EP0862147A2 - Coin checking device - Google Patents
Coin checking device Download PDFInfo
- Publication number
- EP0862147A2 EP0862147A2 EP98100034A EP98100034A EP0862147A2 EP 0862147 A2 EP0862147 A2 EP 0862147A2 EP 98100034 A EP98100034 A EP 98100034A EP 98100034 A EP98100034 A EP 98100034A EP 0862147 A2 EP0862147 A2 EP 0862147A2
- Authority
- EP
- European Patent Office
- Prior art keywords
- coin
- checking device
- probes
- test probes
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
Definitions
- the invention relates to a coin testing device according to the preamble of claim 1.
- Soil probes are particularly advantageous for so-called Bicolour coins made from a core with one around it put around ring. Ring and cores have a different one Color, hence the name mentioned. Also the material chosen for the ring and core is different.
- the invention is therefore based on the object of a coin testing device to create that is also able to create bicolour coins better discriminate and the overall the Test security also increased for other coins.
- test probes vertically on a common axis so arranged that, for example, the damping curves which generate the measurement signals of both test probes, occur simultaneously.
- the test probes which are, for example, inductive probes, can be on a Side of a coin channel arranged and the rolling past Be assigned to the area of the coins.
- one of the Test probes point-shaped and the other flat be.
- one of the test probes is also conceivable as an edge test probe by placing it in the bottom of the Coin runway is sunk. Such a soil test probe is known per se.
- the coils are arranged so that mutual overcoupling is avoided becomes.
- the parallel processing of the sensor signals is possible because the coin run past the probes takes significantly longer than the analog-digital conversion a measurement signal. For example, the coin run on the Probes past 50 ms while the analog to digital conversion of a Measurement signal in the order of 10 microseconds takes place. Because of this time ratio results when the evaluation is ongoing at least of two signal curves occurring at the same time a variety of evaluation criteria, for example Differential and partial areas, intersections and combinations from these events. Because of the acceleration of probes arranged exactly one above the other can also the slopes at certain points on the signal curves be used for evaluation.
- the coin validation device has a number of benefits. So due to the arrangement of the probes Intersection points are generated automatically and for example the distance of the intersection points from the symmetrical Timeline can be determined, which is a statement of authenticity of the tested coin. Furthermore, difference areas or individual partial areas are examined, also in Connection with programmable offsets. Especially at As already mentioned, bicolour coins arise above all with surface probes, small differences in damping between Ring and core material. Accordingly, you only have smaller ones Slumps in the rise and fall of the coin curve can be expected. These slope changes can usually be made difficult to evaluate. When using a second on the same Axis arranged test probe, for example only the When viewed in a ring, there is a multitude with the first curve of combinations of evaluation criteria.
- a coin track 10 is indicated, which is usually is attached to a raceway support plate 12 (Fig. 2). Between the raceway support plate 12 and a main plate 14 a coin channel 16 is formed, with on the Coin runway 10 Roll coins along in coin channel 16. In 1 and 2, a coin is marked with 18.
- inductive test probes 20, 22, 24 In the main plate 14 there are three inductive test probes 20, 22, 24 arranged one above the other. Your measuring axes lie on one Axis 26, which is perpendicular to the plane of the coin track 10 stands. Another test probe 28 is in the coin track 10 arranged. Your measuring axis coincides with axis 26.
- the test probes 20 to 24 are so-called area probes "view" part of the area of the coins 18, with the Example the probes 20, 24 the ring 30 of the bicolour coin 28 and probe 22 "looks" at core 32. Probes 20 to 28 are inductive probes. The test probe 28 is used for the examination the edge of the coin 18th
- the signal curve 40 is, for example, the sensor 28 shown for example for a coin with a value of 1 euro.
- a curve 42 shows the signal profile of a test probe, as represented by one of the probes 20 to 24. It can be seen that the curves 40, 42 are largely symmetrical are to the time axis 44. The overlap of the curves 40, 42 results thus, for example, two partial areas 46, 48, their difference for example for authenticity checks can. Furthermore, there are s1, s2 above intersection points an area 50, which is also used for the authenticity check can be. The position of the intersections s1, s2 can also be used for the authenticity check can be used, for example by measuring the distance to the axis of symmetry 44.
- a further curve 42 ' is indicated by dash-dotted lines, to show that there can be curve shapes, in which due to the high slope of the measurement curve 40 Intersection s1 and s1 'of curve 40 with curves 42 and 42 'may have relevant amplitude differences U1, U2, while the measured values S1, S1 'are close in time, i.e. form a ⁇ U that cannot be evaluated.
- the curve 5 is that of a floor sensor, corresponding to the sensor 28, generated signal curve designated 52 and that for one Area sensor with 54.
- the curve 52 corresponds approximately to that Course of curve 40 according to FIG. 1 and is characteristic for the formation of the edge of a bicoloured mune.
- the curve 54 is obtained, for example, from a sensor such as it is designated 22 in Figs. 1 and 2, i.e., when painting of coin surface sections both in the core 32 and also in edge 30 of coin 18.
- intersection points s3 and s4 for the coin check can be used.
- a third curve 52 ' is indicated in FIG curve 54 intersects at s3 '.
- the reverse Fall as in curve 42 ' i.e. the amplitude values U1 and U2 have a negligible difference, while the temporal position, expressed by T1 and T2 clearly is different.
- 58 again designates one Curve by a soil sensor, corresponding to soil sensor 28, is generated.
- curve 60 stems from one Sensor forth, as it is designated in Fig. 1 with 20 or 24, i.e. only one material is also measured.
- the overlapped areas can be used for evaluation or alternatively the slopes, approximately on both sides of the symmetry time axis 44 ′′ have to be the same.
- FIG 3 is a first sensor by a probe 70 in the main plate 14a and a second Sensor formed by probes 72, 72 'in the raceway support plate 12a are arranged.
- the probes 70, 72 are coaxial, but have a different diameter.
- Such a pair of sensors also generates signal curves at the same time when passing coins, that described in the above Be used to form authenticity criteria can.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
Abstract
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Münzprüfvorrichtung nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.The invention relates to a coin testing device according to the preamble of claim 1.
Elektronische Münzprüfvorrichtungen, die fast ausschließlich im Einsatz sind, weisen zumeist mehrere Prüfsonden auf, welche die Echtheitsmerkmale von Münzen identifizieren sollen. Mit am häufigsten werden induktive Sonden verwendet, deren elektromagnetisches Feld durch den Durchlauf von Münzen beeinflußt wird. Auf diese Weise läßt sich die Amplitude, die Frequenz und/oder die Phasenlage der an der Sonde anliegenden Spannung beeinflussen. Verursacht durch die elektrischen bzw. magnetischen Eigenschaften einer Münze erfolgt eine sogenannte Bedämpfung, wobei die entsprechende Kurve zumeist symmetrisch zu einer Zeitachse verläuft, wenn unterstellt wird, daß die Geschwindigkeit, mit der die Münze an der Sonde vorbeirollt, annähernd konstant ist. Neben induktiven Sonden werden auch optische, akustische, kapazitive und andere Sonden eingesetzt. Neben punktförmigen Sonden, die nur einen kleinen Bereich der vorbeirollenden Münze bestreichen, werden auch größerflächige Sonden verwendet, die integrierend wirken. Daneben ist auch bekannt, eine Bodensonde zu verwenden, die in der Münzlaufbahn angeordnet ist und die die Beschaffenheit des Randes einer Münze überprüft. Derartige Bodensonden sind vor allen Dingen vorteilhaft bei sogenannten Bicolour-Münzen, die aus einem Kern mit einem darum herumgelegten Ring bestehen. Ring und Kerne haben eine unterschiedliche Farbe, daher die erwähnte Bezeichnung. Auch das gewählte Material von Ring und Kern ist unterschiedlich.Electronic coin validators that are almost exclusively are usually in use, several test probes, which to identify the authenticity features of coins. Most often, inductive probes are used, whose electromagnetic field affected by the passage of coins becomes. In this way, the amplitude that Frequency and / or the phase position of the applied to the probe Affect tension. Caused by the electrical or magnetic properties of a coin so-called damping, the corresponding curve mostly runs symmetrically to a time axis if assumed is that the speed at which the coin on the Probe rolls past, is approximately constant. In addition to inductive Probes are also optical, acoustic, capacitive and others Probes used. In addition to punctiform probes that only spread a small area of the rolling coin, larger area probes are used that are integrating Act. In addition, it is also known to use a soil probe use that is arranged in the coin path and the checked the texture of the edge of a coin. Such Soil probes are particularly advantageous for so-called Bicolour coins made from a core with one around it put around ring. Ring and cores have a different one Color, hence the name mentioned. Also the material chosen for the ring and core is different.
Trotz des unterschiedlichen Materials ist die Beschaffenheit von Ring und Kern von Bicolour-Münzen nicht so gänzlich verschieden, daß mit Hilfe von Prüfsonden immer einwandfreie Prüfergebnisse erzielt werden. Dies ist auch dann der Fall, wenn, wie an sich bekannt, mehrere einzelne Prüfsonden verwendet werden, die auf unterschiedliche Eigenschaften der Münzen reagieren. Schließlich ist auch bekannt, die Meßsignale von räumlich hintereinander angeordneten Meßsonden zu verknüpfen, um weitere Meßkriterien zu bilden. Eine Aufnahme und Speicherung von Kurvenverläufen von hintereinander angeordneten Sonden mit anschließender Auswertung geht jedoch zumeist über den Rahmen von Speicher und Verarbeitungsgeschwindigkeit üblicher Mikroprozessoren für Münzprüfer hinaus.Despite the different material, the nature is not so completely different from the ring and core of bicolour coins, that with the help of test probes always flawless Test results can be achieved. This is also the case if, as is known per se, several individual test probes are used that are based on different properties of the Coins react. Finally, the measurement signals are also known of measuring probes arranged one behind the other link to form further measurement criteria. A recording and storage of curves of one behind the other However, probes with subsequent evaluation are possible mostly beyond the limits of memory and processing speed usual microprocessors for coin validators.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Münzprüfvorrichtung zu schaffen, die auch in der Lage ist, Bicolour-Münzen besser zu diskriminieren und die insgesamt die Prüfsicherheit auch bei anderen Münzen erhöht.The invention is therefore based on the object of a coin testing device to create that is also able to create bicolour coins better discriminate and the overall the Test security also increased for other coins.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst.This object is achieved by the features of patent claim 1 solved.
Bei der erfindungsgemäßen Münzprüfvorrichtung sind mindestens zwei Prüfsonden vertikal auf einer gemeinsamen Achse so angeordnet, daß zum Beispiel die Dämpfungskurven, welche die Meßsignale beider Prüfsonden erzeugen, gleichzeitig auftreten. Dies ist der Fall dann, wenn die gemeinsame Achse bzw. Ebene der Maßachsen auf der Ebene, welche von der Münzlaufbahn aufgespannt ist, senkrecht steht. Die Prüfsonden, die zum Beispiel induktive Meßsonden sind, können auf einer Seite eines Münzkanals angeordnet und der vorbeirollenden Fläche der Münzen zugeordnet sein. Sie können jedoch auch auf gegenüberliegenden Seiten eines Münzkanals angeordnet sein und auf einer gemeinsamen Achse liegen und unterschiedlichen Durchmesser haben. Ferner kann zum Beispiel eine der Prüfsonden punktförmig und die andere flächenförmig ausgestaltet sein. Schließlich ist auch denkbar, eine der Prüfsonden als Randprüfsonde einzusetzen, indem sie im Boden der Münzlaufbahn versenkt angeordnet ist. Eine derartige Bodenprüfsonde ist an sich bekannt.In the coin validation device according to the invention, at least two test probes vertically on a common axis so arranged that, for example, the damping curves which generate the measurement signals of both test probes, occur simultaneously. This is the case when the common axis or level of the dimension axes on the level that of the coin career is stretched, is vertical. The test probes, which are, for example, inductive probes, can be on a Side of a coin channel arranged and the rolling past Be assigned to the area of the coins. However, you can too arranged on opposite sides of a coin channel be and lie on a common axis and different Diameter. Furthermore, for example, one of the Test probes point-shaped and the other flat be. Finally, one of the test probes is also conceivable as an edge test probe by placing it in the bottom of the Coin runway is sunk. Such a soil test probe is known per se.
Bei der erfindungsgemäßen Münzprüfvorrichtung sind die Spulen so angeordnet, daß eine gegenseitige Überkopplung vermieden wird. Die parallele Verarbeitung der Sensorsignale wird dadurch möglich, daß der Münzlauf an den Sonden vorbei signifikant länger dauert als die Analogdigitalwandlung eines Meßsignals. Beispielsweise beträgt der Münzlauf an den Sonden vorbei 50 ms, während die Analogdigitalwandlung eines Meßsignals in der Größenordnung von 10 µs erfolgt. Aufgrund dieses Zeitverhältnisses ergibt sich bei mitlaufender Auswertung zumindest von zwei gleichzeitig auftretenden Signalkurven eine Vielzahl von Auswertekriterien aus zum Beispiel Differenz- und Teilflächen, Schnittpunkten und Kominationen aus diesen Ereignissen. Da auch die Durchlaufbeschleunigung von exakt übereinander angeordneten Sonden gleich ist, können auch die Steigungen an bestimmten Stellen der Signalkurven zur Auswertung herangezogen werden. Dies ist insbesondere bei der Betrachtung von Bicolour-Münzen wichtig, bei denen der Ring und der Kern nur unwesentlich in der Dämpfung unterschiedlich sind. Einbrüche in der auf- und absteigenden Flanke können zum Beispiel durch Flächenbetrachtungen mit der zweiten Sonde, die sich auf der gemeinsamen Achse befindet und als Randmessung nur den Außenring als homogenes Material sieht, ausgewertet werden. Insgesamt ist es beim Einsatz für Bicolour-Münzen zweckmäßig, wenn die Prüfsonden so angeordnet sind, daß zum Beispiel eine Sonde nur den Ring "betrachtet", während die andere Sonde mit ihrer Meßachse annähernd auf der halben Höhe des Mittelpunkts einer Münze oberhalb der Münzlaufbahn angeordnet ist und dadurch sowohl den Rand als auch den Kern erfaßt.In the coin validation device according to the invention, the coils are arranged so that mutual overcoupling is avoided becomes. The parallel processing of the sensor signals is possible because the coin run past the probes takes significantly longer than the analog-digital conversion a measurement signal. For example, the coin run on the Probes past 50 ms while the analog to digital conversion of a Measurement signal in the order of 10 microseconds takes place. Because of this time ratio results when the evaluation is ongoing at least of two signal curves occurring at the same time a variety of evaluation criteria, for example Differential and partial areas, intersections and combinations from these events. Because of the acceleration of probes arranged exactly one above the other can also the slopes at certain points on the signal curves be used for evaluation. This is particularly so important when considering bicolour coins where the ring and the core are only insignificant in damping are different. Slumps in the ascending and descending Flanks can be viewed, for example, by area considerations the second probe, which is located on the common axis and as an edge measurement only the outer ring as a homogeneous material sees be evaluated. Overall, it is in use useful for bicolour coins, if the test probes like this are arranged that, for example, a probe only the ring "viewed" while the other probe with its measuring axis approximately halfway up the center of a coin is arranged above the coin path and thereby both the edge as well as the core.
Die erfindungsgemäße Münzprüfvorrichtung weist eine Reihe von Vorteilen auf. So können aufgrund der Anordnung der Sonden Schnittpunkte automatisch erzeugt werden und zum Beispiel der Abstand der Schnittpunkte von der symmetrischen Zeitachse bestimmt werden, was eine Aussage über die Echtheit der geprüften Münze zuläßt. Ferner können Differenzflächen oder einzelne Teilflächen untersucht werden, auch in Verbindung mit programmierbaren Offsets. Insbesondere bei Bicolour-Münzen ergeben sich, wie bereits erwähnt, vor allem bei Flächensonden geringe Dämpfungsunterschiede zwischen Ring- und Kernmaterial. Entsprechend hat man auch nur kleinere Einbrüche im Anstieg und Abfall der Münzkurve zu erwarten. Diese Steigungsänderungen lassen sich normalerweise schwer auswerten. Bei Verwendung einer zweiten auf der gleichen Achse angeordneten Prüfsonde, die zum Beispiel nur den Ring betrachtet, ergibt sich mit der ersten Kurve eine Vielzahl von Kombinationen von Auswertekriterien.The coin validation device according to the invention has a number of benefits. So due to the arrangement of the probes Intersection points are generated automatically and for example the distance of the intersection points from the symmetrical Timeline can be determined, which is a statement of authenticity of the tested coin. Furthermore, difference areas or individual partial areas are examined, also in Connection with programmable offsets. Especially at As already mentioned, bicolour coins arise above all with surface probes, small differences in damping between Ring and core material. Accordingly, you only have smaller ones Slumps in the rise and fall of the coin curve can be expected. These slope changes can usually be made difficult to evaluate. When using a second on the same Axis arranged test probe, for example only the When viewed in a ring, there is a multitude with the first curve of combinations of evaluation criteria.
Bei konventionellen Münzprüfern werden im wesentlichen nur die Amplitudenwerte verwendet ohne Bezug auf die Zeitachse, und es wurde ein Annahmebereich von z.B. Umax und Umin geschaffen, bei dem dann außerhalb gemessene Werte in einem Falsch-Signal resultierten.In conventional coin validators, essentially only the amplitude values are used without reference to the time axis, and an acceptance range of, for example, U max and U min was created, in which values measured outside then resulted in a false signal.
Da ein unruhiger Münzlauf sich auf beiden Prüfsonden gleichzeitig auswirkt, ergeben sich keine Abweichungen, wenn eine sogenannte Differenzauswertung, d.h. Differenz von Punkten oder Flächen der Kurven, vorgenommen wird. Auch die Abhängigkeit der Meßsignale von einer Beschleunigung oder einer Verzögerung, wie sie bei hintereinander angeordneten Prüfsonden unvermeidlich ist, kommt in Fortfall.Because a troubled coin run occurs on both test probes at the same time affects, there are no deviations if one so-called difference evaluation, i.e. Difference of points or areas of the curves. Dependency too the measurement signals from an acceleration or a Delay, as with test probes arranged one behind the other is inevitable comes to an end.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Zeichnungen näher erläutert.
- Fig. 1
- zeigt schematisch eine Münzprüfvorrichtung nach der Erfindung.
- Fig. 2
- zeigt einen Schnitt durch die Münzprüfvorrichtung nach der Erfindung.
- Fig. 3
- zeigt eine andere Ausführungsform einer Münzprüfvorrichtung nach der Erfindung im Schnitt.
- Fign. 4 bis 6
- zeigen die Meßsignalkurven von zwei Prüfsonden einer Münzprüfvorrichtung nach der Erfindung.
- Fig. 1
- shows schematically a coin testing device according to the invention.
- Fig. 2
- shows a section through the coin testing device according to the invention.
- Fig. 3
- shows another embodiment of a coin testing device according to the invention in section.
- Fig. 4 to 6
- show the measurement signal curves of two test probes of a coin testing device according to the invention.
In Fig. 1 ist eine Münzlaufbahn 10 angedeutet, die üblicherweise
an einer Laufbahnträgerplatte 12 angebracht ist (Fig.
2). Zwischen der Laufbahnträgerplatte 12 und einer Hauptplatte
14 wird ein Münzkanal 16 gebildet, wobei auf der
Münzlaufbahn 10 Münzen im Münzkanal 16 entlangrollen. In
Fig. 1 und 2 ist eine Münze mit 18 gekennzeichnet.In Fig. 1, a
In der Hauptplatte 14 sind drei induktive Prüfsonden 20, 22,
24 übereinander angeordnet. Ihre Meßachsen liegen auf einer
Achse 26, die senkrecht auf der Ebene der Münzlaufbahn 10
steht. Eine weitere Prüfsonde 28 ist in der Münzlaufbahn 10
angeordnet. Ihre Meßachse fällt mit der Achse 26 zusammen.
Die Prüfsonden 20 bis 24 sind sogenannte Flächensonden, die
einen Teil der Fläche der Münzen 18 "betrachten", wobei zum
Beispiel die Sonden 20, 24 den Ring 30 der Bicolour-Münze 28
und die Sonde 22 den Kern 32 "betrachtet". Die Sonden 20 bis
28 sind induktive Sonden. Die Prüfsonde 28 dient zur Untersuchung
des Randes der Münze 18.In the
Wesentlich für alle vier Prüfsonden ist, daß sie auf einer gemeinsamen Achse liegen, d.h. Signalkurve erzeugen, die symmetrisch zu einer Zeitachse sind. Dies geht zum Beispiel aus den Signalkurven gemäß den Figuren 4 bis 6 hervor.It is essential for all four test probes that they are on one common axis, i.e. Generate signal curve that are symmetrical to a time axis. For example, this is possible from the signal curves according to FIGS. 4 to 6.
In Fig. 4 ist die Signalkurve 40 zum Beispiel des Sensors 28
dargestellt zum Beispiel für eine Münze mit dem Wert 1 Euro.
Eine Kurve 42 gibt den Signalverlauf einer Prüfsonde wieder,
wie sie durch eine der Sonden 20 bis 24 repräsentiert ist.
Man erkennt, daß die Kurven 40, 42 weitgehend symmetrisch
sind zur Zeitachse 44. Die Überlappung der Kurven 40, 42 ergeben
somit zum Beispiel zwei Teilflächen 46, 48, deren Differenz
zum Beispiel zur Echtheitsprüfung ausgewertet werden
kann. Ferner ergibt sich oberhalb von Schnittpunkten s1, s2
eine Fläche 50, die ebenfalls zur Echtheitsprüfung verwertet
werden kann. Auch die Lage der Schnittpunkte s1, s2 kann für
die Echtheitsprüfung herangezogen werden, beispielsweise
durch Messung des Abstandes zur Symmetrieachse 44. 4, the
In Fig. 4 ist eine weitere Kurve 42' strichpunktiert angedeutet,
um zu zeigen, daß es auch Kurvenformen geben kann,
in denen aufgrund der hohen Steigung der Meßkurve 40 die
Schnittpunkte s1 und s1' der Kurve 40 mit den Kurven 42 und
42' relevante Amplitudenunterschiede U1, U2 aufweisen können,
während die Meßwerte S1, S1' zeitlich nahe zusammenliegen,
d.h. ein ΔU bilden, das nicht auswertbar ist.4, a further curve 42 'is indicated by dash-dotted lines,
to show that there can be curve shapes,
in which due to the high slope of the
In Fig. 5 ist die von einem Bodensensor, entsprechend Sensor
28, erzeugte Signalkurve mit 52 bezeichnet und die für einen
Flächensensor mit 54. Die Kurve 52 entspricht annähernd dem
Verlauf der Kurve 40 nach Fig. 1 und ist charakteristisch
für die Ausbildung des Randes einer Bicolour-Müne. Die Kurve
54 hingegen wird zum Beispiel von einem Sensor erhalten, wie
er in Fig. 1 und 2 mit 22 bezeichnet ist, d.h., beim Bestreichen
von Münzflächenabschnitten sowohl im Kern 32 als
auch im Rand 30 der Münze 18.5 is that of a floor sensor, corresponding to the
Hier kann wiederum eine Fläche 56 für die Auswertung herangezogen
werden. Ferner können Schnittpunkte s3 und s4 für
die Münzprüfung verwertet werden.Here, in turn, an
In Fig. 5 ist eine dritte Kurve 52' angedeutet, die sich mit
der Kurve 54 bei s3' schneidet. Hier liegt der umgekehrte
Fall vor wie bei der Kurve 42', d.h. die Amplitudenwerte U1
und U2 haben einen vernachlässigbaren Unterschied, während
die zeitliche Lage, ausgedrückt durch T1 und T2 deutlich
verschieden ist. Bei der Auswertung von Kurven, wie sie in
Fig. 4 und 5 als Beispiele für Sensorenanordnungen gezeigt
sind, kann es daher auch darauf ankommen, nicht nur den Abstand
zur Symmetrieachse einzubeziehen, sondern auch die
Amplitude und/oder die Steigung.A third curve 52 'is indicated in
Bei der Signalkurve nach Fig. 6 bezeichnet 58 wiederum eine
Kurve, die von einem Bodensensor, entsprechend Bodensensor
28, erzeugt wird. Die Kurve 60 rührt zum Beispiel von einem
Sensor her, wie er in Fig. 1 mit 20 bzw. 24 bezeichnet ist,
d.h. es wird ebenfalls nur ein Material gemessen. Hierbei
ergeben sich keine Schnittpunkte wie in den Figuren 4 und 5.
Gleichwohl können die überlappten Flächenbereiche zur Auswertung
herangezogen werden oder alternativ auch die Steigungen,
die beidseitig der Symmetrie-Zeitachse 44'' annähernd
gleich sein müssen.In the signal curve according to FIG. 6, 58 again designates one
Curve by a soil sensor, corresponding to
Bei der Ausführungsform nach Fig. 3 ist ein erster Sensor
durch eine Sonde 70 in der Hauptplatte 14a und ein zweiter
Sensor durch Sonden 72, 72' gebildet, die in der Laufbahntragerplatte
12a angeordnet sind. Die Sonden 70, 72 sind koaxial,
haben jedoch einen unterschiedlichen Durchmesser. 3 is a first sensor
by a
Auch ein derartiges Sensorenpaar erzeugt gleichzeitig Signalkurven beim Münzdurchlauf, die in der oben beschriebenen Weise zur Bildung von Echtheitskriterien herangezogen werden können.Such a pair of sensors also generates signal curves at the same time when passing coins, that described in the above Be used to form authenticity criteria can.
Claims (9)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19702986 | 1997-01-28 | ||
| DE19702986A DE19702986C2 (en) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | Coin validator |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| EP0862147A2 true EP0862147A2 (en) | 1998-09-02 |
| EP0862147A3 EP0862147A3 (en) | 1999-04-28 |
| EP0862147B1 EP0862147B1 (en) | 2003-05-28 |
Family
ID=7818545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| EP98100034A Expired - Lifetime EP0862147B1 (en) | 1997-01-28 | 1998-01-03 | Coin checking device |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0862147B1 (en) |
| DE (2) | DE19702986C2 (en) |
| ES (1) | ES2196398T3 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999023615A1 (en) * | 1997-11-03 | 1999-05-14 | Coin Controls Ltd. | Coin acceptor |
| EP1286313A2 (en) * | 2001-08-16 | 2003-02-26 | National Rejectors, Inc. GmbH | Method and device for measuring the diameters of coins |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10106704A1 (en) * | 2001-02-14 | 2002-08-29 | Nat Rejectors Gmbh | Method for detecting the operation of a coin return mechanism in coin validators |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0392110A2 (en) * | 1989-04-10 | 1990-10-17 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Coin selector |
| GB2266400A (en) * | 1991-09-28 | 1993-10-27 | Anritsu Corp | Device for sorting coins |
| DE4339543A1 (en) * | 1993-11-19 | 1995-05-24 | Nat Rejectors Gmbh | Coin testing method |
| JPH09147170A (en) * | 1995-09-20 | 1997-06-06 | Fuji Electric Co Ltd | Coin identification device |
| EP0780810A2 (en) * | 1995-12-21 | 1997-06-25 | National Rejectors Inc. GmbH | Electronic coin tester |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2118344A (en) * | 1982-02-12 | 1983-10-26 | Mars Inc | Coin testing apparatus |
| GB2266804B (en) * | 1992-05-06 | 1996-03-27 | Mars Inc | Coin validator |
-
1997
- 1997-01-28 DE DE19702986A patent/DE19702986C2/en not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-01-03 DE DE59808501T patent/DE59808501D1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-01-03 EP EP98100034A patent/EP0862147B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-01-03 ES ES98100034T patent/ES2196398T3/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0392110A2 (en) * | 1989-04-10 | 1990-10-17 | Kabushiki Kaisha Nippon Conlux | Coin selector |
| GB2266400A (en) * | 1991-09-28 | 1993-10-27 | Anritsu Corp | Device for sorting coins |
| DE4339543A1 (en) * | 1993-11-19 | 1995-05-24 | Nat Rejectors Gmbh | Coin testing method |
| JPH09147170A (en) * | 1995-09-20 | 1997-06-06 | Fuji Electric Co Ltd | Coin identification device |
| EP0780810A2 (en) * | 1995-12-21 | 1997-06-25 | National Rejectors Inc. GmbH | Electronic coin tester |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 097, no. 010, 31. Oktober 1997 & JP 09 147170 A (FUJI ELECTRIC CO LTD), 6. Juni 1997 * |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999023615A1 (en) * | 1997-11-03 | 1999-05-14 | Coin Controls Ltd. | Coin acceptor |
| AU745264B2 (en) * | 1997-11-03 | 2002-03-14 | Coin Controls Limited | Coin acceptor |
| EP1286313A2 (en) * | 2001-08-16 | 2003-02-26 | National Rejectors, Inc. GmbH | Method and device for measuring the diameters of coins |
| EP1286313A3 (en) * | 2001-08-16 | 2004-05-06 | National Rejectors, Inc. GmbH | Method and device for measuring the diameters of coins |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0862147A3 (en) | 1999-04-28 |
| ES2196398T3 (en) | 2003-12-16 |
| EP0862147B1 (en) | 2003-05-28 |
| DE59808501D1 (en) | 2003-07-03 |
| DE19702986A1 (en) | 1998-07-30 |
| DE19702986C2 (en) | 1999-06-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2654472C2 (en) | ||
| DE3235114C2 (en) | ||
| EP0293576B1 (en) | Procedure for registering dimensional errors | |
| DE69034216T2 (en) | Method and device for checking the authenticity of money | |
| DE3012414A1 (en) | COIN AUDITOR | |
| DE19858130A1 (en) | Measuring rule for electronic position measuring device | |
| DE69819532T2 (en) | METHOD AND DEVICE FOR CHECKING COINS | |
| DE102007046390B3 (en) | Method for checking coins | |
| CH655810A5 (en) | Coin validator that test a variety coin thicknesses AND / OR coin diameters and / OR coin alloys. | |
| EP0862147B1 (en) | Coin checking device | |
| DE60301895T2 (en) | Coin Acceptor | |
| EP0886247B1 (en) | Method and circuit for testing coins | |
| DD296770A5 (en) | METHOD FOR CHECKING MUENCES | |
| DE69115246T2 (en) | DEVICE AND METHOD FOR OBTAINING THE MECHANICAL PROPERTIES OF COINS. | |
| DE69112398T2 (en) | METHOD AND DEVICE FOR CHECKING COINS. | |
| DE10140225C2 (en) | Method and device for measuring the diameter of coins | |
| DE4339543C2 (en) | Procedure for checking coins | |
| EP1589493B1 (en) | Method for validation of coins | |
| DE19548233C2 (en) | Electronic coin validator | |
| DE69930750T2 (en) | OSCILLATORS | |
| DE3436117C2 (en) | ||
| DE4233194A1 (en) | Method and device for calibrating a coin validator | |
| DE4035289C2 (en) | Device for checking coins | |
| DE1574253C (en) | Arrangement for checking the dimensions of coins | |
| EP0818758A2 (en) | Device for testing the validity of coins, tokens or other flat, metallic objects |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PUAI | Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012 |
|
| AK | Designated contracting states |
Kind code of ref document: A2 Designated state(s): CH DE ES FR GB IT LI |
|
| AX | Request for extension of the european patent |
Free format text: AL;LT;LV;MK;RO;SI |
|
| PUAL | Search report despatched |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009013 |
|
| AK | Designated contracting states |
Kind code of ref document: A3 Designated state(s): AT BE CH DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE |
|
| AX | Request for extension of the european patent |
Free format text: AL;LT;LV;MK;RO;SI |
|
| 17P | Request for examination filed |
Effective date: 19990925 |
|
| AKX | Designation fees paid |
Free format text: CH DE ES FR GB IT LI |
|
| 17Q | First examination report despatched |
Effective date: 20010302 |
|
| GRAH | Despatch of communication of intention to grant a patent |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS IGRA |
|
| GRAH | Despatch of communication of intention to grant a patent |
Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOS IGRA |
|
| GRAA | (expected) grant |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009210 |
|
| RIC1 | Information provided on ipc code assigned before grant |
Ipc: 7G 07D 5/00 B Ipc: 7G 07D 5/08 A |
|
| AK | Designated contracting states |
Designated state(s): CH DE ES FR GB IT LI |
|
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: GB Ref legal event code: FG4D Free format text: NOT ENGLISH |
|
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: CH Ref legal event code: EP |
|
| GBT | Gb: translation of ep patent filed (gb section 77(6)(a)/1977) | ||
| REF | Corresponds to: |
Ref document number: 59808501 Country of ref document: DE Date of ref document: 20030703 Kind code of ref document: P |
|
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: ES Ref legal event code: FG2A Ref document number: 2196398 Country of ref document: ES Kind code of ref document: T3 |
|
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: LI Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20040131 Ref country code: CH Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20040131 |
|
| ET | Fr: translation filed | ||
| PLBE | No opposition filed within time limit |
Free format text: ORIGINAL CODE: 0009261 |
|
| STAA | Information on the status of an ep patent application or granted ep patent |
Free format text: STATUS: NO OPPOSITION FILED WITHIN TIME LIMIT |
|
| 26N | No opposition filed |
Effective date: 20040302 |
|
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: CH Ref legal event code: PL |
|
| PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: FR Payment date: 20061129 Year of fee payment: 10 |
|
| PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: IT Payment date: 20080111 Year of fee payment: 11 |
|
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: FR Ref legal event code: ST Effective date: 20081029 |
|
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: FR Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20080131 |
|
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: IT Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20090103 |
|
| PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: GB Payment date: 20110121 Year of fee payment: 14 |
|
| GBPC | Gb: european patent ceased through non-payment of renewal fee |
Effective date: 20120103 |
|
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: GB Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20120103 |
|
| PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: DE Payment date: 20140314 Year of fee payment: 17 |
|
| PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: ES Payment date: 20140122 Year of fee payment: 17 |
|
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: DE Ref legal event code: R119 Ref document number: 59808501 Country of ref document: DE |
|
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: DE Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20150801 |
|
| REG | Reference to a national code |
Ref country code: ES Ref legal event code: FD2A Effective date: 20160226 |
|
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] |
Ref country code: ES Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date: 20150104 |