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DE2720804A1 - Verfahren zur materialpruefung - Google Patents

Verfahren zur materialpruefung

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DE2720804A1
DE2720804A1 DE19772720804 DE2720804A DE2720804A1 DE 2720804 A1 DE2720804 A1 DE 2720804A1 DE 19772720804 DE19772720804 DE 19772720804 DE 2720804 A DE2720804 A DE 2720804A DE 2720804 A1 DE2720804 A1 DE 2720804A1
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DE
Germany
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filter
pulse
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DE19772720804
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English (en)
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Walter John Hill
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
British Steel Corp
Original Assignee
British Steel Corp
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Publication date
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Description

Patentanwälte Dipl.-Ing. Curt WalIach
Dipl.-Ing. Günther Koch
S Dipl.-Phys. Dr.Tino Haibach
Dipl.-Ing. Rainer Feldkamp
D-8000 München 2 · Kaufingerstraße 8 · Telefon (0 89) 24 02 75 · Telex 5 29 513 wakai d
Datum: 9. Mai 1977
Unser Zeichen: 15 892 - Κ/Αρ
Uni ons pr i or i t ät Datum:
Land:
Aktenzeichen:
10. Mai I976
Großbritannien
19179/76
Bezeichnung:
Verfahren zur Materialprüfung
Anmelder:
British Steel Corporation 33 Grosvenor Place, London, S.W.I., England
Erfinder:
Walter John Hill, New Barnet, Hertfordshire, England
709848/0864
277ΠΒ0Α
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Peststellung von Materialfehlern und insbesondere, aber nicht ausschließlich auf die Peststellung von Oberflächenfehlern in Metallen.
Insbesondere befaßt sich die Erfindung mit der Feststellung und Ermittlung von Oberflächenfehlern in Stahlbändern, die mit einer Geschwindigkeit vorbeilaufen, welche eine herkömmliche visuelle Beobachtung zur Auffindung von Oberflächenfehlern ausschließt, die beispielsweise durch Karbideinschlüsse, Walzfehler, Poren oder dgl. bedingt sind.
Es ist bereits vorgeschlagen worden, das Vorhandensein von Oberflächenfehlern bei sich bewegenden Metallbändern dadurch festzustellen, daß das Band quer zur ZufUhrungsrichtung mittels eines Lichtstrahls abgetastet wird, wobei das Licht, welches von der Oberfläche und den Fehlstellen auf die der Strahl bei der Abtastung auffällt, reflektierte Licht einem Detektor zugeführt wird. Der Lichtstrahl ist dabei sehr schmal und es wird beispielsweise ein Laser benutzt, um die Auflösung auf einen annehmbaren Pegel zu erhöhen und nach Reflexion wird der Lichtstrahl durch eine geeignete photoelektrische Vorrichtung beispielsweise einen Photo-Vervielfacher weiterverarbeitet. Um eine Abtastung zu erzeugen, die genau die wirkliche Breite des Streifens abfühlt und nicht in einer schrägen Richtung verläuft, wird eine hohe Abtastgeschwindigkeit benutzt, beispielsweise mittels eines sich schnell drehenden Spiegels oder eines Prisma, die zwischen Lichtquelle und Bandoberfläche angeordnet sind. Eine hohe Abtastgeschwindigkeit gewährleistet auch eine vollständigere Bedeckung der Bandoberfläche und es wird die Möglichkeit ausgeschaltet, daß ein Fehler nicht festgestellt wird.
Bei herkömmlichen Anlagen arbeitet die Abtastvorrichtung
709848/0864
mit einer Winkelgeschwindigkeit In der Größenordnung von 10 m-sec pro Umdrehung und bei dieser Geschwindigkeit hat das von einem Band mit einer Breite von 1 m empfangene Signal eine Verweildauer von nicht mehr als 4 m-sec. Bei dieser kurzen Verweilzeit ist eine visuelle Prüfung einer vom Ausgang einer photoelektrischen Vorrichtung erlangten Darstellung unmöglich ohne komplexe zusätzliche Vorrichtungen wie Speicherröhren oder dgl. zu benutzen.
Außerdem enthält das vom Detektor gelieferte Signal Komponenten, die sowohl eine Oberflächenrauhigkeit als auch eine schlechte Form repräsentieren können und nicht nur die gewünschten vorübergehenden Signale, die unterschiedliche Arten von Fehlstellen darstellen. Diese Störungen erzeugen ein zusammengesetztes Signal, aus dem eine Fehlstelle nur schwierig abgeleitet und festgestellt werden kann. In Verbindung mit der kurzen Übergangsperiode ergibt dies beträchtliche Probleme und der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine verbesserte Fehleridentifizierung und Erkennung zu ermöglichen.
Gemäß der Erfindung wird die gestellte Aufgabe mittels eines Verfahrens zur Anzeige einer Fehlstelle in einem Werkstück dadurch gelöst, daß ein Signal, welches von der Inspektion eines Werkstücks herrührt und einen Impuls aufweist, der für die Fehlstelle repräsentativ ist, einer Filterbank zugeführt, die unterschiedliche Durchlaßcharakteristiken aufweist, welche Jeweils die Fehlstellen unterschiedlicher Typen repräsentieren, so daß das Filter, welches dem festgestellten Fehler am nächsten kommt, einen relativ größeren Ausgang erzeugt und eine Anzeige des Fehlertyps ermöglicht.
Eine zweckmäßige überprüfung wird dadurch bewerkstelligt, daß das Werkstück mit einer Strahlung abgetastet wird, die
709848/0864
danach auf einen Sensor einfällt, der das Signal einschließlich des Fehlerimpulses erzeugt.
Stattdessen kann das Werkstück jedoch auch im wesentlichen gleichförmig bestrahlt werden und die Inspektion kann dadurch bewirkt werden, daß das Werkstück einem Sensor abgetastet zugänglich gemacht wird, der das Signal einschließlich des Fehlerimpulses liefert. In diesem Falle kann der Sensor selbst bewegt werden, um eine Abtastung zu erzeugen oder er kann so angeordnet werden, daß er die vom Werkstück ausgehende Strahlung über einen Ziwsiienabtaster erhält, beispielsweise durch ein optisches System, wenn es sich bei der Strahlung um Licht handelt.
Zweckmäßigerweise wird ein Signal, daß vom Ausgang des Filterbankimpulses geliefert wird, mit dem Filterimpulseingang verglichen, um den Fehler zu identifizieren.
Gemäß einer bevorzugten Ausführung der Erfindung wird das zusammengesetzte Signal, welches repräsentativ für die Oberfläche des zu prüfenden Werkstücks steht, vom Ausgang einer photoelektrischen Vorrichtung abgenommen, die Licht empfängt, das von der Oberfläche von einem einfallenden Abtastlichtstrahl reflektiert wird. Der zusammengesetzte Ausgang der Vorrichtung enthält sich kontinuierlich ändernde Komponenten, die jeweils repräsentativ sind für die Oberflächenrauhigkeit und Formgebung und es sind außerdem vorübergehende Komponenten vorhanden, die diskrete Fehlstellen repräsentieren, auf die der Abtaststrahl zeitweilig einfällt. Eine eine Fehlstelle anzeigende Komponente, die der Filterbank zugeführt wird, wird jeweils einem der Filter dieser Bank am nächsten kommen und durch vorherige Versuche kann festgestellt werden, welcher Fehler aus einem weiten Bereich von Fehlern bei dem gerade geprüften Werkstück vorhanden ist.
709848/Q864 m/'
Dasjenige Filter, das in seinem Durchlaßbereich dem Fehlersignal am nächsten kommt, liefert den größten Ausgang wenn die Gesamtverstärkung jedes Filters in der Bank jeweils gleich ist.
Die Ausgänge der Filter können gemäß einer AusfUhrungsform der Erfindung direkt einem Digital-Voltmeter zugeführt werden, durch das der jeweilige Ausgang während eines Zeitintervalls erhalten bleibt, das ausreicht für den größten zu identifizierenden Ausgang. Mit der bekannten Durchlaßcharakteristik jenes Filters kann die Fehlerart ermittelt werden, so daß sowohl eine Fehleridentifizierung als auch eine Fehlererkennung erreicht wird.
Ein UND-Gatter betätigt, wenn es leitfähig ist, einen monostabilen Impulsgenerator, dessen Impulslänge angepaßt ist an die Impulslänge des entsprechenden Filters, so daß in geeigneter Weise eine Darstellung erfolgen kann, um den betreffenden Fehler zu identifizieren.
Nachstehend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Zeichnung beschrieben. In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Vorrichtung zur Erzeugung eines elektrischen Signals, welches für die Oberfläche eines sich bewegenden Stahlbandes repräsentativ ist;
Fig. 2 ein Schaltbild einer Vorrichtung zur Auffindung und Erkennung von Fehlstellen in dem Band gemäß Fig. 1;
Fig. 3 ein Schaltbild in der Schaltung nach Fig. 2 enthaltenen Detektors für den größten Wert;
7 09 8 A 8/08 6 A ./.
Pig. 4 eine Schaltung eines typischen in der Schaltung nach Fig. 2 benutzten Filters.
Fig. 1 zeigt schematisch ein Stahlband« welches sich mit einer Vorlaufgeschwindigkeit in einem Kaltwalzwerk in Pfeilrichtung bewegt. Die Bandoberfläche kann Fehlstellen aufweisen, beispielsweise KarbideinschiUsse oder Walzeinschlüsse und dgl., die das Band für den Verkauf unbrauchbar machen und die demgemäß identifiziert und erkannt werden müssen, so daß erforderlichenfalls Jener Bandabschnitt, der die Fehlstelle enthält, entfernt werden kann.
Um vorhandene Fehlstellen aufzufinden, wird die Oberfläche des Bandes 2 über die gesamte Breite durch einen monochromatischen Lichtstrahl 4 abgetastet, der von einem Laser 6 erzeugt und mittels eines Mehrflächenspiegels 8 auf das Band gerichtet wird, wobei der Spiegel mit einer Geschwindigkeit gedreht wird, die im Hinblick auf eine angemessene Abtastgeschwindigkeit angepaßt ist. Bei einer typischen Abtastgeschwindigkeit beträgt die Abtastung über einen Meter Bandbreite 10 m-sec. Das von der Abtastung herrührende reflektierte Licht wird einem Photovervielfacher 10 zugeführt, dessen Ausgang ein zusammengesetztes Signal ist, welches Komponenten enthält, die die Oberflächenrauhigkeit, schlechte Form und andere Störungen repräsentieren und zusätzlich dazu nur vorübergehend auftretende Signale die Fehlstellen oder Einschlüsse identifizieren.
Um die Fehlstellen zu identifizieren und ihre jeweilige Art zu erkennen, wird das zusammengesetzte Signal der in Fig. 2 dargestellten Schaltung zugeführt.
In dieser Schaltung wird das vom Photovervielfacher Io gelieferte Signal am Eingang 12 zugeführt und gleichzeitig
709848/0864
272(JBOA
einer Gruppe von Bandpaßfiltern 14, 16, 18 über einzelne Zeitverzögerungsglieder 20, 22 und 24 zugeführt. Ein jedes dieser Filter, die sämtlich von der in Figur 4 dargestellten Bauart sein können, besitzt eine unterschiedliche Frequenzdurchlaßcharakteristik, die so gewählt ist, daß sie den vorübergehend auftretenden Signalen entsprechen, die wahrscheinlich durch unterschiedliche Fehlstellen in dem sich bewegenden Band 2 erzeugt werden. Das Filter weist eine Reihenanordnung von einem Tiefpaßfilter, einem Puffer und einem Hochpaßfilter herkömmlicher Bauart auf, stattdessen können jedoch auch andere Ausbildungen benutzt werden. Das Filter mit dem langsamsten Ansprechen führt die größte Verzögerung für das am Eingang 12 angelegte Signal ein und wird demgemäß der Leitung mit der kürzesten Verzögerung zugeführt, so daß die kombinierte Verzögerung bei jeder Filterkombination gleich ist.
Dasjenige Filter, dessen Charakteristik dem Fehlersignal in der Anpassung am nächsten kommt, erzeugt den höchsten Ausgang.
Die Ausgangssignale der Filter 14, 16 und 18, die nunmehr hinsichtlich ihrer Verzögerung gleich sind, werden einem Höchstwert-Detektor 26 zugeführt, wo sie mit einem von einer Quelle 28 gelieferten Pegelsignal vorgewählter Stärke verglichen werden, wobei das größte Signal ausgewählt wird und ein Binärausgang nur von jenem Kanal abgeleitet wird, der demjenigen Filter entspricht, das die größte Ausgangsamplitude liefert. Der Schwellwertpegel ist so gewählt daß gewährleistet ist,daß nur Signale zum Vergleich herangezogen werden, die bedeutsame Fehlstellen repräsentieren.
Die Ausgänge der Filter 14, 16 und 18 werden ebenfalls gleichzeitig Spitzenwert-Detektoren 30, 32, 34 bekannter Art zuge-
709848/0864 ./.
" 12 " 27?Π8(Η
führt, deren Ausgänge benutzt werden um UND-Gatter 36, 38 und 40 zu triggern, die auch noch von den Ausgangssignalen des Detektors 26 gespeist werden.
Wenn die UND-Gatter durchgeschaltet sind, dann triggern sie entsprechende monostabile Impulsgeneratoren 42, 44, 46, deren Impulslängen jeweils der Durchlaßcharakteristik der Filter 14, 16 und 18 entsprechen und die demgemäß repräsentativ sind für entsprechende Fehlstellen. Die Ausgänge der Impulsgeneratoren werden kombiniert und einer geeigneten Darstellungsvorrichtung zugeführt. Das Signal von einem Impulsgenerator ist vorherrschend charakteristisch für die Größe eines Fehlers im Band. Jedoch können andere Charakteristiken des Fehlers erlangt werden, indem der Impulsgeneratorausgang mit dem entsprechenden Teil des Ursprungssignals verglichen wird, welches von dem Photoverstärker 10 abgeleitet und den Eingängen der Filter 14, 16 und 18 zugeführt wird. Eine Koinzidenz zwischen diesen Signalen kann wie erwähnt, dadurch erlangt werden, daß eine weitere Zeitverzögerung in einem Zeitverzögerungsglied 50 gemäß Fig. 2 eingeführt wird.
Ein geeigneter Höchstwertdetektor ist in Fig. 3 dargestellt. Er besteht aus Spannungskomparatoren 52, 54 und 57 herkömmlicher Bauart, die jeweils zwischen zwei Paare von Analogeingängen geschaltet sind, die Signale von den Feldern 14, 16 und 18 empfangen.
Die Ausgänge der Komparatoren werden durch eine Logikschaltung verarbeitet, die in der Lage ist, die Vergleichsergebnisse zu decodieren und dadurch den größten Filterausgang anzeigt. Wie aus Fig. 3 ersichtlich, weist die Logikschaltung Inverter 56, 58 und 60 auf, die miteinander über UND-Gatter 62, 64 und 66 so verbunden sind, daß die Kombination logischer
709848/0864 ./.
Operationen erzeugt wird, die erforderlich sind um den höchsten Signalpegel auszuwählen.
Im Betrieb triggert nur das Filter mit dem größten Ausgang, der über dem Detelctorschwellwertpegel liegt, nur eines der UND-Gatter 36, 38 und 40 und dieses UND-Gatter aktiviert wiederum den entsprechenden Impulsgenerator. Die Fehlstelle wird demgemäß sowohl identifiziert als auch erkannt, wenn die Charakteristiken der Filter korrekt den repräsentativen Fehlern angepaßt sind.
Der Ausgang der monostabilen Stufen oder der entsprechenden UND-Gatter können geeignete Anzeigevorrichtungen aktivieren, deren Ablesungen für eine einzelne Abtastung oder für eine gewählte Zahl von Abtastungen erhalten bleiben und dann gelöscht werden.
Aufeinanderfolgende Abtastungen, die auf Fehlstellen unterschiedlicher Art einfallen, erzeugen den größten Ausgang jeweils in anderen Filtern, die unterschiedliche monostabile Stufen aktivieren und eine ähnliche Identifizierung und Erkennung ermöglichen.
Die Erfindung wurde vorstehend in Verbindung mit der überprüfung von Oberflächenfehlern beschrieben. Das gleiche Verfahren kann jedoch auch angewandt werden, um innere Fehler des Werkstücks festzustellen. In diesem Fall kann das Werkstück durch Ultraschall oder mit Röntgenstrahlen abgetastet werden, die in geeigneter Weise über Detektoren nach Durchlaufen des Bandes aufgenommen werden und zusammengesetzte Signale erzeugen, die in gleicher Weise benutzt werden können, um Fehlstellen festzustellen und nach ihrer Art zu erkennen.
709fU8/0864

Claims (1)

  1. Patentansprüche :
    1.) Verfahren zur Werkstoffprüfung zur Feststellung von Fehlstellen in einem Werkstück, dadurch gekennzeichnet, daß ein durch Inspektion des Werkstücks erlangtes Signal, welches einen Impuls enthält, der für die Fehlerart repräsentativ ist, einer Gruppe von Filtern mit unterschiedlicher Durchlaßcharakteristik zugeführt wird, die jeweils für einen bestimmten Fehler repräsentativ sind, wobei dasjenige Filter, welches dem festgestellten Fehler am nächsten kommt, einen beträchtlich größeren Ausgang erzeugt und eine Anzeige der Fehlerart liefert.
    Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Werkstück mit einer Strahlung abgetastet wird, die danach auf einen Sensor geleitet wird, der das Signal einschließlich des Fehlerimpulses erzeugt.
    Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Abtastung des bestrahlten Werkstücks einem Sensor zugeführt wird, der das Signal einschließlich dem Fehlerimpuls erzeugt.
    Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Werkstück durch einen Lichtstrahl abgetastet wird und daß eine photoelektrische Vorrichtung das von der Werkstückoberfläche reflektierte Licht empfängt.
    709848/0864 ORIGINAL INSPECTED
    272Π604 Ά
    5· Verfahren nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet, daß das Werkstück im wesentlichen gleichförmig beleuchtet wird und daß eine photoelektrische Vorrichtung vorgesehen ist, um das Werkstück abzutasten.
    6. Verfahren nach Anspruch 3* dadurch gekennzeichnet, daß das Werkstück im wesentlichen gleichförmig beleuchtet ist und daß ein optisches System zur Abtastung des Werkstücks vorgesehen ist, das das Licht auf eine photoelektrische Vorrichtung richtet.
    7. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge der Filter einem Höchstwertdetektor zugeführt werden.
    8. Verfahren nach Anspruch 7» dadurch gekennzeichnet, daß das jedem Filter zugeführte Signal zeitlich verzögert wird, um die Differenzen der den Filter eigenen Verzögerungen zu kompensieren*
    9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Verzögerung durch einzelne Filterelemente in den Filtereingängen erzeugt wird.
    10. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Verzögerung durch eine Verzögerungsleitung erzeugt wird, die abgezapft ist um die einzelnen Filter zu speisen.
    70984R/086A
    272H8G4
    11. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Höchstwertdetektor einen Binärausgang erzeugt.
    12. Verfahren nach den Ansprüchen 7 bis H> dadurch gekennzeichnet« daß der Höchstwertdetektor oberhalb eines Schwellwertes wirksam ist und nur die Impulse auswählt« die merkliche Fehlstellen charakterisier
    13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß ein vom Ausgang der Filterbank empfangenes Signal Hit dem Filtereingang verglichen wird, um diesen Fehler zu identifizieren.
    14. Verfahren nach Anspruch I3, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge der Filter Spitzenwert-Detektoren zusammen mit den Ausgängen des Höchstwertdetektors zugeführt werden, um UND-Gatter zu triggern, die monostabile Impulsgeneratoren speisen, welche Ausgänge liefern, die ein Maß für die Fehlergröße sind.
    15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der der Filtergruppe zugeführte Impuls mit dem Ausgang der Impulsgeneratoren verglichen wird, um den Fehler zu erkennen.
    7098 U R/0864
    I»
    16. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß eine Zeitverzögerung benutzt wird, um eine zeitliche Übereinstimmung des Auftretens der Signale zwischen Impulseingang und Filterbank und nach dem Ausgang der Impulsgeneratoren zu erzeugen.
    17. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 16, dadunh gekennzeichnet, daß mehrere Impulse die von mehreren Prüfabtastungen des Werkstücks herrühren, der Filterbank zugeführt werden.
    709848/0864
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GB19179/76A GB1584145A (en) 1976-05-10 1976-05-10 Defect detection

Publications (1)

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DE2720804A1 true DE2720804A1 (de) 1977-12-01

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Family Applications (1)

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US (1) US4298808A (de)
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DE (1) DE2720804A1 (de)
GB (1) GB1584145A (de)
SE (1) SE7705350L (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0108470A1 (de) * 1982-08-13 1984-05-16 Bl Technology Limited Vorrichtung und Verfahren zur Überprüfung eines Teiles
EP0065051A3 (en) * 1981-05-12 1984-05-23 Ford Aerospace & Communications Corporation Surface inspection scanning system and method
DE3325125C1 (de) * 1983-07-12 1985-02-14 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3687632T2 (de) * 1985-12-06 1993-05-19 Fujisawa Pharmaceutical Co Druckvorrichtung fuer pastillen.
JPH0637227Y2 (ja) * 1989-12-18 1994-09-28 日本特殊ベアリング株式会社 ボールネジにおけるボール循環路
US5649242A (en) * 1996-05-02 1997-07-15 Eastman Kodak Company Multi-lamp flash wheel and camera
US5815198A (en) * 1996-05-31 1998-09-29 Vachtsevanos; George J. Method and apparatus for analyzing an image to detect and identify defects
US6092412A (en) * 1998-05-05 2000-07-25 International Business Machines Corporation Glide height test signal processor and method using increased high frequency components
US8297122B2 (en) * 2009-06-19 2012-10-30 Georgia Tech Research Corporation Methods and systems for detecting defects in welded structures
US8256296B2 (en) * 2009-08-03 2012-09-04 Georgia Tech Research Corporation Methods and systems for detecting defects in welded structures utilizing pattern matching
US8146429B2 (en) * 2009-08-03 2012-04-03 Georgia Tech Research Corporation Methods and systems for classifying the type and severity of defects in welds

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1352987A (fr) 1963-01-10 1964-02-21 Saint Gobain Procédé pour la détermination de la qualité du verre et notamment du verre étiré
GB1302865A (de) 1969-07-14 1973-01-10
GB1409653A (en) * 1971-09-23 1975-10-08 Masson Scott Thrissell Eng Ltd Methods and apparatus for inspecting the surface of sheet material
DE2204284B2 (de) * 1972-01-29 1974-04-25 National Rejectors Inc. Gmbh, 2150 Buxtehude Vorrichtung zur lichtelektrischen Prüfung von blattförmigem Material, insbesondere von Dokumenten oder Banknoten
US3866054A (en) * 1973-09-28 1975-02-11 Du Pont Defect size discriminator circuit for web inspection system
JPS5079379A (de) 1973-11-13 1975-06-27
US4110048A (en) * 1974-11-05 1978-08-29 Kawasaki Steel Corporation Method of and an apparatus for inspecting a traveling sheet material

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0065051A3 (en) * 1981-05-12 1984-05-23 Ford Aerospace & Communications Corporation Surface inspection scanning system and method
EP0108470A1 (de) * 1982-08-13 1984-05-16 Bl Technology Limited Vorrichtung und Verfahren zur Überprüfung eines Teiles
DE3325125C1 (de) * 1983-07-12 1985-02-14 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen

Also Published As

Publication number Publication date
GB1584145A (en) 1981-02-04
JPS534592A (en) 1978-01-17
US4298808A (en) 1981-11-03
SE7705350L (sv) 1977-11-11

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