DE3632848A1 - Heizwiderstand sowie aufzeichnungskopf mit diesem widerstand und ansteuerungsverfahren hierfuer - Google Patents
Heizwiderstand sowie aufzeichnungskopf mit diesem widerstand und ansteuerungsverfahren hierfuerInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Heizwiderstand und insbesondere
auf einen Heizwiderstand, der für einen Aufzeichnungskopf
wie einen Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf,
der durch das Zuführen von Wärmeenergie zu einer Aufzeichnungsflüssigkeit
diese abstrahlt, oder einen Thermokopf geeignet
ist; ferner bezieht sich die Erfindung auf einen
Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf, bei dem ein solcher
Heizwiderstand verwendet wird, sowie auf ein Verfahren zur
Ansteuerung des Aufzeichnungskopfs.
Bei einem Aufzeichnungskopf wie einem Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungskopf, der unter Benutzung eines Heizwiderstands
durch Zuführen von Wärmeenergie zu einer Aufzeichnungsflüssigkeit
diese abstrahlt, oder einem Thermokopf, bei dem unter
Benutzung des Heizwiderstands Wärmeenergie einem Übertragungsfarbband
oder einem wärmeempfindlichen Papier zugeführt
wird, ist es von Bedeutung, die Lebensdauer des Heizelements
zu verlängern. In dieser Hinsicht beruhen in vielerlei Fällen
die Beschädigungen des als Heizelement dienenden Heizwiderstands
auf einer ungleichförmigen Wärmeerzeugung in dem Heizwiderstand.
Für einen Heizwiderstand mit einer auf einer Heizwiderstandsschicht
ausgebildeten leitenden Elektrodenschicht wurde vorgeschlagen,
die Breite derjenigen Heizwiderstandsschicht, auf
der die Elektrode ausgebildet ist, über die Breite der Elektrode
hinaus zu erweitern, um zu verhindern, daß die Elektrode
bei ihrer Ausbildung bricht, und eine stufenförmige Überdeckung
durch eine Schutzschicht zu vergrößern, um die Haltbarkeit
zu verbessern (JP-OS 1 94 589/1984). Bei dem derart
geformten Heizwiderstand ist jedoch die Dichte des über die
Elektroden fließenden Stroms nicht gleichförmig, sondern an
einer bestimmten Stelle konzentriert. Infolgedessen ist auch
die Wärmeerzeugung nicht gleichförmig, sondern an einem bestimmten
Bereich des Heizwiderstands höher. Infolge der höheren
Wärmeerzeugung an diesem Bereich entsteht eine Beschädigung,
durch die die Lebensdauer des Widerstands verkürzt
wird.
Erfindungsgemäß wird der Zusammenhang zwischen der Breite des
Heizwiderstands bzw. der Heizwiderstandsschicht und der
Breite der Elektrode in Betracht gezogen, wobei die erstere
Breite größer als die letztere ist.
Die bei dem Stand der Technik auftretenden Probleme werden in
Verbindung mit einem Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf
erläutert, bei dem ein Aufzeichnungsverfahren zur Flüssigkeitsabstrahlung
unter Benutzung von Wärmeenergie angewandt
wird.
Ein in der DE-OS 28 43 064 beschriebenes Aufzeichnungsverfahren
für den Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf besteht im Vergleich
zu anderen Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungsverfahren
darin, daß der Flüssigkeit für das Erzeugen einer Bewegungskraft
zum Ausstoß von Tröpfchen Wärmeenergie zugeführt wird.
Bei dem beschriebenen Verfahren wird durch die Wärmeenergie
die Flüssigkeit zum Erzeugen von Bläschen überhitzt, wodurch
bei dem Entstehen der Bläschen die Flüssigkeit aus einer
Düsenöffnung am Ende des Aufzeichnungskopfs derart ausgestoßen
wird, daß fliegende Tröpfchen gebildet werden, welche
zur Informationsaufzeichnung auf ein Aufzeichnugnsmaterial
aufgebracht werden.
Der bei diesem Aufzeichnungsverfahren benutzte Aufzeichnungskopf
weist normalerweise eine Flüssigkeitsausstoßeinheit mit
einer Düsenöffnung, aus der die Flüssigkeit ausgestoßen wird,
und einen Flüssigkeitsströmungskanal mit einer Wärmeeinwirkungsfläche
auf, der mit der Düsenöffnung in Verbindung steht
und an dem die Wärmeenergie für den Ausstoß der Tröpfchen auf
die Flüssigkeit einwirkt, wobei für das Erzeugen ein Heizwiderstand
oder eine Heizeinheit benutzt wird.
Für den Heizwiderstand wurde die in Fig. 1 gezeigte Form
vorgeschlagen. Die Erfordernisse für das Definieren einer
solchen Form sind folgende: die Form ist hinsichtlich eines
ϕ-Gradienten √¯(δϕ/δ x)2 + ( /δ y)2- ein Verhältnis zwischen
einem Maximalwert und einem Wert für die Mitte des Widerstands
bestimmt, wenn für die Heizwiderstandsfläche eine
Laplacesche Gleichung δ 2 ϕ/δ x 2 + δ 2 ϕ/-δ y 2 = 0 gelöst wird,
wobei an der Oberfläche einer Heizwiderstandsschicht 3 ein
orthogonales xy-Koordinatensystem definiert wird, das Potential
an einer Stelle (x, y) der Widerstandsoberfläche als
ϕ(x, y) definiert wird, für einen mit einer Elektrode 4 in
Berührung stehenden Bereich der Umfangsgrenze der Widerstandsschicht
ein bestimmter Randwert festgelegt wird, einem
mit einer weiteren Elektrode 4 in Berührung stehenden Bereich
ein weiterer unterschiedlicher Randwert zugeordnet wird und
einem Bereich, der außer Berührung zu den Elektroden ist,
eine Randbedingung zugeordnet wird, bei der ein Differentialquotient
von ϕ zur Normalrichtung der Umfangsgrenze "0" ist.
Das Verhältnis ist beispielsweise bei dem in Fig. 1 gezeigten
Widerstand nach dem Stand der Technik mathematisch unbegrenzt.
Dieser Heizwiderstand hat ein Paar von Elektroden, die gewöhnlich
eine Wählelektrode und eine gemeinsame Elektrode
sind. An die Elektroden wird eine Spannung derart angelegt,
daß von dem Heizwiderstand die Wärmeenergie für den Ausstoß
von Tröpfchen aus der Düsenöffnung erzeugt wird. Einer der
hauptsächlichen Faktoren, die die Nutzungdauer für die wiederholte
Benutzung bzw. Haltbarkeit des Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungskopfs bestimmen, ist die als Kavitationszerstörung
bzw. Kavitationskraft bezeichnete mechanische Stoßkraft,
die hervorgerufen wird, wenn sich Dampfbläschen durch ihr
Zusammenziehen auflösen. Im einzelnen entsteht die Kavitationskraft,
sobald die Flüssigkeit nahe dem Heizwiderstand
überhitzt wird und eine Überhitzungs-Grenztemperatur erreicht,
bei der Dampfbläschen erzeugt werden und durch die
plötzliche Volumenvergrößerung die Flüssigkeit in Form fliegender
Tröpfchen aus der Düsenöffnung ausgestoßen wird. Sobald
sich die Bläschen, nämlich die Dampfbläschen durch Zusammenziehen auflösen,
tritt die Kavitationskraft auf. Die
durch die Kavitationskraft an dem Heizwiderstand wirkende
Stoßkraft war ein Faktor, der die Haltbarkeit des Aufzeichnungskopfs
bestimmt.
Es sind verschiedenerlei Bestrebungen bekannt, durch das
Vermeiden des vorstehend beschriebenen Problems die Haltbarkeit
des Aufzeichnungskopfs zu verbessern. Beispielsweise
wird ein Heizwiderstand mit hoher Kavitationsfestigkeit hergestellt,
zwischen dem Heizwiderstand und der Aufzeichnungsflüssigkeit
eine Schutzschicht mit hoher Kavitationsfestigkeit
angebracht oder der Flüssigkeitsströmungskanal derart
gestaltet, daß die Kavitationszerstörungskraft abgeschwächt
wird. auf diese Weise wurde die Haltbarkeit des Aufzeichnungskopfs
verbessert.
Bei einem Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf für Punktedruck,
bei dem Wärmeenergie genutzt wird und bei dem der
Heizwiderstand auf ein Substrat eines Flüssigkeitskanals
aufgeschichtet ist, der mit der Düsenöffnung in Verbindung
steht, wobei die Flüssigkeit durch Anlegen eines Impulses an
den Heizwiderstand erwärmt wird, ist es zur Verbesserung der
Bildqualität von Bedeutung, für einen jeden einzelnen Impuls
die Wärmeenergie der Flüssigkeit auf wirksame Weise zuzuführen
und bei der wiederholten Ansteuerung des Aufzeichnungskopfs
die Flüssigkeit gleichmäßig auszustoßen.
Als Lösung dieses Problems ist es bekannt, auf das Substrat
eine untere Schicht mit einer Wärmeleitfähigkeit k 2, einer
spezifischen Wärme c 2, einer Dichte p 2 und einer Dicke L 2,
eine Heizwiderstandsschicht mit einer Wärmeleitfähigkeit k H
und einer Dicke von L H sowie eine obere Schicht mit einer
Wärmeleitfähigkeit K 1, einer spezifischen Wärme C 1, einer
Dichte p 1 und einer Dicke von L 1 in dieser Aufeinanderfolge
aufzuschichten, wobei die Materialien und Abmessungen derart
gewählt werden, daß folgenden Bedingungen genügt ist:
wobei
gilt und wobei τ die Halbwertbreite eines an den Heizwiderstand
angelegten elektrischen Signals ist, t die Zeit zwischen
der Eingabe eines elektrischen Signals und der Eingabe
des nächsten elektrischen Signals ist, S die Wärmeeinwirkungsfläche
an der dem Wärmewirkungsbereich zugewandten
Oberfläche der oberen Schicht ist, Δ T der Mittelwert der
Differenzen zwischen den Oberflächentemperaturen der Wärmeeinwirkungsfläche
und den Oberflächentemperaturen der dem
Substrat zugewandten Oberfläche der unteren Schicht ist und Q
die durch ein einzelnes elektrisches Signal erzeugte Wärme
ist.
Selbst bei der Erfüllung der vorstehend genannten Bedingungen
bestehen jedoch weiterhin Schwierigkeiten, den Erfordernissen
nach einer höheren Haltbarkeit zu genügen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Heizwiderstand
zu schaffen, an dem zur Verlängerung der Lebensdauer
des Widerstands die Wärmeverteilung möglichst gleichförmig
ist. Damit soll mit der Erfindung ein Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungskopf geschaffen werden, der höhere Haltbarkeit
und höhere Aufzeichnungsqualität als ein solcher nach dem
Stand der Technik hat. Ferner soll für die Ansteuerung eines
Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs mit der Erfindung ein
Ansteuerungsverfahren geschaffen werden, bei dem gegenüber
einer herkömmlichen Grenzspannung Vth ein Bezugswert für eine
Ansteuerspannung an dem Aufzeichnungskopf derart verändert
wird, daß eine angelegte Spannung Vop gewählt wird, die
hinsichtlich der Haltbarkeit und der praktischen Anwendung
optimal ist.
Hinsichtlich des Heizwiderstands wird die Aufgabe der Erfindung
mit dem planaren Heizwiderstand gemäß Patentanspruch 1
gelöst. Hinsichtlich des Aufzeichnungskopfs wird die Aufgabe
mit dem Aufzeichnungskopf gemäß Patentanspruch 2 oder 6 gelöst.
Hinsichtlich des Aufzeichnungsverfahrens wird die Aufgabe
mit dem Verfahren gemäß Patentanspruch 7 gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
aufgeführt.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen
unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.
Fig. 1 ist eine schematische Draufsicht, die die Form eines
herkömmlichen Heizwiderstands veranschaulicht.
Fig. 2A bis 5B zeigen Beispiele für den Vergleich mit erfindungsgemäßen
Heizwiderständen.
Fig. 6A bis 16 veranschaulichen die Erfindung.
Die Fig. 6A bis 6C veranschaulichen ein Ausführungsbeispiel
des Heizwiderstands, in dem sie die Umgebung eines Heizwiderstands
eines Aufzeichnungskopfs zeigen, aus dem durch das
Erzeugen von Bläschen in einer Aufzeichnungsflüssigkeit durch
das Zuführen von Wärmeenergie durch den Heizwiderstand Tröpfchen
ausgestoßen werden.
Die Fig. 6A zeigt ein Trägermaterial 1, eine Wärmesammelschicht 2,
einen Heizwiderstand 3, Elektroden 4 und Schutzschichten 5
und 6. Die Materialien und Dicken der jeweiligen
Schichten sind in der nachstehenden Tabelle 1 aufgeführt. Die
Fig. 6A ist ein schematischer Querschnitt, die Fig. 6B ist
eine schemaische Draufsicht, wobei die Schutzschichten 5 und
6 entfernt sind, und die Fig. 6C ist eine schematische Ansicht
der Umgebung von Stellen A und B nach Fig. 6B. W ist
die Breite des Widerstands 3 an dessen Mitte, W 1 ist die
Breite des Widerstands bzw. der Widerstandsschicht an den
Enden, D ist die Breite der Elektroden 4 an deren Enden, D 1
ist die Breite der Elektroden 4 an den Enden des Widerstands,
L 1 ist der Abstand zwischen zwei Stufen hinsichtlich der
Breite des Widerstands und L 2 ist der Abstand zwischen den
Elektrodenenden. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist W = 32 µm,
W 1 = 58 µm, D = 32 µm, D 1 = 50 µm, L 1 = 150 µm und L 2 = 150 µm;
dabei ist die Breite D am Elektrodenende im wesentlichen
gleich der Breite W an der Mitte des Widerstands, wobei
die Lagen der Elektrodenenden mit denjenigen der Breitenstufen
des Widerstands übereinstimmen und bogenförmige Bereiche
des Widerstands einen verhältnismäßig großen Krümmungsradius
haben. Nach Fig. 6C besteht zwischen der Widerstandsbreitenstufe
und der Elektrodenbreitenstufe ein Abstand d von 8 µm,
während der Krümmungsradius der Bögen ungefähr D/10 beträgt.
In Fig. 6B wird ein orthogonales xy-Koordinatensystem auf der
Oberfläche des Heizwiderstands definiert, wobei durch ϕ/x, y)
ein Potential an einem Ort (x, y) an der Widerstandsoberfläche
bezeichnet wird, einem mit einer der Elektroden in Berührung
stehenden Rand 3 a ein Randwert ϕ 1 zugeordnet wird, einem mit
der anderen Elektrode in Berührung stehenden Rand 3 b ein von
ϕ 1 verschiedener Randwert ϕ 2 zugeordnet wird, einem außer
Berührung zu einer der Elektroden stehenden Bereich eine
Randbedingung zugeordnet wird, bei der ein Differentialquotient
von ϕ zur Normalrichtung zu einer Umfangsgrenze "0"
ist, und für den unbekannten Faktor ϕ eine Laplacesche Gleichung
für den Bereich des Heizwiderstands gelöst wird. An
einem Ort B ist der Gradient von ϕ maximal und 1,13-mal so
groß wie der Gradient von ϕ an der Mitte des Widerstands.
Soweit das orthogonale xy-Koordinatensystem auf der Oberfläche
des Widerstands definiert ist, sind die Stelle, an der
der Gradient von ϕ maximal ist, und das Verhältnis des maximalen
Gradienten von ϕ zu dem Gradienten von ϕ an der Mitte
des Widerstands unabhängig davon konstant, wie der Ursprung
der Koordinaten und die Richtungen der x- und der y-Achse
gewählt sind, und auch davon, daß die Randwerte ϕ 1 und ϕ 2
geändert werden.
Bei den Ausführungsbeispielen 2 bis 6 sind die Werte D und
L 2 nach Fig. 6 geändert; in der Tabelle 2 sind für die Ausführungsbeispiele 2
bis 6 sowie das Ausführungsbeispiel 1
Verhältnisse γ zwischen den maximalen Gradienten von ϕ zu den
Gradienten an der Mitte der Widerstände aufgeführt. Im Bereich
der in der Tabelle 2 angegebenen Abmessungen sind die
Verhältnisse γ nicht größer als 1,4. Die Stelle, an der der
Gradient von ϕ maximal ist, liegt an dem Rand A, an dem der
Widerstand 3 die Elektrode 4 berührt, oder an dem Rand B
eines parallelen Abschnitts des Widerstands 3, was von der
Form des Heizwiderstands abhängt. Das Verhältnis des Gradienten
an dieser Stelle zu dem Gradienten an der Mitte des
Widerstands ändert sich mit der Form des Heizwiderstands.
Die Fig. 7A und 7B zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel
des Heizwiderstands. Der schematische Querschnitt durch den
Heizwiderstand ist dem in Fig. 6A gezeigten gleichartig. Die
Fig. 7A zeigt schematisch eine Draufsicht, wobei die Schutzschichten 5
und 6 entfernt sind, während die Fig. 7B eine
vergrößerte schematische Ansicht der Umgebung von Stellen A
und B in Fig. 7A zeigt. Bei diesem Ausführungsbeispiel gilt:
W = 32 µm, W 1 = 58 µm, D = 32 µm, D 1 = 50 µm, L 1 = 150 µm und
L 2 = 158 µm, d = 13 µm und L 2 ≦λτ L 1. Bei diesem Ausführungsbeispiel
ist der Gradient von ϕ an der Stelle B maximal,
während das Verhältnis γ 1,36 beträgt und damit nicht größer
als 1,4 ist.
Nachstehend werden die Vorteile des als Ausführungsbeispiele 1
bis 7 beschriebenen erfindungsgemäßen Heizwiderstands dargelegt.
Die Fig. 2 zeigt zum Vergleich einen Heizwiderstand
in herkömmlicher Form. Der schematische Querschnitt eines
solchen bekannten Heizwiderstands ist dem in Fig. 6A gezeigten
gleichartig, während die Fig. 2A eine schematische Draufsicht
unter Weglassen der Schutzschichten 5 und 6 ist und die
Fig. 2B eine vergrößerte schematische Ansicht der Umgebung
von Stelle A′ und B′ nach Fig. 2A ist. Bei dem Widerstand
nach Fig. 2 gilt: L 1 = 150 µm, L 2 = 158 µm, W = 32 µm, W 1 = 58 µm,
und D = D 1 = 50 µm. Bei diesem Vergleichsbeispiel ist
der Krümmungsradius an einem Winkel des Widerstands klein,
während die Breite W des Widerstands kleiner als die Breite D
der Elektrode ist. Bei diesem Vergleichsbeispiel ist der
Gradient von ϕ an der Stelle Bµ maximal, wobei das Verhältnis
γ 1,71 beträgt.
Die Tabelle 3 zeigt die Ergebnisse von Haltbarkeits- bzw.
Standzeitprüfungen an den Heizwiderständen gemäß den Ausführungsbeispielen 1
bis 7 nach Fig. 6, Tabelle 2 und Fig. 7
sowie gemäß dem Vergleichsbeispiel 1 nach Fig. 2. Für jeden
Widerstand wurde eine für den Flüssigkeitsausstoß erforderliche
Minimalspannung gemessen, die mit 1,15 multipliziert wurde,
um die an den Heizwiderstand anzulegende Spannung festzulegen.
Die Spannung wurde mit einer Impulsbreite von 8 µs und
einer Impulsfrequenz von 1 kHz angelegt.
Wie aus Tabelle 3 ersichtlich ist, ist die Lebensdauer
des Widerstands umso höher, je kleiner das Verhältnis γ ist,
wobei sich die Lebensdauer plötzlich ändert, wenn das Verhältnis γ
1,36 übersteigt.
Die Fig. 8A bis 8C zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel
des Heizwiderstands. Sie zeigen die Umgebung eines Heizwiderstands
eines Aufzeichnungskopfs, der Tröpfchen dadurch austößt,
daß in der Aufzeichnungsflüssigkeit durch das Zuführen
von Wärmeenergie über den Heizwiderstand Bläschen erzeugt
werden. Gegenüber den vorangehend beschriebenen Ausführungsbeispielen
ist der Film- bzw. Schichtenaufbau verschieden.
Der Schichtenaufbau bei diesem Ausführungsbeispiel 8 ist in
der Fig. 8A gezeigt, in welcher mit 10 ein Substrat bzw.
Trägermaterial bezeichnet ist, mit 11 eine Wärmesammelschicht
bzw. Wärmespeicherschicht bezeichnet ist, mit 12 eine Heizwiderstandsschicht
bezeichnet ist, mit 13 Elektroden bezeichnet
sind und mit 14 und 15 Schutzschichten bezeichnet sind. Die
Materialien und die Dicken der jeweiligen Schichten sind in
der Tabelle 4 aufgeführt. Die Fig. 8B zeigt die Form des
Widerstands, während die Fig. 8C eine vergrößerte schematische
Ansicht eines oberen linken Abschnitts in Fig. 8B ist
Der Krümmungsradius eines gerundeten Bereichs des Widerstands
ist etwas größer als derjenige nach Fig. 6, während die
Breite D der Elektrode gleich der Breite D 1 am Elektrodenende
ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel liegt der maximale Gradient
von ϕ an der Stelle B, während das Verhältnis γ 1,25
beträgt.
Die Fig. 9A und 9B zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel,
bei dem der Widerstand eine andere Form hat. Der Film- bzw.
Schichtenaufbau ist der gleiche wie gemäß Fig. 8. Die Fig. 9A
zeigt die Form des Widerstands, während die Fig. 9B eine
vergrößerte schematische Ansicht des oberen linken Bereichs
von Fig. 9A ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel befindet sich
der maximale Gradient von ϕ an der Stelle B, während das
Verhältnis γ 1,40 beträgt.
Die Fig. 3A und 3B zeigen ein zweites Vergleichsbeispiel. Der
Filmaufbau hiervon ist der gleich wie derjenige gemäß Fig. 8A.
Die Fig. 3A zeigt die Form des Vergleichswiderstands,
während die Fig. 3B eine vergrößerte schematische Ansicht des
oberen linken Bereichs der Fig. 3A ist. Bei diesem Vergleichsbeispiel
befindet sich der maximale Gradient von ϕ an
einer Stelle B′, während das Verhältnis γ 1,55 beträgt. Die
Abmessungen der Ausführungsbeispiele 8 und 9 sind in der
Tabelle 5 aufgeführt. Bei dem Vergleichsbeispiel 2 gilt W = 52 µm,
während die übrigen Abmessungen gleich den in Tabelle
5 aufgeführten sind.
An den in den Fig. 8A bis 9B gezeigten Ausführungsbeispielen 8
und 9 sowie dem Vergleichsbeispiel 2 wurden auf gleiche
Weise wie für die Ausführungsbeispiele 1 bis 7 und das Vergleichsbeispiel 1
Haltbarkeits- bzw. Standzeitversuche vorgenommen.
Die Ergebnisse sind in der Tabelle 6 aufgeführt. Aus
der Tabelle 6 ist ersichtlich, daß der Wert des Verhältnisses γ
die Haltbarkeit bestimmt, wobei sich die Haltbarkeit abrupt
ändert, wenn das Verhältnis γ 1,4 übersteigt. Trotz des
Umstands, daß die Filmaufbauten dieser Ausführungsbeispiele 8
und 9 und des Vergleichsbeispiels 2 von denjenigen der vorangehend
beschriebenen Ausführungsbeispiele und des Vergleichsbeispiels 1
verschieden sind, ist es ersichtlich, daß der
Wert γ die Haltbarkeit bzw. Sandzeit in starkem Ausmaß
bestimmt. Erfindungsgemäß wird die Haltbarkeit für einen
starken Filmaufbau verbessert.
Hinsichtlich der Materialien für die Heizwiderstandsschicht
sowie der anderen Schichten besteht keine Einschränkung auf
die in den Tabellen 1 und 4 genannten, so daß die Materialien
auf geeignete Weise gewählt werden können. Bei den vorstehend
beschriebenen Ausführungsbeispielen wurde zwar der Widerstand
als ein solcher eines Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs
beschrieben, jedoch kann der Heizwiderstand gemäß diesen
Ausführungsbeispielen in weitem Ausmaß auch als Heizwiderstand
eines Thermokopfs oder als anderweitig eingesetzter
planarer bzw. flächiger Heizwiderstand eingesetzt werden.
Bei dem erfindungsgemäßen Heizwiderstand kann die Dicke der
Heizwiderstandsschicht in einem Bereich dieser Dicke bei
herkömmlichen Heizwiderständen liegen. Die Streuung der Dicke
wird vorzugsweise auf ± 5% einer mittleren Dicke festgelegt.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung werden eine gleichförmigere
Wärmeverteilung an dem Heizwiderstand sowie ein außerordentlich
haltbarer Widerstand durch das Festlegen der Form
des Heizwiderstands in der Weise erzielt, daß gemäß Patentanspruch 1
dann, wenn für den Heizwiderstand eine Laplacesche
Gleichung δ 2 ϕ/δ x 2 + δ 2 ϕ/δ y -2 = 0 gelöst wird, wobei auf
der Widerstandsoberfläche ein orthogonales x-y-Koordinatensystem
definiert wird, das Potential an einem Ort (x, y) auf
der Widerstandsoberfläche durch ϕ (x, y), gegeben ist, einem
eine der Elektroden berührenden Bereich der Umfangsgrenze
des Widerstands ein Randwert zugeordnet ist, einem die andere
Elektrode berührenden Bereich ein davon verschiedener Randwert
zugeordnet ist und einem Bereich außer Berührung zu den
Elektroden ein Randbedingung zugeordnet ist, bei der der
Differentialquotient von ϕ zu einer Normalrichtung zur Umfangsgrenze "0" ist, hinsichtlich eines ϕ-Gradienten
√¯(δϕ/δ x)2 + (δϕ/δ yH2 das Verhältnis eines Maximalwerts zu einem Wert für
die Mitte des Widerstands kleiner oder gleich 1,4 ist.
Insbesondere ist es erforderlich, daß die Form des Heizwiderstands
keine Winkel bzw. Ecken hat. Es ist nämlich notwendig,
die Elektrode oder die Heizwiderstandschicht so zu formen,
daß keine Ecken bzw. Winkel auftreten, sondern gebogene Ränder
einen beträchtlichen Krümmungsradius haben. Der Krümmungsradius
kann nicht gleichförmig festgelegt werden, jedoch
beträgt er für die Stellen A′ und B′ nach Fig. 2A mindestens
einige µm bis zu einigen 10 µm. Allgemein ist ein Krümmungsradius
von mehr als 5 µm vorteilhaft.
Wenn die Laplacesche Gleichung gelöst wird, kann zur näherungsweisen
Bestimmung des Verhältnisses derjenige Bereich
des Heizwiderstands berücksichtigt werden, der durch eine
Linie, welche einen Punkt durchläuft, der von dem Heizwiderstandsrand
der Elektrode weg in die Elektrode hinein um eine
Strecke versetzt ist, die gleich der Breite der Heizwiderstandsschicht
zwischen den Elektroden ist, und welche zur
Heizwiderstandsschicht senkrecht steht, durch die Elektrode
und durch die Heizwiderstandsschicht definiert ist. Zwischen
dem auf diese Weise berechneten Verhältnis und dem für die
ganze Form des Heizwiderstands berechneten Verhältnis zeigt
sich keine wesentliche Differenz.
Wenn das Verhältnis des Maximalwerts des Gradienten von ϕ zu
dem Wert des Gradienten von ϕ in der Mitte des Widerstands
größer als 1,4 ist, kann ein Aufzeichnungskopf mit einer
zufriedenstellend hohen Haltbarkeit dadurch erzielt werden,
daß die Ansteuerungsspannung sowie die Filmstruktur des Heizwiderstands
auf geeignete Weise gewählt werden.
Wenn das Verhältnis kleiner als der vorbestimmte Wert ist,
ist die Stromkonzentration an den vier Ecken des Heizwiderstands
geringer als diejenige bei dem herkömmlichen Widerstand
("unendlich"), so daß die Bläschen nicht anfänglich an
den vier Ecken, sondern auf der ganzen Oberfläche des Heizwiderstands
erzeugt werden. Infolgedessen werden gleichförmige
Bläschen erzeugt. Im einzelnen ist dann, wenn die Ausstoßfrequenz
unterhalb von 10 kHz liegt, eine Volumensänderung der
hauptsächlichen Bläschen, nämlich der für den Ausstoß der
Flüssigkeit erzeugten Bläschen für einen jeden Ausstoß gering,
so daß auch die Abweichung des Volumens der ausgestoßenen
Tröpfchen gering ist. Daher wird ein gleichmäßiger Ausstoß
erzielt und die Druckqualität verbessert.
Falls dageben das Verhältnis zu groß ist, kann abhängig von
dem Zustand der elektrischen Ansteuerung des Heizwiderstands
keine zufriedenstellend hohe Haltbarkeit bzw. Lebensdauer
erreicht werden, da dann, wenn sich die durch das Anlegen
eines elektrischen Signals an den Heizwiderstand erzeugten
Dampfbläschen selbst zusammenziehen, abgestreifte bzw. verringerte
sekundäre Bläschen längs des Stroms der Flüssigkeit
an Stellen mit einer Temperatur über einer kritischen Überheizungstemperatur
verbleiben, falls derartige Stellen vorliegen,
die von denjenigen Stellen verschieden sind, an denen
sich die Dampfbläschen auflösen.
Die für den Ausstoß der Flüssigkeit erzeugten Hauptbläschen
brechen durch eine Kraft in der Richtung der Flüssigkeitsströmung
bzw. des Flüssigkeitsströmungskanals in sich zusammen,
wogegen aber die nach dem Auflösen der Hauptbläschen
verbliebenen sekundären Bläschen sich in der Nähe der Wärmeeinwirkungsfläche
befinden und nicht der Kraft in der Richtung
des Flüssigkeitsstroms ausgesetzt sind, da diese Bläschen
eine geringe Höhe haben. Infolgedessen brechen diese
Bläschen senkrecht zur Richtung des Flüssigkeitsstroms in dem
Strömungskanal in sich zusammen.
Die Kavitationswirkung der senkrecht zum Flüssigkeitsströmungsweg
in sich zusammenbrechenden Bläschen ist sehr hoch
und örtlich konzentriert. Sie ist einige zehnmal so hoch wie
die Kavitationswirkung bei dem Auflösen der Hauptbläschen.
Infolgedessen wird durch die Kavitationsschrumpfung der Bläschen
die obere Schutzschicht der Wärmeeinwirkungsfläche zerstört,
so daß der Heizwiderstand zerstört wird und dadurch
dessen Lebensdauer verkürzt wird.
In der DE-OS 32 24 061 wurde vorgeschlagen, zum Vermeiden der
sekundären Bläschen eine Ansteuerungsspannung Vop auf nicht
mehr das 1,3-fache einer Schwellenspannung Vth einzustellen,
bei welcher die Dampfbläschen erzeugt werden. In einem Kopf
mit einem Heizwiderstand in der in Fig. 10 gezeigten Form
tritt jedoch keine Erzeugung von Bläschen an den vier Winkeln
auf und die Schwellenspannung Vth kann selbst bei gleicher
Filmstruktur nicht gleichmäßig sein. Infolgedessen wird durch
das Erzeugen der sekundären Bläschen die Haltbarkeit auch
dann verringert, wenn die Ansteuerungsspannung Vop auf das
1,3-fache der Schwellenspannung Vth eingestellt wird.
In der Vergangenheit wurde die Filmstruktur durch die in der
US-PS 43 13 124 angeführten Gleichungen (1) und (2) bestimmt.
Bei der in Fig. 10 gezeigten vorgeschlagenen Form werden die
Bläschen jedoch nicht anfänglich an den vier Winkeln des
Heizwiderstands erzeugt und die für das Erzeugen der Bläschen
erforderliche Wärme ist von derjenigen bei dem herkömmlichen
Widerstand verschieden. Falls daher die durch die Gleichungen
in der US-PS 43 13 124 bestimmte Filmstruktur angewandt wird,
wird die Wärme gesammelt und die Lebensdauer verkürzt oder es
wird die Erzeugung der Bläschen unstabil bzw. ungleichmäßig.
Die Gleichungen (1) und (2) bestimmen einen Zustand, bei dem
die Temperatur des Aufzeichnungskopfs nicht ansteigt, wenn
die untere Schicht als Sperre gegenüber der Wärmeübertragung
zum Substrat beim Erwärmen durch die Impulserregung wirkt und
für das wiederholte Betreiben des Aufzeichnungskopfs die
Wärme über die obere Schicht aus der Wärmeeinwirkungsfläche
zur Flüssigkeit übertragen wird.
Infolgedessen ergeben bei dem Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf,
der den Gleichungen (1) und (2) entspricht, die
Wärmeübertragung zur Flüssigkeit für einen jeweiligen Impuls
sowie der Temperaturzustand des Aufzeichnungskopfs nach dem
Anlegen einer Anzahl von Impulsen keine Probleme, jedoch
verbleiben dann, wenn außerhalb der Stellen, an denen die
Dampfbläschen verschwinden, Punkte hoher Temperaturen vorhanden
sind, welche höher als die kritische Erwärmungstemperatur
ist, an diesen Punkten entlang der Richtung des Flüssigkeitsstroms
geschrumpfte senkundäre Bläschen.
Es wurde festgestellt, daß ein Aufzeichnungskopf mit einer in
der Praxis hohen Lebensdauer dann geschaffen wird, wenn die
folgenden Bedingungen eingehalten werden:
Wenn das Verhältnis γ nicht größer als 1,8 ist, werden das
Material und die Dicke des Heizwiderstands so gewählt, daß
sie folgender Bedingung genügen:
Dabei ist k(x) die Wärmeleitfähigkeit des Materials an einer
Stelle x, gemessen von der Grenze zwischen der unteren
Schicht und dem Substrat des Heizwiderstands, bei dem die
untere Schicht, die Heizwiderstandsschicht und die obere
Schicht in dieser Aufeinanderfolge auf dem Substrat aufgeschichtet
sind, zu der Wärmeeinwirkungsfläche in der Richtung
der Dicke der Schichten; c(x) ist die spezifische Wärme und
ρ(x) ist die Dichte des Materials an der Stelle x; L ist die
gesamte Dicke des Heizwiderstands, während τ B die Zeit vom
Beginn des Zuführens der Wärmeenergie bis zur Lösung bzw.
zum Verschwindden der Bläschen ist. Dadurch ergibt sich ein
Aufzeichnungskopf mit hoher Lebensdauer. Alternativ wird die
an den Heizwiderstand angelegte Spannung Vop so gewählt, daß
die Bedingung 1,15 ≧ Vop/V R erfüllt ist, wobei V R ein Minimalwert
der angelegten Spannung ist, bei welchem an der
Wärmeeinwirkungsfläche die sekundären Bläschen auftreten, die
von den Hauptbläschen (für den Flüssigkeitsausstoß) verschieden
sind. Als Ergebnis hiervon kann der Aufzeichnungskopf
über eine längere Zeitdauer ohne Zerstörung betrieben werden.
Diese Ausführungsformen werden nun beschrieben.
Der Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf, bei dem das Material
und die Dicke des Heizwiderstands auf die vorstehend
beschriebene Weise gewählt sind, hat eine hohe Lebensdauer,
falls er derart aufgebaut ist, daß die Temperatur des Heizwiderstands
vor dem Verschwinden der Bläschen ausreichend verringert
ist, selbst wenn das Verhältnis nicht größer als 1,8
ist. Wenn in einem Material mit der Wärmeleitfähigkeit k, der
spezifischen Wärme c und der Dichte ρ Wärme übertragen wird,
ist eine Strecke x, über die die Wärme in einer Zeit t übertragen
wird (eine Strecke, über der sich die Temperaturverteilung
ändert) gegeben durch:
Infolgedessen ergibt sich ein Zustand der Wärmeverteilung vor
einem Zeitpunkt t B :
Wendet man die Bedingung nach Gleichung (4) an dem Heizwiderstand
an, so ergibt sich:
wobei k(x) die Wärmeleitfähigkeit an einer Stelle x
des
Heizwiderstands ist, welche von der Grenzschicht zwischen der
unteren Schicht und dem Substrat bzw. Trägermaterial gemessen
ist, c(x) die spezifische Wärme sowie ρ(x) die Dichte
des Materials an dieser Stelle sind, L die Dicke des Heizwiderstands
ist, nämlich die Summe aus den Dicken der unteren
Schicht, der Heizwiderstandsschicht und der oberen Schicht
und τ B die Lebensdauer der Bläschen ist, nämlich die Zeit von
der Erzeugung der Bläschen bis zu deren Löschung bzw. Auflösung.
Wenn der Film des Heizwiderstands so gestaltet ist, daß der
Gleichung (5) genügt ist, verteilt sich die Wärme aus dem
Heizwiderstand vor der Bläschenauflösungszeit τ B , wobei die
Temperatur ausreichend abgesenkt wird. Auf diese Weise wird
das Problem restlicher Bläschen an Stellen hoher Temperatur
bzw. der Erzeugung sekundärer Bläschen gelöst, so daß die
Oxidation des Heizwiderstands durch die adiabatische Wirkung
der Bläschen sowie die Kaviatation bei dem Schrumpfen der
Bläschen verhindert sind. Infolgedessen wird im Vergleich zu
dem Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf nach dem Stand der
Technik eine in der Praxis zufriedenstellende Haltbarkeit
bzw. Lebensdauer erreicht.
Die Ausführungsbeispiele werden nun ausführlicher erläutert.
Die Fig. 11 bis 13 veranschaulichten einen Prozess zur Herstellung
eines Substrats für das Ausführungsbeispiel 10,
während die Fig. 14 einen Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf
als Ausführungsbeispiel zeigt. Mit 101 ist ein Substrat
bezeichnet, mit 103 ist eine Wärmeeinwirkungsfläche bezeichnet
und mit 103 und 104 sind Elektroden bezeichnet.
Es wird nun der Ablauf der Herstellung des Substrats mit dem
Heizwiderstand gemäß diesem Ausführungsbeispiel erläutert.
Gemäß Fig. 12B wird auf einem Si-Halbleiterplättchen, das als
Substratträger 105 dient, durch thermische Oxidation ein
SiO2-Film in einer Dicke von 2 µm ausgebildet, um damit eine
untere Schicht 106 an dem Substrat 101 zu bilden. Auf der
unteren Schicht 106 wird durch Aufsprühen eine Heizwiderstandsschicht 10
aus HfB2 in einer Dicke von 130 µm ausgebildet.
Danach werden aufeinanderfolgend durch Elektronenstrahl-
Dampfablagerung eine Ti-Schicht (5 nm) und eine Al-Schicht
(500 nm) aufgebracht, um die gemeinsame Elektrode 103 sowie
die Wähl-Elektrode 104 zu formen. Das in Fig. 11 gezeigte
Leitmuster wird durch Fotolithografie gebildet. Die Wärmeeinwirkungsfläche
des Heizbereichs 102 einer solchen Heizeinheit 111
hat eine Breite von 30 µm und eine Länge von 150 µm,
wobei der Widerstandswert dieser Einheit einschließlich der Elektroden 103
und 104 jeweils 100 Ohm beträgt.
Danach wird gemäß Fig. 12B durch Aufsprühen von SiO2 in einer
Dicke von 1,6 µm auf die ganze Oberfläche des Substrats 101
nach dem Magnetron-Schnellaufsprühverfahren eine erste obere
Schutzschicht 108 gebildet.
Dann wird gemäß Fig. 12A und 12B nach dem Magnetron-Schnellaufsprühverfahren
eine zweite obere Schutzschicht 110 in
einer Dicke von 0,55 µm aufgebracht. Darauffolgend wird durch
Fotolithografie die zweite obere Schutzschicht 110 zu einem
Muster geformt, mit dem die Oberseite des Heizbereichs 102
gemäß Fig. 12A und 12B abgedeckt ist.
Danach wird gemäß Fig. 13A und 13B auf die erste obere
Schutzschicht 108 des Substrats 101 ein fotoempfindliches
Polyimid (mit der Handelsbezeichung Photoniece) als dritte
obere Schutzschicht 109 aufgebracht, welche durch Fotolithografie
zu einem in Fig. 13 gezeigen Muster geformt wird.
Nach Fig. 14 wird auf das Substrat 101 ein fotoempfindlicher
Harztrockenfilm 400 in einer Dicke von 50 µm aufgeschichtet
und über eine bestimmte Mustermaske belichtet, um einen Flüssigkeitsströmungskanal 401
und eine gemeinsame Flüssigkeitskammer 404
zu formen. Auf den Film 400 wird mit einem Epoxyklebemittel
eine Deckplatte 405 aus Glas aufgekittet, um
damit den Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf herzustellen.
Mit 402 ist eine Düsenöffnung bezeichnet, mit 403 ist eine
Kanalwand bezeichnet und mit 406 ist eine Flüssigkeits- bzw.
Tintenzuführöffnung bezeichnet.
Der Flüssigkeitsströmungskanal 401 hat beispielsweise eine
Breite von 50 µm, eine Höhe von 50 µm und eine Länge von 750 µm.
Die Länge von dem Vorderrand der Heizfläche (des Heizelements) 111
bis zu der Düsenöffnung 402 beträgt 150 µm.
Die Bläschenauflösezeit des Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs
gemäß diesem Ausführungsbeispiel betrug von dem Anlegen
eines Impulses an 50 µs unter folgenden Bedingungen: Impulsbreite
7 µs, Requenz 2 kHz und Ansteuerungsspannung = 1,2 × Bläschenerzeugungsspannung.
Wenn die in der Tabelle 7 aufgeführten
Werte eingesetzt werden, erhält der linke Gleichungsausdruck
der Gleichung (5)
für den Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf den nachstehend
aufgeführten Wert:
Da τ B = 50 µs = 50 × 10-6 s gilt, ergibt sich der Wert des
rechten Ausdrucks der Gleichung (5) zu:
√¯1τ B = √¯2 × 50 × 10-6 = 1,4 -2
Da somit 4,35 × 10-3 ≦ωτ 1,4 × 10-2 gilt, ist der Gleichung
genügt, d. h. die Bedingung der Gleichung (5) erfüllt.
Die Ergebnisse der Lebensdauerprüfung für die Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungsköpfe gemäß diesem Ausführungsbeispiel
sowie weiteren Ausführungsbeispielen sind in der Tabelle 8
aufgeführt.
Die Fig. 15 zeigt einen Schnitt durch ein als Ausführungsbeispiel 11
ausgebildetes Substrat 101. Bei diesem Ausführungsbeispiel
wird durch Magnetron-Aufsprühen auf einem Substrat-
Trägermaterial 1055 in Form eines Si-Halbleiterplättchens ein
Al2O3-Film in einer Dicke von 5 µm aufgebracht, wonach als
erste obere Schutzschicht nach dem Magnetron-Schnellaufsprühverfahren
ein SiO2-Film in einer Dicke von 1,9 µm gebildet
wird. Die übrigen Prozeßvorgänge für die Herstellung des
Substrats, des Aufbaus des Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs
sowie die Materialien und Abmessungen desselben sind
die gleichen wie diejenigen bei dem Ausführungsbeispiel 10.
Die Bläschenauflösezeit des Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs
gemäß diesem Ausführungsbeispiel betrug bei einer Messung
unter den gleichen Bedingungen wie bei dem Ausführungsbeispiel 10
von dem Anlegen des Impulses an 50 µm. Auf die
gleiche Weise wie bei dem Ausführungsbeispiel 10 berechnet
ergab sich für den linken Ausdruck der Gleichung (5)
für den Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf der Wert
4,29 × 10-3.
Da τ B = 50 µs = 50 × 10-6 s gilt, ergibt sich
2 × √¯τ B = 1,4 × 10-2
Da infolgedessen 4,29 × 10-3 ≦ωτ 1,4 × 10-2 gilt, ist der
Bedingung
genügt.
Die Ergebnisse der Lebensdauerprüfungen von Flüssigkeitsstrahl-
aufzeichnungsköpfen gemäß diesem Ausführungsbeispiel
sowie gemäß weiteren Ausführungsbeispielen sind in Tabelle 8
gezeigt.
Die Fig. 16 zeigt einen Schnitt durch ein als Ausführungsbeispiel 12
ausgebildetes Substrat 101. Bei diesem Ausführungsbeispiel
wird durch thermische Oxidation auf einem Substrat-
Trägermaterial 105 in Form eines Si-Halbleiterplättchens ein
SiO2-Film in einer Dicke von 10 µm ausgebildet, um damit eine
untere Schicht 106 des Substrats 101 zu bilden. Die übrigen
Prozeßvorgänge für die Herstellung des Substrats, des Aufbaus
des Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs sowie die Materialien
und Abmessungen desselben sind die gleichen wie die bei
dem Ausführungsbeispiel 10.
Die Bläschenauflösezeit des Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs
gemäß diesem Ausführungsbeispiel betrug bei einer Messung
unter den gleichen Bedingungen wie bei dem Ausführungsbeispiel 10
von dem Anlegen des Impulses an 50 µs. Auf die
gleiche Weise wie bei dem Ausführungsbeispiel 10 berechnet
ergab sich für den linken Ausdruck der Gleichung (5)
für den Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf 1,37 × 10-2.
Da τ B = 50 µs = 50 × 10-6 s gilt, beträgt der Wert des
rechten Ausdrucks der Gleichung (5)
2 × √¯τ B = 1,4 × 10-2.
Da sich somit 1,37 × 10-2 ≦ωτ 1,4 × 10-2 ergibt, ist die
Bedingung
erfüllt.
Die Ergebnisse der Lebendauerprüfungen von Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungsköpfen gemäß diesem Ausführungsbeispiel
sowie gemäß weiteren Ausführugnsbeispielen sind in der Tabelle 8
gezeigt.
Für den Vergleich mit den Ausführugnsbeispielen 10 bis 12 ist
in Fig. 4 ein Beispiel für einen den Bedingungen der Gleichung (5)
nicht genügenden Heizwiderstand eines Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungskopfs gezeigt. Bei dem Vergleichsbeispiel 3
ist durch thermische Oxidation auf einem Substrat-Trägermaterial 105
in Form eines Si-Halbleiterplättchens ein SiO2-
Film in einer Dicke von 15 µm ausgebildet, um damit eine
untere Schicht 106 eines Substrats 101 zu bilden. Auf der
unteren Schicht 106 wird durch Aufsprühen eine Heizwiderstandsschicht 107
auf HfB2 in einer Dicke von 150 nm aufgebracht,
wonach dann nach dem Magnetron-Schnellaufsprühverfahren
ein SiO2-Film in einer Dicke von 2,5 µm als erste obere
Schutzschicht 108 aufgebracht wird. Die weiteren
Prozeßvorgänge zur Herstellung des Substrats, des Aufbau des
Füssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs sowie die Materialien
und die Abmessugnen sind die gleichen wie diejenigen bei dem
Ausführungsbeispiel 10.
Bei der Messung unter den gleichen Bedingungen wie bei dem
Ausführungsbeispiel 10 beträgt die Bläschenauflösezeit des
Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs gemäß dem Vergleichsbeispiel 3
von dem Anlegen des Impulses an 50 µs. Der Wert
des linken Ausdrucks der Gleichung (5)
beträgt unter Berechnung auf die gleiche Weise wie bei dem
Ausführungsbeispiel 10 für den Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf
2,0 × 10-2.
Da τ B = 50 µs = 50 × 10-6 s gilt, ergibt sich:
2 × √¯τ B = 1,4 × 10-2.
2 × √¯τ B = 1,4 × 10-2.
Da sich somit 2,0 × 10-2 ≦λτ 1,4 × 10-2 ergibt, ist die
Bedingung der Gleichung (5)
nicht erfüllt.
Die Ergebnisse der Lebensdauerprüfungen von Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungsköpfen gemäß diesem Vergleichsbeispiel 3
sowie der anderen Ausführungsbeispiele sind in der Tabelle 8
gezeigt.
Die Fig. 5A und 5B zeigen ein Substrat eines Kopfs, der als
Vergleichsbeispiel 4 für den Vergleich mit dem erfindungsgemäßen
Aufzeichnungskopf ausgebildet ist. Der Kopf gemäß diesem
Vergleichsbeispiel unterscheidet sich von den anderen
Ausführungsbeispielen hinsichtlich der Form der Heizfläche
bzw. des Heizbereichs 111. Auf einem Substrat-Trägermaterial 105
in Form eines Si-Halbleiterplättchens wird durch thermische
Oxidation ein SiO2-Film in einer Dicke von 5 µm ausgebildet,
um auf dem Substrat 101 eine untere Schicht zu bilden.
Die weiteren Prozeßvorgänge für das Herstellen des Substrats,
der Aufbau des Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs
sowie die Materialien und Abmessungen desselben sind die
gleichen wie bei dem Ausführungsbeispiel 10.
Die Ausführungsbeispiele 10 bis 12 sowie das Vergleichsbeispiel 3
ergeben hinsichtlich des Ansprechvermögens eine Ausstoßfrequenz
von 20 kHz. Bei dem Vergleichsbeispiel 4 werden
die Bläschen bei einer Ausstoßfrequenz von 5 kHz ungleichmäßig,
wobei das Ausstoßvolumen gleichfalls ungleichmäßig
wird. Infolgedessen ergibt sich eine geringe Druckqualität.
Die Ergebnisse der Lebendauerprüfungen von Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungsköpfen gemäß diesem Vergleichsbeispiel 4
sowie gemäß der anderen Ausführungsbeispiele sind in der
Tabelle 8 gezeigt.
Die Ergebnisse der Lebensdauerprügungen an den Ausführungsbeispielen 10
bis 12 sowie den Vergleichsbeispielen 3 udn 4
sind in der nachstehenden Tabelle 8 aufgeführt.
○: Restliche intakte Köpfe 100%
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
Ansteuerungsbedingungen: Ansteuerungsspannung = 1,2 × Bläschenerzeugungsspannung
Impulsbreite = 7 µs
Frequenz = 2 kHz
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
Ansteuerungsbedingungen: Ansteuerungsspannung = 1,2 × Bläschenerzeugungsspannung
Impulsbreite = 7 µs
Frequenz = 2 kHz
Wie aus der Tabelle 8 ersichtlich ist, zeigen unter den
genannten Bedingungen die Ausführungsbeispiele 10 bis 12 eine
sehr zufriedenstellende Haltbarkeit, wogegen das Vergleichsbeispiel 3
keine in der Praxis zufriedenstellende Lebensdauer
zeigt und das Vergleichsbeispiel 4 praktisch zufriedenstellende
Haltbarkeit und Druckqualität zeigt.
Es ist somit ersichtlich, daß ein Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf
mit einer äußerst zufriedenstellenden Lebensdauer
und mit sehr hoher Druckqualität dann erzielt wird,
wenn der Heizbereich 111 sowie der Bereich zwischen den
Elektroden 103 und 104 ohne Ecken gemäß Fig. 1 geformt wird
und die Bedingung der Gleichung (5) erfüllt wird.
Erfindungsgemäß hat der Heizwiderstand des Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungskopfs keine scharfen Ecken, während die
Materialien und Filmdicken so gewählt werden, daß die Bedingung
der Gleichung (5) erfüllt ist, in welcher k(x) die
Wärmeleitfähigkeit an der von der Grenze zwischen der unteren
Schicht und dem Trägermaterial weg gemessenen Stelle x der
Heizwiderstand ist, c(x) die spezifische Wärme und
Heizwiderstandsschicht ist, c(c) die spezifischen Wärme und
ρ(x) die Dichte an dieser Stelle sind, L die Dicke des Heizwiderstands
ist und τ B die Lebensdauer der Bläschen ist.
Infolgedessen wird die Temperatur des Heizwiderstands vor dem
Ablauf der Lebensdauer der Bläschen auf ausreichende Weise
herabgesetzt, so daß damit die Probleme einer Verzögerung der
Bläschenlösung, restlicher Bläschen und des Erzeugens sekundärer
Bläschen gelöst sind, wodurch eine Oxidation des
Heizgenerators durch die Bläschen vermieden wird und eine
Zerstörung durch die Kavitation verhindert wird. Infolgedessen
wird ein Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf geschaffen,
der eine in der Praxis zufriedenstellende Haltbarkeit und
Druckqualität hat.
Wenn das Verhältnis γ nicht größer als 1,8 ist, kann ein
Aufzeichnungskopf unter hoher Haltbarkeit angesteuert werden,
falls die angelegte Spannung Vop auf geeignete Weise gewählt
wird, nämlich die Ansteuerungsspannung Vop der Bedingung Vop
≦ 1,15 V R genügt, wobei V R die Schwellenspannung ist. Da bei
dem Aufzeichnungskopf gemäß den Ausführungsbeispielen die
thermisch bedingte Schwellenspannung V R als Bezugswert eingestellt
wird, kann eine im Hinblick auf die Wärmebeständigkeit
optimale Ansteuerungsspannung Vop derart eingestellt werden,
daß der Aufzeichnungskopf in einem für die Haltbarkeit und
den praktischen Einsatz optimalen Zustand angesteuert wird,
wobei die Lebensdauer des Aufzeichnungskopfs verbessert wird.
Dies wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen ausführlicher
erläutert. Es sei angenommen, daß die Dampfbläschen
in dem mit der Aufzeichnungsflüssigkeit gefüllten Wärmeeinwirkungsbereich
erzeugt werden und daß bei der Schwellenspannung V R
aus den Dampfbläschen sekundäre Bläschen erzeugt
werden, wenn sich die Dampfbläschen zusammenziehen, nachdem
das Tröpfchen aus der Düsenöffnung ausgestoßen ist.
Die Fig. 11 bis 13 veranschaulichen einen Prozess zur Herstellung
eines Substrats für das Ausführungsbeispiel 13,
während die Fig. 14 einen Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf
gemäß diesem Ausführungsbeispiel zeigt. Mit 101 ist das
Substrat bezeichnet, mit 102 ist ein Heizbereich bezeichnet
und mit 103 und 104 sind Elektroden bezeichnet.
Es wird nun der Prozeß der Herstellung des Substrats des
Heizwiderstands für dieses Ausführungsbeispiel erläutert.
Gemäß Fig. 12B wird durch thermische Oxidation eines als
Substrat-Trägermaterial 105 dienenden Si-Halbleiterplättchens
ein SiO2-Film in einer Dicke von 5 µm ausgebildet, um damit
eine untere Schicht 106 des Substrats 101 zu bilden. Auf der
unteren Schicht 106 wird durch Aufsprühen eine Heizwiderstandsschicht 107
aus HfB2 in einer Dicke von 130 nm ausgebildet.
Danach werden aufeinanderfolgend durch Elektronenstrahl-
Dampfablagerung eine Ti-Schicht (5 nm) und eine Al-Schicht
(500 nm) aufgebracht, um die gemeinsame Elektrode 103 und die
Wähl-Elektrode 104 zu bilden. Durch Fotolithografie wird das
in Fig. 11 gezeigte Schaltungsmuster gebildet. Die Wärmeeinwirkungsfläche
des Heizbereichs 102 der Heizeinheit 111
hat eine Breite von 30 µm und eine Länge von 150 µm, wobei
ihr Widerstandswert einschließlich der Al-Elektroden 103 und
104 100 Ohm beträgt.
Dann wird gemäß Fig. 12B auf der ganzen Fläche des Substrats 101
nach dem Magnetron-Schnellaufsprühverfahren ein SiO2-Film
in einer Dicke von 1,6 µm als erste obere Schutzschicht 108
aufgebracht.
Dann wird gemäß den Fig. 12A und 12B nach dem Magnetron-
Schnellaufsprühverfahren ein Ta-Fim in einer Dicke von 0,5 µm
als zweite obere Schutzschicht 110 ausgebildet. Diese
zweite obere Schutzschicht 110 wird dann durch Fotolithografie
gemäß den Fig. 12A und 12B zu einem Muster für das Abdecken
der Oberseite des Heizbereichs 102 geformt.
Darauffolgend wird auf die erste obere Schutzschicht 108 des
Substrats 101 gemäß den Fig. 13A und 13B ein fotoempfindliches
Polyimid (Handelsbezeichnung Photoniece) aufgebracht, um
eine dritte obere Schutzschicht 109 zu bilden. Diese Schutzschicht
wird durch Fotolithografie zu dem in Fig. 13 gezeigten
Muster geformt.
Gemäß Fig. 14 wird auf das Substrat 101 ein fotoempfindlicher
Harztrockenfilm 400 in einer Dicke von 50 µm aufgebracht und
über eine vorgegebene Leitermustermaske belichtet, um einen
Flüssigkeitsströmungskanal 401 und eine gemeinsame Flüssigkeitskammer 404
zu bilden. Auf den Film 400 wird mittels
Epoxyklebematerial eine Deckplatte 405 aus Glas aufgekittet,
um den Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf fertigzustellen.
Mit 402 ist eine Düsenöffnung bezeichnet, mit 403 ist eine
Kanalwand bezeichnet und mit 406 ist eine Flüssigkeits- bzw.
Tintenzuführöffnung bezeichnet.
Der Flüssigkeitsströmungskanal 401 hat beispielsweise eine
Breite von 50 µm, eine Höhe von 50 µm und eine Länge von 750 µm.
Die Länge von dem Vorderrad des Heizbereichs (Heizelements)
bis zu der Düsenöffnung 402 beträgt 150 µm.
Die Schwellenspannung (kleinste angelegte Spannung) V R beträgt
bei dem Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf gemäß
diesem Ausführungsbeispiel 22,0 V. Bei einem Ansteuerungssignal
mit einer Impulsbreite von 7 µs und einer Frequenz von 2 kHz
beträgt die Bläschenerzeugungs-Schwellenwertspannung Vth
20 V. Wenn der Aufzeichnungskopf gemäß diesem Ausführungsbeispiel
mit einer in der Tabelle 9 aufgeführten Spannung angesteuert
wurde, wurde die in der Tabelle 9 dargestellte Haltbarkeit
bzw. Lebensdauer unter folgenden Ansteuerungsbedingungen
erreicht: Impulsbreite = 7 µs und Frequenz = 2 kHz,
wobei die Aufzeichnungsflüssigkeit bzw. Tinte aus 50% Wasser,
15% NMP (N-methylpyrolidon), 30% DEG (Diethylenglykol) und 5%
Farbstoff zusammengesetzt war.
Die Fig. 15 zeigt einen Schnitt durch ein als Ausführungsbeispiel 14
ausgebildetes Substrat. Bei diesem Ausführungsbeispiel
wird auf einem Substrat-Trägermaterial 105 in der Form
eines Si-Halbleiterplättchens durch thermische Oxidation ein
SiO2-Film in einer Dicke von 2,55 µm ausgebildet, um eine
untere Schicht 106 zu bilden, auf die durch Aufsprühen eine
Heizschicht bzw. Heizwiderstandsschicht 107 auf HfB2 in einer
Dicke von 160 nm aufgebracht wird. Der Widerstandswrt der
Heizfläche der Heizeinheit 111 einschließlich der Al-Elektroden 103
und 104 beträgt 80 Ohm. Nach dem Magnetron-Schnellaufsprühverfahren
wird ein SiO2-Fiom in einer Dicke von 1,9 µm
als erste obere Schutzschicht 108 aufgebracht. Der weitere
Prozeß in der Herstellung des Substrats sowie der Aufbau des
Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs sind die gleichen wie
bei dem Ausführungsbeispiel 13.
Die Schwellenspannung V R beträgt bei dem Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungskopf gemäß diesem Ausführungsbeispiel 26,0 V.
Die Bläschenerzeugungs-Schwellenwertspannung Vth beträgt 23,5 V
unter der Bedingung, daß das Ansteuerungssignal eine Impulsbreite
von 7 µs und eine Frequenz von 2 kHz hat. Wenn der
Aufzeichnungskopf gemäß diesem Ausführungsbeispiel mit einer
in der Tabelle 10 aufgeführten Spannung angesteuert wird,
wird bei der Impulsbreite von 7 µs und der Frequenz von 2 kHz
wie in der Tabelle 10 dargestellte Lebensdauer erreicht,
wobei wobei die Aufzeichnungsflüssigkeit bzw. Tinte aus 50%
Wasser, 15% NMP, 30% DEG und 5% Farbstoff zusammengesetzt ist.
Die Fig. 5 zeigt ein als Vergleichsbeispiel 5 hergestelltes
Substrat. Es unterscheidet sich von dem Ausführungsbeispiel 13
hinsichtlich der Form des Wärmeeinwirkungsbereichs (Heizelements).
Der weitere Prozeß der Herstellung des Substrats
sowie der Aufbau des Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs
sind die gleichen wie bei dem Ausführungsbeispiel 13.
Die Bläschenerzeugungs-Schwellenwertspannung Vth des Flüssigkeitsstrahl-
Aufzeichnungskopfs gemäß dem Vergleichsbeispiel 5
beträgt 19,2 V bei einer Impulsbreite von 7 µs und eine
Frequenz von 2 kHz. Wenn der Aufzeichnungskopf gemäß diesem
Vergleichsbeispiel mit der in der Tabelle 11 aufgeführten
Spannung angesteuert wird, wird bei der Impulsbreite von 7 µs
und der Frequenz von 2 kHz die in der Tabelle 11 dargestellte
Lebensdauer erreicht, wobei die Aufzeichnungsflüssigkeit bzw.
Tinte aus 50% Wasser, 15% NMO, 30% DEG und 5% Farbstoff
zusammengesetzt ist.
Die Tabelle 9 zeigt die Ergebnisse der Lebensdauerprüfung an
dem Ausführungsbeispiel 13, die Tabelle 10 zeigt die Ergebnisse
der Lebensdauerprüfung an dem Ausführungsbeispiel 14
und die Tabelle 11 zeigt die Ergebnisse der Lebensdauerprüfung
an dem Vergleichsbeispiel 5.
○: Restliche intakte Köpfe 100%
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
○: Restliche intakte Köpfe 100%
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
○: Restliche intakte Köpfe 100%
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
∆: Restliche intakte Köpfe ≧ 50%, ≦ωτ100%
X: Restliche intakte Köpfe ≧ 0%, ≦ωτ 50%
Die Bläschenerzeugungs-Schwellenwertspannungen Vth bei dem
Ausführungsbeispiel 13 und dem Vergleichsbeispiel 5 betragen
jeweils 20,0 bzw. 19,2 V. Die Filmstrukturen sowie die Abmessungen
sind die gleichen, jedoch sind die Schwellenwertspannungen Vth
voneinander verschieden. Bei dem Vergleichsbeispiel 5
ergibt sich eine hohe Lebensdauer bei 25 V, was das
1,3-fache von Vth darstellt.
Infolgedessen wird dann, wenn der Aufzeichnungskopf gemäß der
DE-OS 32 24 061 mit einer Spannung Vop betrieben wird, die
nicht höher als das 1,3-fache der Schwellenwertspannung Vth
ist, eine hohe Lebensdauer erreicht. Bei dem Ausführungsbeispiel 13
ist die Lebensdauer nicht so hoch, wenn der Aufzeichnungskopf
mit 26 V betrieben wird, was dem 1,3-fachen
der Schwellenwertspannung Vth entspricht. Wenn infolgedessen
gemäß der DE-OS 32 24 061 die Ansteuerungsspannung Vop so festgelegt
wird, daß sie nicht höher als das 1,3-fache der
Schwellenwertspannung Vth ist, nämlich unter Bezug auf die
Spannung Vth festgelegt wird, kann die Lebensdauer, die dem
Aufzeichnungskopf von der Ausbildung her eigen ist, nicht
voll ausgeschöpft werden. Dies wird folgendermaßen berücksichtigt:
Wie aus den Tabellen 9 und 10 ersichtlich ist, wird die
relative Lebensdauer kürzer, wenn die Spannung über einem
bestimmten Pegel liegt. Beispielsweise ist die relative Lebensdauer
bei dem Ausführungsbeispiel 13 geringer, wenn die
Ansteuerungsspannung Vop höher als 26 V ist (Tabelle 9). Die
Schwellenspannung V R für das Erzeugen der sekundären Dampfbläschen
beträgt bei dem Ausführungsbeispiel 13 22 V, so daß
sich ein Verhältnis Vop/V R = 1,18 ergibt. Bei dem Ausführungsbeispiel 14
ist die relative Lebensdauer verkürzt, wenn
die Ansteuerungsspannung Vop höher als 30 V ist (Tabelle 10).
Da die Schwellenspannung V R bei dem Ausführungsbeispiel 14 26 V
beträgt, ist Vop/V R gleich 1,15.
Infolgedessen ist die Lebensdauer des Aufzeichnungskopfs für
den praktischen Gebrauch ausreichend hoch, wenn die Bedingung
Vop/V V ≦ 1,15 eingehalten wird.
Erfindungsgemäß wird der Aufzeichnugnskopf mit der Ansteuerungsspannung
Vop betrieben, die der Bedingung Vop/V R ≦ 1,15
entspricht, wobei V R die Schwellenspannung ist. Auf diese
Weise wird der Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf unter
Bedingungen betrieben, die hinsichtlich der Lebensdauer und
des praktischen Einsatzes optimal sind, so daß eine hohe
Lebensdauer des Aufzeichnungskopfs erreicht wird.
Es wird ein planarer Heizwiderstand angegeben, der eine auf
oder über einem Trägermaterial ausgebildete Heizwiderstandsschicht
und ein auf derselben ausgebildetes Paar gegenübergesetzter
Elektroden hat, in deren Bereich die die Breite der
Heizwiderstandsschicht größer als die Breite der Elektroden
ist, an die eine Spannung angelegt wird, wobei an dem Heizwiderstand
dann, wenn eine Laplacesche Gleichung
δ 2 ϕ/δ x 2 + δ 2 ϕ/δ y 2 = 0 gelöst wird, wobei auf der Widerstandsoberfläche
ein orthogonales x-y-Koordinatensystem definiert wird, das
potential an einem Ort (x, y) auf der Widerstandsoberfläche
durch ϕ (x, y) gegeben ist, einem eine der Elektroden
berührenden Bereich der Umfangsgrenze des Widerstands ein
Randwert zugeordnet ist, einem die andere Elektrode berührenden
Bereich ein davon verschiedener Randwert zugeordnet ist
und einem Berich außer Berührung zu den Elektroden eine
Randbedingung zugeordnet ist, bei der der Differentialquotient
von ϕ zu einer Normalrichtung zur Umfangsgrenze "0"
ist, hinsichtlich eines ϕ-Gradienten √¯(δϕ/ x)2 + (δϕ/δ y)2- das Verhältnis
eines Maximalwerts zu einem Wert für die Mitte des
Widerstands kleiner oder gleich 1,4 ist. Ferner werden ein
Aufzeichnungskopf mit dem Heizwiderstand und ein Verfahren zu
dessen Ansteuerung angegeben.
Claims (10)
1. Planarer Heizwiderstand mit einer auf oder über einem
Trägermaterial ausgebildeten Heizwiderstandsschicht und einem
Paar von auf der Heizwiderstandsschicht ausgebildeten gegenüberliegenden
Elektroden, wobei die Breite der Heizwiderstandsschicht
im Elektrodenbereich größer als die Breite der
Elektroden ist, an die eine Spannung angelegt wird, dadurch
gekennzeichnet, daß dann, wenn für den Heizwiderstand (3)
eine Laplacesche Gleichung δ 2 ϕ/δ x 2 + δ 2 ϕ/δ y 2 = 0 gelöst wird,
wobei auf der Widerstandsoberfläche ein orthogonales x-y-
Koordinatensystem definiert wird, das Potential an einem Ort
(x, y) auf der Widerstandoberfläche durch ϕ (x, y) gegeben
ist, einem eine der Elektroden (4) berührenden Bereich der
Umfangsgrenze des Widerstands ein Randwert zugeordnet ist,
einem die andere Elektrode berührenden Bereich ein davon
verschiedener Randwert zugeordnet ist und einem Bereich außer
Berührung zu den Elektroden eine Randbedingung zugeordnet
ist, bei der der Differentialquotient von ϕ zu einer Normalrichtung
zur Umfangsgrenze "0" ist, hinsichtlich eines ϕ-
Gradienten √¯(δϕ/δ x)2 + (δϕ/ y)2 das Verhältnis eines Maximalwerts zu
einem Wert für die Mitte des Widerstands kleiner oder gleich
1,4 ist.
2. Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf mit einer Düsenöffnung
für den Ausstoß der Flüssigkeit, einem mit der Düsenöffnung
in Verbindung stehenden Flüssigkeitsströmungskanal und
einem an dem Flüssigkeitsströmungskanal angebrachten Heizwiderstand
zum Erzeugen von Wärmeenergie für das Ausstoßen der
Flüssigkeit, der eine auf oder
über einem Trägermaterial ausgebildete Heizwiderstandsschicht
und ein Paar auf der Heizwiderstandsschicht ausgebildeter,
einander gegenübergesetzter Elektroden aufweist, wobei die
Breite der Heizwiderstandsschicht im Elektrodenbereich größer
als die Breite der Elektroden ist, zwischen die eine Spannung
angelegt wird, dadurch gekennzeichnet, daß dann, wenn für den
Heizwiderstand (3) eine Laplacesche Gleichung δ 2 ϕ/δ x 2 + -δ 2 ϕ/
δ y 2 = 0 gelöst wird, wobei auf der Widerstandsoberfläche ein
orthogonales x-y-Koordinatensystem definiert wird, das Potential
an einem Ort (x, y) auf der Widerstandsoberfläche durch ϕ
(x, y) gegeben ist, einem eine der Elektroden (4) berührenden
Bereich der Umfangsgrenze des Widerstands ein Randwert zugeordnet
ist, einem die andere Elektrode berührenden Bereich
ein davon verschiedener Randwert zugeordnet ist und einem
Bereich außer Berührung zu den Elektroden eine Randbedingung
zugeordnet ist, bei der der Differentialquotient von ϕ zu
einer Normalrichtung zur Umfangsgrenze "0" ist, hinsichtlich
eine ϕ-Gradienten √¯(δϕ/δ x)2 + Ödf/δ y)2- das Verhältnis eines Maximalwerts
zu einem Wert für die Mitte des Widerstands kleiner
oder gleich 1,4 ist.
3. Heizwiderstand nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Heizwiderstand in einem Aufzeichnungskopf eingesetzt
ist.
4. Heizwiderstand nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Trägermaterial (1) und der Heizwiderstandsschicht (3)
eine Unterschicht (2) angeordnet ist.
5. Heizwiderstand nach Anspruch 1, 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet,
daß auf der Heizwiderstandsschicht (3) eine Deckschicht (5,
6) angeordnet ist.
6. Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopf mit einem mit einer
Düsenöffnung für den Ausstoß von Flüssigkeit in Verbindung
stehenden Wärmeeinwirkungsbereich für das Erzeugen von Bläschen
in der Flüssigkeit durch das Zuführen von Wärmeenergie
zu der Flüssigkeit und mit einem Heizwiderstand für das
Erzeugen von Wärmeenergie, wobei der Heizwiderstand eine
Heizwiderstandsschicht, die auf einer unteren Schicht gebildet
ist, welche auf oder über einem Trägermaterial ausgebildet
ist, und ein Paar einander gegenübergesetzter Elektroden
aufweist, die auf der Heizwiderstandsschicht ausgebildet
sind, deren Breite an dem Elektrodenbereich größer als die
Breite der Elektroden ist, und auf dem eine Deckschicht
ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, daß an dem Heizwiderstand
dann, wenn für den Bereich des Heizwiderstands eine
Laplacesche Gleichung δ 2 ϕ/δ x 2 + δ 2 ϕ/-δ y 2 = 0 gelöst wird,
wobei auf der Widerstandsoberfläche ein orthogonales x-y-
Koordinatensystem definiert wird, mit ϕ(x, y) das Potential an
einem Ort (x, y) auf der Widerstandsoberfläche bestimmt ist,
einem mit einer der Elektroden in Berührung stehenden Bereich
der Umfangsgrenze des Heizwiderstands ein Randwert zugeordnet
wird, einem mit der anderen Elektrode in Berührung stehenden
Bereich ein davon verschiedener Randwert zugeordnet wird und
einem außer Berührung zu einer der Elektroden stehenden Bereich
eine Randbedingung zugeordnet wird, bei welcher ein
Differentialquotient von ϕ zu einer Normalrichtung zur Umfangsgrenze "0"
ist, hinsichtlich eines ϕ-Gradienten
√¯(δϕ/δ x)2 + (δϕ/δ yH2 das Verhältnis eines Maximalwerts zu einem Wert für
die Mitte des Heizwiderstands kleiner als oder gleich 1,8
ist, und daß der Heizwiderstand der Bedingung
genügt, wobei an einer von der Grenze zwischen der unteren
Schicht und dem Trägermaterial weg in der Richtung der unteren
Schicht zum Wärmeeinwirkungsbereich hin gemessenen Stelle x
jeweils k(x) die Wärmeleitfähigkeit des Materials ist, c(x)
die spezifische Wärme ist und ρ(x) die Dichte ist und wobei L
die gesamte Dicke von der Grenze zwischen der unteren Schicht
und dem Trägermaterial des Heizwiderstands ab ist sowie τ B
die Zeit vom Beginn der Zufuhr von Wärmeenergie bis zum
Auflösen der Bläschen ist.
7. Verfahren zur Ansteuerung eines Flüssigkeitsstrahl-Aufzeichnungskopfs,
der einen mit einer Düsenöffnung für den
Ausstoß von Flüssigkeit in Verbindung stehenden Wärmeeinwirkungsbereich
für das Zuführen von Wärmeenergie zu der Flüssigkeit
und einen Heizwiderstand für das Erzeugen von Wärmeenergie
aufweist, der eine auf oder über einem Trägermaterial
ausgebildete Heizwiderstandsschicht und ein Paar auf der
Heizwiderstandsschicht einander gegenübergesetzt ausgebildeter
Elektroden aufweist, wobei die Breite der Heizwiderstandsschicht
im Elektrodenbereich größer als die Breite der
Elektroden ist, an die eine Spannung angelegt wird, dadurch
gekennzeichnet, daß als Heizwiderstand ein Widerstand gewählt
wird, bei dem dann, wenn für den Bereich des Heizwiderstands
eine Laplacesche Gleichung δ 2 ϕ/δ x 2 + δ 2 ϕ-/δ y 2 = 0 gelöst wird,
wobei auf der Widerstandsoberfläche ein orthogonales x-y-
Koordinatensystem definiert wird, ϕ(x, y) das Potential an
einem Ort (x, y) auf der Widerstandsoberfläche ist,
einem mit einer der Elektroden in Berührung stehenden Bereich
der Umfangsgrenze des Heizwiderstands ein Randwert zugeordnet
wird, einem mit der anderen Elektrode in Berührung stehenden
Bereich ein davon verschiedener Randwert zugeordnet wird und
einem außer Berührung zu einer der Elektroden stehenden Bereich
eine Randbedingung zugeordnet wird, bei welcher ein
Differentialquotient von ϕ zu einer Normalrichtung zur Umfangsgrenze "0"
ist, hinsichtlich eines Gradienten
√¯(δϕ/δ x)2 + (δϕ/δ yH2von ϕ das Verhältnis eines Maximalwerts zu einem
Wert für die Mitte des Heizwiderstands kleiner als oder
gleich 1,8 ist, und daß eine an den Heizwiderstand angelegte
Spannung Vop derart gewählt wird, daß die Bedingung 1.15≧
Vop/V R erfüllt ist, wobei V R eine an den Heizwiderstand
angelegte Minimalspannung ist, bei der in dem Wärmeeinwirkungsbereich
sekundäre Bläschen erzeugt werden, die von den
Bläschen für den Ausstoß der Flüssigkeit verschieden sind.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die
Spannung Vop so gewählt wird, daß sie der Bedingung Vop ≦
1.3 Vth genügt, wobei Vth ein Minimalwert der angelegten Spannung
ist, bei dem die Bläschen für den Ausstoß der Flüssigkeit
erzeugt werden.
9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet,
daß als Heizwiderstand ein Widerstand mit einer zwischen dem
Trägermaterial und der Heizwiderstandsschicht angeordneten
unteren Schicht gewählt wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß als Heizwiderstand ein Widerstand mit
einer auf der Heizwiderstandsschicht angeordneten oberen
Schicht gewählt wird.
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