DE3810046A1 - Reflektorspiegel zum ablenken von sichtbaren strahlen und zur uebertragung von infrarotstrahlen von einer lichtquelle - Google Patents
Reflektorspiegel zum ablenken von sichtbaren strahlen und zur uebertragung von infrarotstrahlen von einer lichtquelleInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Reflektorspiegel gemäß Oberbegriff
des Patentanspruchs 1.
Insbesondere betrifft die Erfindung einen Spiegel, der
sowohl sichtbares, als auch infrarotes Licht von einer
Lichtquelle reflektieren kann. Der Spiegel wird im allgemeinen
in Verbindung mit einer Lampe verwendet, die ein
kaltes Licht auf Gegenstände richtet.
Es sind bereits Lampen bekannt, die einen Spiegelreflektor
aufweisen, der aus Glas besteht und an der Rückseite der
Lampe angeordnet ist. Die Innenfläche des Glases ist mit
einem Interferenzfilter versehen, um einen großen Teil der
sichtbaren Strahlen zu reflektieren und eine große Menge von
Infrarotstrahlen durchzulassen. Die Lampe strahlt somit
hauptsächlich sichtbares Licht mit nur einem geringen Teil
von Infrarotstrahlung als Kaltlicht ab. Ein derartiger
Spiegelreflektor wird als sogenannter Kaltspiegel bezeichnet.
Der erwähnte Interferenzfilter besitzt eine stark brechende
Schicht aus Titanoxid und eine schwach brechende Schicht aus
Siliciumoxid, die jeweils abwechselnd übereinander in 10 bis
15 Schichten auf dem Glasträger aufgebracht sind. Der
Interferenzfilter reflektiert Licht in einem bestimmten
Wellenlängebereich und läßt Licht in einem anderen Wellenlängenbereich
durch. Die Bereiche für das reflektierte und
das durchgelassene Licht werden durch die optische Dicke
jeder Brechungsschicht bestimmt.
Ein Interferenzfilter des zuvor beschriebenen Aufbaus hat
einen kleinen Lichtabsorptionsfaktor über den gesamten
Wellenlängenbereich. Die Reflektivität für sichtbare
Strahlen ist bei dem bekannten Spiegelreflektor jedoch
gering, da ein Interferenzfilter an der Innenseite des
Glasträgers angeordnet ist.
Ein anderer bekannter Spiegelreflektor weist ein Paar
Interferenzfilter auf, die die gleichen Eigenschaften haben
und die jeweils an gegenüberliegenden Seiten des Glasträgers
angeordnet sind, um die Reflektivität des zuvor beschriebenen
Beispiels zu erhöhen. Das durch einen Interferenzfilter, der
auf der einen Seite des Glasträgers angeordnet ist, durchgelassene
Licht wird in Richtung anderer Interferenzfilter
durch den anderen Interferenzfilter in vorgeschriebener Rate
reflektiert, der auf der anderen Seite des Glasträgers
angeordnet ist. Schließlich wird Licht von jedem Interferenzfilter
durchgelassen, während es zwischen dem Interferenzfilter
hin- und herreflektiert wird. Dieses Phänomen wird
als Gegeninterferenz bei Interferenzfiltern dieses Aufbaus
genannt.
Bei einer anderen Ausführungsform des oben beschriebenen
Spiegelreflektors wird das Reflexionsvermögen für sichtbare
Strahlen verbessert. Da die Infrarotstrahlen aber durch die
Interferenzfilter durch Gegeninterferenz ebenfalls reflektiert
werden, nehmen die zur Lampe durchgelassenen Infrarotstrahlen
zu. Daher wird der Infrarot-Durchlässigkeitsfaktor gegenteilig
beeinflußt.
Es ist Aufgabe der Erfindung, einen Spiegelreflektor zu
schaffen, bei dem die Menge an durchgelassener Infrarotstrahlung
vergrößert wird.
Zur Lösung dieser Aufgabe dient ein Spiegel mit den
Merkmalen des Patentanspruchs 1.
Der erfindungsgemäße Spiegelreflektor weist einen ersten
Interferenzfilter auf, der ein vorgegebenes Infrarot-Reflexionsvermögen
zum Durchlassen einer großen Menge von Infrarotstrahlung
aufweist, die von einer Lichtquelle abgestrahlt
wird, und der einen großen Anteil von sichtbarer Strahlung
von der Lichtquelle reflektiert; er besitzt einen zweiten
Interferenzfilter mit einem vorgegebenen Infrarot-Reflexionsvermögen,
das sich von dem des ersten Interferenzfilters
unterscheidet, um eine große Menge von Infrarotstrahlung
durchzulassen, die von dem ersten Interferenzfilter kommt,
und um eine große Menge von sichtbarer Strahlung zu
reflektieren, die ebenfalls von dem ersten Interferenzfilter
kommt. Schließlich weist der Spiegel noch einen Träger für
die ersten und zweiten Interferenzfilter auf, die eine
Gegeninterferenz zwischen den ersten und zweiten Interferenzfiltern
bewirkt und dadurch die Menge an Infrarotstrahlung
erhöhen, die von dem Spiegel durch den zweiten Interferenzfilter
durchgelassen wird.
Der Träger kann ein lichtdurchlässiger Träger sein, auf
dessen gegenüberliegenden Seiten jeweils der erste und der
zweite Interferenzfilter aufgebracht sind.
Der erste Interferenzfilter kann eine Brechungsschicht mit
einem ersten brechenden Element und einem darüber liegenden
zweiten brechenden Element aufweisen. Das erste brechende
Element hat einen vorgegebenen Brechungsindex und das zweite
brechende Element hat einen Brechungsindex, der größer als
der erste Brechungsindex ist.
Der zweite Interferenzfilter weist eine zweite Brechungsschicht
auf, die aus einem dritten brechenden Element und
einem vierten brechenden Element aufgebaut ist, die jeweils
übereinander angeordnet sind. Das dritte brechende Element
hat einen vorgegebenen Brechungsindex und das vierte
brechende Element hat einen ebenfalls vorgegebenen
Brechungsindex, der sich von dem des dritten brechenden
Elements unterscheidet.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Figuren näher
erläutert; es zeigt
Fig. 1 eine Seitenansicht eines Ausführungsbeispiels mit
einer Lichtquelle;
Fig. 2 einen vergrößerten schematischen Schnitt entlang
der Linie 2-2 von Fig. 1;
Fig. 3 eine schematische Darstellung des Herstellungsverfahrens
von einem Spiegelreflektor;
Fig. 4 ein Diagramm über die Veränderungen in der relativen
Dicke einer Brechungsschicht, wenn der
Neigungswinkel von Fig. 3 verändert wird; und
Fig. 5 Veränderungen im Reflexionsvermögen von drei verschiedenen
Proben eines Spiegelreflektors, und
zwar gegenüber der Wellenlänge.
Fig. 1 zeigt einen lichtdurchlässigen Träger 11 aus
Quarzglas, der halbzylinderförmig mit einem Radius von etwa
5 bis 10 mm gebildet ist. Eine Vorderseiten-Interferenzfilterschicht
13 ist auf die Innenfläche des Trägers 11 aufgebracht.
Eine Rückseiten-Interferenzschicht 15 ist auf die
andere oder Außenseite des Trägers 11 aufgebracht. Die
Vorder- und Rückseiten-Interferenzfilterschicht 13 und 15
reflektieren sichtbare Strahlen und lassen Infrarotstrahlen
von einer Lichtquelle 14 durch, die vor der Innenseite des
Trägers 11 angeordnet ist. Die IR-Reflexionen jeder Interferenzfilterschicht
13, 15 unterscheiden sich voneinander.
Daher reflektiert ein Spiegelreflektor 16 mit einem lichtdurchlässigen
Träger 11 und Interferenzschichten 13 und 15,
die jeweils an gegenüberliegenden Seiten des Trägers 11
angeordnet sind, Licht mit einem großen Anteil von sichtbarer
Strahlung und einem geringen Anteil von Infrarotstrahlung,
wobei das Licht von der Lichtquelle 14 stammt.
Gemäß Fig. 2 weist die Interferenzfilterschicht 13 eine
Schicht 13 a mit hohem Brechungsindex aus Titanoxid und eine
Schicht 13 b mit kleinem Brechungsindex aus Siliciumdioxid
auf, die jeweils übereinander angeordnet sind. Im vorliegenden
Fall sind jeweils 15 Schichten 13 a bzw. 13 b übereinander
angeordnet. Die Rückseiten-Interferenzfilterschicht 15
kann ebenfalls abwechselnd eine Schicht 15 a mit hohem
Brechungsindex aus Titanoxid und eine Schicht 15 b aus
Siliciumdioxid mit kleinem Brechungsindex aufweisen, die
abwechselnd übereinander angeordnet sind. Jede Schicht 15 a
bzw. 15 b besteht ebenfalls wieder aus jeweils 15 Schichten.
Die Dicke jeder Brechungsschicht 13 a, 13 b ist größer als die
der Brechungsschichten 15 a, 15 b, und zwar um 10%. Als Folge
davon unterscheidet sich jede mittlere Wellenlänge der
Interferenzschichten 13 und 15 voneinander.
Die Schichten 13 und 15 werden folgendermaßen hergestellt.
Zuerst wird der Träger 11 in eine titanhaltige Flüssigkeit
getaucht, die eine organische Titanverbindung, beispielsweise
Tetraisopropyl-Titanat enthält, das in vorgegebener
Menge eines organischen Lösungsmittels, beispielsweise Essigester
gelöst ist. Die titanhaltige Flüssigkeit hat 2 bis 10
Gew.-% Titan und die Viskosität beträgt etwa 1,0 cps. Danach
wird der Träger 11 aus der Titanflüssigkeit mit vorgegebener
Geschwindigkeit gezogen. Auf diese Weise wird die Titanflüssigkeit
auf die gegenüberliegenden Flächen des Trägers in
vorgegebener Dicke aufgebracht. Die Brechungsschichten 13 a
und 15 a mit hohem Brechungsindex aus Titanoxid werden auf
dem Träger 11 fixiert, indem man sie etwa 5 Minuten lang bei
vorgegebener hoher Temperatur in oxydierender Atmosphäre
nach dem Trocknen des Träger 11 bäckt. In einem zweiten
Verfahrensschritt wird der Träger 11, auf den die Brechungsschichten
13 a und 15 a mit hohem Brechungindex aufgebracht
wurden, in eine Silikon enthaltende Flüssigkeit getaucht,
die eine Organo-siliciumverbindung enthält, beispielsweise
Ethylsilikat, das in einem organischen Lösungsmittel, beispielsweise
Essigester gelöst ist. Die Silikonflüssigkeit hat ebenfalls
2 bis 10 Gew.-% Silicium und die Viskosität beträgt etwa 1,0
cps. Hierauf wird der Träger 11 aus der Silikonflüssigkeit
mit vorgegebener Geschwindigkeit gezogen. Dadurch wird die
Silikonflüssigkeit mit vorgegebener Dicke auf die stark
brechenden Schichten 13 a und 15 a aufgebracht, die jeweils an
gegenüberliegenden Seiten des Trägers 11 angeordnet sind.
Wie bereits erwähnt, werden die schwach brechenden Schichten
13 b und 15 b aus Siliciumdioxid an dem Träger 11 fixiert,
indem man den Träger 11 etwa 5 Minuten lang bei einer
vorgegebenen hohen Temperatur in oxydierender Atmosphäre
nach dem Trocknen des Trägers 11 bäckt. Auf diese Weise
werden die Schichten 13 b und 15 b mit dem kleinen Brechungsindex
individuell auf den stark brechenden Schichten 13 a und
15 a aufgebracht. Eine gewünschte Anzahl einzelner Schichten
13 und 15 wird auf dem Träger 11 dadurch gebildet, indem die
zuvor erwähnten ersten und zweiten Verfahrensschritte gemäß
Fig. 2 mehrfach wiederholt werden. Es wird darauf hingewiesen,
daß die Dicke jeder Brechungsschicht 13 a und 15 a von
den Brechungsschichten 13 b verschieden sein kann, wenn die
Viskosität der Titanflüssigkeit anders als die der
Silikonflüssigkeit ist. Außerdem kann die Dicke der Vorderseiten-
Interferenzfilterschicht 13 mit den stark und schwach
brechenden Schichten 13 a und 13 b anders als die der
Rückseiten-Interferenzfilterschicht 15 sein, die die stark
und schwach brechenden Schichten 15 a und 15 b aufweist, wenn
der Träger 11 aus der Titanflüssigkeit oder der Silikonflüssigkeit
unter einer Neigung herausgezogen wird, die durch den
Pfeil A in Fig. 3 angedeutet ist. In diesem Fall ist die
Schicht auf der Oberseite des Trägers 11 dicker als auf der
Unterseite. Die Beziehung des Neigungswinkels zur relativen
Schichtdicke, d. h. das Verhältnis der Dicke zwischen den
jeweiligen Interferenzfilterschichten auf der Oberseite und
der Unterseite des Trägers 11 ist in Fig. 4 angegeben.
Im folgenden wird die Situation erläutert, wenn die
Reflexionsvermögen an den Vorder- und Rückseiten-Interferenzfilterschichten
13 und 15 voneinander verschieden
sind.
Der Transmissionsfaktor T eines Spiegelreflektors wird durch
die folgende Gleichung angegeben, wenn man die Gegeninterferenz
zwischen Vorder- und Rückseite der Interferenzfilterschichten
13 und 15 berücksichtigt:
darin ist R das Reflexionsvermögen an der Vorderseite der
Interferenzfilterschicht, während R′ das Reflexionsvermögen
an der Rückseiten-Interferenzfilterschicht ist.
In der obiggen Gleichung (1) ist der Transmissionsfaktor
T₁ für einen bekannten Reflexionsspiegel durch die folgende
Gleichung (2) ausgedrückt, die auf der Gleichung (1)
basiert, wenn die Reflexionsvermögen R und R′ der Vorder-
und Rückseiten-Interferenzschichten gleich sind:
Der Transmissionsfaktor T₂ des verbesserten Spiegelreflektors
wird auch durch die folgende Gleichung (3) in Verbindung
mit der Gleichung (1) ausgedrückt, wenn das
Reflexionsvermögen R′ der Rückseiten-Interferenzschicht als
KR ausgedrückt wird (K ist eine Konstante):
Daher ist die Differenz der Transmissionsfaktoren T₁ und
T₂ durch die folgende Gleichung (4) ausdrückbar:
Gemäß Gleichung (4) ist der Transmissionsfaktor T₂ des
verbesserten Spiegelreflektors größer als der Transmissionsfaktor
T₁ eines bekannten Spiegelreflektors, wenn die
Konstante K gleich oder kleiner als 1 ist.
Ferner ist der Transmissionsfaktor T₂ des verbesserten
Spiegelreflektors größer als der Transmissionsfaktor T₁ des
bekannten Spiegelreflektors, wenn die folgenden Bedingungen
erfüllt werden:
Ferner werden die Reflexionsvermögen R und R′ für die
Vorder- und Rückseiten-Interferenzschichten gemittelt, wenn
die Differenz zwischen R und R′ extrem groß ist und die
folgenden Bedingungen erfüllt sind:
K < 1 und R /√
Fig. 5 zeigt für drei verschiedene Proben je ein spektrales
Reflexionsvermögen. Bei der ersten Probe (die dem Stand der
Technik entspricht) ist die Interferenzfilterschicht so
gebaut, daß sie auf der Vorderseite des Trägers gebildet
ist. Bei der zweiten Probe (die einen weiteren Stand der
Technik darstellt) sind die Interferenzfilterschichten einzeln
auuf gegenüberliegenden Seiten des Trägers angeordnet.
Die dritte Probe stellt das Ausführungsbeispiel dar. Die
Anzahl der Schichten mit großem und kleinem Brechungsindex
für jede Interferenzfilterschicht der oben beschriebenen
Proben ist in jedem Falle gleich. Der Übergang des spektralen
Reflexionsvermögens für die erste Probe ist als volle
Linie dargestellt. Das spektrale Reflexionsvermögen für die
zweite Probe ist gestrichelt dargestellt und für die dritte
Probe gilt die strichpunktierte Linie.
Man erkennt aus Fig. 5, daß das Reflexionsvermögen für die
erwähnten Proben im sichtbaren Bereich nahezu gleich ist,
wenn die Wellenlänge also kleiner als 700 nm ist. In dem
infraroten Bereich erscheinen drei positive Spitzen und drei
negative Spitzen, die sich jeweils voneinander unterscheiden.
Jede negative Spitze oder jedes Tal des Reflexionsvermögens
fällt für die dritte Probe nahezu mit denen für die erste
und zweite Probe zusammen. Die positiven Spitzen oder
Amplituden sind jedoch unterschiedlich, wobei die Amplitude
des Reflexionsvermögens für die dritte Probe kleiner als für
die erste und zweite Probe ist. Mit anderen Worten ist der
Infrarot-Durchlässigkeitsfaktor für die dritte Probe (eine
Ausführung) größer als für die erste und zweite Probe. Dies
ist deswegen der Fall, weil Gegeninterferenz zwischen den
Interferenzfilterschichten auftritt, die jeweils an gegenüberliegenden
Seiten des Trägers angeordnet sind, und zwar
wegen des Unterschiedes in der optischen Dicke zwischen den
Interferenzfilterschichten bei der dritten Probe. Wenn sich
jede optische Dicke der Interferenzfilterschichten von den
anderen unterscheidet, dann unterscheidet sich auch jede
mittlere Wellenlänge der Interferenzfilterschichten voneinander
und es ist mit anderen Worten jedes Reflexionsvermögen der
Interferenzfilterschichten voneinander verschieden. Gemäß
Fig. 5 nimmt das Reflexionsvermögen für die dritte Probe in
dem sichtbaren Bereich gegenüber den ersten und zweiten
Proben nicht ab. Dies ist deswegen der Fall, weil der
Einfluß des Unterschiedes in der optischen Dicke beim
Reflexionsvermögen zunimmt, wenn die Wellenlänge des Lichtes
länger wird.
Da bei dem obigen Ausführungsbeispiel der Lichtabsorptionsfaktor
der Interferenzfilterschicht extrem klein ist (im
wesentlichen Null), nimmt der Infrarot-Durchlässigkeitsfaktor
zu und das Reflexionsvermögen für sichtbare Strahlung nimmt
trotz des Vorhandenseins der Interferenzfilterschichten
nicht ab, die an gegenüberliegenden Seiten des Trägers
angeordnet sind.
Bei dem obigen Ausführungsbeispiel besteht der Träger aus
Quarzglas und hat Halbzylinderform. Der Träger kann jedoch
aus hartem Glas, weichem Glas oder Kristallglas bestehen.
Ferner kann er zylindrisch oder eben sein, was lediglich von
dem Aufbau abhängt, an dem der Spiegel angebracht werden
soll. Ferner ist die Dicke der Rückseiten-Interferenzfilterschicht
größer als die der Vorderseiten-Interferenzfilterschicht
im obigen Ausführungsbeispiel. Die Dicke der Vorderseiten-
Interferenzfilterschicht kann jedoch auch größer als
die der Rückseiten-Interferenzfilterschicht sein. In diesem
Fall wird der Infrarot-Transmissionsfaktor des Spiegelreflektors
auf einen Mittelwert für jedes Reflexionsvermögen der
Interferenzfilterschichten durch Gegeninterferenz eingestellt
und damit wird der Infrarot-Durchlässigkeitsfaktor des
Spiegelreflektors verbessert.
Claims (9)
1. Spiegelreflektor, der sichtbare Strahlung reflektiert
und Infrarotstrahlung von einer Lichtquelle durchläßt;
mit einem lichtdurchlässigen Träger (11); mit einer
ersten Interferenzfilterschicht (13); die ein erstes
IR-Reflexionsvermögen hat und die auf einer Seite des
Trägers (11) angeordnet ist; und mit einer zweiten
Interferenzfilterschicht (15), die ebenfalls ein
zweites IR-Reflexionsvermögen hat und die auf der
anderen Seite des Trägers (11) angeordnet ist, dadurch
gekennzeichnet, daß das Infrarot-Reflexionsvermögen der
ersten Interferenzfilterschicht (13) von dem der
zweiten Interferenzfilterschicht (15) verschieden ist,
um die Menge der Infrarotstrahlen, die von dem Spiegelreflektor
durchgelassen werden, durch Gegeninterferenz
zwischen der ersten Inferenzfilterschicht (13) und der
zweiten Interferenzfilterschicht (15) zu erhöhen.
2. Spiegelreflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Interferenzfilterschicht (13) eine erste
Brechungsschicht (13 a) und eine zweite Brechungsschicht
(13 b) aufweist, die übereinander angeordnet sind, und
daß die erste Brechungsschicht einen ersten Brechungsindex
und die zweite Brechungsschicht einen zweiten
Brechungsindex hat, der größer als der erste Brechungsindex
ist.
3. Spiegelreflektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Interferenzfilterschicht (15) eine
dritte Brechungsschicht (15 a) und eine vierte
Brechungsschicht (15 b) aufweist, die übereinander
angeordnet sind, und daß die dritte Brechungsschicht
einen dritten Brechungsindex und die vierte Brechungsschicht
einen vierten Brechungsindex hat, der größer
als der dritte Brechungsindex ist.
4. Spiegelreflektor nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das Infrarot-Reflexionsvermögen der
ersten Interferenzfilterschicht (13) größer als das der
zweiten Interferenzfilterschicht (15) ist.
5. Spiegelreflektor nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das Infrarot-Reflexionsvermögen der
zweiten Interferenzfilterschicht (15) größer als das
der ersten Interferenzfilterschicht (13) ist.
6. Spiegelreflektor, der sichtbare Strahlung reflektiert
und Infrarotstrahlung von einer Lichtquelle durchläßt;
mit einnem lichtdurchlässigen Träger (11); mit einer
ersten Interferenzfilterschicht (13) die eine vorgegebene
optische Dicke hat und auf der eine Seite des
lichtdurchlässigen Trägers angordnet ist, um eine
große Menge von sichtbarem Licht und einen Teil
Infrarotstrahlung zu reflektieren, wobei die erste
Interferenzfilterschicht eine große Menge von Infrarotstrahlung
und einen Teil sichtbarer Strahlung
durchläßt; und mit einer zweiten Interferenzfilterschicht
(15), die eine vorgegebene optische Dicke hat und auf
der anderen Seite des lichtdurchlässigen Trägers
angeordnet ist, um eine große Menge von Infrarotstrahlung
und einen Teil sichtbaren Lichtes von der ersten
Interferenzfilterschicht durchzulassen, wobei die
zweite Interferenzfilterschicht eine große Menge von
sichtbarer Strahlung und einen Teil Infrarotstrahlung,
die von der ersten Interferenzfilterschicht durchgelassen
wird, zu der ersten Interferenzfilterschicht
reflektiert, dadurch gekennzeichnet, daß die optische
Dicke der ersten Interferenzfilterschicht (13) von der
der zweiten Interferenzfilterschicht (15) verschieden
ist, um die Menge der Infrarotstrahlen zu erhöhen, die
von der zweiten Interferenzfilterschicht durchgelassen
wird, und zwar durch Gegeninterferenz zwischen der
ersten und zweiten Interferenzfilterschicht.
7. Spiegelreflektor nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Dicke der ersten Interferenzfilterschicht
(13) größer als die der zweiten Interferenzfilterschicht
(15) ist.
8. Spiegelreflektor nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Dicke der zweiten Interferenzfilterschicht
(15) größer als die der ersten Interferenzfilterschicht
(13) ist.
9. Spiegelreflektor nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß er in einer Lampe verwendet
wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62068783A JPH0786568B2 (ja) | 1987-03-25 | 1987-03-25 | 光源装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3810046A1 true DE3810046A1 (de) | 1988-10-13 |
Family
ID=13383674
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3810046A Ceased DE3810046A1 (de) | 1987-03-25 | 1988-03-22 | Reflektorspiegel zum ablenken von sichtbaren strahlen und zur uebertragung von infrarotstrahlen von einer lichtquelle |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4850661A (de) |
JP (1) | JPH0786568B2 (de) |
KR (1) | KR910001032B1 (de) |
DE (1) | DE3810046A1 (de) |
GB (1) | GB2202963B (de) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2637432B2 (ja) * | 1987-06-30 | 1997-08-06 | ホ−ヤ株式会社 | レーザ光反射フィルタレンズ |
JPH0782117B2 (ja) * | 1989-02-23 | 1995-09-06 | オリンパス光学工業株式会社 | 反射型結像光学系 |
JPH0312605A (ja) * | 1989-06-09 | 1991-01-21 | Topcon Corp | 紫外・可視二波長反射多層膜ミラー |
US5154512A (en) * | 1990-04-10 | 1992-10-13 | Luxtron Corporation | Non-contact techniques for measuring temperature or radiation-heated objects |
US5310260A (en) * | 1990-04-10 | 1994-05-10 | Luxtron Corporation | Non-contact optical techniques for measuring surface conditions |
US5769540A (en) * | 1990-04-10 | 1998-06-23 | Luxtron Corporation | Non-contact optical techniques for measuring surface conditions |
US5177396A (en) * | 1990-12-19 | 1993-01-05 | Gte Products Corporation | Mirror with dichroic coating lamp housing |
US5339198A (en) * | 1992-10-16 | 1994-08-16 | The Dow Chemical Company | All-polymeric cold mirror |
JPH06308307A (ja) * | 1993-04-23 | 1994-11-04 | Ushio Inc | 反射鏡 |
DE19703212C2 (de) * | 1997-01-29 | 1998-12-24 | Juergen Schurig | Verfahren zur Bestimmung der bei einem Lötprozeß auftretenden Benetzungskraft |
US7206125B2 (en) * | 2003-11-10 | 2007-04-17 | Therma-Wave, Inc. | Infrared blocking filter for broadband Optical metrology |
JP4122010B2 (ja) * | 2004-11-12 | 2008-07-23 | 東海光学株式会社 | 赤外線受発光部 |
JP2007183525A (ja) * | 2005-12-07 | 2007-07-19 | Murakami Corp | 誘電体多層膜フィルタ |
JP5229075B2 (ja) * | 2008-07-28 | 2013-07-03 | 日本電気硝子株式会社 | 広帯域反射鏡 |
US9682648B2 (en) * | 2011-03-04 | 2017-06-20 | Michael Shipman | Luminescent planar sheet |
JP2014071295A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Tokai Kogaku Kk | 赤外線受発光用光学物品及び赤外線受発光部 |
US9611999B2 (en) * | 2014-07-21 | 2017-04-04 | GE Lighting Solutions, LLC | Reflecting apparatus including enhanced aluminum optical coatings |
JP6547368B2 (ja) * | 2015-03-27 | 2019-07-24 | 株式会社大真空 | 可視光カットフィルタ |
JP6760981B2 (ja) * | 2018-02-02 | 2020-09-23 | ファナック株式会社 | 半導体レーザモジュール及びレーザ発振器 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2742819A (en) * | 1952-05-23 | 1956-04-24 | Eastman Kodak Co | Long wavelength transmitting optical interference filters |
DE1153189B (de) * | 1961-06-30 | 1963-08-22 | Zeiss Ikon Ag | Anordnung zur Abtrennung der Waerme-strahlung aus dem Strahlengang einer Lichtquelle |
DE3125267A1 (de) * | 1981-06-26 | 1983-01-13 | Patra Patent Treuhand | Halogenellipsoidreflektorlampe mit kaltlichtreflektor |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3578848A (en) * | 1968-01-26 | 1971-05-18 | Perkin Elmer Corp | Method of making an interference filter |
NL7405071A (nl) * | 1974-04-16 | 1975-10-20 | Philips Nv | Gloeilamp met infrarood filter. |
JPS5758109A (en) * | 1980-09-26 | 1982-04-07 | Toshiba Electric Equip Corp | Infrared-ray reflective filter |
JPS61296306A (ja) * | 1985-06-25 | 1986-12-27 | Horiba Ltd | 赤外線多層膜干渉フイルタ |
-
1987
- 1987-03-25 JP JP62068783A patent/JPH0786568B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-03-21 US US07/171,268 patent/US4850661A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-03-22 DE DE3810046A patent/DE3810046A1/de not_active Ceased
- 1988-03-24 KR KR1019880003174A patent/KR910001032B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1988-03-25 GB GB8807175A patent/GB2202963B/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2742819A (en) * | 1952-05-23 | 1956-04-24 | Eastman Kodak Co | Long wavelength transmitting optical interference filters |
DE1153189B (de) * | 1961-06-30 | 1963-08-22 | Zeiss Ikon Ag | Anordnung zur Abtrennung der Waerme-strahlung aus dem Strahlengang einer Lichtquelle |
DE3125267A1 (de) * | 1981-06-26 | 1983-01-13 | Patra Patent Treuhand | Halogenellipsoidreflektorlampe mit kaltlichtreflektor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4850661A (en) | 1989-07-25 |
JPS63235902A (ja) | 1988-09-30 |
GB2202963A (en) | 1988-10-05 |
KR880011604A (ko) | 1988-10-29 |
KR910001032B1 (ko) | 1991-02-19 |
JPH0786568B2 (ja) | 1995-09-20 |
GB2202963B (en) | 1990-12-05 |
GB8807175D0 (en) | 1988-04-27 |
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