DE19930688A1 - Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Qualität von Oberflächen - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Qualität von OberflächenInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur quantizierten Bestimmung der Qualität von Oberflächen, wobei die Vorrichtung ein optisches System mit einer ersten optischen Einrichtung und einer zweiten optischen Einrichtung sowie eine Steuer- und Auswerteeinrichtung und eine Ausgabeeinrichtung umfaßt. Die erste optische Einrichtung weist eine Beleuchtungseinrichtung mit wenigstens einer LED als Lichtquelle auf und dient zur Beleuchtung der Meßfläche unter einem vorbestimmten Winkel. Die zweite optische Einrichtung ist ebenfalls in einem vorbestimmten Winkel zu der Meßfläche ausgerichtet und nimmt das reflektierte Licht auf. Ein Fotosensor der zweiten optischen Einrichtung gibt ein elektrisches Meßsignal aus, das für das reflektierte Licht charakteristisch ist. Das von der Beleuchtungseinrichtung ausstrahlbare Licht ist derart beschaffen, daß die spektrale Charakteristik blaue, grüne und rote Spektralanteile im sichtbaren Spektrum aufweist. Eine Filtereinrichtung ist im Strahlengang zwischen der Lichtquelle und dem Fotosensor angeordnet und nähert die spektrale Charakteristik weitergeleiteten Lichts einer vorbestimmten spektralen Verteilung an. Die Steuer- und Auswerteeinrichtung steuert den Meßablauf, wertet das reflektierte Licht aus und leitet daraus wenigstens eine Kennzahl ab, die die Oberfläche charakterisiert.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein
Verfahren zur Bestimmung der Qualität von Oberflächen bzw. der
visuellen Eigenschaften von Oberflächen.
Unter der Qualität bzw. den visuellen Eigenschaften einer Ober
fläche sollen hier die physikalischen Eigenschaften einer Ober
fläche verstanden werden, die das Aussehen einer Oberfläche für
den menschlichen Betrachter bestimmen. Die qualitätsbestimmen
den Eigenschaften einer Oberfläche sind insbesondere der Glanz,
der Glanzschleier (engl. haze), die Abbildungsschärfe (engl.
DOI), die Farbe, die Helligkeit der Farbe, Oberflächentexturen
und Oberflächenwelligkeiten (engl. orange peel) etc.
Diese Kenngrößen sind wichtige Qualitätskriterien für die Beur
teilung der Qualität von Oberflächen, wie z. B. der Qualität
von lackierten Oberflächen, Kunststoffoberflächen oder auch me
tallischen Oberflächen, denn an zahlreichen Produkten und tech
nischen Erzeugnissen ist die Beschaffenheit der sichtbaren
Oberflächen ein entscheidendes Merkmal für den Gesamteindruck
des Produktes. Ein typisches Beispiel für solche Produkte sind
Kraftfahrzeugkarosserien, bei denen die Beschaffenheit und die
Gleichmäßigkeit des optischen Eindrucks der Oberflächen eine
bedeutende Rolle spielt. Im folgenden werden die technischen
Probleme, die bei der Gestaltung von Oberflächen im Kraftfahr
zeugbereich und bei deren meßtechnischen Beurteilung anhand des
Glanzes näher erläutert, ohne jedoch die vorliegende Erfindung
in ihrer Anwendung in irgendeiner Weise einzuschränken.
Kraftfahrzeuge werden üblicherweise mit einer Hochglanz- oder
Metallic-Lackierung versehen, deren Reflexionsvermögen oder
Glanzkennwert den entsprechenden Werten von anderen Flächen,
wie z. B. Möbeln, weit überlegen ist. Diese Gegebenheiten er
fordern eine außerordentlich sorgfältige Vorbereitung der zu
lackierenden Flächen und eine besonders sorgfältige Auftragung
des Lackes. Um Qualitätsmängel schon in der Produktion zu er
kennen, beschäftigen die Automobilhersteller eine Vielzahl von
Prüfern und verwenden eine Vielzahl von aufwendigen und groß
bauende Meßapparaturen, die die Qualität der Flächen visuell
oder automatisch prüfen.
Für die Bestimmung des Glanzes schreibt die ISO 2813, 3. Aus
gabe 1994, bestimmte Normen und Meßaufbauten vor, die eine ein
heitliche und reproduzierbare Meßmethode zur Bestimmung des
Glanzes gewährleisten sollen.
Gemäß der Norm soll die zu untersuchende Oberfläche mit Licht
ausgeleuchtet werden, das eine spektrale Verteilung gemäß der
Normlichtart C der CIE (Commission Internationale de l'Éclai
rage) aufweist. Die Normlichtart C, auch als "Tageslicht" be
zeichnet, weist eine Farbtemperatur von 6500 K auf und besitzt
einen kontinuierlichen Verlauf der spektralen Strahlungsdichte
über der Wellenlänge im sichtbaren Bereich des Spektrums.
Das menschliche Auge weist für das sogenannte "Dämmerungssehen"
Stäbchen und für das sogenannte "Tagessehen" drei unterschied
liche Zapfenarten auf, die spektral unterschiedliche und über
lappende Empfindlichkeitskurven aufweisen (vgl. D. B. Judd:
"Color Perceptions of Deuteranopic and Protanopic Observers",
J. opt. Soc. Amer., 39, 252-256, 1949).
Derzeitig verfügbare, kleinbauende, vom Benutzer tragbare Meß
vorrichtungen und Systeme, z. B. zur Bestimmung des Glanzes von
Oberflächen, weisen meist konventionelle Glühbirnen oder auch
Halogenbirnen als Lichtquelle auf. Nachteilig bei solchen
Lichtquellen ist, daß die Glühwendeln altern und Teile der
Glühwendel verdampfen, wobei das verdampfte Material sich typi
scherweise auf der Innenseite des die Glühwendel umgebenden
Glaskörpers niederschlägt, so daß sich die spektrale Emission
der Glühwendel und die spektrale Transmissionsverteilung des
Glaskörpers zeitlich ändern. Das von der Glühbirne ausge
strahlte Spektrum unterliegt Alterung.
Ein weiterer Nachteil dieser konventionellen Lichtquellen ist,
daß die Position der Glühwendel sich durch Alterungserscheinun
gen oder durch Stöße auf das Gerät mit der Zeit ändern kann.
Deshalb ist eine häufige Nachkalibrierung eines solchen Meßge
räts nötig, um verwendbare Ergebnisse zu erzielen. Eine Korrek
tur der spektralen Verteilung, die durch Niederschläge auf der
Innenseite des Glaskörpers der Glühbirne verursacht wird, ist
allerdings nur durch Austausch der Lichtquelle möglich, wobei
dann andere, z. B. produktionstechnisch bedingte, spektrale Un
terschiede in Kauf genommen werden müssen.
Ein weiterer Nachteil derartiger Meßgeräte mit konventionellen
Strahlungsquellen ist die geringe Meßfrequenz und auch die hohe
Zeitdauer, die nötig ist, um nach dem Einschalten des Geräts
ein verwendbares Meßergebnis zu erzielen, da konventionelle
Glühbirnen einen relativ langen Zeitraum benötigen, um eine
spektral stabile und reproduzierbare Strahlung zu emittieren.
Wird zur Messung des Glanzes einer Oberfläche diese mit einer
monochromatischen Lichtquelle, wie z. B. einem Laser, ausge
leuchtet, so ergibt sich der Nachteil, daß der Glanz bzw. das
Reflexionsvermögen dann nur für die ausleuchtende Wellenlänge
bestimmbar ist.
Der physiologische Eindruck eines Betrachters bei Beleuchtung
mit Tageslicht entsteht durch die Auswertung bzw. Integration
der Strahlung, für die das Auge empfindlich ist. Dazu wird für
jede Zapfenart praktisch eine Integration der wellenlängenab
hängigen Strahlung gewichtet mit der wellenlängenabhängigen
Empfindlichkeit der unterschiedlichen Zapfen über der Wellen
länge durchgeführt. Dies bedeutet, daß sich z. B. bei monochro
matischer Ausleuchtung gleiche Meßergebnisse bei unterschied
licher Oberflächen ergeben können, obwohl der jeweilige Glanz
der Oberflächen vom Betrachter unterschiedlich wahrgenommen
wird und das Reflexionsvermögen bei anderen Wellenlängen unter
schiedlich ist.
Eine monochromatische Ausleuchtung hat deshalb den Nachteil,
daß bedingt-gleicher Glanz oder bedingt-gleiche Farben und der
gleichen an unterschiedlichen Oberflächen festgestellt werden,
obwohl sich die physiologisch wahrnehmbaren Kenngrößen deutlich
unterscheiden.
Es ist deshalb die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Ver
fahren und eine Vorrichtung der eingangs genannten Art zur Ver
fügung zu stellen, so daß damit eine reproduzierbare und quan
tifizierte Bewertung der Qualität von Oberflächen erfolgen
kann, um eine zuverlässige Beurteilung zu ermöglichen.
Ein weiterer Aspekt der Aufgabe ist es, eine Vorrichtung zur
Verfügung zu stellen, die kleinbauend und leicht gestaltet ist,
so daß sie von einem Benutzer leicht mitgenommen werden kann
und ohne weitere Hilfsmittel zur Bestimmung der Qualität einer
Oberfläche herangezogen werden kann.
Ein weiterer Aspekt dieser Aufgabe ist es, eine Vorrichtung zur
Bestimmung der visuellen Eigenschaften einer Oberfläche zur
Verfügung zu stellen, bei welcher trotz des kompakten Aufbaus
gemäß dem vorigen Aspekt der Aufgabe der Erfindung die Reprodu
zierbarkeit der Messung und die notwendigen Wartungs- und Kali
brierungsintervalle gegenüber dem im Stand der Technik bekann
ten Vorrichtungen erheblich verbessert ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Vorrichtung ge
löst, wie sie in Anspruch 1 definiert ist. Das erfindungsgemäße
Verfahren ist Gegenstand des Anspruchs 31.
Zu bevorzugende Weiterbildungen der Erfindungen sind Gegenstand
der Unteransprüche.
Ein erfindungsgemäße Vorrichtung zur quantifizierten Bestim
mung der Qualität von Oberflächen weist ein optisches System
mit einer ersten und einer zweiten optischen Einrichtung auf.
Die erste optische Einrichtung weist wenigstens eine Beleuch
tungseinrichtung auf, die Licht in einem vorbestimmten Winkel
auf eine Meßfläche ausstrahlt, die Teil der zu messenden Ober
fläche ist. Die zweite optische Einrichtung ist ebenfalls in
einem vorbestimmten Winkel zu dieser Meßfläche ausgerichtet und
nimmt das von der Meßfläche reflektierte Licht auf. Diese zwei
te optische Einrichtung weist wenigstens einen Fotosensor auf
und gibt ein elektrisches Meßsignal aus, das für das re
flektierte Licht charakteristisch ist.
Weiterhin weist eine erfindungsgemäße Vorrichtung eine Steuer-
und Auswerteeinrichtung auf, die zur Steuerung des Meßablaufs
und zur Auswertung der Meßergebnisse vorgesehen ist und die we
nigstens eine Prozessoreinrichtung und wenigstens eine Spei
chereinrichtung aufweist. Eine Ausgabeeinrichtung dient zur
Ausgabe der Meßergebnisse.
Ferner weist die Beleuchtungseinrichtung wenigstens eine Licht
quelle auf, die bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung als
Leuchtdiode (LED - engl.: Light emitting diode) ausgeführt ist.
Das von der Beleuchtungseinrichtung ausstrahlbare Licht ist
derart beschaffen, daß die spektrale Charakteristik vorzugs
weise wenigstens blaue, grüne und rote Spektralanteile im
sichtbaren Spektrum aufweist.
Ferner ist eine Filtereinrichtung vorgesehen, die im Strahlen
gang zwischen der Lichtquelle und dem Fotosensor angeordnet ist
und welche die spektrale Charakteristik einfallenden Lichts ge
mäß vorbestimmter Filtereigenschaften derart verändert, daß die
spektrale Charakteristik im wesentlichen einer vorbestimmten
spektralen Verteilung angenähert wird.
Die Auswerteeinrichtung wertet das von der Meßfläche reflek
tierte Licht aus und leitet daraus wenigstens eine Kennzahl ab,
die die Meßfläche bzw. Oberfläche charakterisiert.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung hat viele Vorteile.
Ein entscheidender Vorteil der Erfindung ist, daß die Position
der Lichtquelle bzw. der lichtausstrahlenden Fläche bzw. des
lichtausstrahlenden Volumens in bezug auf die Vorrichtung genau
definiert ist. Bei herkömmlichen Glüh- oder Halogenbirnen oder
dergleichen ist der lichtausstrahlende Körper die Glühwendel,
die üblicherweise in dem Glaskörper der Glühbirne durch dünne
Drähte in Position gehalten wird. Durch diese Art der federnden
Aufhängung bedingt, bewirken schon leichte Erschütterungen und
Vibrationen der Vorrichtung eine Änderung der Position des
lichtausstrahlenden Körpers bzw. der Glühwendel, so daß eine
exakte Bestimmung oder Voraussage der Intensität und Richtung
der ausgesendeten Strahlung nicht bzw. nur mit einem hohen Auf
wand möglich ist.
Im Gegensatz dazu ist bei Verwendung einer LED als Strahlungs
quelle der lichtausstrahlende Körper bzw. die lichtausstrah
lende Fläche in seiner/ihrer Position exakt definiert und zeit
lich, auch durch Alterung bedingt, nicht veränderlich. Die Re
produzierbarkeit und Genauigkeit der Messung der Qualität einer
Oberfläche wird dadurch deutlich verbessert und erhöht.
Vorteilhaft ist auch, daß eine LED als Lichtquelle eine erhöhte
Meßfrequenz bzw. eine kleinere Zyklusdauer bei der Bestimmung
eines Kennwertes erlaubt. Die Lichtquellen einer derartigen
Vorrichtung sind meist ausgeschaltet und werden nur zum Meß
zeitpunkt eingeschaltet, um Streulicht in der Vorrichtung zu
verringern. Während eine typische Glühbirne wenigstens 1 bis
1,5 Sekunden benötigt, um eine im wesentlichen stabile Strah
lungsemission zu erreichen, beträgt ein vergleichbarer Zeitraum
bei einer Leuchtdiode nur etwa 0,1 bis 0,2 Sekunden oder sogar
weniger. Durch eine direkte Quotientenbildung und Versuche kann
gefolgert werden, daß die Meßfrequenz um etwa einen Faktor 7
bis 15 erhöht werden kann. Mit einer LED beträgt ein Meßzyklus
typischerweise weniger als 0,2 Sekunden, während, bei Verwen
dung einer Glühbirne, ca. 1,5 bis 2 Sekunden benötigt werden.
Ein weiterer Vorteil einer Vorrichtung gemäß der Erfindung ist,
daß, durch die spektrale Charakteristik der Lichtquelle be
dingt, die vorzugsweise wenigstens blaue, grüne und rote spek
trale Anteile im sichtbaren Spektrum aufweist, die Oberfläche
mit verschiedenen Wellenlängen ausgeleuchtet wird und die zu
messende Kenngröße der Oberfläche zuverlässig bestimmt werden
kann.
Dadurch, daß die Strahlungsquelle gemäß der Erfindung nur ge
ringen alterungsbedingten Änderungen im ausgestrahlten Spektrum
unterliegt, kann die bei herkömmlichen Vorrichtungen nötige
tägliche Kalibrierung des Gerätes unterbleiben. Eine gelegent
liche Kalibrierung mit einem Meßstandard, die z. B. halbjähr
lich erfolgen kann, ist bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung
ausreichend. Wenn häufig Messungen an staubigen oder schmutzi
gen Orten durchgeführt werden, kann es sinnvoll sein, die Kali
brierungshäufigkeit zu erhöhen, um Einflüsse von Schmutz und
Staub, die sich auf der verwendeten Optik absetzen oder nieder
schlagen können, zu unterdrücken.
Eine reduzierte Rekalibrierungshäufigkeit einer Vorrichtung ge
mäß der Erfindung ist sehr vorteilhaft, da, neben der Zeiter
sparnis, auch Fehler während der Rekalibrierung ausgeschlossen
werden. Dazu zählen z. B. Bedienungsfehler durch den Benutzer
und fehlerhafte, wie z. B. verschmutzte oder beschädigte Kali
brierungsstandards.
Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäße Vorrichtung ist, daß
durch die Filtereinrichtung die spektrale Charakteristik des
zur Messung verwendeten Lichts an eine vorbestimmte spektrale
Verteilung angenähert wird, so daß es ermöglicht wird, gemäß
nationaler oder internationaler Meßnormen Messungen durchzufüh
ren.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung strahlt die
Lichtquelle bzw. die Leuchtdiode der Beleuchtungseinrichtung
Licht mit einem kontinuierlichen Spektrum aus, wobei die spek
trale Verteilung der ausgestrahlten Strahlung vom blauen bis
zum roten spektralen Bereich des sichtbaren Spektrums nennens
werte spektrale Anteile aufweist. Vorzugsweise ist die wellen
längenabhängige spektrale Intensität der ausgestrahlten Strah
lung in dem Wellenlängenbereich zwischen 480 und 620 nm größer
als ein Hundertstel der maximalen spektralen Intensität, und
besonders bevorzugt ist die relative wellenlängenabhängige In
tensität in dem Wellenlängenbereich zwischen 440 und 680 nm
größer als ein Hundertstel der maximalen wellenlängenabhängigen
Intensität, und besonders bevorzugt wird im wesentlichen im ge
samten sichtbaren Spektralbereich nennenswerte Intensität aus
gestrahlt.
Vorzugsweise ist das von der Leuchtdiode der Beleuchtungsein
richtung ausgestrahlte Licht derart beschaffen, daß die Farbe
des ausgestrahlten Lichts im wesentlichen "weiß" ist.
Eine solche Weiterbildung der erfindungsgemäße Vorrichtung ist
besonders vorteilhaft, da über weite Teile bzw. im wesentlichen
das gesamte sichtbare Spektrum Intensität von der Lichtquelle
ausgestrahlt wird, so daß bei der Bestimmung des Kennwerts der
Oberfläche im wesentlichen alle relevanten Wellenlängen berück
sichtigt werden.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung weist die Fil
tereinrichtung ein optisches Filterelement auf, das als Trans
missionsfilter in dem Strahlengang zwischen Lichtquelle und Fo
tosensor angeordnet ist, wobei besonders bevorzugt der Filter
bzw. die Filtereinrichtung in bzw. an der ersten optischen Ein
richtung angeordnet ist.
In dieser Weiterbildung wird das von der Lichtquelle ausge
strahlte Licht durch den wenigstens einen optischen Filter in
der spektralen Verteilung verändert, bevor das Licht auf die zu
messende Oberfläche auftrifft, so daß eine Anpassung der ausge
sendeten spektralen Verteilung an eine vorbestimmte spektrale
Verteilung ermöglicht wird.
Die Verwendung eines Transmissionsfilters in der Filtereinrich
tung ist vorteilhaft, da der zur Messung verwendete Strahlen
gang besonders einfach, günstig zu fertigen und unkompliziert
ist, so daß aufwendigere Justierungen, die durch mehrfache Um
lenkung der Strahlen erforderlich sein können, vermieden wer
den.
In einer anderen bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist in
der Filtereinrichtung wenigstens ein Reflexionsfilter bzw. ein
Reflektionsfilterelement vorgesehen, der/das auftreffendes
Licht reflektiert. Durch die Beschaffenheit dieses wenigstens
einen Reflexionsfilters wird die spektrale Verteilung des re
flektierten Lichts derart beeinflußt, daß eine weitgehende An
passung an eine vorbestimmte spektrale Verteilung erzielt wird.
Die Anordnung dieses Reflexionsfilters kann in der ersten opti
schen Einrichtung, in der zweiten optischen Einrichtung oder an
anderen Stellen innerhalb der Vorrichtung erfolgen, wobei dann
der Filt er vorzugsweise an einer Stelle angeordnet ist, an der
eine Strahlumlenkung erforderlich ist.
In einer anderen bevorzugten Weiterbildung umfaßt die Fil
tereinrichtung zwei oder mehr optische Filter, wobei einige
oder alle Filter bzw. Filterelemente als Transmissionsfilter
und einige oder alle Filter als Reflexionsfilter ausgeführt
sein können.
Die in der bzw. in den Filtereinrichtung(en) verwendeten opti
schen Filter sind von der Herstellung her konventionelle opti
sche Filter, wie sie im Stand der Technik bekannt sind, also
z. B. als Glasplatten oder Glaskeile, vorzugsweise aus Quarz
glas, die eine entsprechende Färbung aufweisen können, ausge
führt. Es ist aber auch möglich, daß Filter aus Kunststoffmate
rial, Kristalle, Interferenzfilter, holografische Transmissi
ons- und Reflexionsfilter, Flüssigkeitsfilter und dergleichen
Anwendung finden. Ferner ist es möglich, daß ein Filter fluo
reszierend ausgeführt ist, so daß der Filter auftreffende
Strahlung in einem bestimmten Wellenlängenbereich absorbiert
und als Strahlung mit anderer Frequenz bzw. Wellenlänge wieder
abgibt, so daß nicht nur die sogenannte "subtraktive Farb
mischung", sondern auch die sogenannte "additive Farbmischung"
ermöglicht wird, bei der die spektrale Verteilung nicht nur
durch Dämpfung bestimmter Spektralanteile, sondern auch durch
Anhebung bestimmter anderer Spektralanteile ermöglicht wird.
Die Verwendung einer derartigen Filtereinrichtung ist besonders
vorteilhaft, da durch einfache konstruktive Maßnahmen eine ef
fektive, gezielte und kostengünstige Beeinflussung und Anpas
sung der spektralen Verteilung erfolgen kann. Bei Verwendung
relativ dünner Filter sind Transmissionsfilter besonders vor
teilhaft, da diese direkt in den Strahlengang eingebracht wer
den können und trotzdem eine kleinbauende Vorrichtung ermög
licht wird, während bei Verwendung von Reflexions- oder Fluo
reszenzfiltern auch eine Strahlumlenkung erforderlich und nütz
lich sein kann, um eine kleinbauende Vorrichtung zur Verfügung
zu stellen.
In einer bevorzugten Weiterbildung ist die charakteristische
Kenngröße der Meßfläche, die mit dieser Vorrichtung bestimmt
wird, der Glanz der Oberfläche. Die Bestimmung des Glanzes ist
vorteilhaft, da der Glanz eine besonders wichtige charakteri
stische optische Kenngröße einer Oberfläche ist, die erhebliche
Auswirkungen auf die Qualität einer Oberfläche hat.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung werden zwei,
drei, vier, fünf oder mehr charakteristische, vorzugsweise op
tische, Kenngrößen dieser Meßfläche bestimmt.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist die cha
rakteristische Kenngröße, die mit dieser Vorrichtung bestimmt
wird, einer Gruppe von Kenngrößen entnommen, welche Glanz,
Glanzschleier (engl. haze), Abbildungsschärfe (DOI - engl.:
distinctness of Image), Farbe und Helligkeit der Farbe umfaßt.
Ferner ist es möglich, daß die charakteristische optische Kenn
größe ein repräsentatives Maß für die typische Wellenlänge und
die Amplitude (engl. orange peel) der Topologie der Oberfläche
dieser Meßfläche in einem vorbestimmten Wellenlängenintervall
ist, wobei diese Auswertung auch in zwei oder mehr Wellenlän
genbereichen erfolgen kann.
In der bevorzugten Weiterbildung der Erfindung, daß zwei oder
mehr charakteristische Kenngrößen der Meßfläche bestimmt wer
den, werden die einzelnen Kenngrößen entsprechend der obenge
nannten Kenngrößen gewählt.
Die Bestimmung eines Kennwertes für den Glanzschleier oder die
Abbildungsschärfe ist besonders vorteilhaft, da der physiologi
sche Eindruck eines Betrachters von, beispielsweise lackierten,
Oberflächen entscheidend von der Abbildungsschärfe und dem
Schleierglanz abhängt. Die Bestimmung eines Kennwertes für die
Farbe ist auch sehr vorteilhaft, da z. B. bei der Nachbesserung
bzw. Ausbesserung z. B. einzelner Lackstellen eine zuverlässige
und reproduzierbare Farbbestimmung nötig ist, um die ausgebes
serte Stelle im Vergleich zur ganzen Fläche quantitativ bewer
ten zu können. Die Farbbestimmung bzw. die Ableitung eines
Farbkennwertes ist auch zur regelmäßigen Kontrolle während lau
fender Serienproduktion wichtig.
Die Bestimmung eines Orange-peel-Kennwertes ist insbesondere,
aber nicht nur, im Produktionsverfahren bei der Herstellung
lackierter Oberflächen vorteilhaft, da durch die Wellenlängen
verteilungen der Struktur der Oberfläche Aufschlüsse über Feh
ler im Produktionsprozeß gewonnen werden und diese dann im Pro
duktionsprozeß vermieden bzw. vermindert werden können.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist die vorbe
stimmte spektrale Verteilung eine Standardverteilung, die einem
der gängigen Lichtstandards entspricht, wobei vorzugsweise die
se vorbestimmte spektrale Verteilung mit einer spektralen Ver
teilung übereinstimmt, welche eine Lichtart aufweist, die einer
Gruppe von Lichtarten entnommen ist, die die Normlichtart C,
die Normlichtart D65, die Normlichtart A und dergleichen mehr
umfaßt, wie sie z. B. von der Commission Internationale de
l'Éclairage definiert worden sind.
Die Verwendung einer derartigen Standardverteilung als vorbe
stimmte spektrale Verteilung ist besonders vorteilhaft, da die
Bestimmung der Meßergebnisse dann mit einer bekannten bzw. ge
normten spektralen Verteilung bzw. Lichtart erfolgt und somit
eine hohe Vergleichbarkeit mit anderen Meßergebnissen ermög
licht wird. Weiterhin ist die Durchführung der Messung mit ei
ner solchen Standardverteilung oder dergleichen besonders vor
teilhaft, da bei Verwendung einer spektralen Verteilung, die im
wesentlichen einem derartigen Standard entspricht, Meßergebnis
se erzielt werden, die bei den typischen Bedingungen reprodu
zierbar sind. Bei Beleuchtung bzw. Messung mit der Normlichtart
D65 und insbesondere mit der Normlichtart C wird eine Messung
gemäß internationaler Standards ermöglicht.
Vorzugsweise erfolgt die Anpassung des Spektrums derart, daß
das insgesamt verwendete Meßspektrum einem Spektrum entspricht,
welches ein durchschnittlicher Betrachter empfängt. Dies bedeu
tet, daß die gesamte Vorrichtung ein Spektrum aufweist, das der
Gewichtung des Spektrums von "Tageslicht" bzw. Lichtart C oder
dergleichen, gewichtet mit der Augenempfindlichkeit des hell
adaptierten Auges V( λ ) entspricht. Hierunter ist zu verstehen,
daß das Produkt der Spektren der Strahlungsquelle, der verwen
deten Filter, der anderen optischen Elemente und Einrichtungen
sowie des verwendeten Fotosensors dem genannten Produkt aus Ta
geslichtspektrum und Augenempfindlichkeit entspricht.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung weist die er
ste optische Einrichtung eine Blendeneinrichtung auf, die einen
definierten Winkelbereich des von der Lichtquelle ausgestrahl
ten Lichts transmittiert. Vorzugsweise umfaßt die erste opti
sche Einrichtung weiterhin eine Linseneinrichtung, die das von
der Lichtquelle ausgestrahlte Licht vorzugsweise im
wesentlichen parallelisiert.
Ferner kann in der ersten optischen Einrichtung eine
Streueinrichtung, vorzugsweise in Form wenigstens einer
Streuscheibe vorgesehen sein, die dann z. B. in der Blendenöff
nung angeordnet sein kann, um eine homogene Lichtverteilung
über der Blenden- bzw. Streuscheibenfläche zu erzielen, so daß
eine homogene und gleichförmige Ausleuchtung der zu untersu
chenden Oberfläche gewährleistet wird.
Die Streuscheibeneinrichtung umfaßt vorzugsweise wenigstens
eine Streuscheibe, die vorzugsweise als planparallele oder
keilförmige Platte ausgeführt ist. Bei Einsatz der
erfindungsgemäßen Vorrichtung mit nur einer Leuchtdiode als
Lichtquelle kann die Streuscheibe bzw. die
Streuscheibeneinrichtung relativ dünn oder/und nur gering
streuend ausgeführt sein, da nur das Licht einer Lichtquelle
über der Apertur der Streuscheibe bzw. der Blende homogenisiert
werden muß.
Bei bekannten Vorrichtungen, die mehrere Lichtquellen
verwenden, müssen stärkerstreuende Scheiben verwendet werden,
um eine genügende Homogenisierung der Strahlungsverteilung zu
erzielen, die keine oder nur geringe Farbvariation aufweist.
Ein Nachteil ist dann, daß ein hoher Anteil an Intensität
gestreut wird und nicht für die Meßaufgabe zur Verfügung steht.
Das in andere Richtungen gestreute Licht und niedrige
Intensität des Meßstrahls bewirken ein schlechtes Signal-
Rausch-Verhältnis, so daß die Messungen ungenauer werden.
Bei Einsatz einer erfindungsgemäßen Vorrichtung werden höhere
Beleuchtungsstärken erzielt, während gleichzeitig ein vermin
derter Rauschlichtanteil in der Vorrichtung entsteht. Ein
besseres Signal-Rausch-Verhältnis und qualitativ bessere Meß
ergebnisse sind die Folge.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist
in der zweiten optischen Einrichtung ebenfalls eine Linsenein
richtung und eine Blendeneinrichtung angeordnet, wobei die Lin
seneinrichtung im wesentlichen das von der Oberfläche reflek
tierte bündelt und die Blendeneinrichtung Streulicht ausblen
det, so daß hochqualitative und reproduzierbare Meßergebnisse
erzielbar sind.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der Erfindung weist
die Beleuchtungseinrichtung wenigstens eine zweite oder mehr
Lichtquellen auf, welche dann vorzugsweise als Leuchtdioden
ausgeführt sind, wobei die einzelnen Leuchtdioden gleiche spek
trale Charakteristiken aufweisen können, um die Beleuchtungs
stärke zu erhöhen oder unterschiedliche spektrale Charakteri
stiken aufweisen, um bestimmte spektrale Anteile anzuheben.
Darunter ist zu verstehen, daß neben einer Leuchtdiode, die
über einen weiten Bereich des Spektrums Strahlung emittiert,
noch eine oder mehr Leuchtdioden oder Laserdioden oder der
gleichen angeordnet sind, um bestimmte Spektralbereiche zu ver
stärken.
Eine solche Anordnung ist besonders vorteilhaft, da eine noch
weitergehende Annäherung des emittierten Spektrums an eine vor
bestimmte spektrale Verteilung, wie z. B. die spektrale Vertei
lung der Normlichtart C, ermöglicht wird.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung wertet die
Steuer- und Auswerteeinrichtung über ein in der Speicherein
richtung abgelegtes Programm die Meßsignale aus und speichert
vorzugsweise die Meßsignale oder/und die ausgewerteten Meßer
gebnisse oder/und die abgeleiteten Kenngrößen in der Spei
chereinrichtung.
Dies ist vorteilhaft, da auch nach Meßablauf die Meßsignale
oder die Kenngrößen weiterhin zur Verfügung stehen.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung weist die
zweite optische Einrichtung eine Vielzahl von Fotosensoren auf,
die vorzugsweise benachbart angeordnet sind, wobei die einzel
nen Fotosensoren in einer Zeile oder auch flächig, z. B. in
Reihen und Spalten, angeordnet sein können. Dadurch ist es mög
lich, eine Vielzahl von Fotosensoren vorzusehen, wobei bei je
der Messung nicht alle Fotosensoren beteiligt sein müssen bzw.
nicht die Meßsignale aller Fotosensoren ausgewertet werden müs
sen.
Außerdem kann es möglich sein, einzelne dieser Vielzahl von Fo
tosensoren bzw. deren Meßsignale derart zu verschalten, daß ein
gemeinsames Meßsignal über diese verschalteten Fotosensoren be
stimmbar ist, welches für die einfallende Lichtmenge repräsen
tativ ist.
Dadurch können einzelne Bereiche der gesamten fotosensitiven
Fläche aller Fotosensoren zu einer oder mehreren Meßflächen
verschaltet werden, und es können Messungen gemäß internationa
ler Meßstandards programmtechnisch verwirklicht werden.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der Erfindung weist
wenigstens ein erster Teil des von der ersten optischen Ein
richtung ausgestrahlten Lichts ein Lichtmuster auf, wobei die
ses Lichtmuster vorzugsweise wenigstens eine Hell-/Dunkelkante
umfaßt. Vorzugsweise ist der Übergang von hell nach dunkel sehr
scharf. Durch Auswertung eines solchen Lichtmusters kann z. B.
die Welligkeit der Oberfläche bestimmt werden.
Es ist ferner z. B. möglich, die Strukturschärfe von struktu
rierten Oberflächen zu bestimmen. Das Lichtmuster wird vor
zugsweise durch eine Transmissions-Mustereinrichtung erzeugt
und kann auch schaltbar sein. Neben konventionellen Gittern
oder Strichgittern, die geschwärzte oder graue Bereiche und
Übergänge aufweisen, können auch schaltbare Mustereinrichtun
gen, wie Flüssigkristalle, LCD's (Liquid crystal displays) oder
elektrooptische Kristalle oder Schalter wie z. B. Pockels-Zel
len eingesetzt werden.
In einer bevorzugten Weiterbildung der zuletzt beschriebenen
Weiterbildung ist eine Vielzahl von Hell-/Dunkelkanten vorgese
hen, von denen wenigstens ein Teil wenigstens abschnittsweise
parallel zueinander verläuft. Vorzugsweise ist wenigstens ein
Teil dieser Vielzahl von Hell-/Dunkelkanten in einer Form ange
ordnet, welche einer Gruppe von Formen entnommen ist, die Git
ter-, Kreuzgitter-, Ellipsen-, Kreisform und dergleichen mehr
umfaßt.
Bei Einsatz einer schaltbaren Mustereinrichtung, wie z. B. ei
ner LCD-Einrichtung, können unterschiedliche Muster geschaltet
und projiziert werden, wodurch eine vielseitige und variable
Verwendung möglich ist.
Die Anordnung einer Vielzahl von Hell-/Dunkelkanten, die wenig
stens abschnittsweise parallel oder symmetrisch zueinander ver
laufen, ist besonders vorteilhaft, da bei Verwendung einer
Vielzahl von Fotosensoren die Verläufe der einzelnen Hell-
/Dunkelkanten bzw. die Bestimmung dieser Verläufe auf den Foto
sensoren Aufschluß über verschiedene Oberflächeneigenschaften
der zu untersuchenden Meßfläche erlauben.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung leitet die
Auswerteeeinrichtung wenigstens eine Steigung des Meßsignals
aus der Differenz des Meßsignals eines Fotosensors und des Meß
signals wenigstens eines nächsten Fotosensors ab, wobei vor
zugsweise für wenigstens einen Teil der Fotosensoren jeweils
wenigstens eine Steigung des Meßsignals bestimmt wird.
Vorzugsweise ist die Auswerteeinrichtung in dieser bevorzugten
Weiterbildung derart gestaltet, daß wenigstens ein Durch
schnittskennwert wenigstens eines Teils der Steigungen bestimm
bar ist und daß daraus eine charakteristische Kennzahl für die
Oberfläche bestimmbar ist, wobei vorzugsweise insbesondere bei
strukturierten Oberflächen eine charakteristische Strukturkenn
zahl abgeleitet wird.
Die Bestimmung der Steigungen und der Durchschnittssteigung ist
besonders vorteilhaft, da diese Aufschluß über die Welligkeit
und die Rauhigkeit der zu messenden Oberfläche geben. Eine
glatte bzw. plane Oberfläche bildet projizierte Hell- oder Dun
kellinien bzw. Hell-/Dunkelkanten scharf auf den bzw. die Foto
sensoren ab, so daß eine hohe maximale Steigung feststellbar
ist. Rauhe oder wellige Oberflächen bilden diese Lichtmuster
unschärfer ab, so daß die einzelnen Steigungswerte, die maxima
malen Steigungen und die Durchschnittssteigungen geringer wer
den können. Strukturierte Oberflächen, deren Oberflächenprofil
z. B. sägezahnförmig oder dreieckig verläuft, bilden diese
Lichtmuster im Idealfall hingegen scharf ab, wobei allerdings
die Verläufe der einzelnen Kanten bzw. des Lichtmusters Sprün
ge, Versetzungen oder dergleichen aufweisen können.
In einer bevorzugten Weiterbildung aller bisher beschriebenen
Weiterbildungen bzw. der Erfindung ist eine dritte optische
Einrichtung mit wenigstens einer Lichtquelle vorgesehen. Die
Lichtquelle strahlt Licht mit einer vorgegebenen spektralen
Charakteristik aus, welches in einem vorbestimmten Winkel auf
die Meßfläche gerichtet ist. Vorzugsweise ist das Licht der
dritten optischen Einrichtung unter einem derartigen Winkel auf
die Oberfläche gerichtet, daß das unmittelbar von der Meßfläche
gemäß der Fresnelschen Reflexion gerichtet reflektierte Licht
gegenüber dieser Meßfläche einen anderen Winkel aufweist, als
der Winkel zwischen dieser Meßfläche und dem von dieser Meßflä
che gerichtet reflektierten Licht, welches von der ersten opti
schen Einrichtung ausgestrahlt wird.
Eine solche Anordnung ist vorteilhaft, da der gerichtete Reflex
des von der dritten optischen Einrichtung ausgestrahlten Lichts
sich nicht mit dem gerichteten Reflex des von der ersten opti
schen Einrichtung ausgestrahlten Lichts überlagert.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Weiterbildungen, die ei
ne dritte optische Einrichtung aufweisen, ist die spektrale
Charakteristik des von der dritten optischen Einrichtung ausge
strahlten Lichts derart beschaffen, daß durch eine Auswertung
des von einer Oberfläche reflektierten Lichts eine Bestimmung
der Farbe bzw. eines Farbkennwerts der Oberfläche ermöglicht
wird. Dazu kann diese dritte optische Einrichtung eine oder
mehrere Lichtquellen aufweisen, wobei die spektralen Charakte
ristiken der einzelnen Lichtquellen gleich sein können, um
z. B. die Intensität zu erhöhen.
Es kann aber auch sein, daß die einzelnen Lichtquellen der
dritten optischen Einrichtung eine unterschiedliche spektrale
Charakteristik aufweisen, falls die eingesetzten Lichtquellen
nicht einen Großteil des sichtbaren Spektrums abdecken.
Besonders bevorzugt ist die Lichtquelle der dritten optischen
Einrichtung eine Leuchtdiode, deren ausgestrahltes Licht im we
sentlichen die Farbe "weiß" hat. Durch Verwendung einer solchen
Lichtquelle wird die Bestimmung der Farbe der zu untersuchenden
Oberfläche ermöglicht. Wenigstens sollte die in der dritten op
tischen Einrichtung eingesetzte Lichtquelle rote und grüne und
vorzugsweise auch blaue Spektralanteile im ausgesendeten Spek
trum aufweisen.
In einer bevorzugten Weiterbildung einer oder mehrerer der zu
vor beschriebenen Weiterbildungen weist wenigstens ein Fotosen
sor wenigstens zwei, vorzugsweise drei oder mehr fotosensitive
Elemente auf, deren elektrische Ausgangssignale einzeln erfaß
bar sind und die sich in ihrer spektralen Charakteristik bzw.
Empfindlichkeit unterscheiden.
Insbesondere wenn der bzw. die eingesetzten Fotosensoren je
weils drei fotosensitive Elemente aufweisen, ist es möglich,
als optische Kenngröße die Farbe der Meßfläche zu bestimmen.
Vorzugsweise weist eine Vielzahl der Fotosensoren jeweils drei
fotosensitive Elemente auf, deren spektrale Charakteristik der
art beschaffen ist, daß die Farbe einfallenden Lichts erfaßbar
ist.
Bevorzugt ist dann der Einsatz eines Farb-CCD-Chips, z. B. ei
nes Farb-CCD-Chips, wie er in gängigen Videokameras oder Digi
talkameras verwendet wird und der Pixelzahlen im fünf- oder
sechsstelligen Bereich aufweist. Auch höchstqualitative (Farb-)
CCD-Chips können verwendet werden.
Die Bestimmung der Farbe bzw. eines Farbkennwerts von zu unter
suchenden Oberflächen ist sehr vorteilhaft, da der Farbton eine
wichtige Eigenschaft vieler technischer Produkte ist. Insbe
sondere, aber nicht nur, beim Ausbessern oder bei der Reparatur
schadhafter Stellen sollte die ausgebesserte Oberflächenstelle
den gleichen Farbton aufweisen wie das sonstige Bauteil, aber
auch z. B. in der Serienproduktion ist es wichtig, daß die Pro
dukte einer oder unterschiedlicher Serien die gleichen Farben
aufweisen.
In einer bevorzugten Weiterbildung strahlt wenigstens, vorzugs
weise wenigstens die erste, optische Einrichtung im wesentli
chen paralleles Licht aus. Es ist aber auch möglich, daß wenig
stens eine, vorzugsweise wenigstens die dritte, optische Ein
richtung im wesentlichen divergentes oder konvergentes Licht
ausstrahlt.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist der vorbe
stimmte Winkel, in welchem das von wenigstens einer der opti
schen Einrichtungen ausgestrahlte Licht zu der Meßfläche ausge
richtet ist, einer Gruppe von Winkeln entnommen, die insbeson
dere die Winkel 0°, 5°, 10°, 25°, 20°, 30°, 45°, 60°, 75°, 80°
und 85° umfaßt, wobei diese Winkel als Winkel zwischen den
Strahlen (einfallend bzw. ausfallend) und der Senkrechten bzw.
der Normalen auf der zu untersuchenden Oberfläche definiert
sind. Besonders bevorzugt sind die Winkel, unter denen die er
ste und die zweite optische Einrichtung zu der Oberfläche aus
gerichtet sind, gleich.
Die Ausrichtung der optischen Einrichtungen gemäß der zuvor be
schriebenen Winkel ist besonders vorteilhaft, da es ermöglicht
wird, nach den verschiedensten nationalen und internationalen
Normen (der amerikanischen Norm ASTM E430, der ISO 2813, der
DIN 67530 und dergleichen mehr) die Messungen durchzuführen.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist ein zwei
tes und vorzugsweise auch ein drittes optisches System vorgese
hen, wobei die Anordnung eines optischen Systems gegenüber der
Meßfläche vorzugsweise 20°, 60° oder 85° beträgt. Falls drei
optische Systeme vorgesehen sind, wird vorzugsweise eines unter
20°, ein zweites unter 60° und ein drittes unter 85° zur zu
messenden Oberfläche angeordnet.
Es kann auch möglich sein, daß z. B. für separate Farbmessung
ein weiteres optisches System bzw. eine optische Einrichtung
vorgesehen ist, das/die dann beispielsweise unter 45° zur Nor
malen der Oberfläche ausgerichtet ist.
Die oben genannten Winkel 20°, 60° und 85° zur Normalen der zu
messenden Oberfläche werden insbesondere, aber nicht nur, bei
der Bestimmung des Glanzes der zu messenden Oberfläche einge
setzt. Die 20°-Geometrie eignet sich speziell für hochglänzende
Prüfkörper, während die 60°-Geometrie im wesentlichen für alle
Oberflächen geeignet ist und die 85°-Geometrie bevorzugterweise
dann eingesetzt wird, um eine bessere Differenzierung bei Ober
flächen zu erzielen, deren Glanz bei der 60°-Geometrie kleiner
als 10 Einheiten gemäß der ISO 2813 ist. Vorzugsweise werden
die optischen Einrichtungen mit einer Genauigkeit justiert, die
bei 20°, 60° und 85° Ausrichtung besser als ±0,1° ist.
In einer bevorzugten Weiterbildung einer oder mehrerer der zu
vor beschriebenen Weiterbildungen strahlt wenigstens eine, vor
zugsweise wenigstens die erste, optische Einrichtung wenigstens
einen Lichtstreifen aus, der in einem vorbestimmten Abstand von
der Lichtquelle eine vorbestimmte Länge und Breite senkrecht
zur Ausbreitungsrichtung aufweist.
In einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist
in möglichst unmittelbarer Nähe wenigstens einer Lichtquelle
und/oder wenigstens eines Fotosensors wenigstens eine Tempera
turmeßeinrichtung angeordnet, die zur Bestimmung der charakte
ristischen Temperatur der jeweiligen Lichtquelle bzw. des je
weiligen Fotosensors vorgesehen ist, um eine temperaturkorri
gierte Bestimmung dieser wenigstens einen Kenngröße zu ermögli
chen.
Es ist auch möglich, daß die Temperaturbestimmung der einzelnen
Bauteile (Lichtquelle, Fotosensor bzw. fotosensitives Element)
direkt mit dem Bauteil selbst erfolgt, und insbesondere bei
Leuchtdioden und Fotozellen kann eine solche Temperaturbestim
mung durch Messung der Leerlaufspannung, des Kurzschlußstroms
oder dergleichen bestimmt werden, so daß insbesondere bei einer
derartigen Bestimmung der Temperatur eine hohe Zuverlässigkeit
erzielt wird, da keine bzw. nur äußerst geringe Wärmekapazitä
ten die Bestimmung der Temperatur, durch dynamische Vorgänge
bedingt, verfälschen.
Die Bestimmung der Temperatur der jeweiligen Elemente ist be
sonders vorteilhaft, da die Temperatur der jeweiligen Elemente
(Lichtquelle, Sensor) die spektralen Eigenschaften verändert.
Eine Temperaturbestimmung erlaubt eine genauere Messung.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung, bei der ein
Lichtmuster ausgestrahlt wird, wird vorzugsweise wenigstens ein
Teil des Verlaufs des Abbilds der wenigstens einen Hell-
/Dunkelkante auf der Vielzahl von Fotosensoren bestimmt. Nach
Bestimmung des Verlaufs wird eine Abweichung des gemessenen vom
idealen Verlauf abgeleitet und ein charakteristischer Oberflä
chenkennwert der Meßfläche bestimmt.
Dieser Oberflächenkennwert kann z. B. die Profilhöhe einer pro
filierten Oberfläche charakterisieren, dieser Kennwert kann
aber auch derart bestimmt werden, daß er die Steilheit der pro
filierten Oberfläche oder die Schärfe der Kanten der profilier
ten Oberfläche kennzeichnet.
Die Bestimmung eines derartigen Oberflächenkennwerts ist insbe
sondere bei Messung von strukturierten Oberflächen, wie sie
beispielsweise im Innenraum von Kraftfahrzeugen Verwendung fin
den, sehr vorteilhaft.
In einer bevorzugten Weiterbildung aller zuvor beschriebenen
Weiterbildungen ist die Vorrichtung relativ zur Meßfläche in
einer im wesentlichen abstandsgleichen Richtung verschiebbar,
und es ist eine Wegstreckenmeßeinrichtung vorgesehen, die diese
relative Verschiebung quantitativ erfaßt, wobei vorzugsweise
eine Speichereinrichtung vorgesehen ist, in welcher die entlang
vorgegebener Meßstellen auf der Oberfläche gemessenen Kennwerte
und/oder optischen Kenngrößen abgespeichert werden.
Vorzugsweise ist ein Meßrad vorgesehen, welches während der
Messung auf der zu messenden Oberfläche aufgesetzt ist und sich
während der Relativbewegung zwischen der Vorrichtung und der zu
messenden Oberfläche dreht, wobei dann vorzugsweise wenigstens
ein Meßrad mit einem Drehwinkelgeber verbunden ist, der ein
elektrisches Drehwinkelsignal ausgibt, das für den vom Meßrad
zurückgelegten Drehwinkel repräsentativ ist.
In einer bevorzugten Weiterbildung einer, mehrerer oder aller
zuvor beschriebener Weiterbildungen ist in der Vorrichtung eine
Vergleichseinrichtung vorgesehen und in einem Bereich der Spei
chereinrichtung wenigstens einer, vorzugsweise eine Vielzahl
von zwei, drei, vier, sechs oder mehr von Referenzkennwerten
bzw. Referenzkennwertepaaren gespeichert, die durch Messung be
stimmter, vorzugsweise unterschiedlicher Referenzoberflächen
oder Referenzmeßstandards ermittelt und vorzugsweise mit dieser
Vorrichtung ermittelt wurden.
Vorzugsweise ist neben diesen Referenzwerten bzw. Referenzkenn
werten auch das elektrische Meßsignal des wenigstens einen Fo
tosensors mit abgelegt, so daß vorzugsweise in diesem Bereich
der Speichereinrichtung eine Tabelle abgelegt ist, die für vor
bestimmte Meßstandards bzw. Referenzoberflächen jeweils das we
nigstens eine elektrische Ausgangssignal des Fotosensors auf
weist.
Bei einer Messung wird vorzugsweise das elektrische Ausgangs
signal bzw. Meßsignal eines Fotosensors mit den Werten in der
Tabelle verglichen, die den Referenzoberflächen entsprechen.
Nach Auswahl der beiden nächstliegenden Werte wird nun das
elektrische Ausgangssignal des Fotosensors in bezug zu diesen
beiden gespeicherten Werten gesetzt, und es wird eine, vor
zugsweise lineare, Interpolation zwischen diesen bzw. den in
der Tabelle abgelegten Kennwerten durchgeführt und ein Kennwert
für die zu untersuchende Oberfläche abgeleitet. Die Auswertung
mit dieser Vergleichseinrichtung kann zur Bestimmung des Glan
zes, aber auch bei allen anderen zu bestimmenden Kenngrößen,
Verwendung finden.
Eine solche Ausgestaltung ist sehr vorteilhaft, da, insbeson
dere bei Bestimmung der Referenzwertepaare mit dieser Vorrich
tung, die systembedingten Verluste und Eigenschaften mit erfaßt
werden. Außerdem ist es möglich, Nichtlinearitäten in der ge
samten Vorrichtung bzw. der Sensoren zu berücksichtigen, so daß
die Genauigkeit der Messung erheblich erhöht werden kann, da,
insbesondere bei relativ hohen Lichtintensitäten, der lineare
Bereich der Sensoren verlassen wird und eine Sättigung ein
tritt.
Die Voraussetzung eines linearen Zusammenhangs von Intensität
und Sensorsignal ist dann nur in einem kleinen Bereich gültig
und nicht mehr über den Bereich von "Null" bis zum gemessenen
Wert. Eine Interpolation zwischen benachbarten Werten ist aber
auch in diesem Fall möglich und liefert gute Meßergebnisse.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vor
liegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Be
schreibung von Ausführungsbeispielen in Zusammenhang mit den
Zeichnungen.
Darin zeigen:
Fig. 1 einen Schnitt durch eine Vorrichtung gemäß eines ersten
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 die Intensitätsverteilung über der Wellenlänge der
Lichtquelle in dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1;
Fig. 3 die spektrale Transmission des Filters in dem Ausfüh
rungsbeispiel nach Fig. 1;
Fig. 4 die spektrale Empfindlichkeit des helladaptierten
menschlichen Auges bei Beleuchtung mit der Standard
lichtart C;
Fig. 5 einen Vergleich der Soll- und Ist-Spektren mit der Vor
richtung gemäß dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1;
Fig. 6 ein zweites Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen
Vorrichtung, bei der ein Lichtmuster auf die zu messen
de Oberfläche projiziert wird;
Fig. 7 das von der ersten optischen Einrichtung projizierte
Lichtmuster gemäß dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 6;
Fig. 8 den prinzipiellen schaltungstechnischen Aufbau eines
weiteren Ausführungsbeispiels;
Fig. 9 einen Schnitt durch eine Vorrichtung gemäß dem Ausfüh
rungsbeispiel nach Fig. 8; und
Fig. 10 ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung, welches
mehrere Sätze von optischen Einrichtungen aufweist.
Ein erstes Ausführungsbeispiel wird nun in bezug auf die Fig. 1
bis 5 beschrieben.
Die in Fig. 1 im Schnitt dargestellte Meßeinrichtung zur Be
stimmung der Qualität von Oberflächen weist ein Gehäuse 1 mit
einer darin vorgesehenen Öffnung 7 auf. Das Gerät wird mit der
Öffnung 7 auf die zu untersuchende Meßfläche 8 aufgesetzt. In
dem Gerät ist ein erstes optisches System 30 angeordnet, das
eine erste optische Einrichtung 2 und eine zweite optische Ein
richtung 10 umfaßt.
Die beiden optischen Einrichtungen 2, 10 sind mit ihren opti
schen Achsen in Winkeln 17, 18 zur Senkrechten auf der Meßflä
che 8 angeordnet. In diesem Ausführungsbeispiel sind die Win
kel 17, 18 symmetrisch gewählt und betragen 45°. Insbesondere
zur Glanzmessung wird in eine Variation der Vorrichtung ein
Winkel von 60 bevorzugt.
In der ersten optischen Einrichtung 2 ist eine Lichtquelle 3
angeordnet, die als Leuchtdiode ausgeführt ist und deren emmi
tiertes Spektrum im wesentlichen im gesamten sichtbaren Bereich
Intensität aufweist.
Das von der Leuchtdiode 3 ausgestrahlte Licht trifft auf eine
Streuscheibe 16, die im Ausführungsbeispiel vor einer Blende 4
angeordnet ist. Die Streuscheibe 16 kann eine Oberflächen- oder
Volumenstreuscheibe sein, die das von der Leuchtdiode 3 ausge
strahlte Licht über die gesamte Öffnung der Blende 4 gleichmä
ßig verteilt, so daß das durch die Blende 4 weitergeleitete
Licht über der Blendenöffnung und insbesondere über der Meßflä
che eine homogene Intensitätsverteilung aufweist.
Im weiteren Strahlengang ist eine Filtereinrichtung angeordnet,
die einen Filterhalter 6 aufweist, in der ein spektraler Fil
ter 9 angeordnet ist. Ein Filter 9 der Filtereinrichtung ist im
Ausführungsbeispiel als Transmissionsfilter ausgeführt und be
steht aus passend gefärbtem Quarzglas und dient im Ausfüh
rungsbeispiel dazu, das von der Lichtquelle 3 ausgestrahlte
Spektrum derart zu modifizieren, daß im wesentlichen eine Annä
herung der ausgestrahlten spektralen Intensität an die Norm
lichtart C erzielt wird.
Die Filtereinrichtung verändert das Spektrum derart, daß ein
Meßspektrum verwendet wird, welches proportional dem Produkt
der Spektren aus Augenempfindlichkeit des helladaptierten Auges
V( λ ) und dem Spektrum der Normlichtart C ist.
Die Linse 5 in der ersten optischen Einrichtung 2 paralleli
siert das ausgestrahlte Licht, welches dann auf die zu messende
Oberfläche 8 auftrifft und dort gemäß der Fresnelschen Refle
xionsgesetze unter dem gleichen Winkel reflektiert wird, unter
dem es auftrifft.
Das von der Oberfläche bzw. Meßfläche reflektierte Licht tritt
in die zweite optische Einrichtung 10 ein und wird von der dort
vorgesehenen Linse 11 gebündelt. Ferner ist in der zweiten op
tischen Einrichtung 10 eine Blende 12 angeordnet, die im we
sentlichen nur die relevanten Strahlen und Anteile transmit
tiert, so daß der dahinter angeordnete Fotosensor 13 nur das
von der Oberfläche reflektierte Licht aufnimmt. Die Blende 13
dient als Fourierfilter in dieser zweiten optischen Einrich
tung 10.
Das von der Leuchtdiode 3 ausgestrahlte Licht weist ein Spek
trum 21 auf, welches im dargestellten Bereich zwischen 380 und
770 nm Intensität ausstrahlt, wobei ein erstes, absolutes Maxi
mum der Strahlung zwischen 460 und 490 nm bei etwa 475 nm und
ein weiteres relatives Maximum zwischen 560 und 580 nm auf
tritt.
Die Intensität ist in relativen Einheiten, bezogen auf die ma
ximal ausgestrahlte spektrale Intensität, aufgetragen. Neben
dem Kurvenverlauf 21 sind einzelne Meßpunkte bzw. Meßwerte 21a
eingezeichnet, die durch geschwärzte Quadrate gekennzeichnet
sind.
Die Leuchtdiode, z. B. eine Leuchtdiode der Firma Nichia, weist
spektrale Anteile, die größer als 2% der maximalen spektralen
Intensität sind, in einem Bereich zwischen etwa 430 und 740 nm
auf.
Der in Fig. 3 dargestellte spektrale Verlauf 22 des Transmissi
onsfilters 9 der ersten optischen Einrichtung 2 hat ein Maximum
der Transmission bei etwa 550 nm; zu kürzeren und zu längeren
Wellenlängen fällt der Transmissionsgrad des Filters 9 ab. Meß
punkte 23a der spektralen Transmission 22 sind ebenfalls im Ab
stand von etwa 10 nm in Fig. 3 dargestellt.
Die über der Wellenlänge aufgetragenen Transmissionsgrade sind
ebenfalls normiert, d. h. bezogen auf die maximale Transmis
sion, aufgetragen, so daß diese in dem genannten Bereich ca.
100% erreicht.
In Fig. 4 ist die spektrale Intensität 23 eines idealen Meßsy
stems über der Wellenlänge dargestellt, wobei einzelne Stütz-
bzw. Meßpunkte 23a in einem Abstand von ebenfalls etwa 10 nm
eingetragen sind. Wie in den Fig. 2 und 3 ist eine relative In
tensität aufgetragen, die auf die maximale spektrale Intensität
bezogen ist und deshalb Werte zwischen 0 und 100% umfaßt.
Bei Messungen nach der internationalen Norm ISO 2813 gemäß der
dritten Ausgabe vom 01.08.1994 wird bei der Messung des Glanzes
von Oberflächen die Normlichtart C der CIE (Commission Interna
tionale de l'Éclairage) vorgeschrieben, bzw. bei der Messung
des Glanzes von Oberflächen soll eine spektrale Funktion der
Vorrichtung derartige Eigenschaften aufweisen, daß sich ein
spektraler Meßverlauf ergibt, der eine Beleuchtung mit der
Lichtart C gewichtet mit der spektralen Augenempfindlichkeit
des helladaptierten Auges V( λ ), ergibt.
Der Filter 9 ist austauschbar und kann durch einen Filter er
setzt werden, der ein Meßspektrum für das dunkel adaptierte Au
ge V( λ ), erzeugt (vgl. z.B. Bergmann Schaefer, Lehrbuch der Ex
perimentalphysik, Band III, Optik, 8. Auflage, 1987, Seiten 674
ff., 718, 730-743.
Eine solche spektrale Verteilung hat den Vorteil, daß z. B. der
Glanz mit einer spektralen Verteilung bestimmt wird, die der
Beleuchtung mit Tageslicht entspricht, wobei die Augenempfind
lichkeit eines "durchschnittlichen" bzw. "genormten" Menschen
berücksichtigt wird.
In einer solchen Vorrichtung bzw. einem Glanzmeßgerät wird das
Spektrum von verschiedenen Komponenten beeinflußt. Das von der
Lichtquelle ausgestrahlte Licht wird durch die verschiedenen
optischen Komponenten, wie Linsen, Filter und dergleichen mehr
unterschiedlich spektral beeinflußt.
Neben der zu messenden Oberfläche wird das Spektrum weiterhin
durch die spektrale Empfindlichkeit des verwendeten Sensors be
einflußt, so daß das Meßergebnis sich als Produkt der spektra
len Verläufe von Lichtquelle, Streuscheibeneinrichtung, opti
schen Filtern, weiteren verwendeten optischen Elementen wie
Linsen und dergleichen, sowie des Sensors multipliziert mit dem
spektralen Reflexionsvermögen der zu untersuchenden Oberfläche
ergibt.
Die zuerst angeführten Einflüsse definieren das Gerätespektrum,
welches dem in Fig. 23 dargestellten Spektrum angenähert werden
sollte, um Messungen gemäß der ISO 2813 zu ermöglichen.
Bei dem erfindungsgemäßen Glanzmeßgerät wird das Gerätespektrum
an das ideale Spektrum angenähert, indem eine Leuchtdiode mit
einem Spektrum 21, wie in Fig. 2 dargestellt, in Verbindung mit
einer Filtereinrichtung mit einem spektralen Verlauf 22, wie in
Fig. 3 dargestellt, verwendet wird.
Die zusammengefaßten Geräteeigenschaften ergeben einen spektra
len Verlauf 24, der in Fig. 5 dargestellt ist. Vergleichsweise
ist in Fig. 5 das ideale Spektrum 23 aufgetragen, wobei ein
zelne Meßpunkte 24a des realen und des idealen Spektrums zu
sätzlich eingezeichnet sind. Im dargestellten Bereich sind die
Abweichungen zwischen idealem und realem Spektrum klein, so daß
von einer guten Anpassung an die gemäß ISO 2813 vorgeschriebe
nen Meßbedingungen ausgegangen werden kann.
Insbesondere weisen beide Spektren bei etwa 570 nm das absolute
Maximum auf, und auch die Flanken bis etwa 50% maximaler In
tensität sind nahezu deckungsgleich. Im roten Bereich des Spek
trums zwischen 600 und 700 nm entspricht der Verlauf des idea
len Spektrums dem Verlauf des realen Spektrums sehr genau.
Bei diesem Ausführungsbeispiel ist der Fotosensor ein CCD-Chip,
bei dem das elektrische Ausgangssignal der einzelnen Fotoele
mente jeweils einzeln bestimmbar ist. Verschiedene Pixel des
CCD-Chips können so zu einzelnen Sensoren zusammengefaßt wer
den, so daß effektiv mehrere verschiedene Sensoren zur Verfü
gung stehen, die unterschiedliche Abmessungen aufweisen und
geometrisch an unterschiedlichen Orten angeordnet sind.
Paralleles Licht, das von einem idealen Spiegel reflektiert
wird, tritt als paralleles Licht in die zweite optische Ein
richtung ein, wo es durch die dort angeordnete Linse 11 gebün
delt wird, und trifft auf den Fotosensor 13 der zweiten opti
schen Einrichtung auf, dessen Signale zur Ableitung des Glanzes
herangezogen werden.
Bei einer nicht ideal reflektierenden Oberfläche wird ein Teil
diffus reflektiert, so daß auch andere Teile des CCD-Chips aus
geleuchtet werden. Diese Anteile des aufgenommenen Lichts kön
nen zur Bestimmung des Schleierglanzes, der DOI und des Orange
peel verwendet werden.
Die Einteilung der CCD-Fläche in unterschiedliche Sensoren wird
durch eine Steuerungseinrichtung (nicht dargestellt) gesteuert
und kann so erfolgen, daß optische Kenngrößen nach unterschied
lichen internationalen und nationalen Normen gemessen werden
können, wie z. B. der amerikanischen Norm ASTM E 430.
Ein zweites Ausführungsbeispiel wird nun mit Bezug auf die
Fig. 6 und 7 erläutert.
Bei dem in Fig. 6 im Schnitt dargestellten optischen Meßgerät
wurden, soweit möglich, die gleichen Bezugszeichen verwendet
wie bei dem in Fig. 1 dargestelltem Meßgerät und den übrigen
Ausführungsbeispielen, so daß eine genaue Erläuterung der glei
chen Komponenten hier unterbleiben kann.
Das Meßgerät 1 weist ein Gehäuse 1 mit einem optischen Sy
stem 30 auf, welches eine erste optische Einrichtung 2 und eine
zweite optische Einrichtung 10 umfaßt. In der ersten optischen
Einrichtung 2 ist eine Leuchtdiode als Lichtquelle 3 angeord
net. Das von der Leuchtdiode 3 ausgestrahlte Licht trifft auf
eine in einer Halteeinrichtung 14 aufgenommene Lichtmustenein
richtung 15, die im Ausführungsbeispiel als Amplituden-Gitter
ausgeführt ist. Dem Muster entsprechend, werden Teile des auf
treffenden Lichts absorbiert, während andere Teile transmit
tiert werden.
In Fig. 7 ist das von der ersten optischen Einrichtung 2 pro
jizierte Lichtmuster 50 abgebildet, welches Dunkelstreifen 51
und Hellstreifen 52 aufweist, die über den gesamten Musterab
schnitt als parallele Streifen ausgerichtet sind. Zusätzlich
wird ein Teil der Meßfläche mit Bereichen 53 ausgeleuchtet, die
kein Muster aufweisen, so daß z. B. eine Bestimmung des Glanzes
erfolgen kann, indem das von der Meßfläche reflektierte Licht
der Bereiche 53, wie im Ausführungsbeispiel 1 ausgewertet wird.
Das von der Leuchtdiode 3 ausgestrahlte Licht tritt nach der
Lichtmusterplatte bzw. Lichtmustereinrichtung 15 durch den op
tischen Filter 9 durch, wo das emittierte Spektrum 21 an das
ideale Spektrum 23 angepaßt wird, so daß wiederum ein Spek
trum 24, wie in Fig. 5 dargestellt, zur Messung verwendet wird.
Bei dieser Ausführungsform ergeben sich neben den Meßmöglich
keiten, die in bezug auf das erste Ausführungsbeispiel be
schrieben wurden, weitere Möglichkeiten zur Bestimmung von op
tischen Kennwerten der zu messenden Oberfläche.
Mit zunehmender Rauhigkeit der zu messenden Oberfläche nimmt
der Kontrast des auf den Fotosensor abgebildeten Lichtmusters
ab, so daß eine Auswertung des Kontrastes zwischen den hellen
Bereichen bzw. Kanten 52 und den dunklen Kanten 51 ein Maß für
die Rauhigkeit der zu messenden Oberfläche ergibt.
Ein schlechterer Glanz bewirkt eine geringere Intensität, wobei
sich der Kontrast zwischen hellen und dunklen Bereichen nicht
verändern muß. Auch ein orange peel auf der Oberfläche führt zu
einer Verzerrung der einzelnen dunklen und hellen Linien, so
daß durch Auswertung des Verlaufs der einzelnen Linien auf die
Oberflächenwelligkeit bzw. Oberflächenkrümmung geschlossen wer
den kann.
Ferner kann durch Auswertung des Lichtmusters bei Messung
strukturierter Oberflächen auf die Struktur der Oberfläche ge
schlossen werden.
Ein Rechteckprofil führt bei geeigneter Orientierung des Licht
musters zum Versatz einzelner Linien im Bereich der Ver
tiefungen, während ein Sägezahn- oder Dreieckprofil auf der zu
messenden Oberfläche zu entsprechend geneigten Linienbereichen
führt.
Durch eine, z. B. digitale, Bildverarbeitung können in der
Steuereinrichtung (nicht dargestellt) auf diese Weise die ver
schiedensten Oberflächenkennwerte abgeleitet werden.
Im Ausführungsbeispiel werden bei dem aufgenommenen Bild die
Intensitäten und der Kontrast ausgewertet. Ferner werden die
Gradienten von einem Pixel zum nächsten im Bereich des Lichtmu
sters bestimmt. Durch eine gewichtete Integration bzw. durch
eine Mittelwertbildung der Gradienten bzw. aller Gradienten im
Bereich des Lichtmusters wird ein charakteristisches Maß für
die Struktur der Meßfläche bestimmt.
Ein drittes Ausführungsbeispiel wird nun in bezug auf die
Fig. 8 und 9 beschrieben, wobei in Fig. 8 der prinzipielle
schaltungstechnische Aufbau beschrieben ist, wie er im wesent
lichen auch in den Ausführungsbeispielen gemäß Fig. 1 und
Fig. 6 verwendet wird.
Das Oberflächenmeßgerät zur Bestimmung des Glanzes und der an
deren optischen Kenngrößen weist eine Leuchtdiode 3 als Strah
lungsquelle auf, wobei der Betrieb der Lichtquelle durch eine
Steuereinrichtung 60 gesteuert wird, die einen handelsüblichen
Mikroprozessor enthält.
Die Steuereinrichtung 60 wird durch ein Programm gesteuert, das
in einem Speicher 61 abgelegt ist. Eine Eingabeeinrichtung 62
weist verschiedene Schalter bzw. Schaltungsmöglichkeiten auf
und dient zur Eingabe von Steuerbefehlen, um z. B. den Meßab
lauf zu starten oder die zu bestimmende optische Kenngröße aus
zuwählen.
Ein Display 65 ist als LCD-Display ausgeführt und dient zur
Ausgabe der Meßergebnisse.
Die Vorrichtung kann an einen externen Computer 66 angeschlos
sen werden, um die in der Speichereinrichtung 61 abgelegten
Meßergebnisse übermitteln zu können, und um eine weitergehende
Analyse, eine Archivierung oder dergleichen vorzunehmen.
Das in Fig. 9 dargestellte Meßgerät hat ein Gehäuse 100, in dem
die Meßoptik untergebracht ist. Ein erstes optisches System 30
umfaßt, wie in den vorangegangenen Ausführungsbeispielen, eine
erste optische Einrichtung 2 und eine zweite optische Einrich
tung 10, deren optische Achsen jeweils unter Winkeln 17, 18 zu
der Normalen der zu messenden Oberfläche 108 ausgerichtet sind.
Je nach Anwendungsfall betragen die Winkel 17, 18 vorzugsweise
20°, 45°, 60°, 85° oder einen anderen Betrag, wie er z. B. in
internationalen Standards definiert ist.
In der ersten optische Einrichtung ist als Strahlungsquelle ei
ne Leuchtdiode 3 vorgesehen, welche die Fig. 2 abgebildeten
spektralen Eigenschaften aufweist und somit "weißes" Licht aus
strahlt.
Das von der ersten optischen Einrichtung ausgestrahlte, von der
zu untersuchenden Meßfläche 108 reflektierte und von der zwei
ten optischen Einrichtung 10 aufgenommene Licht wird auf den
Fotosensor 13 gelenkt, der als Farb-CCD-Chip ausgeführt ist, um
die Farbe des aufgenommenen Lichtes zu erfassen. Insgesamt
weist das Meßgerät eine optische Charakteristik auf, wie sie in
Fig. 5 dargestellt ist.
Zusätzlich zu den vorangegangenen Ausführungsbeispielen ist in
dieser Vorrichtung eine dritte optische Einrichtung 130 vorge
sehen, die eine Leuchtdiode als Lichtquelle 133 aufweist, deren
Licht in etwa senkrecht auf die zu untersuchende Oberfläche
ausgerichtet ist.
Das von der Oberfläche diffus reflektierte Licht tritt wenig
stens teilweise in die zweite optische Einrichtung ein und wird
von dem Fotosensor 13 aufgenommen. Da der optische Sensor 13
als Farb-CCD-Chip ausgeführt ist, der jeweils benachbart drei
spektral unterschiedlich empfindliche fotosensitive Elemente
aufweist, ist die Farbe des reflektierten Lichts und somit der
zu messenden Oberfläche bestimmbar.
Ein weiterer Unterschied zu den bisher beschriebenen Ausfüh
rungsbeispielen ist, daß das Gerät nicht direkt auf die zu mes
sende Oberfläche 108 aufgesetzt wird, sondern mittels
(schematisch angedeuteter) mindestens zweier Gummiwalzen 103,
104 oder mindestens vier Gummiräder 103, 104.
Die Walzen bzw. Räder 103, 104 sind drehbeweglich (nicht darge
stellt), in dem Gehäuse 100 angeordnet bzw. gelagert und minde
stens eines der Gummiräder bzw. Walzen ist mit einer Wegstrec
kenmeßeinrichtung 67 (siehe Fig. 8) versehen, die Winkelbewe
gungen der Gummiräder 103 erfaßt und ein dafür repräsentatives
elektrisches Signal ausgibt.
In diesem Ausführungsbeispiel ist der von der Vorrichtung bzw.
dem Meßgerät auf der Oberfläche zurückgelegte Weg erfaßbar. Es
kann in vorbestimmten Abständen auf der zu messenden Oberfläche
die zu bestimmende oder die zu bestimmenden optischen Kenngrö
ßen erfaßt werden, die dann zusammen mit einer Ortsangabe in
der Speichereinrichtung 61 abgelegt werden, so daß auch große
Bauteile, oder z. B. Kraftfahrzeugkarosserien, flächig vermes
sen werden können.
In Fig. 10 ist ein viertes Ausführungsbeispiel eines erfin
dungsgemäßen Oberflächenmeßgeräts dargestellt, bei dem drei op
tische Systeme 30, 31 und 32 verwendet werden. Jedes optische
System weist eine erste (2a, 2b, 2c) und eine zweite optische
Einrichtung (10a, 10b, 10c) auf.
Die erste optische Einrichtung 2a und die zweite optische Ein
richtung 10a des ersten optischen Systems 30 sind jeweils unter
einem Winkel von 20° zur Normalen der Meßoberfläche 8 angeord
net, um die optischen Kenngrößen und insbesondere den Glanz der
zu messenden Oberfläche zuverlässig und genau bestimmen zu köh
nen, wenn z. B. eine hochglänzende Oberfläche beurteilt werden
soll.
Die erste optische Einrichtung 2a weist eine Leuchtdiode 3a und
eine Filter- und Blendeneinrichtung 4a auf, die das von der
Leuchtdiode emittierte Spektrum gemäß der in den Fig. 2 bis
5 dargestellten Spektren verändert und anpaßt.
Eine Linse 5a ist weiterhin im Strahlengang zur zu messenden
Oberfläche angeordnet, und eine symmetrisch angeordnete Lin
se 11a bündelt das an der Oberfläche reflektierte Licht auf die
zweite optische Einrichtung, in der eine Einrichtung 12a ange
ordnet ist, die eine Blende und eine Fotozelle umfaßt.
Das zweite optische System 31 ist ähnlich dem ersten optischen
System aufgebaut, allerdings sind die ebenfalls symmetrisch an
geordneten ersten (3b) und zweiten optische Einrichtungen (12b)
unter einem Winkel von 60° zur Normalen bzw. Senkrechten auf
der zu messenden Oberfläche 8 ausgerichtet.
Mit dieser Meßgeometrie kann der Glanz von im wesentlichen al
len zu untersuchenden Oberflächen ermittelt werden. Der Meßwin
kel von 60° kann verwendet werden, um sowohl schwach reflektie
rende als auch stark reflektierende Oberfläche zu vermessen.
Gemäß diesem Ausführungsbeispiel weist das erfindungsgemäße
Oberflächenmeßgerät ein drittes optisches System auf, dessen
ausgestrahltes Licht unter einem Winkel von 85° zur Normalen
der Meßoberfläche ausgerichtet ist.
Die erste optische Einrichtung 3c des dritten optischen Sy
stems 32 weist eine Leuchtdiode als Lichtquelle 3c und eine
Blenden- und Filtereinrichtung 4c auf, so daß als Meßspektrum
das in Fig. 5 mit Bezugszeichen 24 bezeichnete Spektrum bei der
Messung Anwendung findet.
Das durch die Blenden- und Filtereinrichtung 4c der ersten op
tischen Einrichtung 3c des dritten optischen Systems 32 ausge
strahlte Licht wird von einer Faser 202 zu einer Blende 204 ge
leitet und nahezu senkrecht zur zu messenden Oberfläche ausge
richtet abgestrahlt. Ein nahe der Oberfläche angeordnetes Pris
ma 203 lenkt das Licht derart um, daß es unter einem Winkel von
85 zur Oberflächennormalen auf die Meßoberfläche 8 auftrifft.
Das reflektierte Licht wird von einem Prisma 206 aufgenommen,
welches das Licht in Richtung des Fotosensors 12c in der zwei
ten optischen Einrichtung des dritten optischen System 32 um
lenkt.
Die 85°-Geometrie eignet sich besonders für schwach glänzende
Oberflächen.
Die drei optischen Systeme 30 bis 32 des Meßgerätes 200 gemäß
diesem Ausführungsbeispiel sind dabei derart angeordnet, daß
das jeweils von der ersten optischen Einrichtung der unter
schiedlichen optischen Systeme ausgestrahlte Licht sich in ei
nem Meßpunkt 8 auf der zu untersuchenden Oberfläche schneiden,
so daß alle drei optischen Systeme im wesentlichen den gleichen
Meßpunkt ausleuchten, wozu in der Grundplatte 201 des Meßgeräts
eine entsprechende Öffnung vorgesehen ist.
Bei allen beschriebenen Ausführungsbeispielen werden die Meß
werte mit in der Speichereinrichtung 61 abgelegten Vergleichs
werten verglichen, die durch Messung verschiedener Referenz
standards bzw. Referenzoberflächen ermittelt wurden. Dadurch
wird es ermöglicht, die optischen Kenngrößen durch eine Inter
polation zwischen benachbarten Kenngrößen zu bestimmen.
Weiterhin ist in allen beschriebenen Ausführungsformen das Ge
häuse 1, 100 oder 200 kleinbauend gestaltet und weist in etwa
die Größe eines Buches auf, so daß das Oberflächenmeßgerät vom
Benutzer einfach mitgenommen werden kann und auch zur Messung
an Oberflächenstellen verwendet werden kann, die schlecht zu
gänglich sind und deshalb eine Messung mit großbauenden Meßge
räten nicht ermöglichen.
Claims (31)
1. Vorrichtung (1) zur quantifizierten Bestimmung der Qualität
von Oberflächen mit:
einem optischen System (30, 31, 32), welches
eine erste optische Einrichtung (2, 2a, 2b, 2c) aufweist mit wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung (3, 3a, 3b, 3c), deren Licht in einem vorbestimmten Winkel (18) auf ei ne Meßfläche, die Teil der zu messenden Oberfläche ist, ge richtet ist, sowie
eine zweite optische Einrichtung (10, 10a, 10b, 10c), wel che in einem vorbestimmten Winkel (17) zu dieser Meßfläche ausgerichtet ist, und welche das von der Meßfläche (8) re flektierte Licht aufnimmt, wobei diese zweite optische Ein richtung (10, 10a, 10b, 10c) wenigstens einen Fotosen sor (13) aufweist, welcher ein elektrisches Meßsignal aus gibt ist, das für das reflektierte Licht charakteristisch ist;
einer Steuer- und Auswerteeinrichtung (60), die zur Steue rung des Meßablaufs und zur Auswertung der Meßergebnisse vorgesehen ist und die wenigstens eine Prozessoreinrich tung (60) und wenigstens eine Speichereinrichtung (61) auf weist;
einer Ausgabeeinrichtung (65);
wobei diese Beleuchtungseinrichtung (3, 3a, 3b, 3c) wenig stens eine Lichtquelle (3, 3a, 3b, 3c) aufweist, welche ei ne Leuchtdiode (3, 3a, 3b, 3c) (LED) ist,
wobei dieses von dieser Beleuchtungseinrichtung (3, 3a, 3b, 3c) ausstrahlbare Licht derart beschaffen ist, daß die spektrale Charakteristik (21, 23, 24) vorzugsweise wenig stens blaue, grüne und rote Spektralanteile im sichtbaren Spektrum aufweist und,
wobei eine Filtereinrichtung (6, 9) vorgesehen ist, welche in dem Strahlengang zwischen dieser Lichtquelle (3, 3a, 3b, 3c) und diesem Fotosensor (13) angeordnet ist, und welche die spektrale Charakteristik einfallenden Lichts (21) gemäß vorbestimmter Filtereigenschaften (22) derart verändert, daß die spektrale Charakteristik (24) im wesentlichen einer vorbestimmten spektralen Verteilung (23, 24) angenähert wird, und
wobei diese Auswerteeinrichtung (60) dieses reflektierte Licht auswertet und daraus wenigstens eine Kennzahl ablei tet, welche diese Oberfläche charakterisiert.
einem optischen System (30, 31, 32), welches
eine erste optische Einrichtung (2, 2a, 2b, 2c) aufweist mit wenigstens einer Beleuchtungseinrichtung (3, 3a, 3b, 3c), deren Licht in einem vorbestimmten Winkel (18) auf ei ne Meßfläche, die Teil der zu messenden Oberfläche ist, ge richtet ist, sowie
eine zweite optische Einrichtung (10, 10a, 10b, 10c), wel che in einem vorbestimmten Winkel (17) zu dieser Meßfläche ausgerichtet ist, und welche das von der Meßfläche (8) re flektierte Licht aufnimmt, wobei diese zweite optische Ein richtung (10, 10a, 10b, 10c) wenigstens einen Fotosen sor (13) aufweist, welcher ein elektrisches Meßsignal aus gibt ist, das für das reflektierte Licht charakteristisch ist;
einer Steuer- und Auswerteeinrichtung (60), die zur Steue rung des Meßablaufs und zur Auswertung der Meßergebnisse vorgesehen ist und die wenigstens eine Prozessoreinrich tung (60) und wenigstens eine Speichereinrichtung (61) auf weist;
einer Ausgabeeinrichtung (65);
wobei diese Beleuchtungseinrichtung (3, 3a, 3b, 3c) wenig stens eine Lichtquelle (3, 3a, 3b, 3c) aufweist, welche ei ne Leuchtdiode (3, 3a, 3b, 3c) (LED) ist,
wobei dieses von dieser Beleuchtungseinrichtung (3, 3a, 3b, 3c) ausstrahlbare Licht derart beschaffen ist, daß die spektrale Charakteristik (21, 23, 24) vorzugsweise wenig stens blaue, grüne und rote Spektralanteile im sichtbaren Spektrum aufweist und,
wobei eine Filtereinrichtung (6, 9) vorgesehen ist, welche in dem Strahlengang zwischen dieser Lichtquelle (3, 3a, 3b, 3c) und diesem Fotosensor (13) angeordnet ist, und welche die spektrale Charakteristik einfallenden Lichts (21) gemäß vorbestimmter Filtereigenschaften (22) derart verändert, daß die spektrale Charakteristik (24) im wesentlichen einer vorbestimmten spektralen Verteilung (23, 24) angenähert wird, und
wobei diese Auswerteeinrichtung (60) dieses reflektierte Licht auswertet und daraus wenigstens eine Kennzahl ablei tet, welche diese Oberfläche charakterisiert.
2. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese charakteristische Kenngröße dieser Meßfläche der
Glanz ist.
3. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei, drei oder mehr charakteristische Kenngrößen die
ser Meßfläche bestimmt werden.
4. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine dieser wenigstens einen charakteristi
schen Kenngröße einer Gruppe von Kenngrößen entnommen ist,
welche Glanz, Glanzschleier, Abbildungsschärfe (DOI) und
Farbe umfaßt.
5. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese charakteristische optische Kenngröße ein reprä
sentatives Maß für die typische Wellenlänge und deren
Amplitude (Orange peel) der Topologie der Oberfläche dieser
Meßfläche in einem vorbestimmten Wellenlängenintervall ist,
wobei diese Auswertung auch in zwei oder mehr Wellenlängen
bereichen erfolgen kann.
6. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese vorbestimmte spektrale Verteilung (23) eine Stan
dardverteilung ist, welche eine Lichtart aufweist, die ei
ner Gruppe von Lichtstandards entnommen ist, welche die
Normlichtart C, die Normlichtart D65, die Normlichtart A
und dergl. mehr umfaßt.
7. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine spektrale Meßcharakteristik, die ein Produkt aus
der spektralen Charakteristik des auf die Meßfläche ausge
strahlten Lichts und der spektralen Empfindlichkeit des
Sensors proportional zu einem Produkt aus einer spektralen
Verteilung einer Standardlichtart und der Augenempfindlich
keit des menschlichen Auges ist.
8. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Filtereinrichtung (6, 9) wenigstens einen oder
mehrere Filter (9) aufweist, welche vorbestimmte spektrale
Eigenschaften (22) haben, so daß das von dieser wenigstens
einen Lichtquelle (3, 3a, 3b, 3c, 130) ausgestrahlte Licht
gezielt spektral beeinflußbar ist.
9. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß in dieser ersten optischen Einrichtung (2, 2a, 2b, 2c)
eine Streuscheibeneinrichtung (16) und eine einer Blenden
einrichtung angeordnet sind, wobei diese Streuscheibenein
richtung (16) derart beschaffen ist, daß eine homogene Aus
leuchtung dieser Meßfläche (8) erzielbar ist.
10. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Beleuchtungseinrichtung (3, 3a, 3b, 3c, 130) we
nigstens eine zweite oder mehr Lichtquellen (3, 3a, 3b, 3c,
130) aufweist, welche vorzugsweise als Leuchtdioden ausge
führt sind, wobei vorzugsweise jede dieser Lichtquellen (3,
3a, 3b, 3c, 130) eine unterschiedliche spektrale Charakte
ristik (21, 23, 24) aufweist.
11. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Auswerteeinrichtung (60) über ein in dieser Spei
chereinrichtung (61) gespeichertes Programm diese Meßsigna
le auswertet und/oder in dieser Speichereinrichtung (61)
speichert.
12. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese zweite optische Einrichtung (10, 10a, 10b, 10c)
eine Vielzahl von Fotosensoren (13) beinhaltet, welche be
nachbart angeordnet sind.
13. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein erster Teil dieses von dieser ersten op
tischen Einrichtung ausgestrahlten Lichts ein Lichtmu
ster (50) aufweist, welches vorzugsweise wenigstens eine
Hell-/Dunkelkante (52, 51) umfaßt.
14. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Vielzahl von Hell-/Dunkelkanten (52, 51) vorgese
hen sind und wenigstens ein Teil wenigstens abschnittswei
se (54) parallel zueinander verläuft, und daß vorzugsweise
wenigstens ein Teil dieser Vielzahl von Hell-
/Dunkelkanten (52, 51) in einer Form angeordnet ist, welche
einer Gruppe von Formen entnommen ist, welche Gitter- (54),
Kreuzgitter-, Ellipsen-, Kreisformen und dgl. mehr umfaßt.
15. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß mit dieser Auswerteeinrichtung (60) für wenigstens ei
nen Teil dieser Vielzahl von Fotosensoren (13) jeweils we
nigstens eine Steigung des Meßsignals aus einer Differenz
dieses Meßsignals dieses Fotosensors (13) mit diesem Meßsi
gnal eines nächsten Fotosensors (13) ableitbar ist.
16. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Auswerteeinrichtung (60) derart ausgebildet ist,
daß wenigstens ein Durchschnittskennwert wenigstens eines
Teils der Steigungen bestimmbar ist und daraus eine charak
teristische Strukturkennzahl für eine strukturbedingte Ei
genschaft dieser Oberfläche (8) bestimmbar ist.
17. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Vorrichtung eine dritte optische Einrich
tung (130) mit wenigstens einer Lichtquelle (133) aufweist
und Licht mit einer vorgegebenen spektralen Charakteri
stik (21, 23, 24) ausstrahlt, welches in einem vorbestimm
ten Winkel auf diese Meßfläche (8) gerichtet ist.
18. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß dieser vorbestimmte Winkel (17, 18), in welchem das von
wenigstens einer dieser optischen Einrichtungen (2, 10,
130; 2a, 10a; 2b, 10b; 2c, 10c) ausgestrahlte Licht zu die
ser Meßfläche (8) ausgerichtet ist, einer Gruppe von Win
keln entnommen ist, welche insbesondere die Winkel 0°, 5°,
10°, 15°, 20°, 30°, 45°, 60°, 75°, 80° und 85° umfaßt, wo
bei vorzugsweise diese vorbestimmten Winkel (17, 18) unter
schiedlicher optischer Einrichtungen unterschiedlich sind.
19. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß ein zweites (2b, 10b) und vorzugsweise ein drittes op
tisches System (2c, 10c) vorgesehen ist, und daß vorzugs
weise die optischen Systeme unter 20° (2a, 10a), 60° (2b,
10b) und 85° (2c, 10c) angeordnet sind.
20. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß dieses von dieser dritten optischen Einrichtung (130)
ausgestrahlte Licht in einem derartigen Winkel auf die
Oberfläche gerichtet ist, daß das unmittelbar von der Meß
fläche (8) gemäß der Fresnelschen Reflexion gerichtet re
flektierte Licht gegenüber dieser Meßfläche einen anderen
Winkel aufweist, als der Winkel zwischen dieser Meßflä
che (8) und dem von dieser Meßfläche (8) gerichtet reflek
tierten Licht, welches von dieser ersten optischen Einrich
tung (2, 2a, 2b, 2c) ausgestrahlt wird.
21. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese wenigstens eine Lichtquelle (133) dieser dritten
optischen Einrichtung (130) wenigstens eine Leuchtdiode (3')
aufweist, deren ausgestrahltes Licht eine derartige spek
trale Charakteristik (21, 23, 24) hat, daß die Farbe des
ausgestrahlten Lichts "weiß" ist.
22. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein Fotosensor (13) wenigstens zwei, vor
zugsweise drei oder mehr fotosensitive Elemente aufweist,
deren elektrische Ausgangssignale einzeln erfaßbar sind und
die sich in ihrer spektralen Charakteristik unterscheiden,
so daß als optische Kenngröße dieser Meßfläche (8) die Far
be des reflektierten Lichtes erfaßbar ist.
23. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese erste und/oder diese dritte optische Einrich
tung (2, 2a, 2b, 2c, 130) im wesentlichen paralleles Licht
ausstrahlt.
24. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese erste und/oder dritte optische Einrichtung (2,
2a, 2b, 2c, 130) im wesentlichen divergentes oder konver
gentes Licht ausstrahlt.
25. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine optische Einrichtung (2, 2a, 2b, 2c,
130) wenigstens einen Lichtstreifen (52) mit vorbestimmter
Länge und Breite senkrecht zur Ausbreitungsrichtung aus
strahlt.
26. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß in möglichst unmittelbarer Nähe wenigstens einer Licht
quelle (3, 3a, 3b, 3c, 133) und/oder wenigstens eines Foto
sensors (13) wenigstens eine Temperaturmeßeinrichtung ange
ordnet ist, welche zur Bestimmung der charakteristischen
Temperatur der jeweiligen Lichtquelle (3, 3a, 3b, 3c, 133)
und/oder des jeweiligen Fotosensors (13) vorgesehen ist,
damit eine temperaturkorrigierte Bestimmung dieser wenig
stens einen Kenngröße erfolgen kann.
27. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein Teil des Verlaufs des Abbilds dieser we
nigstens einen Hell-/Dunkelkante (52, 51) auf dieser Viel
zahl von Fotosensoren (13) bestimmt wird und durch eine Ab
weichung vom idealen Verlauf von diesem gemessenen Verlauf
ein charakteristischer Oberflächen-Kennwert dieser Meßflä
che (8) bestimmt wird.
28. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß diese Vorrichtung (1) relativ zur Meßfläche (8) in ei
ner im wesentlichen abstandsgleichen Richtung verschiebbar
ist, und daß eine Wegstreckenmeßeinrichtung (67) vorgesehen
ist, welche diese relative Verschiebung quantitativ erfaßt,
und daß weiterhin eine Speichereinrichtung (61) vorgesehen
ist, in welcher die entlang vorgegebener Meßstellen auf der
Oberfläche gemessenen Strukturkennwerte und/oder optischen
Kenngrößen abgespeichert werden.
29. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens ein Meßrad (103, 104) vorgesehen ist, wel
ches während der Messung auf der zu messenden Oberflä
che (8) aufgesetzt ist, und sich während der Relativbewe
gung zwischen der Vorrichtung (1, 100, 200) und der zu mes
senden Oberfläche (8) dreht.
30. Vorrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eines dieses wenigstens einen Meßrades (103,
104) mit einem Drehwinkel-Geber (67) verbunden ist, der ein
elektrisches Drehwinkelsignal ausgibt, welches für den vom
Meßrad (103, 104) zurückgelegten Drehwinkel repräsentativ
ist.
31. Verfahren zur quantifizierten Bestimmung der Qualität von
Oberflächen, insbesondere unter Verwendung einer Vorrich
tung (1, 100, 200) gemäß mindestens einem vorhergehenden
Ansprüche, bei welchem
eine erste optische Einrichtung (2, 2a, 2b, 2c) mit einer ersten als Leuchtdiode (3) (LED) ausgeführten Lichtquel le (3, 3a, 3b, 3c) vorgesehen ist, um deren ausgestrahltes Licht mit vorzugsweise blauen, grünen und roten Spektralan teilen unter einem vorbestimmten Winkel (18) auf eine zu messende Oberfläche (8) zu richten, und
eine zweite optische Einrichtung (10, 10a, 10b, 10c) vorge sehen ist, welche wenigstens einen Fotosensor (13) auf weist, welche in einem zweiten vorbestimmten Winkel (17) zu dieser Meßfläche (8) ausgerichtet ist, um das von der Meß fläche (8) reflektierte Licht aufzunehmen, wobei dieser we nigstens eine Fotosensor (13) ein elektrisches Meßsignal ausgibt, welches für das aufgenommene Licht charakteri stisch ist, und
eine Steuer- und Auswerteeinrichtung (60) angeordnet ist, die den Meßablauf steuert und die Meßergebnisse auswertet, die wenigstens eine Prozessoreinrichtung (60) beinhaltet und welche diese Meßsignale in einer Speichereinrich tung (61) speichert, und
eine Ausgabe-Einrichtung (65) die Meßergebnisse ausgibt, und diese Auswerteeinrichtung (60) dieses reflektierte Licht auswertet und daraus wenigstens eine Kennzahl ableitet, welche die zu messende Oberfläche (8) charakterisiert.
eine erste optische Einrichtung (2, 2a, 2b, 2c) mit einer ersten als Leuchtdiode (3) (LED) ausgeführten Lichtquel le (3, 3a, 3b, 3c) vorgesehen ist, um deren ausgestrahltes Licht mit vorzugsweise blauen, grünen und roten Spektralan teilen unter einem vorbestimmten Winkel (18) auf eine zu messende Oberfläche (8) zu richten, und
eine zweite optische Einrichtung (10, 10a, 10b, 10c) vorge sehen ist, welche wenigstens einen Fotosensor (13) auf weist, welche in einem zweiten vorbestimmten Winkel (17) zu dieser Meßfläche (8) ausgerichtet ist, um das von der Meß fläche (8) reflektierte Licht aufzunehmen, wobei dieser we nigstens eine Fotosensor (13) ein elektrisches Meßsignal ausgibt, welches für das aufgenommene Licht charakteri stisch ist, und
eine Steuer- und Auswerteeinrichtung (60) angeordnet ist, die den Meßablauf steuert und die Meßergebnisse auswertet, die wenigstens eine Prozessoreinrichtung (60) beinhaltet und welche diese Meßsignale in einer Speichereinrich tung (61) speichert, und
eine Ausgabe-Einrichtung (65) die Meßergebnisse ausgibt, und diese Auswerteeinrichtung (60) dieses reflektierte Licht auswertet und daraus wenigstens eine Kennzahl ableitet, welche die zu messende Oberfläche (8) charakterisiert.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19930688A DE19930688A1 (de) | 1999-07-02 | 1999-07-02 | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Qualität von Oberflächen |
US09/607,827 US7391518B1 (en) | 1999-07-02 | 2000-06-30 | Device and method for the determination of the quality of surfaces |
JP2000201360A JP2001041888A (ja) | 1999-07-02 | 2000-07-03 | 表面品質を決定するためのデバイスおよび方法 |
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Family Applications (1)
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