FR2610414A1 - Appareil et procede d'etalonnage interne d'un appareil d'etalonnage electrique - Google Patents
Appareil et procede d'etalonnage interne d'un appareil d'etalonnage electrique Download PDFInfo
- Publication number
- FR2610414A1 FR2610414A1 FR8801405A FR8801405A FR2610414A1 FR 2610414 A1 FR2610414 A1 FR 2610414A1 FR 8801405 A FR8801405 A FR 8801405A FR 8801405 A FR8801405 A FR 8801405A FR 2610414 A1 FR2610414 A1 FR 2610414A1
- Authority
- FR
- France
- Prior art keywords
- calibration
- voltage
- analog
- converter
- digital
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 42
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 32
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 58
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims 5
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 82
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 27
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 230000009182 swimming Effects 0.000 description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 5
- 241000935974 Paralichthys dentatus Species 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 239000003471 mutagenic agent Substances 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- 238000004164 analytical calibration Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 2
- 235000003197 Byrsonima crassifolia Nutrition 0.000 description 1
- 240000001546 Byrsonima crassifolia Species 0.000 description 1
- 101100328887 Caenorhabditis elegans col-34 gene Proteins 0.000 description 1
- 241000282326 Felis catus Species 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 244000309466 calf Species 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000035772 mutation Effects 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000002277 temperature effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
- G01R35/005—Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/12—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
- G01R15/125—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will for digital multimeters
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G1/00—Details of arrangements for controlling amplification
- H03G1/04—Modifications of control circuit to reduce distortion caused by control
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
LA PRESENTE INVENTION CONCERNE UN APPAREIL D'ETALONNAGE FOURNISSANT DES PARAMETRES ELECTRIQUES (TENSION, COURANT ET RESISTANCE) SUR PLUSIEURS GAMMES D'UN MOYEN DE MESURE A ETALONNER COMPRENANT DES COMPOSANTS INTERNES POUR FOURNIR CHAQUE PARAMETRE SUR LESDITES GAMMES, UNE REFERENCE DE TENSION INTERNE 35, 36, UN CONVERTISSEUR NUMERIQUEANALOGIQUE 34, UNE MEMOIRE 13, 17 UN COMPARATEUR ANALOGIQUE 37 ET UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUENUMERIQUE 33. LES COMPOSANTS INTERNES SONT CONNECTES AVEC LA REFERENCE DE TENSION INTERNE, LE CONVERTISSEUR ANALOGIQUENUMERIQUE, LE COMPARATEUR ET LA MEMOIRE POUR ECRIRE DES SIGNAUX DE DONNEES DANS LA MEMOIRE INDICATIFS DES FACTEURS DE CORRECTION D'ETALONNAGE POUR LES COMPOSANTS INTERNES. CES FACTEURS D'ERREUR D'ETALONNAGE PERMETTENT LES CORRECTIONS D'ETALONNAGE.
Description
2610 4 1 4
APPAREIL ET PROCEDE D'ETALONNAGE INTERNE D'UN APPAREIL
D'ETALONNAGE ELECTRIQUE
La présente invention concerne de façon générale l'éta-
lonnage des instruments de mesure électrique et, plus particuliè-
rement un appareil d'étalonnage qui est lui-même étalonné de façon
interne de temps à autre.
L'étalonnage d'un instrument électronique est nécessaire pour assurer une précision et une cohérence des mesures faites par
l'instrument. Parce que les caractéristiques, telles que les va-
leurs d'impédance et le gain des amplificateurs, dans les instru-
ments de mesure électriques, varient avec le temps, la température, et d'autres facteurs, les composants des instruments nécessitent un étalonnage périodique pour assurer la précision des mesures. Avant le progrès des microprocesseurs, les appareils
d'étalonnage, c'est-à-dire des sources étalon utilisées pour éta-
lonner des instruments de mesure électrique, étaient de façon gé-
nérale étalonnés de temps à autre en réglant physiquement des composants dans l'appareil d'étalonnage de sorte que les sorties
de l'appareil d'étalonnage satisfassent à des étalons externes.
Dans le cas d'appareils d'étalonnage complexes, de nombreux régla-
ges physiques internes nécessitant des procédures d'étalonnage
prenant du temps, souvent des heures, doivent être effectués.
Avec le progrès des microprocesseurs et des dispositifs associés, tels que les mémoires vives et les mémoires mortes, le
procédé et l'appareil d'étalonnage requis pour réaliser l'étalon-
nage ont été considérablement simplifiés. Des mémoires vives mémorisent des facteurs de correction d'étalonnage et utilisent un logiciel pour compenser les erreurs de gain et de zéro sur des
26 1 0 4 1 4
gammes multiples de mesures différentes. Les dispositifs modernes ont utilisé des microprocesseurs et des mémoires électroniques pour mémoriser des constantes sur la base de comparaisons avec des
étalons externes pour l'étalonnage de l'instrument. Les micropro-
cesseurs et les mémoires d'ordinateurs électroniques mémorisent un
logiciel interne et des facteurs de correction, pour éliminer pra-
tiquement le besoin d'enlever les couvercles des dispositifs.
Ainsi, le besoin de régler physiquement les composants à l'inté-
rieur des dispositifs a été pratiquement éliminé.
Toutefois, le fait de supprimer le besoin d'effectuer
des réglages physiques sur des composants à l'intérieur d'un dis-
positif tel qu'un instrument de mesure est seulement une petite étape dans la réduction du coût de la procédure d'étalonnage. Par exemple, l'étalonnage d'un multimètre ayant de multiples fonctions et gammes ou d'une source de précision ayant de multiples gammes nécessite encore que beaucoup de stimuli externes différents soient appliqués à l'instrument ou à la source. Le temps requis pour appliquer ces stimuli et le coût impliqué dans l'entretien des étalons externes nombreux qui doivent être utilisés lors de la procédure d'étalonnage sont contraires à la tendance moderne de
réduction des coûts de possession d'instruments.
En conséquence, un objet de la présente invention est de
prévoir un procédé et un appareil nouveaux et perfectionnés d'éta-
lonnage de sources utilisées pour fournir des paramètres, c'est-à-
dire tension, courant et impédance, à des instruments de mesure électriques. Un autre objet de la présente invention est de prévoir un procédé et un appareil nouveaux et perfectionnés pour étalonner des instruments de mesure électriques ayant des fonctions et des
gammes multiples et/ou des sources ayant des gammes multiples.
Un autre objet de la présente invention est de prévoir un appareil et un procédé nouveaux et perfectionnés pour étalonner
des instruments de mesure électriques et/ou des sources dans les-
quels le besoin d'effectuer des réglages physiques sur les compo-
sants à l'intérieur de l'appareil d'étalonnage est pratiquement éliminé. Un autre objet de l'invention est de prévoir un appareil d'étalonnage d'instruments de mesure électriques nouveau et per-
fectionné nécessitant un recours minimal à des étalons externes.
Les problèmes impliqués dans l'utilisation des tech-
niques et appareils manuels et électroniques de l'art antérieur pour étalonner des instruments électroniques peuvent se comprendre en considérant l'exemple de l'étalonnage d'une source de tension continue de précision. Pour étalonner un tel instrument, qu'il comprenne des constantes logicielles mémorisées de façon interne ou nécessite un réglage manuel, on doit typiquement prévoir un
certain type de source de référence externe, tel qu'une pile éta-
lon, en combinaison avec un détecteur de zéro pour effectuer les comparaisons et un diviseur à rapports multiples. Cet ensemble
d'équipements est connecté selon diverses configurations pour éta-
lonner les calibres de la source allant du millivolt au kilovolt.
Le processus d'étalonnage est laborieux et répétitif, adapté de façon idéale à une automatisation. Une source de tension continue de précision d'étalonnage d'instrument, telle que décrite dans les brevets des EtatsUnis d'Amérique 4 541 065 et 4 585 987, a été étalonnée de façon interne par un processus de comparaison répétitif entre des réponses internes et des étalons externes pour chaque calibre. En appliquant un étalon externe de 10 volts à la source, des mesures internes ont été effectuées dans la source et utilisées pour caractériser la référence interne de la source. De
façon similaire, une comparaison à un diviseur externe a été ef-
fectuée pendant le processus d'étalonnage. La comparaison avec le
diviseur externe caractérisait le rapport résistif dans la source.
Cette simple application d'étalons artificiels est nécessaire pour réaliser un étalonnage externe complet de la source de tension
continue de précision.
2 6 1 0 4 1 4
Le plus grand travail lors de l'étalonnage d'instruments de mesure électriques modernes implique l'étalonnage d'instruments multimètres continus et basse fréquence dans des laboratoires de
sociétés qui possèdent de tels instruments ou dans des labora-
toires o de tels instruments doivent être périodiquement envoyés dans des buts d'étalonnage. Comme ces multimètres deviennent plus précis tandis que la demande de travail augmente, le coût de
l'étalonnage externe a ou va augmenter de façon correspondante.
En conséquence, un autre objet de la présente invention est de prévoir un appareil et un procédé nouveaux et perfectionnés
d'étalonnage de multimètres électroniques.
Un autre objet de la présente invention est de prévoir un appareil nouveau et perfectionné, relativement peu coûteux, pour permettre à des multimètres électroniques d'être étalonnés de temps à autre par une source d'étalonnage qui est de temps à autre
étalonnée automatiquement de façon interne.
Un autre objet de la présente invention est de prévoir un appareil et un procédé nouveaux et perfectionnés d'étalonnage d'un multimètre avec un appareil d'étalonnage qui est étalonné de façon interne par un nombre minimal de sources externes, pour rendre minimal le coQt de détention d'achat en minimisant la durée
d'étalonnage de l'appareil d'étalonnage.
Selon un aspect de la présente invention, un appareil d'étalonnage pour des dispositifs de mesure qui mesurent un paramètre électrique sur plusieurs gammes ou plusieurs paramètres électriques différents dans une ou plusieurs gammes comprend des bornes adaptées à fournir des paramètres électriques d'étalonnage, tels que des tensions et/ou des courants et/ou des impédances,
vers des bornes correspondantes du moyen de mesure a étalonner.
Les paramètres d'étalonnage sont réglés pour être compatibles avec
chaque gamme du moyen de mesure à étalonner. L'appareil d'étalon-
nage comprend des composants internes associés à la mesure du paramètre sur plusieurs gammes ou des différents paramètres dans une ou plusieurs gammes. Les composants internes fournissent des
2610 4 1 4
tensions et/ou des courants et/ou des impédances qui sont fournis aux bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage, et de là à
l'instrument de mesure ou moyen de mesure en cours d'étalonnage.
Pour étalonner les composants internes, l'appareil d'étalonnage comprend une référence de tension interne, des moyens convertisseurs numérique/analogique et analogique/numérique, des moyens de mémoire et des moyens de comparaison analogique. De temps à autre, les composants internes sont connectés selon un circuit à une référence de tension interne, le moyen convertisseur numérique/analogique, les moyens de comparaison et la mémoire pour écrire des signaux de données indicatifs de facteurs de correction
d'étalonnage pour les composants internes dans la mémoire.
En fonctionnement, quand l'appareil d'étalonnage est connecté pour fournir des réponses ou des paramètres d'étalonnage à un instrument de mesure, les bornes de sortie de l'appareil
d'étalonnage sont connectées pour répondre à des réponses en pro-
venance des composants internes, puis en réponse au convertisseur numérique/analogique. Le convertisseur numérique/analogique répond
à des signaux numériques mémorisés représentant les valeurs nomi-
nales des signaux devant être appliqués aux composants internes.
Les valeurs nominales sont modifiées, c'est-à-dire incrémentées
et/ou décrémentées, par des signaux mémorisés indicatifs des fac-
teurs de correction d'étalonnage pour les composants internes de
sorte qu'un paramètre précis est fourni par l'appareil d'étalon-
nage au moyen de mesure en cours d'étalonnage.
L'appareil d'étalonnage peut être utilisé pour fournir des tensions, des impédances et des courants d'étalonnage précis
continus et alternatifs sur plusieurs gammes. La tension alterna-
tive est variable sur plusieurs gammes de fréquences et d'ampli-
tudes. La sortie alternative précise pour étalonner un moyen de
mesure externe est obtenue en connectant un oscillateur à fréquen-
ce variable et amplitude constante à un amplificateur à gain variable qui est connecté pour commander le moyen de mesure. La
2 6 1 0 4 1 4
sortie de l'amplificateur à gain variable est également fournie à un circuit de réaction comprenant un atténuateur et une paire de boucles de commande, comprenant chacune un convertisseur thermique de valeur alternative efficace en valeur continue. L'amplificateur et l'atténuateur sont commandés de sorte que les entrées vers les
convertisseurs se trouvent toujours dans une gamme que les conver-
tisseurs peuvent traiter avec précision. Le premier convertisseur
fournit un signal de commande grossier en temps réel à l'amplifi-
cateur à gain variable pour maintenir l'amplitude de sortie à une précision d'environ 0,1 %. Le second convertisseur se trouve dans
une boucle à temps de réponse plus long comprenant un conver-
tisseur analogique/numérique, un microprocesseur et un contrôleur numérique pour maintenir la précision de la sortie alternative à environ 10 parties par million. La seconde boucle répond à des signaux d'erreur d'étalonnage mémorisés indicatifs des erreurs d'étalonnage basse et haute fréquence pour des composants dans la
boucle de commande.
Quand la tension de sortie alternative d'étalonnage doit
être étalonnée, l'étalonnage est réalisé en connectant un oscilla-
teur à amplitude variable au premier convertisseur de valeur al-
ternative efficace en valeur continue par l'intermédiaire de l'amplificateur de sortie à gain variable et de l'atténuateur vers
les sorties du convertisseur numérique/analogique. Le convertis-
seur de valeur moyenne répond au signal continu qui lui est appli-
qué pour fournir un signal continu qui est comparé à l'amplitude d'un signal continu obtenu à partir de la référence de tension interne. Il résulte de la comparaison une variation du signal d'erreur d'étalonnage basse fréquence qui est mémorisée en temps
que facteur de correction d'étalonnage.
Pour étalonner l'amplificateur et l'atténuateur pour des tensions alternatives de sortie de plus haute fréquence, quand des réactances réparties de l'amplificateur et de l'atténuateur doivent
être prises en compte, l'oscillateur, l'amplificateur, l'atténua-
26 10 4 1 4
teur et le premier convertisseur alternatif/continu sont connectés de la même façon qu'ils le sont tandis qu'une tension alternative
d'étalonnage est appliquée à un moyen de mesure en cours d'étalon-
nage. Toutefois, la connexion en provenance de l'atténuateur vers le second convertisseur est interrompue et la sortie de l'amplifi-
cateur à gain variable est fournie par l'intermédiaire d'une ré-
sistance variable au second convertisseur qui fournit un signal à une entrée d'un comparateur, ayant une seconde entrée sensible à une source de référence. Le comparateur fournit des signaux
d'erreur d'étalonnage pour des tensions multiples pour chaque fré-
quence plus élevée de la sortie de l'oscillateur en commandant le gain de l'amplificateur à gain variable tandis qu'il est connecté
à l'oscillateur.
Ces objets, caractéristiques et avantages ainsi que d'autres de la présente invention seront exposes plus en détail
dans la description suivante de modes de réalisation particuliers
faite en relation avec les figures jointes parmi lesquelles: la figure 1 est un schéma d'ensemble sous forme de blocs
d'un appareil d'étalonnage selon un mode de réalisation particu-
lier de l'invention;
la figure 2 est un schéma sous forme de blocs d'un appa-
reil représenté en figure 1 quand il connecté pour un étalonnage externe d'un convertisseur numérique/analogique utilisé dans l'appareil d'étalonnage;
la figure 3 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne de sources de référence continues utilisées dans l'appareil d'étalonnage;
la figure 4 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne de l'appareil utilisé pour étalonner la gamme continue de 2 volts d'un moyen de mesure;
26 10 4 1 4
la figure 5 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne d'un amplificateur utilisé dans l'appareil d'étalonnage; la figure 6 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne de l'appareil utilisé pour étalonner la gamme continue de 200 millivolts d'un moyen de mesure;
la figure 7 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne d'un diviseur de tension de l'appareil d'étalonnage;
la figure 8 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne de l'appareil utilisé pour étalonner la gamme continue de 200 volts d'un moyen de mesure;
la figure 9 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne d'un appareil utilisé pour étalonner la gamme continue de 1100 volts d'un moyen de mesure; les figures 10 et 11 sont des schémas sous forme de blocs de l'appareil représenté en figure 1 quand il est respectivement utilisé pour un étalonnage externe de résistances internes de 10 kiloohms et de 1 ohm;
la figure 12 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne de résistances d'un circuit utilisé pour étalonner la résistance, en ohms, d'un moyen de mesure;
la figure 13 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalonnage interne de courants étalonnés fournis à un moyen de mesure;
la figure 14 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour fournir des tensions alternatives d'étalonnage à un moyen de mesure en cours d'étalonnage;
2 6 1 0 4 1 4
la figure 15 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne basse fréquence (100 Hz ou moins) de composants utilisés pour fournir les tensions d'étalonnage alternatives; et la figure 16 est un schéma sous forme de blocs de l'appa-
reil représenté en figure 1 quand il est connecté pour l'étalon-
nage interne haute fréquence (100 Hz à 1 MHz) de la source alternative. On se référera maintenant à la figure 1 des dessins dans laquelle est représenté un schéma d'ensemble sous forme de blocs d'une source étalonnée selon la présente invention. La source étalonnée est étalonnée automatiquement par des circuits internes sur de nombreuses gammes de tensions, d'impédances (résistances), et de courants alternatifs et continus en réponse au fait qu'un opérateur actionne de temps à autre un bouton unique. La source étalonnée nécessite seulement trois étalonnages externes qui sont réalisés manuellement à des intervalles qui se présentent beaucoup
moins fréquemment que les étalonnages automatiques.
L'appareil d'étalonnage représenté en figure 1 peut éta-
lonner des moyens de mesure qui mesurent: (a) des tensions conti-
nues dans des gammes de 200 millivolts, 2 volts, 10 volts, 20
volts, 200 volts et 1100 volts, (b) des résistances dans des gam-
mes de 1 ohm, 10 ohms, 100 ohms, 1000 ohms, 10 000 ohms, 100 000 ohms, 1 mégohm, et 10 mégohms, (c) des courants continus dans des
gammes de 100 microA, 1 mA, 10 mA, 100 mA et 1A, et (d) des ten-
sions alternatives dans les mêmes gammes d'amplitudes que les ten-
sions continues sur une gamme de fréquences allant de 10 Hz à 1 MHz. Dans ce but, l'appareil d'étalonnage fournit des tensions et
des courants précis à ses bornes de sortie et relie des résis-
tances précises à d'autres bornes de sortie. Les bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage sont connectées par un opérateur à des bornes d'entrée correspondantes du moyen de mesure en cours d'étalonnage. Pour obtenir les paramètres précis qui sont fournis
2 6 1 0 4 1 4
aux bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage, l'appareil d'étalonnage est de temps à autre étalonné automatiquement de façon interne en réponse à l'activation par l'opérateur d'un bouton unique. L'appareil d'étalonnage est étalonné manuellement par les dispositifs externes à des intervalles relativement peu fréquents. L'appareil d'étalonnage est initialement étalonné par une source d'étalonnage externe de 10 volts ainsi que par des résistances externes à quatres bornes ayant des valeurs de 1 ohm et 10 000 ohms. Après que l'appareil d'étalonnage a été étalonné par les sources externes, il est, de temps à autre, étalonné ensuite de façon interne sur toutes les gammes prévues pour chaque gamme de mesure de tension, courant et résistance. Les étalonnages externes sont réalisés en comparant les réponses des circuits internes dans l'appareil d'étalonnage à des tensions de référence
produites par un convertisseur numérique/analogique dans l'appa-
reil d'étalonnage et en mémorisant des signaux numériques repré-
sentatifs de variations des quantités comparées; les variations représentent des facteurs d'erreur d'étalonnage pour les circuits internes. Les facteurs d'étalonnage modifient les valeurs des valeurs de référence nominales produites par le convertisseur numérique/analogique quand l'appareil d'étalonnage est utilisé pour fournir des tensions précises continues et alternatives à un moyen de mesure en cours d'étalonnage. Les facteurs d'étalonnage de courant et de résistance sont fournis à un affichage de sorte qu'un opérateur qui est en train d'étalonner le moyen de mesure peut modifier en conséquence la réponse du moyen de mesure. A titre de variante, si le moyen de mesure comprend un ordinateur, des signaux en provenance de l'appareil d'étalonnage modifient des signaux mémorisés dans le moyen de mesure en fonction des facteurs d'erreur d'étalonnage de courant et de résistance de l'appareil d'étalonnage. Les paramètres précis founis au moyen de mesure sont ainsi compensés quant au vieillissement, à la température, et à
2 6 1 0 4 1 4
d'autres variables qui tendent à modifier les valeurs fournies aux
bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage.
Pour réaliser les étalonnages et fournir des sorties précises, l'appareil d'étalonnage comprend un microprocesseur 11 muni d'un bus de sortie multibits 12 qui adresse une mémoire mor- te (ROM) 13. La mémoire 13 mémorise un programme qui étalonne de façon interne l'appareil d'étalonnage en réponse à la pression par
un opérateur d'un bouton "entrée" 10. La mémoire 13 mémorise éga-
lement des instructions pour des connexions devant être établies quand l'appareil d'étalonnage fournit des sorties précises qui sont utilisées pour étalonner un moyen de mesure ainsi que quand l'appareil d'étalonnage est connecté aux trois dispositifs
d'étalonnage externes.
La mémoire morte 13 comprend des bus de sortie 14 et 15 qui alimentent respectivement une.matrice de commutation 16 et une mémoire vive 17 en instructions et adresses de connexion. La RAM 17 répond au signal d'adresse qui lui est fourni par le bus 15
ainsi qu'à un signal de lecture/écriture en provenance du micro-
processeur 11 sur un conducteur 18 pour échanger des signaux de
données à plusieurs bits sur le bus 19 au moyen de la matrice 16.
En outre, le multiprocesseur 11 échange des signaux de données à
plusieurs bits avec la matrice de commutation 16 par un bus 21.
La matrice de commutation 16 comprend des bornes d'entrée 22 propres à être connectées à des dispositifs externes
d'étalonnage de 10 volts, 1 ohm et 10 kilohms. En outre, la matri-
ce de commutation 16 comprend des bornes de sortie "détection haute" 23 et "détection basse" 23', des bornes "sortie haute" 24 et "sortie basse" 24', une borne de garde 25, et une borne de masse 26 adaptées à être connectées par des câbles coaxiaux à des bornes correspondantes d'un instrument de mesure, par exemple un voltmètre numérique pour vérifier des tensions, résistances et
courants alternatifs et continus dans les gammes établies.
2 6 1 0 4 1 4
La matrice 16 répond aux signaux de commande de con-
nexion sur le bus 14 pour établir des connexions entre différents
conducteurs sur un bus 27, ainsi que des connexions entre conduc-
teurs dans le bus 27 et les dispositifs reliés aux bornes 22, 23, 23', 24, 24', 25 et 26. En outre, des signaux de données sur les conducteurs dans le bus 27 sont écrits à des adresses spécifiées dans la RAM 17 en réponse à des signaux sur les bus 14 et 15 quand le signal binaire sur le conducteur 18 commande la RAM 17 pour qu'elle soit dans un état d'écriture. Les signaux écrits dans la RAM 17 à cet instant sont habituellement des signaux de correction
d'étalonnage. Quand l'appareil d'étalonnage est utilisé pour four-
nir des paramètres précis aux bornes 23, 23', 24, 24', 25 et 26, le signal sur le conducteur 18 commande la RAM 17 pour qu'elle soit dans un état de lecture et les facteurs de correction d'étalonnage sont lus à partir de la RAM à des adresses spécifiées
par le bus 15 vers des conducteurs dans le bus 27 par des con-
nexions dans la matrice 16 en réponse à des signaux de commande
sur le bus 14.
Les connexions établies par la matrice 16 pour les
diverses opérations d'étalonnage sont décrites en détail en rela-
tion avec les figures 2 à 16. A partir des connexions décrites ci-
après en relation avec les figures 2 à 16 et d'autres connexions décrites entre les bornes 22-26 et le moyen de mesure relié à ses bornes, l'homme de l'art peut déterminer la nature de la structure
à l'intérieur de la matrice de commutation 16.
Pour permettre à des signaux de correction d'étalonnage d'être mémorisés dans la RAM 17 et pour valider les signaux de correction d'étalonnage devant être utilisés pendant l'étalonnage d'un instrument de mesure, le bus 27 comprend des sous-bus 31 et 32 pour fournir respectivement des signaux numériques à plusieurs bits en provenance du convertisseur analogique/numérique 33 vers
la RAM 17 et pour fournir des signaux numériques multibits à par-
tir de la RAM et de la ROM 13 vers un convertisseur numérique/ana-
2610 4 1 4
logique (DAC) 34 et vers des résistances variables commandées numériquement. La plupart des conducteurs restants dans le bus 27 transportent des signaux analogiques qui sont obtenus à partir des
composants restants de l'appareil d'étalonnage et couplés à ceux-
ci par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16. En outre, le convertisseur numérique/analogique 34 fournit un signal continu
analogique dans une gamme de 0 à 22 volts. La sortie du conver-
tisseur 34 est couplée par le bus 27 et la matrice de commutation 16 aux composants restants. Le convertisseur analogique/numérique
33 est sensible à un signal analogique obtenu à partir des com-
posants restants et lui est couplé par le bus 27 et la matrice 16.
De façon générale, le convertisseur analogique/numérique 33 est
utilisé dans un mode différentiel avec le convertisseur numé-
rique/analogique 34. Le convertisseur 34, de préférence un conver-
tisseur modulé en largeur d'impulsions ayant une linéarité meil-
leure qu'une partie par million au dixième de sa pleine échelle,
comprend un registre accumulateur de sorte que les signaux numéri-
ques qui y sont mémorisés peuvent être incrémentés et/ou décrémen-
tés. La précision de tension continue de l'instrument est maintenue de façon interne par des sources continues de référence
de 6,5 volts 35 et 36 connectées au reste du circuit par des con-
ducteurs dans le bus 27 et la matrice de commutation 16. Les sour-
ces de tension continues 35 et 36 sont de préférence des amplifi-
cateurs opérationnels de référence continue du type précédemment
utilisé dans l'étalon de tension dit Fluke 732A. Cet étalon pré-
sente une stabilité meilleure que 0,5 partie par million par mois et 2 parties par million par an. Les amplificateurs de référence
comprenant les sources 35 et 36 sont maintenus à 50 C sur un subs-
trat à température contrôlée à l'intérieur de l'instrument. Cet environnement réduit le coefficient de température des sources de référence 35 et 36 à moins que 0,03 partie par million par degré centigrade, de sorte que l'instrument présente des performances
constantes sur une large gamme de températures.
2610 4 14 Pour permettre aux signaux d'erreur d'étalonnage d'être obtenus,
l'instrument comprend un circuit de comparaison sous forme d'un amplificateur opérationnel différentiel continu 37 muni
de bornes d'entrée inverseuse et non-inverseuse 38 et 39, respec-
tivement, ainsi que d'une borne de sortie 40 sur laquelle est obtenu un signal analogique ayant une amplitude et une polarité indicatives de la polarité et de l'amplitude de la différence des signaux sur les bornes 38 et 39. Les bornes 38, 39 et 40 sont
reliées à des conducteurs dans le bus 27 et de là, par l'intermé-
diaire de la matrice 16, à d'autres composants qui fournissent des signaux analogiques dans l'appareil d'étalonnage et agissent en réponse.
Pour fournir des tensions d'étalonnage continues exter-
* nes et/ou internes sur différentes gammes, l'appareil d'étalonnage comprend des diviseurs de tension 42, 43 et 44, respectivement,
ayant des facteurs de division de tension de 1/5, 1/10 et 1/8.
Chacun des diviseurs 42, 43 et 44 comprend une paire de résis-
tances de précision en couches minces de sorte que les résistances
et 46 du diviseur 42 ont des valeurs de 4R1 et R1, les résis-
tances 47 et 48 du diviseur 43 ont des valeurs de 9R2 et R2, et les résistances 49 et 50 du diviseur 44 ont des valeurs de 7R3 et R3. Une borne de chacune des résistances 46, 48 et 50 est mise à la masse, alors que l'autre borne de chacune de ces résistances est une prise diviseuse connectée à un conducteur séparé dans le bus 27 et à une borne de la résistance restante de chaque diviseur respectif. L'autre borne de chacune des résistances 45, 47 et 49
est connectée à un conducteur séparé dans le bus 27.
Pour des étalonnages de paramètres internes, et/ou pour
l'étalonnage de moyens de mesure connectés à l'appareil d'étalon-
nage, des amplificateurs opérationnels continus 52, 53 et 54,
ainsi qu'un amplificateur de puissance 55 sont prévus. L'amplifi-
cateur 52 est un amplificateur adaptateur ayant une borne d'entrée noninverseuse 56 et une borne de sortie 57 reliées au reste de
2610 4 1 4
l'appareil d'étalonnage par des conducteurs couplés au bus 27 et à des commutateurs de la matrice 16. L'amplificateur 53 comprend des bornes d'entrée inverseuse et non-inverseuse 58 et 59 ainsi qu'une borne de sortie 60 qui sont toutes connectées aux composants restants de l'appareil d'étalonnage par des conducteurs du bus 27 et des commutateurs de la matrice 16. Entre les bornes 58 et 60 est connectée une résistance de réaction 62; la borne d'entrée inverseuse 58 est connectée à la masse par l'intermédiaire d'une résistance 63. Les résistances 62 et 63 ont respectivement des valeurs de 12R4 et R4 de sorte que l'amplificateur 53 présente un
facteur de gain nominal égal à 13.
L'amplificateur 54, utilisé pour atténuer des tensions continues dans la gamme de 200 à 1100 volts à un niveau compatible
avec la sortie du convertisseur numérique/analogique (DAC) 34 pen-
dant un étalonnage interne comprend une borne d'entrée inverseuse , une borne d'entrée non-inverseuse mise à la masse 66 et une borne de sortie 67. Entre les bornes 65 et 67 est connectée une résistance de réaction 68, alors qu'une résistance 71 est connectée à la borne d'entrée inverseuse 65. Dans ce but, une borne de la résistance 71 est connectée aux composants restants de l'appareil d'étalonnage par l'intermédiaire de conducteurs inclus dans le bus 27 et de commutateurs de la matrice 16, alors que l'autre borne de la résistance 71 est connectée directement à la borne inverseuse 65. La borne de sortie 67 de l'amplificateur 54 est connectée au circuit restant dans l'appareil d'étalonnage par un conducteur dans le bus 27 et des commutateurs dans la matrice 16. Les valeurs des résistances 68 et 71 sont sélectionnées pour que le gain de l'amplificateur 54 soit de 0,01, d'o il résulte que l'amplificateur est un atténuateur 100/1 qui fournit des niveaux appropriés pour la gamme continue de 200 à 1100 volts pour
un étalonnage interne.
L'amplificateur de puissance continu 55, utilisé pour fournir des tensions d'étalonnage externes continues dans les
2 6 1 0 4 1 4
gammes de 20 à 200 volts et de 200 à 1100 volts, est conçu pour avoir un gain de 20. Dans ce but, l'amplificateur 55 comprend une borne d'entrée inverseuse 75 et une borne d'entrée non-inverseuse mise à la masse 76 ainsi qu'une borne de sortie 77. La borne 75 est connectée à une résistance fixe 78 ayant une valeur R5 et connectée aux circuits restants de l'instrument par un conducteur du bus 27 et la matrice de commutation 16. Pour des étalonnages externes de 200 et 1100 volts continus, une résistance 79, ayant une valeur de 20R5 est connectée aux bornes 75 et 77 par des
conducteurs dans le bus 27 et la matrice de commutation 16.
Pour étalonner la résistance d'un moyen de mesure ou la
sortie en courant de l'appareil d'étalonnage, une chaine de résis-
tances 90 est sélectivement connectée aux composants restants de l'instrument par des conducteurs dans le bus 27 et la matrice de
commutation 16. La chalne de résistances 90 comprend des résistan-
ces en couches minces 92-98, respectivement, ayant des valeurs telles que les résistances sur les prises 90.2-90.9 sont de 10 ohms, 100 ohms, 1 kilohm, 10 kilohms, 100 kilohms, 1 mégohm, 10 mégohms et 100 mégohms, par rapport à la masse. Chacune des prises 90.2-90.9 et la borne non mise à la masse de la résistance 91 sont
connectées à un conducteur séparé du bus 27 de sorte que les ré-
sistances peuvent 'tre étalonnées et utilisées pour un étalonnage de courant interne de l'appareil d'étalonnage et un étalonnage de
résistance d'un moyen de mesure en cours d'étalonnage. Pour éta-
lonner les résistances de la chalne 90 et la résistance d'un ohm 91, des résistances à fil bobiné de très haute stabilité 101 et 102, ayant respectivement des valeurs de 1 ohm et de 10 kilohms, sont sélectivement connectées aux résistances de la chalne 90 et à la résistance 91 par des connexions établies par des conducteurs dans le bus 27 et la matrice de commutation 16. Les résistances
101 et 102 sont également connectées selon un circuit avec des ré-
sistances d'étalonnage externes, de précision, à quatre bornes, ayant des valeurs de 1 ohm et 10 kilohms connectées aux bornes 22
2610 414
par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16. Les résistan-
ces externes à quatre bornes permettent à des facteurs de correc-
tion d'être mémorisés dans la RAM 17 pour les résistances 101 et 102. Les résistances à fil bobiné de très haute stabilité 101 et 102 ont typiquement de très petits coefficients de température, inférieurs à 0,3 partie par million par degré centigrade, et une
stabilité à long terme supérieure à 2 parties par million par an.
Pour permettre à des courants constants de différentes valeurs d'être établis dans des buts d'étalonnage interne et pour étalonner la réponse en courant d'un moyen de mesure, l'appareil
d'étalonnage comprend un générateur de courant 150 et des résis-
tances 151-155. L'une des résistances 151-155 est sélectivement connectée à un générateur de courant 150 par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16 pour établir six gammes différentes de niveaux de courant. Les résistances 151-155 n'ont pas besoin d'être extrêmement précises ou stables car le courant obtenu à partir du générateur de courant 150 pour chacune des résistances 151-155 connectée au générateur de courant est étalonné à l'aide
des résistances 91-99.
Dans des buts d'étalonnage alternatif, l'instrument comprend un oscillateur à fréquence variable et amplitude fixe 103, et des convertisseurs de valeur efficace (RMS) en continu 104 et 105, de préférence des convertisseurs thermiques dits Fluke
8506. Une résistance variable 106 commandée numériquement est sé-
lectivement connectée à l'entrée du convertisseur 105 pour diffé-
rents niveaux de tension alternative. La fréquence de la tension
alternative fournie par la source 103 et la valeur de la résistan-
ce 106 sont commandées par des signaux numériques séparés à plu-
sieurs bits fournis par la ROM 13 à des registres tampon (non
représentés) inclus dans l'oscillateur et des résistances comman-
dées numériquement du réseau, les signaux numériques sont séquen-
tiellement fournis par la matrice 16 à un sous-bus du bus 27.
Pendant un étalonnage alternatif interne et une variation des ten-
2610 4 1 4
sions de sortie d'étalonnage alternatives, la matrice de commuta-
tion 16 répond à des signaux numériques de commande d'amplitude en provenance du bus 14, obtenus à partir de la mémoire ROM 13 et à des signaux d'étalonnage corrigés en provenance du bus 19, obtenus à partir de la mémoire RAM 17 ainsi qu'à un signal de commande
analogique variable. La sortie à fréquence variable de l'oscilla-
teur 103 est connectée à une résistance variable sensible à une
tension 158 qui répond à un signal de réaction de commande gros-
sière du gain sur le conducteur ou bus 159.
La résistance 158 est connectée en série avec une résis-
tance commandée numériquement 161, comprenant un registre accumu-
lateur sensible à un signal numérique de réaction de commande
précise du gain en provenance de la ROM 13 et un signal de correc-
tion d'étalonnage en provenance de la RAM 17. Les résistances 158
et 161 sont connectées à l'entrée de l'amplificateur 162, compre-
nant une résistance de réaction commandée numériquement 163 munie d'un registre tampon sensible à un signal numérique-de commande de gammes en provenance de la ROM 13. La sortie alternative de l'amplificateur 162 est appliquée par la matrice 16 en temps que
tension d'étalonnage à un moyen de mesure en cours d'étalonnage.
Pendant un étalonnage interne et l'étalonnage d'un moyen de mesure externe, la sortie de l'amplificateur 162 est également appliquée à l'entrée d'un réseau atténuateur 167 comprenant une
résistance 164 commandée numériquement, un amplificateur alter-
natif 165 et une résistance de réaction 166. La valeur de la résistance 164 dépend d'un signal numérique obtenu à partir de la ROM 13 et fourni par un registre tampon dans la résistance par l'intermédiaire de la matrice 16. Le gain de l'amplificateur 162 et le facteur d'atténuation de l'atténuateur 167 sont commandés en sens opposé de sorte que la sortie de l'amplificateur 165 est
toujours dans la gamme fonctionnelle des entrées des convertis-
seurs 104 et 105. La sortie de l'amplificateur 165 est couplée
sélectivement aux entrées des convertisseurs 104 et 105 par la ma-
2 6 1 0 4 1 4
trice 16, comme cela est décrit ci-après. Les amplificateurs 162 et 165 sont des amplificateurs continus capables de traiter des
fréquences supérieures à 1 MHz sans atténuation notable.
Comme les convertisseurs de valeur efficace en continu 104 et 105 sont des convertisseurs à semiconducteurs stabilisés en tension et en température de la Société Fluke, les sorties des convertisseurs sont des tensions continues qui sont réellement proportionnelles à la valeur efficace des entrées alternatives des convertisseurs et ne sont pas proportionnelles à la tension de crête des entrées alternatives. La résistance 106, à l'entrée du convertisseur 105, comprend des résistances passives basse tension qui sont pratiquement non inductives et non capacitives de sorte
qu'elles présentent une erreur fréquentielle négligeable, c'est-
à-dire que les valeurs des résistances ne changent pas avec la
fréquence. L'entrée et la sortie du convertisseur 104 sont connec-
tées à des circuits restants dans l'instrument par des conducteurs
du bus 27 et des commutateurs de la matrice 106 tandis que la sor-
tie du convertisseur 105 est connectée aux circuits restants de l'instrument par un autre conducteur dans le bus 27 et la matrice
de commutation 16.
Le microprocesseur 11 répond sélectivement à des signaux de commande pour les trois étalonnages externes, obtenus en
réponse à la fermeture des commutateurs 111, 112 et 113. Les com-
mutateurs 111, 112 et 113 sont fermés par un opérateur quand des
dispositifs d'étalonnage externes, sous forme d'une source de ten-
sion continue de 10 volts, d'une résistance d'étalonnage à quatre bornes de 1 ohm et d'une résistance d'étalonnage à quatre bornes
de 10 kilohms, sont respectivement connectés aux bornes 22.
Le microprocesseur 11 agit également en réponse à des signaux d'entrée commandés manuellement indicatifs du type et de la gamme de sortie à fournir par l'appareil d'étalonnage à un moyen de mesure en cours d'étalonnage, de la façon commandée par
les ensembles de commutateurs 114, 115, 116, 117 et 118. Les com-
2610 4 1 4
mutateurs 114, 115, 116, 117 et 118 sont fermés par un utilisateur
de l'instrument pour l'une choisie de sept gammes de tensions con-
tinues, l'une choisie de huit gammes de résistances, l'une choisie de huit gammes de tensions alternatives, l'une choisie de cinq gammes de courants continus, et l'une choisie de sept gammes de fréquences. Le microprocesseur 11 agit également en réponse à un oscillateur 418 pour fournir un étalonnage interne automatique du
dispositif quand le commutateur 10 est fermé par l'utilisateur.
Le microprocesseur 11 répond à la fermeture des com-
mutateurs 111 à 113 pour commander la ROM 13 pour fournir trois ensembles de séquences d'adresses pour la ROM, à savoir pour l'étalonnage externe de tension continue et les deux étalonnages externes de résistances. L'oscillateur 418 active le processeur 11 pour faire passer la ROM 13 par une succession d'étapes associées à des étalonnages internes pour connecter les dispositifs de l'appareil d'étalonnage les uns aux autres par les conducteurs et les sous-bus du bus 27 par l'intermédiaire de la matrice 16 et
vers la RAM 17.
En réponse à la fermeture par un opérateur des commuta-
teurs individuels dans les ensembles de commutateurs 114-118, le microprocesseur 11 fournit des signaux de commande à la ROM 13 qui fournit à son tour des signaux de commande par les bus 14 et 15 à
la matrice de commutation 16 et à la RAM 17 pour établir des con-
nexions entre les bornes 23 à 26 et les dispositifs dans l'appa-
reil d'étalonnage. En réponse à la fermeture des commutateurs dans
les ensembles de commutateurs 114-118, un mode de réalisation par-
ticulier de l'instrument permet de fournir des sorties étalonnées de tensions alternatives et continues entre 0,2 et 1100 volts, des résistances étalonnées ayant des valeurs comprises entre 1 ohm et 10 mégohms, et des courants étalonnés ayant des valeurs comprises entre 100 pA et 1A, et des fréquences comprises entre 10 Hz et
1 MHz.
2610 4 14
Pendant l'étalonnage des dispositifs dans l'appareil
d'étalonnage en réponse à la fermeture par l'opérateur du com-
mutateur 10, le microprocesseur 11 fournit une séquence de signaux
à la ROM 13 qui commande alors la matrice 16 pour établir des con-
nexions entre la RAM 17 et des dispositifs restants de l'appareil d'étalonnage. Pendant l'étalonnage de l'appareil d'étalonnage, le convertisseur analogique/numérique comprenant un moyen d'affichage 33 est alimenté pour fournir une indication numérique visuelle de l'amplitude des facteurs d'erreur d'étalonnage de tension, de courant et de résistance qui sont déterminés par le sous-programme
interne d'étalonnage. L'opérateur peut vérifier la réponse du con-
vertisseur analogique/numérique 33, telle qu'elle est appliquée à l'affichage, qui peut comprendre une imprimante, pour déterminer
si l'appareil d'étalonnage fonctionne convenablement et pour four-
nir un historique pour l'appareil d'étalonnage.
La figure 2 est un schéma de circuit illustrant les connexions des éléments représentés en figure 1 dans le cas de l'étalonnage externe des sources de référence continues internes
et 36, ainsi que du convertisseur numérique/analogique 34. Pen-
dant ces opérations, une source de référence externe de 10 volts 121, de préférence une source Fluke 732A est connectée aux bornes
22 de la matrice de commutation 16. Simultanément, le microproces-
seur 11 commande la ROM 13 de sorte que la ROM fournit un signal de sortie à plusieurs bits représentant la valeur numérique de 10 volts pour un signal d'entrée de commande du convertisseur numérique/analogique (DAC) 34. Simultanément, la ROM 13 alimente la matrice de commutation 16 qui commande des signaux de sorte que le signal de sortie numérique représentant 10 volts de la ROM est couplé au DAC 34. Simultanément, la ROM 13 commande la matrice de commutation 16 de sorte que les sources de référence continues 35
et 36 sont connectées en série l'une avec l'autre et avec une bor-
ne d'entrée d'alimentation du DAC 34. La matrice de commutation 16 est également à cet instant commandée par la sortie de la ROM 13 pour établir une connexion à partir de la sortie analogique du DAC
34 vers l'entrée inverseuse de l'amplificateur différentiel 37.
Simultanément, la matrice 16 est commandée par la sortie de la ROM 13 pour établir une connexion à partir de la borne non mise à la masse de la source de référence continue 121 vers l'entrée non- inverseuse de l'amplificateur 37 et la matrice de commutation eAt
commandée pour établir une connexion entre la sortie de l'ampli-
ficateur 37 et l'entrée du convertisseur analogique/numérique 33.
Le signal de sortie de l'amplificateur 37 représente l'amplitude et la polarité de la différence entre les sorties de la source de référence externe 121 et du DAC 34. De façon idéale, la sortie de l'amplificateur différentiel 37 est nulle dans ce cas. Cependant, comme les sources de référence 35 et 36 et le DAC 34 comprennent des composants qui sont sujets à modification en fonction du temps et de la température ainsi que d'autres effets
possibles de l'environnement, un signal fini non nul est habi-
tuellement fourni par l'amplificateur 37 pour les connexions établies par la matrice de commutation 16 telles que représentées
en figure 2. Le signal analogique non nul fourni par l'amplifica-
teur différentiel 37 est appliqué au convertisseur analogique/nu-
mérique 33 et de là par la matrice de commutation 16 à la RAM 17 o il est mémorisé en temps que facteur de correction d'étalonnage
pour les références de tension continue 35 et 36 et le DAC 34.
Toutes les connexions illustrées en figure 2 sont établies dans la matrice de commutation 16 en réponse à un signal de sortie de la ROM 13, commandée par un signal d'adresse fourni
par le microprocesseur 11 sur le bus 12. En outre, la ROM 13 four-
nit un signal par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16
vers l'entrée numérique du DAC 34 par l'intermédiaire d'un sous-
bus 32 du bus 27. La sortie numérique du convertisseur 33 est fournie par le sous-bus 31 par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16 à une adresse de la RAM 17 commandée par la sortie de la ROM 13 sur le bus 15 en réponse à l'activation de la RAM
dans l'état d'écriture par un signal sur le conducteur 18.
2 6 1 0 4 1 4
Quand des signaux de données numériques sont ensuite appliqués au registre accumulateur dans le DAC 34, ils sont
appliqués en tant que deux octets séquentiels, obtenus respec-
tivement à partir de la ROM 13 et de la RAM 17. L'octet en prove-
nance de la ROM 13 indique l'amplitude nominale du signal de sortie analogique à fournir à partir du DAC 34, en supposant que le DAC ne nécessite pas de correction d'étalonnage. L'octet en provenance de la RAM 17 incrémente ou décrémente l'octet mémorisé dans le registre du DAC 34 de la ROM 13 d'une quantité égale au
facteur de correction d'étalonnage déterminé pendant les opéra-
tions illustrées en figure 2.
Après que les opérations illustrées en figure 2 ont été réalisées, l'oscillateur 418 commande le microprocesseur 11 vers une adresse de la ROM 13 qui amène la ROM à actionner la matrice de commutation 16 pour établir les connexions représentées en figure 3 pour valider la source de référence continue de 6,5 volts
devant être étalonnée de façon interne. Dans ce but, les sour-
ces de référence continues 35 et 36 sont connectées en série l'une avec l'autre vers la borne d'entrée d'alimentation du DAC 34 dont l'entrée de données numériques est sensible séquentiellement à un premier signal numérique en provenance de la ROM 13 indicatif de 6,5 volts et à un second signal numérique en provenance de la RAM 17 indicatif du facteur de correction d'étalonnage du DAC. Les
tensions continues résultantes obtenues par le DAC 34 et la réfé-
rence 35 sont connectées aux bornes d'entrées inverseuse et non-
inverseuse de l'amplificateur 37, qui fournit un signal d'erreur qui est fourni au convertisseur analogique/numérique 33. Le
convertisseur 33 fournit un signal de sortie numérique représen-
tant l'erreur d'étalonnage de la source de tension de référence continue 35. L'erreur d'étalonnage est mémorisée dans la RAM 17 à une adresse désignée par la sortie de la ROM 13 qui est couplée au
bus 15; et dans ce but, la RAM est actionnée vers l'état d'écri-
ture en réponse au signal sur le conducteur 18. Le signal d'erreur
2610 4 14
d'étalonnage pour la source de référence 35 est ensuite appliqué au DAC 34 pour incrémenter ou décrémenter le signal de sortie du
DAC pour corriger l'erreur d'étalonnage de la source de référence.
Après que l'erreur de correction d'étalonnage pour la source de référence 35 a été mémorisée dans la RAM 17, les con-
nexions des sources de référence 35 et 36 sont inversées par rap-
port à celles illustrées en figure 3, et l'erreur d'étalonnage pour la source de référence continue de 6,5 volts 36 est fournie de la même façon que ce qui a été décrit pour la source de
référence 35.
La ROM 13 est alors activée en réponse à la sortie du microprocesseur 11 pour que la matrice de commutation 16 soit activée pour établir les connexions illustrées en figure 4 qui permettent d'étalonner le diviseur de tension 1/5 42. Le diviseur de tension 42 est connecté à un ensemble de sorties du DAC 34 allant de 0 à 10 volts quand l'appareil d'étalonnage est utilisé pour étalonner le calibre deux volts d'un moyen dé mesure. Pour déterminer l'erreur d'étalonnage du diviseur de tension 42, les sources de référence 35 et 36 sont connectées en série l'une avec l'autre et aux bornes du diviseur de tension 42 dont la prise intermédiaire est connectée à l'entrée non-inverseuse du tampon 52. Le tampon 52 a un gain unité et fournit ainsi une tension de sortie continue ayant une valeur de 2,6 volts, en supposant que le diviseur de tension 42 fournit un facteur de division de tension de 1/5 et que la tension série continue des sources 35 et 36 est
de 13,0 volts. La sortie du tampon 52 est comparée dans l'amplifi-
cateur différentiel 37 à la sortie du convertisseur numérique/ana-
logique 34 agissant en réponse à un signal numérique obtenu à partir de la ROM 13 indicatif de 2,6 volts et à des signaux numériques représentant les corrections d'étalonnage pour les sources continues 35 et 36 et le DAC 34, comme cela est obtenu a partir de la RAM en réponse aux signaux d'adresse en provenance de
la ROM.
L'amplificateur différentiel 37 répond aux signaux d'entrée fournis à ses entrées inverseuse et non-inverseuse pour
fournir un signal d'erreur qui est couplé au convertisseur analo-
gique/numérique 33. Le convertisseur 33 alimente la RAM 17 par un signal numérique indicatif du facteur d'erreur d'étalonnage du diviseur de tension 42. La RAM 17 répond aux signaux sur le bus 15
et le conducteur 18 pour mémoriser l'erreur d'étalonnage du divi-
seur de tension 42 dans une adresse indiquée par le signal sur le
bus 15.
Quand l'appareil d'étalonnage de la figure 1 est réglé de sorte que le commutateur de l'ensemble 114 associé à la gamme continue de deux volts est fermé, l'appareil d'étalonnage fournit à l'instrument de mesure en cours d'étalonnage une séquence de tensions continues dans la gamme de 2 volts par les bornes 23' et
26. Dans ce but, le diviseur de tension 42 est connecté à la sor-
tie du DAC 34 vers les bornes 23' et 26 par l'amplificateur tampon 52 par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16 sous la commande d'un signal obtenu par le microprocesseur 11 et appliqué en tant que signal d'adresse multibits à la ROM 13. La ROM 13 fournit un signal sur le bus 14 pour fermer les commutateurs de la matrice 16 pour connecter les bornes 23' et 26 à la prise intermédiaire du diviseur de tension 42 par l'intermédiaire du tampon 52 et pour connecter la sortie du DAC 34 sur le diviseur 42. Simultanément, la ROM 13 alimente le DAC 34 par une gamme de signaux numériques allant de O à 10 volts de sorte que la tension fournie par la prise intermédiaire du diviseur 42 au moyen de
mesure en cours d'étalonnage s'étend nominalement de O à 2 volts.
Les signaux numériques représentant O à 10 volts sont séquentiel-
lement mémorisés dans le registre tampon inclus dans le DAC 34.
Pour chacun des signaux de O à 10 volts, la ROM 13 adresse la RAM 17 aux adresses o les erreurs d'étalonnage pour le diviseur de tension 42 et le DAC 34 sont mémorisées. Les erreurs d'étalonnage pour le diviseur de tension 42 et le DAC 34 sont fournies par la
2 6 1 0 4 1 4
RAM 17 au registre du DAC 34 pour incrémenter et/ou décrémenter les signaux numériques mémorisés à cet endroit, indicatifs de la
sortie du DAC correspondant à la gamme 0-10 volts.
Pour des étalonnages internes et externes dans certaines gammes, il est nécessaire d'utiliser l'amplificateur 53, prévu
pour avoir un gain nominal égal à 13. Le facteur d'erreur d'éta-
lonnage pour le gain de l'amplificateur 53 est obtenu en connec-
tant les éléments de l'instrument par la matrice de commutation 16 de la façon représentée en figure 5. Les connexions représentées en figure 5 sont établies après que les connexions d'étalonnage
illustrées en figure 4 ont été effectuées et q.ue l'erreur d'éta-
lonnage du diviseur de tension 42 a été mémorisée dans la RAM 17.
Pour étalonner l'amplificateur 53, la ROM 13 est commandée par le multiprocesseur 11 pour appliquer au DAC 34 une tension d'alimentation continue par la connexion en série des sources de référence continues 35 et 36 et d'un signal numérique qui amène le DAC à fournir un niveau de sortie de 5 volts. Le
signal fourni par la ROM 13 au registre dans le DAC 34 est modi-
fié, c'est-à-dire incrémenté et/ou décrémenté, par des signaux re-
présentant les erreurs d'étalonnage pour les références continues et 36, le DAC 34 et le diviseur de tension 42, tels qu'ils sont
obtenus à partir de la RAM 17.
La matrice de commutation 16 est alors actionnée pour connecter la sortie du DAC 34 au diviseur de tension 42 en même temps que le signal de la prise intermédiaire du diviseur de ten-
sion est appliqué au tampon 52 par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16. Le niveau continu nominal de 1 volt à la borne de sortie de l'amplificateur tampon 52 est appliqué à la borne
d'entrée non-inverseuse de l'amplificateur 53 qui fournit une ten-
sion de sortie continue ayant une valeur nominale de 13 volts qui
est couplée à l'entrée non-inverseuse de l'amplificateur 37.
L'entrée inverseuse de l'amplificateur 37 répond à la tension aux bornes des sources de référence continues connectées en série 35
26 1 0 4 1 4
et 36 de sorte de l'amplificateur fournit un signal de sortie différentiel représentant l'erreur d'étalonnage de l'amplificateur 53. Le signal d'erreur analogique représentant l'étalonnage obtenu
à partir de l'amplificateur 37 est fourni au convertisseur analo-
gique/numérique 33 qui fournit lui-même un signal numérique représentatif de l'erreur d'étalonnage de l'amplificateur 53. Le signal de sortie représentant l'erreur d'étalonnage numérique du convertisseur 33 pour l'amplificateur 53 est mémorisé dans la RAM4 17 à une adresse déterminée par le signal sur le bus 15 sous la
commande d'un signal d'écriture sur le conducteur 18. L'amplifi-
cateur 53 est utilisé pour un étalonnage interne et pour aider à fournir des tensions d'étalonnage externes continues dans la gamme
-1100 volts, comme cela sera décrit ci-après.
L'étape suivante dans le processus d'étalonnage amène le microprocesseur 11 à actionner la ROM 13 de sorte que la matrice de commutation 16 relie les composants de l'instrument selon la configuration illustrée en figure 6, utilisée pour déterminer l'erreur d'étalonnage pour le diviseur de tension 1/10 43. Le diviseur de tension 43 est connecté au DAC 34 pour aider à fournir des tensions d'étalonnage continues externes dans la gamme de 200 millivolts. Pour étalonner le diviseur de tension 1/10 43, la borne d'entrée inverseuse de l'amplificateur 37 agit en réponse à la sortie de tension continue nominale de 8,45 volts du DAC 34. La
sortie réelle du DAC 34 varie par rapport à 8,45 volts des fac-
teurs d'erreur d'étalonnage du DAC 34, de l'amplificateur 53 et de la source de tension de référence continue 35. Dans ce but, le registre accumulateur du DAC 34 reçoit de la ROM 13 un signal représentant une sortie nominale du DAC de 8,45 volts. Le signal dans le registre accumulateur du DAC 34 est incrémenté et/ou décrémenté par l'erreur d'étalonnage représentant des signaux pour le DAC, la source de référence 35 et l'amplificateur 13, tandis que le DAC est alimenté par la tension continue résultant des sources 35 et 36 connectées en série l'une avec l'autre. Ainsi, le
DAC fournit une sortie étalonnée d'environ 8,45 volts.
Simultanément, la matrice 16 relie la tension de la source 35 aux bornes du diviseur de tension 43, ayant une prise intermédiaire connectée à la borne d'entrée non-inverseuse de l'amplificateur 53. La tension de sortie de l'amplificateur 53, ayant nominalement une valeur de 8,45 volts, est fournie à la borne d'entrée non-inverseuse de l'amplificateur 37 dont l'entrée
inverseuse est sensible au signal de sortie du DAC 34. L'amplifi-
cateur différentiel 37 fournit une tension continue ayant une amplitude proportionnelle au facteur d'erreur d'étalonnage du diviseur de tension 43. Le signal de sortie de l'amplificateur
différentiel 37 est fourni à l'entrée d'un convertisseur analo-
gique/numérique 33 qui fournit un signal numérique qui est couplé à une adresse désignée dans la RAM 17 sous la commande des signaux
sur le bus 15 et le conducteur 18.
Pour fournir des tensions dans la gamme de 200 milli-
volts, les bornes 23' et 26 sont connectées à la prise intermé-
diaire du diviseur de tension 43 et à la masse tandis que le diviseur de tension est alimenté par le DAC 34. Le DAC 34 reçoit de la ROM 13 un ensemble de signaux numériques permettant au DAC de fournir des sorties continues de O à 2 volts de sorte que la tension entre la prise intermédiaire du diviseur 43 et la masse varie de O à 200 millivolts. Chaque signal numérique fourni par la ROM 13 au DAC 34 est incrémenté et/ou décrémenté par les signaux de correction d'étalonnage mémorisés dans la RAM 17 pour le DAC, les sources de référence 35 et 36, et le diviseur 43 de sorte que les tensions sur la prise intermédiaire du diviseur 43 sont des
tensions d'étalonnage précises dans la gamme de O à 200 milli-
volts.
Pour étalonner la source étalonnée en ce qui concerne
ses tensions de sortie dans la gamme de 20 à 200 volts, le divi-
seur de tension 1/8 44 est utilisé. Le diviseur de tension 44 est
2 6 1 0 4 1 4
étalonné en actionnant la matrice de commutation 16 pour établir les connexions illustrées en figure 7, après que le diviseur de tension 43 a été étalonné en utilisant la configuration de circuit
de la figure 6.
Pour déterminer l'erreur d'étalonnage du diviseur de tension 44, la matrice de commutation 16 est actionnée de sorte que les sources de référence de tension continues 35 et 36 sont connectées en série l'une avec l'autre vers la borne
d'alimentation du DAC 34 et aux bornes du diviseur de tension 44.
La ROM 13 est actionnée de sorte que le DAC 34 soit alimenté par un signal d'entrée numérique qui commande le DAC pour fournir un signal de sortie ayant une valeur nominale de 1,625 volt. Le signal en provenance de la ROM 13 est incrémenté ou décrémenté par des signaux de sortie de la RAM 17 associés aux facteurs d'erreur
d'étalonnage du DAC 34, ainsi que des références de tension con-
tinues 35 et 36. La tension sur la prise intermédiaire du diviseur de tension 44 et la sortie du DAC 34 sont fournies aux bornes
d'entrée non-inverseuse et inverseuse de l'amplificateur différen-
tiel 37 qui fournit une tension analogique continue ayant une va-
leur directement proportionnelle à l'erreur d'étalonnage du diviseur de tension 44. Le signal de sortie de l'amplificateur 37 est fourni au convertisseur analogique/numérique 33 qui fournit à son tour un signal qui est envoyé à une adresse désignée de la RAM
17 comme facteur d'erreur d'étalonnage du diviseur de tension 44.
Le diviseur de tension 44 est utilisé pour étalonner les sources de tension continues dans l'appareil d'étalonnage pour des
* tensions dans la gamme de 20 à 200 volts telles qu'obtenues à par-
tir de l'amplificateur 55. En conséquence, après que le diviseur de tension 44 a été étalonné, l'amplificateur de puissance 55,
conçu pour avoir un gain nominal de 20, est étalonné par le micro-
processeur 11 commandant la ROM 13 pour actionner la matrice de
commutation 16 de sorte que les composants de l'appareil d'éta-
lonnage sont connectés de la façon représentée en figure 8.
Pour étalonner l'amplificateur 55, la source de réfé-
rence continue 35 fournit une entrée continue de 6,5 volts à l'amplificateur de puissance 55 qui y répond pour fournir un
niveau de sortie continu ayant une valeur nominale de -130 volts.
La sortie négative de l'amplificateur 55 est appliquée à une borne de la résistance 49 du diviseur de tension 44 en même temps que le DAC 34 fournit à la résistance 50 un niveau continu ayant une valeur nominale de 18,571 volts. Dans ce but, le DAC 34 répond à une sortie de la ROM 13 associée à un niveau continu de 18,571
volts et aux signaux d'erreur de correction d'étalonnage en prove-
nance de la RAM 17 associée au DAC, à la source de référence 35,
et au diviseur de tension 44. La tension sur la prise intermédiai-
re entre les résistances 49 et 50 est appliquée à la borne d'entrée noninverseuse de l'amplificateur différentiel 37, alors que la borne d'entrée inverseuse de l'amplificateur différentiel est mise à la masse. L'amplificateur différentiel 37 fournit une tension continue ayant une amplitude et une polarité indicatives de l'erreur d'étalonnage de l'amplificateur de puissance 55. Si le gain de l'amplificateur de puissance 55 est strictement égal à 20, la tension sur la prise intermédiaire entre les résistances 49 et est nulle. La sortie de l'amplificateur 37 est alimentée par le convertisseur analogique/numérique 33 qui fournit un signal de sortie numérique qui est fourni à une adresse désignée dans la RAM 17. Pour fournir des tensions d'étalonnage comprises entre et 200 volts, la sortie du DAC 34 est connectée à l'entrée de l'amplificateur 55 par l'intermédiaire de la résistance 78 et la sortie de l'amplificateur est connectée à une borne d'entrée du moyen de mesure en cours d'étalonnage. Ces connexions sont établies par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16 sous la commande de la ROM 13 en réponse à une entrée d'opérateur vers les commutateurs 116 pour la gamme 20-200 volts. Le DAC agit en réponse à une séquence de signaux d'entrée en provenance de la ROM
26 1 0 4 1 4
13 pour des tensions de sortie nominales du DAC comprises entre 1
et 10 volts et pour des signaux d'entrée de la RAM 17 qui incré-
mentent et/ou décrémentent la sortie du DAC en fonction des erreurs d'étalonnage pour le DAC et l'amplificateur 55. Ainsi, l'amplificateur 55 fournit une succession de tensions de sortie d'étalonnage entre 20 et 200 volts qui sont appliquées au moyen de
mesure en cours d'étalonnage.
L'amplificateur 55 est également utilisé pour étalonner un diviseur de tension 100/1 qui est utilisé pour un étalonnage interne dans la gamme 200 - 1 100 volts. L'atténuateur de tension /1 comprend l'amplificateur 54, la résistance de réaction 68 et la résistance d'entrée 71. Des résistances 68 et 71 ont des
valeurs appropriées pour assurer l'atténuation de tension 100/1.
Le circuit pour étalonner le diviseur de tension 100/1 est représenté en figure 9 et comprend la combinaison en série des sources de tension continues 35 et 36 qui alimentent le DAC 34 et
fournissent 13,0 volts à la borne d'entrée de signal de l'amplifi-
cateur de puissance 55. L'amplificateur 55 fournit ainsi une sor-
tie continue ayant un niveau nominal de -260 volts. La sortie à -260 volts de l'amplificateur 55 est fournie à l'atténuateur 100/1 comprenant les résistances 68 et 71 et l'amplificateur 54, qui fournit un signal de sortie ayant une valeur nominale de 2,6 volts. En même temps que la tension de sortie de 2,6 volts est
fournie à partir de l'amplificateur 54, le DAC 34 fournit une ten-
sion de sortie qui est commandée par la ROM 13 et la RAM 17. La ROM 13 est actionnée par le microprocesseur 11 pour fournir un signal numérique ayant une valeur correspondant à une sortie nominale de 2,6 volts du DAC. Ensuite, la ROM 13 commande la RAM 17 pour lire des signaux numériques correspondant aux erreurs de correction d'étalonnage du DAC 34, des références de tension 35 et 36 et de l'amplificateur de puissance 20. L'amplificateur 37 répond aux signaux de sortie de l'amplificateur 54 du DAC 34 pour fournir un facteur de correction d'étalonnage pour l'atténuateur 100/1, qui
est appliqué au convertisseur analogique/numérique 33. Le conver-
tisseur 33 répond à la sortie de l'amplificateur 37 pour fournir une adresse dans la RAM 17 correspondant au facteur de correction d'étalonnage pour l'atténuateur 100/1. Pour fournir des tensions d'étalonnage dans la gamme de tension 200 - 1 100 volts pour un moyen de mesure à étalonner, les amplificateurs 53 et 55 ayant respectivement des gains de 13 et de sont connectés en série l'un avec l'autre pour répondre à une succession de tensions s'étendant entre 0,77 et 3,85 volts, telles qu'obtenues à partir du DAC 34. La sortie 200 - 1 100 volts de
l'amplificateur 55 est couplée par des bornes de sortie de l'appa-
reil d'étalonnage aux bornes d'entrée d'un moyen de mesure en cours d'étalonnage. Les connexions sont établies par la matrice 16 et le DAC 34 fonctionne séquentiellement sous la commande des signaux de la ROM 13 en réponse à l'activation par l'opérateur du
commutateur de l'ensemble 116 associé à la gamme 200 - 1 100 volts.
Le DAC 34 répond aux signaux de la ROM 13 pour fournir des signaux
ayant des valeurs nominales comprises entre 0,77 et 3,85 volts.
Les signaux à la valeur nominale sont incrémentés et/ou décrémen-
tés par un signal en provenance de la RAM 17 représentant l'erreur d'étalonnage de l'appareil d'étalonnage sur l'ensemble de valeurs
comprises en 200 et 1 100 volts.
Pour déterminer l'erreur d'étalonnage de l'appareil d'étalonnage entre 200 et 1 100 volts, la ROM 13 commande la matrice 16 de sorte que les amplificateurs 53 et 55 sont en série de sorte que la tension de sortie de 6,5 volts de la source de référence continue 35 est appliquée à l'amplificateur 53, et que la sortie de l'amplificateur 55 est connectée à l'atténuateur
100/1 comprenant l'amplificateur 54 et les résistances 68 et 71.
La sortie de tension nominale résultante à 16,9 volts de l'amplificateur 54 est comparée par l'amplificateur 37 à la sortie du DAC 34, commandé par la ROM 13, pour avoir une valeur nominale
2 6 1 0 4 1 4
de 16,9 volts. La valeur nominale est incrémentée et/ou décrémen-
tée par les erreurs de correction d'étalonnage pour les amplifica-
teurs 53 et 55 ainsi que l'atténuateur 100/1, telles que fournies
au DAC 34 par la RAM 17.
Pour étalonner la résistance de 10 kilohms 102, utilisée
comme résistance de référence en combinaison avec le circuit divi-
seur de tension résistif 90 pour un étalonnage de résistance, la matrice de commutation 16 est actionnée par la ROM 13 pour établir
le circuit représenté en figure 10. La résistance 102 est étalon-
née alors que la résistance de référence de 10 kilohms à quatre bornes 122 est connectée par un opérateur aux bornes 22. Une première borne de la résistance 122 est connectée au niveau 13,0 volts obtenu en connectant les sources 35 et 36 l'une avec l'autre en série, simultanément avec une alimentation du DAC 34 par le
niveau de 13,0 volts. La matrice de commutation 16 relie les bor-
nes 22 en série avec la résistance de référence interne 102 qui est en cours d'étalonnage. Une prise intermédiaire entre les résistances 102 et 122 est connectée à l'entrée non-inverseuse du circuit de différence 37, d'o il résulte que la borne d'entrée non-inverseuse du circuit 37 agit en réponse à une tension ayant
une valeur nominale de 6,5 volts. Simultanément, l'entrée inver-
seuse du circuit de différence 37 répond à la sortie du DAC 34 tandis que le DAC agit en réponse à un signal en provenance de la ROM 13 qui amène le DAC à fournir une tension de sortie ayant une valeur nominale de 6,5 volts. Le DAC 34 reçoit alors de la RAM 17 des signaux de correction d'étalonnage pour le DAC et pour les sources 35 et 36. Le réseau 37 répond à ses signaux d'entrée pour
fournir une tension continue ayant une valeur directement propor-
tionnelle au facteur d'erreur d'étalonnage pour la résistance 102.
Le convertisseur 33 répond à la sortie du circuit 37 pour fournir à la RAM 17 un signal numérique indicatif du facteur d'erreur
d'étalonnage de la résistance 102.
2 6 1 0 4 1 4
Après que la résistance de 10 kilohms 102 a été étalonnée, les résistances 91-99 pour étalonner la résistance d'un moyen de mesure, sont étalonnées en connectant l'appareil par la
matrice de commutation 16 de la façon représentée en figure 12.
Les résistances 92-99 dans la chaIne de résistances 90 sont disposées de sorte que les résistances par rapport à la masse au niveau de chacune des prises intermédiaires 90.2-90.9 ont des valeurs relatives par rapport à la masse de 10 ohms, 100 ohms, 1 kilohm, 10 kilohms, 100 kilohms, 1 mégohm, 10 mégohms et 100
mégohms. La résistance au niveau de chacune des prises intermé-
diaires 90.2-90.9 est étalonnée en connectant chaque prise inter-
médiaire à une première borne de la résistance de référence de 10 kilohms 102, ayant une seconde borne connectée à la référence de tension continue de 13,0 volts obtenue par la combinaison en série
des sources de référence 35 et 36.
La prise intermédiaire de la chaine de résistances 90, qui est connectée à une première borne de la résistance 102 est également connectée à l'entrée non-inverseuse de l'amplificateur différentiel 37. L'entrée inverseuse de l'amplificateur 37 agit en
réponse à un signal de sortie du convertisseur numérique/analogi-
que 34, ayant une borne d'entrée d'alimentation agissant en répon-
se au niveau de tension de 13,0 volts continus obtenu par la
combinaison en série des sources 35 et 36. Le DAC 34 agit en ré-
ponse à un signal de sortie numérique de la ROM 13 correspondant à la tension nominale sur la prise intermédiaire de la chaîne de résistances 90 à laquelle la borne d'entrée non-inverseuse de l'amplificateur 37 est connectée. Ainsi, pour chaque prise sur la chaîne de résistances 90, la ROM 13 fournit un signal d'entrée
différent au DAC 34. Ainsi, l'amplificateur 37 fournit une suc-
cession de tensions de sortie représentant l'erreur d'étalonnage
pour chaque prise intermédiaire de la chaîne de résistances 90.
Les signaux représentant l'erreur d'étalonnage des résistances,
obtenus à partir de l'amplificateur 37, sont fournis au convertis-
2610 4 1 4
seur analogique/numérique 33 qui fournit lui-même un signal numé-
rique vers la RAM 17 à des adresses prévues pour chaque valeur de
résistance sur les diverses prises de la chalne de résistances 90.
Toutes les connexions précédentes sont établies par le microprocesseur 11 qui établit une succession de signaux de com- mande d'adresse séquentiels vers la ROM 13. La ROM 13 répond à chacun des signaux de commande d'adresse pour fournir un signal de commande à la matrice de commutation 16 pour chacune des prises 90.2-90.9. Pour chacune des prises 90.2-90.9, la ROM 13 commande la RAM 17 pour écrire les données en provenance du convertisseur
analogique/numérique 33 à une adresse différente de la RAM 17.
Ainsi, la RAM 17 mémorise aux adresses prévues un signal numérique
représentant l'erreur d'étalonnage pour chacune des prises inter-
médiaires 90.2-90.9 de la chaîne de résistances 90.
Pour permettre à la chaîne de résistances 90 d'étalonner des valeurs de résistances entre 10 ohms et 100 mégohms d'un moyen de mesure en cours d'étalonnage, la matrice de commutation 16 est
commandée par la ROM 13 en réponse à l'actionnement par un opéra-
teur des commutateurs de l'ensemble 115 de sorte que les bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage sont connectées à chacune des prises 90.2-90.9. Les résistances sur les bornes de sortie de
l'appareil d'étalonnage sont couplées aux bornes d'entrée de ré-
sistances d'un moyen de mesure en cours d'étalonnage par des connexions établies par l'opérateur. L'affichage visuel de l'appareil d'étalonnage est connecté par la matrice 16 sous la commande de la ROM 13 aux sorties de la RAM 17 représentant les
erreurs d'étalonnage sur chacune des prises intermédiaires 90.2-
90.9, comme cela est déterminé pendant le cycle d'étalonnage
interne précédemment décrit pour les résistances 92-99 de l'appa-
reil d'étalonnage. L'opérateur répond à l'affichage visuel pour
décaler les valeurs de résistances affichées sur le moyen de mesu-
re en cours d'étalonnage de sorte que le moyen de mesure fournit des représentations précises de résistances. A titre de variante,
2 6 1 0 4 1 4
si le moyen de mesure comprend un ordinateur qui peut répondre à des signaux de correction d'étalonnage en provenance de l'appareil d'étalonnage selon l'invention, les signaux de sortie de la RAM 17 représentant les erreurs de correction d'étalonnage de résistances au niveau des prises 90.2-90.9 sont couplés au moyen de mesure et décalent automatiquement les valeurs de résistances fournies par
l'appareil d'étalonnage au moyen de mesure.
Après que les résistances de la chaîne de résistances 90 ont été étalonnées, comme cela a été décrit en relation avec la figure 12, le microprocesseur 11 fait passer la ROM 13 à un état qui amène les connexions illustrées en figure 13 à s'établir. Les connexions illustrées en figure 13 permettent au générateur de courant constant 150 d'être étalonné pour chacune des décades de courant de 100 microampères à 1 ampère pour fournir des courants étalonnés qui sont des multiples par ordres de grandeur successifs
de 130 microampères. Le générateur de courant 150 est de préféren-
ce du type décrit dans l'ouvrage intitulé Integrated Electronics, Millman et Halkias, page 539. Pour fournir les différents courants
de sortie étalonnés, le générateur de courant 150 est sélective-
ment connecté aux résistances 151-156. Pour déterminer le facteur de correction d'étalonnage pour chacun des courants de sortie du générateur de courant constant 150, la sortie du générateur de courant est connectée aux bornes des résistances étalonnées 92-97
entre les prises 90.2-90.7 et la masse, dans la chatne de résis-
tances 90. Les chutes de tension résultantes aux bornes de prises 90.2-90. 9 sont comparées dans l'amplificateur différentiel 37 aux sorties du DAC 34 représentant les tensions désirées aux bornes des prises, incluant les erreurs d'étalonnage des résistances sur
les prises 90.2-90.7 et des composants associés au DAC pour déter-
miner les erreurs d'étalonnage de la source de courant constant
pour chacune des valeurs 130 jA, 1,3 mA, 13 mA, 130 mA et 1,3A.
Dans ce but, une première borne d'entrée de la source de courant 150 est connectée à la combinaison en série des sources 35
2610414'
et 36 et une seconde borne d'entrée de la source 150 est séquen-
tiellement connectée aux résistances 151-156. Les connexions se font par l'intermédiaire de la matrice de commutation 16 sous la commande de la ROM 13 tandis que la ROM commande la matrice de sorte que la sortie du générateur de courant soit connectée aux
bornes des résistances 92-97. Simultanément, la borne d'alimenta-
tion du DAC 34 est connectée à la combinaison en série des sources et 36 et la borne de signal d'entrée du DAC agit en réponse aux
signaux binaires en provenance de la ROM 13 indicatifs des ten-
sions de sortie nominales aux bornes des prises 90.2-90.7 pour chacun des courants fournis par la source 150 aux résistances sur les prises 90.2-90. 7. Les valeurs des résistances 151-156 sont de préférence choisies de sorte que les tensions nominales aux bornes des prises 90.2-90.7 restent constantes à 1,3 volt tandis que le générateur de courant 150 est connecté à différentes résistances individuelles 151-156 et à différentes prises 90.2-90.7. Ainsi, le
DAC 34 est alimenté au moyen de la ROM 13 par le même signal tan-
dis que la source constant 150 est en cours d'étalonnage pour cha-
que gamme de courant.
Les sorties nominales du DAC 34 sont incrémentées et/ou décrémentées en réponse aux signaux indicatifs des erreurs d'étalonnage des sources de référence 35 et 36; des valeurs des résistances 92-97 et du DAC lui-même, comme on l'obtient à partir de la RAM 17. L'amplificateur différentiel 37 répond aux tensions nominales fournies à son entrée non-inverseuse à partir des prises 90.2-90.7 et aux tensions de sortie étalonnées du DAC 34 pour
fournir des signaux de différence indicatifs des erreurs d'éta-
lonnage de la source de courant 150 pour chacune des résistances 151-156. Les erreurs d'étalonnage du générateur de courant 150, telles qu'obtenues à partir de l'amplificateur 37, sont converties en signaux numériques par le convertisseur 33 et mémorisées dans
la RAM 17 à des adresses choisies sous la commande de la ROM 13.
2 6 10 4 1 4
Quand un instrument de mesure externe doit être étalonné en ce qui concerne sa réponse en courant, l'opérateur ferme les
commutateurs de l'ensemble 117 d'o il résulte que le micropro-
cesseur adresse la ROM 13 pour actionner la matrice 16 de sorte que les sources 35 et 36 sont connectées en série avec la première entrée du générateur de courant 150 et que les résistances 151-156 sont séquentiellement connectées à la seconde borne d'entrée du générateur de courant. La sortie du générateur de courant est connectée aux bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage qui sont connectées aux bornes d'entrée sensibles au courant du moyen de mesure en cours d'étalonnage. L'affichage visuel de l'appareil d'étalonnage agit en réponse au signal de correction d'étalonnage de courant mémorisé dans la RAM 17 pour chaque valeur de courant
fournie aux bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage. L'opéra-
teur décale la valeur du courant de lecture du moyen en cours d'étalonnage de l'indication sur l'affichage visuel de l'appareil d'étalonnage. A titre de variante, si le moyen de mesure comprend
un ordinateur, il est connecté par l'opérateur aux bornes de sor-
tie de la RAM et les courants étalonnés fournis par l'appareil
d'étalonnage au moyen de mesure sont automatiquement décalés.
La sortie étalonnée à 0,13 ampère de la source de
courant constant 150 est également utilisée pour établir le fac-
teur de correction d'étalonnage pour la résistance de référence interne de 1 ohm 101 en actionnant la matrice de commutation 16
pour établir les connexions illustrées en figure 11. Pour étalon-
ner la résistance 101, l'instrument d'étalonnage selon la présente
invention est connecté par l'opérateur à la résistance de référen-
ce externe de 1 ohm à quatre bornes 123, elle-même connectée à la source de courant constant de 0,13 ampère 150. Les résistances 101 et 123 sont connectées en série l'une avec l'autre et à la source de courant constant 150 de sorte qu'on obtient normalement aux bornes de chacune des résistances une tension de 0,13 volt. Les réponses aux bornes des résistances 101 et 123 sont effectivement comparées pour déterminer l'erreur d'étalonnage de la résistance 101 par rapport à celle de la résistance étalon externe à quatre
bornes 123.
Pour déterminer séparément les tensions aux bornes des résistances 101 et 123, la matrice de commutation 16 comprend des
contacts 151-153 et 154-156, tels que représentés en figure 11.
Les contacts 153 et 156 sont connectés aux bornes d'entrée positi-
ve et négative d'un amplificateur de mesure 157; l'amplificateur
de mesure 157 n'est pas référencé à la masse et peut en conséquen-
ce répondre à la tension appliquée à ses bornes d'entrée positive
et négative pour fournir une rjéfection de mode commun. Les con-
tacts 153 et 156 sont des contacts effectivement couplés de sorte
que les contacts 153 et 152 s'engagent en même temps que les con-
tacts 155 et 156; inversement, les contacts 153 et 156 s'engagent en même temps que les contacts 151 et 154. Les contacts 151 et 152
sont connectés aux bornes opposées de la résistance à quatre bor-
nes 123, alors que les contacts 154 et 155 sont connectés aux bor- nes opposées de la résistance 101. Pour détecter la valeur de la
résistance 101, les contacts 153 et 156 s'engagent avec les contacts 152 et 155 de sorte que les bornes d'entrée de polarités opposée de l'amplificateur de mesure 157 agissent en réponse au niveau nominal de 0, 13 volt aux bornes de la résistance 101. Cette tension est comparée à la tension aux bornes de la résistance 123 quand les contacts 153 et 156 s'engagent avec les contacts 151 et 154. Les réponses fournies par l'amplificateur 157 sont appliquées à la borne d'entrée non-inverseuse de l'amplificateur 37, dont l'entrée inverseuse reçoit la sortie du DAC 34. Le DAC 34 fournit à la borne d'entrée inverseuse de l'amplificateur 37 une tension analogique représentant les erreurs d'étalonnage de la source de courant constant 150 pour le calibre 0,13 ampère, du DAC lui-même et des sources de référence 35 et 36 qui sont connectées
en série sur la borne d'alimentation du DAC.
2 6 1 0 4 1 4
Quand les contacts 151, 153 et 154, 156 sont connectés, le signal de sortie de l'amplificateur 37 est une tension qui représente la réponse de la résistance de référence externe à quatre bornes 123 à la source de courant 150, avec compensation des erreurs d'étalonnage de la source 150 pour la gamme 0,13 ampè- re et les composants associés au DAC 34. Le signal de sortie de
l'amplificateur 37 est fourni au convertisseur analogique/numé-
rique 33 qui fournit un signal numérique qui est mémorisé à une adresse choisie de la RAM 17. Ensuite, les contacts 152, 153 et 155, 156 sont connectés, d'o il résulte que le convertisseur 33 fournit à une autre adresse choisie de la RAM 17 un signal numérique représentant la valeur de la résistance 101, avec les corrections d'étalonnage de la source 150 dans la gamme de 0,13 ampère et des composants associés au DAC 34. On accède aux adresses de la RAM 17 o les réponses des résistances 101 et 123 sont mémorisées par le microprocesseur 11 qui les combine de façon
différentielle pour fournir une indication de l'erreur d'étalon-
nage de la résistance 101. Cette erreur d'étalonnage est mémorisée
dans une adresse choisie de la RAM 17.
La résistance 101 est utilisée pour fournir une réponse sur les bornes de sortie de l'appareil d'étalonnage quand on souhaite étalonner un instrument de mesure externe dans la gamme de 1 ohm. Le processus est le même que celui décrit ci-dessus pour étalonner des résistances de 10 ohms à 100 mégohms sauf que la résistance 101 est directement connectée à la borne d'entrée du moyen de mesure en cours d'étalonnage par des connexions établies par la matrice de commutation 16 en réponse à la sortie de la ROM 13 sous la commande d'un signal en provenance du microprocesseur
11, tel qu'il est commandé par suite de la fermeture du commuta-
teur de l'ensemble 115 associé à 1 ohm.
Pour permettre à des tensions d'étalonnage alternatives d'être fournies par l'appareil d'étalonnage selon la présente invention à un moyen de mesure externe en cours d'étalonnage, la
2 6 1 0 4 1 4
matrice de commutation 16 est alimentée pour établir les
connexions représentées dans le schéma de circuit de la figure 14.
Le moyen de mesure étalonné de façon externe répond à une tension alternative ayant une grande gamme de fréquences entre 40 hertz et 1 mégahertz et une grande gamme d'amplitudes, telle que fournie
par l'amplificateur 162 répondant lui-même à la sortie de l'oscil-
lateur 103 à fréquence variable et amplitude fixe. La fréquence de l'oscillateur 103 est commandée par la sortie de la ROM 13 en réponse à la fermeture par l'opérateur de l'un des commutateurs de
l'ensemble de commutateurs 118.
La fréquence variable de l'oscillateur 103 est modifiée quant à son amplitude par le circuit incluant l'amplificateur 162 et les impédances qui lui sont associées, à savoir les résistances
à commande numérique 161 et 163, ainsi que la résistance à com-
mande par une tension 158. Les résistances 158 et 161 sont connec-
tées en série l'une avec l'autre entre la sortie de l'oscillateur 103 et l'entrée de l'amplificateur 162 alors que la résistance 163 est connectée dans un trajet de réaction entre les bornes d'entrée et de sortie de l'amplificateur 162. Les valeurs des résistances 161 et 163 sont commandées en réponse à la sortie de la ROM 13 pour commander la gamme de sortie de l'amplificateur 162 et l'amplitude de la sortie dans la gamme à des valeurs nominales prédéterminées. En outre, la résistance 158 répond à des signaux d'erreur de correction d'étalonnage tels qu'appliqués au DAC 34
par la RAM 17 pour la sortie alternative dans chaque gamme d'ampli-
tudes et de fréquences. La RAM 17 est adressée par les sorties de la ROM 13 prévues pour les erreurs de correction d'étalonnage, qui sont fournies d'une façon décrite ci-après en relation avec les figures 15 et 16. Si l'oscillateur 103 est réglé pour fournir une fréquence entre les fréquences pour lesquelles il a été étalonné,
les erreurs d'étalonnage pour les deux fréquences étalonnées adja-
centes sont fournies par la RAM 17 au microprocesseur 11. Le mi-
croprocesseur 11 interpole entre les erreurs d'étalonnage pour les
2610 4 1 4
deux fréquences adjacentes pour déterminer l'erreur d'étalonnage pour la fréquence choisie. L'erreur d'étalonnage pour la fréquence choisie est couplée à la RAM 17 pour commander la résistance 158
par le DAC 34.
La RAM 17 fournit alors des signaux de commande numé- rique à la résistance 161 pour assurer une commande de réaction à
relativement long terme et précise pour la sortie de l'amplifica-
teur 162; dans le mode de réalisation particulier décrit, la
boucle de réaction comprenant la RAM 17 et la résistance 161 main-
tient la sortie de l'amplificateur 162 à 10 parties par million.
Un trajet de réaction en temps réel grossier (0,1 %) est également assuré par la résistance à commande par une tension 158. Ainsi, deux boucles de réaction fondamentalement parallèles sont prévues, l'une étant une boucle en temps réel relativement grossière et l'autre une boucle à constante de temps relativement longue mais précise. La tension de sortie de l'amplificateur 162 a tendance à diminuer quand la fréquence de l'oscillateur 103 augmente en
raison des capacités parasites réparties du circuit de commande.
La boucle précise à constante de temps longue comprend une com-
pensation pour la tension de sortie réduite de l'amplificateur 162 tandis que la fréquence de l'oscillateur 103 augmente. L'effet des capacités réparties et la quantité de compensation requise sont déterminés pendant le processus d'étalonnage et mémorisés dans la RAM 17 pour commander la valeur de la résistance 158 alors que la sortie de l'amplificateur 162 est couplée en tant que tension d'étalonnage à un moyen de mesure externe. Ainsi, quand la fréquence de l'oscillateur 103 change, la valeur de la résistance 158 est en conséquence modifiée de sorte que la sortie alternative de l'amplificateur 162 fournie au moyen de mesure externe est
maintenue à la valeur désirée.
La boucle de réaction grossière en temps réel comprend un convertisseur de valeur alternative efficace en valeur continue
104, alors que la boucle de réaction à commande précise à cons-
tante de temps relativement longue comprend un convertisseur de valeur alternative efficace en continu 105. Les convertisseurs
104 et 105 sont commandés en parallèle par la sortie de l'atténua-
teur 167, comprenant l'amplificateur 165 ayant une borne de sortie
reliée à la sortie de l'amplificateur 162 par la résistance à com-
mande numérique 164; une résistance fixe 166 est connectée en
tant qu'impédance de réaction entre les bornes d'entrée et de sor-
tie de l'amplificateur 165. La valeur de la résistance 164 est
commandée par la sortie de la ROM 13 de façon similaire à la com-
mande prévue par la ROM pour la résistance 163. Ainsi, le facteur d'atténuation de l'amplificateur 165 et le facteur de gain de l'amplificateur 162 sont approximativement identiques de sorte que la sortie de l'amplificateur 165 reste dans une gamme qui peut être traitée par les convertisseurs 104 et 105 indépendamment de l'amplitude de la tension appliquée par l'amplificateur 162 au
dispositif externe en cours d'étalonnage.
La sortie alternative de l'amplificateur 165 est appliquée au convertisseur de valeur efficace en continu 104 qui fournit un signal de sortie continu ayant une amplitude indicative de la sortie efficace réelle de l'amplificateur 165. Pour chacun des réglages des résistances à commande numérique 161, 163 et 164
et pour chacune des fréquences de l'oscillateur 103, le conver-
tisseur 104 fournit une tension de sortie continue prédéterminée.
La tension de sortie du convertisseur 104 est comparée à une va-
leur préétablie pour sa sortie mémorisée dans une adresse désignée de la ROM 13. La valeur mémorisée dans l'adresse désignée de la ROM 13 est déterminée par la fréquence de l'oscillateur 103 ainsi que par les valeurs des résistances 161, 163 et 164. Le signal
dans la ROM 13 à ladite adresse est fourni au DAC 34 o il est mo-
difié par l'erreur de correction d'étalonnage fournie par le DAC à
la RAM 17. Les signaux de sortie continus du DAC 34 et du conver-
tisseur 104 sont respectivement appliqués aux bornes d'entrée non-
inverseuse et inverseuse de l'intégrateur 237 qui fournit un signal d'erreur analogique ayant une amplitude et une polarité qui commande la valeur de la résistance à commande par une tension 158
pour maintenir, en temps réel, la tension de sortie de l'amplifi-
cateur 162 approximativement au niveau désiré indiqué par la sor- tie du DAC 34. Pour empêcher des ondulations de sortie de l'intégrateur 237 d'affecter la boucle de réaction, la sortie de l'intégrateur 237 est appliquée à un filtre passe-bas 238 et de là
à une borne d'entrée de commande de la résistance 158.
La commande précise à constante de temps longue de la sortie de l'amplificateur 162 est prévue pour fournir la sortie du convertisseur de valeur efficace en continu 105 à l'entrée du convertisseur analogique/numérique 33. Le convertisseur 33 fournit ainsi un signal numérique à plusieurs bits qui est couplé à une adresse désignée dans la RAM 17 sous la commande d'un signal de
sortie d'adresse de la ROM 13. Le signal de la RAM 17, représen-
tant l'amplitude de la sortie du convertisseur 105, est comparé dans le microprocesseur 11 à un signal numérique mémorisé dans la ROM 13 indicatif d'une valeur préétablie désirée pour la sortie du convertisseur 105 pour la gamme désignée par les valeurs des résistances 163 et 164 et la valeur se trouvant dans la gamme
telle qu'indiquée par la valeur de la résistance 161. Le micropro-
cesseur 11 répond à des signaux numériques représentant les valeurs préétablies et réelles pour la sortie du convertisseur 105 pour fournir un signal d'erreur numérique qui est recouplé à une
adresse désignée dans la RAM 17, sous la commande de la ROM 13.
Le signal numérique représentant l'erreur de la sortie du convertisseur 105 mémorisé dans la RAM 17 est lu périodiquement
à partir de la RAM dans un registre accumulateur dans la résistan-
ce 161 pour incrémenter ou décrémenter la valeur de la résistance 161. La valeur mémorisée dans le registre accumulateur dans la résistance 161 indique l'amplitude de la sortie alternative de l'amplificateur 162 dans la gamme désignée par les valeurs des
2 6 1 0 4 1 4
résistances 163 et 164, telles qu'elles sont fournies au registre
par la ROM 13.
La figure 15 indique les connexions établies par la matrice de commutation 16 sous la commande de la ROM 13 pour un étalonnage à basse fréquence de l'appareil représenté en figure 14. Pour de basses fréquences de l'oscillateur 103, c'est-à-dire des fréquences inférieures à 100 Hz, on peut valablement supposer que les capacités parasites du circuit utilisé pour fournir la tension de sortie d'étalonnage de l'amplificateur 162 n'ont pas d'effet sur la sortie de l'amplificateur 162 appliquée au moyen de mesure en cours d'étalonnage. Ainsi, des tensions continues sont
utilisées pour étalonner les réponses basse fréquence du conver-
tisseur 104, de l'amplificateur 162, de l'atténuateur 167 et des
circuits associés.
La première étape de l'étalonnage basse fréquence impli-
que la détermination de l'erreur de correction d'étalonnage pour le convertisseur 104, une opération qui est réalisée en actionnant la matrice de commutation 16 de sorte que la source de référence
continue à 6,5 volts 35 est connectée par l'intermédiaire de con-
tacts de commutation 181, 182 (compris dans la matrice 16) vers l'entrée du convertisseur. La sortie du convertisseur 104 et la sortie à 6,5 volts de la source 35 sont respectivement appliquées aux bornes non-inverseuse et inverseuse de l'amplificateur 37, qui fournit un signal d'erreur représentant l'erreur de correction d'étalonnage du convertisseur 104; la connexion à partir de la
source 35 vers l'amplificateur 37 se fait par des contacts de com-
mutation 184 et 185 (inclus dans la matrice 16). La sortie conti-
nue de l'amplificateur 37 est appliquée au convertisseur analogique/numérique 33 qui fournit un signal numérique qui est mémorisé à un emplacement approprié de la RAM 17 sous la commande
de la ROM 13.
* Après que l'erreur de correction d'étalonnage du conver-
tisseur 104 a été déterminée, le décalage continu introduit par les
2610 4 14
les amplificateurs 162 et 165 est déterminé par la ROM 13 fournis-
sant un signal de commande numérique au DAC 34 représentant un ni-
veau de tension nul et activant la matrice 16 de sorte que la
sortie du DAC est connectée à la résistance 161 elle-même connec-
tée à la borne d'entrée de signal de l'amplificateur 162. La ma- trice 16 est actionnée de sorte que la sortie continue résultante
de l'amplificateur 162 est couplée par la résistance 164 à la bor-
ne d'entrée de signal de l'amplificateur 165 dont la sortie est couplée par des contacts de commutation 181 et 183 (inclus dans la matrice 16) à l'entrée d'un convertisseur de valeur alternative
efficace en continu 104. La sortie du convertisseur 104 est compa-
rée à un niveau de tension nul en couplant la sortie du convertis-
seur à la borne d'entrée non-inverseuse de l'amplificateur 37 tandis que l'entrée inverseuse de l'amplificateur est connectée à
la masse par des contacts 184 et 186 (inclus dans la matrice 16).
La sortie de différence résultante de l'amplificateur 37, repré-
sentant le décalage de zéro en continu des amplificateurs 162 et , est convertie en un signal numérique par le convertisseur 33
qui fournit à une adresse désignée de la RAM 17 le facteur de dé-
calage de zéro.
La matrice de commutation 16 est alors activée pour
déterminer les erreurs d'étalonnage basse fréquence pour le cir-
cuit comprenant les amplificateurs 162 et 165. En particulier, le
circuit représenté en figure 15 est établi de sorte que les con-
tacts 181, 183 et 184, 185 entrent en engagement. Les valeurs des résistances 161, 163 et 164 ainsi que l'amplitude de la sortie du DAC 34 sont commandées par des signaux numériques dans la ROM 13 de sorte que, quand la gamme de sortie continue de l'amplificateur 162 change, la tension continue appliquée au convertisseur 104 par
l'amplificateur 165 a une valeur nominale de 6,5 volts. Le conver-
tisseur 104 répond au niveau d'entrée nominal à 6,5 volts qui lui est appliqué pour fournir une tension de sortie continue ayant la
même valeur que la tension d'entrée vers le convertisseur. La sor-
2610 4 1 4
tie du convertisseur 104 est comparée à la référence à 6,5 volts de la source 35 dans l'amplificateur 37 qui fournit un signal d'erreur d'étalonnage basse fréquence pour chaque amplitude à appliquer par l'amplificateur 162 vers un moyen de mesure qui est étalonné ultérieurement. Les signaux d'erreur d'étalonnage basse fréquence sont fournis en réponse à des changements de valeur des
résistances 161, 163 et 164.
Les signaux d'erreur d'étalonnage basse fréquence obte-
nus à partir de l'amplificateur 37 sont convertis en signaux numériques par le convertisseur 33, ayant une sortie qui fournit à
des adresses choisies dans la RAM 17 des signaux numériques indi-
catifs des erreurs d'étalonnage basse fréquence. Les signaux d'erreur d'étalonnage basse fréquence mémorisés dans la RAM 17 sont combinés avec le décalage de zéro et les signaux d'erreur d'étalonnage du convertisseur 105 mémorisés dans la RAM par le microprocesseur 11 actionnant la ROM 13 pour lire le signal d'erreur d'étalonnage basse fréquence, le signal de décalage de zéro, et les signaux d'erreur d'étalonnage du convertisseur 105
dans la RAM dans le microprocesseur 11. Le microprocesseur 11 com-
bine les signaux d'erreur de décalage de zéro et d'étalonnage du convertisseur 105 avec chacun des signaux d'erreur d'étalonnage basse fréquence pour fournir un signal d'erreur d'étalonnage basse
fréquence plus précis pour chaque amplitude fournie par l'amplifi-
cateur 162 à un moyen de mesure externe. Les signaux d'erreur
d'étalonnage basse fréquence plus précis fournis par le micropro-
cesseur 11 sont recouplés à des adresses choisies dans la RAM 17
sous la commande de la ROM 13.
Quand l'oscillateur 103 est actionné pour fournir un signal d'étalonnage basse fréquence à un moyen de mesure en cours d'étalonnage, la RAM 17 est adressée par la ROM 13 pour fournir des signaux de correction d'étalonnage à la résistance à commande en tension 158 par le DAC 34. Pour chaque amplitude fournie par l'amplificateur 162 au moyen de mesure en cours d'étalonnage, la RXM 17 est décalée par la ROM 13 vers une adresse différente de
sorte que la valeur de la résistance 158 due à l'erreur d'étalon-
nage basse fréquence peut être différente. Les signaux d'erreur d'étalonnage incrémentent et décrémentent des valeurs dans des gammes préétablies pour la résistance 158 fournies au DAC 34 par
la ROM 13.
Pour déterminer les erreurs d'étalonnage haute fréquen-
ce, la matrice de commutation 16 est actionnée pour établir les
connexions représentées par le schéma de circuit de la figure 16.
Pour un étalonnage haute fréquence, c'est-à-dire des fréquences comprises entre 100 Hz et 1 MHz, l'oscillateur 103 est actionné par la ROM 13 pour fournir des fréquences de 10 Hz, 100 Hz, 1 kHz, kHz, 100 kHz et 1 MHz. En fonctionnement réel, pratiquement toute fréquence dans la gamme peut être fournie par l'appareil d'étalonnage de l'invention au moyen de mesure externe à étalonner en utilisant un processus d'interpolation dans le microprocesseur 11 des errreurs d'étalonnage mémorisées dans la RAM 17. L'erreur de correction d'étalonnage est déterminée pour une seule amplitude à chaque position de fréquence de l'oscillateur 103. A partir de
l'erreur d'étalonnage déterminée pour l'amplitude unique pour cha-
que fréquence, la correction d'étalonnage est déterminée par le microprocesseur 11 pour toutes les amplitudes a cette fréquence en réponse aux erreurs d'étalonnage basse fréquence précédemment détectées et mémorisées. Ce processus prend moins de temps que de faire passer l'amplitude obtenue à partir de l'amplificateur 162
par chaque palier d'amplitude pour chaque position de fréquence.
On notera toutefois que, si on le souhaite ou si cela s'avère nécessaire, l'amplitude de la sortie de l'amplificateur 162 peut être modifiée par plusieurs paliers pour chaque position de
fréquence de l'oscillateur 103.
Pour assurer l'étalonnage haute fréquence, la matrice de
commutation 16 est alimentée de sorte que la sortie de l'oscilla-
teur 103 est connectée à l'entrée de l'amplificateur 162 par la
2610 4 1 4
combinaison en série de la résistance à commande en tension 158 et
de la résistance à commande numérique 161. La sortie de l'amplifi-
cateur 162 est couplée à la même boucle de réaction grossière pour
la résistance 158 que celle qui a été décrite ci-dessus en rela-
tion avec la figure 14. Toutefois, pendant l'étalonnage haute fré- quence, aucune erreur de correction d'étalonnage n'est appliquée par la RAM 17 au DAC 34 et le DAC répond seulement à des valeurs
de points de réglage prédéterminées en provenance de la ROM 13.
La boucle de réaction précise à constante de temps longue pour la résistance 161 est interrompue et la sortie de l'amplificateur 162 est couplée à l'entrée du convertisseur de
valeur alternative efficace en valeur continue 105 par l'inter-
médiaire de la résistance à commande numérique 106 dont la valeur
est commandée par la ROM 13 de sorte que l'entrée vers le conver-
tisseur 105 ait approximativement la même amplitude que l'entrée vers le convertisseur 104. Comme cela a été décrit ci-dessus, la résistance 106 comprend plusieurs résistances précises qui n'ont pratiquement pas de composantes réactives de sorte que l'entr&e vers le convertisseur 105 ne varie pas en fonction de la fréquence de l'oscillateur 103. Toutefois, l'entrée du convertisseur 104 est fonction de la fréquence en raison des réactances parasites de la
résistance 164 à l'entrée de l'amplificateur 165 dans l'atténua-
teur 167. En raison des réactances parasites, la valeur de la résistance 158 n'est pas commandée convenablement par la boucle de réaction comprenant le convertisseur 104. Le circuit sensible à la sortie de l'amplificateur 162 comprenant le convertisseur 105
détermine le changement d'amplitude de la sortie de l'amplifica-
teur 162 par suite des réactances du trajet comprenant le conver-
tisseur 104.
Dans ce but, la sortie continue du convertisseur 105 est comparée à la tension de référence de 6,5 volts de la source 35 en appliquant les tensions du convertisseur et de la source aux bornes d'entrée inverseuse et non-inverseuse de l'amplificateur différentiel 37. L'amplificateur différentiel 37 fournit un signal
de sortie analogique représentant l'erreur de correction d'étalon-
nage pour une amplitude unique de l'oscillateur 103 pour chaque fréquence de l'oscillateur. De préférence, l'amplitude unique représente une valeur moyenne dans la plage des amplitudes appli-
quées par l'oscillateur 103, par l'intermédiaire de l'amplifica-
teur 162, aux bornes qui sont finalement connectées au moyen de mesure à étalonner. Dans ce but, la ROM 13 fournit des signaux
prédéterminés aux résistances 161, 163 et 164 ainsi qu'à la résis-
tance 106, pour maintenir les entrées vers les convertisseurs 104 et 105 à la valeur convenable pendant l'opération d'étalonnage à
haute fréquence.
Le signal de sortie analogique d'étalonnage à haute fréquence de l'amplificateur différentiel 37 est converti en un signal numérique par le convertisseur analogique/numérique 33 qui
fournit des signaux numériques indicatifs de sa valeur aux adres-
ses désignées de la RAM 17 sous la commande de la ROM 13. Les si-
gnaux haute fréquence mémorisés dans la RAM 17 sont combinés dans
le microprocesseur 11 aux signaux mémorisés dans la RAM pour cha-
cune des erreurs d'étalonnage d'amplitude basse fréquence. Le mi-
croprocesseur 11 répond aux signaux d'étalonnage d'erreur basse et haute fréquence pour fournir un signal de correction d'erreur
d'étalonnage séparé pour chaque position d'amplitude et de fréquen-
ce de l'oscillateur 103. Pendant un fonctionnement normal, quand l'amplificateur 162 est connecté à un moyen de mesure externe en cours d'étalonnage, les signaux d'erreur d'étalonnage pour chaque amplitude et position de fréquence mémorisée dans la RAM 17 sont
fournis à la résistance commandée en tension 158 par le DAC 34.
Bien que la présente invention se soit appuyée sur la
description de modes de réalisation particuliers, il sera clair
pour l'homme de l'art que diverses variantes peuvent en être déduites.
2610 4 14
Claims (14)
1. Appareil d'étalonnage pour fournir un paramètre élec-
trique sur plusieurs gammes à un dispositif à étalonner, caracté-
risé en ce qu'il comprend: des composants internes pour fournir le paramètre sur lesdites gammes, une référence de tension interne (35, 36), un moyen convertisseur numérique/analogique (DAC 34), une mémoire (13, 17) , un moyen de comparaison analogique (37), et un moyen convertisseur analogique/numérique (33),
des premiers moyens pour connecter les composants inter-
nes selon un circuit avec la référence de tension interne, le moyen convertisseur analogique/numérique, le moyen de comparaison et la mémoire pour écrire des signaux de données dans la mémoire
indicatifs des facteurs de correction d'étalonnage pour les com-
posants internes, et
des seconds moyens pour connecter les composants inter-
nes selon un circuit avec la mémoire et le moyen convertisseur
numérique/analogique de sorte que le convertisseur numérique/ana-
logique répond aux signaux de données mémorisés indicatifs des facteurs de correction d'étalonnage pour modifier la valeur du paramètre fourni au dispositif par les composants internes de sorte que le paramètre fourni est corrigé en fonction de la
correction d'étalonnage du paramètre.
2. Appareil d'étalonnage selon la revendication 1, dans
lequel le paramètre est une tension à fournir sur plusieurs gam-
mes, les composants internes étant des moyens de modification de tension, caractérisé en ce que les premiers moyens de connexion
comprennent des moyens pour connecter: (a) les moyens de modifi-
cation de tension vers les moyens de référence de tension interne de sorte que les différentes tensions applicables aux diverses
gammes sont obtenues à différents instants, (b) les tensions obte-
2 6 1 0 4 1 4
nues par les moyens de modification de tension et le signal analo-
gique vers le moyen de comparaison de sorte que le moyen de
comparaison (37) fournit un signal d'erreur, (c) le moyen de com-
paraison au moyen convertisseur analogique/numérique de sorte que le moyen convertisseur analogique/numérique fournit un signal in-
dicatif de l'erreur, et (d) le moyen convertisseur (34) à la mé-
moire (17) de sorte que la mémoire mémorise un signal numérique représentant un facteur de correction pour chaque gamme, déterminé
par le signal indiquant l'erreur.
3. Appareil d'étalonnage selon la revendication 2, ca-
ractérisé en ce que les moyens de modification de tension variable comprennent des moyens diviseurs de tension (42, 43, 44) ayant des
facteurs de division de tension différents.
4. Appareil d'étalonnage selon la revendication 2, ca-
ractérisé en ce que les moyens de modification de tension variable
comprennent des moyens amplificateurs (53, 54, 55) ayant des fac-
teurs de gain différents.
5. Appareil d'étalonnage selon la revendication 3, ca-
ractérisé en ce que les moyens de modification de tension variable
comprennent des moyens amplificateurs (53, 54, 55) ayant des fac-
teurs de gain différents.
6. Appareil d'étalonnage selon la revendication 2, ca-
ractérisé en ce que la tension à mesurer est continue et les moyens de référence de tension interne sont une source continue, et les premiers moyens de connexion comprennent des moyens pour coupler une tension continue à partir de la source continue vers
le moyen de comparaison (37).
7. Appareil d'étalonnage pour fournir un paramètre élec-
trique sur plusieurs gammes à un dispositif à étalonner, caracté-
risé en ce qu'il comprend: des composants internes pour fournir le paramètre sur lesdites gammes, une référence de tension interne (35, 36), un moyen convertisseur numérique/analogique (DAC 34), une mémoire (13,
17), un moyen de comparaison analogique (37), et un moyen conver-
tisseur analogique/numérique (33),
des premiers moyens pour connecter les composants inter-
nes selon un circuit avec la référence de tension interne, le moyen convertisseur numérique/analogique, le moyen convertisseur analogique/numérique, le moyen de comparaison et la mémoire pour
écrire des signaux de données dans la mémoire indicatifs des fac-
teurs de correction d'étalonnage pour les composants internes,
des seconds moyens pour connecter des composants inter-
nes selon un circuit avec le dispositif à étalonner, et
des moyens pour actionner la mémoire pour relire les si-
gnaux de données mémorisés indicatifs des facteurs de correction d'étalonnage tandis que des seconds moyens relient les composants internes au dispositif à étalonner pour permettre à la valeur du paramètre fournie au dispositif par les composants internes d'être modifiée pour permettre au paramètre fourni d'être corrigé en
fonction de la correction d'étalonnage de ce paramètre.
8. Appareil d'étalonnage selon la revendication 7, dans
lequel le paramètre est une impédance devant être couplée au dis-
positif externe sur plusieurs gammes, caractérisé en ce que les composants internes comprennent une impédance de référence (101, 102) ayant une valeur de référence et des moyens d'impédance ayant des valeurs différentes pour chacune des gammes, et les premiers moyens de connexion comprennent des moyens pour connecter: (a) les moyens de référence de tension avec l'impédance de référence
et les moyens d'impédance pour fournir un premier signal analogi-
que ayant une amplitude indicative d'une valeur de référence pour les moyens d'impédance dans l'une des gammes d'impédance, une
amplitude différente étant fournie pour chacune des gammes d'impé-
dance, (b) le moyen convertisseur numérique/analogique (34) à la mémoire (17) pour fournir un second signal analogique, (c) les premier et second signaux analogiques au moyen de comparaison (37) de sorte que le moyen de comparaison fournit un signal d'erreur
2610 4 1 4
analogique, (d) le moyen de comparaison (37) au moyen convertis-
seur analogique/numérique (33) de sorte que le moyen convertisseur analogique/numérique fournit un signal numérique indicatif de
l'erreur, et (e) la mémoire au moyen convertisseur analogique/nu-
mérique de sorte que la mémoire (17) mémorise un signal numérique représentant un facteur de correction d'étalonnage d'impédance
pour chaque gamme déterminée par le signal indiquant l'erreur.
9. Appareil d'étalonnage selon la revendication 7, caractérisé en ce que le paramètre est un courant devant être mesuré sur plusieurs gammes, les composants internes comprenant un générateur de courant constant pour fournir un courant différent pour chacune des gammes et des moyens d'impédances (90) ayant des valeurs différentes sur chacune des gammes, les premier moyens de connexion comprenant des moyens pour connecter: (a) les moyens de référence de tension interne (35, 36) selon un circuit avec le générateur de courant constant et les moyens d'impédances pour
fournir un premier signal analogique ayant une amplitude indica-
tive de la valeur de référence du courant dans chacune des gammes de courant, une amplitude différente étant fournie pour chacune
des gammes de courant, (b) le moyen convertisseur numérique/analo-
gique (34) à la mémoire pour fournir un second signal analogique,
(c) les premier et second signaux analogiques au moyen de compa-
raison (37) de sorte que le moyen de comparaison fournit un signal
d'erreur analogique, (d) le moyen de comparaison au moyen conver-
tisseur analogique/numérique (33) de sorte que le moyen convertis-
seur analogique/numérique fournit un signal numérique indicatif de l'erreur, et (e) la mémoire (17) au moyen convertisseur analogique/
numérique de sorte que la mémoire mémorise un signal numérique re-
présentant un facteur de correction d'étalonnage en courant pour
chaque gamme, déterminé par le signal indiquant l'erreur.
10. Procédé d'étalonnage d'un instrument de mesure électrique pour un paramètre électrique dans chacune de plusieurs gammes, l'étalonnage étant réalisé par un instrument comprenant;
26 1 0 4 1 4
des composants internes associés à la mesure du paramètre sur les diverses gammes, une référence de tension interne (35, 36), un moyen convertisseur numérique/analogique (34), une mémoire (13, 17) et un moyen de comparaison analogique (37), ce procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes: connecter simultanément: (a) une source de tension de référence externe au comparateur, (b) la source de référence de
tension interne en tant qu'alimentation pour le moyen convertis-
seur tandis que le moyen convertisseur répond à un signal numéri-
que représentant l'amplitude de la tension de référence externe de
sorte que le moyen convertisseur fournit un premier signal analo-
gique ayant une valeur égale à l'amplitude de la référence de ten-
sion externe telle que modifiée par les imprécisions de la référence interne et du moyen convertisseur, et (c) le moyen convertisseur au comparateur de sorte que le comparateur fournit
un signal de sortie indicatif d'une première erreur entre le pre-
mier signal analogique et la référence de tension externe,
en réponse à la première erreur, mémoriser une indica-
tion des imprécisions de la référence interne et du moyen conver-
tisseur, étalonner alors les composants internes en connectant simultanément: l'alimentation de référence interne pour alimenter les composants internes et le moyen convertisseur tandis que le moyen convertisseur répond à une succession de signaux numériques mémorisés représentant les valeurs des réponses en provenance du moyen convertisseur pour diverses configurations des composants internes, le convertisseur répondant à la succession de signaux numériques pour fournir une succession de signaux analogiques ayant des valeurs réglées par la première erreur de sorte qu'elles sont égales aux valeurs étalonnées pour des signaux analogiques obtenus par les composants internes, et le moyen convertisseur et les composants internes au comparateur tandis que les composants sont dans les différentes configurations et que le convertisseur
2 6 1 0 4 1 4
fournit la succession de signaux analogiques de sorte que le com-
parateur fournit une succession de signaux d'erreur représentant les erreurs entre la succession de signaux analogiques et d'autres signaux obtenus à partir des composants internes tandis qu'ils sont dans les diverses configurations,
mémoriser les signaux d'erreur représentant les amplitu-
des des erreurs entre la succession de signaux analogiques et les
autres signaux pour représenter les facteurs de correction d'éta-
lonnage pour chacune des différentes configurations, connecter les composants internes à l'instrument à
étalonner de sorte que l'instrument en cours d'étalonnage est sen-
sible à une succession de signaux analogiques, un pour chacune des gammes, tandis que l'instrument répond à la succession de signaux analogiques, lire le facteur de correction d'étalonnage
associé au signal fourni à l'instrument par la mémoire, et modi-
fier l'entrée vers l'instrument pour tenir compte du facteur de
correction d'étalonnage de lecture.
11. Appareil d'étalonnage pour fournir une tension alternative ayant une valeur précise dans un dispositif devant être étalonné, caractérisé en ce qu'il comprend un oscillateur (103), un amplificateur à gain variable agissant en réponse à
l'oscillateur pour fournir une tension alternative d'amplitude va-
riable au dispositif, des premier et second convertisseurs alternatif/continu (104, 105) pour fournir des premier et second signaux continus ayant des amplitudes proportionnelles à la valeur
efficace de la tension alternative qui leur est appliquée, un at-
ténuateur (167) sensible à la tension alternative d'amplitude va-
riable pour coupler la tension alternative d'amplitude variable aux premier et second convertisseurs de sorte que les valeurs des entrées alternatives vers les premier et second convertisseurs
sont maintenues dans la gamme de fonctionnement des premier et se-
cond convertisseurs indépendamment de l'amplitude de la tension alternative d'amplitude variable, des moyens pour commander en temps réel le gain dans l'amplificateur à gain variable en réponse
à la sortie continue du premier convertisseur, des moyens sensi-
bles à la sortie continue du second convertisseur pour commander le gain de l'amplificateur à gain variable avec une constante de temps qui est considérablement plus longue que celle des moyens de commande en temps réel, et des moyens pour commander le gain de l'amplificateur à gain variable en réponse à des signaux d'erreur
de correction d'étalonnage pour une amplitude désirée et la fré-
quence de la tension alternative à amplitude variable.
12. Appareil d'étalonnage selon la revendication 11, ca-
ractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens pour déterminer
des signaux d'erreur de correction d'étalonnage pour chaque ampli-
tude désirée et pour chaque fréquence de la tension alternative
d'amplitude variable.
13. Appareil d'étalonnage selon la revendication 12, ca-
ractérisé en ce que les moyens de détermination comprennent des moyens pour appliquer une tension continue à un montage en cascade de l'amplificateur (162), de l'atténuateur (167) et du premier convertisseur (104), des moyens pour invalider la commande de l'amplificateur à gain variable par les sorties des premier et second convertisseurs tandis que la tension continue est appliquée au montage en cascade, des moyens actionnés tandis que le montage en cascade répond à la tension continue pour comparer la sortie du premier convertisseur à une valeur de référence pour fournir un signal d'erreur d'étalonnage basse fréquence, le signal d'erreur d'étalonnage basse fréquence commandant le gain de l'amplificateur à gain variable tandis que la tension d'amplitude variable fournie au dispositif est à une fréquence qui n'affecte pas notablement le
facteur d'atténuation de l'atténuateur.
14. Appareil d'étalonnage selon la revendication 12, ca-
ractérisé en ce que les moyens de détermination comprennent des moyens pour appliquer la sortie de l'oscillateur à un montage en
26 1 0 4 14
cascade de l'amplificateur, de l'atténuateur et du premier conver-
tisseur, des moyens pour invalider la commande de l'amplificateur à gain variable par la sortie du second convertisseur et pour maintenir la commande de l'amplificateur à gain variable par la sortie du premier convertisseur tandis que la sortie de l'oscilla- teur est appliquée au montage en cascade, des moyens d'atténuation
résistifs ayant une réactance négligeable pour toutes les fréquen-
ces de l'oscillateur, des moyens pour coupler la tension alterna-
tive d'amplitude variable à l'entrée du second convertisseur tandis que l'on découple le second convertisseur de la sortie de l'atténuateur, et des moyens pour comparer la sortie du second convertisseur a une tension de référence pour fournir un signal
d'erreur d'étalonnage haute fréquence, le signal d'erreur d'éta-
lonnage haute fréquence commandant le gain de l'amplificateur à gain variable tandis que la tension d'amplitude variable fournie au dispositif est à une fréquence qui affecte de façon notable le
facteur d'atténuation de l'atténuateur (figure 16).
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/008,234 US5012181A (en) | 1987-01-29 | 1987-01-29 | Apparatus for and method of internally calibrating an electrical calibrator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2610414A1 true FR2610414A1 (fr) | 1988-08-05 |
| FR2610414B1 FR2610414B1 (fr) | 1992-05-07 |
Family
ID=21730495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR888801405A Expired - Fee Related FR2610414B1 (fr) | 1987-01-29 | 1988-01-29 | Appareil et procede d'etalonnage interne d'un appareil d'etalonnage electrique |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5012181A (fr) |
| JP (1) | JPH0664132B2 (fr) |
| DE (1) | DE3802680C2 (fr) |
| FR (1) | FR2610414B1 (fr) |
| GB (1) | GB2200466B (fr) |
Families Citing this family (42)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5258704A (en) * | 1989-09-25 | 1993-11-02 | General Electric Company | Electronic watthour meter |
| JPH07104406B2 (ja) * | 1989-12-28 | 1995-11-13 | シャープ株式会社 | デジタル計測器自動校正システム |
| GB9016972D0 (en) * | 1990-08-02 | 1990-09-19 | Farnell Instr | Improvements relating to lcr meters |
| US5248933A (en) * | 1992-06-15 | 1993-09-28 | Thornton Associates, Inc. | Calibration |
| US5420515A (en) * | 1992-08-28 | 1995-05-30 | Hewlett-Packard Company | Active circuit trimming with AC and DC response trims relative to a known response |
| US5402082A (en) * | 1994-07-14 | 1995-03-28 | Fluke Corporation | Voltage and resistance synthesizer using pulse width modulation |
| US5822225A (en) * | 1994-09-21 | 1998-10-13 | Ericsson Raynet Corporation | Self-calibrating data processors and methods for calibrating same |
| US5530373A (en) * | 1995-01-20 | 1996-06-25 | Fluke Corporation | Method and apparatus for determining and selectively displaying valid measurement information |
| US5896056A (en) * | 1997-12-01 | 1999-04-20 | Texmate, Inc. | Root-mean-square converter method and circuit |
| US6041008A (en) * | 1998-05-13 | 2000-03-21 | Micron Technology Inc. | Method and apparatus for embedded read only memory in static random access memory |
| US6479979B1 (en) | 1999-07-09 | 2002-11-12 | Srico, Inc. | Opto-electric device for measuring the root-mean-square value of an alternating current voltage |
| DE10001530A1 (de) * | 2000-01-15 | 2001-07-19 | Mannesmann Rexroth Ag | Elektrische Schaltungsanordnung zur Umformung einer elektrischen Eingangsgröße in eine eingeprägte elektrische Ausgangsspannung |
| WO2002041102A2 (fr) * | 2000-11-17 | 2002-05-23 | Lecroy Corporation | Editeur de reseau de traitement pour traitement de donnees dans un oscilloscope numerique ou un instrument similaire |
| US6701265B2 (en) * | 2002-03-05 | 2004-03-02 | Tektronix, Inc. | Calibration for vector network analyzer |
| SE521575C2 (sv) * | 2002-03-25 | 2003-11-11 | Ericsson Telefon Ab L M | Kalibrering av A/D omvandlare |
| US6748344B2 (en) * | 2002-04-29 | 2004-06-08 | Eaton Corporation | Method and apparatus employing a scaling factor for measuring and displaying an electrical parameter of an electrical system |
| WO2003103006A2 (fr) * | 2002-05-31 | 2003-12-11 | Thermo Finnigan Llc | Spectrometre de masse a meilleure precision de masse |
| WO2006074092A1 (fr) * | 2005-01-05 | 2006-07-13 | Rensselaer Polytechnic Institute | Source de tension haute precision destinee a la tomographie a impedance electrique |
| US7353410B2 (en) * | 2005-01-11 | 2008-04-01 | International Business Machines Corporation | Method, system and calibration technique for power measurement and management over multiple time frames |
| GB2427281A (en) * | 2005-06-17 | 2006-12-20 | Ian Foster | Reference resistances for calibrating resistance meters |
| US8810256B1 (en) * | 2008-12-17 | 2014-08-19 | Keithley Instruments, Inc. | Impedance meter calibration |
| JP5454913B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-03-26 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 高精度任意波形信号発生装置 |
| CN102096058B (zh) * | 2010-12-20 | 2013-09-25 | 北京东方计量测试研究所 | 高准确度直流电流比较仪的验证方法和装置 |
| US8706432B2 (en) * | 2011-05-19 | 2014-04-22 | Microsoft Corporation | Resistor matrix offset compensation |
| CN102650660B (zh) * | 2012-05-14 | 2014-07-09 | 中国计量科学研究院 | 一种四端电阻及测量四端电阻时间常数的方法 |
| CN103454542B (zh) * | 2013-09-11 | 2016-04-27 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 天线与传输线测试仪及实时自动校准方法 |
| CN103995226B (zh) * | 2013-12-27 | 2017-01-04 | 杭州长川科技股份有限公司 | 用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法 |
| CN105137378B (zh) * | 2015-08-14 | 2018-11-09 | 中国电力科学研究院 | 一种分压器的2/1分压比自校准方法 |
| JP6300881B1 (ja) * | 2016-10-24 | 2018-03-28 | 株式会社Ｎａａファシリティーズ | 校正試験装置 |
| WO2018196986A1 (fr) * | 2017-04-27 | 2018-11-01 | Advantest Corporation | Agencement d'étalonnage et procédé de calcul de la résistance électrique d'une résistance |
| US10502807B2 (en) * | 2017-09-05 | 2019-12-10 | Fluke Corporation | Calibration system for voltage measurement devices |
| CN111352059B (zh) * | 2020-04-01 | 2020-09-29 | 电子科技大学 | 一种时域反射计的特性阻抗时域分段校准方法 |
| RU200687U1 (ru) * | 2020-06-26 | 2020-11-05 | Общество с ограниченной ответственностью «ФОРМ» | Автоматический вольтметр-калибратор модульной измерительной системы |
| US20220018720A1 (en) * | 2020-07-20 | 2022-01-20 | Dana Tm4 Inc. | Sensing junction temperature of power transistors |
| CN111856374B (zh) * | 2020-08-27 | 2022-11-29 | 西安微电子技术研究所 | 一种高速数字示波器带宽校准测试装置及测试方法 |
| CN112731256B (zh) * | 2020-12-25 | 2023-03-03 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种校准系统及方法 |
| CN115407253B (zh) * | 2021-05-26 | 2024-09-13 | 南京南瑞继保工程技术有限公司 | 一种直流互感器远端测量模块精度校准测试系统 |
| CN113702888B (zh) * | 2021-09-03 | 2024-03-15 | 济南泛华仪器设备有限公司 | 一种数字式交流电流比较仪及校准方法 |
| CN114019415B (zh) * | 2022-01-06 | 2022-04-15 | 宜矽源半导体南京有限公司 | 一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器 |
| CN114778932B (zh) * | 2022-04-19 | 2025-04-08 | 株洲国创轨道科技有限公司 | 一种应用于非平衡高阻隔离网络的差分电压测量方法 |
| US12218678B2 (en) * | 2022-08-31 | 2025-02-04 | Texas Instruments Incorporated | Self calibration for an analog-to-digital converter |
| US12259492B2 (en) * | 2022-11-10 | 2025-03-25 | Tunkia Co., Ltd. | Zero-phase calibration method, computer device and storage medium |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4253155A (en) * | 1979-01-31 | 1981-02-24 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Self-compensating measurement system |
| DE3136813A1 (de) * | 1980-09-16 | 1982-06-16 | Sony/Tektronix Corp., Tokyo | "kalibrierschaltung" |
| GB2134732A (en) * | 1983-02-07 | 1984-08-15 | Tektronix Inc | Automatically calibrating sweep waveforms |
| GB2165655A (en) * | 1984-01-09 | 1986-04-16 | Hewlett Packard Co | A method of determining true vector gain of an IF string on an RF network analyzer |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD109749A5 (fr) * | 1974-02-11 | 1974-11-12 | ||
| DE2613807A1 (de) * | 1976-03-31 | 1977-10-06 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum eichen eines digitalen pegelmessers |
| DE2630958B2 (de) * | 1976-07-07 | 1978-07-27 | Heliowatt Werke Elektrizitaets-Gesellschaft Mbh, 1000 Berlin | Fehlerkompensationsverfahren |
| US4337517A (en) * | 1976-09-16 | 1982-06-29 | Systron Donner Corporation | Method of automatically calibrating a microprocessor controlled digital multimeter |
| IT1099865B (it) * | 1978-10-31 | 1985-09-28 | Gavazzi Carlo Spa | Apparecchiatura per la generazione di forze elettromotorici e/o correnti elettriche e/o segnali elettrici in genere specialmente adatta alla simulazione di termocoppie,termometri a resistenza e misuratori di variabili fisiche con uscita elettrica |
| US4541065A (en) * | 1982-09-14 | 1985-09-10 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Direct volts calibrator |
| US4585987A (en) * | 1983-08-12 | 1986-04-29 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Regulated voltage supply with sense current cancellation circuit |
| JPS61170080U (fr) * | 1985-04-12 | 1986-10-22 |
-
1987
- 1987-01-29 US US07/008,234 patent/US5012181A/en not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-01-18 GB GB8801013A patent/GB2200466B/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-01-22 JP JP63013484A patent/JPH0664132B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1988-01-29 DE DE3802680A patent/DE3802680C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-01-29 FR FR888801405A patent/FR2610414B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4253155A (en) * | 1979-01-31 | 1981-02-24 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Self-compensating measurement system |
| DE3136813A1 (de) * | 1980-09-16 | 1982-06-16 | Sony/Tektronix Corp., Tokyo | "kalibrierschaltung" |
| GB2134732A (en) * | 1983-02-07 | 1984-08-15 | Tektronix Inc | Automatically calibrating sweep waveforms |
| GB2165655A (en) * | 1984-01-09 | 1986-04-16 | Hewlett Packard Co | A method of determining true vector gain of an IF string on an RF network analyzer |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| ELECTRONICS INTERNATIONAL, vol. 55, no. 18, septembre 1982, pages 121-127, New York, US; L. ECCLESTON et al.: "Calibrator brings record accuracy even to production and repair" * |
| INTERNATIOANL JOURNAL OF ELECTRONICS, vol. 62, no. 1, janvier 1987, pages 105-113, London, GB; S.M.R. TAHA et al.: "Microcomputer-controlled autoranging DMM with autocalibration" * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2200466B (en) | 1990-12-12 |
| DE3802680A1 (de) | 1988-08-11 |
| GB8801013D0 (en) | 1988-02-17 |
| JPS63193082A (ja) | 1988-08-10 |
| GB2200466A (en) | 1988-08-03 |
| US5012181A (en) | 1991-04-30 |
| FR2610414B1 (fr) | 1992-05-07 |
| DE3802680C2 (de) | 1994-05-26 |
| JPH0664132B2 (ja) | 1994-08-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FR2610414A1 (fr) | Appareil et procede d'etalonnage interne d'un appareil d'etalonnage electrique | |
| CA1306286C (fr) | Circuit et methode de reglage pour wattheuremetre a semiconducteur | |
| US4196475A (en) | Method of and apparatus for automatic measurement of impedance or other parameters with microprocessor calculation techniques | |
| US4550360A (en) | Circuit breaker static trip unit having automatic circuit trimming | |
| US5619142A (en) | Technique for calibrating a transformer element | |
| US4082998A (en) | Dual slope integration circuit | |
| JPH06276097A (ja) | モノリシック電圧基準の較正方法及び装置 | |
| US7352166B1 (en) | Resistance ratio digitizing ohmmeter system | |
| FR2645352A1 (fr) | Dispositif permettant d'indiquer la capacite residuelle d'une batterie | |
| FR2490351A1 (fr) | Appareil d'etalonnage pour convertisseurs analogiques numeriques | |
| JPH0434800B2 (fr) | ||
| US4859936A (en) | Method of and apparatus for determining AC calibration errors and apparatus using device with AC calibration errors | |
| US20140084899A1 (en) | Precision reference circuit and related method | |
| FR2869999A1 (fr) | Dispositif a auto-etalonnage pour la mesure de tension, et procede pour cela | |
| US6232764B1 (en) | Accessory with internal adjustments controlled by host | |
| US4342089A (en) | Method of and apparatus for automatic measurement of circuit parameters with microprocessor calculation techniques | |
| HUE025804T2 (en) | System for measuring and displaying changes in living body resistance | |
| FR2532494A1 (fr) | Procede et dispositif de controle simultane de plusieurs convertisseurs numerique-analogique | |
| JPH04248472A (ja) | 抵抗値測定方法 | |
| FR2532761A1 (fr) | Procede d'etalonnage d'un transducteur | |
| JP2870764B2 (ja) | 自動校正機能付電流測定装置 | |
| JP2001255948A (ja) | コンパレータ基準電圧調整装置 | |
| EP0580462B1 (fr) | Procédé et dispositif pour la correction des erreurs thermiques d'acquisition de grandeurs électriques | |
| WO2003071237A2 (fr) | Module d'acquisition a entree universelle pour la mesure de grandeurs physiques | |
| CN114902412A (zh) | 引脚设置检测电路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| ST | Notification of lapse |