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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Gebiet der
Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft allgemein optische Spannungsplättchen,
die für
die Verzögerung
optischer Wellenfronten verwendet werden, und Verfahren, dieselben
herzustellen.
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Verwandter
Stand der Technik
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Viele
Halbleiter-Herstellungssysteme verwenden Fotolithografietechniken
bei der Herstellung von Halbleiterwafern. Während der Herstellung werden
eine oder mehrere Schichten von Schaltungsmustern auf einem Halbleiterwafer
aufgebracht. Dieses wird durch Ausleuchten einer Maske mit Licht ausgeführt, wobei
die Maske ein gewünschtes
Schaltungsmuster enthält.
Das resultierende Maskenbild wird dann auf fotosensitiven Fotolack
projiziert, der den Halbleiterwafer bedeckt. Nach einer Reihe von Belichtungen
und nachfolgenden Verarbeitungen ist ein Halbleiterwafer, der das
gewünschte
Schaltungsmuster besitzt, hergestellt.
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Es
ist gut bekannt, dass das kleinste Element, das auf dem Halbleiterwafer
hergestellt werden kann, durch die optische Wellenlänge des
Lichtes begrenzt ist, das in dem Ausleuchtungssystem verwendet wird.
Es ist ebenso bekannt, dass die obere Grenze einer Schaltungstaktgeschwindigkeit
invers mit der Größe der Halbleiterelemente
variiert. Daher erfordert der Bedarf an höheren Taktgeschwindigkeiten,
dass Halbleiter kleinere Schaltungselemente besitzen. Schaltungselemente
von 0,25 μm
(Mikrometer) sind mit Fotolithografiesystemen erreicht worden, die
Lichtwellenlängen
von 193 nm (Nanometer) verwenden. Um Geometrien unterhalb von 0,25 μm zu erreichen,
müssen
sogar noch kleinere Wellenlängen
(z. B. 157 nm) verwendet werden.
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Das
Ausleuchtungssystem, das bei der Fotolithografie verwendet wird,
schließt
verschiedene optische Komponenten, die Licht verändern, um ein Maskenbild auf
den Halbleiterwafer zu projizieren, ein. Eine verbreitete Komponente
in dem Ausleuchtungssystem ist ein Plättchen für die optische Verzögerung (auch
Spannungsplättchen
genannt). Spannungsplättchen
können
verwendet werden, um eine Lichtwellenfront um einen bestimmten Betrag
zu verzögern
oder zu retardieren. Spannungsplättchen können ebenso
verwendet werden, um die Polarisation von Licht von einer Polarisation
zu einer anderen zu ändern.
Zum Beispiel konvertiert ein 1/4 (Viertel) Wellen-Spannungsplättchen,
das gegenüber
dem einfallenden Licht um 45° gedreht
ist, linear polarisiertes Licht in zirkular polarisiertes Licht
und umgekehrt. In einem weiteren Beispiel wird horizontal polarisiertes
Licht in vertikal polarisiertes Licht durch Verwendung eines 1/4-Wellen-Spannungsplättchens und
eines Spiegels konvertiert. Dieses geschieht dadurch, dass das horizontal
polarisierte Licht durch das 1/4-Wellen-Spannungsplättchen gestrahlt wird, um zirkular
polarisiertes (CP-) Licht zu erzeugen. Das CP-Licht wird dann von
dem Spiegel reflektiert, um die CP-Polarisation umzukehren. Schließlich wird das
reflektierte CP-Licht durch das 1/4-Wellen-Spannungsplättchen zurück geschickt,
um vertikal polarisiertes Licht zu erzeugen.
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Damit
ein Spannungsplättchen
wie gewünscht
funktioniert, muss es aus einem Material hergestellt sein, das hinreichend
viel Licht der gewünschten
Wellenlänge
durchlässt.
Herkömmliche Spannungsplättchen sind
aus Quarzglas oder künstlichem
Quarz hergestellt. Diese herkömmlichen
Materialien lassen Licht bei Wellenlängen unterhalb von 193 nm nicht
hinreichend durch. Wie oben bemerkt, ist das kleinste Element, das
auf dem Halbleiterwafer hergestellt werden kann, durch die optische
Wellenlänge
des Lichts beschränkt,
das in dem System verwendet wird. Als solches kann ein fotolithografisches System,
das herkömmliche
Spannungsplättchen
verwendet, Elemente herstellen, die nicht kleiner als ungefähr 0,25 μm sind. Daher
besteht ein Bedarf an einem Spannungsplättchen, das bei optischen Wellenlängen arbeitet,
die unterhalb von 193 nm (einschließlich 157 nm) liegen, um die
Herstellung von Halbleiterwafern zu unterstützen, die Schaltungselemente
aufweisen, die kleiner als 0.25 μm
sind.
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Die
US 3600611 offenbart ein
Spannungsplättchen,
das CaF
2 umfasst.
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Zusammenfassung der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Calciumfluorid (CaF2)-Spannungsplättchen und ein Verfahren für die Herstellung
desselben, wie in den angehängten
Ansprüchen
definiert.
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Weitere
Merkmale und Vorteile der Erfindung sowie die Struktur und Arbeitsweise
verschiedener Ausführungsformen
der Erfindung werden unten ausführlich
mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben. Die Zeichnung,
in der ein Element zuerst auftritt, wird typischerweise durch das
Zeichen (die Zeichen) und/oder die Zahlen) ganz links in dem entsprechenden
Bezugszeichen angezeigt.
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Kurze Beschreibung
der Figuren
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Die
vorliegende Erfindung wird mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen
beschrieben, in denen:
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1 eine
Zeichnung eines Ausleuchtungssystems veranschaulicht, das eine beispielhafte
Ausführung
für die
vorliegende Erfindung darstellt;
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2A ein
CaF2-Spannungsplättchen gemäß Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung veranschaulicht;
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2B eine
kubisch-flächenzentrierte
Kristallstruktur für
CaF2 veranschaulicht;
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3 ein
Flussdiagramm 300 für
die Herstellung eines CaF2-Spannungsplättchens
unter Verwendung von Kompressions- und/oder Zugkräften gemäß Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
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4 eine
Probe von unverarbeitetem CaF2, die entlang
von Bruchebenen orientier ist, die ein CaF2-Plättchen enthält, das
entlang kubischer Ebenen orientiert ist, gemäß Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung veranschaulicht;
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5 ein
Flussdiagramm 500 für
die Verarbeitung einer Probe von CaF2, um
ein CaF2-Plättchen herzustellen, das entlang
kubischer Ebenen orientiert ist, zu erzeugen, gemäß Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
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6A ein
CaF2-Plättchen,
das entlang der kubischen Ebenen orientiert ist, gemäß Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
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6B–6G verschiedene
Kombinationen der Anwendung von Kompressions- und/oder Zugkräften senkrecht zu kubischen
CaF2-Ebenen, um eine gewünschte optische Verzögerung zu
erzeugen, gemäß Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung veranschaulichen;
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7 ein
Messsystem 700 zum Messen eines 90-Grad-Spannungsplättchens
gemäß Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
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8 ein
Flussdiagramm 800 zur Herstellung eines CaF2-Spannungsplättchens
unter Verwendung von Scherkräften
gemäß Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
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9 ein
Flussdiagramm 900 für
die Verarbeitung einer Probe von CaF2 zum
Herstellen eines CaF2-Plättchens, das mechanische Flächen aufweist,
die um 45 Grad um die Transmissionsachse relativ zu den kubischen
CaF2-Ebenen gedreht sind, gemäß Ausführungsformen
der Erfindung veranschaulicht;
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10A ein CaF2-Plättchen veranschaulicht,
das mechanische Flächen
aufweist, die um 45 Grad relativ zu den kubischen CaF2-Ebenen
gedreht sind; und
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10B–10C verschiedene Ausführungsformen für das Anwenden
von Scherkräften entlang
(oder benachbart zu) kubischen CaF2-Ebenen,
um eine optische Verzögerung
zu implementieren, gemäß Ausführungsformen
der Erfindung veranschaulichen.
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AUSFÜHRLICHE
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
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1.
Beispielumgebung
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Vor
einer ausführlichen
Beschreibung der Erfindung ist es nützlich, eine Beispielumgebung
der Erfindung zu beschreiben. Eine Beschreibung dieser Beispielumgebung
wird lediglich aus Gründen
der Einfachheit bereitgestellt und ist nicht als eine irgend geartete
Einschränkung
der Erfindung gedacht. In der Tat wird es nach dem Lesen der Erfindungsbeschreibung
für den
in dem verwandten Stand der Technik ausgebildeten Fachmann deutlich
werden, wie die Erfindung in zu der hier beschriebenen alternativen
Umgebungen zu implementieren ist.
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1 veranschaulicht
eine Beispielumgebung, die ein Ausleuchtungssystem 100 zum
Fokussieren von Licht auf einen Wafer 127 einschließt. Das Ausleuchtungssystem 100 kann
Teil eines Fotolithografiesystems zur Herstellung eines gewünschten Schaltungsmusters
auf dem Wafer 127 sein. Das Ausleuchtungssystem 100 enthält: eine
Lichtquelle 103; einen Spiegel 106; ein Spannungsplättchen 109;
einen Strahlteilerwürfel 121,
der Abschnitte 112 und 118 und eine Beschichtung
(Beschichtungen) 115 aufweist; und ein Fokussiermodul 124.
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Das
Ausleuchtungssystem 100 arbeitet wie folgt. Die Lichtquelle 103 stellt
eine Lichtwellenfront 104 zur Verfügung, die eine spezielle Wellenlänge und
Polarisation aufweist, die auf den Strahlteilerwürfel 121 fällt. Aus
Gründen
der Diskussion ist die Lichtwellenfront 104 vertikal polarisiert,
obwohl andere Polarisationen verwendet werden könnten.
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Die
Lichtwellenfront 104 passiert den Abschnitt 112 des
Würfels 121 und
fällt auf
die Beschichtung 115. Die Beschichtung 115 hat
optische Transmissionseigenschaften, die in Abhängigkeit von der Polarisation
des einfallenden Lichtes variieren. Wenn das einfallende Licht vertikal
polarisiert ist, ist die Beschichtung 115 reflektierend.
Wenn das einfallende Licht horizontal polarisiert ist, dann ist
die Beschichtung 115 durchlässig. Da die Wellenfront 104 vertikal
polarisiert ist, wird sie durch die Beschichtung 115 aufwärts zu dem
Spannungsplättchen 109 reflektiert.
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Das
Spannungsplättchen 109 ist
beinahe ein 1/4-Wellen-Spannungsplättchen für die interessierende Wellenlänge und
ist um 45 Grad in der zx-Ebene relativ zu der einfallenden Wellenfront
gedreht. Das Ergebnis ist, dass das Spannungsplättchen 109 das vertikal
polarisierte Licht zu zirkular polarisiertem (CP-) Licht 107 konvertiert,
das auf den Spiegel 106 einfällt.
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Der
Spiegel 106 reflektiert das CP-Licht 107 und kehrt
die zirkulare Polarisation um, um umgekehrtes CP-Licht 108 zu
erzeugen. Das CP-Licht 108 verläuft zurück durch das Spannungsplättchen 109 und
wird zu horizontal polarisiertem Licht 110 konvertiert,
das auf den Würfel 121 einfällt. Somit
wird durch zweimaliges Leiten linear polarisierten Lichtes durch ein
1/4-Wellen-Spannungsplättchen
unter Verwendung eines Spiegels die lineare Polarisation beibehalten,
aber die Polarisation ist um 90 Grad gedreht.
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Der
Würfel 121 leitet
ohne wesentliche Änderungen
das horizontal polarisierte Licht 110 zu dem Fokussiermodul 124.
Dieses geschieht, da die Beschichtung 115 für horizontal
polarisiertes Licht, wie oben diskutiert, durchlässig ist.
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Das
Fokussiermodul 124 enthält
die Maske, die das gewünschte
Schaltungsmuster aufweist. Das Fokussiermodul 124 veranlasst
das einfallende Licht, durch die Maske zu verlaufen, die ein Maskenbild 126 erzeugt,
das auf den Wafer 127 fokussiert wird.
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2. Calciumfluorid (CaF2) – Spannungsplättchen
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2A veranschaulicht
das Spannungsplättchen 200 zum
Verzögern
einer optischen Wellenfront gemäß Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung. Das Spannungsplättchen 200 ist aus
einem Calciumfluoridmaterial hergestellt, das das chemische Symbol
CaF2 besitzt. CaF2 besitzt
eine gut bekannte Kristallstruktur, die kubisch-flächenzentriert ist. 2B veranschaulicht
die kubisch-flächenzentrierte
Struktur von CaF2 und enthält 8 Calcium
(Ca) – Ionen,
die einen Würfel
bilden, der ein zusätzliches Ca-Ion
in der Mitte von jeder der sechs Flächen des Würfels besitzt. (Die Fluor-Ionen
sind zur Vereinfachung der Illustration nicht gezeigt.) Die äußeren Flächen des
Würfels
sind die kubischen Ebenen, und die Spaltebenen werden durch die
gepunkteten Linien gebildet. Ein Teil der Spaltebene, der von den
Ca-Ionen Ca1, Ca2,
und Ca3 gebildet wird, ist kreuzschattiert.
Die am einfachsten zu schneidende oder zu brechende Ebene eines
kristallinen Materials liegt entlang der Spaltebenen und nicht der
kubischen Ebenen.
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Ein
Vorteil, eine optische Verzögerung
durch CaF2 herzustellen, liegt darin, dass
CaF2 in der Lage ist, elektromagnetische
Wellen, die Wellenlängen
haben, die unterhalb von 193 nm liegen (einschließlich Wellenlängen bei
157 nm), mit relativ niedriger Dämpfung,
wenn man es mit traditionellen optischen Materialien wie Quarzglas
oder künstlichem
Qual vergleicht, durchzulassen. Daher ermöglichen CaF2-Spannungsplättchen Herstellungsvertahren, um
Halbleiter mit Schaltungsgeometrien herzustellen, die kleiner als
0,25 μm
sind.
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Das
Spannungsplättchen 200 besitzt
zwei verschiedene Brechungsindizes, die von elektromagnetischen
(EM) – Feldern
in Abhängigkeit
von der EM-Feldorientierung gesehen werden. Der erste Brechungsindex
ist n1 und wird von EM-Feldern gesehen,
die mit dem Vektor 203 orientiert sind. Der zweite Brechungsindex
ist n2 und wird von EM-Feldem gesehen, die
mit dem Vektor 206 orientiert sind. Wie verstanden wird,
definieren die Brechungsindizes für ein Material die Phasengeschwindigkeit
für eine
elektromagnetische Welle, die sich in dem Material fortpflanzt,
relativ zu der Phasengeschwindigkeit im freien Raum.
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In
Ausführungsformen
der Erfindung stellt n1 den charakteristischen
Brechungsindex für
ungestörtes
CaF2 und n2 einen
höheren
oder niedrigeren Brechungsindex, der durch eine Kompressions- oder Zugkraft,
die mit dem Vektor 206 ausgerichtet ist, verursacht wird,
dar. Die Änderung
des charakteristischen Brechungsindexes von CaF2 unter
Verwendung von Kompressions- und/oder Zugkräften wird im Weiteren in dem
folgenden Abschnitt diskutiert. Alternativ sind sowohl n1 als auch n2 von
dem Brechungsindex für
ungestörtes
CaF2 verschieden, wobei einer (n1 oder n2) einen
höheren
Brechungsindex als ungestörtes
CaF2 aufweist, und der andere einen niedrigeren
Brechungsindex als ungestörtes
CaF2 besitzt. (Im Weiteren wird der Vektor 203 als
Brechungsindexvektor 203 bezeichnet, und es wird angenommen,
dass er seinen assoziierten Brechungsindex n1 enthält. Ähnlich wird
Vektor 206 als Brechungsindexvektor 206 bezeichnet,
und es wird angenommen, dass er den assoziierten Brechungsindex
n2 enthält.)
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Wie
in 2A gezeigt, sind die beiden Brechungsindizes 203 und 206 senkrecht
auf einem assoziierten Satz von kubischen CaF2-Ebenen
und sind daher senkrecht zueinander. Die Vektoren 203 und 206 sind
ebenfalls senkrecht zu einer Transmissionsachse 209, die
mit dem Spannungsplättchen 200 assoziiert
ist. Die Transmissionsachse 209 definiert die Richtung,
in der sich eine optische Wellenfront erforderlicher Weise durch
das Spannungsplättchen 200 ausbreitet,
um die gewünschte
Verzögerung
zu erhalten. Bei dem Spannungsplättchen 200 ist
der erste Brechungsindex 203 entlang der z-Achse ausgerichtet,
und der zweite Brechungsindexvektor 206 ist entlang der
x-Achse ausgerichtet, wie sie durch das Koordinatensystem für 2A definiert
sind. Die Transmissionsachse 209 befindet sich entlang
der y-Achse durch das Plättchen 200.
Die gewünschte optische
Verzögerung
kann durch Transmission der optischen Wellenfront 212 durch
eine der Seiten des Spannungsplättchens 200 entlang
der y-Achse erreicht werden.
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Wenn
eine optische Wellenfront 212 durch das Spannungsplättchen entlang
der Transmissionsachse 209 verläuft, wird die optische Wellenfront
um einen Betrag, der proportional zu dem Unterschied zwischen den
Brechungsindexvektoren ist, retardiert oder verzögert. Die Verzögerung tritt
auf, weil die optische Wellenfront 212 eine EM-Feldkomponente,
die entlang dem ersten Brechungsindexvektor 203 ausgerichtet
ist, und eine EM-Feldkomponente, die entlang dem zweiten Brechungsindexvektor 206 ausgerichtet
ist, besitzt. Infolgedessen besitzt die Feldkomponente, die entlang
dem Vektor 203 ausgerichtet ist, eine andere Phasengeschwindigkeit
als die Feldkomponente, die entlang dem Vektor 206 ausgerichtet
ist, wenn sie durch das Spannungsplättchen 200 verläuft, wodurch
die Verzögerung
implementiert wird.
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3. Verfahren zur Herstellung
eines CaF2-Spannungsplättchens
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Wie
oben beschrieben, funktioniert ein CaF2-Spannungsplättchen zum
Verzögern
einer optischen Wellenfront dadurch, dass es zwei unterschiedliche
Brechungsindizes besitzt, die von verschiedenen Feldkomponenten
der optischen Wellenfront gesehen werden. Der vorliegende Abschnitt
beschreibt Verfahren zur Herstellung eines CaF2-Spannungsplättchens
unter Verwendung von Kompressions-, Zug- und Scherkräften, die
auf die Flächen
der kubischen Ebene des CaF2-Plättchens
angewendet werden.
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A. Kompressions- und/oder
Zugkräfte
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3 zeigt
ein funktionelles Flussdiagramm 300, das ein Verfahren
zur Herstellung eines CaF2-Spannungsplättchens
aus einer Probe von CaF2-Material gemäß Ausführungsformen
der Erfindung beschreibt. Das Flussdiagramm 300 wird wie folgt
beschrieben.
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In
einem Schritt 302 wird eine Probe von CaF2-Material
bereitgestellt. 4 veranschaulicht eine CaF2-Probe 402, die Spaltebenen 404 und
kubische Ebenen 406 besitzt. Unbearbeitete Proben sind typischerweise
in einer Spaltebene orientiert, da die Spaltebene die Ebene ist,
in der am einfachsten von einem neu gewachsenen CaF2-Block eine Probe
geschnitten wird.
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In
einem Schritt 304 wird die Orientierung der kubischen Ebenen
der CaF2-Probe bestimmt. Die Bestimmung
der Orientierung der kubischen Ebene für eine Probe kann unter Verwendung
bekannter Röntgentechniken
oder anderer Standardtechniken ausgeführt werden. Die Orientierung
der kubischen Ebene wird so bestimmt, dass ein CaF2-Plättchen, das
Flächen,
die entlang der kubischen Ebenen ausgerichtet sind, aufweist, von
der CaF2-Probe geschnitten werden kann,
wie es durch das CaF2-Plättchen 408, das durch
die kubischen Ebenen 406 definiert ist, in 4 veranschaulicht
ist.
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In
einem Schritt 306 wird die CaF2-Probe
verarbeitet, um ein CaF2-Plättchen herzustellen,
das sämtliche
6 Flächen
in kubischen CaF2-Ebenen liegen hat. Schritt 306 wird
weiterhin durch das Flussdiagramm 500 beschrieben, das
in 5 gezeigt wird, und es wird wie folgt beschrieben.
In einem Schritt 502 wird ein CaF2-Plättchen,
das in den kubischen CaF2-Ebenen ausgerichtet
ist, von der CaF2-Probe geschnitten, wie
es durch das CaF2-Plättchen 408, das in 4 gezeigt
ist, veranschaulicht ist. Verschiedene Techniken zum Schneiden oder
Schleifen kristalliner Materialien sind den Fachleuten bekannt. In
einem Schritt 504 wird das CaF2-Plättchen auf
eine handelsübliche
Polierung poliert, so dass die Flächen hinreichend flach und
parallel für
optische Transmissionen sind. 6A stellt
das CaF2-Plättchen 408 dar, nachdem
es von der Probe 402 geschnitten worden ist, wobei sämtliche
6 Flächen 406a–f des Plättchens
in einer kubischen CaF2-Ebene liegen.
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In
einem Schritt 308 wird eine Kompressionskraft oder Zugkraft
senkrecht zu zumindest einem Satz von Flächen kubischer Ebenen und senkrecht zu
der Transmissionsachse einer einfallenden optischen Wellenfront
angelegt. Die Kompressions- oder Zugkraft setzt das Plättchen in
der Richtung der Kraft unter Spannung, wodurch der Brechungsindex
für elektromagnetische
Felder, die entlang der Richtung der Spannung orientiert sind, geändert wird.
In anderen Worten weist das unter Spannung gesetzte CaF2-Plättchen effektiv
zwei Brechungsindizes auf. Ein Brechungsindex wird von elektromagnetischen Feldern
gesehen, die in der Richtung der Spannung orientiert sind. Der andere
Brechungsindex wird von elektromagnetischen Feldern gesehen, die
in Richtungen orientiert sind, in denen keine Spannung vorliegt.
Es sind die unterschiedlichen Brechungsindizes entsprechend der
Feldorientierung, die die gewünschte
Verzögerung
für die
optische Wellenfront verursachen, die sich entlang der Transmissionsachse
ausbreitet. Die verbleibenden Schritte in dem Flussdiagramm 300 werden
weiter unten beschrieben.
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6B–6G veranschaulichen
verschiedene Ausführungsformen
für die
Anwendung von Kompressions- und/oder Zugkräften auf das CaF2-Plättchen 408 in
dem Schritt 308. Diese Figuren schließen eine optische Wellenfront 602 ein,
die auf die Fläche 406b entlang
der y-Achse einfällt,
um die Transmissionsachse relativ zu den angelegten Kraftvektoren
zu definieren. (Die Fläche 406b wird zur
Einfachheit als die Unterfläche
veranschaulicht.) Für
optimale Verzögerungsresultate
sollte die optische Wellenfront 602 senkrecht zu der Fläche 406b (und
daher senkrecht zu den Kraftvektoren) einfallen. Dieselbe Verzögerung wird
erreicht, wenn die optische Wellenfront auf die obere Fläche 406a einfällt. Wenn
die optische Wellenfront 602 eine transversale elektromagnetische
(TEM-) Welle ist, besitzt die Wellenfront 602 eine EM-Feldkomponente
in der x-Richtung und eine Etikettiermaschine-Feldkomponente in der
z-Richtung, wie von den Fachleuten verstanden werden wird. 6B–6D werden
nun in Ausführlichkeit
diskutiert.
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In 6B wird
die Kompressionskraft 604a und 604b entlang der
x-Richtung und senkrecht zu den Flächen 406c und 406d des
CaF2-Plättchens 408 angelegt.
In einer bevorzugten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung kann eine Kompressionskraft unter Verwendung
von einer oder mehreren Schrauben angelegt werden, die an die Flächen 406c und 406d anstoßen. Für beste
Ergebnisse sollte die Kompressionskraft gleichförmig entlang der Flächen 406c und 406d unter
Verwendung mehrerer Schrauben ange legt werden. Die Kompressionskraft
wird eine innere Spannung verursachen, die den Brechungsindex des
CaF2-Plättchens,
der von den EM-Feldem gesehen wird, die in der x-Richtung orientiert
sind, verändert.
Der Brechungsindex für EM-Felder,
die in der z-Richtung
orientiert sind, verbleibt unverändert.
Daher wird die optische Wellenfront 602, wenn sie sich
durch das Plättchen 408 ausbreitet,
verzögert,
da die EM-Felder, die in x-Richtung orientiert
sind, im Vergleich zu den EM-Feldern, die in der z-Richtung orientiert
sind, verzögert
werden. Experimentelle Resultate zeigen, dass bei der Wellenlänge von
157 nm durch Anlegen von einer Kraft von 300–500 psi eine Verzögerung von
90 Grad erreicht werden kann.
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In 6C wird
eine Zugkraft (oder ziehende Kraft) 606a, b senkrecht zu
den Flächen 406c und 406d angelegt.
In einer bevorzugten Ausführungsform
kann eine Zugkraft durch Ankleben einer Leiste an jeder Fläche 406c und 406d und
Nachaußenziehen
an den Leisten angelegt werden. Wie oben beschrieben, ändert die
angelegte Kraft den Brechungsindex für EM-Felder, die in der Richtung
der Kraft orientiert sind, wodurch die gewünschte Verzögerung verursacht wird.
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In 6D wird
eine Kompressionskraft 608a, b senkrecht zu den Flächen 406e und 406f angelegt.
Die angelegte Kraft 608 ändert den Brechungsindex für EM-Felder,
die in der z-Richtung jedoch nicht in der x-Richtung orientiert
sind, wodurch die gewünschte
Verzögerung
verursacht wird.
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In 6E wird
eine Zugkraft (oder ziehende Kraft) 610a, b senkrecht zu
den Flächen 406e und 406f angelegt,
um die gewünschte
Verzögerung
zu implementieren.
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In 6F wird
eine Kompressionskraft 612a, b senkrecht zu den Flächen 406c und 406d angelegt, und
es wird eine Zugkraft 614a, b senkrecht zu den Flächen 406e und 406f angelegt.
In dieser Ausführungsform
wird der Brechungsindex für
EM-Felder, die entlang der x-Richtung orientiert sind, und der Brechungsindex
für EM-Felder,
die in der z-Richtung orientiert
sind, geändert.
Jedoch wird ein Brechungsindex erhöht und der andere erniedrigt,
da eine Kraft eine Kompressionskraft und die andere Kraft eine Zugkraft
ist.
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In 6G wird
eine Zugkraft 614a, b senkrecht zu den Flächen 406c und 406d und
eine Kompressionskraft 616a, b senkrecht zu den Flächen 406e und 406f angelegt. Ähnlich wie
in 6F beschrieben, werden die Brechungsindizes für EM-Wellen,
die sowohl in der x-Richtung als auch der z-Richtung orientiert
sind, geändert,
jedoch weisen die Änderungen
entgegengesetzte Vorzeichen auf.
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Es
wird aus den 6B–6G erkannt, dass
die Kompressions- und/oder Zugkräfte
an kubischen Ebenen angelegt werden, die nicht den Satz von Ebenen
darstellen, der die einfallende optische Wellenfront empfängt (die
Ebenen 406a und 406b). Statt dessen werden die
Kompressions- oder Zugkräfte
an einem oder mehreren der anderen zwei Sätze von kubischen Ebenen angelegt.
Diese anderen Sätze
von kubischen Ebenen sind 406c, 406d und 406e, 406f.
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Um
nun zu dem Flussdiagramm 300 zurückzukommen, wird die optische
Verzögerung
in einem Schritt 310 für
die interessierende Wellenlänge
gemessen, um zu bestimmen, ob der gewünschte Grad an Verzögerung erreicht
ist. Es gibt verschiedene Vorrichtungen, einschließlich Polarimeter,
um die optische Verzögerung
zu messen, die dem Fachmann bekannt sind.
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7 veranschaulicht
ein Messsystem 700 zum Bestimmen, ob die optische Verzögerung des Spannungsplättchens 408 für die einfallende
optische Wellenfront 602 die gewünschten 90 Grad erreicht hat.
Zu Zwecken der Diskussion ist die optische Wellenfront 602 vertikal
polarisiert. 7 schließt einen Vertikalpolarisator 703,
das Spannungsplättchen 408,
einen Spiegel 706 und einen Detektor 709 ein und
funktioniert wie folgt.
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Der
Polarisator 703 ist der vertikal polarisierten Wellenfront 602 angepasst
und lässt
deshalb im wesentlichen die Wellenfront 602 zu dem Spannungsplättchen 408 durch.
Das Spannungsplättchen 408 ist
in der zx-Ebene um 45 Grad gedreht und wandelt somit die Wellenfront 602 in
eine zirkular polarisierte Wellenfront 707 um. Der Spiegel 706 reflektiert die
CP-Wellenfront 707 und kehrt die CP-Polarisation um, um
die CP-Wellenfront 708 zu
erzeugen. Die CP-Wellenfront 708 verläuft zurück durch das Spannungsplättchen 408 und
wird in im wesentlichen horizontal polarisiertes Licht 704 umgewandelt,
wenn die Spannungsplättchenverzögerung im
wesentlichen 90 Grad beträgt.
Der Vertikalpolarisator 703 empfängt das Licht 704 und
weist jeglichen Anteil, der hori zontal polarisiert ist, zurück, und
lässt den
vertikalen Anteil als Licht 702 durch. Der Detektor 709 misst
die Signalstärke
des Lichts 702, das durch den Polarisator 703 verläuft. Je
mehr die Verzögerung
des Spannungsplättchens 408 bei
90 Grad liegt, desto mehr Licht 704 wird zurückgewiesen,
und desto kleiner ist die Signalstärke, die für das Licht 702 gemessen wird.
Wenn die Spannungsplättchenverzögerung gegenüber 90 Grad
abweicht, wird der Detektor 709 eine höhere Signalstärke von
Licht, das durch den Polarisator 703 verläuft, detektieren.
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In
einem Schritt 312 wird bestimmt, ob die Verzögerung des
Spannungsplättchens
hinreichend nah an dem gewünschten
Grad ist. Wenn das Messsystem 700 verwendet wird, erfolgt
die Bestimmung 312 auf der Grundlage der gemessenen Signalstärke des
Lichts 702. In anderen Worten ist, wenn die Signalstärke oberhalb
eines Schwellenwertes liegt, die Verzögerung nicht hinreichend nahe
an den gewünschten
90 Grad. Wenn die Verzögerung
hinreichend ist, endet dann die Verarbeitung, und ist das Spannungsplättchen 408 fertiggestellt
und für
eine Verwendung bereit. Wenn die Verzögerung nicht hinreichend ist,
kann die Kompressions- und/oder Zugkraft in Schritt 314 erhöht werden
und kann der Messvorgang wiederholt werden, bis die gewünschte Verzögerung erreicht
worden ist.
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B. Scherkräfte
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Das
Flussdiagramm 300 beschrieb ein Verfahren zur Herstellung
eines CaF2-Spannungsplättchens unter Verwendung von
Kompressions- und/oder Zugkräften,
die senkrecht zu den mechanischen Flächenkubischen Ebenen des CaF2-Plättchens
angelegt wurden. Alternativ kann ein CaF2-Spannungsplättchen unter
Verwendung von Scherkräften
hergestellt werden, die auf das Plättchen wirken. 8 stellt
ein Flussdiagramm 800 dar, das ein Verfahren zur Herstellung
eines CaF2-Spannungsplättchens unter Verwendung von
einer oder mehreren Scherkräften
zeigt. Schritte 302, 304 und 310–314 in
dem Flussdiagramm 800 sind dieselben, wie diejenigen, die
in dem Flussdiagramm 300 beschrieben sind, auf welches
der Leser für
weitere Einzelheiten verwiesen wird. Die neuen Schritte 802 und 804 werden
im weiteren beschrieben.
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In
einem Schritt 802 wird die CaF2-Probe
verarbeitet, um ein CaF2-Plättchen herzustellen,
das mechanische Flächen
besitzt, die um die Transmissionsachse relativ zu den kubischen
CaF2-Ebenen um 45 Grad gedreht sind. Schritt 802 wird
weiterhin durch Flussdiagramm 900 beschrieben, das in 9 gezeigt
ist, und wird wie folgt beschrieben. In einem Schritt 902 wird
ein CaF2-Plättchen so von der CaF2-Probe geschnitten, dass vier der mechanischen
Flächen
(die nicht die Transmissionsachse definieren) um 45 Grad gegenüber den
kubischen CaF2-Ebenen, die in Schritt 304 gefunden
wurden, gedreht sind. Verschiedene Techniken zum Schneiden oder
Schleifen kristalliner Materialien sind den Fachleuten bekannt.
Die anderen zwei mechanischen Flächen
werden so geschnitten, dass sie in kubischen CaF2-Ebenen
liegen, und definieren die Transmissionsachse für die optische Wellenfront.
In einem Schritt 904 wird das CaF2-Plättchen auf
eine handelsübliche
Polierung poliert, so dass die Flächen hinreichend flach und
parallel sind, wie es für
die optische Transmission erforderlich ist.
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10A stellt ein CaF2-Plättchen 1002 dar, nachdem
es gemäß den Schritten 902 und 904 bearbeitet
worden ist. Wie beschrieben, besitzt das CaF2-Plättchen 1002 mechanische
Flächen 1004a–d, die
um die Transmissionsachse 1008 relativ zu den kubischen
Ebenen 1006a–d
um 45 Grad gedreht sind. Als solche formen die kubischen Ebenen 1006a–d in dem
Plättchen 1002,
wie in 10A gezeigt, eine Diamantform.
Die mechanischen Flächen 1004e und 1004f sind
die "oberen" und "unteren" Flächen des
Plättchens 1002 und
liegen in den kubischen CaF2-Ebenen. Als
solches stehen die mechanischen Flächen 1004e und 1004f senkrecht
zu der optischen Transmissionsachse 1008 (und definieren
dieselbe).
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In
einem Schritt 804 werden Scherkräfte entlang der mechanischen
Flächen
und senkrecht zu der Transmissionsachse der einfallenden optischen Wellenfront
angelegt. Die Scherkräfte
sind zu entgegengesetzten Ecken des CaF2-Plättchens
in einer Weise gerichtet, die verhindert, dass das CaF2-Plättchen sich
dreht. Wie bei dem Verfahren mit der Kompressions-/Zugkraft ändern die
Scherkräfte
den Brechungsindex des CaF2-Plättchens
in der Richtung der resultierenden Kraftvektoren, um die gewünschte optische
Verzögerung
zu implementieren.
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10B und 10C veranschaulichen
einige der verschiedenen Ausführungsformen
für die Anwendung
der Scherkräfte,
um den Brechungsindex des CaF2-Plättchens
zu ändern. 10B und 10C werden
wie folgt erläutert.
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In 10B werden Scherkräfte 1010a und 1010b an
der Ecke 1012 entlang der Flächen 1004b bzw. 1004c angelegt.
Ebenso werden Scherkräfte 1016a und 1016b an
der Ecke 1014 entlang der Flächen 1004a bzw. 1004d angelegt.
Scherkräfte
können
durch Ankleben einer Leiste an jeder Fläche 1004 und Drücken oder
Ziehen auf der Leiste in der geeigneten Richtung implementiert werden.
Die resultierenden Kräfte
schließen
eine Zugkraft 1018a und 1018b ein, die wirkt,
um die Ecken 1012 und 1014 voneinander fort zu
ziehen. Ebenso wirkt eine Kompressionskraft 1019a und 1019b,
um die Ecken 1003 und 1005 zueinander zu drücken. Zugkraft 1018a,
b und Kompressionskraft 1019a, b ändern den Brechungsindex entlang
der Richtung ihrer jeweiligen Achsen und implementieren daher die
gewünschte
optische Verzögerung.
Es wird bemerkt, dass die Kraft 1018a, b entlang der Diagonalen
gerichtet ist, die von den Ecken 1012 und 1014 gebildet wird.
Daher steht die Kraft 1018a, b senkrecht zu den kubischen
Ebenen 1006b und 1006d, ist jedoch in der zx-Ebene
relativ zu den mechanischen Flächen 1004a–d um 45
Grad gedreht. Ebenso steht die Kraft 1019a, b senkrecht
zu den kubischen Ebenen 1006a und 1006d, ist jedoch
in der zx-Ebene relativ zu den mechanischen Flächen 1004a–d um 45
Grad gedreht. Dieses ist im Gegensatz zu den Kompressions- und Zugkräften in
den 6A–6G,
die sämtlich
senkrecht auf den mechanischen Flächen des Spannungsplättchens 408 standen.
Eine Folge dieses Unterschieds ist, dass ein Spannungsplättchen von
90 Grad, das unter Verwendung von Scherkräften hergestellt wird, nicht
um 45 Grad in der zx-Ebene gedreht werden muss, um die Polarisation der
einfallenden optischen Wellenfront von der linearen Polarisation
zu der zirkularen Polarisation und umgekehrt zu ändern. Dieses ist so, weil
die resultierenden Kraftvektoren 1018 und 1019 bereits
um 45 Grad in der zx-Ebene gedreht sind.
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In 10C werden Scherkräfte 1020a und 1020b an
der Ecke 1012 entlang der Flächen 1004b bzw. 1004c angelegt.
Ebenso werden Scherkräfte 1022a und 1022b an
der Ecke 1014 entlang der Flächen 1004a bzw. 1004d angelegt.
Das Ergebnis ist eine Kompressionskraft 1024a und 1024b,
die entlang der Diagonalen wirkt, die durch die Ecken 1012, 1014 gebildet
wird, und den Brechungsindex entlang der Diagonale ändert. Ebenso
wirkt eine Zugkraft 1026a und 1026b entlang der
Diagonale der Ecken 1003, 1005 und ändert den
Brechungsindex entlang der Diagonalen. Wie in 10B steht die resultierende Kompressionskraft 1024a,
b senkrecht zu den kubischen Ebenen 1006b und 1006d,
ist jedoch relativ zu den mechanischen Flächen 1004a–d um 45
Grad gedreht. Ebenso steht die Zugkraft 1026a, b zu den kubischen
Ebenen 1006a und 1006c senkrecht, ist jedoch relativ
zu den mechanischen Flächen 1004a–d um 45
Grad recht, ist jedoch relativ zu den mechanischen Flächen 1004a–d um 45
Grad gedreht. Daher ist es nicht notwendig, das Spannungsplättchen zu
drehen, um die Polarisation der einfallenden optischen Wellenfront
von der linearen Polarisation zu der zirkularen Polarisation und
umgekehrt zu ändern.
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Schlussfolgerung
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Es
sind hier beispielhafte Ausführungsformen
der Verfahren und Bestandteile der vorliegenden Erfindung beschrieben
worden. Wie an anderer Stelle bemerkt, sind diese beispielhaften
Ausführungsformen
lediglich zur Veranschaulichung beschrieben worden und sind nicht
einschränkend.
Andere Ausführungsformen
sind möglich
und werden von der Erfindung, wie sie ausschließlich gemäß den folgenden Ansprüchen definiert
ist, abgedeckt.