DE2832239A1

DE2832239A1 - INDEPENDENT TEST DEVICE

Info

Publication number: DE2832239A1
Application number: DE19782832239
Authority: DE
Inventors: Edward Paul Harris
Original assignee: ATE SYST Ltd
Current assignee: ATE SYST Ltd
Priority date: 1977-07-22
Filing date: 1978-07-21
Publication date: 1979-02-08
Also published as: NL7807793A; JPS5434650A; SE7807820L; IT1104934B; DK318978A; FR2425079A1; GB2002908B; GB2002908A; IT7883433A0

Description

Beschreibung :Description :

Die Erfindung betrifft eine selbsttätige Testeinrichtung im wesentlichen, jedoch nicht ausschließlich, bestimmt für die Untersuchung und Kontrolle gedruckter Schaltungen, in welchen eine Anzahl von Testpunktanschlüssen vorgesehen sind, wobei die Anschlüsse durch die Einrichtung abgetastet werden, um zu bestimmen, ob der Parameter an einem bestimmten Testpunkt annehmbar ist. Obwohl die nachfolgende Beschreibung zum besseren Verständnis eine Einrichtung zum Testen von gedruckten Leiterplatten erläutert, ist herauszustellen, daß die Einrichtung auch allgemein verwendet werden kann, wo es erforderlich ist, eine Bewertung von Parametern an einer Anzahl von Testpunkten durchzuführen, die von einer Vorrichtung abgeleitet werden können, die im einzelnen nicht Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist.The invention relates to an automatic test device essentially, but not exclusively, intended for Examination and control of printed circuits in which a number of test point connections are provided, whereby the terminals are scanned by the device to determine if the parameter is at a particular test point is acceptable. Although the following description provides an apparatus for testing printed circuit boards for a better understanding explained, it should be emphasized that the device can also be used in general, where it is necessary perform an assessment of parameters at a number of test points derived from a device can, which is not the subject of the present invention in detail.

Es sind bereits Testeinrichtungen für Leiterplatten bekannt, wobei unter Verwendung von unter Federdruck stehenden Stiften Verbindungen zu verschiedenen Schienen auf einer Platte hergestellt und die an einem bestimmten Punkt auftretenden Parameter in bezug auf einen vorbestimmten "Ziel"-Grenzwert bewertet werden. Eine logische Bewertung macht es erforderlich, daß die Vorrichtung bestimmt, ob der zu untersuchende Parameter sich zwischen einer oberen und einer unteren Grenze bewegt, von denen jede für jeden zu untersuchenden Testpunkt definiert werden muß. Bei einer bekannten Vorrichtung wird jeder Testpunkt an eine handverdrahtete Spannungsteilerschaltung angeschlossen, deren Widerstände solche Werte haben, daß sie die Testspannung auf eine Spannung vermindern, die der Einrichtung zugänglich ist. Bei einer derartigen Einrichtung ist es erforderlich, die Matrizenplatte für jede Leiterplatte und für jeden hierauf befindlichen Testpunkt von Hand zu verdrahten. Die Verdrahtung und die Berechnung der erforderlichen Widerstandswerte verkompliziert diese Aufgabe und macht geschultes Betriebspersonal erforderlich.Circuit board testers are known in which spring loaded pins are used to make connections to various rails on a board and to evaluate the parameters occurring at a given point with respect to a predetermined "target" limit. A logical evaluation requires that the device determine whether the parameter to be examined is between an upper and a lower limit, each of which must be defined for each test point to be examined. In one known device, each test point is connected to a hand-wired voltage divider circuit, the resistances of which have values such that they reduce the test voltage to a voltage accessible to the device. With such a device it is necessary to wire the die plate by hand for each printed circuit board and for each test point located thereon. Wiring and calculating the required resistance values complicates this task and requires trained operating personnel.

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Die US-PS 3 801 012 beschreibt eine Vorrichtung, bei welcher die Handverdrahtung auf ein System reduzie± wird, durch das die verschiedenen Werte in die Einrichtung unter Verwendung eines Binärsystems programmie± werden können, mit Programmierdioden, die angeschlossen sind, um das jeweilige Niveau oder andere Funktionen für den jeweiligen Testpunkt zu bestimmen. Diese Anordnung macht Berechnungen überflüssig und vereinfacht das Programmieren der Einrichtung, wobei jedoch nach wie vor Schulung und Übung für den Programmierer erforderlich ist, um die erforderlichen Programmplatten für die einzelnen gedruckten Schaltungen zusammenzustellen.U.S. Patent 3,801,012 describes an apparatus in which the manual wiring is reduced to a system by using the various values in the facility a binary system can be programmed with programming diodes, which are connected to determine the respective level or other functions for the respective test point. This arrangement eliminates the need for calculations and simplifies programming of the device, but still does Training and practice is required for the programmer to compile the necessary program boards for the individual printed circuits.

Es ist auch noch zu erwähnen, daß eine selbsttätige Testeinrichtung mit berechnenden Bastandteilen ebenfalls bekannt ist, wobei sich jedoch die Verbindung auf eine Einrichtung bezieht, die stufenförmig (bench top) aufgebaut sein kann und im Vergleich mit herkömmlichen Comuputersystemen tragbar ist und kein Programmieren durch einen herkömmlichen Rechner erfordert. Der wesentliche Betriebsnachteil der oben erwähnten Systeme liegt darin, daß ein handverdrahtetes Programm oder eine Maschinensprachensoftware in irgendeiner Form für jede gedruckte Leiterplatte, die untersucht werden soll, zusammengestellt werden muß und außerdem jedes Programm überprüft werden muß, um zu bestimmen, ob irgendwelche Fehler in der Verdrahtung oder der Softwarekompilierung vorhanden sind. Wenn ein Programmieren und ein Reprogrammieren mit Hilfe der Hardware der Einrichtung durchgeführt wird, muß dies notwendigerweise in der Werkstatt zusammen mit den zu testenden Schaltungen ausgeführt werden. Je größer die Anzahl der durch die Einrichtung zur Verfugung gestellten Angaben ist, wie z.B. Spannungsniveaus, Signalerzeugungseinrichtungen, Digitalsignalgeneratoren und ähnliches, um so komplexer wird das Programmieren mit dem Ergebnis, daß die ursprünglich einfache Einrichtung kompliziert und schwierig einzusetzen oder einem speziellen Testbetrieb anzupassen ist.It should also be mentioned that an automatic test device with calculating bastand parts is also known, however, the connection relates to a device which can be built up in stages (bench top) and in comparison is portable with conventional computer systems and does not require programming by a conventional computer. The major operational disadvantage of the above-mentioned systems is that a handwired program or machine language software compiled in some form for each printed circuit board to be examined must be and also every program must be checked, to determine if there are any wiring or software compilation errors. When programming and reprogramming is carried out with the aid of the hardware of the device, this must necessarily be done in the workshop be executed together with the circuits to be tested. The greater the number made available by the facility Information is such as voltage levels, signal generating devices, Digital signal generators and the like, the more complex the programming becomes, with the result that the originally simple setup is complicated and difficult to use or to adapt to a special test operation.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine selbsttätige ' Testeinrichtung zu schaffen, mittels welcher das ProgrammierenThe invention is based on the object of creating an automatic test device by means of which programming

für eine spezielle gedruckte Schaltplatte oder eine andere Vorrichtung in einer einfachen V/eise durchzuführen ist, ohne Har.dverdrahtung, um eine Programmierfunktion aufzustellen. Weiterhin soll nach der Erfindung eine Einrichtung geschaffen werden, bei welcher die gesamte Programmfolge für eine spezielle gedruckte Schaltung auf einem geeigneten Medium, wie beispielsweise einem Magnetband oder ähnlichem gespeichert wird, welches alle Informationen enthält, die erforderlich sind, um bestimmte Testserien für eine vorgegebene Schaltung durchzuführen.for a special printed circuit board or other device can be carried out in a simple manner without Har. Wiring to set up a programming function. Furthermore, a device is to be created according to the invention, in which the entire program sequence for a special printed circuit is stored on a suitable medium such as magnetic tape or the like, which contains all the information required to carry out certain series of tests for a given circuit.

Es soll auch eine Einrichtung geschaffen werden, bei welcher eine große Zahl von Untersuchungsangaben möglich ist, wobei die Programmieranordnung in einer solchen Weise organisiert ist, daß die zusätzlichen Angaben während einer Programmierphase ohne Schwierigkeit abgerufen werden können.A device is also to be created in which a large number of examination information is possible, with the Programming arrangement is organized in such a way that the additional information during a programming phase can be accessed without difficulty.

Schließlich soll eine Einrichtung geschaffen werden, die keine herkömmlichen Rechnerverfahren erfordert unter Einsatz von Kensch-Kaschinensprachen während des Programmierungsverfahrens und die gesamte Kompilierung in elektrischen Standardbegriffen gestattet.Finally, a device is to be created that does not require conventional computing methods using Kensch machine languages during the programming process and all compilation permitted in standard electrical terms.

Besondere Vorteile, Merkmale und Eigenheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform anhand der beigefügten Zeichnungen. Dabei zeigt im einzelnen:Particular advantages, features and peculiarities of the invention emerge from the following description of a preferred one Embodiment based on the accompanying drawings. It shows in detail:

Fig. la eine vereinfachte Darstellung der erfindungsgemäßen Testeinrichtung während der Testphase,1a shows a simplified representation of the test device according to the invention during the test phase,

Fig. Ib eine vereinfachte Darstellung der Einrichtung während der Programmierphase,Fig. Ib shows a simplified representation of the device during the programming phase,

Fig. 2 einen Plan eines Anzeigepultes,2 shows a plan of a display desk,

Fig. 3Fig. 3

und 3a Beispiele für die Anzeige während desand 3a examples of the display during the

.Programmierens,Programming,

Fig. 4 eine vollständige Leitprogrammfolge fürFig. 4 shows a complete program sequence for

einen Testpunkt sowie die Anzeige für jeden Schritt,a test point and the display for each step,

Fig. 5 eine schematische Darstellung der Funktionen während des Programmierens undFig. 5 is a schematic representation of the functions during programming and

Fig. 6 eine schematische Darstellung der Funktionen während einer Testphase.6 shows a schematic representation of the functions during a test phase.

Die Fig. la und Ib zeigen eine sehr vereinfachte schematische Darstellung einer selbsttätigen Testeinrichtung gemäß der Erfindung, wobei die Grundfunktionen während einer Testphase (Fig. la) und während einer Programmierphase (Fig. Ib) gezeigt sind.Figs. La and Ib show a very simplified schematic Representation of an automatic test device according to the invention, the basic functions during a test phase (Fig. La) and during a programming phase (Fig. Ib) are.

zu Wie zunächst aus Fig. la zu ersehen ist, ist die/untersuchende Schaltung 1 an die Einrichtung über eine Anzahl von Verbindungsleitungen 2 angeschlossen. Bei gedruckten Schaltungen kann jede Leitung mit einem unter Federdruck stehenden Kontaktstift ausgerüstet sein, der gegen eine leitende Spur auf der gedruckten Schaltung drückt. Die Anschlüsse werden über ein Koppelsystem 3 geführt und laufen in einem Meßstellenabtaster 4 aus, der gesteuert werden kann, um eine der Leitungen auszuwählen und das Signal einem Eingangsrechner 5 zuzuführen. Der Rechner 5 steuert den Weg des Eingangssignals von dem Testpunkt, der entweder direkt ausgewählt ist, oder über eine Reihe von Umrichtern-6, 7 oder 8 bis zu einem Gleichstromverstärker 9. Einige Umrichter vermögen von dem ausgewählten Eingangstestpunkt ein Gleichstromsignal abzuleiten, das einem bestimmten Parameter gleich ist, wobei der Umrichter 6 die Widerstandsmessung, der Umrichter 7 die Viechseistrommessung und der Umrichter 8 die Messung der Frequenz, der Zählung oder Zeit durchführt. Der Umrichter 8 besitzt einen Digitalausgang und umgeht die nach-to As can be seen first from Fig. la, the / examining Circuit 1 is connected to the device via a number of connecting lines 2. In the case of printed circuits, anyone can Line be equipped with a spring-loaded contact pin that is against a conductive trace on the printed Circuit pushes. The connections are made via a coupling system 3 and run out in a measuring point scanner 4, which is controlled can be to select one of the lines and feed the signal to an input computer 5. The computer 5 controls the path of the input signal from the test point, which is either selected directly or via a series of inverters-6, 7 or 8 up to a DC amplifier 9. Some inverters can input from the selected input test point Derive a direct current signal that is equal to a certain parameter, the converter 6 measuring the resistance, the Converter 7 carries out the Viechseistrommessung and the converter 8 carries out the measurement of frequency, counting or time. Of the Inverter 8 has a digital output and bypasses the subsequent

folgenden Gleichstromverarbeitungsstufen.following DC processing stages.

Dsr Signalausgang von dem Verstärker 9 wird über einen Analogzu-Digital-Umsetzer 10 geführt, und der Digitalausgang wird dann dem Testsystemrechner 11 zugeführt, womit eine Testschaltung gebildet wird, in welcher der elektrische Parameter, der von dam ausgewählten Testpunkt der Schaltung 1 abgeleitet ist, beurteilt wird, in bezug auf eine Definition dieses Parameters, um zu bestimmen, ob dieses Testpunktsignal annehmbar ist oder nicht. Der Rechner 11 zeigt ein Ergebnis für die nachfolgend erforderliche Behandlung, wie beispielsweise in einem einfachen Fall "Annahme" oder "Verwurf" oder gemäß einer bevorzugten Anordnung zu einer Anzeige 12 der Fehlerstelle und der Art der Abweichung.The signal output from the amplifier 9 is via an analog-to-digital converter 10 out, and the digital output is then fed to the test system computer 11, whereby a test circuit is formed, in which the electrical parameter derived from the test point of the circuit 1 selected is judged with respect to a definition of that parameter to determine whether this test point signal is acceptable is or not. The calculator 11 shows a result for the treatment required below, such as in a simple case "acceptance" or "discard" or according to a preferred arrangement to a display 12 of the fault location and the Type of deviation.

Der Gesamtbetrieb der Einrichtung unterliegt der Steuerung eines Leitprogrammes 20, welches für jeden Testpunkt eine Anzahl selektierbarer Funktionen verfügbar hält und von welchem ein spezielles Programm kompiliert wird, das für eine besondere zu untersuchende Schaltung eindeutig ist und welches die zulässigen Datenwerte in bezug auf die verschiedenen Funktionen, die während der Testfolge abgerufen werden, definiert. Das für die zu untersuchende Einheit spezielle Programm wird über ein Magnetband 13 zugeführt, wobei aweckmäßigerweise die Information des Magnetbandes auf einen Arbeitsspeicher 14 übertragen werden kann. Grundsätzlich wird die Einrichtung über Ableitungen des Leitprogrammes gesteuert, welches aus einer Anzahl von "Datenblöcken" besteht, wobei jeder Datenblock Funktionen darstellt, die zu dem jeweiligen in eine Testfolge eingeschlossenen Testpunkt in Beziehung stehen. Das spezielle Programm enthält die Datenblöcke, die für einen Test erforderlich sind und verkörpert die jeweiligen Daten, die erforderlich sind, um die Datenblockinformation zu vervollständigen. Das Programm 12a besitzt somit einen Ausgang F, der so verläuft, daß er bestimmte Einheiten abruft, die für den Test erforderlich sind und einen Ausgang V, von welchem bestimmte Werte erhalten werden, um den Betrieb der abgerufenen EinheitenThe overall operation of the facility is subject to control a control program 20, which for each test point a number selectable functions available and from which a special program is compiled, which for a special the circuit to be examined is unambiguous and what the permissible data values in relation to the various functions, which are retrieved during the test sequence. The special program for the unit to be examined is carried out via a Magnetic tape 13 supplied, with the information of the magnetic tape being transferred to a working memory 14 aweckweise can be. Basically, the facility is controlled via derivatives of the master program, which consists of a number of "data blocks", each data block representing functions that are related to the respective in a test sequence included test point are related. The special program contains the data blocks that are required for a test are and embodies the respective data required to complete the data block information. That Program 12a thus has an output F, which proceeds in such a way that it calls up certain units which are required for the test and an output V, from which certain values are obtained for the operation of the retrieved units

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einzustellen.to adjust.

Unter "Funktion" wird hier nicht nur die Untersuchung eines elektrischen Parameters, abgeleitet von oder bei einem Punkt, verstanden, sondern auch die Energiezufuhr oder die Testsignale in die zu untersuchende Schaltung. Somit ist eine Energieversorgungseinheit 15 oder ein Signalgenerator 16 oder auch eine äußere Einheit 17 abrufbar und kann durch das Programm 12a zweckmäßig eingestellt werden. Diese Anordnung hat den Vorteil, daß ein großer Bereich von Zusatzangaben und Untersuchungen verfügbar gemacht werden kann durch die entsprechenden Datenblöcke in dem Programm , die in die Einrichtung eingesetzt sind und die, wie angestrebt, alle für jeden Testpunkt verfügbar sind. Das spezielle Programm definiert die Datenblöcke, die erforderlich sind, was, wie nachfolgend beschrieben, aufgebaut ist, um dadurch eine Handverdrahtung eines Programms der Einrichtung selbst zu vermeiden, welche mit zunehmender Zahl von Zusatzinformationen für die Untersuchung komplex wird. Darüber hinaus erübrigt die Art oder der Aufbau die Notwendigkeit Software zur Maschinensteuerung zu kompilieren und jede Notwendigkeit irgendeiner Form von Mensch- Maschinensprache."Function" does not only mean the investigation of one electrical parameters, derived from or at a point, understood, but also the energy supply or the test signals into the circuit to be examined. Thus, there is an energy supply unit 15 or a signal generator 16 or also one external unit 17 can be called up and can be appropriately set by the program 12a. This arrangement has the advantage that a large range of additional information and examinations can be made available through the corresponding data blocks in the program, who are employed in the facility and which, as aimed, all are available for each test point. That special program defines the data blocks that are required, which, as described below, is structured in order to achieve this to avoid manual wiring of a program of the facility itself, which with an increasing number of additional information becomes complex for the investigation. In addition, unnecessary the type or structure the need to compile machine control software and any need for any Form of human machine language.

Wenn beispielsweise die Wechselstromspannung am Testpunkt 8 zu bewerten ist zwischen zwei Grenzen bezüglich ihrer Annahme, führt das Programm 12 zunächst den Meßstellenabtaster 4 zum Testpunkt Θ. Das spezielle Programm führt dann das Signal zum Umrichter 7, wo ein Gleichstromausgang, der das Wechselstromniveau repräsentiert, erzeugt wird. Das Signal wird in eine digitale Form innerhalb eines Analog-in-Digital-Umsetzers IO umgewandelt und dann in dem Rechner 11 hinsichtlich seiner Annehmbarkeit untersucht, entsprechend einer Grenze, die durch das spezielle Programm definiert ist. Wenn eine Widerstandsmessung erforderlich sein würde, dann würde das spezielle Programm bewirken, daß der Pmsessor 6 ausgewählt werden würde hinsichtlich des notwendigen Bereiches oder Funktion.For example, if the AC voltage at test point 8 increases evaluate is between two limits with regard to their acceptance, The program 12 first leads the measuring point scanner 4 to the test point Θ. The special program then leads the signal to the Inverter 7 where a DC output representing the AC level is generated. The signal is converted into a digital form within an analog-to-digital converter IO converted and then in the computer 11 for its acceptability examined according to a limit defined by the special program. If a resistance measurement would be required then the particular program would cause the Pmsessor 6 to be selected with regard to the required area or function.

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Für die Programmierung bei der Zusammenstellung des speziellen Programms, wie in Fig. Ib gezeigt ist, besitzt ein Leitprogramm 2C ain3 Anzahl von Datenblöcken, die alle Funktionen, Zusatzangaben und verfügbaren Untersuchungen innerhalb der Einrichtung definieren. Bei der Zusammenstellung eines Testprogrammes wird zunächst die Testpunktzahl definiert, die den ausgewählten Testeingang steuert. Das Leitprogramm zeigt an einer Ausgangseinheit 21 die erste Funktion als Abfrage. Eine Bedienungsperson muß dann diese Funktion "auswählen" oder, falls sie nicht gewünscht wird "abweisen", wobei im letzteren Fall das Leitprogramm die nächste Funktion anzeigt. Wenn eine Funktion ausgwählt ist, zeigt das Leitprogramm weitere Abfragen, die Antworten erfordern, welche in die Einrichtung über eine Tastenfeldeingang 22 eingegeben werden. Die in dieser Weise der Maschine zugeführte Information wird als spezielles Programm 23 gehalten, welches ggf. die erforderlichen Informationen für die Einrichtung enthält, um den speziellen Test durchzuführen.For the programming in the compilation of the special program, as shown in Fig. Ib, a master program 2C has a in3 number of data blocks which define all functions, additional information and available examinations within the facility. When compiling a test program, the number of test points that controls the selected test input is first defined. The control program shows the first function as a query at an output unit 21. An operator must then "select" this function or, if it is not desired, "reject" it, in the latter case the control program indicates the next function. When a function is selected, the routing program shows further inquiries which require answers which are entered into the device via a keypad input 22. The information supplied to the machine in this way is kept as a special program 23 which, if necessary, contains the necessary information for the device in order to carry out the special test.

Für jede Schaltung ist ein vollständiges Programm für die Testfolge für eine Anzahl von Tastpunkten zusammengestellt unter Einsatz dieser Frage-Antwort-Folge,und die spezielle Information, die in dieser Weise zusammengestellt ist, kann auf ein Magnetband 24 zur Langzeitspeicherung übertragen werden. Es ist herauszustellen, daß das Programmieren auch lediglich unter Bezugnahme auf eine schriftliche Anleitung erfolgen kann, die die erforderlichen Informationen hinsichtlich des Parameters enthält und jegliche Handverdrahtung eines Programms erübrigt sich zusammen mit der Notwendigkeit der Bereitstellung herkömmlicher Computer-Software. Außerdem ist ein tatsächlicher Bestandteil der su untersuchenden Schaltung nicht erforderlich, so daß das Programm außerhalb des Werkstattbereiches zusammengestellt u^rccn kenn.For each circuit there is a complete program for the test sequence compiled for a number of tactile points using this question-answer sequence, and the special information, thus compiled can be transferred to magnetic tape 24 for long term storage. It is to be emphasized that programming can also be carried out simply with reference to written instructions that contain the contains the necessary information regarding the parameter and no manual wiring of a program is necessary along with the need to provide traditional computer software. Plus is an actual component the circuit to be examined is not required, so that the program compiled outside of the workshop area.

Die Fig. 2 zeigt einen Plan des Steuerpultes der Einrichtung. U'ie dargestellt, ist ein Kassettenrecorder 31 vorgesehen, der entweder dazu dient die speziellen Programmdaten zu speichern,Fig. 2 shows a plan of the control panel of the device. U'ie shown, a cassette recorder 31 is provided which either serves to save the special program data,

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oder er stellt für ein kompiliertes Programm für den Arbeitsspeicher 14 die erforderlichen Informationen für das Programmieren der Vorrichtung entsprechend den Notwendigkeiten für eine spezielle Testfolge zur Verfügung. Die tatsächliche Verbindung zu einem zu untersuchenden Gegenstand, wie beispielsweise einer gedruckten Leiterplatte,wird mit herkömmlichen Mitteln durchgeführt, wie beispielsweise einer Matrix von Kontaktstiften auf einer Unterlage, die die Leiterplatte aufnimmt. Es leuchtet ein, daß obwohl lediglich auf "testen" Bezug genommen wurde, ist die Einrichtung auch in der Lage, Energietestsignale und ähnliches der Platte oder Schaltung zuzuführen, wie auch elektrische Parameter und die Energie oder andere Erfordernisse, die zu jeder Testfolge gehören, zu messen, was beispielsweise durch die gleichen Maßnahmen in das Gerät programmiert werden kann.or it provides for a compiled program for the working memory 14 provides the information necessary to program the device according to the needs for a special test suite available. The actual connection to an object of interest, such as one printed circuit board, is carried out by conventional means, such as a matrix of contact pins a base that holds the circuit board. It will be understood that although reference has only been made to "testing", that is Device also capable of applying power test signals and the like to the board or circuit, as well as electrical parameters and to measure the energy or other requirements associated with each test suite, for example by the the same measures can be programmed into the device.

Eine Reihe von Anzeigen A bis F ist vorgsehen, um die für einen jeweiligen Schritt geltenden Daten anzuzeigen und außerdem die Daten nach der Eingabe und vor dem Übergang in das Programm zu zeigen. Die Anzeige A zeigt die Zahl des Programms und gibt die jeweilig Testnummer an.A number of displays A through F are provided to help out for one Display the applicable data for each step and also the data after the entry and before the transition to the program demonstrate. The display A shows the number of the program and indicates the respective test number.

Die Auswahl der Programmangaben oder die Eingabe von Daten wird über die Tastenwahleinheit 32 mit zugeordneten Tasten 33 durchgeführt zur Steuerung des Programms, ob Datenblöcke im voraus zu "überspringen" sind oder ein Datenblock zu "umgehen¹¹ ist. Die numerische Tastenwahleinheit 34 ermöglicht die Eingabe von aktuellen Werten, die das Programm erfordert, und besitzt eine Löschtaste ( C E) sowie eine Eingabetaste (E).The selection of the program information or the input of data is carried out via the key selection unit 32 with associated keys 33 to control the program, whether data blocks are to be "skipped" in advance or a data block is to be "bypassed ^11. The numeric key selection unit 34 enables the input of current values required by the program and has a delete key (CE) and an enter key (E).

Eine weitere Gruppe von Tasten 35 ist zur Steuerung der Testfolge vorgesehen und ermöglicht beispielsweise ein selbsttätiges oder manuelles Vorausbestimmen der Testfolge. Die genaue Funktion und der Plan ist entsprechend der Kompliziertheit, variabel und nicht im einzelnen beschrieben.Another group of buttons 35 is for controlling the test sequence provided and enables, for example, an automatic or manual predetermination of the test sequence. The exact function and the plan is according to the complexity, variable and not described in detail.

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KS*0 QfMKS * 0 QfM

Nimmt man ein vereinfachtes Leitprogramm für einen Testpunkt, so würde ein Datenblock auf dem Pult, gemäß Fig. 2, in der in Fig. 3 dargestellten V/eise erscheinen. Die Anzeige A kann die Bezugszahl dos Programms (005) zeigen, und der Testpunkt oder eine andere zu programmierende Stelle (001). Zwei weitere Anzeigelinien stellen dar, daß der Datenblock 1 nicht "umgangen" werden kann, d. h., es müssen Daten eingegeben werden, und der Programmierer hat eine diesbezügliche Auswahl . Die Anzeige B sagt dem Programmierer welche Auswahl erforderlich ist, und die Zusatzangaben erscheinen auf den Anzeigen D, E und F als 1, 2 oder 3.If you take a simplified master program for a test point, a data block would appear on the desk, as shown in FIG. 2, in the manner shown in FIG. The display A can the program reference number (005) and the test point or other digit to be programmed (001). Two more Indicator lines show that data block 1 cannot be "bypassed"; i.e., data must be entered and the programmer has a choice in this regard. The display B tells the programmer which selection is required and the additional information appears on displays D, E and F as 1, 2 or 3.

In diesem Fall hat der Programmierer die "1"-Taste auf dem Tastenfeld 4 gedrückt,und dies wird bei C angezeigt. V zeigt die Bestätigung an. Die Wahl wird, wenn sich die Bestätigung als richtig erweist, über die Taste "E" eingegeben. Wenn ein Fehler vorliegt, kann durch die Taste"CE" gelöscht werden.In this case the programmer has pressed the "1" key on the keypad 4 and this is indicated at C. V shows the confirmation. If the confirmation proves to be correct, the choice is entered using the "E" key. When a If there is an error, it can be deleted with the "CE" key.

Nach Eingabe der Information für den Datenblock 1 schreitet die Einrichtung zum nächsten Datenblock 2 fort, der die Einstellung des PSU-Niveaus erlaubt. Wenn die Auswahl 2 oder 3 getroffen worden wäre, würde der Datenblock 2 von dem Leitprogramm umgangen, da das Niveau nicht relevant ist.After entering the information for data block 1, the facility advances to the next data block 2, which is the setting of the PSU level allowed. If choice 2 or 3 had been made, data block would be 2 from the routing program bypassed as the level is not relevant.

Die Fig. 3a stellt die Anzeige für den Datenblock 2 dar, und bei A wird eine allgemeine Instruktion gegeben, daß Daten einzugeben sind. Die Anzeige B zeigt den speziellen einzugebenden Parameter und die entsprechende Energiezufuhr. Die Anzeige E gibt eine weitere Instruktion, das erforderliche Niveau über das Tastenfeld einzugeben, und F gibt das maximal verfügbare Niveau an.Figure 3a shows the display for data block 2 and at A a general instruction is given that data are to be entered. The display B shows the specific parameter to be entered and the corresponding energy supply. The ad E gives further instruction to enter the required level via the keypad and F gives the maximum available Level.

Der Programmierer hat für diesen Datenblock eine Spannung von 15,5 Volt eingegeben, welche auf der Bestätigungsanzeige C erscheint. Wenn sie richtig ist, wird die Taste "E" gedrückt, um die Information einzugeben.The programmer has entered a voltage of 15.5 volts for this data block, which is shown on the confirmation display C appears. If it is correct, the "E" key is pressed to enter the information.

Die Einrichtung durchläuft jeden Datenblöck des Leitprogrammes in dieser Weise und somit wird für den entsprechenden Testpunkt eine umfassende Instruktion aufgebaut, entsprechend der Auswahl und wie sie von dem großen von den einzelnen Datenblocken zur Verfügung gestellten Repertoir verfügbar ist.The facility runs through each data block of the master program in this way and thus a comprehensive instruction is set up for the corresponding test point, according to the Selection and how it is available from the large repertoire made available by the individual data blocks.

Die von dem Programmierer in das Gerät eingegebenen Daten werden von dem Arbeitsspeicher aufgenommen, und wenn ein gesamtes Testprogramm in dieser Weise zusammengestellt und überprüft ist, kann die Information auf ein Magnetband oder ein anderes Speichermedium übertragen werden. Dieses bildet dann ein dauerhaftes spezielles Programm für eine bestimmte Testfolge, die. zur Verfügung gehalten und jederzeit in das Gerät eingesetzt werden kann.The data entered into the device by the programmer taken from the working memory, and when an entire test program has been compiled and checked in this way, the information can be transferred to a magnetic tape or other storage medium. This then makes a permanent one special program for a specific test suite that. kept available and inserted into the device at any time can be.

Die Information bezüglich der Energiezufuhr kann bei allen durchzuführenden Untersuchungen gleich sein und kann für den gesamten Testverlauf eingestellt oder während der Testfolge variiert werden, wenn dies erforderlich erscheint, während andere Informationen,zum Beispiel die Beurteilung eines Spannungsniveaus für einen bestimmten Testpunkt eindeutig ist und entsprechend den Notwendigkeiten für jeden einzelnen Test bestimmt werden kann.The information regarding the energy supply can be the same for all tests to be carried out and can be set for the entire course of the test or varied during the test sequence if this appears necessary, while other information, for example the assessment of a voltage level for a specific test point, is clear and according to the Needs for each individual test can be determined.

Eine gesamte Folge eines Leitprogramms ist durch das Fließbild der Fig. 4 dargestellt. Jeder Block stellt eine Funktion dar, die das Leitprogramm abfragen kann mit den verschiedenen Zusatzangaben zur Auswahl, um ein spezielles Programm herzustellen, das in der Form dargestellt ist, wie es in dem Gerät angezeigt ist. Es zeigt sich, daß die Auswahl bestimmter Funktionen bewirkt, daß andere zu umgehen sind, oder speztelle Funktionen ausgewählt werden müssen. Die Bereitstellung externer Funktionen, die in die Programmfolge eingebracht werden müssen, wird vorgesehen und kodierte Adressen können zur Steuerung oder Auswahl externer Einrichtungen verfügbar gemacht werden.An entire sequence of a master program is illustrated by the flow diagram of FIG. Each block represents a function which can query the master program with the various additional information to choose from in order to create a special program, which is presented in the form as it is displayed in the device. It turns out that the selection of certain functions has the effect of that others are to be bypassed, or special functions must be selected. The provision of external functions, that must be included in the program sequence is provided and coded addresses can be used for control or selection made available to external facilities.

Bestimmte Datenblöcke des Leitprogramms können eine Exclusivadresse relativ zur Funktion oder Zusatzangabe des angezeigtenCertain data blocks in the master program can have an exclusive address relative to the function or additional information of the displayed

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Datonblockes erzeugen, während ein Knopf, der entsprechend dem angezeigten Datenblock betätigt wird, einen Sxclusivcode erzeugt, relativ zur Auswahl in bezug auf diesen Datenblock) wobei jedoch die Flexibilität der Anordnung verbessert werden kann, indem man eine Einrichtung vorsieht zur Zuordnung der erforderlichen Adresse über das numerische Tastenfeld zu den in dem Leitprogramm freien Datenblöcken zum Zweke der Steuerung weiterer Zusatzangaben, die in das Testsystem aufzunehmen sind, oder in einem äußeren Gerät, das mit dem System zusammenarbeitet. Das numerische Tastenfeld stellt eine Einrichtung dar für die Eingabe von Funktionscodierungen in derartige freie Datenblöcke, entsprechend den Erfordernissen der Zusatzangaben,und es können Einrichtungen vorgesehen sein, um die Adresse der speziellen Datenblöcke innerhalb eines Bereiches von spezifischen Adressen zu änderen, entsprechend den durchzuführenden Messungen innerhalb einer bestimmten Klassifizierung, oder relativ zur Auswahl von Zusatzangaben, die als Standardmaßnahmen in dem Testgerät vorgesehen sind. Eine typische Klassifizierung, die eine automatische Änderung der Datenblockadresse umfassen kann, entsprechend der ausgewählten Unterteilung kann I Gleichstrom, II Wechselstrom, III Frequenz/Zeit und IV logische Schaltung umfassen.Generate Datonblockes while a button that accordingly the displayed data block is operated, an exclusive code is generated, relative to the selection in relation to this data block) however, the flexibility of the arrangement can be improved by providing means for assigning the required address via the numeric keypad to the free data blocks in the control program for control purposes further additional information to be included in the test system or in an external device that works together with the system. The numeric keypad represents a facility for entering function codes in such free data blocks, according to the requirements of the additional information, and facilities may be provided for the address of the special Modify data blocks within a range of specific addresses according to the measurements to be performed within a certain classification, or relative to the selection of additional information provided as standard measures in the test device are. A typical classification, which may include an automatic change of the data block address, according to the selected subdivision can I direct current, II alternating current, III include frequency / time and IV logic circuit.

Bei der Zusammenstellung eines Programms für eine Testfolge wird jeder Datenblock des Leitprogramms, wobei solche Datenblöcke ausgeschlossen sein können, die sich mit derEingabe der Primärdaten, die allen Testes der Folge eigen sind, befassen, für jede Testzahl der Folge angezeigt. Die Bezugszahl eines jeden in der Programmfolge eingeschlossenen Testes (z. B.When compiling a program for a test sequence, each data block of the control program is used, with such data blocks can be excluded that deal with the input of the primary data, which are common to all tests of the sequence, displayed for each test number in the sequence. The reference number of each test included in the program sequence (e.g.

Test Nr. 01, 02, 03 ), die durch einen TestnummernzählerTest No. 01, 02, 03), which is determined by a test number counter

erzeugt ist, wird durch einen Mikroprozessor in eine Startadresse umgesetzt, um die Programmierinformation dem Speicher mit beliebiger Zugriffszeit zuzuführen, während die Daten, die relativ zu der Testnummer erzeugt werden, aus einer Kombination der Funktions/Optionsadressenkodierungen, dem Betrieb der Auswahltasten und dem numerischen Tastenfeld entsprechend den Abfragungen und Hinweisen der Anzeigedatenblöcke des Leitprogramms, entsprechend der Startadresse,in dem Lesespeicher gespeichert werden. Wenn der Inhalt eines oder mehrerer Datenblöcke desis generated is converted by a microprocessor into a start address in order to transfer the programming information to the memory with arbitrary access time, while the data that are generated relative to the test number, from a combination the function / option address coding, the operation of the selection keys and the numeric keypad according to the inquiries and indicating the display data blocks of the master program, according to the start address, stored in the read-only memory will. If the content of one or more data blocks of the

Leitprogrammes für einen bestimmten Test irrelevant sind, kann die Betätigung eines Umgehungssteuerknopfes entweder keine Daten dem Speicher ir.it beliebiger Zugriffszeit bezüglich dieser Datenblöcke zuführen, oder bewirken, daß die Adresse von dem Speicher mit beliebiger Zugriffszeit abgehalten wird, entsprechend des ausgewählten Aufbaues. Der Betrieb einer manuellen Auswahleinrichtung kann selbsttätig bewirken, daß das Leitprogramm auf den nächsten Datenblock in der Folge übergeht. Für den Fall, daß eine fehlerhafte Betätigung erfolgt ist, kann eine manuelle "Rückschleife" betätigt werden, um das Leitprogramm auf die Anfangsbedingung zurückzuführen, ohne die Testzahl zu ändern, womit die Daten erneut eingegeben werden können. Der letzte Datenblock des Leitprogrammes bietet die Auswahl der Umgehung oder Beendigung. Bei der Umgehung wird das Leitprogramm zum ersten Datenblock der Programmfolge zurückgeführt, und der Testnummernzähler geht um einen Schritt weiter. Bei einer Beendigung schließt das Programm ab.The main program is irrelevant for a particular test, the actuation of a bypass control button can either not relate any data to the memory ir.with any access time supply these data blocks, or cause the address to be retained from the memory with any access time, according to the selected structure. Operation of a manual selector can automatically cause the master program advances to the next data block in the sequence. In the event that an incorrect operation occurs a manual "loop back" can be used to return the control program to the initial condition, without changing the test number, with which the data can be re-entered. The last data block of the master program offers the choice of bypass or termination. When bypassing the master program is returned to the first data block of the program sequence, and the test number counter goes one step further. When terminated, the program closes.

In Fig. 5 der Zeichnungen ist ein vereinfachter Überblick über die Funktionen bei der Programmierung dargestellt. In dieser Zeichnung erscheint die Leitprograrnmfolge, die im Zusammenhang mit Fig. 4 beschrieben wurde, am Punkt 50, und hier werden die speziellen Daten für einen Test in einem Arbeitsspeicher mit beliebiger Zugriffszeit gespeichert, entsprechend den Antworten des Programmierers auf die Fragen des Leitprogrammes. Eine Rückschieifa 51 ermöglicht die Wiederholung eines bestimmten Programmablaufes für den Fall, daß falsche Daten eingegeben worden sind. Beim Programmieren beginnt das Fließbild am Punkt 52, an welchem die Einrichtung entscheidet, ob ein Programm "gerettet" ist oder nicht. Hierdurch soll sichergestellt werden, daß ein Programm, wslches lediglich nur in einem Speicher innerhalb der Einrichtung gehalten wurde, nicht verloren ist. Wenn dies noch aussteht, zeigt die Anzeige 53 dies an, und die Betätigung eines entsprechenden Knopfes des Gerätes ruft ein Programm, welches in dem Einrichtungsspeicher gehalten ist, um dieses auf einen Kassettenrecorder zur daüer-Referring to Figure 5 of the drawings, there is a simplified overview of the functions shown during programming. In this drawing the main program sequence appears in the context was described with Fig. 4, at point 50, and here the special data for a test in a working memory with Any access time saved, according to the answers of the programmer to the questions of the master program. A push-back 51 enables a specific one to be repeated Program sequence in the event that incorrect data have been entered. When programming, the flow chart begins on Point 52 at which the facility decides whether or not a program is "saved". This is to ensure It is ensured that a program which has only been kept in only one memory within the device is not lost is. If this is still outstanding, the display 53 shows this, and the actuation of a corresponding button on the device calls a program which is held in the device memory in order to transfer it to a cassette recorder.

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haften Speicherung zu übertragen. Wenn die Anzeige 53 umgangen ist, wird die Rückkehr zum Punkt 52 eingeleitet. Die Alternativanzeige 55 erfordert die Auswahl von drei angezeigten Alternativen, die darin bestehen, daß ein neues Programm erstellt, ein bestehendes Programm in einigen Punkten geändert, oder ein bereits kompiliertes Programm dauerhaft auf ein Magnetband gespeichert werden soll. Wenn ein neues Programm kompiliert wird, schreitet das Gerät zum Stadium 50, in welchem die Daten wie erwähnt aufgebaut werden. Die Endanzeige des Leitprogrammes, die ebenfalls am Ende derFig. 4 dargestellt ist, bietet die Wahl der Weiterführung, wobei in diesem Fall die Testzahl um eine Zahl weiterschreitet und das Leitprogramm zurück zur Anzeige der ersten Wahl für den ersten Testpunkt geht, oder das Ende des Programms kann gewählt werden, welches zum Punkt 52 zurückkehrt.are liable to transfer storage. When the display 53 is bypassed the return to point 52 is initiated. The alternative display 55 requires the selection of three displayed alternatives, which consist in creating a new program, Some points have been changed in an existing program, or an already compiled program has been permanently saved on a magnetic tape should be saved. When a new program is compiled, the device proceeds to stage 50 in which the Data are structured as mentioned. The final display of the executive program, also at the end of Fig. 4 provides the choice of continuation, in which case the test number advances one number and the executive program goes back to the first choice display for the first test point, or that The end of the program can be selected, which returns to point 52.

Bei der "Veränderung" fragt das Programm bei 56, ob eine Änderung bezüglich einer vorher eingegebenen Information erforderlich ist, ob die Eingabe einer vollständig neuen Information erforderlich ist, oder ob eine Information gelöscht v/erden muß. Die Tastzahl wird bei 57 eingegeben,und entsprechend der Auswahl bei 56 wird Entweder ein vollständiger Test aus den Speicher mit beliebiger Zugriffszeit entfernt, der die gespeicherten Inforrr.ationsdaten enthält, mit einer entsprechenden UiTiriurrisriierup.g der folgenden Testfolgen, oder man sieht vor, die Informationen einzugeben, indem man alljene Tests verschiebt, die der Nummer des einzuschiebenden Tests folgen, um eine Leerstelle bereitzustellen. Wenn eine Änderung erforderlich ist, werden bei 60 für einen speziellen zu ändernden Test eingegeben und nach der entsprechenden Änderung erscheint die Anzeige 61 und fragt die entsprechende Auswahl ab, wie dies in der Zeichnung dargestellt ist.In the case of the "change", the program asks at 56 whether a change in relation to previously entered information is necessary is whether it is necessary to enter completely new information or whether information has been deleted must be grounded. The key number is entered at 57 and, according to the selection at 56, Either a full test is off removes the memory with any access time that the stored Contains information data, with a corresponding UiTiriurrisriierup.g of the following test sequences, or one envisages enter the information moving all those tests that follow the number of the test to be inserted, to provide a space. If a change is required, 60 will be changed for a specific one Test entered and after the corresponding change the display 61 appears and asks the corresponding selection, like this is shown in the drawing.

Die Fig. 6 zeigt ein Fließbild für die Einrichtung, wenn der Test durchgeführt wird, wobei wiederum ein Anzeigepult verwendet wird, um die verschiedenen Situationen, die auftraten können, anzuzeigen. Wenn sich beispielsweise kein ProgrammFigure 6 shows a flow diagram for the facility when the test is being run again using a display panel to indicate the various situations that may arise. For example, if there is no program

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in dem Speicher befindet, wird angezeigt "führ Programm zu". Nach dem Einstecken der Kassette werden die gesamten Daten in den Arbeitsspeicher der Einrichtung übertragen, und dies ermäglicht, daß das Magnetband sofort wieder in den Sicherheitsspeicher zurückgeführt werden kann. Verschiedene andere Anzeigen treten entsprechend der logischen Folge der Anfragen auf, wie dies bei 60, 61 und 62 gezeigt ist, wodurch eine Überprüfung in bezug auf das Programm und die Übergangsfläche für eine bestimmte Schaltungsplatte durchgeführt wird. Wenn alles richtig ist, wird die Eingabe im Punkt 4 vollzogen, und die Anzeige 63 gibt an, daß die Einrichtung bereit ist, und das Drücken eines Startknöpfes bewirkt den Ablauf der Testfolge bis das Programm beendet ist.is in the memory, the message "go to program" is displayed. After inserting the cassette, all of the data is stored in transferred to the working memory of the device, and this enables the magnetic tape to be immediately returned to the security memory. Various other advertisements occur according to the order in which the inquiries are made, as shown at 60, 61 and 62, causing a check in relation to the program and the transition area for a particular Circuit board is carried out. If everything is correct, the entry in point 4 is carried out and the display 63 indicates that the device is ready and pressing a start button causes the test sequence to run until that Program has ended.

Wenn man die Erfindung in die Praxis umsetzt, ist das Leit— programm innerhalb eines Lesespeichers enthalten und arbeitet mit einer visuellen Anzeigeeinheit zusammen, die die Abfragungen angibt, um die erforderlichen Daten zusammenzustellen. Ein Speicher mit beliebiger Zugriffszeit wird eingesetzt, um die Programme der Testfolge zu speichern, wie sie erzeugt und in die Einrichtung eingegeben werden. Der Betrieb und die Zwischenbeziehungen zwischen diesen und anderen Komponenten innerhalb der Einrichtung wird zweckmäßigerweise durch einen Mikroprozessor gesteuert, der auch ein Steuerprogramm in einem Lesespeicher hält.In practicing the invention, the routing program is contained within a read-only memory and works in conjunction with a visual display unit which displays the queries to compile the required data. Arbitrary access time memory is used to store the programs of the test suite as they are created and entered into the facility. The operation and the interrelationships between these and other components within the device are expediently controlled by a microprocessor which also holds a control program in a read-only memory.

Durch die Erfindung wird in weitem Sinne eine Einrichtung geschaffen, die Daten anfordert und erhält, die erforderlich sind, um eine bestimmte Testfolge gemäß ausgewählten Vorschriften eines Leitprogrammes durchzuführen, wobei alle verfügbaren Funktionen^ die je nach den Erfordernissen einfach oder kompliziert sind, definiert. Duch die Einrichtung erübrigen sich die handverdrahteten Programme, wobei trotzdem die Kosten relativ niedrig sind. Es erübrigt sich auch durch eine vollrechnerische, selbsttätige Testeinrichtung, die eine besondere Ausbildung und einen hohen Wissensstand für das Programmieren erfordert.In a broad sense, the invention creates a facility that requests and receives data that are required in order to carry out a certain test sequence according to selected regulations of a master program, with all available Functions ^ that are simple or complicated, depending on the requirements, are defined. The facility makes them unnecessary handwired programs, although the costs are relatively low. There is also no need for a fully computational, Independent test facility that requires special training and requires a high level of knowledge for programming.

Claims

Patent attorney Dipl.-Ing. Gerd Lange

D-4950 Minden / Westf.

A.T.E. SYSTEMS LIMITED Attorney File 508.220

44 South Street

Chichester, Sussex

England 20th July 1978

Automatic test facility

Expectations

Automatic test device for electrical circuits, who use a predetermined operating program that composed of a selective combination of parts of an executive program to create information about the electrical circuit that can then be used to to evaluate a circuit to be examined, wherein the device provides a number of functions that are available for each test and are selected for each test by the operating program, characterized in that a device is provided for compiling the operating program (23) by means of which for each test and a query by the master program for each function (20)

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ORIGINAL INSPECTED

carried out and a return information is given, which is then automatically included in the operating program (23) that controls the device during the various test processes on the circuit to be tested.

2. Device according to claim 1, characterized in that the program comprises a control program (20) which the available Functions and checks of the facility are defined, as well as a special operating program (23), which is made up of the recorded data is compiled, with the two programs controlling the device during the test process.

3. Device according to claim 2, characterized in that the control program (20) comprises a plurality of data blocks, each are assigned to a function or a test to be carried out.

4. Device according to claim 3, characterized in that each data block generates an exclusive address, each of which the function or the test device for this data block is assigned and a space for entering the provides specific data relating to this facility.

5. Device according to claim 4, characterized in that the program has a data processing system with a Data bus is in connection, to which the device and the function of the device are connected in parallel where the data block address has access to the device or function and the following special data the device set according to the programmed information.

6. Device according to claim 3, characterized in that the control program contains data which, when sent to a display unit are addressed, generate a corresponding display in plain text on it, with an input keypad when entering corresponding data for the input in

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the program generates.

7. Device according to claim 3, characterized by a microprocessor for the "overall control of the programming and test phases as well as a read-only memory containing the control program, a memory with any access time to provide spaces for the provision and recovery of data, a memory with any access— time for the special test program, a display device and an input unit.

8. Device according to one of the preceding claims, characterized by

a) an input for connection to the test points,

b) an arrangement for selecting a predetermined test point and feeding the signal obtained therefrom to a test circuit,

c) a program, which for each test point to be assessed a definition of electrical properties is supplied,

d) a test circuit to determine whether that of a The electrical properties derived from a test point connected via a selector correspond to the definition, for each test point there is an operating program that

e) controls the selection and setting of a number of available functions while

f) the required functions and each value selection is defined by a program for each selected test point , and

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g) a programming system is provided which works with a master program during programming that provides the available functions for the selection of each test point on request,

h) a selection arrangement, via which the output to a query of the control program, which is for a test point contains a specific definition, can be compiled into a specific operating program, and

i) a controller via which the operating program provided for the circuit to be tested in each case Set up facility for each test point to determine if that particular test point is included in the program corresponds to the definition entered.

9. Device according to claim 8, characterized in that a test circuit is provided by means of which the of A signal obtained from a test point can be compared with a programmed value and every deviation can be displayed.

10. Device according to claim 8, characterized in that a device is provided by means of which signals of the circuit to be examined can be supplied, and which can be put into operation by the program and to be carried out for some or all Investigations is lockable.

11. Device according to claim 8, characterized in that the control program has a number of data blocks which Define a function or a test for each test point, as well as a special program that is used for the circuit to be examined is unambiguous and which is compiled from data supplied as a signal by the input device will.

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12. Device according to claim 11, characterized in that the signals from the circuit to be examined are processed and fed to one or more converters selected by the programmer, producing an output signal which represents the parameter to be measured, whereupon the output signal in an analog-to-digital converter in a digital form is converted and fed to a test circuit, whereby a comparison with a digital value is made the program is carried out. .

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