FR3134455B1 - Procédé et dispositif d’analyse de défauts par réflectométrie au moyen d’une estimation de fonction de transfert - Google Patents
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Abstract
L’invention porte sur un procédé et un dispositif d’analyse de défauts par réflectométrie basés sur l’estimation d’une fonction de transfert à une résolution fréquentielle supérieure à celle normalement permise en tenant compte des limitations intrinsèques aux convertisseurs analogique-numérique et numérique-analogique et notamment de leurs fréquences d’échantillonnages. Figure 3
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