DE3307756C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterspeicher gemäß dem
Oberbegriff des Anspruches 1.
Ein solcher Halbleiterspeicher ist z. B. in der US-PS 38 10 124
beschrieben.
Fig. 1 zeigt einen Teil eines RAM-Speichers mit einem konventionellen
Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreis, bei dem
zwei Bits von Speicherzellen mit jeweils einem Transistor
und einem Kondensator pro Bit, zwei Dekoder zum Wählen dieser
Speicherzellen, einem Leseverstärker zum Verstärken von
Speicherzellendaten und zwei Pull-Down-Schaltkreisen für
zwei Wortleitungen gezeigt werden.
In Fig. 1 weist eine Speicherzelle 1 für ein Bit einen
Speicherkondensator 2 zum Speichern von Daten einer logischen
"1" oder "0" (in dieser Beschreibung bedeuten "1" oder
"0" logische Werte), wobei eine Seite des Kondensators 2
mit Masse verbunden ist, und einen Schalttransistor 3,
bei dem die erste Hauptelektrode mit der anderen Seite des
Speicherkondensators 2 verbunden ist und der liest, schreibt
oder die Daten in dem Speicherkondensator 2 aufrechterhält,
auf. Die Speicherzelle 1 weist weiter eine dem Transistor
3 zugeordnete parasitäre Kapazität 4 auf. Eine Bit-Leitung
5, die mit einer zweiten Hauptelektrode des Schalttransistors
3 verbunden ist, überträgt die Daten in der Speicherzelle
1. Ein Leseverstärker 6 zum Verstärken der Speicherzellendaten,
die in die Bit-Leitung 5 ausgelesen werden,
wird ebenfalls gezeigt. Ein Signal S zum Steuern des
Leseverstärkers 6 liegt am Anschluß 7 an. Eine Wortleitung
8 ist mit dem Gate des Schalttransistors 3 verbunden, so
daß ein Signal zur Kontrolle des ein- und abgeschalteten
Zustandes des Schalttransistors 3 an der Wortleitung 8 anliegt.
Die parasitäre Kapazität 9 ist zur Wortleitung 8 zugehörig.
Ein Dekoderschaltkreis 10 zum Dekodieren von Adressensignalen
A 1, 1, A 2, 2, . . . An, n, der zum Wählen der
Speicherzelle 1 angewendet wird, weist Anschlüsse 11, . . .
11, an die Adressensignale gelegt werden, Transistoren 12,
. . . 12, von denen jeder mit dem zugehörigen Anschluß 11
zum vom Adressensignal abhängigen Schalten verbunden ist,
wobei die Transistoren 12, . . . 12 jeweils parallel zueinander
geschaltet sind, und einen Ladetransistor 14, dessen
eine Hauptelektrode mit einer Seite jedes Transistors 12 verbunden
ist zum Aufladen eines Ausgangsknotenpunktes 13 des
Dekoderschaltkreises 10, der eine Verbindung zwischen einer
Hauptelektrode des Transistors 14 und einer Seite des Transistors
12 ist, auf. Die Gate-Elektrode des Ladetransistors
14 ist mit einem Anschluß 15 verbunden, an den ein Ladesignal
zur Steuerung des Ladetransistors 14 angelegt ist,
und die andere Hauptelektrode des Ladetransistors 14 ist
mit einem Anschluß 16 verbunden, an den eine Quellenspannung
V angelegt ist. Zwischen der Wortleitung 8 und
einem Anschluß 19, an den ein Clock-Signal Φ* angelegt ist,
ist ein Transistor 17 angeordnet, wobei das Gate des Transistors
17 mit dem Ausgangsknoten 13 im Dekoder 10 verbunden
ist. Der Transistor 17 verknüpft das Clock-Signal Φ*
mit der Wortleitung 8 abhängig von dem Pegel des Ausgangknotens
13 in dem Dekoderschaltkreis 10. Ein Kondensator
18 liegt zwischen dem Ausgangsknoten 13 in dem Dekoderschaltkreis
10 und der Wortleitung 8. Der Kondensator 18
dient als Kapazität zum Verstärken des Pegels, wenn der
Ausgangsknoten 13 im Dekoderschaltkreis 10 den Pegel "1"
aufweist und zum Übermitteln des Pegels "1" des Clock-Signales
Φ* zur Wortleitung 8 ohne Abfall wegen einer Schwellenspannung
V TH des Transistors 17. Ein Pull-Down-Schaltkreis
20 zum Erden einer nichtgewählten
Wortleitung umfaßt einen Transistor 21 zwischen der Wortleitung
8 und Masse und einen mit dem Transistor 21 über Kreuz
angeordneten Transistor 22, d. h., eine Hauptelektrode (in
diesem Fall eine Drain-Elektrode) ist mit dem Gate des Transistors
21 verbunden und die andere Hauptelektrode (in diesem
Fall eine Source-Elektrode) ist mit Masse verbunden und
ein Gate ist mit der Wortleitung 8 verbunden, und einen Ladetransistor
23 zwischen einem Anschluß 16 mit einer anliegenden
Quellenspannung V und einer Hauptelektrode des
Transistors 22, wobei ein Gate mit einem Anschluß 15, an
dem ein Clock-Signal anlegbar ist, verbunden ist.
Der Ladetransistor 23 schaltet einen Transistor 21 leitend
oder in den ON-Zustand zur Verbindung der Wortleitung 8
mit Masse, wenn die Speicherzelle 1 in einem nichtgewählten
Zustand ist. Ein Dekoderschaltkreis 24 zum Wählen der
der oben beschriebenen Speicherzelle 1 gleichen Speicherzelle
28 hat die gleiche Struktur wie der oben beschriebene
Dekoderschaltkreis 10, reagiert jedoch anders auf ein
Adressensignal. Das Bezugszeichen 25 bezeichnet einen Ausgangsknotenpunkt
des Dekoderschaltkreises 24 und das Bezugszeichen
26 bezeichnet einen zwischen einem Anschluß 19,
an den ein Clock-Signal Φ* anlegbar ist, und einer Wortleitung
27 angeordneten Transistor, der wie der oben beschriebene
Transistor 17 betrieben wird. Der Transistor 26 verbindet
die Wortleitung 27 der Speicherzelle 28 mit dem
Clock-Signal Φ* abhängig von dem Pegel des Ausgangsknotenpunktes
25 im Dekoderschaltkreis 24. Das Bezugszeichen 29
bezeichnet einen Speicherknotenpunkt in der Speicherzelle
28, das Bezugszeichen 30 eine parasitäre Kapazität der
Wortleitung 27, und das Bezugszeichen 31 einen Pull-Down-
Schaltkreis für die Wortleitung 27, der die gleiche Struktur
hat, wie der oben beschriebene Pull-Down-Schaltkreis
20.
Im folgenden wird der Betrieb eines Schaltkreises nach
Fig. 1 mit Bezug auf die Darstellung der Fig. 2 beschrieben.
Dabei wird angenommen, daß die Information "0" in der Speicherzelle
1, die Information "1" in der Speicherzelle 28
gespeichert wird und die in der Speicherzelle 1 gespeicherte
Information "0" ausgelesen werden soll.
Ein Zeitraum von t₀ bis t₁ in Fig. 2 ist für das Speichersystem
ein Vorladungszeitraum. Während des Vorladungszeitraumes
werden die jeweiligen Ausgangsknotenpunkte 13 und 25
der Dekoderschaltkreise 10 und 24 und die Gate-Elektroden
der Transistoren 21 in den Pull-Down-Schaltkreisen 20 und
31 abhängig vom Clock-Signal vorgeladen. Da in diesem
Zeitpunkt das Clock-Signal Φ * den Pegel "0" aufweist, werden
die Wortleitungen 8 und 27 durch die Transistoren 17 und 26
und die Transistoren 21 in den Pull-Down-Schaltkreisen jeweils
geerdet. Folglich ist jeder Schalttransistor 3 in
beiden Speicherzellen 1 und 28 in einem OFF-Zustand und
deshalb ist die Speicherzelleninformation in einem Haltezustand.
Wenn an die jeweiligen Anschlüsse 11 der Dekoderschaltkreise
10 und 24 ein Adresseneingangssignal zum Zeitpunkt
t₂, nachdem das Clock-Signal zum Zeitpunkt t₁ "0"
wird, angelegt wird, wird die Speicherzelle 1 gewählt.
Folglich nimmt der Ausgangsknotenpunkt 25 im Dekoderschaltkreis
24 über den Transistor 12 den Pegel "0" an, und der
Ausgangsknotenpunkt 13 im Dekoderschaltkreis 10 wird
weiter auf dem Pegel "1" gehalten. Demzufolge geht der
Transistor 26 in den OFF-Zustand, während der Transistor
17 weiter in dem ON-Zustand gehalten wird. Gleichzeitig
weisen die Wortleitungen 8 und 27 den Pegel "0" auf, da das
Clock-Signal Φ* den Pegel "0" hat und jeder Transistor 21
in den Pull-Down-Schaltkreisen 20 und 31 im ON-Zustand
ist.
Zum Zeitpunkt t₃ nimmt das Clock-Signal Φ* den Pegel "1" an
und infolgedessen wird die Wortleitung 8 über den Transistor
17 aufgeladen. Gleichzeitig nimmt trotz der Erdung
der Wortleitung 8 durch den Transistor 21 in dem Pull-Down-
Schaltkreis 20 die Spannung in der Wortleitung 8 mit Zunahme
des Clock-Signales zu, da der Widerstand im ON-Zustand des
Transistors 17 kleiner als der Widerstand im ON-Zustand
des Transistors 21 des Pull-Down-Schaltkreises 20 gemacht
wurde. Wenn die Spannung in der Wortleitung 8 die Schwellenspannung
V TH des Transistors 22 überschreitet, wird der
Transistor 22 leitend und der Transistor 21 wird nichtleitend
oder geht in den OFF-Zustand, wodurch die Spannung in
der Wortleitung 8 der Änderung des Clock-Signales Φ* folgt
und infolgedessen ansteigt. Wenn die Spannung in der Wortleitung
8 zunimmt, wird der Ausgangsknotenpunkt 13 des Dekoderschaltkreises
10 durch die Bootstrap-Kapazität 18 des
Dekoderschaltkreises 10 auf über V + V TH angehoben, wodurch
die Spannung in der Wortleitung 8 bis zum Pegel "1" (= V)
des Clock-Signales Φ* ohne Spannungsabfall in Höhe der
Schwellenspannung des Transistors 17 zunimmt. Andererseits
bleibt die Wortleitung 27 durch den Transistor 21 geerdet,
da der Transistor 26 in einem OFF-Zustand ist. Dann wird
der Transistor 3, auf die Spannung in der Wortleitung 8 reagierend,
leitfähig, so daß die Information "0" in der Speicherzelle
1 an die Datenleitung 5 ausgelesen wird. Eine
Veränderung der Spannung in der Datenleitung zu diesem Zeitpunkt
ist in Fig. 2 gezeigt. Insbesondere sind die Wortleitung
8 und die Datenleitung 5 durch eine parasitäre Kapazität
4 in der Speicherzelle 1 miteinander verbunden, und
die Spannung in der Datenleitung 5 nimmt während der Anstiegszeit
der Wortleitung 8 zu und nimmt danach allmählich
ab als Folge eines Lesesignales von der Speicherzelle 1.
Wenn das Clock-Signal S zum Zeitpunkt t₄ angelegt wird,
wird eine Feinamplitude der in der Datenleitung 5 erscheinenden
Spannung von dem Leseverstärker 6 verstärkt und
der Pegel der Datenleitung 5 wird "0", d. h. nimmt Massepotential an.
Zum Zeitpunkt t₅ ist ein Auslesevorgang der Zelle beendet
und das Clock-Signal Φ* wird "0". Gleichzeitig wird die Spannung
in der Wortleitung 8 "0". Jedoch werden zu dieser Zeit
die Wortleitung 8 und die Datenleitung 5 durch die parasitäre
Kapazität 4 in der Speicherzelle 1 miteinander verbunden,
wodurch die Spannung in der Datenleitung 5 abnimmt.
Die Spannung wird weniger als -V TH , wie in Fig. 2 gezeigt
ist. Falls die Spannung tiefer als - V TH ist, was mit dem
Zustand gleichbedeutend ist, bei dem eine Spannung, die größer
als die Schwellenspannung V TH des Schalttransistors 3 der
Speicherzelle 28 ist, zwischen Gate-Elektrode (Wortleitung
27) und einer Hauptelektrode (in diesem Fall einer Source-
Elektrode) (Datenleitung 5) des Schalttransistors 3 der
Speicherzelle 28 angelegt wird, wird der Schalttransistor
3 leitend und infolgedessen wird die in dem Speicherknotenpunkt
29 der Speicherzelle 28 gespeicherte Ladung durch den
Schalttransistor 3 entladen, so daß die Spannung im Speicherknotenpunkt
29 abnimmt (siehe Δ V in Fig. 2). Wenn der
oben beschriebene Ablauf wiederholt wird, nimmt die Spannung
in dem Speicherknotenpunkt 29 der Speicherzelle 28
allmählich ab, bis schließlich die Information "1" in "0"
geändert ist. Um das zu verhindern, wäre es vorteilhaft,
die Schwellenspannung des Schalttransistors 3 größer zu
machen, so daß der Schalttransistor 3 nur schwierig leitfähig
gesteuert werden kann. Jedoch wird bei Vergrößerung
der Schwellenspannung eine in die Speicherzelle geschriebene
Spannung um einen Betrag, der gleich der Erhöhung der
Schwellenspannung ist, kleiner. Infolgedessen tritt ein
Nachteil ein, bei dem ein Signalpegel zur Zeit des Auslesens
der Daten abnimmt.
Aufgabe der Erfindung ist es, einen Halbleiterspeicher nach dem Oberbegriff des Anspruches 1 zu
schaffen, der in der Lage ist, nachteilige Effekte als Folge
einer Störspannung von der Speicherzelle in einem gewählten
Zustand zu reduzieren, ohne die Schwellenspannung
V TH des Schalttransistors in der Speicherzelle zu ändern.
Diese Aufgabe wird durch einen Halbleiterspeicher der eingangs
beschriebenen Art gemäß den Merkmalen des kennzeichnenden
Teils des Anspruches 1 gelöst.
In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird
ein an eine Wortleitung angelegtes Clock-Signal so adaptiert,
daß der "0"-Pegel mit hoher Impedanz erzeugt wird.
Im weiteren werden Ausführungsbeispiele der Erfindung
anhand
der Figuren beschrieben. Von den Figuren zeigt
Fig. 1 einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises eines
RAM-Speichersystemes mit zwei Bit Speicherzellen
nach einer konventionellen Technik;
Fig. 2 ein Zeitdiagramm, das den Signalverlauf in jedem
Teil des in Fig. 1 gezeigten Schaltkreises zeigt;
Fig. 3 einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises eines
RAM-Speichersystemes mit zwei Bit Speicherzellen
nach einer Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 4 ein Zeitdiagramm, das den Signalablauf in jedem
Teil des Schaltkreises der Fig. 3 zeigt;
Fig. 5 ein Schaltbild mit einem Beispiel zur Herstellung
einer vorbestimmten Spannung V N in Fig. 3;
Fig. 6 ein Schaltbild mit einem Beispiel für die Erzeugung
eines Clock-Signals Φ′ in Fig. 3;
Fig. 7 ein Zeitdiagramm, das den Signalverlauf in jedem
Teil des Schaltkreises nach Fig. 6 zeigt;
Fig. 8 einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises mit
einer anderen Ausführungsform der Erfindung; und
Fig. 9 ein Schaltbild mit einer weiteren Ausführungsform
der Erfindung.
Die folgende bevorzugte Ausführungsform der Erfindung wird
anhand der Fig. 3 beschrieben. Obwohl in der Ausführungsform
nur zwei Speicherzellen benutzt werden, soll damit ein
Prinzip der Erfindung ohne Begrenzung auf solch eine Ausführungsform
verdeutlicht werden.
In Fig. 3 bedeuten gleiche Bezugszahlen wie in Fig. 1 gleiche
oder ähnliche Teile. Die Unterschiede zur Struktur
nach Fig. 1 ergeben sich dadurch, daß jede einzelne Hauptelektrode
(in diesem Fall eine Source-Elektrode) eines jeden
in dem Pull-Down-Schaltkreis 20 enthaltenen Transistors 21
und 22 mit einem Anschluß 32 verbunden ist, der mit einer
Spannungsquelle zum Liefern einer vorbestimmten Spannung V N
(in diesem Fall -V TH ), die unter Massepotential liegt und
daß auf ähnliche Weise jede Hauptelektrode (in diesem Fall
eine Source-Elektrode) jedes der in dem Pull-Down-Schaltkreis
31 enthaltenen Transistoren 21 und 22 mit dem Anschluß
32 verbunden ist, und daß das Clock-Signal Φ′ ein Clock-
Signal mit dem gleichen Zeitverhalten wie das des Clock-
Signals Φ* von Fig. 1 ist, und daß der "0"-Pegel von hoher
Impedanz ist.
Der Betrieb eines so strukturierten Speichers wird anhand
der Darstellung von Fig. 4 beschrieben.
Es wird auch angenommen, daß die Information "0" in der Speicherzelle
1 gespeichert wird, die Information "1" in der
Speicherzelle 28 gespeichert wird und die in der Speicherzelle
1 gespeicherte Information "0" ausgelesen werden soll.
Deshalb werden, da der Betrieb des grundlegenden Schaltkreises
im wesentlichen der gleiche wie in Fig. 1 ist, nur
die Unterschiede, d. h. die Spannungen in den Wortleitungen
8 und 27, beschrieben.
Während eines Zeitraumes zwischen den Zeitpunkten t₀ und t₁
in Fig. 4 sind die Wortleitungen 8 und 27 auf dem Pegel
-V TH , was eine von einer Spannungsquelle gelieferte Spannung
ist, da jeder Transistor 21 des Pull-Down-Schaltkreises 20
und 31 in einem ON-Zustand ist. Gleichzeitig nimmt auch das
Clock-Signal Φ′ den Pegel -V TH an, da die Transistoren 17
und 26 auch in einem ON-Zustand sind. Der Grund dafür ist,
daß das Clock-Signal Φ′ während dieses Zeitraumes in einem Zustand "0" mit hoher Impedanz
abgegeben wird.
Während eines Zeitraumes von t₁ bis t₃ läuft der gleiche
Betrieb wie in Fig. 1 ab. Beim Wechsel des Pegels des Clock-
Signales Φ′ von "0" nach "1" zum Zeitpunkt t₃ nimmt die
Spannung in der Wortleitung 8 allmählich über den Transistor
17 mit Zunahme des Clock-Signales Φ′ zu. Sobald die Spannung
in der Wortleitung 8 die Schwellenspannung des Transistors
22 des Pull-Down-Schaltkreises 20 überschreitet, wird der
Transistor 22 leitend und der Transistor 21 nichtleitend,
so daß die Spannung der Wortleitung 8 dem Clock-Signal Φ′
folgend auf "1" ansteigt. Obwohl die Spannung V N der Spannungsquelle
durch den Transistor 21 im Pull-Down-Schaltkreis
20 umgehend erhöht wird ehe der Pegel des Clock-Signales Φ′
von "0" nach "1" ansteigt, dient die der Wortleitung 27 zugeordnete
mit der nichtgewählten Speicherzelle 28 verbundene
parasitäre Kapazität 30 (obwohl nur eine parasitäre Kapazität
gezeigt wird, gibt es eine große Zahl von einer Anzahl
von Wortleitungen zugeordneten parasitären Kapazitäten,
z. B. 256 Wortleitungen in einem 64-K-Speicher) als große
Entkopplungskapazität über den Transistor 21 im Pull-Down-
Schaltkreis 31 und infolgedessen ändert sich die Spannung
V N kaum vom Wert -V TH . Demzufolge wird die Spannung der
Wortleitung 27 auf -V TH gehalten in Anbetracht der Tatsache,
daß der Transistor 26 im OFF-Zustand ist. Wenn die Information
"0" in der Speicherzelle 1 ausgelesen wird und das
Clock-Signal Φ′ von "1" zu "0" zum Zeitpunkt t₅ geändert
wird, wird an die Wortleitung 8 danach ein Massepegel von dem Transistor 17 mit
hoher Impedanz abgegeben. Obwohl zu dieser
Zeit die Spannung auf der Datenleitung 5 auf weniger als
-V TH abnimmt, da die Wortleitung 8 und die Datenleitung 5
über die parasitäre Kapazität 4 der Speicherzelle 1 miteinander
verbunden sind, schaltet der Schalttransistor 3 der
Speicherzelle 28 nicht in den ON-Zustand, da die Spannung
auf der Wortleitung 27 -V TH ist. Infolgedessen tritt keine
Abnahme der Spannung in dem Speicherknotenpunkt 29 der
Speicherzelle 28 auf und die Speicherzelle 28 speichert
weiter die Information "1".
Immer wenn das Clock-Signal sich von "0" nach "1" zum
Zeitpunkt t₀ verändert, wird danach der Transistor 14 des
Dekoderschaltkreises 24 leitend, ebenso der Transistor 26
und der Transistor 23 des Pull-Down-Schaltkreises 20. Deshalb
wird auch der Transistor 21 leitend und infolgedessen
ändert sich das Clock-Signal Φ′ und die Wortleitung 8 vom
Massepegel nach -V TH . Auf diese Weise kommt der Speicher in
eine Wartestellung für eine darauffolgende Operation.
Wie schon beschrieben, weist der Halbleiterspeicher einen
Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreis mit einem Transistor auf,
dessen eine Hauptelektrode mit der Wortleitung und dessen
andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle zur Lieferung
einer vorbestimmten Spannung, die tiefer als Massepegel
ist, verbunden ist. Deshalb nimmt eine Spannung auf der
Wortleitung in einer nichtgewählten Speicherzelle eine vorbestimmte
Spannung tiefer als Massepotential an. Demzufolge
wird ein nachteiliger Effekt auf eine nichtgewählte Speicherzelle
infolge von Störspannungen von einer gewählten
Speicherzelle reduziert. Damit in Einklang kann eine Schwellenspannung
des Schalttransistors der Speicherzelle klein
gehalten werden und ein aus der Speicherzelle ausgelesenes
Signal groß gemacht werden.
Fig. 5 zeigt detailliert einen Schaltkreis für eine Spannungsquelle
nach Fig. 3, zum Erzeugen einer vorbestimmten
Spannung V N , die unter Massepegel liegt. Die Spannungsquelle
kann auf dem gleichen Träger zusammen mit Speicherzellen,
Dekoderschaltkreisen und Pull-Down-Schaltkreisen ausgebildet
werden. Die Spannungsquelle nach Fig. 5 weist einen
zwischen einem Ausgang 32 und Masse angeordneten Klemmtransistor
33 zur Pegelhaltung einer Ausgangsspannung auf
-V TH , wobei die Gate-Elektrode des Transistors 33 mit Masse
verbunden ist, einen ersten gleichrichtenden Transistor 34,
dessen eine Hauptelektrode und eine Gate-Elektrode mit dem
Ausgang 32 verbunden ist, einen zweiten gleichrichtenden
Transistor 35, dessen eine Hauptelektrode und eine Gate
Elektrode mit der anderen Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden
Transistors 34 verbunden ist und bei dem die andere
Hauptelektrode mit Masse verbunden ist, und eine zwischen
dem Anschluß 38, an den ein Clock-Signal Φ C anlegbar
ist und der anderen Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden
Transistors 34 angeordnete Kopplungskapazität 37 auf.
Im folgenden wird eine Betriebsweise der Spannungsquelle
nach Fig. 5 beschrieben. Eine Schaltungsanordnung ohne Klemmtransistor
33 ist wohlbekannt. Für den Fall, daß eine Amplitude
der Spannung des Clock-Signales Φ C V ist und die Schwellenspannungen
des ersten und zweiten gleichrichtenden Transistors
34 und 35 V TH sind, erscheint am Ausgang 32 eine
negative Spannung von - (V-2V TH ). Immer wenn der Klemmtransistor
33 mit dem Ausgang 32 verbunden ist, wie in Fig.
5, fließt von Masse her ein elektrischer Strom durch den
Klemmtransistor 33 wenn die Spannung des Ausganges 32 negativer
als -V TH ist; dadurch wird die Spannung des Ausganges
32 auf dem Pegel -V TH gehalten. Insbesondere wird eine konstante
Spannung -V TH am Ausgang 32 geliefert.
Zusätzlich zeigt Fig. 6 ein Beispiel eines Clock-Signal-erzeugenden
Schaltkreises zum Erzeugen eines Clock-Signales
Φ′, wie in Fig. 3 gezeigt, das das gleiche Zeitverhalten
aufweist wie das Clock-Signal Φ* in Fig. 1; jedoch wird der
Pegel "0" mit hoher Impedanz abgegeben. In Fig. 6 ist ein Lasttransistor
41 zwischen einer Stromquelle 65 und einem Ausgang
40 zur Ausgabe eines Clock-Signales Φ′ angeordnet. Ein
Treiber-Transistor 42 einer Ausgangsstufe ist zwischen dem
Ausgang 40 und Masse angeordnet. Ein Transistor 43 zum Aufladen
einer Gate-Elektrode des Lasttransistors 41 ist zwischen
der Stromquelle und einem Knotenpunkt 45 angeordnet
und wird von dem Clock-Signal Φ D gesteuert. Ein Transistor
44 zum Entladen der Gate-Elektrode des Lasttransistors 41
ist zwischen dem Knotenpunkt 45 und Masse angeordnet. Ein
Ausgangsknotenpunkt 45 ist ein Knotenpunkt für einen Lade-
und Entladeschaltkreis mit Transistoren 43 und 44. Ein
Bootstrap-Kondensator 46 zum Anheben der Gate-Elektrode des
Lasttransistors 41 ist zwischen dem Knotenpunkt 45 und einem
Knotenpunkt 49 angeordnet. Ein Lasttransistor 47 ist ein
Transistor für eine Bootstrap-Schaltung, die die Gate-Elektrode
des Lasttransistors 41 anhebt und ist zwischen einer
Stromversorgung und dem Knotenpunkt 49 angeordnet. Ein Treiber-
Transistor 48 ist zwischen dem Knotenpunkt 49 und Masse
angeordnet. Ein Lasttransistor 50 ist in einem Verzögerungsschaltkreis
enthalten, der zum effektiven Betrieb des
Bootstrap-Schaltkreises beiträgt. Der Lasttransistor 50 wird
von einem Clock-Signal ₀ gesteuert und liegt zwischen der
Stromversorgung und dem Knotenpunkt 52. Ein Treiber-Transistor
51 ist zwischen einem Ausgangsknotenpunkt 52 und
Masse angeordnet. Bezugszeichen 53 bezeichnet einen Ausgangsknotenpunkt
eines Schaltkreises zum Bilden eines Signales,
das den Treiber-Transistor 52 zeitweise leitend schaltet.
Ein Lasttransistor ist zwischen das Clock-Signal ₀
und dem Knotenpunkt 53 angeordnet. Ein Treiber-Transistor
55 ist zwischen dem Knotenpunkt 53 und Masse angeordnet.
Ein Transistor 56 zum Aufladen der Gate-Elektrode des Lasttransistors
54 wird von dem Clock-Signal Φ₀ gesteuert und
ist zwischen der Stromversorgung und dem Knotenpunkt 58
angeordnet. Ein Transistor 57 zum Entladen der Gate-Elektrode
des Lasttransistors 54 ist zwischen Masse und dem Knotenpunkt
58 für den Lade- und Entladeschaltkreis mit den Transistoren
56 und 57 angeordnet. Ein Transistor 59 zur Steuerung
des Treiber-Transistors 55 und des Transistors 57 in
Abhängigkeit vom Clock-Signal ₀ ist zwischen einer Stromquelle
und einem Knotenpunkt 62 angeordnet. Transistor 60
zum Entladen des Knotenpunktes 62 wird in Abhängigkeit vom
Clock-Signal Φ₀ gesteuert und ist zwischen dem Knotenpunkt
62 und Masse angeordnet. Ein Transistor 61 zum Entladen des
Knotenpunktes 62 wird in Abhängigkeit von dem Clock-Signal
Φ′ gesteuert und ist zwischen dem Knotenpunkt 62 und Masse
angeordnet. 63 ist ein Anschluß, an den ein Clock-Signal Φ₀
angelegt wird, 64 ist ein Anschluß, an den ein Clock-Signal
Φ₀ angelegt wird und 65 ist ein Anschluß, an den eine
Stromquelle V angeschlossen ist.
Für den so strukturierten Clock-Signal-erzeugenden Schaltkreis
wird nun eine Betriebsweise zum Erhalten eines Clock-
Signales Φ′ anhand der Darstellung in Fig. 7 beschrieben.
Da zuerst während eines Zeitraumes zwischen den Zeitpunkten
t₀ und t₁ ein Clock-Signal ₀ den Pegel "1" und ein Clock-
Signal Φ₀ den Pegel "0" haben, hat der Knotenpunkt 45 den
Pegel "0". Der Knotenpunkt 62 wird deshalb durch den Transistor
59 geladen und nimmt den Pegel "1" an, dadurch nimmt
der Knotenpunkt 53 den Pegel "0" und der Knotenpunkt 52 den
Pegel "1" an. Da die Transistoren 41 und 42 nichtleitend
werden, ist der Ausgangsknotenpunkt 40 (als Funktion des
Clock-Signales Φ′) in einem Zustand hoher Impedanz und nimmt
den Pegel "0" an, wenn der Pegel vor t ₀ "0" ist.
Sogar wenn zum Zeitpunkt t₁ das Clock-Signal ₀ den Pegel
"0" annimmt, werden die Knotenpunkte 52 und 62 in einen Pegelzustand
"1" gehalten. Immer wenn zum Zeitpunkt t₂ das Clock-
Signal Φ₀ "1" wird, wird der Transistor 43 in Abhängigkeit
vom Clock-Signal Φ₀ leitfähig gesteuert und der Knotenpunkt
45 wird demzufolge aufgeladen, der Transistor 41 wird leitfähig
gesteuert und der Pegel des Knotenpunktes 40 nimmt zu,
so daß der Transistor 51 leitfähig gesteuert wird und der
Knotenpunkt 52 vom Zustand "1" zum Zustand "0" wechselt.
Folglich wird der Transistor 48 in den OFF-Zustand gesteuert
und der Pegel des Knotenpunktes 49 wechselt von "0" zu "1".
Dieser Wechsel wird durch den Kondensator 46 zu dem Knotenpunkt
45 übermittelt, so daß der Pegel des Knotenpunktes 45
auf über V + V TH ansteigt. Folglich steigt der Pegel des
Clock-Signales Φ′ auf V an. Andererseits wird der Knotenpunkt
58 auf den Zustand "1" durch den Transistor 56 aufgeladen
und der Transistor 54 wird leitfähig gesteuert, da
der Knotenpunkt 62 über den Transistor 60 den Pegel "0" annimmt,
so daß die Transistoren 55 und 57 nichtleitend gesteuert
werden. Da jedoch das Clock-Signal ₀ zu dieser Zeit
den Pegel "0" hat, hat der Knotenpunkt 53 immer noch den
Zustand "0". Da der Transistor 44 sogar bei einem Clock-
Signal Φ₀ vom Pegel "0" zum Zeitpunkt t₃ in einem OFF-Zustand
verbleibt, entlädt sich der Knotenpunkt 45 nicht und infolgedessen
bleibt das Clock-Signal Φ′ auf V. Immer wenn das
Clock-Signal ₀ den Zustand "1" zum Zeitpunkt t₄ annimmt,
nimmt der Knotenpunkt 45 über den Transistor 44 den Zustand
"0" an, der Transistor 42 wird leitend gesteuert als Funktion
des Clock-Signales Φ₀ über den Transistor 54 und das Clock-
Signal Φ′ wird geerdet. Immer wenn das Clock-Signal Φ′ den
Zustand "0" annimmt, wird der Transistor 61 nichtleitend gesteuert,
so daß der von dem Transistor 61 erniedrigte Pegel
des Knotenpunktes 62 ansteigt und die Transistoren 55 und
57 leitend gesteuert werden zum Zeitpunkt t₅, wodurch der
Knotenpunkt 53 den Pegel "0" annimmt. Dann nimmt das Clock-
Signal Φ′ als Reaktion auf den Zustand "0" des Knotenpunktes
53 einen Zustand "0" an, der mit hoher Impedanz erzeugt wird (siehe gestrichelte
Linie in Fig. 7). Als Ergebnis wird ein Clock-Signal mit
dem gleichen Zeitverhalten wie das Clock-Signal Φ* in Fig. 1
erhalten, wobei aber der "0"-Pegel mit hoher Impedanz erzeugt wird.
Wenn der Clock-Signal-Φ′-erzeugende Schaltkreis in dem
Schaltkreis nach Fig. 3 benutzt wird, nimmt der Spannungspegel
des Clock-Signales ′ auf -V TH ab (bis zum Zeitpunkt
t₃ und einem Zeitraum nach dem Zeitpunkt t₀ in Fig. 4). Da
jedoch die Transistoren 41 und 42 in einem Zwischenzustand
zwischen dem ON- und OFF-Zustand sind, und auf die Weise
kaum elektrischer Strom fließt, entsteht das Problem eines
Anstieges der verbrauchten Leistung nicht.
Fig. 8 zeigt einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises
mit einer anderen Ausführungsform der Erfindung, in dem nur
ein Wortleitungsschaltkreis gezeigt wird.
In Fig. 8 weist ein Pull-Down-Schaltkreis 71 einen Pull-Down-
Transistor 72, dessen eine Hauptelektrode mit einer Wortleitung
8 und dessen andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle
zum Erzeugen einer vorbestimmten Spannung V N
mit niedrigerem Potential als Masse, verbunden ist, auf.
Ein Ladetransistor 73 ist zwischen einer Stromquelle V und
einem Knotenpunkt 76 der ein Ende der Gate-Elektrode des
Pull-Down-Transistors 72 ist, angeordnet und wird in Abhängigkeit
von dem Clock-Signal gesteuert; ein Lasttransistor
74 ist zwischen der Stromversorgung und dem Knotenpunkt 76
angeordnet. Ein Treiber-Transistor ist zwischen Masse und
dem Knoten 76 angeordnet. Es werden auch ein Stromversorgungsanschluß
77, ein Anschluß 78 für ein Clock-Signal und
ein Anschluß 79 für ein Clock-Signal Φ₀ gezeigt.
Bei der so strukturierten Ausführungsform ist der Betrieb
sehr ähnlich zu dem der Ausführungsform von Fig. 4. Während
das Clock-Signal den Pegel "1" annimmt, d. h. während
einer Vorlaufzeit, wird der Ladetransistor 73 leitend gesteuert
und infolgedessen nimmt der Knotenpunkt 73 den Pegel
"1" mit V-V TH an, so daß der Pull-Down-Transistor 72 leitend
gesteuert wird und die Wortleitung 8 eine vorbestimmte
Spannung V N (in diesem Fall -V TH ) aufweist. Dann, beim Auslesen
der Speicherzelle 1, nimmt das Clock-Signal Φ₀ den
Pegel "1" an, kurz bevor eine gewählte Wortleitung 8 den
Zustand "1", nachdem das Clock-Signal vom Zustand "1" zum
Zustand "0" wechselt, annimmt. Dadurch wird die Spannung
des Knotenpunktes 76 geringfügig höher als Massepotential,
was durch das Verhältnis der ON-Widerstände des Lasttransistors
74 und des Treiber-Transistors 75 festgelegt wird.
Demzufolge ist die Impedanz des Pull-Down-Transistors 72
relativ hoch, obwohl der Pull-Down-Transistor 72 geringfügig
leitend wird, ein Zustand, der sehr nahe an dem OFF-Zustand
liegt. Als Ergebnis nimmt die Spannung zum Auslesen der gewählten
Wortleitung 8 auf ungefähr den Pegel V zu, so daß
die in der Speicherzelle 1 gespeicherte Information ausgelesen
werden kann. Die Spannung an der nichtgewählten Wortleitung
ist -V TH . Dadurch kann ein nachteiliger Effekt auf
die nichtgewählten Speicherzellen als Folge von Störsignalen
von der gewählten Speicherzelle nach Vollendung des Auslesevorganges
in der gleichen Weise wie in Fig. 3 reduziert werden,
und zusätzlich kann ein von der Speicherzelle ausgelesenes
Signal größer gemacht werden.
Fig. 9 ist ein wesentlicher Teil eines Schaltkreises mit
einer anderen Ausführungsform der Erfindung, in dem nur ein
Wortleitungsschaltkreis gezeigt wird.
In Fig. 9 weist ein Pull-Down-Schaltkreis 80 einen Pull-Down-
Transistor 81, dessen eine Hauptelektrode mit der Wortleitung 8
und dessen andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle
zur Erzeugung einer vorbestimmten Spannung V N , die
niedriger als der Massepegel ist, verbunden ist, und einen
Transistor 83 , dessen eine Hauptelektrode mit der Gate-Elektrode
des Pull-Down-Transistors 81, dessen andere Hauptelektrode
mit einem Anschluß 84 für das Clock-Signal ₁ und dessen
Gate mit einem Ausgangsknotenpunkt 13 des Dekoderschaltkreises
10 verbunden ist, auf. Das Clock-Signal ₁ wechselt vom
Zustand "1" zum Zustand "0", nachdem ein Ausgangssignal des
Dekoderschaltkreises sich ändert.
Der Betrieb des in Fig. 9 gezeigten Schaltkreises ist
ähnlich dem in Fig. 4 gezeigten. Während einer Vorlaufzeit
sind der Ausgangsknotenpunkt 13 und das Clock-Signal
₁ beide im Zustand "1" und der Zustand "1" erscheint im
Knotenpunkt 82 über den Transistor 83. Als Ergebnis wird
der Pull-Down-Transistor 81 leitfähig gesteuert und infolgedessen
nimmt die Wortleitung 8 eine vorbestimmte Spannung
V N (in diesem Fall -V TH ) an. Im folgenden wird der Fall, bei
dem die mit der Wortleitung 8 verbundene Speicherzelle gewählt
wird und der Fall, bei dem die Speicherzelle nicht
gewählt wird, beschrieben. Bei Wahl der Speicherzelle nimmt
der Ausgangsknotenpunkt des Dekoderschaltkreises 10 den Zustand
"1" an. Falls das Clock-Signal ₁ vom Zustand "1" zum
Zustand "0" zu jener Zeit wechselt, nimmt der Knotenpunkt 82
Massepotential über den Transistor 83 an, und der Pull-
Down-Transistor 81 nimmt einen Zwischenzustand zwischen den
ON- und OFF-Zuständen an, so daß sein ON-Widerstand sehr
hoch ist. Bei Wechsel des Clock-Signal-Φ-Pegels vom Zustand
"0" zum Zustand "1" zu jener Zeit, ändert sich auch der Zustand
der Wortleitung 8 vom Zustand "0" zum Zustand "1" über
den Transistor 17. Demzufolge wird die in der Speicherzelle
gespeicherte Information ausgelesen. Wenn die Speicherzelle
nicht gewählt wird, wechselt der Ausgangsknotenpunkt des
Dekoderschaltkreises 10 von "1" zu "0". Da der Transistor
83 sogar dann nichtleitend gesteuert wird, wenn das Clock-
Signal Φ₁ vom Zustand "1" zum Zustand "0" zu jener Zeit
wechselt, behält der Knotenpunkt 82 den "1"-Pegel und der
Pull-Down-Transistor 81 bleibt im ON-Zustand. Weiter hat die
Spannung der Wortleitung 8 den Pegel -V TH , da der Transistor
17 nichtleitend gesteuert wird.
Deshalb kann, da die Spannung auf der gewählten Wortleitung
8 -V TH ist, ein nachteiliger Effekt auf die nichtgewählte
Speicherzelle infolge von Störspannungen von der gewählten
Speicherzelle reduziert werden und zusätzlich ein aus der
Speicherzelle ausgelesenes Signal größer gemacht werden.
Da ein Transistor, dessen eine Hauptelektrode mit einer mit
einer Mehrzahl von Speicherzellen verbundenen Wortleitung,
dessen andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle zum
Liefern einer vorbestimmten Spannung, die niedriger als
Massepotential ist, und dessen Gate-Elektrode mit einer
Steuersignalquelle verbunden ist, vorgesehen ist, die im
vorhergehenden beschrieben wurde, hat die Erfindung einen
besonders vorteilhaften Effekt, nämlich, daß eine Spannung
auf einer Wortleitung für eine Speicherzelle in nichtgewähltem
Zustand eine vorbestimmte Spannung kleiner als
Massepotential annehmen kann, und infolgedessen ein nachteiliger
Effekt auf eine Speicherzelle in einem nichtgewählten
Zustand infolge von Störspannungen von einer gewählten
Speicherzelle reduziert werden kann.
Claims (6)
1. Halbleiterspeicher mit einer Mehrzahl von Speicherzellen,
von denen jede einen Schalttransistor mit erster und zweiter
Hauptelektrode und Gate-Elektrode, und eine mit der ersten
Hauptelektrode des Schalttransistors verbundene Speicherkapazität
aufweist, mit einer mit der zweiten Hauptelektrode des
Schalttransistors verbundenen Datenleitung zum Übertragen der
in der Speicherkapazität gespeicherten Information, einer
Signal-Quelle zum Erzeugen eines die EIN/AUS-Zustände des
Schalttransistors steuernden Clock-Signales, mit dem Gate des
Schalttransistors verbundenen Wortleitungen zum Übermitteln
des Clock-Signales, einem Dekoderschaltkreis zum Auswählen
einer der Wortleitungen zum Beaufschlagen des Gates des
entsprechenden Schalttransistors mit dem Clock-Signal und einem
Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreis, der je Wortleitung einen
Pull-Down-Transistor, dessen erste Hauptelektrode mit der
zugehörigen Wortleitung verbunden ist und dessen zweite
Hauptelektrode mit einem konstanten Arbeitspotential beaufschlagt
ist, und eine ein Steuersignal liefernde Einrichtung zum Ansteuern
des Gates des Pull-Down-Transistors, um dessen Leitfähigkeit
zu steuern, aufweist,
dadurch gekennzeichnet, daß das Arbeitspotential (V N ) durch
eine Spannungsquelle derart erzeugt wird, daß es tiefer ist
als der Pegel einer logischen "0" der durch die Datenleitung
(5) zu übertragenden Daten.
2. Halbleiterspeicher nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das an die Wortleitungen angelegte
Clock-Signal so angepaßt ist, daß der Pegel der logischen "0"
mit hoher Impedanz erzeugt wird.
3. Halbleiterspeicher nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Spannungsquelle einen Klemmtransistor
(33), dessen erste Hauptelektrode mit einem Ausgangsanschluß
(32) der Spannungsquelle und dessen zweite Hauptelektrode
und dessen Gate mit Masse verbunden sind, einen ersten
gleichrichtenden Transistor (34), dessen erste Hauptelektrode
und dessen Gate mit dem Ausgangsanschluß (32) verbunden
sind,
einen zweiten gleichrichtenden Transistor (35), dessen erste Hauptelektrode und dessen Gate mit der zweiten Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors (34) verbunden sind, und dessen zweite Hauptelektrode mit Masse verbunden ist, und eine Kopplungskapazität (37) zwischen einem Eingangsanschluß (38) der Spannungsquelle, an den ein geeignetes Signal angelegt wird, und der zweiten Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors (34) aufweist.
einen zweiten gleichrichtenden Transistor (35), dessen erste Hauptelektrode und dessen Gate mit der zweiten Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors (34) verbunden sind, und dessen zweite Hauptelektrode mit Masse verbunden ist, und eine Kopplungskapazität (37) zwischen einem Eingangsanschluß (38) der Spannungsquelle, an den ein geeignetes Signal angelegt wird, und der zweiten Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors (34) aufweist.
4. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die ein Steuersignal liefernde Einrichtung
zum Ansteuern des Gates des Pull-Down-Transistors (21)
einen Treibertransistor (22), dessen erste Hauptelektrode mit
dem Gate des Pull-Down-Transistors (21), dessen zweite Hauptelektrode
mit dem Arbeitspotential (V N ) und dessen Gate mit
der Wortleitung (8, 27) verbunden ist und
einen Ladetransistor (23), dessen erste Hauptelektrode mit einer Konstantspannungsquelle (V), dessen zweite Hauptelektrode mit der ersten Hauptelektrode des Treibertransistors (22) verbunden ist und dessen Gate mit einem Taktsignal () gekoppelt ist, aufweist.
einen Ladetransistor (23), dessen erste Hauptelektrode mit einer Konstantspannungsquelle (V), dessen zweite Hauptelektrode mit der ersten Hauptelektrode des Treibertransistors (22) verbunden ist und dessen Gate mit einem Taktsignal () gekoppelt ist, aufweist.
5. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die ein Steuersignal liefernde Einrichtung
einen Treibertransistor (75), dessen erste Hauptelektrode
mit dem Gate des Pull-Down-Transistors (72), dessen zweite
Hauptelektrode mit Masse verbunden ist, und dessen Gate mit
einem ersten Takt-Signal (Φ₀) gekoppelt ist, und
einen Ladetransistor (73), dessen erste Hauptelektrode mit
einer Konstantspannungsquelle (V), dessen zweite Hauptelektrode
mit der ersten Hauptelektrode des Treibertransistors (75) verbunden
ist, und dessen Gate an ein zweites Takt-Signal () gekoppelt
ist, und
einen Lasttransistor (74), dessen erste Hauptelektrode und dessen Gate mit der Konstantspannungsquelle (V) verbunden sind und dessen zweite Hauptelektrode mit der zweiten Hauptelektrode des Ladetransistors (73) verbunden ist, aufweist.
einen Lasttransistor (74), dessen erste Hauptelektrode und dessen Gate mit der Konstantspannungsquelle (V) verbunden sind und dessen zweite Hauptelektrode mit der zweiten Hauptelektrode des Ladetransistors (73) verbunden ist, aufweist.
6. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die ein Steuersignal liefernde Einrichtung
einen Transistor (83), dessen erste Hauptelektrode
mit dem Gate des Pull-Down-Transistors (81), dessen zweite
Hauptelektrode mit einem Anschluß (84) für ein Takt-Signal
(), dessen Gate mit einem Ausgangsknotenpunkt des Dekoderschaltkreises
verbunden ist, aufweist, wobei das Takt-Signal
() von der logischen "0" zur logischen "1" wechselt, nachdem
das Ausgangssignal des Dekoderschaltkreises wechselt.
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Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS62136919A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-19 | Mitsubishi Electric Corp | ドライバ−回路 |
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US5289432A (en) * | 1991-04-24 | 1994-02-22 | International Business Machines Corporation | Dual-port static random access memory cell |
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US6826112B2 (en) * | 2003-01-21 | 2004-11-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Low power logic gate |
US8054696B1 (en) * | 2008-03-20 | 2011-11-08 | Netlogic Microsystems, Inc. | System and method to improve reliability in memory word line |
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US9070432B2 (en) | 2013-11-12 | 2015-06-30 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Negative bitline boost scheme for SRAM write-assist |
Family Cites Families (4)
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US3810124A (en) * | 1972-06-30 | 1974-05-07 | Ibm | Memory accessing system |
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DE3307756A1 (de) | 1983-09-15 |
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