DE3438984C2 - - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Strahlungsdetektor nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1,
wie er für die Röntgenstrahl-Computertomographie oder ähn
liches Anwendung findet und z. B. aus der DE-OS 29 23 324,
insbes. Fig. 9, bekannt ist.
Bei der Röntgenstrahl-Computertomographie wird ein Multi
element-Strahlungsdetektor verwendet, der aus einer Viel
zahl von Strahlungs-Detektorelementen besteht, die bogen
förmig angeordnet sind, um ein zu untersuchendes Material
einer fächerförmigen Röntgenstrahlung auszusetzen und da
durch die Verteilung der Röntgenstrahl-Absorptionskoeffi
zienten zu messen. Als derartige Multielement-Strahlungs
detektoren sind bislang ein Detektor mit Ionisationskammer,
der die Ionisationswirkung eines Gases ausnutzt, ein Halb
leiterdetektor, der die Ionisationswirkung eines Festkör
pers ausnutzt, sowie ein Szintillationsdetektor bekannt,
der die auf Röntgenstrahlung beruhende Fluoreszenzwirkung
ausnutzt.
Bei einem Szintillationsdetektor wird im allgemeinen ein
anorganischer einkristalliner Szintillator, wie z. B. NaI,
CsI, CdWO4, Bi4Ge3O12 oder ähnliches, verwendet. Diese
Szintillatoren haben wesentliche Vor- und Nachteile und
sind nicht für alle Arten der Computertomographie ver
wendbar. Um diesen Nachteil der einkristallinen Szintilla
toren auszugleichen, wird ein pulverförmiger Szintillator
verwendet, der mit einem geeigneten Binder, wie z. B.
einem Polystyrenharz oder ähnlichem, in Form gebracht
wird.
Der pulverförmige Szintillator hat einen kleineren Licht
durchlässigkeitskoeffizienten als der einkristalline
Szintillator. Deshalb ist es schwierig, die Strahlung auf
der Auslaßseite herauszuführen und unter Verwendung eines
Lichtdetektors zu empfangen. Aus diesem Grund wurde der Aufbau
eines Strahlungsdetektors mit pulverförmigem Szintillator so
ausgelegt, daß das Licht auf der Einfallsseite des Pulver
szintillators mit einem Lichtdetektor aufgenommen wird.
Detektoren mit einem derartigen Aufbau sind beispielsweise aus der
US-Patentschrift 41 87 427 oder der DE-OS 29 23 324 bekannt. Bei
diesem Detektor steht die Schicht aus Szintillatormaterial
schräg zur Einfallsrichtung der Röntgenstrahlung, und der
Detektor ist gegenüber der der Strahlung ausgesetzten Ober
fläche der Szintillatorschicht und parallel zur Einfalls
richtung der Röntgenstrahlen angeordnet. Da bei einem solchen
Aufbau die Detektorebene und die Oberfläche der Szintillator
schicht im Winkel zueinander verlaufen, sind nicht alle Gebiete
der Szintillatorschicht gleich weit von dem Strahlungsdetektor
entfernt, sondern haben vielmehr unterschiedliche Entfernung
dazu. Wie anhand von Fig. 3 deutlich ist, haben die rechts
unten liegenden Teile der Szintillatorschicht 33 einen
kürzeren Abstand zu dem Lichtdetektor 32 als die links
oben liegenden Teile der Szintillatorschicht. Die Intensität
der in der Szintillatorschicht erzeugten Strahlung fällt aber
proportional zum Quadrat der Entfernung ab, so daß Licht, das
durch die einfallende Röntgenstrahlung in einem dem Detektor
benachbarten Gebiet der Szintillatorschicht erzeugt wird, im
Detektor eine größere Wirkung hervorruft als solches Licht, das
bei ansonsten gleichen Bedingungen in einem vom Detektor weiter
abliegenden Gebiet der Szintillatorschicht erzeugt wird. Damit
zeigen die bekannten Szintillationsstrahlungsdetektoren eine
Abhängigkeit, d. h. einen Gradienten der Nachweisempfindlichkeit
in einer zum einfallenden Röntgenstrahl senkrechten Richtung.
In der Röntgenstrahl-Computertomographie führt andererseits der
Unterschied in der Empfindlichkeit zwischen den den Multi
element-Detektor aufbauenden Einzelelementen zum Auftreten
eines ringförmigen Artefakts bzw. einer ringförmigen
Modifikation oder Veränderung im Bild. Deshalb wurde eine
elektrische Kalibrierung durchgeführt, um die Empfind
lichkeitsabweichung zwischen den Elementen im wesentlichen
auszugleichen. Das Auftreten der ringförmigen Veränderung kann
durch die Kalibrierung jedoch nur verhindert werden, wenn der
Röntgenstrahl-Absorptionsfaktor des zu untersuchenden Materials
in Richtung der Dicke des Röntgenstrahlbündels gleichbleibend
ist. Bei den in der Praxis zu untersuchenden Materialien ist
das jedoch nicht der Fall. Weiterhin ist es schwierig, die
Kalibrierung an den praktischen Betrieb der Bilderzeugung
anzupassen, wenn die Einzelelemente einen Empfindlichkeits
gradienten in Richtung der Dicke des Röntgenstrahlbündels
aufweisen. Aufgrund dieses Empfindlichkeitsgradienten tritt
zwischen den Einzelelementen eine Empfindlichkeitsabweichung
auf. Deshalb entwickelt sich auf dem reproduzierten Bild die
genannte ringförmige Veränderung.
Es ist Aufgabe der Erfindung, einen Multielement-Strahlungs
detektor anzugeben, bei dem die Empfindlichkeit für den
Strahlungsnachweis möglichst unabhängig davon ist, wo das
einzelne Röntgenquant auf den Szintillator trifft, d. h. der
Gradient der Nachweisempfindlichkeit soll möglichst gering
sein.
Die Lösung dieser Aufgaben erfolgt gemäß dem kennzeichnenden
Teil des Hauptanspruchs. Danach weist jedes der Elemente des
Strahlungsdetektors einen Szintillator, dessen Strahlungs
einfallsebene schräg bezüglich der Einfallsrichtung der
Strahlung angeordnet ist, und einen Lichtdetektor auf, dessen
das Licht aufnehmende Ebene ebenfalls schräg bezüglich der
Einfallsrichtung der Strahlung und so angeordnet ist, daß sie
der Strahlungseinfallsebene des Szintillators gegenüberliegt.
Mit dem genannten Aufbau tritt kaum eine Asymmetrie der
Blickwinkel von jedem Punkt der Strahlungseinfallsebene des
Szintillators eines jeden Elementes zu dem jeweiligen
Lichtdetektor sowie des Abstands zu diesem Lichtdetektor
zwischen der rechten und der linken Seite des Szintillators
auf. Aus diesem Grund nimmt der Empfindlichkeitsgradient in
Richtung der Dicke des Röntgenstrahlbündels ab, d. h. in der
Richtung, die senkrecht zur Anordnungsrichtung der Elemente
verläuft. Daher kann die Empfindlichkeitsabweichung zwischen
den Elementen eliminiert werden, indem die Empfindlichkeit der
Elemente durch direkte Einstrahlung
des Röntgenstrahlbündels ohne Durchlaufen des zu unter
suchenden Materials kalibriert wird. Damit ist es möglich,
das Auftreten der ringförmigen Veränderung auf dem durch
Röntgenstrahl-Computertomographie erstellten Bild zu ver
hindern.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im
folgenden anhand der Zeichnungen beschrieben.
In den Zeichnungen zeigt
Fig. 1 eine schematische Darstellung des Aufbaus eines
Röntgenstrahl-Computertomographen;
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht des Aufbaus eines
Röntgenstrahl-Multielement-Detektors nach einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
Fig. 3 eine Schnittansicht des Detektors nach Fig. 2; und
Fig. 4 eine grafische Darstellung der Kennlinien des ge
zeigten Ausführungsbeispiels.
Fig. 1 verdeutlicht den Aufbau eines Röntgenstrahl-Compu
tertomographen, auf den die vorliegende Erfindung Anwendung
findet. Auf einer Drehscheibe 5 ist eine Röntgenstrahlquelle
1, die Röntgenstrahlen 2 in Form eines Fächers erzeugt, so
wie ein Röntgenstrahl-Multielement-Detektor 4 vorgesehen.
Der Röntgenstrahl-Multielement-Detektor besteht aus 30 bis
2000 Elementen 3, die so angeordnet sind, daß sie einen
Bogen bilden. Die Einzelelemente erfassen die Intensitäts
verteilung des Röntgenstrahlbündels, das durch ein in
einem Hohlraum in der Mitte der Scheibe 5 liegendes, zu
untersuchendes Material hindurchtritt. Der Erfassungs
vorgang wird unter Drehen der Scheibe 5 wiederholt, um
die Daten für die Erstellung eines Tomogramms zu gewinnen,
das die Verteilung der Röntgenstrahl-Absorptionsfaktoren
des Querschnitts des untersuchten Materials wiedergibt.
Fig. 2 zeigt einen Teil des Multielement-Detektors 4. Ein
Detektorgehäuse 40 ist durch Kollimatoren 41 in Einzel
elemente unterteilt. Auf die Oberflächen der Kollimatoren
ist Aluminium aufgedampft, um den Reflexionsfaktor für
Licht zu erhöhen und damit die Empfindlichkeit zu steigern.
Jedes Element besteht aus einem Pulver-Szintillator 31,
der so angeordnet ist, daß seine Einfallsebene für Röntgen
strahlen bezüglich der Einfallsrichtung der Röntgenstrah
len geneigt ist. Gegenüber diesem Szintillator 31 ist
eine Silizium-Fotodiode 32 angeordnet. Das Röntgenstrahl
bündel fällt, wie in der Zeichnung durch die Pfeile 21
angedeutet, von oben ein, tritt durch eine aus einer Alu
miniumplatte oder ähnlichem bestehenden Vorderwand 42 und
erreicht die Szintillatoren 31. Das damit erzeugte Szin
tillationslicht wird anschließend durch die Silizium-
Fotodioden in elektrische Signale umgewandelt.
Fig. 3 zeigt eine Schnittansicht des Detektors nach Fig. 2
entlang einer Ebene senkrecht zur Anordnungsrichtung der
Elemente, wie durch den Pfeil P in Fig. 2 angedeutet. Wie
in Fig. 3 gezeigt, ist die Strahlungseinfallsebene 33
des Szintillators 31 bezüglich der Einfallsrichtung der
Röntgenstrahlen mit dem Winkel R 1 geneigt. Andererseits
ist die Lichteinfallsebene 34 der Silizium-Fotodiode 32
mit einem Winkel R 2 geneigt und so angeordnet, daß sie
vom oberen Ende des Szintillators 31 um l nach oben ver
schoben ist, so daß sie der Vorderfläche des Szintillators
31 gegenüberliegt.
Fig. 4 zeigt die Verteilung der Empfindlichkeit bezogen
auf die Ausdehnungsrichtung des einfallenden Röntgenstrahl
bündels nach obiger Ausführungsform im Vergleich zu einem
herkömmlichen Gerät. In dieser Figur ist die Ordinate die
Teilempfindlichkeit eines Detektorelementes, die Abszisse ist die Posi
tion x in Dickenrichtung, wobei der Abszissenwert 0 dem linken Ende in
Fig. 3 entspricht. Eine Kennlinie 11 zeigt einen Fall, in dem die Ein
fallsbreite x des Detektors 16 mm, der durch die Strahlungseinfalls
ebene 33 des Szintillators 31 und die Einfallsrichtung der Röntgen
strahlen festgelegte
Winkel R 1 34,8°, der durch die Lichteinfallsebene 34 der
Silizium-Fotodiode 32 und der Einfallsrichtung der Röntgen
strahlen festgelegte Winkel R 2 15° und der Abstand l 9 mm
ist. Aus dem Vergleich der Kennlinien 11 und 12 wird deut
lich, daß der Gradient bezüglich der Ausdehnungsrichtung
des Detektors verringert wird und sich eine annähernd ein
heitliche Empfindlichkeitsverteilung über den gesamten Be
reich ergibt. Dabei zeigt die Kennlinie 12 die Verteilung
in dem Fall, in dem der Winkel R 2 0° beträgt, d. h. in dem
die Lichteinfallsebene der Silizium-Fotodiode parallel zur
Einfallsrichtung der Röntgenstrahlen angeordnet ist.
Die Kennlinie 13 zeigt die Empfindlichkeitsverteilung,
wenn R 1 = 34,8°, d. h wenn die Strahlungseinfallsebene
des Szintillators 31 parallel zur Lichteinfallsebene der
Silizium-Fotodiode ist, wie in Fig. 3 gestrichelt darge
stellt. In diesem Fall wird die Empfindlichkeitsverteilung
bezüglich der rechten und der linken Seite symmetrisch,
d. h. es ergibt sich eine ideale Verteilung. Da der Ab
stand zwischen der Silizium-Fotodiode und dem Szintilla
tor jedoch zunimmt, nimmt die Empfindlichkeit verglichen
mit dem Fall, in dem R 2 = 15° gilt, insgesamt ab.
Bei Verwendung des Multielement-Detektors aus den oben
beschriebenen Elementen mit einer einheitlichen Empfind
lichkeitsverteilung für die Röntgenstrahl-Computertomo
graphie tritt zwischen den Elementen keine Empfindlich
keitsabweichung auf, selbst wenn ein Material abgebildet
werden soll, das in der Ausdehnungsrichtung des Röntgen
strahlbündels eine große Veränderung des Röntgenstrahl
absorptionsfaktors aufweist, wie es z. B. in den Spitzen-
und Scheitelbereichen eines Materials der Fall ist. Aus
diesem Grund entwickelt sich auch keine ringförmige Ver
änderung oder Modifikation auf dem Bild. Darüber hinaus
können die Röntgenstrahlen auf jede Position des Detektors
auffallen, selbst wenn der Abbildevorgang unter Veränderung
der Ausdehnung des Röntgenstrahlbündels durchgeführt wird,
wodurch sich ein großer praktischer Vorteil ergibt.
Obwohl nach obigem Ausführungsbeispiel als der Szintillator
31 ein Pulver-Szintillator Anwendung findet, ist es auch
möglich, statt dessen einen Einkristall-Szintillator zu ver
wenden.
Claims (4)
1. Multielement-Strahlungsdetektor, bei dem eine Anzahl von
Detektorelementen (3) durch Kollimatoren (41) voneinander
getrennt und in regelmäßiger Anordnung aufgebaut sind, wobei
jedes Element (3)
- a) einen Szintillator (31) aufweist, dessen der einfallenden Strahlung (21) ausgesetzte Ober flächenebene (33) schräg zur Richtung der einfal lenden Strahlung (21) ausgerichtet ist, und
- b) einen Lichtdetektor (32) aufweist, der dieser Oberflächenebene (33) des Szintillators (31) gegenüberliegend angeordnet ist und das von ihr ausgehende Szintillationslicht empfängt,
dadurch gekennzeichnet, daß
- c) die Lichtaufnahmeebene (34) des Lichtdetektors (32) schräg zur Einfallsrichtung der Strahlung (21) angeordnet ist.
2. Multielement-Strahlungsdetektor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Winkel (R 2) zwischen der
Lichtaufnahmeebene (34) der Lichtdetektoren (32) und der
Einfallsrichtung der Strahlung (21) kleiner ist als der Winkel
(R 1) zwischen der der einfallenden Strahlung ausgesetzten
Oberflächenebene (33) der Szintillatoren (31) und der
Einfallsrichtung der Strahlung (21).
3. Multielement-Strahlungsdetektor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Lichtaufnahmeebene (34)
der Lichtdetektoren (32) und die der einfallenden Strahlung
ausgesetzte Oberflächenebene (33) der Szintillatoren (31)
jeweils zueinander parallel sind.
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