DE19826649C1 - Phantom-Bauelement für Bestückungsautomaten - Google Patents
Phantom-Bauelement für BestückungsautomatenInfo
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Abstract
Ein Phantom-Bauelement (1) zum Einsatz in Automaten zur Bauelementebestückung von Schaltungsträgern, wie z. B. Leiterplatten, bei welchen auf seiner Unterseite ein Anschlußmuster eines reellen Bauelementes durch Felder (8) simuliert ist, die in Abmessung und Geometrie den Anschlüssen eines reellen Bauelementes entsprechen, und die sich von dem Untergrund der Unterseite durch davon unterschiedliches, definiertes Reflexionsvermögen unterscheiden. Dabei kann zumindest ein Teil der Felder (8) ein anderes Reflexionsvermögen aufweisen als der Rest der Felder, und es können Gruppen (4, 5, 6, 7) von benachbarten Feldern (8) jeweils unterschiedliches Reflexionsvermögen aufweisen.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Phantom-Bauelement zum
Einsatz in Automaten zur Bauelementebestückung von
Leiterplatten.
Ebenso bezieht sich die Erfindung auf ein Verfahren zur Über
prüfung der Funktion eines Bestückungsautomaten für
Leiterplatten, bei welchem Bauele
mente aus einem Lager zugeführt und von einem Manipulatorarm
ergriffen werden, die der Leiterplatte zugeordnete An
schlußseite des Bauelementes mittels einer Kamera, wie z. B.
einer CCD-Kamera, optisch erfaßt wird, das durch die Kamera
erfaßte Bild mit einem Software-Sollbild des Bauelementes
verglichen und der Arm sodann softwaregesteuert das Bauele
ment auf eine vorgesehene Stelle der Leiterplatte setzt.
Bei Bestückungsautomaten für Leiterplatten und für ähnliche
Schaltungsträger werden Bauelemente, wie Chips, Halbleiter,
Widerstände, etc. von einer Zuführeinrichtung, z. B. einem Ma
gazin, angeliefert und dann von einem Manipulatorarm, z. B.
einem Sauggreifer, erfaßt. Es muß nun überprüft werden, ob
das Bauelement eine bezüglich des Manipulatorarms korrekte
Lage hat, und ob es sich um das richtige Bauelement handelt.
Dazu ist eine Kamera, im allgemeinen eine CCD-Kamera vorgese
hen, die das Bauelement, das z. B. von oben mit einem Saug
greifer gehalten wird, von unten betrachtet, und das aufge
nommene Bild, nämlich das Bild des Musters der Anschlüsse,
mit einem softwaremäßigen Muster vergleicht, und bei falscher
Lage oder bei einem falschen Bauelement allfällige Korrektu
ren vornimmt. Wenn der Vergleich positiv ausgefallen ist,
wird das Bauelement mittels des Manipulatorarms auf die Lei
terplatte abgesetzt, auf welcher es üblicherweise aufgrund
der Hafteigenschaften der Lotzusammensetzung an der richtigen
Stelle verbleibt. Wenn auf diese Weise sämtliche Bauelemente
abgesetzt sind, gelangt die Leiterplatte mit den Bauelementen
in einen Ofen, in welchem das endgültige Anlöten erfolgt.
Die metallischen Oberflächen der Anschlüsse des Bauelementes
können einer Alterung unterliegen, welche das Reflexionsver
mögen der Anschlüsse ändert. Andererseits kann auch eine CCD-
Kamera altern, und beide Einflüsse können dazu führen, daß
letztlich das Bauelement nicht mehr richtig erkannt wird, und
es zu einer Fehlbestückung oder zu einer falschen Positionie
rung des Bauteils auf der Leiterplatte kommt. Derartige Fehl
bestückungen führen zum Ausschuß meist der gesamten Leiter
platte und stellen kostspielige Fehlfunktionen des Bestüc
kungsautomaten dar.
Aus der DE 42 27 667 A1 ist eine Testleiterplatte aus Glas
zur meßtechnischen Erfassung u. a. der Bestückungsgenauigkeit
von Leiterplatten und Phantom-Bauelementen bekannt. Auf der Testlei
terplatte sind Koordinatenlinien sowie Meßfenster aufge
bracht, die eine Positionierung mittels bekannter Up- and
Down-Kameras sowie eine Ausmessung und Betrachtung der Lage
der Markierungen durch ein Mikroskop ermöglichen.
Aus der US 55 37 204 A ist ebenfalls ein Verfahren zur Über
prüfung von Bestückungsautomaten für bedruckte Schaltungen
bekannt, bei dem eine Glasplatte mit der Form eines Bauele
ments und aufgebrachten Meßpunkten zur Überprüfung der Be
stückungsgenauigkeit des Automaten dient.
Es ist eine Aufgabe der Erfindung, auf einfache Weise das
Leistungsvermögen der optischen Lageerkennung eines Bestüc
kungsautomaten unter Berücksichtigung von möglichen Alte
rungserscheinungen zu überprüfen, um dadurch Fehlfunktionen
des Automaten zu vermeiden.
Diese Aufgabe wird mit einem Phantom-Bauelement zum Einsatz
in Automaten zur Bauelementebestückung von
Leiterplatten erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß auf
seiner Unterseite ein Anschlußmuster eines reellen Bauelemen
tes durch Felder simuliert ist, die in Abmessung und Geome
trie den Anschlüssen eines reellen Bauelementes entsprechen,
und die sich von dem Untergrund der Unterseite durch davon
unterschiedliches, definiertes Reflexionsvermögen unterschei
den, wobei zumindest ein Teil der Felder ein anderes Refle
xionsvermögen aufweist als der Rest der Felder.
Mit Hilfe erfindungsgemäßer Phantom-Bauelemente kann die
Funktion nicht nur der CCD-Kameras bzw. anderer optischer La
geerkennungssysteme eindeutig überprüft werden, sondern auch
die Funktion des Automaten hinsichtlich der korrekten Posi
tionierung auf dem Schaltungsträger. Falls daher das Phantom-
Bauelement korrekt erkannt, erfaßt und positioniert wird,
wird dies auch bei den reellen Bauelementen erfolgen, selbst
wenn diese nicht optimale Anschlüsse, z. B. gleiche Farbe, Re
flexionsvermögen etc. der Anschlüsse aufweisen. Das vorgege
bene Reflexionsverhältnis kann auch eine Alterung der metal
lischen Oberflächen der Anschlüsse simulieren. Durch die Aus
gestaltung, daß zumindest ein Teil der Felder ein anderes Re
flexionsvermögen als der Rest der Felder aufweist, kann vor
teilhaft eine unterschiedliche Alterung der metallischen
Oberflächen der Anschlüsse simuliert werden.
Für die Beurteilung des Leistungsvermögens üblicher CCD-Kame
ras ist es vorteilhaft, wenn Gruppen von benachbarten Feldern
jeweils unterschiedliches Reflexionsvermögen aufweisen.
Die Herstellung eines Phantom-Bauelementes gestaltet sich
zweckmäßig und einfach, wenn die Felder auf einer Glasplatte
ausgebildet sind. Dabei kann in Nachahmung eines reellen Bau
elementes die Glasplatte an der Unterseite eines Kunststoff
gehäuses angeordnet sein.
Bei einer vorteilhaften Ausführungsform ist das Anschlußmu
ster eines SMD-Bauelementes simuliert bzw. ist das Anschluß
muster eines Anschlußmusters mit Ball-Grid-Anschlüssen simu
liert.
Um die nachträgliche Überprüfung der Lage des Phantom-Bauele
mentes auf einer Testleiterplatte besser überprüfen zu können, ist
es vorteilhaft, wenn zusätzliche Justiermarken vorgesehen
sind.
Die Aufgabe der Erfindung wird auch mit einem Verfahren der
eingangs genannten Art gelöst, bei welchem erfindungsgemäß
dem Arm ein Phantom-Bauelement zugeführt wird, an dessen Un
terseite ein Anschlußmuster eines reellen Bauelementes durch
Felder simuliert ist, welche in Abmessung und Geometrie den
Abmessungen des reellen Bauelementes entsprechen und die sich
von dem Untergrund der Unterseite durch davon unterschiedli
ches, definiertes Reflexionsvermögen unterscheiden, wobei zu
mindest ein Teil der Felder ein anderes Reflexionsvermögen
aufweist als der Rest der Felder, und ein Testschaltungsträ
ger verwendet wird, auf den das Phantom-Bauelement aufgesetzt
wird, wobei nach dem Aufsetzen des Phantom-Bauelementes des
sen Position und Ausrichtung auf der Testleiterplatte
überprüft wird.
Die Erfindung samt weiteren Vorteilen ist im folgenden anhand
eines Ausführungsbeispieles näher erläutert, das in der
Zeichnung veranschaulicht ist. In dieser zeigen
Fig. 1 eine Ansicht auf die Unterseite eines Phantom-Bau
elementes nach der Erfindung und
Fig. 2 einen Querschnitt durch ein solches Bauelement.
Gemäß der Zeichnung besteht ein Phantom-Bauelement 1 nach der
Erfindung in einem Ausführungsbeispiel aus einer Glasplatte 2
und einem daran angeklebten oder angegossenen Kunststoffge
häuse 3. Auf der Unterseite der Glasplatte ist das Anschluß
muster eines bestimmten reellen Bauelementes simuliert, wobei
im vorliegenden Beispiel an der vier Seitenrändern der qua
dratischen Glasplatte 2 vier Gruppen 4, 5, 6 und 7 von Fel
dern 8 aufgebracht sind, wobei sich die Felder 8 von dem Un
tergrund, d. h. der Oberfläche der Glasplatte 2 durch ihr Re
flexionsvermögen unterscheiden. Weiters besitzt bei diesem
Ausführungsbeispiel jede Gruppe 4, 5, 6 und 7 von Feldern je
weils das gleiche Reflexionsvermögen. Im vorliegenden Bei
spiel ist die Gruppe 4 von Feldern 8 jene mit der dunkelsten
Farbe, d. h. dem geringsten Reflexionsvermögen und dem größten
Kontrast zum Untergrund. Die Gruppe 5 von Feldern 8 bildet
jene mit einem mittleren Kontrast, die Gruppe 6 von Feldern 8
jene mit einem geringen Kontrast und die Gruppe 7 von Feldern
8 eine Gruppe mit sehr schwachem Kontrast.
Wie Fig. 1 zu entnehmen, sind überdies in den vier Ecken der
Glasplatte 2 Justiermarken 9 vorgesehen, die zur späteren
Überprüfung der Lage des Phantom-Bauelementes auf einer Test
leiterplatte dienen.
Das simulierte Anschlußmuster auf der Oberfläche der
Glasplatte kann beispielsweise mit einem Standard-Strukturie
rungsverfahren der Halbleiter-Maskenherstellung realisiert
werden.
Das Phantom-Bauelement wird erfindungsgemäß bei einem Verfah
ren eingesetzt, das nachstehend näher erläutert ist. Bei üb
lichen Bestückungsautomaten für
Leiterplatten oder sogenannte Flachbaugruppen werden
verschiedene Bauelemente, wie IC's, Chips, Widerstände, etc.
aus einem Lager oder Magazin zugeführt und von einem Manipu
latorarm ergriffen. Für übliche Halbleiterchips werden Saug
greifer verwendet, die beispielsweise an der Oberfläche des
Kunststoffgehäuses angreifen können. Bevor das Bauelement auf
die Leiterplatte gesetzt wird, überprüft eine CCD-Kamera
die Unterseite des Bauelementes, d. h. die dem Schaltungsträ
ger zugeordnete Anschlußseite und vergleicht das erfaßte Bild
mit einem Software-Sollbild, um das Bauelement zu identifi
zieren. Danach setzt der Arm das Bauelement softwaregesteuert
auf eine genau vorgegebene Stelle der Leiterplatte. Wenn
die Leiterplatte mit den vorgesehenen Bauelementen be
stückt ist, erfolgt, z. B. in einem Heißluftofen, das Anlöten
der Bauelemente, die beispielsweise in Ball-Grid-Technik aus
geführt sein können oder mit sogenannten Anschluß-Pads, wel
chen auch das in der Figur dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht.
Wie bereits eingangs erwähnt, kann es zu Fehlfunktionen füh
ren, wenn entweder die CCD-Kamera Alterungserscheinungen auf
weist und/oder wenn die Anschlüsse des Bauelementes durch Al
terung und/oder Umwelteinflüsse ein vermindertes Reflexions
vermögen, ganz allgemein ein anderes Reflexionsvermögen auf
weisen, als in neuem Zustand.
Um die Funktion des Bestückungsautomaten mit Hilfe des erfin
dungsgemäßen Phantom-Bauelementes überprüfen zu können, wird
dem Manipulatorarm ein Phantom-Bauelement 1 zugeführt, das
einem ausgewählten reellen Bauelement hinsichtlich des An
schlußmusters entspricht. Der weitere Ablauf in der Funktion
des Bestückungsautomaten ist der gleiche wie bei dem Einsatz
eines reellen Bauelementes, jedoch wird anstelle einer tat
sächlichen Leiterplatte eine Testleiterplatte verwendet, auf
welche der Manipulatorarm nach Untersuchung des Phantom-Bau
elementes durch die CCD-Kamera und die zugehörige Software
dieses Bauelement setzt.
Nun kann die Testleiterplatte mit dem darauf aufgesetzten
Phantom-Bauelement dem Bestückungsautomaten entnommen werden,
um die genaue Lage und Ausrichtung des Phantom-Bauelementes 1
auf der Testleiterplatte zu untersuchen. Dies kann natürlich
unter Zuhilfenahme entsprechender optischer Geräte und Aus
wertungsverfahren erfolgen. Um diese Untersuchung zu erleich
tern, können die in Fig. 1 dargestellten Justiermarken 9 die
nen, doch sind solche Marken nicht unbedingt erforderlich,
insbesondere müssen sie entfallen, wenn die Auswertung durch
die CCD-Kamera dadurch gestört würde. Wenn das Phantom-Bau
element 1 genau auf die richtige Stelle und in korrekter Aus
richtung gesetzt wurde, kann davon ausgegangen werden, daß
einerseits die CCD-Kamera eine gute Funktion aufweist, und
daß andererseits auch das Positioniersystem in Ordnung ist.
Andererseits wird man bei einer nicht korrekten "Bestückung"
der Testleiterplatte mit dem Phantom-Bauelement 1 systema
tisch den Fehler in dem Bestückungsautomaten suchen. Es ist
weiters zu erwähnen, daß je nach der Art der verwendeten re
ellen Bauelemente auch unterschiedliche Phantom-Bauelemente
zum Einsatz gelangen, welche die entsprechenden reellen Bau
elemente simulieren.
Wenngleich bei dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel
Gruppen von Feldern unterschiedliches Reflexionsvermögen auf
weisen, ist es auch möglich, Phantom-Bauelemente nach der Er
findung so zu gestalten, daß sämtliche Felder gleiches Refle
xionsvermögen besitzen. Es können dann zur Überprüfung meh
rere, in der Geometrie identische Phantom-Bauelemente verwen
det werden, die sich lediglich durch das Reflexionsvermögen
der Felder unterscheiden.
Claims (8)
1. Phantom-Bauelement (1) zum Einsatz in Automaten zur Bau
elementebestückung von Leiter
platten,
dadurch gekennzeichnet,
daß auf seiner Unterseite ein Anschlußmuster eines reellen
Bauelementes durch Felder (8) simuliert ist, die in Abmessung
und Geometrie den Anschlüssen eines reellen Bauelementes ent
sprechen, und die sich von dem Untergrund der Unterseite
durch davon unterschiedliches, definiertes Reflexionsvermögen
unterscheiden, wobei zumindest ein Teil der Felder (8) ein
anderes Reflexionsvermögen aufweist als der Rest der Felder
(8).
2. Phantom-Bauelement nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß Gruppen (4, 5, 6, 7) von benach
barten Feldern (8) jeweils unterschiedliches Reflexionsvermö
gen aufweisen.
3. Phantom-Bauelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Felder (8) auf einer
Glasplatte (2) ausgebildet sind.
4. Phantom-Bauelement nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Glasplatte (2) an der Unterseite eines
Kunststoffgehäuses (3) angeordnet ist.
5. Phantom-Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet, daß das Anschlußmuster eines
SMD-Bauelementes simuliert, ist.
6. Phantom-Bauelement nach Anspruch 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Anschlußmuster eines Bauelementes mit
Ball-Grid-Anschlüssen simuliert ist.
7. Phantom-Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß zusätzliche Justiermarken
(9) vorgesehen sind.
8. Verfähren zur Überprüfung der Funktion eines Bestückungs
automaten für Leiterplatten,
bei welchem Bauelemente aus einem Lager zugeführt und von ei
nem Manipulatorarm ergriffen werden, die dem Schaltungsträger
zugeordnete Anschlußseite des Bauelementes mittels einer Ka
mera, wie z. B. einer CCD-Kamera, optisch erfaßt wird, das
durch die Kamera erfaßte Bild mit einem Software-Sollbild des
Bauelementes verglichen und der Arm sodann softwaregesteuert
das Bauelement auf eine vorgesehene Stelle des Schaltungsträ
gers setzt,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Arm ein Phantom-Bauelement zugeführt wird, an dessen Unterseite ein Anschlußmuster eines reellen Bauelementes durch Felder simuliert ist, welche in Abmessung und Geometrie den Abmessungen des reellen Bauelementes entsprechen und die sich von dem Untergrund der Unterseite durch davon unter schiedliches, definiertes Reflexionsvermögen unterscheiden,
wobei zumindest ein Teil der Felder ein anderes Reflexions vermögen aufweist als der Rest der Felder, und daß ein Test schaltungsträger verwendet wird, auf den das Phantom-Bauele ment aufgesetzt wird, wobei nach dem Aufsetzen des Phantom- Bauelementes dessen Position und Ausrichtung auf dem Test schaltungsträger überprüft wird.
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Arm ein Phantom-Bauelement zugeführt wird, an dessen Unterseite ein Anschlußmuster eines reellen Bauelementes durch Felder simuliert ist, welche in Abmessung und Geometrie den Abmessungen des reellen Bauelementes entsprechen und die sich von dem Untergrund der Unterseite durch davon unter schiedliches, definiertes Reflexionsvermögen unterscheiden,
wobei zumindest ein Teil der Felder ein anderes Reflexions vermögen aufweist als der Rest der Felder, und daß ein Test schaltungsträger verwendet wird, auf den das Phantom-Bauele ment aufgesetzt wird, wobei nach dem Aufsetzen des Phantom- Bauelementes dessen Position und Ausrichtung auf dem Test schaltungsträger überprüft wird.
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4227667A1 (de) * | 1992-08-21 | 1994-02-24 | Dietrich Dr Ing Reuse | Mittel zur meßtechnischen Erfassung der Bestückgenauigkeit |
US5537204A (en) * | 1994-11-07 | 1996-07-16 | Micron Electronics, Inc. | Automatic optical pick and place calibration and capability analysis system for assembly of components onto printed circuit boards |
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1998
- 1998-06-16 DE DE19826649A patent/DE19826649C1/de not_active Expired - Fee Related
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