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DE3536374C2 - - Google Patents

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Publication number
DE3536374C2
DE3536374C2 DE19853536374 DE3536374A DE3536374C2 DE 3536374 C2 DE3536374 C2 DE 3536374C2 DE 19853536374 DE19853536374 DE 19853536374 DE 3536374 A DE3536374 A DE 3536374A DE 3536374 C2 DE3536374 C2 DE 3536374C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
housing
air gap
measuring
diode row
radiolucent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19853536374
Other languages
English (en)
Other versions
DE3536374A1 (de
Inventor
Wolfgang Reuther
Maximilian Dipl.-Ing. Schmidt
Rudolf 8000 Muenchen De Burger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19853536374 priority Critical patent/DE3536374A1/de
Publication of DE3536374A1 publication Critical patent/DE3536374A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3536374C2 publication Critical patent/DE3536374C2/de
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08—Testing mechanical properties
    • G01M11/081—Testing mechanical properties by using a contact-less detection method, i.e. with a camera
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H11/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of electric switches
    • H01H11/0062—Testing or measuring non-electrical properties of switches, e.g. contact velocity
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H1/00—Contacts
    • H01H1/0015—Means for testing or for inspecting contacts, e.g. wear indicator
    • H01H2001/0021—Camera or endoscope for monitoring contacts, their position or mechanism

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen und Vermessen von Luftspalten gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Ein solches Verfahren ist aus der DE-PS 9 73 802 bekannt.
Aus der DE-PS 9 73 802 ist ein Verfahren zum Überwachen und Vermessen von Luftspalten, die in einem z. B. mit Gammastrahlen durchleuchtbaren Gehäuse an schwer zugängli­ chen Stellen untergebracht sind, bekannt, bei dem der Luftspalt durch die Gehäusewand hindurch beleuchtet und sein Bild über eine Optik abgebildet wird. Im wesentlichen. werden dabei Luftspalte zwischen feststehenden und umlaufenden Teilen von Maschinen gemessen und überwacht.
Aus der DE-AS 22 62 046 ist ein Verfahren zur Luftspalt­ vermessung und Justierung bei Sicherungsautomaten bekannt. Hierin werden lediglich mechanische Justiermöglichkeiten beschrieben.
In dem Buch von Max Wiedemann "Röntgen-Werkstückprüfung" Bornträger, Berlin 1944, Seiten 209-213 wird ein Verfahren zum Prüfen von mittels Röntgenstrahlen durchleuchtbaren zusammengesetzten Werkstücken, z. B. Telefonapparaten, be­ schrieben, bei dem ein Röntgenphotogramm erzeugt wird.
Aus der US-A-39 37 580 ist ein elektrooptisches Verfahren zum Messen von Spalten bekannt, bei dem das Bild der zu erfassenden Meß- oder Prüfstelle, nämlich das des Spaltes, mittels einer Optik auf einem Bildschirm oder einer Photodiodenzeile projiziert wird.
Unter durchleuchtbaren Gehäusen sind Gehäuse zu verstehen, die aus lichtdurchlässigem Material bestehen oder eine ge­ wisse Lichteindringtiefe besitzen, zum Beispiel Kunst­ stoffgehäuse, Gehäuse aus Holz, Papier, Glas, Keramik und dünnen Metallfolien, einseitig metallbeschichtete Gehäuse und so weiter. Die Lichtdurchlässigkeit muß für das menschliche Auge nicht erkennbar sein.
Es ist bekannt, daß in einem Fertigungsprozeß, z. B. in einer voll automatisierten Montagelinie, Prüfungen, Messungen und Justagearbeiten an den Produkten vorgenonmen werden müssen. So soll z. B. zu Justierzwecken eine automatische, laterale Luftspaltvermessung an Sicherungs­ automaten durchgeführt werden. Dieser Luftspalt sitzt aber an schwer zugänglicher Stelle des montierten, geöffneten Schalters. Erschwerend wirken hierbei die schlechte Erkennbarkeit der Meßflanken und das geringe Platzangebot. an der Meßstelle.
Man ist an Verfahren interessiert, die den Betrieb einer vollautomatisierten Montagelinie mit hohen Qualitätsanfor­ derungen gewährleistet.
Der Anmeldung liegt die Aufgabe zugrunde, das Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 so weiterzubilden, daß es in einer Montagelinie für Sicherungsautomaten die Justage der darin enthaltenen Luftspalte ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 durch die im Kennzeichen des Patentan­ spruches 1 gegebene Lehre gelöst.
Weitere Einzelheiten sind Merkmale der Unteransprüche.
Durch die Erfindung wird erreicht, daß trotz schwerer Zu­ gänglichkeit und ungünstiger Auflichtbeleuchtung ein schneller und präziser Meß- oder Prüfvorgang durchgeführt werden kann.
Das Verfahren nach der Erfindung kann sowohl für eine voll automatisierte als auch für eine teilmechanisierte Fertigungslinie angewendet werden.
Mit dem Verfahren kann gleichzeitig eine Schriftkontrolle auf der Gehäuseoberfläche und im Inneren des Gehäuses, eine Toleranzerkennung der Gehäuseoberfläche, eine Vermessung von Führungen in und auf dem Gehäuse und Fehlstellenerkennung durchgeführt werden.
Der Bildschirm 4 kann auch eine Mattscheibe sein.
Die Erfindung wird anhand der Figur für ein Ausführungs­ beispiel erläutert.
Mit 1 ist ein Meßobjekt, z. B. ein Sicherungsautomat, mit einem Gehäuse 2 bezeichnet. Zur Vermessung eines Luftspal­ tes 3 in diesem Schalter dient eine Zeilenkamera 4 in Ver­ bindung mit einer optischen Vergrößerungseinheit 5. Zur Beleuchtung ist eine Lampe 6 vorgesehen, deren Licht über eine Sammellinse 7 auf die Rückwand des Meßobjektes gelenkt wird. Mit 8 ist eine Auswerteeinheit angedeutet. Der Luftspalt 3 ist beim Ausführungsbeispiel links von ei­ nem Metallteil 9 und rechts von einer Verstärkung 10 im Gehäuse begrenzt.
Die Auswerteeinheit 8 der Kamera zählt alle Dioden, deren Belichtung einen eingestellten Schwellwert überschreitet.

Claims (4)

1. Verfahren zum Prüfen und Vermessen von Luftspalten, die in einem durchleuchtbaren Gehäuse am schwer zu­ gänglicher Stelle untergebracht sind, bei dem der Luftspalt durch Gehäusewand oder -fenster hindurch bestrahlt wird und sein Bild über eine Optik auf eine Fläche projiziert wird, dadurch gekennzeichnet, daß
  • - die Fläche ein Bildschirm (4) oder eine Diodenzei­ le (4) ist,
  • - die Strahlung sichtbares Licht oder nahes Infra­ rotlicht ist,
  • - sich der Luftspalt (3) in einem Sicherungsautoma­ ten befindet,
  • - das Gehäuse lichtdurchlässig ist und
  • - ein Justierelement vorhanden ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Diodenzeile (4) Teil eimer Kamera ist, an die eine Auswerteeinrichtung (8) angeschlossen ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtung über eine Konvexlinse (7) erfolgt.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse aus Kunststoff besteht.
DE19853536374 1985-10-11 1985-10-11 Durchlichtverfahren zur gehaeuse- und bauteilevermessung Granted DE3536374A1 (de)

Priority Applications (1)

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3536374A1 DE3536374A1 (de) 1987-04-16
DE3536374C2 true DE3536374C2 (de) 1993-05-06

Family

ID=6283401

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DE19853536374 Granted DE3536374A1 (de) 1985-10-11 1985-10-11 Durchlichtverfahren zur gehaeuse- und bauteilevermessung

Country Status (1)

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DE (1) DE3536374A1 (de)

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Also Published As

Publication number Publication date
DE3536374A1 (de) 1987-04-16

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