FR1350367A - Appareil d'examen pour une matière en filament - Google Patents
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR927520A FR1350367A (fr) | 1963-03-11 | 1963-03-11 | Appareil d'examen pour une matière en filament |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR927520A FR1350367A (fr) | 1963-03-11 | 1963-03-11 | Appareil d'examen pour une matière en filament |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR1350367A true FR1350367A (fr) | 1964-01-24 |
Family
ID=8798917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR927520A Expired FR1350367A (fr) | 1963-03-11 | 1963-03-11 | Appareil d'examen pour une matière en filament |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| FR (1) | FR1350367A (fr) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2051631A1 (fr) * | 1969-07-09 | 1971-04-09 | Ici Ltd | |
| FR2408815A1 (fr) * | 1977-11-09 | 1979-06-08 | Spindler & Hoyer Kg | Procede et dispositif de mesure sans contact de distances lineaires et en particulier de diametres |
| CN114322784A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-04-12 | 天津大学 | 一种基于阴影法的微小位移测量装置及方法 |
-
1963
- 1963-03-11 FR FR927520A patent/FR1350367A/fr not_active Expired
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2051631A1 (fr) * | 1969-07-09 | 1971-04-09 | Ici Ltd | |
| FR2408815A1 (fr) * | 1977-11-09 | 1979-06-08 | Spindler & Hoyer Kg | Procede et dispositif de mesure sans contact de distances lineaires et en particulier de diametres |
| CN114322784A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-04-12 | 天津大学 | 一种基于阴影法的微小位移测量装置及方法 |
| CN114322784B (zh) * | 2021-11-15 | 2023-11-03 | 天津大学 | 一种基于阴影法的微小位移测量装置及方法 |
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