DE2950627A1 - Anordnung zur messung von oberflaechenprofilen - Google Patents
Anordnung zur messung von oberflaechenprofilenInfo
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- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
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Description
PHILIPS PATElNiTVERWALTUMG GMBH PHD 79-153
"Anordnung zur Messung von Oberflächenprofilen11
Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Messung von Oberflächenprofilen, bei der die den
Auslenkungen eines über die zu prüfende Fläche bewegten Biegeelementes proportionalen elektrischen
Spannungen nach Verstärkung einem Anzeigegerät zugeführt werden.
Derartige Anordnungen sind vielfach bekannt, so z.B. aus der DE-PS 929 877 sowie aus dem Aufsatz
"Stand der Oberflächenprüfung", erschienen in der
Zeitschrift «Fachberichte für Oberflächentechnik", 1973, Heft 1, Seiten 20 bis 23. Dabei werden als
Biegeelemente häufig Piezoelemente verwendet, die ' einen verhältnismäßig einfachen Aufbau der Anordnung
ermöglichen. Für viele Anwendungen ist es jedoch nachteilig, daß die Auflagekraft nicht konstant ist,
sondern von der Auslenkung abhängt. Dadurch sind die Anwendungsmöglichkeiten eingeschränkt, insbesondere
hinsichtlich weicherer Oberflächen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Anordnung der eingangs genannten Art zu
schaffen, bei der die Auflagekraft konstant, d.h. unabhängig von der Auslenkung ist. Besonders vorteilhaft
ist es dabei, wenn die Auflagekraft selbst einstellbar ist.
Dies geschieht erfindungsgemäß dadurch, daß das Biegeelement ein bilaminares keramisches Element
ist, das mit Mitteln zur Erzeugung einer der Auslenkung proportionalen Spannung versehen ist, die
1 30025/0450
/ PHD 79-153
mit einer Vergleichsspannung verglichen wird und die Differenzspannung nach Verstärkung dem Biegeelement
zugeführt wird. Zweckmäßigerweise bestehen diese Mittel aus Dehnungsmeßstreifen.
Die dadurch bewirkte Auslenkung bewirkt ein Nachgeben des Biegeelementes in der Auslenkungsrichtung,
wodurch die beabsichtigte Wirkung erzielt wird, nämlich die Auflagekraft unabhängig
von der Auslenkung zu halten.
Um den Gia d der Kompensationswirkung verändern zu können, ist es zweckmäßig, die Amplitude der dem
Biegeelement zugeführten Spannung einstellbar zu machen, z.B. durch Veränderung des Verstärkungsfaktors.
Vorteilhaft ist es auch, die Vergleichsspannung veränderbar zu machen, um den Einsatzpunkt
der Kompensationswirkung verändern zu können.
Anhand der Zeichnung wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung näher beschrieben. Darin zeigen:
Fig.1 den prinzipiellen Aufbau einer erfindungsgemäßen Anordnung,
Fig.2a die durch die erflndungsgemäße Anordnung
erzielte gleichmäßige Kraft in Abhängigkeit von der Auslenkung,
Fig.2b den Fall einer Uberkompensation, und
Fig.3 den Zusammenhang zwischen Auslenkung und von den Dehnungsmeßstreifen abgegebenen
Spannung.
Ein einseitig eingespanntes bilaminares Biegeelement 1, z.B. ein Piezoelement oder ein keramisches
Element aus elektrostriktiver Keramik, erfährt bei der Abtastung eines Profils P eine Auslenkung Z.
Beidseitig des Biegeelementes sind nahe bei dessen
130025/0450
PHD 79-153
Einspannstelle Dehnungsmeßstreifen 4, 5 angeordnet, die Bestandteil einer Brückenschaltung 6
sind. Eine Auslenkung des Biegeelementes verformt gleichzeitig auch die Dehnungsmeßstreifen 4 und 5
s in einander entgegengesetztem Sinne. Die Ausgangsspannung der Brückenschaltung 6 wird mit einer an
einem Spannungsteiler 7 einstellbaren Vergleichsspannung Usoll in einem Differenzverstärker 8
verglichen und kann gleichzeitig an einem Meßinstrument 10 abgelesen werden.
Die Ausgangsspannung V des Differenzverstärkers 8 wird über einen Verstärker 9 dem Biegeelement 1 als
Richtspannung V zugeführt. Je größer die Auslenkung ist, desto größer ist auch die Richtspannung,
so daß, wie Fig.2a zeigt, die Auflagekraft über einen weiten Bereich der Auslenkung
konstant bleibt. Dabei beziehen sich die Kurven a, b und c auf unterschiedliche Einstellungen des
Spannungsteilers 7. Vergrößert man den Verstärkungs faktor des Verstärkers 8 oder S, so wird auch die
Kompensationskraft vergrößert, und es kann sogar eine Überkompensation erzielt werden, wie die in
der Mitte abfallende Kennlinie nach Fig.2b zeigt.
Dies bedeutet, daß eine vergrößerte Auslenkung eJne verkleinerte Auflagekraft zur Folge hat. Dies
kann bei speziellen Meßaufgaben erwünscht sein.
Aus Fig.3 ist schließlich der Zusammenhang zwischen der Auslenkung und der von den Dehnungsmeßstreifen
abgegebenen Spannung ersichtlich. Dieser ist linear, so daß die von den Dehnungsmeßstreifen
abgegebene Spannung UDMg zur Aufzeichnung
des abgetasteten Profils geeignet ist.
130026/0460
Leerseite
Claims (5)
1.) Anordnung zur Messung von Oberflächen-
~profilen, bei der die den Auslenkungen eines über die zu prüfende Oberfläche bewegten
keramischen Elementes proportionalen elektrischen Spannungen nach Verstärkung einem
Anzeigegerät zugeführt werden, dadurch gekennzeichnet ,
daß das Biegeelement (1) ein bilaminares keramisches Element ist, das mit Mitteln zur
Erzeugung einer der Auslenkung proportionalen Spannung versehen ist, die mit einer Vergleichsspannung
(7) verglichen wird und die Differenzspannung (V) nach Verstärkung dem Biegeelement (1) zugeführt wird.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Mittel aus Dehnungsmeßstreifen (4,5) bestehen, die nahe der Einspannstelle angebracht
sind und deren der Auslenkung proportionale Widerstandsänderung in einer Brückenschaltung (6)
in eine Spannungsänderung umgewandelt wird.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennz e ic hne t,
daß das Biegeelement (1) aus elektrostriktiver Keramik besteht.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Biegeelement aus gepolter Piezokeramik besteht.
130026/OUO
ORIGINAL INSPECTED
PHD 79-153
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kompensationskraft und/oder der Verstärkungsfaktor einstellbar sind.
5
130025/0^50
Priority Applications (5)
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---|---|---|---|
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FR8026196A FR2471578A1 (fr) | 1979-12-15 | 1980-12-10 | Systeme pour mesurer des profils de surfaces |
JP17570880A JPS5694205A (en) | 1979-12-15 | 1980-12-12 | Surface profile measuring instrument |
GB8039871A GB2065892B (en) | 1979-12-15 | 1980-12-12 | Arrangement for measuring surface profiles |
US06/216,468 US4359892A (en) | 1979-12-15 | 1980-12-15 | Arrangement for measuring surface profiles |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Publications (1)
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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Country Status (5)
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---|---|
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FR (1) | FR2471578A1 (de) |
GB (1) | GB2065892B (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1051957A2 (de) * | 1999-05-12 | 2000-11-15 | Uni-Charm Corporation | Absorbierender Wegwerfartikel für Körperausscheidungen |
DE102006002616A1 (de) * | 2006-01-18 | 2007-07-26 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von dentalen Oberflächenstrukturen |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3241601A1 (de) * | 1982-08-19 | 1984-02-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Elektrisch zu betaetigendes stellglied |
DE3565131D1 (en) * | 1984-12-10 | 1988-10-27 | Rieter Ag Maschf | Apparatus for cleaning measuring rolls |
JPS6267205U (de) * | 1985-10-17 | 1987-04-27 | ||
US4776212A (en) * | 1987-06-19 | 1988-10-11 | Federal Products Corporation | Pocket surface roughness gage |
US5211051A (en) * | 1987-11-09 | 1993-05-18 | California Institute Of Technology | Methods and apparatus for improving sensor performance |
US5034645A (en) * | 1989-01-13 | 1991-07-23 | Digital Equipment Corporation | Micro-beam tactile sensor for the measurement of vertical position displacement |
JPH02240977A (ja) * | 1989-03-14 | 1990-09-25 | Toshiba Corp | 変位発生装置 |
US5266801A (en) * | 1989-06-05 | 1993-11-30 | Digital Instruments, Inc. | Jumping probe microscope |
US5085070A (en) * | 1990-02-07 | 1992-02-04 | At&T Bell Laboratories | Capacitive force-balance system for measuring small forces and pressures |
DE4013742C2 (de) * | 1990-04-28 | 1994-06-30 | Focus Mestechnik Gmbh & Co Kg | Abtastkopf für eine Maschine zum Ausmessen der Mikrooberflächenkontur von Werkstücken |
US5253516A (en) * | 1990-05-23 | 1993-10-19 | Digital Instruments, Inc. | Atomic force microscope for small samples having dual-mode operating capability |
US5092163A (en) * | 1990-06-27 | 1992-03-03 | Young Russell D | Precision small scale force sensor |
JPH05196458A (ja) * | 1991-01-04 | 1993-08-06 | Univ Leland Stanford Jr | 原子力顕微鏡用ピエゾ抵抗性片持ばり構造体 |
US5150392A (en) * | 1991-09-09 | 1992-09-22 | International Business Machines Corporation | X-ray mask containing a cantilevered tip for gap control and alignment |
USRE36488E (en) * | 1992-08-07 | 2000-01-11 | Veeco Instruments Inc. | Tapping atomic force microscope with phase or frequency detection |
US5412980A (en) * | 1992-08-07 | 1995-05-09 | Digital Instruments, Inc. | Tapping atomic force microscope |
DE69317857T2 (de) * | 1992-11-20 | 1998-08-06 | Topometrix | Linearisierungs- und Eichungssystem für einen Abtastungsapparat |
US5563458A (en) * | 1995-03-08 | 1996-10-08 | Ericson; Paul L. | Apparatus and method for sensing surface flexure |
JP3273026B2 (ja) | 1998-09-02 | 2002-04-08 | 株式会社ミツトヨ | 表面追従型測定機 |
JP7088199B2 (ja) * | 2017-09-12 | 2022-06-21 | 日本電気株式会社 | 状態判定装置、状態判定方法、及びプログラム |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2728222A (en) * | 1950-10-17 | 1955-12-27 | Leitz Ernst Gmbh | Apparatus for measuring surface irregularities |
GB763226A (en) * | 1954-05-27 | 1956-12-12 | Short Brothers & Harland Ltd | Improvements in electro-mechanical transducers |
DE1017800B (de) * | 1956-09-11 | 1957-10-17 | Paul Hoehle Dipl Phys | Geraet zur Messung von Laengenaenderungen |
US4093885A (en) * | 1976-03-19 | 1978-06-06 | Ampex Corporation | Transducer assembly vibration sensor |
US4310913A (en) * | 1979-07-26 | 1982-01-12 | Rca Corporation | Stylus tracking aid using two bimorph elements longitudinally aligned |
-
1979
- 1979-12-15 DE DE19792950627 patent/DE2950627A1/de not_active Withdrawn
-
1980
- 1980-12-10 FR FR8026196A patent/FR2471578A1/fr not_active Withdrawn
- 1980-12-12 GB GB8039871A patent/GB2065892B/en not_active Expired
- 1980-12-12 JP JP17570880A patent/JPS5694205A/ja active Pending
- 1980-12-15 US US06/216,468 patent/US4359892A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1051957A2 (de) * | 1999-05-12 | 2000-11-15 | Uni-Charm Corporation | Absorbierender Wegwerfartikel für Körperausscheidungen |
EP1051957A3 (de) * | 1999-05-12 | 2001-05-16 | Uni-Charm Corporation | Absorbierender Wegwerfartikel für Körperausscheidungen |
DE102006002616A1 (de) * | 2006-01-18 | 2007-07-26 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von dentalen Oberflächenstrukturen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4359892A (en) | 1982-11-23 |
FR2471578A1 (fr) | 1981-06-19 |
GB2065892B (en) | 1983-10-05 |
GB2065892A (en) | 1981-07-01 |
JPS5694205A (en) | 1981-07-30 |
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DE2935118C2 (de) | ||
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DE3527709C2 (de) | ||
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