[go: up one dir, main page]

DE4232509A1 - Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern - Google Patents

Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern

Info

Publication number
DE4232509A1
DE4232509A1 DE4232509A DE4232509A DE4232509A1 DE 4232509 A1 DE4232509 A1 DE 4232509A1 DE 4232509 A DE4232509 A DE 4232509A DE 4232509 A DE4232509 A DE 4232509A DE 4232509 A1 DE4232509 A1 DE 4232509A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ionization
photon
containers
mass spectrometer
plastic bottles
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE4232509A
Other languages
English (en)
Inventor
Essen Dr Heidrich
Ruediger Strauchmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Holstein und Kappert Maschinenfabrik Phonix GmbH
Original Assignee
Holstein und Kappert Maschinenfabrik Phonix GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Holstein und Kappert Maschinenfabrik Phonix GmbH filed Critical Holstein und Kappert Maschinenfabrik Phonix GmbH
Priority to DE4232509A priority Critical patent/DE4232509A1/de
Publication of DE4232509A1 publication Critical patent/DE4232509A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/14—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
    • H01J49/147—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers with electrons, e.g. electron impact ionisation, electron attachment
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08—CLEANING
    • B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B9/00—Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto
    • B08B9/08—Cleaning containers, e.g. tanks
    • B08B9/46—Inspecting cleaned containers for cleanliness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0078—Testing material properties on manufactured objects
    • G01N33/0081—Containers; Packages; Bottles
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
    • H01J49/162—Direct photo-ionisation, e.g. single photon or multi-photon ionisation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern.
Hierbei ist es bekannt, die zu untersuchenden Behälter beispielsweise in einer Rundläufermaschine aufzunehmen, einen Teilinhalt der Behälterluft anzusaugen und einem Massen­ spektrometer zur Analyse zuzuleiten. Je nach Analyseergebnis und entsprechender Kontamination wird der Behälter anschließend aussortiert. Als Massenspektrometer werden Geräte verwendet, deren Ionisation durch Elektronenstoß erfolgt. Bei dieser Verfahrensweise beschränkt sich der Nachweis der Fremdstoffe oder von Kontaminaten auf Verbindungen mit Massenzahlen, die nicht mit den Hauptbestandteilen der Luft, Wasser oder beispielsweise bei der Untersuchung von Mehrweg­ flaschen nicht mit den Aromastoffen von Getränken inter­ ferieren.
Die Bestimmung von z. B. Urin über den Indikator NH3 ist hierbei nicht möglich, da die Interferenz mit dem wesentlich häufiger vorkommenden Wassermolekül keinen Nachweis erlaubt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, insbesondere NH3 massenspektrometisch sicher nachzuweisen. Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs genannten Art mit einem Massenspektrometer gelöst, dessen Ionisierung durch Photoionisation erfolgt.
Hierbei wird statt der totalen Ionisation über den Elektronen­ stoß eine Photoionisation eingesetzt, die eine Ionisierung der Luftkomponenten oder die des Wassers bzw. eine Reihe von anderen Fremdstoffen ausschließt und damit eine Vielzahl von möglichen Interferenzen vermeidet.
Es hat sich dabei als zweckmäßig erwiesen, daß Ein- und/oder Zweiphotonenprozesse zu dieser Ionisation führen können.
Ferner wird vorgeschlagen, daß die Ionisation durch Elektronen­ stoß und Photonenanregung erfolgt.
Weitere Merkmale der Erfindung ergehen aus den Unteran­ sprüchen.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel einer Anordnung zur Durchführung des Verfahrens dargestellt. Das Massen­ spektrometer 1 ist beispielsweise als Quadropolspektrometer ausgebildet und befindet sich in dem Vakuumraum 2, in dem auch das Leit- und Führungsrohr 3 für die Zuleitung der betreffenden Proben eingegliedert ist. In der verlängerten Achse des Führungsrohres 3 befindet sich das Fenster einer Lampe 4, die beispielsweise mit zentrierter Plasmaführung ausgelegt sein kann. Es können aber auch gepulste Lampen oder Laser eingesetzt werden.
Wie aus der Zeichnung ersichtlich, ist die Beschleunigungs­ strecke für die Stoßelektronen und die Einstrahlrichtung der Photonen senkrecht zueinander ausgerichtet. Auf diese Weise ist ein intermetierender Betrieb photoneninduzierter und klassischer Massenspektrometrie möglich. Es können ohne weiteres Ein- oder Zweiphotonenprozesse zu der Ionisation eingesetzt werden. Ferner ist es denkbar, die Ionisation durch Elektronenstoß und Photonenanregung, also als photonen­ induzierte Ionisation durchzuführen.

Claims (6)

1. Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern, Kunststoffflaschen und dgl., wobei die Fremdstoffanalyse durch Einsatz eines Massenspektrometers durchgeführt wird und dessen Ionisierung durch Photoionisation erfolgt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Ein- und/oder Zweiphotonenprozesse zur Ionisation eingesetzt sind.
3. Verfahren nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionisation durch Elektronenstoß und Photonenanregung erfolgt.
4. Verfahren nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß zur Ionisation VUV-Lampen mit zentrierter Plasmaführung in der Lampe angeordnet sind.
5. Verfahren nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erhöhung des Photonenflusses gepulste Lampen oder Laser eingegliedert sind.
6. Verfahren nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß die Beschleunigungsstrecke für die Stoßelektronen und die Einstrahlrichtung der Photonen senkrecht zueinander angeordnet ist.
DE4232509A 1992-09-29 1992-09-29 Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern Withdrawn DE4232509A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4232509A DE4232509A1 (de) 1992-09-29 1992-09-29 Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4232509A DE4232509A1 (de) 1992-09-29 1992-09-29 Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4232509A1 true DE4232509A1 (de) 1994-03-31

Family

ID=6469050

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4232509A Withdrawn DE4232509A1 (de) 1992-09-29 1992-09-29 Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE4232509A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1151466A1 (de) * 1999-02-09 2001-11-07 Syagen Technology Photoionisationsmassenspektrometer
DE102004025841A1 (de) * 2004-05-24 2005-12-15 Bergische Universität Wuppertal Verfahren und Vorrichtung zur massenspektroskopischen Untersuchung von Analyten
US7196325B2 (en) 2005-05-25 2007-03-27 Syagen Technology Glow discharge and photoionizaiton source

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3878392A (en) * 1973-12-17 1975-04-15 Etec Corp Specimen analysis with ion and electrom beams
US4140905A (en) * 1977-05-02 1979-02-20 The Governing Council Of The University Of Toronto Laser-induced mass spectrometry
DE2732961A1 (de) * 1977-07-21 1979-02-22 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Anordnung zur analyse einer probe durch beschuss mit elektromagnetischer strahlung
DE2844002A1 (de) * 1978-10-09 1980-05-14 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Verfahren und vorrichtung zur analyse von fluiden
DE2942386A1 (de) * 1979-10-19 1981-04-30 Ulrich Dr. 8000 München Boesl Ionenquelle
DE3009069A1 (de) * 1980-03-10 1981-09-17 Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Der Verteidigung, 5300 Bonn Eingangs-kopf eines mess/nachweissystems fuer chemische agentien
DE3619886A1 (de) * 1985-06-13 1986-12-18 Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo Vorrichtung zur massenspektrometrischen analyse
US4734579A (en) * 1983-10-27 1988-03-29 Atom Sciences, Inc. Ultrasensitive method for measuring isotope abundance ratios
WO1992010745A1 (de) * 1990-12-06 1992-06-25 Lehmann, Martin Verfahren zum ermitteln einer messgrösse und messanlage

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3878392A (en) * 1973-12-17 1975-04-15 Etec Corp Specimen analysis with ion and electrom beams
US4140905A (en) * 1977-05-02 1979-02-20 The Governing Council Of The University Of Toronto Laser-induced mass spectrometry
DE2732961A1 (de) * 1977-07-21 1979-02-22 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Anordnung zur analyse einer probe durch beschuss mit elektromagnetischer strahlung
DE2844002A1 (de) * 1978-10-09 1980-05-14 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Verfahren und vorrichtung zur analyse von fluiden
DE2942386A1 (de) * 1979-10-19 1981-04-30 Ulrich Dr. 8000 München Boesl Ionenquelle
US4433241A (en) * 1979-10-19 1984-02-21 Ulrich Boesl Process and apparatus for determining molecule spectra
DE3009069A1 (de) * 1980-03-10 1981-09-17 Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Der Verteidigung, 5300 Bonn Eingangs-kopf eines mess/nachweissystems fuer chemische agentien
US4734579A (en) * 1983-10-27 1988-03-29 Atom Sciences, Inc. Ultrasensitive method for measuring isotope abundance ratios
DE3619886A1 (de) * 1985-06-13 1986-12-18 Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo Vorrichtung zur massenspektrometrischen analyse
WO1992010745A1 (de) * 1990-12-06 1992-06-25 Lehmann, Martin Verfahren zum ermitteln einer messgrösse und messanlage

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1151466A1 (de) * 1999-02-09 2001-11-07 Syagen Technology Photoionisationsmassenspektrometer
EP1151466A4 (de) * 1999-02-09 2006-08-30 Syagen Technology Photoionisationsmassenspektrometer
DE102004025841A1 (de) * 2004-05-24 2005-12-15 Bergische Universität Wuppertal Verfahren und Vorrichtung zur massenspektroskopischen Untersuchung von Analyten
DE102004025841B4 (de) * 2004-05-24 2015-07-09 Bruker Daltonik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur massenspektroskopischen Untersuchung von Analyten
US7196325B2 (en) 2005-05-25 2007-03-27 Syagen Technology Glow discharge and photoionizaiton source

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2428796B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ionisierung und Identifizierung von Gasen mittels UV-Strahlung und Elektronen
DE69720419T2 (de) Verfahren zur kontrolle eines analytischen instruments mit einer koronaentladungsionenquelle
EP0795749A2 (de) Photoionisations-Ionenmobilitätsspektrometrie
DE4134905A1 (de) Tandem-massenspektrometer basierend auf flugzeitanalyse
DE69910986T2 (de) Analysator für atmosphärische Teilchen
DE3517667A1 (de) Laser-massenspektrometer
DE2844002C2 (de)
DE4030742C2 (de) Massenspektrometer
EP1915770B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum massenspektrometrischen nachweis von verbindungen
DE102007049640B3 (de) Messung von Tochterionenspektren aus einer MALDI-Ionisierung
DE4232509A1 (de) Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern
DE2649912C2 (de)
EP0647847A1 (de) Verwendung eines Massenspektrometers mit Sekundärionisation zur Inspektion von Behältern
DE10042394B4 (de) Ionenquelle für Ionenmobilitätsspektrometer mit optischer und Teilchenstrahlun gsionisation
DE3490595C2 (de) Verfahren und Einrichtung zur Oberflächenanalyse
DE3887922T2 (de) Entladungsionisierungsquelle zum Analysieren der Atmosphäre.
DE19681191C2 (de) Verfahren zur Analyse von Oberflächenverunreinigungen in einem sehr kleinen Bereich
DE4401351C2 (de) Verfahren zur optischen Identifizierung lumineszierender Beschichtungen in Lampen, insbesondere in Entladungslampen, in einem Recyclingprozeß und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102016103292B4 (de) Massenspektrometer
DE3779818T2 (de) Ionisationsdetektoren fuer die gaschromatographie.
DE3201264A1 (de) Lasermikrosonde
AT403214B (de) Verfahren zur analyse von gasgemischen
DE2363581A1 (de) Verfahren zur zerstoerungsfreien chemischen analyse
EP0271543B1 (de) Verfahren zur überprüfung der energie eines ionenstrahles
DE102004045534B4 (de) Tochterionenspektren mit Flugzeitmassenspektrometern

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee