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EP3503166A1 - Plate trimming method - Google Patents

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Publication number
EP3503166A1
EP3503166A1 EP18213867.7A EP18213867A EP3503166A1 EP 3503166 A1 EP3503166 A1 EP 3503166A1 EP 18213867 A EP18213867 A EP 18213867A EP 3503166 A1 EP3503166 A1 EP 3503166A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
grinding
trimming
plate
transition layer
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
EP18213867.7A
Other languages
German (de)
French (fr)
Other versions
EP3503166B1 (en
Inventor
Frank Fournel
Christophe Morales
Marc Zussy
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA, Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Publication of EP3503166A1 publication Critical patent/EP3503166A1/en
Application granted granted Critical
Publication of EP3503166B1 publication Critical patent/EP3503166B1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

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    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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    • H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24—GRINDING; POLISHING
    • B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
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    • B24B37/005—Control means for lapping machines or devices
    • B24B37/013—Devices or means for detecting lapping completion
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24—GRINDING; POLISHING
    • B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B9/00—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
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    • B24B9/06—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B9/065—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
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    • H01L21/76—Making of isolation regions between components
    • H01L21/762—Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers
    • H01L21/7624—Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers using semiconductor on insulator [SOI] technology
    • H01L21/76251—Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers using semiconductor on insulator [SOI] technology using bonding techniques
    • H—ELECTRICITY
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    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/20—Sequence of activities consisting of a plurality of measurements, corrections, marking or sorting steps
    • H01L22/26—Acting in response to an ongoing measurement without interruption of processing, e.g. endpoint detection, in-situ thickness measurement

Definitions

  • the invention relates to the field of microtechnologies and microelectronics. It finds for particularly advantageous application the trimming of plates for microelectronics.
  • the plates used as substrates can be manufactured by means of bonding and / or layer transfer steps.
  • a "Silicon On Insulator” (SOI) substrate may be manufactured from a molecular bonding manufacturing process, also known as direct bonding.
  • the surface of a first layer of silicon dioxide on a first silicon wafer is brought into contact with the surface of a second layer of silicon dioxide on a second wafer of silicon, after preparation surfaces.
  • a suitable heat treatment is carried out so as to secure the two plates at the level of the oxide layers in contact.
  • Thinning of the first silicon wafer is then performed by grinding and / or chemical mechanical polishing, so as to form an SOI type substrate.
  • the zones at the periphery of the plate to be thinned are generally previously removed by a trimming method.
  • the method of trimming may consist in mechanically machining the edge of the thinning plate attached to the support plate.
  • the interface between the two glued plates is generally thin and it it is often impossible to control the stop of the machining according to a depth of machining in a sufficiently precise way.
  • the mechanical machining trimming generally leads to also cut off a portion of the support plate to a small thickness, as shown in the document WO 1996017377 A1 for example.
  • a disadvantage of this method is that the support plate, partially machined after the trimming, is not reusable.
  • Another major disadvantage of this process is the source of particulate contamination generated by the partial machining of the support plate.
  • the clipping can be achieved by photolithography and deep etching techniques. Such a method of cutting by physico-chemical machining is however slow and expensive.
  • An object of the present invention is to overcome the disadvantages of the clipping methods mentioned above.
  • an object of the present invention is to provide a method of trimming a plate bonded to a support plate, limiting or canceling a particulate contamination from the support plate.
  • an interface layer comprising a layer, called the transition layer, located at least in line with the zone in question. around the plate and having a resistance to grinding greater than that of the plate, is used, and the stop trimming is operated in said transition layer.
  • transition layer having a greater, and preferably at least five times greater, resistance to grinding than that of the plate to be cut advantageously makes it possible to slow down a progression of grinding through the interface layer. It is therefore possible to stop trimming in the interface layer, or even in the transition layer.
  • the method proposed by the present invention thus avoids a source of particulate contamination from the support, protecting the support against grinding.
  • the support plate thus preserved can also be advantageously reused, for other applications or for the trimming of another plate.
  • the stop trimming is operated after detecting a variation of resistance to grinding.
  • This variation of resistance is in fact due to the presence of the transition layer, and indicates that the grinding has reached said transition layer.
  • the trimming is done by grinding.
  • This trimming is therefore a method of removal or thinning purely mechanical, unlike a chemical mechanical polishing process (CMP for the acronym "Chemical-Mechanical Polishing”).
  • CMP chemical-Mechanical Polishing
  • a chemical mechanical polishing process indeed combines chemical and mechanical actions, generally mixing a free abrasive to a wet etching solution.
  • a purely mechanical grinding process is thus distinguished from CMP type processes.
  • Grinding involves abrasive abrasion of a material with grains or cutting particles agglomerated by a binder at least at the surface of a tool.
  • a diamond wheel rotated on a grinding wheel makes it possible to perform such machining by abrasion.
  • the grinding may be assisted by a flow of water so as to limit heating of the materials in friction, and / or so as to pull, by a physical action, particles of abraded material.
  • This stream of water is not intended to assist the grinding by a chemical action.
  • the abrasion resistance of a material A may depend on the nature of the abrasive material B and the nature of the binder, the different friction movements on the surface of the material A, the internal stress of the material A, and the contact pressure between the abrasive material B and the material A in particular.
  • the abrasion resistance of the material A can be evaluated through a rate of removal of this material A, from fixed grinding parameters, such as the grain size of the abrasive material B, the nature of the binder, a rotational speed of the grinding wheel, and a pressure applied to the material A by said wheel for example.
  • the thickness is taken in a direction perpendicular to the main faces of the plates in contact.
  • the thickness is taken along the z axis of the xyz orthonormal landmarks.
  • the method 100 of trimming according to the invention relates to the trimming of a thinning plate 1 fixed 110 on a support plate 2 by means of an interface layer 3.
  • the stack comprising the plate 1 to thin, the interface layer 3 and the support plate 2 may be called "substrate".
  • the thinning plate 1 can be fixed 110 by direct bonding to the support plate 2.
  • a first example of direct bonding between a first plate and a second plate is described below.
  • the first plate for example the plate to be thinned 1, is a silicon wafer having a thickness of 775 ⁇ m, thermally oxidized at least on one side so as to form an oxide layer of 1 ⁇ m in thickness.
  • the second plate for example the support plate 2 is a silicon plate 775 ⁇ m thick, thermally oxidized at least on one side so as to form an oxide layer of 1 micron thick.
  • a surface preparation step of the first and second plates including for example cleaning and hydrolysis, can be performed.
  • cleaning may be carried out for example in a deionized water bath enriched with ozone.
  • hydrolysis may be carried out for example in an ammonium peroxide solution (APM) at 70 ° C.
  • APM ammonium peroxide solution
  • the face comprising the oxide of the first plate is brought into contact with the face comprising the oxide of the second plate, at ambient temperature and pressure.
  • Annealing at 1200 ° C. for two hours can then be carried out so as to finalize the direct bonding by molecular adhesion.
  • a second example of direct bonding between a first plate and a second plate is also described below.
  • the first plate for example the thinning plate 1
  • the first plate is a silicon plate 775 ⁇ m thick, comprising microelectronic devices on one side.
  • An oxide deposit for example by chemical vapor deposition (CVD) from a TEOS (tetraethylorthosilicate) precursor, is produced on said face so as to form an oxide layer 5 ⁇ m thick.
  • CVD chemical vapor deposition
  • TEOS tetraethylorthosilicate
  • the second plate for example the support plate 2 is a silicon plate 775 ⁇ m thick, possibly comprising microelectronic devices on one side.
  • An oxide deposit for example by CVD from a TEOS precursor, is produced on said face so as to form an oxide layer 5 ⁇ m thick.
  • the face comprising the oxide of the first plate is brought into contact with the face comprising the oxide of the second plate, at ambient temperature and pressure.
  • Annealing at 400 ° C for two hours can then be performed to finalize the direct bonding by molecular adhesion. This temperature makes it possible not to damage the microelectronic devices present.
  • the interface layer 3 is derived from the oxide layers of the first and second plates.
  • the plate to thin 1 can therefore be understood as a part of the first plate excluding the interface layer 3.
  • the plate to be thinned 1 is also called upper plate or simply plate 1.
  • the free face of the upper plate 1 is referred to as the upper face.
  • the thinning plate 1 may be of a material selected from: silicon, germanium, III / V material, II / VI material, SiC. This list is not exhaustive, however.
  • the trimming of the plate 1 is preferably performed by means of a grinding wheel comprising at least one diamond wheel 20 1 , 20 2 .
  • Cropping 120, or grinding, of a zone around the periphery 12 of the upper plate 1 is performed.
  • Such a grinding 120 may comprise for example the following steps: The plates 1, 2 bonded and the diamond wheel 20 1 , 2 are respectively rotated in preferably opposite directions of rotation, as illustrated by the arrows in the figures.
  • the diamond wheel 20 1 , 20 2 is approached from the upper face of the plate 1, so as to obtain a covering, projected in a plane xy, over a width, L 1 or L 2 , taken from an edge of the plate 1.
  • a force illustrated by a vertical arrow in the figures, is then applied to the wheel in the z direction, so as to progressively grind the surrounding area 12, by vertically moving the grinding wheel from the upper face towards the outer layer. interface 3.
  • the surrounding zone 12 may be substantially annular and may have a width L 1 , L 2 , taken radially between 1 mm and 5 mm.
  • the thickness of this zone in the periphery 12 is preferably equal to the total thickness e tot of the upper plate 1.
  • the trimming method 100 aims to eliminate the area around its entire thickness.
  • trimming 120 comprises a first grinding step 121 and a second grinding step 122 succeeding the first grinding step 121.
  • the first grinding step 121 is configured to remove a first portion 12 1 from the surrounding area 12 over a width L 1 with, as deposit, a first rate of removal.
  • the first part 12 1 comprises at least 90%, preferably at least 97%, of the surrounding area 12.
  • the second grinding step 122 is configured to remove a second portion 12 2 of the surrounding area 12 over a width L 2 with, as a set point, a second removal rate lower than the first removal rate.
  • the first removal rate may typically be between 10 ⁇ m.min -1 and 100 ⁇ m.min -1
  • the second removal rate may typically be between 1 ⁇ m.min -1 and 10 ⁇ m.min -1 .
  • the first grinding step 121 thus makes it possible to rapidly grind a major portion 12 1 of the zone around the edge 12, the remaining portion 12 2 being ground 122 more slowly at the approach of the interface layer 3.
  • the first and second grinding steps 121, 122 accumulate a total grinding time t tot .
  • the first grinding step 121 is for example carried out by a first grinding wheel, for example of the Okamoto brand, model 254B 3W5X J 75BA 325 40SB8, with a diamond wheel 20 1 having a grit size 16000/325 ⁇ m, over a width L 1 3 mm around the plate 1.
  • a first grinding wheel for example of the Okamoto brand, model 254B 3W5X J 75BA 325 40SB8, with a diamond wheel 20 1 having a grit size 16000/325 ⁇ m, over a width L 1 3 mm around the plate 1.
  • the first step 121 is stopped when the wheel 20 1 reaches a distant vertical potion of about 20 microns of the interface layer 3.
  • a second grinding step 122 may then be performed by a second grinding wheel, for example of the Okamoto brand, model 254B 3W5X J 75BA 2000 40SB8, with a diamond wheel 20 2 having a grain size finer than that of the preceding step, typically 16000/2000 ⁇ m, over a width L 2 around the plate 1.
  • a second grinding wheel for example of the Okamoto brand, model 254B 3W5X J 75BA 2000 40SB8
  • a diamond wheel 20 2 having a grain size finer than that of the preceding step, typically 16000/2000 ⁇ m, over a width L 2 around the plate 1.
  • the width L 2 may be equal to L 1 or in a range L 1 ⁇ 0.1 mm.
  • the width L 2 will be slightly less than L 1 , for example between L 1 -0.01 mm> L 2 > L 1 -0.1 mm, to minimize the total time of grinding and / or to avoid too much consumption of diamond wheels 20 2 fine grain.
  • the trimming method 100 also aims to stop the grinding 120 at the interface layer 3.
  • an interface layer 3 comprising a transition layer 4 having a resistance to grinding, or an abrasion resistance, greater than that of the plate 1 is advantageously used 111.
  • the transition layer 4 preferably has a thickness less than or equal to that of the interface 3.
  • It may extend over an entire surface of the interface layer 3. Alternatively, it may extend over an area underlying the zone around the periphery 12, for example an annular zone.
  • the transition layer 4 may advantageously constitute entirely the interface layer 3.
  • This transition layer 4 may have an abrasion resistance at least three or five times greater, and preferably at least ten times greater than that of the plate 1.
  • the abrasion resistance of the transition layer 4 and the abrasion resistance of the plate 1 can be evaluated from the removal rates of the materials respectively constituting the transition layer 4 and the plate 1, for a set set grinding parameters.
  • This set of parameters comprises in particular a grain size of the abrasive material, a speed of rotation of the grinding wheel, a pressure applied to the material to be ground, and optionally a speed of rotation of the support on which the material to be ground is fixed and a direction of rotation of said support relative to the direction of rotation of the wheel.
  • a grinding zone in periphery 12 of silicon carried by a diamond wheel 20 2 having a grain size 16000/2000 .mu.m, at a speed of rotation of the wheel 20 February 2000 tr.min -1 allows to abrade silicon with a removal rate of between 10 ⁇ m.min -1 and 20 ⁇ m.min -1 ,
  • an interface layer 3 comprising a transition layer 4 of silicon oxide can therefore advantageously be used 111, so as to significantly slow the grinding at the level of the transition layer 4.
  • the stopping 130 of the grinding or trimming can be carried out in the transition layer 4 after a total grinding time t tot greater than a first grinding time t 1 corresponding to the grinding of the zone around its entire circumference 12 thickness.
  • the first grinding time t 1 preferably corresponds only to grinding the zone around the periphery 12 during the second grinding step 122. This first time t 1 therefore corresponds to the grinding of the thickness of a residual zone of the zone around the periphery 12 after the first grinding step 121.
  • the removal rate in the transition layer 4 is much lower, preferably at least an order of magnitude lower, at the rate of removal in the peripheral zone 12.
  • the transition layer 4 makes it possible to protect the support plate 2 with respect to the grinding, at least during the second time t 2 .
  • the support plate 2 can therefore be advantageously reused, after trimming and takeoff of the plate 1, for the trimming of another plate for example.
  • k 1 is preferably chosen such that 2 ⁇ k 1 ⁇ 3.
  • the residual zone, the thickness of which preferably corresponds to about 3% of the total thickness of the zone around the periphery 12 at the end of the first grinding step 121 can thus be totally ground during the second grinding step 122.
  • the second grinding time t 2 is preferably strictly less than a grinding time t 2tot corresponding to the grinding of the transition layer 4 over its entire thickness.
  • this grinding time t 2tot is at least a few tens of seconds, the choice of the nature and the thickness of the transition layer 4 is particularly important.
  • the transition layer 4 is preferably selected from a material selected from: silicon oxide, alumina, diamond and silicon nitride.
  • the transition layer 4 is preferably chosen with a thickness of between 0.5 ⁇ m and 10 ⁇ m.
  • a detection 140 of a variation of resistance to grinding is performed to trigger the stopping 130 of the grinding.
  • the variation in resistance to grinding is in fact induced by a beginning of abrasion of the transition layer 4.
  • the resistance to grinding increases by passing from the zone around the edge 12 to the transition layer 4.
  • This increase in resistance to grinding may in particular lead to an increase in the amperage of the grinding wheel motor, if the grinding is performed at a fixed grinding speed.
  • the amperage of the motor can go from 7A to 11A.
  • the increase in grinding resistance may cause a decrease in the grinding speed of the grinding wheel.
  • the increase in grinding resistance may cause a decrease in the grinding speed of the grinding wheel.
  • the stop 130 of the grinding can be immediate or deferred.
  • the material of the plate 1 can be completely eliminated in the zone around the periphery 12 purely mechanically.
  • An optional cleaning step 150 may be performed to remove the remaining material in the perimeter area 12.
  • This cleaning 150 may be an etching, wet or dry, of the remaining material.
  • the etching of the material of the plate 1 preferably has a good selectivity S mat1 / mat4 vis-à-vis the material of the transition layer 4. This selectivity is for example greater than 5: 1.
  • etching time of 10 min can be carried out so as to remove the silicon remaining in the periphery zone 12.
  • the selectivity between the silicon and the silicon Si / SiO 2 thermal oxide is greater than 500: 1.
  • a plasma dry etching based on SF 6 during an etching time of 10 min, can be performed.
  • the selectivity S Si / SiO 2 may be greater than 10: 1.
  • the invention provides a particularly reliable and effective method for cutting a plate bonded to a support plate by limiting or canceling any risk of particulate contamination from the support plate.

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Abstract

L'invention a pour objet un procédé de détourage d'une plaque 1 collée sur une plaque support 2 par l'intermédiaire d'une couche d'interface 3. Une zone en pourtour 12 de la plaque 1 est rognée par meulage. L'arrêt du meulage est avantageusement opéré au niveau de la couche d'interface 3. Pour ce faire, une couche d'interface 3 comprenant une couche de transition 4 présentant une résistance au meulage supérieure à celle de la plaque 1 est utilisée. Selon une possibilité, une détection d'une augmentation de la résistance au meulage lors du meulage est effectuée, de sorte à arrêter le meulage.The invention relates to a method of trimming a plate 1 bonded to a support plate 2 via an interface layer 3. A zone around the periphery 12 of the plate 1 is trimmed by grinding. Stopping grinding is advantageously performed at the interface layer 3. To do this, an interface layer 3 comprising a transition layer 4 having a grinding resistance greater than that of the plate 1 is used. According to one possibility, detection of an increase in grinding resistance during grinding is performed, so as to stop the grinding.

Description

DOMAINE TECHNIQUE DE L'INVENTIONTECHNICAL FIELD OF THE INVENTION

L'invention concerne le domaine des microtechnologies et de la microélectronique. Elle trouve pour application particulièrement avantageuse le détourage de plaques pour la microélectronique.The invention relates to the field of microtechnologies and microelectronics. It finds for particularly advantageous application the trimming of plates for microelectronics.

ÉTAT DE LA TECHNIQUESTATE OF THE ART

Dans le domaine de la microélectronique, les plaques utilisées comme substrats peuvent être fabriquées par l'intermédiaire d'étapes de collage et/ou de transfert de couches.In the field of microelectronics, the plates used as substrates can be manufactured by means of bonding and / or layer transfer steps.

Par exemple, un substrat de type « Silicium sur Isolant » (SOI pour l'acronyme anglais « Silicon On Insulator ») peut être fabriqué à partir d'un procédé de fabrication par adhésion moléculaire, également dénommé collage direct.For example, a "Silicon On Insulator" (SOI) substrate may be manufactured from a molecular bonding manufacturing process, also known as direct bonding.

Selon ce procédé de collage direct, la surface d'une première couche de dioxyde de silicium sur une première plaque de silicium, est mise en contact avec la surface d'une deuxième couche de dioxyde de silicium sur une deuxième plaque de silicium, après préparation des surfaces. Un traitement thermique approprié est effectué de sorte à solidariser les deux plaques au niveau des couches d'oxyde en contact.According to this direct bonding method, the surface of a first layer of silicon dioxide on a first silicon wafer is brought into contact with the surface of a second layer of silicon dioxide on a second wafer of silicon, after preparation surfaces. A suitable heat treatment is carried out so as to secure the two plates at the level of the oxide layers in contact.

Un amincissement de la première plaque de silicium est ensuite réalisé par meulage et/ou polissage mécano-chimique, de sorte à former un substrat de type SOI.Thinning of the first silicon wafer is then performed by grinding and / or chemical mechanical polishing, so as to form an SOI type substrate.

Cependant, lors du collage direct, des zones en périphérie des plaques restent non collées. Ces zones en périphérie sont donc fragiles et susceptibles de se casser de façon non contrôlée lors de l'amincissement. Ces zones en périphérie peuvent ainsi être source de contamination particulaire du substrat SOI.However, during direct bonding, areas at the periphery of the plates remain unglued. These areas around the periphery are fragile and likely to break uncontrollably during thinning. These zones at the periphery can thus be a source of particulate contamination of the SOI substrate.

Pour remédier à ce problème, les zones en périphérie de la plaque à amincir sont en général préalablement éliminées par un procédé de détourage.To remedy this problem, the zones at the periphery of the plate to be thinned are generally previously removed by a trimming method.

Le procédé de détourage peut consister à usiner mécaniquement le bord de la plaque à amincir fixée sur la plaque support. Cependant, il est difficile d'usiner la plaque à amincir sans toucher ou endommager la plaque support. En effet, l'interface entre les deux plaques collées est généralement mince et il est souvent impossible de contrôler l'arrêt de l'usinage en fonction d'une profondeur d'usinage de manière suffisamment précise.The method of trimming may consist in mechanically machining the edge of the thinning plate attached to the support plate. However, it is difficult to machine the plate to be thinned without touching or damaging the support plate. Indeed, the interface between the two glued plates is generally thin and it it is often impossible to control the stop of the machining according to a depth of machining in a sufficiently precise way.

Ainsi, pour éliminer complètement les zones en périphérie de la plaque à amincir, le détourage par usinage mécanique conduit généralement à détourer également une partie de la plaque support sur une faible épaisseur, comme illustré dans le document WO 1996017377 A1 par exemple.Thus, to completely eliminate the areas on the periphery of the plate to be thinned, the mechanical machining trimming generally leads to also cut off a portion of the support plate to a small thickness, as shown in the document WO 1996017377 A1 for example.

Un inconvénient de ce procédé est que la plaque support, partiellement usinée à l'issue du détourage, n'est pas réutilisable.A disadvantage of this method is that the support plate, partially machined after the trimming, is not reusable.

Un autre inconvénient majeur de ce procédé est la source de contamination particulaire engendrée par l'usinage partiel de la plaque support.Another major disadvantage of this process is the source of particulate contamination generated by the partial machining of the support plate.

Alternativement, le détourage peut être réalisé par des techniques de photolithographie et de gravure profonde. Un tel procédé de détourage par usinage physico-chimique est cependant lent et coûteux.Alternatively, the clipping can be achieved by photolithography and deep etching techniques. Such a method of cutting by physico-chemical machining is however slow and expensive.

Un objet de la présente invention est de pallier les inconvénients des procédés de détourage mentionnés ci-dessus.An object of the present invention is to overcome the disadvantages of the clipping methods mentioned above.

En particulier, un objet de la présente invention est de proposer un procédé de détourage d'une plaque collée sur une plaque support, limitant voire annulant une contamination particulaire issue de la plaque support.In particular, an object of the present invention is to provide a method of trimming a plate bonded to a support plate, limiting or canceling a particulate contamination from the support plate.

RÉSUMÉ DE L'INVENTIONSUMMARY OF THE INVENTION

Pour atteindre cet objectif, la présente invention prévoit un procédé de détourage d'une plaque présentant une première face et une deuxième face opposée à la première face, le procédé comprenant au moins les étapes suivantes :

  • Fixer la plaque sur un support au moyen d'une couche, dite couche d'interface, située entre la plaque et le support, au niveau de la première face,
  • Rogner une zone en pourtour de la plaque par meulage à partir de la deuxième face et en direction de la couche d'interface,
  • Arrêter le rognage après enlèvement de la zone en pourtour au bout d'un temps total de meulage ttot.
To achieve this objective, the present invention provides a method of trimming a plate having a first face and a second face opposite to the first face, the method comprising at least the following steps:
  • Fix the plate on a support by means of a layer, called the interface layer, located between the plate and the support, at the level of the first face,
  • Crop an area around the plate by grinding from the second face and towards the interface layer,
  • Stop trimming after removal of the surrounding area after a total grinding time t tot .

De manière avantageuse, une couche d'interface comprenant une couche, dite couche de transition, située au moins au droit de la zone en pourtour de la plaque et présentant une résistance au meulage supérieure à celle de la plaque, est utilisée, et l'arrêt du rognage est opéré dans ladite couche de transition.Advantageously, an interface layer comprising a layer, called the transition layer, located at least in line with the zone in question. around the plate and having a resistance to grinding greater than that of the plate, is used, and the stop trimming is operated in said transition layer.

L'utilisation d'une couche de transition présentant une résistance au meulage supérieure, et de préférence au moins cinq fois supérieure, à celle de la plaque à détourer permet avantageusement de freiner une progression du meulage au travers de la couche d'interface. Il est dès lors possible d'arrêter le rognage dans la couche d'interface, voire dans la couche de transition.The use of a transition layer having a greater, and preferably at least five times greater, resistance to grinding than that of the plate to be cut advantageously makes it possible to slow down a progression of grinding through the interface layer. It is therefore possible to stop trimming in the interface layer, or even in the transition layer.

Le procédé proposé par la présente invention permet ainsi d'éviter une source de contamination particulaire issue du support, en protégeant le support vis-à-vis du meulage.The method proposed by the present invention thus avoids a source of particulate contamination from the support, protecting the support against grinding.

La plaque support ainsi préservée peut en outre être avantageusement réutilisée, pour d'autres applications ou pour le détourage d'une autre plaque.The support plate thus preserved can also be advantageously reused, for other applications or for the trimming of another plate.

Selon une possibilité avantageuse, l'arrêt du rognage est opéré après détection d'une variation de résistance au meulage. Cette variation de résistance est en effet due à la présence de la couche de transition, et indique que le meulage a atteint ladite couche de transition.According to an advantageous possibility, the stop trimming is operated after detecting a variation of resistance to grinding. This variation of resistance is in fact due to the presence of the transition layer, and indicates that the grinding has reached said transition layer.

BRÈVE DESCRIPTION DES FIGURESBRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES

Les buts, objets, ainsi que les caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront mieux de la description détaillée de modes de réalisation de cette dernière qui sont illustrés par les dessins d'accompagnement suivants dans lesquels :

  • La FIGURE 1A illustre un état initial du procédé de détourage selon un mode de réalisation de l'invention, en cours de réalisation ;
  • La FIGURE 1B montre une progression du procédé de détourage selon un mode de réalisation de l'invention illustré à la figure 1A ;
  • La FIGURE 1C montre le procédé de détourage selon un mode de réalisation de l'invention illustré à la figure 1A, en cours de finalisation ;
  • La FIGURE 2A illustre un procédé de détourage selon un premier mode de réalisation de l'invention ;
  • La FIGURE 2B montre une vue en coupe transversale d'un substrat obtenu à l'issue du procédé de détourage selon le premier mode de réalisation de l'invention illustré à la figure 2A ;
  • La FIGURE 3A illustre un procédé de détourage selon un deuxième mode de réalisation de l'invention ;
  • La FIGURE 3B montre une vue en coupe transversale d'un substrat obtenu à l'issue du procédé de détourage selon le deuxième mode de réalisation de l'invention illustré à la figure 3A ;
  • La FIGURE 4 montre un diagramme de procédé illustrant des étapes d'un procédé de détourage selon un mode de réalisation de l'invention.
The objects, objects, as well as the features and advantages of the invention will become more apparent from the detailed description of embodiments thereof which are illustrated by the following accompanying drawings in which:
  • The FIGURE 1A illustrates an initial state of the clipping method according to an embodiment of the invention, in progress;
  • The FIGURE 1B shows a progression of the clipping process according to an embodiment of the invention illustrated in FIG. Figure 1A ;
  • The FIGURE 1C shows the clipping method according to an embodiment of the invention illustrated in FIG. Figure 1A , being finalized ;
  • The FIGURE 2A illustrates a clipping method according to a first embodiment of the invention;
  • The FIGURE 2B shows a cross-sectional view of a substrate obtained at the end of the clipping process according to the first embodiment of the invention illustrated in FIG. Figure 2A ;
  • The FIGURE 3A illustrates a clipping method according to a second embodiment of the invention;
  • The FIGURE 3B shows a cross-sectional view of a substrate obtained at the end of the clipping process according to the second embodiment of the invention illustrated in FIG. figure 3A ;
  • The FIGURE 4 shows a process diagram illustrating steps of a trimming method according to one embodiment of the invention.

Les dessins sont donnés à titre d'exemples et ne sont pas limitatifs de l'invention. Ils constituent des représentations schématiques de principe destinées à faciliter la compréhension de l'invention et ne sont pas nécessairement à l'échelle des applications pratiques. En particulier, les épaisseurs relatives des différentes couches et plaques ne sont pas représentatives de la réalité.The drawings are given by way of examples and are not limiting of the invention. They constitute schematic representations of principle intended to facilitate the understanding of the invention and are not necessarily at the scale of practical applications. In particular, the relative thicknesses of the different layers and plates are not representative of reality.

DESCRIPTION DÉTAILLÉE DE L'INVENTIONDETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

Avant d'entamer une revue détaillée de modes de réalisation de l'invention, sont énoncées ci-après des caractéristiques optionnelles qui peuvent éventuellement être utilisées en association ou alternativement :

  • La couche de transition est choisie en un matériau pris parmi : un oxyde de silicium, de l'alumine, du diamant, du nitrure de silicium.
  • La couche de transition est choisie pour présenter une épaisseur comprise entre 0,5 µm et 10 µm.
  • La plaque est choisie en au moins un matériau pris parmi : du silicium, du germanium, un matériau III/V, un matériau II/VI, du carbure de silicium (SiC).
  • Le temps de meulage total ttot est choisi tel que ttot = t1 + t2, t1 étant un premier temps de meulage correspondant à un meulage de la zone en pourtour de la plaque et t2 étant un deuxième temps de meulage correspondant à un meulage partiel de la couche de transition, où t2 ≠ 0, de sorte que l'arrêt du rognage au bout du temps total de meulage ttot est opéré dans ladite couche de transition.
Before starting a detailed review of embodiments of the invention, are set forth below optional features that may optionally be used in combination or alternatively:
  • The transition layer is selected from a material selected from: silicon oxide, alumina, diamond, silicon nitride.
  • The transition layer is chosen to have a thickness of between 0.5 μm and 10 μm.
  • The plate is chosen from at least one material selected from: silicon, germanium, III / V material, II / VI material, silicon carbide (SiC).
  • The total grinding time t tot is chosen such that t tot = t 1 + t 2 , t 1 being a first grinding time corresponding to a grinding of the area around the plate and t 2 being a second corresponding grinding time. at a partial grinding of the transition layer, where t 2 ≠ 0, so that the stop trimming after the total grinding time t tot is operated in said transition layer.

Selon un mode de réalisation particulièrement avantageux pour l'arrêt du rognage par détection d'une variation de résistance au meulage, en particulier dans le cas d'un rognage effectué selon une consigne imposant une vitesse de descente de meule donnée :

  • La variation de résistance au meulage est détectée comme une augmentation de l'un parmi un ampérage nominal et un couple nominal du moteur d'une meule de broyage.
  • L'augmentation d'ampérage du moteur est une augmentation d'au moins 30 % de l'ampérage nominal lors du meulage.
Une telle augmentation de l'ampérage nominal ou du couple nominal du moteur de la meule indique que la meule a atteint la couche de transition. La détection de cette augmentation permet de commander l'arrêt du rognage.According to a particularly advantageous embodiment for stopping trimming by detecting a variation in resistance to grinding, in particular in the case of trimming performed according to a directive imposing a given grinding wheel speed:
  • The variation in grinding resistance is detected as an increase of one of a nominal amperage and a rated motor torque of a grinding wheel.
  • The amperage increase of the motor is an increase of at least 30% of the nominal amperage during grinding.
Such an increase in the nominal amperage or the nominal torque of the wheel motor indicates that the wheel has reached the transition layer. The detection of this increase makes it possible to control the stop of the trimming.

Selon un autre mode de réalisation particulièrement avantageux pour l'arrêt du rognage par détection d'une variation de résistance au meulage, en particulier dans le cas d'un rognage effectué selon une consigne imposant un couple du moteur de meule donné :

  • La variation de résistance au meulage est détectée comme une diminution d'une vitesse de descente nominale d'une meule de broyage.
  • La diminution de vitesse de descente est une diminution d'au moins 50 % de la vitesse de descente nominale lors du meulage.
Une telle diminution de vitesse de descente de la meule indique également que la meule a atteint la couche de transition. La détection de cette diminution permet de commander l'arrêt du rognage. La diminution de vitesse peut être mesurée à partir de la position de la meule. Dès lors que la meule cesse de progresser au contact de la couche de transition, sa vitesse de descente diminue brutalement.According to another particularly advantageous embodiment for stopping the trimming by detecting a change in resistance to grinding, in particular in the case of a trimming performed according to a set of instructions imposing a given torque of the grinding wheel motor:
  • The variation in grinding resistance is detected as a decrease in a nominal descent speed of a grinding wheel.
  • Falling speed reduction is a reduction of at least 50% of the nominal descent speed during grinding.
Such a decrease in the speed of descent of the grinding wheel also indicates that the grinding wheel has reached the transition layer. The detection of this decrease makes it possible to control the stop of the trimming. The decrease in speed can be measured from the position of the grinding wheel. As the grinding wheel stops progressing in contact with the transition layer, its speed of descent decreases abruptly.

Selon un mode de réalisation alternatif aux précédents modes de réalisation :

  • Le temps total ttot est déterminé par majoration par un facteur k1 d'un temps prédictible de meulage tpréd tel que ttot = k1.tpréd, avec 1,1 < k1 < 3, ledit temps prédictible étant prédit en fonction d'au moins un taux d'enlèvement du matériau de la zone en pourtour de manière à enlever une épaisseur totale etot de ladite zone en pourtour.
L'arrêt du rognage est ainsi avantageusement programmé sans qu'il soit nécessaire de détecter un passage de la meule au niveau de la couche de transition. La couche de transition présente en outre une résistance au meulage suffisante pour empêcher un meulage de la plaque support dans un tel cas où le meulage est prolongé au-delà du temps nécessaire pour enlever la zone en pourtour sur toute son épaisseur.According to an alternative embodiment to the preceding embodiments:
  • The total time t tot is determined by increasing by a factor k 1 a prediction time of grinding t pred such that t tot = k 1 .t pred , with 1.1 <k 1 <3, said predictable time being predicted in a function of at least one rate of removal of the material from the surrounding area so as to remove a total thickness e tot from said surrounding area.
Stopping trimming is thus advantageously programmed without it being necessary to detect a passage of the grinding wheel at the level of the transition layer. The transition layer further has sufficient grinding resistance to prevent grinding of the backing plate in such a case where the grinding is prolonged beyond the time required to remove the surrounding area throughout its thickness.

Selon un mode de réalisation avantageux compatible avec les précédents modes de réalisation, mais uniquement optionnel :

  • Le rognage comprend une première étape de meulage configurée pour enlever une première partie de la zone en pourtour avec un taux d'enlèvement compris entre 10 µm.min-1 et 100 µm.min-1, ladite première partie comprenant au moins 90 %, de préférence au moins 95 %, voire 97%, de la zone en pourtour, et une deuxième étape de meulage succédant à la première étape de meulage et configurée pour enlever une deuxième partie de la zone en pourtour avec un taux d'enlèvement compris entre 1 µm.min-1 et 10 µm.min-1,
  • EN complément, la première étape de meulage peut être effectuée sur une largeur L1 prise depuis un bord de la zone en pourtour, et la deuxième étape de meulage est effectuée sur une largeur L2 prise depuis ledit bord de la zone en pourtour, tel que L1 > L2.
Ce mode de réalisation permet de minimiser le temps total de meulage en recourant à une première étape de meulage rapide.
  • Selon un mode de réalisation alternatif au complément précédent, la première étape de meulage est effectuée sur une largeur L1 prise depuis un bord de la zone en pourtour, et la deuxième étape de meulage est effectuée sur une largeur L2 prise depuis ledit bord de la zone en pourtour, tel que L1 < L2.
Ce mode de réalisation permet d'obtenir un bord de détourage de la plaque sensiblement vertical, en évitant de créer une marche ou un piétement au niveau du bord de détourage après la première étape de meulage.
  • Les largeurs L1 et L2 sont comprises entre 1 mm et 5 mm.
According to an advantageous embodiment compatible with the previous embodiments, but only optional:
  • The trimming includes a first grinding step configured to remove a first portion of the surrounding area with a removal rate of between 10 μm.min -1 and 100 μm.min -1 , said first portion comprising at least 90%, preferably at least 95% or even 97% of the surrounding area, and a second grinding step succeeding the first grinding step and configured to remove a second portion of the surrounding area with a removal rate of between 1 μm.min -1 and 10 μm.min -1 ,
  • In addition, the first grinding step can be carried out over a width L 1 taken from an edge of the zone around the periphery, and the second grinding step is carried out over a width L 2 taken from said edge of the zone around it, such as that L 1 > L 2 .
This embodiment makes it possible to minimize the total grinding time by resorting to a first step of fast grinding.
  • According to an alternative embodiment to the previous complement, the first step of grinding is performed on a width L 1 taken from an edge of the zone around, and the second step of grinding is performed on a width L 2 taken from said edge of the area around it, such as L 1 <L 2 .
This embodiment makes it possible to obtain a trimming edge of the substantially vertical plate, without creating a step or a footing at the trimming edge after the first grinding step.
  • The widths L 1 and L 2 are between 1 mm and 5 mm.

Selon un mode de réalisation particulièrement avantageux et compatible avec les précédents modes de réalisation :

  • Le procédé de détourage comprend en outre, après l'arrêt du rognage, une étape de nettoyage par gravure de sorte à enlever une partie éventuellement restante de la zone en pourtour.
  • La gravure peut être une gravure humide telle que, par exemple, une gravure en solution à base d'hydroxyde de tetramethylammonium (TMAH) à une température comprise entre 70°C et 90°C pendant un temps de gravure compris entre 5 min et 15 min.
Cette gravure humide présente une bonne sélectivité Si/SiO2 Elle peut donc être notamment utilisée pour le détourage d'une plaque en silicium et pour une couche de transition en SiO2.
  • En alternative, la gravure peut être une gravure sèche telle que, par exemple, une gravure par plasma à base d'hexafluorure de soufre (SF6) pendant un temps de gravure compris entre 5 min et 15 min.
Cette gravure sèche présente une bonne sélectivité Si/SiO2. Elle peut donc être notamment utilisée pour le détourage d'une plaque en silicium et pour une couche de transition en SiO2.According to a particularly advantageous embodiment and compatible with the previous embodiments:
  • The trimming method further comprises, after stopping trimming, an etching cleaning step so as to remove an optionally remaining portion of the surrounding area.
  • The etching may be a wet etching such as, for example, a tetramethylammonium hydroxide solution (TMAH) solution etching at a temperature between 70 ° C. and 90 ° C. for an etching time of between 5 minutes and 15 minutes. min.
This wet etching has a good selectivity Si / SiO 2 It can therefore be used in particular for the trimming of a silicon wafer and for a transition layer of SiO 2 .
  • Alternatively, the etching may be a dry etching such as, for example, plasma etching based on sulfur hexafluoride (SF 6 ) for an etching time of between 5 min and 15 min.
This dry etching has a good Si / SiO 2 selectivity. It can therefore be used in particular for the trimming of a silicon wafer and for a transition layer of SiO 2 .

Il est précisé que, dans le cadre de la présente invention, le rognage se fait par meulage. Ce rognage est donc un procédé d'enlèvement ou d'amincissement purement mécanique, contrairement à un procédé de polissage mécano-chimique (CMP pour l'acronyme anglais « Chemical-Mechanical Polishing »). Un procédé de polissage mécano-chimique combine en effet des actions chimiques et mécaniques, en mélangeant généralement un abrasif libre à une solution de gravure humide.It is specified that, in the context of the present invention, the trimming is done by grinding. This trimming is therefore a method of removal or thinning purely mechanical, unlike a chemical mechanical polishing process (CMP for the acronym "Chemical-Mechanical Polishing"). A chemical mechanical polishing process indeed combines chemical and mechanical actions, generally mixing a free abrasive to a wet etching solution.

Le meulage, dans le cadre de la présente invention, est mis en oeuvre sans ajout d'abrasif libre, ni ajout de solution de gravure chimique.Grinding, in the context of the present invention, is carried out without the addition of free abrasive, nor addition of chemical etching solution.

Un procédé de meulage purement mécanique se distingue donc des procédés de type CMP.A purely mechanical grinding process is thus distinguished from CMP type processes.

Dans la suite, les termes « rognage », « meulage » et « usinage par abrasion » sont synonymes.In the following, the terms "trimming", "grinding" and "machining by abrasion" are synonymous.

Le meulage consiste à abraser un matériau par frottement avec des grains ou des particules coupantes agglomérées par un liant au moins en surface d'un outil. En particulier, une roue diamantée mise en rotation sur une meule permet d'effectuer un tel usinage par abrasion.Grinding involves abrasive abrasion of a material with grains or cutting particles agglomerated by a binder at least at the surface of a tool. In particular, a diamond wheel rotated on a grinding wheel makes it possible to perform such machining by abrasion.

Le meulage peut être assisté par un flux d'eau de manière à limiter un échauffement des matériaux en frottement, et/ou de manière à charrier, par une action physique, des particules de matériau abrasé. Ce flux d'eau n'est pas destiné à assister le meulage par une action chimique.The grinding may be assisted by a flow of water so as to limit heating of the materials in friction, and / or so as to pull, by a physical action, particles of abraded material. This stream of water is not intended to assist the grinding by a chemical action.

La résistance à l'abrasion d'un matériau A peut dépendre de la nature du matériau abrasif B et de la nature du liant, des différents mouvements de frottement sur la surface du matériau A, de la contrainte interne du matériau A, et de la pression de contact entre le matériau abrasif B et le matériau A notamment.The abrasion resistance of a material A may depend on the nature of the abrasive material B and the nature of the binder, the different friction movements on the surface of the material A, the internal stress of the material A, and the contact pressure between the abrasive material B and the material A in particular.

La résistance à l'abrasion du matériau A peut être évaluée au travers d'un taux d'enlèvement de ce matériau A, à partir de paramètres de meulage fixés, tels que la taille de grain du matériau abrasif B, la nature du liant, une vitesse de rotation de la roue de meulage, et une pression appliquée au matériau A par ladite roue par exemple.The abrasion resistance of the material A can be evaluated through a rate of removal of this material A, from fixed grinding parameters, such as the grain size of the abrasive material B, the nature of the binder, a rotational speed of the grinding wheel, and a pressure applied to the material A by said wheel for example.

On entend par un film, une couche, « à base » d'un matériau A, un film, une couche comprenant ce matériau A uniquement ou ce matériau A et éventuellement d'autres matériaux, par exemple des éléments d'alliage, des impuretés ou des éléments dopants.A film, a layer, "based" on a material A, a film, a layer comprising this material A only or this material A and possibly other materials, for example alloying elements, impurities or doping elements.

Dans la présente demande de brevet, l'épaisseur est prise selon une direction perpendiculaire aux faces principales des plaques en contact. Sur les figures, l'épaisseur est prise selon l'axe z des repères orthonormés xyz.In the present patent application, the thickness is taken in a direction perpendicular to the main faces of the plates in contact. In the figures, the thickness is taken along the z axis of the xyz orthonormal landmarks.

En référence aux figures 1A, 1B, 1C, et 4, le procédé 100 de détourage selon l'invention concerne le détourage d'une plaque à amincir 1 fixée 110 sur une plaque support 2 par l'intermédiaire d'une couche d'interface 3. L'empilement comprenant la plaque 1 à amincir, la couche d'interface 3 et la plaque support 2 peut être appelé « substrat ».With reference to FIGS. 1A, 1B, 1C , and 4 , the method 100 of trimming according to the invention relates to the trimming of a thinning plate 1 fixed 110 on a support plate 2 by means of an interface layer 3. The stack comprising the plate 1 to thin, the interface layer 3 and the support plate 2 may be called "substrate".

La plaque à amincir 1 peut être fixée 110 par collage direct sur la plaque support 2.The thinning plate 1 can be fixed 110 by direct bonding to the support plate 2.

Un premier exemple de collage direct entre une première plaque et une deuxième plaque est décrit ci-après.A first example of direct bonding between a first plate and a second plate is described below.

La première plaque, par exemple la plaque à amincir 1, est une plaque de silicium présentant une épaisseur de 775 µm, oxydée thermiquement au moins sur une face de sorte à former une couche d'oxyde de 1 µm d'épaisseur.The first plate, for example the plate to be thinned 1, is a silicon wafer having a thickness of 775 μm, thermally oxidized at least on one side so as to form an oxide layer of 1 μm in thickness.

La deuxième plaque, par exemple la plaque support 2, est une plaque de silicium de 775 µm d'épaisseur, oxydée thermiquement au moins sur une face de sorte à former une couche d'oxyde de 1 µm d'épaisseur.The second plate, for example the support plate 2, is a silicon plate 775 μm thick, thermally oxidized at least on one side so as to form an oxide layer of 1 micron thick.

Ensuite, une étape de préparation de surface des première et deuxième plaques, comprenant par exemple un nettoyage et une hydrolyse, peut être réalisée. Un tel nettoyage peut être réalisé par exemple dans un bain d'eau désionisée enrichie en ozone. Une telle hydrolyse peut être réalisée par exemple dans une solution de peroxyde d'ammonium (APM pour l'acronyme anglais « Ammonium peroxide mixture ») à 70°C.Then, a surface preparation step of the first and second plates, including for example cleaning and hydrolysis, can be performed. Such cleaning may be carried out for example in a deionized water bath enriched with ozone. Such hydrolysis may be carried out for example in an ammonium peroxide solution (APM) at 70 ° C.

Après préparation des surfaces, la face comprenant l'oxyde de la première plaque est mise en contact avec la face comprenant l'oxyde de la deuxième plaque, à température et pression ambiantes.After preparing the surfaces, the face comprising the oxide of the first plate is brought into contact with the face comprising the oxide of the second plate, at ambient temperature and pressure.

Un recuit à 1200°C pendant deux heures peut ensuite être effectué de manière à finaliser le collage direct par adhésion moléculaire.Annealing at 1200 ° C. for two hours can then be carried out so as to finalize the direct bonding by molecular adhesion.

Un deuxième exemple de collage direct entre une première plaque et une deuxième plaque est également décrit ci-après.A second example of direct bonding between a first plate and a second plate is also described below.

La première plaque, par exemple la plaque à amincir 1, est une plaque de silicium de 775 µm d'épaisseur, comprenant des dispositifs microélectroniques sur une face. Un dépôt d'oxyde, par exemple par dépôt chimique en phase vapeur (CVD) à partir d'un précurseur TEOS (tetraethylorthosilicate), est réalisé sur ladite face de sorte à former une couche d'oxyde de 5 µm d'épaisseur.The first plate, for example the thinning plate 1, is a silicon plate 775 μm thick, comprising microelectronic devices on one side. An oxide deposit, for example by chemical vapor deposition (CVD) from a TEOS (tetraethylorthosilicate) precursor, is produced on said face so as to form an oxide layer 5 μm thick.

La deuxième plaque, par exemple la plaque support 2, est une plaque de silicium de 775 µm d'épaisseur, comprenant éventuellement des dispositifs microélectroniques sur une face. Un dépôt d'oxyde, par exemple par CVD à partir d'un précurseur TEOS, est réalisé sur ladite face de sorte à former une couche d'oxyde de 5 µm d'épaisseur.The second plate, for example the support plate 2, is a silicon plate 775 μm thick, possibly comprising microelectronic devices on one side. An oxide deposit, for example by CVD from a TEOS precursor, is produced on said face so as to form an oxide layer 5 μm thick.

Ensuite, une étape de préparation de surface des première et deuxième plaques, semblable à celle décrite dans le premier exemple précédent, peut être réalisée.Then, a surface preparation step of the first and second plates, similar to that described in the first previous example, can be performed.

Après préparation des surfaces, la face comprenant l'oxyde de la première plaque est mise en contact avec la face comprenant l'oxyde de la deuxième plaque, à température et pression ambiantes.After preparing the surfaces, the face comprising the oxide of the first plate is brought into contact with the face comprising the oxide of the second plate, at ambient temperature and pressure.

Un recuit à 400°C pendant deux heures peut ensuite être effectué de manière à finaliser le collage direct par adhésion moléculaire. Cette température permet de ne pas endommager les dispositifs microélectroniques présents.Annealing at 400 ° C for two hours can then be performed to finalize the direct bonding by molecular adhesion. This temperature makes it possible not to damage the microelectronic devices present.

Dans ces exemples de collage direct, la couche d'interface 3 est issue des couches d'oxydes des première et deuxième plaques.In these examples of direct bonding, the interface layer 3 is derived from the oxide layers of the first and second plates.

La plaque à amincir 1 peut dès lors s'entendre d'une partie de la première plaque excluant la couche d'interface 3.The plate to thin 1 can therefore be understood as a part of the first plate excluding the interface layer 3.

Dans la suite, la plaque à amincir 1 est également dénommée plaque supérieure ou simplement plaque 1.In the following, the plate to be thinned 1 is also called upper plate or simply plate 1.

Après collage, la face libre de la plaque supérieure 1 est dénommée face supérieure.After bonding, the free face of the upper plate 1 is referred to as the upper face.

La plaque à amincir 1 peut être en un matériau pris parmi : du silicium, du germanium, un matériau III/V, un matériau II/VI, du SiC. Cette liste n'est cependant pas exhaustive.The thinning plate 1 may be of a material selected from: silicon, germanium, III / V material, II / VI material, SiC. This list is not exhaustive, however.

Tel qu'illustré aux figures 1A, 1B et 1C, le détourage de la plaque 1 est réalisé de préférence au moyen d'une meule comprenant au moins une roue diamantée 201, 202.As illustrated in FIGS. 1A, 1B and 1C , the trimming of the plate 1 is preferably performed by means of a grinding wheel comprising at least one diamond wheel 20 1 , 20 2 .

Un rognage 120, ou meulage, d'une zone en pourtour 12 de la plaque supérieure 1 est effectué.Cropping 120, or grinding, of a zone around the periphery 12 of the upper plate 1 is performed.

Un tel meulage 120 peut comprendre par exemple les étapes suivantes :
Les plaques 1, 2 collées et la roue diamantée 201, 202 sont respectivement mises en rotation selon des sens de rotation de préférence opposés, tel qu'illustré par les flèches sur les figures.Such a grinding 120 may comprise for example the following steps:
The plates 1, 2 bonded and the diamond wheel 20 1 , 2 are respectively rotated in preferably opposite directions of rotation, as illustrated by the arrows in the figures.

La roue diamantée 201, 202 est approchée de la face supérieure de la plaque 1, de sorte à obtenir un recouvrement, en projection dans un plan xy, sur une largeur, L1 ou L2, prise depuis un bord de la plaque 1.The diamond wheel 20 1 , 20 2 is approached from the upper face of the plate 1, so as to obtain a covering, projected in a plane xy, over a width, L 1 or L 2 , taken from an edge of the plate 1.

Une force, illustrée par une flèche verticale sur les figures, est ensuite appliquée à la roue selon la direction z, de sorte à meuler 120 progressivement la zone en pourtour 12, en déplaçant verticalement la meule depuis la face supérieure en direction de la couche d'interface 3.A force, illustrated by a vertical arrow in the figures, is then applied to the wheel in the z direction, so as to progressively grind the surrounding area 12, by vertically moving the grinding wheel from the upper face towards the outer layer. interface 3.

La zone en pourtour 12 peut être sensiblement annulaire et peut présenter une largeur L1, L2, prise radialement, comprise entre 1 mm et 5 mm.The surrounding zone 12 may be substantially annular and may have a width L 1 , L 2 , taken radially between 1 mm and 5 mm.

L'épaisseur de cette zone en pourtour 12 est de préférence égale à l'épaisseur totale etot de la plaque supérieure 1.The thickness of this zone in the periphery 12 is preferably equal to the total thickness e tot of the upper plate 1.

Le procédé de détourage 100 vise à éliminer la zone en pourtour 12 sur toute son épaisseur.The trimming method 100 aims to eliminate the area around its entire thickness.

Pour ce faire, selon un mode de réalisation du procédé 100 en partie illustré aux figures 2A, 2B et 3A, 3B, le rognage 120 comprend une première étape de meulage 121 et une deuxième étape de meulage 122 succédant à la première étape de meulage 121.For this purpose, according to an embodiment of the method 100, partly illustrated in FIGS. Figures 2A, 2B and 3A, 3B , trimming 120 comprises a first grinding step 121 and a second grinding step 122 succeeding the first grinding step 121.

La première étape de meulage 121 est configurée pour enlever une première partie 121 de la zone en pourtour 12 sur une largeur L1 avec, comme consigne, un premier taux d'enlèvement. La première partie 121 comprend au moins 90 %, de préférence au moins 97 %, de la zone en pourtour 12.The first grinding step 121 is configured to remove a first portion 12 1 from the surrounding area 12 over a width L 1 with, as deposit, a first rate of removal. The first part 12 1 comprises at least 90%, preferably at least 97%, of the surrounding area 12.

La deuxième étape de meulage 122 est configurée pour enlever une deuxième partie 122 de la zone en pourtour 12 sur une largeur L2 avec, comme consigne, un deuxième taux d'enlèvement inférieur au premier taux d'enlèvement.The second grinding step 122 is configured to remove a second portion 12 2 of the surrounding area 12 over a width L 2 with, as a set point, a second removal rate lower than the first removal rate.

Le premier taux d'enlèvement peut être typiquement compris entre 10 µm.min-1 et 100 µm.min-1, et le deuxième taux d'enlèvement peut être typiquement compris entre 1 µm.min-1 et 10 µm.min-1.The first removal rate may typically be between 10 μm.min -1 and 100 μm.min -1 , and the second removal rate may typically be between 1 μm.min -1 and 10 μm.min -1 .

La première étape de meulage 121 permet ainsi de meuler rapidement une majeure partie 121 de la zone en pourtour 12, la partie restante 122 étant meulée 122 plus lentement à l'approche de la couche d'interface 3.The first grinding step 121 thus makes it possible to rapidly grind a major portion 12 1 of the zone around the edge 12, the remaining portion 12 2 being ground 122 more slowly at the approach of the interface layer 3.

Les première et deuxième étapes de meulage 121, 122 cumulent un temps total de meulage ttot.The first and second grinding steps 121, 122 accumulate a total grinding time t tot .

La première étape de meulage 121 est par exemple réalisée par une première meule, par exemple de marque Okamoto, modèle 254B 3W5X J 75BA 325 40SB8, avec une roue diamantée 201 présentant une taille de grain 16000/325 µm, sur une largeur L1 de 3 mm en pourtour de la plaque 1.The first grinding step 121 is for example carried out by a first grinding wheel, for example of the Okamoto brand, model 254B 3W5X J 75BA 325 40SB8, with a diamond wheel 20 1 having a grit size 16000/325 μm, over a width L 1 3 mm around the plate 1.

Cette première étape 121 est arrêtée lorsque la roue 201 atteint une potion verticale distante d'environ 20 µm de la couche d'interface 3.The first step 121 is stopped when the wheel 20 1 reaches a distant vertical potion of about 20 microns of the interface layer 3.

Une deuxième étape de meulage 122 peut alors être réalisée par une deuxième meule, par exemple de marque Okamoto, modèle 254B 3W5X J 75BA 2000 40SB8, avec une roue diamantée 202 présentant une taille de grain plus fine que celle de l'étape précédente, typiquement 16000/2000 µm, sur une largeur L2 en pourtour de la plaque 1.A second grinding step 122 may then be performed by a second grinding wheel, for example of the Okamoto brand, model 254B 3W5X J 75BA 2000 40SB8, with a diamond wheel 20 2 having a grain size finer than that of the preceding step, typically 16000/2000 μm, over a width L 2 around the plate 1.

La largeur L2 peut être égale à L1, ou comprise dans un intervalle L1 ± 0,1 mm.The width L 2 may be equal to L 1 or in a range L 1 ± 0.1 mm.

Avantageusement, la largeur L2 sera légèrement inférieure à L1, par exemple comprise entre L1-0,01 mm > L2 > L1-0,1 mm, pour minimiser le temps total de meulage et/ou éviter une trop grande consommation de roues diamantées 202 à grains fins.Advantageously, the width L 2 will be slightly less than L 1 , for example between L 1 -0.01 mm> L 2 > L 1 -0.1 mm, to minimize the total time of grinding and / or to avoid too much consumption of diamond wheels 20 2 fine grain.

Le procédé de détourage 100 vise également à arrêter le meulage 120 au niveau de la couche d'interface 3.The trimming method 100 also aims to stop the grinding 120 at the interface layer 3.

Pour ce faire, une couche d'interface 3 comprenant une couche de transition 4 présentant une résistance au meulage, ou une résistance à l'abrasion, supérieure à celle de la plaque 1 est avantageusement utilisée 111.To do this, an interface layer 3 comprising a transition layer 4 having a resistance to grinding, or an abrasion resistance, greater than that of the plate 1 is advantageously used 111.

La couche de transition 4 présente de préférence une épaisseur inférieure ou égale à celle de l'interface 3.The transition layer 4 preferably has a thickness less than or equal to that of the interface 3.

Elle peut s'étendre selon toute une surface de la couche d'interface 3. Alternativement, elle peut s'étendre sur une zone sous-jacente à la zone en pourtour 12, par exemple annulaire.It may extend over an entire surface of the interface layer 3. Alternatively, it may extend over an area underlying the zone around the periphery 12, for example an annular zone.

La couche de transition 4 peut avantageusement constituer entièrement la couche d'interface 3.The transition layer 4 may advantageously constitute entirely the interface layer 3.

Cette couche de transition 4 peut présenter une résistance à l'abrasion au moins trois ou cinq fois supérieure, et de préférence au moins dix fois supérieure, à celle de la plaque 1.This transition layer 4 may have an abrasion resistance at least three or five times greater, and preferably at least ten times greater than that of the plate 1.

La résistance à l'abrasion de la couche de transition 4 et la résistance à l'abrasion de la plaque 1 peuvent être évaluées à partir des taux d'enlèvement des matériaux constituant respectivement la couche de transition 4 et la plaque 1, pour un jeu de paramètres de meulage fixé.The abrasion resistance of the transition layer 4 and the abrasion resistance of the plate 1 can be evaluated from the removal rates of the materials respectively constituting the transition layer 4 and the plate 1, for a set set grinding parameters.

Ce jeu de paramètres comprend notamment une taille de grain du matériau abrasif, une vitesse de rotation de la roue de meulage, une pression appliquée au matériau à meuler, et optionnellement une vitesse de rotation du support sur lequel est fixé le matériau à meuler et un sens de rotation dudit support relativement au sens de rotation de la roue.This set of parameters comprises in particular a grain size of the abrasive material, a speed of rotation of the grinding wheel, a pressure applied to the material to be ground, and optionally a speed of rotation of the support on which the material to be ground is fixed and a direction of rotation of said support relative to the direction of rotation of the wheel.

Par exemple, un meulage d'une zone en pourtour 12 en silicium effectué par une roue diamantée 202 présentant une taille de grain 16000/2000 µm, à une vitesse de rotation de la roue 202 de 2000 tr.min-1 permet d'abraser le silicium avec un taux d'enlèvement compris entre 10 µm.min-1 et 20 µm.min-1,For example, a grinding zone in periphery 12 of silicon carried by a diamond wheel 20 2 having a grain size 16000/2000 .mu.m, at a speed of rotation of the wheel 20 February 2000 tr.min -1 allows to abrade silicon with a removal rate of between 10 μm.min -1 and 20 μm.min -1 ,

Un meulage d'une zone sous-jacente (à la zone en pourtour 12) en oxyde de silicium effectué dans les mêmes conditions que le meulage de la zone en pourtour 12 en silicium, permet d'abraser l'oxyde de silicium avec un taux d'enlèvement compris entre 0,05 µm.min-1 et 0,1 µm.min-1.Grinding of an underlying zone (at the zone around the edge 12) made of silicon oxide, performed under the same conditions as grinding the zone around the edge 12 made of silicon, makes it possible to abrade the silicon oxide with a level removal rate of between 0.05 μm.min -1 and 0.1 μm.min -1 .

Pour une plaque à amincir 1 en silicium, une couche d'interface 3 comprenant une couche de transition 4 en oxyde de silicium peut donc avantageusement être utilisée 111, de manière à freiner significativement le meulage au niveau de la couche de transition 4.For a silicon thinning plate 1, an interface layer 3 comprising a transition layer 4 of silicon oxide can therefore advantageously be used 111, so as to significantly slow the grinding at the level of the transition layer 4.

L'arrêt 130 du meulage ou du rognage peut être effectué dans la couche de transition 4 au bout d'un temps total de meulage ttot supérieur à un premier temps de meulage t1 correspondant au meulage de la zone en pourtour 12 sur toute son épaisseur.The stopping 130 of the grinding or trimming can be carried out in the transition layer 4 after a total grinding time t tot greater than a first grinding time t 1 corresponding to the grinding of the zone around its entire circumference 12 thickness.

Le temps total de meulage ttot peut ainsi être fixé tel que : ttot = t1 + t2, avec t2 ≠ 0, t2 étant un deuxième temps de meulage correspondant au meulage partiel de la couche de transition 4.The total grinding time t tot can thus be set such that: t tot = t 1 + t 2 , with t 2 ≠ 0, t 2 being a second grinding time corresponding to the partial grinding of the transition layer 4.

Pour un meulage avec une roue diamantée 201 grossière puis une roue diamantée 202 plus fine, comprenant une première et une deuxième étape de meulage 121, 122, avec L2 < L1, le premier temps de meulage t1 correspond de préférence uniquement au meulage de la zone en pourtour 12 lors de la deuxième étape de meulage 122. Ce premier temps t1 correspond dès lors au meulage de l'épaisseur d'une zone résiduelle de la zone en pourtour 12 après la première étape de meulage 121.For grinding with a coarse diamond wheel 20 1 and then a finer diamond wheel 20 2 , comprising a first and a second grinding step 121, 122, with L 2 <L 1 , the first grinding time t 1 preferably corresponds only to grinding the zone around the periphery 12 during the second grinding step 122. This first time t 1 therefore corresponds to the grinding of the thickness of a residual zone of the zone around the periphery 12 after the first grinding step 121.

Avantageusement, le taux d'enlèvement dans la couche de transition 4 est très inférieur, de préférence inférieur d'au moins un ordre de grandeur, au taux d'enlèvement dans la zone de pourtour 12.Advantageously, the removal rate in the transition layer 4 is much lower, preferably at least an order of magnitude lower, at the rate of removal in the peripheral zone 12.

Ainsi, il n'est pas nécessaire de contrôler très précisément le premier temps de meulage t1 pour éviter de meuler la couche d'interface 3 sur toute son épaisseur et notamment pour éviter de meuler une partie sous-jacente de la plaque support 2.Thus, it is not necessary to control very precisely the first grinding time t 1 to avoid grinding the interface layer 3 over its entire thickness and in particular to avoid grinding an underlying part of the support plate 2.

La couche de transition 4 permet de protéger la plaque support 2 vis-à-vis du meulage, au moins pendant le deuxième temps t2.The transition layer 4 makes it possible to protect the support plate 2 with respect to the grinding, at least during the second time t 2 .

La plaque support 2 peut donc être avantageusement réutilisée, après détourage et décollage de la plaque 1, pour le détourage d'une autre plaque par exemple.The support plate 2 can therefore be advantageously reused, after trimming and takeoff of the plate 1, for the trimming of another plate for example.

Le premier temps de meulage t1 peut être simplement estimé, d'après un abaque ou par calibration par exemple, et majoré par un coefficient k1 de sorte que : t tot = t 1 + t 2 = k 1 . t 1 .

Figure imgb0001
The first grinding time t 1 can be simply estimated, according to an abacus or by calibration for example, and increased by a coefficient k 1 so that: t early = t 1 + t 2 = k 1 . t 1 .
Figure imgb0001

Pour un meulage avec une roue diamantée 201 grossière puis une roue diamantée 202 plus fine, k1 est choisi de préférence tel que 2 < k1 < 3. La zone résiduelle, dont l'épaisseur correspond de préférence à environ 3 % de l'épaisseur totale de la zone en pourtour 12 à l'issue de la première étape de meulage 121, peut ainsi être totalement meulée lors de la deuxième étape de meulage 122.For grinding with a coarse diamond wheel 20 1 and then a diamond wheel 20 2 finer, k 1 is preferably chosen such that 2 <k 1 <3. The residual zone, the thickness of which preferably corresponds to about 3% of the total thickness of the zone around the periphery 12 at the end of the first grinding step 121 can thus be totally ground during the second grinding step 122.

Le deuxième temps de meulage t2 est de préférence strictement inférieur à un temps de meulage t2tot correspondant au meulage de la couche de transition 4 sur toute son épaisseur.The second grinding time t 2 is preferably strictly less than a grinding time t 2tot corresponding to the grinding of the transition layer 4 over its entire thickness.

De manière à ce que ce temps de meulage t2tot soit d'au moins quelques dizaines de secondes, le choix de la nature et de l'épaisseur de la couche de transition 4 est particulièrement important.So that this grinding time t 2tot is at least a few tens of seconds, the choice of the nature and the thickness of the transition layer 4 is particularly important.

La couche de transition 4 est de préférence choisie en un matériau pris parmi : un oxyde de silicium, de l'alumine, du diamant et le nitrure de silicium.The transition layer 4 is preferably selected from a material selected from: silicon oxide, alumina, diamond and silicon nitride.

La couche de transition 4 est de préférence choisie avec une épaisseur comprise entre 0,5 µm et 10 µm.The transition layer 4 is preferably chosen with a thickness of between 0.5 μm and 10 μm.

Selon un mode de réalisation particulièrement avantageux du procédé 100, une détection 140 d'une variation de résistance au meulage est effectuée pour déclencher l'arrêt 130 du meulage.According to a particularly advantageous embodiment of the method 100, a detection 140 of a variation of resistance to grinding is performed to trigger the stopping 130 of the grinding.

La variation de résistance au meulage est en effet induite par un début d'abrasion de la couche de transition 4. La résistance au meulage augmente en passant de la zone en pourtour 12 à la couche de transition 4.The variation in resistance to grinding is in fact induced by a beginning of abrasion of the transition layer 4. The resistance to grinding increases by passing from the zone around the edge 12 to the transition layer 4.

Cette augmentation de résistance au meulage peut notamment engendrer une augmentation d'un ampérage du moteur de la meule, si le meulage est effectué selon une vitesse fixée de descente de meule.This increase in resistance to grinding may in particular lead to an increase in the amperage of the grinding wheel motor, if the grinding is performed at a fixed grinding speed.

Par exemple, lors d'une transition du meulage entre la zone en pourtour 12 en silicium et la zone sous-jacente en oxyde de silicium, l'ampérage du moteur peut passer de 7A à 11A.For example, during a transition of the grinding between the zone in periphery 12 in silicon and the underlying zone in silicon oxide, the amperage of the motor can go from 7A to 11A.

En surveillant cet ampérage et en détectant 140 cette augmentation d'ampérage lors du meulage 120, il est possible d'identifier un moment où la roue diamantée 202 atteint ou a atteint la couche de transition 4.By monitoring this amperage and detecting 140 this amperage increase during grinding 120, it is possible to identify a moment when the diamond wheel 2 reaches or has reached the transition layer 4.

Alternativement, si le meulage est effectué à ampérage de moteur donné, l'augmentation de résistance au meulage peut engendrer une diminution d'une vitesse de descente de la meule. En détectant 140 cette diminution de vitesse de descente, il est également possible d'identifier le moment où la roue diamantée 202 atteint ou a atteint la couche de transition 4.Alternatively, if the grinding is performed at a given motor amperage, the increase in grinding resistance may cause a decrease in the grinding speed of the grinding wheel. By detecting this decrease in descent rate, it is also possible to identify when the diamond wheel 2 reaches or has reached the transition layer 4.

Dès lors, l'arrêt 130 du meulage peut être immédiat ou différé.Therefore, the stop 130 of the grinding can be immediate or deferred.

En différant l'arrêt 130 du meulage, le matériau de la plaque 1 peut être totalement éliminé dans la zone en pourtour 12 de façon purement mécanique.By stopping the stop 130 of the grinding, the material of the plate 1 can be completely eliminated in the zone around the periphery 12 purely mechanically.

En arrêtant 130 le meulage au moment où la roue diamantée 202 atteint la couche de transition 4, une partie du matériau de la plaque 1 peut subsister dans la zone en pourtour 12. Cette solution peut être choisie en particulier dans le cas d'une couche de transition 4 de faible épaisseur, afin d'assurer la protection de la plaque support 2.By stopping the grinding when the diamond wheel 2 reaches the transition layer 4, a part of the material of the plate 1 can remain in the zone around the edge 12. This solution can be chosen in particular in the case of a transition layer 4 of small thickness, to ensure the protection of the support plate 2.

Une étape optionnelle de nettoyage 150 peut être effectuée de manière à retirer le matériau restant dans la zone de pourtour 12.An optional cleaning step 150 may be performed to remove the remaining material in the perimeter area 12.

Ce nettoyage 150 peut être une gravure, par voie humide ou par voie sèche, du matériau restant.This cleaning 150 may be an etching, wet or dry, of the remaining material.

La gravure du matériau de la plaque 1 présente de préférence une bonne sélectivité Smat1/mat4 vis-à-vis du matériau de la couche de transition 4. Cette sélectivité est par exemple supérieure à 5:1.The etching of the material of the plate 1 preferably has a good selectivity S mat1 / mat4 vis-à-vis the material of the transition layer 4. This selectivity is for example greater than 5: 1.

Par exemple, dans le cas d'une plaque 1 en silicium et d'une couche de transition 4 en oxyde de silicium, une gravure humide dans une solution à base de TMAH à 12 %, à une température de 80 °C pendant un temps de gravure de 10 min peut être effectuée de manière à retirer le silicium restant dans la zone de pourtour 12. Dans ce cas, la sélectivité entre le silicium et l'oxyde thermique de silicium SSi/SiO2 est supérieure à 500 :1.For example, in the case of a silicon plate 1 and a silicon oxide transition layer 4, wet etching in a 12% TMAH solution at a temperature of 80 ° C. for a period of time. etching time of 10 min can be carried out so as to remove the silicon remaining in the periphery zone 12. In this case, the selectivity between the silicon and the silicon Si / SiO 2 thermal oxide is greater than 500: 1.

Alternativement, une gravure sèche par plasma à base de SF6, pendant un temps de gravure de 10 min, peut être effectuée.Alternatively, a plasma dry etching based on SF 6 , during an etching time of 10 min, can be performed.

La sélectivité SSi/SiO2 peut être dans ce cas supérieure à 10:1.In this case, the selectivity S Si / SiO 2 may be greater than 10: 1.

Au vu de la description qui précède, il apparaît clairement que l'invention propose un procédé particulièrement fiable et efficace pour détourer une plaque collée sur une plaque support en limitant, voire en annulant, tout risque de contamination particulaire issue de la plaque support.In view of the above description, it is clear that the invention provides a particularly reliable and effective method for cutting a plate bonded to a support plate by limiting or canceling any risk of particulate contamination from the support plate.

L'invention n'est pas limitée aux modes de réalisations précédemment décrits et s'étend à tous les modes de réalisation couverts par les revendications.The invention is not limited to the previously described embodiments and extends to all the embodiments covered by the claims.

Claims (12)

Procédé de détourage (100) d'une plaque (1) présentant une première face et une deuxième face opposée à la première face, ledit procédé (100) comprenant les étapes suivantes : - Fixer (110) la plaque (1) sur un support (2) au moyen d'une couche (3), dite couche d'interface, située entre la plaque (1) et le support (2), au niveau de la première face, - Rogner (120) une zone en pourtour (12) de la plaque (1) par meulage à partir de la deuxième face et en direction de la couche d'interface (3), - Arrêter (130) le rognage après enlèvement de la zone en pourtour (12) au bout d'un temps total de meulage ttot, ledit procédé (100) étant caractérisé en ce qu'on utilise (111) une couche d'interface (3) comprenant une couche (4), dite couche de transition, située au moins au droit de la zone en pourtour (12) de la plaque (1) et présentant une résistance au meulage supérieure à celle de la plaque (1), et en ce que l'arrêt (130) du rognage est opéré dans ladite couche de transition (4), après détection (140) d'une variation de résistance au meulage.A method of trimming (100) a plate (1) having a first face and a second face opposite to the first face, said method (100) comprising the steps of: - Fix (110) the plate (1) on a support (2) by means of a layer (3), called the interface layer, located between the plate (1) and the support (2), at the level of the first face, - Trimming (120) a zone around the edge (12) of the plate (1) by grinding from the second face and towards the interface layer (3), - Stop (130) trimming after removal of the area around (12) after a total grinding time t tot , said method (100) being characterized by using (111) an interface layer (3) comprising a layer (4), referred to as a transition layer, located at least in line with the surrounding area (12) of the plate (1) and having a resistance to grinding greater than that of the plate (1), and in that the stop (130) of the trimming is operated in said transition layer (4), after detection (140) d a variation of resistance to grinding. Procédé de détourage (100) selon la revendication précédente, dans lequel la résistance au meulage de la couche de transition (4) est au moins cinq fois supérieure à la résistance au meulage de la plaque (1).The trimming method (100) according to the preceding claim, wherein the grinding resistance of the transition layer (4) is at least five times greater than the grinding resistance of the plate (1). Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le temps de meulage total ttot est choisi tel que ttot = t1 + t2, t1 étant un premier temps de meulage correspondant à un meulage de la zone en pourtour (12) de la plaque (1) et t2 étant un deuxième temps de meulage correspondant à un meulage partiel de la couche de transition (4), où t2 ≠ 0, de sorte que l'arrêt (130) du rognage est opéré dans ladite couche de transition (4).A trimming method (100) according to any one of the preceding claims, wherein the total grinding time t tot is chosen such that t tot = t 1 + t 2 , t 1 being a first grinding time corresponding to a grinding of the peripheral area (12) of the plate (1) and t 2 being a second grinding time corresponding to a partial grinding of the transition layer (4), where t 2 ≠ 0, so that the stop (130 ) trimming is performed in said transition layer (4). Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la variation de résistance au meulage est détectée comme une augmentation de l'un parmi un ampérage nominal et un couple nominal du moteur d'une meule.A trimming method (100) according to any one of the preceding claims, wherein the variation in grinding resistance is detected as an increase of one of a nominal amperage and a nominal motor torque of a grinding wheel. Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel la variation de résistance au meulage est détectée comme une diminution d'une vitesse de descente nominale d'une meule.A trimming method (100) according to any one of claims 1 to 3, wherein the variation in grinding resistance is detected as a decrease in a nominal descent speed of a grinding wheel. Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le rognage (120) comprend une première étape de meulage (121) configurée pour enlever une première partie (121) de la zone en pourtour (12) avec un taux d'enlèvement compris entre 10 µm.min-1 et 100 µm.min-1, ladite première partie (121) comprenant au moins 90 % de la zone en pourtour (12), et une deuxième étape de meulage (122) succédant à la première étape de meulage (121) et configurée pour enlever une deuxième partie (122) de la zone en pourtour (12) avec un taux d'enlèvement compris entre 1 µm.min-1 et 10 µm.min-1,A trimming method (100) according to any one of the preceding claims, wherein the trimming (120) comprises a first grinding step (121) configured to remove a first portion (12 1 ) from the surrounding area (12) with a removal rate of between 10 μm.min -1 and 100 μm.min -1 , said first part (12 1 ) comprising at least 90% of the surrounding zone (12), and a second grinding step (122). ) succeeding the first grinding step (121) and configured to remove a second portion (12 2 ) from the surrounding area (12) with a removal rate of between 1 μm.min -1 and 10 μm.min - 1 , Procédé de détourage (100) selon la revendication précédente, dans lequel la première étape de meulage (121) est effectuée sur une largeur L1 prise depuis un bord de la zone en pourtour (12), et la deuxième étape de meulage (122) est effectuée sur une largeur L2 prise depuis ledit bord de la zone en pourtour (12), tel que L1 > L2.A trimming method (100) according to the preceding claim, wherein the first grinding step (121) is performed on a width L 1 taken from an edge of the zone around (12), and the second grinding step (122) is performed on a width L 2 taken from said edge of the zone around (12), such as L 1 > L 2 . Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des deux revendications précédentes, dans lequel les largeurs L1 et L2 sont comprises entre 1 mm et 5 mm.A trimming method (100) according to any one of the two preceding claims, wherein the widths L 1 and L 2 are between 1 mm and 5 mm. Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes comprenant en outre, après l'arrêt (130) du rognage, une étape de nettoyage (150) par gravure humide, par exemple de sorte à enlever une partie restante de la zone en pourtour (12).A trimming method (100) according to any one of the preceding claims, further comprising, after stopping (130) the trimming, a cleaning step (150) by wet etching, for example so as to remove a remaining portion of the surrounding area (12). Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications 1 à 8 comprenant en outre, après l'arrêt (130) du rognage, une étape de nettoyage (150) par gravure sèche, par exemple de sorte à enlever une partie restante de la zone en pourtour (12).A trimming method (100) according to any one of claims 1 to 8, further comprising, after stopping (130) trimming, a dry etching step (150), for example to remove a remaining portion of the surrounding area (12). Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche de transition (4) est choisie en un matériau pris parmi : un oxyde de silicium, de l'alumine, du diamant, du nitrure de silicium, et dans lequel la plaque (1) est choisie en au moins un matériau pris parmi : du silicium, du germanium, un matériau III/V, un matériau II/VI, du carbure de silicium.A trimming method (100) according to any one of the preceding claims, wherein the transition layer (4) is selected from a material selected from: silicon oxide, alumina, diamond, silicon nitride, and wherein the plate (1) is selected from at least one of silicon, germanium, III / V material, II / VI material, silicon carbide. Procédé de détourage (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche de transition (4) est choisie pour présenter une épaisseur comprise entre 0,5 µm et 10 µm.A trimming method (100) according to any one of the preceding claims, wherein the transition layer (4) is selected to have a thickness of between 0.5 μm and 10 μm.
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