DE69517127T2

DE69517127T2 - Kippsensor, optische Platte, und Kippkompensierensverfahren zur Durchführung einer stabilen Kippkompensationsregelung, und Gerät zur Verwendung derselben

Info

Publication number: DE69517127T2
Application number: DE69517127T
Authority: DE
Inventors: Yoshihiro Mushika; Yoshiteru Namoto; Masayuki Shinoda
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1994-10-31
Filing date: 1995-10-30
Publication date: 2001-01-25
Anticipated expiration: 2015-10-31
Also published as: EP0709834A2; EP0709834B1; EP0709834A3; US5657303A; DE69517127D1

Description

Hintergrund der Erfindung

1. Gebiet der Erfindung:

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Gerät zur Durchführung der Aufzeichnung von Informationen und/oder der Reproduktion von Informationen für eine optische Platte, während ein Kippwinkel der optischen Platte unter Verwendung eines Kippsensors erfasst wird, wodurch eine Kippkompensationsregelung durchgeführt wird.

2. Beschreibung der verwandten Technik:

Wenn eine optische Platte, auf/von welcher Informationen aufgezeichnet/reproduziert werden, deformiert wird, fällt ein Lichtstrahl, der von einem optischen Auffnehmer emittiert wird, nicht vertikal auf eine Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte, wodurch eine Verschlechterung des Aufzeichnungs-/Reproduktionssignals hervorgerufen wird. Die Verschlechterung wird bei Geräten zum Aufzeichnen und Reproduzieren von hochdichten optischen Informationen unter Verwendung einer Objektivlinse mit einer großen numerischen Apertur (NA) bedenklich. Um eine solche Verschlechterung zu vermeiden, offenbaren beispielsweise die japanischen Patent-Offenlegungsschriften Nr. 61-160844 und 4-328332 ein Gerät zur Durchführung einer optischen Aufzeichnung von Informationen und/oder der optischen Reproduktion von Informationen für die optische Platte (im weiteren als Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen bezeichnet), bei welchem ein Kippsensor zur Detektion eines Kippwinkels der Aufzeichnungsoberfläche einer optischen Platte hinsichtlich einer optischen Achse eines optischen Aufnehmers vorgesehen wird. In diesen Patentveröffentlichungen wird, während der Durchführung einer Kippkompensationsregelung für die Winkeleinstellung eines optischen Aufnehmers, so dass der Ausgabewert des Kippsensors in einen vorbestimmten Bereich Fällt, das Aufzeichnen von Informationen und/oder die Reproduktion der Informationen durchgeführt.
Ein Kippsensor, der für ein optisches Gerät gemäß dem Oberbegriff des vorliegenden Anspruchs 1 geeignet ist, ist aus der Zusammenfassung der TP-A-63 069 029 bekannt, welche einen Kippsensor offenbart, der eine LED umfasst, um fokussiertes Licht auf eine optische Platte zu projizieren. Das reflektierte Licht wird zu Lichtaufhahmeelementen geführt, welche elektrische Signale ausgeben, die die Neigung der optischen Platte anzeigen und damit eine Detektion der Plattenneigung gestatten.
Ein weitverbreiteter Kippsensor umfasst: eine lichtemittierende Diode, die als Lichtquelle dient; eine Fotodiode mit zwei Lichtaufnahmeabschnitten (im weiteren als zweigeteilte Fotodiode bezeichnet, die als ein Paar lichtaufnehmende Elemente dienen; und eine asphärische Linse, die auf der lichtemittierenden Seite der Lichtquelle ausgebildet ist, um das von der Lichtquelle emittierte Licht im wesentlichen zu kollimieren, wobei alle diese Bestandteile integral ausgebildet sind, um so den Kippsensor auszubilden. Der kollimierte Lichtstrahl, der aus dem Kippsensor emittiert wird, wird durch die Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte reflektiert. Das reflektierte Licht wird durch die zweigeteilte Fotodiode des Kippsensors erfasst und das Differenzsignal, das aus der Ausgabe der Licht-aufnehmenden Abschnitte der Fotodiode erhalten wird, wird als Kippkompensationssignal verwendet. Im allgemeinen wird die Verstärkung des Kippsensors so eingestellt, dass die Ausgabe des Differenzsignals des Kippsensors Null wird, wenn die Aufzeichnungsoberfläche der optischen Scheibe vertikal zur optischen Achse des optischen Aufnehmers liegt.
Ein herkömmlicher Kippsensor ist beispielsweise in der japanischen Patent-Offenlegungsschrift Nr. 2-218027 offenbart. Die Fig. 16 zeigt die Ausbildung eines solchen herkömmlichen Kippsensors 101. Der Kippsensor 101 ist auf einem flexiblen Substrat 103 befestigt und elektrisch mit einer Kippkompensationsschaltung (nicht gezeigt) durch das flexible Substrat 103 verbunden. Das flexible Substrat 103 ist an der oberen Oberfläche einer Metallblattfeder 104 angebracht und fixiert, so dass der Kippsensor 101 einer optischen Platte 102 zugewandt ist. Die Metallblattfeder 104 ist auf einer Basis 105 des optischen Aufnehmers durch das Anziehen einer Fixierungsschraube 106 fixiert, wodurch der Kippsensor 101 auf der Basis 105 fixiert wird.
Beim Zusammenbau des Kippsensors 101 wird der Kippsensor auf der Basis 105 fixiert, und zwar nachdem eine Nullpunkt-Abweichungseinstellung zum Einstellen der Verstärkung des Kippsensors 1 so durchgeführt wurde, dass die Differenzausgabe zwischen dem Paar der lichtaufnehmenden Elemente Null wird, wenn das Licht, das durch eine optische Platte 102 in einem Idealzustand (d. h. eine Standardplatte ohne Deformation) reflektiert wird, durch die lichtaufnehmenden Elemente empfangen wird, Null wird. Diese Einstellung kann durch das Anziehen oder Lösen einer Einstellungsschraube 107 durchgeführt werden. Durch das Anziehen oder Lösen der Einstellungsschraube 107 wird die Metallblattfeder 104 zwischen den Positionen 104a und 104b, die durch die unterbrochenen Linien in Fig. 16 angedeutet sind, ausgelenkt, und deshalb bewegt sich der Kippsensor 101 zwischen den Positionen 101a und 1011. Der Kippsensor 101 wird an der Basis 105 angebracht, nachdem der Winkel eingestellt wurde, der zwischen dem Kippsensor 101 und der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 102 ausgebildet wird, und zwar in dem Bereich von θ1 bis θ2 durch das Auslenken der Metallblattfeder 104, so dass die Differenzausgabe Null wird.
Durch das Einbinden des Kippsensors in eine solche Ausbildung, kann die Nullpunkt- Abweichungseinstellung durchgeführt werden, bei welcher die Ausgänge des Paars der lichtaufnehmenden Elemente abgeglichen werden können, wenn das Licht, das von der undeformierten optischen Platte 102 reflektiert wird, durch das Paar der lichtaufnehmenden Elemente empfangen wird, und dann wird der Anbringungswinkel des Kippsensors 101 so eingestellt, dass die Differenzausgabe zwischen dem Paar der lichtaufnehmenden Elemente Null wird.
Als nächstes wird unter Bezugnahme auf die Fig. 17 das Positionsverhältnis zwischen den Lichtpunkten beschrieben werden, die auf der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte durch den optischen Aufnehmer und den Kippsensor ausgebildet werden.
Die optische Platte 102 umfasst: einen Informationsaufzeichnungsbereich 102a, in welchem Vertiefungen oder Rillen ausgebildet werden; sowie Spiegelabschnitte 102b, welche keine Vertiefungen oder Rillen umfassen und an dessen Innenseite und Außenseite ausgebildet sind. Der Informationsaufzeichnungsbereich 102a besteht aus: einem Einlesebereich 102c; einem Programmbereich 102d; und einem Auslesebereich 102e. Im allgemeinen liegt ein Directory zum Verwalten der im Programmbereich 102d gespeicherten Informationen im Einlesebereich 102c vor, und deshalb bewegt sich der optische Aufnehmer zunächst so, dass er dieses Directory ausliest. Der Auslesebereich 102e ist für den Fall vorgesehen, wo der optische Aufnehmer versehentlich aus dem Programmbereich 102d heraus bewegt wird. In einem solchen Fall liest der optische Aufnehmer die Adresse des Auslesebereichs 102e, wodurch der optische Aufnehmer zum Programmbereich 102d zurückkehrt. Deshalb bewegt sich der optische Aufnehmer normalerweise in dem Einlesebereich 102c und in dem Programmbereich 102d.
Das Zentrum des Lichtpunktes 110a, der durch den Lichtstrahl ausgebildet wird, welcher von dem Kippsensor 101 emittiert wird, ist aus dem Mittelpunkt des Lichtpunktes 105a ausgelenkt, der durch den Lichtstrahl ausgebildet wird, welcher von dem optischen Aufnehmer emittiert wird, und zwar in einer Richtung im wesentlichen senkrecht zur Radialrichtung B der optischen Platte. Es ist wünschenswert, dass das Zentrum der optischen Achse des optischen Aufnehmers mit dem Zentrum der optischen Achse des Kippsensors 101 übereinstimmt. Jedoch tritt etwas Abweichung ein, um die mechanische Unterbrechung zwischen dem Kippsensor 101 und den Bauteilen des optischen Aufnehmers zu vermeiden, wie zum Beispiel der Objektivlinse und einer Objektivlinsen-Betätigung. Deshalb ist das Zentrum des Lichtpunktes 101a aus dem Zentrum des Lichtpunktes 105a ausgelenkt.
Wie ebenfalls in Fig. 17 gezeigt ist, ist der Lichtpunkt 110a aus der Richtung senkrecht zur Richtung B leicht zur Innenseite in Bezug auf das Zentrum des Lichtpunktes 105a ausgelenkt, so dass der Lichtpunkt 110a tatsächlich auf derselben Spur angeordnet ist, wo der Lichtpunkt 105a angeordnet ist. Dies liegt daran, dass angenommen wird, dass eine präzisere Kippkompensation durchgeführt werden kann, wenn das Zentrum des Lichtpunktes 110a auf derselben Spur angeordnet ist, wie der Lichtpunkt 105a. Da jedoch die Abweichung des Lichtpunktes 110a von der Richtung senkrecht zur Richtung B sehr gering ist, kann der Lichtpunkt 110a als einer angesehen werden, der in einer Richtung im wesentlichen vertikal zur Richtung B gegenüber dem Lichtpunkt 105a verschoben ist.
Der typische Durchmesser des Lichtstrahles, der von dem Kippsensor 101 emittiert wird, wird bis zu 5 mm groß. Deshalb tritt, in dem Fall, wo die Lichtpunkte 105a und 110a an solchen Positionen angeordnet werden, wenn der Lichtpunkt 105a an dem innersten Umfang des Einlesebereiches 102c des Informationsaufzeichnungsbereiches 102a angeordnet ist, wie in Fig. 17 gezeigt ist, ein Teil des Lichtpunktes 110a möglicherweise in den Spiegelabschnitt 102b ein. In gleicher Weise tritt, wenn der Lichtpunkt 105a an dem äußersten Umfang des Programmbereiches 102d des Informationsaufzeichnungsbereiches 102a angeordnet ist, ein Teil des Lichtpunktes 110a möglicherweise in den Spiegelabschnitt 102b ein.
Da der Lichtstrahl, welcher von dem Kippsensor 101 emittiert worden ist und durch den Informationsaufzeichnungsbereich 102a reflektiert wird, durch die Vertiefungen oder die Rillen des Informationsaufzeichnungsbereiches 102a gestreut wird, wird die Menge des Lichtes, die durch die lichtaufnehmenden Elemente des Kippsensors 101 aufgenommen wird, geringer, und zwar im Vergleich mit dem Lichtstrahl, der durch den Spiegelabschnitt 102b reflektiert wird. Deshalb wird, in dem Fall, wo der Lichtpunkt 110a, der durch den Kippsensor 101 ausgebildet wird, teilweise in dem Spiegelabschnitt 102b vorliegt, die Menge des Lichtes, das durch eines aus dem Paar der lichtaufnehmenden Elemente des Kippsensors 101 aufgenommen wird, verschieden sein von der Menge des Lichtes, das durch das andere lichtaufnehmende Element aufgenommen wird, so dass ein Differenzsignal-Ausgang erzeugt wird. Wenn die Kippkompensationsregelung in einem solchen Zustand durchgeführt wird, tritt leicht ein Fehler bei der Aufzeichnung und Wiedergabe auf, weil der optische Aufnehmer den Lichtstrahl nicht senkrecht zum optischen Aufnehmer hin richten kann.
Um diesen Fehler zu vermeiden, wird, wie in der japanischen Gebrauchsmusterveröffentlichung Nr. 3-13684 offenbart, die Kippkompensationsregelung unmittelbar aufgehoben, bevor ein Teil des Lichtpunktes 110a in den Spiegelabschnitt 102b eintritt, und dieser Zustand wird als ein Zustand aufrechterhalten, wo die normale Kippkompensationsregelung durchgeführt wird, oder eine Interpolation wird durchgeführt, basierend auf den Kippkompensationsregelungsdaten, die vorher in dem Gerät zur Aufzeichnung und Wiedergabe optischer Informationen gespeichert wurden.
Andererseits ist kürzlich ein Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion von Informationen mit hoher Dichte und hoher Kapazität entwickelt worden, welches die Aufzeichnung und/oder die Reproduktion für eine optische Platte vom phasenveränderten Typ durchführt.
Als wiederbeschreibbare optische Platte zum Aufzeichnen, Reproduzieren und Löschen eines Signals darauf/davon, ist eine optische Platte vom Phasenübergangstyp bekannt, die eine Chalcogel-Verbindung als Material des dünnen Aufzeichnungsfilms verwendet. Im allgemeinen wird, wenn ein Dünnfilm-Aufzeichnungsmaterial sich in einem kristallinen Zustand befindet, dieser Zustand als aufzeichnungsloser Zustand angesehen, und ein Signal wird auf dem Aufzeichnungsdünnfilm durch das Bestrahlen des Aufzeichnungsdünnfilms mit Laserlicht aufgezeichnet, um das Material zu schmelzen und zu kühlen, um so das Material zu einem amorphen Zustand hin zu verändern. Andererseits wird in dem Fall, wo das aufgezeichnete Signal gelöscht wird, die Temperatur des Aufzeichnungsdünnflimes dadurch erhöht, dass der Dünnfilm mit einem Laserlicht mit geringerer Energie als das Licht, das beim Aufzeichnen verwendet wird, bestrahlt wird, und das Dünnfilmmaterial wird wieder in einem kristallinen Zustand zurückgeführt.
Als Material für den Aufzeichnungsdünnfilm wird im allgemeinen ein Material verwendet, welches hauptsächlich aus Te, In, Sb, Se oder ähnlichem aufgebaut ist, und dessen Phase zwischen dem amorphen Zustand und dem kristallinen Zustand hin- und zurückgeändert werden kann, oder ein Material, bei welchem der Phasenübergang reversibel durch zwei verschiedene Arten von Kristallstrukturen bewirkt wird. Eine solche Aufzeichnung vom Phasenübergangstyp hat einen Vorteil darin, dass ein Informationssignal unter Verwendung eines einzigen Laserstrahls als Aufzeichnungsinstrument überschrieben werden kann. Dies bedeutet, dass durch das Modulieren der Laser-Ausgangsleistung zwischen einem Aufzeichnungspegel und einem Löschpegel gemäß dem Informationssignal und durch das Bestrahlen der Spur, auf welcher die Information schon mittels Laserlicht aufgezeichnet wurde, ein neues Signal aufgezeichnet werden kann, während das vorherige Informationssignal gelöscht wird. Die oben beschriebene optische Platte vom Phasenübergangstyp ist beispielsweise in der japanischen Patentveröffentlichung Nr. 56-145530 offenbart.
Für ein Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen, zum Aufzeichnen und Reproduzieren von Informationen auf/von einer optischen Platte vom Phasenübergangstyp, wird eine optische Platte vom Phasenübergangstyp mit einer Kapazität von ungefähr 500 MB und einem Durchmesser von 130 mm oder weniger verwendet. Das optische System eines solchen Gerätes ist so ausgelegt, dass der Kippwinkel, der zwischen der optischen Platte und der optischen Achse des Aufzeichnungs-/Reproduktions-Laserstrahls gebildet wird, keine Probleme aufwirft, sogar wenn die Deformation der optischen Scheibe ungefähr 0,3 mm beträgt, und die Grenzen zum Aufzeichnen und Reproduzieren sind gesichert. Deshalb umfasst ein solches Gerät keine Funktion zum Kompensieren des Kippwinkels zwischen der optischen Platte und der optischen Achse des Laserstrahls.
Jedoch weist das oben beschriebene Gerät zum Aufzeichnen und Reproduzieren von optischen Informationen die folgenden Probleme auf:
Zunächst variiert in dem Fall, wo der Kippsensor mit einer Ausbildung, wie sie in Fig. 16 gezeigt wird, verwendet wird, die Nullpunktverschiebungseinstellung den Abstand zwischen dem Kippsensor und der optischen Platte. Speziell wird durch das Anziehen oder Lösen der Einstellungsschraube 107 der Abstand L zwischen dem Kippsensor 101 und der optischen Platte 102 in dem Bereich von ΔLa bis ΔLb variiert. Eine solche Variation wird eines der Hindernisse für das Reduzieren der Dicke eines Gerätes zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen. Außerdem wird, wenn die Verstärkung des Kippsensors eingestellt wird, die Empfindlichkeit der lichtaufnehmenden Elemente des Kippsensors zum Ungünstigen hin variiert. Deshalb muss, in Hinsicht auf diese Variation in der Empfindlichkeit, die Verstärkungseinstellungsbreite der Kippkompensationsschaltung (nicht gezeigt) groß sein.
Bei einer großen optischen Platte mit einem Durchmesser von bis zu 300 mm, beispielsweise einer Laserdisk, kann die Kippkompensationsregelung in einem ausreichend großen Bereich der. Platte durchgeführt werden, während bei einer kleinen optischen Platte mit einem Durchmesser von 130 min oder weniger, diese nur in einem extrem kleinen Bereich der Disk durchgeführt werden kann. Darüber hinaus wird bei einer optischen Platte mit einer großen Deformation der Kippwinkel graduell vom inneren Umfang zum äußeren Umfang hin größer. In einem Fall, wo die Kippkompensationsregelung in dem äußeren Bereich der Platte nicht durchgeführt wird, wie bei dem Verfahren, das in der japanischen Gebrauchsmusterveröffentlichung Nr. 3-13864 offenbart wird, wird demnach der Kippwinkel einer wirklichen Platte sich von dem interpolierten Kippwinkel eines optischen Aufnehmers unterscheiden. Je geringer der Durchmesser der optischen Platte ist, desto größer ist der Einfluss dieses Unterschiedes. Deshalb tritt bei einer kleinen optischen Platte mit einem Durchmesser von 130 mm oder weniger leicht ein Fehler auf, wenn die Aufzeichnung oder die Reproduktion durchgeführt wird. Außerdem kann ein Gerät zur Wiedergabe einer optischen Platte die Information, die auf einer optischen Platte aufgezeichnet ist, nicht reproduzieren, wenn das Gerät das Directory nicht lesen kann, welches in dem Einlesebereich der optischen Platte gespeichert ist, und ein solcher Fall wird als Plattenfehler angesehen.
Andererseits wird bei einem Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen zum Aufzeichnen/Reproduzieren auf/von einer optischen Platte vom Phasenübergangstyp ein Mechanismus zum Detektieren und Kompensieren des Kippens der Platte nicht vorgesehen, wie oben beschrieben wurde. Wenn jedoch die Aufzeichnungskapazität durch das Steigern der Aufzeichnungsdichte erhöht wird, ist es auch dann effektiv, eine Kippkompensationsregelung durchzuführen, wenn kleine optische Platten mit einem Durchmesser von 130 mm oder weniger verwendet werden. Bei einer optischen Platte vom Phasenübergangstyp, wird die Information durch das Verwenden der Differenzen der Reflexionsfähigkeit zwischen dem Kristallabschnitt und dem amorphen Abschnitt aufgezeichnet und/oder reproduziert. Jedoch beeinflusst diese Differenz in der Reflexionsfähigkeit die Detektion der Verkippung der optischen Platte negativ. Dies bedeutet, dass die Menge des Lichts, das durch die optische Platte reflektiert wird, variiert wird, wenn der Lichtpunkt, welcher durch den Kippsensor ausgebildet wird, die Grenze zwischen dem kristallinen Abschnitt und dem amorphen Abschnitt überschreitet. Deshalb werden, wenn der Kippwinkel der Platte vom Phasenübergangstyp durch den oben beschriebenen Kippsensor erfasst werden soll, die Ausgänge des Paares der lichtaufnehmenden Elemente des Kippsensors unterschiedlich voneinander, obwohl die optische Platte nicht verkippt worden ist. Als Resultat gibt der Kippsensor ein Differenzsignal beim Überschreiten der Grenze zwischen dem kristallen Abschnitt und dem amorphen Abschnitt aus, als wenn die optische Platte eine Verkippung aufwiese, und folglich wird ein Fehler in der Kippkompensationsregelung hervorgerufen.

Zusammenfassung der Erfindung

Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein Gerät für eine optische Platte bereitgestellt, mit einem Kippsensor zum Bestrahlen einer optischen Platte mit einem Lichtstrahl und zum Erfassen einer Verkippung der optischen Platte hinsichtlich eines optische Aufnehmers, basierend auf dem Lichtstrahl, der von der optischen Platte reflektiert wird, und zwar gemäß dem Patentanspruch 1, dessen Oberbegriff die JP-A-63 069 029 widerspiegelt. Die optische Platte ist vom Phasenübergangstyp mit kristallisierten Abschnitten und amorphen Abschnitten. Der Kippsensor umfasst: eine Lichtquelle zum Emittieren von divergentem Licht; mindestens ein Paar lichtaufnehmende Elemente zum Aufnehmen des reflektierten Lichtstrahles und zum Ausgaben von Signalen, die verwendet werden, um ein Signal zu erhalten, das die Verkippung der optischen Platte gemäß der Lichtmenge des aufgenommenen Lichtstrahls anzeigt, wobei die lichtaufnehmenden Elemente in einer vorbestimmten Richtung angeordnet sind; und Kollimierungseinrichtungen zum Umwandeln des divergenten Lichtes durch das Überführen des divergenten Lichtes in ein im wesentlichen kollimiertes Licht, und zum Richten des im wesentlichen kollimierten Lichtes auf die optische Platte als Lichtstrahl. Die Lichtquelle emittiert das divergente Licht mit einer Wellenlänge in einem vorbestimmten Bereich, und für Licht mit einer Wellenlänge in dem vorbestimmten Bereich ist das Reflexionsvermögen an den kristallisierten Abschnitten im wesentlichen gleich demjenigen an den amorphen Abschnitten, und zwar für das Licht mit dieser Wellenlänge.
Bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfasst das Gerät für die optische Platte ferner Blendeneinrichtungen zum Begrenzen der Breite des Lichtstrahls in der vorbestimmten Richtung.
Bei einer anderen Ausführungsform umfasst die Blendeneinrichtung eine Schlitzplatte mit einer Öffnung, die in der Umgebung eines Bereichs der Kollimierungseinrichtung vorgesehen ist, wo der Lichtstrahl austritt.
Bei noch einer anderen Ausführungsform umfasst das Gerät für die optische Platte ferner eine Linse, die auf einer optischen Bahn des divergenten Lichtes vorgesehen ist, welches von der Lichtquelle emittiert wird, wobei die Linse einen lichtdurchlässigen Abschnitt umfasst, der es einem Teil des divergenten Lichtes gestattet, dort hindurchzugehen, und einen lichtunterbrechenden Abschnitt, um den restlichen Teil des divergenten Lichtes zu unterbrechen, wobei der lichtdurchlässige Abschnitt als Kollimierungseinrichtung dient und der lichtunterbrechende Abschnitt als Blendeneinrichtung dient.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Gerät zum optischen Aufzeichnen von Informationen und/oder Reproduzieren bzw. Wiedergeben von Informatio nen für eine optische Platte mit einer Aufzeichnungsoberfläche bereitgestellt, welches einen solchen Sensor verwendet. Das Gerät umfasst: einen optischen Aufnehmer zum Ausbilden eines ersten Lichtpunktes auf der Aufzeichnungsoberfläche; Transporteinrichtungen zum bidirektionalen Transportieren des optischen Aufnehmers in einer Radialrichtung der optischen Platte; das oben genannte Gerät für eine optische Platte, zum Erfassen eines Kippwinkels der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte hinsichtlich einer optischen Achse des optischen Aufnehmers; und Kippkompensationseinrichtungen zum winkeligen Einstellen des optischen Auffnehmers, basierend auf dem erfassten Kippwinkel, um so die optische Achse des optischen Aufnehmers senkrecht zur Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte einzustellen.
Bei einem Gerät zur Aufzeichnung und Wiedergabe optischer Informationen mit der oben beschriebenen Ausbildung gemäß der vorliegenden Erfindung ist es möglich, den Fehler, der beim Erfassen der Verkippung an dem innersten Umfang und dem äußersten Umfang der Aufzeichnungsoberfläche bei einer herkömmlichen kleinen optischen Platte mit einem Durchmesser von 130 mm oder weniger auftritt, zu eliminieren. Als Resultat können Informationen befriedigender auf/von einer optischen Platte aufgezeichnet/wiedergegeben werden, welcher eine höhere Dichte im Vergleich mit einer herkömmlichen hat. Außerdem kann durch das Bereitstellen eines Kipperfassungsbereiches in dem äußeren Abschnitt der Aufzeichnungsoberfläche einer optischen Platte oder durch das Begrenzen der Apertur des Kippsensors für den Lichtstrahl, ein Kippkompensierungsbereich verbreitert werden und eine Kippkompensationsregelung kann stabiler durchgeführt werden. Darüber hinaus kann durch das geeignete Einstellen der Emissionswellenlänge des Kippsensors eine Kippkompensationsregelung in Hinsicht auf eine optische Platte vom Phasenänderungstyp sicher durchgeführt werden, wodurch eine hochdichte Aufzeichnung und Wiedergabe im Vergleich mit herkömmlichen Geräten realisiert wird. Ferner ist es durch das Durchführen einer Nullpunktverschiebungseinstellung während des Drehens des Kippsensors hinsichtlich eines Punktes der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte, an welchem der Lichtstrahl den Lichtpunkt ausbildet, möglich, die Variation in der Empfindlichkeit zu eliminieren, welche durch die Nullpunktverschiebungseinstellung hervorgerufen wird, und die Dicke des Gerätes zu verringern.
Somit ermöglicht die hier beschriebene Erfindung die folgenden Vorteile: (1) Bereitstellung eines Gerätes zur Aufzeichnung und Reproduktion bzw. Wiedergabe optischer Informationen mit einem Kippsensor, der eine hochpräzise Kippkompensationsregelung in einem breiteren Bereich gestattet, welcher für eine optische Platte zum Aufzeichnen und Reproduzieren geeignet anwendbar ist, wie zum Beispiel eine kleine optische Platte mit einem Durchmesser von 130 mm oder weniger und speziell eine optische Platte vom Phasenübergangstyp, und (2) Bereitstellung eines Kippsensors, eines Kippkompensationsverfahrens und einer Platte mit einer Struktur, die für die Kippkompensation geeignet ist, welche für diesen Zweck verwendet werden.
Diese und andere Vorteile der vorliegenden Erfindung werden für Fachleute beim Lesen und Verstehen der folgenden detaillierten Beschreibung unter Bezugnahme auf die beiliegenden Figuren ersichtlich.

Kurze Beschreibung der Zeichnungen

Fig. 1 ist eine Aufsicht eines Gerätes zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen gemäß einem ersten Beispiel der vorliegenden Erfindung.
Fig. 2 ist eine Querschnittsansicht des Gerätes zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen gemäß dem ersten Beispiel, abgenommen entlang einer Linie A-A' in Fig. 1.
Fig. 3 ist eine vergrößerte Seitenansicht, die einen Kippsensor und dessen umgebende Abschnitte im Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen nach dem ersten Beispiel zeigt.
Fig. 4A ist eine vergrößerte Aufsicht des Kippsensors nach dem ersten Beispiel, während die Fig. 4B eine vergrößerte Seitenansicht davon ist.
Fig. 5 ist eine Aufsicht, die das Positionsverhältnis zwischen den Lichtpunkten zeigt, die durch den Kippsensor und den optischen Aufnehmer auf der optischen Platte ausgebildet werden, und zwar beim ersten Beispiel.
Fig. 6 ist eine Querschnittsansicht, die eine Ausbildung für ein Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen gemäß einem zweiten Beispiel nach der vorliegenden Erfindung zeigt.
Fig. 7 ist eine Aufsicht, die das Positionsverhältnis zwischen den Lichtpunkten zeigt, die durch den Kippsensor und den optischen Auffnehmer auf der optischen Platte ausgebildet werden, und zwar beim zweiten Beispiel.
Fig. 8 ist eine Aufsicht, die schematisch eine optische Platte zeigt.
Fig. 9 ist eine Aufsicht, die schematisch eine andere optische Platte zeigt.
Fig. 10A ist eine Querschnittsansicht, die eine Ausbildung für einen Kippsensor gemäß einem fünften Beispiel nach der vorliegenden Erfindung zeigt, während die Fig. 10B eine Aufsicht davon ist.
Fig. 11 ist eine Aufsicht, die das Positionsverhältnis zwischen den Lichtpunkten zeigt, die durch den Kippsensor und den optischen Aufnehmer auf der optischen Platte ausgebildet werden, und zwar beim fünften Beispiel.
Fig. 12A ist eine Aufsicht, die eine Ausbildung für einen Kippsensor gemäß einem modifizierten Beispiel nach dem fünften Beispiel der vorliegenden Erfindung zeigt, während die Fig. 12B eine Seitenansicht davon ist.
Fig. 13A ist eine Aufsicht, die eine Ausbildung für einen Kippsensor gemäß einem weiteren modifizierten Beispiel nach dem fünften Beispiel der vorliegenden Erfindung zeigt, während die Fig. 13B eine Seitenansicht davon ist.
Fig. 14 ist eine vergrößerte Querschnittsansicht, welche die Schichtstruktur einer optischen Platte vom Phasenübergangstyp zeigt.
Fig. 15 ist ein Graph, der die Spektralreflexions-Verteilungskennlinien der optischen Platte vom Phasenübergangstyp im kristallinen Zustand und im amorphen Zustand zeigt.
Fig. 16 ist eine vergrößerte Seitenansicht, die einen Kippsensor und seine umgebenden Abschnitte bei einem herkömmlichen Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen zeigt.
Fig. 17 ist eine Aufsicht, die das Positionsverhältnis zwischen den Lichtpunkten zeigt, die durch den Kippsensor und den optischen Aufnehmer auf der optischen Platte ausgebildet werden, und zwar bei einem herkömmlichen Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen.

Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen

Im Weiteren wird die vorliegende Erfindung anhand erläuternder Beispiele unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen beschrieben.

Beispiel 1

Die Fig. 1 ist eine Aufsicht auf ein Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen gemäß der vorliegenden Erfindung, während die Fig. 2 eine Querschnittsansicht des Gerätes zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen ist, abgenommen entlang der einpunktigen, unterbrochenen Linie A-A', die in Fig. 1 gezeigt ist.
Wie in den Fig. 1 und 2 gezeigt ist, umfasst ein Drehteller 2 einen konvexen Abschnitt 2a zum Verschieben eines Schließers (nicht gezeigt) einer optischen Platte 4, um die Aufzeichnung oder Reproduktion vorzubereiten, und eine Befestigungsebene 2b zum Befestigen der optischen Platte 4 darauf, und er ist in eine Welle eines Scheibenantriebsmotors 3 eingepasst, die an einem Antriebssubstrat 1 installiert ist. Der Drehteller 2 dreht sich integral mit dem Plattenantriebsmotor 3 mit der darauf befestigten optischen Platte 4.
Führungsachsen 6a und 6b sind an einem Zusatzsubstrat 5 über die Achsenfixierungsbauteile 10a, 10b, 10c und 10d fixiert, wodurch sie einen optischen Aufnehmer 9 so zurückhalten, dass der optische Aufnehmer 9 entlang der Führungsachsen 6a und 6b gleiten kann. Eine Transportführungsschraubenachse 7 wird drehbar durch die Klammerbauteile 11 und 12 gehalten, und sie ist über dem Zusatzsubstrat 5 befestigt. Die Transportführungsschraubenachse 7 ist mit einem Eingriffsabschnitt 9a des optischen Aufnehmers 9 in Eingriff und hat ein Zahnrad 13 in einem ihrer Endabschnitte. Ein Transportmotor 8 ist an dem Klammerbauteil 12 befestigt. Der Transportmotor 8 dreht die Transportführungsschraubenachse 7 in Vorwärts- und Rückwärtsrichtung durch eine Drehkraft, welche durch den Motor 8 erzeugt und über die Zahnräder 14 und 15 auf das Zahnrad 13 übertragen wird, so dass der Motor 8 den optischen Aufnehmer 9 bidirektional in der Radialrichtung B der optischen Platte 4 transportiert. Wie oben beschrieben, sind der optische Aufnehmer 9 und der Transportmechanismus zum Transportieren des optischen Aufnehmers 9 an dem Zusatzsubstrat 5 befestigt.
Das Zusatzsubstrat 5 hat Trägerachsen 16 und 17 an seinen beiden Seiten in der Richtung vertikal zu der Bewegungsrichtung B des optischen Aufnehmers 9. Die Trägerachsen 16 und 17 sind an dem Antriebssubstrat 1 über die Bauteile 18b und 18a jeweils befestigt, um so die daran befestigten Abschnitte schwenkbar in der Richtung herum zu bewegen, die durch den Pfeil C in Fig. 2 angedeutet ist. Das Zusatzsubstrat 5 wird über eine Dehnfeder 19 zum Antriebssubstrat 1 hin vorgespannt.
Eine Objektivlinse 9c wird für einen Betätigungsabschnitt 9b des optischen Aufnehmers 9 bereitgestellt. Die Objektivlinse 9c ist durch Haltebauteile (nicht gezeigt), zum Beispiel vier Drähte, so befestigt, dass sie sich gerade in einer Fokussierungsrichtung vertikal zur Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 4 und in einer Spurrichtung parallel zur Radialrichtung B der optischen Platte 4 jeweils bewegt. Der optische Aufnehmer 9 umfasst: eine Lichtquelle, wie zum Beispiel einen Laser zur Erzeugung eines Lichtstrahles, der auf die optische Platte 4 gestrahlt wird, um Informationen aufzuzeichnen und/oder zu reproduzieren; ein optisches System zum Führen des Lichtstrahles von der Lichtquelle zur Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 4 durch die Objektivlinse 9c und zum Führen des Lichtes, das von der optischen Platte 4 reflektiert wird, zu den lichtaufnehmenden Elementen; und die lichtaufnehmenden Elemente (alle diese Bauteile sind nicht gezeigt).
Ferner wird ein Kippsensor 20 für den optischen Aufnehmer 9 zur Verfügung gestellt. Die Fig. 3 ist eine vergrößerte Seitenansicht, die den Kippsensor 20 und die umgebenden Abschnitte zeigt, während die Fig. 4A und 4B vergrößerte Ansichten sind, welche den Kippsensor 20 alleine zeigen. Die Fig. 4A ist eine vergrößerte Aufsicht davon; und die Fig. 4B ist eine vergrößerte Seitenansicht davon.
Der Kippsensor 20 umfasst: eine lichtemittierende Diode 20a, die als Lichtquelle dient; ein Paar Fotodioden 20b und 20c, welche als ein Paar lichtaufnehmender Elemente dienen und entlang der Radialrichtung der optischen Platte 4 angeordnet sind; und eine asphärische Linse 20d, die eine Oberfläche umfasst, welche eine Krümmung hat, um das Licht, das von der Lichtquelle emittiert wird, zu einem im wesentlichen kollimierten Lichtfluss umzuwandeln und diesen Lichtfluss auf die Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 4 zu strahlen. Alle diese Bauteile sind integral ausgebildet, um so den Kippsensor 20 auszubilden. Wenn das Licht, das durch die optische Platte 4 reflektiert wird, auf die lichtaufnehmenden Elemente 20b und 20c auftrifft, werden die Ausgänge der lichtaufnehmenden Elemente 20b und 20c einem Differenzverstärker 20e zugeführt, der in Fig. 4A gezeigt ist, wo die Differenz zwischen den Ausgängen des lichtaufnehmenden Elements 20b und des lichtaufnehmenden Elements 20c erhalten wird. Der Ausgang des Differenzverstärkers 20e wird einer Kippkompensations-Servoschaltung (nicht gezeigt) zugeführt, so dass der Kippwinkel der optischen Platte 4, basierend auf dem Ausgang des Differenzverstärkers 20e darin erfasst wird.
Der Kippsensor 20 ist an einem flexiblen Bleisubstrat 21 mit einem Klebemittel und Lot befestigt und das flexible Bleisubstrat 21 haftet an der oberen Oberfläche einer Sensorbasis 22. Auf diese Weise wird der Kippsensor 20 integral an der Sensorbasis 22 installiert. Ein Bogenoberflächenabschnitt 22a mit einem Radius R von einem Punkt der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 4, in welchem der Lichtpunkt durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, ist an dem Boden der Sensorbasis 22 vorgesehen. Die Sensorbasis 22 wird auf dem optischen Aufnehmer 9 durch Schrauben 23 und 24 und einer Blattfeder 25 installiert, so dass der Bogenoberflächenabschnitt 22a in Kontakt mit dem Kippsensorbefestigungsabschnitt 9d der oberen Oberfläche des optischen Aufnehmers 9 ist. Deshalb dient bei diesem Beispiel der optische Aufnehmer 9 als eine Basis, auf welcher der Kippsensor montiert ist. Alternativ kann separat vom optischen Aufnehmer 9 eine Basis zum Montieren des Kippsensors darauf vorgesehen werden. Jedoch kann, wenn der Kippsensor 20 an dem optischen Aufnehmer 9 montiert ist, wie dies in diesem Beispiel der Fall ist, die Ausbildung des Installationsabschnittes des Kippsensors 20 vereinfacht werden, und der Kippsensor 20 kann immer zusammen mit dem optischen Aufnehmer 9 transportiert werden, ohne das Positionsverhältnis zwischen dem Kippsensor 20 und dem optischen Aufnehmer 9 zu verändern.
Beim Installieren des Kippsensors 20 auf dem Kippsensormontageabschnitt 9d kann der Kippsensor 20 winkelig hinsichtlich der optischen Platte 4 in der Richtung eingestellt werden, die durch den Pfeil D in Fig. 3 angedeutet ist, und zwar durch das Drehen der Schraube 23. Da der Kippsensor 20 einen Fabrikationsfehler aufweist, wird der Differenzausgang des Kippsensors 20 sogar dann nicht Null, wenn die Platte keine Deformation aufweist. Deshalb ist es beim Installieren des Kippsensors 20 auf dem Kippsensormontageabschnitt 9d notwendig, den Kippsensor 20 winkelig einzustellen, so dass der Differenzausgang des Kippsensors 20 Null wird. Diese Einstellung entspricht der Nullpunktverschiebungseinstellung. Die Größe der Verkippung des Kippsensors wird als eine der Anforderungen angezeigt, die notwendig sind, um ihn voll funktionsfähig zu machen. Um die Verkippung der Platte mit hoher Präzision zu erfassen, sind die obige Nullpunktverschiebungseinstellung und eine Anordnung zur Realisierung dieser Einstellung notwendig.
Im Allgemeinen ändert sich die Empfindlichkeit eines lichtaufnehmenden Elementes, wie zum Beispiel einer Fotodiode, mit dem Abstand zwischen dem Element und einer Quelle, die das Licht emittiert, das durch das Element aufgenommen werden soll. In dem Fall der Verwendung eines solchen lichtauffnehmenden Elements in dem Kippsensor, bewirkt die Veränderung des Abstandes zwischen der optischen Platte und dem Kippsensor nicht nur eine Veränderung des Abstandes zwischen der optischen Platte und dem lichtaufnehmenden Element, sondern ebenfalls eine Veränderung des Abstandes zwischen der Lichtquelle und der optischen Platte. Deswegen beeinträchtigt die Veränderung des Abstandes zwischen der optischen Platte und dem Kippsensor die Empfindlichkeit des lichtaufnehmenden Elementes des Kippsensors merklich. Demgemäß wird bei einer herkömmlichen Ausbildung, die in Fig. 16 gezeigt ist, wo der Kippsensor an einem Ende der Metallblattfeder befestigt ist, das andere Ende der Metallfeder und der Winkel zwischen dem Kippsensor und der optischen Platte durch das Deformieren der Metallblattfeder fixiert, so dass notwendig ist, die Veränderung des Abstandes zwischen dem Kippsensor und der optischen Platte in einer Schaltungssektion zur Erfassung des Verkippungsgrades mit einzubeziehen, zu welcher der Ausgang des Sensors zugeführt wird.
Andererseits kann bei diesem Beispiel die Nullpunktverschiebungseinstellung nur dadurch vorgenommen werden, dass der Winkel des Kippsensors 20 hinsichtlich der optischen Platte 4 verändert wird, ohne die Position des Kippsensors 20 zu verändern. Deshalb ist es nicht weiter notwendig, die Veränderung der Empfindlichkeit des lichtaufnehmenden Elementes des Kippsensors in die Betrachtungen mit einzubeziehen. Als Resultat ist ebenfalls nicht mehr notwendig, die Verstärkungseinstellungsbreite der Kippkompensations-Servosteuerungsschaltung einzustellen, und zwar im Gegensatz zu einem herkömmlichen Kippsensor. Außerdem kann, da der Abstand zwischen dem Kippsensor und der optischen Platte sich nicht verändert, die Dicke des gesamten Gerätes zum Aufzeichnen und Reproduzieren optischer Informationen verringert werden.
Eine Kippkompensationsnocke 26, die an einer Achse 27 an einem Ende fixiert ist, ist drehbar an dem Antriebssubstrat 1 über die Bauteile 28a und 28b befestigt, wie in Fig. 1 gezeigt ist. Die Nocke 26 und die Achse 27 drehen sich integral. Ein Kippmotor 29 ist ferner an dem Antriebssubstrat 1 über ein Klammerbauteil 30 installiert, und er treibt die Nocke 26 an, über eine Schnecke 31 und ein Schneckenrad 32, und zwar zur Drehung in Vorwärts- und Rückwärtsrichtung. Wie in Fig. 2 gezeigt ist, wird das Zusatzsubstrat 5 gegen das Antriebssubstrat 1 durch eine Dehnfeder 33 vorgespannt und ist mit dem äußeren Umfang der Nocke 26 in Kontakt.
Als nächstes wird unter Bezugnahme auf Fig. 5 das Positionsverhältnis zwischen einem Lichtpunkt, der durch den optischen Auffnehmer 9 ausgebildet wird, und einem Lichtpunkt, der durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, beschrieben.
Die Fig. 5 zeigt die Positionen, auf welche der Lichtstrahl durch den Kippsensor 20 aufgestrahlt wird, wenn der Lichtstrahl, der von dem optischen Aufnehmer 9 emittiert wird, auf eine Position an der innersten Spur der optischen Platte 4 und eine Position an der äußersten Spur der optischen Platte 4 aufgestrahlt wird. Die optische Platte 4 umfasst: einen Informationsaufzeichnungsbereich 4a, auf welchem Vertiefungen oder Rillen ausgebildet sind; und Spiegelabschnitte 4b, die auf dessen Innenseite und Außenseite ausgebildet sind. Der Informationsaufzeichnungsbereich 4a besteht aus einem Einlesebereich 4c und einem Programmbereich 4d, auf welche der optische Aufnehmer 9 zugreifen muss, sowie einen Auslesebereich 4e, auf welchem der optische Aufnehmer 9 nicht zugreift. Der innerste Umfang des Einlesebereichs 4c hat einen Radius r1; der äußerste Umfang des Programmbereiches 4d hat einen Radius r2; und der äußerste Umfang des Auslesebereiches 4e hat einen Radius r3.
Der Lichtstrahl, der von dem Kippsensor 20 emittiert wird, hat einen kreisförmigen Querschnitt und bildet einen Lichtpunkt 20f mit einem Durchmesser d auf der optischen Platte 4 aus. Das Zentrum des Lichtpunktes 20f befindet sich im Abstand von dem Zentrum des Lichtpunktes 9e, der durch den optischen Aufnehmer 9 auf der optischen Platte 4 ausgebildet wird, und zwar in einem Abstand m in der Richtung vertikal zur Radialrichtung B der optischen Platte 4, und in einem Abstand n in der Richtung B. Diese Abstände m und n sind so bestimmt, dass der gesamte Lichtpunkt 20f, der durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a liegt, wenn der Lichtpunkt 9e, der durch den optischen Aufnehmer ausgebildet wird, auf der innersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a liegt, und so, dass der gesamte Lichtpunkt 20f in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a liegt, wenn der Lichtpunkt 9e auf der äußersten Spur des Programmbereichs 4d liegt, auf welchem der optische Aufnehmer 9 zugreifen muss. Dies bedeutet, eine Linie, welche die Lichtpunkte 9e und 20f imaginär verbindet, liegt in einem vorbestimmten Winkel hinsichtlich der Radialrichtung der optischen Platte B. Dieser vorbestimmte Winkel umfasst 0º nicht.
Der Vorgang des Einstellens der Abstände m und n wird detaillierter im folgenden beschrieben. Wenn das Zentrum des Lichtpunktes 9e des optischen Auffnehmers 9 der innersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a angeordnet ist, d. h. an dem Innenumfang des Einlesebereichs 4c, ist das Zentrum des Lichtpunktes 20f des Kippsensors 20 an einer Position angeordnet, die der folgenden Beziehung genügt:
{m² + (r1 - n)²}1/2 > r1 + d/2 ...(1)
Wenn andererseits das Zentrum des Lichtpunktes 9e des optischen Aufnehmers 9 an dem äußersten Umfang des Programmbereiches 4d der optischen Platte 4 angeordnet ist, ist das Zentrum des Lichtpunktes 20f des Kippsensors 20 an einer Position angeordnet, die der folgenden Beziehung genügt:
{m² + (r2 - n)²}1/2 < r3 - d/2...(2)
Wie oben beschrieben, wird bei diesem Beispiel, wenn der Lichtpunkt, der durch den optischen Aufnehmer 9 ausgebildet wird, in dem Einlesebereich 4c und dem Programmbereich 4d angeordnet ist, der Lichtstrahl, der von dem Kippsensor 20 emittiert wird, immer zu einer Position hin gestrahlt, die innerhalb des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a liegt.
Um den Beziehungen, die durch die Ungleichungen (1) und (2) beschrieben werden, zu genügen, werden die jeweiligen Bereiche und Abstände auf der optischen Platte 4 wie folgt eingestellt: Der Innenumfang (d. h. die innerste Spur) des Einlesebereichs 4c hat einen Radius r1 von 22,5 mm; der äußere Umfang des Programmbereichs 4d hat einen Radius r2 von 60 mm; der äußere Umfang des Auslesebereiches 4e hat den Radius r3 von 63 mm; der Durchmesser d des Lichtpunktes 20f, der durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, ist auf 5 mm eingestellt; und der Lichtpunkt 20f ist von dem Lichtpunkt 9e, der durch den optischen Auffnehmer 9 ausgebildet wird, in einem Abstand m von 13 mm in Richtung vertikal zur Radialrichtung B der optischen Platte 4 beabstandet, und durch einen Abstand n von 1, I mm in Richtung B. Es ist zu bemerken, dass diese Werte nur ein Beispielswertesatz sind, welcher die obigen Ungleichungen (1) und (2) erfüllt, und die Positionen der jeweiligen Bereiche und das Positionsverhältnis zwischen dem Kippsensor und dem optischen Aufnehmer in der optischen Platte nicht auf die obenbeschriebenen beschränkt sind.
Als nächstes wird der Betrieb des Gerätes zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen mit der obigen Ausbildung kurz beschrieben.
Wenn die optische Platte 4 auf dem Drehteller 2 montiert wird, beginnt der Plattenantriebsmotor 3 mit der Drehung, und zur selben Zeit wird der optische Aufnehmer 9 in Richtung B in die Umgebung der innersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a der optischen Platte 4 transportiert, und zwar durch den Transportmechanismus, der besteht aus dem Transportmotor 8, den Zahnrädern 13, 14 und 15 und der Transportstellschraubenachse 7. Darm erfasst der Kippsensor 20 die Verkippung der optischen Scheibe 4 in Hinsicht auf die optische Achse des optischen Aufnehmers 9, basierend auf dem Licht, das von der optischen Platte 4 reflektiert wird. Der Ausgang des Kippsensors 20 wird durch den Differenzverstärker 20e in einem Differenzausgang umgewandelt, und dann einer Kippkompensation-Servoschaltung (nicht gezeigt) zugeführt, wodurch der Kippmotor 29 angetrieben wird. Wenn der Kippmotor 29 angetrieben wird, beginnt die Nocke 26 mit ihrer Schwenkbewegung, so dass das Zusatzsubstrat 5, auf welchem der optische Aufnehmer 9 montiert ist, damit beginnt, sich in der Richtung zu drehen, die durch den Pfeil C in Fig. 2 angezeigt ist, und zwar um die Trägerachsen 16 und 17. Eine sogenannte Kippkompensation zum Einstellen der optischen Achse des optischen Aufnehmers 9 in die Vertikale zur optischen Platte 4 wird auf diese Weise durchgeführt.
Nachdem die Kippkompensation in der Umgebung der innersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereichs 4 auf diese Weise durchgeführt worden ist, beginnt der optische Auffiehmer 9 damit, Informationen auf der optischen Platte 4 aufzuzeichnen oder Informationen von der optischen Platte 4 zu reproduzieren. Der optische Auffnehmer 9 wird von dem Innenumfang zum Außenumfang der optischen Platte 4 getragen, d. h. von der innersten Spur zur äußersten Spur, wodurch in Abfolge Informationen auf/von der optischen Platte aufgezeichnet/reproduziert werden. Während dieser Aufzeichnungs- und Reproduktionsvorgänge fährt der Kippsensor 20 damit fort, die Verkippung der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte 4 zu erfassen, und die Nocke 26 wird weiterhin, basierend auf den Erfassungsresultaten angetrieben. Deshalb kann während des Aufzeichnens und Reproduzierens kontinuierlich eine Echtzeit-Kippkompensatioil durchgeführt werden.
Bei dem Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen gemäß dem vorliegenden Beispiel ist, solange der Lichtpunkt 9e, der durch den optischen Aufnehmer 9 ausgebildet wird, in dem Bereich angeordnet ist, auf/von welchem Informationen aufgezeichnet/reproduziert werden, der Lichtstrahl, der von dem Kippsensor 20 emittiert wird, immer in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a der optischen Platte 4 angeordnet, und er tritt nicht in die Spiegelabschnitte 4b ein, wie bei herkömmlichen Geräten. Folglich kann der Kippsensor 20 eine Verkippung (die Neigung der optischen Platte hinsichtlich der optischen Achse des optischen Aufnehmers) in der Umgebung der innersten und äußersten Umfangsbereiche der optischen Platte 4 genau erfassen, so dass eine Kippkompensationsregelung stabil durchgeführt werden kann.
Bei diesem Beispiel wird die Kippkompensation dadurch ausgeführt, dass das Zusatzsubstrat 5 mit dem optischen Aufnehmer 9 und dem Transportmechanismus für den optischen Aufnehmer 9, der darauf integriert ist, schwenkbar bewegt wird. Jedoch kann, sogar wenn der optische Aufnehmer 9 schwenkbar bewegt wird, derselbe Effekt wie oben beschrieben, erzeugt werden, weil der Kippsensor 20 integral auf dem optischen Aufnehmer 9 montiert ist.

Beispiel 2

Als nächstes wird ein Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen gemäß einem zweiten Beispiel nach der vorliegenden Erfindung beschrieben. Die Fig. 6 ist eine Querschnittsansicht, die einen Hauptabschnitt des Gerätes zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen zeigt, während die Fig. 7 eine Aufsicht ist, die ein Positionsverhältnis zwischen den Lichtpunkten zeigt, die durch den optischen Auffnehmer und den Kippsensor auf der optischen Platte ausgebildet werden. Bei diesem Beispiel ist der Kippsensor in einer unterschiedlichen Weise gegenüber dem ersten Beispiel angeordnet, und ein Schalter, der erfasst, ob der Lichtpunkt, der durch den optischen Auffnehmer ausgebildet wird, auf der Innenseite einer Initial-Verkippungsstellposition liegt, ist zusätzlich vorgesehen. Bei diesem Beispiel wird eine optische Platte mit einem Auslesebereich 4e mit einer extrem kleinen Breite von ungefähr 5 bis ungefähr 20 um als optische Platte 4 verwendet. Deshalb kann der Radius r3 der äußersten Spur (d. h. der äußere Umfang) des Auslesebereichs 4e als im wesentlichen gleich dem Radius r2 der äußersten Spur (äußerer Umfang) des Programmbereiches 4d angesehen werden. In Fig. 7 wird der Auslesebereich 4e weggelassen. Dieselben Bauteile, wie beim ersten Beispiel werden durch dieselben Bezugszeichen identifiziert, und ihre Beschreibung wird hier weggelassen.
Bei diesem Beispiel sind die Abstände m und n so eingestellt, dass der gesamte Lichtpunkt, der durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, auf dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a liegt, wenn der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 auf dem äußeren Umfang des Informationsaufzeichnungsbereichs 4a liegt, wodurch der Bereich der optischen Platte 4, wo die Kippkompensation durchgeführt werden kann, erweitert wird.
Wenn der optische Aufnehmer 9 sich entlang der Radialrichtung B der optischen Platte 4 bewegt und der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 in eine Initial-Kippeinstellposition P0 eintritt, die in der Umgebung der innersten Spur der optischen Platte 4 angeordnet ist, wird eine Echtzeit-Kippkompensationsregelung aufgehoben und der Zustand der Kippkompensation, der an der Position P0 durchgeführt wurde, wird aufrechterhalten. Die Initial-Kippstellposition P0 ist eine Position außerhalb der innersten Spur des Einlesebereichs 4c, welche so bestimmt ist, dass der gesamte Lichtpunkt 20f in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a liegt, wenn der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 an der Position P0 angeordnet ist. Ein Initial-Kippstellpositions-Erfassungsschalter 34 zum Erfassen des Eingangs des Lichtpunktes 9e des optischen Aufnehmers 9 innerhalb der Position P0 ist an dem konkaven Abschnitt 5a des Zusatzsubstrates 5 angebracht, wie in Fig. 6 gezeigt ist. Während der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 zwischen der Position P1 auf der innersten Spur des Einlesebereichs 4c und der Initial-Kippstellposition P0 angeordnet ist, ist der optische Aufnehmer 9 mit dem Schalter 34 in Kontakt. Der Schalter 34 arbeitet, während er mit dem optischen Aufnehmer 9 in Kontakt steht. Der Erfassungsschalter 34 ist beispielsweise mit einem Antriebsschaltkreis (nicht gezeigt) für den Kippmotor 29 verbunden. Wenn der optische Aufnehmer 9 mit dem Erfassungsschalter 34 in Kontakt kommt, stoppt der Antriebsschaltkreis den Kippmotor 29.
Im Weiteren wird der Kippkompensationsvorgang gemäß diesem Beispiel beschrieben.
Zuerst wird der optische Auffnehmer 9 zu der Position außen zur Initial-Kippstellposition P0 bewegt, wo die Kippkompensation durchgeführt wird. Danach wird der optische Aufnehmer 9 in Richtung B nach innen bewegt. Wenn der optische Aufnehmer 9 die Initial-Kippstellposition P0 erreicht, beginnt der Initial-Kippstellpositions-Erfassungsschalter 34 zu arbeiten, so dass eine sogenannte Initial-Kippeinstellung zur Beibehaltung der Kippkompensation des optischen Aufnehmers 9 an der Initial-Kippstellposition P0 durchgeführt wird. Wenn die Initial-Kippeinstellung beendet ist, wird der optische Aufnehmer 9 zur Position P1 auf der innersten Spur des Einlesebereiches 4c bewegt, die Information, wie zum Beispiel ein an dieser Position geschriebenes Directory, wird gelesen, und dann wird mit der Aufzeichnung und Reproduktion begonnen.
Nachdem die Aufzeichnung und Reproduktion begonnen wurde und bis der optische Aufnehmer sich zu einer Initial-Kippstellposition P0 bewegt hat, verbleibt der Kippkompensationsmechanismus einschließlich des Kippmotors 29 im Initial-Kippeinstellzustand. Wenn der optische Aufnehmer 9 sich zur Außenseite der Initial-Kippstellposition P0 hin bewegt hat, wird der Betrieb des Erfassungsschalters 34 gestoppt. Als Resultat beginnt der Kippmotor 29 zu arbeiten und eine Kippkompensationsregelung zum Einstellen der Verkippung der optischen Platte hinsichtlich der optischen Achse des optischen Aufnehmers wird in Echtzeit gestartet. Bis der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 sich von der Initial-Kippstellposition P0 zur Position P3 an der äußersten Spur des Auslesebereichs 4e bewegt hat, wird die Kippkompensationsregelung durchgeführt.
Im Allgemeinen neigt die Deformation einer optischen Platte dazu, sich von den inneren Spuren zu den äußeren Spuren hin zu vergrößern. Deshalb besteht ein Unterschied zwischen dem Verkippungsgrad der optischen Platte an einem Punkt auf der Platte und der Verkippung der optischen Platte an einem anderen Punkt, welcher von dem ersteren Punkt über eine relativ kleine Distanz entfernt ist, beispielsweise ungefähr 5 mm. Deshalb ist es, wie oben beschrieben, unwahrscheinlich, dass ein Fehler beim Aufzeichnen und Reproduzieren von Informationen auftritt, wenn der Verkippungsgrad an der Initial-Kippstellposition P0 als Verkippungsgrad an einem Punkt innerhalb von der Position P0 verwendet wird. Folglich können bei diesem Beispiel dieselben Effekte erzielt werden, wie bei dem ersten Beispiel. Als nächstes wird unter Bezugnahme auf Fig. 7 die zu erfüllende Beziehung für die Abstände m und n beschrieben, welche das Positionsverhältnis zwischen dem Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 und dem Lichtpunkt 20f des Kippsensors 20 bestimmen, sowie für den Abstand r0 von dem Zentrum der optischen Platte 4 zur Initial-Kippstellposition P0 in dem Gerät. Es wird angenommen, dass die Initial-Kippstellposition P0 von dem Punkt P1 auf der innersten Spur des Einlesebereichs 4c 5 mm oder weniger in Radialrichtung B der optischen Platte 4 beabstandet ist.
Wenn das Zentrum des Lichtpunktes 9e des optischen Aufnehmers 9 an der Initial- Kippstellposition P0 auf der optischen Platte 4 angeordnet ist, ist das Zentrum des Lichtpunktes 20f des Kippsensors 20 an einer Position angeordnet, die der folgenden Beziehung genügt:
{m² + (r0 - n)²}1/2 > r1 - d/2 ...(3)
Wenn andererseits das Zentrum des Lichtpunktes 9e des optischen Aufnehmers 9 an der Position P3 auf der äußersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereichs 4a der optischen Platte 4 geordnet ist, ist das Zentrum des Lichtpunktes 20f des Kippsensors 20 an einer Position angeordnet, welche der folgenden Beziehung genügt:
m² + (r3-n)2}1/&sub2; < r3-d/&sub2;
Wie oben beschrieben kann, da der Radius r3, welcher den Abstand zwischen dem Zentrum der optischen Platte und der äußersten Spur des Auslesebereichs 4e anzeigt, im wesentlichen gleich dem Radius r2 ist, der den Abstand zwischen dem Zentrum der optischen Platte und der äußersten Spur des Programmbereichs 4d anzeigt, die Ungleichung (4) wie folgt umgeschrieben werden:
m² + (r2 - n)²}1/&sub2; < r2 - d/2
Außerdem genügen der Radius r0 der Spur, auf welcher die Initial-Kippstellposition P0 liegt und der Radius r1 der Position auf dem inneren Umfang des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a der folgenden Beziehung:
r0 - r1 < 5 (mm) ...(5)
Um die Beziehungen zu erfüllen, die durch die Ungleichungen (3), (4)' und (5) ausgedrückt werden, werden die jeweiligen Bereiche und Abstände auf der optischen Platte 4 wie folgt eingestellt: Die innerste Spur des Einlesebereichs 4c hat den Radius r1 von 22,5 mm; die äußerste Spur des Informationsaufzeichnungsbereichs 4a hat den Radius r2 von 58,5 mm (= r3); die Initial-Kippstellposition P0 ist auf der Spur mit dem Radius r0 von 25,5 mm angeordnet; der Durchmesser d des Lichtpunktes 20f, der durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, wird auf 5 mm gesetzt; und der Lichtpunkt 20f ist von dem Lichtpunkt 9e, der durch den optischen Aufnehmer 9 ausgebildet wird, über einen Abstand m von 13 mm in der Richtung vertikal zur Radialrichtung B der optischen Platte 4 und in einem Abstand n von 4,1 mm in der Richtung B angeordnet. Es ist zu bemerken, dass diese Werte lediglich ein Beispielssatz für Werte sind, welche den obigen Ungleichungen (3), (4)' und (5) genügen, und dass die Positionen der jeweiligen Bereiche und die Positionsverhältnisse zwischen dem Kippsensor und dem optischen Aufnehmer auf der optischen Platte nicht auf die oben beschriebenen beschränkt sind.
Beim Beginn der Aufzeichnung und/oder Reproduktion von Informationen auf/von der optischen Platte, wird die oben angesprochene Initial-Kippeinstellung durchgeführt, bevor damit begonnen wird, die Informationen aus dem Einlesebereich 4c einzulesen, so dass die Informationen präzise aus dem Einlesebereich 4c eingelesen werden können und die Informa tionen auf/von dem gesamten Informationsaufzeichnungsbereich 4a aufgezeichnet und/oder reproduziert werden können, ohne irgendwelche Probleme herbeizuführen, wenn das Gerät benutzt wird. Außerdem kann bei diesem Beispiel eine Kippkompensationsregelung auch noch dann durchgeführt werden, wenn die Breiten des Lesebereichs und des Auslesebereichs der optischen Platte extrem klein eingestellt werden. Deshalb kann bei diesem Beispiel ein größerer Programmbereich auf einer Platte sichergestellt werden, die dieselbe Größe hat wie diejenige nach dem ersten Beispiel, so dass die Kapazität der optischen Platte erhöht werden kann. Folglich ist das Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen nach diesem Beispiel dazu geeignet, eine optische Platte mit einer hohen Kapazität zu realisieren.
Der Kippwinkel einer optischen Platte in Hinsicht auf die optische Achse eines optischen Aufnehmers wird gewöhnlich in verschiedenen Spezifikationen einer optischen Platte definiert, und in den meisten Fällen wird der Winkel als ein konstanter Wert definiert, und zwar unabhängig davon, ob der Winkel auf den inneren Spuren oder den äußeren Spuren der Platte gemessen wird. Tatsächlich ist der Kippwinkel einer optischen Platte auf den inneren Spuren kleiner als auf den äußeren Spuren. Jedoch kann die Aufzeichnung und Reproduktion auf den inneren Spuren ohne die Durchführung einer Kippkompensationskontrolle in den meisten Fällen befriedigend durchgeführt werden, wie oben beschrieben wurde. Es ist möglich, den Kippwinkel der optischen Platte auf den inneren Spuren und denjenigen auf den äußeren Spuren separat zu definieren, und den Kippwinkel auf den inneren Spuren als einen Wert anzusehen, der keine Kippkompensation benötigt. Im Falle der Verwendung einer solchen optischen Platte, welche keine Kippkompensation auf den inneren Spuren benötigt, wird vorzugsweise anstelle der Aufrechterhaltung des Kippkompensationszustands bei der Initial-Kippstellposition P0, wie in diesem Beispiel beschrieben, ein Standardzustand aufrechterhalten, bei dem die optische Achse des optischen Aufnehmers 9 die Aufzeichnungsoberfläche einer optischen Platte ohne Deformation in einem rechten Winkel schneidet. Dann können dieselben Effekte erzielt werden, wie sie beim zweiten Beispiel beschrieben wurden. Außerdem kann in einem solchen Fall nach dem Aufzeichnen und/oder der Wiedergabe der optische Aufnehmer 5 in dem Standardzustand gehalten werden. Deshalb können, wenn die Aufzeichnung und/oder Reproduktion der Informationen für eine optische Platte neu gestartet wird, die Informationen in dem Einlesebereich unmittelbar unter dem Standardzustand gelesen werden, so dass die zum Starten des Aufzeichnens und/oder der Reproduktion der Informationen benötigte Anlaufzeit verkürzt werden kann.

Beispiel 3

Als nächstes wird eine optische Platte, die geeignet ist zur Verwendung mit dem Gerät für eine optische Platte gemäß der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf Fig. 8 beschrieben.
Die Fig. 8 ist eine Aufsicht, die schematisch eine optische Platte zeigt. Wie in Fig. 8 gezeigt ist, umfasst die optische Plätte dieses Beispiels ferner einen inneren Erfassungsbereich 35, welcher an der Innenseite des Einlesebereichs 4c vorgesehen ist. Da der innere Kipperfassungsbereich 35 verwendet wird, um die Verkippung oder Neigung der optischen Platte zu erfassen, müssen die Vertiefungen oder Rillen in diesen Bereich nicht mit hoher Präzision ausgebildet werden, im Gegensatz zu denjenigen in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a. Dieselben Bestandteile, wie diejenigen, die beim ersten und zweiten Beispiel beschrieben wurden, werden durch dieselben Bezugszeichen angedeutet und ihre Beschreibung wird hier weggelassen. Außerdem ist der Auslesebereich 4e in Fig. 8 nicht gezeigt, weil die Breite des Bereichs 4e im Vergleich mit den anderen Bereichen, die denjenigen in Beispiel 2 gleichen, extrem klein ist.
Die Breite w1 des inneren Kipperfassungsbereiches 35 wird so festgelegt, dass der gesamte Lichtpunkt 20f des Kippsensors 20 zumindest entweder im inneren Kipperfassungsbereich 35 oder im Informationsaufzeichnungsbereich 4a angeordnet ist, wenn der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 auf der innersten Spur des Einlesebereiches 4c angeordnet ist. Wenn andererseits der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 auf der äußersten Spur des Auslesebereichs 4e angeordnet ist, ist der gesamte Lichtpunkt 20f des Kippsensors 20 in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a der optischen Platte 4 angeordnet, wie beim ersten und zweiten Beispiel beschrieben. Spezieller werden der Durchmesser d des Lichtpunktes 20f, der von dem Kippsensor 20 ausgebildet wird; die Abstände m und n zwischen dem Lichtpunkt 9e, der durch den optischen Aufnehmer 9 ausgebildet wird und dem Lichtpunkt 20f; die Radien r1 und r3 jeweils der innersten und äußersten Spuren des Informationsaufzeichnungsbereichs 4a; und die Breite wl des inneren Kipperfassungsbezeiches 35 so festgelegt, dass sie den folgenden Beziehungen genügen:
{m² + (r1 - n)²}1/&sub2; > r1 - w1 + d/2 ...(6)
{m² + (r3 - n)2)1/&sub2; > r3 - d/2 ...(7)
Um den Beziehungen zu genügen, welche durch die Ungleichungen (6) und (7) ausgedrückt werden, werden die jeweiligen Bereiche und Abstände auf der optischen Platte 4 wie folgt eingestellt: Die innerste Spur des Einlesebereichs 4c hat den Radius r1 von 22,5 mm; die äußerste Spur des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a (oder des Auslesebereiches 4e) hat den Radius r3 von 58,5 mm; die Breite w1 des inneren Kipperfassungsbereiches 35 wird auf 2,5 mm eingestellt; der Durchmesser d des Lichtpunktes 20f, der durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, wird auf 5 mm eingestellt; und der Lichtpunkt 20f ist von dem Lichtpunkt 9e, der durch den optischen Aufnehmer ausgebildet wird, in einem Abstand m von 13 mm in Richtung vertikal zur Radialrichtung B der optischen Platte 4 und in einem Abstand n von 4,1 mm in Richtung B angeordnet. Es ist zu bemerken, dass diese Werte lediglich einen Beispielssatz von Werten darstellen, welche die obigen Ungleichungen (6) und (7) erfüllen, und dass die Positionen der jeweiligen Bereiche und das Positionsverhältnis zwischen dem Kippsensor und dem optischen Aufnehmer auf der optischen Platte nicht auf die oben beschriebenen beschränkt sind.
In dem Fall, wo die jeweiligen Bereiche der optischen Platte auf die obigen Werte eingestellt werden, hat der innere Umfang des inneren Kipperfassungsbereiches 35 einen Radius von ungefähr 20 mm. Bei einer optischen Platte mit einem Durchmesser von 130 mm oder weniger, körnen die Vertiefungen oder die Rillen durch das Schneiden des Bereiches vorgesehen werden, welcher von dem Zentrum der optischen Platte durch einen Radius von mindestens ungefähr 18 mm beabstandet ist. Deshalb bringt das Bereitstellen eines solchen inneren Kipperfassungsbereiches keine Probleme beim Herstellungsprozess mit sich.
Bei einer solchen optischen Platte, die mit einem inneren Kipperfassungsbereich versehen ist, kann die Kippkompensation in dem gesamten Bereich des Informationsaufzeichnungsberei ches 4a der optischen Platte 4 durchgeführt werden. Ferner ist es bei einem Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen, das den Kippsensor für einen solche optische Platte umfasst, nicht länger notwendig, einen Bereich zum Aufrechterhalten des Kippkompensationsstatus auf den inneren Spuren der Initial-Kippstellposition vorzusehen, oder einen Bereich zum Aufrechterhalten eines Standardzustandes, wie er im zweiten Beispiel beschrieben wurde. Als Resultat kann ein Aufzeichnen mit hoher Dichte durchgeführt werden, und zwar durch die Verwendung eines Gerätes mit einer vereinfachten Ausbildung.
Bei diesem Beispiel wird, wenn das Zentrum des Lichtpunktes 9e des optischen Aufnehmers 9 auf der äußersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a oder des Auslesebereiches 4e angeordnet ist, das Positionsverhältnis zwischen dem Kippsensor 20 und dem optischen Aufnehmer 9 so bestimmt, dass der gesamte Lichtpunkt 20f des Kippsensors 20 in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a angeordnet ist. Jedoch kann, abhängig von den Spezifikationen einer optischen Platte die Breite eines inneren Kipperfassungsbereiches nicht zu groß eingestellt werden. In einem solchen Fall kann, wenn der gesamte Lichtpunkt 20f des Kippsensors 20 in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a angeordnet ist, wenn das Zentrum des Lichtpunktes 9e des optischen Aufnehmers 9 nicht auf der äußersten Spur des Auslesebereiches 4e angeordnet ist, sondern auf der äußersten Spur des Programmbereichs 4d, die Breite des inneren Kipperfassungsbereiches verringert werden.

Beispiel 4

Bei den vorherigen Beispielen wurde der Bereich, in welchem der Informationsaufzeichnungsbereich vorgesehen war, für verschiede Platten als derselbe angesehen. Jedoch können unter verschiedenen Spezifikationen einer optischen Platte Standards, in welchem det Informationsaufzeichnungsbereich in einem festen Bereich auf der Aufzeichnungsoberfläche angeordnet ist, und Standards für die äußerste Spur des Informationsaufzeichnungsbereichs in Hinsicht auf die vorliegende Informationsmenge variiert werden. In dem letzteren Fall tritt, wenn die Kippkompensationsregelung für eine optische Platte mit einem Informationsaufzeichnungsbereich mit geringer Fläche vorgenommen wird, ein Teil des Lichtstrahles, der von dem Kippsensor emittiert wird, in den Spiegelabschnitt auf der Außenseite des Informationsaufzeichnungsbereiches ein, so dass eine fehlerhafte Kippkompensationsregelung durchge führt wird, und ein Fehler beim Aufzeichnen und Wiedergeben entsteht.
Im Weiteren wird eine weitere optische Platte, die zur Verwendung mit dem Gerät für eine optische Platte gemäß der vorliegenden Erfindung geeignet ist, unter Bezugnahme auf die Fig. 9 beschrieben. Die optische Platte dieses Beispiels entspricht einem Standard, bei welchem der Bereich des Informationsaufzeichnungsbereiches variiert werden kann.
Die Fig. 9 ist eine Aufsicht, die schematisch die optische Platte dieses Beispiels zeigt. Bei diesem Beispiel ist die Position der äußersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a für die jeweilige optische Platte 4 variabel. Jedoch ist gemäß dem Standard, wenn die Fläche des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a auf ein Maximum gesetzt wird, der Bereich 4a in dem Bereich angeordnet, der in Fig. 8 gezeigt ist, was bedeutet, dass der äußere Umfang des Bereiches von dem Zentrum der optischen Platte durch den Radius r3 beabstandet ist. Wie in Fig. 9 gezeigt ist, nimmt bei der optischen Platte dieses Beispiels der Informationsaufzeichnungsbereich 4a einen Teil des maximalen Aufzeichnungsbereiches ein, wobei dessen äußerer Umfang den Radius r3 hat, wie in Fig. 8 gezeigt ist. Innerhalb des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a wird der innere Kipperfassungsbereich 35 ebenso ausgebildet, wie bei der optischen Platte des dritten Beispiels; und außerhalb des Informationsaufzeichnungsbereiches 4a, wird ein äußerer Kipperfassungsbereich 36 mit Vertiefungen und Rillen vorgesehen, um so den äußeren Umfang des maximalen Aufzeichnungsbereiches zu erreichen.
Die optische Platte dieses Beispiels ist dieselbe wie die optische Platte des dritten Beispiels, außer dass der äußere Kipperfassungsbereich 36 vorgesehen ist. Ebenfalls werden die Positionen auf den Innenumfang oder den Außenumfang der jeweiligen Bereiche und das Positionsverhältnis zwischen dem Lichtpunkt 9e, der durch den optischen Aufnehmer 9 ausgebildet wird, und dem Lichtpunkt 20f, der durch den Kippsensor 20 ausgebildet wird, so bestimmt, dass sie den Ungleichungen (6) und (7) entsprechen, die im dritten Beispiel beschrieben wurden. Deshalb ist bei der optischen Platte dieses Beispiels, wenn der Lichtpunkt 9e des optischen Aufnehmers 9 in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a angeordnet ist, der gesamte Lichtpunkt 20f des Kippsensors 20 in dem Informationsaufzeichnungsbereich 4a angeordnet, wo die Rillen oder Vertiefungen, der innere Kipperfassungsbereich 35 und der äußere Kipperfassungsbereich 36 angeordnet sind. Als Resultat kann eine Kippkompensationsregelung stabil durchgeführt werden.
Bei diesem Beispiel ist der äußere Kipperfassungsbereich so ausgebildet, dass er im wesentlichen den äußeren Umfang eines maximalen Aufzeichnungsbereiches auf einer optischen Platte erreicht. Jedoch ist der Bereich, wo der äußere Kipperfassungsbereich ausgebildet werden kann, nicht hierauf beschränkt. Solange der gesamte Lichtpunkt des Kippsensors in irgendeinem Bereich mit den Vertiefungen oder Rillen angeordnet ist, wenn der Lichtpunkt des optischen Aufnehmers in dem Informationsaufzeichnungsbereich angeordnet ist, ist es möglich, die Breite des äußeren Kipperfassungsbereiches gemäß der Position des äußeren Umfangs des Informationsaufzeichnungsbereiches zu variieren. Dies reduziert die Zeit, die Elf das Schneiden einer optischen Platte benötigt wird.

Beispiel 5

Als nächstes wird ein Kippsensor gemäß der vorliegenden Erfindung beschrieben.
Die Fig. 10A ist eine Querschnittsansicht, die eine Ausbildung für einen Kippsensor 40 dieses Beispiels zeigt. Der Kippsensor 40 umfasst: eine lichtemittierende Diode, die als Lichtquelle (nicht gezeigt) zum Emittieren eines Lichtstrahles dient; ein Paar Fotodioden (auch nicht gezeigt), die als ein Paar lichtaufnehmende Elemente zum Aufnehmen eines Lichtstrahles dient, der durch eine optische Platte 4 reflektiert wird, um so ein elektrisches Signal gemäß der Menge des aufgenommenen Lichtes zu erzeugen; und eine asphärische Linse 41, um den Lichtstrahl, der von der lichtemittierenden Diode emittiert wird, im wesentlichen zu kollimieren. Die lichtemittierende Diode und das Paar der Fotodioden sind auf einer Basis von 45 des Kippsensors 40 angeordnet, und sie sind der optischen Platte 4 zugewandt. Das Paar der Fotodioden sind in Radialrichtung B des optischen Aufnehmers ausgerichtet.
Der Kippsensor 40 dieses Beispiels umfasst ferner eine Schlitzplatte 42 mit einer Öffnung (aperture) 43. Die Öffnung 43 ist klein genug, um den Durchmesser des hindurchgehenden Lichtstrahles zu begrenzen. Die Schlitzplatte 42 ist mit dem äußeren Umfang der asphärischen Linse 41 im Eingriff und an der Basis 45 befestigt. Wie in den Fig. 10A und 10B gezeigt ist, dient die Öffnung 43 als eine Blende und begrenzt die Breite des Lichtstrahles, der von dem Kippsensor 40 in Radialrichtung B der optischen Platte 4 emittiert wird. Als Resultat wird, wie in Fig. 11 gezeigt, die Breite des Lichtpunktes 40a des Lichtstrahles, der von dem Kippsensor 40 auf die optische Platte 4 gestrahlt wird, geringer als die Breite des Lichtpunktes, der durch den Kippsensor beim ersten und zweiten Beispiel ausgebildet wird, und zwar durch die Breite, die durch die Schraffur in Fig. 11 angedeutet ist. Deshalb wird, sogar wenn der Lichtpunkt 40a des Kippsensors 40 in die Umgebung der innersten Spur oder der äußersten Spur des Informationsaufzeichnungsbereichs 4a bewegt wird, dieser Lichtpunkt 40a kaum in den Spiegelabschnitt 4b eintreten. Folglich kann im Vergleich mit den Fällen, wo Kippsensoren gemäß den vorhergehenden Beispielen verwendet werden, die Verkippung der optischen Scheibe 4 in einem breiteren Bereich erfasst werden, wodurch der Bereich vergrößert wird, in dem die Kippkompensationsregelung durchgeführt werden kann.
Außerdem wird bei dem Kippsensor 40 gemäß diesem Beispiel ein sägezahnförmiger, rauer Abschnitt 44 auf der inneren Oberfläche der Schlitzplatte 42 ausgebildet, welcher der asphärischen Linse 41 zugewandt ist. Der durch die Schlitzplatte 42 abgeschirmte Lichtstrahl wird durch die Schrägen des rauen Abschnittes 44 in die Richtung reflektiert, die durch den Pfeil Q in Fig. 10A angedeutet ist. Dieser raue Abschnitt ist vorgesehen, um zu verhindern, dass der durch die Oberfläche der Schlitzplatte 42, die der asphärischen Linse 41 zugewandt ist, reflektierte Lichtstrahl auf den Kippsensor 40 fällt. Einige der Lichtstrahlen, die durch die Schlitzplatte 42 abgeschirmt werden, werden in Streustrahlen verwandelt und fallen dann direkt auf den Kippsensor 40. Wenn solche Streustrahlen auf den Kippsensor 40 fallen, wird die Präzision bei der Erfassung des Kippwinkels der optischen Platte verschlechtert. Deshalb wird bei diesem Beispiel der raue Abschnitt 44 vorgesehen, um solche Streustrahlen zu eliminieren, wodurch der Kippwinkel der optischen Platte mit hoher Präzision erfasst werden kann.
Alternativ kann durch das Bereitstellen einer Antireflexions-Beschichtung auf der Oberfläche der Schlitzplatte 42, die der asphärischen Linse 41 zugewandt ist, anstelle des rauen Abschnittes 44, derselbe Effekt erzielt werden. Zum Ausbilden einer solchen Antireflexions- Beschichtung wird im allgemeinen ein Verfahren verwendet, um die Oberfläche matt schwarz zu färben. Jedoch kann jedwedes Beschichtungsmaterial verwendet werden, solange das Material gegenüber Licht einen Antireflexions-Effekt hat.
Bei diesem Beispiel ist die Schlitzplatte 42 mit dem Kippsensor 40 dadurch integral ausgebildet, dass die Schlitzplatte 42 an der Basis 40a befestigt ist. Alternativ kann die Schlitzplatte 42 auf der Ebene des optischen Aufnehmers 9 fixiert werden, auf welcher der Kippsensor 40 installiert ist. Jedoch kann durch das Anbringen der Schlitzplatte 42 an der Basis 45 Raum eingespart und eine kompakte Einheit ausgebildet werden. Deshalb ist eine solche Konstruktion effektiv beim Verringern der Größe der Einheit und beim Vereinfachen ihres Zusammenbauprozesses.
Der Kippsensor 40 ist bei diesem Beispiel auf dem optischen Aufnehmer (nicht gezeigt) installiert. Die Anordnung des Kippsensors 40 ist nicht hierauf beschränkt. Der Kippsensor kann so angeordnet sein, dass ein Lichtpunkt durch den Kippsensor an einer Position ausgebildet wird, die von dem Lichtpunkt abweicht, der durch den optischen Aufnehmer ausgebildet wird, und zwar in der Richtung, die im wesentlichen vertikal zur Radialrichtung der optischen Scheibe liegt, wie bei einem herkömmlichen Kippsensor, oder er kann an der Position angeordnet werden, die im ersten und zweiten Beispiel beschrieben wurde.
Als nächstes wird unter Bezugnahme auf die Fig. 12A und 12B eine weitere Öffnung zur Begrenzung der Breite des Lichtstrahles, der von der Lichtquelle des Kippsensors emittiert wird, als modifiziertes Beispiel nach Beispiel 5 beschrieben.
Die Fig. 12A ist eine Aufsicht auf den Kippsensor dieses modifizierten Beispiels, und die Fig. 12B ist eine Seitenansicht hiervon. Wie in Fig. 12A und 12B gezeigt ist, werden eine, Öffnung 52 zum Hindurchlassen des Lichtstrahles, der von der lichtemittierenden Diode (nicht gezeigt) emittiert wird, und für den Lichtstrahl undurchlässige Abschnitte 53, die matt schwarz angemalt sind, auf der Oberfläche der asphärischen Linse 51 vorgesehen, die auf der Basis von 50a des Kippsensors 50 ausgebildet wird. Die Öffnung 52 wird ausgebildet durch das Bereitstellen der für den Lichtstrahl nicht durchlässigen Abschnitte 53 an ihren beiden Seiten. Als Resultat ist die Schlitzplatte 42, die im fünften Beispiel beschrieben wurde, nicht länger notwendig. Dies bedeutet, dass es bei diesem modifizierten Beispiel möglich ist, den Bereich zu erweitern, in welchem der Kippwinkel der optischen Platte erfasst werden kann, und zwar durch das Verwenden einer vereinfachten Ausbildung, wo die Anzahl der Bauteile verringert ist.
Bei diesem modifizierten Beispiel sind die für den Lichtstrahl undurchlässigen Abschnitte 53 durch das teilweise Anmalen der Oberfläche der asphärischen Linse 51 in mattem Schwarz ausgebildet. Jedoch können die Abschnitte durch jedwedes andere Verfahren ausgebildet werden, solange die Abschnitte den Lichtstrahl abschirmen können. Beispielsweise kann ein optischer Beschichtungsfilm, wie zum Beispiel ein Wellenlängenfilter vorgesehen werden, durch welchen Licht mit einer Wellenlänge gleich der Emissionswellenlänge des Lichtes, das von der lichtemittierenden Diode (Lichtquelle des Kippsensors 50) emittiert wird, nicht übertragen wird.
Als nächstes wird unter Bezugnahme auf die Fig. 13A und 13B noch eine weitere Öffnung zum Begrenzen der Breite des Lichtstrahls, der von der Lichtquelle des Kippsensors emittiert wird, als ein weiteres modifiziertes Beispiel nach Beispiel 5 beschrieben.
Die Fig. 13A ist eine Aufsicht des Kippsensors 60 dieses modifizierten Beispiels und die Fig. 13B ist eine Seitenansicht hiervon. Wie in Fig. 13A und 13B gezeigt ist, umfasst der Kippsensor 60: eine asphärische Linse 61, die auf einem Basisabschnitt 64 ausgebildet ist; und Prismenabschnitte 62 und 63. Die asphärische Linse 61 und die Prismenabschnitte 62 und 63 sind auf beiden Seiten der asphärischen Linse 61 in Radialrichtung B der optischen Platte 4 angeordnet. Bei diesem modifizierten Beispiel sind die asphärische Linse 61 und die Prismenabschnitte 62 und 63 kontinuierlich auf einer der Flächen eines Blocks 66 ausgebildet, der aus einem lichtdurchlässigen Material hergestellt ist, wie zum Beispiel Hartglas (Quarzglas).
Bei einer solchen Ausbildung wird, wenn der Lichtstrahl, der von der lichtemittierenden Diode 65 emittiert wird, die als Lichtquelle dient, auf den lichtdurchlässigen Block 66 Fällt, ein Teil des Lichtstrahles, der auf die asphärische Linse 61 fällt, im wesentlichen kollimiert. Das kollimierte Licht wird auf die optische Platte 44 aufgestrahlt und durch die optische Platte 4 reflektiert, und zwar in Richtung des Kippsensors 60. Andererseits wird der verbleibende Teil des Lichtstrahles, der auf die Prismenabschnitte 62 und 63 fällt, auf die optische Platte 4 aufgestrahlt, während dessen Winkel aufrechterhalten wird, bei welchem der Lichtstrahl divergent von der lichtemittierenden Diode 65 emittiert wird. Mit anderen Worten bewirken die Prismenabschnitte 62 und 63, dass der Lichtstrahl, der von der lichtemittierenden Diode 65 emittiert wird, schräg auf die optische Platte 4 fällt, und nicht in einer vertikalen Richtung zu dieser. Als Resultat werden, wie in Fig. 13B gezeigt ist, die Lichtstrahlen, die durch die Prismenabschnitte 62 und 63 hindurchgeführt werden, durch die optische Platte 4 in Richtungen reflektiert, die von dem Kippsensor 60 wegführen. Demgemäß treffen die Lichtstrahlen, die durch die Prismenabschnitte 62 und 63 hindurchgehen und durch die optische Platte 4 reflektiert werden, nicht auf die lichtauffnehmenden Elemente (nicht gezeigt) des Kippsensors 60. Deshalb wird der Kippwinkel der optischen Platte 4 nur durch den Lichtstrahl erfasst, der durch die asphärische Linse 61 hindurchgeht, und dieselben Effekte wie beim Kippsensor gemäß dem fünften Beispiel können erzielt werden.
Außerdem ist es bei diesem modifizierten Beispiel möglich, zu verhindern, dass das reflektierte Licht, welches nicht zum Erfassen des Kippwinkels der optischen Platte 4 verwendet wird, auf den Kippsensor 60 fällt, so dass die Erzeugung von Streulicht verhindert werden kann. Ferner können, da sie asphärische Linse 61 und die Prismenabschnitte 62 und 63 integral und kontinuierlich ausgebildet sind, diese Abschnitte durch das integrale Ausformen eines Harzes ausgebildet werden. Als Resultat kann der Herstellungsprozess dieser Abschnitte vereinfacht werden.

Beispiel 6

Als nächstes wird noch ein weiterer Kippsensor gemäß der vorliegenden Erfindung beschrieben. Der Kippsensor dieses Beispiels ist dazu geeignet, mit einer optischen Platte vom Phasenübergangstyp verwendet zu werden.
Bevor die Struktur des Kippsensors nach diesem Beispiel beschrieben wird, wird zuerst eine optische Platte vom Phasenübergangstyp beschrieben. Die Fig. 14 ist eine vergrößerte Querschnittsansicht einer optischen Platte 70 vom Phasenübergangstyp. Die optische Platte 70 vom Phasenübergangstyp umfasst ein Substrat 71, und Spiralspuren zum Führen von Laserlicht sind auf der Oberfläche 71a des Substrats 71 vorgesehen. Auf der Oberfläche 71a des Substrats 71 ist ein Aufzeichnungsdünnfilm 73 ausgebildet, der zwischen einer ersten Schutzschicht 72 und einer zweiten Schutzschicht 74 aufgenommen wird. Die Phase des Aufzeichnungsdünnfilms 73 wird durch Laserbestrahlung verändert und der Dünnfilm geht in einen Zustand über, wo die Konstanten, welche die optischen Eigenschaften anzeigen, wie zum Beispiel der Brechungsindex n und der Schwächungskoeffizient k unterschiedlich sind. Eine Reflexionsschicht 75 ist auf der zweiten Schutzschicht 74 vorgesehen, und ein Schutzsubstrat 76 ist ferner auf der Reflexionsschicht 75 vorgesehen. Das Laserlicht zum Aufzeichnen und Reproduzieren kommt von der Seite des Substrats 71 herein.
Das Substrat 71 ist aus Polycarbonat hergestellt. Die erste und die zweite Schutzschicht 72 und 74 sind aus einem Material, wie zum Beispiel ZnS-20 Mol-% SiO&sub2; hergestellt. Die Materialien des Substrates 71 und der Schutzschichten 72 und 74 sind nicht auf die oben genannten beschränkt. Der Aufzeichnungsdünnfilm 73 kann aus jedwedem Material hergestellt sein, solange die Phase des Materials reversibel zwischen einem kristallinen Zustand und einem amorphen Zustand verändert werden kann. In diesem Beispiel ist der Dünnfilm 73 aus Ge&sub2;Sb&sub2;Te&sub5; hergestellt. Die Reflexionsschicht 75 wird vorgesehen, um die Wirksamkeit beim Absorbieren von Licht in dem Aufzeichnungsdünnfilm 73 zu verbessern, und sie ist beispielsweise aus Au hergestellt. Durch das Steuern der Dicke der jeweiligen Schichten, kann eine optische Platte 70 vom Phasenübergangstyp erzielt werden, die für die Laseremissionswellenlänge geeignet ist.
Die Fig. 15 ist ein Graph, der die Spektral-Reflexions-Verteilungskennlinien einer als Beispiel dienenden optischen Platte 70 vom Phasenübergangstyp zeigt, die für ein Licht geeignet ist, das eine Wellenlänge von 680 nm aufweist. In Fig. 15 ist die Spektral- Reflexions-Verteilungskennlinie, wenn der Aufzeichnungsdünnfilm 73 in einem kristallinen Zustand vorliegt, durch die Kurve C gezeigt, während die Spektral-Reflexions-Verteilungskennlinie für den Aufzeichnungsdünnfilm in einen amorphen Zustand durch die Kurve A gezeigt ist. Wie in Fig. 15 dargestellt ist, hat die Spektral-Reflexions-Verteilungskennlinie der optischen Platte 70 vom Phasenübergangstyp eine Abhängigkeit von der Wellenlänge. Bei dieser optischen Platte ist die Reflexionsfähigkeit für ein Licht mit einer Wellenlänge von 880 nm ungefähr dieselbe für sowohl den kristallinen Zustand als auch den amorphen Zustand.
Der Kippsensor gemäß diesem Beispiel verwendet die Wellenlängenabhängigkeit der Spektral-Reflexions-Verteilungskennlinien. Dies bedeutet, die Wellenlänge des Lichtstrahles, der von dem Kippsensor emittiert wird, wird im wesentlichen gleich der Wellenlänge gesetzt, bei der die Reflexionsvermögen der optischen Platte 70 im kristallinen Zustand unter dem amorphen Zustand einander gleich sind. Genauer gesagt, wenn die optische Platte 70 vom Phasenübergangstyp, so ausgelegt ist, dass durch ein Laserlicht mit einer Wellenlänge von 680 nm aufgezeichnet und/oder reproduziert wird, wird die Wellenlänge des Lichtstrahles, der von dem Kippsensor gemäß diesem Beispiel emittiert wird, auf 880 nm gesetzt.
Bei diesem Beispiel wird, um die Wellenlänge des Lichtstrahles, der von dem Kippsensor bei einem solchen Wert emittiert wird, eine lichtemittierende Diode mit einer Spitzenwellenlänge von ungefähr 880 nm als Lichtquelle für den Kippsensor verwendet, und die asphärische Linse wird aus einem Harz hergestellt, das selektiv Licht mit einer Wellenlänge von 880 nm hindurchlässt.
Unter Verwendung eines Kippsensors, bei welchem die Wellenlänge des Lichtstrahles, der von diesem emittiert wird, auf einen solchen Wert gesetzt ist, kann die Verkippung einer Platte vom Phasenübergangstyp präzise erfasst werden, sogar in dem Grenzbereich zwischen dem kristallinen Zustand und dem amorphen Zustand. Deshalb können bei einem Gerät zur Aufzeichnung und Reproduktion optischer Informationen, welches den Kippsensor nach diesem Beispiel verwendet, die Aufzeichnung und die Reproduktion durchgeführt werden, während eine Kippkompensationssteuerung für die optische Platte vom Phasenübergangstyp durchgeführt wird, so dass die Information im Vergleich mit einem herkömmlichen Gerät mit höherer Dichte aufgezeichnet werden kann. Außerdem können gemäß der vorliegenden Erfindung die Verkippung verschiedener optischer Platten, wie zum Beispiel einer CD oder einer CD-ROM, die keine optischen Platten vom Phasenübergangstyp sind, ohne jedwede Probleme erfasst werden.
Bei diesem Beispiel wird der Fall erläutert, wo die Wellenlänge 880 nm ist, wenn der Unterschied im Reflexionsvermögen im kristallinen Abschnitt der optischen Platte vom Phasenübergangstyp und im amorphen Abschnitt davon Null wird. Es nicht notwendig zu sagen, dass die Wellenlänge nicht hierauf beschränkt ist. In dem Fall, wo eine optische Platte vom Phasenübergangstyp verwendet wird, wenn der Kippsensor gemäß diesem Beispiel verwendet wird, anstelle der Kippsensoren, die im fünften Beispiel und in dessen modifiziertem Beispiel beschrieben wurden, kann eine stabile Kippkompensationsregelung durchgeführt werden, sogar wenn die optische Platte vom Phasenübergangstyp einen Durchmesser von 130 mm oder weniger hat.
Auch kann, wenn der Kippsensor gemäß diesem Beispiel auf einem optischen Aufnehmer montiert ist, wie er bei dem ersten und zweiten Beispiel beschrieben wurde, eine Kippkompensationskontrolle mit einer noch höheren Präzision durchgeführt werden. Verschiedene andere Modifikationen werden für Fachleute auf diesem Gebiet der Technik offensichtlich sein und ohne weiteres durchgeführt werden, ohne von dem Schutzumfang der Ansprüche abzuweichen. Demgemäß soll die hier aufgezeigte Beschreibung nicht einschränkend sein, sondern die Ansprüche sollen breit ausgelegt werden.

Claims

1. Gerät für eine optische Platte mit einem Kippsensor (20, 40) zum Bestrahlen einer optischen Platte (4) mit einem Lichtstrahl und zum Erfassen einer Verkippung der optischen Platte hinsichtlich eines optischen Aufnehmers (9), basierend auf dem Lichtstrahl, der von der optischen Platte reflektiert wird, wobei die optische Platte vom Phasenübergangstyp ist und kristallisierte Abschnitte und amorphe Abschnitte aufweist, und wobei der Kippsensor umfasst:

eine Lichtquelle (20a) zum Emittieren von divergentem Licht;

mindestens ein Paar lichtaufnehmender Elemente (20b, 20c) zum Aufnehmen des reflektierten Lichtstrahles und zum Ausgeben von Signalen, die verwendet werden, um ein Signal zu erhalten, das die Verkippung der optischen Platte anzeigt, in Übereinstimmung mit der Lichtmenge des aufgenommenen Lichtstrahles, wobei die lichtaufnehmenden Elemente in einer vorbestimmten Richtung angeordnet sind; und

einer Kollimierungseinrichtung (20d, 41) zum Umwandeln des divergenten Lichtes in ein im wesentlichen kollimiertes Licht, und um es auf eine optische Platte als Lichtstrahl zu richten,

dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (20a) das divergente Licht mit einer Wellenlänge in einem vorbestimmten Bereich emittiert, wobei für Licht mit der Wellenlänge in dem vorbestimmten Bereich ein Reflexionsvermögen an den kristallisierten Abschnitten im wesentlichen gleich demjenigen an den amorphen Abschnitten für das Licht mit dieser Wellenlänge ist.

2. Gerät für eine optische Platte nach Anspruch 1, das ferner eine Blendeneinrichtung (43, 52) aufweist, um die Breite des Lichtstrahles in der vorbestimmten Richtung zu begrenzen.

3. Gerät für eine optische Platte nach Anspruch 2, bei dem die Blendeneinrichtung (43) eine Schlitzplatte (42) umfasst, die eine Öffnung hat, welche in der Umgebung eines Bereiches der Kollimierungseinrichtung (41) vorgesehen ist, wo der Lichtstrahl austritt.

4. Gerät für eine optische Platte nach Anspruch 2, das ferner eine optische Linse (51) umfasst, die auf einer optischen Bahn des divergenten Lichtes vorgesehen ist, welches von der Lichtquelle (20a) emittiert wird, wobei die Linse (51) einen lichtdurchlässigen Abschnitt (52) umfasst, damit ein Teil des divergenten Lichtes dort hindurchgehen kann, sowie einen lichtunterbrechenden Abschnitt (53), zum Unterbrechen des verbleibenden Anteils des divergenten Lichtes, wobei der lichtdurchlässige Abschnitt (52) als Kollimierungseinrichtung dient und der lichtunterbrechende Abschnitt (53) als Blendeneinrichtung dient.

5. Gerät zur optischen Durchführung der Aufzeichnung von Informationen und/oder der Reproduktion von Informationen für eine optische Platte (4) mit einer Aufzeichnungsoberfläche, wobei das Gerät umfasst:

einen optischen Aufnehmer (9) zur Ausbildung eines ersten Lichtpunktes (9e) auf der Aufzeichnungsoberfläche;

eine Transporteinrichtung (7, 8) zum bidirektionalen Transport des optischen Aufnehmers in einer Radialrichtung der optischen Platte (4);

das Gerät für eine optische Platte gemäß einem der Anspruche 1 bis 4, zum Erfassen eines Kippwinkels der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte hinsichtlich einer optischen Achse des optischen Aufnehmers; und

Kippkompensationseinrichtungen (20e, 29, 16, 17) zur Winkeleinstellung des optischen Aufnehmers, basierend auf dem erfassten Kippwinkel, um so die optische Achse des optischen Aufnehmers senkrecht zur Aufzeichnungsoberfläche der optischen Platte zu stellen.