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EP0621652A1 - Eléments électroniques intégrés à caractèristiques électriques variables, en particulier pour hyperfréquences - Google Patents

Eléments électroniques intégrés à caractèristiques électriques variables, en particulier pour hyperfréquences Download PDF

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Publication number
EP0621652A1
EP0621652A1 EP94400830A EP94400830A EP0621652A1 EP 0621652 A1 EP0621652 A1 EP 0621652A1 EP 94400830 A EP94400830 A EP 94400830A EP 94400830 A EP94400830 A EP 94400830A EP 0621652 A1 EP0621652 A1 EP 0621652A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
cavity
substrate
elements according
mobile element
electrical characteristics
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP94400830A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Gérard Cachier
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales SA
Original Assignee
Thomson CSF SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thomson CSF SA filed Critical Thomson CSF SA
Publication of EP0621652A1 publication Critical patent/EP0621652A1/fr
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P5/00Coupling devices of the waveguide type
    • H01P5/04Coupling devices of the waveguide type with variable factor of coupling

Definitions

  • the present invention relates to integrated electronic elements with variable electrical characteristics, in particular for microwave frequencies.
  • microwave components have been created for a few decades: diodes, then microwave transistors, in particular in AsGa, then microwave integrated circuits (MMICs).
  • miniaturization technologies have not yet solved the manufacturing problems of certain integrated components which could be used in large numbers and at low cost on very small surfaces, in particular in electronic scanning antennas such as those used.
  • electronic scanning antennas such as those used.
  • the components used in the phase shift circuits of these antennas may include ferrite circuits, which are too bulky, or PIN diodes, which have high losses and a large static consumption.
  • Some active antennas use integrated circuits in AsGa which are too expensive for many civil and large series applications.
  • the present invention relates to integrated electronic elements with variable electrical characteristics, in particular for microwave frequencies, these characteristics being able to be easily controlled without requiring bulky control elements, while consuming negligible electrical power, these elements having negligible losses and operating correctly over a wide range of frequencies, which are practically insensitive to radiation, which are easy and inexpensive to manufacture and are compatible with the integration of microstrip microwave lines, in particular on an insulating substrate based on silicon, and having compatibility with industrial techniques for manufacturing digital circuits (CMOS in particular).
  • the variable electrical characteristics are in particular: the capacity, the impedance, the length of the electrical path, or the layout of this path.
  • the electronic elements according to the invention of the type with integrated microelectronic technology produced by deposition or formation of different layers on a substrate comprise at least one micro-cavity in which moves with limited clearance at least one mobile element of electrically conductive material or in insulating material at least partially covered with electrically conductive material, and cooperating with at least one microwave circuit of the substrate, and an electrical device for actuating the movable element.
  • said mobile element is a flexible micro-beam connected by at least one of its ends to a wall of this micro-cavity.
  • the mobile element moves freely in the micro-cavity, which is at least partially covered with a material preventing the mobile element from leaving the micro-cavity.
  • the invention is described below with reference to a microwave antenna with electronic scanning, but it is understood that it is not limited to such an application, and that it can be implemented in many other applications microwave.
  • FIG. 1 shows a substrate 1 on which an array 2 of antennas, which are, for example, as shown in the drawing, printed antennas, has been formed by conventional thin film deposition and appropriate etching techniques. .
  • Each radiating element 3 of this network is connected by a line 4 to a phase shifter 5 with variable phase shift, the lines 4 preferably being parallel to each other.
  • the different phase shifters 5 are supplied by distribution lines 6 in "candlestick", and are described in detail below.
  • FIG. 2 a variant of the circuit of Figure 1.
  • a substrate 7 forming, in the same way as in the case of Figure 1, an array 8 of antennas.
  • Each radiating element 9 of this network is supplied by a line 10, the lines 10 preferably being parallel to each other.
  • the different lines 10 are connected to a line 11 which is preferably perpendicular to them.
  • a phase shifter 12 Is inserted into line 11, each time between the feet of successive lines 10, a phase shifter 12, produced in the same way as the phase shifters 5.
  • phase shifter 12 is made possible by the fact that these phase shifters have negligible losses, as will be seen below.
  • an element 13 with variable capacity is formed on a substrate 14, preferably monocrystalline in Si, GaAs or quartz.
  • At least one layer 15 of preferably insulating material is formed on the substrate 14. Is formed in the layer 15, by anisotropic machining, a cavity 16, of substantially parallelepiped shape, while leaving there remain two parallel beams 17, 18, overhanging.
  • a stop layer is provided (not shown) making it possible to precisely define the depth of the cavity 16 (as in all the embodiments described below).
  • the shape and dimensions of the beams and the choice of material (of layer 15) constituting them is such that these beams can flex without breaking.
  • These beams 17, 18 are only connected to opposite lateral sides of the cavity 16, and their upper faces are coplanar with the upper face of the layer 15.
  • the beams 17, 18 have for example a rectangular section. They are metallized at least on their upper faces and, where appropriate, on their opposite faces. This metallization can be done by any suitable deposition process.
  • the metallization of the upper face of each beam 17, 18 is formed in continuity with a metallized strip (respectively 19, 20) itself formed on the upper face of the layer 15.
  • the metallized strips 19, 20 are connected to circuits , not shown and formed on the same substrate, requiring variable capacity, and, if necessary, to other similar elements with variable capacity in parallel with element 13 (in order to increase the dynamics of the variation in capacity) .
  • Conductive strips 21, 22 are also deposited on the layer 15.
  • the strip 21 is connected by a resistor 23 to the strip 19 and by a decoupling capacitor 24 to a conductive layer 25 also deposited on the layer 15 and forming a plane of mass.
  • the strip 22 is connected by a resistor 26 to the strip 20 and by a decoupling capacitor 27 to the layer 25.
  • the strips 21 and 22 are connected to a source of direct control voltage (not shown).
  • the resistors 23, 26 and the capacitors 24, 27 as well as the layer 25 are formed, during the manufacturing process of the element 13, by any suitable method.
  • the layer 25 extends on either side of the cavity 16 so as to present a good ground plane with respect to the elements operating at microwave frequencies (in particular the conductors 19, 20 and the metallizations of the beams 17, 18).
  • a metallic layer 28 also forms a ground plane on the underside of the substrate 14.
  • the electric field thus created between the facing faces of the beams 17, 18 forces them to approach or move away from one another, according to the direction of this field, that is to say according to the polarities of the voltages applied to the strips 21, 22, it being understood that these voltages are sufficiently high to cause the beams 17, 18 to bend.
  • the value of the voltage applied to the strips 21, 22, we vary the distance between the beams 17 and 18, and therefore the capacitance of the capacitor, the reinforcements of which essentially consist of the metallizations of the facing faces of the beams 17, 18.
  • a line element 29 is shown in FIG. 4, the length of the electrical path of which is varied by locally varying the distributed capacity.
  • the element 29 is formed on a substrate 30 on which a layer 31 of insulating material is deposited.
  • a micro-cavity 32 is etched in the layer 31, leaving a micro-beam 33 remaining there which is substantially parallel to a long side of the micro-cavity.
  • the upper face of the beam 33 is coplanar with the upper face of the layer 31, while its lower face is distant from the bottom of the micro-cavity.
  • Two strips 34, 35 of conductive material are deposited on the upper face of the layer 31. These two bands 34, 35 are mutually parallel, except in the region of the cavity 32 where they approach each other.
  • the strips 34, 35 are formed so as to be parallel to the long sides of the cavity 32 outside the zone where this cavity is located (zone slightly larger than the opening of the cavity).
  • the strip 34 narrows slightly in the area of the cavity and its narrowed portion runs along the long side 36 of the cavity 32.
  • the strip 35 extends, outside the area of the cavity 32, roughly in the extension of the 'other large side 37 of the cavity 32, and in the region of the cavity, it approaches the strip 34 and passes on the upper face of the beam 33.
  • the lateral faces vis-à-vis the beam 33 and the cavity 32 are metallized, their metallization being respectively electrically connected to the band 35 and to the band 36, this in order to increase locally, in the zone of the cavity , the facing surfaces between the strips 35 and 34.
  • This increase in surfaces makes it possible to create between said facing faces an electric field sufficient to cause the beam 33 to flex and to create between the conductive strips 34, 35, in the area of the cavity 32, varian capacity t as a function of the lateral bending of the beam 33, that is to say as a function of the electric field between these opposite faces.
  • This electric field can be created in the same way as for the device 13 of FIG.
  • a metallic ground plane 38 is advantageously formed on the lower face of the substrate 30.
  • Metallizations 39, 40 are advantageously made on the upper face of the layer 31, on either side of the line formed by the strips 34, 35 .
  • FIG. 5 shows an embodiment of an element 41 with a movable "stub".
  • the element 41 is formed on a substrate 42 coated on its upper face with an insulating layer 43 and on its lower face with a metal layer 44 forming a ground plane.
  • a micro-cavity 45 is formed in the layer 43, which is substantially parallelepipedal, while leaving a mobile element 46 therein, in the form of two "T" superimposed “, for example.
  • This element is suspended a short distance above the bottom of the cavity 45 by flexible arms 47, 48 connecting the longitudinal ends of the element 46 to the short lateral sides of the cavity 45.
  • These flexible arms 47, 48 have for example a form of "zigzags" and constitute small springs.
  • these arms 47, 48 have a meandering shape, of course, these springs are not essential, and the element 46 can be left floating by covering the cavity 45 with an insulating layer preventing the element 46 to come out of the cavity while leaving it free to move.
  • Element 46 is located, at rest (when it is not subjected to any field) for example roughly in the center of cavity 45.
  • a metal layer is deposited forming a "stub", the length of which, in the longitudinal direction, is practically equal to a submultiple of the wavelength used.
  • the lateral faces of the horizontal branches of the "T" are advantageously metallized.
  • a conductive strip, respectively 49, 50 is deposited on the upper face of the layer 43.
  • a conductive strip 51 deposited on the layer 43, between the strips 49, 50, ends at a small side of the cavity 45, and forms the end of a microwave line, to which is coupled the mobile stub 46 which, according to its position in the cavity 45, brings back to the end of the line 51 a variable impedance.
  • rectangular cutouts are made opposite, respectively, 52, 53 and 54, 55, at the edge of the cavity 45.
  • blocks are formed conductors, isolated from the strips 49, 50, respectively referenced 56 to 59.
  • these blocks extend on the corresponding lateral faces of the cavity 45.
  • FIG. 6 shows a microwave element 60 making it possible to connect a line 61 to one of two different paths 62, 63. These two paths can differ by their electrical length, their impedance, their coupling, ...
  • the element 60 is produced on a substrate 64 on the upper face of which an insulating layer 65 is formed. Its lower face advantageously receives a metallization layer 66.
  • a parallelepipedal cavity 67 is etched therein. leaving two parallel cantilever beams 68, 69 projecting longitudinally from a lateral face of the cavity 67, and a third cantilever beam 70, parallel to the first two and fitting between them, by projecting from the opposite lateral face of the cavity 67.
  • the upper and lateral faces of the beams 68 to 70 are metallized.
  • Line 61 ends at beam 70 and its metallization is extended by that of the upper face of this beam.
  • the lines 62, 63 lead respectively to the beams 68, 69, and their metallizations are extended by those of the upper faces of these beams.
  • one pole of a DC voltage source is connected to the line 61, and the other pole, via an inverter, to the strip 62 or to the strip 63.
  • the beam 70 is attracted towards one or the other of the beams 68, 69, so that the line 61 is connected to the strip 62 or to the strip 63, and therefore to one of the microwave paths continuing these bands.
  • the element 71 shown in plan in FIG. 7 comprises a stub similar to that of the element 41 in FIG. 5, the essential difference residing in the fact that the displacements of this stub are due, no longer to an electric field, but to a magnetic field, the stub being for the most part made of ferromagnetic material.
  • the element 71 is produced in a similar manner to the elements previously described on a substrate in the insulating layer of which a cavity 72 is formed, leaving an element 73 in the form of two superimposed “T”, connected by zigzag "springs" 74, 75 at opposite small sides of the cavity 72.
  • these springs are not absolutely necessary, the movable element 73 being able to move freely in the cavity 72. In the latter case, it is preferable to cover the cavity with an insulating layer preventing the element 73 from escaping from the cavity, while leaving it free to move in the cavity.
  • insulating layer is advantageously provided to cover the cavity even in the presence of springs, in order to protect the movable element, this remark also being valid for all the embodiments described here.
  • a cavity which is filled with ferromagnetic material, and its upper face is covered with a metallization.
  • a conductive strip 76 terminates at a small side of the cavity 72.
  • This strip 76 is bordered by two other conductive strips 77, 78 which run along the long sides of the cavity 72 and serve as a ground plane.
  • rectangular cut-outs are made opposite, respectively 79, 80 and 81, 82, at the edge of the cavity 72.
  • inductors are formed, respectively referenced 83 to 86, isolated strips 77 and 78. The ends of these inductors are connected, not shown, to conductors formed in layers deposited later.
  • the strips 77, 78 can be covered with an insulating layer and form the inductors on this layer insulating.
  • element 73 is attracted towards one or the other of these couples, which means that one varies the coupled impedance at the end of line 76.
  • the lateral faces of the beams are covered with longitudinal parallel strips of metals with different coefficients of thermal expansion, supplied by a current source, in order to cause the beams to bend by the "bimetal" effect of these metal bands.
  • the movement of the mobile element of the invention is not limited by a fixed element against which it comes to apply to make contact, it is possible to make it occupy either two different positions (a position of rest and an electrically controlled "working" position) or more than two different positions, each of the positions beyond the second being determined by additional electrodes (such as those in FIG. 5) or by inductors (such as those in Figure 7) additional.
  • micro-cavity any shape having at least one recess with respect to a flat surface , the four side faces not necessarily being present on the final component.

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)

Abstract

Les éléments électroniques intégrés à caractéristiques électriques variables, conformes à l'invention, comportent chacun au moins une micro-cavité (16) dans laquelle se déplace avec un débattement limité au moins un élément mobile (17-18) en matériau isolant au moins partiellement recouvert de matériau électriquement conducteur et coopérant avec au moins un circuit hyperfréquence du substrat (19-20), et des moyens créant un champ électrique pour déplacer l'élément mobile. <IMAGE>

Description

  • La présente invention se rapporte à des éléments électroniques intégrés à caractéristiques électriques variables, en particulier pour hyperfréquences.
  • Divers composants hyperfréquences ont été crées depuis quelques dizaines d'années : diodes, puis transistors hyperfréquences, notamment en AsGa, puis des circuits intégrés hyperfréquences (MMICs).
  • Toutefois, les technologies de miniaturisation n'ont pas encore bien résolu les problèmes de fabrication de certains composants intégrés qui pourraient être utilisés en grand nombre et à faible coût sur de très faibles surfaces, en particulier dans des antennes à balayage électronique telles que celles utilisées pour des dispositifs de communication "antifading", les communications avec les mobiles (civils ou militaires), et pour les radars civils (aide à l'atterrissage, radars anticollision). Les composants utilisés dans les circuits de déphasage de ces antennes peuvent comporter des circuits à ferrites, qui sont trop volumineux, ou des diodes PIN, qui présentent des pertes élevées et une consommation statique importante. Certaines antennes actives utilisent des circuits intégrés en AsGa trop coûteux pour de nombreuses applications civiles et de grande série.
  • La présente invention a pour objet des éléments électroniques intégrés à caractéristiques électriques variables, en particulier pour hyperfréquences, ces caractéristiques pouvant être facilement commandées sans nécessiter d'éléments de commande encombrants, tout en consommant une puissance électrique négligeable, ces éléments présentant des pertes négligeables et fonctionnant correctement dans un vaste domaine de fréquences, qui soient pratiquement insensibles aux radiations, qui soient faciles et peu onéreux à fabriquer et soient compatibles avec l'intégration de lignes microstrip hyperfréquences, en particulier sur substrat isolant à base de silicium, et présentant une compatibilité avec les techniques industrielles de fabrication des circuits numériques (CMOS en particulier). Les caractéristiques électriques variables sont en particulier : la capacité, I'impédance, la longueur du trajet électrique, ou le tracé de ce trajet.
  • Les éléments électroniques conformes à l'invention, du type à technologie microélectronique intégrée réalisée par dépôt ou formation de différentes couches sur un substrat comportent au moins une micro-cavité dans laquelle se déplace avec un débattement limité au moins un élément mobile en matériau électriquement conducteur ou en matériau isolant au moins partiellement recouvert de matériau électriquement conducteur, et coopérant avec au moins un circuit hyperfréquence du substrat, et un dispositif électrique d'actionnement de l'élément mobile.
  • Selon un premier mode de réalisation de l'invention, ledit élément mobile est une micro-poutre flexible reliée par au moins une de ses extrémités à une paroi de cette micro-cavité.
  • Selon un deuxième mode de réalisation, I'élément mobile se déplace librement dans la micro-cavité, qui est recouverte au moins partiellement d'un matériau empêchant l'élément mobile de sortir de la micro-cavité.
  • La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description détaillée de plusieurs modes de réalisation, pris à titre d'exemples non limitatifs et illustrés par le dessin annexé, sur lequel :
    • les figures 1 et 2 sont des vues en plan partielles de deux modes de réalisation d'un réseau d'antennes hyperfréquences à balayage comportant des déphaseurs à déphasage variable conformes à l'invention;
    • la figure 3 est une vue en perspective d'un élément à capacité variable conforme à l'invention;
    • la figure 4 est une vue en perspective d'un élément de ligne à longueur électrique variable, conforme à l'invention;
    • la figure 5 est une vue en perspective d'une ligne en dérivation ("Stub" en anglais) à longueur électrique variable, conforme à l'invention,
    • la figure 6 est une vue en perspective d'un inverseur conforme à l'invention, et
    • la figure 7 est une vue en plan d'une variante de réalisation, conforme à l'invention, de l'élément de la figure 4.
  • L'invention est décrite ci-dessous en référence à une antenne hyperfréquences à balayage électronique, mais il est bien entendu qu'elle n'est pas limitée à une telle application, et qu'elle peut être mise en oeuvre dans de nombreuses autres applications hyperfréquences.
  • On a représenté en figure 1 un substrat 1 sur lequel on a formé, par des techniques classiques de dépôt de couches minces et de gravure appropriées, un réseau 2 d'antennes, qui sont par exemple, comme représenté sur le dessin, des antennes imprimées. Chaque élément rayonnant 3 de ce réseau est relié par une ligne 4 à un déphaseur 5 à déphasage variable, les lignes 4 étant de préférence parallèles entre elles. Les différents déphaseurs 5 sont alimentés par des lignes de distribution 6 en "chandelier", et sont décrits en détail ci-dessous.
  • On a représenté en figure 2 une variante du circuit de la figure 1. Sur un substrat 7, on forme, de la même façon que dans le cas de la figure 1, un réseau 8 d'antennes. Chaque élément rayonnant 9 de ce réseau est alimenté par une ligne 10, les lignes 10 étant, de préférence, parallèles entre elles. Les différentes lignes 10 sont reliées à une ligne 11 qui leur est, de préférence, perpendiculaire. On insère dans la ligne 11, à chaque fois entre les pieds de lignes 10 successives, un déphaseur 12, réalisé de la même façon que les déphaseurs 5. Une telle disposition en cascade des déphaseurs 12 est rendue possible du fait que ces déphaseurs présentent des pertes négligeables, comme on le verra ci-dessous.
  • L'invention est décrite ci-dessous en référence à chaque fois à un seul élément à caractéristiques électriques variables, mais il est bien entendu qu'en réalité on peut grouper sur un même substrat un grand nombre de tels éléments, à fonctions identiques ou différentes, et que ces éléments peuvent être associés, sur un même substrat à des éléments à commandes différentes (par champ électrique ou magnétique ou par effet bilame) décrites ci-dessous.
  • On a schématiquement représenté en figure 3 un élément 13 à capacité variable. L'élément 13 est formé sur un substrat 14, de préférence monocristallin en Si, GaAs ou en quartz. On forme sur le substrat 14 au moins une couche 15 en matériau de préférence isolant. On forme dans la couche 15, par usinage anisotrope, une cavité 16, de forme sensiblement parallélépipédique, tout en y laissant subsister deux poutres 17, 18 parallèles, en porte-à-faux. Bien entendu, selon une technique classique, on prévoit une couche d'arrêt (non représentée) permettant de définir avec précision la profondeur de la cavité 16 (comme dans tous les modes de réalisation décrits ci-dessous). La forme et les dimensions des poutres et le choix du matériau (de la couche 15) les constituant sont tels que ces poutres puissent fléchir sans se rompre. Ces poutres 17, 18 sont uniquement reliées à des côtés latéraux opposés de la cavité 16, et leurs faces supérieures sont coplanaires à la face supérieure de la couche 15. Les poutres 17, 18 ont par exemple une section rectangulaire. Elles sont métallisées au moins sur leurs faces supérieures et le cas échéant sur leurs faces en vis-à-vis. Cette métallisation peut être faite par tout procédé de dépôt approprié. La métallisation de la face supérieure de chaque poutre 17, 18 est formée en continuité avec une bande métallisée (respectivement 19, 20) elle-même formée sur la face supérieure de la couche 15. Les bandes métallisées 19, 20 sont reliées à des circuits, non représentés et formés sur le même substrat, nécessitant une capacité variable, et, le cas échéant, à d'autres éléments similaires à capacité variable en parallèle avec l'élément 13 (afin d'augmenter la dynamique de la variation de capacité). Des bandes conductrices 21, 22 sont également déposées sur la couche 15. La bande 21 est reliée par une résistance 23 à la bande 19 et par un condensateur de découplage 24 à une couche conductrice 25 également déposée sur la couche 15 et formant un plan de masse. De même, la bande 22 est reliée par une résistance 26 à la bande 20 et par un condensateur de découplage 27 à la couche 25. Les bandes 21 et 22 sont reliées à une source de tension continue de commande (non représentée). Bien entendu, les résistances 23, 26 et les condensateurs 24, 27 ainsi que la couche 25 sont formés, lors du processus de fabrication de l'élément 13, par tout procédé approprié. La couche 25 s'étend de part et d'autre de la cavité 16 de façon à présenter un bon plan de masse vis-à-vis des éléments fonctionnant en hyperfréquences (en particulier les conducteurs 19, 20 et les métallisations des poutres 17, 18). De façon avantageuse, on forme sur la face inférieure du substrat 14 une couche métallique 28 faisant office, elle aussi, de plan de masse.
  • Lorsque l'on applique une tension de commande continue sur les bandes 21, 22, le champ électrique ainsi créé entre les faces en regard des poutres 17, 18 les force à se rapprocher ou à s'éloigner l'une de l'autre, suivant le sens de ce champ, c'est-à-dire suivant les polarités des tensions appliquées sur les bandes 21, 22, étant bien entendu que ces tensions sont suffisamment élevées pour faire fléchir les poutres 17, 18. Ainsi, en fonction de la valeur de la tension appliquée aux bandes 21, 22, on fait varier la distance entre les poutres 17 et 18, et donc la capacité du condensateur dont les armatures sont essentiellement constituées par les métallisations des faces en regard des poutres 17, 18.
  • On a représenté en figure 4 un élément de ligne 29 dont on fait varier la longueur du trajet électrique en faisant varier localement la capacité répartie.
  • L'élément 29 est formé sur un substrat 30 sur lequel on dépose une couche 31 de matériau isolant. On grave dans la couche 31 une micro-cavité 32 en y laissant subsister une micro-poutre 33 qui est sensiblement parallèle à un grand côté de la micro-cavité. La face supérieure de la poutre 33 est coplanaire avec la face supérieure de la couche 31, tandis que sa face inférieure est distante du fond de la micro-cavité.
  • On dépose sur la face supérieure de la couche 31 deux bandes 34, 35 en matériau conducteur. Ces deux bandes 34, 35 sont parallèles entre elles, sauf dans la zone de la cavité 32 où elles se rapprochent l'une de l'autre. Les bandes 34, 35 sont formées de façon à être parallèles aux grands côtés de la cavité 32 en-dehors de la zone où se trouve cette cavité (zone légèrement plus grande que l'ouverture de la cavité). La bande 34 se rétrécit légèrement dans la zone de la cavité et sa partie rétrécie longe le grand côté 36 de la cavité 32. La bande 35 s'étend, hors de la zone de la cavité 32, à peu près dans le prolongement de l'autre grand côté 37 de la cavité 32, et dans la zone de la cavité, elle se rapproche de la bande 34 et passe sur la face supérieure de la poutre 33. De façon avantageuse, les faces latérales en vis-à-vis de la poutre 33 et de la cavité 32 (au moins celle relative au grand côté 36) sont métallisées, leur métallisation étant respectivement électriquement reliée à la bande 35 et à la bande 36, ceci afin d'augmenter localement, dans la zone de la cavité, les surfaces en regard entre les bandes 35 et 34. Cette augmentation de surfaces permet de créer entre lesdites faces en regard un champ électrique suffisant pour faire fléchir la poutre 33 et pour créer entre les bandes conductrices 34, 35, dans la zone de la cavité 32, une capacité variant en fonction de la flexion latérale de la poutre 33, c'est-à-dire en fonction du champ électrique entre ces faces en regard. Ce champ électrique peut être créé de la même façon que pour le dispositif 13 de la figure 3, c'est-à-dire (de façon non représentée), à l'aide de bandes conductrices appliquant une tension de commande continue entre les bandes 34 et 35, via à chaque fois une résistance et un condensateur de découplage. Un plan de masse métallique 38 est avantageusement formé sur la face inférieure du substrat 30. Des métallisations 39, 40 sont avantageusement faites sur la face supérieure de la couche 31, de part et d'autre de la ligne formée par les bandes 34, 35.
  • On a représenté en figure 5 un mode de réalisation d'un élément 41 à "stub" mobile. Comme dans les cas précédemment décrits, I'élément 41 est formé sur un substrat 42 revêtu sur sa face supérieure d'une couche isolante 43 et sur sa face inférieure d'une couche métallique 44 formant plan de masse. On forme dans la couche 43 une micro-cavité 45, sensiblement parallélépipédique, tout en y laissant subsister un élément mobile 46 ayant la forme de deux "T" superposés", par exemple. Cet élément est suspendu à faible distance au-dessus du fond de la cavité 45 par des bras flexibles 47, 48 reliant les extrémités longitudinales de l'élément 46 aux petits côtés latéraux de la cavité 45. Ces bras flexibles 47, 48 ont par exemple une forme de "zigzags" et constituent des petits ressorts. Selon une variante, non représentée, ces bras 47, 48 ont une forme en méandres. Bien entendu, ces ressorts ne sont pas indispensables, et on peut laisser l'élément 46 flottant en recouvrant la cavité 45 d'une couche isolante empêchant l'élément 46 de sortir de la cavité tout en le laissant libre de ses mouvements. L'élément 46 est situé, au repos (lorsqu'il n'est soumis à aucun champ) par exemple à peu près au centre de la cavité 45. Sur la face supérieure de l'élément 46, on dépose une couche métallique formant "stub", et dont la longueur, dans le sens longitudinal, est pratiquement égale à un sous-multiple de la longueur d'onde utilisée. Les faces latérales des branches horizontales des "T" sont avantageusement métallisées. De chaque côté de la cavité 45, on dépose sur la face supérieure de la couche 43 une bande conductrice, respectivement 49, 50.
  • Une bande conductrice 51, déposée sur la couche 43, entre les bandes 49, 50, aboutit à un petit côté de la cavité 45, et forme l'extrémité d'une ligne hyperfréquence, à laquelle est couplé le stub mobile 46 qui, selon sa position dans la cavité 45, ramène à l'extrémité de la ligne 51 une impédance variable. Pour déplacer le stub 46, on pratique, dans les bandes 49 et 50 des découpes rectangulaires en vis-à-vis, respectivement 52, 53 et 54, 55, en bordure de la cavité 45. Dans ces découpes, on forme des pavés conducteurs, isolés des bandes 49, 50, respectivement référencés 56 à 59. Avantageusement, ces pavés se prolongent sur les faces latérales correspondantes de la cavité 45. Ces différents pavés sont reliés, de façon non représentée, par exemple par des résistances ou des diodes, et des condensateurs de découplage, à des lignes, elles-mêmes reliées via un inverseur, à une source de tension continue. Selon la position de cet inverseur, on applique la tension soit au couple de pavés 52, 53, soit au couple 54, 55, ce qui crée un champ électrique entre les pavés de l'un de ces couples et attire l'élément mobile 46 vers ce couple. En variante, on ne pratique pas les découpes 52 à 55, mais on dépose les pavés 56 à 59 sur une couche isolante supplémentaire recouvrant au moins les bandes 49, 50.
  • On a représenté en figure 6 un élément hyperfréquences 60 permettant de relier une ligne 61 à l'un de deux trajets différents 62, 63. Ces deux trajets peuvent différer par leur longueur électrique, leur impédance, leur couplage, ...
  • Comme précédemment, I'élément 60 est réalisé sur un substrat 64 sur la face supérieure duquel est formée une couche isolante 65. Sa face inférieure reçoit avantageusement une couche de métallisation 66. Dans la couche 65, on grave une cavité 67 parallélépipédique, en y laissant subsister deux poutres parallèles en porte-à-faux 68, 69 faisant saillie longitudinalement d'une face latérale de la cavité 67, et une troisième poutre en porte-à-faux 70, parallèle aux deux premières et s'insérant entre elles, en faisant saillie de la face latérale opposée de la cavité 67. Les faces supérieures et latérales des poutres 68 à 70 sont métallisées.
  • La ligne 61 aboutit à la poutre 70 et sa métallisation se prolonge par celle de la face supérieure de cette poutre. Les lignes 62, 63 aboutissent respectivement aux poutres 68, 69, et leurs métallisations se prolongent par celles des faces supérieures de ces poutres.
  • De façon non représentée, on relie un pôle d'une source de tension continue à la ligne 61, et l'autre pôle, via un inverseur, à la bande 62 ou à la bande 63. Suivant que l'inverseur relie la source à la bande 62 ou à la bande 63, la poutre 70 est attirée vers l'une ou l'autre des poutres 68, 69, ce qui fait que la ligne 61 est reliée à la bande 62 ou à la bande 63, et donc à l'un des trajets hyperfréquences continuant ces bandes.
  • L'élément 71 représenté en plan en figure 7 comprend un stub similaire à celui de l'élément 41 de la figure 5, la différence essentielle résidant dans le fait que les déplacements de ce stub sont dus, non plus à un champ électrique, mais à un champ magnétique, le stub étant en majeure partie en matériau ferromagnétique.
  • L'élément 71 est réalisé de façon analogue aux éléments précédemment décrits sur un substrat dans la couche isolante duquel on forme une cavité 72, en laissant subsister un élément 73 en forme de deux "T" superposés, relié par des "ressorts" en zigzag 74, 75 à des petits côtés opposés de la cavité 72. Cependant, ces ressorts ne sont pas absolument nécessaires, I'élément mobile 73 pouvant se déplacer librement dans la cavité 72. Dans ce dernier cas, il est préférable de recouvrir la cavité d'une couche isolante empêchant l'élément 73 de s'échapper de la cavité, tout en le laissant libre de se déplacer dans la cavité. Bien entendu, on prévoit avantageusement une telle couche isolante pour recouvrir la cavité même en présence de ressorts, afin de protéger l'élément mobile, cette remarque étant également valable pour tous les modes de réalisation décrits ici. On grave ensuite, à l'intérieur de l'élément 73, une cavité que l'on remplit de matériau ferromagnétique, et on recouvre sa face supérieure d'une métallisation. Une bande conductrice 76 aboutit à un petit côté de la cavité 72. Cette bande 76 est bordée de deux autres bandes conductrices 77, 78 qui longent les grands côtés de la cavité 72 et servent de plan de masse. On pratique dans les bandes 77, 78 des découpes rectangulaires en vis-à-vis, respectivement 79, 80 et 81, 82, en bordure de la cavité 72. Dans ces découpes, on forme des inductances, respectivement référencées 83 à 86, isolées des bandes 77 et 78. Les extrémités de ces inductances sont reliées, de façon non représentée, à des conducteurs formés dans des couches déposées ultérieurement. Comme dans le cas du dispositif de la figure 5, au lieu de pratiquer les découpes 79 à 82, pour y loger les inductances 83 à 86, on peut recouvrir d'un couche isolante les bandes 77, 78 et former les inductances sur cette couche isolante. Selon que l'on alimente le couple d'inductances en vis-à-vis 83-84 ou 85-86, on attire l'élément 73 vers l'un ou l'autre de ces couples, ce qui fait que l'on fait varier l'impédance couplée au bout de la ligne 76.
  • Selon un mode de réalisation, non représenté, on recouvre les faces latérales des poutres de bandes parallèles longitudinales de métaux à coefficients de dilatation thermique différents, alimentés par une source de courant, afin de faire fléchir les poutres par l'effet "bilame" de ces bandes métalliques.
  • Bien entendu, lorsque le déplacement de l'élément mobile de l'invention n'est pas limité par un élément fixe contre lequel il vient s'appliquer pour faire contact, il est possible de lui faire occuper soit deux positions différentes (une position de repos et une position "de travail" commandée électriquement) soit plus de deux positions différentes, chacune des positions au-delà de la deuxième étant déterminée par des électrodes (telles que celles de la figure 5) supplémentaires ou par des inductances (telles que celles de la figure 7) supplémentaires.
  • Dans les modes de réalisation décrits ci-dessus, il a été fait mention à chaque fois d'une micro-cavité, mais il est bien entendu que l'on entend par là toute forme présentant au moins un décrochement par rapport à une surface plane, les quatre faces latérales n'étant pas nécessairement présentes sur le composant final.

Claims (8)

  1. Eléments électroniques intégrés à caractéristiques électriques variables, du type à technologie microélectronique intégrée réalisée par dépôt ou formation de différentes couches sur un substrat (14, 30, 42, 64), caractérisés par le fait qu'ils comportent chacun au moins une micro-cavité (16, 32, 45, 67, 72) dans laquelle se déplace avec un débattement limité au moins un élément mobile (17-18, 33, 46, 68-69-70, 73) en matériau électriquement conducteur ou en matériau isolant au moins partiellement recouvert de matériau électriquement conducteur et coopérant avec au moins un circuit hyperfréquence du substrat (19-20, 34-35, 49-50-51, 61-62-63, 76-77-78), et un dispositif électrique d'actionnement de l'élément mobile.
  2. Eléments selon la revendication 1, caractérisés par le fait que le dispositif électrique d'actionnement de l'élément mobile comporte au moins une paire de surfaces métallisées (17-18, 33-34, 56-57, 58-59, 68-69-70) reliées à une source de tension continue.
  3. Eléments selon la revendication 1, caractérisés par le fait que le dispositif électrique d'actionnement de l'élément mobile comporte au moins une inductance formée sur le substrat (83 à 86) et reliée à une source de tension continue, I'élément mobile comportant un matériau ferromagnétique.
  4. Eléments selon la revendication 1, caractérisés par le fait que le dispositif électrique d'actionnement de l'élément mobile comporte au moins une bande en matériau métallique déposée sur un élément flexible et fonctionnant par effet thermique bilame.
  5. Eléments selon l'une des revendications précédentes, caractérisés par le fait que l'élément mobile est une poutre flexible en porte-à-faux (17-18, 68-69-70).
  6. Eléments selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisés par le fait que l'élément mobile est une poutre flexible maintenue à ses deux extrémités (33).
  7. Eléments selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisés par le fait que l'élément mobile est un pavé rigide se déplaçant librement dans la micro-cavité.
  8. Circuit hyperfréquence intégré formé sur un substrat revêtu de plusieurs couches isolantes et conductrices, caractérisé par le fait qu'une des couches isolantes comporte des métallisations formant circuits hyperfréquences, au moins une cavité, formée dans une des couches, comportant un élément à caractéristiques électriques variables selon l'une des revendications précédentes.
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