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DE970724C - Optischer Feintaster - Google Patents

Optischer Feintaster

Info

Publication number
DE970724C
DE970724C DEZ5076A DEZ0005076A DE970724C DE 970724 C DE970724 C DE 970724C DE Z5076 A DEZ5076 A DE Z5076A DE Z0005076 A DEZ0005076 A DE Z0005076A DE 970724 C DE970724 C DE 970724C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sensor according
optical precision
precision sensor
optical
comparison
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEZ5076A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr-Ing Kurt Raentsch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DEZ5076A priority Critical patent/DE970724C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE970724C publication Critical patent/DE970724C/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • G01B11/007Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B5/012Contact-making feeler heads therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1009Calibration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

  • Optischer Feintaster Die Erfindung betrifft einen optischen Feintaster zum Messen mit Interferenzerseheinungnn, bei dem die eine Reflexionsfläche eines Miehelson-Interferometers durch das Tastglied verschiebbar ist.
  • Bei einem bekannten Feintaster dieser Art wird die durch die Verschiebung der genannten Reflexicnsfiäche bewirkte Streifenauswanderung durch eine Schwingblende abgetastet. Eine photoelektrische Meßein,richtung, welche auf derart erzeugte Impulse anspricht, gibt den Meßwert an. Diese Einrichtung ist recht kompliziert, da sie einen großen mechanischen und elektrischen Aufwand erfordert.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, mit einfaclleren Mitteln Meßwerte höchster Genauigkeit bei einem Feintaster zu erzielen.
  • Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß die als Vergleichsfläche dienende Refiexionsfläche des Interferometers zur Erzielung einer Kompensationsmessung meßbar mikrometrisch verschiebbar ausgebildet wird. Zur Messung werden jetzt die erzeugten Interferenzstreifen beobachtet.
  • Die Vergleichsfläche wird so lange der durch das Tastglied verschobenen Fläche nachgefährt, bis die Interferenzstreifen wieder ihre Ausgangslage eingenommen haben. Am Mikrometer kann dann der Verschiebungsweg als Meßgröße abgelesen werden.
  • Kompensationsmessungen der beschriebenen Art sind bekannt. Sie sind jedoch bisher nicht in Verbindung mit Feintastern zu dem genannten Zweck verwendet worden.
  • Die Verwendung von Interferenzerscheinungen für Längenmessungen ist auch bei einem anderen Gerät bekanntgeworden. Dieses erzeugt zunädist Interferenzstreifen bei Einlegen eines Vergleichsstückes. Gleichzeitig wird hier das Licht in sein Spektrum zerlegt. Durch Auszählen der Zahl der schwarzen Interferenzstreifen in jeder Spektralfarbe wird die Länge des Verg,leithsstückes fixiert.
  • Anschließend wird an dile Stelle des Vergleichsstückes das Meßstück gebraclot. Zeigen M,eßstück und Vergl eichsstück Längendifferenzen, dsnn ändert sich die Zahl der Interferenzstre,ifen in jeder Spektralfarbe. Die Zahl der schwarzen Interferenzstreifen in jeder Spektralfarbe ist deshalb zur Ermittlung der Längendifferenzen sowohl bei eingelegte Vergleichsstück als auch bei eingelegtem Meßstück zu zählen. Dieses Verfahren ist umständlich und zeitraubend und eignet sich deshalb bestenfalls für Einzelmessiingen. Im Gegensatz dazu kann durch einfache mikrometrische Nachführung der Vergleichsfläche bei dem Gerät nach unserer Erfindung in bequemer und zuverlässiger Weise die Messung durchgeführt und das Ergebnis am Mikrometer abgelesen werden.
  • Zweckmäßig wird die Vergl eichsfläche senkrecht zur optischen Achse verschoben, und sie bildet einen Winkel mit ihrer Verschiebnnusrfchtun.
  • Zum Tlei-sntel kann sie zu diesem 7werk entlang einer Keilfläcihle verschivehbar sein. Hierdurch wird die Bewe.gunzsgröße des Mikromieters entsnrechend dem eewät}rlten Winkel in eine RewegunC der VeruleicEsfläche in Richtung der auf sie fallenden Lichtstrahlen untersetzt. Auf diese Weise ist eine sehr große Ablesegenauigkei t gewährleistet.
  • Ist die durch die Keilfläche bewirkte Untersetzung z. B. 1 : IOO und zeigt das Mikrometer 1/ion mm an, so entspricht der Mikrometerdrehung um ein Intervall eineVergleichsspiegelverschiebung um t/íOOoO mm.
  • Das Gerät mißt also derartige Verstellbeträge des Tastgliedes ohne weiteres.
  • In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist eine der reflektierenden Flächen unterteilt, und zwar derart, daß der eine Teil bezogen auf den einfallenden Lichtstrahl eine andere Neigung als der andere Teil aufweist. Es entstehen dann Keilinterferenzen bei zwei verschiedenen Keilwinkeln. Im Gesichtsfeld sieht man deshalb entsprechend zwei Interferenzstreifenbilder, die sich durch den Abstand der Interferenzstreifen voneinander unterscheiden.
  • Das eine Interferenzstreifenbild kann für eine Grobeinstellung benutzt werden und das andere für die Feineinstellung.
  • Um die Nullstreifen erkennbar zu machen, beobachtet man vorteilhaft mit weißem Licht. In diesem Fall kann man den Bereich der Erkennbarkeit der Interferenzen dadurch erhöhen, daß man in den Strahlengang ein Neophanglas geringer Absorption, das ist ein Glas mit schwachem Gehalt an Neodym und anderen seltenen Erden, schaltet.
  • Damit die Spiegel bei derart kleinen Verschiebungen nahezu trägheitslos den Verstellbewegungen zu folgen vermögen, außerdem stets parallel zu sich selbst verschoben werden, sind sie zweckmäßig an Federn befestigt, wobei die Federn die gegenüberliegenden Seiten eines Parallelogramms bilden und die Spiegel jeweils an einer der weiteren Parallelogrammseiteti befestigt sind.
  • Die Vergleichsfläche kann mit einer Meßuhr verbunden sein, welche die Verschiebung der Vergleichsfläche unmittelbar anzeigt. Vorteilhaft ist jedoch eine Meßspindel vorgesehen. Die Meßspindel kann als Kontaktgeber für ein elektrisches Zählwerk ausgebildet sein, so daß die Ablesung am Zählwerk erfolgt. Um ein derartiges Zählwerk nicht zu komplizieren, zählt das Zählwerk vorteilhaft nur jeden zehnten Impuls, und es ist eine Lampenreihe vorgesehen, welche die Zwischenimpulse anzeigt.
  • In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeipiel der Erfindung dargestellt, und zwar zeigt Fig. I einen Schnitt durch ein Gerät nach der Erfindung, Fig. 2 eine geänderte Ausführungsform einer Meßspindel als Kontaktgeber für ein elektrisches Zählwerk, Fig. 3 das Gesichtsfeld der Vorrichtung nach Fig. I, Fig. 4 ein Schaltschema eines mit der Meßspindel nach Fig. 2 verbundenen Zählwerks.
  • In Fig. 1 ist mit I ein Tastglied bezeichnet, welches auf ein Werkstück od. dgl. aufgesetzt wird und welches sich entsprechend der Höhe des Werkstückes relativ zur gesamten Vorrichtung verschiebt. Mit dem Tastglied ist ein Spiegel 2 verhunden, welcher in einem Federparallelogramm aufgehängt ist, welches aus zwei durchbohrten Blattfedern 3, 4, einem mit dem Gehäuse fest verbundenen Körper 5, in dem die Federn 3, 4 eingespannt sind und einen beweglichen Körper 6, welcher mit dem Spiegel 2 verbunden ist, besteht.
  • Diese Aufhängung des Spiegels gewährleistet, daß der Spiegel 2 durch das Tastglied I stets parallel zu sich selbst verschoben wird. Über dem Spiegel 2 is!t ein Prisma 7 mit halbdurchlässiger Spiegelfläche angeordnet. Ein zweiter Spiegel 9 ist an einem durch eine Meßspindel 15 verschiebbaren Isörper IO eines weiteren Federparallelogramms so eingesetzt, daß er mit der Verschiebungsrichtung 1 1 des Körpers IO einen Winkel einschließt.
  • Bei Verschiebung des Körpers 10 wird die Spiegelfläche des Spiegels g in Richtung auf das Prisma 7 parallel zu sich selbst in entsprechender Untersetzung verlegt.
  • Die halbdurchlässige Spiegelfläche 8 sowie die Spiegel 9 und 2 bilden ein Interferometer vom Michelsonschen Typ. Die Beleuchtung des Interferometers erfolgt durch eine Lichtquelle I6.
  • Zwischen Lichtquelle I6 und Prisma 7 ist ein Neophanglas 17 geringer Absorption geschaltet, um den Bereich der Erkennbarkeit der Interferenzen zu vergrößern. Der Spiegel 2 ist unterteilt, und zwar in einen Teil mit fast senkrecht zur Einfallsrichtung des Lichts liegender Spiegelfläche 18 und in einen Teil mit weniger senkrecht zur Einfallsrichtung des Lichts liegender Spiegelfläche I9. Im Gesichtsfeld der Einrichtung entstehen deshalb, wie in Fig. 3 dargestellt, zwei Interferenzstreifenbilder entsprechend den verschiedenen Keilwinkeln gegenüber der Vergleichsfläche 9. Bewegt sich das Tastglied in Richtung seiner Achse, dann wandern die weit auseinanderliegenden Interferenzstreifen in Fig. 3 sehr rasch durch das Gesichtsfeld, wogegen sich die eng beieinanderliegenden. Interferenzstreifen verhältnismäßig langsam verschieben. Ver- schiebt man deshalb mittels bleßspindel I5 den Spiegel g in Richtung des Pfeiles 1 1 zum Ausgleich der optischen Weglänge, dann wandern die eng beieinanderliegenden Interferenzstreifen langsam in Richtung auf eine Nullmarke20, die weit auseinanderliegenden Interferenzstreifen dagegen sehr schnell. Haben die eng beieinanderliegenden Interferenzstreifen die Marke 20 erreicht, so erscheint im Gesichtsfeld der von zwei dunklen Strichen berandete Nullstreifen der weit auseinanderl iegenden Interferenzstreifen. Dieser kann sodann leicht auf die Marke 20 eingestellt werden. Die Verschiebung des Spiegels 2 durch das Tastglied ist damit kompensiert, und an der Meßspindel kann der Verschiebungsweg des Spiegels g abgelesen werden. Dieser Verschiebungsweg entspricht der Verstellung des Tastgliedes. Die Interferenzstreifen können durch eine Linse 34 beobachtet werden. Fig. 2 zeigt eine geänderte Ausführungsform einer Meßspindel als Kontaktgeber für ein elektrisches Zählwerk. Der Kern 21 der Meßspindel ist zu diesem Zweck elektrisch leitend ausgebildet. Im Gehäuse 22 der Meßspindel t5 sind um den Kern 2I herum Lamellen 23 angeordnet. An den Lamellen sind Leitungsdrähte 24 befestigt, und der Kern steht über einem Schleifkontakt 25 mit einer Hauptleitung 26 in Verbindung. Im Kern 21 ist federnd ein Schleifkontakt 27 eingelassen, welcher je nach Drehstellung des Kerges 21 die Verbindung der Hauptleitung 26 mit einem der Leitungsdrähte 24 herstellt.
  • Fig. 4 zeigt das Schaltschema eines Zählwerks mit einer Spindel nach Fig. 2. Schließt der Schleifkontakt 27 die Leitung 26 und die oberste der Lamellenleitung 24 kurz so fließt ein Strom von einem Transformator 28 einmal über eine Nulllampe 29 zum Transformator zurück und zum andern über eine Leitung 30 und einen Polwender 31 über ein Zählwerk 32. Schließt der Kontakt 27 die Leitung 26 und die zweitoberste der Lamellenleitungen 24 kurz, so fließt nur ein Strom über eine Signallampe 33 mit der Ziffer I zum Transformator zurück. Entsprechendes gilt, wenn der Schleifkontakt 27 die Leitung 26 und eine andere Lamellenleitung 24 kurzschließt. Je nachdiem, auf welche Lamelle der Schleifkontakt 27 zeigt, wird ein Strom über eine der Signallampen 33 mit der Bezifferung I bis g geleitet. Das Zählwerk 32 zählt somit nur jeden zehnten Impuls, nämlich dann. wenn der Strom über die Signallampe o geht, die Zwischenimpulse werden von den Signallampen 33 mit der Bezifferung 1 bis g angezeigt. Mit der Meßspindel I5 ist ein Polwender 3I verbunden, so daß je nach Drehrichtung der Meßspindel das Zählwerk vor- oder rückwärts geschaltet wird.

Claims (9)

  1. PATENTANSPRÜCHE: I. Optischer Feintaster zum Messen mit Interferenz erscheinungen, bei dem die eine Reflexionsfläche eines Michelson- Interferometers durch das Tastglied verschiebbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß die als Vergleichsfläche dienende Reflexionsfläche des Interferometers zur Erzielung einer Kompensationsmessung meßbar mikrometrisch verschiebbar ist.
  2. 2. Optischer Feintaster nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsfläche senkrecht zur optischen Achse verschiebbar ist und zur Erzielung einer Untersetzung der Verschiebungsgröße gegen die Versohiebungsrichtung schwadh geneigt ist.
  3. 3. Optischer Feintaster nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsfläche entlang einer Keilfläche verschiebbar ist.
  4. 4. Optischer Feintaster nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Keilfläche die Bewegungsgrößen im Verhältnis I .: IOO untersetzt.
  5. 5. Optischer Feintaster nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die eine reflektierende Fläche in zwei Anteile mit verschiedener Neigung zum einfallenden Lichtstrahl unterteilt ist.
  6. 6. Optischer Feintaster nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang ein Neophanglas geringer Absorption, das ist ein Glas mit schwachem Gehalt an Neodym und anderen seltenen Erden, vorgesehen ist.
  7. 7. Optischer Feintaster nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierenden Flächen an Federn befestigt sind, wobei die Federn die gegenüberliegenden Seiten eines Parallelogramms bilden.
  8. 8. Optischer Feintaster nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsfläche mit einer Meßuhr verbunden ist.
  9. 9. Optischer Feintaster nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Verschiebung der Vergleichsfläche durch eine Meßspindel erfolgt. lo. Optischer Feintaster nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßspindel als Kontaktgeber für ein elektrisches Impulszählwerk ausgebildet ist.
    II. Optischer Feintaster nach Anspruch IO, dadurch gekennzeichnet, daß das Impulszählwerk jeden zehnten Impuls registriert und die Zwischenimpulse an einer Lampenreihe ables bar sind.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschtriften Nr. 6I7674, 8I8877, 930 589; G eh rk e: »Die Anwendung der Interferenzen in der Spektroskopie und Metrologiea, 1906, S. 24, 59 und I27 bis I34; Richter-v. Voss: »Bauelemente der Feinmechanik«, 6. Auflage, I9542 5. 382; Müller-Pouillet: »Lehrbuch der Physik«, I909, Bd. 2, 3, S. 768 bis 770.
DEZ5076A 1955-08-07 1955-08-07 Optischer Feintaster Expired DE970724C (de)

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DEZ5076A DE970724C (de) 1955-08-07 1955-08-07 Optischer Feintaster

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DEZ5076A DE970724C (de) 1955-08-07 1955-08-07 Optischer Feintaster

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DE970724C true DE970724C (de) 1958-10-23

Family

ID=7619334

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DEZ5076A Expired DE970724C (de) 1955-08-07 1955-08-07 Optischer Feintaster

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DE (1) DE970724C (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1103034B (de) * 1960-06-07 1961-03-23 Leitz Ernst Gmbh Optischer Feintaster

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE617674C (de) * 1933-03-12 1935-08-23 Clark W Chamberlain Dr Vorrichtung zum Messen von Laengen mittels Interferenzerscheinungen unter Anwendung weissen Lichtes
DE818877C (de) * 1949-01-01 1951-11-15 Lutz G M B H Optisches Mehrplatten-Interferometer
DE930589C (de) * 1952-06-11 1955-07-21 Genevoise Instr Physique Apparat zur Messung von sehr kleinen Laengen

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE617674C (de) * 1933-03-12 1935-08-23 Clark W Chamberlain Dr Vorrichtung zum Messen von Laengen mittels Interferenzerscheinungen unter Anwendung weissen Lichtes
DE818877C (de) * 1949-01-01 1951-11-15 Lutz G M B H Optisches Mehrplatten-Interferometer
DE930589C (de) * 1952-06-11 1955-07-21 Genevoise Instr Physique Apparat zur Messung von sehr kleinen Laengen

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1103034B (de) * 1960-06-07 1961-03-23 Leitz Ernst Gmbh Optischer Feintaster

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