DE2804371C2 - Injection laser with semiconductor heterostructure and a stripe geometry of the electrically active area - Google Patents
Injection laser with semiconductor heterostructure and a stripe geometry of the electrically active areaInfo
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Description
aktives Material η-leitendes Ga^A^As (2) angrenzt, während die Streifen im übrigen von p-leitendem und gleichfalls optisch aktivem Ga,.,AI1As (3) umgeben sind.active material η-conductive Ga ^ A ^ As (2) adjoins, while the strips are surrounded by p-conductive and likewise optically active Ga,., Al 1 As (3).
unter BHdung eines pn-Übtrganges (11) als optisch 35 Schicht 2 aus Ga1xAUAs angrenzt χ hat beispielsweiseunder BHdung a pn junction (11) as an optically 35 layer 2 of Ga 1x AUAs adjoins χ , for example
' " " "' einen Wert von 0,08. Im übrigen ist der streifenförmige'"""' a value of 0.08. Otherwise it is strip-shaped
Bereich 4 von einer Zone 3 aus p-leitendem Gai-,AUAs begrenzt Hierbei ist der x-Wert für die Zonen 2 und 3 identisch. Die Zonen 2 und 3 sind nach außen durchArea 4 of a zone 3 of p-type Gai, AUAs limited Here the x-value for zones 2 and 3 is identical. Zones 2 and 3 are through to the outside
5. Injektionslaser nach Anspruch 4, dadurch 40 weitere Halbleiterschichten 1 und 5 begrenzt, die aus ngekennzeichnet, daß der optisch aktive, aus den bzw. p-leitendem Gai.jALAs bestehen; y ist stets größer5. Injection laser according to claim 4, characterized in that 40 further semiconductor layers 1 and 5 are delimited, which are characterized by the fact that the optically active, or p-conductive Gai.jALAs consist; y is always greater
Halbleitergebieten (1,5) mit kleinerem Brechungsindex aus p- bzw. η-leitendem Gai.^AI^As umgeben istSemiconductor areas (1,5) with a smaller refractive index made of p- or η-conducting Gai. ^ AI ^ As is surrounded
wobei y> χ istwhere y> χ
6. Injektionslaser nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Trägerkörper (6) der mehrschichtigen, durch epitaktische Abscheidungsprozesse erzeugten Anordnung aus GaAs besteht6. Injection laser according to one of the preceding claims, characterized in that the Carrier body (6) of the multilayer arrangement produced by epitaxial deposition processes consists of GaAs
7. Injektionslaser nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der optisch aktive Bereich (2, 3) ca. 2μιη breit ist und drei elektrisch aktive streifenförmige Bereiche (4a -Ac) enthält. 7. Injection laser according to one of the preceding claims, characterized in that the optically active area (2, 3) is approximately 2μιη wide and contains three electrically active strip-shaped areas (4a- Ac) .
als χ und kann beispielsweise einen Wert von 03 aufweisen. Der pn-übergang 11 tritt an der Lichtaustrittsfläche an die Oberfläche. Der elektrisch aktive Bereich, in dem eine große Inversionsstromdichte der Ladungsträger erzeugt wird, besteht im wesentlichen aus der p-leitenden GaAs-Zone 4, während der optisch aktive Bereich, in dem die Lichtwelle jeführt wird, von den Zonen 2, 3 und 4 gebildet wird. Dieser Lichtführungsbereich wird von den äußeren Zonen 1 und 5 aus einem Material kleineren Brechungsindex begrenzt.as χ and can have a value of 03, for example. The pn junction 11 comes to the surface at the light exit area. The electrically active area, in which a high inversion current density of the charge carriers is generated, consists essentially of the p-conducting GaAs zone 4, while the optically active area in which the light wave is guided is formed by zones 2, 3 and 4 will. This light guide area is delimited by the outer zones 1 and 5 made of a material with a smaller refractive index.
Anstelle einer Ausbildung des gesamten Halbleiter-Kristalls als optischer Resonator kann auch die Verwendung von Korrugationen durch Teilwellen-Reflexionen herangezogen werden; es handelt sich dann um den sogenannten Typ eines DFB-Lasers mit distributed feedback; vgl. IEEE Journal of Quantum Electronics Vol. QE-12, No. 10, Okt 76, Seiten 597-603. Der in F i g. 1 dargestellte prinzipielle Aufbau wäre in bekannter Weise zu modifizieren, wenn als Ausgangsmaterial an Stelle GaAs z. B. InP verwendet würde, wo die weiteren verwendeten Schichten der Zusammensetzung GaInAsP einen geringeren Bandabstand aufwei-Instead of forming the entire semiconductor crystal as an optical resonator, the Use of corrugations due to partial wave reflections; it is then the so-called type of a DFB laser with distributed feedback; see IEEE Journal of Quantum Electronics Vol. QE-12, No. 10, Oct 76, pp. 597-603. The in F i g. The basic structure shown in FIG. 1 would be in to be modified in a known manner if the starting material used in place of GaAs z. B. InP would be used where the other layers of the composition GaInAsP used have a smaller band gap
Bei der Herstellung von Injektionslasern auf der Basis von Halbleiter-Hetero-Übergängen gibt es unterschiedliche Bauformen. So gibt es beispielsweise den sogenannten SH-Laser, der aus einem einzelnen Hetero-Übergang besteht. Der Hetero-Übergang kommt dabei beispielsweise zwischen einem Grundma- 65 sen als InP.In the manufacture of injection lasers based on There are different designs of semiconductor heterojunctions. For example, there is the so-called SH laser, which consists of a single heterojunction. The straight transition comes for example between a basic 65 as InP.
terial aus GaAs und einer epitaktischen Schicht aus Ferner sind aus der DE-OS 25 29 406 Halbleiterinjek-material made of GaAs and an epitaxial layer from Furthermore, from DE-OS 25 29 406 semiconductor injection
GaAlAs zustande. Weiter gibt es den sogenannten DH-Laser mit doppeltem Hetero-Übergang. Der tionslaser gemäß den Merkmalen des Oberbegriffes des Patentanspruches 1 bekannt. Die elektrisch aktivenGaAlAs comes about. There is also the so-called DH laser with a double heterojunction. Of the tion laser according to the features of the preamble of claim 1 known. The electrically active
Bereiche bestehen aus mehreren parallel verlaufenden, streifenförmigen Teilbereichen, die mit dem umgebenden Halbleitermaterial HeteroÜbergänge und mit einer angrenzenden Schicht pn-Übergänge bildea Die inaktiven Zwischenbereiche dienen dabei der Verbesserung der Wärmeabfuhr von den aktiven Bereichen und sollen aufgrund ihres relativ niedrigen Brechungsindex bewirken, daß die streifenförmigen Teilbereiche optische Wellenleiter bilden.Areas consist of several parallel, strip-shaped partial areas, which with the surrounding Semiconductor material heterojunctions and, with an adjacent layer, pn junctions form the inactive ones Intermediate areas serve and should improve the dissipation of heat from the active areas due to their relatively low refractive index, the strip-shaped subregions are optical Form waveguides.
Bei Halbleiter-Laser-Dioden werden derzeit Strukturen verwendet, bei denen die Breite d\ des Gallium-Arsenid-Streifens 4 in der Größenordnung von 10 bis 20 um liegtIn semiconductor laser diodes, structures are currently used in which the width d \ of the gallium arsenide strip 4 is of the order of 10 to 20 μm
Die Streifendicke in Stromrichtung liegt in der Größenordnung von 1 μπι oder darunter. Um in den Bereich von Betriebsströmen der Größenordnung von 10 bis 20 mA zu gelangen, müssen jedoch wesentlich schmälere elektrisch aktive Bereiche Verwendung finden. Bei einer Streifenbreite von 1 μπι kann beispielsweise ein Schwellstrom für die laseranregung in der Größenordnung von ca. 15 mA realisiert werden.The strip thickness in the direction of the current is in the order of magnitude of 1 μm or less. To get into the However, it is essential to achieve a range of operating currents of the order of magnitude of 10 to 20 mA find narrower electrically active areas use. With a strip width of 1 μπι can for example, a threshold current for laser excitation in the order of magnitude of approx. 15 mA can be realized.
Mit der Reduzierung der Streifenbreite geht jedoch unabwendbar eine Verbreiterung der Emissionskeule im Fernfeld einher. Bei einer Diode mit einer Streifenbreite di = 1 um weist die Emissionskeule einen öffnungswin- 2s kel von ca. 50° auf. Die Emissionskeule umfaßt 50% der maximalen Strahlungsleistung. Für noch schmälere, den elektrisch aktiven Bereich bildende Streifen wird der Strahlungskegel noch breiter, und die Ankopplung weiterer optischer Komponenten, wie beispielsweise Glasfasern, wird immer schwieriger, wenn nicht gar unmöglich. In jedem Fall sind starke Leistungseinbußen bei der Ankopplung weiterer Bauelemente oder Lichtleitmedien zu erwarten.With the reduction of the stripe width, however, there is an inevitable broadening of the emission lobe in the Far field hand in hand. In the case of a diode with a stripe width di = 1 μm, the emission lobe has an opening angle of 2 s angle of approx. 50 °. The emission lobe comprises 50% of the maximum radiation power. For even narrower strips that form the electrically active area, the Radiation cone even wider, and the coupling of other optical components, such as Fiberglass, is becoming increasingly difficult, if not impossible. In either case, there is a strong performance hit to be expected when coupling further components or light guide media.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, für einen Injektionslaser gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 eine Struktur anzugeben, die mit sehr niedrigen Schwellströmen auskommt, jedoch gleichzeitig einen kleinen öffnungswinkel der Emissionskeule im Fernfeld aufweist. Diese Aufgabe wird erfindungsgemaß durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruches 1 gelöstThe invention is therefore based on the object for an injection laser according to the preamble of Claim 1 to specify a structure that manages with very low threshold currents, but at the same time has a small opening angle of the emission lobe in the far field. This object is achieved according to the invention solved by the characterizing features of claim 1
Der Inkektionslaser nach der Erfindung ist wiederum vorzugsweise als SCH-Laser (Seperate Confinement Heterostructure) aufgebaut bei dem die elektrisch aktiven Bereiche im Halbleiterkörper vergraben und schmäler sind als der gleichfalls begrenzte optisch aktive Bereich. Die elektrisch aktiven Rereiche sind vorzugsweise schmäler als 1 μπι, und der Abstand zwischen zwei Teilbereichen liegt gleichfalls Vorzugsweise unter 1 μΐη.The incision laser according to the invention is again preferably an SCH laser (Seperate Confinement Heterostructure) in which the electrically active areas are buried in the semiconductor body and are narrower than the likewise limited optically active area. The electrically active areas are preferably narrower than 1 μm, and the distance between two subregions is likewise preferably below 1 μΐη.
Die erfindungsgemäße Aufteilung des elektrisch aktiven streifenförmigen Halbleiterbereichs hat den wesentlichen Vorteil, daß die Emissionskeule im Fernfeld einen wesentlich kleineren öffnungswinkel aufweist Beispielsweise bei der Verwendung von drei Teilstreifen, deren Gesamtfläche einem 1 μιτι breiten Einzelstreifen entspricht so daß der gleiche Betriebsstrom zur Anregung des Lasers erforderlich ist erreicht man mit geeignet gewähltem Koppelabstand zwischen den einzelnen Teilbereichen eine Reduktion des öffnungswinkels der Emissionskeule auf etwa 200C. Dies bedeutet eine mehr als zweifach bessere Bündelung des Laserstrahls. Die Emissionskeule mit dem öffnungswinkel von 20° kommt durch Summation der Einzelvektoren zustande, wenn man berücksichtigt, daß alle Teilbereiche mit gleicher Leistung und gleicher Phase angesteuert werden. Die Superposition der einzelnen Wellenfelder ist ähnlich der von Antennenfeldern. The inventive division of the electrically active strip-shaped semiconductor area has the significant advantage that the emission lobe in the far field has a significantly smaller opening angle, for example when using three partial strips, the total area of which corresponds to a 1 μm wide individual strip, so that the same operating current is required to excite the laser is achieved with a suitably selected coupling distance between the individual sections, a reduction of the opening angle of the emission lobe at about 20 0 C. This means a more than two times better focusing of the laser beam. The emission lobe with an opening angle of 20 ° is created by adding up the individual vectors, if one takes into account that all sub-areas are driven with the same power and the same phase. The superposition of the individual wave fields is similar to that of antenna fields.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden anhand von F i g. 2 und 3 erläutertEmbodiments of the invention are described below with reference to FIG. 2 and 3 explained
In der Fig.2 ist der prinzipielle strukturelle Aufbau eines Injektionslasers dargestellt Der Figur entnimmt man wiederum die Stromrichtung und die dazu senkrecht verlaufende Schichtung der einzelnen Halbleiterbereiche. Aus der dargestelltem Stirnfläche der Anordnung, die verspiegelt ist, tritt der angeregte Laser-Lichtstrahl auf. Die Emissionskeule mit einem öffnungswinkel von ca. 20° im Fernfeld ist in der F i g. 2 gleichfalls angedeutet Der Aufbau der in der Fig.2 dargestellten Struktur entspricht im wesentlichen dem der Fig. 1. Der Hauptunterschied liegt darin, daß der elektrisch aktive Bereich 4 der F i g. 1 bei der Anordnung gemäß der F i g. 2 in drei nebeneinanderliegende Teilbereiche 4a, 46 und 4c aufgeteilt wurde. Jeder der Streifen 4a bis 4c ist beispielsweise 0,3 μηι breit (d\) und von dem benachbarten Streifen durch einen Abstand tk in der gleichen Größenordnung getrennt so daß die Gesamtbreite rf der Anordnung in der F i g. 2 bei ca. 2 μΐη liegtFIG. 2 shows the basic structural design of an injection laser. The figure shows the direction of the current and the layering of the individual semiconductor regions running perpendicular to it. The excited laser light beam emerges from the illustrated end face of the arrangement, which is mirrored. The emission lobe with an opening angle of approx. 20 ° in the far field is shown in FIG. 2 also indicated. The structure of the structure shown in FIG. 2 corresponds essentially to that of FIG. 1. The main difference is that the electrically active area 4 of FIG. 1 in the arrangement according to FIG. 2 was divided into three adjacent sub-areas 4a, 46 and 4c. Each of the strips 4a to 4c is, for example, 0.3 μm wide (d \) and separated from the adjacent strip by a distance tk of the same order of magnitude, so that the total width rf of the arrangement in FIG. 2 is about 2 μΐη
In der F i g. 3 ist eine Draufsicht auf die Lichtaustrittsfläche der Gesamtanordnung der Laser-Diode dargestellt Die Multi-Layer-Struktur befindet sich auf einem beispielsweise η-leitendem Gallium-Arsenid-Trägerkörper 6. Die Mehrschichtanordnung hat eine mesaförmige Struktur, wobei die Randbereiche des Mesaberges von einem Material umgeben sind, das den optisch aktiven Bereich der Multi-Layer-Struktur begrenzt und ein Austreten der Lichtwelle in diese Richtung verhindert. Dieser Begrenzungsbereich der Mesa-Struktur ist in der F i g. 3 mit 10 bezeichnet und besteht beispielsweise aus η-leitendem GawAlojAs. Ausgehend vom Grundkörper 6 besteht die Multi-Layer-Anordnung zunächst aus einer η-leitenden Schicht 1 aus Gao.7Alo.3As. Diese Schicht begrenzt den optisch aktiven Bereich der Halbleiteranordnung. Die Schicht 2, die bereits der Lichtwellenführung dient besteht bei dem Ausführungsbeispiel gemäß der Fig. 3 aus n-leitendem Gaoj92Alo.o8As. An diese Zone 2 grenzen die elektrisch aktiven Bereiche 4a bis 4c aus p-leitendem Gallium-Arsenid an, die in der Bildebene beispielsweise d\ =0,3 μπι breit sind. Der Abstand di zwischen den einzelnen Teilbereichen liegt in der gleichen Größenordnung, so daß die gesamte Mesa-Struktur gemäß der F i g. 3 in der Bildebene ca. </=2μπι breit ist. Die p-leitenden Teilbereiche 4a bis 4c bilden mit der Zone 2 einen Hetero-pn-Übergang. Sie sind im übrigen von der p-leitenden Schicht 3 aus Gao.92Alo.oeAs umgeben. Auch diese Schicht 3 dient der Lichtführung der optischen Welle. Der optisch aktive Bereich wird nach oben durch die p-leitende Schicht 5 aus Gao.7Alo3As begrenzt. Die streifenförmigen Teilbereiche Aa bis 4c weisen den größten Brechungsindex auf. Dieser Brechungsindex nimmt zu den äußeren Schichten hin ab, wobei der größte Sprung zwischen den Zonen 3 und 5 bzw. den Zonen 2 und 1, sowie zwischen den Zonen 2 und 3 einerseits und der Zone i0 andererseits auftritt. Hierdurch wird die optische Welle auf die Zonen 2, 3 und 4 begrenzt.In FIG. 3 shows a top view of the light exit surface of the overall arrangement of the laser diode. The multi-layer structure is located on a, for example, η-conductive gallium arsenide carrier body 6. The multi-layer arrangement has a mesa-shaped structure, with the edge areas of the mesa mountain being made of a material are surrounded, which limits the optically active area of the multi-layer structure and prevents the light wave from escaping in this direction. This delimitation area of the mesa structure is shown in FIG. 3 denoted by 10 and consists, for example, of η-conductive GawAlojAs. Starting from the base body 6, the multi-layer arrangement initially consists of an η-conductive layer 1 made of Gao.7Alo.3As. This layer delimits the optically active area of the semiconductor arrangement. In the exemplary embodiment according to FIG. 3, the layer 2, which is already used for guiding the light waves, consists of n-conducting Gaoj92Alo.o8As. The electrically active areas 4a to 4c made of p-conductive gallium arsenide adjoin this zone 2 and are, for example, d = 0.3 μm wide in the image plane. The distance di between the individual subregions is of the same order of magnitude, so that the entire mesa structure according to FIG. 3 is approximately </ = 2μπι wide in the image plane. The p-conducting subregions 4a to 4c form a hetero-pn junction with zone 2. They are also surrounded by the p-conductive layer 3 made of Gao.92Alo.oeAs. This layer 3 also serves to guide the light of the optical wave. The top of the optically active area is limited by the p-conductive layer 5 made of Gao.7Alo3As. The strip-shaped subregions Aa to 4c have the greatest refractive index. This refractive index decreases towards the outer layers, the largest jump occurring between zones 3 and 5 or zones 2 and 1, and between zones 2 and 3 on the one hand and zone 10 on the other. This limits the optical wave to zones 2, 3 and 4.
Auf der Halbleiterzone 5 befindet sich noch eine Aiischlußzone 7 aus p-leitendem und relativ hoch dotiertem Gallium-Arsenid, die seitlich durch einen Oxidschichtring 12 begrenzt ist. Der Metallanschlußkontakt 9 bedeckt diese Gallium-Arsenid-Schicht 7 sowie die schwach dotierten und schlecht leitendenOn the semiconductor zone 5 there is also a connection zone 7 made of p-conductive and relatively high doped gallium arsenide, which is laterally bounded by an oxide layer ring 12. The metal connection contact 9 covers this gallium arsenide layer 7 as well as the weakly doped and poorly conductive
Halbleiterbereiche 10, die die Multi-Layer-Struktur umgeben. Der zweite Anschlußkontakt 8 der Diode befindet sich auf der Unterseite des Trägerkörpers 6, so daß die Stromrichtung durch die Multi-Layer-Anordnung durch die Lage der Anschlußkontakte 8 und 9 festgelegt ist.Semiconductor regions 10 surrounding the multi-layer structure. The second connection contact 8 of the diode is located on the underside of the support body 6, so that the current direction through the multi-layer arrangement is determined by the position of the connection contacts 8 and 9.
Die Dotierung der Zonen 2 und 3 liegt in der Größenordnung von ca. 1017 Atomen/cm3, während die der elektrisch aktiven Bereiche 4a bis 4c höher bei etwa 5 χ 1017 Atomen/cm3 liegt. Die Begrenzungszonen 1 und S für den optisch aktiven Bereich sind beispielsweise ca. 1 μηι dick. Die Dicke der Zonen 2, 3 und 4 liegt unter t μπι, vorzugsweise im Bereich zwischen 0,1 und 0,2 μπι.The doping of zones 2 and 3 is of the order of magnitude of approx. 10 17 atoms / cm 3 , while that of the electrically active areas 4a to 4c is higher at approx. 5 10 17 atoms / cm 3 . The delimitation zones 1 and S for the optically active area are, for example, approximately 1 μm thick. The thickness of the zones 2, 3 and 4 is below t μπι, preferably in the range between 0.1 and 0.2 μπι.
Die Multi-Layer-Struktur der Fig.3 wird vorzugsweise durch epitaktische Abscheidungsprozesse hergestellt. Dabei kann die Molekularstrahlepitaxie, die in der Literatur mehrfach beschrieben wurde, vorteilhaft angewendet werden. Die Teilbereiche 4a bis 4c werden vorzugsweise dadurch hergestellt, daß zunächst eine durchgehende Schicht aus Gallium-Arsenid epitaktisch abgeschieden und dann mit Hilfe fotolithographischer Prozesse und durch Ätzen in Teilbereiche aufgeteilt wird.The multi-layer structure of Figure 3 is preferred produced by epitaxial deposition processes. The molecular beam epitaxy, which occurs in the Literature has been described several times, can be used advantageously. The sub-areas 4a to 4c are preferably produced by first epitaxially forming a continuous layer of gallium arsenide deposited and then divided into sub-areas with the help of photolithographic processes and by etching will.
Es sei nochmals darauf hingewiesen, daß durch die optische Kopplung sehr schmaler, elektrischer aktiver streifenförmiger Bereiche gemäß der Erfindung der öffnungswinkel der Streukeule im Fernfeld erheblich reduziert werden konnte. Hierdurch entstehen bei der Ankopplung weiterer Bauelemente oder von Lichtleitungsmedien nur sehr geringe Strahlungsverluste, da das austretende Licht auf engstem Raum gebündelt ist Die außerhalb der Emissionskeule liegenden Leistungszipfel weisen nur eine geringe Energie auf.It should be pointed out again that the optical coupling makes it very narrow, more electrically active strip-shaped areas according to the invention, the opening angle of the scattering lobe in the far field is considerable could be reduced. This results in the coupling of additional components or light-conducting media only very low radiation losses, since the emerging light is focused in a very small space Power lobes lying outside the emission lobe have only a low level of energy.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782804371 DE2804371C2 (en) | 1978-02-02 | 1978-02-02 | Injection laser with semiconductor heterostructure and a stripe geometry of the electrically active area |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782804371 DE2804371C2 (en) | 1978-02-02 | 1978-02-02 | Injection laser with semiconductor heterostructure and a stripe geometry of the electrically active area |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2804371A1 DE2804371A1 (en) | 1979-08-09 |
DE2804371C2 true DE2804371C2 (en) | 1982-10-21 |
Family
ID=6030946
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782804371 Expired DE2804371C2 (en) | 1978-02-02 | 1978-02-02 | Injection laser with semiconductor heterostructure and a stripe geometry of the electrically active area |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2804371C2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3148904C2 (en) * | 1981-12-10 | 1984-07-26 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München | Laser resonator |
DE3148905C2 (en) * | 1981-12-10 | 1984-10-11 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München | Laser resonator |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1439316C3 (en) * | 1963-12-13 | 1975-07-31 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Arrangement for generating and / or amplifying electromagnetic radiation |
GB1487479A (en) * | 1974-10-09 | 1977-09-28 | Rca Corp | Semi-conductor injection laser with confined recombination region |
-
1978
- 1978-02-02 DE DE19782804371 patent/DE2804371C2/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2804371A1 (en) | 1979-08-09 |
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