and the first and second virtual storages The relationship with the element characteristics does not need to be designed so strictly. Given the same specifications, it is possible to handle received data sequences with a wider range of data rates, such as those that are faster than conventional ones. , And in designing a phase synchronization system.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施形態に係るビット位相同期回路の構
成を示す概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration of a bit phase synchronization circuit according to a first embodiment.

【図2】従来のビット位相同期回路の構成を示す概略図
である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional bit phase synchronization circuit.

【図3】従来のビット位相同期回路の動作を示すタイム
チャートである。
FIG. 3 is a time chart showing an operation of a conventional bit phase synchronization circuit.

【図4】第1の実施形態に係るビット位相同期回路の動
作を示すタイムチャートである。
FIG. 4 is a time chart illustrating an operation of the bit phase synchronization circuit according to the first embodiment.

【図5】第1の実施形態に係るビット位相同期回路の動
作を示すタイムチャートである。
FIG. 5 is a time chart illustrating an operation of the bit phase synchronization circuit according to the first embodiment.

【図6】第2の実施形態に係るビット位相同期回路の構
成を示す概略図である。
FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a configuration of a bit phase synchronization circuit according to a second embodiment.

【図7】第2の実施形態に係るビット位相同期回路の動
作を示すタイムチャートである。
FIG. 7 is a time chart illustrating an operation of the bit phase synchronization circuit according to the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,20,40…ビット位相同期回路、11…可変遅
延回路、12,13、22〜25、42〜45…固定遅
延回路、17、31、51…位相判定回路、14〜1
6、26〜30、46〜50…D−FF、18…制御回
路、32、52…位相関係検出部、ID1…入力デー
タ、DD1…遅延データ、CS…制御信号、CK…クロ
ック、SD、SD1、SD2…同期データ、A〜C、A
1〜E1、A2〜E2…遅延信号。
10, 20, 40: bit phase synchronization circuit, 11: variable delay circuit, 12, 13, 22 to 25, 42 to 45: fixed delay circuit, 17, 31, 51: phase determination circuit, 14 to 1
6, 26-30, 46-50 D-FF, 18 control circuit, 32, 52 phase relation detector, ID1 input data, DD1 delay data, CS control signal, CK clock, SD, SD1 , SD2 ... synchronous data, A to C, A
1 to E1, A2 to E2... Delayed signals.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 受信した同一データ系列に複数の所定の
遅延時間を付与して位相差を持たせておき、当該各遅延
時間ごとに、前記受信データ系列中のデータを同一タイ
ミングで記憶し、各遅延時間に対応する記憶内容を比較
することにより、受信側のクロックの位相を基準として
前記受信データ系列とクロックとの相互位相関係を検出
する同期検出方法において、 仮想的に、前記相互位相関係を検出するための前記複数
の所定の遅延時間を付与する第1の仮想遅延素子で、前
記受信データ系列に、前記複数の遅延時間に相当する第
1の仮想遅延時間を付与し、 仮想的に前記位相差の程度を測定するための第2の仮想
遅延素子を用いて、当該受信データ系列に対し、重ねて
第2の仮想遅延時間を付与し、 前記第1の仮想遅延時間に対応して前記受信データ系列
を記憶するための第1の仮想記憶素子、及び第2の仮想
遅延時間に対応して当該受信データ系列を記憶するため
の第2の仮想記憶素子を設けておき、 第2の仮想記憶素子の記憶内容に応じて測定される前記
位相差の程度に基づいて第1及び第2の仮想記憶素子の
なかから選択した仮想記憶素子の記憶内容を用いて、前
記相互位相関係の検出を実行することを特徴とする同期
検出方法。
A plurality of predetermined delay times are given to the same received data sequence to provide a phase difference, and the data in the received data sequence is stored at the same timing for each of the delay times. A synchronization detection method for detecting the mutual phase relationship between the received data sequence and the clock based on the phase of the clock on the receiving side by comparing the stored contents corresponding to the respective delay times, wherein the mutual phase relationship is virtually determined. A first virtual delay element for providing the plurality of predetermined delay times for detecting the delay time, providing a first virtual delay time corresponding to the plurality of delay times to the received data sequence, Using a second virtual delay element for measuring the degree of the phase difference, a second virtual delay time is superimposed on the received data sequence, and the second virtual delay element is provided in correspondence with the first virtual delay time. Said A first virtual storage element for storing the received data sequence and a second virtual storage element for storing the received data sequence corresponding to the second virtual delay time are provided. The detection of the mutual phase relationship is performed by using the storage content of the virtual storage element selected from the first and second virtual storage elements based on the degree of the phase difference measured according to the storage content of the storage element. A synchronization detection method, which is performed.
【請求項2】 請求項1の同期検出方法において、 前記相互位相関係としては、位相進み状態、同期状態、
位相遅れ状態の3通りを検出し、 前記位相差の程度としては、位相差が大きい状態を、N
を自然数として、N段階で検出するとともに、小さい状
態もN段階で検出し、 前記第1及び第2の仮想遅延時間として合計で、2N+
3通りの前記遅延時間を用意しておき、 前記第1及び第2の仮想記憶素子として合計で、2N+
3個の記憶素子を用意しておき、 第2の仮想記憶素子の記憶内容に応じて測定される前記
位相差の程度に基づいて、前記2N+3個の仮想記憶素
子のなかから選択した3つの仮想記憶素子の記憶内容を
用いて、前記相互位相関係の検出を実行することを特徴
とする同期検出方法。
2. The synchronization detection method according to claim 1, wherein the mutual phase relationship includes a phase lead state, a synchronization state,
The three types of phase delay states are detected.
Is detected as a natural number in N stages, and a small state is also detected in N stages. As the first and second virtual delay times, a total of 2N +
Three kinds of the delay time are prepared, and a total of 2N +
Three storage elements are prepared, and three virtual elements selected from the 2N + 3 virtual storage elements based on the degree of the phase difference measured according to the storage content of the second virtual storage element. A synchronization detection method, wherein the mutual phase relationship is detected by using storage contents of a storage element.
【請求項3】 請求項1又は2の同期検出方法におい
て、 前記受信データ系列の位相を基準として、前記クロック
と受信データ系列との相互位相関係を検出することを特
徴とする同期検出方法。
3. The synchronization detection method according to claim 1, wherein a mutual phase relationship between the clock and the received data sequence is detected with reference to a phase of the received data sequence.
【請求項4】 受信した同一データ系列に複数の所定の
遅延時間を付与して位相差を持たせておき、当該各遅延
時間ごとに、前記受信データ系列中のデータを同一タイ
ミングで記憶し、各遅延時間に対応する記憶内容を比較
することにより、受信側のクロックの位相を基準として
前記受信データ系列とクロックとの相互位相関係を検出
する同期検出装置において、 仮想的に、前記相互位相関係を検出するための前記複数
の所定の遅延時間を付与する第1の仮想遅延素子で、前
記受信データ系列に、前記複数の遅延時間に相当する第
1の仮想遅延時間を付与し、 仮想的に前記位相差の程度を測定するための第2の仮想
遅延素子を用いて、当該受信データ系列に対し、重ねて
第2の仮想遅延時間を付与し、 前記第1の仮想遅延時間に対応して前記受信データ系列
を記憶するための第1の仮想記憶素子、及び第2の仮想
遅延時間に対応して当該受信データ系列を記憶するため
の第2の仮想記憶素子を設けておき、 第2の仮想記憶素子の記憶内容に応じて測定される前記
位相差の程度に基づいて第1及び第2の仮想記憶素子の
なかから選択した仮想記憶素子の記憶内容を用いて、前
記相互位相関係の検出を実行することを特徴とする同期
検出装置。
4. A method in which a plurality of predetermined delay times are given to the same received data sequence to have a phase difference, and the data in the received data sequence is stored at the same timing for each of the delay times. In a synchronization detecting device for detecting the mutual phase relationship between the received data sequence and the clock with reference to the phase of the clock on the receiving side by comparing the stored contents corresponding to the respective delay times, A first virtual delay element for providing the plurality of predetermined delay times for detecting the delay time, providing a first virtual delay time corresponding to the plurality of delay times to the received data sequence, Using a second virtual delay element for measuring the degree of the phase difference, a second virtual delay time is superimposed on the received data sequence, and the second virtual delay element is provided in correspondence with the first virtual delay time. Said A first virtual storage element for storing the received data sequence and a second virtual storage element for storing the received data sequence corresponding to the second virtual delay time are provided. The detection of the mutual phase relationship is performed by using the storage content of the virtual storage element selected from the first and second virtual storage elements based on the degree of the phase difference measured according to the storage content of the storage element. A synchronization detection device, which is executed.
【請求項5】 請求項4の同期検出装置において、 前記相互位相関係としては、位相進み状態、同期状態、
位相遅れ状態の3通りを検出し、 前記位相差の程度としては、位相差が大きい状態を、N
を自然数として、N段階で検出するとともに、小さい状
態もN段階で検出し、 前記第1及び第2の仮想遅延時間として合計で、2N+
3通りの前記遅延時間を用意しておき、 前記第1及び第2の仮想記憶素子として合計で、2N+
3個の記憶素子を用意しておき、 第2の仮想記憶素子の記憶内容に応じて測定される位相
差の程度に基づいて、前記2N+3個の仮想記憶素子の
なかから選択した3つの仮想記憶素子の記憶内容を用い
て、前記相互位相関係の検出を実行することを特徴とす
る同期検出装置。
5. The synchronization detection device according to claim 4, wherein the mutual phase relationship includes a phase lead state, a synchronization state,
The three types of phase delay states are detected.
Is detected as a natural number in N stages, and a small state is also detected in N stages. As the first and second virtual delay times, a total of 2N +
Three kinds of the delay time are prepared, and a total of 2N +
Three storage elements are prepared, and three virtual storage elements selected from the 2N + 3 virtual storage elements based on the degree of phase difference measured according to the storage content of the second virtual storage element A synchronous detection device, wherein the mutual phase relationship is detected by using stored contents of elements.
【請求項6】 請求項4又は5の同期検出装置におい
て、 前記受信データ系列の位相を基準として、前記クロック
と受信データ系列との相互位相関係を検出することを特
徴とする同期検出装置。
6. The synchronization detection device according to claim 4, wherein a mutual phase relationship between the clock and the reception data sequence is detected with reference to a phase of the reception data sequence.
【請求項7】 受信したデータ系列と受信側のクロック
とをディジタル同期ループを用いて相対的に同期させる
位相同期方法において、 請求項1〜3のいずれかの同期検出方法を用いることを
特徴とする位相同期方法。
7. A phase synchronization method for relatively synchronizing a received data sequence and a clock on a receiving side by using a digital synchronization loop, wherein the synchronization detection method according to claim 1 is used. Phase synchronization method.
【請求項8】 受信したデータ系列と受信側のクロック
とをディジタル同期ループを用いて相対的に同期させる
位相同期装置において、 請求項4〜6のいずれかの同期検出装置を用いることを
特徴とする位相同期装置。
8. A phase synchronization device for relatively synchronizing a received data sequence and a clock on a receiving side by using a digital synchronization loop, wherein the synchronization detection device according to claim 4 is used. Phase synchronizer.
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