DE1225700B - Impulserzeugende Halbleitervorrichtung - Google Patents
Impulserzeugende HalbleitervorrichtungInfo
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Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND DEUTSCHES ^t^ PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
H03k
Nummer:
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Auslegetag:
Aktenzeichen:
Anmeldetag:
Auslegetag:
W 29323 VIII a/21 al
24. Januar 1961
29. September 1966
24. Januar 1961
29. September 1966
Dem Stande der Technik ist eine Anzahl von fotoelektrischen Halbleiterbauelementen eigen. Hierzu
können z. B. fotoelektrische Halbleiterwiderstände, Fotodioden und Fototransistoren genannt
werden. Vielfach sind solche Anordnungen von komplexer Struktur und weisen eine Reihe von pn-Übergängen
auf. Eine solche Vorrichtung ist in der USA.-Patentschrift 2 588 254 beschrieben. Diese besteht
aus einer Reihe von Zonen mit abwechselnd gegenläufigem Leitungstyp, die in einem einzigen
Halbleiterkörper vereinigt sind. Auf diese Art und Weise führt die Anordnung bei Belichtung zu einer
vergrößerten fotoelektrischen Spannung, vorzugsweise wenn jeder zweite pn-übergang der die fotoelektrische
Spannung erzeugenden Belichtung nicht ausgesetzt wird. Ferner waren pnpn-Kippdioden und
deren Verwendung als Schalter z. B. aus der USA.-Patentschrift 2 855 524 vorbekannt. Demgegenüber
bezieht sich die Erfindung auf eine impulserzeugende Halbleitervorrichtung, bestehend aus einer ao
Serienschaltung einer Zweizonen- und einer Vierzonen-Halbleiterdiode, mit vier abwechselnd aufeinanderfolgenden
pn- und np-Ubergängen und ist dadurch gekennzeichnet, daß der Sättigungsstrom eines
äußeren pn- oder np-Überganges derart auf die Vierzonendiode bildenden pn- und np-Übergänge
abgestimmt ist, daß er innerhalb des Bereichs des negativen Widerstandes der Strom-Spannungs-Charakteristik
fällt und daß zwischen den beiden äußeren Zonen der Anordnung eine Betriebsspannungsquelle
sowie in Serie oder parallel zu dieser Spannungsquelle ein Verbraucher vorgesehen ist.
Dabei ist insbesondere vorgesehen, die Anordnung mit einer Gleichpannungsquelle zu betreiben,
welche zwischen den beiden äußeren Zonen des pnpnp- oder npnpn-Halbleiterkörpers gelegt wird.
Dabei läßt es sich bei einer Anordnung gemäß der Erfindung ohne weiteres erreichen, daß die Anordnung
bei Erregung mit Gleichstrom Impulse einer ersten Frequenz und bei zusätzlicher Bestrahlung
Impulse einer zweiten Frequenz erzeugt.
Wesentlich ist für eine Anordnung gemäß der Erfindung, daß der pnpnp-Teil bzw. der npnpn-Teil
auf den pn- bzw. np-Teil so aufeinander abgestimmt ist, daß der Sättigungsstrom des np-Teiles (bzw. des
pn-Teiles) innerhalb des Bereiches negativen Widerstandes des pnpn- bzw. npnp-Teiles liegt. Die beiden
Halbleiterteile der erfindungsgemäßen Anordnung sind bevorzugt in einem einzigen Halbleiterkörper
vereinigt und besitzen eine gemeinsame monokristalline Struktur, so daß in dieser bevorzugten
Ausführungsform die erfindungsgemäße Halbleiter-Impulserzeugende Halbleitervorrichtung
Anmelder:
Westinghouse Electric Corporation,
East Pittsburgh, Pa. (V. St. A.)
Vertreter:
Dipl.-Ing. R. Barckhaus, Patentanwalt,
München 2, Witteisbacherplatz 2
Als Erfinder benannt:
Gene Strull, Pikesville, Md. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 25. Januar 1960 (4398)
anordnung aus einem fünf Zonen mit abwechselnd unterschiedlichem Leitungstyp aufweisenden Halbleitereinkristall
besteht. Als Alternative kann man bei Verwendung von in getrennten Körpern realisierten
Halbleiterteilen eine Anordnung gemäß der Erfindung auch unterschiedliche Halbleitermaterialien,
z.B. Germanium oder Silizium, verwenden. Beispielsweise kann das Vierzonenelement aus Silizium,
Germanium oder Siliziumkarbid, das pn-Element aus AniBv- oder AnBVI-Verbindungen, z.B.
Indiumarsenid oder Wismut-Selentellurid oder Kadmiumsulfid, bestehen, natürlich sind auch andere
Kombinationen möglich.
Um eine höhere Strahlungsempfindlichkeit der Anordnung zu erzielen, empfiehlt es sich, einen
möglichst großen Teil der Übergänge zwischen Zonen unterschiedlichen Leitungstyps sowohl des
pn-Elements als auch des pnpn-Elements der Strahlung
durch Bloßlegung zu exponieren.
Wenn nur die Erzeugung von Impulsen einer Frequenz erwünscht ist, ist es nicht notwendig, daß die
Anordnung bloßgelegte Flächenteile besitzt. Die Anordnung kann in einem hermetisch abgeschlossenen
Behälter eingebettet oder eingeschmolzen werden. Um die Anordnung einzuschmelzen und zu ermöglichen,
daß die gewünschte Strahlung die bloßgelegten Flächenteile erreicht, kann Glas oder Quarz
verwendet werden.
3 4
Durch Auswahl gewisser Materialien kann die tenden Schicht 14 und Verschmelzen der Folie oder
Anordnung so gemacht werden, daß sie empfindlich des Kügelchens mit der p-leitenden Schicht 14 durch
ist, um Teile eines zweiten Strahlungsbereichs vom Erhitzen im Vakuum oder einer neutralen Atmo-
Infrarot über das sichtbare bis zum Ultraviolett und sphäre, beispielsweise in einer Argon oder Helium-
sogar bis zu den Röntgenstrahlen und noch höheren 5 atmosphäre, bei einer Temperatur von 500 bis
Frequenzen zu selektieren. Die Anwesenheit der 900° C gebildet. Es muß dafür gesorgt werden, daß
Strahlung wird durch einen Wechsel in der Frequenz die Schichten 22 und 24 nicht durch die p-leitende
der erzeugten Impulse angezeigt, wenn die Anord- Schicht 14 bis zum η-leitenden Bereich 12 dringen,
nung durch einen Gleichstrom erregt ist. Die Fre- Beispiele für geeignete Dotierungsmaterialien oder
quenzänderung ist proportional der Lichtintensität io -legierungen, aus welchen die η-leitenden Schichten
und dem Auftreffpunkt, wie hier noch ausgeführt 22 und 24 bestehen können, umfassen Arsen, Anti-
wird. mon und Legierungen davon sowie beispielsweise
• In F i g. 1 ist ein Siliziumplättchen 10 mit n-Leit- Legierungen mit Gold und Antimon oder Arsen,
fähigkeit dargestellt. Das dotierte Plättchen 10 kann Zum Beispiel ist eine Folie aus einer Legierung von
nach irgendeinem den Fachleuten bekannten Ver- 15 99,5 Gewichtsprozent Gold und 0,5 Gewichtsprozent
fahren hergestellt werden. Beispielsweise kann ein Antimon geeignet.
dotierter Siliziumstab aus einer Schmelze gezogen Zwischen der p-leitenden Schicht 14 und der n-lei-
werden, die Silizium und mindestens ein Element der tenden Schicht 22 wird ein pn-übergang 24 und zwi-
Gruppe V des Periodischen Systems, beispielsweise sehen der p-leitenden Schicht 14 und der n-leitenden
Arsen, Antimon oder Phosphor, enthält. Das Platt- 20 Schicht 24 ein pn-übergang 30 durch anschließende
chen 10 wird dann beispielsweise mit Hilfe einer Verschmelzung der η-leitenden Schichten 22 und 24
Diamantsäge von dem Stab abgeschnitten. Die Ober- mit der Oberfläche 20 und der Oberfläche 28 der
fläche des Plättchens kann dann geschliffen oder der p-leitenden Schicht 14 gebildet. Die n-leitende
geätzt werden oder beides, um nach dem Sägen eine Schicht 22 hat eine obere Fläche 32 und die n-lei-
glatte Oberfläche zu erzeugen. 25 tende Schicht 24 eine untere Fläche 34.
Das Plättchen 10 wird dann in einen Diffusions- Die η-leitenden Schichten 22 und 24 können ebenofen
gebracht. Die heißeste Zone des Ofens hat eine so durch geeignetes Abdecken eines bestimmten
Temperatur im Bereich von 1000 bis 13000C und Teiles der Oberfläche 20 und 28 der p-leitenden
eine Dampfatmosphäre eines Akzeptor-Dotierungs- Schicht 14 und Einbringen eines geeigneten Dotiematerials,
beispielsweise Indium, Gallium, Alumi- 30 rungsmaterials in die nicht abgedeckten Flächenteile
nium oder Bor. Die Zone des Ofens, in der ein mittels Dampfdiffusion gebildet werden.
Schmelztiegel mit der Akzeptorverunreinigung liegt, Um den in F i g. 4 dargestellten Aufbau zu schafkann eine Temperatur von 200 bis 1300° C haben, fen, wird die obere Fläche 32 der η-leitenden Schicht wobei die angegebene Temperatur so zu wählen ist, 22 beispielsweise mit einem organischen Wachs gedaß ein gewünschter Dampfdruck und eine ge- 35 eignet abgedeckt und die obere Fläche 20 der dünwünschte Oberflächenkonzentration des Diffusions- nen Schicht 14 bis zur Schicht 22 weggeätzt. Das Ätzen materials aus dem Schmelztiegel sichergestellt ist. Die wird ausgeführt, bis der p-leitende Bereich 14 in Akzeptorverunreinigung diffundiert von allen Seiten einen oberen Teil 114 und einen unteren Teil 214 in das η-leitende Siliziumplättchen. unterteilt ist. Damit fließt ein elektrischer Strom von
Schmelztiegel mit der Akzeptorverunreinigung liegt, Um den in F i g. 4 dargestellten Aufbau zu schafkann eine Temperatur von 200 bis 1300° C haben, fen, wird die obere Fläche 32 der η-leitenden Schicht wobei die angegebene Temperatur so zu wählen ist, 22 beispielsweise mit einem organischen Wachs gedaß ein gewünschter Dampfdruck und eine ge- 35 eignet abgedeckt und die obere Fläche 20 der dünwünschte Oberflächenkonzentration des Diffusions- nen Schicht 14 bis zur Schicht 22 weggeätzt. Das Ätzen materials aus dem Schmelztiegel sichergestellt ist. Die wird ausgeführt, bis der p-leitende Bereich 14 in Akzeptorverunreinigung diffundiert von allen Seiten einen oberen Teil 114 und einen unteren Teil 214 in das η-leitende Siliziumplättchen. unterteilt ist. Damit fließt ein elektrischer Strom von
In F i g. 2 ist ein Plättchen 110 dargestellt, welches 40 der η-leitenden Schicht 22 zur p-leitenden Schicht
aus einem η-leitenden Plättchen der F i g. 1 nach der 114 durch den pn-übergang 26 und von dem n-lei-
Diffusion des Dotierungsmaterials bis zu einer be- tenden Bereich 12 zu der p-leitenden Schicht 214
stimmten Tiefe von allen Seiten des Plättchens her durch den pn-übergang 18.
besteht. Das Plättchen 110 besteht aus einem inneren In F i g. 4 ist der Betrag des durch das Ätzen ent-
n-leitenden Bereich 12, der von einer dünnen p-lei- 45 fernten Materials zum Zweck der Klarheit übertrie-
tenden Oberflächenschicht 14 umgeben ist. Zwischen ben worden. Die Anordnungskonfiguration der
der oberen Fläche des Bereichs 12 und der Schicht 14 F i g. 5 ist zwar zur Verwendung geeignet, aber es ist
befindet sich ein pn-übergang 16 und zwischen der nicht notwendig, soviel, wie darstellt, von der
unteren Fläche des Bereichs 12 und der Schicht 14 p-leitenden Schicht 14 zu entfernen. Es braucht nur
ein pn-übergang 18. Das Plättchen hat eine obere 50 eine Rinne um die η-leitende Schicht 22 herum durch
Fläche 20 und eine untere Fläche 28. die p-leitende Schicht 14 weggeätzt zu werden, um
Die p-leitende Schicht 14 muß tief genug sein, um den η-leitenden Bereich 12 bloßzulegen. Der zwiein
Hineindiffundieren zusätzlicher Schichten von sehen der unteren Fläche der η-leitenden Schicht 22
Verunreinigungen ohne Durchdringung der p-leiten- und der oberen Fläche des η-leitenden Bereichs 12
den Schicht bis zu dem η-leitenden Bereich 12 zuzu- 55 liegende Teil der p-leitenden Schicht 14 wird durch
lassen. Die p-leitende Schicht 14 sollte jedoch nicht den Ätzprozeß nicht angegriffen,
so tief sein, daß der Vorwärts-Spannungsabfall der Das verwendete Ätzungsmittel kann irgendein geendgültigen Halbleiteranordnung wesentlich ansteigt. eignetes, den Fachleuten zum Ätzen von Silizium be-Es wurde gefunden, daß eine Tiefe oder Dicke der kanntes Reaktionsmittel, beispielsweise eine Mischung Schicht 14 von 0,01875 bis 0,0375 mm, vorzugsweise 60 aus Salpetersäure, Fluorwasserstoffsäure und Essigetwa 0,025 mm, für die Anordnung dieser Erfindung säure sein,
genügt. · Elektrische Leitungen oder Kontakte 40 und 42
so tief sein, daß der Vorwärts-Spannungsabfall der Das verwendete Ätzungsmittel kann irgendein geendgültigen Halbleiteranordnung wesentlich ansteigt. eignetes, den Fachleuten zum Ätzen von Silizium be-Es wurde gefunden, daß eine Tiefe oder Dicke der kanntes Reaktionsmittel, beispielsweise eine Mischung Schicht 14 von 0,01875 bis 0,0375 mm, vorzugsweise 60 aus Salpetersäure, Fluorwasserstoffsäure und Essigetwa 0,025 mm, für die Anordnung dieser Erfindung säure sein,
genügt. · Elektrische Leitungen oder Kontakte 40 und 42
Wie in F i g. 3 gezeigt, werden dann Schichten 22 sind mit den η-leitenden Schichten 22 und 24 durch
und 24 mit η-Leitfähigkeit durch Aufbringen von Löten, Schweißen od. ä. verbunden. Die Kontakte
Donatormaterial oder -legierung, vorzugsweise in der 65 oder Leitungen 40 und 42 können aus geeignetem
Form einer Folie oder eines Kügelchens mit einer elektrisch leitendem Material, wie Kupfer, Alumi-
Dicke von etwa 0,01875 bis 0,5 mm, auf die obere nium, Silber u. ä. bestehen und geeignete Gestalt
Fläche 20 und die untere Flädhe 28 der dünnen p-lei- oder Form haben.
5 6
Die in F i g. 4 dargestellte Halbleiteranordnung ist Die Anordnung nach F i g. 4 arbeitet wie folgt:
eine aus einem Stück bestehende, fünf Bereiche ent- Die eingeprägte Spannung wird erhöht und der
haltende, strahlungsempfindliche, impulserzeugende Spannungsabfall in gleicher Weise durch die npnp-
Halbleiteranordnung, die, wenn sie mit Hilfe der Anordnung und die pn-Anordnung geteilt. Bei einiger
Klemmen mit einer Gleichstromquelle verbunden ist, 5 Spannung wird an der npnp-Komponente genug
im Dunkeln auf einer ersten Frequenz und unter Spannungsabfall auftreten, um seinen Durchbruch zu
Licht- oder anderer Strahlung auf einer anderen Fre- bewirken. Wenn sie durchbricht, wird ein größerer
quenz schwingt. Spannungsabfall an der pn-Komponente auftreten.
Der durch die Halbleiteranordnung der F i g. 4 er- Der Sättigungsstrom der pn-Komponente muß gezeugte
Impuls kann in einer parallel zur Anordnung io nügend hoch gehalten werden, um zu verhindern,
geschalteten Schaltungsanordnung mit hoher Impe- daß sie unter diesen Bedingungen durchbricht. Nachdanz
abgenommen werden, oder der Impuls kann dem die npnp-Komponente durchgebrochen ist, wird
einen mit der Halbleiteranordnung in Serie geschal- der Strom durch die pn-Komponentencharakteristik
teten niedrigen Widerstand durchfließen. unterhalb des Dauerstromes gehalten. Dies bewirkt,
In Fig. 5 ist die Halbleiteranordnung gemäß 15 daß die npnp-Komponente gesperrt wird und der
Fig. 4 über eine Leitung 50 mit einer Gleichstrom- Zyklus wiederholt wird; das Resultat ist ein scharfer
quelle 52 und einem niedrigen Widerstand 54 in Impuls.
Serie geschaltet. Der von einem solchen System er- Selbstverständlich werden die in F i g. 8 graphisch
zeugte Impuls ist ein dreieckiger Impuls mit einer dargestellten Kennlinien abhängig von dem verwenersten
Frequenz, wenn sich die Anordnung im Dun- 20 deten Halbleitermaterial, der Dicke der verschiedekeln
befindet, und einer zweiten Frequenz, wenn die nen Bereiche und dem der Strahlung ausgesetzten
Anordnung, im besonderen der pn-Ubergang 26, von Flächenteil variieren.
Licht einer gegebenen Intensität beaufschlagt wird. Die Auffassung, daß eine mit zwei Anschlüssen
Licht einer gegebenen Intensität beaufschlagt wird. Die Auffassung, daß eine mit zwei Anschlüssen
F i g. 6 zeigt die mit einer Gleichstromquelle 152 versehene pn- und eine zugeordnete, mit zwei Anüber
eine Leitung 150 in Serie geschaltete und mit 25 Schlüssen versehene npnp-Halbleiteranordnung (oder
einer Impedanz 154 über eine Leitung 156 parallel- eine np- und eine pnpn-Halbleiteranordnung) schwingeschaltete
Halbleiteranordnung der F i g. 4. In dieser gen werden, wenn sie mit einer Gleichstromquelle in
Schaltungsanordnung erzeugt die Halbleiteranord- Serie geschaltet sind, gibt ein Anlaß zu vielen mögnung
eine impulsförmige Schwingung mit einer ersten liehen Fernmeßsystemen.
Frequenz, wenn sich die Anordnung im Dunkeln be- 30 In F i g. 9 ist eine Möglichkeit für ein Horizontalfindet,
und einer zweiten Frequenz, wenn die Anord- und Vertikal- (oder Nord-Süd-Ost-West-) Fernmeßnung,
im besonderen der pn-übergang 26, von Licht system dargestellt. Das Fernmeßsystem der F i g. 9
einer gegebenen Intensität beaufschlagt wird. besteht aus einer ersten Einheit, die aus einer mit
In F i g. 7 ist in schematischer Form die nähe- zwei Anschlüssen versehenen pn-Anordnung 300 und
rungsweise verwendbare Ersatzschaltung einer ein- 35 einer mit zwei Anschlüssen versehenen npnp-Anordzelnen
Halbleiteranordnung mit dem Aufbau gemäß nung 310, die über einen Leiter 312 mit einer Gleich-F
i g. 4 dargestellt. In F i g. 7 werden eine mit zwei stromquelle 314 und einem Widerstand 316 in Serie
Klemmen versehene npnp-Anordnung 100 und eine geschaltet sind, aufgebaut ist, und einer zweiten Einmit
zwei Klemmen versehene pn-Anordnung 102 ge- heit, die aus einer mit zwei Anschlüssen versehenen
zeigt, die über eine Leitung 250 mit einer Gleichstrom- 40 pn-Anordnung 318 und einer mit zwei Anschlüssen
quelle 252 und einem Widerstand 254 in Serie geschal- versehenen npnp-Anordnung 320, die über einen
tet sind. Die zwei getrennten Anordnungen 100 und Leiter 322 mit einer Gleichstromquelle 324 und
102 erzeugen, wenn sie wie in F i g. 7 dargestellt ver- einem Widerstand 326 in Serie geschaltet sind, aufbunden
sind, einen im wesentlichen gleichen Impuls gebaut ist. die erste aus den Anordnungen 300
wieder, der durch die in F ig. 5 dargestellte Anordung 45 und 310 bestehende Einheit schwingt im Dunkeln
erzeugt wird. In F i g. 7 können die mit zwei Klem- auf einer bestimmten Frequenz. Die zweite, aus den
men versehene Anordnung 100 und die mit zwei Anordnungen 318 und 320 bestehende Einheit wird
Klemmen versehene Anordnung 102 über eine Lei- im Dunkeln ebenfalls auf einer bestimmten Frequenz
tung 256 (als gestrichelte Linie dargestellt) mit einer schwingen. Die Frequenz der Schwingung im Dun-Impedanz
258 verbunden werden und erzeugen eine 50 kein der ersten und der zweiten Anordnung kann die
Impulsform, wenn sie mit einer Gleichstromquelle, gleiche sein oder auch nicht, abhängig von dem verwie
der Quelle 252, vorgespannt werden, im wesent- wendeten Halbleitermaterial usw., wie oben auslichen
wie die in F i g. 6 dargestellte Anordnung. geführt wurde.
In F i g. 8 ist der erste Quadrant der Strom-Span- Wenn das System der F i g. 9 in eine Art Geschoß
nungs-Kennlinie der Anordnung nach F i g. 4 dar- 55 oder Raumschiff eingebaut wird, das an dem zwi-
gestellt. Die Kennlinie ist in Form der pn-Kompo- sehen den Anordnungen 300, 310, 318 und 320
nente und der npnp-Komponente der Anordnung ge- liegenden Punkt X von einem monochromatischen
maß F i g. 4 dargestellt. Die Projektion des Bereichs Lichtstrahl oder anderer Strahlung getroffen würde,
negativen Widerstandes der npnp-Komponente auf wenn es auf dem richtigen und vorbestimmten Weg
die Stromachse ist durch den Durchbruchsstrom JD ± 60 ist, kann eine Abweichung von dem genau vorbe-
und den Dauerstrom J1 begrenzt. In der F i g. 4 ist stimmten Weg durch die von dem Auftreten des
die pn-Komponente serienmäßig mit der npnp-Kom- Lichtstrahles auf eine der Anordnungen 300, 310,
ponente hergestellt. Die pn-Komponente ist so her- 318 oder 320 hervorgerufene Schwingungsänderung
gestellt, daß ihre Durchbruchsspannung UD 2 größer bestimmt werden. Ein solches System könnte auf
als die Durchbruchsspannung UD ± der npnp-Kompo- 65 folgende Weise arbeiten: Eine horizontale Abwei-
nente und der Sättigungsstrom /s 2 der pn-Kompo- chung von dem richtigen Kurs wurde in einem Auf-
nente zwischen dem Durchbruchsstrom J0 1 und dem treffen des Lichtes auf die Anordnung 300 oder die
Dauerstrom J1 der npnp-Komponente liegt. Anordnung 310 resultieren. Versuche haben gezeigt,
daß die Schwingungsfrequenz ansteigt, wenn das
Licht auf die pn-Anordnung 300 auftrifft, und daß die Schwingungsfrequenz abnimmt, wenn das Licht
auf die npnp-Anordnung 310 auftrifft. Eine solche am Widerstand 316 abgelesene Änderung der Schwingung
kann einen Korrekturvorgang auslösen. Eine Änderung der Schwingung als Folge des Auftreffens
des Lichtes auf die Anordnung 318 oder 320, die am Widerstand 326 abgelesen würde, könnte gleichfalls
einen Korrekturvorgang auslösen, der das Gefährt in die korrekte vertikale Richtung zurückbringt. Weil
die »Dunkel«-Schwingung des Systems abhängig von dem Material und der Dicke der Bereiche, aus denen
eine einzelne Anordnung besteht, variiert, könnte das in F i g. 9 dargestellte System aus einer Kombination
von aus Silizium, Germanium, Siliziumkarbid, III-V-Verbindungen
oder Il-VI-Verbindungen bestehenden Elementen aufgebaut sein. Beispielsweise könnten
die Elemente 300 und 310 aus Silizium und die Komponenten 318 und 320 aus Germanium bestehen.
Das Ergebnis wäre eine leicht unterscheidbare Differenz in der Schwingung, die durch die Variierung der
Lichtquelle in horizontaler oder vertikaler Richtung hervorgerufen wird. In ähnlicher Weise könnte die
Anordnung durch infrarote, ultraviolette oder andere Strahlung gesteuert werden.
In Fig. 10 ist eine fünf Bereiche enthaltende, aus
einem -Stück bestehende, strahlungsempfindliche, impulserzeugende Anordnung mit einer anderen
möglichen Konfiguration dargestellt. Es wird bemerkt, daß die Anordnung nach F i g. 10 eine pyramidenförmige
Konfiguration aufweist, die eine Erhitzung zuläßt, die von dem großen unteren Flächenbereich
abgeleitet wird, während die Anordnung nach Fig. 4 einen relativ kleinen Endbereich hat. In der
Anordnung der F i g. 10 ist die npnp-Anordnung konzentrisch auf der pn-Anordnung angebracht. Es
wird bemerkt, daß der leitende Bereich 410 für die npnp-Anordnung und die pn-Anordnung gemeinsam
ist. Eine solche Konfiguration wäre zur Zentrierung oder Fokussierung eines optischen Systems sehr
brauchbar. Eine Abweichung in der Zentrierung oder Fokussierung kann durch die von dem Auftreffen des
Lichtes auf den npnp- oder pn-Flächenteil bewirkte
Änderung der Schwingung bestimmt werden.
In F i g. 11 ist eine Aufsicht der Anordnung 400
der Fig. 10 gezeigt, die über einen elektrischen Leiter 411 mit einer Gleichstromquelle 412 und
einem Widerstand 414 in Serie geschaltet ist. Im Betrieb könnte eine monochromatische Lichtquelle auf
den Punkt X abgebildet (fokussiert) werden, und die Anordnung würde mit einer bestimmten Frequenz
schwingen. Wenn die Lichtquelle dann auf den äußeren Ring der Anordnung fokussiert würde, was
eine Beaufschlagung der pn-Komponente der Anordnung zur Folge hätte, würde die am Widerstand 414
abgelesene Schwingung sich ändern, und die Fokussierung könnte durch ein Zurückführen der Lichtquelle
auf den Punkt Z korrigiert werden.
In Fig. 12 ist noch eine andere mögliche Konfiguration
der Anordnung 500, die aus einer pn-Komponente und einem npnp-Teil besteht, gezeigt. Die
Anordnung 500 der F i g. 12 besteht aus zwei Rücken an Rücken liegenden Anordnungen, um eine kolineare
Stellung zwischen zwei Lichtquellen A und B zu erhalten oder um eine Lichtintensität B unter Verwendung
einer bekannten Lichtquelle^ als Bezugsgröße aufzunehmen.
Die folgenden Beispiele erläutern weiterhin die Erfindung:
Ein flaches, kreisförmiges Plättchen aus n-leitendem
Silizium mit einem spezifischen Widerstand von 200 Ohmcm und einem Durchmesser von etwa
6,35 cm und einer Dicke von 0,1 mm wurde in einen Diffusionsofen gebracht. Der Diffusionsofen war auf
ίο einer Temperatur von 1200° C und hatte eine Galliumdampfatmosphäre.
Das Gallium konnte bis zu einer Tiefe von 0,025 mm in das Plättchen diffundieren.
Das Plättchen wurde dann aus dem Diffusionsofen entfernt. Der Aufbau ist so, wie in F i g. 2 dargestellt.
Danach wurde ein η-leitendes Dotierungskügelchen mit einem Durchmesser von etwa 6,35 cm und aus
99,5 Gewichtsprozent Gold und 0,5 Gewichtsprozent Antimon bestehend auf die obere und die untere
ao Fläche des galliumdiffundierten Plättchens aufgebracht und mit einer p-leitenden Galliumschicht
verschmolzen. Es wurde achtgegeben, um sicherzustellen, daß das Kügelchen weder auf der Unterseite
noch auf der Oberseite des Plättchens vollständig durch die Galliumschicht schmolz. Der Aufbau ist
so, wie in Fig. 3 dargestellt.
Die obere Fläche der durch die Verschmelzung des Gold-Antimon-Kügelchens mit der Oberseite des
Plättchens gebildeten η-leitenden Schicht wurde mit einem organischen Wachs abgedeckt und mit einem
aus Salpetersäure, Fluorwasserstoffsäure, Essigsäure und Brom bestehenden Ätzungsmittel geätzt. Durch
das Ätzen wurde die galliumdiffundierte Schicht auf der oberen Fläche beseitigt, um einen Kurzschluß zu
vermeiden. Der Aufbau ist so, wie in F i g. 4 dargestellt.
Dann wurde ein elektrischer Kontakt aus Silber mit den η-leitenden Gold-Antimon-Schichten auf
der Oberseite und der Unterseite des Plättchens verbunden. Der Aufbau ist so, wie in Fig. 5 dargestellt.
Das Gebilde wurde dann über einen elektrischen Leiter mit einer Gleichstromquelle und einem Oszilloskop
verbunden.
Es wurde gefunden, daß das System eine »Dunkel«- Frequenz von 30 IcHz mit einer Impulsbreite von
0,3 Mikrosekunden und einer Impulshöhe von 50 Volt hatte.
Ein Temperaturstrahler konnte den Übergang zwischen der oberen η-leitenden Schicht und der
galliumdiffundierten Schicht bestrahlen. Unter dem Einfluß einer Temperaturstrahlung von 400 Foot-Candles
= 400 · 10,76 Internat. Lux war die Frequenz der Schwingung 20 kHz mit einer Impulsbreite
von 0,3 Mikrosekunden und einer Impulshöhe von 50 Volt.
Ein flaches, kreisförmiges Plättchen aus p-leitendem
Germanium mit einem spezifischen Widerstand von 20 Ohmcm und einem Durchmesser von etwa
3,18 cm und einer Dicke von 1,27 mm wurde in einen Diffusionsofen gebracht. Der Diffusionsofen
war auf einer Temperatur von 825° C und hatte eine Arsendampfatmosphäre. Das Arsen konnte bis zu
einer Tiefe von 0,25 mm in das Plättchen diffundieren. Das Plättchen wurde dann aus dem Diffusionsofen
entfernt. Danach wurde ein aus Aluminium bestehendes Dotierungskügelchen mit einem
Durchmesser von etwa 1,59 cm auf die obere und die untere Oberfläche des arsendiffundierten Plattchens
aufgebracht und mit der η-leitenden Arsenschicht verschmolzen. Es wurde achtgegeben, um
sicherzustellen, daß die Aluminiumkügelchen nicht vollständig durch die Arsenschicht schmolzen.
Die obere Fläche der durch die Verschmelzung des Aluminiumkügelchens mit der Oberseite des
Plättchens gebildeten p-leitenden Schicht wurde mit einem organischen Wachs abgedeckt und wie im
Beispiel I weggeätzt. Durch das Ätzen wurde die arsendiffundierte Schicht auf der oberen Fläche entfernt,
mit Ausnahme desjenigen Teiles, der direkt unter der p-leitenden Aluminiumschicht liegt.
Elektrische Kontakte wurden dann mit der oberen und der unteren p-leitenden Aluminiumschicht verbunden.
Die auf diese Weise hergestellte Anordnung wurde mit einer Gleichstromquelle und einem
Oszilloskop in Serie geschaltet. Die Anordnung hatte eine Dunkelschwingungsfrequenz von 100 kHz.
Ein Temperaturstrahler konnte die Anordnung bestrahlen. Wenn der pnpn-Teil beleuchtet ist, nimmt
die Frequenz proportional mit der Intensität der Strahlung ab. Wenn der np-Teil beleuchtet ist, nimmt
die Frequenz proportional mit der Intensität der Strahlung zu.
Das Verfahren aus den Beispielen I und II kann zur Herstellung von Anordnungen, die zum Teil aus
Galliumarsenid und Kadmiumsulfat bestehen, wiederholt werden. Solche Anordnungen werden eine
andere spektrale Empfindlichkeit als die aus den Beispielen haben. Beispielsweise ist Kadmiumsulfid
vom sichtbaren bis zum Röntenstrahlbereich empfindlich.
Obwohl die Erfindung an Hand besonderer Ausführungsformen und Beispiele beschrieben worden
ist, ist es selbstverständlich, daß Abänderungen, Substitutionen u. ä. ohne Abweichung von ihrem
Anwendungsbereich gemacht werden können.
Claims (4)
1. Impulserzeugende Halbleitervorrichtung, bestehend aus einer Serienschaltung einer Zwei
zonen- und einer Vierzonen-Halbleiterdiode, mit vier abwechselnd aufeinanderfolgenden pn- und
np-Übergängen, dadurch gekennzeichnet,
daß der Sättigungsstrom eines äußeren pn-Überganges derart auf die Vierzonendiode bildenden
pn- und np-Übergänge abgestimmt ist, daß er innerhalb des Bereichs des negativen
Widerstandes der Strom-Spannungs-Charakteristik fällt und zwischen den beiden äußeren
Zonen der Anordnung eine Betriebsspannungsquelle sowie in Serie oder parallel zu dieser
Spannungsquelle ein Verbraucher vorgesehen ist.
2. Impulserzeugende Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Vierzonen- und die Zweizonen-Halbleiterdiode in einem einzigen Halbleiterkörper vereinigt
sind.
3. Impulserzeugende Halbleitervorrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß durch eine stufenartige
Zurücknahme einer der angrenzenden Zonen mindestens einer der pn- oder np-Übergänge
des Halbleiterkörpers eine Strahlungszugängigkeit erhöht ist.
4. Anwendung der impulserzeugenden Halbleitervorrichtung nach einem der Ansprüche 1
bis 3 in einer Fernmeßanordnung (F i g. 9).
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 969 211;
deutsche Auslegeschriften Nr. 1021082,
061907, 1035 779;
USA.-Patentschriften Nr. 2779 877, 2 855 524.
Deutsche Patentschrift Nr. 969 211;
deutsche Auslegeschriften Nr. 1021082,
061907, 1035 779;
USA.-Patentschriften Nr. 2779 877, 2 855 524.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
609 668/386 9.66 © Bundesdruckerei Berlin
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US4398A US3160828A (en) | 1960-01-25 | 1960-01-25 | Radiation sensitive semiconductor oscillating device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE1225700B true DE1225700B (de) | 1966-09-29 |
Family
ID=21710609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEW29323A Pending DE1225700B (de) | 1960-01-25 | 1961-01-24 | Impulserzeugende Halbleitervorrichtung |
Country Status (3)
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