FR2892826A1

FR2892826A1 - CIRCUIT AND METHOD FOR DETERMINING FAULTY SENSOR ELEMENTS OF A SENSOR DEVICE

Info

Publication number: FR2892826A1
Application number: FR0654677A
Authority: FR
Inventors: Thomas Klotzbuecher; Bernhard Bauer; Reiner Schweinfurth; Johannes Meiwes; Bernd Koeberle
Original assignee: Robert Bosch GmbH
Current assignee: Robert Bosch GmbH
Priority date: 2005-11-02
Filing date: 2006-10-31
Publication date: 2007-05-04
Anticipated expiration: 2026-10-31
Also published as: ITMI20062096A1; FR2892826B1; CN101013152A; CN101013152B; DE102005052261A1

Abstract

Procédé pour déterminer des éléments de capteur défectueux d'un dispositif de capteur servant à mesurer la direction d'un champ magnétique, comprenant au moins un premier élément de capteur (S1), un second élément de capteur (S2), un troisième élément de capteur (S3) et un quatrième élément de capteur (S4), les premier et second éléments (S1, S2) étant branchés en série comme premier groupe (G1), les troisième et quatrième éléments (S3, S4) étant branchés en série comme second groupe (G2), les éléments de capteur d'un groupe (G1, G2) étant disposés chaque fois sensiblement sur une ligne (2, 3) et les groupes (G1, G2) étant à angle droit, et les éléments de capteur (S1, S2, S3, S4) mesurant des tensions (U1, U2, U3, U4).En cas de déviation des tensions (U1, U2, U3, U4) d'un groupe (G1, G2) supérieure à une déviation maximale (DeltaU_max), il y a émission d'un défaut de l'un des éléments de capteur (S1, S2, S3, S4).A method for determining defective sensor elements of a sensor device for measuring the direction of a magnetic field, comprising at least a first sensor element (S1), a second sensor element (S2), a third sensor element sensor (S3) and a fourth sensor element (S4), the first and second elements (S1, S2) being connected in series as the first group (G1), the third and fourth elements (S3, S4) being connected in series as second group (G2), the sensor elements of a group (G1, G2) being arranged substantially each time on a line (2, 3) and the groups (G1, G2) being at right angles, and the sensor elements (S1, S2, S3, S4) measuring voltages (U1, U2, U3, U4) .In case of deviation of the voltages (U1, U2, U3, U4) of a group (G1, G2) greater than a deflection maximum (DeltaU_max), there is emission of a fault of one of the sensor elements (S1, S2, S3, S4).

Description

Domaine de l'invention La présente invention concerne un procédé pourField of the Invention The present invention relates to a method for

déterminer des éléments de capteur défectueux d'un dispositif de capteur servant à mesurer la direction d'un champ magnétique, comprenant au moins un premier élément de capteur, un second élément de capteur, un troisième élément de capteur et un quatrième élément de capteur, le premier et le second éléments de capteur étant branchés en série comme premier groupe, le troisième et le quatrième éléments de capteur étant branchés en série comme second groupe, les éléments de capteur d'un groupe étant disposés chaque fois sensiblement sur une ligne et les groupes étant disposés à angle droit, et les éléments de capteur mesurant des tensions. L'invention concerne également un dispositif pour la mise en oeuvre du procédé. determining defective sensor elements of a sensor device for measuring the direction of a magnetic field, comprising at least a first sensor element, a second sensor element, a third sensor element and a fourth sensor element, the first and second sensor elements being connected in series as the first group, the third and fourth sensor elements being connected in series as the second group, the sensor elements of a group being arranged substantially each on a line and the groups being arranged at right angles, and the sensor elements measuring voltages. The invention also relates to a device for implementing the method.

On connaît des dispositifs de capteur pour mesurer la di-rection d'un champ magnétique par exemple selon les documents US-4 668 914 et US 2002/0021124. Les capteur sont des éléments à effet Hall verticaux et horizontaux. Selon le document EP-1 182 461 on connaît un dispositif de capteur pour mesurer la direction d'un champ magnétique à l'aide de quatre éléments de capteur branchés en série par paire dans des groupes ; les éléments de capteur d'un groupe sont disposés chaque fois sur une ligne et ceux de l'autre groupe sur une ligne à l'équerre. Dans de tels dispositifs de capteur on utilise habituelle- ment deux circuits ASIC comportant chacun un élément Hall, une unité d'exploitation ou circuit de préparation de signal, un étage de sortie et des installations auxiliaires telles que des moyens de stabilisation de tension ou un système de surveillance d'alerte. Les deux étages de sortie de ces deux circuits ASIC fournissent deux signaux de sortie dis- tincts transmis par deux lignes à l'appareil de commande. On connaît également un concept à redondance réduite selon lequel on utilise un circuit ASIC comportant un élément Hall, une unité d'exploitation ou circuit de préparation de signal, deux étages de sortie ainsi que des installations auxiliaires telles que des moyens de stabilisation de ten- Sion ou un système de chien de surveillance. Les deux étages de sortie de l'un des circuits ASIC fournissent deux signaux de sortie distincts par deux lignes à un appareil de commande en aval. Difficultés de l'état de la technique Les défauts des différents éléments de capteur ne peu- vent être décelés dans ce dispositif de capteurs. La détection des défauts ou leur exploitation ne peuvent se faire que dans l'appareil de commande. Buts de l'invention La présente invention a pour but de développer un pro- lo cédé et un circuit permettant une détection de défauts avec des moyens réduits en circuit et pour la transmission des signaux. Exposé et avantages de l'invention A cet effet la présente invention concerne un procédé du type défini ci-dessus caractérisé en ce qu'en cas de déviation des ten- 15 sions d'un groupe supérieure à une déviation maximale, il y a émission d'un défaut de l'un des éléments de capteur. Les éléments de capteur sont de préférence des éléments Hall. Le nombre d'éléments de capteur peut également être plus important en particulier chaque élément de capteur distinct peut être rempla- 20 cé par plusieurs éléments de capteur et les éléments de capteur peuvent également être subdivisés fictivement. La ligne de référence se fixe en principe de manière quel-conque mais pour simplifier les calculs il est avantageux que cette ligne contienne le groupe des éléments de capteur dont les valeurs de tension 25 pour le calcul de la tension arc tangente sont au dénominateur. Selon un développement du procédé, on mesure une tension d'un premier groupe et une tension d'un second groupe et on dé-termine un premier angle relatif du champ magnétique par rapport à la ligne de référence à partir de la relation arc tangente des deux tension. 30 La ligne de référence peut se fixer en principe de manière quelconque mais pour simplifier le calcul, il est avantageux que la ligne continue celui des groupes d'éléments de capteur dont les valeurs de tension sont au dénominateur pour le calcul de la fonction arc tan-gente. Sensor devices are known for measuring the di-rection of a magnetic field, for example according to US-4,668,914 and US 2002/0021124. The sensors are vertical and horizontal Hall effect elements. According to EP-1 182 461 there is known a sensor device for measuring the direction of a magnetic field by means of four sensor elements connected in series in pairs in groups; the sensor elements of a group are arranged on one line each and those of the other group on a square line. In such sensor devices, two ASICs are usually used, each comprising a Hall element, an operating unit or signal preparation circuit, an output stage, and auxiliary facilities such as voltage stabilization means or alert monitoring system. The two output stages of these two ASICs provide two separate output signals transmitted by two lines to the control unit. A concept with reduced redundancy is also known according to which an ASIC circuit comprising a Hall element, an operating unit or signal preparation circuit, two output stages as well as auxiliary installations such as voltage stabilization means are used. Zion or a surveillance dog system. The two output stages of one of the ASICs provide two separate output signals by two lines to a downstream controller. Difficulties of the state of the art The defects of the various sensor elements can not be detected in this sensor device. The detection of defects or their operation can only be done in the control unit. OBJECTS OF THE INVENTION The object of the present invention is to develop a method and a circuit for fault detection with reduced means in circuit and for signal transmission. DESCRIPTION OF THE INVENTION AND ADVANTAGES OF THE INVENTION To this end, the present invention relates to a process of the type defined above characterized in that in case of deviation of the tensions of a group greater than a maximum deviation, there is emission a defect in one of the sensor elements. The sensor elements are preferably Hall elements. The number of sensor elements may also be larger, in particular each separate sensor element may be replaced by a plurality of sensor elements and the sensor elements may also be subdivided fictitiously. The reference line is fixed in principle in any way, but to simplify the calculations it is advantageous for this line to contain the group of sensor elements whose voltage values for calculating the tangent arc voltage are at the denominator. According to a development of the method, a voltage of a first group and a voltage of a second group is measured and a first relative angle of the magnetic field is determined with respect to the reference line from the tangent arc relationship of the two tension. The reference line may in principle be fixed in any way, but to simplify the calculation, it is advantageous for the line to continue that of the groups of sensor elements whose voltage values are at the denominator for the calculation of the arc tan function. -gente.

Selon un développement du procédé, on mesure une tension par le premier élément de capteur et une tension sur le troisième élément de capteur et on détermine un second angle relatif par rapport à la ligne de référence à partir de la fonction arc tangente des deux ten- sions, que l'on compare au premier angle relatif et en cas de déviation de l'angle relatif supérieure à une valeur maximale, on signale qu'il y a un défaut dans un élément de capteur. Selon un développement du procédé, on mesure la tension du second élément de capteur et celle du quatrième élément de capteur et on détermine un troisième angle relatif par rapport à la ligne de référence à partir de la fonction arc tangente des deux tensions que l'on compare au premier ou au second angle relatif, et en cas de déviation de l'angle relatif, supérieure à une valeur maximale, on signale qu'il y a un défaut dans l'un des éléments de capteur. According to a development of the method, a voltage is measured by the first sensor element and a voltage on the third sensor element and a second relative angle with respect to the reference line is determined from the tangent arc function of the two sensors. When compared to the first relative angle and when the relative angle deviates above a maximum value, it is reported that there is a defect in a sensor element. According to a development of the method, the voltage of the second sensor element and that of the fourth sensor element is measured, and a third relative angle with respect to the reference line is determined from the tangent arc function of the two voltages that are compares to the first or second relative angle, and in case of deviation of the relative angle, greater than a maximum value, it is reported that there is a defect in one of the sensor elements.

Selon un développement du procédé, dans le cas d'un élément de capteur défectueux, on transmet le second angle relatif et/ou le premier angle relatif à l'étage de sortie. Les problèmes évoqués ci-dessus sont également résolus par un circuit de détermination des éléments de capteur défectueux d'un dispositif de capteur, circuit du type défini ci-dessus caractérisé en ce qu'en cas de déviation des tensions dans un groupe supérieure à une déviation maximale, on signale un défaut de l'un des éléments de capteur. Selon un développement le circuit comprend des moyens de mesure d'une tension du premier groupe et d'une tension du deuxième groupe ainsi que des moyens pour déterminer un premier angle relatif à partir de la fonction arc tangente des deux tensions. Selon un développement de l'invention, le circuit comprend des moyens pour mesurer une tension sur le premier élément de capteur et une tension sur le troisième élément de capteur ainsi que des moyens pour déterminer un second angle relatif à partir de la fonction arc tangente des deux tensions. Selon un développement le circuit comporte des moyens pour mesurer une tension sur le second élément de capteur et une ten- Sion sur le quatrième élément de capteur ainsi que des moyens pour déterminer un troisième angle relatif à partir de la fonction arc tangente des deux tensions. Selon un développement, le circuit selon l'invention comprend des moyens pour comparer les angles relatifs. According to a development of the method, in the case of a defective sensor element, the second relative angle and / or the first relative angle is transmitted to the output stage. The problems mentioned above are also solved by a circuit for determining the defective sensor elements of a sensor device, circuit of the type defined above characterized in that in case of deviation of the voltages in a group greater than one maximum deviation, a fault of one of the sensor elements is signaled. According to a development, the circuit comprises means for measuring a voltage of the first group and a voltage of the second group as well as means for determining a first relative angle from the tangent arc function of the two voltages. According to a development of the invention, the circuit comprises means for measuring a voltage on the first sensor element and a voltage on the third sensor element as well as means for determining a second relative angle from the tangent arc function of the sensors. two tensions. According to one development, the circuit comprises means for measuring a voltage on the second sensor element and a voltage on the fourth sensor element as well as means for determining a third relative angle from the tangent arc function of the two voltages. According to a development, the circuit according to the invention comprises means for comparing the relative angles.

Dessins La présente invention sera décrite ci-après à l'aide d'un exemple de réalisation représenté dans les dessins annexés dans les-quels : - la figure 1 montre un premier exemple de réalisation d'un schéma avec un dispositif de capteur ; - la figure 2 montre un second exemple de réalisation d'un schéma avec un dispositif de capteur. Description de modes de réalisation de l'invention La figure 1 montre un schéma d'un dispositif de capteur comprenant quatre capteur pour la détection de la direction d'un champ magnétique. Les quatre capteur ou éléments de capteur S1, S2, S3, S4 sont disposés pour se situer par paires comme des groupes de deux sur une ligne et les groupes sont installés suivant un angle de 90 l'un par rapport à l'autre. Les capteur S1 et S2 ont la même orientation sur la ligne 1 ; les éléments de capteur S3, S4 sont disposés de façon correspondante sur une ligne 2. Les lignes 1 et 2 font entre elles un angle de 90 . Il est évident que la disposition sur une ligne ainsi que l'angle de 90 sont entachés des tolérances de fabrication habituelles. Les éléments de capteur peuvent être des éléments Hall c'est-à-dire d'éléments Hall dits horizontaux sensibles à la composante d'un champ magnétique perpendiculaire à la surface de la plaquette de l'élément. On peut également envisager d'autres capteur fournissant un signal dépendant de l'intensité de la direction d'un champ magnétique. Les sorties respectives des éléments de capteur S1 - S4 sont reliées aux entrées d'un circuit amplificateur 4. A chaque fois une entrée d'un élément de capteur S1 - S4 est reliée à un noeud 3 mis à la masse. Les deux autres sorties des éléments de capteur S1, S2 sont reliées chacune à une entrée d'un additionneur. A la figure 1, l'additionneur est désigné de façon analogue à la tension appliquée aux deux entrées à savoir E12 pour l'additionneur qui mesure la tension U12 entre les deux éléments de capteur S1, S2. A la sortie de l'additionneur E12 on a la tension U12. Les deux sorties des éléments de capteur S3, S4 sont appliquées à un additionneur E34 qui fournit la tension de sortie U34. En plus les différentes sorties des éléments de capteur S1 - S4 sont reliées à une entrée d'un additionneur El - E4 ; l'autre entrée est reliée chaque fois à la masse E si bien qu'à la sortie de ces additionneurs on a chaque fois les tension U1, U2, U3, U4. Les tensions U 1, U2, U3, U4, U12, U34 appliquées aux sorties des additionneurs El, E2, E3, E4, E12, E34 représentent chacune la tension appliquées aux éléments de capteur. Les tensions U1 - U4 représentent chaque fois celles des éléments de capteur S1 - S4 par rapport à la masse ; les tensions U12, U34 représentent les tensions du groupe respectif G1 formé des éléments de capteur S1, S2, ou G2 formé des éléments de capteur S3, S4. 15 Les tensions appliquées au circuit amplificateur 4 sont multiplexées par un multiplexeur et un comparateur 5 les compare entre elles. Les tensions U1, U2 ainsi que U3 et U4 sont comparées quant à leur identité pour être vérifiées de manière générale pour déterminer l'influence des tolérances. Suivant le montage, les tensions 20 s'additionnent ou se compensent. Comme le signal de sortie de chaque élément de capteur dépend selon une fonction sinusoïdale de l'angle de l'induction, par rotation du champ magnétique on a : un signal sinusoïdal : U1 (a')=U2 (a") = 1/2*U12 (a)=K* sin (a) 25 et un signal en cosinus : U3 (a') = U4 (a") = 1/2 * U34 (a) = k * cos (a) Ces relations non équivoques permettent de trouver l'élément de capteur défectueux. Le multiplexeur 5 est relié à une unité d'exploitation 6. Celle-ci calcule comme présenté ci-après, la fonction 30 arc tangente à partir des différentes combinaisons de tension. L'unité d'exploitation 6 est elle-même à un démultiplexeur/ comparateur 7 relié à deux étages de sortie 8a, 8b ; ces étages de sortie transmettent les signaux de sortie à un appareil de commande non représenté. Les sorties des étages de puissance 8a, 8b sont transmis au démultiplexeur/ corn- 35 parateur 7 pour leur contrôle de plausibilité. Drawings The present invention will be described hereinafter with the aid of an exemplary embodiment shown in the accompanying drawings in which: - Figure 1 shows a first embodiment of a diagram with a sensor device; - Figure 2 shows a second embodiment of a diagram with a sensor device. DESCRIPTION OF EMBODIMENTS OF THE INVENTION FIG. 1 shows a diagram of a sensor device comprising four sensors for detecting the direction of a magnetic field. The four sensor or sensor elements S1, S2, S3, S4 are arranged to lie in pairs as groups of two on one line and the groups are installed at an angle of 90 to each other. The sensors S1 and S2 have the same orientation on the line 1; the sensor elements S3, S4 are arranged correspondingly on a line 2. The lines 1 and 2 are at an angle of 90 between them. It is obvious that the layout on a line and the angle of 90 are tainted with the usual manufacturing tolerances. The sensor elements may be Hall elements, ie so-called horizontal Hall elements sensitive to the component of a magnetic field perpendicular to the surface of the wafer of the element. Other sensors providing a signal depending on the intensity of the direction of a magnetic field can also be envisaged. The respective outputs of the sensor elements S1 - S4 are connected to the inputs of an amplifier circuit 4. Each time an input of a sensor element S1 - S4 is connected to a grounded node 3. The other two outputs of the sensor elements S1, S2 are each connected to an input of an adder. In FIG. 1, the adder is designated analogously to the voltage applied to the two inputs, namely E12 for the adder, which measures the voltage U12 between the two sensor elements S1, S2. At the output of the adder E12 there is the voltage U12. The two outputs of the sensor elements S3, S4 are applied to an adder E34 which supplies the output voltage U34. In addition the different outputs of the sensor elements S1 - S4 are connected to an input of an adder E1 - E4; the other input is connected each time to the ground E so that at the output of these adders there is each time the voltage U1, U2, U3, U4. The voltages U 1, U 2, U 3, U 4, U 12, U 34 applied to the outputs of the adders E1, E2, E3, E4, E12, E34 each represent the voltage applied to the sensor elements. The voltages U1 - U4 represent in each case those of the sensor elements S1 - S4 with respect to ground; the voltages U12, U34 represent the voltages of the respective group G1 formed of the sensor elements S1, S2, or G2 formed by the sensor elements S3, S4. The voltages applied to the amplifier circuit 4 are multiplexed by a multiplexer and a comparator 5 compares them with each other. The voltages U1, U2 as well as U3 and U4 are compared as to their identity to be checked in a general manner to determine the influence of the tolerances. According to the assembly, the voltages 20 add up or cancel each other out. Since the output signal of each sensor element depends on a sinusoidal function of the angle of induction, by rotation of the magnetic field we have: a sinusoidal signal: U1 (a ') = U2 (a ") = 1 / 2 * U12 (a) = K * sin (a) 25 and a cosine signal: U3 (a ') = U4 (a ") = 1/2 * U34 (a) = k * cos (a) These relations not equivocal make it possible to find the defective sensor element. The multiplexer 5 is connected to an operating unit 6. This calculates as shown below, the arc function tangent from the different voltage combinations. The operating unit 6 is itself a demultiplexer / comparator 7 connected to two output stages 8a, 8b; these output stages transmit the output signals to a control device, not shown. The outputs of the power stages 8a, 8b are transmitted to the demultiplexer / controller 7 for their plausibility check.

L'angle d'induction a c'est-à-dire l'angle du champ magnétique en général rotatif, par rapport à une ligne de référence choisie arbitrairement c'est-à-dire l'angle a représenté à la figure 1 résulte de manière simple de la fonction arc tangente des tensions des éléments de capteur perpendiculaires les uns aux autres. On peut ainsi déterminer un angle : a' = arc tang (U1/U3) ainsi qu'un autre angle : a" = arc tang (U2/U4). The angle of induction, that is to say the angle of the generally rotating magnetic field, with respect to a reference line chosen arbitrarily, that is to say the angle represented in FIG. in a simple way the tangent arc function of the voltages of the sensor elements perpendicular to each other. We can thus determine an angle: a '= arc tang (U1 / U3) and another angle: a "= arc tang (U2 / U4).

Le contrôle de l'identité peut concerner les signaux après les amplificateurs d'entrée El - E4 et E12 - E34 ou les tensions U 1 - U4 et U12 - U34 ; cette comparaison peut se faire par exemple avec le multiplexeur et le comparateur 5. De même le contrôle peut également concerne les résultats des exploitations des fonctions arc tangente des groupes de deux comme angle a et aussi en fonction des résultats de l'exploitation des différents éléments tels que les angles a' et a". La figure 2 montre une variante de réalisation de l'invention. Dans cette variante, il n'y a pas de noeud 3. De plus à la différence de l'exemple de réalisation de la figure 1, les différents élé- ments de capteur S1, S2, S3, S4 ne sont plus mesurés par rapport à la masse mais on mesure chaque fois les tensions d'un élément de capteur ici les tensions U2 et U4, par mesure directe ; en plus on mesure les tensions respectives entre les éléments de capteur branchés en série ici U12 - 0 et U34 - 0, tensions prises par rapport à la masse. La référence des entrées se fait comme dans l'exemple de la figure 1 par exemple on aura E12 - 0 qui correspond à la tension U12 - 0 qui n'est pas représentée à la figure 2. En cas de défaut, on peut commuter le signal de sortie de l'angle a sur les deux signaux a' et a". Ainsi l'appareil de commande principal peut savoir s'il est possible d'utiliser un fonctionnement de remplacement ou s'il faut considérer que l'ensemble du capteur est dé-faillant. De même la poursuite du fonctionnement par un fonctionne-ment de secours peut être envisagé si les éléments de capteur défectueux sont décelés de sorte que seulement le signal des éléments de capteur non défectueux S1 - S4 et ainsi les signaux a' ou a" sont transmis à l'appareil de commande. Il est en outre possible de diviser les quatre éléments de capteur et d'utiliser au même emplacement 8, 12 ou 16 éléments de capteur. Cela augmente la redondance des éléments de mesure avec une résolution plus poussée et des moyens réduits. 15 The identity check may concern the signals after the El - E4 and E12 - E34 input amplifiers or the U1 - U4 and U12 - U34 voltages; this comparison can be done for example with the multiplexer and the comparator 5. Similarly, the control can also concern the results of the operations of the tangent arc functions of the groups of two as angle α and also according to the results of the operation of the different elements such as the angles a 'and a "." Figure 2 shows an alternative embodiment of the invention In this variant, there is no node 3. In addition, unlike the embodiment of the invention, FIG. FIG. 1 shows that the different sensor elements S1, S2, S3, S4 are no longer measured with respect to ground, but the voltages of a sensor element are measured here by the direct measurement of the voltages U2 and U4; in addition, the respective voltages are measured between the sensor elements connected in series here U12 - 0 and U34 - 0, voltages taken with respect to the ground The reference of the inputs is as in the example of FIG. will have E12 - 0 which co corresponds to the voltage U12 - 0 which is not shown in FIG. 2. In the event of a fault, the output signal of the angle a can be switched on both signals a 'and a ". Thus the main control unit can know if it is possible to use a replacement operation or if it is necessary to consider that the entire sensor is defective. Similarly, continued operation by a backup operation can be envisaged if the defective sensor elements are detected so that only the signal of the non-faulty sensor elements S1 - S4 and thus the signals a 'or a "are transmitted. It is also possible to divide the four sensor elements and to use 8, 12 or 16 sensor elements at the same location, which increases the redundancy of the measuring elements with higher resolution and reduced means 15

Claims

1) Method for determining defective sensor elements of a sensor device for measuring the direction of a magnetic field comprising at least a first sensor element (S 1), a second sensor element (S 2 ), a third sensor element (S3) and a fourth sensor element (S4), the first and second sensor elements (S1, S2) being connected in series as the first group (G1), the third and the fourth sensor elements (S3, S4) being connected in series as a second group (G2), the sensor elements of a group (G1, G2) being arranged substantially each on a line (2, 3) and the groups (G1 , G2) being at right angles, and the sensor elements (S1, S2, S3, S4) measuring voltages (U1, U2, U3, U4), characterized in that in case of voltage deviation (U1, U2 , U3, U4) of a group (G1, G2) greater than a maximum deviation (AU_max), there is emission of a defect of one of the elements sensor (S1, S2, S3, S4).

2) Method according to claim 1, characterized in that a voltage (U12) of a first group and a voltage (U34) of a second group are measured and a first relative angle (a) of the magnetic field is determined by relative to the reference line (2) from the tangent arc relation of the two voltages (a = arctan (U12 / U34)).

3) Method according to claim 1, characterized in that the voltage (U 1) of the first sensor element (S 1) and the voltage (U3) of the third sensor element (S3) are measured and a voltage is determined. relative angle (a ') relative to the reference line (2) from the tangent arc function of the two voltages (a' = arctan (U1 / U3)) which is compared with the first relative angle (a ), and in case of deviation between the relative angle (a ', a) greater than a maximum value, a defect of a sensor element is reported.354) Method according to claim 1, characterized in that a voltage (U2) on the second sensor element (S2) and a voltage (U4) on the fourth sensor element (S4) and a third relative angle (a ") is determined with respect to the reference line (2). ) from the tangent arc function of the two voltages (a "= arctan (U2 / UU4)) that we compare with the first or second relative angle (a, a '), and in case of deviation the relative angle (a ", a ', a) greater than a maximum value (Acc_max) indicates a defect of a sensor element. 5) The method according to claim 1, characterized in that in case of defective sensor element the second relative angle (a ") and / or the first relative angle (a ') is transmitted to an output stage. A circuit for determining defective sensor elements of a sensor device for measuring the direction of a magnetic field using at least a first sensor element (S 1), a second sensor element sensor (S2), a third sensor element (S3) and a fourth sensor element (S4), the first and second sensor elements (S1, S2) being connected in series as the first group (G 1 ) and the third and fourth sensor elements (S3, S4) being connected in series as a second group (G2), the sensor elements of a group being placed substantially each time on a line and the groups being arranged the square, and the circuit comprising means for measuring voltages (U1, U2, U3, U4) of the elements Sensor ents (S1, S2, S3, S4), characterized in that in case of deviation of voltages (U1, U2, U3, U4) in a group (G1, G2) greater than a maximum deviation (AU_max ), a defect of one of the sensor elements (Si, S2, S3, S4) is signaled. 7) Circuit according to claim 6, characterized by means for measuring a voltage (U12) of the first group and a voltage (U34) of the second group and means for determining a first relative angle (a) of the magnetic field with respect to a reference line (2) from the tangent arc function of the two stresses (a = arctan (U12 / U34.8) Circuit according to claim 6, characterized by means for measuring a voltage (U 1) on the first sensor element (S 1) and a voltage (U3) on the third sensor element (S3), and means for determining a second relative angle (a ') of the magnetic field with respect to the reference (2) from the tangent arc voltage of the two voltages (a "= arctan (U1 / U3)) 9) Circuit according to claim 6, characterized by means for measuring a voltage (U2) of the second element sensor (S2) and a voltage (U4) of the fourth sensor element (S4) and means to determine a third relative angle (a ") of the magnetic field with respect to a reference line (2) from the tangent arc function of the two voltages (a" = arctan (U2 / U4)). 10) Circuit according to claim 6, characterized by means for comparing the relative angles (a ", a ', a).