DE2603797A1 - PROCEDURE FOR CHECKING A THERMOELEMENT AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION - Google Patents
PROCEDURE FOR CHECKING A THERMOELEMENT AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATIONInfo
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Description
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Beschreibung
zum Patentgesuchdescription
to the patent application
der Firma The Solartron Electronic Group Limited, Victoria Roadf Farnborough, Hampshire / Englandof The Solartron Electronic Group Limited, Victoria Road f Farnborough, Hampshire / England
betreffend:concerning:
"Verfahren zum überprüfen eines Thermoelements und Vorrichtung zu seiner Durchführung""Procedure for checking a thermocouple and the device for carrying it out"
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung für die Überprüfung von Thermoelementen oder Thermopaaren, insbesondere solche Thermoelemente, die mit einer Datenverarbeitungsanlage zusammenwirken.The invention relates to a method and a device for checking thermocouples or Thermocouples, especially those thermocouples that interact with a data processing system.
Ein typische Datenverarbeitungsanlage im hier gebrauchten Sinne ist mit einer großen Anzahl von Thermoelementen verbunden, die jeweils an einer zugeordneten Stelle einer Anlage angeordnet sind,wie etwa einem Kraftwerk oder einer chemischen Anlage, die von der Datenverarbeitungsanlage überwacht werden soll. Eine Datenverarbeitungsanlage in diesem Sinne könnte also auch als eine Prozeßsteuerung bezeichnet werden. Jedes Thermoelement ist selektiv an ein Meßgerät anschließbar, etwa ein Digital-Voltmeter, das einen Teil der Datenverarbeitungsanlage bildet und die jeweilige thermische EMK mißt, die vom Thermoelement erzeugt wird, um so die zugeordnete Tjrfermperatur an den verschiedenen Stellen zu ermitteln, wo die Thermoelemente angeordnet sind. Von Zeit zu Zeit ist es möglich, daß das eine oder andere ThermoelementA typical data processing system in the sense used here is connected to a large number of thermocouples, which are each arranged at an assigned point of a plant, such as a power plant or a chemical plant, which is to be monitored by the data processing system. A data processing system in this sense could also be called a process control can be referred to. Each thermocouple can be selectively connected to a measuring device, such as a digital voltmeter, which forms part of the data processing system and measures the respective thermal EMF that is generated by the thermocouple, all the more so the associated temperature at the various points determine where the thermocouples are located. From time to time it is possible that one or the other thermocouple
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beschädigt wird, z.B. während seiner Umlegung zu einem anderen Punkt der Anlage. Wenn die Beschädigung dazu führt, daß der Thermoelement-Stromkreis unterbrochen wird, kann man dies ohne weiteres feststellen. Es ist jedoch möglich, daß die Beschädigung dazu führt, daß das Thermoelement einen höheren Widerstand als normal aufweist, anstatt daß der Stromkreis einfach unterbrochen ist. In diesem Falle kann dann das Thermoelement weiter eine scheinbar normale Ausgangs-EMK erzeugen, d.h. eine Ausgangs-EMK innerhalb seines normalen Betriebsbereiches, die jedoch nichtsdestoweniger falsch ist, und die Temperatur, der das Thermoelement ausgesetzt ist, nicht korreikt wiedergibt. Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu seiner Durchführung zu schaffen, mit denen Thermoelemente, angeschlossen an eine Datenverarbeitungsanlage überprüft oder getestet werden können. Das Verfahren gemäß der Erfindung ist im Patentanspruch 1 zusammengefaßt, während die Ansprüche 2 bis 4 bevorzugte Weiterbildungen definieren. Die Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens ist in ihrer allgemeinsten Form im Anspruch 5 definiert, während die folgenden Unteransprüche bevorzugte Weiterbildungen der Vorrichtung definieren.damaged, e.g. during its relocation to another point in the system. If the damage causes the If the thermocouple circuit is interrupted, this can be determined without further ado. However, it is possible that the damage causes the thermocouple to have a higher than normal resistance rather than simply breaking the circuit is. In this case the thermocouple can then continue to produce a seemingly normal output EMF, i.e. an output EMF within its normal operating range, which is nonetheless incorrect, and the temperature at which the thermocouple is exposed, does not reflect correctly. The object of the present invention is to provide a method and a device to create its implementation, with which thermocouples, connected to a data processing system or checked can be tested. The method according to the invention is summarized in claim 1, while claims 2 to 4 define preferred training courses. The apparatus for performing the method is in its most general form in Claim 5 defines, while the following subclaims define preferred developments of the device.
Ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung wird nachstehend unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung näher erläutert; diese stellt ein Blockdiagramm der Vorrichtung dar, die bestimmt ist für die Verwendung einer Datenverarbeitungsanlage zwecks überprüfung von Thermoelementen, die der Datenverarbeitungsanlage zugeordnet sind.An exemplary embodiment of the subject matter of the invention will be described in greater detail below with reference to the accompanying drawings explained; this represents a block diagram of the device which is intended for the use of a data processing system for the purpose of checking thermocouples in the data processing system assigned.
Die Vorrichtung, die in der Zeichnung dargestellt und als ganze mit 10 bezeichnet ist, bildet einen Teil einer Datenverarbeitungsanlage. Die Vorrichtung 10 umfaßt ein Paar von Eingangsklemmen 11, 12, die im Betrieb angeschlossen sind für cm Empfang der Ausgangsspannung, erzeugt durch ein Thermoelement 14 mitThe device, which is shown in the drawing and designated as a whole with 10, forms part of a data processing system. The device 10 comprises a pair of input terminals 11, 12 which, in use, are connected for CM reception the output voltage generated by a thermocouple 14 with
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2 6 η τ/ η ν2 6 η τ / η ν
einem heißen Punkt 16 und einem kalten Punkt 18. Zwecks Vereinfachung ist nur ein einziges Thermoelement dargestellt, obwohl in der Praxis bei der typischen Anwendung bei einer Datenverarbeitungsanlage eine Mehrzahl von Thermoelementen selektiv an die Eingangsklemmen 11, 12 mittels einer Abtasteinheit anschließbar ist.a hot point 16 and a cold point 18. For convenience only a single thermocouple is shown, although in practice it is typically used in a data processing system a plurality of thermocouples can be selectively connected to the input terminals 11, 12 by means of a scanning unit is.
Die Klemmen 11, 12 sind innerhalb der Vorrichtung 10 an die Eingangsklemmen 20, 21 eines Analog-Digital-Wandlers 22 angeschlossen, der einen Steuereingang 24 und einen Ausgang 26 aufweist. Der Wandler 22 ist so ausgebildet, daß er am Ausgang 26 bei Anlegen eines Steuersignals am Steuereingang 24 ein digitales Ausgangssignal erzeugt, das repräsentativ ist für die Größe der Spannung, die an seinen Eingangsklemmen 20, 21 anliegt.The terminals 11, 12 are connected within the device 10 to the input terminals 20, 21 of an analog-to-digital converter 22 connected, which has a control input 24 and an output 26. The transducer 22 is designed so that it is at the output 26 when a control signal is applied to the control input 24, a digital output signal is generated which is representative of the size of the voltage that is applied to its input terminals 20, 21.
Die Klemmen 11, 12 sind ferner über entsprechende Schalter 28, 30 mit den Ausgängen 32, 34 einer Konstant-Stromquelle 36 verbunden. Typischerweise sind die Schalter 28, 30 als Reed-Relais1 ausgebildet.The terminals 11, 12 are also connected to the outputs 32, 34 of a constant current source 36 via corresponding switches 28, 30. The switches 28, 30 are typically designed as reed relays 1 .
Der Ausgang 26 des Wandlers 22 ist mit einem Umschalter verbunden, der eine erste Schaltstellung aufweist, in der der Ausgang 26 mit dem Eingang 39 eines Digital-Speichers 40 verbunden ist; in einer zweiten Schaltstellung verbindet er den Ausgang 26 mit einem Eingang 42 eines digitalen Subtrahierschaltkreises 44. Der Speicher 40 besitzt einen Steuereingang 45 und einen Ausgang 46 ist verbunden mit einem weiteren Eingang 48 des Subtrahierschaltkreises 44.The output 26 of the converter 22 is connected to a changeover switch which has a first switch position in which the Output 26 is connected to input 39 of a digital memory 40; in a second switch position it connects the output 26 with an input 42 of a digital subtraction circuit 44. The memory 40 has a control input 45 and an output 46 is connected to a further input 48 of the subtracting circuit 44.
Der Subtrahierschaltkreis 44 besitzt einen Steuereingang 49 und einen Ausgang 50, der mit einem Umschalter 52 verbunden ist. Der Umschalter 52 weist eine erste Schaltstellung auf, in der er den Ausgang 50 mit dem Eingang 54 eines weiteren Digitalspeichers 56 verbindet, sowie eine zweite Schaltstellung, in der er den Ausgang 50 mit einem Vergleichseingang 58 eines Digital-The subtraction circuit 44 has a control input 49 and an output 50 which is connected to a changeover switch 52 is. The changeover switch 52 has a first switch position in which it connects the output 50 to the input 54 of a further digital memory 56 connects, as well as a second switching position in which it connects the output 50 with a comparison input 58 of a digital
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Komparators 60 verbindet. Der Speicher 56 besitzt einen Steuereingang 61 und einen Ausgang 62, der verbunden ist mit einem anderen Vergleichseingang 64 des Komparators 60. Der Komparator 60 besitzt einen Steuereingang 65.Comparator 60 connects. The memory 56 has a control input 61 and an output 62 which is connected to another comparison input 64 of the comparator 60. The comparator 60 has a control input 65.
Auch der Komparator 60 besitzt einen Ausgang 66, an den er ein Signal entsprechend einem Logikpegel "1" überträgt, wenn die jeweils an seine Eingänge 58, 64 angelegten Digital-Signale um mehr als einen vorgegebenen Betrag differieren; wenn diese Digital-Signale um nicht mehr als diesen vorgegebenen Betrag voneinander abweichen, erzeugt der Komparator 60 an seinem Ausgang 66 ein Signal, entsprechend einem Logikpegel "0". Das Signal am Ausgang 66 des Komparators 60 bildet das Ausgangssignal der Vorrichtung 10.The comparator 60 also has an output 66 to which it transmits a signal corresponding to a logic level "1" when the digital signals applied to its inputs 58, 64 differ by more than a predetermined amount; if those Digital signals do not differ from one another by more than this predetermined amount, the comparator 60 generates at its output 66, a signal corresponding to a logic "0" level. The signal at the output 66 of the comparator 60 forms the output signal of the device 10.
Ferner umfaßt die Vorrichtung 10 einen Sequenz-Kontrollschaltkreis 70 mit einem Setzeingang 71, einem Test-Start-Eingang 72 und einer Mehrzahl von Steuerausgängen 73, 74, 75, 76 und 77: Der Steuerausgang 73 ist verbunden mit dem Steuereingang 23 des Wandlers 22; der Steuerausgang 74 ist verbunden mit den Schaltern 28, 30, 38 (wie durch die Pfeile 78 angedeutet); der Steuerausgang 75 ist verbunden mit den Steuereingangen 45, 49 des Speichers 40 bzw. des Subtrahierschaltkreises 44, der Steuerausqanq 76 ist verbunden mit dem Schalter 5 2 (wie durch einen Pfeil 79 angedeutet), und der Steuerausgang 77 ist verbunden mit den Steuereingängen 61, 65 des Speichers 56 bzw. des Komparators 60. Der Sequenz-Kontrollschaltkreis 70 wird nicht im einzelnen erläutert, da er im wesentlichen nur eine Quelle für Taktimpulse, mindestens einen Zähler und eine Mehrzahl von logischen Gatterschal tkreisen und bistabilen Schaltkreisen umfaßt, die alle in konventioneller Weise so ausgebildet sind, daß die Steuerausgänge 73-77 während vorgegebener Zeitperioden und in vorgegebenem Ablauf erregt werden, wie nachfolgend noch erläutert.The device 10 further comprises a sequence control circuit 70 with a set input 71, a test start input 72 and a plurality of control outputs 73, 74, 75, 76 and 77: The control output 73 is connected to the control input 23 of the Converter 22; the control output 74 is connected to the switches 28, 30, 38 (as indicated by the arrows 78); the control output 75 is connected to the control inputs 45, 49 of the Memory 40 or the subtracting circuit 44, the Steuerausqanq 76 is connected to the switch 5 2 (as indicated by an arrow 79), and the control output 77 is connected to the Control inputs 61, 65 of the memory 56 and the comparator 60, respectively. The sequence control circuit 70 will not be discussed in detail since it is essentially only one source for clock pulses, at least one counter and a plurality of logic gate circuits and bistable circuits, all in Conventionally designed so that the control outputs 73-77 during predetermined time periods and in a predetermined Sequence are excited, as explained below.
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Im Betrieb und zu einem Zeitpunkt, zu dem man weiß, daß das Thermoelement 14 richtig arbeitet, und bei einer stabilen Temperatur wird das Thermoelement 14 an die Eingangskieramen 11, 12 der Vorrichtung 10 angeschlossen. Um den Betrieb der Vorrichtung 10 einzuleiten, wird ein Impuls an den Setzeingang 71 des Sequenzkontrollschaltkreises 70 angelegt, und dieser Impuls bewirkt, falls erforderlich, daß alle Schalter 28, 30, 38, 52 in die in Fig. 1 dargestellten Schaltstellungen umgelegt werden. Die Ausgangsspannung V,,erzeugt vom Thermoelement 14, welche Ausgangsspannung die thermische EMK ist, erzeugt durch das Thermoelement, wird g demgemäß an die Eingangsklemmen 20, 21 des Wandlers 22 angelegt.In operation and at a time when it is known that the thermocouple 14 is working properly and at a stable Temperature, the thermocouple 14 is connected to the input cables 11, 12 of the device 10. To the operation of the device 10 initiate, a pulse is applied to the set input 71 of the sequence control circuit 70, and this If necessary, a pulse causes all switches 28, 30, 38, 52 to be switched to the switch positions shown in FIG will. The output voltage V1 generated by the thermocouple 14, which output voltage is the thermal emf, generated by the thermocouple, g is accordingly applied to the input terminals 20, 21 of the transducer 22.
Kurz nach diesem ersten Impuls erzeugt der Sequenzkontrollschaltkreis 70 an seinem Steuerausgang 73 einen "Digitialisiersteuerimpuls", der an den Steuereingang 24 des Wandlers 22 angelegt wird, und diesen veranlaßt, an seinem Ausgang 26 ein erstes Digitalsignal ν,_ zu erzeugen, das repräsentativ ist für die Größe der Spannung V,. Man erkennt demgemäß, daß das Digitalsignal V,D repräsentativ ist für die Größe der thermischen EMK, erzeugt durch das Thermoelement 14. Dieses erste Digitalsignal V1D wird mittels Schalter 38 in den Speicher 40 eingegeben.Shortly after this first pulse, the sequence control circuit 70 generates a "digitization control pulse" at its control output 73, which is applied to the control input 24 of the converter 22 and causes it to generate a first digital signal ν, _ at its output 26, which is representative of the magnitude of the voltage V ,. Accordingly, it can be seen that the digital signal V, D is representative of the magnitude of the thermal EMF generated by the thermocouple 14. This first digital signal V 1D is input into the memory 40 by means of the switch 38.
Kurz nach Einspeichern des Digitalsignals V,Q im Speicher 40 erzeugt der Seguenzkontrollschaltkreis 70 an seinem Steuerausgang 74 ein Signal, mit dem alle Schalter 28, 30, 38 in die jeweils andere (in der Zeichnung nicht dargestellte) Schaltstellung umgelegt werden. Die Konstantstromquelle 36 wird demgemäß angelegt und läßt einen bekannten Strom I durch das Thermoelement 14 fließen. Das Thermoelement erzeugt nun eine Ausgangsspannung V3, die die Summe seiner thermischen EMK, V, und einer Spannung V- repräsentiert, erzeugt über dem ThermoelemeniShortly after the digital signal V, Q has been stored in the memory 40, the sequence control circuit 70 generates a signal at its control output 74 with which all switches 28, 30, 38 are switched to the respective other switch position (not shown in the drawing). The constant current source 36 is accordingly applied and allows a known current I to flow through the thermocouple 14. The thermocouple now generates an output voltage V 3 , which represents the sum of its thermal emf, V, and a voltage V-, generated across the thermocouple
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durch das Fließen des bekannten Stromes K, wobei diese Spannung V3 gegeben ist als IR, mit R als dem Widerstand des Thermoelementes 14, wenn es korrekt arbeitet. Kurz danach erzeugt der Sequenz-Kontrollschaltkreis 70 an seinem Ausgang 73 einen weiteren"Digitalisier-Steuerimpuls", mit dem der Wandler 22 veranlaßt wird, an seinem Ausgang 26 ein zweites Digitalsignal VQ2, repräsentativ für die Größe der Spannung V_, zu erzeugen. Dieses zweite Digitalsignal wird mittels Schalter 38 an den Eingang 42 des Subtrahierschaltkreises 44 gelegt. Das Zeitintervall zwischen der Erzeugung des ersten und zweiten Digitalsignals ist typischerweise kleiner als eine Sekunde, so daß die Temperatur des Thermoelementes 14 mit großer Wahrscheinlichkeit als konstant angesehen werden kann.by the flow of the known current K, this voltage V 3 being given as IR, with R being the resistance of the thermocouple 14 when it is operating correctly. Shortly thereafter, the sequence control circuit 70 generates a further "digitizing control pulse" at its output 73, which causes the converter 22 to generate a second digital signal V Q2 , representative of the magnitude of the voltage V_, at its output 26. This second digital signal is applied to the input 42 of the subtraction circuit 44 by means of switch 38. The time interval between the generation of the first and second digital signals is typically less than one second, so that the temperature of the thermocouple 14 can be regarded as constant with a high degree of probability.
Der Sequenz-Kontrollschaltkreis 70 erzeugt dann an seinem Ausgang 75 einen Impuls, der veranlaßt, daß das Digitalsignal im Speicher 40 ausgelesen wird, und an den anderen Eingang 48 des Subtrahierschaltkreises 44 angelegt wird, wobei derselbe Impuls auch veranlaßt, daß der Subtrahierschaltkreis algebraisii eines der beiden Digitalsignale an seinen Eingängen 42, 48 von dem anderen subtrahiert. Der Subtrahierschaltkreis 44 erzeugt demgemäß an seinem Ausgang 50 ein digitales Differenzsignal, das repräsentativ ist für das Ergebnis dieser Subtraktion und daher repräsentativ für die Größe der Spannung V_ - V. = V- = IR: Dieses Digitaldifferenzsignal wird in den Speicher 56 eingeschrieben über den Schalter 52. Infolgedessen enthält der Speicher 56 nun ein Digitalsignal, das repräsentativ ist für die Größe des Widerstandes des Thermoelementes 14 zu dem Zeitpunkt, wenn man von diesem weiß, daß es korrekt arbeitet.The sequence control circuit 70 then generates a pulse at its output 75 which causes the digital signal is read out in the memory 40, and is applied to the other input 48 of the subtracting circuit 44, wherein the same pulse also causes the subtraction circuit to algebraisii one of the two digital signals at its inputs 42, 48 subtracted from the other. The subtracting circuit 44 accordingly generates a value at its output 50 digital difference signal which is representative of the result of this subtraction and therefore representative of the Size of the voltage V_ - V. = V- = IR: This digital difference signal is written into the memory 56 via the switch 52. As a result, the memory 56 now contains a digital signal which is representative of the magnitude of the resistance of the thermocouple 14 at the point in time when it is known that it is working correctly.
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Um danach das Thermoelement 14 zu überprüfen oder zu testen, wird ein Impuls an den Teststarteingang 72 des Seguenz-Kontrollschaltkreises 70 angelegt, mit dem der Schalter 52 in seine nicht dargestellte Schaltstellung umgelegt wird, und die anderen Schalter 28, 30, 38 in die dargestellten Schaltstellungen gebracht werden. Danach läuft die oben beschriebene Abfolge der Vorgänge für die Erzeugung der ersten und zweiten Digitalsignale und für die Ableitung eines digitalen Differenzsignals aus diesen wieder ab, doch wird nun das digitale Differenzsignal über den Schalter 52 an den Vergleichseingang 58 des !Comparators 60 angelegt. Der Sequenzkontrolls chaltkreis 70 erzeugt dann an seinem Ausgang 77 einen Impuls, mit dem das Digitalsignal im Speicher 56 ohne Besang Löschung ausgelesen wird und an den anderen Vergleichseingang 64 des !Comparators 60 angelegt wird, wobei derselbe Impuls auch veranlaßt, daß der Komparator die Digitalsignale an seinen Eingängen 58, 64 überprüft. Wenn der Widerstand des Thermoelementes 14 sich nicht erheblich geändert hat, was bedeutet, daß das Thermoelement noch immer zuverlässig arbeitet, erzeugt der Komparator 60 an seinem Ausgang 66 das oben erwähnte Logikpegel "0" Signal, während dann, wenn der Widerstand des Thermoelementes sich erheblich geändert hat, der I'< ■ arator 60 ein Loqikneqel "1" Sianal an seinen Ausqanq -:.i. Lt Dieses letztere Signal kann verwendet werden, um einen Al auszulösen, ζ.Γ, eine 'iarmlamno, -falls 'ewünscht.In order to then check or test the thermocouple 14, a pulse is applied to the test start input 72 of the sequence control circuit 70, with which the switch 52 is switched to its switching position, not shown, and the other switches 28, 30, 38 to the one shown Switch positions are brought. The above-described sequence of processes for generating the first and second digital signals and for deriving a digital difference signal therefrom then runs again, but the digital difference signal is now applied to comparison input 58 of comparator 60 via switch 52. The sequence control circuit 70 then generates a pulse at its output 77 with which the digital signal in the memory 56 is read out without deletion and is applied to the other comparison input 64 of the comparator 60, the same pulse also causing the comparator to display the digital signals its inputs 58, 64 checked. If the resistance of the thermocouple 14 has not changed significantly, which means that the thermocouple is still operating reliably, the comparator 60 produces the above-mentioned logic level "0" signal at its output 66, while if the resistance of the thermocouple has changed significantly has changed, the I '<■ arator 60 a Loqikneqel "1" Sianal at its Ausqanq -: i. Lt This latter signal can be used to trigger an Al, ζ.Γ, an 'iarmlamno, -if' ewished.
■ >t!i 'ipsamte Pri:4 ier Testvorqanq, der ^ben beschrieben '·■' χ, wird von Zeit ru Zeit wiederholt, un eine foi tlauf ende * τ 1 ".: r.rüfunq des Thermoelementes 14 zu bewirken, und kann von Harn, oder/und durch eine Zeitgebereinheit einqeleitet werden, die einen Teil der Datenverarbeitunqsanlage bildet. Es kommt nicht darauf an, daß die Temperatur des Thermoelementes 14 bei jedem Test unterschiedlich ist, da die thermische EMK, erzeugt durch das Thermoelement, unabhängig von ihrer Größe durch die Subtraktion kompensiert wird.■> t! I 'ipsamte Pri: 4 ier test procedures, the ^ ben described' · ■ ' χ, is repeated from time to time to bring about a subsequent end * τ 1 ".: R.checking of the thermocouple 14, and can be initiated by urine and / or by a timer unit which forms part of the data processing system It does not matter that the temperature of the thermocouple 14 is different for each test, since the thermal emf generated by the thermocouple is independent is compensated for by the subtraction of its size.
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Um Vorsorge fü:; eine Mehrzahl von Thermo elementen zu treffen, ist es nur erforderlich, die Kapazität des Speichers 56 so auszubilden, daß ein entsprechendes digitales Differenzsignal für jedes Thermoelement gespeichert werden kann, und den Sequenzkontrollschaltkreis so auszubilden, daß zunächst die gesamte Abfolge der Arbeitsgänge im Ansprechen auf den ersten Impuls, angelegt an den Eingang 71, für jedes Thermoelement für sich durchgeführt wird, und zweitens, der gesamte Ablauf der Schaltvorgänge im Ansprechen auf jeden Test-Start-Impuls für jedes Thermoelement wiederholt wird (wobei der Speicher 56 für jedes Thermoelement richtig angesteuert oder adressiert wird). Alternativ kann auch die Kapazität des Speichers 40 vergrößert werden, und der Sequenzkontrollschaltkreis 70 kann so ausgebildet sein, daß er veranlaßt, ein entsprechendes erstes Digitalsignal, abgeleitet von jedem Thermoelement für sich sequentiell in den Speicher 40 einzugeben, wobei die Schalter 28, 30 in der dargestellten Schaltstellung stehen. Der Sequenzkontrollschaltkreis 70 wird dann so betätigt, daß die Schalter 28, 30 in ihre anderen Schaltstellungen umgelegt werden, und der Wandler 22 dazu gebracht wird, ein entsprechendes zweites S Digitalsignal für jedes Thermoelement für sich zu erzeugen, wobei jedes zweite digitale Signal subtraktiv kombiniert wird im Subtraktionsschaltkreis 44 mit dem zugeordneten ersten Digitalsignal, ausgelesen aus dem Speicher 40, um so ein entsprechendes digitales Differenzsignal zu erzeugen. Diese digitalen Differenzsignale werden entweder in den Speicher 56 eingeschrieben oder an den Komparator 60 angelegt, je nachdem, ob die Erzeugung ursprünglich eingeleitet wurde durch einen Impuls am Eingang 71 oder am Eingang 72 des SequenzkontroiIschaltkreises 70.To provide for :; a plurality of thermocouples too meet, it is only necessary to train the capacity of the memory 56 so that a corresponding digital difference signal can be stored for each thermocouple, and to train the sequence control circuit so that initially the entire sequence of operations in response to the first pulse applied to input 71 for each thermocouple is carried out separately, and secondly, the entire sequence of switching operations in response to each test start pulse is repeated for each thermocouple (the memory 56 being properly controlled for each thermocouple or addressed). Alternatively, the capacity of the memory 40 and the sequence control circuit can also be increased 70 can be arranged to cause a corresponding first digital signal derived from each thermocouple to be entered sequentially into the memory 40, the switches 28, 30 in the illustrated switching position stand. The sequence control circuit 70 is then operated so that the switches 28, 30 flipped into their other switching positions and the transducer 22 is made to output a corresponding second S digital signal for each thermocouple for itself, with every second digital signal being subtractively combined in the subtraction circuit 44 with the associated first digital signal, read out from the memory 40 in order to generate a corresponding digital difference signal. These digital difference signals are either written into the memory 56 or applied to the comparator 60, depending on whether the generation was originally initiated by a pulse at input 71 or input 72 of the Sequence Control Circuit 70.
Man erkennt, daß zahlreiche Abwandlungen an der beschriebenen Ausführungsform der Erfindung möglich sind. Insbesondere kann bei einer rechnergesteuerten Datenverarbeitungsanlage oderIt can be seen that numerous modifications to the described embodiment of the invention are possible. In particular can with a computer-controlled data processing system or
die · bei einer Datenverarbeitungsanlage, durch einen Mikroprozessorthe · in a data processing system, by a microprocessor
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mit zugeordnetem Speicher gesteuert wird, eine geeignete Stromquelle, wie die Quelle 36, vorgesehen werden, und dann kann das Verfahren gemäß der Erfindung durch entsprechende Programmierung des Rechners oder des Mikroporzessors so ausgeführt werden, daß die Datenverarbeitungsanlage die verschiedenen erforderlichen Messungen in dem richtigen Ablauf durchführt.with allocated memory is controlled, an appropriate one Current source, such as the source 36, can be provided, and then the method according to the invention can be carried out by corresponding Programming of the computer or the microprocessor can be carried out so that the data processing system the various carries out the required measurements in the correct sequence.
Ferner sind zwar die Schalter 38 und 52 als einfache mechanische Schalter dargestellt, doch versteht es sich, daß sie in der Praxis als Festkörper-Haltleiterschalter ausgebildet werden.Further, while switches 38 and 52 are shown as simple mechanical switches, it should be understood that in practice they are designed as solid-state semiconductor switches.
(Patentansprüche)(Patent claims)
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