DE3825606A1 - Kompakter aufbau eines michelson-interferomaters zur messung von laengen- und brechzahlaenderungen - Google Patents
Kompakter aufbau eines michelson-interferomaters zur messung von laengen- und brechzahlaenderungenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft den miniaturisierten Aufbau eines gegen
Störeinflüsse unempfindlichen Michelson-Interferometers zur
Messung von Längen- und Brechzahländerungen.
Längenmessungen sollen einerseits hochpräzise und über große
Meßwege durchführbar sein, andererseits soll der Meßkopf
möglichst klein sein. Dies trifft für alle technisch
physikalischen Größen zu, die eine Änderung des optischen
Weges bewirken. Ein hochempfindliches Verfahren stellen die
interferometrischen Methoden dar. Insbesondere eignet sich ein
Michelson-Interferometer für diese Aufgaben, da sein Meßarm
frei zugänglich ist.
Es ist bekannt, daß hochauflösende Messungen optischer Wege
mit dem Michelson-Interferometer durchgeführt werden. Bislang
werden diskrete optische Elemente wie Strahlteiler und Linsen
benutzt. Dabei muß gewährleistet sein, daß die Komponenten wie
Strahlteiler, Referenzspiegel und Kollimatorlinse
einjustierbar und dennoch erschütterungsfest aufgebaut sind.
Der Aufbau mit diskreten Elementen erfordert einen hohen
Justieraufwand und er läßt sich nicht beliebig verkleinern.
Objekte die hochpräzise auszumessen sind, haben oftmals ein
kleines Volumen, sodaß die klassischen Interferometeraufbauten
aufgrund ihrer großen Abmessungen nicht einsetzbar sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Aufbau eines
Michelson-Interferometers zu miniaturisieren, den Aufwand zur
Justage des Interferometers beim Meßeinsatz zu minimieren und
die Empfindlichkeit gegenüber Erschütterungen und
elektromagnetische Störstrahlung zu reduzieren.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß das
Licht in einmodigen Wellenleitern geführt wird, die durch
strukturierten Ionenaustausch in Glassubstraten oder
Eindiffusion in Kristallen hergestellt werden. Integriert-
optisch wird der Strahlteiler durch einen symmetrischen
Koppler realisiert. Die Lichtwellenleiter in dieser
integriert-optischen Komponenten haben eine Breite von nur
wenigen Mikrometern. Strahlteiler, Referenzarm und
Referenzspiegel liegen geschützt in dem Substrat. Dieser
integriert-optische Chip ist damit mechanisch stabil und
unempfindlich gegen Erschütterungen. Der Spiegel des
Referenzarmes wird direkt auf die Stirnseite der Wellenleiter
aufgebracht. Eine Justierung des Referenzkanals entfällt.
Ein integriert-optisch aufgebautes Michelson-Interferometer
hat einen frei zugänglichen Meßarm und ist einsetzbar, wenn
die zu messende technisch physikalische Größe eine Änderung
des optischen Weges bewirkt. Gegenüber den bislang benutzten
klassischen Interferometern zeichnet sich die vorliegende
Erfindung durch ihre miniaturisierte, einfache, kompakte
Ausführung aus, die überdies den Justieraufwand, der bei einem
konventionell aufgebautem Michelson-Interferometer erheblich
ist, auf ein Minimum reduziert. Durch den integriert-optischen
Aufbaus des Michelson-Interferometers werden der
Interferometrie Meßobjekte zugänglich, auf die bislang die
klassischen Interferometrieverfahren nicht anwendbar waren,
wegen ihres komplizierten Aufbaus mit zwar kleinen aber
immer noch diskreten, einzujustierenden und deshalb nicht
beliebig miniaturisierbaren Komponenten. Mit diesem kompakten
Sensorkopf können nun auch kleinste Meßobjekte optisch
berührungslos mit hoher Genauigkeit abgetastet werden.
Immer dann, wenn Unempfindlichkeit gegen Störeinflüsse wie
elektrische Einstreuungen, Anwendbarkeit auch bei hohen
Temperaturen, Explosionssicherheit, Beständigkeit gegen
korrosive Medien sowie Unempfindlichkeit gegen radioaktive
Strahlung gefordert ist, dann bietet sich der Einsatz von
Lichtleitfasern für eine Signalübertragung über große Strecken
an. Die kommerziell erhältlichen Sensoren haben oftmals einen
elektrischen Ausgang und sind deshalb selbst nicht
unempfindlich gegen die oben genannten Störeinflüsse. Nutzt
man jedoch beispielsweise zur Herstellung des integriert-
optischen Michelson-Interferometers Glas als Substratmaterial,
so wird der Sensorkopf selbst ebenso unempfindlich gegenüber
Störeinflüsse wie die Lichtleitfaser, die zur Übertragung des
Meßsignals über weite Strecken dient.
In dieser Erfindung wird die Gestaltung eines Michelson-
Interferometers dargestellt, das eine einfache, kompakte und
robuste Bauform erlaubt. Den schematischen Aufbau zeigt
Fig. 1. Licht einer kohärenten Lichtquelle wird mit einer
polarisationserhaltenden Monomodefaser in das Michelson-
Interferometer eingekoppelt. Durch diese Anordnung ist auch
ein Laser mit schmaler Bandbreite und damit hoher Kohärenz
flexibel mit dem Meßkopf verbunden, der dadurch einfach
handhabbar wird.
Der am Eingang 1 in das Interferometer eintretende
Primärlichtstrom wird durch einen Strahlteiler 3 in zwei
Teillichtströme annähernd gleicher Amplituden auf den Meßarm 4
und den Referenzarm 5 geteilt. In dieser Erfindung ist der
Strahlteiler durch einen integriert-optischen Koppler 3
realisiert. Die Teillichtströme werden durch die Spiegel 6 und
7 zum Strahlteiler 3 zurückgeworfen. Licht, das im Referenzarm
des integriert-optischen Kopplers geführt wird, trifft auf
einen direkt auf das Substrat aufgebrachten Spiegel 6, den
Referenzspiegel. Gegenüber einem diskret aufgebauten
Michelson-Interferometer hat diese Anordnung den Vorteil
mechanisch stabil und sicher gegen Umwelteinflüsse zu sein, da
Strahlteiler und Referenzweg in das Substrat geschützt gegen
Störeinflüsse eingebaut sind. Sofern eine Lichtquelle
niedriger Kohärenz benutzt wird, kann der Weg des
Referenzarmes an den gewünschten Meßabstand dadurch angepaßt
werden, daß am Ausgang des Referenzarmes eine Glasfaser
geeigneter Länge mit einem verspiegelten Ende angebracht wird.
Für geringe Meßabstände reicht es aus, den Spiegel des
Meßarmes direkt vor dem Meßarm des Interferometers zu
positionieren. Für größere Meßabstände über mehrere Zentimeter
wird das Michelson-Interferometer mit einer Kollimatorlinse
versehen. Das am Wellenleiterende oder bei örtlichgetrenntem
Meßarm am Faserende austretende Licht wird durch die Linse
näherungsweise in ein Parallelstrahlbündel umgewandelt, was
unmittelbar zu einer Aufweitung des Lichtstrahles führt. Die
Linse ist als Gradientenoptik (sog. "GRIN"-Linsen)
hergestellt, statt der gewöhnlichen Kollimatorlinse. Die GRIN-
Linse 8 kann vor den integriert-optischen Chip geklebt oder
gehaltert werden. Mit dem Ionenaustausch im Glas lassen sich
auch die Gradientenlinsen in das Substrat einbauen. Durch die
Strahlaufweitung wird die Meßeinrichtung unempfindlich gegen
kleine Ausricht- und Kippfehler der Apparatur. Außerdem wirken
sich kleine Verschmutzungen auf dem der Linse
gegenüberliegenden Spiegel 7, der in axialer Richtung des
Wellenleiters beweglich ist, kaum aus. Bei Messungen sehr
kleiner Längen können die GRIN-Linsen entfallen. Bei der
Messung von Brechzahlen sind Verunreinigungen auf den beiden
optisch durchtretenen Flächen des Meßvolumens durch die
Aufweitung weniger störend.
Durch den Strahlteiler 3 wird das Licht des Meßarmes mit dem
des Referenzarmes überlagert. Eine Änderung des optischen
Weges in der Meßstrecke führt zu Interferenzen. Die Änderung
der Phasenbeziehung zwischen Meßarm 4 und Referenzarm 5 wird
durch den Strahlteiler 3 in eine Intensitätsmodulation auf dem
Ausgangarm 9 umgewandelt. Verschieben um eine halbe
Lichtwellenlänge bedeutet, daß eine Gangdifferenz von einer
Wellenlänge zustande kommt, da der Weg zum Meßspiegel 7
zweimal durchlaufen wird. Die Intensität hängt von der
Phasendifferenz der interferierenden Teilstrahlen ab. Deshalb
ist für die Übertragung des Meßsignals eine einfache
vielmodige Faser angekoppelt, die das Licht einem
entferntliegenden Photodetektor zuführt.
Die Erfindung findet überall dort Anwendung, wo die zu messende
technisch physikalische Größe eine Änderung des optischen
Weges bewirkt. Dies ist durch die Längen- oder Wegänderung
unmittelbar gegeben; es ist aber gerade dort vielseitig
einsetzbar, wo eine Änderung des optischen Weges durch eine
Änderung der Brechzahl erzeugt wird. Das trifft zu für die
Messung der Brechzahl durch den Druck, der Zusammensetzung von
Gasen oder Flüssigkeiten oder die Kraftmessung, sofern die
Kraft einen Körper (insbesondere Kristalle) in seinen
geometrischen Abmessungen ändert. Neben Meßobjekten mit gut
reflektierender Oberfläche, wie z.B. alle Bauelemente der
Optik, lassen sich auch Objekte mit ausreichender Reflexion,
wie z.B. Metalle und Halbleiter optisch berührungslos auf
Ebenheit prüfen.
Eine Erkennung der Richtung des optischen Verstellweges
erfordert eine Modulation des Meßsignals. Das Volumen der
Modulatoren in klassischen Interferometern ist zu groß für den
Einsatz in diesem miniaturisierten Aufbau.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß
Phasenmodulatoren in die Wellenleiter des integriert-optischen
Kopplers eingebaut werden. Es werden beispielsweise Elektroden
10 auf die Wellenleiter aufgebracht, die die Phase auf dem
Referenzarm periodisch mit 90 Grad verschieben. Die
inkrementale Meßwertgewinnung in einer stehende Welle ist
unmittelbar mit der inkrementalen Abtastung eines körperlichen
Maßstabes vergleichbar, denn das Intensitätsprofil der
stehende Welle verkörpert mit seinen Maxima und Minima eine
ebenso räumlich feststehende Gitterteilung wie z.B. die Hell-
Dunkelstriche eines inkrementalen Glasmaßstabes. Bekanntlich
setzt die inkrementale Meßwertgewinnung zwei um 90 Grad
phasenverschobene Signale voraus. Bei der inkrementalen
Abtastung einer stehenden Welle wird die Bezugsgröße von 360
Grad durch eine Periode des Intensitätsprofils der stehenden
Welle erzeugt, die eine halbe Wellenlänge beträgt. Legt man an
die Elektroden eine Wechselspannung an, so kann man die
optische Weglänge des Referenzarmes variieren. Im Falle der
mit Wechselspannung modulierten Referenzarmlänge ergibt sich
der Meßwert aus einer Mittelwertbildung.
Eine weitere zweckmäßige Möglichkeit der Signalauswertung,
besteht in dem Nachregeln des Gangunterschieds, dem
sogenannten Homodynverfahren. Es wird der Gangunterschied im
Meßarm dem Referenzarm des Interferometers nachgeführt. In
Fig. 2 ist der Phasenmodulator 10 schematisch dargestellt. Bei
einer solchen Regelung besteht das Problem, das Vorzeichen der
auftretenden Regelabweichung zu erkennen. Wird aber der
Gangunterschied im Referenzarm des Interferometer mit hoher
Frequenz periodisch variiert, z.B. durch eine periodische
Phasenmodulation eines Wellenleiters und die hieraus
resultierende Wechselkomponente des Detektor-Ausgangssignals
mit der Gangunterschieds-Modulationsfrequenz phasenempfindlich
gleichgerichtet, so ist das Problem der Vorzeichenerkennung
auf einfache Weise gelöst. Dieses Gleichsignal, dessen
Polarität mit der Änderungsrichtung wechselt, kann dann als
Steuersignal für das Stellglied, einem Phasenmodulator 10,
genutzt werden, das die gewünschte Folgeänderung des
Gangunterschieds in den Referenzarm des Interferometer
vermittelt. Dies kann zum einen durch eine mechanische
Verstellung eines vor dem Referenzarm beweglich angebrachten
Spiegels geschehen, oder durch auf das Substrat aufgebrachte
thermooptische oder elektrooptische Phasenmodulatoren.
Eine Erhöhung der Auflösung erzielt man durch die Anwendung
eines Heterodynverfahrens, daß mehrere digital ansteuerbare
Phasenmodulatoren erfordert. Schematisch ist dies in Fig. 2
durch die Phasenmodulatoren 10 dargestellt. Nach einem
festgelegten Algorithmus werden die Elektroden angesteuert.
Jede Elektrode sorgt für einen diskreten Phasensprung um 45,
90 und 180 Grad. Vorteil dieses Verfahrens ist es, das die
Anforderungen an die Genauigkeit der Phasensprünge sich darauf
beschränken, daß die jeweiligen Phasensprünge immer mit der
gleichen Abweichung auftreten müssen. Die sonst notwendige
hochgenaue Absoluteinstellung der Phasensprünge ist bei diesem
Verfahren nicht notwendig.
Claims (9)
1. Integriert-optisches Michelson-Interferometer, bestehend aus
monochromatischer Laserlichtquelle, Strahlteiler,
Strahlaufweitung und Lichtleitfasern zum Führen des Lichtes
hin zum Meßkopf und einer multimodigen Lichtleitfaser für
Rückführung des meßsignaltragenden Lichtes gekennzeichnet
dadurch, daß der Strahlteiler durch einen integriert-
optischen Koppler gebildet wird.
2. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 1,
gekennzeichnet dadurch, daß das Interferometer als
integriert-optischer Chip ausgebildet ist, der durch
strukturierten Ionenaustausch oder Eindiffusion hergestellt
ist.
3. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 1,
gekennzeichnet dadurch, daß der Strahlteiler und der
Referenzarm geschützt in das Substratmaterial eingebaut
ist, und somit störunanfällig gegen äußere Einflüsse wie
Verschmutzungen und insbesondere Erschütterungen sind.
4. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 1,
gekennzeichnet dadurch, daß der Sensorkopf örtlich getrennt
von der kohärenten Lichtquelle betrieben wird und beide
durch eine flexible Lichtleitfaser miteinander verbunden
sind.
5. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 1,
gekennzeichnet dadurch, daß der Meßarm mittels flexibler
Lichtleitfasern örtlich vom integriert-optischen Chip
getrennt aufgebaut werden kann.
6. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 1,
gekennzeichnet dadurch, daß für die Erzeugung des Längen-
oder Brechzahlinformation enthaltenden Ausgangslichtstromes
am Meßort keine optisch-elektronischen Wandlerelemente
benötigt werden, deren Funktion durch Umgebungseinflusse
am Meßort gestört wird.
7. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 1,
gekennzeichnet dadurch, daß in den integriert-optischen
Chip Phasenmodulatoren eingebaut sind, um die
Richtungsdetektion zu implementieren und die
Empfindlichkeit zu erhöhen.
8. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 7,
gekennzeichnet dadurch, daß die Phasenmodulatoren
thermooptisch oder elektrooptisch aufgebaut werden oder
eine transparente fotoelektrisch aktive oder
piezoelektrische Schicht auf der Stirnfläche der
Wellenleiter die Phasenverschiebung erzeugt.
9. Integriert-optisches Michelson-Interferometer nach Punkt 8,
gekennzeichnet dadurch, daß die Phasenmodulatoren digital
arbeiten und mehrstufige digitale Phasenmodulatoren die
Auflösung mittels Heterodynverfahren erhöhen.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19883825606 DE3825606C2 (de) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Interferometer |
DE8817182U DE8817182U1 (de) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19883825606 DE3825606C2 (de) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Interferometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3825606A1 true DE3825606A1 (de) | 1990-04-19 |
DE3825606C2 DE3825606C2 (de) | 1993-12-23 |
Family
ID=6359725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19883825606 Expired - Fee Related DE3825606C2 (de) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Interferometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3825606C2 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4103914A1 (de) * | 1990-02-09 | 1991-08-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Interferometer |
DE4204521C1 (de) * | 1992-02-15 | 1993-06-24 | Daimler-Benz Aktiengesellschaft, 7000 Stuttgart, De | |
DE4336318A1 (de) * | 1993-10-25 | 1995-04-27 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung zur Frequenzverschiebung von Licht, insbesondere in einem interferometrischen Meßsystem |
US8804896B2 (en) | 2010-08-25 | 2014-08-12 | Areva Gmbh | Method for depressurizing a nuclear power plant, depressurization system for a nuclear power plant, and associated nuclear power plant |
WO2021116751A1 (en) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | Rockley Photonics Limited | Optical device for heterodyne interferometry |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4427317C2 (de) * | 1994-08-02 | 1999-04-01 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Interferometer für die Prüfung optischer Elemente |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2009396A (en) * | 1977-11-22 | 1979-06-13 | Thomson Csf | Interferometric laser gyrometer |
DE3609507A1 (de) * | 1985-04-04 | 1986-10-16 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson, Stockholm | Faseroptisches interferometer |
DE3615916A1 (de) * | 1985-10-02 | 1987-04-02 | Northrop Corp | Lasergyroskop |
DE3632978A1 (de) * | 1986-09-29 | 1988-03-31 | Siemens Ag | Interferometer zur fernmessung von laengen |
-
1988
- 1988-07-28 DE DE19883825606 patent/DE3825606C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2009396A (en) * | 1977-11-22 | 1979-06-13 | Thomson Csf | Interferometric laser gyrometer |
DE3609507A1 (de) * | 1985-04-04 | 1986-10-16 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson, Stockholm | Faseroptisches interferometer |
DE3615916A1 (de) * | 1985-10-02 | 1987-04-02 | Northrop Corp | Lasergyroskop |
DE3632978A1 (de) * | 1986-09-29 | 1988-03-31 | Siemens Ag | Interferometer zur fernmessung von laengen |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4103914A1 (de) * | 1990-02-09 | 1991-08-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Interferometer |
US5396328A (en) * | 1990-02-09 | 1995-03-07 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Waveguide type displacement interferometer having two reference paths |
DE4204521C1 (de) * | 1992-02-15 | 1993-06-24 | Daimler-Benz Aktiengesellschaft, 7000 Stuttgart, De | |
US5289256A (en) * | 1992-02-15 | 1994-02-22 | Daimler-Benz Ag | Integrated-optics expansion interferometer in an extension-metrological neutral environment |
DE4336318A1 (de) * | 1993-10-25 | 1995-04-27 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung zur Frequenzverschiebung von Licht, insbesondere in einem interferometrischen Meßsystem |
US8804896B2 (en) | 2010-08-25 | 2014-08-12 | Areva Gmbh | Method for depressurizing a nuclear power plant, depressurization system for a nuclear power plant, and associated nuclear power plant |
WO2021116751A1 (en) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | Rockley Photonics Limited | Optical device for heterodyne interferometry |
CN115103999A (zh) * | 2019-12-11 | 2022-09-23 | 洛克利光子有限公司 | 用于外差干涉术的光学装置 |
US12181279B2 (en) | 2019-12-11 | 2024-12-31 | Chamartin Laboratories Llc | Optical device for heterodyne interferometry |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3825606C2 (de) | 1993-12-23 |
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Date | Code | Title | Description |
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8122 | Nonbinding interest in granting licenses declared | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
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8181 | Inventor (new situation) |
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|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |