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DE3406375A1 - Geraet zur bestimmung von oberflaechenprofilen von nichttransparentem material durch digitale auswertung einer sequenz von mikroskopbildern mit unterschiedlichen schaerfeebenen - Google Patents

Geraet zur bestimmung von oberflaechenprofilen von nichttransparentem material durch digitale auswertung einer sequenz von mikroskopbildern mit unterschiedlichen schaerfeebenen

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Publication number
DE3406375A1
DE3406375A1 DE19843406375 DE3406375A DE3406375A1 DE 3406375 A1 DE3406375 A1 DE 3406375A1 DE 19843406375 DE19843406375 DE 19843406375 DE 3406375 A DE3406375 A DE 3406375A DE 3406375 A1 DE3406375 A1 DE 3406375A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
image
pixel
sequence
index
further characterized
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19843406375
Other languages
English (en)
Inventor
Hayo Dr.-Ing. 8131 Traubing Giebel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SIGNUM COMPUTER fur SIGNALVER
Original Assignee
SIGNUM COMPUTER fur SIGNALVER
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SIGNUM COMPUTER fur SIGNALVER filed Critical SIGNUM COMPUTER fur SIGNALVER
Priority to DE19843406375 priority Critical patent/DE3406375A1/de
Publication of DE3406375A1 publication Critical patent/DE3406375A1/de
Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

  • Beschreibung
  • Gerät zur Bestimmung des Oberflächenprofils von nichttransparentem Material durch digitale Auswertung einer Sequenz von Mirkoskopbildern mit unterschiedlichen Schärfeebenen.
  • Die Erfindung betrifft eine Anordnung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1, wie sie zur automatisierten Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit von Werkstücken benötigt wird. So gibt die quantitative Vermessung des Oberflächenprofils Aufschluß darüber, ob z.B. während des Bearbeitungsvorganges eines Werkstückes bestimmte Oberflächeneigenschaften wie Rauhigeit, Riefentiefe, Tragrauhtiefe und dergl. innerhalb vorgegebener Toleranzen liegen. Das Prüfungsergebnis gibt entscheidente Hinweise darüber, ob innerhalb des Fertigungsprozesses Justagen an Bearbeitungsmaschinen, der Austausch eines Werkzeugs oder die Aussonderung des geprüften Werkstükkes erforderlich ist.
  • Ein anderes Verfahren zur Auswertung von Mikroskopbildern mit dem Ziel, dreidimensionale Strukturen zu rekonstruieren, nutzt die Kenntnis der Ubertragungsfunktion des Mikroskopoptik. Es wird gezeigt, daß mit der Methode der Fouriertransformation eine teilweise Rekonstruktion möglich ist (Zinser, G. et al. : Erzeugung und Rekonstruktion von dreidimensionalen Lichtmikroskopischer Bilder. VDE-Fachberichte 35, Mustererkennung 1983 Karlsruhe, VDE-Verlag 1983, S. 294 -299).
  • Der Nachteil hierbei ist jedoch darin zu sehen, daß für die Rekonstruktion mittels Fouriertransformation die gesamte Mikroskopbild-Sequenz gespeichert werden muß. Weiterhin schließt der hohe Rechenzeitbedarf einen industriellen Einsatz im Bereich der Serienprüfung aus.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, mit einem geringen Geräteaufwand eine beliebig lange Sequenz von Mikroskopbildern zu verarbeiten. Weiterhin soll diese Verarbeitung schritthaltend mit der maximal möglichen Aufnahmegeschwindigkeit, die durch die Mechanik der Mikroskopverstellung oder durch die Fernsehbildfolgefrequenz begrenzt wird, erfolgen. Die Auswertung der Bildsequenz muß einen geringen Zeitbedarf aufweisen, um einen Einsatz in der industriellen Serienprüfung von Werkstücken zu ermöglichen.
  • Diese Aufgabe wird erfinderisch dadurch gelöst, daß bezüglich des Geräteaufwands gemäß der kennzeichnenden Merkmale nach Anspruch 1 unabhängig von der Länge der Mikroskopbild-Sequenz neben dem Maximum- und Indexbild immer nur zwei Mikroskopbilder mit benachbarten Schärfeebenen für die Berechnung gespeichert werden müssen.
  • Aufgrund der einfachen bildpunktweisen Vergleichsoperationen, die mit heutiger Technologie schritthaltend mit der Fernsehbildfolgefrequenz ausgeführt werden können, wird eine maximale Verarbeitungsgeschwindigkeit erreicht.
  • Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, daß mit geringem gerätetechnischem Aufwand eine Mikroskopbildsequenz mit beliebig vielen und beliebig genau abgestuften Schärfeebenen, soweit dies nicht durch die Eigenschaften der Mikroskopoptik und deren Verstelleinrichtung sowie durch das Kamerarauschen begrenzt wird, schritthaltend mit der Fernsehbildfolgefrequenz verarbeitet werden kann.

Claims (1)

  1. Patentansprüche 1. Anordnung zur Bestimmung von Oberflächenprofilen von nichttransparentem Material, wobei eine digitale Auswertung von Mikroskopbildern in verschiedenen Schärfeebenen durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet, daß eine Sequenz von Mikroskopbildern mit unterschiedlichen Schärfeebenen mittels einer automatisch gesteuerte Schärfeeinstellung durch Schrittmotor oder durch einen kontinuierlichen Motorantrieb erstellt wird, ferner gekennzeichnet dadurch, daß jedes Mikroskopbild mittels einer Fersehkamera aufgezeichnet wird und in den Bildspeicher einer digitalen Verarbeitungseinheit übertragen wird, ferner gekennzeichnet dadurch, daß schritthaltend mit der sequentiellen Aufzeichnung jeweils nur das aktuell aufgezeichnete Bild mit dem vorausgehend aufgezeichneten und gespeicherten Bild verglichen wird, indem für jeden Bildpunkt die absolute Grauwertänderung bestimmt wird, ferner gekennzeichnet dadurch, daß innerhalb der Bildsequenz für jeden Bildpunkt die maximale Grauwertänderung registriert wird, ferner gekennzeichnet dadurch, daß für jeden Bildpunkt die Bildnummer, bei der diese maximale Grauwertänderung festgestellt wurde, als Index in ein Ergebnisbild ei-ngetragen wird, ferner gekennzeichnet dadurch, daß, nachdem die gesamte Bildsequenz durchlaufen wurde, für jeden Bildpunkt, dem kein Index zugewiesen werden konnte, d.h bei dem innerhalb der gesamten Bildsequenz nur eine geringe, unter einer Schwelle liegende Änderung des Grauwertes festzustellen war, der Index desjenigen Nachbarbildpunktes zugewiesen wird, der örtlich am nächsten liegt und dem bereits ein Index zugewiesen ist, ferner gekennzeichnet dadurch, daß in dem so gewonnenen Ergebnisbild für jeden Bildpunkt der entsprechende Indexwert den Ort der maximalen Schärfe parallel zur optischen Achse des Mikroskops angibt.
DE19843406375 1984-02-22 1984-02-22 Geraet zur bestimmung von oberflaechenprofilen von nichttransparentem material durch digitale auswertung einer sequenz von mikroskopbildern mit unterschiedlichen schaerfeebenen Ceased DE3406375A1 (de)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19623183A1 (de) * 1996-06-11 1997-12-18 Keim Hans Joachim Verfahren zum Lokalisieren von Materialgleichverteilungen, Materialanhäufungen und Materialentmischungen
DE19941771A1 (de) * 1999-09-02 2001-03-15 Zoller Gmbh & Co Kg E Verfahren zur Vermessung von Werkstücken, insbesondere ein- oder mehrschneidigen Zerspanungswerkzeugen
DE19944516A1 (de) * 1999-09-16 2001-04-12 Brainlab Med Computersyst Gmbh Dreidimensionale Formerfassung mit Kamerabildern
EP1199542A3 (de) * 2000-10-13 2003-01-15 Leica Microsystems Imaging Solutions Ltd. Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung eines Oberflächenprofils eines Objektes
WO2003078924A3 (de) * 2002-03-18 2004-02-05 Zoller Gmbh & Co Kg E Verfahren und vorrichtung zur erfassung zumindest eines abschnitts eines werkstücks oder eines werkzeugs
US8155426B2 (en) 2004-05-27 2012-04-10 Oy Ekspansio Engineering Ltd. Inspection of wood surface roughness
DE102018129833A1 (de) 2017-12-04 2019-06-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem, Detektionseinheit für Mikroskopsystem und Verfahren zur mikroskopischen Abbildung einer Probe

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2409173A1 (de) * 1974-02-26 1975-09-04 Philips Patentverwaltung Verfahren zur naeherungsweisen bestimmung der kontur eines pulsierenden objektes
DE2546070A1 (de) * 1974-10-17 1976-04-22 Westinghouse Electric Corp Differential-bildanalysator
DE2949303A1 (de) * 1978-12-18 1980-06-19 Loepfe Ag Geb Verfahren und vorrichtung zum kontinuierlichen messen der querdimension eines laengsbewegten fadenartigen gebildes
US4435079A (en) * 1981-08-28 1984-03-06 American Optical Corporation Apparatus for testing lenses by determining best focus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2409173A1 (de) * 1974-02-26 1975-09-04 Philips Patentverwaltung Verfahren zur naeherungsweisen bestimmung der kontur eines pulsierenden objektes
DE2546070A1 (de) * 1974-10-17 1976-04-22 Westinghouse Electric Corp Differential-bildanalysator
DE2949303A1 (de) * 1978-12-18 1980-06-19 Loepfe Ag Geb Verfahren und vorrichtung zum kontinuierlichen messen der querdimension eines laengsbewegten fadenartigen gebildes
US4435079A (en) * 1981-08-28 1984-03-06 American Optical Corporation Apparatus for testing lenses by determining best focus

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Zinser, G. et al.: Erzeugung und Rekonstruktion dreidimensionaler lichtmikroskopischer Bilder, in: VDE-Fachberichte 35, Mustererkennung, 1983, Karsruhe VDE-Verlg, S. 294-299 *

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19623183A1 (de) * 1996-06-11 1997-12-18 Keim Hans Joachim Verfahren zum Lokalisieren von Materialgleichverteilungen, Materialanhäufungen und Materialentmischungen
DE19941771A1 (de) * 1999-09-02 2001-03-15 Zoller Gmbh & Co Kg E Verfahren zur Vermessung von Werkstücken, insbesondere ein- oder mehrschneidigen Zerspanungswerkzeugen
DE19941771B4 (de) * 1999-09-02 2010-10-21 E. Zoller GmbH & Co. KG Einstell- und Messgeräte Verfahren zur Vermessung von ein- oder mehrschneidigen Zerspanungswerkzeugen
DE19944516A1 (de) * 1999-09-16 2001-04-12 Brainlab Med Computersyst Gmbh Dreidimensionale Formerfassung mit Kamerabildern
DE19944516B4 (de) * 1999-09-16 2006-08-17 Brainlab Ag Dreidimensionale Formerfassung mit Kamerabildern
EP1199542A3 (de) * 2000-10-13 2003-01-15 Leica Microsystems Imaging Solutions Ltd. Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung eines Oberflächenprofils eines Objektes
WO2003078924A3 (de) * 2002-03-18 2004-02-05 Zoller Gmbh & Co Kg E Verfahren und vorrichtung zur erfassung zumindest eines abschnitts eines werkstücks oder eines werkzeugs
US8155426B2 (en) 2004-05-27 2012-04-10 Oy Ekspansio Engineering Ltd. Inspection of wood surface roughness
DE102018129833A1 (de) 2017-12-04 2019-06-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem, Detektionseinheit für Mikroskopsystem und Verfahren zur mikroskopischen Abbildung einer Probe
WO2019110367A1 (de) 2017-12-04 2019-06-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem, detektionseinheit für mikroskopsystem und verfahren zur mikroskopischen abbildung einer probe
DE102018129833B4 (de) 2017-12-04 2020-01-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem, Detektionseinheit für Mikroskopsystem und Verfahren zur mikroskopischen Abbildung einer Probe

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