DE19903198C1 - Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren - Google Patents
Integrierter Speicher und entsprechendes BetriebsverfahrenInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title abstract description 3
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
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Abstract
Der integrierte Speicher weist einen differentiellen Leseverstärker (SA) auf, der über einen Multiplexer (MUX) mit drei Bitleitungen (BLi) verbunden ist. Der Multiplexer (MUX) verbindet in Abhängigkeit seiner Ansteuerung einen Differenzeingang des Leseverstärkers (SA) elektrisch mit jeweils zwei beliebigen der drei mit ihm verbundenen Bitleitungen (BLi).
Description
Die Erfindung betrifft einen integrierten Speicher mit Spei
cherzellen, die in Kreuzungspunkten von Wortleitungen und
Bitleitungen angeordnet sind, und mit einem differentiellen
Leseverstärker.
Ein integrierter Speicher in Form eines DRAMs ist aus Betty
Prince: "Semiconductor Memories", John Wiley & Sons, West
Sussex, 2. Auflage 1996, Kapitel 5.8.5 und Fig. 5.14 be
schrieben. Dort ist ein Paar von Bitleitungen mit einem dif
ferentiellen Leseverstärker verbunden. Dies ist eine für
DRAMs typische Anordnung. Aus demselben Buch, Fig. 6.54 (e)
ist es auch bekannt, die Speicherzellen eines DRAMs in den
Kreuzungspunkten einer Wortleitung mit beiden Bitleitungen
eines Bitleitungspaares, das mit demselben Leseverstärker
verbunden ist, anzuordnen.
In der US 5,570,316 A ist ein integrierter Speicher vom Typ
S-Ram beschrieben, bei dem Leseverstärker mit differenziellen
Ausgängen eines Speicherblocks verbunden sind. Jedem diffe
renziellen Ausgang ist dabei ein Paar von Datenleitungen zu
geordnet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen integrierten
Speicher anzugeben, bei dem auszulesende Daten mittels eines
differentiellen Leseverstärkers verstärkt werden und der ei
nen platzsparenden Aufbau hat.
Diese Aufgabe wird mit einem integrierten Speicher gemäß Pa
tentanspruch 1 gelöst.
Beim erfindungsgemäßen integrierten Speicher ist der diffe
rentielle Leseverstärker über einen Multiplexer mit drei der
Bitleitungen verbunden und der Multiplexer verbindet in Ab
hängigkeit seiner Ansteuerung einen Differenzeingang des Le
severstärkers elektrisch mit jeweils zwei beliebigen der drei
mit ihm verbundenen Bitleitungen.
Im Unterschied zum Stand der Technik wird der Leseverstärker
beim erfindungsgemäßen Speicher also nicht immer mit demsel
ben Bitleitungspaar verbunden. Vielmehr ergeben sich drei un
terschiedlich kombinierte Bitleitungspaare, die jeweils eine
andere Kombination von je zweien der drei Bitleitungen auf
weisen.
Nach einer Weiterbildung der Erfindung weist der integrierte
Speicher einen ersten Typ von Wortleitungen auf, die in Kreu
zungspunkten mit der ersten und der zweiten Bitleitung Spei
cherzellen aufweisen, und einen zweiten Typ von Wortleitun
gen, die in Kreuzungspunkten mit der ersten und der dritten
Bitleitung Speicherzellen aufweisen, sowie einen dritten Typ
von Wortleitungen, die in Kreuzungspunkten mit der zweiten
und der dritten Bitleitung Speicherzellen aufweisen.
Das erfindungsgemäße Betriebsverfahren eignet sich zum Be
trieb dieser Weiterbildung des integrierten Speichers. Dem
nach werden jeweils komplementäre Daten in den zwei mit der
selben Wortleitung verbundenen Speicherzellen gespeichert und
wieder ausgelesen und bei einem Lese- beziehungsweise
Schreibzugriff werden die mit diesen beiden Speicherzellen
verbundenen zwei Bitleitungen über den Multiplexer elektrisch
mit dem Differenzeingang des Leseverstärkers verbunden. Bei
einem Schreib- beziehungsweise Lesezugriff werden also über
die zugehörige Wortleitung die beiden Speicherzellen, die in
den Kreuzungspunkten mit zwei der drei Bitleitungen angeord
net sind, selektiert und mit den zugehörigen Bitleitungen
verbunden. Die beiden betreffenden Bitleitungen werden über
den Multiplexer mit dem Leseverstärker verbunden, so daß bei
einem Einschreiben gleichzeitig Daten in beide Speicherzellen
eingeschrieben und bei einem Auslesen Daten gleichzeitig aus
beiden Speicherzellen ausgelesen werden. Da der Leseverstär
ker differentiell arbeitet, erzeugt er bei einem Schreibzu
griff auf den beiden mit ihm elektrisch verbundenen Bitlei
tungen jeweils komplementäre Signale, so daß auch komplemen
täre Signale in die beiden derselben Wortleitung zugeordneten
Speicherzellen eingeschrieben werden. Bei einem Lesezugriff
auf diese Speicherzellen werden diese zueinander komplementä
ren Daten wieder ausgelesen und durch den Leseverstärker ver
stärkt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren näher er
läutert, die Ausführungsbeispiele der Erfindung zeigen. Es
zeigen:
Fig. 1 einen Ausschnitt eines erfindungsgemäßen integrier
ten Speichers,
Fig. 2 eine Signaltabelle zum Ausführungsbeispiel aus
Fig. 1,
Fig. 3 eine Speicherzelle des Speichers aus Fig. 1 und
Fig. 4 einen größeren Ausschnitt des in Fig. 1 darge
stellten Speichers.
Fig. 1 zeigt einen erfindungsgemäßen integrierten Speicher
in Form eines DRAMs. Dieser weist in Kreuzungspunkten von
Wortleitungen WLi und Bitleitungen BLi Speicherzellen MC auf.
Die Speicherzellen MC sind vom in Fig. 3 dargestellten Typ.
Es handelt sich um 1-Transistor-1-Kondensator-Speicherzellen
mit einem Speicherkondensator C, dessen eine Elektrode mit
einem Bezugspotential und dessen andere Elektrode über eine
Auswahltransistor T mit der zugehörigen Bitleitung BL1 ver
bunden ist. Ein Steueranschluß des Auswahltransistors T ist
mit der zugehörigen Wortleitung WLi verbunden.
In Fig. 1 sind die Speicherzellen MC durch dickere Punkte in
den Kreuzungspunkten der Wort- und Bitleitungen eingezeich
net. In Fig. 1 sind drei Bitleitungen BLi über einen Multi
plexer MUX mit dem Differenzeingang eines differentiellen Le
severstärkers SA verbunden. Der Leseverstärker SA ist wie bei
DRAMs üblich aufgebaut und daher nicht näher dargestellt. Der
obere Anschluß des Leseverstärkers SA ist über einen ersten
Transistor T1 und einen dazu parallel angeordneten zweiten
Transistor T2 mit der ersten Bitleitung BL1 verbunden. Außer
dem ist der obere Anschluß des Leseverstärkers SA über einen
dritten Transistor T3 mit der zweiten Bitleitung BL2 verbun
den. Der untere Anschluß des Leseverstärkers SA ist über ei
nen vierten Transistor T4 ebenfalls mit der zweiten Bitlei
tung BL2 verbunden. Außerdem ist der untere Anschluß über ei
nen fünften Transistor T5 und einen zu diesem parallel ange
ordneten sechsten Transistor T6 mit der dritten Bitleitung
BL3 verbunden. Die Transistoren T1 bis T6 sind jeweils n-
Kanal-Transistoren. Sie sind Bestandteil des Multiplexers
MUX. Die Gates des ersten Transistors T1 und des sechsten
Transistors T6 sind mit einem ersten Steuereingang MUX0, die
Gates des dritten Transistors T3 und des fünften Transistors
T5 sind mit einem zweiten Steuereingang MUX1 und die Gates
des zweiten Transistors T2 und des vierten Transistors T4
sind mit einem dritten Steuereingang MUX2 verbunden.
Fig. 2 zeigt eine Signaltabelle, die der Erläuterung der
Funktionsweise des Speichers aus Fig. 1 dient. Wird bei
spielsweise die Wortleitung WL0 durch einen in Fig. 1 nicht
dargestellten Wortleitungsdecoder ausgewählt und auf ein ho
hes Potential gebracht, werden die beiden mit der Wortleitung
WL0 verbundenen Speicherzellen MC mit den zugehörigen Bitlei
tungen BL1 und BL3 verbunden. Gleichzeitig werden die beiden
anderen Wortleitungen WL1 und WL2 auf niedrigem Potential ge
lassen. Der erste Steuereingang MUX0 wird auf ein hohes Po
tential gebracht, so daß die erste Bitleitung BL1 über den
ersten Transistor T1 mit dem oberen Anschluß und die dritte
Bitleitung BL3 über den sechsten Transistor T6 mit dem unte
ren Anschluß des Leseverstärkers SA verbunden wird. Somit ist
es möglich, von den Speicherkondensatoren der beiden selek
tierten Speicherzellen MC gespeicherte Daten zum Leseverstär
ker SA zu übertragen. Der Leseverstärker SA verstärkt die
festgestellte Signaldifferenz und liefert das entsprechend
verstärkte Differenzsignal nach außerhalb des Speichers (in
Fig. 1 nicht dargestellt). Es ist gleichzeitig immer nur ei
ner der Steuereingänge MUXi aktiv, so daß im zuvor geschil
derten Fall der zweite MUX1 und dritte MUX2 Steuereingang
niedriges Potential aufweisen und die Transistoren T2, T3, T4
und T5 gesperrt bleiben. Analog zum soeben beschriebenen Le
sezugriff erfolgt bei einem Schreibzugriff in umgekehrter
Richtung eine Übertragung eines Differenzsignals vom Lesever
stärker SA zu den beiden Bitleitungen BL1, BL3. Somit werden
zueinander komplementäre Daten in die beiden zusammengehören
den Speicherzellen MC geschrieben. Diese Daten können bei ei
nem späteren Lesezugriff wieder ausgelesen werden.
Beim in Fig. 1 dargestellten Speicher dienen also jeweils
zwei Speicherzellen MC zum Speichern einer gemeinsamen Infor
mation. Anders ausgedrückt könnte man die beiden zusammenge
hörenden Speicherzellen MC, die mit derselben Wortleitung WL1
verbunden sind, auch als eine einzelne 2-Transistor-2-Konden
sator-Speicherzelle auffassen. Die sechs in Fig. 1 einge
zeichneten Speicherzellen MC bilden drei dieser 2-Transistor-
2-Kondensator-Speicherzellen.
Während bei herkömmlichen DRAMs die Zuordnung zweier Bitlei
tungen zu einem gemeinsamen Bitleitungspaar, das mit einem
ihnen zugeordneten Leseverstärker verbunden ist, fest ist,
werden beim in Fig. 1 dargestellten Speicher je nach An
steuerung des Multiplexers MUX immer unterschiedliche Kombi
nationen von je zwei der drei Bitleitungen BL1 bis BL3 mit
dem Differenzeingang des Leseverstärkers SA verbunden. Hier
durch wird erreicht, daß statt der üblichen zwei Bitleitungen
nunmehr drei Bitleitungen dem selben Leseverstärker zugeord
net werden können. Hieraus ergibt sich der Vorteil, daß für
die Realisierung des Leseverstärkers SA, dessen Abmessungen
günstigerweise an die von den Bitleitungen benötigte Fläche
anzupassen sind, eine größere Fläche zur Verfügung steht. Die
Anzahl der Leseverstärker ist bei einer vorgegebenen Anzahl
von Bitleitungen nämlich geringer, als wenn für jeweils zwei
Bitleitungen ein eigener Leseverstärker vorgesehen werden
müßte.
Fig. 4 zeigt einen größeren Ausschnitt des in Fig. 1 darge
stellten Speichers, der sechs Bitleitungen BLi und sechs
Wortleitungen WLi aufweist. Die Speicherzellen MC sind wie
derum als Punkte in den Kreuzungspunkten der Wort- und Bit
leitungen eingezeichnet. Jeweils drei der Bitleitungen BLi
sind über je einen Multiplexer MUX mit je einem Leseverstär
ker SAi verbunden. Der in Fig. 4 dargestellte Ausschnitt er
gibt sich durch Zusammenfügen von zwei Ausschnitten des Spei
chers gemäß Fig. 1. Die beiden Multiplexer MUX sind iden
tisch aufgebaut. Ihre Transistoren T1 bis T6 sind mit den
gleichen Steuereingängen MUX0 bis MUX2 verbunden. Es ist zu
erkennen, daß die Verteilung der Speicherzellen MC auf den
Wort- und Bitleitungen regelmäßig ist. Sowohl in Wort- als
auch in Bitleitungsrichtung sind immer jeweils zwei Speicher
zellen MC direkt einander benachbart angeordnet, woran sich
ein Kreuzungspunkt zwischen den Wort- und Bitleitungen an
schließt, an dem sich keine Speicherzelle MC befindet, wor
aufhin wiederum zwei Speicherzellen MC folgen und so weiter.
Fig. 4 ist zu entnehmen, daß die Wortleitungen WL0 und WL3,
die Wortleitungen WL1 und WL4 und die Wortleitungen WL2 und
WL5 jeweils Wortleitungen unterschiedlichen Typs bilden, bei
denen die Speicherzellen jeweils in Kreuzungspunkten mit den
selben Bitleitungen BLi angeordnet sind. Bei der Aktivierung
einer der Wortleitungen WL0, WL3 des ersten Typs muß der er
ste Steuereingang MUX0 auf ein hohes Potential gebracht wer
den, während bei den Wortleitungen der anderen Typen jeweils
ein anderer der Steuereingänge MUXi auf ein hohes Potential
gebracht werden muß. Dies ist der bereits erläuterten Fig. 2
zu entnehmen.
Obwohl die Erfindung vorstehend anhand eines DRAMs beispiel
haft erläutert worden ist, eignet sie sich auch zur Realisie
rung bei anderen Speicherarten, bei denen ein aus Speicher
zellen ausgelesenes Differenzsignal durch einen differentiel
len Leseverstärker verstärkt wird. Dies ist beispielsweise
auch bei FRAMs beziehungsweise FeRAMs der Fall, die ähnlich
wie DRAMs aufgebaut sind, jedoch einen Speicherkondensator
mit einem ferroelektrischen Dielektrikum aufweisen.
Claims (3)
1. Integrierter Speicher
- 1. mit Speicherzellen (MC), die in Kreuzungspunkten von Wort leitungen (WLi) und Bitleitungen (BLi) angeordnet sind,
- 2. mit mindestens einem differentiellen Leseverstärker (SA), der über einen Multiplexer (MUX) drei Bitleitungen (BLi) zugeordnet ist,
- 3. dessen Multiplexer (MUX) in Abhängigkeit seiner Ansteue rung einen Differenzeingang des Leseverstärkers (SA) elek trisch mit einer von zwei beliebigen der drei Bitleitungen (BLi) verbindet.
2. Integrierter Speicher nach Anspruch 1,
- 1. mit einem ersten Typ von Wortleitungen (WL0, WL3), die in Kreuzungspunkten mit der ersten (BL1) und der dritten (BL3) Bitleitung Speicherzellen (MC) aufweisen,
- 2. mit einem zweiten Typ von Wortleitungen (WL1, WL4), die in Kreuzungspunkten mit der zweiten (BL2) und der dritten (BL3) Bitleitung Speicherzellen (MC) aufweisen,
- 3. und mit einem dritten Typ von Wortleitungen (WL2, WL5), die in Kreuzungspunkten mit der ersten (BL1) und der zwei ten (BL2) Bitleitung Speicherzellen (MC) aufweisen.
3. Betriebsverfahren für einen integrierten Speicher gemäß
Anspruch 2,
- 1. bei dem jeweils komplementäre Daten in den zwei mit der selben Wortleitung (WLi) verbundenen Speicherzellen (MC) gespeichert und wieder ausgelesen werden
- 2. und bei dem bei einem Lese- bzw. Schreibzugriff die mit diesen beiden Speicherzellen (MC) verbundenen zwei Bitlei tungen (BLi) über den Multiplexer (MUX) elektrisch mit dem Leseverstärker (SA) verbunden wer den.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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KR1020017009397A KR20010101712A (ko) | 1999-01-27 | 2000-01-25 | 집적 메모리 및 상응하는 작동 방법 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19903198A DE19903198C1 (de) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19903198C1 true DE19903198C1 (de) | 2000-05-11 |
Family
ID=7895549
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19903198A Expired - Fee Related DE19903198C1 (de) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6538950B2 (de) |
EP (1) | EP1149382A1 (de) |
JP (1) | JP2002536774A (de) |
KR (1) | KR20010101712A (de) |
CN (1) | CN1339158A (de) |
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- 2000-01-25 WO PCT/DE2000/000202 patent/WO2000045392A1/de not_active Application Discontinuation
- 2000-01-25 EP EP00907443A patent/EP1149382A1/de not_active Ceased
- 2000-01-25 KR KR1020017009397A patent/KR20010101712A/ko not_active Ceased
- 2000-01-25 JP JP2000596570A patent/JP2002536774A/ja active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |