JP2000066963A - マイコン用メモリの診断装置 - Google Patents
マイコン用メモリの診断装置Info
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- JP2000066963A JP2000066963A JP10238522A JP23852298A JP2000066963A JP 2000066963 A JP2000066963 A JP 2000066963A JP 10238522 A JP10238522 A JP 10238522A JP 23852298 A JP23852298 A JP 23852298A JP 2000066963 A JP2000066963 A JP 2000066963A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/14—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0409—Online test
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 エンジン制御機能に影響を与えることなく、
全メモリ領域をリアルタイムに診断可能とする。 【解決手段】 エンジン始動前か、それ以外の通常時
（エンジン運転中）かを判定する（Ｓ２）。始動前は、
時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バイト数
×設定回数の１ジョブ分のバイト数ずつ診断することに
より、メモリの診断を全領域にわたって連続的に実行す
る（高速診断；Ｓ３〜Ｓ１２）。通常時は、複数回に１
回の時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バイ
ト数ずつ診断することにより、所定の周期で割込んでメ
モリの診断を分割された領域毎に間欠的に実行する（低
速診断；Ｓ１３〜Ｓ２１）。
全メモリ領域をリアルタイムに診断可能とする。 【解決手段】 エンジン始動前か、それ以外の通常時
（エンジン運転中）かを判定する（Ｓ２）。始動前は、
時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バイト数
×設定回数の１ジョブ分のバイト数ずつ診断することに
より、メモリの診断を全領域にわたって連続的に実行す
る（高速診断；Ｓ３〜Ｓ１２）。通常時は、複数回に１
回の時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バイ
ト数ずつ診断することにより、所定の周期で割込んでメ
モリの診断を分割された領域毎に間欠的に実行する（低
速診断；Ｓ１３〜Ｓ２１）。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動車用エンジン
などにおいて各種電子制御機器の制御用マイコンに使用
されるメモリ（ＲＡＭ及びＲＯＭ）の診断装置に関す
る。
などにおいて各種電子制御機器の制御用マイコンに使用
されるメモリ（ＲＡＭ及びＲＯＭ）の診断装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来より、自動車用エンジンの制御装置
においては、制御用マイコンのＣＰＵの自己診断の他、
ＣＰＵによるＲＡＭ、ＲＯＭ等のメモリの診断を行って
おり、具体的には、エンジン始動前の電源投入時に、メ
モリの全領域に対し、ＲＡＭの場合はリード・ライトチ
ェック、ＲＯＭの場合はサムチェック又はパリティチェ
ックを行っている。
においては、制御用マイコンのＣＰＵの自己診断の他、
ＣＰＵによるＲＡＭ、ＲＯＭ等のメモリの診断を行って
おり、具体的には、エンジン始動前の電源投入時に、メ
モリの全領域に対し、ＲＡＭの場合はリード・ライトチ
ェック、ＲＯＭの場合はサムチェック又はパリティチェ
ックを行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電制ス
ロットル弁等、エンジン挙動に直接的に影響を与える制
御装置においては、エンジン運転中のメモリ故障を検知
する必要がある。その一方、メモリ診断は時間がかかる
ことから、エンジン運転中のメモリ診断は、診断中にお
けるエンジン制御機能に影響を与えることがある。
ロットル弁等、エンジン挙動に直接的に影響を与える制
御装置においては、エンジン運転中のメモリ故障を検知
する必要がある。その一方、メモリ診断は時間がかかる
ことから、エンジン運転中のメモリ診断は、診断中にお
けるエンジン制御機能に影響を与えることがある。
【０００４】本発明は、このような従来の問題点に鑑
み、制御機能に影響を与えることなく、全メモリ領域を
リアルタイムに診断できるようにすることを目的とす
る。
み、制御機能に影響を与えることなく、全メモリ領域を
リアルタイムに診断できるようにすることを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このため、請求項１に係
る発明では、図１に示すように、メモリを使用する前又
は使用終了後にメモリの診断を全領域にわたって連続的
に実行する高速診断手段と、メモリの使用中に所定の周
期で割込んでメモリの診断を分割された領域毎に間欠的
に実行する低速診断手段とを設けて、マイコン用メモリ
の診断装置を構成する。
る発明では、図１に示すように、メモリを使用する前又
は使用終了後にメモリの診断を全領域にわたって連続的
に実行する高速診断手段と、メモリの使用中に所定の周
期で割込んでメモリの診断を分割された領域毎に間欠的
に実行する低速診断手段とを設けて、マイコン用メモリ
の診断装置を構成する。
【０００６】請求項２に係る発明では、前記高速診断手
段は、時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バ
イト数×設定回数の１ジョブ分のバイト数ずつ診断する
ものであることを特徴とする。請求項３に係る発明で
は、前記低速診断手段は、複数回に１回の時間同期ジョ
ブにより予め定められた診断単位バイト数ずつ診断する
ものであることを特徴とする。
段は、時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バ
イト数×設定回数の１ジョブ分のバイト数ずつ診断する
ものであることを特徴とする。請求項３に係る発明で
は、前記低速診断手段は、複数回に１回の時間同期ジョ
ブにより予め定められた診断単位バイト数ずつ診断する
ものであることを特徴とする。
【０００７】請求項４に係る発明では、前記低速診断手
段は、時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バ
イト数ずつ診断するものであることを特徴とする。請求
項５に係る発明では、エンジン制御用マイコンに使用さ
れるメモリの診断装置であって、エンジン始動前又はエ
ンジン停止時に高速診断手段によって診断し、エンジン
運転中に低速診断手段によって診断することを特徴とす
る。
段は、時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バ
イト数ずつ診断するものであることを特徴とする。請求
項５に係る発明では、エンジン制御用マイコンに使用さ
れるメモリの診断装置であって、エンジン始動前又はエ
ンジン停止時に高速診断手段によって診断し、エンジン
運転中に低速診断手段によって診断することを特徴とす
る。
【０００８】
【発明の効果】請求項１に係る発明によれば、メモリを
使用する前又は使用終了後（非使用中）に、メモリの診
断を全領域にわたって連続的に実行する高速診断によっ
て、メモリを診断する一方、メモリの使用中は、所定の
周期で割込んでメモリの診断を分割された領域毎に間欠
的に実行する低速診断によって、制御機能に影響を与え
ることなく、全メモリ領域をリアルタイムに診断できる
という効果が得られる。
使用する前又は使用終了後（非使用中）に、メモリの診
断を全領域にわたって連続的に実行する高速診断によっ
て、メモリを診断する一方、メモリの使用中は、所定の
周期で割込んでメモリの診断を分割された領域毎に間欠
的に実行する低速診断によって、制御機能に影響を与え
ることなく、全メモリ領域をリアルタイムに診断できる
という効果が得られる。
【０００９】請求項２に係る発明によれば、時間同期ジ
ョブにより予め定められた診断単位バイト数×設定回数
の１ジョブ分のバイト数ずつ診断することで、メモリの
診断を全領域にわたって連続的に実行する高速診断が可
能となる。請求項３に係る発明によれば、複数回に１回
の時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バイト
数ずつ診断することで、容量が比較的小さいＲＡＭに適
した低速診断が可能となる。
ョブにより予め定められた診断単位バイト数×設定回数
の１ジョブ分のバイト数ずつ診断することで、メモリの
診断を全領域にわたって連続的に実行する高速診断が可
能となる。請求項３に係る発明によれば、複数回に１回
の時間同期ジョブにより予め定められた診断単位バイト
数ずつ診断することで、容量が比較的小さいＲＡＭに適
した低速診断が可能となる。
【００１０】請求項４に係る発明によれば、時間同期ジ
ョブにより予め定められた診断単位バイト数ずつ診断す
ることで、容量が比較的大きいＲＯＭに適した低速診断
が可能となる。請求項５に係る発明によれば、エンジン
制御用マイコンの場合に、エンジン始動前又はエンジン
停止時に高速診断手段によって診断し、エンジン運転中
に低速診断手段によって診断することで、エンジン運転
中にエンジン制御機能に影響を与えることなく、全メモ
リ領域をリアルタイムに診断できる。
ョブにより予め定められた診断単位バイト数ずつ診断す
ることで、容量が比較的大きいＲＯＭに適した低速診断
が可能となる。請求項５に係る発明によれば、エンジン
制御用マイコンの場合に、エンジン始動前又はエンジン
停止時に高速診断手段によって診断し、エンジン運転中
に低速診断手段によって診断することで、エンジン運転
中にエンジン制御機能に影響を与えることなく、全メモ
リ領域をリアルタイムに診断できる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下に、自動車用エンジンの制御
用マイコンのＲＡＭ及びＲＯＭを診断する場合の本発明
の実施形態について説明する。図２は本発明の第１の実
施形態を示すＲＡＭ診断のフローチャートであり、制御
用マイコンのＣＰＵにより時間同期ジョブ（１０ｍｓジ
ョブ）として実行される。
用マイコンのＲＡＭ及びＲＯＭを診断する場合の本発明
の実施形態について説明する。図２は本発明の第１の実
施形態を示すＲＡＭ診断のフローチャートであり、制御
用マイコンのＣＰＵにより時間同期ジョブ（１０ｍｓジ
ョブ）として実行される。
【００１２】ステップ１（図にはＳ１と記す。以下同
様）では、診断中のＲＡＭの書換えを防止するため、割
込みを禁止する。ステップ２では、エンジン始動前（電
源投入時）か、それ以外の通常時（エンジン運転中）か
を判定する。具体的には、始動前終了フラグを読込み、
０の場合は始動前、１の場合（後述するステップ１１で
１にセットされた場合）は通常時と判定する。
様）では、診断中のＲＡＭの書換えを防止するため、割
込みを禁止する。ステップ２では、エンジン始動前（電
源投入時）か、それ以外の通常時（エンジン運転中）か
を判定する。具体的には、始動前終了フラグを読込み、
０の場合は始動前、１の場合（後述するステップ１１で
１にセットされた場合）は通常時と判定する。
【００１３】始動前の場合は、ステップ３へ進む。ステ
ップ３では、初回か否かを判定し、初回の場合は、ステ
ップ４で診断対象ＲＡＭアドレスを初期設定する。診断
対象ＲＡＭアドレスは、診断単位バイト数を４バイトと
し、４バイトずつの診断対象ＲＡＭ毎に診断を行って、
最終的にＲＡＭの全領域（但しバックアップＲＡＭを除
く）に対して診断を行うように、初期設定する。
ップ３では、初回か否かを判定し、初回の場合は、ステ
ップ４で診断対象ＲＡＭアドレスを初期設定する。診断
対象ＲＡＭアドレスは、診断単位バイト数を４バイトと
し、４バイトずつの診断対象ＲＡＭ毎に診断を行って、
最終的にＲＡＭの全領域（但しバックアップＲＡＭを除
く）に対して診断を行うように、初期設定する。
【００１４】ステップ５では、診断対象ＲＡＭアドレス
を参照する。ステップ６では、図３のフロー（ステップ
１０１〜）に従って、始動前ＲＡＭ診断を実行する。ス
テップ１０１では、診断対象ＲＡＭアドレスに基づく４
バイトずつの診断対象ＲＡＭのデータをバッファに退避
する。
を参照する。ステップ６では、図３のフロー（ステップ
１０１〜）に従って、始動前ＲＡＭ診断を実行する。ス
テップ１０１では、診断対象ＲＡＭアドレスに基づく４
バイトずつの診断対象ＲＡＭのデータをバッファに退避
する。
【００１５】ステップ１０２では、診断対象ＲＡＭに例
えばＡＡＡＡＡＡＡＡｈ（４バイトデータ）を格納す
る。ステップ１０３では、診断対象ＲＡＭのデータをテ
ンポラリ（ＣＰＵ側の一時レジスタ）にコピーする。ス
テップ１０４では、テンポラリのデータをビット反転す
る。これにより、ＡＡＡＡＡＡＡＡｈの場合、５５５５
５５５５ｈとなる。
えばＡＡＡＡＡＡＡＡｈ（４バイトデータ）を格納す
る。ステップ１０３では、診断対象ＲＡＭのデータをテ
ンポラリ（ＣＰＵ側の一時レジスタ）にコピーする。ス
テップ１０４では、テンポラリのデータをビット反転す
る。これにより、ＡＡＡＡＡＡＡＡｈの場合、５５５５
５５５５ｈとなる。
【００１６】ステップ１０５では、診断対象ＲＡＭにテ
ンポラリのデータを再格納する。ステップ１０６では、
診断対象ＲＡＭのデータとテンポラリのデータとの比較
を行う。この比較の結果、相違があった場合に、ＲＡＭ
診断ＮＧとして、ステップ１１０へ進み、ＮＧ処理へ移
行する。一致している場合は、ステップ１０７へ進む。
ンポラリのデータを再格納する。ステップ１０６では、
診断対象ＲＡＭのデータとテンポラリのデータとの比較
を行う。この比較の結果、相違があった場合に、ＲＡＭ
診断ＮＧとして、ステップ１１０へ進み、ＮＧ処理へ移
行する。一致している場合は、ステップ１０７へ進む。
【００１７】ステップ１０７では、診断対象ＲＡＭにバ
ッファのデータを復帰する。ステップ１０８では、診断
対象ＲＡＭのデータとバッファのデータとの比較を行
う。この比較の結果、相違があった場合に、ＲＡＭ診断
ＮＧとして、ステップ１１０へ進み、ＮＧ処理に移行す
る。一致している場合は、ステップ１０９へ進む。
ッファのデータを復帰する。ステップ１０８では、診断
対象ＲＡＭのデータとバッファのデータとの比較を行
う。この比較の結果、相違があった場合に、ＲＡＭ診断
ＮＧとして、ステップ１１０へ進み、ＮＧ処理に移行す
る。一致している場合は、ステップ１０９へ進む。
【００１８】ステップ１０９では、診断対象ＲＡＭをク
リアして、図２のメインフロー（ステップ７）に戻る。
ステップ７では、診断対象ＲＡＭアドレスをインクリメ
ントする。ステップ８では、１ジョブ分として、予め設
定したバイト数（４バイト×設定回数）の処理が終了し
たか否かを判定し、１ジョブ分未終了の場合は、ステッ
プ５へ戻る。すなわち、ステップ５〜７を繰り返し実行
して、始動前ＲＡＭ診断を次の診断対象ＲＡＭに対して
行う。
リアして、図２のメインフロー（ステップ７）に戻る。
ステップ７では、診断対象ＲＡＭアドレスをインクリメ
ントする。ステップ８では、１ジョブ分として、予め設
定したバイト数（４バイト×設定回数）の処理が終了し
たか否かを判定し、１ジョブ分未終了の場合は、ステッ
プ５へ戻る。すなわち、ステップ５〜７を繰り返し実行
して、始動前ＲＡＭ診断を次の診断対象ＲＡＭに対して
行う。
【００１９】１ジョブ分の診断が正常に終了すれば、ス
テップ８からステップ９へ進む。ステップ９では、ＲＡ
Ｍの全領域の診断が終了したか否かを判定し、未終了の
場合は、次のジョブで始動前ＲＡＭ診断を続行すべく、
本ジョブを終了する。このように、１０ｍｓジョブによ
り予め定められた診断単位バイト数×設定回数の１ジョ
ブ分のバイト数ずつ診断することにより、ＲＡＭの診断
を全領域にわたって連続的に実行する。
テップ８からステップ９へ進む。ステップ９では、ＲＡ
Ｍの全領域の診断が終了したか否かを判定し、未終了の
場合は、次のジョブで始動前ＲＡＭ診断を続行すべく、
本ジョブを終了する。このように、１０ｍｓジョブによ
り予め定められた診断単位バイト数×設定回数の１ジョ
ブ分のバイト数ずつ診断することにより、ＲＡＭの診断
を全領域にわたって連続的に実行する。
【００２０】ＲＡＭの全領域の診断が正常に終了すれ
ば、ステップ９からステップ１０へ進んで、始動前ＲＡ
Ｍ診断ＯＫとし、ステップ１１で始動前終了フラグ＝１
とし、ステップ１２で割込みを許可して、本ジョブを終
了する。通常時は、ステップ１３へ進む。ステップ１３
では、Ｃ１をインクリメントする。
ば、ステップ９からステップ１０へ進んで、始動前ＲＡ
Ｍ診断ＯＫとし、ステップ１１で始動前終了フラグ＝１
とし、ステップ１２で割込みを許可して、本ジョブを終
了する。通常時は、ステップ１３へ進む。ステップ１３
では、Ｃ１をインクリメントする。
【００２１】ステップ１４では、Ｃ１＝１０か否かを判
定する。Ｃ１≠１０（Ｃ１＜１０）の場合は、ステップ
２１で割込みを許可して、本ジョブを終了する。Ｃ１＝
１０の場合は、ステップ１５でＣ１＝０に戻した後、ス
テップ１６へ進む。言い換えれば、１０ｍｓ×１０＝１
００ｍｓ毎の周期でステップ１６へ進む。
定する。Ｃ１≠１０（Ｃ１＜１０）の場合は、ステップ
２１で割込みを許可して、本ジョブを終了する。Ｃ１＝
１０の場合は、ステップ１５でＣ１＝０に戻した後、ス
テップ１６へ進む。言い換えれば、１０ｍｓ×１０＝１
００ｍｓ毎の周期でステップ１６へ進む。
【００２２】ステップ１６では、診断対象ＲＡＭアドレ
スを参照する。尚、始動前ＲＡＭ診断の終了時に診断対
象ＲＡＭアドレスは先頭アドレスにセットされている。
ステップ１７では、図４のフロー（ステップ２０１〜）
に従って、通常時ＲＡＭ診断を実行する。ステップ２０
１では、診断対象ＲＡＭアドレスに基づく４バイトずつ
の診断対象ＲＡＭのデータをバッファに退避する。
スを参照する。尚、始動前ＲＡＭ診断の終了時に診断対
象ＲＡＭアドレスは先頭アドレスにセットされている。
ステップ１７では、図４のフロー（ステップ２０１〜）
に従って、通常時ＲＡＭ診断を実行する。ステップ２０
１では、診断対象ＲＡＭアドレスに基づく４バイトずつ
の診断対象ＲＡＭのデータをバッファに退避する。
【００２３】ステップ２０２では、診断対象ＲＡＭのデ
ータをテンポラリ（ＣＰＵ側の一時レジスタ）にコピー
する。ステップ２０３では、テンポラリのデータをビッ
ト反転する。ステップ２０４では、診断対象ＲＡＭにテ
ンポラリのデータを格納する。ステップ２０５では、診
断対象ＲＡＭのデータとテンポラリのデータとの比較を
行う。
ータをテンポラリ（ＣＰＵ側の一時レジスタ）にコピー
する。ステップ２０３では、テンポラリのデータをビッ
ト反転する。ステップ２０４では、診断対象ＲＡＭにテ
ンポラリのデータを格納する。ステップ２０５では、診
断対象ＲＡＭのデータとテンポラリのデータとの比較を
行う。
【００２４】この比較の結果、相違があった場合に、Ｒ
ＡＭ診断ＮＧとして、ステップ２０８へ進み、ＮＧ処理
へ移行する。一致している場合は、ステップ２０６へ進
む。ステップ２０６では、診断対象ＲＡＭにバッファの
データを復帰する。ステップ２０７では、診断対象ＲＡ
Ｍのデータとバッファのデータとの比較を行う。
ＡＭ診断ＮＧとして、ステップ２０８へ進み、ＮＧ処理
へ移行する。一致している場合は、ステップ２０６へ進
む。ステップ２０６では、診断対象ＲＡＭにバッファの
データを復帰する。ステップ２０７では、診断対象ＲＡ
Ｍのデータとバッファのデータとの比較を行う。
【００２５】この比較の結果、相違があった場合に、Ｒ
ＡＭ診断ＮＧとして、ステップ２０８へ進み、ＮＧ処理
に移行する。一致している場合は、図２のメインフロー
（ステップ１８）に戻る。ステップ１８では、診断対象
ＲＡＭアドレスをインクリメントする。ステップ１９で
は、ＲＡＭの全領域の診断が終了したか否かを判定し、
未終了の場合は、ステップ２１で割込みを許可して、本
ジョブを終了する。この場合、１０ｍｓジョブの続きと
して、エンジン制御のための演算処理を実行することに
なる。
ＡＭ診断ＮＧとして、ステップ２０８へ進み、ＮＧ処理
に移行する。一致している場合は、図２のメインフロー
（ステップ１８）に戻る。ステップ１８では、診断対象
ＲＡＭアドレスをインクリメントする。ステップ１９で
は、ＲＡＭの全領域の診断が終了したか否かを判定し、
未終了の場合は、ステップ２１で割込みを許可して、本
ジョブを終了する。この場合、１０ｍｓジョブの続きと
して、エンジン制御のための演算処理を実行することに
なる。
【００２６】従って、１０ｍｓジョブの１０回につき１
回、すなわち１０ｍｓ×１０＝１００ｍｓ毎の周期で、
４バイトずつの診断対象ＲＡＭを診断する。すなわち、
複数回に１回の１０ｍｓジョブにより予め定められた診
断単位バイト数ずつ診断することにより、所定の周期で
割込んでＲＡＭの診断を分割された領域毎に間欠的に実
行する。
回、すなわち１０ｍｓ×１０＝１００ｍｓ毎の周期で、
４バイトずつの診断対象ＲＡＭを診断する。すなわち、
複数回に１回の１０ｍｓジョブにより予め定められた診
断単位バイト数ずつ診断することにより、所定の周期で
割込んでＲＡＭの診断を分割された領域毎に間欠的に実
行する。
【００２７】ＲＡＭの全領域の診断が正常に終了すれ
ば、ステップ１９からステップ２０へ進んで、通常時Ｒ
ＡＭ診断ＯＫとし、ステップ２１で割込みを許可して、
本ジョブを終了する。この後も、エンジン運転中である
限り、上記の通常時ＲＡＭ診断を繰り返し実行する。
ば、ステップ１９からステップ２０へ進んで、通常時Ｒ
ＡＭ診断ＯＫとし、ステップ２１で割込みを許可して、
本ジョブを終了する。この後も、エンジン運転中である
限り、上記の通常時ＲＡＭ診断を繰り返し実行する。
【００２８】ここで、ステップ１，２，３〜１２の部分
が高速診断手段に相当し、ステップ１，２，１３〜２１
の部分が低速診断手段に相当する。尚、ＲＡＭの全領域
を１０Ｋバイトとして、４バイトずつの診断対象ＲＡＭ
を単位として診断するものとすると、１０Ｋバイト／４
バイト＝２５６０回の診断が必要となる。
が高速診断手段に相当し、ステップ１，２，１３〜２１
の部分が低速診断手段に相当する。尚、ＲＡＭの全領域
を１０Ｋバイトとして、４バイトずつの診断対象ＲＡＭ
を単位として診断するものとすると、１０Ｋバイト／４
バイト＝２５６０回の診断が必要となる。
【００２９】始動前ＲＡＭ診断は、始動前にＲＡＭの全
領域を５００ｍｓ以内で診断を終了するように、診断時
間を例えば４００ｍｓに設定すると、２５６０回／４０
０ｍｓ＝６４回／１０ｍｓであるので、１０ｍｓジョブ
毎に、６４回診断する必要がある。従って、１０ｍｓジ
ョブ毎に、６４回×４バイト＝２５６バイトのリード・
ライトチェックを行う。
領域を５００ｍｓ以内で診断を終了するように、診断時
間を例えば４００ｍｓに設定すると、２５６０回／４０
０ｍｓ＝６４回／１０ｍｓであるので、１０ｍｓジョブ
毎に、６４回診断する必要がある。従って、１０ｍｓジ
ョブ毎に、６４回×４バイト＝２５６バイトのリード・
ライトチェックを行う。
【００３０】通常時ＲＡＭ診断は、１０ｍｓジョブの１
０回に１回で、１００ｍｓ毎に、４バイトずつの診断対
象ＲＡＭの診断を行うことで、診断時間は、（１０Ｋバ
イト／４バイト）×１００ｍｓ＝２５６ｓｅｃ、すなわ
ち、約４．２ｍｉｎとなる。図５は本発明の第２の実施
形態を示すＲＯＭ診断のフローチャートであり、制御用
マイコンのＣＰＵにより時間同期ジョブ（１０ｍｓジョ
ブ）として実行される。
０回に１回で、１００ｍｓ毎に、４バイトずつの診断対
象ＲＡＭの診断を行うことで、診断時間は、（１０Ｋバ
イト／４バイト）×１００ｍｓ＝２５６ｓｅｃ、すなわ
ち、約４．２ｍｉｎとなる。図５は本発明の第２の実施
形態を示すＲＯＭ診断のフローチャートであり、制御用
マイコンのＣＰＵにより時間同期ジョブ（１０ｍｓジョ
ブ）として実行される。
【００３１】ステップ３１では、エンジン始動前（電源
投入時）か、それ以外の通常時（エンジン運転中）かを
判定する。具体的には、始動前終了フラグを読込み、０
の場合は始動前、１の場合（後述するステップ４１で１
にセットされた場合）は通常時と判定する。始動前の場
合は、ステップ３２へ進む。
投入時）か、それ以外の通常時（エンジン運転中）かを
判定する。具体的には、始動前終了フラグを読込み、０
の場合は始動前、１の場合（後述するステップ４１で１
にセットされた場合）は通常時と判定する。始動前の場
合は、ステップ３２へ進む。
【００３２】ステップ３２では、初回か否かを判定し、
初回の場合は、ステップ３３で診断対象ＲＯＭアドレス
を初期設定し、ステップ３４でサム値ＳＵＭ及びパリテ
ィ値ＰＴＹを０にする。尚、診断対象ＲＯＭアドレス
は、診断単位バイト数を４バイトとし、４バイトずつの
診断対象ＲＯＭ毎に診断を行って、最終的にＲＯＭの全
領域に対して診断を行うように、初期設定する。
初回の場合は、ステップ３３で診断対象ＲＯＭアドレス
を初期設定し、ステップ３４でサム値ＳＵＭ及びパリテ
ィ値ＰＴＹを０にする。尚、診断対象ＲＯＭアドレス
は、診断単位バイト数を４バイトとし、４バイトずつの
診断対象ＲＯＭ毎に診断を行って、最終的にＲＯＭの全
領域に対して診断を行うように、初期設定する。
【００３３】ステップ３５では、診断対象ＲＯＭアドレ
スを参照する。ステップ３６では、診断対象ＲＯＭアド
レスに基づく４バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータを
加算して、次式の如く、サム値ＳＵＭを演算する。 ＳＵＭ＝ＳＵＭ＋データ ステップ３７では、診断対象ＲＯＭアドレスに基づく４
バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータの排他的論理和
（ＸＯＲ）により、次式のごとく、パリティ値ＰＴＹを
演算する。
スを参照する。ステップ３６では、診断対象ＲＯＭアド
レスに基づく４バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータを
加算して、次式の如く、サム値ＳＵＭを演算する。 ＳＵＭ＝ＳＵＭ＋データ ステップ３７では、診断対象ＲＯＭアドレスに基づく４
バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータの排他的論理和
（ＸＯＲ）により、次式のごとく、パリティ値ＰＴＹを
演算する。
【００３４】ＰＴＹ＝ＸＯＲ（ＰＴＹ，データ） ステップ３８では、診断対象ＲＯＭアドレスをインクリ
メントする。ステップ３９では、１ジョブ分として、予
め設定したバイト数（４バイト×設定回数）の処理が終
了したか否かを判定し、１ジョブ分未終了の場合は、ス
テップ３５へ戻る。すなわち、ステップ３５〜３８を繰
り返し実行して、サム演算及びパリティ演算を次の診断
対象ＲＯＭに対して行う。
メントする。ステップ３９では、１ジョブ分として、予
め設定したバイト数（４バイト×設定回数）の処理が終
了したか否かを判定し、１ジョブ分未終了の場合は、ス
テップ３５へ戻る。すなわち、ステップ３５〜３８を繰
り返し実行して、サム演算及びパリティ演算を次の診断
対象ＲＯＭに対して行う。
【００３５】１ジョブ分のサム演算及びパリティ演算が
終了した場合は、ステップ３９からステップ４０へ進
む。ステップ４０では、ＲＯＭの全領域のサム演算及び
パリティ演算が終了したか否かを判定し、未終了の場合
は、次のジョブでサム演算及びパリティ演算を続行すべ
く、本ジョブを終了する。
終了した場合は、ステップ３９からステップ４０へ進
む。ステップ４０では、ＲＯＭの全領域のサム演算及び
パリティ演算が終了したか否かを判定し、未終了の場合
は、次のジョブでサム演算及びパリティ演算を続行すべ
く、本ジョブを終了する。
【００３６】このように、１０ｍｓジョブにより予め定
められた診断単位バイト数×設定回数の１ジョブ分のバ
イト数ずつ診断（最終的な診断のための演算）すること
により、ＲＯＭの診断を全領域にわたって連続的に実行
する。ＲＯＭの全領域のサム演算及びパリティ演算が終
了した場合は、ステップ４０からステップ４１へ進ん
で、始動前終了フラグ＝１とした後、最終的な始動前Ｒ
ＯＭ診断を行うべく、ステップ４７へ進む。
められた診断単位バイト数×設定回数の１ジョブ分のバ
イト数ずつ診断（最終的な診断のための演算）すること
により、ＲＯＭの診断を全領域にわたって連続的に実行
する。ＲＯＭの全領域のサム演算及びパリティ演算が終
了した場合は、ステップ４０からステップ４１へ進ん
で、始動前終了フラグ＝１とした後、最終的な始動前Ｒ
ＯＭ診断を行うべく、ステップ４７へ進む。
【００３７】ステップ４７では、サム値ＳＵＭを予め定
めてある比較値ＳＵＭＣＨＫ＃と比較し、相違する場合
は、ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ
処理に移行する。一致した場合は、ステップ４８へ進
む。ステップ４８では、パリティ値ＰＴＹを予め定めて
ある比較値ＰＴＹＣＨＫ＃と比較し、相違する場合は、
ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ処理
に移行する。一致した場合は、ステップ４９へ進む。
めてある比較値ＳＵＭＣＨＫ＃と比較し、相違する場合
は、ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ
処理に移行する。一致した場合は、ステップ４８へ進
む。ステップ４８では、パリティ値ＰＴＹを予め定めて
ある比較値ＰＴＹＣＨＫ＃と比較し、相違する場合は、
ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ処理
に移行する。一致した場合は、ステップ４９へ進む。
【００３８】ステップ４９では、サムチェック及びパリ
ティチェックのいずれもＯＫであるので、ＲＯＭ診断Ｏ
Ｋとし、次のステップ５０でサム値ＳＵＭ及びパリティ
値ＰＴＹを０にして、本ジョブを終了する。通常時は、
ステップ４２へ進む。ステップ４２では、診断対象ＲＡ
Ｍアドレスを参照する。尚、始動前ＲＯＭ診断の終了時
に診断対象ＲＯＭアドレスは先頭アドレスにセットされ
ている。
ティチェックのいずれもＯＫであるので、ＲＯＭ診断Ｏ
Ｋとし、次のステップ５０でサム値ＳＵＭ及びパリティ
値ＰＴＹを０にして、本ジョブを終了する。通常時は、
ステップ４２へ進む。ステップ４２では、診断対象ＲＡ
Ｍアドレスを参照する。尚、始動前ＲＯＭ診断の終了時
に診断対象ＲＯＭアドレスは先頭アドレスにセットされ
ている。
【００３９】ステップ４３では、診断対象ＲＯＭアドレ
スに基づく４バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータを加
算して、次式の如く、サム値ＳＵＭを演算する。 ＳＵＭ＝ＳＵＭ＋データ ステップ４４では、診断対象ＲＯＭアドレスに基づく４
バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータの排他的論理和
（ＸＯＲ）により、次式のごとく、パリティ値ＰＴＹを
演算する。
スに基づく４バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータを加
算して、次式の如く、サム値ＳＵＭを演算する。 ＳＵＭ＝ＳＵＭ＋データ ステップ４４では、診断対象ＲＯＭアドレスに基づく４
バイトずつの診断対象ＲＯＭのデータの排他的論理和
（ＸＯＲ）により、次式のごとく、パリティ値ＰＴＹを
演算する。
【００４０】ＰＴＹ＝ＸＯＲ（ＰＴＹ，データ） ステップ４５では、診断対象ＲＯＭアドレスをインクリ
メントする。ステップ４６では、ＲＯＭの全領域のサム
演算及びパリティ演算が終了したか否かを判定し、未終
了の場合は、本ジョブを終了する。この場合、１０ｍｓ
ジョブの続きとして、エンジン制御のための演算処理を
実行することになる。
メントする。ステップ４６では、ＲＯＭの全領域のサム
演算及びパリティ演算が終了したか否かを判定し、未終
了の場合は、本ジョブを終了する。この場合、１０ｍｓ
ジョブの続きとして、エンジン制御のための演算処理を
実行することになる。
【００４１】従って、１０ｍｓジョブ毎に、４バイトず
つサム演算及びパリティ演算を行う。すなわち、１０ｍ
ｓジョブにより予め定められた診断単位バイト数ずつ診
断（最終的な診断のための演算）することにより、所定
の周期で割込んでＲＯＭの診断を分割された領域毎に間
欠的に実行する。ＲＯＭの全領域のサム演算及びパリテ
ィ演算が終了した場合は、最終的な通常時ＲＯＭ診断を
行うべく、ステップ４７へ進む。
つサム演算及びパリティ演算を行う。すなわち、１０ｍ
ｓジョブにより予め定められた診断単位バイト数ずつ診
断（最終的な診断のための演算）することにより、所定
の周期で割込んでＲＯＭの診断を分割された領域毎に間
欠的に実行する。ＲＯＭの全領域のサム演算及びパリテ
ィ演算が終了した場合は、最終的な通常時ＲＯＭ診断を
行うべく、ステップ４７へ進む。
【００４２】ステップ４７では、サム値ＳＵＭを予め定
めてある比較値ＳＵＭＣＨＫ＃と比較し、相違する場合
は、ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ
処理に移行する。一致した場合は、ステップ４８へ進
む。ステップ４８では、パリティ値ＰＴＹを予め定めて
ある比較値ＰＴＹＣＨＫ＃と比較し、相違する場合は、
ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ処理
に移行する。一致した場合は、ステップ４９へ進む。
めてある比較値ＳＵＭＣＨＫ＃と比較し、相違する場合
は、ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ
処理に移行する。一致した場合は、ステップ４８へ進
む。ステップ４８では、パリティ値ＰＴＹを予め定めて
ある比較値ＰＴＹＣＨＫ＃と比較し、相違する場合は、
ＲＯＭ診断ＮＧとして、ステップ５１へ進み、ＮＧ処理
に移行する。一致した場合は、ステップ４９へ進む。
【００４３】ステップ４９では、サムチェック及びパリ
ティチェックのいずれもＯＫであるので、ＲＯＭ診断Ｏ
Ｋとし、次のステップ５０でサム値ＳＵＭ及びパリティ
値ＰＴＹを０にして、本ジョブを終了する。ここで、ス
テップ３１，３２〜４１，４７〜５０が高速診断手段に
相当し、ステップ３１，４２〜４６，４７〜５０が低速
診断手段に相当する。
ティチェックのいずれもＯＫであるので、ＲＯＭ診断Ｏ
Ｋとし、次のステップ５０でサム値ＳＵＭ及びパリティ
値ＰＴＹを０にして、本ジョブを終了する。ここで、ス
テップ３１，３２〜４１，４７〜５０が高速診断手段に
相当し、ステップ３１，４２〜４６，４７〜５０が低速
診断手段に相当する。
【００４４】尚、ＲＯＭの全領域を２５６Ｋバイトとし
て、４バイトずつの診断対象ＲＯＭを単位として診断す
るものとすると、２５６Ｋバイト／４バイト＝６５５３
６回の診断が必要となる。始動前ＲＯＭ診断は、始動前
にＲＯＭの全領域を５００ｍｓ以内で診断を終了するよ
うに、診断時間を例えば４２０ｍｓに設定すると、６５
５３６回／４２０ｍｓ＝１５６０回／１０ｍｓ（余り１
６回）であるので、１０ｍｓジョブ毎に、１５６０回診
断する必要がある。従って、１０ｍｓジョブ毎に、１５
６０回×４バイト＝６２４０バイトのサム及びパリティ
の演算を行う。
て、４バイトずつの診断対象ＲＯＭを単位として診断す
るものとすると、２５６Ｋバイト／４バイト＝６５５３
６回の診断が必要となる。始動前ＲＯＭ診断は、始動前
にＲＯＭの全領域を５００ｍｓ以内で診断を終了するよ
うに、診断時間を例えば４２０ｍｓに設定すると、６５
５３６回／４２０ｍｓ＝１５６０回／１０ｍｓ（余り１
６回）であるので、１０ｍｓジョブ毎に、１５６０回診
断する必要がある。従って、１０ｍｓジョブ毎に、１５
６０回×４バイト＝６２４０バイトのサム及びパリティ
の演算を行う。
【００４５】通常時ＲＯＭ診断は、１０ｍｓジョブで、
１０ｍｓ毎に、４バイトずつの診断対象ＲＯＭのサム及
びパリティの演算を行うことで、診断時間は、（２５６
Ｋバイト／４バイト）×１０ｍｓ＝６５５ｓｅｃ、すな
わち、約１１ｍｉｎとなる。尚、第１の実施形態（図
３，図４）のステップ１１０，２０８、又は、第２の実
施形態（図５）のステップ５１でのＮＧ処理について説
明すれば、ＮＧ処理としては、制御対象機器の電源ＯＦ
Ｆ等を行う。
１０ｍｓ毎に、４バイトずつの診断対象ＲＯＭのサム及
びパリティの演算を行うことで、診断時間は、（２５６
Ｋバイト／４バイト）×１０ｍｓ＝６５５ｓｅｃ、すな
わち、約１１ｍｉｎとなる。尚、第１の実施形態（図
３，図４）のステップ１１０，２０８、又は、第２の実
施形態（図５）のステップ５１でのＮＧ処理について説
明すれば、ＮＧ処理としては、制御対象機器の電源ＯＦ
Ｆ等を行う。
【００４６】例えば、自動車用エンジンの制御装置で、
電制スロットル弁を制御している場合は、電制スロット
ル弁のモータに対する電源回路のリレーをＯＦＦにす
る。リレーＯＦＦにより、電制スロットル弁はリターン
スプリングの作用で、比較的低開度側のフェイルセーフ
開度に固定され、エンジン出力が規制されるものの、最
低限のリンプホーム運転が可能となる。
電制スロットル弁を制御している場合は、電制スロット
ル弁のモータに対する電源回路のリレーをＯＦＦにす
る。リレーＯＦＦにより、電制スロットル弁はリターン
スプリングの作用で、比較的低開度側のフェイルセーフ
開度に固定され、エンジン出力が規制されるものの、最
低限のリンプホーム運転が可能となる。
【００４７】また、以上の実施形態では、エンジン始動
前に高速診断を行うようにしたが、エンジン停止時に高
速診断を行うようにしてもよい。
前に高速診断を行うようにしたが、エンジン停止時に高
速診断を行うようにしてもよい。
【図１】 本発明の構成を示す機能ブロック図
【図２】 本発明の第１の実施形態を示すＲＡＭ診断の
フローチャート
フローチャート
【図３】 同上実施形態における始動前ＲＡＭ診断のフ
ローチャート
ローチャート
【図４】 同上実施形態における通常時ＲＡＭ診断のフ
ローチャート
ローチャート
【図５】 本発明の第２の実施形態を示すＲＯＭ診断の
フローチャート
フローチャート
Claims (5)
- 【請求項１】メモリを使用する前又は使用終了後にメモ
リの診断を全領域にわたって連続的に実行する高速診断
手段と、メモリの使用中に所定の周期で割込んでメモリ
の診断を分割された領域毎に間欠的に実行する低速診断
手段と、を含んで構成されるマイコン用メモリの診断装
置。 - 【請求項２】前記高速診断手段は、時間同期ジョブによ
り予め定められた診断単位バイト数×設定回数の１ジョ
ブ分のバイト数ずつ診断するものであることを特徴とす
る請求項１記載のマイコン用メモリの診断装置。 - 【請求項３】前記低速診断手段は、複数回に１回の時間
同期ジョブにより予め定められた診断単位バイト数ずつ
診断するものであることを特徴とする請求項１又は請求
項２記載のマイコン用メモリ診断装置。 - 【請求項４】前記低速診断手段は、時間同期ジョブによ
り予め定められた診断単位バイト数ずつ診断するもので
あることを特徴とする請求項１又は請求項２記載のマイ
コン用メモリ診断装置。 - 【請求項５】エンジン制御用マイコンに使用されるメモ
リの診断装置であって、エンジン始動前又はエンジン停
止時に高速診断手段によって診断し、エンジン運転中に
低速診断手段によって診断することを特徴とする請求項
１〜請求項４のいずれか１つに記載のマイコン用メモリ
の診断装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23852298A JP3578638B2 (ja) | 1998-08-25 | 1998-08-25 | マイコン用メモリの診断装置 |
| US09/382,582 US6430709B1 (en) | 1998-08-25 | 1999-08-25 | Apparatus and method for diagnosing microcomputer memory |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23852298A JP3578638B2 (ja) | 1998-08-25 | 1998-08-25 | マイコン用メモリの診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000066963A true JP2000066963A (ja) | 2000-03-03 |
| JP3578638B2 JP3578638B2 (ja) | 2004-10-20 |
Family
ID=17031514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23852298A Expired - Lifetime JP3578638B2 (ja) | 1998-08-25 | 1998-08-25 | マイコン用メモリの診断装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6430709B1 (ja) |
| JP (1) | JP3578638B2 (ja) |
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6795940B2 (en) | 2000-09-19 | 2004-09-21 | Nissan Motor Co., Ltd. | Method of and apparatus for executing diagnostic testing of a ROM |
| JP2006040122A (ja) * | 2004-07-29 | 2006-02-09 | Toyoda Mach Works Ltd | プログラマブルコントローラ |
| JP2008223730A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Honda Motor Co Ltd | エンジン制御装置およびそのイニシャル処理方法 |
| JP2010184609A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Nsk Ltd | 電動パワーステアリング装置 |
| JP2010188748A (ja) * | 2009-02-16 | 2010-09-02 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車両搭載機器の制御装置のメモリ診断装置 |
| JP2011028657A (ja) * | 2009-07-28 | 2011-02-10 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | Ｒａｍ診断装置、そのプログラム |
| JP2011178305A (ja) * | 2010-03-02 | 2011-09-15 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車載制御装置 |
| JP2011191830A (ja) * | 2010-03-11 | 2011-09-29 | Fuji Electric Co Ltd | メモリ診断方法および電力変換装置の制御機器 |
| JP2014038461A (ja) * | 2012-08-15 | 2014-02-27 | Fujitsu Ltd | メモリ制御装置、情報処理装置およびメモリ制御装置の制御方法 |
| JP2014048744A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-03-17 | Denso Corp | 電子制御装置 |
| US9009549B2 (en) | 2011-02-18 | 2015-04-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory diagnostic apparatus and memory diagnostic method and program |
| JP2015215872A (ja) * | 2014-04-22 | 2015-12-03 | 株式会社デンソー | マイクロコンピュータ |
| JP2016192009A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 制御装置 |
| JP2019114244A (ja) * | 2017-12-21 | 2019-07-11 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
| JP2020030714A (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 自己診断装置、半導体装置及び自己診断方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE60309157T2 (de) * | 2003-08-06 | 2007-08-30 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Speichersystem mit Fehlererkennungsvorrichtung |
| JP5310009B2 (ja) * | 2009-01-14 | 2013-10-09 | 日本精工株式会社 | 電動パワーステアリング装置 |
| EP2546752B1 (en) * | 2010-03-11 | 2018-09-19 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory diagnostic method, memory diagnostic device, and memory diagnostic program |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19647159A1 (de) * | 1996-11-14 | 1998-06-04 | Siemens Ag | Verfahren zum Testen eines in Zellenfelder unterteilten Speicherchips im laufenden Betrieb eines Rechners unter Einhaltung von Echtzeitbedingungen |
-
1998
- 1998-08-25 JP JP23852298A patent/JP3578638B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-08-25 US US09/382,582 patent/US6430709B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6795940B2 (en) | 2000-09-19 | 2004-09-21 | Nissan Motor Co., Ltd. | Method of and apparatus for executing diagnostic testing of a ROM |
| JP2006040122A (ja) * | 2004-07-29 | 2006-02-09 | Toyoda Mach Works Ltd | プログラマブルコントローラ |
| JP2008223730A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Honda Motor Co Ltd | エンジン制御装置およびそのイニシャル処理方法 |
| JP2010184609A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Nsk Ltd | 電動パワーステアリング装置 |
| JP2010188748A (ja) * | 2009-02-16 | 2010-09-02 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車両搭載機器の制御装置のメモリ診断装置 |
| JP2011028657A (ja) * | 2009-07-28 | 2011-02-10 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | Ｒａｍ診断装置、そのプログラム |
| JP2011178305A (ja) * | 2010-03-02 | 2011-09-15 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車載制御装置 |
| JP2011191830A (ja) * | 2010-03-11 | 2011-09-29 | Fuji Electric Co Ltd | メモリ診断方法および電力変換装置の制御機器 |
| US9009549B2 (en) | 2011-02-18 | 2015-04-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory diagnostic apparatus and memory diagnostic method and program |
| JP2014038461A (ja) * | 2012-08-15 | 2014-02-27 | Fujitsu Ltd | メモリ制御装置、情報処理装置およびメモリ制御装置の制御方法 |
| JP2014048744A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-03-17 | Denso Corp | 電子制御装置 |
| JP2015215872A (ja) * | 2014-04-22 | 2015-12-03 | 株式会社デンソー | マイクロコンピュータ |
| JP2016192009A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 制御装置 |
| JP2019114244A (ja) * | 2017-12-21 | 2019-07-11 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
| JP7155902B2 (ja) | 2017-12-21 | 2022-10-19 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
| JP2020030714A (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 自己診断装置、半導体装置及び自己診断方法 |
| JP7083728B2 (ja) | 2018-08-24 | 2022-06-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 自己診断装置、半導体装置及び自己診断方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6430709B1 (en) | 2002-08-06 |
| JP3578638B2 (ja) | 2004-10-20 |
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