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DE2524982A1 - METHOD OF DETERMINING THE RELATIVE THICKNESS OF PARTS OF A TRANSLUCENT FILM DEPOSITED ON A PLANE REFLECTIVE SURFACE - Google Patents

METHOD OF DETERMINING THE RELATIVE THICKNESS OF PARTS OF A TRANSLUCENT FILM DEPOSITED ON A PLANE REFLECTIVE SURFACE

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DE2524982A1
DE2524982A1 DE19752524982 DE2524982A DE2524982A1 DE 2524982 A1 DE2524982 A1 DE 2524982A1 DE 19752524982 DE19752524982 DE 19752524982 DE 2524982 A DE2524982 A DE 2524982A DE 2524982 A1 DE2524982 A1 DE 2524982A1
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Germany
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light
carrier
axis
illuminated
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DE19752524982
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Pauline Margaret Toms
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Decca Ltd
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

Patentanwälte Dipl.-Ing. KWeickmann,Patent attorneys Dipl.-Ing. KWeickmann,

Dipl.-Ing. H.Weickmann, Dipl.-Phys. Dr. K. Fincke Dipl.-Ing. F. A.Weickmann, Dipl.-Chem. B. HuberDipl.-Ing. H.Weickmann, Dipl.-Phys. Dr. K. Fincke Dipl.-Ing. F. A. Weickmann, Dipl.-Chem. B. Huber

XIXI

8 MÜNCHEN 86, DEN8 MUNICH 86, DEN

POSTFACH 860 820PO Box 860 820

MÖHLSTRASSE 22, RUFNUMMER 98 39 21/22MÖHLSTRASSE 22, CALL NUMBER 98 39 21/22

DECCA LIMITEDDECCA LIMITED

Decca House, 9 Albert Embankment,Decca House, 9 Albert Embankment,

London, SE1 7SW, EnglandLondon, SE1 7SW, England

Verfahren zur Bestimmung der relativen Dicke von Teilen eines auf einer ebenen spiegelnden Reflexionsflache abgelagerten lichtdurchlässigen Filmes Method of determining the relative thickness of portions of a light transmissive film deposited flat on a plane specular reflection

Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur Best. ...üung bzw. Ermittelung der tatsächlichen und relativen Dicke von Bereichen eines lichtdurchlässigen bzw. transparenten Filmes, der auf einer ebenen spiegelnden reflektierenden Oberfläche eines Trägers abgelagert ist.The invention relates to methods for determining or determining the actual and relative thickness of areas a translucent or transparent film, which is on a flat specular reflective surface a carrier is deposited.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, einen Weg zu zeigen, wie auf relativ einfache und sichere Weise die tatsächliche und relative Dicke von Bereichen eines transparenten Filmes bei einem Verfahren der vorstehend genannten Art bestimmt werden kann.The invention is based on the object of showing a way in which the actual and relative thicknesses of areas of a transparent film in a method of the foregoing Kind can be determined.

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Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe bei einem Verfahren zur Bestimmung der relativen Dicke von Teilen eines auf einer ebenen spiegelnden Reflexionsoberfläche eines Trägers abgelagerten lichtdurchlässigen Filmes erfindungsgemäß dadurch, daß die obere Fläche des Filmes durch einen Lichtdiffusor derart beleuchtet wird, daß nahezu das gesamte auf den Film auftreffenden Licht durch den Diffusor unter Bildung von Interferenzstreifen durch eine bauliche bzw. konstruktive Interferenz zwischen dem von der spiegelnden Reflexionsoberfläche des Trägers reflektierten Licht und dem von der oberen Fläche des Filmes reflektierten Licht durchgeleitet wird?und daß die Streifendichte in Bereichen dieses Teiles ermittelt wird.The above object is achieved in a method for determining the relative thickness of parts of a translucent film deposited on a flat specular reflective surface of a support according to the invention in that the upper surface of the film is illuminated by a light diffuser in such a way that almost all of it is on the film incident light is passed through the diffuser with the formation of interference fringes due to a structural or structural interference between the light reflected from the specular reflection surface of the carrier and the light reflected from the upper surface of the film ? and that the stripe density is determined in areas of this part.

Gemäß einem Aspekt der Erfindung ist das Verfahren zur Ermittelung der Dicke eines Bereiches eines auf einer spiegelnden Reflexionsfläche eines Trägers abgelagerten lichtdurchlässigen Filmes dadurch gekennzeichnet, daß die obere Fläche des betreffenden Filmes derart beleuchtet wird, daß Interferenzstreifen durch konstruktive Interferenz zwischen dem von der spiegelnden Reflexionsoberfläche des Filmes reflektierten Licht und dem von der oberen Fläche des Filmes reflektierten Licht gebildet werden, daß der Träger um eine erste Achse gedreht wird, die durch die beleuchtete obere Fläche des Filmes und rechtwinklig zu dieser verläuft, derart, daß ein in einem Interferenzstreifen liegender Punkt auf einer bestimmten Bezugslinie liegt, welche rechtwinklig zu der betreffenden Achse verläuft, daß der Abstand des betreffenden Punktes von der genannten ersten Achse gemessen wird, daß der Träger um eine zweite Achse gedreht wird, die durch den Träger und rechtwinklig zu der genannten ersten Achse verläuft,According to one aspect of the invention, the method is for determining the thickness of a portion of a translucent layer deposited on a specular reflective surface of a substrate Film, characterized in that the upper surface of the film in question is illuminated in such a way that interference fringes by constructive interference between that reflected from the specular reflective surface of the film Light and the light reflected from the top surface of the film are formed that the carrier about a first axis is rotated, which passes through the illuminated upper surface of the film and perpendicular to this, such that a point lying in an interference fringe lies on a certain reference line which is perpendicular to the relevant one Axis runs that the distance of the point in question is measured from said first axis that the carrier is rotated about a second axis passing through the carrier and perpendicular to said first axis,

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daß der Träger um die zweite Achse derart gedreht wird, daß der den betreffenden Bereich umfassende Interferenzstreifen für eine bestimmte Licht^weilenlänge verschwindet und dann wieder auftritt, daß das Wiederauftreten des Interferenzstreifens für die bestimmte Wellenlänge ermittelt wird und daß der Winkel gemessen wird, um den der Träger um die zweite Achse in dem Fall gedreht worden ist, daß der Interferenzstreifen für die bestimmte Wellenlänge wieder auftritt.that the carrier is rotated about the second axis in such a way that the interference fringe encompassing the region in question disappears for a certain length of light and then occurs again that the recurrence of the interference fringe is determined for the particular wavelength and that the angle through which the carrier has been rotated about the second axis in the event that the interference fringe is measured occurs again for the particular wavelength.

An Hand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend beispielsweise näher erläutert.With reference to drawings, the invention is exemplified below explained in more detail.

Fig. 1 zeigt einen Lichtdiffusor, der so angeordnet ist, daß er einen auf einem ebenen Träger aufgebrachten Film beleuchtet.Fig. 1 shows a light diffuser which is arranged to have a film deposited on a flat support illuminated.

Fig. 2 zeigt ein typisches Fluoreszenzlichtspektrum. Fig. 3 zeigt schematisch einen Teil einer Vorrichtung zur Bestimmung der Dicke eines Filmes.Fig. 2 shows a typical fluorescent light spectrum. Fig. 3 shows schematically part of an apparatus for determining the thickness of a film.

In Fig. 1 ist ein Lichtdiffusor gezeigt, der als Trichter aus lichtdurchlässigem Material ausgebildet ist und der mit seinem breiteren Endeauf einem lichtdurchlässigen bzw. transparenten Film 2 angeordnet ist. Dieser Film 2 ist seinerseits auf einer ebenen spiegelnden reflektierenden Oberfläche eines Trägers 3 aufgebracht. Eine Kamera 4 ist so angeordnet, daß/aie obere Fläche des Filmes 2 zu fotographieren erlaubt, und zwar durch die kleine Öffnung des Trichters 1. Eine Leuchtröhre 5 ist koaxial zu dem Diffusor angeordnet.In Fig. 1, a light diffuser is shown, which is designed as a funnel made of translucent material and the is arranged with its wider end on a translucent or transparent film 2. This movie 2 is in turn applied to a flat specular reflective surface of a carrier 3. A camera 4 is arranged so that the upper surface of the film 2 is to be photographed allowed, through the small opening of the funnel 1. A luminous tube 5 is coaxial with the diffuser arranged.

Betrachtet man den Film 2 unter Beleuchtung mittels eines Fluoreszenzlichtes mit dem in Fig. 2 dargestellten Spektrums,If one observes the film 2 under illumination by means of a fluorescent light with the spectrum shown in FIG. 2,

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f 11 111 I ιf 11 111 I ι

so können farbige Bänder, die überwiegend grün und violett sind, in der Ebene des Filmes örtlich festgelegt festgestellt werden. Die Bänder verlaufen im allgemeinen angenaiieri; auf einem Kreisumfang, und die Anzahl der Bänder hängt von Unterschieden in der Filmdicke ab.so colored bands that are predominantly green and purple can be fixed in the plane of the film will. The ligaments are generally smooth; on a circumference, and the number of bands depends on differences in film thickness.

Diese Bänder sind Interferenzstreifen. Die Sichtbarkeit der Interferenzstreifen als grüne und violette Bänder ist ein Ergebnis der Beleuchtungsbedingungen, des Spektrums des Fluoreszenzfilters, der Eigenschaften des Filmes und des Abbildungsmechanismus des Auges. Benutzt man das Auge dazu,These bands are interference fringes. The visibility of the interference fringes as green and purple bands is a Result of the lighting conditions, the spectrum of the fluorescent filter, the properties of the film and the Imaging mechanism of the eye. If one uses the eye to

licht
eine Scheibe unter Fluoreszenz/bzw. fluoreszierendem Licht aus einer größeren Entfernung als 50 cm zu betrachten, so ist zumindest ein Teil des von irgendeinem Punkt auf der Oberfläche aufgenommenen Lichtes spiegelnd reflektiert worden, wobei das Licht eine Beleuchtung von allen Winkeln her bewirkt. Ein Teil dieses reflektierten Lichtes wird an bzw. auf der Oberfläche des Filmes reflektiert sein, und ein Teil des Lichtes wird auf bzw. an der ebenen spiegelnden Reflexionsfläche des Trägers reflektiert sein. Ein einen geringen Lichtsammelwinkel besitzendes Lichtsammeisystem, wie es durch die Pupille des Auges gebildet ist, wird benötigt, um Licht zu sammeln, das unter wenigstens einem Winkel reflektiert wird, um somit die Sichtbarkeit und/oder Feststellbarkeit der Interferenzstreifen zu gewährleisten. Demgemäß genügt das gesamte Licht von dem betreffenden Punkt einer einzigen Interferenzbedingung.
light
a disk under fluorescence / or. When viewing fluorescent light from a distance greater than 50 cm, at least some of the light received from any point on the surface has been specularly reflected, the light causing illumination from all angles. Some of this reflected light will be reflected on or on the surface of the film, and some of the light will be reflected on or on the flat specular reflective surface of the carrier. A light collection system having a small light collection angle, as is formed by the pupil of the eye, is required to collect light that is reflected at at least one angle in order to ensure the visibility and / or detectability of the interference fringes. Accordingly, all of the light from that point satisfies a single interference condition.

Für eine genügende Fernbeobachtung und für hinreichend dünne Filme ist der Reflexionswinkel für sämtliche Punkte auf der spiegelnden Reflex__ionsflache des Trägers 3 effektiv konstant;For sufficient remote viewing and for sufficiently thin films, the angle of reflection for all points is on the reflective reflection surface of the carrier 3 effectively constant;

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demgemäß sind die Streifen Streifen gleicher Dicke. Für eine bestimmte Licht_wellenlänge stellt somit ein Interferenzstreifen eine Dickenkontur für den Film dar.accordingly, the strips are strips of equal thickness. For a certain wavelength of light there is thus an interference fringe represents a thickness contour for the film.

Bei einer bestimmten Lichtwellenlänge und einer Betrachtung unter einem festen Betrachtungswinkel gibt es eine Reihe von Dicken, die den Bedingungen für konstruktive Interferenzen genügen. Die betreffende Reihe nimmt o.n gleichen Stufen zu, wobei die Stufengröße durch die Wellenlänge des Lichtes für einen vorgegebenen Betrachtungswinkel festgelegt ist.For a given wavelength of light and viewing at a fixed viewing angle, there are a number of Thicknesses that meet the conditions for constructive interference. The row in question increases in equal steps, wherein the step size is determined by the wavelength of the light for a given viewing angle.

Demgemäß zeigt die Streifendichte in einem Bereich eines Filmes den Änderungsgrad der Dicke des Filmes an.Accordingly, the stripe density in an area of a film indicates the degree of change in the thickness of the film.

Die Streifen können mittels der Kamera 4 photographiert werden, um eine dauerhafte Aufzeichnung der Streifen zu liefern. Alternativ dazu können eine Fernsehkamera oder ein Photovervielfacher verwendet werden, um die Streifen zu ermitteln. Filter (nicht dargestellt) können zu. Auswahl der Interferenzbänder benutzt werden, die sich bei einer bestimmten Wellenlänge des einfallenden Lichtes ergeben.The strips can be photographed by means of the camera 4, to provide a permanent record of the strips. Alternatively, a television camera or photomultiplier can be used used to identify the streaks. Filters (not shown) can too. Selection of the interference bands can be used, which result at a certain wavelength of the incident light.

Die Anwendung eines Lichtdiffusors stellt sicher, daß in dem Fall, daß die Filmoberfläche 6 mittels der Kamera 4 photographiert wird, die Photographie keine Reflexionen der Lichtquelle 5 zeigt. Das Abbildungssystem der Kamera 4 muß eine kleine Apertur besitzen und in einem angemessenen Abstand von dem Träger 3 angeordnet sein. Vorzugsweise ist das Abbildungssystem in der Kamera 4 über dem Träger derart zentriert, daß Veränderungen über dem Film auf Grund desThe use of a light diffuser ensures that in the In the event that the film surface 6 is photographed by the camera 4, the photograph does not have reflections from the light source 5 shows. The imaging system of the camera 4 must have a small aperture and be spaced appropriately be arranged by the carrier 3. The imaging system in the camera 4 above the carrier is preferably of this type centered that changes over the film due to the

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sich über dem ebenen Träger ändernden Reflexionswinkels minimiert sind.are minimized over the flat support changing angle of reflection.

Die tatsächliche Dicke eines Filmes in einem Bereich, der innerhalb eines Streifens liegt, kann wie folgt gemessen werden. Der ebene Träger wird wie in Fig. 1 gezeigt angeordnet. Ein innerhalb eines Streifens liegender Bereich auf dem dünnen Film wird ausgewählt, und der ebene Träger wird um eine Achse OC gedreht (siehe Fig. 3)?bis der ausgewählte Bereich neben einer transparenten Skala (nicht gezeigt) liegt. Der radiale Abstand R wird dann von der Skala abgelesen und aufgezeichnet. Der Träger 3 wird dann um die Achse AB soweit gedreht, bis sich die Farbe des Streifens in eine andere Farbe ändert (violett oder grün im Falle von Licht mit dem in Fig. 2 dargestellten Spektrum) und dann wieder in die ursprüngliche Farbe zurück.The actual thickness of a film in an area within a stripe can be measured as follows. The planar support is arranged as shown in FIG. An area within a stripe on the thin film is selected, and the planar support is rotated about an axis OC (see Fig. 3) ? until the selected area is next to a transparent scale (not shown). The radial distance R is then read from the scale and recorded. The carrier 3 is then rotated about the axis AB until the color of the strip changes to another color (violet or green in the case of light with the spectrum shown in FIG. 2) and then back to the original color.

Der Neigungswinkel der Scheibe aus ihrer Horizontalen i'2 (nicht gezeigt) wird gemessen. Wenn die Bedingungen der konstruktiven Interferenz für zwei Einfallswinkel i^ und i~ (nicht gezeigt) erfüllt sind, nicht aber für einen Winkel i, so daß die Beziehung i^i-OU erfüllt ist, so ist die Dicke d eines Filmes gegeben durch :The angle of inclination of the disk from its horizontal i ' 2 (not shown) is measured. If the conditions of constructive interference are fulfilled for two angles of incidence i ^ and i ~ (not shown), but not for an angle i, so that the relationship i ^ i-OU is fulfilled, then the thickness d of a film is given by:

2n2n

Hierin bedeutet λ die Wellenlänge, bei der die konstruktive Interferenz stattfindet, η ist der Brechungsindex des Filmes, und 0 (i^), 0 (i2) bedeuten die Differenz zwischen denHere, λ means the wavelength at which the constructive interference takes place, η is the refractive index of the film, and 0 (i ^), 0 (i 2 ) mean the difference between the

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Phasenänderungen auf/der Reflexion an der spiegelnden reflektierenden Oberfläche des Trägers und der oberen Fläche des transparenten Filmes 2. Die Größen 0 Ci1) und 0 (ip) können aus der Kenntnis vorliegender Materialien und der Polarisation des einfallenden Lichtes berechnet werden. Wenn 0 (i.) eine bedeutsame Größe für Werte in dem zu benutzenden Bereich von i besitzt, dann sollte eine einzige Polarisation der Beleuchtung, die entweder in den Trägerkreis oder in der senkrecht zur Ebene des Trägers 3 liegenden Ebene liegt, für die Beobachtung ausgewählt werden. Die einfache Polarisation kann dadurch erzielt werden, daß ein Polarisationsfilter in den Lichtweg durch den Film 2 und der Kamera 4 eingefügt wird.Phase changes on / of the reflection on the specular reflective surface of the carrier and the upper surface of the transparent film 2. The quantities 0 Ci 1 ) and 0 (ip) can be calculated from the knowledge of the existing materials and the polarization of the incident light. If 0 (i.) Has a significant quantity for values in the range of i to be used, then a single polarization of the illumination, which lies either in the carrier circle or in the plane lying perpendicular to the plane of the carrier 3, should be selected for the observation will. The simple polarization can be achieved by inserting a polarizing filter in the light path through the film 2 and the camera 4.

In diesem Fall ist i2 der Einfallswinkel, der die Scheibe unter einem Winkel i'2 geneigt ist. Demgemäß erhält manIn this case i 2 is the angle of incidence at which the disk is inclined at an angle i '2. Accordingly, one obtains

sin isin i

cos i'2 cos i ' 2

2 (1 + R2/T2)1/2 2 (1 + R 2 / T 2) 1/2

Der Einfachheit halber können Kurven von i1 gegenüber d für eine gegebene Reihe von R, L, η und Λ bezeichnet werden, so daß die Filmdicke für eine vorgegebene Winkelneigung aus der Kurve abgelesen werden kann.For simplicity, curves of i 1 versus d can be denoted for a given series of R, L, η and Λ so that the film thickness for a given angle can be read from the curve.

Die beschriebenen Verfahren und Vorrichtungen können zur Messung der tatsächlichen und relativen Dicke eines thermoplastischen Films benutzt werden, der auf einem leitendenThe methods and apparatus described can be used to measure the actual and relative thickness of a thermoplastic Films are used on a conductive

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Trägerteil abgelagert ist, wie es an anderer Stelle näher beschrieben ist (GB-PS 1 373 511), oder irgendeines Filmes, der durch eine an anderer Stelle näher beschriebene Vorrichtung abgelagert ist (siehe britische Patentanmeldung Nr. 25420/74).Carrier part is deposited, as described in more detail elsewhere (GB-PS 1 373 511), or any film, deposited by a device described in more detail elsewhere (see British patent application No. 25420/74).

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Claims (5)

PatentansprücheClaims 1.j Verfahren zur Bestimmung der relativen Dicke von Teilen --"' eines auf einer ebenen spiegelnden reflektierenden Oberfläche eines Trägers abgelagerten lichtdurchlässigen Filmes, dadurch gekennzeichnet, daß die obere Fläche des Filmes (2) durch einen Lichtdiffusor (1) derart beleuchtet wird, daß nahezu das gesamte auf den Film (2) auftreffende Licht durch den Lichtdiffusor (1) unter Bildung von Differenzstreifen durch eine konstruktive Interferenz zwischen dem von der spiegelnden reflektierenden Oberfläche des Trägers (3) reflektierten Licht und dem von der Oberfläche des Filmes (2) reflektierten Licht hindurchdringt, und daß die Streifendichte in dem Bereich des betreffenden Teiles des Filmes (2) ermittelt wird.1.j method for determining the relative thickness of parts - "'of a transparent film deposited on a flat specular reflective surface of a support, characterized in that the upper surface of the film (2) is illuminated by a light diffuser (1) in such a way that that almost all of the light incident on the film (2) through the light diffuser (1) with the formation of differential stripes due to a constructive interference between the light reflected from the specular reflective surface of the carrier (3) and that from the surface of the film (2) reflected light penetrates, and that the stripe density in the area of the relevant part of the film (2) is determined. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ermittelung der Streifendichte dadurch erfolgt, daß die Streifen photographiert werden.2. The method according to claim 1, characterized in that the The stripe density is determined by photographing the stripes. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtdiffusor (1) mit Licht einer nicht gleichmäßigen spektralen Intensität beleuchtet wird.3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that the light diffuser (1) with a non-uniform light spectral intensity is illuminated. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtdiffusor (1) ein Trichter aus einem lichtdurchlässigen Material verwendet wird.4. The method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that that a funnel made of a translucent material is used as the light diffuser (1). 5. Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Bereichs eines auf einer spiegelnden reflektierenden Oberfläche eines Trägers aufgebrachten lichtdurchlässigen Filmes, insbesondere nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekenn-5. Method of determining the thickness of an area of a on a specular reflective surface of a Translucent film applied to the carrier, in particular according to one of claims 1 to 4, characterized in that 509881/0355509881/0355 - ίο -- ίο - zeichnet, daß die obere Fläche des Filmes (2) derart beleuchtet wird, daß Interferenzstreifen durch konstruktive Interferenz zwischen dem von der spiegelnden reflektierenden Oberfläche des Filmes reflektierten Licht und dem von der oberen Fläche des Filmes (2) reflektierten Licht gebildet werden, daß der Träger (3) um eine erste Achse gedreht wird, die durch die beleuchtete obere Fläche des Filmes (2) und rechtwinklig zu dieser Fläche verläuft, derart, daß ein in einem Interferenzstreifen liegender Punkt auf einer bestimmten Bezugslinie liegt, die rechtwinklig zu der genannten ersten Achse verläuft, daß der Abstand des betreffenden Punktes von der genannten ersten Achse gemessen wird, daß der Träger (3) um eine zweite Achse gedreht wird, die durch den Träger (2) und rechtwinklig zu der ersten Achse verläuft, daß der Träger (3) um die zweite Achse derart gedreht wird, daß der den betreffenden Bereich umfassende Interferenzstreifen bei einer bestimmten Licht_wellenlänge verschwindet und wieder auftritt, daß das Wiederauftreten des Interferenzstreifens bei der bestimmten Wellenlänge ermittelt wird und daß der Winkel gemessen wird, um den der Träger (3) um die zweite Achse gedreht wird, bis der Interferenzstreifen für die bestimmte Wellenlänge wieder auftritt.draws that the upper surface of the film (2) is illuminated in such a way that interference fringes through constructive Interference between the light reflected from the specular reflective surface of the film and that from the light reflected from the upper surface of the film (2) is formed in that the carrier (3) is rotated about a first axis, which runs through the illuminated upper surface of the film (2) and at right angles to this surface, such that an in a point lying on an interference fringe lies on a certain reference line which is perpendicular to said line first axis that the distance of the point in question is measured from said first axis that the carrier (3) is rotated about a second axis which runs through the carrier (2) and at right angles to the first axis, that the carrier (3) is rotated about the second axis in such a way that it encompasses the relevant area Interference fringes at a certain wavelength of light disappears and occurs again that the recurrence of the interference fringe at the particular wavelength is determined and that the angle is measured by which the carrier (3) is rotated about the second axis until the Interference fringes reappear for the particular wavelength. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die obere Fläche des Filmes (2) dadurch beleuchtet wird, daß Licht von einer Lichtquelle (5) mit einer nicht gleichmäßigen spektralen Intensität durch einen als Trichter aus lichtdurchlässigem Material gebildeten Lichtdiffusor (1) derart geleitet wird, daß nahezu das gesamte auf die obere Fläche des Filmes (2) einfallende Licht durch den Lichtdiffusor (1) hindurchgeleitet wird.A method according to claim 5, characterized in that the upper surface of the film (2) is illuminated by that light from a light source (5) with a non-uniform spectral intensity through a funnel Translucent material formed light diffuser (1) is guided in such a way that almost all of it is on the upper Surface of the film (2) incident light is passed through the light diffuser (1). 509881/0355509881/0355
DE19752524982 1974-06-07 1975-06-05 METHOD OF DETERMINING THE RELATIVE THICKNESS OF PARTS OF A TRANSLUCENT FILM DEPOSITED ON A PLANE REFLECTIVE SURFACE Pending DE2524982A1 (en)

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