DE471111C - Messvorrichtung, besonders fuer die Einstellmasse von Flankenmikrometern - Google Patents
Messvorrichtung, besonders fuer die Einstellmasse von FlankenmikrometernInfo
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- DE471111C DE471111C DEW75328D DEW0075328D DE471111C DE 471111 C DE471111 C DE 471111C DE W75328 D DEW75328 D DE W75328D DE W0075328 D DEW0075328 D DE W0075328D DE 471111 C DE471111 C DE 471111C
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/38—Gauges with an open yoke and opposed faces, i.e. calipers, in which the internal distance between the faces is fixed, although it may be preadjustable
- G01B3/40—Gauges with an open yoke and opposed faces, i.e. calipers, in which the internal distance between the faces is fixed, although it may be preadjustable for external screw-threads
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
Description
- Meßvorrichtung, besonders für die Einstellmaße von Flankenmikrometern Abb. i zeigt die Gestalt und den Verwendungszweck der bekannten Einstellmaßen für Gewindeflankenmikrometer. Das Einstellmaß besteht aus einem Bolzen a, der an einem Ende in die Spitze b ausläuft und am anderen Ende bei c ausgebohrt ist. Unter der Voraussetzung, daß die Flankenwinkel der einfachen und der doppelten Spitze am Mikrometer gleich dem Flankenwinkel des Einstellmaßes bei b sind, ist f das gewünschte Flankenmaß, dessen genaue Länge am Einstellmaß bestimmt werden muß, um danach die Spitzen des Mikrometers einzustellen.
- Nach der Erfindung wird die Länge f am Einstellmaß durch eine Vorrichtung bestimmt, deren Wesen und Wirkungsweise aus dem in den Abb. a bis q. wiedergegebenen Ausführungsbeispiel hervorgeht. Die Abb. 3 und q. zeigen je zwei senkrecht zueinanderstehende Schnitte durch die Vorrichtung mit eingesetztem Einstellmaß, Abb. z eine perspektivische Ansicht entsprechend Abb.3, jedoch mit einem zur Vergleichsmessung eingesetzten Endmaß. Abb. 5 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel zur Messung des Abstandes zwischen einer Ebene und einem Punkte.
- Die Vorrichtung nach Abb. z bis q. besteht aus einem Führungsstückd, in dessen gerader Führung e ein Schlitten g verschiebbar ist. Im Schlitten ist eine Nut cl angeordnet, die zweckmäßig senkrecht zur Richtung e verläuft. Die geschliffene Unterseite des Führungsstückesd kann auf den Meßtisch eines Optimeters aufgesetzt werden, dessen Meßstifth in eine Spitze bi ausläuft. Der Spitzenwinkel von b1 muß gleich dem Spitzenwinkel von b sein.
- Zur Messung wird zunächst ein Endmaß k von der Länge/ des gewünschten Flankenmaßes zwischen den Führungsteil d und den Schlitten g gebracht (Abb. z); die Meßuhr wird gesenkt, so daß die Spitze b,_ an den Kanten der Nut cl anliegt, und dann so eingestellt, daß der Zeiger i z. B. auf Null einspielt. Hierauf wird das Endmaß entfernt, der Schlitten g in die Führung e gelegt und das Einstellmaß zwischen die Spitze b1 und die Nutcl gebracht (Abb.3). Um nun die zur Messung nötige senkrechte Stellung des Einstellmaßes genau zu erhalten, verschiebt man zuerst den Schlitteng unter Beobachtung des Zeigers i. In derjenigen Stellung des Schlittens, bei welcher der Zeiger den größten Wert anzeigt, läßt man den Schlitten g stehen und wiederholt nun dieselbe Art der Einstellung durch Verschieben der Spitze b in der Nut cl des Schlittens, d. h. also .etwa senkrecht zur ersten Bewegungsebene (Abb. q.). Die Spitze des Einstellmaßes wird also nacheinander in zwei sich kreuzenden Ebenen entsprechend den Pfeilenm und n geschwenkt. Hierdurch ist das Einstellmaß genau senkrecht unter der Spitze b,, eingestellt, und man kann nun die Stellung des Zeigers mit derjenigen vergleichen, die bei der Vergleichsmessung mit dem Endmaß nach Abb. i erzielt wurde. Der Unterschied in der Zeigerstellung ergibt die Abweichung des Einstellmaßes von der Länge/ des Endmaßes.
- Durch Anwendung mehrerer Schlitten g mit verschieden breiten Nuten c1 ist es möglich, Abweichungen des Flankenwinkels an der Spitze b von der gewünschten Größe festzustellen, denn bei gleichen Flankenwinkeln an den Spitzen b und bi, aber ungleichen Nutenbreitenci müssen die Ergebnisse der beschriebenen Vergleichsmessung dieselben bleiben.
- Dieselbe Vorrichtung kann auch bei anderen Messungen benutzt werden, wenn der Abstand eines durch eine Spitze o. dgl. festgelegten Punktes von einer Ebene bestimmt werden soll und Endmaße micht verwendet werden. Die Vorrichtung kann dabei nach Abb. 5 ausgeführt sein, wo d wieder das Führungsstück bedeutet, der Schlitten aber aus zwei Teilen ,o und p besteht. Der letztere nimmt m einer Bohrung das kugelige Ende eines in seiner Länge verstellbaren Maßes q auf und wird seinerseits in dem unteren Teil senkrecht zur Gradführung des Führungsteils verschoben. Dadurch ist auch hier das Auffinden des kürzesten Abstandes zwischen Punkty und einer beliebigen Ebene durch Schwenken des Einstellmaßes q in zwei sich kreuzenden Ebenen und entsprechendes Verstellen seiner Länge erleichtert.
- Es ist zweckmäßig, aber nicht notwendig, daß sich die beiden Führungsnuten unter 9o° kreuzen.
Claims (1)
- PATENTANSPRÜCHE: i. Meßvorrichtung, besonders für die Einstellmaße von Flankenmikrometern, bei denen das zu messende Stück genau senkrecht zu einer.Ausgangsebene stehen muß, wobei das eine Ende des Meßstücks an einer festen oder senkrecht zur Ausgangsebene beweglichen Auflage (z. B. Fühler einer Meßuhr) anliegt, die ein Schwenken des anderen Endes ermöglicht, dadurch gekennzeichnet, daß das aridere Ende (b) in der Nut (c) einer von zwei sich kreuzenden, auf der Ausgangsebene angeordneten Gradführungen (d, g) aufgenommen wird. a. Meßvorrichtung nach Anspruch i, gekennzeichnet durch eine auf den Meßtisch eines Optimeters aufzulegende Gradführung (d) und einen in dieser Gradführung verschiebbaren Schlitten (g), in welcher das eine Ende kdes Einstellmaßes verschiebbar ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEW75328D DE471111C (de) | 1927-03-13 | 1927-03-13 | Messvorrichtung, besonders fuer die Einstellmasse von Flankenmikrometern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEW75328D DE471111C (de) | 1927-03-13 | 1927-03-13 | Messvorrichtung, besonders fuer die Einstellmasse von Flankenmikrometern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE471111C true DE471111C (de) | 1929-02-06 |
Family
ID=7609868
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEW75328D Expired DE471111C (de) | 1927-03-13 | 1927-03-13 | Messvorrichtung, besonders fuer die Einstellmasse von Flankenmikrometern |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE471111C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2823458A (en) * | 1954-03-12 | 1958-02-18 | Edward M Zabloudil | Cartridge gauge |
-
1927
- 1927-03-13 DE DEW75328D patent/DE471111C/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2823458A (en) * | 1954-03-12 | 1958-02-18 | Edward M Zabloudil | Cartridge gauge |
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