DE1293900B - Feldeffekt-Halbleiterbauelement - Google Patents
Feldeffekt-HalbleiterbauelementInfo
- Publication number
- DE1293900B DE1293900B DET26654A DET0026654A DE1293900B DE 1293900 B DE1293900 B DE 1293900B DE T26654 A DET26654 A DE T26654A DE T0026654 A DET0026654 A DE T0026654A DE 1293900 B DE1293900 B DE 1293900B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- area
- channels
- semiconductor layer
- current
- shaped
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 78
- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims description 21
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910001020 Au alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052729 chemical element Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000006023 eutectic alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/80—FETs having rectifying junction gate electrodes
- H10D30/83—FETs having PN junction gate electrodes
- H10D30/831—Vertical FETs having PN junction gate electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/80—FETs having rectifying junction gate electrodes
- H10D30/83—FETs having PN junction gate electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/965—Shaped junction formation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Thyristors (AREA)
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Feldeffekt- typs des Gitterbereichs aufweist, auf der sich eine
Halbleiterbauelement mit einem scheibenförmigen zweite scheibenförmige Halbleiterschicht befindet, be-Halbleiterkörper,
der einen Stromzuleitungsbereich stehend aus parallelen, voneinander getrennten Kanä-
und einen Stromableitungsbereich des einen Leitungs- len mit dreieckigem Querschnitt, wobei zwei Dreityps
sowie mehrere parallele, von dem Stromleitungs- 5 ecksseiten konkave Kreisbogen sind und die dritte
bereich zu dem Stromableitungsbereich führende Ka- Dreiecksseite eine auf der Trägerhalbleiterschicht aufnäle
desselben Leitungstyps und einen Gitterbereich liegende Gerade ist, dem Stromzuleitungsbereich und
des entgegengesetzten Leitungstyps aufweist. dem Stromableitungsbereich, an die alle Kanäle mit
Durch die französische Patentschrift 1317256 sind ihren Stirnseiten stoßen, dem Gitterbereich aus ab-
bereits derartige Feldeffekt-Halbleiterbauelemente be- ίο wechselnd mit den Kanälen angeordneten, angenähert
kanntgeworden, deren Halbleiterkörper aus zwei halbzylindrischen Stegen, deren Achsen parallel zu
scheibenförmigen Teilen bestehen, welche durch eine den Kanalachsen verlaufen und die einerseits die
Vielzahl rotationskörperförmiger Kanäle bildender Trägerhalbleiterschicht flächenhaft und andererseits
Teile, die im idealisierten Zustand senkrecht zur gro- sich gegenseitig längs von Mantellinien berühren, und
ßen Oberfläche der scheibenförmigen Teile und par- 15 dem restlichen Teil, der den Leitungstyp des Gitter-
allel zueinander verlaufen, miteinander verbunden bereichs hat.
sind, wobei die beiden scheibenförmigen Teile und Mit dem erfindungsgemäß ausgebildeten Feldeffektdie
die Kanäle bildenden Teile den gleichen Leitungs- Halbleiterbauelement wird der Vorteil erzielt, daß das
typ aufweisen; der zwischen den einzelnen Kanäle Herstellungsverfahren einfacher, rationeller und dabildenden
Teilen und den beiden scheibenförmigen 20 mit billiger als bisher geworden ist. Außerdem ist die
Teilen verbleibende Zwischenraum ist durch ein Ausschußquote der Herstellung bedeutend niedriger.
Halbleitermaterial entgegengesetzten Leitungstyps Bei gleichen elektrischen Daten kann daher der Geausgefüllt,
wodurch ein rasterartiger Gitterbereich stehungspreis des Halbleiterbauelements beträchtlich
entsteht, durch dessen Maschen die Kanäle verlaufen. gesenkt werden.
Die Länge dieser Kanäle ist durch die Dicke des 25 Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß je nach den
rasterartigen Gitterbereichs bestimmt, während die geforderten elektrischen Daten die Kanäle auf ein-
Querabmessungen einer jeden Masche des Gitterbe- fache Weise auch sehr lang gemacht werden können,
reichs, d. h. der Kanalquerschnitt, so gewählt sind, was aus technologischen Gründen bisher praktisch
daß in jedem Kanal eine zentripetale Einschnürung nicht möglich war.
durch den Feldeffekt erzielt wird, der aus der Diffe- 30 Eine Weiterbildung der Erfindung besteht darin,
renz der Potentiale resultiert, die an die Gitterelek- daß die zweite scheibenförmige Halbleiterschicht aus
trode und an die auf einer der großen Oberflächen einem ringförmigen Gitterbereich, dementsprechend
des scheibenförmigen Halbleiterkörpers befindlichen, ringförmig angeordneten Kanälen, einem innenliegen-
die Kathode bildende Elektrode gelegt werden. den ringförmigen Stromzuleitungsbereich, einem
Diese bekannten Feldeffekt-Halbleiterbauelemente, 35 außenliegenden ringförmigen Stromableitungsbereich
die auch den Namen »Tecnetron« oder »Gridistor« und einem restlichen Teil vom Leitungstyp des Gittererhalten
haben, bilden in ihrer allgemeinen Form eine bereichs besteht.
Spannungs- oder Leitungsverstärker-Triode, deren Im folgenden wird die Erfindung an Hand eines
Kennlinienfeld demjenigen einer Vakuumröhren-Pen- Ausführungsbeispiels in Verbindung mit der Zeichtode
entspricht. Sie sind jedoch durch eine wesentlich 40 nung näher erläutert. Im einzelnen zeigt
größere Steilheit als diejenige einer Pentode gekenn- F i g. 1 einen Schnitt durch einen scheibenförmigen zeichnet, wodurch neben anderen Vorteilen ein höhe- Halbleiterkörper, von dem die Herstellung eines errer Gütefaktor und eine höhere obere Frequenzgrenze findungsgemäß ausgebildeten Feldeffekt-Halbleitererzielt werden. bauelements ausgeht,
größere Steilheit als diejenige einer Pentode gekenn- F i g. 1 einen Schnitt durch einen scheibenförmigen zeichnet, wodurch neben anderen Vorteilen ein höhe- Halbleiterkörper, von dem die Herstellung eines errer Gütefaktor und eine höhere obere Frequenzgrenze findungsgemäß ausgebildeten Feldeffekt-Halbleitererzielt werden. bauelements ausgeht,
Als nachteilig hat sich bei den bekannten Feld- 45 F i g. 2 einen Schnitt durch das Halbleiterbaueleeffekt-Halbleiterbauelementen
die mit einem beacht- ment, während dessen Herstellung,
liehen Aufwand verbundene Herstellung erwiesen, F i g. 3 eine Draufsicht auf die zur Herstellung des welche mindestens eine zweifache Diffusion von Halbleiterbauelements verwendete und in F i g. 2 im einem Dotiermaterial abwechselnd entgegengesetzten Schnitt dargestellte Oxydmaske,
Leitungstyps in dem scheibenförmigen Halbleiterkör- 50 F i g. 4 eine perspektivische Darstellung des HaIbper erfordert. Dabei handelt es sich zumindest um leiterbauelements, welche besonders die Form und eine Diffusion zur Bildung des Gitterbereichs und um den Verlauf der Kanäle sowie des Gitterbereichs vereine Diffusion zur Bildung der die Enden sämtlicher deutlicht,
liehen Aufwand verbundene Herstellung erwiesen, F i g. 3 eine Draufsicht auf die zur Herstellung des welche mindestens eine zweifache Diffusion von Halbleiterbauelements verwendete und in F i g. 2 im einem Dotiermaterial abwechselnd entgegengesetzten Schnitt dargestellte Oxydmaske,
Leitungstyps in dem scheibenförmigen Halbleiterkör- 50 F i g. 4 eine perspektivische Darstellung des HaIbper erfordert. Dabei handelt es sich zumindest um leiterbauelements, welche besonders die Form und eine Diffusion zur Bildung des Gitterbereichs und um den Verlauf der Kanäle sowie des Gitterbereichs vereine Diffusion zur Bildung der die Enden sämtlicher deutlicht,
Kanäle miteinander verbindenden Bereiche. Jeder F i g. 5 eine Draufsicht auf einen Teil des HaIb-
Diffusionsvorgang erhöht jedoch die Ausschußquote 55 leiterbauelements nach der F i g. 4,
bei der Herstellung der Halbleiterbauelemente be- F i g. 6 eine Draufsicht auf ein Halbleiterbauele-
trächtlich. ment mit ringförmigem Gitterbereich,
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein F i g. 7 einen Horizontalschnitt durch das HaIb-
Feldeffekt-Halbleiterbauelement so auszubilden, daß leiterbauelement nach der F i g. 6 in der Mittenebene
dessen Herstellung mittels eines einzigen Diffusions- 60 der Kanäle,
Vorgangs erfolgen kann und dessen elektrische Daten, F i g. 8 eine Draufsicht auf ein Halbleiterbaueleinsbesondere
der Gütefaktor und die obere Frequenz- ment mit zwei konzentrischen ringförmigen Gittergrenze,
denjenigen der bekannten Halbleiterbauele- bereichen.
mente zumindest gleichkommen, wenn nicht über- Die F i g. 1 zeigt einen Vertikalschnitt durch eine
treffen. 65 beispielsweise aus Silizium, Germanium oder einer
Die Erfindung, die diese Aufgabe löst, besteht dar- intermetallischen Verbindung von Elementen der
in, daß der scheibenförmige Halbleiterkörper eine Gruppen III und V des Periodischen Systems der
scheibenförmige Trägerha^ileiterschicht des Leitungs- chemischen Elemente hergestellten Halbleiterscheibe
— im folgenden wird die Verwendung einer Siliziumscheibe angenommen —, die aus einer scheibenförmigen
Trägerhalbleiterschicht 2 mit geringem elektrischem Widerstand und von einem bestimmten Leitungstyp,
beispielsweise vom ρ+-Typ und einem spezifischen elektrischen Widerstand von 0,1 Ohm cm,
sowie aus einer scheibenförmigen Halbleiterschicht 1
mit einem relativ hohen elektrischen Widerstand und von entgegengesetztem Leitungstyp, also beispielsweise
vom η-Typ und einem spezifischen elektrischen Widerstand von 10 Ohm cm, besteht. Die Halbleiterschicht
1 ist sehr dünn und besitzt beispielsweise eine Dicke von 10 μ bis 15 μ, während die Trägerhalbleiterschicht
2 aus Gründen der mechanischen Stabilität wesentlich dicker ausgeführt ist, beispielsweise
150 μ. Ein solcher Halbleiterkörper, von dem die Herstellung eines erfindungsgemäß ausgebildeten
Feldeffekt-Halbleiterbauelements ausgeht, kann beispielsweise durch Ziehen eines Halbleiterkristalles aus
einer Schmelze gebildet werden, wobei während des Ziehvorganges der Wechsel im Leitungstyp erzeugt
wird.
Die F i g. 2 zeigt einen Vertikalschnitt durch das Feldeffekt-Halbleiterbauelement, etwa am Ende des
Diffusionsvorgangs, während in der F i g. 3 eine Draufsicht auf einen zusammengedrängten Teil des
Feldeffekt-Halbleiterbauelements nach der F i g. 2 dargestellt ist. Auf der freien Oberfläche der Halbleiterschicht
1 ist in bekannter Weise eine Oxydmaske angebracht. Diese Oxydmaske weist an ihren beiden
äußeren Enden die Öffnungen 13 a und 13 b auf. Zwischen diesen beiden Öffnungen liegen in gleichem Abstand
voneinander die Öffnungen 5. Die Öffnungen 5, 13 α und 13 b sind durch Querstege 4 voneinander getrennt.
Die Querstege 4 gehen an der einen Seite in den Längssteg 14 a und an der anderen Seite in den
Längssteg 14 b der Oxydmaske über. Die Breite der Querstege 4 ist etwa gleich der Stärke der Halbleiterschicht
1. Beispielsweise können die Querstege 4 eine Breite von 15 μ bei einer Stärke der Halbleiterschicht
1 von ebenfalls 15 μ aufweisen und die Öffnungen 5 in der Oxydmaske eine Breite von 10 μ besitzen.
Der Halbleiterkörper wird einer senkrecht zu seiner Oberfläche, d. h. zur Oxydmaske, gerichteten
Diffusion eines p-Dotiermaterials ausgesetzt, beispielsweise einer Diffusion von Bor in gasförmigem
Zustand und in Form von B2O3 bei einer Temperatur
von 1200° C. Da die Diffusion in einem monokristallinen Halbleiterkörper nach allen Richtungen gleichmäßig
voranschreitet, erfolgt sie von den Öffnungen 5 der Oxydmaske aus, gleichzeitig in die Tiefe und in
die Breite. Die Diffusionszonen des Gitterbereichs 3, weiche von zwei nebeneinanderliegenden Öffnungen 5
ausgehen, vereinigen sich etwa in der Mitte des Quersteges 4, wenn die Tiefe der Diffusion gleich der
Dicke der Halbleiterschicht 1 gewählt wird. Mit dieser Diffusion durch die Oxydmaske gleichzeitig erfolgt
eine Diffusion von in der Trägerhalbleiterschicht 2 enthaltenem p-Dotiermaterial, welche in die Halbleiterschicht
1 vom Leitungstyp η bis zur Grenzfläche la vordringt, wo sie sich mit der Diffusion durch die
Oxydmaske trifft. Man erhält so einen Gitterbereich 3, der eine Anzahl von Kanälen 8 begrenzt, die einen
Querschnitt in Form eines Dreiecks aufweisen, dessen geradlinige Grundseite 7 in der Grenzfläche la liegt
und dessen andere beiden Seiten konkave Kreisbogen sind und annähernd die Form eines Viertels eines
Zylindermantels 6 haben, wie dies die Schnittdarstellung der F i g. 2 und auch die perspektivische Darstellung
der Fig. 4 zeigen. Die Längsstege 14a und
14 b der Oxydmaske, s. F i g. 3, verhindern eine Diffusion in die beiden Streifen 9 α, 9 b der Halbleiterschicht
1, welche dadurch den Leitungstyp η beibehalten und mit den Stirnseiten der Kanäle 8 verbunden
sind, vgl. die Fig. 4 und 5. Die Streifen 9a und 9 b, welche den Stromzuleitungsbereich bzw. den
Stromableitungsbereich des Feldeffekt-Halbleiterbauelements bilden, sind auf ihrer den Kanälen 8 entgegengesetzten
Seite durch die Teile 11a und 11 & begrenzt, welche den gleichen Leitungstyp wie der
Gitterbereich 3 besitzen, da sie gegen die Diffusion durch die Oxydmaske nicht geschützt werden. Außerdem
sind die Mantelflächen der äußeren stromführenden Kanäle 8 von den p-leitenden Rahmenteilen 12 a
und 12 b, vgl. die F i g. 4 und 5, begrenzt, welche durch Diffusion durch die Öffnungen 13 a und 13 &
der Oxydmaske hindurch gebildet werden.
so Durch die beschriebene Begrenzung der n-leitenden
Kanäle 8 wird erreicht, daß die elektrostatische Kapazität der Kanäle 8 und des Stromzuleitungsbereiches
9 a sowie des Stromableitungsbereiches 9 b gegenüber dem Gitterbereich 3 wesentlich herabge-
S5 setzt ist.
Aus dem Vorstehenden ist ersichtlich, daß mittels eines einzigen Diffusionsvorgangs in einem Halbleiterkörper
ein Gitterbereich bestimmten Leitungstyps und ein den Gitterbereich umgebendes Halbleitergebiet
entgegengesetzten Leitungstyps erzeugt werden kann, wobei das Halbleitergebiet entgegengesetzten Leitungstyps
aus einer Anzahl mit ihren Längsachsen parallel zur Scheibenebene des scheibenförmigen Halbleiterkörpers
verlaufender Kanäle und aus dem streifenförmigen Stromzuleitungsbereich sowie dem streifenförmigen
Stromableitungsbereich, die die Kanäle an ihren Stirnseiten miteinander verbinden, besteht.
Durch ringförmige Anordnung des Gitter-, des
Stromzuleitungs- und des Stromableitungsbereichs können besonders vorteilhafte Ausführungsformen
von Feldeffekt-Halbleiterbauelementen erhalten werden. Dabei können die einzelnen Bereiche (Gitterbereich,
Stromzuleitungsbereich, Stromableitungsbereich) beispielsweise in Quadrat-, in Rechteck- oder
in Kreisform angeordnet sein. In der F i g. 6 der Zeichnung ist die quadratische Ausführungsform der
ringförmigen Anordnung dieser Bereiche dargestellt. Beim Stromzuleitungsbereich 16 und beim Stromableitungsbereich
17 — ihnen entsprechen der streifenförmige Stromzuleitungsbereich 9 a und der streifenförmige
Stromableitungsbereich 9 b des Halbleiterbauelements nach der F i g. 4 — handelt es sich um
schmale, je zu einem Viereck geschlossene Streifen, welche durch die p-leitenden Teile 18 und 19 —
ihnen entsprechen die Teile 11 α und 11 b des Halbleiterbauelements nach der F i g. 4 — innen und
außen begrenzt werden. Der Stromzuleitungsbereich 16 und der Stromableitungsbereich 17 sind in bekannter
Weise mit bandförmigen Elektroden 20 und 21 versehen, die beispielsweise durch Aufdampfen von
Metall, beispielsweise antimonhaltigem Gold, durch eine weitere Oxydmaske hindurch gebildet werden.
Die Oxydmaske ist dafür mit entsprechenden Durchbrüchen versehen. Das Aufbringen der Goldbänder
20 und 21 auf den Halbleiterkörper erfolgt, nachdem dieser auf eine Temperatur gebracht wurde, die über
dem Schmelzpunkt einer eutektischen Legierung aus Gold und dem verwendeten Halbleitermaterial liegt.
Die freie Oberfläche des Gitterbereichs 22, vgl. die Fig. 6, besitzt ebenfalls die Form eines zu einem
Quadrat geschlossenen Bandes. Der Kontakt an dem Gitterbereich 22 wird vorzugsweise auf der Rückseite
des Halbleiterkörpers (an der Trägerhalbleiterschicht) angebracht; er kann aber auch auf den Teilen 18, 19
oder auf der freien Oberfläche des Gitterbereichs 22 angeordnet sein.
Die F i g. 7 zeigt einen Horizontalschnitt durch das in F i g. 6 dargestellte Halbleiterbauelement etwa in
der Mittenebene der Kanäle 23, welche sich zwischen den Abschnitten 24 des Gitterbereichs 22 befinden.
In die Fig. 7 ist auch der Stromzuleitungsbereich 16 sowie der Stromableitungsbereich 17 eingezeichnet,
auf denen sich die bandförmigen Elektroden 20 und 21 — in punktierten Linien gezeichnet — befinden.
Die sich an den Stromleitungsbereich 16 nach innen und an den Stromableitungsbereich 17 nach außen
anschließenden p-Ieitenden Teile 18 bzw. 19 sind in die F i g. 7 ebenfalls eingezeichnet. so
Die F i g. 8 zeigt eine Draufsicht auf ein erfindungsgemäß ausgebildetes Feldeffekt-Halbleiterbauelement
mit zwei konzentrisch angeordneten, zu je einem Quadrat geschlossenen Gitterbereichen 25 und 26. Bei
dieser Ausführungsform sind insgesamt drei Stromzuleitungs- bzw. Stromableitungsbereiche 29, 30 und 31
vom Leitungstyp η vorhanden. Die auf ihnen angebrachten bandförmigen Elektroden* sind mit 32, 33
und 34 bezeichnet. Die Stromzuleitungs- bzw. Stromableitungsbereiche
29 und 31 werden nach innen durch den p-leitenden Teil 27 und nach außen durch
den p-leitenden Teil 28 begrenzt. Diese Art des Aufbaus ergibt letztlich zwei Feldeffekt-Halbleiterbauelemente,
deren stromführende Kanäle sowohl parallel als auch in Reihe arbeiten können, wozu es lediglich
einer entsprechenden Verbindung der Elektroden 32, 33 und 34 bedarf. Sowohl im Parallelbetrieb als auch
im Reihenbetrieb bilden die Elektroden der Gitterbereiche 25 und 26 eine Einheit, da die beiden Gitterbereiche
25 und 26 durch die Trägerhalbleiterschicht 2 vom Leitungstyp p+ miteinander vereinigt sind.
Die vorstehend erläuterten Feldeffekt-Halbleiterbauelemente werden vorzugsweise auf dem Gebiet der
Schwachstromtechnik als Gleich- und Wechselstromverstärker, als Oszillatoren oder zu Mischzwecken bis
zu sehr hohen Frequenzen und bis zu hohen Ausgangsleistungen verwendet. Bei Feldeffekt-Halbleiterbauelementen,
die als Gleich- und Wechselstromverstärker arbeiten sollen, bilden die Elektroden an dem
Stromzuleitungsbereich und dem Stromableitungsbereich mit diesen Bereichen ohmsche Kontakte.
Der Querschnitt der Kanäle und die Dicke des Gitterbereichs werden vorzugsweise auf ein Mindestmaß
gebracht, das jedoch durch die von der Lichtdrucktechnik gezogenen Grenzen gegeben ist.
Die wesentlichen Größen eines Ausführungsbeispiels eines Feldeffekt-Halbleiterbauelements nach
den F i g. 6 und 7 waren:
Halbleitermaterial Silizium,
spezifischer elektrischer Widerstand der n-leitenden
scheibenförmigen Halbleiterschicht 1 Ohm cm,
Material der Oxydmaske SiO2,
Gesamtoberfläche des scheibenförmigen Halbleiterkörpers 1 mm2,
Anzahl der Kanäle etwa 400, Querschnittsfläche eines Kanals etwa 6 μ2,
Sperrspannung etwa 5 Volt, Sättigungsstrom etwa 30 mA, Steilheit etwa20mA/V,
Eingangswiderstand bei Niederfrequenz etwa 10 Megohm,
innerer Widerstand bei Niederfrequenz etwa 100 Kiloohm,
Ausgangsleistung größer als 1 Watt, Gütefaktor etwa 250 MHz,
obere Frequenzgrenze mindestens 1000 MHz.
Claims (3)
1. Feldeffekt-Halbleiterbauelement mit einem scheibenförmigen Halbleiterkörper, der einen
Stromzuleitungsbereich und einen Stromableitungsbereich des einen Leitungstyps sowie mehrere
parallele, von dem Stromzuleitungsbereich zu dem Stromableitungsbereich führende Kanäle desselben
Leitungstyps und einen Gitterbereich des entgegengesetzten Leitungstyps aufweist, dadurch
gekennzeichnet, daß der scheibenförmige Halbleiterkörper eine scheibenförmige Trägerhalbleiterschicht (2) des Leitungstyps des
Gitterbereiches (3) aufweist, auf der sich eine zweite scheibenförmige Halbleiterschicht (1) befindet,
bestehend aus parallelen, voneinander getrennten Kanälen (8) mit dreieckigem Querschnitt,
wobei zwei Dreieckseiten konkave Kreisbogen sind und die dritte Dreiecksseite eine auf der Trägerhalbleiterschicht
(2) aufliegende Gerade (7) ist, dem Stromzuleitungsbereich (9 a) und dem Stromableitungsbereich
(9 b), an die alle Kanäle (8) mit ihren Stirnseiten stoßen, dem Gitterbereich (3) aus
abwechselnd mit den Kanälen (8) angeordneten, angenähert halbzylindrischen Stegen, deren Achsen
parallel zu den Kanalachsen verlaufen und die einerseits die Trägerhalbleiterschicht (2) flächenhaft
(7) und andererseits sich gegenseitig längs von Mantellinien berühren, und dem restlichen
Teil (11a und Ub), der den Leitungstyp des Gitterbereichs (3) hat.
2. Feldeffekt-Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kanäle
(8) einen gegenüber der Trägerhalbleiterschicht (2) hohen spezifischen Widerstand haben.
3. Feldeffekt-Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite
scheibenförmige Halbleiterschicht (1) aus einem ringförmigen Gitterbereich (22), dementsprechend
ringförmig angeordneten Kanälen (23), einem innenliegenden ringförmigen Stromzuleitungsbereich
(16), einem außenliegenden ringförmigen Stromableitungsbereich (17) und einem restlichen
Teil (18,19) vom Leitungstyp des Gitterbereiches (22) besteht.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR942896A FR1377330A (fr) | 1963-07-26 | 1963-07-26 | Perfectionnements aux dispositifs semiconducteurs à effet de champ à canaux multiples intégrés |
FR6722A FR87873E (fr) | 1963-07-26 | 1965-02-23 | Perfectionnements aux dispositifs semi-conducteurs à effet de champ à canaux multiples intégrés |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1293900B true DE1293900B (de) | 1969-04-30 |
Family
ID=26162207
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DET26654A Withdrawn DE1293900B (de) | 1963-07-26 | 1964-07-23 | Feldeffekt-Halbleiterbauelement |
DE1514932A Expired DE1514932C3 (de) | 1963-07-26 | 1966-02-23 | Halbleiterbauelement mit Feldeffekt |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1514932A Expired DE1514932C3 (de) | 1963-07-26 | 1966-02-23 | Halbleiterbauelement mit Feldeffekt |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US3372316A (de) |
CH (2) | CH414872A (de) |
DE (2) | DE1293900B (de) |
FR (2) | FR1377330A (de) |
GB (2) | GB1045314A (de) |
NL (2) | NL143734B (de) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1377330A (fr) * | 1963-07-26 | 1964-11-06 | Perfectionnements aux dispositifs semiconducteurs à effet de champ à canaux multiples intégrés | |
US3430113A (en) * | 1965-10-04 | 1969-02-25 | Us Air Force | Current modulated field effect transistor |
US3443172A (en) * | 1965-11-16 | 1969-05-06 | Monsanto Co | Low capacitance field effect transistor |
IT981240B (it) * | 1972-03-10 | 1974-10-10 | Teszner S | Perfezionamenti ai gridistori per iperfrequenze |
JPS5017771A (de) * | 1973-06-15 | 1975-02-25 | ||
US4670764A (en) * | 1984-06-08 | 1987-06-02 | Eaton Corporation | Multi-channel power JFET with buried field shaping regions |
US4633281A (en) * | 1984-06-08 | 1986-12-30 | Eaton Corporation | Dual stack power JFET with buried field shaping depletion regions |
US4635084A (en) * | 1984-06-08 | 1987-01-06 | Eaton Corporation | Split row power JFET |
EP0167810A1 (de) * | 1984-06-08 | 1986-01-15 | Eaton Corporation | Leistungs-JFET der mehrfachen seitlichen Einschränkungsart |
US4959697A (en) * | 1988-07-20 | 1990-09-25 | Vtc Incorporated | Short channel junction field effect transistor |
JP2713205B2 (ja) * | 1995-02-21 | 1998-02-16 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1080696B (de) * | 1956-12-10 | 1960-04-28 | Stanislas Teszner | Transistor, insbesondere Unipolartransistor, mit einem ebenen Halbleiterkoerper und halbleitenden, zylindrischen Zaehnen auf dessen Oberflaeche und Verfahren zu seiner Herstellung |
FR1317256A (fr) * | 1961-12-16 | 1963-02-08 | Teszner Stanislas | Perfectionnements aux dispositifs semi-conducteurs dits tecnetrons multibâtonnets |
FR1329626A (fr) * | 1962-04-04 | 1963-06-14 | Europ Des Semi Conducteurs Soc | Perfectionnements aux transistors à effet de champ, de hautes performances |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1210880A (fr) * | 1958-08-29 | 1960-03-11 | Perfectionnements aux transistors à effet de champ | |
GB912114A (en) * | 1960-09-26 | 1962-12-05 | Westinghouse Electric Corp | Semiconductor devices |
US3268374A (en) * | 1963-04-24 | 1966-08-23 | Texas Instruments Inc | Method of producing a field-effect transistor |
FR1377330A (fr) * | 1963-07-26 | 1964-11-06 | Perfectionnements aux dispositifs semiconducteurs à effet de champ à canaux multiples intégrés |
-
1963
- 1963-07-26 FR FR942896A patent/FR1377330A/fr not_active Expired
-
1964
- 1964-07-23 NL NL646408428A patent/NL143734B/xx unknown
- 1964-07-23 DE DET26654A patent/DE1293900B/de not_active Withdrawn
- 1964-07-24 US US385023A patent/US3372316A/en not_active Expired - Lifetime
- 1964-07-24 CH CH970464A patent/CH414872A/fr unknown
- 1964-08-04 GB GB30972/64A patent/GB1045314A/en not_active Expired
-
1965
- 1965-02-23 FR FR6722A patent/FR87873E/fr not_active Expired
-
1966
- 1966-02-17 CH CH231666A patent/CH429953A/fr unknown
- 1966-02-21 US US528896A patent/US3407342A/en not_active Expired - Lifetime
- 1966-02-22 GB GB7612/66A patent/GB1090696A/en not_active Expired
- 1966-02-23 DE DE1514932A patent/DE1514932C3/de not_active Expired
- 1966-02-23 NL NL666602337A patent/NL152119B/xx unknown
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1080696B (de) * | 1956-12-10 | 1960-04-28 | Stanislas Teszner | Transistor, insbesondere Unipolartransistor, mit einem ebenen Halbleiterkoerper und halbleitenden, zylindrischen Zaehnen auf dessen Oberflaeche und Verfahren zu seiner Herstellung |
FR1317256A (fr) * | 1961-12-16 | 1963-02-08 | Teszner Stanislas | Perfectionnements aux dispositifs semi-conducteurs dits tecnetrons multibâtonnets |
FR1329626A (fr) * | 1962-04-04 | 1963-06-14 | Europ Des Semi Conducteurs Soc | Perfectionnements aux transistors à effet de champ, de hautes performances |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1090696A (en) | 1967-11-15 |
CH414872A (fr) | 1966-06-15 |
GB1045314A (en) | 1966-10-12 |
NL6408428A (de) | 1965-01-27 |
NL6602337A (de) | 1966-08-24 |
DE1514932A1 (de) | 1969-09-11 |
US3407342A (en) | 1968-10-22 |
US3372316A (en) | 1968-03-05 |
DE1514932C3 (de) | 1975-01-30 |
NL152119B (nl) | 1977-01-17 |
FR1377330A (fr) | 1964-11-06 |
NL143734B (nl) | 1974-10-15 |
DE1514932B2 (de) | 1974-06-12 |
CH429953A (fr) | 1967-02-15 |
FR87873E (fr) | 1966-07-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE814487C (de) | Feste, leitende elektrische Vorrichtung unter Verwendung von Halbleiterschichten zur Steuerung elektrischer Energie | |
DE2954481C2 (de) | Leistungs-mosfet-anordnung. | |
DE1207015B (de) | Transistor, insbesondere Unipolartransistor mit einem plattenfoermigen Halbleiterkoerper eines Leitungstyps und Verfahren zum Herstellen | |
DE1260029B (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen auf einem Halbleitereinkristallgrundplaettchen | |
DE1764491A1 (de) | Mehrkanalfeldeffekthalbleiter | |
DE1489893B1 (de) | Integrierte halbleiterschaltung | |
DE1131329B (de) | Steuerbares Halbleiterbauelement | |
DE1293900B (de) | Feldeffekt-Halbleiterbauelement | |
DE1614300B2 (de) | Feldeffekttransistor mit isolierter Steuerelektrode | |
DE1810322B2 (de) | Bipolarer Transistor fur hohe Ströme und hohe Stromverstärkung | |
DE2628381B2 (de) | Vorrichtung zum Bohren von Mikrokanälen zwischen zwei einander gegenüberliegenden Flächen eines n-leitenden Halbleiterkörpers | |
EP0002840A1 (de) | Kathodenseitig steuerbarer Thyristor mit einer Anodenzone aus zwei aneinandergrenzenden Bereichen mit unterschiedlicher Leitfähigkeit | |
DE1297233B (de) | Feldeffekttransistor | |
DE1614250C3 (de) | Halbleiteranordnung mit Gruppen von sich kreuzenden Verbindungen | |
DE1439674C3 (de) | Steuerbares und schaltbares pn-Halbleiterbauelement für große elektrische Leistungen | |
DE1489193C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung | |
DE1514892A1 (de) | Halbleiterbauelement mit der Charakteristik eines Flaechen- und eines Feldeffekt-Transistors | |
DE1464829C3 (de) | Schaltungsanordnung mit mehreren in einem Halbleiterplättchen ausgebildeten Schaltungselementen | |
DE1439368A1 (de) | Halbleiterstromtor mit Zuendung durch Feldeffekt | |
DE2126303A1 (de) | Eine isolierte Gate-Elektrode aufweisender Feldeffekt-Transistor mit veränderlicher Verstärkung | |
AT202600B (de) | Feldeffekt-Transistor und Verfahren zur Herstellung eines solchen Transistors | |
DE1464979C3 (de) | Halbleiterschaltelement | |
DE1093019C2 (de) | Verfahren zur herstellung von halbleiteranordnungen | |
DE1297239B (de) | ||
DE2520134A1 (de) | Thyristor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |