DE3617714A1 - Volumen-messverfahren fuer oberflaechenvertiefungen - Google Patents
Volumen-messverfahren fuer oberflaechenvertiefungenInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Volumen-Meßverfahren für
Oberflächenvertiefungen gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Bei der Messung an Oberflächen bzw. Oberflächenvertiefungen muß
zwischen Rauhigkeit (Größenordnung: <=5 µm), Welligkeit
(10-100 µm) und Form (<=10 µm) unterschieden werden.
Die Dissertation von G. Thurn, automatisierte Oberflächenprüfung
durch rechnergestütztes Messen der Streulichtverteilung,
TU Berlin, 1984, gibt einen Überblick über die gebräuchlichen,
mechanischen und optischen Verfahren zu deren Bestimmung.
Die mechanische Abtastung mit einem Diamanttaster erfaßt Rauhig
keit, Welligkeit und Form entsprechend den Filtercharakteristika
der verwendeten Meßanordnung, ist jedoch relativ langsam (Tast
geschwindigkeit <=0,5 mm pro Sekunde) und hinterläßt Spuren
auf der Oberfläche.
Die optischen Methoden, die z. B. von Brodnann, "Surface
Roughness Measurement of Turned and Ground Surfaces with a
Light Scattering Instrument", third International Conference
on Metrology and Properties of Engineering Surfaces,
Middlesborough, 10.-12. April 1985 oder Baker, L.R.:
"Comparator Technique to Measure Micro Height Variations", Third
Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces,
Middlesborough, 10.-12. April 1985 oder Vorburger, T.V.:
"Optical Measurement of Surface Roughness", Third Conference on
Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Middlesborough,
10.-12. April 1985, beschrieben sind, haben die Vorteile einer
berührungslosen und schnellen Abtastung, sind jedoch aufgrund
der verwendeten kurzen Lichtwellenlänge nur für Rauhigkeits
messungen geeignet. Man erhält ein Höhenprofil bzw. statistische
Parameter, wie Höhen- bzw. Flächenwinkelverteilungen, wozu auf
Thomas T.R.: "Characteristic of Surface Roughness, Precision
Engineering", S. 97 ff., IPC Business Press 1981, verwiesen wird.
Ein in der Praxis häufig auftretender Fall der Volumenmessung
von Oberflächenvertiefungen tritt bei der Herstellung von
Druckformen für den Rakel-Tiefdruck auf. Die Oberfläche dieser
Druckform, meist ein gravierter oder geätzter Druckzylinder,
weist eine Vielzahl von entsprechend dem späteren Druckraster
verteilten Näpfchen (Vertiefungen) auf, die durch Stege von
einander getrennt sind. Das Tiefdruckverfahren mit dieser Druck
form läuft so ab, daß die Näpfchen mit Farbe gefüllt werden,
mittels eines Rakels, das von den Stegen getragen wird, die
überschüssige Farbe entfernt und der Bedruckstoff mit der Ober
fläche des Druckzylinders in Kontakt gebracht wird, wobei die
Druckfarbe aus den Näpfchen auf den Bedruckstoff übertragen wird.
Für den Tonwert des jeweils gedruckten Punktes ist das über
tragende Farbvolumen maßgebend, weshalb es bei der Herstellung
der Druckform auf die Volumina der einzelnen Näpfchen ankommt.
Bei der Gravur dieser Näpfchen mittels eines Diamantstichels
wurde das Näpfchenvolumen bisher durch Messung der Näpfchen
diagonalen auf der Kupferoberfläche bestimmt, wobei aus der Form
des Diamantstichels und der Geometrie des Druckrasters mittels
Näherungsformeln das Volumen bestimmt wurde. Hierzu wird nach
einem bekannten Meßverfahren ein Mikroskop verwendet, das auf
die Oberfläche der Druckform gesetzt wird. Diese Messung, bei der
für mehrere verschiedene Grautöne jeweils mehrere Näpfchen ver
messen werden, nimmt wertvolle Zeit in Anspruch, die z.B. in der
Größenordnung einer halben Stunde liegt. Der mit diesem Zeit
aufwand verbundene Produktionsausfall legt es nahe, nach einem
Meßprinzip zu suchen, mit dem dynamische Messungen möglich sind.
Diese Forderung wird noch dadurch verstärkt, daß bei einem
neueren Elektronenstrahl Gravurverfahren die Form der gravierten
Näpfchen nicht durch die Geometrie eines Stichels gegeben ist,
wie dies z. B. bei der Gravur der Näpfchen mittels des Diamant
stichels der Fall ist. Zur Bestimmung des gravierten Volumens
ist daher eine direkte Messung wünschenswert.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Volumen
meßverfahren für Oberflächenvertiefungen anzugeben, das eine
direkte Volumenmessung ermöglicht. Insbesondere soll es auf eine
einfache Weise ermöglicht werden, auch das Volumen der Farb
übertragenden Näpfchen von Tiefdruckformen zu erfassen.
Die Erfindung erreicht dies durch die im kennzeichnenden Teil des
Anspruchs 1 angegebenen Merkmale. Vorteilhafte Weiterbildungen
der Erfindung sind in den Unteransprüchen 2 bis 12 angegeben.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 1 bis 6 näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen Meßaufbau zum Funktionsnachweis des Meßverfahrens,
Fig. 2 eine Küvette für die Messung nach Fig. 1,
Fig. 3a ein Diagramm für die Fluoreszenz in Abhängigkeit von
der Schichtdicke,
Fig. 3b ein Diagramm für die Transmission in Abhängigkeit von
der Schichtdicke,
Fig. 4 eine Meßanordnung zum direkten Messen von Oberflächen
vertiefungen,
Fig. 5a ein Beispiel einer zu messenden Oberfläche mit
U-förmigen Rillen,
Fig. 5b ein Beispiel einer Oberfläche mit V-förmigen Rillen,
Fig. 6a eine Darstellung der Fluoreszenz-Meßwerte an den Ober
flächenvertiefungen der Fig. 5a und
Fig. 6b eine Darstellung der Fluoreszenz-Meßwerte am Beispiel
der Fig. 5b.
Die Fig. 1 zeigt eine Meßanordnung mit der prinzipiell die
Schichtdicke eines fluoreszierenden Farbstoffs bestimmt werden
kann, wobei sich bei Kenntnis des Strahldurchmessers das Volumen
des durchstrahlen Stoffs ergibt.
In Fig. 1 ist ein Laser 1 vorgesehen, dessen Licht über eine
Bragg-Zelle und eine Blende 3 auf eine mit einer fluoreszierenden
Farbe gefüllte Küvette 4 gelangt. Als Laser kann vorzugsweise ein
luftgekühlter 20 mW-Argon-Ionen-Laser (488 nm) verwendet werden,
dessen Strahl durch die Bragg-Zelle 3 moduliert wird. Die Blende 3
ist vorgesehen, damit die erste Beugungsordnung ausgeblendet wird.
Die Küvette 4 ist keilförmig und enthält die Farbstoffprobe.
Der modulierte Laserstrahl fällt auf die Küvette und hat am Ort
der Probe einen Durchmesser von etwa D=2 mm. Das Fluoreszenz-
Licht, das von der Farbprobe abgestrahlt wird, wird unter einen
Winkel gegen den einfallenden Strahl in Vorwärtsrichtung über
eine Linse 6, ein Kantenfilter 7 und eine weitere Linse 8 auf
einen Fotowandler 9 abgebildet. Der Laser wird mittels der
Bragg-Zelle 2 moduliert, damit an Fotowandler, im vorliegenden
Fall einer Fotodiode, ein Wechselstromsignal entsteht und damit
Gleichlichtanteile, die nicht mitgemessen werden sollen, auf
diesem Wege unterdrückt werden. Die Bragg-Zelle arbeitet mit 70 MHz
und wird ihrerseits durch einen Rechteckgenerator 10, dem ein
Modulator 11 nachgeschaltet ist, moduliert.
Das Signal der Fotozelle 9 gelangt über einen Verstärker 12,
einer Lock-In-Stufe 13 (z. B. IC vom Typ AD 630 von Analog Devices)
an ein Voltmeter 14, welches das Meßergebnis anzeigt.
Das Fluoreszenz-Licht wird gegen den einfallenden Strahl in
Vorwärtsrichtung auf die Fotodiode 9 abgebildet. In dem Strahl
gäng befindet sich ein Kantenfilter, um eventuell vorhandene
Laser-Lichtanteile herauszufiltern.
Zur Kontrolle der Laser-Leistung während der Messung wird hinter
der Blende 3 mittels eines Strahlteilers 15 ein Teilstrahl ausge
blendet, der über einen Umlenkspiegel 16 ein Polfilter 17 und eine
Linse 18 auf einen weiteren Fotowandler 19 gegeben wird. Das Signal
des Fotowandlers 19 wird ebenso wie das Signal des Fotowandlers 9
über einen Verstärker 20 und eine Lock-In-Stufe 21 an das Volt
meter 14 gegeben. Zur Messung der Transmission durch die Küvette 4
wird der durch sie hindurchtretende Strahl mittels eines Umlenk
spiegels 22 auf ein Interferenzfilter 23 gegeben, dem ein Pol
filter 24 und eine Linse 25 nachgeschaltet sind, wobei das durch
Polfilter und Linse hindurchtretende Licht auf einen weiteren
Fotowandler 26 gelangt. Das Ausgangssignal des Fotowandlers 26
wird ebenfalls über einen Verstärker 27 und eine weitere Lock-
In-Schaltung 28 an das Voltmeter 14 gegeben.
Anstelle der Polfilter, die lediglich zum Abschwächen des Strahls
eingesetzt werden, können durch Graukeile oder Neutralglasfilter
eingesetzt werden.
Um die gemessenen Spannungen den entsprechenden absoluten Intensi
täten zuordnen zu können, ist eine Kalibrierung des Meßsystems
notwendig. Dazu wird außerdem ein Leistungsmesser benutzt, mit
dessen Hilfe die direkte Laser-Ausgangsleistung, die Leistung
hinter der Bragg-Zelle, die Leistung hinter der Blende, die
Leistung vor der Probe und die Leistung vor der Fotodiode 9
gemessen werden. Die Kalibrierung der Fotodiode 9 geschieht in
zwei Schritten. Dabei wird mit einer fluoreszierenden Probe in der
Küvette 4 gemessen, deren Stabilität bekannt ist. Zunächst wird
mit der Fotodiode 9 die Fluoreszenz in Abhängigkeit von der
einfallenden Laser-Lichtleistung gemessen. Dann wird die Foto
diode 9 durch den Leistungsmesser ersetzt. Man erhält so eine
Zuordnung der Fluoreszenz-Intensität zu der Fotodioden-Spannung.
In gleicher Weise können auch die übrigen Fotodioden 19 und 26
geeicht werden.
Fig. 2 zeigt die Küvette 4 in einer Seitenansicht und in einer
Draufsicht. Sie besteht aus mehreren Glasplatten, wobei der
keilförmige Teil aus den Platten 41 und 42 gebildet wird und eine
weitere Platte 44 zur Erhöhung der Stabilität vorgesehen ist.
Diese Platten werden zusammengehalten durch Seitenplatten 45
und 46. In dem Raum zwischen den Platten 41 und 42 befindet sich
die Probe und in dem Raum zwischen den Platten 42 und 43 befindet
sich das Lösungsmittel. Die Küvette kann, wie bereits erwähnt,
mittels nicht dargestellter Mikrometer-Schrauben senkrecht zum
Laserstrahl verschoben werden, um unterschiedliche Volumina bzw.
Schichtdicken auszumessen. Die Schichtdicke d wird durch Ein
führung eines Kupferstücks bekannter Dicke in die keilförmige
Schicht und durch Justierung im Laserstrahl, aus der Küvetten
geometrie und der mit der Mikrometer-Schraube eingestellten
relativen Höhe der Küvette innerhalb der Meßanordnung bestimmt.
Das Lösungsmittel ist vorgesehen, damit gleiche Brechungsindizes
an den Grenzflächen vorhanden sind und somit ein gerader Strahl
verlauf in der keilförmigen Schicht und auch nach dem Verlassen
der Küvette gewährleistet ist. Aus dem Strahldurchmesser D in der
Probe und der Schichtdicke d, die sich aus der gemessenen
Fluoreszenz-Intensität ergibt, kann das beleuchtete Volumen V
bestimmt werden.
Die Fig. 3a zeigt ein Diagramm, bei dem die Fluoreszenz U 4/U 6
in Abhängigheit von der Schichtdicke des Farbstoffs aufgenommen
wurde. Hierzu wurde die keilförmige Küvette relativ zum Meßstrahl
in der Höhe verschoben. Die Laserleistung betrug 5 mW, was einer
Spannung von 1290 mW an der Referenzdiode 19 (PD 3) entspricht.
Da es sich um eine keilförmige Küvette handelt, ist aus der
relativen Höhe der Küvette die Schichtdicke bekannt, so daß durch
diese Messung die Zuordnung von Fluoreszenz-Intensität und Schicht
dicke eindeutig bestimmt ist.
Die Abhängigkeit der Fluoreszenz-Intensität von Schichtdicke,
Konzentration und auffallender Laserlichtintensität ergibt sich
aus folgender Formel:
I f (d, c, I L ) = k × I L × (1 - exp (-0,01 × c × d))
mit
k
= konstant entsprechend der Kalibrierung von U₄,
I
L
= auf die Probe fallende Laser-Intensität,
c
= Konzentration in g/ltr und
d
= Schichtdicke in µm,
wobei der Wert 0,01 je nach Meßanordnung unterschiedlich sein
kann.
Wie hieraus zu ersehen ist, entspricht die Meßkurve dem Verlauf
der Formel, und es ist zu ersehen, daß die Fluoreszenz-Intensität
abhängt von der Anzahl der zur Fluoreszenz-Verfügung stehenden
Farbstoffmoleküle, wodurch dieser Zusammenhang zwischen Fluores
zenz-Intensität und Schichtdicke zur Dickenmessung und damit auch
zur Volumenmessung gemäß der Erfindung herangezogen werden kann.
Die Fig. 3b zeigt im Vergleich zur Fig. 3a die Transmission
des durch die Probe durchgelassenen Laserlichtes, d. h. die
Spannung U 5/U 6, wobei erkennbar ist, daß mit zunehmender
Fluoreszenz die Transmission abnimmt.
Um brauchbare Meßwerte zu erhalten, sind folgende Eigenschaften
des verwendeten Farbstoffs bzw. des Lösungsmittels, in dem der
Farbstoff während der Messung gelöst ist, erforderlich.
Der Farbstoff soll eine Lösbarkeit in einem die zu messende
Oberfläche gut benetzenden transparenten Lösungsmittel aufweisen.
Eine hohe Quanten-Ausbeute der Fluoreszenz des Farbstoffs, die
eine große Signalstärke und damit verminderte Fehler durch Rauschen
mit sich bringt, ist ebenfalls erwünscht.
Außerdem soll Stabilität des Farbstoffs gegen Belichtung und
Lösungsmittel bei möglichst großer Konzentration (fotochemische
und chemische Stabilität) gegeben sein. Weiterhin soll das Lösungs
mittel homogen (keine Emulsion/Suspension) sein und eine geringe
Flüchtigkeit bei Raumtemperatur aufweisen, damit die Konzentration
während der Messung erhalten bleibt.
Diesen Anforderungen entsprechen beispielsweise folgende Stoffe:
Pyridin 1 in Äthylenglycol, c= 0,75 g/ltr
oder
Pyridin 1 in Propylencarbonat, c= 0,5 g/ltr
oder
Pyridin 1 in Propylencarbonat, c= 0,5 g/ltr
Rhodamin 6 G in Methanol oder Propylencarbonat, c= 0,6 g/ltr
oder
Rhodamin 6 G in Äthylenglycol oder Propylencarbonat, c= 0,5 g/ltr.
oder
Rhodamin 6 G in Äthylenglycol oder Propylencarbonat, c= 0,5 g/ltr.
Rhodamin 6 G in Methanol/Äthylenglycol-Gemisch (1:10-20),
c= 0,5 g/ltr.
Die Erfindung beschränkt sich nicht auf die im Vorangegangenen
angegebenen Konzentrationen und Mischungsverhältnisse, sondern
die Messung ist auch mit anderen Konzentrationen und anderen
Farbstoffen bzw. Lösungsmitteln, welche die vorgenannten Eigen
schaften aufweisen, möglich. Die Messung ist auch durch den
jeweiligen Farbstoff bedingt, in anderen Wellenlängenbereichen
möglich.
Fig. 4 zeigt eine praktische Meßanordnung zum direkten Messen
von Oberflächenvertiefungen. Es wurden U- bzw. V-förmige Rillen,
welche in eine Kupferoberfläche eingraviert worden sind,
ausgemessen, wie sie in den Figuren Fig. 5a und 5b dargestellt
sind. Der Meßaufbau entspricht im Prinzip dem Meßaufbau der
Fig. 1, ohne Transmissionskanal. Die Baugruppen der Fig. 4
die mit den Baugruppen in Fig. 1 übereinstimmen, wurden mit
denselben Bezugszahlen beschrieben.
Der Laserstrahl wird, nachdem er den Referenzstrahl über den
Strahlteiler 15, der ein Objektivträgerglas sein kann, verlassen
hat, über einen Spiegel 50 und einen Strahlteiler 51 auf die
Probe 52 gerichtet. Die Probe mag z. B. eine in den Fig. 5a
oder 5b dargestellte Oberfläche mit entsprechenden Vertiefungen
sein. Ein Teil des Fluoreszenzlichtes wird über den Strahlteiler 51
ausgespiegelt und gelangt wie in Fig. 1 auf die Fotodiode 9. Zur
Ausfilterung von Restlaserlicht sind ein Kantenfilter 7 und ein
Interferenzfilter 53 im Strahlengang zwischen Strahlteiler 51 und
Fotodiode 9 vorgesehen (λ=488 nm).
Es ergeben sich die in den Fig. 6a für U-förmiges Profil und
in der Fig. 6b für V-förmiges Profil dargestellten Meßwerte
für die Fluoreszenz U 4/U 6. Gemessen wurde mit Rhodamin 6G, da
dieser Farbstoff ist besonders fluoreszenzeffektiv und stabil.
Die Nummern i=1-8 der Fig. 5a sind den entsprechenden Tiefen
F i der Fig. 5a zugeordnet. Gemessen wurde mit einer Laser
leistung von 5 mW, wobei bei entsprechend anderen Laserleistungen
die Messung ebenfalls möglich ist.
Es wurde bei den Meßwerten der Fig. 6a und 6b mehrfach gemessen,
und man erkennt, daß in Fig. 6a bei den Meßwerten 1 bis 5 derselbe
Meßwert wieder getroffen wurde. Lediglich bei den Meßwerten 6 und 7
sind geringe Abweichungen zu verzeichnen.
Dasselbe gilt in Fig. 6b für die Meßwerte 1 bis 3 bzw. 4 und 5.
Die Meßwerte der Fig. 6b beziehen sich auf fünf V-förmige Vertie
fungen, von denen in Fig. 5b aber nur zwei dargestellt worden sind.
Die Erfindung wurde im Vorangehenden anhand des Fluoreszenz-Effektes
als Beispiel für die Ausnutzung des wellenlängenverschobenen Streu
lichtes bestimmter Stoffe zur Volumen- bzw. Schichtdickenmessung
beschrieben. Für die Volumenmessung kann aber ebensogut anstelle
des Fluoreszenz-Effektes der sogenannte "Raman-Effekt" ausgenutzt
werden, indem das zu messende Volumen mit einem Stoff ausgefüllt
wird, an dem dieser Raman-Effekt auftritt. Bestrahlt man z. B.
Benzol mit Quecksilber-Bogenlicht, so treten im Streulicht neben
der Spektrallinie des eingestrahlten UV-Lichts eine oder mehrere,
in der Wellenlänge verschobene weitere Spektrallinien auf, deren
Intensitäten ebenfalls von der Schichtdicke des Stoffes abhängen.
Der Raman-Effekt ist beispielsweise in dtv-Lexikon der Physik,
Band 7, P-RE, Deutscher Taschenbuchverlag, München, Februar 1971,
ISBN 3-423-03047-X, Seiten 227 bis 229, beschrieben.
Claims (12)
1. Volumenmeßverfahren für Oberflächenvertiefungen, dadurch
gekennzeichnet,
daß die zu messende Vertiefung bzw. Vertiefungen mit einem
Stoff aufgefüllt werden, der bei Bestrahlung wellenlängen
verschobenes Streulicht abgibt,
daß der Stoff mittels einer Lichtquelle, deren Wellenlänge im Bereich des Absorbtionsspektrums des Stoffes liegt, beleuchtet wird und
daß die Intensität des wellenlängenverschobenen Streulichtes, das von dem angeregten Stoff ausgesandt wird, mittels eines Fotodetektors gemessen wird, wobei die gemessene Intensität ein Maß für das Volumen der Oberflächenvertiefung ist.
daß der Stoff mittels einer Lichtquelle, deren Wellenlänge im Bereich des Absorbtionsspektrums des Stoffes liegt, beleuchtet wird und
daß die Intensität des wellenlängenverschobenen Streulichtes, das von dem angeregten Stoff ausgesandt wird, mittels eines Fotodetektors gemessen wird, wobei die gemessene Intensität ein Maß für das Volumen der Oberflächenvertiefung ist.
2. Volumenmeßverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß als Stoff Farbstoffe verwendet werden, deren frequenz
verschobenes Streulicht durch Fluoreszenz entsteht.
3. Volumenmeßverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß Stoffe verwendet werden, deren frequenzverschobenes Streu
licht aufgrund des Raman-Effektes entsteht.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß Pyridin
als Farbstoff verwendet wird, das in Äthylenglycol mit einer
Konzentration von c<0,75 g/ltr gelöst ist.
5. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß Pyridin
als Farbstoff verwendet wird, das in Propylencarbonat mit einer
Konzentration von c0,5 g/ltr gelöst ist.
6. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß Rhodamin
6G als Farbstoff verwendet wird, der in Propylenacarbonat mit
einer Konzentration von c0,6 g/ltr gelöst ist.
7. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als
Farbstoff Rhodamin 6G verwendet wird, der in Äthylenglycol oder
Propylencarbonat mit einer Konzentration von c0,5 g/ltr
gelöst ist.
8. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als
Farbstoff Rhodamin 6G verwendet wird, der in einem Methanol-
Äthylenglycol-Gemisch (1:10-20) mit einer Konzentration von
c0,5 g/ltr gelöst ist.
9. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß Benzol
als Füllstoff für die Vertiefungen verwendet wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Beleuchtung der Vertiefung mittels der
Lichtquelle flächig über die gesamte Vertiefung erfolgt.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Beleuchtung der Vertiefung mittels einer
relativen SCAN-Bewegung eines Lichtstrahls, dessen Durchmesser
kleiner ist als der Durchmesser der Vertiefung, erfolgt, wobei
beim Abscannen der Vertiefung die Oberfläche des Farbstoffes
lückenlos abgetastet wird und die Summe der gemessenen Fluores
zenz-Intensitäten ein Maß für das Volumen der Vertiefung ist.
12. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch
eine auf die Oberflächenvertiefung gerichtete Lichtquelle, deren Wellenlänge im Absorbtionsspektrum des verwendeten Stoffes liegt,
eine erste Detektoreinrichtung zur Erfassung der Intensität der in der Frequenz verschobenen Streustrahlung des durch die Lichtquelle angeregten Stoffes,
eine zweite Detektoreinrichtung zur Erfassung eines Teils der Intensität des auf den Stoff auftretenden Lichts der Licht quelle, das mittels eines ersten Strahlteilers, der zwischen Lichtquelle und dem bestrahlten Stoff angeordnet ist, ausge spiegelt wird,
durch einen zweiten Strahlteiler zum Ausspiegeln der von dem bestrahlten Stoff ausgesandten, in der Frequenz verschobenen Streustrahlung, der zwischen dem ersten Strahlteiler und dem bestrahlten Stoff im Strahlengang angeordnet ist,
durch ein Filter zum Ausfiltern von Restlaserlicht, das zwischen dem zweiten Detektor und dem zweiten Strahlteiler angeordnet ist und
durch eine Verstärker- und Meßeinrichtung, die zum Messen der von den beiden Detektoren erfaßten Intensitäten an die beiden Detektoren angeschlossen ist.
eine auf die Oberflächenvertiefung gerichtete Lichtquelle, deren Wellenlänge im Absorbtionsspektrum des verwendeten Stoffes liegt,
eine erste Detektoreinrichtung zur Erfassung der Intensität der in der Frequenz verschobenen Streustrahlung des durch die Lichtquelle angeregten Stoffes,
eine zweite Detektoreinrichtung zur Erfassung eines Teils der Intensität des auf den Stoff auftretenden Lichts der Licht quelle, das mittels eines ersten Strahlteilers, der zwischen Lichtquelle und dem bestrahlten Stoff angeordnet ist, ausge spiegelt wird,
durch einen zweiten Strahlteiler zum Ausspiegeln der von dem bestrahlten Stoff ausgesandten, in der Frequenz verschobenen Streustrahlung, der zwischen dem ersten Strahlteiler und dem bestrahlten Stoff im Strahlengang angeordnet ist,
durch ein Filter zum Ausfiltern von Restlaserlicht, das zwischen dem zweiten Detektor und dem zweiten Strahlteiler angeordnet ist und
durch eine Verstärker- und Meßeinrichtung, die zum Messen der von den beiden Detektoren erfaßten Intensitäten an die beiden Detektoren angeschlossen ist.
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US5438422A (en) * | 1993-02-25 | 1995-08-01 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Error detection apparatus and method for use with engravers |
US5617217A (en) * | 1993-02-25 | 1997-04-01 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Engraving method and apparatus for generating engraving drive signals for engraving engraved areas of accurately controlled size in the surface of a workpiece using coefficient values and associated set up parameter values |
US5831746A (en) * | 1993-02-25 | 1998-11-03 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Engraved area volume measurement system and method using pixel data |
US5825503A (en) * | 1993-02-25 | 1998-10-20 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Engraving apparatus and method for adjusting a worn stylus using a midtone correction |
US6362899B1 (en) | 1993-02-25 | 2002-03-26 | Mdc Max Daetwyler Ag | Error detection apparatus and method for use with engravers |
US5671063A (en) * | 1993-02-25 | 1997-09-23 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Error tolerant method and system for measuring features of engraved areas |
US6348979B1 (en) | 1993-02-25 | 2002-02-19 | Mdc Max Daetwyler Ag | Engraving system and method comprising improved imaging |
US5737090A (en) * | 1993-02-25 | 1998-04-07 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | System and method for focusing, imaging and measuring areas on a workpiece engraved by an engraver |
US5691818A (en) * | 1993-02-25 | 1997-11-25 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | System and method for enhancing edges and the like for engraving |
US5440398A (en) * | 1993-02-25 | 1995-08-08 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Error detection apparatus and method for use with engravers |
US5424845A (en) * | 1993-02-25 | 1995-06-13 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Apparatus and method for engraving a gravure printing cylinder |
US5402246A (en) * | 1993-07-20 | 1995-03-28 | Ohio Electronic Engravers, Inc. | Method for predicting ink consumption |
US5438864A (en) * | 1993-08-25 | 1995-08-08 | Praxair S.T. Technology, Inc. | Method for fluorescent measuring the volumetric capacity of a cell-engraved surface |
DE19840926B4 (de) * | 1998-09-08 | 2013-07-11 | Hell Gravure Systems Gmbh & Co. Kg | Anordnung zur Materialbearbeitung mittels Laserstrahlen und deren Verwendung |
US6523467B2 (en) * | 1999-12-17 | 2003-02-25 | Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft | Method for measuring engraving cups |
US7136159B2 (en) * | 2000-09-12 | 2006-11-14 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Excimer laser inspection system |
US20160076873A1 (en) * | 2014-09-12 | 2016-03-17 | Lts Metrology, Llc | Stationary Dimensioning Apparatus and Method Employing Fluorescent Fiducial Marker |
CN114295053B (zh) * | 2021-12-31 | 2023-11-28 | 北京百度网讯科技有限公司 | 物料体积的确定方法及装置、设备、介质和产品 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2359114A (en) * | 1943-05-28 | 1944-09-26 | Gen Motors Corp | Method of testing materials for surface defects |
DE904353C (de) * | 1952-03-09 | 1954-02-18 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen der Oberflaechenbeschaffenheit von Koerpern |
US2774886A (en) * | 1952-11-19 | 1956-12-18 | Switzer Brothers Inc | Method of detecting surface discontinuities |
GB763885A (en) * | 1954-07-26 | 1956-12-19 | Magnaflux Corp | Detection of surface discontinuities |
US3185022A (en) * | 1961-06-15 | 1965-05-25 | Gen Electric | Optical gage for testing surface imperfections |
US3956630A (en) * | 1975-03-14 | 1976-05-11 | Westvaco Corporation | Fluorimetric coat weight measurement |
DE2907620A1 (de) * | 1979-02-27 | 1980-08-28 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und einrichtung zum messen der dicke durchsichtiger duenner schichten, insbesondere schmierstoff-filme |
JPS601502A (ja) * | 1983-06-20 | 1985-01-07 | Hitachi Ltd | ホトレジスト膜測定装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2920203A (en) * | 1955-09-21 | 1960-01-05 | Switzer Brothers Inc | Fluorescent penetrant inspection materials and methods |
US3341705A (en) * | 1965-04-01 | 1967-09-12 | James R Alburger | Method of controlling the thickness of applied thin liquid films using dye tracers |
DE3038908A1 (de) * | 1980-10-15 | 1982-05-27 | Agfa-Gevaert Ag, 5090 Leverkusen | Verfahren zur lumineszenzspektroskopischen bestimmung von auftraegen und auftragsprofilen |
DE3134264A1 (de) * | 1981-08-29 | 1983-03-10 | Peter Dr.-Ing. 6718 Grünstadt Decker | Vorrichtung zur erfassung der feuchtwassermenge in offsetmaschinen |
US4664514A (en) * | 1984-11-06 | 1987-05-12 | General Electric Company | Method of enhancing surface features and detecting same |
-
1986
- 1986-05-27 DE DE19863617714 patent/DE3617714A1/de not_active Withdrawn
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1987
- 1987-05-26 US US07/153,840 patent/US4944593A/en not_active Expired - Fee Related
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- 1987-05-26 JP JP62503237A patent/JPS63501099A/ja active Pending
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2359114A (en) * | 1943-05-28 | 1944-09-26 | Gen Motors Corp | Method of testing materials for surface defects |
DE904353C (de) * | 1952-03-09 | 1954-02-18 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen der Oberflaechenbeschaffenheit von Koerpern |
US2774886A (en) * | 1952-11-19 | 1956-12-18 | Switzer Brothers Inc | Method of detecting surface discontinuities |
GB763885A (en) * | 1954-07-26 | 1956-12-19 | Magnaflux Corp | Detection of surface discontinuities |
US3185022A (en) * | 1961-06-15 | 1965-05-25 | Gen Electric | Optical gage for testing surface imperfections |
US3956630A (en) * | 1975-03-14 | 1976-05-11 | Westvaco Corporation | Fluorimetric coat weight measurement |
DE2907620A1 (de) * | 1979-02-27 | 1980-08-28 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und einrichtung zum messen der dicke durchsichtiger duenner schichten, insbesondere schmierstoff-filme |
JPS601502A (ja) * | 1983-06-20 | 1985-01-07 | Hitachi Ltd | ホトレジスト膜測定装置 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
DE-Z: Industrie Anzeiger, 1968, Nr.24/25, S.70,73 * |
JP-Patents Abstracts of Japan, P-356, May 17, 1985 Vol.9, No.113 & JP,A,60001502 (Hatachi Seisakusho K.K.) 7. Januar 1985 … * |
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