[go: up one dir, main page]

DE19903198C1 - Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren - Google Patents

Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren

Info

Publication number
DE19903198C1
DE19903198C1 DE19903198A DE19903198A DE19903198C1 DE 19903198 C1 DE19903198 C1 DE 19903198C1 DE 19903198 A DE19903198 A DE 19903198A DE 19903198 A DE19903198 A DE 19903198A DE 19903198 C1 DE19903198 C1 DE 19903198C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
memory cells
bit lines
sense amplifier
lines
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19903198A
Other languages
English (en)
Inventor
Heinz Hoenigschmid
Georg Braun
Zoltan Manyoki
Thomas Boehm
Thomas Roehr
Stefan Lammers
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DE19903198A priority Critical patent/DE19903198C1/de
Priority to EP00907443A priority patent/EP1149382A1/de
Priority to JP2000596570A priority patent/JP2002536774A/ja
Priority to PCT/DE2000/000202 priority patent/WO2000045392A1/de
Priority to CN00803218A priority patent/CN1339158A/zh
Priority to KR1020017009397A priority patent/KR20010101712A/ko
Application granted granted Critical
Publication of DE19903198C1 publication Critical patent/DE19903198C1/de
Priority to US09/917,553 priority patent/US6538950B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4091Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/065Differential amplifiers of latching type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

Der integrierte Speicher weist einen differentiellen Leseverstärker (SA) auf, der über einen Multiplexer (MUX) mit drei Bitleitungen (BLi) verbunden ist. Der Multiplexer (MUX) verbindet in Abhängigkeit seiner Ansteuerung einen Differenzeingang des Leseverstärkers (SA) elektrisch mit jeweils zwei beliebigen der drei mit ihm verbundenen Bitleitungen (BLi).

Description

Die Erfindung betrifft einen integrierten Speicher mit Spei­ cherzellen, die in Kreuzungspunkten von Wortleitungen und Bitleitungen angeordnet sind, und mit einem differentiellen Leseverstärker.
Ein integrierter Speicher in Form eines DRAMs ist aus Betty Prince: "Semiconductor Memories", John Wiley & Sons, West Sussex, 2. Auflage 1996, Kapitel 5.8.5 und Fig. 5.14 be­ schrieben. Dort ist ein Paar von Bitleitungen mit einem dif­ ferentiellen Leseverstärker verbunden. Dies ist eine für DRAMs typische Anordnung. Aus demselben Buch, Fig. 6.54 (e) ist es auch bekannt, die Speicherzellen eines DRAMs in den Kreuzungspunkten einer Wortleitung mit beiden Bitleitungen eines Bitleitungspaares, das mit demselben Leseverstärker verbunden ist, anzuordnen.
In der US 5,570,316 A ist ein integrierter Speicher vom Typ S-Ram beschrieben, bei dem Leseverstärker mit differenziellen Ausgängen eines Speicherblocks verbunden sind. Jedem diffe­ renziellen Ausgang ist dabei ein Paar von Datenleitungen zu­ geordnet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen integrierten Speicher anzugeben, bei dem auszulesende Daten mittels eines differentiellen Leseverstärkers verstärkt werden und der ei­ nen platzsparenden Aufbau hat.
Diese Aufgabe wird mit einem integrierten Speicher gemäß Pa­ tentanspruch 1 gelöst.
Beim erfindungsgemäßen integrierten Speicher ist der diffe­ rentielle Leseverstärker über einen Multiplexer mit drei der Bitleitungen verbunden und der Multiplexer verbindet in Ab­ hängigkeit seiner Ansteuerung einen Differenzeingang des Le­ severstärkers elektrisch mit jeweils zwei beliebigen der drei mit ihm verbundenen Bitleitungen.
Im Unterschied zum Stand der Technik wird der Leseverstärker beim erfindungsgemäßen Speicher also nicht immer mit demsel­ ben Bitleitungspaar verbunden. Vielmehr ergeben sich drei un­ terschiedlich kombinierte Bitleitungspaare, die jeweils eine andere Kombination von je zweien der drei Bitleitungen auf­ weisen.
Nach einer Weiterbildung der Erfindung weist der integrierte Speicher einen ersten Typ von Wortleitungen auf, die in Kreu­ zungspunkten mit der ersten und der zweiten Bitleitung Spei­ cherzellen aufweisen, und einen zweiten Typ von Wortleitun­ gen, die in Kreuzungspunkten mit der ersten und der dritten Bitleitung Speicherzellen aufweisen, sowie einen dritten Typ von Wortleitungen, die in Kreuzungspunkten mit der zweiten und der dritten Bitleitung Speicherzellen aufweisen.
Das erfindungsgemäße Betriebsverfahren eignet sich zum Be­ trieb dieser Weiterbildung des integrierten Speichers. Dem­ nach werden jeweils komplementäre Daten in den zwei mit der­ selben Wortleitung verbundenen Speicherzellen gespeichert und wieder ausgelesen und bei einem Lese- beziehungsweise Schreibzugriff werden die mit diesen beiden Speicherzellen verbundenen zwei Bitleitungen über den Multiplexer elektrisch mit dem Differenzeingang des Leseverstärkers verbunden. Bei einem Schreib- beziehungsweise Lesezugriff werden also über die zugehörige Wortleitung die beiden Speicherzellen, die in den Kreuzungspunkten mit zwei der drei Bitleitungen angeord­ net sind, selektiert und mit den zugehörigen Bitleitungen verbunden. Die beiden betreffenden Bitleitungen werden über den Multiplexer mit dem Leseverstärker verbunden, so daß bei einem Einschreiben gleichzeitig Daten in beide Speicherzellen eingeschrieben und bei einem Auslesen Daten gleichzeitig aus beiden Speicherzellen ausgelesen werden. Da der Leseverstär­ ker differentiell arbeitet, erzeugt er bei einem Schreibzu­ griff auf den beiden mit ihm elektrisch verbundenen Bitlei­ tungen jeweils komplementäre Signale, so daß auch komplemen­ täre Signale in die beiden derselben Wortleitung zugeordneten Speicherzellen eingeschrieben werden. Bei einem Lesezugriff auf diese Speicherzellen werden diese zueinander komplementä­ ren Daten wieder ausgelesen und durch den Leseverstärker ver­ stärkt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren näher er­ läutert, die Ausführungsbeispiele der Erfindung zeigen. Es zeigen:
Fig. 1 einen Ausschnitt eines erfindungsgemäßen integrier­ ten Speichers,
Fig. 2 eine Signaltabelle zum Ausführungsbeispiel aus Fig. 1,
Fig. 3 eine Speicherzelle des Speichers aus Fig. 1 und
Fig. 4 einen größeren Ausschnitt des in Fig. 1 darge­ stellten Speichers.
Fig. 1 zeigt einen erfindungsgemäßen integrierten Speicher in Form eines DRAMs. Dieser weist in Kreuzungspunkten von Wortleitungen WLi und Bitleitungen BLi Speicherzellen MC auf. Die Speicherzellen MC sind vom in Fig. 3 dargestellten Typ. Es handelt sich um 1-Transistor-1-Kondensator-Speicherzellen mit einem Speicherkondensator C, dessen eine Elektrode mit einem Bezugspotential und dessen andere Elektrode über eine Auswahltransistor T mit der zugehörigen Bitleitung BL1 ver­ bunden ist. Ein Steueranschluß des Auswahltransistors T ist mit der zugehörigen Wortleitung WLi verbunden.
In Fig. 1 sind die Speicherzellen MC durch dickere Punkte in den Kreuzungspunkten der Wort- und Bitleitungen eingezeich­ net. In Fig. 1 sind drei Bitleitungen BLi über einen Multi­ plexer MUX mit dem Differenzeingang eines differentiellen Le­ severstärkers SA verbunden. Der Leseverstärker SA ist wie bei DRAMs üblich aufgebaut und daher nicht näher dargestellt. Der obere Anschluß des Leseverstärkers SA ist über einen ersten Transistor T1 und einen dazu parallel angeordneten zweiten Transistor T2 mit der ersten Bitleitung BL1 verbunden. Außer­ dem ist der obere Anschluß des Leseverstärkers SA über einen dritten Transistor T3 mit der zweiten Bitleitung BL2 verbun­ den. Der untere Anschluß des Leseverstärkers SA ist über ei­ nen vierten Transistor T4 ebenfalls mit der zweiten Bitlei­ tung BL2 verbunden. Außerdem ist der untere Anschluß über ei­ nen fünften Transistor T5 und einen zu diesem parallel ange­ ordneten sechsten Transistor T6 mit der dritten Bitleitung BL3 verbunden. Die Transistoren T1 bis T6 sind jeweils n- Kanal-Transistoren. Sie sind Bestandteil des Multiplexers MUX. Die Gates des ersten Transistors T1 und des sechsten Transistors T6 sind mit einem ersten Steuereingang MUX0, die Gates des dritten Transistors T3 und des fünften Transistors T5 sind mit einem zweiten Steuereingang MUX1 und die Gates des zweiten Transistors T2 und des vierten Transistors T4 sind mit einem dritten Steuereingang MUX2 verbunden.
Fig. 2 zeigt eine Signaltabelle, die der Erläuterung der Funktionsweise des Speichers aus Fig. 1 dient. Wird bei­ spielsweise die Wortleitung WL0 durch einen in Fig. 1 nicht dargestellten Wortleitungsdecoder ausgewählt und auf ein ho­ hes Potential gebracht, werden die beiden mit der Wortleitung WL0 verbundenen Speicherzellen MC mit den zugehörigen Bitlei­ tungen BL1 und BL3 verbunden. Gleichzeitig werden die beiden anderen Wortleitungen WL1 und WL2 auf niedrigem Potential ge­ lassen. Der erste Steuereingang MUX0 wird auf ein hohes Po­ tential gebracht, so daß die erste Bitleitung BL1 über den ersten Transistor T1 mit dem oberen Anschluß und die dritte Bitleitung BL3 über den sechsten Transistor T6 mit dem unte­ ren Anschluß des Leseverstärkers SA verbunden wird. Somit ist es möglich, von den Speicherkondensatoren der beiden selek­ tierten Speicherzellen MC gespeicherte Daten zum Leseverstär­ ker SA zu übertragen. Der Leseverstärker SA verstärkt die festgestellte Signaldifferenz und liefert das entsprechend verstärkte Differenzsignal nach außerhalb des Speichers (in Fig. 1 nicht dargestellt). Es ist gleichzeitig immer nur ei­ ner der Steuereingänge MUXi aktiv, so daß im zuvor geschil­ derten Fall der zweite MUX1 und dritte MUX2 Steuereingang niedriges Potential aufweisen und die Transistoren T2, T3, T4 und T5 gesperrt bleiben. Analog zum soeben beschriebenen Le­ sezugriff erfolgt bei einem Schreibzugriff in umgekehrter Richtung eine Übertragung eines Differenzsignals vom Lesever­ stärker SA zu den beiden Bitleitungen BL1, BL3. Somit werden zueinander komplementäre Daten in die beiden zusammengehören­ den Speicherzellen MC geschrieben. Diese Daten können bei ei­ nem späteren Lesezugriff wieder ausgelesen werden.
Beim in Fig. 1 dargestellten Speicher dienen also jeweils zwei Speicherzellen MC zum Speichern einer gemeinsamen Infor­ mation. Anders ausgedrückt könnte man die beiden zusammenge­ hörenden Speicherzellen MC, die mit derselben Wortleitung WL1 verbunden sind, auch als eine einzelne 2-Transistor-2-Konden­ sator-Speicherzelle auffassen. Die sechs in Fig. 1 einge­ zeichneten Speicherzellen MC bilden drei dieser 2-Transistor- 2-Kondensator-Speicherzellen.
Während bei herkömmlichen DRAMs die Zuordnung zweier Bitlei­ tungen zu einem gemeinsamen Bitleitungspaar, das mit einem ihnen zugeordneten Leseverstärker verbunden ist, fest ist, werden beim in Fig. 1 dargestellten Speicher je nach An­ steuerung des Multiplexers MUX immer unterschiedliche Kombi­ nationen von je zwei der drei Bitleitungen BL1 bis BL3 mit dem Differenzeingang des Leseverstärkers SA verbunden. Hier­ durch wird erreicht, daß statt der üblichen zwei Bitleitungen nunmehr drei Bitleitungen dem selben Leseverstärker zugeord­ net werden können. Hieraus ergibt sich der Vorteil, daß für die Realisierung des Leseverstärkers SA, dessen Abmessungen günstigerweise an die von den Bitleitungen benötigte Fläche anzupassen sind, eine größere Fläche zur Verfügung steht. Die Anzahl der Leseverstärker ist bei einer vorgegebenen Anzahl von Bitleitungen nämlich geringer, als wenn für jeweils zwei Bitleitungen ein eigener Leseverstärker vorgesehen werden müßte.
Fig. 4 zeigt einen größeren Ausschnitt des in Fig. 1 darge­ stellten Speichers, der sechs Bitleitungen BLi und sechs Wortleitungen WLi aufweist. Die Speicherzellen MC sind wie­ derum als Punkte in den Kreuzungspunkten der Wort- und Bit­ leitungen eingezeichnet. Jeweils drei der Bitleitungen BLi sind über je einen Multiplexer MUX mit je einem Leseverstär­ ker SAi verbunden. Der in Fig. 4 dargestellte Ausschnitt er­ gibt sich durch Zusammenfügen von zwei Ausschnitten des Spei­ chers gemäß Fig. 1. Die beiden Multiplexer MUX sind iden­ tisch aufgebaut. Ihre Transistoren T1 bis T6 sind mit den gleichen Steuereingängen MUX0 bis MUX2 verbunden. Es ist zu erkennen, daß die Verteilung der Speicherzellen MC auf den Wort- und Bitleitungen regelmäßig ist. Sowohl in Wort- als auch in Bitleitungsrichtung sind immer jeweils zwei Speicher­ zellen MC direkt einander benachbart angeordnet, woran sich ein Kreuzungspunkt zwischen den Wort- und Bitleitungen an­ schließt, an dem sich keine Speicherzelle MC befindet, wor­ aufhin wiederum zwei Speicherzellen MC folgen und so weiter.
Fig. 4 ist zu entnehmen, daß die Wortleitungen WL0 und WL3, die Wortleitungen WL1 und WL4 und die Wortleitungen WL2 und WL5 jeweils Wortleitungen unterschiedlichen Typs bilden, bei denen die Speicherzellen jeweils in Kreuzungspunkten mit den­ selben Bitleitungen BLi angeordnet sind. Bei der Aktivierung einer der Wortleitungen WL0, WL3 des ersten Typs muß der er­ ste Steuereingang MUX0 auf ein hohes Potential gebracht wer­ den, während bei den Wortleitungen der anderen Typen jeweils ein anderer der Steuereingänge MUXi auf ein hohes Potential gebracht werden muß. Dies ist der bereits erläuterten Fig. 2 zu entnehmen.
Obwohl die Erfindung vorstehend anhand eines DRAMs beispiel­ haft erläutert worden ist, eignet sie sich auch zur Realisie­ rung bei anderen Speicherarten, bei denen ein aus Speicher­ zellen ausgelesenes Differenzsignal durch einen differentiel­ len Leseverstärker verstärkt wird. Dies ist beispielsweise auch bei FRAMs beziehungsweise FeRAMs der Fall, die ähnlich wie DRAMs aufgebaut sind, jedoch einen Speicherkondensator mit einem ferroelektrischen Dielektrikum aufweisen.

Claims (3)

1. Integrierter Speicher
  • 1. mit Speicherzellen (MC), die in Kreuzungspunkten von Wort­ leitungen (WLi) und Bitleitungen (BLi) angeordnet sind,
  • 2. mit mindestens einem differentiellen Leseverstärker (SA), der über einen Multiplexer (MUX) drei Bitleitungen (BLi) zugeordnet ist,
  • 3. dessen Multiplexer (MUX) in Abhängigkeit seiner Ansteue­ rung einen Differenzeingang des Leseverstärkers (SA) elek­ trisch mit einer von zwei beliebigen der drei Bitleitungen (BLi) verbindet.
2. Integrierter Speicher nach Anspruch 1,
  • 1. mit einem ersten Typ von Wortleitungen (WL0, WL3), die in Kreuzungspunkten mit der ersten (BL1) und der dritten (BL3) Bitleitung Speicherzellen (MC) aufweisen,
  • 2. mit einem zweiten Typ von Wortleitungen (WL1, WL4), die in Kreuzungspunkten mit der zweiten (BL2) und der dritten (BL3) Bitleitung Speicherzellen (MC) aufweisen,
  • 3. und mit einem dritten Typ von Wortleitungen (WL2, WL5), die in Kreuzungspunkten mit der ersten (BL1) und der zwei­ ten (BL2) Bitleitung Speicherzellen (MC) aufweisen.
3. Betriebsverfahren für einen integrierten Speicher gemäß Anspruch 2,
  • 1. bei dem jeweils komplementäre Daten in den zwei mit der­ selben Wortleitung (WLi) verbundenen Speicherzellen (MC) gespeichert und wieder ausgelesen werden
  • 2. und bei dem bei einem Lese- bzw. Schreibzugriff die mit diesen beiden Speicherzellen (MC) verbundenen zwei Bitlei­ tungen (BLi) über den Multiplexer (MUX) elektrisch mit dem Leseverstärker (SA) verbunden wer­ den.
DE19903198A 1999-01-27 1999-01-27 Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren Expired - Fee Related DE19903198C1 (de)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19903198A DE19903198C1 (de) 1999-01-27 1999-01-27 Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren
EP00907443A EP1149382A1 (de) 1999-01-27 2000-01-25 Integrierter speicher und entsprechendes betriebsverfahren
JP2000596570A JP2002536774A (ja) 1999-01-27 2000-01-25 集積メモリ及び相応の作動方法
PCT/DE2000/000202 WO2000045392A1 (de) 1999-01-27 2000-01-25 Integrierter speicher und entsprechendes betriebsverfahren
CN00803218A CN1339158A (zh) 1999-01-27 2000-01-25 集成存储器及相应的工作方法
KR1020017009397A KR20010101712A (ko) 1999-01-27 2000-01-25 집적 메모리 및 상응하는 작동 방법
US09/917,553 US6538950B2 (en) 1999-01-27 2001-07-27 Integrated memory and corresponding operating method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19903198A DE19903198C1 (de) 1999-01-27 1999-01-27 Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19903198C1 true DE19903198C1 (de) 2000-05-11

Family

ID=7895549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19903198A Expired - Fee Related DE19903198C1 (de) 1999-01-27 1999-01-27 Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6538950B2 (de)
EP (1) EP1149382A1 (de)
JP (1) JP2002536774A (de)
KR (1) KR20010101712A (de)
CN (1) CN1339158A (de)
DE (1) DE19903198C1 (de)
WO (1) WO2000045392A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1143453A3 (de) * 2000-02-29 2002-05-15 Fujitsu Limited Halbleiter Speichereinrichtung

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2830365B1 (fr) * 2001-09-28 2004-12-24 St Microelectronics Sa Memoire vive dynamique
US7099202B1 (en) * 2005-04-08 2006-08-29 Atmel Corporation Y-mux splitting scheme
FR2888388A1 (fr) * 2005-07-05 2007-01-12 St Microelectronics Sa Memoire a lecture seule

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5570316A (en) * 1994-08-10 1996-10-29 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Apparatus and method for enabling a bus driver when a data signal is valid

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01158694A (ja) * 1987-12-15 1989-06-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体ダイナミックram
JP2974252B2 (ja) * 1989-08-19 1999-11-10 富士通株式会社 半導体記憶装置
US5276641A (en) * 1991-12-12 1994-01-04 International Business Machines Corporation Hybrid open folded sense amplifier architecture for a memory device
JP3302796B2 (ja) * 1992-09-22 2002-07-15 株式会社東芝 半導体記憶装置
KR0179097B1 (ko) * 1995-04-07 1999-04-15 김주용 데이타 리드/라이트 방법 및 장치
KR970071815A (ko) * 1996-04-24 1997-11-07 김광호 고집적 메모리를 위한 센스앰프구조
US5835406A (en) * 1996-10-24 1998-11-10 Micron Quantum Devices, Inc. Apparatus and method for selecting data bits read from a multistate memory

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5570316A (en) * 1994-08-10 1996-10-29 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Apparatus and method for enabling a bus driver when a data signal is valid

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1143453A3 (de) * 2000-02-29 2002-05-15 Fujitsu Limited Halbleiter Speichereinrichtung
EP1619690A3 (de) * 2000-02-29 2007-10-17 Fujitsu Limited Halbleiterspeichervorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
US20020044493A1 (en) 2002-04-18
JP2002536774A (ja) 2002-10-29
KR20010101712A (ko) 2001-11-14
US6538950B2 (en) 2003-03-25
WO2000045392A1 (de) 2000-08-03
CN1339158A (zh) 2002-03-06
EP1149382A1 (de) 2001-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4308665B4 (de) DRAM mit einer bidirektionalen globalen Bitleitung
DE4433695C2 (de) Dynamische Halbleiterspeichervorrichtung
DE4024295C2 (de) Dynamische Halbleiterspeichervorrichtung
DE3923629C2 (de) DRAM-Halbleiterbaustein
DE4015452C2 (de)
DE19756929B4 (de) Zellenarray und Leseverstärkerstruktur mit verbesserten Rauscheigenschaften und verringerter Größe
EP1204120A2 (de) Magnetoresistiver Speicher und Verfahren zu seinem Auslesen
DE19903198C1 (de) Integrierter Speicher und entsprechendes Betriebsverfahren
EP0286852A1 (de) Schaltungsanordnung und Verfahren zum Testen von Speicherzellen
EP1163677B1 (de) Integrierter speicher mit speicherzellen und referenzzellen und entsprechendes betriebsverfahren
DE10107314C2 (de) Verfahren zum Lesen einer Speicherzelle eines Halbleiterspeichers und Halbleiterspeicher
EP1163675B1 (de) Integrierter speicher mit speicherzellen und referenzzellen sowie betriebsverfahren für einen solchen speicher
EP0663667B1 (de) Integrierte Halbleiterspeicherschaltung und Verfahren zu ihrem Betrieb
EP1166276B1 (de) Integrierter ferroelektrischer speicher, dessen plattenleitungen vom spaltendecoder selektiert werden
DE19924288A1 (de) Integrierter Speicher
DE19919359C2 (de) Integrierter Speicher mit an gegenüberliegenden Seiten eines Zellenfeldes angeordneten Leseverstärkern
DE19924567C2 (de) Integrierter Speicher mit 2-Transistor/2-Kondensator-Speicherzellen
EP0897181B1 (de) Schaltungsvorrichtung für die Bewertung des Dateninhalts von Speicherzellen
EP0663666B1 (de) Integrierte Halbleiterspeicherschaltung und Verfahren zu ihrem Betrieb
DE10301856A1 (de) Integrierter Speicher
DE10302224B4 (de) Integrierter Speicher
DE102004059723B4 (de) Speicherbauelement mit neuer Anordnung der Bitleitungen
DE10229163B3 (de) Speicherbaustein mit gekreuzten Bitleitungen und Verfahren zum Auslesen
DE102006041018B3 (de) Speicherschaltung
EP1001430A2 (de) Ferroelektrische Speicheranordnung

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of the examined application without publication of unexamined application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee