DE3729951A1 - Cmos-ausgangsstufe - Google Patents
Cmos-ausgangsstufeInfo
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
- H03K19/01721—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
- H03K17/041—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0416—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit
- H03K17/04163—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit in field-effect transistor switches
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Description
Die Erfindung betrifft eine CMOS-Ausgangsstufe nach dem Ober
begriff des Patentanspruches 1.
Die im Hauptpatent vorgestellte CMOS-Ausgangsstufe hat den Nach
teil, daß das am Ausgang der Ausgangsstufe anstehende Signal
nicht exakt denselben Pegel (Versorgungspotential VDD im High-
Zustand; Bezugspotential VSS im Low-Zustand) aufweist wie das
entsprechende Versorgungs- bzw. Bezugspotential VDD bzw. VSS.
Hauptproblem für die Bereitstellung eines möglichst genauen Pe
gels am Ausgang DO bereitet der Schutztransistor T 3. An ihm
tritt in n-Kanal-Enhancement-Ausführung beim High-Pegel ein
Spannungsabfall in Höhe seiner Schwellenspannung Vth auf. Dieser
Wert beträgt bei Silizium mindestens 0,7 V, was bei einer Be
triebsspannung (= Differenz zwischen Versorgungspotential VDD
und Bezugspotential VSS) von 5 V 15% entspricht. Nachdem am
p-Kanal-Transistor T 1 nur ein geringer, lastabhängiger Span
nungsabfall auftritt, liegt der maximale H-Pegel des Aus
gangssignales am Ausgang DO mindestens ca. 15% unter dem des
Versorgungspotentials VDD.
Soll am Ausgang DO ein Low-Pegel anliegen, so erfolgt ein gewis
ser lastabhängiger Spannungsabfall über die Transistoren T 2 und
T 3. Dieser ist jedoch geringer als der Spannungsabfall über dem
Transistor T 3 beim High-Pegel. Die Serienschaltung der Transi
storen T 2 und T 3 beim Low-Pegel macht sich jedoch auch in der
Schaltzeit bemerkbar.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die CMOS-Ausgangsstu
fe nach dem Hauptpatent so weiterzubilden, daß sie die geschil
derten Nachteile weitestgehend vermeidet.
Diese Aufgabe wird gelöst durch die kennzeichnenden Merkmale
der Patentansprüche 1 und/oder 2.
Vorteilhafte Aus- und Weiterbildungen sind in Unteransprüchen
gekennzeichnet.
Die Erfindung wird nun anhand der Figuren erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 eine vorteilhafte Ausgestaltung hinsichtlich des Low-Zu
standes,
Fig. 2 eine vorteilhafte Ausgestaltung hinsichtlich des High-Zu
standes,
Fig. 3 eine mögliche Kombination aus den Fig. 1 und 2.
Für den Low-Pegel erfolgt nach Fig. 1 eine wünschenswerte Ver
besserung durch Verwenden eines Pull-down-Transistors TL zwi
schen Ausgang DO und Bezugspotential VSS. Der Pull-down-Transi
stor TL ist im Ausführungsbeispiel vom n-Kanal-Typ. Während der
Pull-down-Transistor TL als Treibertransistor ausgelegt ist, ist
der Transistor T 2 lediglich ein Steuertransistor zur Potential
steuerung des Schaltungsknotens K. Durch diesen Einsatz (Strom
pfad des Treiberstromes betrachtet) der Serienschaltung der
Transistoren T 2 und T 3 durch einen Transistor TL werden so
wohl die Schaltzeit wie auch der Low-Ausgangspegel unter Last
deutlich verbessert.
Für den High-Pegel erfolgt nach Fig. 2 eine wünschenswerte Ver
besserung durch Verwenden einer Serienschaltung aus einem Pull-
up-Transistor TH und einem Widerstand RH. Der Pull-up-Transistor
TH ist im Ausführungsbeispiel vom p-Kanal-Typ. Er weist demzu
folge fast keinen Spannungsabfall auf. Der Wert des Widerstan
des RH ist so bemessen, daß bei vorgegebener Versorgungsspannung
im Fall der möglicherweise auftretenden Latch-up-Bedingung (eine
entsprechende Überspannung ist am Ausgang DO ausgangsstufen
extern eingeprägt) und auch unter sonstigen Bedingungen nur ein
maximaler, begrenzter Strom fließen kann (beispielsweise 100 µA),
bei dem der Latch-up-Effekt ausgangsstufenintern noch nicht auf
tritt. Bei einer angenommenen Überspannung von 2 V am Ausgang DO
gegenüber einem Versorgungspotential von VDD = 5 V ergibt sich
somit für den Widerstand RH ein Wert von 20 kOhm. Die Bootstrap-
Anordnung nach dem Hauptpatent sichert einen raschen Anstieg des
High-Pegels am Ausgang. Die Serienschaltung des Pull-up-Transi
stor TH und Widerstand RH hingegen sichert den High-Pegel mög
lichst nahe am Versorgungspotential VDD.
Während das Gate des Pull-up-Transistors TH mit dem des p-Ka
nal-Transistors T 1, und somit mit dem Eingangssignal A verbun
den ist, ist das Gate des Pull-down-Transistors TL mit dem des
n-Kanal-Transistors T 2 und somit mit dem Eingangssignal B ver
bunden.
Fig. 3 zeigt in vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung die Kom
bination der CMOS-Ausgangsstufe mit dem Pull-up-Transistor TH
und dem Widerstand RH einerseits und dem Pull-down-Transistor TL
andererseits. Als besondere Ausführungsform ist diejenige ge
wählt, bei der, gemäß dem Hauptpatent, die beiden komplementären
Transistoren T 1, T 2 durch jeweils zwei in Serie zueinander ge
schaltete Transistoren T 11, T 12; T 21, T 22 ersetzt sind. Deren
Gates können paarweise jeweils zusammengeschaltet sein (Tran
sistor T 11, T 12) oder getrennt (Transistoren T 21, T 22). Im letzte
ren Fall liegt am Gate des Transistors T 22 das Eingangssignal B.
Am Gate des Transistors T 21 liegt ein Signal Φ. Dies kann entwe
der einen festen Potentialverlauf aufweisen mit einem Wert in
etwa gleich dem des Versorgungspotentials VDD oder es kann ge
taktet sein. Falls es getaktet ist, muß es mindestens zu den
Zeitpunkten, in denen das Eingangssignal B seinen High-Pegel auf
weist, ebenfalls einen High-Pegel aufweisen.
Claims (3)
1. CMOS-Ausgangsstufe einer integrierten Schaltungsanordnung
nach Patentanmeldung P 37 29 926.3, gekennzeich
net durch folgende Merkmale:
- - zwischen dem Bezugspotential (VSS) und dem Ausgangsanschluß (DO) der Ausgangsstufe ist ein Pull-down-Transistor (TL) an geordnet,
- - dieser (TL) ist vom selben Kanaltyp wie derjenige (T 2) der zu einander komplementären Transistoren (T 1, T 2), der mit dem Be zugspotential (VSS) der Ausgangsstufe verbunden ist,
- - sein Gate ist mit dem Gate desjenigen (T 2) der zueinander komplementären Transistoren (T 1, T 2) verbunden, der mit dem Bezugspotential (VSS) der Ausgangsstufe verbunden ist.
2. CMOS-Augangsstufe einer integrierten Schaltungsanordnung
nach Patentanmeldung P 37 29 926.3, insbesondere nach An
spruch 1, gekennzeichnet durch folgende
Merkmale:
- - Zwischen dem Versorgungspotential (VDD) und dem Ausgangsan schluß (DO) der Ausgangsstufe ist die Serienschaltung eines Pull-up-Transistors (TH) und eines Widerstandes (RH) angeord net,
- - der Pull-up-Transistor (TH) ist vom selben Kanaltyp wie derje nige (T 1) der zueinander komplementären Transistoren (T 1, T 2), der mit dem Versorgungspotential (VDD) verbunden ist,
- - sein Gate ist mit dem Gate desjenigen (T 1) der zueinander kom plementären Transistoren (T 1, T 2) verbunden, der mit dem Versorgungspotential (VDD) der Ausgangsstufe verbunden ist.
3. CMOS-Ausgangsstufe nach Anspruch 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Wert des Widerstandes (RH) be
messen ist nach dem maximal zulässigen Strom durch den Wider
stand (RH) und der maximal zulässigen Differenz zwischen externer
Überspannung und dem Versorgungspotential (VDD) der Ausgangs
stufe.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873729951 DE3729951A1 (de) | 1987-09-07 | 1987-09-07 | Cmos-ausgangsstufe |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873729926 DE3729926A1 (de) | 1987-09-07 | 1987-09-07 | Cmos-ausgangsstufe |
DE19873729951 DE3729951A1 (de) | 1987-09-07 | 1987-09-07 | Cmos-ausgangsstufe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3729951A1 true DE3729951A1 (de) | 1989-06-01 |
Family
ID=25859498
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873729951 Ceased DE3729951A1 (de) | 1987-09-07 | 1987-09-07 | Cmos-ausgangsstufe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3729951A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994029963A1 (en) * | 1993-06-07 | 1994-12-22 | National Semiconductor Corporation | Voltage translation and overvoltage protection |
EP0886379A1 (de) * | 1994-03-30 | 1998-12-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Spannungspegelverschieber |
-
1987
- 1987-09-07 DE DE19873729951 patent/DE3729951A1/de not_active Ceased
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994029963A1 (en) * | 1993-06-07 | 1994-12-22 | National Semiconductor Corporation | Voltage translation and overvoltage protection |
US5406140A (en) * | 1993-06-07 | 1995-04-11 | National Semiconductor Corporation | Voltage translation and overvoltage protection |
US5534795A (en) * | 1993-06-07 | 1996-07-09 | National Semiconductor Corporation | Voltage translation and overvoltage protection |
US5568065A (en) * | 1993-06-07 | 1996-10-22 | National Semiconductor Corporation | Circuit for connecting a node to a voltage source selected from alternative voltage sources |
EP0886379A1 (de) * | 1994-03-30 | 1998-12-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Spannungspegelverschieber |
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Legal Events
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