DE2738833A1

DE2738833A1 - Testing device for assemblies in digital electric circuit - with assembly put on adaptor circuit connected to digital and analogue testing devices

Info

Publication number: DE2738833A1
Application number: DE19772738833
Authority: DE
Inventors: Rudolf Ing Grad Hauptmann
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 1977-08-29
Filing date: 1977-08-29
Publication date: 1979-03-15

Abstract

The assemblies are connected by their inputs and outputs through a plug-in connector with blade and spring contacts. Signal processing is in parallel. An adapter circuit (ADS) with a double plug-in device (MLP, FLP) is connected by its input and output terminals through connecting wires (DL1-DLm). It can be inserted without interruption in series into the signal path of the tested assembly (BG) put on the adapter circuit (ADS). Secondary wires (NL1-NLm) are branched off from the through wires and are connected to a selector circuit (ASW) in which a selectable number of secondary wires can be switched through. These wires lead to a digital testing device (DAG), and/or through a digital-analogue convertor (DAW) to an analogue testing device (DAA).

Description

Prüfeinrichtung für Baugruppen in digitalen elektrischenTest facility for assemblies in digital electrical

Schaltungen Die Erfindung bezieht sich auf eine Prüfeinrichtung für Baugruppen in digitalen elektrischen Schaltungen, wobei die Braugruppen eingangsseitig und ausgangsseitig über eine Steckvorrichtung, insbesondere eine Messer- und Federleiste, angeschlossen sind und die Signalverarbeitung parallel erfolgt.Circuits The invention relates to a test device for Assemblies in digital electrical circuits, with the brewing assemblies on the input side and on the output side via a plug-in device, in particular a male and female connector, are connected and the signal processing takes place in parallel.

Digitale elektrische Schaltungen werden normalerweise aus einer Reihe von Einzelbaugruppen zusammengesetzt, deren Funktionsfähigkeit jeweils vor der Inbetriebnahme geprüft werden muß. Die Kontrolle geschieht bei seriell arbeitenden Digitalschaltungen meist so, daß von jeder Baugruppe eine Signalleitung zu einem Umschalter geführt wird. Von dort aus werden dann die Signale der zu testenden Baugruppe einem Digital/Analogwandler zugeleitet.Digital electrical circuits are usually made up of a series composed of individual assemblies, their functionality in each case before commissioning must be checked. The control is done with serial working digital circuits usually in such a way that a signal line leads from each assembly to a changeover switch will. From there, the signals from the module to be tested are sent to a digital / analog converter forwarded.

Bei paralleler Signalverarbeitung ist eine solche Leitungsführung und deren Umschaltung sehr aufwendig und bringt vor allem bei relativ vielen Baugruppen einen unveitältnismäßig umständlichen Prüfaufbau mit sich. Man ist somit gezwungen, jede Baugruppe getrennt zu testen und dazu die Verbindungen und die Signalwege zwischen den einzelnen Baugruppen aufzutrennen. Auf diese Weise kann zwar die einzelne Baugruppe geprüft werden, nicht aber das gesamte Gerät während des Betriebes, so daß eine Reihe von Fehlern bei dieser Kontrolle nicht erfaßt werden kann.Such a line routing is required for parallel signal processing and their switching is very time-consuming and especially useful for a relatively large number of assemblies an unbelievably cumbersome test setup. One is thus forced to to test each assembly separately and the connections and the signal paths between to separate the individual assemblies. In this way, the individual assembly can be checked, but not the entire device during operation, so that a A number of errors in this control cannot be detected.

Bei einer Unterbrechung im Lauf der Signalflußkette können zwar die Signalzuführungen zu den restlichen Baugruppen aufgetrennt und die Funktionen der vorangegangenen Baugruppen geprüft werden.In the event of an interruption in the course of the signal flow chain, the Signal feeds to the remaining modules and the functions of the previous assemblies are checked.

Eine Kontrolle der Funktionsfähigkeit der nachfolgenden Baugruppen muß dabei jedoch entfallen.A check of the functionality of the following assemblies must be omitted.

Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einer Prüfeinrichtung der eingangs genannten Art eine Kontrolle der Funktionsfähigkeit auch im betriebsfähigen Zustand zu gewährleisten und damit die Möglichkeit zu schaffen, daß praktisch die gesamte signalverarbeitende Einrichtung auf ihre Funktionsfähigkeit überprüft werden kann. Gemäß der Erfindung, welche sich auf eine Prüfeinrichtung der eingangs genannten Art bezieht, wird diesdadurch erreicht, daß eine Adapterschaltung mit einer zweifachen Steckvorrichtung vorgesehen ist, deren eingangsseitige und ausgangsseitige Anschlüsse über Durchgangsleitungen verbunden und in Serie in den Signalverlauf der zu prüfenden, auf die Adapterschal tung aufgesetzten Baugruppe unterbrechungsfrei einfugbar sind, daß von den Durchgangsleitungen Nebenleitungen abgezweigt und zu einer Auswahlschaltung geführt sind, in welcher ein wählbarer Teil der Nebenleitungen durchgeschaltet wird und daß die durchgeschalteten Nebenleitungen zu einer digitalen Prüfeinrichtung und/oder über einen Digital/Analogwandler zu einer analogen Prüfeinrichtung geführt werden.The present invention is based on the object of a test device of the type mentioned above, a control of the functionality also in the operational one To ensure the condition and thus to create the possibility that practically the entire signal processing facility can be checked for functionality can. According to the invention, which relates to a testing device of the aforementioned Type, this is achieved by having an adapter circuit with a twofold Plug device is provided, the input-side and output-side connections connected via through lines and in series in the signal course of the to be tested, modules placed on the adapter circuit can be inserted without interruption, that branched off from the through lines secondary lines and to a selection circuit are performed, in which a selectable part of the secondary lines is switched through and that the switched secondary lines to a digital test device and / or via a digital / analog converter to an analog test device will.

Auf diese Weise kann eine herausgezogene Baugruppe weiterhin auf die Adapterschaltung aufgesteckt und zusammen mit dieser wieder an dem Neßplatz eingesetzt werden. Der ursprüngliche Signalverlauf wird somit nicht unterbrochen und die Uberprüfung der Funktionsfähigkeit kann je nach den Gegebenheiten in digitaler und/oder in analoger Form durchgeführt werden. Mittels der Auswahlschaltung können diejenigen Leitungen erfaßt werden, welche^von zusammengehörenden Signalen (z.B. bei achtstelliger Signalverarbeitung sind 8 Ubertrachungswege zu überprüfen) belegt sind.In this way, a pulled out assembly can still be on the The adapter circuit is attached and used together with this again at the Neßplatz will. The original signal course is thus not interrupted and the check is not interrupted the functionality can be digital and / or analog depending on the circumstances Form to be carried out. By means of the selection circuit, those lines It is possible to record which ^ of related signals (e.g. with eight-digit signal processing 8 transmission routes are to be checked) are occupied.

Die Erfindung sowie deren Weiterbildungen werden nachfolgend an Hand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt: Fig. 1 den Aufbau einer Adapterschaltung nach der Erfindung Fig. 2 in perspektivischer Darstellung ein zu prüfendes Gerät mit einer erfindungsgemäßen Adapterschaltung.The invention and its further developments are given below with reference to hand explained in more detail by drawings. It shows: Fig. 1 shows the structure of a Adapter circuit according to the invention to FIG. 2 in a perspective view testing device with an adapter circuit according to the invention.

In Fig. 1 ist ein Ausschnitt aus einem zur Aufnahme von Baugruppen vorgesehener Einschubrahmen mit ESR und eine zugehörige Baugruppe mit BG bezeichnet. Im Betriebszustand ist die Baugruppe BG mit dem Einschubrahmen ESR über eine an dem Einschubrahmen angebrachte Federleiste FL und über eine an der Baugruppe BG angebrachte Messerleiste ML direkt verbunden. Zu Prüfzwecken wird zwischen die Federleiste FL und die Messerleiste ML eine Adapterschaltung ADS eingefügt, welche eine Messerleiste MLP und eine Federleiste FLP aufweist.In Fig. 1 is a detail from a for receiving assemblies designated slide-in frame with ESR and an associated assembly with BG. In the operating state, the module BG with the slide-in frame ESR is on The socket strip FL attached to the slide-in frame and via a to the assembly group BG attached male connector ML directly connected. For testing purposes, it is placed between the female connector FL and the male connector ML have an adapter circuit ADS inserted, which has a male connector Has MLP and a female connector FLP.

Entsprechend den m Anschlußleitungen des Einschubrahmens ESR und den ebenfalls m Anschlüssen der Baugruppe BG sind m Durchgangsleitungen DLI, DL2 bis DLm vorgesehen, welche die Messerleiste ML mit der Federleiste FL verbinden. Auf diese Weise ist sichergestellt, daß auch bei der Prüfung sowohl die Baugruppe BG als auch der Einschubrahmen weiter arbeiten kann, weil sämtliche Leitungen (wie im Normalbetrieb) zwischen den Baueinheiten ESG und BG über die m Leitungen DL1 bis DLm durchverbunden sind.According to the m connecting lines of the slide-in frame ESR and the likewise m connections of the assembly BG are m through lines DLI, DL2 bis DLm, which connect the male connector ML to the female connector FL. on This ensures that both the assembly BG as well as the slide-in frame can continue to work because all lines (such as during normal operation) between the structural units ESG and BG via the m lines DL1 until DLm are connected.

Von jeder der Durchgangsleitungen DL1 bis DLm ist eine Nebenleitung NLI bis NLm abgezweigt und zu einer Auswahlschaltung ASW geführt.There is a bypass line from each of the through lines DL1 to DLm NLI to NLm branched off and led to a selection circuit ASW.

Diese Auswahlschaltung hat somit ebenfalls m Eingänge und ermöglicht es, aus den m Leitungen eine geringere Anzahl von n Leitungen auf die n Ausgänge der Auswahlschaltungen ASW durchzuschalten.This selection circuit thus also has m inputs and enables it, from the m lines, a smaller number of n lines to the n outputs to switch through the selection circuits ASW.

Dies ist deshalb notwendig, weil z.B. bei m = 16 Leitungen n = 4 Durchgangsleitungen DL1 bis DLm zusammengehörende Signale (Parallelverarbeitung 4-stellig) führen und somit diese Signale über die Auswahlschaltung ASW an dem n-fachen Ausgang bereitgestellt werden können. Die Zahl n ist so zu bemessen, daß die maximale Stellenzahl von parallelen, zusammengehörende Signale führenden Übertragungsleitungen herausgeführt werden kann. Von dem Ausgang der Auswahlschaltung ASW sind die n-Leitungen zunächst zu einem Ausgang DAG geführt, an dem eine digitale Prüfschaltung angeschlossen werden kann. In den meisten Fällen wird es sich um einen Rechner handeln, welcher in entsprechender Weise die Uberprüfung der n-Kanäle durchführt. Es ist zweckmäßig, die Steuerung der Funktion des Rechners und die Steuerung der Schalterstellung der Auswahl schalter ASW mittels eines hier nicht dargestellten Programmsteuerwerks durchzufuhren und dadurch den Prüfprozess zu automatisieren.This is necessary because e.g. with m = 16 lines n = 4 through lines DL1 to DLm carry signals that belong together (4-digit parallel processing) and thus these signals are provided at the n-fold output via the selection circuit ASW can be. The number n is to be measured in such a way that the maximum number of digits of parallel, Corresponding signals leading transmission lines can be led out. From the output of the selection circuit ASW, the n-lines are initially to one Output DAG to which a digital test circuit can be connected. In most cases it will be a computer that has a corresponding Way, checking the n-channels performs. It is appropriate the control of the function of the computer and the control of the switch position of the Selection switch ASW by means of a program control unit, not shown here and thereby automate the testing process.

Zusätzlich sind die n-Ausgangsleitungen der Auswahlschaltung ASW zu eine Digital/Analogaandler DAW geführt, an dessen Ausgang DAA ein analoges Signal liegt, welches an eine analog arbeitende Prüfvorrichtung angeschlossen werden kann. Auf diese Weise ist sowohl eine digitale als auch eine analoge Prüfung durchführbar und die Fehlersuche besonders schnell und effektiv zu gestalten. Als anpt loge Meß- oder Prüfeinrichtung kann beispielsweise ein Oszilloskop angeschaltet werden. Es sind sowohl statische als auch dynamaische Messungen durchführbar. Je nach den Anforderungen kann auch nur ein digitaler Ausgang (DAG) oder nur ein analoger Ausgang (DAA) vorgesehen sein.In addition, the n output lines of the selection circuit ASW are closed a digital / analog converter DAW, at whose output DAA an analog signal which can be connected to an analog test device. In this way, both a digital and an analog test can be carried out and to make troubleshooting particularly quick and effective. As an anpt loge or test equipment, for example an oscilloscope can be connected. It Both static and dynamic measurements can be carried out. Depending on the requirements only one digital output (DAG) or only one analog output (DAA) can be provided be.

In manchen Fällen ist es zweckmäßig, den alalogen Ausgang des Digital/llaloguandiers DAW über eine zusätzliche Leitung im Einschubramien weiterzuführen, was durch gestrichelte Linien in der Figur angedeutet ist. Somit ist neben den m digitalen Durchgangsleitungen DLI bis DLm noch eine weitere Durchgangsleitung ADL vorgesehen, auf welcher analoge Signale übertragen werden. Bei entsprechender Auslegung des Einschubrahmens haben auch die übrigen Anschlüsse eine weiterführende analoge Leitung bzw. einen analogen Äus- und Eingang, so daß die Analogprüfung an einer beliebigen Stelle des Geräts durchgeführt werden kann.In some cases it is useful to use the analog output of the digital / llaloguandier To continue the DAW via an additional line in the slide-in frame, indicated by a dashed line Lines in the figure is indicated. Thus, in addition to the m digital through lines DLI to DLm another through line ADL is provided on which analog Signals are transmitted. If the slide-in frame is designed accordingly, have the other connections also have a continuing analog line or an analog line Output and input, so that the analog test can be performed anywhere on the device can be carried out.

In Fig. 2 sind in dem aus Winkeleisen aufgebauten Einschubrablen ESR vier Baugruppen DGl bis BG4 vorgesehen. Die im Einschubrahmen vorgesehenen Federleisten sind mit Fiel bis FL4,die zugehörigen Ion.In Fig. 2 are built in angle iron slide-in bar ESR four modules DGl to BG4 are planned. The spring strips provided in the slide-in frame are with fell to FL4, the associated ion.

takte mit n bis KF bezeichnet. Zwischen den verschiedenen Kontaktstellen liegt die hier nicht dargestellte Verdrahtung. Die Baugrup.bars marked with n to KF. Between the different contact points is the wiring, not shown here. The construction.

pe BG3 ist gezogen und dafür zu Prüfzwecken die äußerlich gleich aufgebaut. Adapterschaltung Ans nach Fig. 1 eingesetzt. Auf die Stirnseite dieser Ädapterschaltung ADS ist die Baugruppe DG3 auf gesteckt uns das gesamte Gerät ist somit genauso betriebsfähig.pe BG3 has been drawn and for test purposes it has the same external structure. Adapter circuit Ans according to FIG. 1 used. On the face of this adapter circuit ADS, the DG3 module is plugged in and the entire device is therefore just as operational.

wie wenn die Baugruppe BG3 direkt in den Einschubrahien ESR eingesetzt wäre. An den Kontakten KAL liegt die analoge Durchgangsleitung ADL nach Fig. 1 der Adapterschaltung Ans, wobei eine gestrichelt gezeichnete durchgeschleifte Leitung ANL die Kontakte KAL miteinander verbindet. Die analogen Signale sind zu einer im Gerät eingebauten zentralen analogen Meß- und Anzeigeeinrichtung SG, z.B. in Form eines Oszilloskops, geführt und werden dort beim Prüfvorgang angezeigt. Somit kann die für die normale Betriebsüberwachung vorgesehene Anzeigeeinrichtung SG auch für den Prüfvorgang mit herangezogen werden.as if the module BG3 is inserted directly into the rack ESR were. The analog through line ADL according to FIG. 1 is connected to the contacts KAL Adapter circuit Ans, with a dashed line looped through ANL connects the contacts KAL with one another. The analog signals are to an im Device built-in central analog measuring and display device SG, e.g. in the form an oscilloscope, and are displayed there during the test process. Thus can the display device SG provided for normal operational monitoring also for the test process can also be used.

3 Patentansprüche 2 Figuren3 claims 2 figures

Claims

Claims test device for assemblies in digital electrical Circuits, with the modules on the input side and the output side via a plug-in device, in particular a Hesser and female connector, are connected and the signal processing takes place in parallel, that is, an adapter circuit (ADS) with a double plug device (MLP, FLP) is provided, the input side and connections on the output side via through lines (DL1 to DLm) and in series in the signal curve of the to be tested on the adapter circuit (ADS) mounted assembly (BG) can be inserted that secondary lines from the through lines (NLl to NDm) branched off and led to a selection circuit (ASW) in which a selectable part of the secondary lines (NL1 to KLm) is switched through and that the connected secondary lines to a digital test facility (at DAG) and / or via a digital / analog converter (DAW) to an analog test facility (at DAA).

2. Testing device according to claim 1, characterized in that at m-digit digital transmission paths of the module (BG) the associated plug-in devices (ML, FL, MLP, FLP) have at least 1 + 1 connections and that the analog output signal of the digital / analog converter (DAW) of another, which does not transmit digital signals Through line (ADL) is fed.

3. Testing device according to claim 2, characterized in that in a slide-in frame (ESR in Fig. 2) several modules (DG1 to HG4) are provided are and that the analog signals transmitting through line (ADL) via a Line looped through in the ice frame from assembly to assembly (ANL) to one built-in, central and analog display device (SG) is performed.