DE3342417A1

DE3342417A1 - Verfahren und geraet zum zerstoerungsfreien pruefen von werkstuecken mit hilfe von wirbelstroemen

Info

Publication number: DE3342417A1
Application number: DE19833342417
Authority: DE
Inventors: Kenneth Duncan Wallingford Oxfordshire Boness
Original assignee: UK Atomic Energy Authority
Current assignee: UK Atomic Energy Authority
Priority date: 1982-11-26
Filing date: 1983-11-24
Publication date: 1984-05-30
Also published as: GB2131552A; GB8331253D0; GB2131552B

Description

83 028 Kü/u

United Kingdom Atomic Energy Authority, 11 Charles II Street, London SWlY 4QP / England

ANR: 1005693

VNR: 106836

Für diese Anmeldung wird die Priorität aus der britischen Patentanmeldung Nr. 8233836 vom 26. November 1982 beansprucht.

Verfahren und Gerät zum zerstörungsfreien Prüfen von Werkstücken mit Hilfe von Wirbel strömen

Die Erfindung bezieht sich auf das zerstörungsfreie Prüfen von Werkstücken durch Wirbelströme, die in einem zu prüfenden Werkstück erzeugt werden.

Bei einem bekannten Verfahren der Wirbelstromprüfung wird der Zustand eines zu prüfenden Werkstücks festgestellt durch Bestimmung der resistiven und reaktiven Komponenten einer Sonden- oder Fühlerspule durch Messen der Resonanzfrequenz der Sondenspule und der Amplitude der in ihr erscheinenden Schwingungen. Die Resonanzfrequenz ist in der Hauptsache ein Maß für die Induktivität der Sondenspule, während die Schwingungsamplitude hauptsächlich ein Maß für deren Ohm'schen Widerstand ist.

Das Verfahren ist jedoch mit einigen Problemen behaftet, und zwar in den meisten Fällen in bezug auf den Schwingungsamplituden-Parameter. Es muß besondere Sorgfalt bei der Konstruktion des Oszillators geübt werden, der die Sondenspule erregt, um sicherzustellen, daß sie einen stabilen Ausgangssignal pegel liefert, so daß Änderungen in der Amplitude der Schwingungen in der Sondenspule Änderungen in deren Impedanz genau wiedergeben. So wird beispielsweise bei den meisten Oszillatorschal-

tungen, die für das Wirbelstromprüfen verwendet werden, eine aktive Halbleitervorrichtung verwendet, die eine ausreichende Energie liefert, um interne Verluste auszugleichen, und auf diese Weise den Ausgangssignalpegel bei einem gewünschten Wert konstant hält.

Andere bekannte Verfahren der Werkstoffprüfung mit Wirbelstrom enthalten Sende-Empfangs-Systeme, bei denen Impulse von Schwingungen und phasenempfindliche sowie Amplitudendetektoren oder Brückenschaltungen der einen oder anderen Art verwendet werden. All diese Verfahren haben Nachteile, besonders die Brückenschaltungen, die weit weg von einem ausgeglichenen Zustand betrieben werden müssen und somit unter den Einwirkungen der Nichtlinearität leiden.

Erfindungsgemäß wird ein Verfahren und Gerät zum Prüfen eines Werkstücks mittels Wirbelströme, die innerhalb des Werkstücks erzeugt werden, geschaffen, wobei das Verfahren darin besteht, daß ein Energieimpuls einem Schwingkreis übermittelt wird, der eine Sonden- oder Fühlerspule enthält, daß dem Schwingkreis die Möglichkeit gegeben wird, auf den Energieimpuls hin frei nachzuschwingen bzw. nachzuhal1 en, daß die Rate des Abklingens und die Schwingungsperiode der Nachhai 1echos gemessen werden und daraus ein Maß für die resistiven und reaktiven Komponenten der Impedanz der Sondenspule und somit der Zustand des Werkstücks abgeleitet werden, und wobei das Gerät sich zusammensetzt aus einer Sondenspule, einem Schwingkreis, einer Einrichtung zur Übermittlung eines elektrischen Impulses zum Schwingkreis, um diesen zum Nachhallen bzw. Ndohschwingen zu veranlassen, aus einer Einrichtung zum Messen der Abklingrate der elektrischen Nachhai 1echos innerhalb des Schwingkreises, einer Einrichtung zum Messen der Schwingungsperiode der Nachhai 1echos im Schwingkreis sowie aus einer Einrichtung, die daraus ein Maß für die reaktiven und resistiven Komponenten der Impedanz der Sondenspule ableitet.

«ΔΠ

Die Sondenspule kann in der Praxis aus einer Vielzahl von Spulen aufgebaut sein, die so eingerichtet und angeordnet sind, daß sie getrennt der Reihe nach erregt werden, um dem Gerät die Möglichkeit zu geben, in einer Multiplexweise zu arbeiten. Auch kann der Schwingkreis eine Vielzahl von separat geschalteten reaktiven Elementen enthalten, damit die Frequenz der Schwingungen variiert werden kann.

Die Sondenspule soll nunmehr beispielsweise anhand der Zeichnungen erläutert werden. Dabei zeigen

Fig. 1 ein Schaltbild einer Schwingkreis-Wirbelstrom-Prüfsonde zur Ausführung der Erfindung,

Fig. 2 den durch die Schaltung nach Fig. 1 erzeugten

Spannungsverlauf, der einem einzelnen Energieimpuls folgt, die

Fign. 3a und 3b graphisch eine Art der Verwendung des Spannungsverlaufes nach Fig. 2,

Fig. 3c graphisch eine andere Weise der Verwendung des Spannungsverlaufs von Fig. 2,

Fig. 3d graphisch wiederum eine andere Weise der Verwendung des Spannungsverlaufs von Fig. 2,

Fig. 4 ein Blockschaltbild eines Systems, das eine oder jede der Funktionen nach den Fign. 3a und 3c oder 3d ausführen kann,

Fig. 5 ein Blockschaltbild eines Systems, das die

in den Fign. 3a und 3b dargestellte Funktion

ausführen kann, und
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Fig. 6 ein Blockschaltbild eines Teils eines zweiten

Systems zur Ausführung des erfindungsgemäßen

Verfahrens.

Nach Fig. 1 besteht eine Resonanzkreis-Impuls-Wirbelstrom-Prüfsonde aus einem Induktor L, der mit einem Widerstand R in Reihe geschaltet ist, und aus einem Kondensator C, welcher der Kombination aus Induktor L und Widerstand R paral1 el geschaltet ist. In der Praxis werden der Induktor L und der Widerstand R durch die Wirbelstrom-Erzeugerspule selbstgebildet.

Wenn ein elektrischer Impuls I (z.B. ein Impuls aus elektrischem Strom, wie in Fig. 1 dargestellt) von der

Dauer d der Prüfsonde über eine Quelle (nicht dargestellt) und einen Schalter s zugeführt wird, dann erscheinen Spannungsschwingungen in der Prüfsondenschaltung, gegeben durch die Gleichungen:
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V (t) = Ike"^Bt Sin(wt + 0) .■·(!)

ω = (1/LC - R^C/4L'-)T ...(3)

wobei T die Periode der Schwingungen im Schwingkreis ist. Die Wellenform dieser Schwingungen ist in Fig. 2 dargestellt.

B kann auf verschiedene Weise bestimmt werden:

Z.B. aus Gleichung (1), wenn V, und V_? Spitzenamplituden von Schwingungen sind, die um nT Perioden innerhalb des gleichen Satzes von Nachhai 1echos des Schwingkreises voneinander getrennt sind.

Dabei ist:	B =	R/2L	Kon	stante	J*
	k =	eine	-	R²/4L²
	ω =	(1/LC	,C,	d)
und	0 =	f(R,L
Außerdem	ω =	21Γ/Τ

BAD ORIGINAL

V^V1 ⁼ V* ^{+ nT})V ^{= e}"^BnT ---i⁶) Das heißt B = (log_e V₁-IOg₆ V₂)nT •••(7)

Daher können durch Messungen von nT, V₁ und V₂ die Werte R und L aus den Gleichungen (2) und (3) mittels der Gleichungen (5) und (7) bestimmt werden. Das Prinzip dieses Verfahrens ist in Fig. 3b für den Fall dargestellt, daß aufeinanderfolgende Spitzenamplituden verwendet werden.

Der Abklingfaktor B kann auch auf eine andere Weise als durch eine direkte Messung von Spitzenamplituden der Schwingungen bestimmt werden. Besonders attraktiv sind Verfahren, bei denen Messungen der Zeit anstelle der Amplituden verwendet werden, weil solche Messungen viel leichter durchgeführt werden können.

Ein solches Verfahren besteht darin, die Zeitintervalle zwischen dem ersten positivgehenden Durchgang des NuI1-Amplitudenpegels und dem ersten negativgehenden Durchgang des NuI1-Amplitudenpegels zu messen, welches die halbe Periode der Schwingungen, T/2, ergibt, sowie zwischen dem ersten positivgehenden Durchgang des NuI1-Amplitudenpegels und den ersten und zweiten negativgehenden Durchgängen einer gegebenen willkürlichen Grenzwertamplitude Vj, was zwei Zeitintervalle t·, bzw. t,. ergibt. Die Werte von t-, und t^ werden beide Lösungen von Gleichung (1) sein.

.·. Es ist Ue^-81I(SInWt₁ + 0) = Ike"^Bt3 (sincot₃ + 0)

Da tj und to vom gleichen Nulldurchgang gemessen werden, kann man für φ Null setzen.

.'. ke"^Btl sinatj = ke~^Bt3 sinot₃

, s

_Dies ergibt B = γ—^ 1 °9_e T

Wenn die Impulse, die die Schwingungen im Schwingkreis anreizen, sich in der Amplitude ändern, bleibt die obige Beziehung immer noch gültig, vorausgesetzt, daß die Messungen an einem einzelnen Satz von Schwingungen durchgeführt werden. Das Prinzip dieses Verfahrens ist in den Fign. 3a und 3c dargestel1t.

Ein weiteres Verfahren, bei dem Zeitmessungen anstelle von Amplitudenmessungen zur Bestimmung von B verwendet werden, besteht darin, das Zeitintervall zwischen ähnlichen Durchgängen zu messen, die um eine ganze Anzahl von kompletten Zyklen der Schwingungen der beiden Grenzwertamplituden voneinander getrennt sind, die auf jeder Seite der mittleren Null der Schwingungen liegen. Dieses Verfahren ist in Fig. 3d dargestellt für den Fall, daß aufeinanderfolgende gleiche Durchgänge verwendet werden, und basiert auf dem folgenden Prinzip:

Der zeitliche Differential quotient von Gleichung (1) ist

D (t) = Ike"^Bt

S-B sin (cat + φ) + cos («t + Φ)\\ ..-(9)

Bei Auswertung mit einem Null-Wert für Gleichung (1) ergibt dies:

-Bt
D(t₀) = Ike °ω ...(10)

wobei t die Zeit ist, wenn sin (tot + φ) - 0 ist. 30

In Wirklichkeit ist diese Zeit periodisch, so daß

t = t₀ + nT

ist.

BAD ORIGINAL

- li -

Somit ist das Verhältnis der Differentialgleichung (10), ausgewertet bei zwei NuI1 durchgängen, die um n-Perioden voneinander getrennt sind:

^D (*ο ^{+ nT}^ -BnT _M1

oder B = - -i ^loge

Nun kann D(t ) und D(t + nT) angenähert werden als

wobei V die Spannungsdifferenz der beiden Spannungsgrenzwerte auf jeder Seite des NuI1-Amp!itudenpegels ist und Δι die Zeit ist, die für die durch Gleichung (1) dargestellte Funktion gebraucht wird, um vom einen zum anderen zu gelangen.

. D(t + nT) ^t (t )

° °Π Ή

D(t~) Zit (t + ηT) ^v ο ^^ ο

und Gleichung (1) kann neu geschrieben werden als:

Fig. 4 zeigt ein Blockschaltbild eines Systems, das dazu verwendet werden kann, beide oben erwähnten Verfahren auf Zeitbasis durchzuführen.

Nach Fig. 4 enthält eine Wirbelstrom-Prüfsonde, die all gemein mit 1 bezeichnet ist, eine Prüfspule 2, die resistive und reaktive Komponenten 3 bzw. 4 aufweist. Mit der Prüfspule 2 sind ein Kondensator 5 und ein Regel widerstand 6 paral1 el geschaltet. Das Ganze bildet einen Resonanzkreis, der gedämpfte einfache harmonische Spannungsschwingungen

erzeugt, wenn er durch einen Stromimpuls I von einer Quelle (nicht dargestellt) über einen Schalter 7 erregt wird. Durch den Regel widerstand 6 kann der "Q"-Faktor des Resonanzkreises eingeregelt werden. Die Spannungsschwingungen in der Prüfsonde 1 werden über einen Pufferverstärker (Trennstufe) 8 einem Spannungs-Grenzwertdetektor 9 und einem Spannungs-Nul 1 durchgangsdetektor 10 zugeführt. Die Ausgänge des Spannungs-Grenzwertdetektors 9 und des Spannungs-Nul 1 durchgangsdetektors 10 werden einem Zeit/Digital-Wandler 11 zugeführt. Ein Synchronisierer 12 ist zwischen den Schalter 7 und den Zeit/Digital-Wandler 11 geschaltet und stellt sicher, daß der Zeit/Digital-Wandler genau in bezug auf die Schwingungen in der Prüfsonde 1 gesteuert wird. Der Zeit/Digital-Wandler 11 ist mit einem Mikrorechner 13 verbunden, der programmiert ist, und zwar je nachdem, welches der oben beschriebenen Verfahren das System ausführt, und die errechneten Werte von R und L für die Prüfsondenspule 2 werden einem Druck-oder Ablesekreis 14 zugeführt. Wenn erwünscht, können die Ausgangssignale des Mikrorechners 13 auch einer visuellen Anzeigeeinheit zugeführt werden, die so eingerichtet ist, daß sie eine Anzeige liefert, die direkt dem Zustand eines zu prüfenden Werkstücks entspricht.

Wenn das System dazu bestimmt ist, das Verfahren nach den Figuren 3a und 3c auszuführen, dann ist der Spannungs-Nul 1 durchgangsdetektor 10 so eingerichtet, daß er den Zeit/ Digital-Wandler 11 beim ersten positivgehenden Spannungs-Nulldurchgang startet und den Zeit/Digital-Wandler 11 veranlaßt, das aufgezeichnete Zeitintervall T/2 dem Mikrorechner 13 zuzuführen, wenn der erste negativgehende Spannungs-Nul1durchgang erscheint. Der Spannungs-Grenzwertdetektor 9 veranlaßt den Zeit/Digital-Wandler 11, dem Mikrorechner 13 die aufgezeichneten Zeitintervalle (t-, und t-,) zuzuführen, wenn die Spannung auf die Grenzwertspannung Vy das erste und das zweite Mal abklingt. Der Mikrorechner 13 ist so programmiert, daß er die Werte R und L für die Prüfspule 2 über Gleichung (8) erzeugt.

BAD ORIGINAL

Soll das System das Verfahren nach Fig. 3d ausführen, dann ist der Spannungs-Grenzwertdetektor 9 so eingerichtet, daß er den Zeit/Digital-Wand!er 11 aktiviert, wenn eine untere Grenzwertspannunq V_/+ % erreicht ist, und die-

v ^τι I

sen stoppt, wenn eine obere Grenzwertspannung V/, _λ erreicht

ist, um auf diese Weise das Zeitintervall Z^t aufzuzeichnen, innerhalb welchem die Spannung der Schwingungen in der Prüfsonde 1 um den Betrag^V zunimmt. Der Spannungs-Null durchgangsdetektor 11 sorgt dafür, daß diese aufgezeichneten Zeitintervalle für zwei aufeinanderfolgende Perioden dem Mikrorechner 13 zugeführt werden, der so programmiert ist, daß er die Werte R und L für die Prüfspule 2 über Gleichung (15) erzeugt.

Fig. 5 zeigt ein Blockschaltbild eines Systems, das dazu verwendet werden kann, das "Amplitude-und-Zeit"-Verfahren nach den Figuren 3a und 3b auszuführen.

Das in Figur 5 dargestellt System ist ähnlich dem der Figur 4, und entsprechende Teile haben die gleichen

Bezugszeichen, außer, daß der Spannungs-Grenzwertdetektor 9 durch einen Spannungsspitzendetektor 51 ersetzt ist. Der Ausgang des Spitzendetektors 41 ist in Digitalform und wird direkt dem Mikrorechner 13 zugeführt. 25

Der Spannungs-Nul1durchgangsdetektor 10 wird dazu verwendet, den Zeit/Digital-Wandler 11 zu veranlassen, das Intervall T zu messen und Zeitintervalle t_a~tk und t -t^ zu definieren (Figur 3b), innerhalb welchen die Spannungsspitzen Vl bzw. V2 (Figur 3b) durch den Spannungsspitzendetektor 51 gemessen werden. Der Mikrorechner 13 ist so programmiert, daß er die Werte R und L für die Prüfspule 2 über die Gleichungen (7), (5), (3) und (2) erzeugt.

Figur 6 zeigt eine weitere Verwirklichung der obigen Verfahren des Wirbelstromprüfens auf Zeitbasis.

Bei dieser Verwirklichung wird eine unabgestimmte Treiberspule 51 über einen Stromimpuls erregt und setzt zwei Resonanzkreise 52 und 53 in Schwingung über eine Kopplung 54. Jeder der Prüfsondenkreise 52 und 53 ist so abgestimmt, daß er mit einer anderen Frequenz schwingt. Die Schwingungen in den Prüfsondenkreisen werden über entsprechende Pufferverstärker (Trennstufen) 55 und 56 sowie Bandpaßfilter 57 und 58 verdoppelten Auswertungssystemen zugeführt, die den bereits beschriebenen ähnlich sind. Die Bandpaßfilter 57 und 58 ermöglichen es, daß der Kopplungsgrad zwischen den Prüfsondenkreisen 52 und 53 aufgrund ihrer räumlichen Beziehung entweder gemessen oder ggf. verworfen wird.

Ein weiterer Weg, auf welchem die Abklingrate der Schwingungen in einem Satz von Nachhai 1echos bestimmt werden kann (was nicht dargestellt ist) besteht darin, die Spannungs-Wel1enenergie von zwei Halbzyklen der Schwingungen zu integrieren, die um eine ganze Zahl von Perioden des Oszillators voneinander getrennt sind, und das Verhältnis der integrierten Halbzyklen des Spannungsverlaufes zu bestimmen.

Falls erwünscht, kann eine Extrainduktanz in Reihenschaltung zur Sondenspule oder zu den Sondenspulen zugefügt werden, um den Q-Faktor des Resonanzkreises, der die Sondenspule oder -spulen enthält, zu erhöhen.

Außerdem kann der Eingangsenergieimpuls die Form eines Spannungsimpulses annehmen, der dem Kondensator 5 anstelle eines Stromimpulses zugeführt wird.

BAD ORIGINAL

Claims

I /

PATENTANWALT - Friedrich-Ebert-Str. 27

DIPL-ING. ROLF PÜRCKHAUER ηΐαίηΤ⁹²⁸ ,

D- 5900 Siegen 1

Telefon (0271)g£t$?ß^ 31 5942 Telegramm-Anschrift: Paischub, Siegen

^KU/U 23. November 1983

United Kingdom Atomic Energy Authority ANR: 1005693
VNR: 106836

Patentansprüche

Zollverfahren zur Prüfung eines Werkstücks mittels Wirbelstörme, die innerhalb des Werkstücks erzeugt werden, dadurch gekennzeichnet, daß ein Energieimpuls einem Schwingkreis (1) übermittelt wird, der eine Sonden- oder Suchspule (2) enthält, um ihn zu veranlassen, auf den Energieimpuls hin frei nachzuhal1 en, daß die Abklingrate und die Schwingperiode der Nachhai 1echos gemessen werden und daß daraus ein Maß für die resistive und reaktive Komponente der Impedanz der Sondenspule (2) und somit der Zustand des "Werkstücks abgeleitet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abklingrate der Schwingungen durch Messen von Spitzenamplituden der Schwingungen in einem Satz von Nachhai 1echos bestimmt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abklingrate der Schwingungen durch Messen der Spitzenamplituden von aufeinanderfolgenden Schwingungen bestimmt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abklingrate der Schwingungen durch Messen des Zeitintervalls zwischen dem ersten positivgehenden Durchgang des Null-Amplitudenpegels und dem ersten negativgehenden Durchgang des Null-Amplitudenpegels, zusammen mit den Zeitintervallen zwischen dem ersten positivgehenden Durchgang des Null-Amplitudenpegels und den ersten und zweiten negativgehend'en. Durchgängen eines willkürlichen Amplituden-Grenzwertes, bestimmt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abklingrate der Schwingungen durch Integrieren der Spannungswellenform von zwei Halbzyklen der Schwingungen, die durch eine bekannte ganze Anzahl von kompletten Zyklen getrennt sind, und Messen des Verhältnisses der integrierten Halbzyklen der Spannungswellenform der Schwingungen bestimmt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abklingrate der Schwingungen durch Messen des Zeitintervalls zwischen gleichen Durchgängen von zwei Grenzwertamplituden bestimmt wird, die auf jeder Seite der mittleren Null der Schwingungen liegen, wobei diese Durchgänge der Grenzwertamplituden durch eine ganze Anzahl von kompletten Zyklen innerhalb eines gegebenen Satzes von Schwingungen innerhalb des Schwingkreises getrennt sind.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Zeitintervall dasjenige zwischen aufeinanderfol genden gleichen Durchgängen der Grenzwertamplituden ist.
8. Gerät zur Prüfung eines Werkstücks mittels Wirbelströme, die innerhalb des Werkstücks erzeugt werden, gekennzeichnet durch eine Sondenspule (2), die einen Teil eines Schwingkreises (1) bildet, durch eine Einrichtung zum Obermitteln eines elektrischen Impulses zum Schwingkreis (l),um diesen zum Nachhallen zu veranlassen, durch eine Einrichtung (9, 10, 11) zum Messen der Abklingrate der elektrischen Nachhai 1echos innerhalb des Schwingkreises (1), durch eine Einrichtung (10, 11) zum Messen der Periode der Schwingungen im Schwingkreis, sowie durch eine Einrichtung (13) zum Ableiten eines Maßes für die reaktive und resistive Komponente der Impedanz der Sondenspule (2) daraus.
9. Gerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Messen der Abklingrate der elektrischen Nachhallechos innerhalb des Schwingkreises einen Spannungsdetektor (9), einen Spannungs-Nul1durchgangsdetektor (10), einen Zeit/Digital-Wand!er (11) sowie eine Einrichtung (12) zum Synchronisieren des Zeit/Digital-Wandlers (11) mit den Schwingungen des Schwingkreises (1) aufweist.
10. Gerät nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Spannungs-Nul1durchgangsdetektor (10) so eingerichtet ist, daß er den Zeit/Digital-Wandler (11) beim ersten positivgehenden Spannungs-Nul1durchgang startet und einem Mikrorechner (13) das aufgezeichnete Zeitintervall zwischen dem ersten positivgehenden Spannungs-Nul1 durchgang und dem ersten negativgehenden Spannungs-Nul1 durchgang zuführt, und daß der Spannungsdetektor (9) so eingerichtet ist, daß er den Zeit/Digital-Wandler (11) veranlaßt, dem Mikrorechner (13) die Zeitintervalle zu übermitteln und diese aufzuzeichnen, die zwischen den Zeitpunkten verstreichen, in denen die gemessene Spannung auf einen vorbestimmten Wert das erste und das zweite Mal abklingt.
11. Gerät nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Spannungsdetektor (9) so eingerichtet ist, daß er den Zeit/Digital-Wandler (11) aktiviert, sobald eine erste Grenzwertspannung erreicht ist, und ihn anhält, wenn ein zweiter Grenzwert erreicht ist, und daß der Spannungs-Nul 1 durchgangsdetektor (10) so eingerichtet ist, daß die aufgezeichneten Zeitintervalle für zwei Perioden der Schwingungen, die durch eine bekannte ganze Anzahl von Schwingungen getrennt sind, dem Mikrorechner (13) zugeführt werden.
12. Gerät nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Spannungsdetektor (9) so eingerichtet ist, daß er die Spitzenwerte innerhalb bestimmter Zeitintervalle des Spannungssignals vom Schwingkreis (1), die ihm zugeführt werden, mißt, wobei der Ausgang des Spannungsdetektors (9) direkt dem entsprechend programmierten Mikrorechner (13) zugeführt wird, und daß der Spannungs-Nul1durchgangsdetektor so eingerichtet ist, daß er den Zeit/Digital Wandler (11) veranlaßt, die Periode der Schwingungen zu messen und die genannten Zeitintervalle zu definieren, wobei der Ausgang des Zeit/Digital-Wand!ers (11) ebenfalls dem Mikrorechner (13) zugeführt wird.
13. Gerät nach einem der Ansprüche 8 bis 12, gekenn-

zeichnet durch eine Vielzahl von Schwingkreisen unterschiedlicher Resonanzfrequenzen, wobei die Schwingkreise zusammen aktiviert werden und jeder Schwingkreis über einen entsprechenden Pufferverstärker und Bandpaßfilter in ein zugehöriges Auswertungssystem umgewandelt wird.
14. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 12, gekennzeichnet durch ein einziges Auswertungssystem, durch eine Vielzahl von Schwingkreisen, die einzeln erregt werden, sowie durch Mittel zum Verbinden, eines erregten Schwingkreises mit dem Auswertungssystem.

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