DE2845805A1 - Verfahren und vorrichtung zum messen von ionenkonzentrationen - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum messen von ionenkonzentrationenInfo
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Description
«it. inc;, ι··. λ\ττγksthokk .sooo hük(;i!kx do
I)K. K. ν. JMCCUI M Λ Νι\ -<■""" BHMiM-STHASSK S
J)IlM,. I.\(.·. K. (U) ICTZ yf
·ι·ι-:,.ι:ν na-IO.O
J-ATENTANViLTB S p„,t,OT.mt™t MdNCn=N-
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Anmelder: Olympus Optical Company Limited,
43-2, 2-Chome, Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo, Japan
Titel: Verfahren und Vorrichtung zum Messen
von Ionenkonzentrationen
909817/0934
PATENTANWÄLTE
WUESTHOFF-v.PECHMANN-BEfIKENS- GOET7, DIPL..lNG.GERHARD PÜLS (l„2.IJ7l)
(j
DIPL.-CHEM. DR. E. FREIHERR VON PECHMANN
D-8000 MÜNCHEN 90 SCHWEIGERSTRASSE 2
2845805 telefon: (089) 66 ίο ji
Telex: j24070
51 487
Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Ionenkonzentrationen
Die Erfindung "bezieht sich allgemein auf ein Verfahren
zum Messen der Ionenkonzentration einer Probenlösung durch Feststellung einer Potentialdifferenz, die zwischen
einer Ionenelektrode und einer Bezugselektrode erzeugt wird, welche in die Probenlösung eingetaucht werden, und betrifft
insbesondere ein Verfahren zum Messen der Ionenkonzentration unter gleichzeitiger Eichung oder Kompensation -von Schwankungen
eines Bezugspunktes und einer Spanne mit Hilfe von mindestens zwei Standardlösungen, die bekannte Ionenkonzentrationen
aufweisen.
Die beim Messen der Ionenkonzentration auftretenden Schwierigkeiten sind verursacht durch die Abdrift oder das
Wandern des Bezugspunktes und die Abweichung der Spanne aufgrund von Störungen, wie Schwankungen der Temperatur, Feuchtigkeit
und dgl. sowie Fluktuationen einer Spannungszufuhrquelle.
Diese Schwierigkeiten machen es nötig, den Bezugspunkt und die Spanne zu eichen oder auszugleichen. Bei bekannten
Verfahren erfolgt die Eichung mit Hilfe von mindestens zwei Standardlösungen, die bekannte Ionenkonzentratio-
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nen haben, in einer Weise, die hier unter Hinweis auf Pig. 1 näher erläutert wird.
Pig. 1 ist ein Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels einer "bekannten Ionenkonzentrationsmeßvorrichtung.
Die Vorrichtung weist eine Ionenelektrode bzw. Meßelektrode 1 und eine Bezugselektrode 2 auf, die so konstruiert sind,
daß sie wahlweise auf zu messende gegebene Ionen ansprechen. \Ienn die Elektroden 1 und 2 in eine in einem Gefäß 3 enthaltene
Lösung eingetaucht werden, die die gegebenen Ionen enthält, wird an der jeweiligen Elektrode ein Potential erzeugt
und der Unterschied zwischen diesen Potentialen oder Spannungen ist ein Maß für die Ionenkonzentration der lösung.
Dieser Potentialunterschied wird nach Verstärkung mittels eines Verstärkers 4 an eine Anzeigevorrichtung 5 angelegt,
die den Potentialunterschied in Porm der Ionenkonzentration anzeigt. Vor dem Messen muß der Bezugspunkt und die Spanne
mittels einer zwischen den Verstärker 4 und die Anzeigevorrichtung
5 geschalteten Einstellvorrichtung 6 geeicht v/erden. Die Einstellvorrichtung 6 weist üblicherweise eine Stufe zur
Signalpegelverschiebung und eine Stufe zur Verstärkungsregelung auf. In der ersten wird der Bezugspunkt unter Benutzung
der ersten Standardlösung korrigiert. Zu diesem Zweck wird die erste Standardlösung in das Gefäß 3 gefüllt und ein der
bekannten Ionenkonzentration der ersten Standardlösung entsprechender Potentialunterschied festgestellt. Das Meßniveau
für die Potentialdifferenz wird mittels der Einstellvorrichtung 6 so eingestellt, daß die Anzeigevorrichtung 5 die bekannte
Ionenkonzentration korrekt anzeigt. Als nächstes wird die Spanne mit Hilfe der zweiten Standardlösung geeicht, die
eine gleichfalls bekannte Ionenkonzentration hat, welche sich jedoch von der Ionenkonzentration der ersten Standardlösung
unterscheidet. Hierzu wird eine Potentialdifferenz, die der bekannten Ionenkonzentration der zweiten Standardlösung
entspricht, festgestellt und die Verstärkung mittels der Einstellvorrichtung 6 eingestellt, so daß die Anzeigevorrichtung
5 diese bekannte Ionenkonzentration korrekt anzeigt.
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Auf diese Weise werden Bezugspunkt und Spanne geeicht. Im
Allgemeinen sollte die Eichung des Bezugspunktes häufig erfolgen,
während die der Spanne während der Messung nicht nötig ist, weil zwar der Bezugspunkt durch das Wandern beeinträchtigt
wird, die Spanne a"ber kaum.
Das bekannte Eichverfahren hat den Nachteil, daß keine präzise Korrektur des Bezugspunktes und der Spanne möglich
ist, weil der Bezugspunkt vor der Eichung der Spanne geeicht v/erden muß, so daß die Eichung der Spanne unweigerlich zu
einer Abweichung des Bezugspunktes führt. Außerdem muß die Eichung der Spanne auf der Basis eines ungewiß gewordenen.
Bezugspunktes durchgeführt werden, der nicht exakt korrigiert worden ist. Ferner ist das Einstellen der Einstellvorrichtung
6 ziemlich mühselig, da es von Hand durchgeführt werden muß, während die auf der Anzeigevorrichtung 5 erscheinenden
Anzeigen beobachtet werden. Diesen Handbetrieb kann man zwar auch selbsttätig durchführen; aber die Automatisierung
erfordert natürlich einen sehr komplizierten Aufbau und hohe Kosten. Ferner muß beim bekannten Eichverfahren
die Einstellvorrichtung 6 während der Messung manchmal unter Benutzung sowohl der ersten als auch der zweiten Standardlösung
eingestellt werden, um den Bezugspunkt neu zu eichen. Deshalb ist ziemlich viel Zeit für die erneute Eichung beim
Messen nötig.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein verbessertes Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Ionenlconzentrationen
von Probenlösungen zu schaffen, wobei die Eichung des Bezugspunktes und der Spanne in einfacher und exakter
Weise mit Hilfe von mindestens zwei Standardlösungen erfolgt,
die bekannte Ionenkonzentrationen haben.
Die Erfindung schafft ein Ionenkonzentrationsmeßverfahren, mit dem das erneute Eichen des Bezugspunktes
während der Messung einfach und rasch unter Benutzung nur einer der Standardlösungen durchgeführt werden kann.
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vT
Ein Verfahren zum Messen der Ionenkonzentratlnnen von Probenlösungen gemäß der Erfindung sieht vor: Potentialwerte E1 und Ep festzustellen, die bekannten, unterschiedlichen
Ionenkonzentrationen a- bzw. ap von mindestens zwei
Standardlösungen entsprechen, eine Konstante c mit Hilfe der festgestellten Potentialwerte E-i und Ep und der vorher
bekannten Ionenkonzentrationen a- und ap gemäß einer Gleichung
log (a.j / a2)
zu berechnen, in einem Speicher mindestens die errechnete Konstante c, eine der bekannten Ionenkonzentrationen ak
{=β.λ oder a2) und den der gespeicherten bekannten Ionenkonzentration
a-j^. zugehörigen, festgestellten Potentialwert E^
(= E-i oder Ep) zu speichern, einen Potentialwert E festzustellen,
der einer unbekannten Ionenkonzentration a der Probenlösung entspricht, die unbekannte Ionenkonzentration
a-v gemäß der Gleichung
ax=ak.1O c
mit Hilfe der errechneten Konstante c, der bekannten Ionenkonzentration
a, und dem zugehörigen Potentialwert Ei , die
im Speicher gespeichert sind, sowie dem festgestellten Potentialwert
E„ zu errechnen und die berechnete Ionenkonzentration a der Probenlösung anzuzeigen.
Mit der Erfindung wird auch eine Vorrichtung zum Messen der Ionenkonzentrationen von Probenlösungen geschaffen,
die korrekte Ionenkonzentrationen errechnen kann und dabei die Schwankungen des Bezugspunktes und der Meßspanne auf
einfache und exakte Weise kompensiert.
Zu einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Messen der Ionenkonzentrationen von Probenlösungen gehört eine Einrichtung
zum Feststellen eines elektrischen Potentials,
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dessen Wert einer Ionenkonzentration einer Lösung entspricht, eine Einrichtung zum Voreinstellen bekannter Ionenkonzentrationen
a- und a2 von mindestens zwei Standardlösungen, die
bekannte, unterschiedliche Ionenkonzentrationen &* bzw. a2
haben, eine Einrichtung zum Errechnen einer Konstante c entsprechend der Gleichung ^ __
c= 1 '2 ,
log Ca1Za2)
wobei E^ und E2 Potentialwerte darstellen, die durch die
Peststelleinrichtung gemäß Gleichungen E^Eq+c log a., bzw.
E2=Eq+c log a2 nach dem Messen der Standardlösungen abgeleitet
wurden, eine Einrichtung zum Speichern mindestens der errechneten Konstante c, eines der festgestellten Potentialwerte Ek (=Eh oder E2) und. der dem Potentialwert E, zugehörigen
bekannten Ionenkonzentration a, , eine Einrichtung zum Zuführen der gespeicherten Werte und eines gemessenen
Potentialwerts E„, der von der Feststelleinrichtung nach dem
Hessen einer Probenlösung mit unbekannter Ionenkonzentration a abgeleitet wurde, an die Recheneinrichtung, um das Errech-
nen der unbekannten Ionenkonzentration a gemäß der Gleichung
.10
zu bewirken, und eine Einrichtung zum Erhalt der auf diese Weise errechneten, unbe]
zum Anzeigen derselben.
zum Anzeigen derselben.
Weise errechneten, unbekannten Ionenkonzentration a und
Im folgenden ist die Erfindung mit weiteren vorteilhaften Einzelheiten anhand eines schematisch dargestellten
Ausführungsbeispiels näher erläutert. In den Zeichnungen zeigt:
Pig. 1 ein Blockdiagramm einer bekannten Vorrichtung zum Messen der Ionenkonzentrationen
von Probenlösungen;
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-/■■
Pig. 2 ein Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Messen
der Ionenkonzentration.
In Fig. 2 ist ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen
Vorrichtung zum Messen der Ionenkonzentrationen von Probenlösungen als Blockdiagramm dargestellt. Die Vorrichtung
weist eine Elektrode 11 als Ionenelektrode und eine Elektrode
12 als Bezugselektrode auf, die in eine in einem Gefäß 13 enthaltene Lösung eintauchen. Zwischen den "beiden Elektroden
11 und 12 wird dann eine Potentialdifferenz erzeugt. Da eine Kombination a^is den Elektroden 11 und 12 mit der ein
oder mehrere metallische Ionen enthaltenden Lösung eine elektrochemische
Zelle bildet, stellt der Potentialunterschied . eine zu messende Menge von Ionen gegebener Art dar. Der erzeugte
Potentialunterschied wird durch einen Verstärker 14 mit hoher Eingangsimpedanz verstärkt, in einem Analog-Digital-Wandler
15 in digitale Information umgewandelt und dann
an einen arithmetischen Rechner 16 angelegt, der die gemessene
Ionenkonzentration berechnet.
Die berechnete Ionenlconzentration wird dann an eine Anzeigevorrichtung 17 gegeben, beim vorliegenden Ausführungsbeispiel eine digitale Anzeigevorrichtung, die die gemessene
Ionenkonzentration als digitalen Wert anzeigt.
Es sei erwähnt, daß die folgende sogenannte
Ifernstsche Gleichung für das Verhältnis zwischen einer Ionenkonzentration
a der Lösung und einer Potentialdifferenz E gxlt: E = E0 + c log a.
Zunächst wird eine erste Standardlösung mit bekannter Ionenlconzentration a^ in das Gefäß 13 gefüllt. Die bekannte
Ionenkonzentration a^ wird von Hand in einem voreinstellbaren
Zähler 18 eingestellt. Dann v/erden die beiden Elektroden 11 und 12 in die erste Standardlösung eingetaucht,
und zwischen ihnen wird eine Potentialdifferenz E^ erzeugt.
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In diesem Fall ergibt sich folgende Uernstsche Gleichung:
E1 = E0 + c log Z1
(1)
Dann wird nach dem Entleeren der ersten Standardlösung eine zweite Standardlösung in das Gefäß 13 gefüllt, deren Ionenkonzentration
ag auch bekannt ist. Die "bekannte Ionenkonzentration
a.o der zweiten Standardlösung wird in einem voreinstellbaren
Zähler 19 gespeichert. Die in diesem Fall erzeugte Potentialdifferenz Ep wird durch folgende Gleichung (2)
dargestellt:
E2 = E0 + c log a2 (2)
Bei den obigen beiden Gleichungen 1 und 2 ist E0 ein von
den Elektroden 11 und 12 bestimmtes konstantes Potential
und c eine Konstante, die einen Abfall einer linearen Punktion darstellt, die ein Verhältnis zwischen dem Potentialwert E und log a ausdrückt. Während des Messens der Potentialdifferenzen
E1 und E2 für die erste und zweite Standardlösung
wird ein Schalter 20 geschlossen, um eine Spannung V an ein Relais 21 anzulegen. Das Relais 21 wird dadurch erregt und
sein Relaiskontakt 22 geschlossen. Dadurch \verden die digitalen Werte der wahrgenommenen Potentialdifferenzen E1 und
E2 über den Verstärker 14, den Analog-Digital-Wandler 15
und den geschlossenen Relaiskontakt 22 an einen Speicher 23
gegeben. Dann wird unter Verwendung der im Speicher 23 gespeicherten
Potentialwerte E-j und Ep und der in den voreinsteilbaren
Zählern 18 bzw. 19 eingestellten bekannten Ionenkonzentrationen
a1 und ap die Konstante c errechnet. Hierzu
wird ein Schalter 24 geschlossen, um eine Steuereinheit 25 zu erregen, die dem arithmetischen Rechner 16 den Befehl zum
Errechnen der Konstante c gemäß folgender Gleichung 3 gibt, welche von den Gleichungen 1 und 2 abgeleitet ist:
c = E1"E2 (3)
log (a.,/a2)
Die errechnete Konstante c wird gleichfalls im Speicher 23 gespeichert. Es sei noch erwähnt, daß die Berechnung der
Konstante c in Beziehung steht zur Eichung der Meßspanne.
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Da die Spanne durch das Wandern kaum beeinträchtigt wird, braucht die einmal im Vorbereitungsstadium für die Messung
errechnete Konstante c nicht erneut berechnet zu werden.
Auf diese Weise ist die Vorbereitung für das Messen unbekannter Ionenkonzentrationen aufeinanderfolgender Probenlösungen
beendet. In diesem Zeitpunkt sind im Speicher 23 folgende Vierte gespeichert: Die errechnete Konstante c, die
bekannte Ionenkonzentration a, = a., oder a^ und der zugehörige
Potentialwert E-^. = E* bzw. Eo einer der beiden Standardlösungen.
Beim hier vorliegenden Beispiel ist die bekannte Ionenkonzentration a^. der ersten Standardlösung und der dieser
Ionenkonzentration a., entsprechende potentialwert E-i gespeichert.
Nun wird eine Probenlösung, deren Ionenkonzentration a x gemessen werden soll, in das Gefäß 13 gefüllt und die beiden
Elektroden 11 und 12 in die Lösung eingetaucht. Die erzeugte Potentialdifferenz E wird nach dem Umwandeln in einen
digitalen Wert an den arithmetischen Rechner 16 angelegt. Zwisehen
Ziehung:
Ziehung:
Zwischen den beiden Werten a und E besteht folgende
Jv Jv
Ex = E0 + c log ax (4)
Aus den beiden Gleichungen 1 und 4 wird folgende Gleichung abgeleitet:
Εχ = E1 - c log a1 + c log ax
Diese Gleichung führt zu folgender Gleichung 5, wie die nachfolgende
Operation deutlich macht:
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Ex | -X | E1-C | log a1 | C | a1 | |
Oc | ||||||
ax = 1 | 0~ | . 10 | C | |||
= 1 | . 10 | "E1 | ||||
1 · | Ex- | |||||
= a | 10 ( | |||||
Auf diese V/eise kann der Meßwert der unbekannten Ionenkonzentration
a dadurch erhalten werden, daß eine Berechnung gemäß Gleichung 5 vorgenommen wird. Hierzu wird ein Schalter
26 geschlossen, um eine Steuereinheit 27 zu erregen, die dem arithmetischen Rechner 16 den Befehl gibt, den Wert der unbekannten
Ionenkonzentration gemäß Gleichung 5 zu errechnen, wobei am arithmetischen Rechner 16 die bekannte Ionenkonzentration
a.., die gemessene Potentialdifferenz E1 und die errechnete
Konstante c anliegt, die alle im Speicher 23 gespeichert v/orden sind. Der errechnete Wert für a wird als
digitaler Wert auf der Anzeigevorrichtung 17 gezeigt. Dieser angezeigte Wert ist sowohl hinsichtlich des Bezugspunktes
als auch der Meßspanne korrekt geeicht.
Obwohl die Spanne nicht häufig geeicht zu werden braucht, wird vorzugsweise der Bezugspunkt in einem geeigneten
zeitlichen Intervall während der Messung der Probenlösungen erneut geeicht, weil der Bezugspunkt unter Umständen
durch das Wandern beeinträchtigt ist. Gemäß der Erfindung kann das erneute Eichen des Bezugspunktes in so einfacher
V/eise durchgeführt werden, daß die beiden Elektroden 11 und
12 nur in die erste Standardlösung eingetaucht werden und der Schalter 20 betätigt wird, um den Relaiskontakt 22 zu
schließen, damit die erzeugte neue Potentialdifferenz E^1
anstelle des vorher gespeicherten Wertes E1 im Speicher 23
gespeichert wird. Es sei hier noch ausdrücklich darauf hingewiesen, daß die Konstante c nicht erneut errechnet zu wer-
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den haucht.
Mit einer erneuten Berechnung gemäß Gleichung 5 unter Benutzung
des neuen Wertes E'-. statt E-] kann ein korrekterer
Wert der Ionenkonzentration a„ für die Bedingung mit dem
neugeeichten Bezugspunkt erhalten werden. Wie sich aus den Gleichungen 1, 2 und 4 ergibt, kann der Wert der Ionenkonzentration
a auch auf andere Weise erhalten werden. Gemäß diesem
Verfahren wird zunächst der Wert für Eq und c gemäß Gleichung
1 und 2 unter Benutzung der aus den Messungen der ersten und zweiten Standardlösung erhaltenen Werte E^ und Ep
berechnet, und dann werden die errechneten Werte für EQ und
c in die entsprechenden Stellen der Gleichung 4 eingesetzt, um den Wert einer unbekannten Ionenkonzentration a der Probenlösung
zu erhalten. Dies Verfahren erfordert jedoch die Benutzung sowohl der ersten als auch der zweiten Standardlösung
zum erneuten Eichen des Bezugspunktes während einer Meßserie, so daß das Verfahren zum erneuten Eichen des Bezugspunktes
umständlich ist. Das erfindungsgemäße Verfahren hingegen ist durch Benutzung der Gleichung 5 sehr einfach,
da das vorliegende Verfahren nur die Benutzung einer einzigen Standardlösung zum erneuten Eichen des Bezugspunktes während
der Messung von Probenlösungen erforderlich macht.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung eignet sich nicht nur für von Hand betätigte Einrichtungen zum Messen der Ionenkonzentration,
sondern ist auch für eine vollautomatisierte Vorrichtung unter Einschluß des Pipettierens einer
neuen Lösung und des Abzugs einer verbrauchten Probenlösung geeignet, weil die Eichungen des Bezugspunktes und der Meßspanne
durch einfaches Betätigen der Schalter 20, 24 und 26 durchgeführt werden können. Ferner ermöglicht es die erfindungsgemäße
Vorrichtung, den Bezugspunkt auf einfache V/eise und in kurzer Zeit neu zu eichen, weil nur eine der Standardlösungen
zum erneuten Eichen während einer Meßserie benötigt wird. Schließlich ermöglicht die erfindungsgemäße Vorrichtung
eine leichte und korrekte Eichung im Vorbereitungsstadium.
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Mit der herkömmlichen Vorrichtung gemäß Pig. 1 hingegen ist
eine Einstellung der Einstellvorrichtung 6 von Hand nötig.
Die Erfindung ist jedoch nicht auf das oben beschrie
bene Ausführungsbeispiel beschränkt, sondern erlaubt die verschiedensten Abwandlungen. Obwohl die Vorrichtung mit nur
einer Ionenelektrode beschrieben worden ist, kann die Erfindung z.B. auch an einer Vorrichtung angewendet werden,
die eine Vielzahl an Ionenelektroden aufweist, ohne daß dazu ein wichtiger Gesichtspunkt der Erfindung geändert werden
müßte. Die Merkmale der Erfindung, insbesondere das der leich ten Eichung des Bezugspunktes und der Meßspanne sind vorteilhafter
an einer Vorrichtung mit vielen Testobjekten. Ferner wird beim hier beschriebenen Ausführungsbeispiel die Information
mit Hilfe eines Analog-Digital-Wandlers 15 in digitaler Form verarbeitet und gespeichert; aber es kann auch eine Vorrichtung
in analoger Form verwendet werden, bei der der Analog-Digital-Wandler 15 fehlt und eine analoge arithmetische
Einheit als arithmetischer Rechner 16 und ein analoger Speicher als Speicher 23 benutzt wird und Potentiometer anstatt
der voreinstellbaren Zähler 18 und 19 vorgesehen sind, während
als Anzeigevorrichtung 17 eine analoge Anzeigevorrichtung dient. Allerdings kann in einer solchen Vorrichtung die
Anzeigevorrichtung 17 allein auch digital ausgeführt sein. Ferner können statt der bei diesem Ausführungsbeispiel benutzten
zwei Standardlösungen auch drei oder mehr Standardlösungen
zum Berechnen eines präziseren Wertes der Konstante c benutzt v/erden, um die Genauigkeit und Stabilität noch zu
verbessern. Beispielsweise kann ein Durchschnittswert einer
Vielzahl errechneter Werte für die Konstante c im Speicher gespeichert werden.
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Claims (9)
- AnsprücheVerfahren zum Hessen der Ionenkonzentration einer Lösung unter Eichung eines Bezugspunktes und einer Spanne, gekennzeichnet durch das Peststellen von Potentialwerten E1 und Ep, die bekannten, unterschiedlichen Ionenkonzentrationen a1 bzw. a2 von mindestens zwei Standardlösungen entsprechen, das Errechnen einer Konstante c mit Hilfe der festgestellten Potentialwerte E1 und Ep, sowie der vorher bekannten Ionenkonzentrationen a1 und a2 gemäß der Gleichungc= 12log Ca^a2)das Speichern mindestens der errechneten Konstante c, einer der bekannten Ionenkonzentrationen a. (=a1 oder a2) und des der gespeicherten "bekannten Ionenkonzentration a, zugehörigen, festgestellten Potentialwerts Ei C=E1 oder E2) in einem Speicher, das Peststellen eines Potentialwerts E , der einer unbekannten Ionenkonzentration av der Probenlösung entspricht, das Errechnen der unbekannten Ionenkonzentration a gemäß der Gleichungax = ak ' 1° 9 0-98 17/0934mit Hilfe der errechneten Konstante c, der bekannten Ionenkonzentration ak und ihrem zugehörigen Potentialwert Efc, die im Speicher gespeichert sind, sowie des festgestellten Potentials B , und das Anzeigen der errechneten Ionenkonzentration a der Probenlösung.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1,dadurch gekennze i chne t, daß ein Potentialwert E'k festgestellt wird, der der bekannten Ionenlconzentration a, einer der Standardlösungen entspricht, deren bekannte Ionenkonzentration mit dem zugehörigen Potentialwert im Speicher (23) gespeichert wurde, und daß der vorher gespeicherte Potentialwert E^ durch den neu festgestellten Potentialwert E'k ersetzt wird, wobei die Berechnungen der Ionenkonzentrationen nachfolgender Probenlösungen mit Hilfe des neu gespeicherten Potentialwertes Ef k durchgeführt v/erden.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß die Feststellung der gemessenen Potentialwerte, die Errechnung der Konstanten c, das Speichern der verschiedenen Werte und die Errechnung unbekannter Ionenkonzentrationen gemäß einem vorherbestimmten Programm gesteuert wird.
- 4. Vorrichtung zum Messen von Ionenkonzentrationen, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Peststeilen eines elektrischen Potentials, dessen Wert einer Ionenkonzentration einer Lösung entspricht, eine Einrichtung zum Voreinstellen bekannter Ionenkonzentrationen a., und a? von mindestens zwei Standardlösungen, die die bekannten, unterschiedlichen Ionenkonzentrationen- a- bzw. a2 haben, eine Einrichtung zum Errechnen einer Konstante c gemäß der Gleichungc = , bei der E1 und EQ Potentialwertelog Ca1A2) *sind, die von der Peststelleinrichtung gemäß Gleichungen E1 = Eq + c log a1 bzw. E2 = EQ + c log a2 nach dem Messen909817/0934der Standardlösungen abgeleitet wurden, eine Einrichtung zum Speichern mindestens der errechneten Konstante c, eines der festgestellten Potentialwerte E-^ (= E-i oder E2) und der dem Potentialwert Ek zugehörigen, bekannten Ionenkonzentration a, , eine Einrichtung zum Zuführen der gespeicherten Werte und eines von der !Feststelleinrichtung nach dem Messen einer Probenlösung mit unbekannter Ionenkonzentration a abgeleiteten, gemessenen Potentials E an die Recheneinrichtung, die die Berechnung der unbekannten Ionenkonzentration a gemäß der Gleichunga = av.ι υbewirkt, und durch eine Einrichtung zum Empfang der auf diese Weise errechneten unbekannten Ionenkonzentration a und zum Anzeigen derselben.
- 5. Vorrichtung nach Anspruch 4,dadurch gekennzeichnet, daß die 'Peststelleinrichtung eine Meßelektrode und eine Bezugselektrode aufweist, und daß das festgestellte Potential als Potentialdifferenz zwischen den an der Meßelektrode und an der Bezugselektrode erzeugten abgeleitet wird.
- 6. Vorrichtung nach Anspruch 4,dadurch gekennzeichnet, daß der Peststelleinrichtung ein Analog-Digital-Wandler (15) nachgeschaltet ist, und daß die Recheneinrichtung und die Speichereinrichtung von digitaler Ausführungsform sind.
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 4»dadurch g ekenn ζ e i chn e t, daß die Operationen der verschiedenen Einrichtungen in vorherbestimmter Weise mittels einer Einrichtung so gesteuert werden, daß die Errechnung, Meßung und Anzeige selbsttätig erfolgt.809817/ 0-9 34
- 8. Vorrichtung nach Anspruch 4,dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen zum Peststellen, Voreinstellen, Speichern und Berechnen als analoge Vorrichtungen aufgebaut sind.
- 9. Vorrichtung nach Anspruch 8,dadurch gekennzei ohne t, daß zwischen der Recheneinrichtung und der Anzeigeeinrichtung ein Analog-Digital-V/andler (15) vorgesehen ist, der die Anzeige der errechneten unbekannten Ionenkonzentration a in digitaler Form ermöglicht.9G9817/0934
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2937227A1 (de) * | 1979-09-14 | 1980-12-18 | Ulrich Knick Elektronische Mes | Verfahren zum eichen eines elektrometrischen ph-messgeraetes und eine vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
FR2482306A1 (fr) * | 1980-05-08 | 1981-11-13 | Eaux Cie Gle | Procede d'etalonnage d'appareils automatiques de mesure et dispositif pour sa mise en oeuvre |
FR2495314A1 (fr) * | 1980-09-26 | 1982-06-04 | Terumo Corp | Appareil de mesure, son procede de fabrication et procede pour inscrire des donnees dans cet appareil |
DE3437445A1 (de) * | 1984-10-12 | 1986-05-07 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren und einrichtung zur kompensation der temperaturabhaengigkeit einer elektrochemischen messzelle |
WO1992017775A1 (en) * | 1991-04-04 | 1992-10-15 | Eastman Kodak Company | Electrode calibration |
FR2677454A1 (fr) * | 1991-06-10 | 1992-12-11 | Electronique Appliquee Ste Lyo | Procede et appareil pour la mesure potentiometrique de la concentration d'une espece chimique chargee ou d'un gaz dissous. |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2929387C3 (de) * | 1979-07-20 | 1982-01-07 | Drägerwerk AG, 2400 Lübeck | Elektronische Kalibrierung elektrochemischer Sensoren |
JPS5793248A (en) * | 1980-12-01 | 1982-06-10 | Joko:Kk | Method and device for measuring ion concentration |
HU180405B (en) * | 1981-03-26 | 1983-03-28 | Nii Ex I Avtomobil Elektroobor | Device for individual feeding winding units to winding machines |
US4460967A (en) * | 1981-07-16 | 1984-07-17 | Krull Irwin H | Electronic circuit for measuring and displaying ion concentration in fluid |
DE3267802D1 (en) * | 1981-09-04 | 1986-01-16 | Hoffmann La Roche | Method and apparatus for the calibration of sensors |
US4482967A (en) * | 1981-09-18 | 1984-11-13 | Dionex Corporation | Conductivity detector and method |
JPS58109837A (ja) * | 1981-12-24 | 1983-06-30 | Olympus Optical Co Ltd | 検量線補正方法 |
JPS5951338A (ja) * | 1982-09-17 | 1984-03-24 | Horiba Ltd | 光フアイバ−結合型イオン濃度測定装置 |
JPS6021443A (ja) * | 1983-07-15 | 1985-02-02 | Nippon Paint Co Ltd | アルミニウム食品罐表面処理液のフツ酸濃度の自動測定装置 |
NL8303792A (nl) * | 1983-11-03 | 1985-06-03 | Cordis Europ | Inrichting voorzien van een op een isfet gebaseerd meetcircuit; voor toepassing in het meetcircuit geschikte isfet en werkwijze ter vervaardiging van een in het meetcircuit toe te passen isfet. |
US4627014A (en) * | 1984-04-09 | 1986-12-02 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for determination of an analyte and method of calibrating such apparatus |
US4784729A (en) * | 1986-08-29 | 1988-11-15 | Cities Service Oil And Gas Corporation | Electrochemical analysis method using corrosion probe |
DE3505342C2 (de) * | 1985-02-15 | 1995-06-22 | Wtw Weilheim | Verfahren zum automatischen Eichen eines elektrischen Meßgerätes mit potentiometrischen Meßketten, insbesondree pH-Elektroden |
US4766550A (en) * | 1985-10-30 | 1988-08-23 | Westinghouse Electric Corp. | Automatic on-line chemistry monitoring system |
EP0241601B1 (de) * | 1986-04-15 | 1990-02-07 | Yokogawa Europe B.V. | Vorrichtung zur Prüfung der Vollständigkeit einer Elektrode in einem potentiometrischen Elektrodensystem |
FR2599835B1 (fr) * | 1986-06-04 | 1988-08-26 | Bendix Electronics Sa | Procede et dispositif de mesure du niveau de la surface libre d'un liquide |
US4935875A (en) * | 1987-12-02 | 1990-06-19 | Data Chem, Inc. | Chemical analyzer |
US4956610A (en) * | 1988-02-12 | 1990-09-11 | Pgm Diversified Industries, Inc. | Current density measurement system by self-sustaining magnetic oscillation |
DE3844386A1 (de) * | 1988-12-30 | 1990-07-05 | Toshiba Kawasaki Kk | Verfahren und anordnung zur bestimmung der konzentration eines elektrolyten |
US5180968A (en) * | 1991-03-01 | 1993-01-19 | Research Foundation Of State University Of New York | Method and apparatus for compensation of double layer charging current in electrochemical cells |
US5469070A (en) * | 1992-10-16 | 1995-11-21 | Rosemount Analytical Inc. | Circuit for measuring source resistance of a sensor |
GB9726534D0 (en) * | 1997-12-17 | 1998-02-11 | Eastman Kodak Co | Determination of silver in a photographic solution |
DE19825159A1 (de) * | 1998-06-05 | 1999-12-09 | Bosch Gmbh Robert | Elektronische Schaltung |
WO2000077476A1 (de) * | 1999-06-15 | 2000-12-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Messumformer |
WO2003052387A2 (en) | 2001-12-14 | 2003-06-26 | Rosemount Analytical Inc. | A pH SENSOR WITH INTERNAL SOLUTION GROUND |
EP3356810A4 (de) | 2015-09-30 | 2018-10-31 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Fluidanalysator zur messung von magnesiumionen und verfahren zur kalibrierung eines potenziometrischen magnesiumionensensors darin |
KR102665593B1 (ko) * | 2019-03-08 | 2024-05-14 | 볼 웨이브 가부시키가이샤 | 수분 센서를 보정하기 위한 시스템, 방법 및 프로그램 |
CN112540110B (zh) * | 2020-11-30 | 2022-05-20 | 正大康地(开封)生物科技有限公司 | 一种利用离子选择性电极测定饲料中钙含量的方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4039933A (en) * | 1976-03-25 | 1977-08-02 | Instrumentation Laboratory, Inc. | Continuous calibration system and method for analytical instruments |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3600567A (en) * | 1969-03-17 | 1971-08-17 | Angstrom Inc | Method and apparatus for analog computation of concentrations |
US3824453A (en) * | 1969-11-05 | 1974-07-16 | Texas Instruments Inc | Method of determining concentrations |
US3865708A (en) * | 1969-12-22 | 1975-02-11 | Foxboro Co | Apparatus for measuring ionic concentration |
US3862895A (en) * | 1970-06-05 | 1975-01-28 | Great Lakes Instruments Inc | Self-compensating electrode system |
US4020329A (en) * | 1971-10-21 | 1977-04-26 | Austrailian Atomic Energy Commission | Apparatus for radiation dose measurement |
FI58698C (fi) * | 1974-08-05 | 1981-03-10 | Mitsui Mining & Smelting Co | System foer automatisk och kontinuerlig maetning av zink- och svavelsyrakoncentrationer i cirkulerande elektrolyt |
US3960497A (en) * | 1975-08-19 | 1976-06-01 | Beckman Instruments, Inc. | Chemical analyzer with automatic calibration |
US4060717A (en) * | 1975-10-30 | 1977-11-29 | Leco Corporation | Acid tester |
US4028534A (en) * | 1976-04-14 | 1977-06-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Automatic span circuit |
US4048041A (en) * | 1976-05-24 | 1977-09-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Electronic system for providing specificity in an electrochemical analytical device |
-
1977
- 1977-10-20 JP JP12602277A patent/JPS5459199A/ja active Pending
-
1978
- 1978-10-11 US US05/950,294 patent/US4218746A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-10-20 DE DE2845805A patent/DE2845805C2/de not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4039933A (en) * | 1976-03-25 | 1977-08-02 | Instrumentation Laboratory, Inc. | Continuous calibration system and method for analytical instruments |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2937227A1 (de) * | 1979-09-14 | 1980-12-18 | Ulrich Knick Elektronische Mes | Verfahren zum eichen eines elektrometrischen ph-messgeraetes und eine vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
FR2482306A1 (fr) * | 1980-05-08 | 1981-11-13 | Eaux Cie Gle | Procede d'etalonnage d'appareils automatiques de mesure et dispositif pour sa mise en oeuvre |
FR2495314A1 (fr) * | 1980-09-26 | 1982-06-04 | Terumo Corp | Appareil de mesure, son procede de fabrication et procede pour inscrire des donnees dans cet appareil |
DE3437445A1 (de) * | 1984-10-12 | 1986-05-07 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren und einrichtung zur kompensation der temperaturabhaengigkeit einer elektrochemischen messzelle |
WO1992017775A1 (en) * | 1991-04-04 | 1992-10-15 | Eastman Kodak Company | Electrode calibration |
FR2677454A1 (fr) * | 1991-06-10 | 1992-12-11 | Electronique Appliquee Ste Lyo | Procede et appareil pour la mesure potentiometrique de la concentration d'une espece chimique chargee ou d'un gaz dissous. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4218746A (en) | 1980-08-19 |
DE2845805C2 (de) | 1983-10-06 |
JPS5459199A (en) | 1979-05-12 |
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