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DE2853238A1 - Monolithisch integriertes zeitschaltglied - Google Patents

Monolithisch integriertes zeitschaltglied

Info

Publication number
DE2853238A1
DE2853238A1 DE19782853238 DE2853238A DE2853238A1 DE 2853238 A1 DE2853238 A1 DE 2853238A1 DE 19782853238 DE19782853238 DE 19782853238 DE 2853238 A DE2853238 A DE 2853238A DE 2853238 A1 DE2853238 A1 DE 2853238A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
differential amplifier
transistor
switch element
power stage
time switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19782853238
Other languages
English (en)
Inventor
Leslie Miskin
Edmund Dipl Ing Zaehringer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Micronas GmbH
Original Assignee
Deutsche ITT Industries GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Deutsche ITT Industries GmbH filed Critical Deutsche ITT Industries GmbH
Priority to DE19782853238 priority Critical patent/DE2853238A1/de
Publication of DE2853238A1 publication Critical patent/DE2853238A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/28Modifications for introducing a time delay before switching

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)

Description

  • Monolithisch integriertes Zeitschaltglied
  • Stand der Technik Monolithisch integrierte Zeitschaltglieder, die sowohl freilaufend ausgebildet sein können und somit Impulsoszillatoren sind, als auch derartige Zeitschaltglieder mit monostabilem Verhalten werden üblicherweise durch Ausnutzung des Kondensatorladungsprinzips realisiert. Der erforderliche Kondensator wird dabei im allgemeinen als diskretes Bauelement mit der integrierten Schaltung verbunden, da bekanntlich nur Kapazitätswerte bis zu der Größenordnung von einigen 10 nF monolithisch integrierbar sind.
  • Sollen derartige Zeitschaltglieder jedoch für Schaltzeiten in der Größenordnung von Sekunden und darüber dimensioniert werden, so erfordert dies Kapazitätswerte in der Größenordnung von Mikrofarad. Kondensatoren dieser Größe sind im allgemeinen-Elektrolytkondensat4ren, die jedoch die bekannten Nachteile haben.
  • Aufgabe Die Aufgabe der in den Ansprüchen definierten Erfindung besteht darin, ein monolithisch integriertes Zeitschaltglied für Schaltzeiten anzugeben, die größer als etwa eine Sekunde sind, zu dessen Betrieb kein Kondensator benötigt wird, d. h.
  • das nach einem anderen Prinzip arbeitet.
  • Darstellung der Erfindung Die Erfindung wird nun anhand der Figuren der Zeichnung näher erläutert.
  • Fig. 1 zeigt in- Form eines-BlockschaltbiLds:das der Erfindung zugrundeliegende Funktionsprinzip, Fig. 2 zeigt das Blockschaltbild einer'Weiterbildung der Erfindung, Fig. 3 zeigt das Blockschaltbild einer anderen Weiterbildung der Erfindung, Fig. 4 zeigt das Prinzipschaltbild einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung nach Fig. 2, und Fig. 5 zeigt das Schaltbild einer bevorzugten Ausführungsform nach Fig. 3.
  • Im Blockschaltbild der Fig. 1 ist mit dem Bezugszeichen 1 eine die'integrierte Schaltung heizende Leistungsstufe bezeichnest", die bei geschlossenem Betriebsschalter 6 wärmeerzeugend wirkt und somit zu einem mehr oder weniger langsamen oder schnellen Ansteigen der Kristalltemperatur und des Gehäuses der integrierten Schaltung führt. Auf demselben Halbleiterchip ist die Halbleiterstruktur 2 mit positivem Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters angeordnet und ebenso die Halbleiterstruktur 3 mit negativem Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters. Die von diesen beiden Halbleiterstrukturen jeweils in Abhängigkeit von der Kristalltemperatur der integrierten Schaltung erzeugte Spannung ist dem nichtinvertierenden bzw. invertierenden Eingang 41, 42 des Differenzverstärkers 4 zugeführt. Der Ausgang 43 des Differenzverstärkers 4 ist mit dem Eingang der ersten Schaltstufe 5 verbunden, deren Ausgang die Leistungsstufe 1 derart steuert, daß bei Spannungsgleichheit an den beiden Eingängen 41, 42 des Differenzverstärkers 4 der in der Leistungsstufe 1 fließende Strom stark reduziert oder abgeschaltet wird. Der Differenzverstärker 4 ist also durch die bei Umgebungstemperatur an seinen beiden Eingängen liegenden Spannungen nach einer Seite stark übersteuert. Wenn durch den Temperaturanstieg des Halbleiterkristalls infolge der Heizung durch die Leistungsstufe 1 die Spannungsdifferenz an seinen beiden Eingängen sich umpolt, wird der Differenzverstärker 4 in seinen anderen Übersteuerungszustand gesteuert und löst dadurch über die erste Schaltstufe 5 die Stromreduzierung oder -abschaltung in der Leistungsstufe 1 aus.
  • Im Blockschaltbild der Fig. 1 liegt der bereits erwähnte Be- ,, triebsschalter 6 zwischen der Leistungsstufe 1 und dem übrigen Teil der integrierten Schaltung. Durch Schließen des Betriebsschalters 6 ist also der Anfangs zeitpunkt für die mit dem Schaltglied zu realisierende Schaltzeit gegeben. Das Ende dieser Schaltzeit ist dann gegeben, wenn der Strom in der Leistungsstufe 1 in der beschriebenen Weise abgeschaltet wird.
  • Das dabei am Ausgang 43 des Differenzverstärkers 4 auftretende Signal kann zur Steuerung weiterer Stufen benutzt werden.
  • In Fig. 2 ist das Blockschaltbild einer Weiterbildung der Anordnung nach Fig. 1 gezeigt. Dabei liegt der Betriebsschalter 6' so, daß die gesamte integrierte Schaltung über ihn eingeschaltet werden kann. Ferner ist die zweite Schaltstufe 7 vorgesehen, deren Eingang ebenfalls am Ausgang 43 des Differenzverstärkers liegt und deren Ausgang mit dem nichtinvertierenden Eingang 42 verbunden- ist. Die übrigen Schaltelemente im Blockschaltbild der Fig. 2 entsprechen denen der Fig. 1.
  • Durch die zweite Schaltstufe 7 wird erreicht, daß das Potential am nichtinvertierenden Eingang 42 des Dif-ferenzverstärkers 4 auf einen Wert nahe dem Bezugspotential geklemmt wird.
  • Dadurch wird verhindert, daß, selbst wenn sich der Halbleiterkristall wieder abkühlt, die Leistungsstufe nochmals eingeschaltet wird. Durch einen anderenbWert des Klemmpotentials läßt sich das eingangs erwähnte Oszillåctorverhalten realisie- L ren.
  • In Fig. 3 ist das Blockschaltbild einer anderen Weiterbildung gezeigt, bei der die Zusatzleistungsstufe 8 vorgesehen ist, mit der bei extrem niedrigen Kristalltemperaturen zusätzlich zu der von der-Leistungsstufe 1 erzeugten Heizenergie Wärme erzeugt werden kann. Der Ausgang der zweiten Schaltstufe 7 ist in Fig. 3 mit dem invertierenden Eingang 41 des Differenzverstärkers 4 verbunden und klemmt diesen Eingang auf ein Potential in der Nähe der Betriebsspannung, so daß dadurch -ebenfalls wieder der bei Fig. 2 erwähnte Effekt erzielt werden kann.
  • In Fig. 4 ist das Schaltbild einer bevorzugten Ausführungsform -der Erfindung gezeigt. Die Leistungsstufe 1 besteht hier aus der an sich bekannten Stromübersetzerschaltung mit den beiden Transistoren 11, 12, wovon der Transistor 11 deren Ausgangstransistor ist, der die die integrierte Schaltung erwärmende Heizleistung als Produkt von Kollektorstrom mal Betriebsspannung UB erzeugt. Die Emitter- Basis-pn-Ubergangsfläche des Ausgängstransistors 11 ist dabei mindestens um eine Größenordnung größer als die des anderen Transistors 12. Basis und Kollektor dieses Transistors sind in bei Stromübersetzerschaltungen bekannter Weise miteinander verbunden und liegen an der Basis des Ausgangstransistors 11. Über den Widerstand 13 ist der im Transistor 12 fließende Strom eingestellt. Der Kollektorstrom des Ausgangstransistors 11 ist entsprechend dem Emitter-Basis-pn-Übergangsflächenverhältnis größer als dieser Strom.
  • Als Halbleiterstruktur 2 mit positivem' Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters dient im Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 der der Einfachheit halber mit dem Z-Dioden-Symbol bezeichnet, im Sperrgebiet--urchbruch betr-zèbene pn-Ubergang 21@@tri@@@@ der einerseits am Schaltungsnullpunkt und über den Vorwiderstand 22 an der Betriebsspannung UB liegt. - s Als Halbleiterstruktur 3 mit negativem Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters dient in-Fia'.--4de''r Transistor 31, dessen Emitter am Schaltungsnullpunkt und dessen Kollektor über den Widerstand 32 an der Betriebsspannung UB liegt. Die Basis-Kollektor-Strecke des Transistors 31 ri-st mit -dem Widerstand 33 und die Basis-Emitter-Strecke mit dem Widerstand 34 überbrückt. Der Transistor 31 mit den beiden Widerständen 33, 3t . " ! stellt eine an sich bekannte Schaltungsstruktur zur Multiplizierung der Basis-Emitter-Spannung eines Transistors im Verhältnis der beiden Widerstandswerte dar. Der Temperaturkoeffizient der am Kollektor des Transistors'31 abzunehmenden Spannung ist, mit dem genannten Verhältnis multipliziert, gleich dem Temperaturkoeffizienten der Basis-Emitter-Spannung.
  • Anstelle des Transistors 31 und der beiden Widerstände 33, 34 können auch eine oder mehrere seriengeschaltete Dioden dienen.
  • Der Kollektor des Transistors 31 liegt am invertierenden Eingang 42 des Differenzverstärkers 4, während am nichtinvertierenden Eingang 41 der Verbindungspunkt von Widerstand 22 und von im Sperrbereich-Durchbruch betriebenem pn-Ubergang 21 liegt.
  • Die Schaltschwelle des Differenzverstärkers 4 ist so eingestellt, daß bei einer bestimmten Kristalltemperatur die Spannungsdifferenz an seinen beiden Eingängen durch Null geht.
  • Bei nichterwärmtem Halbleiterkristall ist aufgrund des positiven Temperaturkoeffizienten die Spannung am nichtinvertierenden Eingang"41 niedriger als. bei erwärmtem Kristall. Umgekehrt ist bei nichterwärmtem Kristall die Spannung am invertierenden Eingang 42 aufgrund des negativen-- -Temperaturkoeffizienten der Schaltungsstruktur 31, 33, 34 höher als bei erwärmtem Kristall. Die Spannungsdifferenz an den beiden Eingängen 41, 42 geht also bei einer ganz estimmtenTemperatur, die durch Wahl der entsprechenden Schaltungsparameter vorgegeben werden kann, durch Null. Zu diesem Zeitpunkt wird über das Ausgangssignal des Differenzverstärkers 4 der in Emitterschaltung betriebene Transistor 51 der-ersten Schaltstufe 5 leitend gesteuert und sperrt somit den Ausgangstransistor 11 der Leistungsstufe 1. Sein Kollektor ist-ämlich direkt mit der Basis des Ausgangstransistors 11 verbunden. Gleichzeitig wird auch-der Transistor 71 der zweiten Schaltstufe 7 leitend gesteuert und klemmt somit den invertierenden Eingang 42 praktisch auf Bezugspotential, da dessen Kollektor direkt damit verbunden ist. Die dem Transistor 51 zugeordneten Widerstände 52,, 53 und die dem Transistor 71 zugeordneten Widerstände 72, 73 sind Vorspannungs- bzw. Schutzwiderstände.
  • Fig. 5 zeigt schließlich ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel entsprechend Fig. 3. Die Zusatzleistungsstufe 8 wird vom Transistor 81 gebildet, dessen B-asis am Abgriff des von den Widerständen 82, 83 gebildeten und über der Betriebsspannung UB liegenden Spannungsteilers liegt. Der Kollektor liegt am Abgriff des als Spannungsteiler ausgebildeten Widerstands 13' der Stromübersetzerschaltung 11, 12. Bei sehr niedrigen Temperaturen des Halbleiterkristalls, wie sie beispielsweise bei Verwendung eines derartigen Zeitschaltgliedes in Kraftfahrzeugen vorkommen können, fließt somit auch über den Transistor 81 ein wärmeerzeugender Strom.
  • Das erfindungsgemäße Zeitschaltglied läßt sich besonders vorteilhaft bei monolithisch integrierten Spannungsreglern für Kraftfahrzeug-Anzeigeinstrumente verwenden, um damit zu erreichen, daß die Regelschaltung zunächst nach dem Einschalten der Zündung die volle Batteriespannung an das Anzeigeinstrument gelangen läßt und erst nach der durch das Zeitschaltglied vorgegebenen Verzögerung wirksam wird und somit auf den zu regelnden Spannungswert regelt. Für eine derartige Anwendung sind diejenigen Ausführungsformen geeignet, bei denen sowohl die Leistungsstufe 1 als auch die übrigen Schaltungsteile gemeinsam über den Betriebsschalter 6' mit der Betriebsspannung UB verbunden werden, wie z. B. die Ausführungsbeispiele nach den Fig. 2, 4 und 5 zeigen. Durch die-zweite Schaltstufe ist sicher gewährleistet, daß der durch'die' Erwärmung ausgelöste Schaltzustand so lange erhalten bleibt, bis der Betriebs-.
  • schalter 6', z. B. durch Ausschalten der Zündung, wieder-geöffnet wird.
  • Durch die Erfindung ist es somit möglich, ohne kapazitive oder induktive Bauelemente allein durch geschickte Ausnutzung von temperaturabhängigen Halbleiterbauelement-Eigenschaften Zeitschaltglieder mit reproduzierbaren' Schaltzeiten zu realisieren.
  • 2 Blatt Zeichnung mit 5 Figuren L e e r s e i t e

Claims (8)

  1. Patentansprüche lonolithisch integriertes Zeitschaltglied für Zeiten, die größer als etwa eine Sekunde sind, gekennzeichnet durch folgende Merkmale; - es ist eine die integrierte Schaltung heizende Leistungs stufe (1) vorhanden, - eine Halbleiterstruktur (2) mit positivem Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters liegt zwischen dem nichtinvertierenden Eingang (41) eines Differenzverstarkers (4) und Bezugspotential, eine Halbleiterstruktur (3) mit negativem Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters liegt zwischen dem invertierenden Eingang (42) -des Differenzverstärkers (4) und Bezugspotential, - am Ausgang (43) des Differenzverstärkers (4) liegt eine erste Schaltstufe (5), deren Ausgangssignal die Leistungsstufe (1) derart steuert, daß bei Spannungsgleichheit an den beiden Eingängen (41, 42) des Differenzverstärkers (4) der in der Leistungsstufe (1) fließende Strom stark reduziert oder abgeschaltet wird.
  2. 2. Zeitschaltglied nach Anspruch 1, dadurch' gekennzeichnet, daß am Ausgang (43) des Differenzverstärkers (4) eine zweite Schaltstufe (7) liegt, deren Ausgang mit einem der beiden Eingängen (41, 42) des Differenzverstärkers (4) verbunden ist.
  3. 3. Zeitschaltglied nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterstruktur (2) mit positivem Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters ein im Sperrgebiet-Durchbruch betriebener pn-Obergang (21) und daß die Halbleiterstruktur (3) mit negativem Temperaturkoeffizienten eines Spannungsparameters ein oder mehrere in Flußrichtung betriebene pn-Obergänge sind.
  4. 4. Zeitschaltglied nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Leistungsstufe 1) durch von der übrigen Schaltung. getrenntes Einschalten ihrer Betriebs spannung (UB) einqzuschalten ist.
  5. 5. Zeitschaltglied nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Leistungsstufe (1) und die übrige Schaltung gemeinsam an die Betriebsspannung (UB) geschaltet sind.
  6. 6. Zeitschaltglied nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß als Leistungsstufe (1) der Ausgangstransistor (11) einer an sich bekannten Stromübersetzerschaltung dient, dessen Basis-Emitter-pn-Obergangsfläche mindestens um eine Größenordnung größer ist als die des zugehörigen Transistors (12), dessen Basis und Kollektor miteinander verbunden sind.
  7. 7. Zeitschaltglied nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß als erste und zweite Schaltstufe (5, 7) je ein in Emitterschaltung betriebener Transistor (51, 71) dient, daß der Kollektor des Transistors (51) der ersten Schaltstufe (5) mit der Basis des Ausgangstransistors (11) der Leistungsstufe (1) verbunden ist und daß der Kollektor des Transistors (71) der zweiten Schaltstufe (7) am invertierenden Eingang (42) des Differenzverstärkers liegt.
  8. 8. Zeitschaltglied nach Anspruch 6 oder 7,- gekennzeichnet durch einen Zusatztransistor (81) in Emitterschaltung, dessen Basis am Abgriff eines über der Betriebs spannung liegenden Spannungsteilers (82, 83) angeschlossen ist und dessen Kollektor am Abgriff des als Spannungsteiler ausgebildeten Vorwiderstandes (13') der Stromübersetzerschaltung liegt.
    9, Verwendung eines Zeitschaltglieds nach den Ansprüchen 2 oder 3 und einem der Ansprüche 5 bis 8 zur verzögerten Einschaltung des Regelverhaltens einer integrierten Spannungsregelschaltung für Kraftfahrzeug-Anzeigeinstrumente.
DE19782853238 1978-12-09 1978-12-09 Monolithisch integriertes zeitschaltglied Withdrawn DE2853238A1 (de)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2327161A (en) * 1997-07-10 1999-01-13 Ericsson Telefon Ab L M IC time delay circuit using thermal effects
WO2007012554A1 (de) * 2005-07-29 2007-02-01 Robert Bosch Gmbh Monolithisch integrierte schaltungsanordnung zur thermischen zeitbestimmung und verfahren zur bestimmung eines zeitintervalls

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