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DE891118C - Federnd gelagerter, justierbarer Blenden- oder Objekttraeger, vorzugsweise fuer Elektronenstrahlroehren - Google Patents

Federnd gelagerter, justierbarer Blenden- oder Objekttraeger, vorzugsweise fuer Elektronenstrahlroehren

Info

Publication number
DE891118C
DE891118C DEP55795A DEP0055795A DE891118C DE 891118 C DE891118 C DE 891118C DE P55795 A DEP55795 A DE P55795A DE P0055795 A DEP0055795 A DE P0055795A DE 891118 C DE891118 C DE 891118C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
carrier
screws
membrane
aperture
adjustable aperture
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEP55795A
Other languages
English (en)
Inventor
Heinrich Sonnberger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZEISS OPTON OPTISCHE WERKE
Original Assignee
ZEISS OPTON OPTISCHE WERKE
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZEISS OPTON OPTISCHE WERKE filed Critical ZEISS OPTON OPTISCHE WERKE
Priority to DEP55795A priority Critical patent/DE891118C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE891118C publication Critical patent/DE891118C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/09Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the object or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

  • Federnd gelagerter, justierbarer Blenden- oder Objektträger, vorzugsweise für Elektronenstrahlröhren In der Technik, beispielsweise in der Optik oder in der Elektrotechnik, besteht vielfach die Aufgabe, eine Blende, durch die ein Strahlengang begrenzt werden soll, oder einen Objektträger genau und spielfrei zu justieren. Justierbare Blenden- oder Objektträger zur Lösung dieser Aufgabe sind beispielsweise in den Patentschriften 662 92a und 734 o9o beschrieben. Die Träger sind dort mittels Tombakrohre federnd gelagert und werden durch Justierschrajuben verstellt. Diese Anordnung hat jedoch den Nachteil, daß die Verstellbewegungen bei noch so feiner Ganghöhe der Verstellschrauben stets ruckartig erfolgen, weil .die Schrauben unmittelbar auf den Träger einwirken, ohne daß ein elastischer Ausgleich durch die Tombakrohre erfolgen kann. Diese haben vielmehr nur die Aufgabe, einen vakuumdichten Abschluß zu gewährleisten. Erfindungsgemäß. wird nun dieser Nachteil dadurch beseitigt, daß der Träger in einer flächenhaften, am Rand eingespannten Membran befestigt und derart ausgebildet ist, :daß sowohl die Blenden-oder Objektebene als auch die Angriffsstellen der Verstellmittel an dem Träger außerhalb der Membranebene liegen. Der Träger ist vorteilhaft durch die Membran hindurch verlängert, und die Justierschrauben greifen an diesen Verlängerungen an. Dadurch wird erreicht, daß die Verstellbewegung von den Justierschrauben nur mittelbar auf die Blende oder das Objekt übertragen wird, denn der Träger bildet einen zweiarmigen Hebel, dessen Drehpunkt im Aufhängepunkt in der Membran liegt, und :die Bewegung der Justierschraub-en wird auf den einen Hebelarm übertragen. Erst am andern Hebelarm ist die Blende oder das Objekt angeordnet. Die Verschiebung der Blende wird somit abhängig von der Länge der Hebelarme, und dementsprechend kann durch geeignete Bemessung dieser die Verstellung sehr genau und in feinster Unterteilung vorgenommen werden. Überdies verhindert die elastische Aufhängung des Trägers in der Membran, daß die Verstellbewegung ruckartig erfolgt, weil ein Ausgleich durch Verbiegen der Membran erfölgen kann. Die Blende bewegt sich daabei auf einem Kreisbogen oder bei Verstellung in mehr als einer Richtung auf einer Kugelfläche, deren Radius im wesentlichen durch. die Lage der Angriffspunkte der Justierschrauben und von der Lage der Befestigung der Membran am Träger sowie durch die Höhe der Blende über der Membranebene bestimmt ist. Bei Elektronenstrahlröhren, bei denen Membran und Blende im Vakuum. angeordnet sind, müssen die justierschrauben von außen durch die Vakuumwandung hindurchgreifen.
  • Wenn zusätzlich zur Verstellung der Blende in der einen Ebene eine weitere Verstellung .in der Höhe, also ein Heben und Senken in Frage kommt, so werden zweckmäßig die Anlageflächen der Justierschrauben an dem Träger so ausgebildet, daß sich bei der Verstellung eine Komponente senkrecht zur Blendenebene ergibt.
  • In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel dargestellt; das auch noch weitere Einzelheiten der Erfindung zeigt.
  • Abb. i stellt einen Teil eines Elektronenmikroskops im Schnitt dar, während Abb. 2 eineu Schnitt durch die Anordnung nach Ab@b. z nach der Linie A-A zeigt. (In Abb. i ist die rechte Verstellschraube gegenüber Abb. 2 um 6o° versetzt gezeichnet) ; Abb. 3 ist eine Abwandlung der Anordnung nach Abb. i.
  • Die Wandung des Vakuumrohrs des Elektronenmikroskops ist mit i bezeichnet. Bei 2 ist in dem Rohr eine aus drei blendenförmigen Elektroden bestehende elektrostatische Linse angedeutet, deren Öffnungen von dem senkrecht verlaufenden Elektronenstrahl durchsetzt werden. Die Elektroden sind, wie hier nicht näher dargestellt, isoliert eingesetzt. Weitere Linsen sowie die oberhalb angeordnete Elektronenquelle und der unterhalb zu denkende Leuchtschirm sind nicht mit-gezeichnet.
  • Unterhalb der Linse 2 ist die Aperturblende 3 angeordnet, die zur Ausblendung eines bestimmten Elektronenbüschels und damit zur Erhöhung der Kontraste im Bild .dient. Die Blende besteht hier aus einer konusförmigen Kappe, die in Linsennähe die Blendenöffnung von einigen Mikron Durchmesser enthält. Die Blende 3 ist auf einer Membran 4 befestigt, die ihrerseits mit ihrem Rand an der Außenwandung i des Elektronenmikroskops festgeschraubt ist. Der durch die Membran durchgeführte Blendenträger trägt unterhalb der Membran eine Verstärkung 3', die eine besondere Ausführungpform des Trägers darstellt. Diese Verstärkung dient als Angriffsfläche für die Justierschrauben 5, von denen, wie Abb. 2 zeigt, zwei im Winkel von i2o° vorgesehen sind. Außerdem wirkt auf den Mantel 3' die Rückholfeder 6 ein, durch die eine definierte Lage der Blende 3 bei jeder Stellung der Schrauben 5 sichergestellt ist. In gewissen Fällen kann es zweckmäßig sein, an Stelle der Rückholfeder eine weitere Justierschraube vorzusehen.
  • Zur Justierung der Blendenöffnung im Strahlengang werden die Schrauben 5 in entsprechender Weise verstellt. Dadurch bewegt sich die B.lendenöffnung auf einer Kugelfläche, die im wesentlichen senkrecht Zur Elektronenstrahlachse steht. Ihre richtige Stellung kann im Leuchtschirmbild festgestellt werden. Die Schrauben 5 müssen vakuumdicht eingeführt sein, da sich ja die Rändel dieser Schrauben außerhalb des Vakuums befinden.
  • Bei der Ausführungsform nach Abb. 3 sind die Angriffsflächen der hier zweckmäßig vorgesehenen drei Justierschrauben am Mantel 3' abgeschrägt. Dadurch erfolgt bei gleichmäßiger Drehung der Schrauben ein Heben und Senken der Blende 3.
  • Die Erfindung kann selbstverständlich auch bei Blenden anderer Art Anwendung finden. Beispielsweise kann sie in der in Abb. 3 dargestellten Ausführung auch für die Justierung von Objektträgern in Elektronenmikroskopen von Bedeutung sein.

Claims (4)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Federnd gelagerter, justierbarer Blendmoder- Objektträger, vorzugsweise für Elektronenstrahlröhren, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger in einer flächenhaften, am Rande eingespannten Membran befestigt und derart ausgebildet ist"daß sowohl die Blenden-oder Objektebene als auch die Angriffsstellen ,der Verstellmittel an dem Träger außerhalb der Membranebene liegen.
  2. 2. Justierbarer Blenden- oder Objektträger nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß .der Träger durch die Membran hindurch verlängert ist und die Justierschrauben an diesen Verlängerungen angreifen.
  3. 3. Justierbarer Blenden- oder Objektträger nach -Anspruch i, dadurch gekennzeichnet; daß zwei Justierschrawben und eine Rückholfeder vorgesehen sind, die in Winkelabständen von etwa iao° auf den Träger einwirken.
  4. 4. Justierbarer Blenden- oder Objektträger nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Flächenteile -des Trägers, an denen die Justierschrauben angreifen, und gegebenenfalls auch die Justierschrauben selbst so abgeschrägt sind, daß, die Schrauben mit einer senkrecht zur B.lendenebene gerichteten -Verstellkomponente auf den Blenden- oder Objektträger einwirken. Angezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 662 922, 734 090, 748 68,o. -
DEP55795A 1949-09-24 1949-09-24 Federnd gelagerter, justierbarer Blenden- oder Objekttraeger, vorzugsweise fuer Elektronenstrahlroehren Expired DE891118C (de)

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DEP55795A DE891118C (de) 1949-09-24 1949-09-24 Federnd gelagerter, justierbarer Blenden- oder Objekttraeger, vorzugsweise fuer Elektronenstrahlroehren

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DEP55795A DE891118C (de) 1949-09-24 1949-09-24 Federnd gelagerter, justierbarer Blenden- oder Objekttraeger, vorzugsweise fuer Elektronenstrahlroehren

Publications (1)

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DE891118C true DE891118C (de) 1953-09-24

Family

ID=7388012

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DEP55795A Expired DE891118C (de) 1949-09-24 1949-09-24 Federnd gelagerter, justierbarer Blenden- oder Objekttraeger, vorzugsweise fuer Elektronenstrahlroehren

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE891118C (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE959307C (de) * 1953-08-16 1957-03-07 Siemens Ag Blendenhalter fuer Korpuskularstrahlapparate, insbesondere Elektronenmikroskope
DE1035811B (de) * 1954-07-05 1958-08-07 Siemens Ag Verstelltrieb zur Bewegung des Objekttisches in Elektronenmikroskopen
DE1224851B (de) * 1962-07-06 1966-09-15 Siemens Ag Objektpatrone fuer Korpuskularstrahlgeraete, insbesondere zur stereoskopischen Untersuchung von Objekten in Elektronenmikroskopen
NL1040559C2 (en) * 2013-12-20 2015-06-26 Janssen Prec Engineering Cryogenic high resonance positioning system.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE662922C (de) * 1934-03-11 1938-07-25 Aeg Verfahren und Anordnung zum Nachweis von lichtoptisch nicht nachweisbaren Verunreinigungen und Fremdstoffen auf metallischen Oberflaechen mit Hilfe der elektronenoptischen Abbildung
DE734090C (de) * 1941-05-27 1943-04-08 Aeg UEbermikroskop mit Vorkonzentrationssystem, insbesondere mit elektrostatischen Linsen
DE748680C (de) * 1939-10-19 1944-11-08 Elektronenmikroskop

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