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DE69724711T2 - Verfahren und Vorrichtung zur optischen Kontrolle - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur optischen Kontrolle Download PDF

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DE69724711T2
DE69724711T2 DE69724711T DE69724711T DE69724711T2 DE 69724711 T2 DE69724711 T2 DE 69724711T2 DE 69724711 T DE69724711 T DE 69724711T DE 69724711 T DE69724711 T DE 69724711T DE 69724711 T2 DE69724711 T2 DE 69724711T2
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DE
Germany
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rays
image sensor
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Emanuel Elyasaf
Yair Eran
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Orbot Instruments Ltd
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Orbot Instruments Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination

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  • Biochemistry (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optischen Kontrolle eines Objekts. Die Erfindung ist insbesondere zur optischen Kontrolle einer Photomaske mit durchsichtigen Flächen und undurchsichtigen Flächen geeignet, um die Anwesenheit oder das Fehlen von Fehlern sowohl in den durchsichtigen Flächen als auch den undurchsichtigen Flächen zu ermitteln. Daher wird die Erfindung unten bezüglich dieser Anwendung beschrieben, aber es ist zu erkennen, dass sie auch in vorteilhafter Weise bei anderen Anwendungen verwendet werden könnte, z. B. zur Kontrolle anderer Objekte, wie zum Beispiel gedruckte Leiterplatten, Flachbildschirme etc.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Eine ist große Anzahl von Verfahren und Systemen zur optischen Kontrolle von Gegenständen bekannt. Beispielsweise offenbart US-Patent 5,216,479 von Dotan et al. ein System zur optischen Kontrolle von Objekten, insbesondere gedruckten Leiterplatten, indem ein Lichtstrahl auf eine Fläche des Objekts projiziert und reflektiertes Licht, das von dieser Fläche reflektiert wird, und fluoreszierendes Licht, das in diese Fläche induziert, wird erfasst wird, wobei derartiges erfasstes Licht dann verwendet wird, um Fehler in der entsprechenden Fläche des Objekts anzugeben; das beschriebene System sendet auch Licht durch das Objekt und erfasst das transmittierte Licht an der gegenüberliegenden Fläche des Objekts, um Fehler in plattierten Durchgangslöchern in der gedruckten Leiterplatte zu ermitteln. Die offengelegte europäische Patentanmeldung 92114182.6 offenbart ebenfalls ein optisches Kontrollverfahren und – system, die sowohl reflektiertes Licht als auch transmittiertes Licht zum Ermitteln von Fehlern verwenden. Die Systeme in beiden obigen Patenten basieren auf einem Abtastverfahren, bei dem der Lichtstrahl, z. B. ein Laserlichtstrahl, veranlasst wird, das kontrollierte Objekt abzutasten.
  • US 4,952,085 beschreibt ein optisches Photomaskenkontrollverfahren und eine -vorrichtung, bei denen ein erster Lichtstrahl von einer Fläche der Photomaske reflektiert und ein zweiter Lichtstrahl durch die Photomaske hindurch gesendet wird. Die transmittierten und reflektierten Lichtstrahlen werden erfasst und die resultierenden elektrischen Ausgaben werden verarbeitet, um eine Angabe des Zustands der Pho tomaske bereitzustellen. Somit offenbart US 4,952,058 ein Verfahren und eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff der hier beigefügten, unabhängigen Ansprüche.
  • US 5,235,400 offenbart ein optisches Photomaskenkontrollverfahren und eine -vorrichtung, die reflektiertes und transmittiertes Licht verwenden.
  • EP 0024586 A offenbart ein optisches Fehlererkennungssystem, das lediglich auf reflektiertes Licht angewiesen ist.
  • US 3,892,492 offenbart eine optoelektronische Vorrichtung, die zur Überwachung eines Objekts reflektiertes Licht und transmittiertes Licht verwendet, um die Lichtabsorptionscharakteristika des Objekts zu überwachen.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein neuartiges Verfahren und eine Vorrichtung zur optischen Kontrolle eines Objekts mittels Verwendung sowohl reflektierter Strahlen als auch transmittierter Strahlen bereitzustellen, die aber gegenüber dem in den obigen Veröffentlichungen beschriebenen Verfahren und System Vorteile aufweisen.
  • Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur optischen Kontrolle eines Objekts (PM) bereitgestellt, das obere und untere Flächen aufweist, um den Zustand des Objekts anzugeben, mit: Reflektieren eines ersten Lichtstrahls von einer Fläche des Objekts und Senden eines zweiten Lichtstrahls durch das Objekt einschließlich seiner beiden Flächen; Erfassen der reflektierten und transmittierten Strahlen; Erzeugen elektrischer Ausgaben entsprechend den erfassten Strahlen; und Verarbeiten der elektrischen Ausgaben, um eine Angabe für den Zustand des Objekts zu erhalten; gekennzeichnet durch: periodisches Reflektieren des ersten Lichtstrahls von dem Objekt, um eine erste Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter, reflektierter Lichtstrahlen zu erzeugen; periodisches Senden des zweiten Lichtstrahls durch das Objekt, um eine zweite Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter, transmittierter Lichtstrahlen zu erzeugen; und Bewegen des Objekts relativ zu den ersten und zweiten Lichtstrahlen, so dass die erfassten reflektierten und transmittierten Lichtstrahlen zwei Bildströme umfassen, die jeweils zeitlich verschachtelte, nicht verzeichnete reflektierte Bilder und transmittierte Bilder von jeweils rechteckiger Fläche mit einer Verzögerung von etwa einer halben rechteckigen Fläche zwischen benachbarten reflektierten und transmittierten Bildern umfassen.
  • Gemäß weiterer Merkmale bei den beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung werden die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von einem Flächentyp-Bildsensor erfasst. Zusätzlich werden die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von einer Lichtquelle hoher Intensität erzeugt, die periodisch für Zeiten von weniger als 1 Millisekunde, vorzugsweise weniger als 100 Mikrosekunden mit einer Frequenz von mehr als 1 MHz aktiviert wird. Bei den unten beschriebenen, bevorzugten Ausführungsformen beträgt die Dauer jedes Lichtstrahls hoher Intensität etwa 60 Mikrosekunden und die Frequenz 40 MHz. Eine derartige Anordnung ermöglicht, wie unten beschrieben, eine optische "on the fly"-Kontrolle des Objekts, während sich das Objekt kontinuierlich bewegt, ohne das Bild zu verzeichnen.
  • Besonders gute Ergebnisse können unter Verwendung des für das NASA-Pluto-Programm entwickelten CCD-Bildsensors erreicht werden. Dieser Sensor ist ein gekühlter CCD-Bildsensor mit Hintergrundbeleuchtung und weist im ultravioletten (UV) Spektralbereich eine verbesserte Quantenausbeute auf. Außerdem weist er eine sehr hohe Datenrate und sehr geringes Rauschen auf. Durch Verwendung dieses CCD-Bildsensors als Bildsensor ist der Sensor in der Lage, in dem geforderten UV-Spektrum abzutasten; um die Auflösung zu verbessern. Die Verwendung eines derartigen Sensors erhöht auch den Durchsatz des Systems und ermöglicht es, das Objekt sowohl mittels des transmittierten als auch des reflektierten Lichts gleichzeitig zu kontrollieren. Wenn ein derartiger Bildsensor verwendet wird, kann die Lichtquelle ein Laser, eine Blitzlampe oder sogar eine Quecksilberdampflampe mit einem Zerhacker oder Modulator sein, um kurze helle Lichtblitze zu erzeugen.
  • Eine Anzahl Ausführungsformen ist unten beispielshalber beschrieben. Gemäß einer beschriebenen Ausführungsform werden die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von getrennten Lichtquellen an gegenüberliegenden Seiten des Objekts erzeugt. Bei einer zweiten beschriebenen Ausführungsform werden sie von einer gemeinsamen Lichtquelle an einer Seite des Objekts und optischen Lenkelementen erzeugt, wie z. B. ein Flip-Flop-Spiegel, um den Lichtstrahl abwechselnd zu den gegenüberliegenden Seiten des Objekts zu lenken. Bei beiden obigen Ausführungsformen werden die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von einem gemeinsamen Bildsensor erfasst.
  • Es ist eine weitere Ausführungsform beschrieben, bei der die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von einer einzelnen Lichtquelle an einer Seite des Objekts erzeugt, die reflektierten Strahlen von einem ersten Sensor an einer Seite des Objekts erfasst und die transmittierten Strahlen von einem zweiten Sensor an der gegenüberliegenden Seite des Objekts erfasst werden.
  • Die Erfindung stellt auch eine Vorrichtung zur optischen Kontrolle eines Objekts gemäß dem obigen Verfahren bereit.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung werden aus der Beschreibung unten ersichtlich.
  • Die Erfindung ist hier lediglich beispielshalber unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, in denen:
  • 1 ein optisches Diagramm ist, das eine Form einer gemäß der vorliegenden Erfindung aufgebauten Vorrichtung veranschaulicht,
  • 2 und 3 Diagramme sind, die die Weise veranschaulichen, eine komplette Fläche des Objekts optisch zu kontrollieren,
  • 4 ein Zeitablaufdiagramm ist, das ein Beispiel eines Zeitablaufs der elektrischen Pulse veranschaulicht, die die transmittierenden und reflektierten Strahlen in der Vorrichtung von 1 erzeugen,
  • 5 ein Blockdiagramm ist, das eine Weise veranschaulicht, die Ausgaben des Bildsensors elektrisch zu verarbeiten,
  • 6 ein Diagramm ist, das eine Modifikation bei der Vorrichtung von 1 veranschaulicht,
  • 7 ein Diagramm ist, das eine gemäß der vorliegenden Erfindung aufgebaute Vorrichtung veranschaulicht, die aber eine einzelne Lichtquelle verwendet,
  • 9 ein Blockdiagramm ist, das eine bevorzugte Anordnung zum elektrischen Verarbeiten der Ausgabe des Bildsensors veranschaulicht.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Wie zuvor angegeben, sind das Verfahren und die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung insbesondere zur optischen Kontrolle von Photomasken nützlich, um Fehler sowohl in den durchsichtigen Flächen als auch den undurchsichtigen Flächen der Photomaske zu ermitteln.
  • Die in 1 veranschaulichte Vorrichtung umfasst eine Stufe 2, um die optisch zu kontrollierende Photomaske PM aufzunehmen und zu befördern. Eine an einer Seite der Photomaske PM angeordnete erste Lichtquelle 4 erzeugt Lichtblitze, die über ein optisches System 6, einen Strahlteiler 8 und eine Objektivlinse 10 zu einer Seite der Photomaske PM geführt werden. Eine zweite Lichtquelle 12 an der gegenüberliegenden Seite der Photomaske PM erzeugt Lichtblitze, die von einem Reflektor 14 und einem optischen System 16 zu der gegenüberliegenden Seite der Photomaske geführt werden. Das Licht von der Lichtquelle 4 wird von einer Fläche der Photomaske PM über eine Weiterleitungslinse 18 zu einem Flächentyp-Bildsensor 20 reflektiert. Das Licht von der Lichtquelle 12 wird durch die Photomaske PM hindurch, d. h. durch seine beiden Flächen, und durch eine Weiterleitungslinse 18 zu dem gleichen Bildsensor 20 gesendet, der das reflektierte Licht von der Lichtquelle 4 erhält.
  • Die optische Achse zu dem Bildsensor 20 weist ferner eine Autofokusvorrichtung 22, die die Objektivlinse 10 über einen Strahlteiler 24 steuert, und ein Betrachtungsokular 26 auf, das über einen Strahlteil 28 das Bild zum Betrachten erhält.
  • Die zwei Lichtquellen 4 und 12 werden von einem schematisch als 30 angegebenen Steuersystem gesteuert, das die zwei Lichtquellen periodisch mit Energie versorgt oder aufblitzen lässt, um zu bewirken, dass jede eine Reihe von kurzzeitigen, zeitlich beabstandeten Lichtstrahlen erzeugt, die miteinander zeitlich verschachtelt sind. Somit erzeugt die Lichtquelle 4 eine Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter Lichtstrahlen, die von einer Fläche der Photomaske PM reflektiert werden, und die Lichtquelle 12 erzeugt eine Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter Lichtstrahlen, die durch beide Flächen der Photomaske PM hindurch gesendet werden und sich mit den reflektierten Strahlen der Lichtquelle 4 abwechseln. Alle, die reflektierten Strahlen von der Lichtquelle 4 und die transmittierten Strahlen von der Lichtquelle 12 werden von dem gemeinsamen Bildsensor 20 empfangen, der entsprechend den empfangenen reflektierten und transmittierten Strahlen elektrische Ausgaben erzeugt.
  • Die elektrischen Ausgaben des Bildsensors 20 werden einem Prozessor 32 zugeführt, der diese im Vergleich mit Referenzdaten verarbeitet, die von dem Prozessor von einer Referenzdatenquelle 34 erhalten werden. Die Referenzdatenquelle könnte in einer Datenbank gespeichert oder von einem anderen Objekt oder von einem anderen Teil des gleichen Objekts erhalten werden, das kontrolliert wird. Der Prozessor 32 erzeugt somit eine Angabe von Unterschieden zwischen den Referenzdaten und den von der optischen Kontrolle der Photomaske PM erhaltenen Daten, die Fehler in der Photomaske angeben. Die Ergebnisse dieser Verarbeitung werden an eine Ausgabevorrichtung, wie z. B. ein Display 36, ausgegeben.
  • Stufe 2, die die Photomaske PM aufnimmt, ist eine XY-Stufe, die die Photomaske entlang der X-Achse und/oder Y-Achse kontinuierlich bewegt. Der Bildsensor 20 ist ein Flächentyp-Bildsensor, vorzugsweise eine zweidimensionale Matrix aus CCDs (ladungsgekoppelten Bauelementen). Ein solcher Sensor nimmt zu einem Zeitpunkt ein vollständiges Flächenbild auf, auch wenn die XY-Stufe die Photomaske PM mit konstanter Geschwindigkeit bewegt. Um ein nicht verzeichnetes Bild "on the fly" aufzunehmen, während die Stufe die Photomaske PM bewegt, sollte die CCD-Integrationszeit kurz genug sein, so dass sich das aufgenommene Bild während der Bildaufnahmedauer nicht zu stark bewegt. Dies erfordert, dass die Integrationszeit des gesamten CCDs kleiner oder gleich der Abtastdauer eines Pixels sein soll.
  • Wie in 2 gezeigt, wird die Fläche der Photomaske PM stückweise kontrolliert. 2 veranschaulicht eines der sich vertikal erstreckenden Stücke 40 der Photomaske PM. Jedes Stück 40 wird in rechteckige Bereiche 42 unterteilt, die eine Größe aufweisen, die der Fläche des CCD-Bildsensors 20 dividiert durch die optische Vergrößerung der abbildenden Optiken entspricht. Wie in 2 gezeigt, ist jede rechteckige Fläche 42 eines Bildes des entsprechenden Stücks 40 bei jeder Aufnahme etwas kleiner als die gesamte von dem CCD-Bildsensor auf der Maske abgedeckte Fläche 44, um eine leichte Überlappung 46 an jeder der vier Seiten zu erzeugen. Dies gewährleistet, ein vollständiges Maskenbild zu erhalten, wenn die separat nach einander aufgenommenen Bilder kombiniert werden.
  • Es ist somit ersichtlich, dass der CCD-Bildsensor 20 zwei Bildströme erhält, nämlich die reflektierten Bilder von der Lichtquelle 4 und die transmittierten Bilder von der Lichtquelle 12. Da sich die Photomaske PM kontinuierlich bewegt, gibt es eine geringe Verzögerung zwischen den zwei von dem CCD-Bildsensor empfangenen Bildreihen. 3 veranschaulicht der Klarheit halber diese Verzögerung hinsichtlich der ho rizontalen Verschiebung, wobei es ersichtlich ist, dass die Reihen reflektierter Bilder 50 bezüglich der transmittierten, von dem CCD-Bildsensor 20 aufgenommenen Bildern 52 verzögert ist.
  • Vorzugsweise wird jede der zwei Lichtquellen 4, 12, für eine Dauer von weniger als 1 Millisekunde, stärker bevorzugt weniger als 100 Mikrosekunden mit einer Frequenz von mehr als einem MHz pulsartig betriebenen. Dies erzeugt Lichtblitze hoher Intensität von ausreichend kurzer Dauer, um ein Verzeichnen der von dem CCD-Bildsensor 20 aufgenommenen Bilder zu vermeiden.
  • 4 veranschaulicht das Zeitablaufdiagramm eines Beispiels des Betriebs des Systems, wobei jede Lichtquelle für 60 Mikrosekunden pulsartig betrieben wird und die Pulse etwa 26 Millisekunden beabstandet sind, während denen von dem Bildsensor ein Auslesevorgang durchgeführt wird. Wird beispielsweise angenommen, dass der Bildsensor eine Matrix von 1 K × 1 K Pixel aufweist, kann der Bildsensor in zwei Abschnitte unterteilt sein, wobei das Auslesen jedes Abschnitts mit 20 MHz arbeitet. Somit würde der Gesamtdurchsatz bei 40 MHz liegen. Höhere Datenraten können durch kürzere Pulse oder größere Sensoren erreicht werden. Beispielsweise kann eine 80 MHz Datenrate durch einen 30 Mikrosekundenpuls oder einen 2 K Pixel breiten Sensor erreicht werden.
  • Es ist zu erkennen, dass die transmittierten Lichtblitze von der Lichtquelle 12 bewirken, dass ein Fehler (z. B. ein Partikel) auf der durchsichtigen Fläche der Photomaske als Lichtabfall und ein Fehler (z. B. Loch) auf der undurchsichtigen Fläche der Photomaske als heller Fleck erscheint. Die transmittierten Lichtblitze sind nicht in der Lage, einen Fehler (z. B. Partikel) auf der undurchsichtigen Fläche zu lokalisieren, aber ein solcher Fehler kann durch die reflektierten Blitze von der Lichtquelle 4 lokalisiert werden.
  • Wenn ein Zeilentyp-CCD-Bildsensor verwendet wird, müsste die Schaltrate zwischen den Beleuchtungszuständen innerhalb der Zeilenfrequenz liegen (z. B. etwa 20 KHz). Indem jedoch, wie oben beschrieben, ein Flächentyp-CCD-Bildsensor verwendet wird, muss die Schaltrate lediglich innerhalb der auf einer Datenrate von 20 MHz und 1.000 Pixel pro Zeit basierenden Bildwechselfrequenz (z. B. etwa 20 Hz) liegen. Diese niedrige Schaltrate zwischen den Beleuchtungszuständen ist ein besonders großer Vorteil des beschriebenen Systems.
  • Bei diesem Beispiel beträgt jede Integrationszeit etwa 60 Mikrosekunden, während denen das gesamte Gesichtsfeld von 1 K × 1 K von Pixeln des Bildsensors 20 von einem kurzen durchlaufenden Blitz von der Lichtquelle 12 beleuchtet und von den bildgebenden Optiken einschließlich der Objektivlinse 10 und der Weiterleitungslinse 18 auf dem Flächenbildsensor 20 abgebildet wird.
  • Wie in 5 gezeigt, erzeugt der Bildsensor zwei Ausgangsströme 25a, 25b zu zwei Bildprozessoren 32a, 32b, die jeweils bei 20 MHz arbeiten und ihre Inhalte an einem seriellen Kombinierer 33 ausgeben. Nach etwa 26 Millisekunden (entspricht 10242/2 × 20 × 106) ist der CCD-Bildsensor geleert und für den nächsten Blitz bereit. Wenn die sich mit konstanter Geschwindigkeit bewegende Photomaske die halbe Strecke zu dem nächsten benachbarten Gesichtsfeld der transmittierten Lichtblitze von der Lichtquelle 12 erreicht, wird zwischenzeitlich von der Lichtquelle 4 ein kurzer Lichtblitz erzeugt, um einen reflektierten Strahl hervorzurufen, der eine neue 1 K × 1 K Pixelfläche beleuchtet, und dessen Bild wird von dem Bildsensor 20 aufgenommen und über die zwei Ausgaben 25a, 25b und die Bildprozessoren 31a, 32a zu dem Ergebniskombinierer 33 übertragen. Diese Vorgehensweise wird wiederholt, bis die gesamte Maskenfläche zweimal abgebildet wurde, einmal mit transmittierten Lichtblitzen von der Lichtquelle 12 und das andere Mal mit reflektierten Lichtblitzen von der Lichtquelle 4.
  • Vorzugsweise ist der Flächentyp-CCD-Bildsensor 20 der gekühlten CCD-Bildsensor mit Hintergrundbeleuchtung, der vor kurzem, wie oben kurz beschrieben, von dem NASA-Pluto-Programm entwickelt wurde. Dieser Sensor weist im UV-Spektralbereich eine erhöhte Quantenausbeute auf, lässt eine sehr hohe Datenrate zu und ist durch sehr geringes Rauschen charakterisiert. Indem dieser CCD-Sensor als Bildsensor 20 verwendet wird, ist es möglich, im geforderten UV-Spektrum abzutasten, um die Auflösung zu verbessern. Wenn dieser CCD-Bildsensor als Bildsensor 20 verwendet wird, können die Lichtquellen gepulste Laser, Blitzlampen oder sogar Quecksilberdampflampen sein. Diese können auch Zerhacker oder Modulatoren aufweisen, um die kurzen geeigneten Lichtblitze zu erzeugen.
  • 6 veranschaulicht einen Anordnungsaufbau, der im Wesentlichen der gleiche wie in 1 abgesehen davon ist, dass das Okular 26 und dessen Strahlteiler 28 weggelassen sind.
  • 7 veranschaulicht eine andere, mit der von 1 vergleichbare Anordnung. Zusätzlich zu dem Weglassen des Okulars 26 und dessen Strahlteiler 28 weist die in 7 veranschaulichte Anordnung eine einzelne Lichtquelle 12 an der Seite der Photomaske PM auf, die der des Bildsensors 20 gegenüber liegt. Anstelle einer Lichtquelle 4 auf der gleichen Seite der Photomaske wie der Bildsensor 20 weist das System von 7 einen Spiegel 60 und ein Lichtlenkbauteil 62 in Form eines Flip-Flop-Spiegels auf, der das Licht von der Lichtquelle 12 abwechselnd entweder zu dem Spiegel 60, um die reflektierten Lichtstrahlen zu erzeugen, oder zu dem Spiegel 14 umlenkt, um die transmittierten Lichtstrahlen zu erzeugen. In jeglicher anderer Hinsicht ist die in 7 veranschaulichte Vorrichtung aufgebaut und arbeitet auf die gleiche Weise, wie oben unter Bezugnahme auf 1 beschrieben.
  • 9 veranschaulicht eine bevorzugte Anordnung zum Verarbeiten der Ausgabe des Bildsensors 20, um einen relativ hohen Durchsatz mit einer Verarbeitungsschaltkreisanordnung zu ermöglichen, die bei relativ geringeren Geschwindigkeiten arbeitet. Beispielsweise kann die hier beschriebene Vorrichtung zur Transmissions- und Reflexionskontrolle bei einer äquivalenten Datenrate von 40 MHz bei Verwendung einer bei 20 MHz arbeitenden Verarbeitungsschaltkreisanordnung und eines 1 K × 1 K CCD-Bildsensors gemäß dem in 1 veranschaulichten Schaltkreis wie folgt betrieben werden: Der CCD-Bildsensor 20 ist in vier Ausleseabgriffe unterteilt, die jeweils bei 20 MHz arbeiten, um die gesamten 1 K × 1 K zu übertragen. Der durchgelaufene Blitz beleuchtet zuerst das Objekt (Photomaske), die vier Abgriffe des CCD-Bildsensors 20 übertragen die Transmissionsdaten zu einem Transmissions-FIFO-Register 31t zu dem Zeitpunkt, an dem die Stufe sich um die halbe Strecke, d. h. 512 Zeilen, bewegt hat. Das FIFO-Register 31t erhält die Daten mit 80 MHz und überträgt sie zu Bildprozessoren IP1 und IP2 mit jeweils 20 MHz. Zu dem Zeitpunkt, an dem die Stufe die halbe Strecke erreicht, d. h. Zeile Nr. 512, beleuchtet der reflektierte Blitz das Objekt (Photomaske) und die vier Abgriffe des CCD-Bildsensors 20 übertragen erneut die Daten mit einer Gesamtrate von 80 MHz, aber nun zu dem Reflexions-FIFO-Register 31r. Diese Daten werden mit 40 MHz zu Bildprozessoren IP3 und IP4 übertragen.
  • Auf diese Weise können zwei Größen von 1 K × 1 K Pixel von dem CCD-Bildsensor mit einer Datenrate von jeweils 80 MHz ausgelesen werden, wobei die vier Pipelines mit einer Datenrate von 20 MHz betrieben werden, zwei für die Transmissionsdaten und zwei für die Reflexionsdaten. Das Bildverarbeitungsverfahren könnte beispielsweise das in US-Patentanmeldung 07/801,761 oder in US-Patentanmeldung 07/880,100 beschriebene sein, die beide, wie die vorliegende Anmeldung, dem gleichen Anmelder übertragen wurden.
  • Obwohl die Erfindung bezüglich verschiedener bevorzugter Ausführungsformen einschließlich der optischen Kontrolle von Photomasken beschrieben wurde, ist es ersichtlich, dass die Erfindung auch zur optischen Kontrolle anderer Objekte verwendet werden könnte, wie z. B. gedruckte Leiterplatten, bei denen die transmittierenden Lichtblitze verwendet werden, um Fehler in plattierten Durchgangslöchern oder dergleichen zu ermitteln, wie beispielsweise in dem oben genannten US-Patent 5,216,479 von Dotan et al. beschrieben.

Claims (21)

  1. Verfahren zur optischen Kontrolle eines Objektes (PM), das eine obere Fläche und eine untere Fläche hat, zum Angeben des Zustandes des Objektes (PM), umfassend: – Reflektieren eines ersten Lichtstrahls von einer Fläche des Objektes (PM) und Senden eines zweiten Lichtstrahls durch das Objekt einschließlich seiner beiden Flächen; – Erfassen der reflektierten und transmittierten Strahlen; – Erzeugen elektrischer Ausgaben entsprechend den erfassten Strahlen; – und Verarbeiten der elektrischen Ausgaben, um eine Angabe für den Zustand des Objektes (PM) zu erhalten; gekennzeichnet durch: – periodisches Reflektieren des ersten Lichtstrahls vom Objekt (PM), um eine erste Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter, reflektierter Lichtstrahlen zu erzeugen; – periodisches Senden des zweiten Lichtstrahls durch das Objekt (PM), um eine zweite Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter, transmittierter Lichtstrahlen zu erzeugen; und – Bewegen des Objektes (PM) relativ zu den ersten und zweiten Lichtstrahlen, so dass die reflektierten und transmittierten Lichtstrahlen, die von einem rechteckigen Bildsensor (20) erfasst werden, zwei Bildströme (50, 52) bilden, die jeweils zeitverschachtelte, nicht verzeichnete, reflektierte Bilder und transmittierte Bilder von jeweils rechteckiger Fläche mit einer Verzögerung von etwa einer halben rechteckigen Fläche zwischen benachbarten reflektierten und transmittierten Bildern aufweisen.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von einem Flächentyp-Bildsensor (20) erfasst werden.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, bei dem die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von getrennten Lichtquellen an gegenüberliegenden Seiten des Objektes erzeugt werden.
  4. Verfahren nach Anspruch 2, bei dem die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von einer gemeinsamen Lichtquelle (12) an einer Seite des Objektes erzeugt werden und optische Lenkelemente (60, 62) den Lichtstrahl abwechselnd zu den gegenüberliegenden Seiten des Objekts lenken.
  5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, bei dem die reflektierten Strahlen und die transmittierten Strahlen von einem gemeinsamen Bildsensor (20) erfasst werden.
  6. Verfahren nach Anspruch 1, beim dem jeder der reflektierten Strahlen und der transmittierten Strahlen von einer Lichtquelle hoher Intensität erzeugt wird, die periodisch für Zeiten von weniger als 1 Millisekunde aktiviert wird.
  7. Verfahren nach Anspruch 6, beim dem jeder der reflektierten Strahlen und der transmittierten Strahlen von einer Lichtquelle hoher Intensität erzeugt wird, die periodisch für Zeiten von weniger als 100 μs mit einer Frequenz von mehr als 1 MHz aktiviert wird.
  8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, bei dem die Lichtquelle hoher Intensität ein Laser ist.
  9. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem das optisch zu kontrollierende Objekt (PM) eine Fotomaske mit durchsichtigen Flächen und undurchsichtigen Flächen und der anzugebene Zustand die Anwesenheit oder das Fehlen von Fehlern in den durchsichtigen Flächen und undurchsichtigen Flächen der Fotomaske ist.
  10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Lichtstrahlen UV-Licht aufweisen.
  11. Vorrichtung zur optischen Kontrolle eines Objektes (PM), das eine obere Fläche und eine untere Fläche hat, zum Angeben des Zustandes des Objektes (PM), mit: – einem Beleuchtungssystem (4, 12), das zum Erzeugen eines ersten Lichtstrahls zur Reflexion von einer Fläche des Objektes (PM) und eines zweiten Lichtstrahls zum Durchlaufen des Objektes (PM) einschließlich seiner beiden Flächen angeordnet ist; – einem Sensor (20, 71, 72), der zum Erfassen der reflektierten und transmittierten Strahlen angeordnet ist; – Mitteln zum Erzeugen elektrischer Ausgaben entsprechend den erfassten Strahlen; – und einem Prozessor (32), der zum Empfangen und Verarbeiten der elektrischen Ausgaben zum Bereitstellen einer Angabe über den Zustand des Objektes (PM) ausgeführt ist; gekennzeichnet dadurch, dass das Beleuchtungssystem Mittel für das periodische Reflektieren des ersten Lichtstrahls vom Objekt (PM) zum Erzeugen einer ersten Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter, reflektierter Lichtstrahlen und für das periodische Senden des zweiten Lichtstrahls durch das Objekt (PM) zum Erzeugen einer zweiten Reihe kurzzeitiger, zeitlich beabstandeter, transmittierten Lichtstrahlen hat; und durch einen Objekttisch zum Bewegen des Objektes (PM) relativ zu den ersten und zweiten Lichtstrahlen, so dass die reflektierten und transmittierten Lichtstrahlen von einem rechteckigen Bildsensor (20) erfasst werden und zwei Bildströme (50, 52) bilden, die jeweils zeitverschachtelte, nicht verzeichnete, reflektierte Bilder und transmittierte Bilder von jeweils rechteckiger Fläche mit einer Verzögerung von etwa einer halben rechteckiger Fläche zwischen benachbarten reflektierten und transmittierten Bildern aufweisen.
  12. Vorrichtung nach Anspruch 11, bei der der Sensor einen Flächentyp-Bildsensor (20) aufweist.
  13. Vorrichtung nach Anspruch 12, bei der der Flächentyp-Bildsensor eine rechteckige Matrix aus ladungsgekoppelten Bauelementen (charge-coupled devices – CCD) enthält.
  14. Vorrichtung nach Anspruch 12 oder 13, bei der das Beleuchtungssystem (4, 12) erste (4) und zweite (12) Lichtquellen an gegenüberliegenden Seiten des Objektes aufweist.
  15. Vorrichtung nach Anspruch 12 oder 13, bei der das Beleuchtungssystem (4, 12) aufweist: – eine gemeinsame Lichtquelle (12) an einer Seite des Objektes (PM), die kurzzeitige, zeitlich beabstandete Lichtstrahlen erzeugt; – ein erstes optisches System (6) an der einen Seite des Objektes; – ein zweites optisches System (16) an der gegenüberliegenden Seite des Objektes; – und ein Lichtstrahlen-Lenkgerät (62) an der einen Seite des Objektes, das periodisch gesteuert wird, um das Licht von der gemeinsamen Lichtquelle abwechselnd zu dem ersten optischen System und zu dem zweiten optischen System zu lenken.
  16. Vorrichtung nach Anspruch 15, bei der das Lichtstrahlen-Lenkgerät (62) einen Flipflop-Spiegel aufweist.
  17. Vorrichtung nach Anspruch 11, bei der der Sensor ein Flächentypsensor (20) ist, der sowohl die reflektierten Strahlen als auch die transmittierten Strahlen erfasst.
  18. Vorrichtung nach Anspruch 11, bei der das Beleuchtungssystem (4, 12) periodisch aktiviert wird, um Lichtstrahlen hoher Intensität mit einer Dauer von weniger als 1 Millisekunde zu erzeugen.
  19. Vorrichtung nach Anspruch 18, bei der das Beleuchtungssystem (4, 12) periodisch mit einer Frequenz von mehr als 1 MHz aktiviert wird, um Lichtstrahlen hoher Intensität mit einer Dauer von weniger als 100 Mikrosekunden zu erzeugen.
  20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 19, bei der das Beleuchtungssystem (4, 12) einen periodisch aktivierten Laser aufweist.
  21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 20, bei der das Beleuchtungssystem Mittel zur Erzeugung der ersten und zweiten Lichtstrahlen mit UV-Licht aufweist.
DE69724711T 1996-07-16 1997-07-01 Verfahren und Vorrichtung zur optischen Kontrolle Expired - Fee Related DE69724711T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

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IL11887296A IL118872A (en) 1996-07-16 1996-07-16 Optical inspection method and apparatus
IL11887296 1996-07-16

Publications (2)

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DE69724711D1 DE69724711D1 (de) 2003-10-16
DE69724711T2 true DE69724711T2 (de) 2004-07-15

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