[go: up one dir, main page]

DE1524001B2 - Prüfschaltung für eine Auswahlschaltung - Google Patents

Prüfschaltung für eine Auswahlschaltung

Info

Publication number
DE1524001B2
DE1524001B2 DE1524001A DE1524001A DE1524001B2 DE 1524001 B2 DE1524001 B2 DE 1524001B2 DE 1524001 A DE1524001 A DE 1524001A DE 1524001 A DE1524001 A DE 1524001A DE 1524001 B2 DE1524001 B2 DE 1524001B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit
matrix
current
circuits
secondary windings
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE1524001A
Other languages
English (en)
Other versions
DE1524001A1 (de
Inventor
Donald Wayne Shrewsbury N.J. Huffmann (V.St.A.)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AT&T Corp
Original Assignee
Western Electric Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Western Electric Co Inc filed Critical Western Electric Co Inc
Publication of DE1524001A1 publication Critical patent/DE1524001A1/de
Publication of DE1524001B2 publication Critical patent/DE1524001B2/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/60Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors
    • H03K17/62Switching arrangements with several input- output-terminals, e.g. multiplexers, distributors
    • H03K17/6221Switching arrangements with several input- output-terminals, e.g. multiplexers, distributors combined with selecting means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/085Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes using codes with inherent redundancy, e.g. n-out-of-m codes
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/60Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/60Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors
    • H03K17/64Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors having inductive loads

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Prüfschaltung für eine Schaltung zur Auswahl einer aus einer Mehrzahl von Wählleitungen (Kreuzpunktbelastungen) mit einer Mehrzahl von wahlweise betätigbaren Stromkreiswegen (Zeilen- und Spaltenstromkreisen) und einer Einrichtung zur Lieferung von Treibstrominpulsen an einen ausgewählten betätigbaren Stromkreisweg, bei welcher jeder der wahlweise betätigbaren Stromkreiswege eine zwei Zustände aufweisende Prüfeinrichtung enthält, die eine Anzeigeeinrichtung dafür, ob Treibstrom an einen nicht ausgewählten betätigbaren Stromkreisweg gegeben wurde, aufweist.
In Datenverarbeitungsanlagen wird gewöhnlich ein großer Speicher zur Speicherung von Daten und Programmbefehlen, die einen Datenverarbeiter steuern, benutzt. Zur Herabsetzung des Aufwandes für die
Zugriffsschaltungen sind häufig Auswahlmatrizen vorgesehen, um Eingangs-Ausgangsschaltungen mit verschiedenen, wählbaren Speicherstellen zu koppeln. Eine solche Auswahlmatrix und der Speicher, an den sie angeschaltet ist, werden mit Vorteil auf der Grundlage koinzidenter Ströme betrieben. Eihe typische Koinzidenzstrom-Speicheranlage enthält eine horizontale Auswahlmatrix und eine vertikale Auswahlmatrix, die koinzidente Halbströme zur Betätigung von Speichermitteln an einer gewählten Adresse im Speicher liefern. Jede dieser Auswahlmatrizen weist Zellen- und Spaltenstromkreise auf, die mit den Adressen-Umsetzerschaltungen der Speicheranlage derart verbunden werden können, daß normalerweise nur ein Zeilenstromkreis und ein Spaltenstromkreis jeder Matrix erregt ist und einen Treibstromimpuls an eine einzige Kreuzpunktbelastung liefert. Jede Kreuzpunktbelastung der Auswahlmatrizen stellt einen Koordinaten-Treibstromkreis des Speichers dar, der beispielsweise ein Magnetspeicher sein kann.
Bestimmte Fehler, die in der Matrix oder in den Adressen-Umsetzerschaltungen auftreten, führen zu einem Nebenstromweg innerhalb der Matrix, der Treibstrom von einer gewählten Kreuzpunktbelastung der Matrix ableitet. Dureh den Nebenschluß wird also der an die gewählte Kreuzpunktbelastung, d.h. den Koordinaten-Treibstromkreis des Speichers, gelieferte Treibstrom herabgesetzt. Diese Art eines fehlerhaften Betriebs kann die Betätigung der Speichermittel an der gewählten Speicherstelle nachteilig beeinflussen. Es kann beispielsweise dazu führen, daß mehrere Speicherstellen gewählt werden und damit ein unbestimmtes Ablesen des Speichers oder möglicherweise eine Zerstörung der Information in einer Speicherstelle verursacht wird, in die nicht eingeschrieben werden soll.
Auswahlmatrizen für Speicher in Datenverarbeitungsanlagen werden meist direkt im Verlauf der normalen Wartungsprogrammfolgen geprüft. Bei einigen Anlagen wird jedoch das Matrix-Betriebsverhalten direkt mit Hilfe einer programmierten Operationsfolge geprüft, wobei der Inhalt bestimmter Speicherstellen in Kurzzeitspeicher eingegeben wird, während spezielle Prüfworte in deren Speicherstellen eingeschrieben und anschließend zum Vergleich mit bekannten Daten abgelesen werden. Mit Hilfe des Vergleichs wird. dann festgestellt, ob ein fehlerhaftes Einschreiben oder Ablesen in den bzw. aus dem Speicher als Ergebnis eines oder mehrerer Fehler in den Auswahlmatrizen stattgefunden hat oder nicht. Nach Durchführung dieser Wartungsoperationen werden die kurzzeitig gespeicherten Daten wieder in den Speicher zurückgegeben. Durch diese Art der Wartungsüberprüfung eines Speichers und seiner Zugriffschaltungen wird ein Großteil der verfügbaren Zeit des Datenbearbeiters benötigt. Außerdem muß die Überwachung in regelmäßigen Abständen wiederholt werden, um die Funktionsfähigkeit des Speichers sicherzustellen. Nach Feststellung eines Fehlers müssen geeignete Ausrüstungen außer Betrieb genommen und weitere programmierte Prüffolgen durchgeführt werden, um dasjenige Bauteil der Ausrüstungen zu identifizieren, bei dem eine Überprüfung durchzuführen ist.
Die vorliegende Erfindung will daher unter anderem die Zeitdauer herabsetzen, während der der Datenverarbeiter für Wartungsoperationen in Verbindung mit Speicherschaltungen belegt ist.
Bei einer bekannten Schaltungsanordnung zur Kontrolle der Auswahlschaltung eines Speichers (britische Patentschrift 977 134) ist für jede Speicherstelle eine Anzahl von Speicherelementen zum (zeitlichen
5 oder dauernden) Speichern eines mit der eigentlichen aufzubewahrenden Information identifizierenden Signals vorgesehen, und die Befehle werden in bestimmter Weise aufbereitet, um mit der dauernd gespeicherten Information verglichen zu werden. Eine
ίο unmittelbare Prüfung, ob das Zeilen- und Spalten-Adressen-System nur ein einziges Zeilen-Spaltenpaar gleichzeitig angewählt hat, erfolgt nicht.
Zur Erzielung einer Prüfanordnung für eine Matrix aus bistabilen Elementen, bei welcher zur Auswahl
»5 einer von m · η parallelen Wählleitungen auf der Eingangsseite m Generatoren und auf der Ausgangsseite η Schalter derart angeordnet sind, daß eine Wählleitung durch Erregen je eines Generators und Schließen je eines Schalters ausgewählt wird, ist bereits bekannt (französische Zusatz-Patentschrift 80 453 zur französischen Patentschrift 1271017), auf -; den Verbindungsleitungen der Generatoren und/oder Schalter mit jeweils mehreren Wählleitungen je einen Magnetkern (Prüf kern) vorzusehen, der durch den auf der Verbindungsleitung flieBenderfStrom gekippt wird, ferner durch die Prüfkerne wenigstens'eine weitere Leitung (Prüfleitung) zu führen und den auf der Prüfleitung durch Kippen der Prüfkerne induzierten Strom zur Prüfung der Matrix auszunutzen. Bei der bekannten Schaltung hängt die Feststellung eines nicht abgeglichenen Signals von Faktoren ab, wie Gleichmäßigkeit der Kerncharakteristik, Ausmaß der Signalübertragungsverzögerung durch die Matrix und Zustand des torusförmigen Kerns in jedem erregten Kreuzpunktstromkreis. Diese Faktoren schränken den Bereich zwischen Signalen ein, die einerseits einen Fehler und andererseits ein fehlerloses, jedoch mit Rauschen behaftetes Signal kennzeichnen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltung der eingangs angegebenen Art so auszubilden/daß der Abstand zwischen fehleranzeigenden Signalen und keinen Fehler zeigenden Signalen möglichst gut erhalten bleibt.
Die gestellte Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Hauptanspruchs angegebenen Maßnahmen gelöst.
Gemäß einer Weiterbildung legen die Zusammenfügeinrichtungen die Potentialunterschiede gleichsin- * nig in Reihe an einen in der Anzeigeeinrichtung enthaltenen Amplitudendiskriminator, der nur auf Potentialdifferenzen anspricht, die größer sind als diejenigen, die auf Grund der Zweizustandswiderstandseinrichtung eines gewählten Stromkreisweges entstehen.
Das Ausführungsbeispiel nach der Erfindung wird bei einer Auswahlmatrix für einen Magnetspeicher zur Feststellung eines Fehlers benutzt, der sich durch das Auftreten eines Stromes sowohl in nichtgewählten Matrix-Koordinaten als auch in den gewählten Matrix-Koordinaten zeigt. Getrennte Zweizustandswiderstandseinrichtungen sind an die jeweiligen Koordinaten-Stromkreise einer Matrix angekoppelt und zeigen eine Aufteilung des Treibstroms an.
Die Zweizustandswiderstandseinrichtungen sind vorteilhafterweise Varistoren, die zusammen mit den Übertragern für die induktive Kopplung in einer Reihen-Schleifenschaltung, die Sekundärwicklungen aller Übertrager enthält, eine einheitliche Spannung für
jeden Koordinaten-Stromkreis erzeugt, der wenigstens einen vorbestimmten Minimalbetrag des Treibstromes führt. Die verschiedenen Schleifenspannungen sind mit Vorteil gegeneinander versetzt, um die Erzeugung der Fehleranzeige zu erleichtern.
Die Varistoren der Koordinaten-Stromkreise haben mit Vorteil einen Einschalt-Strombedarf, der durch wesentlich kleinere Ströme als der Speicher-Halbstrom erfüllt wird, der von Matrix an einen zugeordneten Speicher geliefert wird.
Die Verwendung von widerstandsbehafteten Mitteln in den Koordinaten-Stromkreisen der Matrix zur Prüfung auf Matrix-Fehler beeinträchtigt die Form der Matrix-Treibstromimpulse nicht wesentlich.
Die Prüfschaltung kann einen Matrix-Fehler an jedem nicht-gewählten Matrix-Kreuzpunkt feststellen, der einem gewählten Koordinaten-Stromkreis der Matrix zugeordnet ist.
Die Auswahlmatrix-Prüfschaltung kann automatisch sowohl die Betriebsweise der Auswahlmatrix als auch der an die Matrix angekoppelten Umsetzerschaltungen überwachen. Außerdem wird die Matrix durch das Anlegen ihrer normalen Betriebssignale während jeder Lese- oder Schreiboperation geprüft, und die Prüfergebnisse sind unabhängig von der Art des Ablesens aus dem zugeordneten Speicher.
Die Wirkungsweise der Prüfschaltung für Auswahlmatrizen beruht auf der Impedanz, die eine Auswahlmatrix ihrer Treibstromquelle darbietet, unabhängig von der Größe der Ausgangsstroms der Quelle.
Ein Vorteil der Ausführungsformen gemäß der Erfindung besteht darin, daß der Betrieb einer Auswahlmatrix kontinuierlich überprüft werden kann, so daß beim Betrieb der Matrix auftretende Fehler bald nach ihrer Entstehung festgestellt und beseitigt werden können.
Die Erfindung wird im folgenden an Hand von Ausführungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein vereinfachtes Blockschaltbild einer Datenverarbeitungsanlage,
F i g. 2 das Prinzipschaltbild einer erfindungsmäßigen Auswahlmatrixprüfschaltung für die Anlage nach Fig. 1,
Fig. 3 das Schaltbild eines Teiles einer Variante der Matrix-Prüfschaltung,
Fig. 4 ein vereinfachtes Prinzipschaltbild einer Detektorschaltung, die mit Vorteil in der Anlage nach Fig. 1 benutzt wird,
Fig. 5 ein Schaltbild zur Erläuterung eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung.
Die Datenverarbeitungsanlage nach Fig. 1 enthält einen Koinzidenzstrom-Magnetspeicher 10, der mit horizontalen Zugriffsschaltungen 11 und vertikalen Zugriffsschaltungen 12 versehen ist, die auf Grund von Adressen- und Steuerinformationssignalen Steuersignale an wählbare Speicheradressen liefern. Da die Zugriffsschaltungen 11 und 12 im wesentlichen gleich sind, ist nur die horizontale Zugriffsschaltung 11 im einzelnen dargestellt. Eine zentrale Steuereinrichtung 13 liefert Steuersignale für die Datenverarbeitungsanlage. Mit Vorteil ist die Steuereinrichtung 13 ein Speicherprogramm-Datenverarbeiter, der in vielen Ausführungsformen bekannt ist.
Die horizontalen Zugriffsschaltungen 11 enthalten eine horizontale Auswahlmatrix 16, die im einzelnen in Fig. 2 gezeigt ist. Adresseninformationen von der zentralen Steuereinrichtung 13 werden der Matrix 16 über einen Zeilen-Adressen-Umsetzer 17 und einen Spalten-Adressenumsetzer 18 bekannter Art zugeführt. Die Umsetzer wandeln binär kodierte Adressen in eine Eins-aus- η -Kodierung zur Betätigung einer Auswahlmatrix um. Die Adressen-Umsetzer versetzen eine bestimmte Zeile und Spalte der Auswahlmatrix 16 in die Lage, Treibstromimpulse zu empfangen, die von einem Matrix-Stromtreiber 19 geliefert werden. Der Treiber 19 empfängt Lese- und Schreibbetätigungssignale von der zentralen Steuereinrichtung 13 über einen Lesestromkreis 20 und einen Schreibstromkreis 21. Der Treiber 19 liefert Lese- und Schreibsignale entgegengesetzter Polarität an die Matrix 16. Die Größe dieser Impulse reicht aus, um Halbsignale an Zeilenstromkreise des Speichers 10 anzukoppeln.
Die vertikalen Zugriffsschaltungen 12 entsprechen den horizontalen Schaltungen 11 hinsichtlich ihrer Anordnung und Betriebsweise und liefern HaIb-Treibsignale an einen gewählten Spaltenstromkreis des Speichers 10. Eine zweiseitig gerichtete Verbindung 24 stellt schematisch alle Verbindungen zwischen der Steuereinrichtung 13 und den Schaltungen 12 dar. ..^
Es sei bemerkt, daß bei Systemen ihit einem zerstörenden Ablesen die Steuereinrichtung 13 gegebenenfalls nur ein Lese-Steuersignal liefert, während das Schreib-Steuersignal automatisch vom Treiber 19 erzeugt wird.
Matrix-Prüfimpedanzen in der Matrix 16 liefern Signale an eine Anzeigeschaltung 122, die das Auftreten eines Fehlers anzeigt, wie in Verbindung mit Fig. 3 beschrieben werden soll. Die Anzeigeschaltung 122 liefert eine geeignete Fehleranzeige an die zentrale Steuereinrichtung 13.
F i g. 2 zeigt ein vereinfachtes Schaltbild der horizontalen Auswahlmatrix 16. Die Matrix weist zwei Zeilenstromkreise 126 und 127 und zwei Spaltenstromkreise 128 und 129 auf. Aus Darstellungsgründen sind nur zwei Zeilenstromkreise und nur zwei Spaltenstromkreise gezeichnet, jedoch werden vorteilhaft wesentlich größere Anordnungen benutzt.
Es ist eine Vielzahl von Kreuzpunktbelastungen 130, 131, 132 und 133 vorgesehen. Jede Belastung verbindet eine andere Kombination eines der Zeilenstromkreise und eines der'Spaltenstromkreise. Jede Kreuzpunktbelastung Tfär die horizontale Auswahl-^ matrix 16 stellt eine andere Wählleitung für den Koin-* zidenzstrom-Magnetspeicher 10 dar. Jeder Zeilen-Stromkreis der Matrix enthält einen getrennten Leiter für positive und negative Signale, die an sie über Führungsdioden angelegt werden, beispielsweise die Dioden 136 und 137 im Zeilenstromkreis 126 und die Dioden 138 und 139 im Zeilenstromkreis 127. Die eine Klemme jeder Kreuzpunktbelastung ist mit einer Spaltenschaltung direkt, und die andere Klemme der Kreuzpunktbelastung ist über ein Paar entgegengesetzt gepolter Dioden an die beiden Teile (Leitungen) der zugeordneten Zeilenschaltungen angeschlossen.
So liegt die Kreuzpunktbelastung 130 mit einem Anschluß direkt an der Spalte 128, und ihr anderer Anschluß ist über die Dioden 13Oi? und 130 W an den Lese- bzw. Schreibabschnitt des Zeilenstromkreises 126 angelegt. Ähnliche Verbindungen sind für jede andere Kreuzpunktbelastung vorgesehen.
Die so gebildeten Brücken-Diodengatter werden entsprechend dem Einschalt- oder Ausschaltzustand eines Wahltransistors, beispielswiese 140 oder 141,
betätigt. Die Kollektor-Emitter-Strecke dieses Wahltransistors 140 bzw. 141 liegt in der Diagonale einer solchen Brücke. Die Basiselektrode des Transistors 140 empfängt Signale von dem Ausgang des Zeilen-Adressen-Umsetzers 17 nach Fig. 1. Wenn ein solcher Schalttransistor in den Leitzustand versetzt wird, können Eingangstreibsignale über die von ihm gebildete Brücke in die entsprechenden Zeilen-Schaltungen gelangen. Wenn dagegen der Schalttransistor nicht leitend ist, ist die Zeilen-Schaltung für den Empfang von Eingangssignalen gesperrt. Die Brückenschaltungen erlauben, daß Treibsignale entweder positiv oder negativ sind. Ähnliche Torschaltungen 142 und 143 liegen jeweils in Serie mit den Spalten-Schaltungen 128 bzw. 129. Die Transistoren zur Betätigung dieser Tore empfangen Signale von dem Spalten-Adressen-Umsetzer 18. Auf diese Weise betätigen die Ausgangssignale der Umsetzer eine Koordinate der Zeilen-Schaltung und eine Koordinate der Spalten-Schaltung zum Empfang von Treibsignalen, welche die zwischen diesen Koordinaten liegende Kreuzpunktbelastung erregen.
j *} Der Matrixtreiber 19 hat eine erste und eine zweite
' Ausgangsleitung 146 und 147, über die Treibstromimpulse an die Koordinaten-Stromkreise der Matrix 16 angelegt werden. Diese Impulse haben abwechselnd positive und negative Polarität zur Durchführung abwechselnder Lese- und Schreiboperationen im Speicher 10. Die Leitung 146 ist im Vielfach an alle Zeilenstromkreise der Matrix angekoppelt. In den individuellen Zeilenstromkreisen ist ein Varistor in Reihe zwischen die Leitung 146 und die Führungsdioden des entsprechenden Zeilenstromkreises geschaltet. Der Varistor 148 liegt im Zeilenstromkreis 126 und der Varistor 149 im Zeilenstromkreis 127. Auf entsprechende Weise ist die Ausgangsleitung 147 des Treibers 19 im Vielfach an die Spaltenstromkreise angekoppelt, wobei die Varistoren 150 und 151 in den \ entsprechenden Spaltenstromkreisen liegen.
Die Varistoren 148 und 151 stellen Widerstände in den individuellen Koordinaten-Stromkreisen der Matrix dar, an denen Spannungsabfälle erzeugt werden, die anzeigen, daß ein Treibimpulsstrom in dem
γλ entsprechenden Koordinaten-Stromkreis fließt. Jeder ^ Varistor weist mit Vorteil einen Einschaltstrom auf, der wesentlich kleiner als der normale Halbstrom des Speichers ist, der vom Reiber 19 an die Matrix 16 geliefert wird. Wenn ein Varistor eingeschaltet worden ist, weist er einen im wesentlichen konstanten Spannungsabfall für einen großen Strombereich oberhalb des minimalen Einschaltstromes auf. Beispielsweise waren in einer Matrix, in der der Matrixtreiber Halbstromimpulse von 250 mA an die Matrix für den Speicher 10 liefert, nur 10 mA zur Einschaltung eines Varistors erforderlich. Der Varistor zeigte einen im wesentlichen konstanten Spannungsabfall für Ströme im Bereich von etwa 10 bis 500 mA.
Den Varistoren 148 bis 151 sind getrennte Impulsübertrager 152, 153, 156 und 157 zugeordnet. Die Primärwicklung der Übertrager liegt jeweils an den Anschlüssen des zugeordneten Varistors und die Sekundärwicklungen aller Übertrager sind zu einem Reihenstromkreis 155 zusammengeschaltet, der an den Eingang der Anzeigeschaltung 122 führt. Die Sekundärwicklungen bilden eine logische Schaltung zur Betätigung der Anzeigeschaltung 122 unter bestimmten, noch zu beschreibenden Bedingungen. Mehrere Widerstände 158,159,160 und 161 sind je über die Sekundärwicklung der Übertrager 152,153,156 und 157 gelegt. Diese Widerstände verhindern eine übermäßige Belastung der verschiedenen Übertrager durch die Reihenschaltung 155. Außerdem haben die Widerstände alle den gleichen Wert, der einen entsprechenden Widerstand auf der Primärseite des zugeordneten Übertragers darstellt, um sicher zu sein, daß der vorbestimmte Minimalstrom der Koordinaten-Stromkreise eine geeignete Spannung in der Primärwicklung zur Einschaltung des zugeordneten Varistors erzeugt. Der gesamte Reihenwiderstand der Widerstände 158 bis 161 ist jedoch wesentlich kleiner als der Eingangswiderstand der Anzeigeschaltung 122, so daß bei einem Fehler eine genügend hohe Spannung zur Betätigung der Anzeigeschaltung an dieser erzeugt wird.
Die Wicklungen der Übertrager 152 und 153 sind gleichsinnig polarisiert, wie durch die Punkte in F i g. 2 angedeutet. Die Wicklungen der Übertrager 156 und 157 sind ebenfalls gleich gepolt, aber die Polung der. Sekundärwicklung der Spaltenübertrager ist entge-; gengesetzt zu der Polung der Sekundärwicklung der Zeilenübertrager innerhalb des Reiheristromkreises 155. Auf diese Weise koppeln die Übertrager die an
den Varistoren der Koordinaten-St?ömkreise erzeugten Spannungsunterschiede an die Reihenschaltung 155 und die Anzeigeschaltung 122. Die Übertragerwicklungen sind so geschaltet, daß die Spannungen der Zeilenstromkreise jeweils gegensinnig zur Spannung des entsprechenden Spaltenstromkreises liegen. Wenn kein Fehler auftritt, erscheint im Reihenstromkreis 155 praktisch kein Signal. Dagegen bewirkt ein Fehler, daß mehr als ein Zeilenstromkreis oder mehr als ein Spaltenstromkreis erregt werden, so daß ein Signal in der Reihenschaltung 155 erzeugt wird, das die Anzeigeschaltung 122 betätigt.
Es sei auf zwei Faktoren von einiger Bedeutung mit Bezug auf die Varistoren der Koordinaten-Stromkreise hingewiesen. Zum einen bleibt, nachdem ein Varistor einmal eingeschaltet ist, ein weiteres Ansteigendes über ihn fließenden Treibstromimpulses im wesentlichen unbeeinflußt durch die Induktivität der parallelliegenden Übertragerwicklung. Der Gesamteinfluß der Übertrager und Varistoren in den Treib-Stromkreisen bedingt keine wesentlichen zusätzlichen Aufbauanforderungen für den Treiber 19, die über die normalen Anforderungen hinsichtlich der Treibstromlieferung für den Speicher 10 hinausgehen. Zum * anderen bewirkt die Spannungsbegrenzung durch die
Varistoren in den Übertragerstromkreisen, daß im wesentlichen die gleiche Anzeigespannungsdifferenz an der Sekundärwicklung der Übertrager erzeugt wird, so daß die Sekundärspannungen für die Zeilen- und Spaltenstromkreise bequem gegeneinander geschaltet werden können.
Wenn ein Zeilen- und ein Spaltenstromkreis durch die Umsetzer 17 und 18 betätigt werden, und einen Impuls vom Treiber 19 empfangen, schaltet dieser Impuls die beiden Varistoren ein, die diesen Zeilen- und Spaltenstromkreisen zugeordnet sind. Die sich ergebenden Spannungsunterschiede, die an den leitenden Varistoren erzeugt werden, werden mit entgegengesetzter Polarität an die Reihenschaltung 155 gekoppelt. Demgemäß wird dann praktisch kein Gesamtsignal zur Betätigung der Anzeigeschaltung 122 erzeugt. Wenn jedoch ein Fehler in der Matrix 16 oder in einem der Umsetzer 17 oder 18 auftritt, durch den ein Nebenweg über den Varistor eines
409 525/298
nichtgewählten Koordinaten-Stromkreises der Matrix für einen Teil des Ausgangsstromes vom Treiber 19 entsteht, wird ein weiterer Varistor eingeschaltet. Dann liegen drei Spannungen gleicher Amplitude, nämlich von den Varistoren der beiden gewählten Stromkreise und dem einen zusätzlichen Varistor, an der Reihenschaltung 155. Zwei von den drei Spannungen haben die gleiche Polarität, und die sich im Reihenstromkreis 155 ergebende Gesamtspannung betätigt die Anzeigeschaltung 122, die der Steuereinrichtung 13 meldet, daß ein Fehler aufgetreten ist.
Es ist theoretisch natürlich möglich, daß zwei Fehler auftreten, durch die zwei Zeilenvaristoren und zwei Spaltenvaristoren in Fig. 2 eingeschaltet werden, so daß im Reihenstromkreis 155 eine Gesamtspannung mit dem Wert von etwa Null erzeugt wird. Es würde dann kein Fehler angezeigt. In der Praxis hat jedoch die Erfahrung und eine statistische Analyse gezeigt, daß nur eine vernachlässigbar kleine Wahrscheinlichkeit für das Auftreten gleichzeitiger Fehler vorhanden ist, die Nebenwege in der Matrix zur Betätigung einer gleichen Anzahl von Varistoren in mehr als einem Zeilenstromkreis und mehr als einem Spaltenstromkreis erzeugen. Bei den in Verbindung mit F i g. 5 noch zu beschreibenden Schaltungen werden jedoch auch solche Fehler angezeigt. Einige typische Fehler, die von der Matrix-Prüfschaltung nach Fi g. 2 festgestellt werden, sind im folgenden beschrieben.
Es sei zunächst angenommen, daß, wenn die Ausgangsleitung 14 des Treibers positiv mit Bezug auf die Leitung 147 ist, ein Lesetreibimpuls geliefert wird und daß bei umgekehrter Polarität ein Schreibimpuls erscheint. Für alle nachfolgend beschriebenen Beispiele soll angenommen werden, daß die Steuereinrichtung 13 eine Erregung der Kreuzpunktbelastung 132 verlangt hat, so daß die Umsetzer 17 und 18 Eins-aus-n-Ausgangssignale derart erzeugen müssen, daß der Zeilenstromkreis 127 und der Spaltenstromkreis 128 betätigt werden und die Treibimpulse empfangen.
Wenn der Umsetzer 17 einen Fehler zeigt, der bewirkt, daß der Umsetzer zwei Augangssignale an Stelle des gewünschten einzigen Ausgangssignals erzeugt, werden beide Zeilentransistoren 140 und 141 eingeschaltet", und die Leseimpulse vom Treiber 19 teilen sich auf und fließen über die Varistoren 148 und 149, die Führungsdi^den 136 und 138, die Transistoren 140 und 141, die Dioden 13Oi? und 132i? und die Kreuzpunktbelastungen 130 und 132 zum Spaltenstromkreis 128. Die beiden Teile des Treibimpulses werden im Spaltenstromkreis 128 wieder zusammengeführt und über die Brücken-Gatterschaltung 142 zum Varistor 150 und zurück zum Treiber 19 geführt. Da in diesem Fall die Varistoren 148,149 und 150 leiten, haben die beiden an den Widerständen 158 und 159 erzeugten Spannungen die gleiche Polarität und übersteigen zusammen die entgegengesetzt gepolte Spannung über dem Widerstand 160. Dann wird die Anzeigeschaltung 122 betätigt und meldet der Steuereinrichtung 13 den Fehler. Eine entsprechende Fehleranzeige wird erzeugt, wenn ein Kurzschluß zwischen dem Kollektor und Emitter des Gatter-Transistors 140 auftritt und der Adressenumsetzer befriedigend arbeitet. Anders gesagt, der kurzgeschlossene Transistor bewirkt, daß der Treibstromimpuls sowohl für Lese- als auch Schreiboperationen zwischen den Kreuzpunktbelastungen 130 und 132 aufgeteilt wird, obwohl beide Teile zusammen über den Varistor 150 fließen.
Eine andere Art der Treibstromaufteilung tritt auf, wenn die Schreibdiode 130 W einen Kurzschluß zeigt und alle anderen Schaltungselemente befriedigend arbeiten. In diesem Fall würde immer noch unter der Annahme, daß die Belastung 132 ausgewählt ist, bei einem Schreibimpuls kein Fehler angezeigt. Für einen Leseimpuls fließt jedoch ein Teil des Lese-Treibstromes in die gewählte Zeile 127 und ein weiterer Teil
ίο über den Varistor 148, die Diode 136, die kurzgeschlossene Diode 130 W und die Belastung 130 zum Spaltenstromkreis 128. Der Treibstrom ist daher zwischen den Belastungen 130 und 132 aufgeteilt, und es leiten beide Zeilenvaristoren 148 und 149, aber nur der eine Spaltenvaristor 150. In der Reihenschaltung 155 erscheinen dann nicht im Gleichgewicht befindliche Signale, die die Anzeigeschaltung 122 betätigen.-
Wenn die Diode 131/? kurzgeschlossen ist, sind andere Nebenwege für die Lese- bzw. Schreibsignale vorhanden. Ein Leseimpuls für die gewählte BeIa-. stung 132 teilt sich am Emitter des Transistors 14Γ auf. Ein Teil fließt über die gewählte Belastung 132 zum Spaltenstromkreis 128. Der andere Teil des Leseimpulses fließt über den Zeilenstcomkreis 127 und über die Diode 133 R, die Last 133, den Spaltenstromkreis 129, die Kreuzpunktbelastung 131, die kurzgeschlossene Diode 131i?, den Zeilenstromkreis 126, die Diode 13Oi? und die Belastung 130 zum Spaltenstromkreis 128. Die kurzgeschlossene Diode schaltet als drei Kreuzpunktbelastungen in Reihe über die gewählte Kreuzpunktbelastung, so daß ein Drittel des Treibstromes an der gewählten Kreuzpunktbelastung vorbeifließt. Dieser Nebenschluß wird jedoch durch die Prüfschaltung nicht angezeigt, da der Treibimpuls sich nach Durchgang durch den Varistor 149 aufspaltet und in dem Spaltenstromkreis 128 wieder zusammengeführt wird, bevor er über den Varistor 150 geht.
Während des Schreibimpulses verlaufen die Stromwege jedoch anders, wenn die gleiche Diode 131i? kurzgeschlossen ist. In diesem Fall enthält der Treibimpulsstromkreis die Kreuzpunktbelastung 132, die Diode 132 W und den Transistor 141. Am Emitter des Transistors 141 teilt sich jedoch der Stromweg auf und der größere Teil des Stromes fließt über die Führungsdiode 139 und den Varistor 149 zurück zum Treiber 19. Ein weiterer Teil des Treibstromes fließt» jedoch vom Emitter des Transistrors 141 über den Zeilenstromkreis 127 durch die Diode 133i?, die Kreuzpunktbelastung 133, den Spaltenstromkreis 129, die Kreuzpunktbelastung 131, die kurzgeschlossene Diode 131i?, den Zeilenstromkreis 126, die Führungsdiode 137 und den Varistor 148 zurück zum Treiber 19. In diesem Fall schaltet also der Fehler die beiden Kreuzpunktbelastungen 133 und 131 und den Varistor 148 in Reihe über den Varistor 149 und die Diode 139. Es wird nur ein kleiner Teil des Treibstromes abgeleitet, der aber ausreicht, um den Varistör 148 einzuschalten und eine Fehleranzeige in der Reihenschaltung 155 zu erzeugen, wie oben beschrieben.
Wenn eine Unterbrechung in einem Treibstromweg auftritt, fließt überhaupt kein Treibstrom während wenigstens eines Teiles des Lese-Schreibzyklus für den Speicher entsprechend der Polarität des ausgefallenen Schaltungselementes. Ein solcher Fehler könnte beispielsweise in den Leitungen 146 und 147, einer
Führungsdiode oder einer Kreuzpunktdiode eines gewählten Koordinaten-Stromkreises auftreten. Es würden dann keine Signale auf die Reihenschaltung 155 gekoppelt und die Anzeigeschaltung 122 würde in Ruhe bleiben, obwohl ein Fehler aufgetreten ist. Dieser Fall läßt sich jedoch mit einer geänderten Schaltung für die Sekundärwicklungen der Matrix-Übertrager gemäß Fig. 3 feststellen.
F i g. 3 zeigt ein Teilschaltbild, das nur die Anzeigeschaltung 122' und die Sekundärwicklungsabschnitte der Übertragerschaltungen der horizontalen Auswahlmatrix 16 und die entsprechenden Auswahlmatrix-Schaltungsabschnitte der vertikalen Zugriffsschaltungen 12 enthält. Alle Übertragerwicklungen sowohl für die horizontalen als auch vertikalen Auswahlmatrizen sind zu einem einzigen Reihenstromkreis 155' verbunden und liegen am Eingang der Anzeigeschaltung 122'. Die Sekundärwicklungen 152H, 153H, 156H und 157H in F i g. 3 sind die Sekundärwicklungen der Spaltenübertrager in der horizontalen Matrix 16. Die Wicklungen 152 V, 153 V, 156 V und 157 V sind die entsprechenden Sekundärwicklungen ; Λ der vertikalen Auswahlmatrix. Die Punktbezeichnung ■' für die Polaritäten in Fi g. 3 zeigt, daß alle Sekundärwicklungen der horizontalen Matrix, d. h. sowohl die Zeilen- als auch die Spaltenwicklungen im Reihenstromkreis 155' gleichgepolt sind. Sie sind jedoch in Gegenrichtung zu allen Sekundärwicklungen der vertikalen Auswahlmatrix gepolt. Bei dieser Anordnung sind für jede befriedigende Matrix-Operation zwei gleichpolarisierte Signale der horizontalen Matrix gegen zwei Signale der vertikalen Matrix mit entgegengesetzter Polarität geschaltet.
Wenn ein Fehler der oben erläuterten Art mit Ausnahme einer Unterbrechung in einem der Adressenumsetzer oder in einer der Matrizen auftritt, würde eine ungerade Zahl von Übertragersignalen einer der Matrizen gegen eine gerade Zahl von Übertragersignalen der anderen Matrix geschaltet. Das Ergebnis wäre ein Gesamtsignal im Reihenstromkreis 155', das die Anzeigeschaltung 122' betätigt. Wenn eine Unterbrechung auftritt, werden keine Ubertragersignale im Reihenstfomkreis 155' durch die Matrix mit der Un- ^ terbrechung erzeugt, aber die Übertrager der anderen J Matrix erzeugen Signale in der üblichen Weise. Da diese Signale nicht gegeneinander gerichtet sind, betätigen sie die Anzeigeschaltung 122' und zeigen den Fehler an.
Fig. 4 zeigt ein Schaltbild mit Einzelheiten eines Ausführungsbeispiels, das mit Vorteil als Anzeigeschaltung 122' benutzt wird. Im wesentlichen die gleiche Schaltung findet auch als Anzeigeschaltung 122 Verwendung. Der Reihenstromkreis 155' liegt an den Eingangsanschlüssen 162 und 163 der Anzeigeschaltung 122'. Jeder der Eingangsanschlüsse 162 und 163 ist an den Eingang eines von zwei Verstärkern 166 und 167 angelegt, die mit Vorteil identisch ausgebildet sind. Demgemäß sind Einzelheiten nur für einen Verstärker, 166, in Fig. 4 gezeigt.
Bei einem Spannungsunterschied zwischen den Eingangsanschlüssen 162 und 163 fließt ein Strom über den Widerstand 168 und den parallelgeschalteten Kondensator 169 im Verstärker 166, über Erde und über den entsprechenden Widerstand und Kondensator im Verstärker 167 zum anderen Eingangsanschluß 163. Die auf Grund eines Signals im Reihenstromkreis, das den Anschluß 162 positiv mit Bezug auf den Anschluß 163 werden läßt, über dem Widerstand 168 im Verstärker 166 erzeugte Spannungsdifferenz bringt den Transistor 170 zum Leiten. Ein entgegengesetzt gepoltes Eingangssignal führt zur gleichen Wirkung im Verstärker 167.
Die in Emittergrundschaltung betriebene Verstärkerstufe mit dem Transistor 170 ist die erste von zwei Verstärkerstufen im Verstärker 166. Der Kollektor des Transistors 170 ist direkt mit der Basis des Transistors 171 in der zweiten Stufe verbunden, um das Eingangssignal weiter zu verstärken. Der Kondensator 172 zwischen dem Kollektorkreis des Transistors 171 und dem Emitterkreis des Transistors 170 bewirkt eine Gegenkopplung. Die Transistoren 170 und 171 leiten normalerweise für alle Eingangssignale und be-
1S wirken eine lineare Verstärkung. Die zwei Verstärkerstufen mit den Transistoren 170 und 171 werden zweckmäßig mit etwas größeren Betriebsspannungen betrieben, als sie für die anderen Teile der Anzeigeschaltung erforderlich sind, um sicherzustellen, daß die Transistoren 170 und 171 durch das voraussichtlich größte Signal und Rauschen nicht in die Sättigung, gebracht werden. Der Kondensator 173 stellt eine Wechselstromkopplung zwischen dem Kollektor des Transistors 171 und der Basis des Transistors 176 dar.
Dieser Transistor stellt eine weitere^yerstarkerstufe in Emittergrundschaltung dar, die normalerweise nicht leitet, um eine Schwellwert-Pufferung zwischen dem zweistufigen Eingangsverstärker und den logischen Transistor-Widerstandsschaltungen zu bewirken, die dem Verstärker 166 folgen. Positiv gerichtete Signale am Anschluß 162 werden in den Transistoren 170 und 171 verstärkt und schalten den Transistor 176 ein.
Die Schaltung mit dem Transistor 176 liefert einen Schwellwert nahe dem Erdpotential. Bei einigen Anwendungen der Erfindung, beispielsweise in Fig. 5, kann ein anderer Schwellwert benutzt werden, um eine Unterscheidung hinsichtlich der Operation einer vorbestimmten Zahl von Matrix-Varistoren zu ermöglichen. Beispielsweise kann es bei einigen Anwendungen des Ausführungsbeispiels nach Fig. 2 vorteilhaft sein, alle Matrix-Sekundärwicklungen gleichsinnig zu polen und Fehler an Hand der Operation von mehr als zwei Varistoren festzustellen.
Die gleich ausgebildeten Ausgänge der Verstärker 166 und 167 sind beide an .einen Anschluß 177 geführt, der über einen Widerstand 178 an der Basis eines Transistors 179 liegt, der eine weitere Verstärkerstufe in Emittergrundschaltung darstellt. Die Basis des Transistors 179 ist normalerweise positiv vorgespannt durch eine positive Spannung vom Kollektorkreis eines normalerweise nichtleitenden Transistors 180, und zwar unabhängig davon, ob einer der Transistoren 176 in den Verstärkern 166 und 167 leitet oder nicht. Der Transistor 180 wird durch einen bistabilen Multivibrator 181 gesteuert. Wenn der Transistor 180 durch den Multivibrator zum Leiten gebracht wird, wird der Transistor 179 gesperrt, falls gleichzeitig einer der Transistoren 176 leitet und den Anschluß 177 an Erde legt. Im anderen Falle bleibt der Transistor 179 leitend.
Die zentrale Steuereinrichtung 13 liefert Programmsteuersignale zur Anzeigeschaltung 122 in F i g. 4. Diese Signale werden an Punkte der Schaltung angelegt, die in einem Rhombus angeordnete Bezugszeichen tragen. Die Bezugszeichen geben die relativen Zeitpunkte für das Auftreten der Signale in einem Programmzyklus für eine Lese- oder eine Schreibope-
ration an. Numerische Indices der Bezugszeichen stellen für ein Ausführungsbeispiel die relative Reihenfolge für den Anfang positiver Programm-Taktimpulse in dem Zyklus dar. Der Beginn eines solchen Impulses ist mit P00 bezeichnet und liegt am Anfang jedes Lese- oder Schreibtreibimpulses für die Matrix.
Der Ausgangstransistor 182 das bistabilen Multivibrators 181 ist normalerweise leitend. Ein erstes positiv gerichtetes Gattersignal P15 von der zentralen Steuereinrichtung 13 wird an die Basis des Eingangstransistors 183 des Flipflops etwa in der Mitte jedes Lese- und Schreibimpulses zur Einstellung des Flipflops angelegt. Kurz danach wird ein weiteres positives Signal P20 von der Steuereinrichtung 13 über einen Widerstand 187 an die Basis des Transistors 182 angelegt, um den Multivibrator 181 zurückzustellen und das Gattersignal zu beenden. Zwischen den beiden Impulsen von der Steuereinrichtung 13 ist der Transistor 180 also leitend, und die Basisschaltung des Transistors 189 kann auf Signale vom Verstärker 166 oder 167 ansprechen, wie oben beschrieben.
Eine Koinzidenz von Erdpotential-Signalen am Anschluß 177 und am Kollektor des Transistors 180 sperrt den Transistor 179. Dann erscheint ein positives Ausgangssignal an einem Paar von Ausgangsanschlüssen 190 und 191 der Anzeigeschaltung 122'. Dieses Ausgangssignal meldet der zentralen Steuereinrichtung 13 das Auftreten eines Fehlers in einer Auswahlmatrix oder einem zugeordneten Adressenumsetzer.
Es ist wünschenswert, die Operation der Anzeigeschaltung prüfen zu können, und zu diesem Zweck sind zusätzliche Schaltungen in Fig. 4 vorgesehen. Die Widerstände 192 und 193 stellen eine Kopplung zwischen den Eingangsanschlüssen 162 und 163 der Anzeigeschaltung und ihren beiden Verstärkern 166 bzw. 167 dar. In vorbestimmten Intervallen bewirkt die Steuereinrichtung 13, daß Signale an die Widerstände 192 und 193 angelegt werden, um ein Fehlersignal im Reihenstromkreis 155 zu simulieren.
Ein bistabiler Multivibrator 196 mit den beiden Transistoren 197 und 198 steuert das Anlegen der Prüf signale. Der Transistor 198 ist normalerweise leitend und ein. positives Ausgangssignal liegt an der Ausgangsleitung 199, die an den Kollektor des Transistors 197 angeschaltet ist. Zur Programmzeit P00 liefert die zentrale Steuereinrichtung 13 einen ersten positiven Impuls an die Basis des Transistors 197, um den Multivibrator 196 einzustellen, und später wird zum Zeitpunkt P25 ein positiver Impuls in gleicher Weise an den Transistor 198 gegeben, um den Multivibrator zurückzustellen. Wenn der Multivibrator 196 eingestellt ist, erscheint Erdpotential auf der Leitung 199, um das Anlegen programmierter Prüfsignale zu den Zeitpunkten P4 und P8 zu ermöglichen, die nacheinander in vorbestimmten, längeren Zeitabschnitten auftreten, beispielsweise einmal am Tag. Die Prüfsignale zu den Zeitpunkten PA oder P4 dauern mit Vorteil wenigstens während eines Zyklus mit den Zeitpunkten P00 und P20 an, wenn eine Wartungsfolge für die Anlage durchgeführt wird. Diese Prüfsignale haben normalerweise positives Potential und fallen zum Zeitpunkt P4 bzw. PB auf Erdpotential ab, das über die Widerstände 102 bis 105 mit dem Erdpotential auf der Leitung 199 zusammenwirkt, um. Erdpotential nacheinander an die Basis-Elektroden der beiden Transistoren 100 und 101 anzulegen. Auf diese Weise sperren die Transistoren 100 und 101 nacheinander und legen nacheinander positive Signale über zwei Varistoren 106 und 107 an die Übertrager 110 und 111. Diese Signale werden über die Übertrager an Widerstände 192 und 193 angelegt, um die entsprechenden Verstärker zu betätigen. Die Varistoren 108 und 109 begrenzen die Amplitude des an die Verstärker angelegten Prüfsignals auf einen Wert, der zur Simulierung eines Fehlers im wesentlichen gleich dem Pegel der Signale von dem Reihenstromkreis 155' ist.
ι ο Während eines solchen programmierten Prüf vorgangs wird also die Funktion jeder der Verstärker 166 und 167 einmal geprüft, und außerdem wird die Funktion des Multivibrators 181 und der weiteren Verstärkerstufe mit dem Transistor 179 ebenfalls ge-
»5 prüft.
Wenn die Anzeigeschaltung gemäß Fig. 4 in dem Ausführungsbeispiel nach F i g. 2 benutzt wird, ist eine zusätzliche ODER-Schaltung (nicht gezeigt) zwischen dem Ausgang des Transistors 179 und dem Ausgang
so der Anzeigeschaltung vorgesehen. Eine solche ODER-Schaltung gibt die Möglichkeit, daß die Aus-; gangssignale anderer Schaltungen, die andere Teile der Zugriffsschalturigen überwachen, ah die Steuer- ( ; einrichtung 13 anzukoppeln. Beispielsweise können
Schaltungen, die auf den Ausfall eTrie* der Treiber für die Zugriffsschaltungen 11 und 12 ansprechen, Fehleranzeigen über eine solche ODER-Schaltung zur Steuereinrichtung liefern.
F i g. 5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung in vereinfachter Form. Dieses Ausführungsbeispiel entspricht im wesentlichen dem nach Fig. 2. Daher sind in Fig. 5 nur die abweichenden Schaltungsteile dargestellt. Die übrigen Teile sind die gleichen wie in Fi g. 2 und 4. In Fi g. 5 sind alle übertrager-Sekundärwicklungen 152//', 153if', 156H' für eine Matrix in dem Reihenstromkreis 155" am Eingang der Anzeigeschaltung 122" gleich gepolt. Die Anzeigeschaltung 122" ist so abgeändert, daß sie Fehleranzeigen für die oben besprochenen Fehlerfälle bei
den so abgeänderten Übertragerverbindungen liefert. Während einer normalen Matrix-Operation ohne Auftreten eines Fehlers werden zwei Varistoren betätigt. Die sich ergebenden Spannungen an den Sekundärwicklungen addieren sich und betätigen die Anzei- (
geschaltung 122". Diese Anzeigeschaltung entspricht ^ derjenigen nach Fig. 4 mit-der Ausnahme, daß zusätzlich andere Schwellwert- und logische Schaltungen vorgesehen sind, um eine Unterscheidung zwischen * vorbestimmten Werten der Spannungen von dem Reihenstromkreis 155" zu ermöglichen. Nur die geänderten Teile sind im einzelnen gezeigt.
In jedem der Verstärker 166' und 167' ist der Emitterkreis des Transistors 176' an eine positive Schwellwert-Spannungsquelle V, angeschaltet, die normalerweise den Transistor 176' sperrt. Wenn nur zwei Varistoren in Matrix-Sekundärschaltungen betätigt sind, ist das Signal zur Anzeigeschaltung 122" nicht groß genug, um den Schwellwert zu überwinden, so daß der Transistor 176' gesperrt bleibt und kein Fehler angezeigt wird. Wenn mehr als zwei Varistoren auf Grund eines Fehlers betätigt sind, wird die Schwellwertspannung V1 überwunden und der Transistor 176 eingeschaltet. Die beiden Verstärker 166' und 167' der Anzeigeschaltung sind gleich ausgebildet und wie vorher an den Anschluß 177 angeschaltet. Das negativ gerichtete Signal, das am Kollektor des Transistros 176' in einem der Verstärker 166' oder 167' erscheint, wenn mehr als zwei Transistoren betätigt sind, wird
über einen Kondensator 116 an den Transistor 179' angekoppelt, der normalerweise eingeschaltet ist. Dieses Signal schaltet den Transistor 179' aus, um die positive Fehlerzeige an die Steuereinrichtung 13 während des Gatterintervalls zu liefern. In Fig. 5 verbindet eine Leitung 117 den Ausgang des Multivibrators 181 direkt mit dem Kollektor des Transistors 178'.
Folglich wird der Ausgangsanschluß 190 der Anzeigeschaltung 122" wie vorher normalerweise auf Erdpotential gehalten. Während der Gatterzeit schaltet jedoch der Transistor 182 im Multivibrator 181 aus, so daß der Anschluß 190 positiv werden kann, wenn, wie oben beschrieben, durch das Auftreten eines Fehlers der Transistor 179' eingeschaltet wird.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
409 525/298

Claims (7)

Patentansprüche:
1. Prüfschaltung für eine Schaltung zur Auswahl einer aus einer Mehrzahl von Wählleitungen (Kreuzpunktbelastungen) mit einer Mehrzahl von wahlweise betätigbaren Stromkreiswegen (Zeilen- und Spaltenstromkreisen) und einer Einrichtung zur Lieferung von Treibstromimpulsen an einen ausgewählten, betätigbaren Stromkreisweg, bei welcher jeder der wahlweise betätigbaren Stromkreiswege eine zwei Zustände aufweisende Prüfeinrichtung enthält, die eine Anzeigeeinrichtung dafür, ob Treibstrom an einen nicht ausgewählten betätigbaren Stromkreisweg gegeben wurde, aufweist, gekennzeichnet durch folgende Merkmale:
a) die zwei Zustände aufweisenden Prüfeinrichtungen bestehen aus Zweizustands-Widerstandseinrichtungen (148 bis 151) und sind so geschaltet, daß, wenn ein Strom oberhalb eines vorbestimmten Pegels in den jeweiligen betätigbaren Stromkreisweg (126 bis 129) fließt, der Zustand der Einrichtung derart ist, daß^sich eine Spannung oberhalb eines vorbestimmten Pegels an ihr ausbildet, wobei der vorbestimmte Pegel dieses Stromes wesentlich geringer ist als der Pegel des Treibstromimpulses;
b) Zusammenfügeinrichtungen (152,153, 156, 157,155 [Fig. 2] bzw. 152//, 153H, 156//, 157//, 155', 152 V, 153 V, 156 V, 157 V, [Fig. 3] bzw. 152//', 153//', 155", 156//', 157//'[Fig. 5]) sind zur Kombination der sich so entwickelten Potentialdifferenzen in solcher Weise vorgesehen, daß eine signifikante Netto-Potentialdifferenz zur Betätigung der Anzeigeeinrichung (122) erzeugt wird, wenn Treibstrom in einen nicht ausgewählten Stromkreis fließt.
2. Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zusammenfügeinrichtungen (152//', 153//', 155", 156//', 157//', Fig. 5) die Potentialunterschiede gleichsinnig in Reihe an einen in der Anzeigeeinrichtung (122") enthaltenen Amplitudendiskriminator (166', 167') anlegen, der nur auf Po^entialdifferenzen anspricht, die größer sind als diejenigen, die auf Grund der Zweizustands-Widerstandseinrichtung eines gewählten Stromkreisweges enstehen.
3. Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede Zweizustands-Widerstandseinrichtung (148 bis 151) einen Varistor (F i g. 2) aufweist, dessen Einschaltstrom wesentlich kleiner ist als der Treibstrom und daß an einen Varistor jeweils die Primärwicklung eines von einer Vielzahl von Übertragern (152,153,156,157) angeschaltet ist, deren Sekundärwicklungen (Fig. 2 bzw. 152//, 153H, 156// 157H, 152V, 153 V, 156 V, 157V, Fig. 3 bzw. 152//', 153//', 156//', 157//', Fig. 5) zur Anschaltung der Anzeigeeinrichtung (122 bzw. 122' bzw. 122") an die Zweizustandswiderstandseinrichtungen (148 bis 151) in Reihe (155 bzw. 155' bzw. 155") geschaltet sind.
4. Prüfschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Sekundärwicklungen der den Zeilen zugeordneten Übertrager (152, 153,
F i g. 2) in der Reihenschaltung (155) entgegengesetzt gepolt wind wie die Sekundärwicklungen der den Spalten zugeordneten Übertrager (156,157), und daß die Anzeigeeinrichtung (122) eine Einrichtung zur Feststellung eines sich ergebenden Gesamtstroms in der Reihenschaltung (155) aufweist.
5. Prüfschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Sekundärwicklungen (152//', 153//', 156//', 157//', Fi g. 5) in der Reihenschaltung (155") alle gleich gepolt sind, und daß die Anzeigeeinrichtung (122") eine Einrichtung zur Feststellung eines Stroms in der Reihenschaltung (155") der Sekundärwicklungen aufweist, der größer ist als ein Schwellwert, der dem in zwei Übertrager-Sekundärwicklungen induzierten Strom entspricht.
-6. Prüfschaltung für einen durch koinzidierte Ströme betätigbaren Speicher mit zwei Schaltungen nach Anspruch 3, die jeweils einen der koinzidierten Ströme für den Speicher liefern, wenn sie . selbst durch koinzidierte Ströme erregt werde«,"' dadurch gekennzeichnet, daß die Sekundärwicklungen (152//, 153//, 156//157H; 152 V, 153 V, 156 V, 157F) der beiden Schaltungen nach Anspruch 3 alle in Reihe (155') geschaltet sind, wobei diejenigen (152//, 153//, 156//, 157//) einer Schaltung entgegengesetzt zu denjenigen (152 V, 153 V, 156 V, 157 V) der anderen Schaltung gepolt sind, und daß die Anzeigeeinrichtung eine Einrichtung (122') zur Feststellung eines Gesamtstroms in der Reihenschaltung (155') der beiden Gruppen von Sekundärwicklungen aufweist.
7. Schaltung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß parallel zu jeder Sekundärwicklung je ein Widerstand (158 bis 161) liegt, daß der Wert jedes Widerstandes (158 bis 161) unter Berücksichtigung des Übersetzungsverhältnisses des entsprechenden Übertragers so gewählt ist, daß in dessen Primärwicklung ein ge-DÜgend großer Widerstand eingeführt wird, um an dem entsprechenden Varistor (Fig. 2) eine so große Spannung zu erzeugen, daß der Varistor bei Auftreten eines Treibstroms leitend wird, und daß die Summe der Widerstände wesentlich kleiner ist als der Eingangswiderstand der zugeordneten Anzeigeeinrichtung (122 bzw. 122' bzw. 122").
DE1524001A 1965-03-31 1966-03-29 Prüfschaltung für eine Auswahlschaltung Pending DE1524001B2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US44434665A 1965-03-31 1965-03-31
US44434565A 1965-03-31 1965-03-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE1524001A1 DE1524001A1 (de) 1971-06-03
DE1524001B2 true DE1524001B2 (de) 1974-06-20

Family

ID=27033876

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1524001A Pending DE1524001B2 (de) 1965-03-31 1966-03-29 Prüfschaltung für eine Auswahlschaltung
DE1774991A Pending DE1774991B1 (de) 1965-03-31 1966-03-29 Pruefschaltung fuer eine Auswahlschaltung

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1774991A Pending DE1774991B1 (de) 1965-03-31 1966-03-29 Pruefschaltung fuer eine Auswahlschaltung

Country Status (5)

Country Link
US (2) US3460092A (de)
BE (1) BE678467A (de)
DE (2) DE1524001B2 (de)
GB (1) GB1136314A (de)
NL (1) NL6604063A (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3614771A (en) * 1969-09-18 1971-10-19 Hewlett Packard Co Display apparatus
DE2061674A1 (de) * 1969-12-30 1971-07-01 Honeywell Inf Systems Prufschaitung zum Überprüfen von elektronischen Speichern
US3618030A (en) * 1970-05-04 1971-11-02 Gte Automatic Electric Lab Inc Method including a program for testing selection matrices
US3660829A (en) * 1970-07-15 1972-05-02 Technology Marketing Inc Bipolar current switching system
US3731275A (en) * 1971-09-03 1973-05-01 Stromberg Carlson Corp Digital switching network
US11502595B2 (en) * 2018-09-06 2022-11-15 Infineon Technologies Austria Ag Voltage and current protection in isolated switched-mode power converters with secondary-side rectified voltage sensing

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3172087A (en) * 1954-05-20 1965-03-02 Ibm Transformer matrix system
US2926334A (en) * 1955-04-20 1960-02-23 Bell Telephone Labor Inc Error detection circuit
NL244992A (de) * 1958-11-06
GB932223A (en) * 1961-01-23 1963-07-24 Bendix Corp Random access memory bistable elements
NL292619A (de) * 1962-05-18
US3337849A (en) * 1963-11-26 1967-08-22 Bell Telephone Labor Inc Matrix control having both signal and crosspoint fault detection
US3371315A (en) * 1964-08-05 1968-02-27 Bell Telephone Labor Inc Error detection circuit for translation system

Also Published As

Publication number Publication date
DE1524001A1 (de) 1971-06-03
NL6604063A (de) 1966-10-03
GB1136314A (en) 1968-12-11
US3460093A (en) 1969-08-05
DE1774991B1 (de) 1974-07-11
BE678467A (de) 1966-09-01
US3460092A (en) 1969-08-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1591223C3 (de) Automatische Prüfeinrichtung für schnell schaltende, elektronische Schaltkreise
DE1108953B (de) Anordnung zum Vergleich von Datenworten mit einem Pruefwort
DE1524001B2 (de) Prüfschaltung für eine Auswahlschaltung
DE1186509B (de) Magnetspeicher mit einem mit zueinander senkrechten Bohrungen versehenen Magnetkern
DE1274632B (de) Kryotron-UEbertragungsschaltung
DE1299035B (de) Schaltung zum Einschreiben in einen Matrixspeicher oder zum Ablesen aus einem Matrixspeicher
DE1774813B1 (de) Speicherelement mit transistoren und matrixspeicher mit diesen speicherelementen
DE2705190C3 (de) Schaltungsanordnung zur Überwachung von Signalleitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen
DE1263840B (de) Matrixanordnung zum Steuern der Ein- und Ausspeicherung von Daten aus dem Trommelspeicher einer Datenverarbeitungsanlage
DE1474020B2 (de) Suchschaltung fur durchnumerierte leitungen
DE1255731B (de) Schaltstufe zur Verwendung in einer elektronischen Auswahlschaltung
DE1292197B (de) Informationsspeicherschaltung mit Drahtspeicherelementen
DE1954910C3 (de) Anordnung zur Anzeige eines Defekts von Entkopplungsdioden in einer Matrix
DE1915321A1 (de) Vorrichtung zum Anzeigen von Leckstroemen in einer Matrix
DE2132364B2 (de) Schaltungsanordnung zur abgabe eines stromimpulses an jeweils eine bestimmte treiberleitung eines eine vielzahl von treiberleitungen enthaltenden magnetkernspeichers
DE2727660C3 (de) Schaltungsanordnung zur Bestimmung einer Einrichtung von sich meldenden aus einer größeren Anzahl von Einrichtungen, insbesondere für Einrichtungen einer Fernsprechvermittlungsanlage
DE2129940C2 (de) Festwertspeicher
DE1549054C3 (de) Schaltungsanordnung zur Ansteue rung von adressiert ansteuerbaren Speichern
DE1286106B (de) Schaltungsanordnung zum Pruefen der Funktionsfaehigkeit von Matrixanordnungen
DE2121166A1 (de) Magnetkernmatrix
DE1499740A1 (de) Schaltungsanordnung zum Betrieb von Matrixspeichern
DE961560C (de) Schutzschaltung zur Sicherstellung des Arbeitens von Geraeten, die mit Elektronenroehren arbeiten
DE1142454B (de) Magnetverstaerker
DE1499720B1 (de) Elektronisches Speicherelement
DE2166079A1 (de) Stromtreibersystem fuer bit-treiberleitungen