DE1950937B2 - Halbleiterbauelement zur Erzeugung von in der Frequenz steuerbaren Mikrowellen - Google Patents
Halbleiterbauelement zur Erzeugung von in der Frequenz steuerbaren MikrowellenInfo
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Description
40
Die Erfindung bezieht sich auf ein Halbleiterhauclement zur Erzeugung von in der Frequenz steuerbaren
Mikrowellen.
Zur Erzeugung von Mikrowellen sind bereits Halbleiterbauelemente bekannt, die als grundlegenden
Bestandteil einen pn-Übergang enthalten und den in dem Halbleiterkörper auftretenden Gunn-Effekt zeigen.
Alle derartigen bekannten Mikrowellen erzeugenden Μ
Halbleiterbauelemente haben jedoch nur zwei Elektroden, so daß in dem Halbleiterbauelement lediglich die
Stromdichte veränderbar ist. Deshalb stieß es bisher auf Schwierigkeiten, eine Frequenzsteuerung, wie etwa eine
Abstimmung, eine Modulation od. dgl. durch ein solches Halbleiterbauelement selbst zu erreichen. So wurde
bereits bei einer Oszillatorvorrichtung, in der als Mikrowellen erzeugendes Element ein Halbleiterbauelement
verwandt wurde, das schwingende Element, das gewöhnlich in einem Hohlraumresonator angeordnet b()
wird, in einem vorbestimmten Schwingungszustand gehalten, und eine Frequenzsteuerung wurde durch eine
mechanische Einrichtung durchgeführt, die z. B. aus einer beweglichen Kurzschlußplatte bestand, die als
Kurzschlußkolben bezeichnet wird und an einem Ende h<i
des Hohlraumresonators angeordnet ist, oder die Frequenzsteuerung wurde durch eine Vorrichtung
ausgeführt, bei der ein abgestimmter Zustand mit Hilfe einer Abstimmvorrichtung erreicht wird, die als
EH-Abstimmvorrichtung (Höchstfrequenzabstimmvorrichtung) bezeichnet wird, die in einem Wellenleiter
angeordnet ist.
In der Zeitschrift »IEEE Transactions on Electron Devices«, Januar 1966, ist in dem Artikel »Elektronic
Tuning Effects in the Read Microwave Avalanche-Oiode«
auf den Seilen 169 bis 175 ein Steuerverfahren unter
Anwendung der Stromabhängigkeit bei einem schwingenden Element wie etwa einer als Avalanche-Diode
bezeichneten Mikrowellen-Schwingdiode mit einem pn-Übergang beschrieben, bei dem die Schwingfrequenz
von einem ihm zugeführten Strom abhängt. Bei diesem Verfahren ist es jedoch wegen der nicht
gleichmäßigen Abhängigkeit der Frequenzänderung von dem Strom sehr schwierig, die gewünschte
Steuerung zu erreichen. Außerdem tritt der Nachteil auf, daß das schwingende Element selbst schnell durch
das Auftreten des Dauerstroms zerstört wird, der dann auftritt, wenn es eine bestimmte Temperatur-Frequenz-Charakierislik
aufweisi.
Neuerdings ist ein Mikrowellcnmodulationssystem bekanntgeworden, bei dem ein veränderliches Reaktanzclemcnt,
wie etwa eine veränderliche Kapazitätsdiode od. dgl., in einen Übertragungskreis eingesetzt ist
und die Amplitudenmodulation durch die sogenannte Filterwirkung dieses Reaktanzelementes bewirkt wird.
Bei diesem System werden jedoch nicht nur die Verluste des Übertragungskreises erhöht, sondern es ist gleichfalls
notwendig, das Rauschen eines Modulationssignals äußerst stark zu begrenzen. Aus diesem Grunde ist
dieses System auf eine schmale Bandbreite beschränkt, weshalb die Anwendung dieses Systems auf technische
Schwierigkeiten stößt.
Es ist auch bereits ein Halbleiterbauelement bekannt (»IEEE Transactions on Electron Devices«, Band ED-14
(1967) Nr. 9 (Sept.) Seiten 535 bis 546, insbesondere Fig. 19 bis 21 auf Seite 545, Seite 546, linke Spalte,
Absatz 2 bis rechte Spalte Absatz 1), mit der zwar Mikrowellen erzeugt werden können, jedoch ist eine
Steuerung der Frequenz dieser Mikrowellen nicht möglich. Bei diesem Halbleiterbauelement wird der
Gunn-Effekt zur Erzeugung der Mikrowellen genutzt. Dabei v/ird eine Sperrschicht verwendet, um einen
hohen ohmschen Widerstand herzustellen, über den ein Impuls abgeleitet wird, wenn der Hochfeld-Bercich
durch den betreffenden Konlakticrungsbereich läuft. Eine Beeinflussung der Frequenz der erzeugten
Mikrowellen über die Kapazität der Sperrschicht ist bei dieser Vorrichtung weder beabsichtigt noch findet sie in
irgend einer Weise statt.
Weiterhin sind Schalter, Begrenzer und parametrische Verstärker bekannt (»Proceedings of the IEEE«
Band 52 (1964) Nr. 12 (Dez.) Seiten 1617 bis 1623, insbesondere Fig. 5, 6 und 8 auf Seite 1620, Seite 1619
rechte Spalte Absatz 2 und letzter Absatz, Seite 1621 linke Spalte bis rechte Spalte Absatz 4), die jedoch keine
Vorrichtungen zum Erzeugen von Mikrowellen darstellen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Halbleiterbauelement der eingangs genannten Art zu
schaffen, das bei einfachem Aufbau eine wirkungsvolle Frequenzsteuerung der von ihm abgegebenen Mikrowellen
durch einfache Spannungsänderungen ermöglicht.
Diese Aufgabe ist dadurch gelöst, daß das Halbleiterbauelement wie in dem kennzeichnenden Teil des
Anspruchs 1 angegeben ausgebildet ist.
Bei dem erfindungsgemäßen Halbleiterbauelement wird der Effekt genutzt, daß die Frequenz von
Lawinendurchbrüchen in einem pn-Übergang durch die Reaktanz in einem angrenzenden Halbleiterbereich
beeinflußt werden kann. Ein solcher in seiner Reaktanz veränderlicher Bereich wird bei dem erfindungsgemäßen
Halbleiterbauelement durch eine Kapazitätsdiode gebildet. Mit dem erfindungsgemäßen Halbleiterbauelement
kann somit eine Änderung der Frequenz der erzeugten Mikrowellen durch einfache Spannungsände- iu
rung erreicht werden, wodurch eine schnei! ansprechende Frequenzsteuerung erreicht wird, die für automatische
Abstimmungen und für Frequenzmodulationen geeignet ist. Dabei kann das erfindungsgemäße
Halbleiterbauelement vorteilhafterweise in Miniaturform aufgebaut werden und ist auch zum Einbau in
integrierte Schaltkreise geeignet. Das erfindungsgemäße Halbleiterbauelement ist in der Regel in einem
Hohlraumresonator eingebaut, der von ihm die Mikrowellenenergie abnimmt und weiterleitet. Vorteilhaflcrweisc
können bei dem erfindungsgemäßen Halbleiterbauelement jedoch auch galvanische Kopplungen
vorgesehen sein.
In einer vorteilhaften Ausführungsform des Halbleiterbauelements
enthält die Kapazitätsdiode einen 2r> pn-Übergang oder eine Schottky-Sperrschicht, oder sie
ist eine MIS-Kapazitätsdiode.
Eine weitere vorteilhafte Ausführungsform des Halbleiterbauelements besteht darin, daß die Lawinendiode
und die Kapazitätsdiode auf einander gegenüber- jo liegenden Seiten des Halblcitersubstrates gebildet sind
und auf einer gemeinsamen Achse angeordnet sind.
In einer anderen vorteilhaften Ausführungsform des Halbleiterbauelements weisen die Lawinendiode und
die Kapazitätsdiode einen Mesa-Aufbau auf und sind auf Ji
der gleichen Seite des Halbleitersubstrates gebildet. Vorzugsweise sind die Mcsa-Erhebungen der Lawinendiode
und der Kapazitätsdiode konzentrisch zueinander angeordnet. Sie können jedoch auch nebeneinander
angeordnet sein. ·«)
Das Halbleiterbauelement nach der Erfindung wird im folgenden anhand schematischcr Zeichnungen an
Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein Schaltschcma, aus dem das Prinzip des erfindungsgemäßen Halbleiterbauelemcnlcs hervorgeht,
Fig. 2 und 3 Schnittansichten von Ausführungsformen
des erfindungsgemäßen llalbleiterbauelementes und
Fig. 4 eine grafische Darstellung zur Veranschauli- r>o
chung der Eigenschaften des crfindungsgcmäßen Halbleiterbauelementes.
Gemäß F i g. 1 ist ein Halbleiterbauelement mit einem ersten pn-Übergang 1 und einem zweiten pn-übergang
2 in einem Hohlraumresonator 3 angeordnet, wobei die pn-Übergänge 1 und 2 mit Spannungsquellen 4 und 5 (Ξ\
und £2) verbunden sind, durch die an diese pn-Übergänge
Vorspannungen in Sperrichtung angelegt werden.
Der erste pn-Übcrgang 1 ist so ausgebildet, daß er einen negativen Widerstand aufweist, wenn an ihn durch wi
die Spannungsquelle 4 eine Vorspannung in Sperrrichtung angelegt wird, die über der Durchbruchsspannung
liegt. Der zweite pn-Übergang 2 ist so ausgebildet, daß die pn-Übergangskapazität geändert wird, wenn an
diesen pn-Übergang durch die Spannungsquelle 5 eine "'· Null- oder negative Vorspannung angelegt wird. Somit
wird mit Hilfe dieser beiden pn-Übergänge eine vorbestimmte Mikrowellenschwingung erzeugt. Es
wurde festgestellt, daß, wenn eine Avalanche-Diode und eine veränderliche Kapazitätsdiode nebeneinander in
demselben Hohlraumresonator angeordnet werden, die Schwingungsfrequenz in weitern Umfange dadurch
geändert werden kann, daß man die Vorspannung steuert, die an die Kapazitätsdiode angelegt ist. Es hat
sich ergeben, daß man durch das Schwingungselement und das Reaktanzelemenl einen Resonanzkreis erhält,
bei dem die Resonanzkreiskonstanten durch die Kapazitätsdiode, die in einem Abstand von ein Viertel
der Wellenlänge oder weniger als ein Viertel der Wellenlänge der Mikrowellenschwingung angeordnet
ist, gesteuert werden können.
Mi· dem Halbleiterbauelement nach der Erfindung kann die Abstimmung des Resonanzkreises leicht und
wirksam elektrisch durchgeführt werden, so daß sich eine wesentliche Erleichterung für die Frequenzmodulation
und die automatische Frequenzsteuerung ergibt.
F i g. 2 zeigt ein Mikrowellen erzeugendes Halbleiterbauelement nach der Erfindung, bei dem die beiden
pn-Übergänge in Reihe angeordnet sind. Der erste und zwciie pn-Übergang 1 bzw. 2 in F i g. 2 entsprechen den
beiden pn-Übergängcn in Fig. I. In Fi g. 2 sind mit dem
Bezugszeichen 6 ein z. B. p-leitendes Germaniumsubstrat,
mit 7, T η-leitende Schichten, die auf dem Germaniumsubstrat durch ein Diffusionsverfahren
ausgebildet sind, 8, 8', 8" Metallelektroden, die einen ohmischen Kontakt mit den p- und -leitenden Schichten
bilden und mit 9 eine Wärme ableitende Metallplatte oder Wärmesenke bezeichnet. Bei diesem Halbleiterbauelement
wird der pn-Übcrgang 1 als negatives Widerstandselement verwendet, an das eine Spannung
E\ in Sperrichtung angelegt wird, die über der Durchbruchsspannung liegt, um einen Avalanche-Strom
(Lawinenstrom) durch den pn-Übergang 1 fließen zu lassen, so daß ein negativer Widerstand geschaffen wird,
und an den pn-Übcrgang 2 wird eine in Sperrichtung geschaltete Gleichspannungsvorspannung £2 angelegt,
um die statische Kapazität dieses pn-Überganges einzustellen, so daß durch dieses Halbleiterbauelement
ein Ausgangssignal mit einer gewünschten Schwingungsfrequenz erhalten werden kann. Eine Frequenzmodulation
kann dadurch erreicht werden, daß der Sperrspannung E2 an dem zweiten pn-Übergang 2 ein
Modulationssignal überlagert wird.
Bei dem Halbleiterbauelement nach der Erfindung kann eine Mikrowellenabstimmung und eine Mikrowellenmodulation
durchgeführt werden, ohne daß dem Avalanche-Strom ein Signal überlagert bzw. aufmodulierl
zu werden braucht. Deshalb kann der Avalanche-Strom ausreichend gesteuert werden, ohne daß das
Oszillatorelement durch Wärme zerstört wird.
Ein Halbleiterbauelement nach Fig. 2 wurde derart hergestellt, daß ein Siliziumdioxidfilm auf einer Oberfläche
eines Germaniumsubstrats gebildet wurde, das eine p-leitende Verunreinigungskonzentration von 5xlOlf>
Atomen pro Kubikzentimeter aufwies, und in diesem Siliziumdioxidfilm wurde ein Loch von ungefähr 20
Mikrometer Durchmesser gebildet, so daß ein Teil der Oberfläche des Germaniumsubstrats freilag, und hierauf
wurde von beiden Oberflächen dieses Substrats aus Antimon eindiffundieren gelassen, um in diesem Teil
einen pn-Planarübergang und auf der gesamten gegenüberliegenden Oberfläche des Substrats einen
pn-Übergang auszubilden. Sodann wurde aus dem Substrat, das die beiden pn-Übergänge aufwies und das
Schwingungselement bildete, ein Quadrat in der Größe von ungefähr 200 Mikrometer Seitenlänge, in dem der
pn-Planarübergang enthalten war, herausgeschnitten und in einen Hohlraumresonator eingebaut. Ein derartig
ausgebildetes Mikrowellen erzeugendes Halbleiterbauelement zeigt in dem Fall, daß durch den ersten
pn-Übergang 1 ein Avalanche-Strom von 35 niA floß
und daß an den zweiten pn-Übergang 2 eine Nullspannung angelegt wurde, am Ausgang eine
Schwingungsfrequenz von 10,5GHz, deren Leistung 10 Milliwatt betrug, während die Schwingungsfrequenz in
dem Fall, daß an den ersten pn-Übergang 1 ein Strom in der gleichen Höhe wie oben angelegt und an den
zweiten pn-Übergang eine Sperrspannung von 1 Volt angelegt wurde, um etwa 0,2 GHz höher lag als in dem
Fall, daß der zweite pn-Übergang 2 mit einer Spannung Null vorgespannt war.
In Fig. 3 ist eine andere Ausführungsform des
Halbleiterbauelements nach der Erfindung dargestellt, bei der zwei pn-Übergänge elektrisch zueinander
parallel angeordnet sind, wobei das Halbleitersubstrat aus einer p-leitenden Schicht 6 mit einem hohen
spezifischen Widerstand und einer anderen p-leitenden Schicht 6' mit einem niedrigen spezifischen Widerstand
besteht, auf dem zwei Mesa-Erhebungen ausgebildet sind, die n-lcitende Schichten 7 und 7' aufweisen. Bei
diesem Ausführungsbeispiel eines Halbleiterbauelements wurde Antimon (Sb) von der Oberfläche aus in
ein Germaniumsubstrat cindiffundieren lassen, das eine epitaktisch gewachsene Schicht aufwies, die eine
p-lcitende Verunreinigungskonzentration von 3x10l(>
Atomen pro Kubikzentimeter aufwies, wobei diese epitaktische Schicht über einer Schicht mit einer
p-leitenden Verunreinigungskonzentration von 3 χ ΙΟ18
Atomen pro Kubikzentimeter angeordnet war, so daß eine n-leilende Schicht von ungefähr 3,5 Mikrometer
Dicke gebildet wurde; hiernach wurden auf dem Germaniumsubstrat Dioden mit einem kreisförmigen
r> Mesa-Aufbau, von jeweils 100 Mikrometer Durchmesser
auf dem Gcrmaniumsubstrat ausgebildet, wobei diese Mcsa-F.rhcbungcn einen Abstand von 500
Mikrometer voneinander aufwiesen. Die mit diesem Halbleiterbauelement durchgeführten Versuche zeig-
lü ten, daß dann, wenn auf den ersten pn-Übergang I ein
Avalanchc-Strom von 100 mA gegeben und an den
/weiten pn-Übergang 2 eine Nullvorspannung angelegt wurde, die Ausgangsschwingung.sfrcqucnz 7,5GHz mit
einer Leistung von 80 Milliwatt aufwies, und daß dann,
ι1) wenn auf den ersten pn-Übergang 1 ein Strom in der
gleichen Größe wie oben gegeben und an den zweiten pn-Übergang 2 eine Sperrspannung von I oder 2 Volt
angelegt wurde, die Schwingungsfrcquenz um 2,5 MIIz
oder 4,5 MHz höher als in dem Fall lag, daß an den zweiten pn-Übcrgang 2 eine Vorspannung Null
angelegt wurde.
Mit einem Halbleiterbauelement nach der Erfindung, bei dem zwei Dioden, die den obenerwähnten
kreisförmigen Mesa-Aufbau aufwiesen, nebeneinander
?r> angeordnet sind, ist es möglich, Modulalionscharaktcristikcn,
wie sie in F i g. 4 gezeigt sind, dadurch zu erhalten, daß man einen Avalanche-Strom von 50 mA
durch den ersten pn-übergang 1 fließen läßt und daß man an den zweiten pn-Übergang 2 zusammen mit einer
3» Sperrvorspannung von minus 2 Volt ein Modulationssignal anlegt, das bei 200 kHz einen Abstand von Spitze
zu Spitze von 1 Volt aufweist.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (5)
1. Halbleiterbauelement zur Erzeugung von in der Frequenz steuerbaren Mikrowellen, dadurch
gekennzeichnet, daß an einem Halbleitersub- ">
strat (6) eines Leitfähigkeitstyps an einer Stelle mittels einer Halbleiterschicht (7) entgegengesetzten
Leitfähigkeittyps ein pn-Übergang einer Lawinendiode (1) gebildet ist, während an einer anderen
Stelle des Haibleilersubstrats (6) zusammen mit i" diesem eine Kapazitätsdiode (2) gebildet ist, und daß
an dem Halbleitersubstrat (6) und der den pn-Übergang bildenden Halbleiterschicht (7) jeweils eine
Elektrode (8,8') angebracht ist, die zusammen einen Spannungseingang für die Lawinendiode (1) bilden, <5
während die eine Elektrode (8") der Kapazitätsdiode (2) zusammen mit der an dem Halbleitersubstrat (6)
angebrachten Elektrode (8) einen Spannur.gseingasig
für die Frequenzsteuerung bildet.
2. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, da- x
durch gekennzeichnet, daO die Kapazitätsdiode (2) einen pn-Übergang oder eine Schottky-Sperrschicht
enthält oder eine M IS-Kapazitätsdiode ist.
3. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Lawinendiode (1) 2<5
und die Kapazitätsdiode (2) auf einander gegenüberliegenden Seiten des Halbleitersubstrates (6) gebildet
sind und auf einer gemeinsamen Achse angeordnet sind (F i g. 2).
4. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1 oder 2, *°
dadurch gekennzeichnet, daß die Lawinendiode (1) und die Kapazitätsdiode (2) einen Mcsaaufbau
aufweisen und auf der gleichen Seite des Halblcitersubslrats (6) gebildet sind (Fig. 3).
5. Halbleiterbauelement nach Anspruch 4, da- J5
durch gekennzeichnet, daß die Mesa-Erhebungen der Lawinendiode (I) und der Kapazitätsdiode (2)
konzentrisch zueinander angeordnet sind.
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Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3829743A (en) * | 1969-09-18 | 1974-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Variable capacitance device |
US3755752A (en) * | 1971-04-26 | 1973-08-28 | Raytheon Co | Back-to-back semiconductor high frequency device |
US3875535A (en) * | 1973-05-24 | 1975-04-01 | Rca Corp | Enhanced efficiency diode circuit |
US4068255A (en) * | 1975-10-16 | 1978-01-10 | Dionics, Inc. | Mesa-type high voltage switching integrated circuit |
US4481487A (en) * | 1981-08-14 | 1984-11-06 | Texas Instruments Incorporated | Monolithic microwave wide-band VCO |
USRE33469E (en) * | 1981-08-14 | 1990-12-04 | Texas Instruments Incorporated | Monolithic microwave wide-band VCO |
US4458215A (en) * | 1981-08-17 | 1984-07-03 | Rca Corporation | Monolithic voltage controlled oscillator |
US4568889A (en) * | 1983-08-31 | 1986-02-04 | Texas Instruments Incorporated | Distributed diode VCO with stripline coupled output and distributed variable capacitor control |
FR2567325B1 (fr) * | 1984-07-03 | 1986-11-14 | Thomson Csf | Element a capacite variable, commandable par une tension continue |
US6667539B2 (en) * | 2001-11-08 | 2003-12-23 | International Business Machines Corporation | Method to increase the tuning voltage range of MOS varactors |
FR2911773B1 (fr) | 2007-01-30 | 2009-03-27 | Tornier Sas | Methode et ensemble d'instrumentation chirurgicale pour poser une prothese totale d'epaule inversee,et prothese correspondante |
US8340145B2 (en) | 2009-05-29 | 2012-12-25 | Eth Zurich | Microwave circuit |
US9408652B2 (en) | 2010-04-27 | 2016-08-09 | Tornier Sas | Intra-articular joint replacement and method |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3141141A (en) * | 1961-12-29 | 1964-07-14 | Bell Telephone Labor Inc | Electronically tunable solid state oscillator |
US3518574A (en) * | 1964-05-01 | 1970-06-30 | Ibm | Injection laser device |
US3465265A (en) * | 1965-09-13 | 1969-09-02 | Tokyo Shibaura Electric Co | Frequency modulator using an n-type semiconductor oscillation device |
US3403306A (en) * | 1966-01-20 | 1968-09-24 | Itt | Semiconductor device having controllable noise characteristics |
US3524149A (en) * | 1968-02-23 | 1970-08-11 | Gen Telephone & Elect | Frequency modulated oscillator circuit utilizing avalanche diode |
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1969
- 1969-10-08 US US864684A patent/US3675161A/en not_active Expired - Lifetime
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- 1969-10-09 GB GB49599/69A patent/GB1281409A/en not_active Expired
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- 1969-10-10 NL NL696915362A patent/NL154365B/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1281409A (en) | 1972-07-12 |
NL6915362A (de) | 1970-04-14 |
DE1950937C3 (de) | 1978-12-07 |
NL154365B (nl) | 1977-08-15 |
US3675161A (en) | 1972-07-04 |
DE1950937A1 (de) | 1970-04-16 |
FR2020573A1 (de) | 1970-07-17 |
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