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DE19749435A1 - Optical measurement apparatus for three-dimensional measurement of object - Google Patents

Optical measurement apparatus for three-dimensional measurement of object

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DE19749435A1
DE19749435A1 DE1997149435 DE19749435A DE19749435A1 DE 19749435 A1 DE19749435 A1 DE 19749435A1 DE 1997149435 DE1997149435 DE 1997149435 DE 19749435 A DE19749435 A DE 19749435A DE 19749435 A1 DE19749435 A1 DE 19749435A1
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light
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grids
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DE1997149435
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Bernward Maehner
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Maehner Bernward 82275 Emmering De
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Individual
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    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2518Projection by scanning of the object

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  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

The apparatus comprises a projector arrangement with at least two projection arrays, which projects a series of different light patterns on the object to be measured. Images of light patterns projected on the object are recorded by a camera, projection beams or light sections are determined from the produced images, and a surface contour of the object is calculated through a triangulation calculation. The apparatus comprises a projector arrangement with a projection axis and at least two projection arrays, which projects a series of different light patterns on the object to be measured. Images of light patterns projected on the object are recorded by a camera, projection beams or light sections are determined from the produced images, and a surface contour of the object is calculated through a triangulation calculation. The projection arrays are projected timewise separated by means of switchable light sources, whereby the projections of the individual light patterns belonging to a light code sequence are distributed evenly on the available projection arrays. The projection times of the projection arrays are cyclically arranged and are synchronized with the image recording of the camera, so that exactly one array is projected during the recording of a light pattern through the camera.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur dreidimensionalen, flächenhaften, optischen Vermessung von Objekten. Es gibt mittlerweile eine Reihe von optischen Meßverfahren, die durch Projektion von Streifenmustern, welche mit einer Videokamera aufgezeichnet werden, die flächenhafte Berechnung von dreidimensionalen Konturdaten ermöglichen.The invention relates to a device for three-dimensional, areal, optical Measurement of objects. There are now a number of optical measurement methods by projecting stripe patterns recorded with a video camera that enable areal calculation of three-dimensional contour data.

Zur Berechnung der dreidimensionalen Gestalt eines Objektes wird hierbei ein digitales Bildverarbeitungssystem verwendet, das aus einem oder mehreren Kamerabildern die ge­ wünschten Ergebnisdaten berechnet.To calculate the three-dimensional shape of an object, a digital one is used Image processing system used, the ge from one or more camera images desired result data is calculated.

Die Erzeugung von eindeutig unterscheidbaren Lichtschnitten oder Projektionsstrahlen erfordert eine Lichtcodesequenz, die aus mehreren Linienmustern besteht. Die erforderli­ che Anzahl der zu projizierenden Linienmuster hängt im allgemeinen von der verwende­ ten Kodierung und der geforderten Auflösung des Meßsystems ab, also wie viele Licht­ schnittebenen oder Projektionsstrahlen im Projektionskegel der Projektionseinrichtung unterschieden werden können.The generation of clearly distinguishable light sections or projection beams requires a light code sequence consisting of several line patterns. The required The number of line patterns to be projected generally depends on the use th coding and the required resolution of the measuring system, i.e. how many light cutting planes or projection beams in the projection cone of the projection device can be distinguished.

Die bekanntesten Verfahren zur Erzeugung eines Lichtcodes sind das Phasenshiftverfah­ ren und das Verfahren des kodierten Lichtansatzes (CLA-Verfahren). Ferner wird in der Patentschrift DE 41 20 115 C2 das kombinierte CLA-Phasenshiftverfahren beschrieben, das die Vorteile des Phasenshiftverfahrens, nämlich die hohe Tiefenauflösung, mit den Vorteilen des Verfahrens nach dem kodierten Lichtansatz kombiniert, so daß absolute Tiefendaten mit hoher Auflösung gewonnen werden können. Bei diesem Verfahren ist die Anzahl der zu projizierenden Linienmuster gleich der Summe aus der Anzahl der zum CLA-Verfahren gehörenden Linienmuster zuzüglich der zum Phasenshiftverfahren gehö­ renden Linienmuster. Bei Verwendung eines Projektionsgitters mit 1024 Linien ergibt dies z. B. eine Sequenz von 15 zu projizierenden Linienmustern (2 Referenzbilder + 9 Graycodebilder + 4 Phasenshiftbilder). Die unterschiedlichen zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Linienmuster werden dabei typischerweise mit einem programmierbarem LCD-Paneel oder einem mechanisch verstellbaren Liniengittern erzeugt.The best known methods for generating a light code are the phase shift method ren and the procedure of the coded light approach (CLA procedure). Furthermore, in the Patent DE 41 20 115 C2 describes the combined CLA phase shift process, that the advantages of the phase shift method, namely the high depth resolution, with the Advantages of the method combined after the coded light approach, so that absolute Depth data with high resolution can be obtained. In this procedure, the Number of line patterns to be projected equal to the sum of the number of to Line patterns belonging to the CLA method plus those belonging to the phase shift method line patterns. When using a projection grid with 1024 lines this z. B. a sequence of 15 line patterns to be projected (2 reference images + 9 Gray code images + 4 phase shift images). The different to a light code sequence associated line patterns are typically used with a programmable LCD panel or a mechanically adjustable line grid generated.

Ein weiteres in der Patentanmeldung AZ 197 38 179.0-52 beschriebenes Verfahren zeigt eine Alternative zum kombinierten CLA-Phasenshiftverfahren auf. Hierbei erfolgt die Gewinnung hochaufgelöster Tiefendaten nicht durch das Phasenshiftverfahren sondern durch ein neuartiges Verfahren, welches neben den Tiefendaten gleichzeitig das für die Binarisierung der Graycodebilder erforderliche dynamische Schwellwertbild liefert. Hier­ durch verkürzt sich die Sequenz um 2 Bilder, so daß sich für obiges Beispiel die Anzahl der zu projizierenden Linienmuster auf 13 verringert.Another method described in patent application AZ 197 38 179.0-52 shows an alternative to the combined CLA phase shift method. This is where the  Obtaining high-resolution depth data not by the phase shift method but by through a new method, which, in addition to the depth data, is also used for the Binarization of the gray code images provides the required dynamic threshold image. Here This shortens the sequence by 2 pictures, so that for the above example the number reduced the line pattern to be projected to 13.

Während der gesamten Abspieldauer der Lichtcodesequenz muß das zu vermessende Objekt oder die zu vermessende Szenerie in absoluter Ruhe verharren, da sonst die Li­ nienmuster in den aufgenommenen Kamerabildern nicht korrelieren. Die genannten Ver­ fahren sind daher nicht für die Messung an bewegten Objekten geeignet. Dies muß als ein prinzipbedingter Nachteil in Kauf genommen werden.During the entire playing time of the light code sequence the thing to be measured has to be measured Object or the scene to be measured remain in absolute calm, otherwise the li Do not correlate the line pattern in the recorded camera images. The above ver Driving is therefore not suitable for measurements on moving objects. This must be considered a principle-related disadvantage to be accepted.

Zur Vermeidung dieses Nachteil, ist ein Verfahren (sh. Patentschrift EP 0 419 936) ent­ wickelt worden, welches unter der Bezeichnung "direkte Phasenmessung" oder "räumliches Phasenshiftverfahren" bekannt ist. Dieses Verfahren benötigt nur noch eine Gitterprojektion bzw. ein Kamerabild um 2π modulierte Tiefendaten zu berechnen. Der hierdurch gewonnenen Echtzeitfähigkeit stehen jedoch neben der Tatsache, daß nur 2π modulierte und nicht absolute Tiefendaten gewonnen werden können, weitere gravie­ rende Nachteile gegenüber:
Bei der Durchführung des Phasenshifts wird vorausgesetzt, daß die Periodenlänge im Streifenbild einer konstanten Anzahl von Pixeln entspricht. Ferner wird vorausgesetzt, daß die Hintergrundintensität benachbarter Pixel identisch ist. Beide Voraussetzungen werden jedoch bei der Vermessung realer Objekte nur in grober Näherung erfüllt. Dies resultiert in relativ großen Phasenfehlern im Ergebnis. Deshalb ist dieses Verfahren für exakte Messungen ungeeignet.
To avoid this disadvantage, a method (see patent specification EP 0 419 936) has been developed, which is known under the name "direct phase measurement" or "spatial phase shift method". This method only requires a grid projection or a camera image to calculate 2π modulated depth data. However, the real-time capability gained in this way is offset by the fact that only 2π modulated and not absolute depth data can be obtained, but there are further serious disadvantages:
When performing the phase shift, it is assumed that the period length in the stripe image corresponds to a constant number of pixels. It is also assumed that the background intensity of neighboring pixels is identical. However, both requirements are only roughly met when measuring real objects. This results in relatively large phase errors in the result. This method is therefore unsuitable for exact measurements.

In vielen Anwendungsfällen, z. B. bei der Vermessung von Gesichtern, Rückenpartien, usw. an lebenden, aber in Ruhe verharrenden Personen oder der Vermessung nicht völlig starrer Objekte, kann die Verwendung einer längeren Lichtcodesequenz akzeptiert wer­ den, falls die gesamte zum Abspielen und Aufnehmen einer Lichtcodesequenz benötigte Zeit hinreichend kurz ist, also z. B. nur Bruchteile einer Sekunde beträgt, und dafür abso­ lute und genaue Tiefendaten gewonnen werden können.In many applications, e.g. B. when measuring faces, back areas, etc. not fully on living people who remain at rest or on surveying rigid objects, the use of a longer light code sequence can be accepted if the entire needed to play and record a light code sequence Time is short enough, e.g. B. is only a fraction of a second, and absolutely lute and accurate depth data can be obtained.

Der in Patentanspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem zugrunde, daß einem schnellen Abspielen der Lichtcodesequenz durch das notwendige Umprogrammieren oder Verstellen des Projektionsgitters Grenzen gesetzt sind. Während durch den Einsatz von schnellen Videokameras, z. B. mit frequenzverdoppeltem CCD-Chip, die Aufnahme einer 13 Bilder langen Lichtcodesequenz in 0,26 s problemlos möglich ist, kann ein LCD-Pro­ jektor mit der Projektion der unterschiedlichen Lichtmuster hier nicht Schritt halten.The invention specified in claim 1 is based on the problem that one fast playback of the light code sequence through the necessary reprogramming or  Adjusting the projection grid limits are set. While through the use of fast video cameras, e.g. B. with frequency-doubled CCD chip, the inclusion of a An LCD-Pro can easily create 13-picture light code sequences in 0.26 s do not keep up with the projection of the different light patterns here.

Die Einstellzeit des Projektionsgitters liegt meistens beträchtlich über der Zeit, die zwi­ schen zwei Kamerabildern hierfür zur Verfügung stünde. Der japanische Hersteller SONY gibt beispielsweise als Antwortzeit des TFT Panels Typ LCX012AL bei 25°C für das Ausschalten eines Punktes 27 ms an. In dieser Zeit steigt die relative Lichtdurchlässig­ keit von 0% auf 90% an, die Abweichung vom Sollwert beträgt nach 27 ms also noch 10%. Für den inversen Schaltvorgang werden 11 ms angegeben. In dieser Zeit sinkt die relative Lichtdurchlässigkeit von 100% auf 10%. Zuzüglich der Zeit, die zum Program­ mieren der LCD-Treibereinheit, also z. B. einer Grafikkarte, erforderlich ist, beträgt die Einstellzeit für das Projektionsgitter somit mindestens 30-35 ms. Wird eine Belichtung bei noch nicht voll erreichtem Endwert durchgeführt, so ist der Streifenkontrast und damit das Signal/Rausch-Verhältnis dementsprechend schlechter. Ferner ändert sich dann die Lichtdurchlässigkeit der LCD Elemente noch während der Belichtungszeit der Kamera und zwar in Abhängigkeit von der vorhergehenden Einstellung. Dies führt insbesondere bei Verwendung des Phasenshiftverfahrens zu beträchtlichen Fehlern, da dann an den einzelnen Bildpunkten die Amplitude der sinusförmigen Intensitätsmodulation entgegen den Anforderungen des Phasenshiftverfahrens nicht konstant ist.The setting time of the projection grid is usually considerably longer than the time between two camera images would be available for this. The Japanese manufacturer For example, SONY indicates the response time of the TFT panel type LCX012AL at 25 ° C switching off a point on 27 ms. During this time, the relative light transmission increases speed from 0% to 90%, the deviation from the setpoint is still after 27 ms 10%. 11 ms are specified for the inverse switching process. During this time it sinks relative light transmission from 100% to 10%. Plus the time spent on the program mieren the LCD driver unit, so z. B. a graphics card, is required Response time for the projection grid is at least 30-35 ms. Will an exposure The final contrast has not yet been fully achieved, and so is the strip contrast the signal-to-noise ratio is accordingly worse. The then also changes Translucency of the LCD elements during the exposure time of the camera depending on the previous setting. This leads in particular considerable errors when using the phase shift method, because then at the individual pixels counter the amplitude of the sinusoidal intensity modulation the requirements of the phase shift process is not constant.

Noch ungünstiger sind die Verhältnisse, wenn das Gitter mechanisch bewegt wird. Die Fa. ABW (Automatisierung Bildverarbeitung Dr. Wolf, Gutenbergstr. 9, D-72636 Frickenhausen) gibt beispielsweise für den "Miniatur Linien- und Musterprojektor nach Malz" eine Schaltzeit von ca. 120 ms an. Die Aufnahme eines Linienmusters bei nicht völ­ lig geschaltetem Projektionsgitter ist hierbei völlig ausgeschlossen.The situation is even more unfavorable when the grille is moved mechanically. The ABW (automation of image processing Dr. Wolf, Gutenbergstrasse 9, D-72636 Frickenhausen) gives way for example for the "miniature line and sample projector Malt "a switching time of about 120 ms. The recording of a line pattern when not full projection grid is completely excluded.

Die Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung zur dreidimensionalen, flächenhaften, optischen Vermessung von Objekten mittels projizierter Lichtmuster anzugeben, die die schnelle Projektion der unterschiedlichen, zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Licht­ muster ermöglicht und so die Aufnahmezeit der Meßbildsequenz verkürzt.The object of the invention is to provide a device for three-dimensional, areal, optical measurement of objects using projected light patterns to indicate the rapid projection of the different light belonging to a light code sequence enables pattern and thus shortens the recording time of the measurement image sequence.

Diese Aufgabe wird durch die in Patentanspruch 1 aufgeführte Vorrichtung gelöst. Vor­ teilhafte Weiterbildungen sind in den jeweiligen Unteransprüchen angegeben. This object is achieved by the device listed in claim 1. Before partial further developments are specified in the respective subclaims.  

Die Aufgabe der Projektionseinrichtung, die unterschiedlichen zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Lichtmuster auf einer optischen Projektionsachse zu projizieren, wird erfin­ dungsgemäß gleichmäßig auf zwei oder mehrere Projektionsgitter aufgeteilt. Die Pro­ jektionsgitter werden erfindungsgemäß entweder deckungsgleich oder entsprechend den Erfordernissen der verwendeten Lichtcodesequenz aufeinanderjustiert in der Bildebene der Projektionseinrichtung abgebildet. Werden beispielsweise zur Erzeugung eindeutig unterscheidbarer Projektionsstrahlen zwei in der Projektionsebene aufeinander senkrecht stehende Linienmuster verwendet, so werden zweckmäßigerweise die Linien des einen Projektionsgitters senkrecht zu denen des zweiten Projektionsgitters ausgerichtet.The task of the projection device, the different to a light code sequence Projecting associated light patterns on an optical projection axis is invented appropriately divided over two or more projection grids. The pro According to the invention, the injection grids are either congruent or in accordance with the Requirements of the light code sequence used are aligned with one another in the image plane of the projection device. For example, become unique for generation distinguishable projection beams two perpendicular to each other in the projection plane standing line patterns are used, the lines of one are expedient Projection grid aligned perpendicular to that of the second projection grid.

Die Projektionsgitter werden erfindungsgemäß zeitlich voneinander getrennt mittels schaltbarer Lichtquellen projiziert, so daß die Projektionsgitter unabhängig voneinander projiziert werden können.According to the invention, the projection grids are separated from one another in terms of time switchable light sources are projected so that the projection grids are independent of each other can be projected.

Erfindungsgemäß werden bei der Projektion der einzelnen zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Lichtmuster die Projektionszeitpunkte der Projektionsgitter zyklisch hinter­ einander angeordnet und mit der Bildaufnahme des Bildsensors so synchronisiert, daß während der Aufnahme eines Lichtmusters durch den Bildsensor genau ein Projektions­ gitter projiziert wird. Die Synchronisation kann auf Basis der Zeitsignale der Kamera er­ folgen oder durch einen Mikrocomputer, welcher die zeitlichen Abläufe im Meßsystem koordiniert, übernommen werden. In diesem Fall ist eine extern triggerbare Kamera er­ forderlich.According to the invention, when projecting the individual into a light code sequence belonging light patterns cyclically behind the projection times of the projection grids arranged and synchronized with the image recording of the image sensor so that exactly one projection during the acquisition of a light pattern by the image sensor grid is projected. The synchronization can be based on the time signals from the camera follow or through a microcomputer which keeps track of the timing in the measurement system coordinated, taken over. In this case, he is an externally triggerable camera conducive.

Ferner wird erfindungsgemäß bei der Projektion der einzelnen zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Lichtmuster die Einstellung des nächsten von einem Projektionsgitter anzu­ zeigenden Lichtmusters unmittelbar oder kurzzeitig nach der Projektion des aktuell von diesem Projektionsgitter anzuzeigenden Lichtmusters gestartet und die zur Einstellung dieses Projektionsgitters benötigte Zeit zur Projektion von Lichtmustern mit den jeweils anderen Projektionsgittern genutzt. Dadurch steht jedem Projektionsgitter einerseits eine maximal lange Zeit zur Einstellung des nächsten mit diesem Projektionsgitter zu projizie­ renden Lichtmusters zur Verfügung, andererseits wird die Aufnahmegeschwindigkeit der Kamera optimal genutzt.Furthermore, according to the invention, when projecting the individual into a light code sequence associated light pattern to adjust the setting of the next one from a projection grid showing light pattern immediately or briefly after the projection of the current from light pattern to be displayed on this projection grid and the one for adjustment this projection grid required time to project light patterns with each other projection grids. As a result, each projection grid has one maximum time to set the next one to project with this projection grille available light pattern, on the other hand, the recording speed of the Optimally used camera.

Der notwendige Zeitabstand den die Projektionseinheit zwischen der aufeinanderfolgen­ den Projektion von zwei unterschiedlichen Lichtmustern benötigt, beträgt bei der Ver­ wendung dieser neuen Vorrichtung nur noch einen Bruchteil der ursprünglichen Einstell­ zeit des Projektionsgitters. Durch den Einsatz von n Projektionsgittern kann somit pro­ jektionsseitig die Aufnahmegeschwindigkeit um einen Faktor n erhöht werden.The necessary time interval between the projection unit between the successive the projection of two different light patterns, the Ver  application of this new device only a fraction of the original setting time of the projection grid. By using n projection grids, pro on the injection side, the absorption speed can be increased by a factor n.

In der Praxis ist insbesondere die Verwendung von 3 Projektionsgittern zweckmäßig, da hierzu die ausgereifte Optik handelsüblicher LCD Projektoren mit 3 LCD-Paneelen fast unverändert übernommen werden kann. Dadurch halten sich die Kosten für eine solche Projektionseinrichtung in Grenzen. Lediglich die Umrüstung auf drei getrennt schaltbare Lichtquellen und das Entfernen der für diese Meßtechnik überflüssigen Farbfilter ist er­ forderlich. Bei einer typischen Verzögerungszeit von 0,03 s für das LCD-Paneel bis zum Erreichen des vollen Kontrastes ergibt sich durch die Verwendung von 3 Gittern eine theoretische Projektionsfrequenz von 1/0.03 s/3=100 Hz. Bei einer Sequenzlänge von 13 Lichtmustern ergibt dies bei Verwendung einer entsprechend schnellen CCD-Kamera eine Aufnahmezeit von ca. 0,15 s.In practice, the use of 3 projection grids is particularly useful because the sophisticated optics of standard LCD projectors with 3 LCD panels almost can be taken over unchanged. This keeps the cost of such a thing Projection device in limits. Only the conversion to three separately switchable It is a light source and the removal of the color filters that are unnecessary for this measuring technique conducive. With a typical delay time of 0.03 s for the LCD panel to The full contrast is achieved by using 3 grids theoretical projection frequency of 1 / 0.03 s / 3 = 100 Hz. with a sequence length of 13 This results in light patterns when using a correspondingly fast CCD camera Recording time of approx. 0.15 s.

Im Folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand von Zeichnungen er­ läutert.An exemplary embodiment of the invention is described below with the aid of drawings purifies.

In den Zeichnungen zeigen:The drawings show:

Fig. 1 Den Aufbau eines Meßsystems zur Gewinnung dreidimensionaler Konturdaten mit einer Projektionseinheit mit zwei Projektionsgittern. Fig. 1 The structure of a measuring system for obtaining three-dimensional contour data with a projection unit with two projection grids.

Fig. 2 Das Zeitdiagramm für das in der Fig. 1 gezeigte System. Fig. 2 is the timing diagram for the system shown in Fig. 1.

Das in der Fig. 1 gezeigte Meßsystem besitzt eine Projektionseinrichtung, welche zwei unabhängige Projektionsgitter G1 und G2 besitzt. Das Gitter G1 wird durch eine Licht­ quelle, bestehend aus Blitzlichtlampe L1, Reflektor R1 und Kondensor K1, beleuchtet und über die Abbildungsoptik 2 auf dem zu vermessenden Objekt 4 abgebildet. Das Pro­ jektionsgitter G2 wird durch eine Lichtquelle, bestehend aus Blitzlichtlampe L2, Reflektor R2 und Kondensor K2, über den teildurchlässigen Spiegel 1 und die Abbildungsoptik 2 auf der gleichen Projektionsachse wie Gitter G1 auf dem Objekt 3 abgebildet. Die mittels der Projektionsgitter G1 und G2 auf dem Objekt 4 erzeugten Linienmuster 3 werden über die Abbildungsoptik 5 auf dem Bildsensor 6 abgebildet. Optik 5 und Bildsensor 6 können Bestandteile einer Kamera bzw. Videokamera sein. Die mit dem Bildsensor 6 aufgenom­ menen Abbildungen und die Zeitsteuerungssignale (Timing-Signale) des Bildsensors wer­ den zur Weiterverarbeitung zum Bildverarbeitungssystem 7 übertragen. Das Bildverar­ beitungssystem 7 kann aus einem Mikrocomputer mit eingebauter Bildeinzugskarte (Framegrabber) bestehen. Das Bildverarbeitungssystem 7 übernimmt auf Basis der Zeitsi­ gnale des Bildsensors 6 die Koordination über die Programmierung der Treibereinrich­ tung 8 zur Ansteuerung des Projektionsgitters G1, die Programmierung der Treiberein­ richtung 11 des Projektionsgitters G2, sowie über das Auslösen der Blitzlampen L1 und L2 über deren Triggereinrichtungen 10 bzw. 13. Das Einstellen und Projizieren der Pro­ jektionsgitter G1 und G2 erfolgt derart, daß abwechselnd ein Linienmuster mit dem Pro­ jektionsgitter G1 und ein Linienmuster mit dem Projektionsgitter G2 projiziert wird.The measuring system shown in FIG. 1 has a projection device which has two independent projection grids G1 and G2. The grating G1 is illuminated by a light source, consisting of a flash lamp L1, reflector R1 and condenser K1, and is imaged on the object 4 to be measured via the imaging optics 2 . The projection grid G2 is imaged by a light source, consisting of flash lamp L2, reflector R2 and condenser K2, via the partially transparent mirror 1 and the imaging optics 2 on the same projection axis as grid G1 on object 3 . The line patterns 3 generated on the object 4 by means of the projection grids G1 and G2 are imaged on the image sensor 6 via the imaging optics 5 . Optics 5 and image sensor 6 can be components of a camera or video camera. The images recorded with the image sensor 6 and the timing signals (timing signals) from the image sensor are transmitted to the image processing system 7 for further processing. The image processing system 7 can consist of a microcomputer with a built-in image acquisition card (frame grabber). The image processing system 7 takes over, on the basis of the time signals of the image sensor 6, the coordination via the programming of the driver device 8 for actuating the projection grid G1, the programming of the driver device 11 of the projection grid G2, and the triggering of the flash lamps L1 and L2 via their trigger devices 10 or 13. The setting and projecting of the projection grids G1 and G2 is carried out in such a way that a line pattern with the projection grid G1 and a line pattern with the projection grid G2 are alternately projected.

Die genaue Synchronisation der zeitlichen Abläufe des in Fig. 1 gezeigten Meßsystems ist in Fig. 2 dargestellt. Sie zeigt in den obersten beiden Zeilen das typische Belichtungs­ zeitverhalten einer Videokamera, welche im Zeilensprungverfahren (interlaced Modus) zwei Halbbilder mit ca. 40% Zeitüberlappung belichtet. Die Kamera besitzt als Bildsensor einen frequenzverdoppelten CCD-Chip der 50 Vollbilder pro Sekunde liefert bzw. für ein Halbbild 10 ms und ein Vollbild 20 ms benötigt. Die Einstellung des Gitters G1 ist in der 3. Zeile von oben gezeigt. Die für die Einstellung des Projektionsgitters benötigte Zeit wird mit 35 ms angenommen und setzt sich aus der Zeit zur Ausführung der entsprechenden Programmschritte, Signallaufzeiten sowie der Antwortzeit des Projektionsgitters auf ein neues Lichtmuster zusammen. Nach Beendigung der Einstellung wird das Projektionsgit­ ter G1 nach Verstreichen einer Sicherheitszeitspanne durch das Einschalten der Lampe L1 projiziert. Der Lichtblitz der Lampe L1 liegt genau in dem Zeitintervall, in dem die Ka­ mera beide Halbbilder belichtet, so daß das projizierte Lichtmuster mit der vollen Auflö­ sung des CCD-Chips aufgenommen wird.The exact synchronization of the time sequences of the measuring system shown in FIG. 1 is shown in FIG. 2. The top two lines show the typical exposure time behavior of a video camera, which uses the interlaced method (interlaced mode) to expose two fields with approx. 40% time overlap. As an image sensor, the camera has a frequency-doubled CCD chip that delivers 50 frames per second or 10 ms for a field and 20 ms for a frame. The setting of the grid G1 is shown in the 3rd line from above. The time required for setting the projection grating is assumed to be 35 ms and is made up of the time required to carry out the corresponding program steps, signal run times and the response time of the projection grating to a new light pattern. After completion of the setting, the projection screen G1 is projected after the lapse of a safety period by switching on the lamp L1. The flash of light from the lamp L1 lies precisely in the time interval in which the camera exposes both fields, so that the projected light pattern is recorded with the full resolution of the CCD chip.

Die Einstellung des Gitters G2 und das Einschalten der dem Gitter G2 zugeordneten Blitzlichtlampe L2 erfolgt analog zum Gitter G1 und dessen Blitzlichtlampe L1, aber mit einer Zeitverschiebung von 20 ms. Dadurch wird jedes zweite Vollbild der Kamera, das zeitlich innerhalb des Zeitintervalls zur Einstellung des Gitters G1 liegt, durch Projektion des Gitters G2 mit Lampe L2 belichtet. Trotz der Verwendung eines frequenzverdoppel­ ten CCD-Chips und der Einhaltung der für die Einstellung der Projektionsgitter erforder­ lichen Einstellzeiten bleiben so keine Bilder der Videokamera ungenutzt.The setting of the grid G2 and the switching on of the grid assigned to the G2 Flash lamp L2 is analogous to grid G1 and its flash lamp L1, but with a time difference of 20 ms. This will take every other frame of the camera that is within the time interval for setting the grating G1, by projection of the grating G2 exposed with lamp L2. Despite using a frequency doubler ten CCD chips and compliance with the requirements for setting the projection grille This means that no images from the video camera remain unused.

Claims (7)

1. Vorrichtung zur dreidimensionalen, flächenhaften, optischen Vermessung von Objek­ ten, bei der eine Projektionseinrichtung mit einer Projektionsachse und mindestens zwei Projektionsgittern eine Serie unterschiedlicher Lichtmuster auf das zu vermessende Ob­ jekt projiziert, Abbildungen von den auf das zu vermessende Objekt projizierten Licht­ mustern auf dem Bildsensor einer Kamera erzeugt, aus den erzeugten Abbildungen Pro­ jektionsstrahlen oder Lichtschnitte bestimmt werden, und durch Verschneidung der Pro­ jektionsstrahlen oder Lichtschnitte mit den Beobachtungsstrahlen der Kamera über eine Triangulationsrechnung die Oberflächenkontur des Objektes berechnet wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Projektionsgitter entweder deckungsgleich oder entsprechend den Erfordernissen der verwendeten Lichtcodesequenz aufeinander justiert in der Bildebene der Projektions­ einrichtung abgebildet werden,
daß die Projektionsgitter zeitlich voneinander getrennt mittels schaltbarer Lichtquellen projiziert werden,
daß die Projektionen der einzelnen zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Lichtmuster gleichmäßig auf die vorhandenen Projektionsgitter verteilt werden,
daß bei der Projektion der einzelnen zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Lichtmuster die Projektionszeitpunkte der Projektionsgitter zyklisch hintereinander angeordnet und mit der Bildaufnahme des Bildsensors so synchronisiert sind, daß während der Aufnahme eines Lichtmusters durch den Bildsensor genau ein Projektionsgitter projiziert wird,
daß bei der Projektion der einzelnen zu einer Lichtcodesequenz gehörenden Lichtmuster die Einstellung des nächsten von einem Projektionsgitter anzuzeigenden Lichtmusters unmittelbar oder kurzzeitig nach der Projektion des aktuell von diesem Projektionsgitter anzuzeigenden Lichtmusters gestartet wird und die zur Einstellung dieses Projektionsgit­ ters benötigte Zeit zur Projektion von Lichtmustern mit den jeweils anderen Projek­ tionsgittern genutzt wird.
1. Device for three-dimensional, areal, optical measurement of objects, in which a projection device with a projection axis and at least two projection grids projects a series of different light patterns onto the object to be measured, images of the light projected onto the object to be measured pattern on the object Image sensor of a camera is generated, projection beams or light sections are determined from the generated images, and the surface contour of the object is calculated by intersection of the projection beams or light sections with the observation beams of the camera using a triangulation calculation.
characterized by
that the projection grids are either congruent or adjusted to one another in accordance with the requirements of the light code sequence used in the image plane of the projection device,
that the projection grids are projected separately from one another by means of switchable light sources,
that the projections of the individual light patterns belonging to a light code sequence are evenly distributed over the existing projection grids,
that when projecting the individual light patterns belonging to a light code sequence, the projection times of the projection grids are arranged cyclically one after the other and are synchronized with the image recording by the image sensor such that exactly one projection grid is projected by the image sensor while a light pattern is being recorded,
that in the projection of the individual light patterns belonging to a light code sequence, the setting of the next light pattern to be displayed by a projection grid is started immediately or briefly after the projection of the light pattern currently to be displayed by this projection grid and the time required for setting this projection grid to project light patterns with the other projection grids are used.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jedes Projektionsgitter mit jeweils einer Blitzlichtquelle projiziert wird. 2. Device according to claim 1, characterized in that each projection screen is projected with a flash source.   3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Projektionszeitpunkt und die Projektionsdauer jedes Projektionsgitters durch je­ weils eine mechanische Verschlußeinrichtung gesteuert wird.3. Device according to claim 1, characterized in that the projection time and the projection duration of each projection grid by each because a mechanical locking device is controlled. 4. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Projektionsgitter als LCD Paneele ausgebildet sind.4. Apparatus according to claim 1 to 3, characterized in that the projection grids are designed as LCD panels. 5. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtcodesequenz eine Liniengittersequenz verwendet wird, die einem der in der Patentanmeldung AZ 197 38 179.0-52 offengelegten Verfahren zur Ermittlung absoluter, nicht 2π modulierter Phasenwinkel entspricht.5. The device according to claim 1 to 4, characterized in that a line grid sequence is used as the light code sequence that one of the in the Patent application AZ 197 38 179.0-52 disclosed method for determining absolute, not corresponds to 2π modulated phase angle. 6. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtcodesequenz eine solche verwendet wird, die einem der in der Patentanmel­ dung AZ 197 47 061.0 offengelegten Verfahren zur Erzeugung eindeutig unterscheidba­ rer Projektionsstrahlen entspricht.6. The device according to claim 1 to 4, characterized in that that one is used as the light code sequence that one of the in the patent application AZ 197 47 061.0 disclosed methods for generating clearly distinguishable corresponds to the projection rays. 7. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erhöhung der mit einer durch die Projektionseinrichtung projizierten Lichtcode­ sequenz erfaßbaren Anzahl von Meßpunkten zusätzliche, mit der ersten Meßbildkamera synchronisierte Kameras um die Projektionseinrichtung angeordnet werden.7. The device according to claim 1 to 6, characterized in that that to increase the light code projected by the projection device Sequence detectable number of measuring points additional, with the first measurement camera synchronized cameras can be arranged around the projection device.
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001059404A1 (en) * 2000-02-09 2001-08-16 Volvo Personvagnar Ab Arrangement and method for measuring surface irregularities at an object
EP1209486A2 (en) * 2000-10-20 2002-05-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Range finder, three-dimensional measuring method and light source apparatus
DE10143504A1 (en) * 2001-09-05 2003-03-20 Sick Ag Monitoring of an area using an optoelectronic sensor, whereby illuminating light is transmitted with two different patterns to improve detection of homogenous objects and to improve system functionality testing
WO2006031143A1 (en) 2004-08-12 2006-03-23 A4 Vision S.A. Device for contactlessly controlling the surface profile of objects
WO2007054351A1 (en) * 2005-11-11 2007-05-18 Siemens Aktiengesellschaft Measuring system for three-dimensional objects
DE102009029179A1 (en) * 2009-09-03 2011-03-17 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Light source and device for recording fast processes
DE102011018597B3 (en) * 2011-04-21 2012-10-25 Vrmagic Gmbh Method for synchronized operation of a camera and a projector
JP2013124937A (en) * 2011-12-15 2013-06-24 Ckd Corp Three-dimensional measuring device
US8878929B2 (en) 2009-05-27 2014-11-04 Koh Young Technology Inc. Three dimensional shape measurement apparatus and method
US9117107B2 (en) 2004-08-12 2015-08-25 Bioscrypt, Inc. Device for biometrically controlling a face surface
DE102016223671A1 (en) * 2016-11-29 2018-05-30 Continental Automotive Gmbh Illumination system for the determination of geometric properties as well as driver assistance system and method
DE102017004428A1 (en) * 2017-05-08 2018-11-08 Universität Stuttgart Method and device for robust, deep-scanning focusing strip triangulation with multiple wavelets
WO2019025096A1 (en) * 2017-08-04 2019-02-07 Ifm Electronic Gmbh Light section sensor and method for operating a light section sensor

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3919917A1 (en) * 1989-06-19 1991-01-03 Pepperl & Fuchs Optical sensor identifying and/or locating object - uses matrix of discret light sources at known spacing and main radiation angle
WO1991008439A1 (en) * 1989-12-05 1991-06-13 Böhler Gesellschaft M.B.H. Process and arrangement for optoelectronic measurement of objects
DE4007502A1 (en) * 1990-03-09 1991-09-12 Zeiss Carl Fa METHOD AND DEVICE FOR CONTACTLESS MEASUREMENT OF OBJECT SURFACES
DE4007500A1 (en) * 1990-03-09 1991-09-12 Zeiss Carl Fa METHOD AND DEVICE FOR CONTACTLESS MEASUREMENT OF OBJECT SURFACES
DE4129796A1 (en) * 1990-03-09 1993-04-01 Zeiss Carl Fa Stripe-projection contactless measurement of object surfaces - involves phase comparison of distorted lines on object surface, stored reference values, grating periodicity and geometrical constants of equipment.
DE4115445C2 (en) * 1990-07-05 1994-02-17 Reinhard Malz Method for recording a three-dimensional image of an object according to the active triangulation principle and device therefor
US5636025A (en) * 1992-04-23 1997-06-03 Medar, Inc. System for optically measuring the surface contour of a part using more fringe techniques

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3930632A1 (en) * 1989-09-13 1991-03-14 Steinbichler Hans METHOD FOR DIRECT PHASE MEASUREMENT OF RADIATION, IN PARTICULAR LIGHT RADIATION, AND DEVICE FOR CARRYING OUT THIS METHOD
DE4120115C2 (en) * 1991-06-19 1996-06-27 Volkswagen Ag Non-contact method for determining the spatial coordinates of object points
DE19738179C1 (en) * 1997-09-02 1999-05-12 Bernward Maehner Optical measurement of spatial coordinates of object points

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3919917A1 (en) * 1989-06-19 1991-01-03 Pepperl & Fuchs Optical sensor identifying and/or locating object - uses matrix of discret light sources at known spacing and main radiation angle
WO1991008439A1 (en) * 1989-12-05 1991-06-13 Böhler Gesellschaft M.B.H. Process and arrangement for optoelectronic measurement of objects
DE4007502A1 (en) * 1990-03-09 1991-09-12 Zeiss Carl Fa METHOD AND DEVICE FOR CONTACTLESS MEASUREMENT OF OBJECT SURFACES
DE4007500A1 (en) * 1990-03-09 1991-09-12 Zeiss Carl Fa METHOD AND DEVICE FOR CONTACTLESS MEASUREMENT OF OBJECT SURFACES
DE4129796A1 (en) * 1990-03-09 1993-04-01 Zeiss Carl Fa Stripe-projection contactless measurement of object surfaces - involves phase comparison of distorted lines on object surface, stored reference values, grating periodicity and geometrical constants of equipment.
DE4115445C2 (en) * 1990-07-05 1994-02-17 Reinhard Malz Method for recording a three-dimensional image of an object according to the active triangulation principle and device therefor
US5636025A (en) * 1992-04-23 1997-06-03 Medar, Inc. System for optically measuring the surface contour of a part using more fringe techniques

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001059404A1 (en) * 2000-02-09 2001-08-16 Volvo Personvagnar Ab Arrangement and method for measuring surface irregularities at an object
US6577404B2 (en) 2000-02-09 2003-06-10 Volvo Personvagnar Ab Arrangement and method for measuring surface irregularities
EP1209486A2 (en) * 2000-10-20 2002-05-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Range finder, three-dimensional measuring method and light source apparatus
EP1209486A3 (en) * 2000-10-20 2004-12-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Range finder, three-dimensional measuring method and light source apparatus
DE10143504A1 (en) * 2001-09-05 2003-03-20 Sick Ag Monitoring of an area using an optoelectronic sensor, whereby illuminating light is transmitted with two different patterns to improve detection of homogenous objects and to improve system functionality testing
EP1300691A2 (en) * 2001-09-05 2003-04-09 Sick AG Surveillance method and optoelectronic sensor
EP1300691A3 (en) * 2001-09-05 2004-06-30 Sick AG Surveillance method and optoelectronic sensor
US6940060B2 (en) 2001-09-05 2005-09-06 Sick Ag Monitoring method and optoelectronic sensor
WO2006031143A1 (en) 2004-08-12 2006-03-23 A4 Vision S.A. Device for contactlessly controlling the surface profile of objects
EP1783453A1 (en) * 2004-08-12 2007-05-09 A4 Vision S.A. Device for contactlessly controlling the surface profile of objects
EP1783453A4 (en) * 2004-08-12 2012-05-30 A4 Vision S A Device for contactlessly controlling the surface profile of objects
US8238661B2 (en) 2004-08-12 2012-08-07 Bioscrypt, Inc. Device for contactlessly controlling the surface profile of objects
US9117107B2 (en) 2004-08-12 2015-08-25 Bioscrypt, Inc. Device for biometrically controlling a face surface
WO2007054351A1 (en) * 2005-11-11 2007-05-18 Siemens Aktiengesellschaft Measuring system for three-dimensional objects
US8878929B2 (en) 2009-05-27 2014-11-04 Koh Young Technology Inc. Three dimensional shape measurement apparatus and method
DE102010029319B4 (en) * 2009-05-27 2015-07-02 Koh Young Technology Inc. Apparatus for measuring a three-dimensional shape and method thereto
DE102009029179A1 (en) * 2009-09-03 2011-03-17 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Light source and device for recording fast processes
DE102011018597B3 (en) * 2011-04-21 2012-10-25 Vrmagic Gmbh Method for synchronized operation of a camera and a projector
DE102011018597B9 (en) * 2011-04-21 2013-01-24 Vrmagic Gmbh Method for synchronized operation of a camera and a projector
US10045015B2 (en) 2011-04-21 2018-08-07 Vrmagic Gmbh Method for operating a camera and a projector in a synchronized manner
JP2013124937A (en) * 2011-12-15 2013-06-24 Ckd Corp Three-dimensional measuring device
DE102016223671A1 (en) * 2016-11-29 2018-05-30 Continental Automotive Gmbh Illumination system for the determination of geometric properties as well as driver assistance system and method
US10836301B2 (en) 2016-11-29 2020-11-17 Conti Temic Microelectronic Gmbh Lighting system for ascertaining geometric properties, and driver assistance system and method therefor
DE102017004428A1 (en) * 2017-05-08 2018-11-08 Universität Stuttgart Method and device for robust, deep-scanning focusing strip triangulation with multiple wavelets
DE102017004428B4 (en) 2017-05-08 2018-11-29 Universität Stuttgart Method and device for robust, deep-scanning focusing strip triangulation with multiple wavelets
US10866088B2 (en) 2017-05-08 2020-12-15 Universität Stuttgart Method and arrangement for robust, depth-scanning/focusing strip triangulation by means of a plurality of wavelets
WO2019025096A1 (en) * 2017-08-04 2019-02-07 Ifm Electronic Gmbh Light section sensor and method for operating a light section sensor
CN110573831A (en) * 2017-08-04 2019-12-13 Ifm电子股份有限公司 Light section sensor and method for operating a light section sensor

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