FR2805940A1 - System for correcting digital-analogue converter for delta-signals modulator, for high resolution conversion - Google Patents
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Abstract
Description
La présente invention concerne la modulation
plus précisément la prise en compte et la correction d'imperfections d'un convertisseur interne N/A, modulateur
Les modulateurs
réalisent une conversion analogique-numérique ou numérique-analogique avec un grand nombre de bits de résolution au moyen de convertisseurs internes Analogique /Numérique (CAN) ou Numérique/Analogique (CNA) de faible résolution, typiquement de<B>1 à</B> 4 bits. The present invention relates to modulation
more precisely the taking into account and the correction of imperfections of an internal converter D / A, modulator
Modulators
perform analog-to-digital or digital-to-analog conversion with a large number of resolution bits by means of low-resolution Analog / Digital (CAN) or Digital / Analog (DAC) internal converters, typically <B> 1 to </ B > 4 bits.
Ceci est rendu possible notamment grâce<B>à</B> un suréchantillonnage du signal analogique et<B>à</B> une mise en forme de bruit de quantification. This is made possible by, for example, oversampling the analog signal and quantizing noise shaping.
Les modulateurs
comprennent généralement, par exemple sur une branche de contre-réaction, un CNA qui est généralement<B> 1</B> bit<B> .</B> Modulators
typically include, for example on a feedback branch, a DAC that is typically <B> 1 </ B> bit <B>. </ B>
Un tel CNA <B> 1</B> bit<B> </B> ne possède que 2 niveaux en sortie (+Vréf et -Vréf) pouvant être reliés par une droite (il est intrinsèquement linéaire). Such a CNA <B> 1 </ B> bit <B> </ B> has only 2 output levels (+ Vref and -Vref) that can be connected by a straight line (it is intrinsically linear).
<B>A</B> chaque comparaison du signal<B>à</B> son entrée avec une tension de référence Vref, ce CNA quantificateur associe au niveau d'entrée une tension +Vref ou une tension -Vref. <B> A </ B> each comparison of the signal <B> to </ B> its input with a reference voltage Vref, this quantizer CNA associates at the input level a voltage + Vref or a voltage -Vref.
On a proposé de remplacer le CNA <B>1</B> bit<B> </B> par un CNA multibit, mais les modulateurs
multibit s'avèrent limités en performance par manque de précision du CNA interne. En effet, au-delà de<B>1</B> bit, la disparité entre les niveaux de sortie va se traduire par une non- linéarité du CNA, c'est-à-dire par des défauts de proportionnalité entre lentrée et la sortie du CNA, limitant ainsi les performances du CNA. Cette disparité est due<B>à</B> limprécision sur les composants unitaires utilises, par exemple sur les valeurs des différentes capacités dans le cas d'un modulateur
<B>à</B> capacités commutees intégré sur silicium. It has been proposed to replace the DAC <B> 1 </ B> bit <B></B> with a multibit DAC, but modulators
multibit are limited in performance due to the lack of precision of the internal CNA. Beyond <B> 1 </ B> bit, the disparity between the output levels will result in a non-linearity of the DAC, that is to say by the proportionality defects between the input and output. the NAC exit, limiting the NAC's performance. This disparity is due to the precision of the unitary components used, for example the values of the different capacities in the case of a modulator.
<B> to </ B> switched capabilities integrated on silicon.
Par exemple, si l'on désire obtenir convertisseur anal ogi que-numé r ique de<B>16</B> bits avec modulateur AY- multibit, cela signifie que la linéarité de son CNA interne devra être d'au moins<B>16</B> bits. For example, if you want to obtain a <16> </ b> bit-digital analog converter with AY-multibit modulator, it means that the linearity of its internal DAC must be at least <B > 16 </ B> bits.
Atteindre des performances acceptables pour un CNA multibit suppose des techniques de réalisation complexes et coûteuses (ajustage au laser, appariement des composants) ce qui détruit l'intérêt de la modulation
qui est initialement d'obtenir des performances élevées avec des composants peu complexes, notamment afin de pouvoir être facilement intégrés sur silicium. Achieving acceptable performance for a multibit DAC requires complex and costly realization techniques (laser tuning, component matching) which destroys the interest of modulation
which is initially to obtain high performance with low complexity components, especially in order to be easily integrated on silicon.
On a proposé des systèmes et des algorithmes de correction des imperfections des composants des convertisseurs N/A, ainsi que des systèmes d'auto- calibration de ces composants. Ils n'ont toutefois permis d'obtenir que des systèmes limités en vitesse fonctionnement et en résolution. Systems and algorithms for correcting component imperfections of the D / A converters, as well as auto-calibration systems for these components, have been proposed. However, they only allowed systems limited in speed and resolution.
Ainsi, dans le document<B>[1],</B> on a proposé convertisseur numérique /analogique<B>à</B> plusieurs sources de courant fournissant chacune ou bien une intensité constante de valeur précisément fixée, ou bien intensité nulle la valeur numérique d'entrée déterminant le nombre de sources activées. Thus, in the document <B> [1], </ B>, a number of current sources, each providing a constant intensity of precisely fixed value, or intensity, has been proposed as a digital-to-analog converter. null the input numerical value determining the number of activated sources.
Ce document propose d'adopter une source supplémentaire en plus du nombre de sources nécessaires <B>à</B> la conversion. This document proposes to adopt an additional source in addition to the number of sources needed to convert.
Ainsi, sources sont chacune successivement extraites du processus de conversion pour être étalonnées sur valeur d'intensité préfixée. Il<B>y</B> a donc en permanence un nombre de sources suffisant en activité, et une source en cours d'étalonnage. Thus, sources are each successively extracted from the conversion process to be calibrated on a prefixed intensity value. Thus, there is always a sufficient number of sources in activity, and a source being calibrated.
Le procédé décrit dans ce document présente l'inconvénient d'avoir une durée nécessaire<B>à</B> la calibration qui dépend de la technologie. Du fait de l'utilisation de composants unitaire limitée aux sources de courant, la consommation et la surface d'intégation sur silicium restent relativement élevées. The method described in this document has the drawback of having a necessary duration <B> at </ B> the calibration which depends on the technology. Due to the use of unitary components limited to the current sources, the consumption and the integration surface on silicon remain relatively high.
Dans cas d'un convertisseur numérique/analogique interne de modulateur
on a proposé dans le document [2] un procédé de correction des erreurs sur paramètres de conversion consistant <B>à</B> appliquer des vecteurs de correction dans le domaine numérique. In the case of an internal modulator digital-to-analog converter
it has been proposed in document [2] a method for correcting conversion parameter errors consisting in applying correction vectors in the digital domain.
Selon ce procédé, on mesure les défauts liés aux inexactitudes sur les éléments du convertisseur numérique /analogique, lors d'une phase de calibrage nécessitant l'arrêt du convertisseur. According to this method, defects related to inaccuracies on the elements of the digital / analog converter are measured during a calibration phase requiring the converter to stop.
Les erreurs sont mesurées pour chacune des combinaisons d'états de chargement des capacités, soit pour<B>16</B> combinaisons possibles. On applique ensuite le vecteur d'erreur ainsi déterminé, dans le domaine numérique. <B>D</B> u fait qu' il nécessite un arrêt de la conversion pour la détermination du vecteur<B>d'</B> erreur, ce procédé est difficilement adaptable dans convertisseurs devant fonctionner en continu. Du fait qu'il ne fournit pas une adaptation continue du vecteur d'erreur, il est particulièrement sensible modifications des valeurs des paramètres en cours conversion que l'on rencontre dans ce type convertisseurs<B>.</B> The errors are measured for each of the combinations of load states of the capacities, ie for <B> 16 </ B> possible combinations. The error vector thus determined is then applied in the digital domain. <B> D </ B> Since it requires a stop of the conversion for the determination of the <B> vector of </ B> error, this process is difficult to adapt in converters to operate continuously. Because it does not provide a continuous adaptation of the error vector, it is particularly sensitive changes in the values of the current conversion parameters that are encountered in this type of <B> converters. </ B>
LI' invention vise<B>à</B> proposer un modulateur ou A/N multibit, apte<B>à</B> prendre en compte en cours conversion des erreurs de paramètre fonctionnement des composants unitaires convertisseur numérique-analogique interne, et<B>à</B> corriger automatiquement ces erreurs. The object of the invention is to propose a modulator or A / D multibit, adapted to take into account during conversion the operating parameter errors of the internal digital-to-analog converter unit components. and <B> to </ B> automatically correct these errors.
Ce but est atteint selon l'invention grâce<B>à</B> convertisseur
comprenant des moyens pour mesurer erreur due<B>à</B> des écarts de paramètres de fonctionnement de composants unitaires de son convertisseur interne et des moyens pour appliquer une correction de erreur ainsi mesurée sur un signal numérique caractérisé en ce que le convertisseur interne comprend nombre de composants unitaires supérieur<B>à</B> celui nécessaire<B>à</B> la conversion interne, et que les moyens mesure sont aptes<B>à</B> extraire alternativement processus de conversion interne un composant<B>à</B> chaque fois différent parmi les différents composants unitaires, tout en laissant actifs un nombre composants suffisant<B>à</B> la conversion interne, afin mesurer l'erreur de paramètre de fonctionnement de composant extrait. D'autres caractéristiques, buts et avantages de l'invention apparaîtront<B>à</B> la lecture de description detaillée qui va suivre, faite en référence aux figures annexées sur lesquelles<B>:</B> <B>-</B> la figure<B>1</B> représente assemblage modulateur A/N de l'état de la technique <B>-</B> la figure 2 représente de manière schématique une série de composants de quantification montés en parallèle<B>;</B> <B>-</B> la figure<B>3</B> représente une caractéristique de convertisseur numérique/analogique interne<B>à</B> N+l niveaux de sortie<B>;</B> <B>-</B> la figure 4 représente un montage d'une capacité unitaire pour la conversion N/A, selon invention<B>;</B> <B>-</B> la figure<B>5</B> représente un modulateur
A/N selon l'invention<B>;</B> Le modulateur
de la figure<B>5</B> compose <B>-</B> d'une branche principale Bl qui porte de façon classique un filtre analogique<B>10 -</B> suivi d'un convertisseur A/N 20, et<B>;</B> <B>-</B> d'une branche de contre-réaction B2 qui porte un CNA La branche de contre-réaction B2 relie la sortie<B>30</B> la branche principale Bl <B>à</B> l'entrée 40 de cette même branche principale, où les deux branches Bl et B2 se oignent par un sommateur 42. This object is achieved according to the invention by <B> to </ B> converter
comprising means for measuring error due to <B> to </ B> of operating parameter deviations of unitary components of its internal converter and means for applying an error correction thus measured to a digital signal characterized in that the internal converter number of unit components greater than <B> to </ B> that required <B> to </ B> the internal conversion, and that the measuring means are able <B> to </ B> alternatively extract internal conversion process a component <B> to </ B> each time different among the different unit components, while leaving a sufficient number of components active <B> to the internal conversion, so measure the extracted component operating parameter error . Other features, objects and advantages of the invention will become apparent from the following detailed description of the description given with reference to the appended figures, in which <B>: </ B><B> - </ B> Figure <B> 1 </ B> represents a prior art A / D modulator assembly <B> - </ B> - Figure 2 schematically represents a series of quantization components mounted in a state of the art. parallel <B>;</B><B> - </ B> Figure <B> 3 </ B> represents an internal D / A converter feature at </ B> N + 1 output levels <B>;</B><B> - </ B> Figure 4 shows an assembly of a unitary capacity for D / A conversion, according to the invention; B> Figure <B> 5 </ B> represents a modulator
A / N according to the invention <B>;</B> The modulator
of the <B> 5 </ B> composes <B> - </ B> of a main branch B1 which conventionally carries an analog filter <B> 10 - </ B> followed by a converter A / N 20, and <B>;<B> - </ B> of a B2 feedback branch that carries a DAC The feedback branch B2 connects the output <B> 30 </ B > the main branch B1 <B> at the entrance 40 of this same main branch, where the two branches B1 and B2 are anointed by an adder 42.
Le CNA <B>50</B> est ici un CNA multibit <B>à</B> capacités commutées intégrées sur silicium. The CNA <B> 50 </ B> is here a multibit CNB <B> with switched capabilities integrated on silicon.
Le modulateur présente en outre une unité de correction<B>60</B> reliée au CNA <B>50</B> par une liaison<B>61</B> pour prélever sur celui-ci une mesure d'écarts de paramètres de chaque élément de quantification de ce CNA <B>50.</B> The modulator also has a <B> 60 </ B> correction unit connected to the DAC <B> 50 </ B> with a <B> 61 </ B> link to take a measure of deviations from the DAC <B> 50 </ B>. of each quantization element of this DAC <B> 50. </ B>
L'unité de correction<B>60</B> présente également une liaison de commande représentée par une double flèche <B>62</B> par laquelle elle commande une commutation des différentes capacités du CNA <B>50</B> en vue de les extraire l'une après l'autre du processus de conversion. The correction unit <B> 60 </ B> also has a control link represented by a double arrow <B> 62 </ B> by which it commands a switching of the different capacities of the NAC <B> 50 </ B > in order to extract them one after another from the conversion process.
Pour cela, les capacités du CNA <B>50</B> sont montées conformément<B>à</B> la figure 4, chacune entre deux commutateurs aptes chacun<B>à</B> relier la capacité ou bien au reste du CNA, ou bien<B>à</B> la liaison de mesure<B>61</B> par laquelle l'unité<B>60</B> mesure alors la valeur de cette capacité. For this purpose, the CNA <B> 50 </ B> capabilities are mounted according to <B> in Figure 4, each between two switches each capable of connecting the capacity or the remainder of the DAC, or <B> to </ B> the measurement link <B> 61 </ B> by which the <B> 60 </ B> unit then measures the value of that capacity.
Le convertisseur interne est préférentiellement composé d'éléments unitaires, c'est-à-dire d'éléments de quantification ayant même valeur. Par exemple, un CNA avec<B>9</B> niveaux de sortie sera composé de<B>N=8</B> capacités unitaires afin de former les codes<B>0, 1,</B> <B>8,</B> conformément aux figures<B>7</B> et<B>8.</B> The internal converter is preferably composed of unitary elements, that is to say quantization elements having the same value. For example, a DAC with <B> 9 </ B> output levels will consist of <B> N = 8 </ B> unitary capabilities to form the <B> 0, 1, <B> <B > 8, </ B> according to figures <B> 7 </ B> and <B> 8. </ B>
En cours de conversion, on extrait constamment une capacité du processus de conversion. During conversion, a capacity is constantly extracted from the conversion process.
L'unité<B>60</B> déduit<B>à</B> partir de la mesure de cette capacité un éventuel écart de la valeur la capacité par rapport<B>à</B> la valeur attendue, et<B>à</B> jour un vecteur d'erreur<B>à</B> partir duquel elle génère un vecteur correction qui sera appliqué au modulateur
dans domaine numérique. The unit <B> 60 </ B> deduces <B> from </ B> from the measure of this capacity any deviation from the value the capacity relative <B> to </ B> the expected value, and <B> to </ B> day an error vector <B> to </ B> from which it generates a correction vector that will be applied to the modulator
in digital domain.
correction s'effectue alors en réinjectant le vecteur de correction en sortie du modulateur
A/N. Afin d'effectuer les opérations de mesure des capacités sans perturber le fonctionnement du modulateur
CNA <B>50</B> comporte un élément unitaire (capacité) supplementaire afin que celui extrait puisse être remplacé celui précédemment extrait. correction is then carried out by re-injecting the correction vector at the output of the modulator
YEAR. To perform capacity measurement operations without disrupting modulator operation
DAC <B> 50 </ B> has an additional unit (capacity) element so that the extracted one can be replaced with the previously extracted one.
Ainsi, présent CNA ayant<B>9</B> niveaux de sortie, alors qu'il devrait comporter comme<B>à</B> l'habitude<B>8</B> capacités, il comporte ici<B>8 + 1</B> <B>9</B> capacités unitaires. So, this DAC has <B> 9 </ B> output levels, so it should have the usual <B> 8> <B> 8 </ B> capabilities, so it has <B > 8 + 1 </ B> <B> 9 </ B> Unit capacities.
Comme mentionné précédemment, le remplacement d'une capacité unitaire par une autre est effectué au moyen d'une gestion appropriée des interrupteurs commutant les capacités, sous la commande de l'unité <B>60.</B> Au bilan, le fonctionnement du modulateur
n'est pas perturbé grâce<B>à</B> l'utilisation d'un élément unitaire supplémentaire par rapport<B>à</B> un nombre<B>N</B> d'éléments unitaires nécessaires<B>à</B> la conversion. As previously mentioned, the replacement of one unit capacity by another is done by means of appropriate management of switches switching capabilities, under the control of unit <B> 60. </ B> In the balance sheet, the operation the modulator
is not disrupted by using <B> to </ B> the use of an additional unit element over <B> to </ B> a <B> N </ B> number of required unit elements <B > to </ B> the conversion.
Un élément unitaire parmi les N+1 pourra se substituer<B>à</B> celui en cours de calibration de manière<B>à</B> ce que le CNA voit toujours les<B>N</B> éléments unitaires nécessaires. A unit element among the N + 1s may be substituted for the one being calibrated so that the NAC always sees the elements N B <B> N </ B>. unitary requirements.
Ainsi, pour chaque capacité extraite, l'unité <B>60</B> mesure la valeur de la capacité et calcule<B>à</B> partir de lécart de cette capacité par rapport<B>à</B> la valeur idéale qui en attendue, la correction<B>à</B> apporter au signal numérique de sortie du modulateur
A/N. So, for each extracted capacity, unit <B> 60 </ B> measures the value of the capacity and calculates <B> to </ B> from the distance of that capacity from <B> to </ B> the ideal value that expects it, the correction <B> to </ B> bring to the digital output signal of the modulator
YEAR.
Plus precisément, l'unité<B>60</B> détermine<B>à</B> partir de chaque nouvelle mesure de capacité une série de valeurs des erreurs actualisées sous forme d'un vecteur, et le sommateur <B>70</B> ajoute aux valeurs de sortie VCAN du modulateur
une combinaison de ces différentes valeurs du vecteur d'erreur. More precisely, the <B> 60 </ B> unit determines from <B> to </ B> from each new capacity measure a series of values of the updated errors in the form of a vector, and the summator <B> 70 </ B> adds to the VCAN output values of the modulator
a combination of these different values of the error vector.
Le sommateur <B>70</B> est pour cela un sommateur adapté<B>à</B> ajouter aux données de sortie VCAN une valeur de correction qui correspond spécifiquement<B>à</B> l'amplitude de la valeur de sortie instantanée VCAN du CAN <B>30.</B> For this reason, the adder <B> 70 </ B> is a suitable adder <B> to add to the VCAN output data a correction value that specifically corresponds to <B> at </ B> the amplitude of the VCAN instantaneous output value of CAN <B> 30. </ B>
L'unité<B>60</B> remplit donc<B>à</B> la fois une fonction de commande de l'extraction d'une des capacités du CNA une fonction de mesure de la valeur cette capacité, et une fonction de calcul de mise 'our du vecteur correction<B>à</B> transmettre au sommateur <B>70</B> Pour la mesure de la capacité extraite et selon mode de réalisation préférentiel de l'invention, l'unité<B>60</B> comprend elle même un modulateur<B>1</B> bit d'ordre<B>1</B> analogique/numérique dont la structure générale, non représentée sur la figure<B>5,</B> est conforme <B>à</B> celle de la figure<B>1.</B> Therefore, the <B> 60 </ B> unit fills a <B> to </ B> both a command function of the extraction of one of the capabilities of the NAC a function of measuring the value this capability, and a calculation function of the correction vector <B> to </ B> transmit to the summator <B> 70 </ B> For the measurement of the extracted capacity and according to the preferred embodiment of the invention, the unit <B> 60 </ B> itself includes a modulator <B> 1 </ B> analog / digital order bit <B> 1 whose general structure, not shown in Figure <B> 5 , </ B> is <B> consistent with <B> 1. </ B>
Le système proposé extrait donc valeur exacte de chaque élément unitaire (capacité) en l'incluant dans un modulateur
<B>1</B> bit d'ordre<B>1.</B> The proposed system thus extracts exact value of each unit element (capacity) by including it in a modulator
<B> 1 </ B> order bit <B> 1. </ B>
La capacité unitaire mesurée joue le rôle de capacité d'échantillonnage du modulateur
<B>1</B> bit d'ordre<B>1,</B> ce modulat eur
<B>1</B> bit<B>d'</B> ordre<B>1</B> étant soumis<B>à</B> un signal d'entrée qui est égal<B>à</B> la tension référence de ce modulateur
<B>1</B> bit d'ordre<B>1.</B> The measured unit capacity acts as the modulator's sampling capacity
<B> 1 </ B> order bit <B> 1, </ B> this modulator
<B> 1 </ B> bit <B> of <B> 1 </ B> being submitted <B> to </ B> an input signal that is equal <B> to < / B> the reference voltage of this modulator
<B> 1 </ B> order bit <B> 1. </ B>
Ce modulateur supplémentaire est préférentiellement suivi d'un moyenneur composé, comme exposé dans le document [2], de deux compteurs n bits, dont le rôle est de calculer une moyenne des différentes valeurs de sortie du modulateur supplémentaire. This additional modulator is preferably followed by a compound averager, as explained in document [2], of two n-bit counters whose function is to calculate an average of the different output values of the additional modulator.
Selon la valeur de la capacité mesurée, on obtient en sortie du CAN <B>1</B> bit une occurrence de valeurs + Vréf plus ou moins forte par rapport aux occurrences des valeurs Vréf, cette différence d'occurrence étant proportionnelle<B>à</B> la valeur effective de la capacité. According to the value of the measured capacitance, the output of the CAN <B> 1 </ B> bit is obtained an occurrence of values + Vref more or less strong compared to the occurrences of the values Vref, this difference of occurrence being proportional <B > to </ B> the actual value of the capacity.
Le moyenneur délivre donc une valeur proportionnelle<B>à</B> la différence entre les fréquences d'apparition des valeurs +Vref et -Vréf, c'est<B>à</B> dire proportionnelle<B>à</B> la valeur capacité effective. The averager thus delivers a value proportional <B> to </ B> the difference between the frequencies of appearance of the values + Vref and -Vref, it is <B> to </ B> to say proportional <B> to </ B> the effective capacity value.
La valeur délivrée le moyenneur est une valeur numérique, de sorte que l'ensemble<B>60</B> réalise également une fonction de conversion analogique- numérique qui permet d'écrire la valeur de chaque capacité dans une mémoire de unité<B>60.</B> The value delivered by the averager is a numeric value, so that the set <B> 60 </ B> also performs an analog-to-digital conversion function that makes it possible to write the value of each capacity in a unit memory <B > 60. </ B>
L'utilisation d'un modulateur
<B>1</B> bit d'ordre <B>1</B> pour numériser la valeur exacte de la capacité unitaire permet d'obtenir résolution élevée<B>(16</B> bits) avec une complexité réduite. Using a modulator
<B> 1 <B> 1 <B> 1 </ B> to scan the exact value of the unit capacity provides high resolution <B> (16 </ B> bits) with reduced complexity .
Pour obtenir une précision de<B>16</B> bits sur la mesure d'un élément unitaire, il faut au moins 2<B>16</B> <B>(=65536)</B> échantillons. To obtain a precision of <B> 16 </ B> bits on the measurement of a unit element, at least 2 <B> 16 </ B> <B> (= 65536) </ B> samples are required.
En considérant un modulateur
d'ordre<B>1</B> travaillant<B>à</B> 40 Mhz, cela signifie que chaque élément unitaire sera calibré en 1,64 ms. Considering a modulator
of order <B> 1 </ B> working <B> at <40 Mhz, this means that each unit element will be calibrated in 1,64 ms.
Le temps nécessaire pour auto-calibrer le CNA interne est donc suffisamment bref pour considérer le système proposé comme robuste vis-à-vis des perturbations extérieures (variations de température, vieillissement,<B>... ).</B> The time required to self-calibrate the internal CNA is therefore sufficiently brief to consider the proposed system as robust against external disturbances (temperature variations, aging, <B> ...). </ B>
En d'autres termes, le système modifie la correction effectuée avec une rapidité plus élevée que la vitesse de variation des valeurs des capacités. In other words, the system modifies the correction performed with a speed higher than the speed of variation of the values of the capacities.
Le temps de calibration est suffisamment court (quelques millisecondes) pour considérer que l'effet variations des valeurs de chaque élément unitaire (ecarts de températures, vieillissement composants,<B>... )</B> n'a pas le temps de se manifester entre deux mesures et mises<B>à</B> jour correspondantes. The calibration time is sufficiently short (a few milliseconds) to consider that the effect variations of the values of each unit element (temperature differences, aging components, <B> ...) </ B> does not have the time to manifest itself between two measurements and the corresponding <B> to </ B> days.
Le surplus de complexité apporté par l'auto calibration est rendu très faible grâce<B>à</B> l'utilisation d'un modulateur
<B>1</B> bit d'ordre<B>1.</B> The extra complexity brought by the auto calibration is made very low thanks to the use of a modulator
<B> 1 </ B> order bit <B> 1. </ B>
En mesurant la valeur exacte d'un élément unitaire par le modulateur
<B>1</B> bit d'ordre<B>1,</B> dernier peut introduire un gain de conversion souhaité. Ce gain est toutefois identique<B>à</B> chaque elément unitaire mesuré, donc il n'a que peu influence sur les performances du système proposé. By measuring the exact value of a unit element by the modulator
<B> 1 </ B> order bit <B> 1, </ B> last can introduce a desired conversion gain. This gain, however, is identical <B> to </ B> each measured unit element, so it has little influence on the performance of the proposed system.
On a ainsi pu remarquer qu'une variation de<B>3%</B> dégradera le rapport signal<B>à</B> bruit d'environ<B>1</B> dB rapport au cas idéal. It has thus been noted that a variation of <B> 3% </ B> will degrade the signal to <B> ratio at </ B> noise by approximately <B> 1 </ B> dB relative to the ideal case.
L'invention s'applique également modulateurs
destinés<B>à</B> la Conversion Numérique- Analogique. The invention also applies modulators
intended for <B> to </ B> the Digital-Analogical Conversion.
De tels modulateurs
présentent<B>là</B> encore un CNA interne, dont les éléments unitaires, (par exemple capacités ou résistances) présentent des variations non souhaitées de leurs paramètres. Un tel CNA interne est typiquement placé sur une branche principale, en sortie du modulateur
Dans un mode de réalisation préféré de l'invention, on munit le CNA d'un élément unitaire supplémentaire et on prévoit une unité semblable<B>à</B> l'unité<B>60</B> précédemment décrite, qui extrait tour<B>à</B> tour chacun des composants unitaires du CNA, mesure paramètre du composant extrait et calcule<B>à</B> partir cette mesure un vecteur d'erreur actualisé. Such modulators
present <B> there </ B> still an internal DAC, whose unitary elements, (for example capacities or resistances) present undesired variations of their parameters. Such an internal CNA is typically placed on a main branch, at the output of the modulator
In a preferred embodiment of the invention, the DAC is provided with an additional unitary element and a similar unit <B> is provided at <B> 60 </ B> previously described which extracts each turn from each of the DAC unit components, measures parameter of the extracted component and calculates from this measurement an updated error vector.
Ce vecteur d'erreur est ensuite soustrait valeurs numériques arrivant en entrée du modulateur
numérique-analogique. This error vector is then subtracted numerical values arriving at the input of the modulator
digital to analog.
L'unité de correction est donc préférentiellement placée dans une boucle de contre- réaction du modulateur
N/A. The correction unit is therefore preferably placed in a feedback loop of the modulator
N / A.
Préférentiellement, l'unité de correction inclut un modulateur<B>1</B> bit d'ordre<B>1,</B> et elle utilise l'élément unitaire extrait en tant que capacité d'échantillonage de ce modulateur<B>1</B> bit d'ordre<B>1.</B> Preferably, the correction unit includes a modulator <B> 1 <B> bit of order <B> 1, </ B> and uses the extracted unitary element as the sampling capacity of this modulator < B> 1 </ B> order bit <B> 1. </ B>
Le système permet la réalisation de convertisseurs
multibit (analogique-numérique et numérique-analogique) intégrés sur silicium de haute résolution, dont une des applications est les terminaux téléphoniques mobiles. The system allows the realization of converters
multibit (analog-digital and digital-to-analog) integrated on silicon of high resolution, one of whose applications is the mobile telephone terminals.
<B>[1] D.</B> Wouter <B>J.</B> Groeneveld et al,<B> A</B> Self Calibration Technique for Monolithic High-Resolution D/A Converters <B> ,</B> Journal of Solid-State Circuits vol.24, no <B>6,</B> pp 1517-1522, décembre<B>1989.</B> [2] Mohammad Sarhang- ad, Gabor Temes, <B> A</B> High- Resolution Multibit
with Digital Correction and Relaxed Amplifier Requirements <B> ,</B> Journal of Solid- State Circuits, vol.28, <B>6,</B> pp <B>648-660,</B> juin<B>1993.</B> <B> [1] D. </ B> Wouter <B> J. </ B> Groeneveld et al, <B> A </ B> Self Calibration Technique for High Resolution Monolithic D / A Converters <B>, </ B> Journal of Solid-State Circuits vol.24, no. <B> 6, </ B> pp. 1517-1522, December <B> 1989. <2> Mohammad Sarhangad, Gabor Temes, <B> A </ B> High-Resolution Multibit
with Digital Correction and Relaxed Amplifier Requirements, Journal of Solid State Circuits, vol.28, <b> 6, </ b> pp <B> 648-660, <b> June <B > 1993. </ B>
<B>[3]</B> T. Cataltepe et al, Digitally corrected Multi-bit
Data Converters <B> ,</B> ISCAS'89, pp <B>647-650, 1989.</B><B> [3] T. Cataltepe et al., Digitally Corrected Multi-bit
Data Converters <B>, ISCAS'89, pp <B> 647-650, 1989. </ B>
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