DE4405895C2 - Verfahren zur Kalibrierung nicht abbildender optischer Weitwinkelsonden - Google Patents
Verfahren zur Kalibrierung nicht abbildender optischer WeitwinkelsondenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung nicht abbildender optischer Weitwinkel
sonden, unter Anwendung eines konstanten Lichtleiters sowie von Interferenzfiltern interes
sierender Strahlungsbereiche mittels opto-elektronischer Auswertung.
Vorbekannt ist durch die Schrift DE 24 17 399 A1 ein Vorsatz für Strahlungsmeßgeräte
mit einer Ulbricht′schen Kugel zum Messen von spektralen Anteilen
in einer inhomogenen Strahlung. Die Ulbricht′sche Kugel ist einerseits mit einer
von einem Opalglas gebildeten Lichteintritts- und andererseits gegenüberliegenden
Lichtaustrittsöffnungen versehen. Zwischen beiden Öffnungen ist mittig ein Schalter
aus Trüb- oder Opalglas angeordnet. An der Lichtaustrittsöffnung ist hinter einem
oder mehreren Farbfiltern, die den zu messenden Spektralbereich bestimmen, ein
fotoelektrischer Empfänger angeordnet.
Eine hinsichtlich ihrer Strahlungs- und spektralen Verteilung inhomogene Strahlung
wird beim Eintritt in die Kugel mittels des Opalglases in deren Innenraum gestreut
verteilt. Durch die Reflexionsbedingungen in der Kugel ergibt sich eine diffuse Verteilung
der Strahlung an der Austrittsöffnung. Diese diffuse Strahlung gelangt über
Spektralfilter zum fotoelektrischen Empfänger, dessen Signal ausgewertet wird.
Die Ulbricht′sche Kugel dient in dem Strahlungsmeßgerät zur diffusen Aufbereitung
inhomogener Strahlung zur Messung ihrer Dichte und spektralen Zusammensetzung.
Vorbekannt (Gstrein, Wolfgang: Ein Beitrag zur spektroskopischen
Flammentemperaturmessung bei Dieselmotoren,
Dissertation, TU Graz, 1986, S. 43-45, 56-66) sind Verfahren zur Kalibrierung der vorgenannten Art mit folgendem Kalibrier
aufbau auf einer optischen Bank:
- - Als Strahldichtenormal wird eine Wolframbandlampe angewendet, deren Emission eine bikonvexe Linse auf die zu kalibrierende Sonde als Strahlungs empfanger projiziert.
- - Die von der Sonde erfaßte Emission wird über einen ein- oder mehrgeteilten Lichtleiter sowie Interferenzfilter interessierender Spektren einer opto-elektronischen Auswerte einheit mit einem oder mehreren Auswertekanälen zugeleitet.
Mit dieser allgemein bekannten, vorbeschriebenen Anordnung ist eine Kalibrierung von Weit
winkelsonden nicht möglich.
Theoretisch naheliegend könnte eine Kalibrierung von Weitwinkelsonden über eine Hohl
spiegelanordnung mittels paralleler Strahlen, z. B. des Sonnenlichts, vorgenommen werden.
Der Hohlspiegel müßte hierzu den gesamten Erfassungssektor der in seinem Brennpunkt an
geordneten Weitwinkelsonde überdecken und sein Erfassungswinkel selbst vollständig aus
geleuchtet sein.
Für eine praktische Anwendung ist eine solche Anordnung nicht geeignet, da ihr eine Geschlos
senheit fehlt, um ständig konstante Parameter herstellen zu können.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, ein einfaches Verfahren zur Kalibrierung
optischer Weitwinkelsonden, unter Anwendung von Interferenzfiltern und opto-elektronischer
Auswertung zu finden.
Es wurde gefunden, daß sowohl für die Weitwinkelsonde als auch eine Bezugssonde mit klei
nem Erfassungswinkel und bekannter Kalibrierung in einer Ulbricht′schen Kugel eine Strahlungs
quelle gleicher Strahldichte realisiert wird, mittels der beide Sondenarten entsprechend ihrem
Erfassungswinkel äquivalent belichtbar sind.
Die bei vorbeschriebener Belichtung ermittelten opto-elektronischen Parameter beider Sonden
ermöglichen es, nachfolgend rechnerisch, unter Hinzuziehen der optischen Grundparameter
der Bezugssonde mit kleinem Erfassungswinkel und dem angewendeten Lichtleiter, einen be
zogenen Kalibrierwert für die Weitwinkelsonde zu ermitteln.
Bekannt ist die Ulbricht′sche Kugel bisher in ihrer Anwendung als Integralfotometer zur sum
mierten Erfassung der räumlich abgegebenen Emission eines Strahlers.
Vorteilhaft lassen sich die optischen Grundparameter der Bezugssonde mit kleinem Erfassungs
winkel und des für die künftigen Kalibrierungen anzuwendenden Lichtleiters in einer üblichen
Kalibrieranordnung mit einem Strahldichtenormal ermitteln, um sie dann in nachbeschriebener
Weise für die Ermittlung des bezogenen Kalibrierwertes der Weitwinkelsonde zu nutzen.
An Hand einer Zeichnung wird der Meßaufbau für das erfindungsgemäße Verfahren nach
folgend beschrieben.
Die Figur zeigt den Meßaufbau unter Anwendung einer Ulbricht′schen Kugel 1 als geeignetes
Strahldichtenormal zur vergleichenden Kalibrierung von Optiken mit geringem und weitem
Erfassungswinkel.
Die Ulbricht′sche Kugel 1 weist einen, gegen die Einschuböffnung 11 der Sonden durch einen
Schatter 12 und eine Streuscheibe 13 abgeschirmten Strahler 14 konstanter Lichtleistung auf.
Der Strahler 14 ist eine Halogenlampe, die mit konstantem Strom betrieben wird und ein Licht
spektrum aufweist, das sowohl Infrarot- als auch UV-Strahlung enthält. Es ergibt sich im Innen
raum der Ulbricht′schen Kugel 1 eine gleichmäßige Strahldichte, so daß die erfaßte Lichtmenge
der zu vergleichenden Sonden 2 - BS oder WS - proportional deren Erfassungswinkel ist.
Die Sonden 2 werden über ihr Gehäuse in der Ulbricht′schen Kugel 1 mittels einer Führung in
konstanter Position und Winkellage auch gegenüber dem anzuschließenden Lichtleiter 3 ge
halten und reichen mit ihrer Optik in den Kugelraum etwas hinein.
Die von der jeweils in die Ulbricht′sche Kugel 1 eingebrachten Sonde 2 - BS oder WS - er
faßte Emission wird über einen ein- der mehrgeteilten Lichtleiter 3 sowie Interferenzfilter 4.1;
4.2; 4.3 interessierender Spektren einer opto-elektronischen Auswerteeinheit 5 mit einem oder
mehreren Auswertekanälen zugeleitet, deren Meßergebnisse eine der erfaßten und dann über
tragenen Lichtmenge zuordenbare Spannung - UH oder UD - ist.
Der meßtechnische Ablauf des Kalibriervorganges ist folgender:
- a) Die Bezugssonde BS mit kleinem Erfassungswinkel wird zusammen mit dem für die künftigen Kalibrierungen mittels der Ulbricht′schen Kugel 1 ausschließlich anzuwendenden Lichtleiter 3 in einer üblichen Kalibrieranordnung auf einer optischen Bank unter Anwen dung eines Strahldichtenormals - einer Wolframbandlampe - und einer abbildenden Linse zum Ermitteln der optischen Grundparameter kalibriert. Es ergibt sich eine Bezugsspannung UBS λ z, welche auf die Wellenlänge der Strahlung des Strahldichtenormals bezogen ist.
- b) Es erfolgt eine zweite Kalibrierung der Bezugssonde BS mit kleinem Erfassungswinkel
zusammen mit dem ausschließlich für die künftigen Kalibrierungen mittels der Ulbricht′schen
Kugel 1 anzuwendenden Lichtleiters 3 bei Anwendung der Ulbricht′schen Kugel 1.
Es werden jeweils Messungen bei interessierender, durch den jeweils angewendeten Inter ferenzfilter 4.1; 4.2; 4.3 bestimmter Wellenlänge der Strahlung bei wirksamen und unwirk samen Strahler - Dunkelzustand - durchgeführt. Die hierbei mit unterschiedlichen Wellen längen ermittelten Hell- und Dunkelspannungen werden für die Ermittlung des bezogenen Kalibrierwertes der Weitwinkelsonde WS genutzt. - c) Die Weitwinkelsonde WS wird zusammen mit dem konstant anzuwendenden Lichtleiter 3 mittels der Ulbricht′schen Kugel 1 ebenfalls wie vorbeschrieben vermessen. Die hierbei mit unterschiedlichen Wellenlängen ermittelten Hell- und Dunkelspannungen werden eben falls für die Ermittlung des bezogenen Kalibrierwertes dieser Weitwinkelsonde WS genutzt.
Es folgt der rechnerische Teil der Ermittlung eines bezogenen Kalibrierwertes:
Es werden Bezugswerte BW für die Weitwinkelsonde WS nach folgenden Gleichungen er mittelt:
Es werden Bezugswerte BW für die Weitwinkelsonde WS nach folgenden Gleichungen er mittelt:
es bedeutet:
Differenzspannung dU = UH - UD
Hellspannung UH
Dunkelspannung UD
Differenzspannung dU = UH - UD
Hellspannung UH
Dunkelspannung UD
mit Indizes
- BS von Bezugssonde
- WS von Weitwinkelsonde
- λ₁ bis λz bei unterschiedlichen Wellenlängen.
- BS von Bezugssonde
- WS von Weitwinkelsonde
- λ₁ bis λz bei unterschiedlichen Wellenlängen.
Der Bezugswert BW kennzeichnet die Unterschiede des Transmissionsverhaltens zwischen der
Bezugssonde BS und der jeweiligen Weitwinkelsonde WS bei einer bestimmen Wellenlänge λz.
Mittels der Grundparameter der Bezugssonde BS und dem Bezugswert BW der jeweiligen
Weitwinkelsonde WS ist ein bezogener Kalibrierwert nach folgender Formel
errechenbar.
Darin sind folgende Grundparameter aus dem Kalibriervorgang unter a) enthalten:
- gemessene Spannung mit der Bezugssonde BS
bei Messung mit dem Strahldichtenormal;
τL λz - Transmissionsgrad der abbildenden Linse;
- spektrale Strahldichte des Strahldichtenormals gemäß Datenblatt.
τL λz - Transmissionsgrad der abbildenden Linse;
- spektrale Strahldichte des Strahldichtenormals gemäß Datenblatt.
Claims (4)
1. Verfahren zur Kalibrierung nicht abbildender optischer Weitwinkelsonden (WS), unter
Anwendung eines konstanten Lichtleiters (3) sowie von Interferenzfiltern (4.1; 4.2; 4.3)
interessierender Strahlungsbereiche mittels einer opto-elektronischen Auswerteeinheit (5),
dadurch gekennzeichnet,
daß
- - in einer Ulbricht′schen Kugel (1) mit konstanter Strahlungsquelle (14) sowohl die Weitwinkelsonde (WS) als auch eine Bezugssonde (BS) mit kleinem Erfas sungswinkel und bekannter Kalibrierung belichtet wird,
- - die bei vorbeschriebener Belichtungsweise ermittelten opto-elektronischen Para meter beider Sonden (WS, BS) rechnerisch unter Hinzuziehung der optischen Grundparameter der Bezugssonde (BS) mit kleinem Erfassungswinkel und dem angewendeten Lichtleiter (3) zu einem bezogenen Kalibrierwert für die Weitwinkelsonde (WS) verarbeitet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß Bezugswerte (BW) für die Weitwinkelsonde (WS) nach folgenden Gleichungen
ermittelt werden:
darin bedeutet:
Differenzspannung dU = UH - UD
Hellspannung UH
Dunkelspannung UDmit Indizes
- BS von Bezugssonde
- WS von Weitwinkelsonde
- λ₁ bis λz bei unterschiedlichen Wellenlängen.
Differenzspannung dU = UH - UD
Hellspannung UH
Dunkelspannung UDmit Indizes
- BS von Bezugssonde
- WS von Weitwinkelsonde
- λ₁ bis λz bei unterschiedlichen Wellenlängen.
3. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein bezogener Kalibrierwert nach folgender Formel
berechnet wird,
darin sind folgende Grundparameter aus dem Kalibriervorgang der Bezugssonde mittels
eines Strahldichtenormals enthalten:
- gemessene Spannung mit der Bezugssonde BS bei Messung mit dem Strahldichtenormal;
τL λz - Transmissionsgrad der abbildenden Linse;
- spektrale Strahldichte des Strahldichtenormals gemäß Datenblatt.
- gemessene Spannung mit der Bezugssonde BS bei Messung mit dem Strahldichtenormal;
τL λz - Transmissionsgrad der abbildenden Linse;
- spektrale Strahldichte des Strahldichtenormals gemäß Datenblatt.
4. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die optischen Grundparameter der Bezugssonde (BS) mit kleinem Erfassungswinkel
und des für die künftigen Kalibrierungen anzuwendenden Lichtleiters (3) in einer üblichen
Kalibrieranordnung mit Strahldichtenormal und abbildender Linse ermittelt werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944405895 DE4405895C2 (de) | 1994-02-19 | 1994-02-19 | Verfahren zur Kalibrierung nicht abbildender optischer Weitwinkelsonden |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944405895 DE4405895C2 (de) | 1994-02-19 | 1994-02-19 | Verfahren zur Kalibrierung nicht abbildender optischer Weitwinkelsonden |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4405895A1 DE4405895A1 (de) | 1995-08-24 |
DE4405895C2 true DE4405895C2 (de) | 1997-11-20 |
Family
ID=6511041
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944405895 Expired - Fee Related DE4405895C2 (de) | 1994-02-19 | 1994-02-19 | Verfahren zur Kalibrierung nicht abbildender optischer Weitwinkelsonden |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4405895C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19960910A1 (de) * | 1999-12-17 | 2001-06-28 | Agilent Technologies Inc | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle eines Photosensors |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1994
- 1994-02-19 DE DE19944405895 patent/DE4405895C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19960910A1 (de) * | 1999-12-17 | 2001-06-28 | Agilent Technologies Inc | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle eines Photosensors |
DE19960910C2 (de) * | 1999-12-17 | 2002-04-11 | Agilent Technologies Inc | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle eines Photosensors |
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DE4405895A1 (de) | 1995-08-24 |
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