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DE19542086C2 - Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor - Google Patents

Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor

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DE19542086C2
DE19542086C2 DE19542086A DE19542086A DE19542086C2 DE 19542086 C2 DE19542086 C2 DE 19542086C2 DE 19542086 A DE19542086 A DE 19542086A DE 19542086 A DE19542086 A DE 19542086A DE 19542086 C2 DE19542086 C2 DE 19542086C2
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Description

Stand der Technik
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor, der ein im wesentlichen binäres Ausgangs­ signal abgibt.
Zur Bestimmung der Lage eines Bauteiles oder einer Winkel­ stellung werden Sensoren eingesetzt, deren Ausgangssignal im wesentlichen zwei Zustände annehmen kann, nämlich einen Zu­ stand, bei dem das Signal "High" ist, und einem Zustand, bei dem es "Low" ist.
Solche Sensoren sind beispielsweise Hall-Sensoren bzw. Hall-Schalter, die bewegbare Teile abtasten, an deren Ober­ fläche sich beispielsweise charakteristische Magnetstruktu­ ren befinden. Je nachdem ob ein Nordpol oder ein Südpol dem Hall-Element gegenübersteht, ist das Ausgangssignal des Sen­ sors "High" oder "Low".
Die Beschreibung des Aufbaus und der Funktionsweise von integrierten Hall-Effekt-Sensoren ist beispielsweise der Zeitschrift Elektronic Industry 7-1995 zu entnehmen. In die­ ser Druckschrift ist ein Artikel von P. Schieffer mit der Bezeichnung "Integrierte Hall-Effekt-Sensoren zur Positions- und Drehzahlerkennung" abgedruckt, in dem unter anderem beschrieben wird, wie ein Hall-Sensor beim Annähern eines Südpols eines Magneten umschaltet. Der Aufbau dieses Hall-Sensors ist so, daß ein Chip, der den Hall-IC trägt mit einem ersten Anschluß an Versorgungsspannung liegt und mit einem zweiten Anschluß über einen Widerstand auf Masse geführt wird. An diesem zweiten Anschluß läßt sich das Aus­ gangssignal des Hall-Sensors abgreifen. Ein weiterer Eingang des Hall-ICs ist über einen weiteren Widerstand ebenfalls auf Versorgungsspannung gelegt. Dieser Eingang führt auf einen Transistor, der Bestandteil des ICs ist und als soge­ nannte "Open-Collector-Ausgangsstufe" wirkt.
Bei der bereits erwähnten Annäherung eines Südpoles eines Magneten überschreitet das Signal der Hall-Sonde eine Ein­ schaltschwelle und der Open-Collector-Ausgang wird durchge­ schaltet, das am Ausgang des Hall-ICs liegende Signal nimmt einen "Low" Zustand an. Wird der Magnet wieder vom IC ent­ fernt, wird beim Unterschreiten des der Ausgangsschwelle entsprechenden Magnetfeldes der Open-Collector-Ausgang wie­ der hochohmig und das Ausgangssignal des Hall-Sensors wech­ selt in den "High"-Zustand.
Mit solchen Hall-Sensoren lassen sich nicht nur Nord- oder Südpole erkennen, sondern es ist auch möglich, beispielswei­ se eine ferromagnetische Blende zu erfassen, die zwischen dem Hall-IC und einem gegenüberliegenden Magneten durch­ läuft. Generell sind solche Hall-Effekt-Sensoren bei einer Vielzahl von möglichen Anwendungen einsetzbar. Ein Beispiel für den Einsatz von mehreren Hall-Effekt-Sensoren wird auch in der internationalen Patentanmeldung PCT/DE 95/00343 ange­ geben. Die dort beschriebene Lösung zeigt auf, wie der Lenk­ winkel eines Fahrzeugs mit Hilfe einer Anzahl von Hall-Sensoren ermittelt wird. Dieses bekannte System zur Lenkwinkelerkennung besteht aus einem Feinsystem mit einer Scheibe, die an ihrem Umfang innerhalb einer Spur Aussparun­ gen aufweist. Diese drehbare Scheibe wird mit Hilfe mehre­ rer, in gleichmäßigen Winkelabständen angeordneter Hall-Sensoren abgetastet, im Zusammenwirken von Scheibe und Sensoren entsteht ein Signal, das einen Code wiedergibt, der eine Absolutwerterkennung innerhalb einer Lenkradumdrehung ermöglicht. Die Scheibe besteht dabei beispielsweise aus magnetisch gut leitendem Blech und ist fest mit der Lenk­ welle verbunden. Die Aussparungen in der sich mit der Lenk­ welle drehenden Scheibe werden mit Hilfe von neun am Umfang der Scheibe angeordneten Magnet-Hall-Schranken abgetastet, diese Hall-Schranken sind Bestandteil eines Hall-Sensors, an dessen Ausgang eine logische 1 ("High") entsteht, wenn zwi­ schen Magnet und Hall-Schranke kein Blech ist und eine logische 0 ("Low") entsteht, wenn der Magnetfluß durch ein Blechsegment der Scheibe unterbrochen ist.
Da bei einem solchen System für jede Winkelstellung inner­ halb von 360° ein eindeutiger Code erhalten wird, kann sofort nach dem Einschalten eine Aussage über die Winkel­ stellung getroffen werden, sofern sichergestellt wird, daß alle Hall-Sensoren einwandfrei arbeiten. Wird zusätzlich noch ein Grobsystem eingesetzt, mit einer codierten Scheibe, die sich mittels eines Getriebes um 1 : 4 untersetzt dreht und mit zugehörigen Sensoren abgetastet wird, kann der erfaßbare Winkelbereich auf 720° ausgedehnt werden.
Falls der aus der PCT/DE 95/00343 bekannte Lenkradwinkelsen­ sor im Zusammenhang mit einer Fahrdynamikregelung eingesetzt werden soll, wird eine Eigensicherheit verlangt, diese For­ derung bedeutet, daß alle Hall-Sensoren des Systems entweder zuverlässig funktionieren müssen oder daß ein Ausfall eines Sensors möglichst schnell und zuverlässig erkannt werden kann.
Aus der DE 44 00 437 A1 ist eine Halbleitersensorvorrichtung bekannt, die neben der üblichen Signalauswertung eine Feh­ lererkennung aufweist. Ein Fehler der Halbleitersensorvor­ richtung wird erkannt, wenn das Ausgangssignal einen durch eine obere und eine untere Grenze definierten Bereich ver­ lässt.
Die Druckschrift DE 44 09 892 A1 beschreibt einen Sensor zur Erfassung eines Lenkwinkels mit einem ersten Sensorelement zur Erzeugung eines Grobsignales und zwei weiteren Senso­ relementen zur Erzeugung zweier Feinsignale. Da in bestimm­ ten Umschaltbereichen der Feinsignale ungenaue Signale auf­ treten können, werden Maßnahmen angegeben, die Fehlmessungen in diesen Bereichen verhindern. Eine Fehlererkennung mittels Einspeisung von Rechtecksignalen wird nicht angegeben.
Die Aufgabe der Erfindung besteht in der schnellen und zuve­ lässigen Fehlererkennung und wird gelöst durch die Merkmale des Patentanspruchs 1.
Vorteile der Erfindung
Die erfindungsgemäße Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor mit den Merkmalen des Anspruchs 1 hat den Vorteil, daß sofort nach dem Einschalten ein Ausfall des Sensors sicher und zuverlässig erkannt wird, so daß verhin­ dert wird, daß ein fehlerhaftes Ausgangssignal weiter verar­ beitet wird. Erzielt wird dieser Vorteil, indem der Open- Collector-Anschluß des Hall-Sensors oder der Hall-Sensoren als zusätzlicher Anschluß nach außen geführt wird, so daß ein Hall-Sensor erhalten wird, der einen Versorgungsspan­ nungsanschluß, einen Anschluß zum Open-Collector sowie einen Masse Anschluß und einen getrennten Anschluß zum Abgriff der Signalspannung aufweist. Es wird dann den ersten drei An­ schlüssen eine in geeigneter Weise modulierte Versorgungs­ spannung zugeführt, die jeweils entweder den Zustand "High" oder den Zustand "Low" aufweist. Je nach Schaltzustand des Ausgangssignales, also je nachdem ob das Hall-Element einem Magneten bzw. einer Blende oder einer Lücke gegenübersteht, kann das Ausgangssignal auf Leitungsbruch und Kurzschluß überprüft werden. Dabei wird letztendlich überprüft, ob bei einer temporären Modulation der drei Versorgungsspannungen sich die Signalspannung in der zu erwartenden Weise verhällt oder nicht. Im letzteren Fall ist eine Fehlfunktion erkannt.
Zeichnung
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Dabei zeigt Fig. 1 den Aufbau eines Sensors, beispielsweise eines Hall-Elements einschließlich der zuge­ hörigen Auswerteschaltung. In Fig. 2 sind die vorgenommenen Versorgungsspannungs Modulationen sowie die sich einstellen­ den Signalspannungen über der Zeit aufgetragen.
Beschreibung
In Fig. 1 ist ein Beispiel für einen Sensor dargestellt, dessen Aufbau die erfindungsgemäße Fehlererkennung ermög­ licht. Dabei besteht das Sensorelement S aus einer Brücken­ schaltung von vier Widerständen R1, R2, R3, R4. Das Sensor­ element S hat einen Anschluß A1, über den üblicherweise die Versorgungsspannung UV zugeführt wird.
Ein weiterer Anschluß A3 des Sensorelements führt zu einer Klemme K3, über die die Spannung U3 zuführbar ist. Ein wei­ terer Anschluß des Sensorelements S, an dem die Signalspan­ nung US1 abgreifbar ist, führt auf einen Operationsverstär­ ker, in dem die vom Sensorelement gelieferte Signalspan­ nung US1 in geeigneter Weise aufbereitet und verstärkt wird. Das Ausgangssignal des Operationsverstärkers ist üblicher­ weise bereits ein binäres Signal, das entweder "High " oder "Low" ist. Dieses Signal wird zur Basis des Transistors T geführt, der zusammen mit dem Widerstand RC den Open-Col­ lector-Ausgang der Auswerteschaltung bildet. Die Verschal­ tung des Transistors ist so, daß der Emitter mit dem An­ schluß A3 verbunden ist und der Collector direkt zu einem Anschluß A4 führt, an dem die aufbereitete Signalspannung US abgreifbar ist. Weiterhin ist der Collector des Transistors T über den Widerstand RC zum Anschluß A2 geführt. Die be­ schriebene Anordnung ist beispielsweise in einem integrier­ ten Schaltkreis IC integriert.
Mit der in der Fig. 1 dargestellten Schaltungsanordnung läßt sich eine Fehlererkennung, beispielsweise die Erkennung eines Leitungsbruchs oder eines Kurzschlußes durchführen. Dazu werden die an den Anschlüssen A1, A2, A3 liegenden Spannungen U1, U2, U3 der Auswerteeinrichtung A zugeführt, wobei die Spannungszufuhr über Schaltmittel S1, S2, und S3 in wählbarer Weise unterbrochen werden kann. Ein möglicher zeitlicher Verlauf der Spannungen U1, U2, U3 in der Auswer­ teeinrichtung A ist in Fig. 2 dargestellt. Außer den zuge­ führten Spannungen U1, U2, U3 sind in Fig. 2 auch noch die Spannungen US0 und US1 über der Zeit t dargestellt. US0 be­ zeichnet dabei den Spannungsverlauf am Ausgang des Hall-Sensors beim Schaltzustand 0 und US1 bezeichnet die Spannung am Ausgang 4 beim Schaltzustand 1, also bei dem Zu­ stand, bei dem dem Sensorelement S kein Magnet bzw. kein ferromagnetisches Material zugeordnet ist.
Die Auswertung des Verlaufs der Spannung US an Klemme A4 er­ folgt in einer nachgeschalteten Auswerteeinrichtung A. Dies kann ein einfacher Spannungsmesser sein, bei der Auswerte­ einrichtung A kann es sich auch um einen Mikrocontroller oder um das Steuergerät einer Brennkraftmaschine handeln. In jedem Fall laufen in der Auswerteeinrichtung A Überprüfungen ab, ob sich die Spannungen US0 bzw. US1 in der in Figür 2 aufgetragenen Weise verhalten, sofern die ebenfalls in Fig. 2 aufgezeigten Spannungsmodulationen durch Öffnen bzw. Schließen der Schaltmittel S1, S2, S3 durchgeführt werden. Weshalb die Spannungsverläufe sich in der in Fig. 2 darge­ stellten Weise verhalten müssen, soll im Folgenden kurz skizziert werden:
Im mit 1 bezeichneten Zeitintervall sind die Spannungen U1 und U2 High (1) die Spannung U3 ist Low (0). Befindet sich das Sensorelement im Schaltzustand 0, ist die Spannung US am Anschluß A4 bei korrekter Funktionsweise Low (0). Befindet sich dagegen das Sensorelement im Schaltzustand 1 muß am Ausgang A4 die Spannung US "High" (1) sein. Im Zeitinter­ vall 1 ist die übliche Spannungsversorgung dargestellt. Die Versorgungsspannung UV = U1 für das Sensorelement S sowie die Spannung am Open-Collector ist also "High", die Spannung am Anschluß A3 gleich 0, so daß der Sensor das zu erwartende Signal 0 oder 1 je nach Schaltzustand abgeben muß.
Im Zeitintervall 2 wird die eigentliche Versorgungsspan­ nung U1 abgeschaltet, während die Spannungen U2 und U3 ge­ genüber dem Zeitintervall 1 unverändert bleiben. In diesem Fall liegt der Anschluß A4 auf einem Spannungspegel, der "High" (1) ist, denn der Transistor T sperrt und die Span­ nung U2 gelangt über den Widerstand RC an den Anschluß A4. Im Schaltzustand 1 liegt an der Basis des Transistors T und am Collector des Transistors T jeweils ein Spannungsniveau "High", so daß auch am Anschluß A4 Spannung auf "High" liegt.
Im Zeitintervall 3 wird dem Anschluß A3 eine Spannung zuge­ führt, die "High" (1) ist. Da U1 "Low" und U2 "High" ist muß die Spannung US am Ausgang A4 "High" sein unabhängig davon, ob der Schaltzustand 0 oder 1 vorliegt.
In den übrigen Zeitintervallen 5, 6, 7, 8 wird beim Übergang von einem Intervall zum nächsten ebenfalls jeweils eine der Spannungen U1, U2, U3 verändert, also von "High" nach "Low" oder umgekehrt geschaltet. Es müssen sich dann die unter US0 bzw. US1 dargestellten Änderungen ergeben. Tritt wenigstens eine der zu erwartenden Änderungen der Spannungen US0 bzw. US1 nicht ein, wird ein Fehler erkannt.
Das Intervall 9 entspricht wieder dem Intervall 1. Späte­ stens nach Durchlaufen der 8 Zeitintervalle von 1 bis 9 muß eine der zu erwartenden Signaländerungen für US0 oder US1 nicht aufgetreten sein, falls irgendein Fehler aufgetreten ist. Sind dagegen alle Signaländerungen von US0 bzw. US1 tatsächlich aufgetreten, ist sichergestellt, daß kein Fehler vorliegt.
Die in Fig. 2 dargestellte temporäre Modulation der Versor­ gungsspannungen U1, U2, U3 kann beispielsweise bei jeder neuen Inbetriebnahme des Sensors abgearbeitet werden. Es ist auch möglich, nach vorgebbaren Zeiten bzw. vorgebbaren Be­ triebsdauern eine solche temporäre Spannungsmodulation zur Fehlererkennung durchzuführen. Bei jedem der durchgeführten Testläufe mit Spannungsmodulation ist eine neue Fehlererken­ nung durchführbar.
Die vorgeschlagene Fehlererkennung ist besonders im Zusam­ menhang mit Hall-Elementen einsetzbar, jedoch ist sie auch im Zusammenhang mit anderen Sensoren, die ein im wesentli­ chen binäres Ausgangssignal liefern verwendbar, wobei we­ sentlich ist, daß die zu überwachenden Sensoren mehrere An­ schlüsse aufweisen, über die temporäre Modulationen der zu­ geführten Spannungen möglich sind.
Die vorgeschlagene Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor kann beispielsweise bei einem Lenkwinkelsensor einge­ setzt werden, wie er aus der internationalen Patentanmeldung PCT/DE 95/00343 bekannt ist. Es können dann sowohl die Sen­ soren (z. B. Hall-Sensoren) des Feinsystems als auch die des Grobsystems überwacht werden, wobei die Sensoren dann ebenfalls im Open-Collector-Betrieb zu betreiben sind. Ein Fehler eines Sensors kann damit sofort erkannt werden.

Claims (6)

1. Einrichtung zur Fehlererkennung bei einem Sensor, der ein binäres Ausgangssignal abgibt und Anschlüsse zur Span­ nungsversorgung (A1) und zur Verbindung mit Masse (A3) aufweist, mit Signalaufbereitungsmitteln, die das binäre Ausgangssignal (US1) der Basis eines Transistors (T) ei­ ner Open-Collector-Ausgangsstufe zuführen, wobei der Emitter des Transistors (T) mit dem Sensorelement (S) und dem Masseanschluss (A3) verbunden ist und dessen Collec­ tor mit dem Anschluss (A4), an dem die Signalspannung ab­ greifbar ist, verbunden ist und über einen Widerstand (RC) mit einem weiteren Anschluss (A2) in Verbindung steht, mit einer weiteren Aufbereitungsschaltung (A), die den Eingängen (A1, A2, A3) des integrierten Schaltkreises (IC) die Spannungen (U1, U2, U3) zuführt und deren Reak­ tionen auf die Spannung (US) zur Fehlererkennung auswer­ tet.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Sensorelement (S), die Aufbereitungsschaltungsmittel, die wenigstens einen Operationsverstärker (OP) umfassen sowie der Transistor (T) und der Widerstand (RC) in einen integrierten Schaltkreis (IC) integriert sind.
3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Spannungen (U1, U2, U3) die Zustände "High" (1) oder "Low" (0) annehmen können und der Spannungsverlauf in Zeitintervalle eingeteilt ist und eine Umschaltung von "High" zu "Low" bzw. "Low" zu "High" so erfolgt, dass in­ nerhalb eines Zeitintervalles nur eine Umschaltung er­ folgt.
4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Spannungsverläufe (U1, U2, U3) nach 8 Zeitperioden wiederholen.
5. Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, dass mehrere Sensorelemente (S) vorhanden sind, dass die Funktionsfähigkeit jedes dieser Sensorelemente durch temporäre Modulation der Versor­ gungsspannung überwacht wird, wobei die Modulation der Versorgungsspannungen (U1, U2, U3) entweder gleichzeitig oder zeitlich versetzt erfolgt.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorelemente (S) Hall-Elemente sind, die Bestand­ teil eines Lenkwinkelsensors sind, der wenigstens eine codierte Scheibe umfasst, die fest mit der Lenkwelle ver­ bunden ist und an ihrer Oberfläche eine Struktur auf­ weist, die in Verbindung mit den zugeordneten Sensorele­ menten (S) einen Absolutcode bildet, der für jede Winkel­ stellung eindeutig ist.
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PCT/DE1996/001805 WO1997018479A1 (de) 1995-11-11 1996-09-24 Einrichtung zur fehlererkennung bei einem sensor
JP9518488A JPH10512964A (ja) 1995-11-11 1996-09-24 センサのエラー識別装置
US08/887,214 US6014091A (en) 1995-11-11 1996-09-24 Sensor device, especially a hall sensor, with a binary output and a fault detection circuit

Applications Claiming Priority (1)

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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19722017B4 (de) * 1997-05-27 2012-03-08 Robert Bosch Gmbh Elektrische Schaltung und Verfahren zur Überwachung eines Bauelements
DE19739971A1 (de) * 1997-09-11 1999-06-02 Autoliv Dev Schalteinrichtung zur Kontrolle der Schließstellung eines Gurtschlosses
DE10037495B4 (de) * 2000-08-01 2006-07-06 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen einer Fehlfunktion eines Sensors oder eines Leitungsbruchs
DE10047994B4 (de) * 2000-09-26 2005-09-01 ZF Lemförder Metallwaren AG Hall-Sensor-Bauelement
US6642711B2 (en) * 2001-01-24 2003-11-04 Texas Instruments Incorporated Digital inductive position sensor
US7038445B2 (en) * 2002-08-28 2006-05-02 Scan Systems, Corp. Method, system and apparatus for ferromagnetic wall monitoring
DE50310245D1 (de) * 2003-06-11 2008-09-11 Infineon Technologies Ag Halbleiter-Chip mit einer Überwachungseinrichtung, durch welche überwachbar ist, ob der Halbleiter-Chip mechanisch beschädigt ist
US20060025390A1 (en) * 2004-07-28 2006-02-02 Roby Russell R Treatment of hormone allergy and related symptoms and disorders
DE102004043461B4 (de) * 2004-09-08 2008-04-10 Infineon Technologies Ag Signalaufbereitungsanordnung und Verfahren zum Aufbereiten eines Signals
US7397238B2 (en) 2005-07-28 2008-07-08 Walters William T Methods and apparatus for inspecting materials
DE102010003254A1 (de) * 2010-03-25 2011-09-29 Continental Automotive Gmbh Kurzschlussüberprüfungsverfahren eines Sensors
US8330537B1 (en) 2010-07-23 2012-12-11 National Semiconductor Corporation Low noise, high CMRR and PSRR input buffer
JP5411818B2 (ja) * 2010-08-26 2014-02-12 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 半導体装置
JP5678287B2 (ja) * 2010-12-09 2015-02-25 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
US9383425B2 (en) * 2012-12-28 2016-07-05 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for a current sensor having fault detection and self test functionality
EP3080627B1 (de) 2013-12-26 2020-10-14 Allegro MicroSystems, LLC Verfahren und vorrichtung zur sensordiagnose
US9739846B2 (en) 2014-10-03 2017-08-22 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors with self test
EP3382344B1 (de) 2017-03-30 2021-12-15 Melexis Technologies SA Fehlererkennung
EP3401646B1 (de) 2017-05-09 2020-04-15 Melexis Technologies SA Brückensensorfehlerprüfung
US11194004B2 (en) 2020-02-12 2021-12-07 Allegro Microsystems, Llc Diagnostic circuits and methods for sensor test circuits
FR3108975B1 (fr) * 2020-04-01 2022-02-25 Vitesco Technologies Procédé de diagnostic capteur vitesse/position
GB2619290A (en) * 2022-05-29 2023-12-06 Dukosi Ltd Battery management system and monitoring devices
JP2024085209A (ja) * 2022-12-14 2024-06-26 ローム株式会社 半導体集積回路装置及び車両

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4400437A1 (de) * 1993-01-11 1994-07-14 Mitsubishi Electric Corp Halbleitersensorvorrichtung
DE4409892A1 (de) * 1994-03-23 1995-09-28 Bosch Gmbh Robert Sensor zur Erfassung des Lenkwinkels

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05102549A (ja) * 1991-10-04 1993-04-23 Nec Corp 集積化磁気抵抗センサ
DE4412982C1 (de) * 1994-04-15 1995-09-07 Audi Ag Vorrichtung zur Fehlerüberprüfung von Wheatston'schen Meßbrücken

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4400437A1 (de) * 1993-01-11 1994-07-14 Mitsubishi Electric Corp Halbleitersensorvorrichtung
DE4409892A1 (de) * 1994-03-23 1995-09-28 Bosch Gmbh Robert Sensor zur Erfassung des Lenkwinkels

Also Published As

Publication number Publication date
US6014091A (en) 2000-01-11
WO1997018479A1 (de) 1997-05-22
DE19542086A1 (de) 1997-05-15
EP0803068A1 (de) 1997-10-29
JPH10512964A (ja) 1998-12-08

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